JP2010285594A - Resin composition - Google Patents

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<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a resin composition that provides a cured product having a low dielectric dissipation factor, and is adhered extremely strongly with a conductor after being subjected to accelerated environmental testing. <P>SOLUTION: The resin composition contains (A) an epoxy resin, (B) a cyanate ester resin, (C) an active ester curing agent, and (D) a curing accelerator. <P>COPYRIGHT: (C)2011,JPO&INPIT

Description

本発明は、多層プリント配線板等の絶縁層形成に好適な樹脂組成物に関する。   The present invention relates to a resin composition suitable for forming an insulating layer such as a multilayer printed wiring board.

コンピューターや情報通信機器は近年ますます高性能・高機能化し、大量のデータを高速で処理する為に、扱う信号が高周波化する傾向にある。特に携帯電話や衛星放送に使用される電波の周波数領域はGHz帯の高周波領域のものが使用されており、高周波数化による伝送損失を抑制するため、高周波領域で使用する有機絶縁材料として、比誘電率及び誘電正接が低い材料が望まれていた。多層プリント配線板の絶縁層に使用する樹脂組成物としては、シアネートエステル樹脂を含有する樹脂組成物が誘電特性に優れた絶縁層を形成できることが知られており、例えば、特許文献1、2には、シアネートエステル樹脂、エポキシ樹脂等を含有する多層プリント配線板用の樹脂組成物が開示されているが、その誘電正接の低さは必ずしも十分と言えるものでは無かった。   In recent years, computers and information communication devices have become increasingly high-performance and highly functional, and in order to process a large amount of data at high speed, the signals handled tend to be high-frequency. In particular, the frequency range of radio waves used in mobile phones and satellite broadcasts is in the high frequency range of the GHz band, and in order to suppress transmission loss due to higher frequencies, as an organic insulating material used in the high frequency range, A material having a low dielectric constant and dielectric loss tangent has been desired. As a resin composition used for an insulating layer of a multilayer printed wiring board, it is known that a resin composition containing a cyanate ester resin can form an insulating layer having excellent dielectric properties. Discloses a resin composition for a multilayer printed wiring board containing a cyanate ester resin, an epoxy resin, or the like, but its low dielectric loss tangent is not necessarily sufficient.

国際公開2003/099952号パンフレットInternational Publication 2003/099952 Pamphlet 国際公開2008/044766号パンフレットInternational Publication No. 2008/044766 Pamphlet

本発明は、多層プリント配線板の絶縁層形成に好適な樹脂組成物であって、絶縁層の誘電正接が低く、高温高湿下での環境試験前後で導体層と絶縁層の密着性をより安定的に保つことができる、樹脂組成物を提供することを課題とする。   The present invention is a resin composition suitable for forming an insulating layer of a multilayer printed wiring board, wherein the dielectric tangent of the insulating layer is low, and the adhesion between the conductor layer and the insulating layer is improved before and after an environmental test under high temperature and high humidity. It is an object to provide a resin composition that can be stably maintained.

本発明者らは、上記課題を解決すべく鋭意検討した結果、(A)エポキシ樹脂、(B)シアネートエステル樹脂、(C)活性エステル硬化剤、及び(D)硬化促進剤を含有する樹脂組成物が、上記課題を達成できることを見出し、本発明を完成するに至った。すなわち本発明は以下の内容を含むものである。   As a result of intensive studies to solve the above problems, the present inventors have found that a resin composition containing (A) an epoxy resin, (B) a cyanate ester resin, (C) an active ester curing agent, and (D) a curing accelerator. The present invention has found that the above-mentioned problems can be achieved, and has completed the present invention. That is, the present invention includes the following contents.

