JP2010506203A5 - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
JP2010506203A5
JP2010506203A5 JP2009530795A JP2009530795A JP2010506203A5 JP 2010506203 A5 JP2010506203 A5 JP 2010506203A5 JP 2009530795 A JP2009530795 A JP 2009530795A JP 2009530795 A JP2009530795 A JP 2009530795A JP 2010506203 A5 JP2010506203 A5 JP 2010506203A5
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
sample
fluorescence
illumination
detector
phase mask
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2009530795A
Other languages
English (en)
Japanese (ja)
Other versions
JP2010506203A (ja
Filing date
Publication date
Priority claimed from DE102006047912A external-priority patent/DE102006047912A1/de
Application filed filed Critical
Publication of JP2010506203A publication Critical patent/JP2010506203A/ja
Publication of JP2010506203A5 publication Critical patent/JP2010506203A5/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

JP2009530795A 2006-10-06 2007-10-02 並行化された顕微鏡イメージングのための方法および装置 Pending JP2010506203A (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE102006047912A DE102006047912A1 (de) 2006-10-06 2006-10-06 Verfahren und Anordnung zur parallelisierten mikroskopischen Bildgebung
PCT/EP2007/008556 WO2008043460A1 (de) 2006-10-06 2007-10-02 Verfahren und anordnung zur parallelisierten mikroskopischen bildgebung

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2010506203A JP2010506203A (ja) 2010-02-25
JP2010506203A5 true JP2010506203A5 (cg-RX-API-DMAC7.html) 2011-08-18

Family

ID=38963139

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2009530795A Pending JP2010506203A (ja) 2006-10-06 2007-10-02 並行化された顕微鏡イメージングのための方法および装置

Country Status (5)

Country Link
US (2) US20090250632A1 (cg-RX-API-DMAC7.html)
EP (1) EP2102695B1 (cg-RX-API-DMAC7.html)
JP (1) JP2010506203A (cg-RX-API-DMAC7.html)
DE (1) DE102006047912A1 (cg-RX-API-DMAC7.html)
WO (1) WO2008043460A1 (cg-RX-API-DMAC7.html)

