JP2010513745A5 - - Google Patents

Claims (2)

1. 移動中のスレッドラインの表面凸凹のレベルをモニターする方法であって、
   スレッドラインに対して０度超および９０度未満の照射角でスレッドラインに付随して置かれた光源によってスレッドラインを照明して分光反射エネルギーおよび拡散反射エネルギーを生成する工程と、
   スレッドラインからの分光反射エネルギーの量を、照射角に実質的に等しい反射角でスレッドラインに付随して置かれた第１受信器で測定する工程と、
   スレッドラインからの拡散反射エネルギーの量を、照射角および反射角とは異なる角度で置かれた第２受信器で測定する工程と、
   拡散反射エネルギーの量対分光反射エネルギーの量の比を測定する工程と、
   前記比を表面凸凹のレベルと関係づける工程と
   を含む方法。
2. 移動中のスレッドラインの表面凸凹のレベルをモニターするための装置であって、
   前記スレッドラインに対して０度超および９０度未満の照射角で前記スレッドラインに付随して置かれた光源であって、分光反射エネルギーおよび拡散反射エネルギーを生成する光源と、
   前記スレッドラインからの光源の分光反射エネルギーを受け取るための第１受信器であって、前記照射角と実質的に等しい反射角で前記スレッドラインに付随して置かれた第１受信器と、
   前記スレッドラインからの光源の拡散反射エネルギーを受け取るための第２受信器であって、前記照射角および前記反射角とは異なる角度で前記スレッドラインに付随して置かれた第２受信器と、
   拡散反射エネルギーの量と分光反射エネルギーの量との比を測定するためのコンパレーターと
   を含む装置。