[1](A)エポキシ樹脂、(B)シアネートエステル樹脂、(C)活性エステル硬化剤及び(D)硬化促進剤を含有することを特徴とする樹脂組成物。
[2](D)硬化促進剤が、金属系硬化促進剤及び、アミン系硬化促進剤、及びイミダゾール系硬化促進剤から選ばれた1種以上である上記[1]記載の樹脂組成物。
[3](D)硬化促進剤が、コバルト 、銅、亜鉛、鉄、ニッケル、マンガン、及びスズから選択される1種以上の金属の、有機金属錯体又は有機金属塩からなる金属系硬化促進剤である、上記[1]又は[2]に記載の樹脂組成物。
[4]樹脂組成物の不揮発分を100質量%とした場合、(A)エポキシ樹脂の含有量が5〜60質量%、(B)シアネートエステル樹脂の含有量が5〜50質量%、(C)活性エステル硬化剤の含有量が2〜20質量%である上記[1]〜[3]のいずれかに記載の樹脂組成物。
[5](D)硬化促進剤が金属系硬化促進剤を含み、樹脂組成物の不揮発分を100質量%とした場合、該金属系硬化促進剤に基づく金属の含有量が25〜500ppmである上記[1]〜[4]のいずれかに記載の樹脂組成物。
[6](D)硬化促進剤がアミン系硬化促進剤及び/又はイミダゾール系硬化促進剤を含み、樹脂組成物の不揮発分を100質量%とした場合、該アミン系硬化促進剤及び/又はイミダゾール系硬化促進剤の含有量が0.05〜3質量%である上記[1]〜[4]のいずれかに記載の樹脂組成物。
[7]シアネートエステル基とエポキシ基との比率が1:0.4〜1:2、エステル基とエポキシ基との比率が1:2〜1:20である、上記[1]〜[6]のいずれかに記載の樹脂組成物。
[8]さらに(E)無機充填材を含有する上記[1]〜[7]のいずれかに記載の樹脂組成物。
[9]無機充填材がタルク及びシリカである上記[8]記載の樹脂組成物。
[10]樹脂組成物の不揮発分を100質量%とした場合、タルクとシリカの含有量の合計が35質量%〜70質量%であり、かつ、タルクの含有量が5質量%〜20質量%である上記[9]記載の樹脂組成物。
[11]さらに(F) ビニルベンジル化合物を含有する、上記[1]〜[10]のいずれかに記載の樹脂組成物。
[12]樹脂組成物の不揮発分を100質量%とした場合、(F)ビニルベンジル化合物の含有量が2〜50質量%である、上記[11]記載の樹脂組成物。
[13]さらに(G)ポリビニルアセタール樹脂、フェノキシ樹脂、ポリイミド樹脂、ポリアミドイミド樹脂、ポリエーテルイミド樹脂、ポリスルホン樹脂、ポリエーテルスルホン樹脂、ポリフェニレンエーテル樹脂、ポリカーボネート樹脂、ポリエーテルエーテルケトン樹脂、及びポリエステル樹脂から選択される1種以上の高分子化合物を含有する、上記[1]〜[12]のいずれかに記載の樹脂組成物。
[14]樹脂組成物の不揮発分を100質量%とした場合、(G)高分子化合物の含有量が1〜20質量%である、上記[13]記載の樹脂組成物。
[15]
誘電正接特性が0.004〜0.009であり、環境試験前後の密着強度低下率が0%〜59%であることを特徴とする、上記[1]〜[14]のいずれかに記載の樹脂組成物。
[16]上記[1]〜[15]のいずれかに記載の樹脂組成物が支持体上に層形成された接着フィルム。
[17]上記[1]〜[15]のいずれかに記載の樹脂組成物がシート状補強基材中に含浸されたプリプレグ。
[18]上記[1]〜[15]のいずれかに記載の樹脂組成物の硬化物により絶縁層が形成された多層プリント配線板。
[1] A resin composition comprising (A) an epoxy resin, (B) a cyanate ester resin, (C) an active ester curing agent and (D) a curing accelerator.
[2] The resin composition according to the above [1], wherein the (D) curing accelerator is at least one selected from a metal curing accelerator, an amine curing accelerator, and an imidazole curing accelerator.
[3] (D) A metal-based curing accelerator comprising an organometallic complex or an organometallic salt of at least one metal selected from cobalt, copper, zinc, iron, nickel, manganese, and tin The resin composition according to the above [1] or [2].
[4] When the nonvolatile content of the resin composition is 100% by mass, the content of (A) epoxy resin is 5 to 60% by mass, the content of (B) cyanate ester resin is 5 to 50% by mass, (C ) The resin composition according to any one of [1] to [3], wherein the content of the active ester curing agent is 2 to 20% by mass.
[5] (D) When the curing accelerator contains a metal curing accelerator and the nonvolatile content of the resin composition is 100% by mass, the metal content based on the metal curing accelerator is 25 to 500 ppm. The resin composition according to any one of [1] to [4] above.
[6] (D) When the curing accelerator includes an amine curing accelerator and / or an imidazole curing accelerator and the nonvolatile content of the resin composition is 100% by mass, the amine curing accelerator and / or imidazole. Resin composition in any one of said [1]-[4] whose content of a system hardening accelerator is 0.05-3 mass%.
[7] The above [1] to [6], wherein the ratio of cyanate ester group to epoxy group is 1: 0.4 to 1: 2, and the ratio of ester group to epoxy group is 1: 2 to 1:20. The resin composition in any one of.
[8] The resin composition according to any one of [1] to [7], further including (E) an inorganic filler.
[9] The resin composition according to the above [8], wherein the inorganic filler is talc and silica.
[10] When the nonvolatile content of the resin composition is 100% by mass, the total content of talc and silica is 35% by mass to 70% by mass, and the content of talc is 5% by mass to 20% by mass. The resin composition as described in [9] above.
[11] The resin composition according to any one of [1] to [10], further comprising (F) a vinylbenzyl compound.
[12] The resin composition according to [11] above, wherein the content of the (F) vinylbenzyl compound is 2 to 50% by mass when the nonvolatile content of the resin composition is 100% by mass.
[13] Further (G) polyvinyl acetal resin, phenoxy resin, polyimide resin, polyamideimide resin, polyetherimide resin, polysulfone resin, polyethersulfone resin, polyphenylene ether resin, polycarbonate resin, polyetheretherketone resin, and polyester resin The resin composition according to any one of the above [1] to [12], which contains one or more polymer compounds selected from the group consisting of:
[14] The resin composition according to [13] above, wherein the content of the polymer compound is 1 to 20% by mass when the nonvolatile content of the resin composition is 100% by mass.
[15]
The dielectric loss tangent characteristic is 0.004 to 0.009, and the decrease rate of adhesion strength before and after the environmental test is 0% to 59%. Resin composition.
[16] An adhesive film in which the resin composition according to any one of [1] to [15] is layered on a support.
[17] A prepreg in which the resin composition according to any one of [1] to [15] is impregnated in a sheet-like reinforcing base material.
[18] A multilayer printed wiring board in which an insulating layer is formed of a cured product of the resin composition according to any one of [1] to [15].