Families Citing this family (51)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102008024954A1 (de) * 2008-05-23 2009-11-26 Carl Zeiss Microlmaging Gmbh Mikroskop mit einer optischen Anordnung zur Strukturierung des Beleuchtungslichtes
DE102008049886B4 (de) 2008-09-30 2021-11-04 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Vorrichtung, insbesondere ein Mikroskop, zur Untersuchung von Proben
WO2010045949A2 (en) * 2008-10-21 2010-04-29 Chemometec A/S A method and apparatus for analysis of a particle
DE102008054317A1 (de) 2008-11-03 2010-05-06 Carl Zeiss Microlmaging Gmbh Kombinationsmikroskopie
WO2010085775A2 (en) * 2009-01-26 2010-07-29 The General Hospital Corporation System, method and computer-accessible medium for providing wide-field superresolution microscopy
DE102009060793A1 (de) * 2009-12-22 2011-07-28 Carl Zeiss Microlmaging GmbH, 07745 Hochauflösendes Mikroskop und Verfahren zur zwei- oder dreidimensionalen Positionsbestimmung von Objekten
DE102010028138A1 (de) 2010-04-22 2011-10-27 MAX-PLANCK-Gesellschaft zur Förderung der Wissenschaften e.V. Bestimmen der Verteilung einer Substanz durch Abtasten mit einer Messfront
US10051240B2 (en) 2010-06-14 2018-08-14 Howard Hughes Medical Institute Structured plane illumination microscopy
US8711211B2 (en) 2010-06-14 2014-04-29 Howard Hughes Medical Institute Bessel beam plane illumination microscope
US9335181B2 (en) 2010-11-10 2016-05-10 Qualcomm Incorporated Haptic based personal navigation
DE102011013614A1 (de) * 2011-03-08 2012-09-13 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Laser-Scanning-Mikroskop und Verfahren zu seinem Betrieb
DE102011100507B4 (de) * 2011-04-29 2020-05-14 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Tragbares optisches Analysegerät
US9664614B2 (en) 2011-07-11 2017-05-30 University Of Limerick Method for high resolution sum-frequency generation and infrared microscopy
DE102011087196A1 (de) * 2011-11-28 2013-05-29 Leica Microsystems Cms Gmbh Mikroskopbeleuchtungssystem und -verfahren
WO2013108626A1 (ja) * 2012-01-18 2013-07-25 株式会社ニコン 構造化照明装置、構造化照明顕微鏡装置、構造化照明方法
US20130250088A1 (en) * 2012-03-22 2013-09-26 Molecular Devices, Llc Multi-color confocal microscope and imaging methods
DE102012017922B4 (de) * 2012-09-11 2024-03-14 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Optikanordnung und Lichtmikroskop
JP6371289B2 (ja) 2012-09-24 2018-08-08 ジーイー・ヘルスケア・バイオサイエンス・コーポレイション ３次元構造化照明を用いた蛍光確率顕微鏡での位置を解像するための方法及びシステム
JP6396324B2 (ja) 2013-01-04 2018-09-26 ユニバーシティ オブ リメリック 差動赤外線ナノ顕微鏡法システムおよび方法
DE102013100172A1 (de) * 2013-01-09 2014-07-10 MAX-PLANCK-Gesellschaft zur Förderung der Wissenschaften e.V. Verfahren zum räumlich hochaufgelösten Abbilden einer einen Luminophor aufweisenden Struktur einer Probe
EP2801854B1 (en) * 2013-05-10 2017-07-19 Ruprecht-Karls-Universität Heidelberg Method and apparatus for combination of localization microscopy and structured illumination microscopy
DE102013227107A1 (de) * 2013-09-03 2015-03-05 Leica Microsystems Cms Gmbh Mikroskop mit einem Element zum Verändern der Form des Beleuchtungslichtfokus
DE102013015933A1 (de) * 2013-09-19 2015-03-19 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Hochauflösende Scanning-Mikroskopie
US10656401B2 (en) * 2013-12-09 2020-05-19 Nikon Corporation Optical apparatus, measuring apparatus, measuring method, screening apparatus, and screening method
DE102013114860B3 (de) * 2013-12-23 2015-05-28 MAX-PLANCK-Gesellschaft zur Förderung der Wissenschaften e.V. Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung der Orte einzelner Moleküle einer Substanz in einer Probe
JP6260691B2 (ja) 2014-04-25 2018-01-17 株式会社ニコン 構造化照明顕微鏡装置及び構造化照明観察方法
WO2016054118A1 (en) * 2014-09-29 2016-04-07 Howard Hughes Medical Institute Non-linear structured illumination microscopy
US10795144B2 (en) 2014-12-06 2020-10-06 Howard Hughes Medical Institute Microscopy with structured plane illumination and point accumulation for imaging and nanoscale topography
JP2019518242A (ja) 2016-05-30 2019-06-27 ザ トラスティース オブ コロンビア ユニバーシティ イン ザ シティ オブ ニューヨーク 位相変調素子および像再構成部を用いるｓｃａｐｅ顕微鏡法
LU93117B1 (de) 2016-06-23 2018-01-24 Leica Microsystems Beleuchtungsvorrichtung für ein Mikroskop
US10955652B2 (en) * 2016-09-30 2021-03-23 The Trustees Of Columbia University In The City Of New York Three-dimensional imaging using swept, confocally aligned planar excitation with a Powell lens and/or deliberate misalignment
EP3537200B1 (en) * 2016-11-02 2023-04-05 Nikon Corporation Fluorescence observation device
DE102017011843A1 (de) 2017-12-21 2019-06-27 Horst Wochnowski Initialisierung von chemischen, physikalisch-chemischen und/oder physikalischen Reaktionen mittels eines angefangenen und nicht zu Ende geführten STED-Prozesses mit einer örtlichen Auflösung unterhalb des klassischen optischen Auflösungsgrenze mit Anwendungen aus der Biochemie
NL2020621B1 (en) 2018-01-08 2019-07-15 Illumina Inc Multiplexing of an active sensor detector using structured illumination
KR102588004B1 (ko) 2018-01-08 2023-10-11 일루미나, 인코포레이티드 반도체-기반 검출을 사용한 고-처리율 서열분석
NL2020619B1 (en) 2018-01-16 2019-07-25 Illumina Inc Dual optical grating slide structured illumination imaging
NL2020620B1 (en) 2018-01-16 2019-07-25 Illumina Inc Pattern angle spatial selection structured illumination imaging
TWI699559B (zh) 2018-01-16 2020-07-21 美商伊路米納有限公司 結構照明成像系統和使用結構化光來創建高解析度圖像的方法
NL2020622B1 (en) 2018-01-24 2019-07-30 Lllumina Cambridge Ltd Reduced dimensionality structured illumination microscopy with patterned arrays of nanowells
NL2020623B1 (en) 2018-01-24 2019-07-30 Illumina Inc Structured illumination microscopy with line scanning
NL2021258B1 (en) 2018-06-14 2019-12-20 Illumina Inc Device for luminescent imaging
TWI792150B (zh) 2018-06-29 2023-02-11 美商伊路米納有限公司 用於預測結構照明參數之方法、系統和非暫時性電腦可讀取媒體
US10901202B2 (en) 2018-09-19 2021-01-26 Illumina, Inc. Structured illumination of a sample
CN109375358B (zh) * 2018-11-28 2020-07-24 南京理工大学 一种基于最优照明模式设计下的差分相衬定量相位显微成像方法
DE102019110160B4 (de) 2019-04-17 2023-07-27 Leica Microsystems Cms Gmbh Fluoreszenzmikroskop und Verfahren zur Abbildung einer Probe
DE102020113998A1 (de) * 2020-05-26 2021-12-02 Abberior Instruments Gmbh Verfahren, Computerprogramm und Vorrichtung zum Bestimmen von Positionen von Molekülen in einer Probe
CN112260053B (zh) * 2020-10-23 2023-01-03 长春理工大学 高效率的叠阵型半导体激光器
CN112649405B (zh) * 2020-11-27 2022-04-19 浙江大学 基于共路并行荧光辐射差分的超分辨显微成像方法和装置
DE102021005684A1 (de) 2021-11-16 2023-05-17 Jörn Volkher Wochnowski STED-Verfahren mit Hohllichtwellenleitern
US20230314327A1 (en) * 2022-04-04 2023-10-05 10X Genomics, Inc. Systems and methods for nearly isotropic optical resolution using tilted structured illumination microscopy
CN115291406B (zh) * 2022-07-20 2024-12-27 中国航空工业集团公司济南特种结构研究所 一种基于激光准直的光轴校准装置