本発明によれば、多層プリント配線板の絶縁層形成に好適な樹脂組成物であって、樹脂組成物により形成される絶縁層が、低誘電正接であり、加速環境試験後における絶縁層と導体層の密着性が優れた樹脂組成物が提供される。   According to the present invention, a resin composition suitable for forming an insulating layer of a multilayer printed wiring board, wherein the insulating layer formed by the resin composition has a low dielectric loss tangent, and the insulating layer and the conductor after the accelerated environment test A resin composition having excellent layer adhesion is provided.

本発明は、(A)エポキシ樹脂、(B)シアネートエステル樹脂、(C)活性エステル硬化剤及び(D)硬化促進剤を含有することを特徴とする樹脂組成物である。 The present invention is a resin composition comprising (A) an epoxy resin, (B) a cyanate ester resin, (C) an active ester curing agent and (D) a curing accelerator.

[(A)エポキシ樹脂]
本発明において使用されるエポキシ樹脂としては、特に限定されるものではなく、例えば、ビスフェノールA型エポキシ樹脂、ビスフェノールF型エポキシ樹脂、ビスフェノールS型エポキシ樹脂、フェノールノボラック型エポキシ樹脂、アルキルフェノールノボラック型エポキシ樹脂、ビフェニル型エポキシ樹脂、アラルキル型エポキシ樹脂、ナフトール型エポキシ樹脂、ジシクロペンタジエン型エポキシ樹脂、ナフタレン型エポキシ樹脂、フェノール類とフェノール性ヒドロキシル基を有する芳香族アルデヒドとの縮合物のエポキシ化物、ビフェニルアラルキル型エポキシ樹脂、フルオレン型エポキシ樹脂、キサンテン型エポキシ樹脂、トリグリシジルイソシアヌレート等を挙げることができる。エポキシ樹脂は1種又は2種以上を組み合わせて使用してもよい。エポキシ樹脂としては、耐熱性、絶縁信頼性、金属膜との密着性の観点から、ビスフェノールA型エポキシ樹脂、ナフトール型エポキシ樹脂、ナフタレン型エポキシ樹脂、ビフェニル型エポキシ樹脂、ブタジエン構造を有するエポキシ樹脂が好ましい。エポキシ樹脂としては、特に下記一般式(1)で表されるナフトール型エポキシ樹脂が好ましい。
[(A) Epoxy resin]
The epoxy resin used in the present invention is not particularly limited. For example, bisphenol A type epoxy resin, bisphenol F type epoxy resin, bisphenol S type epoxy resin, phenol novolac type epoxy resin, alkylphenol novolac type epoxy resin. , Biphenyl type epoxy resin, aralkyl type epoxy resin, naphthol type epoxy resin, dicyclopentadiene type epoxy resin, naphthalene type epoxy resin, epoxidized product of condensate of phenol and aromatic aldehyde having phenolic hydroxyl group, biphenyl aralkyl Type epoxy resin, fluorene type epoxy resin, xanthene type epoxy resin, triglycidyl isocyanurate and the like. Epoxy resins may be used alone or in combination of two or more. Epoxy resins include bisphenol A type epoxy resins, naphthol type epoxy resins, naphthalene type epoxy resins, biphenyl type epoxy resins, and epoxy resins having a butadiene structure from the viewpoint of heat resistance, insulation reliability, and adhesion to metal films. preferable. As the epoxy resin, a naphthol type epoxy resin represented by the following general formula (1) is particularly preferable.

Figure 2010285594
Figure 2010285594

(式(1)中、nは平均値として1〜6の数を示し、Xはグリシジル基又は炭素数1〜8の炭化水素基を示し、炭化水素基/グリシジル基の比率は0.05〜2.0である。)エポキシ樹脂中の平均値としての炭化水素基とグリシジル基の比率は、炭化水素基/グリシジル基=0.05〜2.0の範囲であり、好ましくは0.1〜1.0の範囲である。Xが炭素数1〜8の炭化水素基を示す場合の炭化水素基としては、メチル基、エチル基、n−プロピル基、イソプロピル基、アリル基、プロパルギル基、ブチル基、n−ペンチル基、sec−ペンチル基、tert−ペンチル基、シクロヘキシル基、フェニル基、ベンジル基等が挙げられ、特にメチル基が好ましい。式(1)で表されるナフトールエポキシ樹脂は特開2006−160868記載の公知の樹脂であり、該公報記載の製法に従って製造することができる。 (In Formula (1), n shows the number of 1-6 as an average value, X shows a glycidyl group or a C1-C8 hydrocarbon group, and the ratio of hydrocarbon group / glycidyl group is 0.05- The ratio of the hydrocarbon group and glycidyl group as an average value in the epoxy resin is in the range of hydrocarbon group / glycidyl group = 0.05 to 2.0, preferably 0.1 to The range is 1.0. Examples of the hydrocarbon group when X represents a hydrocarbon group having 1 to 8 carbon atoms include methyl group, ethyl group, n-propyl group, isopropyl group, allyl group, propargyl group, butyl group, n-pentyl group, sec -Pentyl group, tert-pentyl group, cyclohexyl group, phenyl group, benzyl group and the like can be mentioned, and a methyl group is particularly preferable. The naphthol epoxy resin represented by the formula (1) is a known resin described in JP-A-2006-160868, and can be produced according to the production method described in the publication.

市販されているエポキシ樹脂としては、例えば、ジャパンエポキシレジン(株)製「jER828EL」(液状ビスフェノールA型エポキシ樹脂)、DIC(株)製「HP4032」、「HP4032D](ナフタレン型2官能エポキシ樹脂)、DIC(株)製「HP4700」(ナフタレン型4官能エポキシ樹脂)、東都化成(株)製「ESN−475V」「ESN−185V」(ナフトール型エポキシ樹脂)、ダイセル化学工業(株)製「PB−3600」(ブタジエン構造を有するエポキシ樹脂)、日本化薬(株)製「NC3000H」、「NC3000L」、「NC3100」、「NC3000」、「NC3000FH−75M」(ビフェニル型エポキシ樹脂)、ジャパンエポキシレジン(株)製「YX4000」(ビフェニル型エポキシ樹脂)、ジャパンエポキシレジン(株)製「YX8800」(アントラセン骨格含有型エポキシ樹脂)などが挙げられる。   Examples of commercially available epoxy resins include “jER828EL” (liquid bisphenol A type epoxy resin) manufactured by Japan Epoxy Resin Co., Ltd., “HP4032”, “HP4032D” (naphthalene type bifunctional epoxy resin) manufactured by DIC Corporation. "HP4700" (naphthalene type tetrafunctional epoxy resin) manufactured by DIC Corporation, "ESN-475V" and "ESN-185V" (naphthol type epoxy resin) manufactured by Toto Kasei Co., Ltd., "PB" manufactured by Daicel Chemical Industries, Ltd. -3600 "(epoxy resin having a butadiene structure)," NC3000H "," NC3000L "," NC3100 "," NC3000 "," NC3000FH-75M "(biphenyl type epoxy resin) manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd., Japan Epoxy Resin "YX4000" (biphenyl type) Carboxymethyl resins), Japan Epoxy Resins Co., Ltd. "YX8800" (anthracene skeleton-containing epoxy resin) and the like.