Family Cites Families (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61163314A (ja) * 1985-01-04 1986-07-24 ユナイテッド　キングドム　アトミック　エナ↓−ヂイ　オ↓−ソリテイ 走査顕微鏡
US6903347B2 (en) * 1994-07-15 2005-06-07 Stephen C. Baer Superresolution in microlithography and fluorescence microscopy
JPH09280954A (ja) * 1996-04-17 1997-10-31 Nikon Corp 物体検査装置
JP2002062261A (ja) * 2000-08-21 2002-02-28 Olympus Optical Co Ltd 光学装置および顕微鏡
JP3616999B2 (ja) * 2001-12-04 2005-02-02 レーザーテック株式会社 コンフォーカル顕微鏡
JP4086182B2 (ja) * 2002-10-09 2008-05-14 オリンパス株式会社 分光器およびこれを用いた共焦点光学系、走査型光学顕微鏡
DE10254139A1 (de) * 2002-11-15 2004-05-27 Carl Zeiss Jena Gmbh Verfahren und Anordnung zur tiefenaufgelösten optischen Erfassung einer Probe
DE10257120B4 (de) * 2002-12-05 2020-01-16 Leica Microsystems Cms Gmbh Rastermikroskop zum Abbilden eines Objekts
JP2004239660A (ja) * 2003-02-04 2004-08-26 Japan Science & Technology Agency 顕微鏡
JP4635145B2 (ja) * 2004-03-17 2011-02-16 レーザーテック株式会社 コンフォーカル顕微鏡及び膜厚測定装置
JP2005266705A (ja) * 2004-03-22 2005-09-29 Japan Science & Technology Agency 超解像顕微鏡
DE102004034996A1 (de) * 2004-07-16 2006-02-02 Carl Zeiss Jena Gmbh Lichtrastermikroskop mit linienförmiger Abtastung
DE102004034962A1 (de) 2004-07-16 2006-02-16 Carl Zeiss Jena Gmbh Mikroskop mit erhöhter Auflösung
DE102004034960A1 (de) 2004-07-16 2006-02-02 Carl Zeiss Jena Gmbh Korrektur-Vorrichtung für eine optische Anordnung und konfokales Mikroskop mit einer solchen Vorrichtung
DE102004034991A1 (de) 2004-07-16 2006-02-02 Carl Zeiss Jena Gmbh Zoomoptik für ein Lichtrastermikroskop
WO2007009812A1 (de) * 2005-07-22 2007-01-25 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Auflösungsgesteigerte lumineszenz-mikroskopie

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2010506203A5 (cg-RX-API-DMAC7.html)
US8705172B2 (en) Microscopy method and microscope with enhanced resolution
Vangindertael et al. An introduction to optical super-resolution microscopy for the adventurous biologist
US8207510B2 (en) Method and arrangement for collimated microscopic imaging
JP2011511966A5 (cg-RX-API-DMAC7.html)
JP6440037B2 (ja) 試料を撮像する方法
JP5826494B2 (ja) 試料の構造を空間的に高分解能で結像するための装置および方法
EP2801854B1 (en) Method and apparatus for combination of localization microscopy and structured illumination microscopy
JP7399669B2 (ja) 構造化照明を備えた三次元顕微鏡法のための高速化された方法および装置
US8217992B2 (en) Microscopic imaging techniques
JP2014501915A5 (cg-RX-API-DMAC7.html)
JP2007233370A (ja) 試料を高い空間分解能で検査するための方法および顕微鏡
JP2019507921A (ja) 多数の対象の対象固有の場所間の輸送方法
CN103339547A (zh) 扫描显微镜和用于物体的光显微成像的方法
US10191263B2 (en) Scanning microscopy system
JP2013525775A (ja) 測定フロント部分による走査で物質の分布を計測する方法
JP6088823B2 (ja) 蛍光顕微鏡の適切な評価パラメータを設定する方法
JP2025102913A (ja) 高速高分解能の顕微鏡検査方法、および高速高分解能の顕微鏡
NL2023860B1 (en) Pattern activated structured illumination localization microscopy
NL2018386B1 (en) Structured illumination scanning microscopy
US9507137B2 (en) Microscope with structured illumination using displaceable grid structures
JP2007233241A5 (cg-RX-API-DMAC7.html)
JP2010266709A5 (ja) レーザ走査顕微鏡、３次元画像取得方法、及びプログラム
Enderlein Advanced fluorescence microscopy
JP5661173B2 (ja) 顕微鏡を用いることにより蛍光発光性色素を含有する試料を検査する方法