樹脂組成物中のエポキシ樹脂の含有量は、特に限定されるものではないが、樹脂組成物中の不揮発分を100質量%とした場合、好ましくは5〜60質量%であり、より好ましくは10〜50質量%である。エポキシ樹脂の含有量が少なすぎると、下地導体層との密着強度が低下する傾向にあるし、エポキシ樹脂の含有量が多すぎると、相対的にシアネートエステル樹脂の含有量が減少するため、誘電正接が増大する傾向にある。   The content of the epoxy resin in the resin composition is not particularly limited, but is preferably 5 to 60% by mass, more preferably 10% when the nonvolatile content in the resin composition is 100% by mass. -50 mass%. If the content of the epoxy resin is too small, the adhesion strength with the underlying conductor layer tends to decrease. If the content of the epoxy resin is too large, the content of the cyanate ester resin is relatively decreased. Tangency tends to increase.

[(B)シアネートエステル樹脂]
本発明において使用されるシアネートエステル樹脂は、特に限定されるものではなく、例えば、ノボラック型(フェノールノボラック型、アルキルフェノールノボラック型など)シアネートエステル樹脂、ジシクロペンタジエン型シアネートエステル樹脂、ビスフェノール型(ビスフェノールA型、ビスフェノールF型、ビスフェノールS型など)シアネートエステル樹脂、及びこれらが一部トリアジン化したプレポリマーなどが挙げられる。これらは、単独で使用してもよく、2種以上を組み合わせて使用してもよい。シアネートエステル樹脂の重量平均分子量は、特に限定されるものではないが、好ましくは500〜
4500であり、より好ましくは600〜3000である。
[(B) Cyanate ester resin]
The cyanate ester resin used in the present invention is not particularly limited, and examples thereof include novolak type (phenol novolak type, alkylphenol novolak type, etc.) cyanate ester resin, dicyclopentadiene type cyanate ester resin, bisphenol type (bisphenol A). Type, bisphenol F type, bisphenol S type, etc.) cyanate ester resins and prepolymers in which these are partially triazines. These may be used alone or in combination of two or more. The weight average molecular weight of the cyanate ester resin is not particularly limited, but preferably 500 to
It is 4500, More preferably, it is 600-3000.

シアネートエステル樹脂の具体例としては、例えば、ビスフェノールAジシアネート、ポリフェノールシアネート(オリゴ(3−メチレン−1,5−フェニレンシアネート)、4,4’−メチレンビス(2,6−ジメチルフェニルシアネート)、4,4’−エチリデンジフェニルジシアネート、ヘキサフルオロビスフェノールAジシアネート、2,2−ビス(4−シアネート)フェニルプロパン、1,1−ビス(4−シアネートフェニルメタン)、ビス(4−シアネート−3,5−ジメチルフェニル)メタン、1,3−ビス(4−シアネートフェニル−1−(メチルエチリデン))ベンゼン、ビス(4−シアネートフェニ
ル)チオエーテル、ビス(4−シアネートフェニル)エーテル等の2官能シアネート樹脂、フェノールノボラック、クレゾールノボラック、ジシクロペンタジエン構造含有フェノール樹脂等から誘導される多官能シアネート樹脂、これらシアネート樹脂が一部トリアジン化したプレポリマーなどが挙げられる。シアネートエステル樹脂は1種又は2種以上を組み合わせて使用してもよい。
Specific examples of the cyanate ester resin include, for example, bisphenol A dicyanate, polyphenol cyanate (oligo (3-methylene-1,5-phenylene cyanate), 4,4′-methylenebis (2,6-dimethylphenyl cyanate), 4, 4'-ethylidenediphenyl dicyanate, hexafluorobisphenol A dicyanate, 2,2-bis (4-cyanate) phenylpropane, 1,1-bis (4-cyanatephenylmethane), bis (4-cyanate-3,5- Bifunctional cyanate resins such as dimethylphenyl) methane, 1,3-bis (4-cyanatephenyl-1- (methylethylidene)) benzene, bis (4-cyanatephenyl) thioether, bis (4-cyanatephenyl) ether, phenol Novolac and Crezo Examples thereof include polyfunctional cyanate resins derived from lenovolac, dicyclopentadiene structure-containing phenol resins, etc., prepolymers in which these cyanate resins are partially triazines, etc. Cyanate ester resins are used alone or in combination of two or more. May be.

市販されているシアネートエステル樹脂としては、下式(2)で表されるフェノールノボラック型多官能シアネートエステル樹脂(ロンザジャパン(株)製、PT30、シアネート当量124)、下式(3)で表されるビスフェノールAジシアネートの一部又は全部がトリアジン化され三量体となったプレポリマー(ロンザジャパン(株)製、BA230、シアネート当量232)、下式(4)で表されるジシクロペンタジエン構造含有シアネートエステル樹脂(ロンザジャパン(株)製、DT−4000、DT−7000)等が挙げられる。   As a commercially available cyanate ester resin, a phenol novolak type polyfunctional cyanate ester resin represented by the following formula (2) (manufactured by Lonza Japan Co., Ltd., PT30, cyanate equivalent 124), represented by the following formula (3): Prepolymer (part Lona Japan Co., Ltd., BA230, cyanate equivalent 232), containing a dicyclopentadiene structure represented by the following formula (4) Examples include cyanate ester resins (Lonza Japan Co., Ltd., DT-4000, DT-7000).

Figure 2010285594
[式(2)中、nは平均値として任意の数(好ましくは0〜20)を示す。]
Figure 2010285594
[In Formula (2), n shows arbitrary numbers (preferably 0-20) as an average value. ]

Figure 2010285594
Figure 2010285594
(式(4)中、nは平均値として0〜5の数を表す。)
Figure 2010285594
Figure 2010285594
(In Formula (4), n represents the number of 0-5 as an average value.)

樹脂組成物中のシアネートエステル樹脂の含有量は、特に限定されるものではないが、樹脂組成物中の不揮発分を100質量%とした場合、好ましくは5〜50質量%であり、より好ましくは7〜40質量%であり、更に好ましくは10〜30質量%である。シアネートエステル樹脂の含有量が少なすぎると、耐熱性が低下する傾向、誘電正接が増加する傾向にある。シアネートエステル樹脂の含有量が多すぎると、下地導体層と絶縁層の密着強度が低下する傾向にある。   The content of the cyanate ester resin in the resin composition is not particularly limited, but when the nonvolatile content in the resin composition is 100% by mass, it is preferably 5 to 50% by mass, more preferably It is 7-40 mass%, More preferably, it is 10-30 mass%. When there is too little content of cyanate ester resin, it exists in the tendency for heat resistance to fall and for a dielectric loss tangent to increase. When there is too much content of cyanate ester resin, it exists in the tendency for the adhesive strength of a base conductor layer and an insulating layer to fall.

シアネートエステル樹脂のシアネート当量と、エポキシ樹脂のエポキシ当量との比は、好ましくは1:0.4〜1:2であり、より好ましくは1:0.5〜1:1.5であり、更に好ましくは1:0.6〜1:1.1である。当量比が1:0.4よりも少ない場合は、下地導体層と絶縁層の密着強度が低化する傾向があり、当量比が1:2よりも多い場合は、誘電正接が上昇する傾向にある。   The ratio of the cyanate equivalent of the cyanate ester resin to the epoxy equivalent of the epoxy resin is preferably 1: 0.4 to 1: 2, more preferably 1: 0.5 to 1: 1.5, Preferably it is 1: 0.6-1: 1.1. When the equivalence ratio is less than 1: 0.4, the adhesion strength between the base conductor layer and the insulating layer tends to decrease, and when the equivalence ratio is more than 1: 2, the dielectric loss tangent tends to increase. is there.

[(C)活性エステル硬化剤]
本発明において使用される活性エステル硬化剤は、フェノールエステル化合物、チオフェノールエステル化合物、N−ヒドロキシアミンエステル化合物、複素環ヒドロキシ化合物のエステル化化合物等の反応活性の高いエステル基を有し、エポキシ樹脂の硬化作用を有するものをいう。特に、1分子中に2個以上のフェノール性ヒドロキシ基を有する化合物とカルボン酸誘導体からなるフェノールエステル化合物が好ましく、このようなフェノールエステル化合物は例えば、1分子中に2個以上のフェノール性ヒドロキシ基を有する硬化剤とエステル化剤を反応させる方法、多官能性カルボン酸と芳香族多価ヒドロキシ化
合物を重縮合させ、該カルボキシ基を芳香族モノヒドロキシ化合物でエステル化する方法により製造することができる。例えば、特開2004−2277460号公報に記載の活性エステル硬化剤を使用することができる。活性エステル硬化剤は異なる種類のものを、1種又は2種以上を組み合わせて使用してもよい。
[(C) Active ester curing agent]
The active ester curing agent used in the present invention has an ester group with high reaction activity such as a phenol ester compound, a thiophenol ester compound, an N-hydroxyamine ester compound, an esterified compound of a heterocyclic hydroxy compound, and an epoxy resin. It has the hardening effect of. In particular, a phenol ester compound composed of a compound having two or more phenolic hydroxy groups in one molecule and a carboxylic acid derivative is preferable. Such a phenol ester compound is, for example, two or more phenolic hydroxy groups in one molecule. It can be produced by a method of reacting a curing agent having an ester with an esterifying agent, a method of polycondensing a polyfunctional carboxylic acid and an aromatic polyhydroxy compound, and esterifying the carboxy group with an aromatic monohydroxy compound. . For example, an active ester curing agent described in JP-A-2004-2277460 can be used. Different types of active ester curing agents may be used alone or in combination of two or more.

市販されている活性エステル硬化剤としては、EXB9460−65T(DIC(株)製、活性基当量223)、DC808(ジャパンエポキシレジン(株)製、活性基当量149)、YLH1026(ジャパンエポキシレジン(株)製、活性基当量200)、YLH1030(ジャパンエポキシレジン(株)製、活性基当量201)、YLH1048(ジャパンエポキシレジン(株)製、活性基当量245)、等が挙げられる。   Examples of commercially available active ester curing agents include EXB 9460-65T (manufactured by DIC Corporation, active group equivalent 223), DC808 (manufactured by Japan Epoxy Resin Co., Ltd., active group equivalent 149), YLH1026 (Japan Epoxy Resin Co., Ltd.). ), Active group equivalent 200), YLH1030 (manufactured by Japan Epoxy Resin Co., Ltd., active group equivalent 201), YLH1048 (manufactured by Japan Epoxy Resin Co., Ltd., active group equivalent 245), and the like.

樹脂組成物中の活性エステル硬化剤の含有量は、特に限定されるものではないが、活性エステル硬化剤の含有量の上限値は、硬化が遅く硬化時間が長くなることや機械特性が低下することを防止するという観点から、樹脂組成物中の不揮発分を100質量%とした場合、20質量%が好ましく、19質量%がより好ましく、18質量%が更に好ましく、17質量%が更に一層好ましく、16質量%が殊更好ましく、15質量%が特に好ましい。一方、活性エステル硬化剤の含有量の下限値は、誘電正接が増加するのを防止するという観点から、樹脂組成物中の不揮発分を100質量%とした場合、1質量%が好ましく、2質量%がより好ましく、3質量%が更に好ましい。   The content of the active ester curing agent in the resin composition is not particularly limited, but the upper limit of the content of the active ester curing agent is that the curing is slow and the curing time is long and the mechanical properties are lowered. From the viewpoint of preventing this, when the nonvolatile content in the resin composition is 100% by mass, 20% by mass is preferable, 19% by mass is more preferable, 18% by mass is further preferable, and 17% by mass is even more preferable. 16% by mass is particularly preferable, and 15% by mass is particularly preferable. On the other hand, the lower limit of the content of the active ester curing agent is preferably 1% by mass, preferably 2% by mass, when the nonvolatile content in the resin composition is 100% by mass, from the viewpoint of preventing increase in dielectric loss tangent. % Is more preferable, and 3% by mass is still more preferable.

活性エステル硬化剤の当量とエポキシ樹脂のエポキシ基との比率は好ましくは1:2〜1:20であり、より好ましくは1:3〜1:18であり、更に好ましくは1:3〜1:16である。当量比が1:2よりも少ない場合は、未反応の活性エステルが残存し、機械特性が低下する傾向にあり、当量比が1:20よりも多い場合は、誘電正接が増加する傾向にある。   The ratio of the equivalent amount of the active ester curing agent to the epoxy group of the epoxy resin is preferably 1: 2 to 1:20, more preferably 1: 3 to 1:18, still more preferably 1: 3 to 1: 1. 16. When the equivalence ratio is less than 1: 2, unreacted active ester remains and the mechanical properties tend to decrease. When the equivalence ratio is more than 1:20, the dielectric loss tangent tends to increase. .

[(D)硬化促進剤]
本発明において使用される硬化促進剤は、金属系硬化促進剤、イミダゾール系硬化促進剤、アミン系硬化促進剤等が挙げられる。硬化促進剤は、1種又は2種以上を組み合わせて用いてもよい。
[(D) Curing accelerator]
Examples of the curing accelerator used in the present invention include a metal curing accelerator, an imidazole curing accelerator, and an amine curing accelerator. The curing accelerator may be used alone or in combination of two or more.

金属系硬化促進剤としては、コバルト 、銅、亜鉛、鉄、ニッケル、マンガン、スズ等の金属の、有機金属錯体又は有機金属塩が挙げられる。有機金属錯体の具体例としては、コバルト(II)アセチルアセトナート、コバルト(III)アセチルアセトナート等の有機コバルト錯体、銅(II)アセチルアセトナート等の有機銅錯体、亜鉛(II)アセチルアセトナート等の有機亜鉛錯体、鉄(III)アセチルアセトナート等の有機鉄錯体、ニッケル(II)アセチルアセトナート等の有機ニッケル錯体、マンガン(II)アセチルアセトナート等の有機マンガン錯体などが挙げられる。有機金属塩としては、オクチル酸亜鉛、オクチル酸錫、ナフテン酸亜鉛、ナフテン酸コバルト、ステアリン酸スズ、ステアリン酸亜鉛などが挙げられる。金属系硬化促進剤としては、硬化性、溶剤溶解性の観点から、コバルト(II)アセチルアセトナート、コバルト(III)アセチルアセトナート、亜鉛(II)アセチルアセトナート、ナフテン酸亜鉛、鉄(III)アセチルアセトナートが好ましく、特にコバルト(II)アセチルアセトナート、ナフテン酸亜鉛が好ましい。金属系硬化促進剤は1種又は2種以上を組み合わせて使用してもよい。   Examples of the metal curing accelerator include organometallic complexes or organometallic salts of metals such as cobalt, copper, zinc, iron, nickel, manganese, and tin. Specific examples of the organometallic complex include organic cobalt complexes such as cobalt (II) acetylacetonate and cobalt (III) acetylacetonate, organic copper complexes such as copper (II) acetylacetonate, and zinc (II) acetylacetonate. Organic zinc complexes such as iron (III) acetylacetonate, organic nickel complexes such as nickel (II) acetylacetonate, and organic manganese complexes such as manganese (II) acetylacetonate. Examples of the organic metal salt include zinc octylate, tin octylate, zinc naphthenate, cobalt naphthenate, tin stearate, and zinc stearate. As metal-based curing accelerators, from the viewpoint of curability and solvent solubility, cobalt (II) acetylacetonate, cobalt (III) acetylacetonate, zinc (II) acetylacetonate, zinc naphthenate, iron (III) Acetylacetonate is preferable, and cobalt (II) acetylacetonate and zinc naphthenate are particularly preferable. You may use a metal type hardening accelerator 1 type or in combination of 2 or more types.

金属系硬化促進剤の添加量は、樹脂組成物中の不揮発分を100質量%とした場合、金属系硬化促進剤に基づく金属の含有量が25〜500ppm、より好ましくは40〜200ppmとなる範囲で添加するのが好ましい。25ppm未満であると、低粗度の絶縁層表面への密着性に優れる導体層の形成が困難となる傾向にあり、500ppmを超えると、樹脂組成物の保存安定性、絶縁性が低下する傾向となる。   The addition amount of the metal-based curing accelerator is a range in which the metal content based on the metal-based curing accelerator is 25 to 500 ppm, more preferably 40 to 200 ppm when the nonvolatile content in the resin composition is 100% by mass. Is preferably added. If it is less than 25 ppm, it tends to be difficult to form a conductor layer having excellent adhesion to the surface of the low-roughness insulating layer, and if it exceeds 500 ppm, the storage stability and insulation of the resin composition tend to decrease. It becomes.

イミダゾール系硬化促進剤としては、2−メチルイミダゾール、2−ウンデシルイミダゾール、2−ヘプタデシルイミダゾール、1,2−ジメチルイミダゾール、2−エチル−4−メチルイミダゾール、1,2−ジメチルイミダゾール、2−エチル−4−メチルイミダゾール、2−フェニルイミダゾール、2−フェニル−4−メチルイミダゾール、1−ベンジル−2−メチルイミダゾール、1−ベンジル−2−フェニルイミダゾール、1−シアノエチル−2−メチルイミダゾール、1−シアノエチル−2−ウンデシルイミダゾール、 1−シアノエチル−2−エチル−4−メチルイミダゾール、1−シアノエチル−2−フェニルイミダゾール、1−シアノエチル−2−ウンデシルイミダゾリウムトリメリテイト、1−シアノエチル−2−フェニルイミダゾリウムトリメリテイト、2,4−ジアミノ−6−[2’−メチルイミダゾリル−(1’)]−エチル−s−トリアジン、2,4−ジアミノ−6−[2’−ウンデシルイミダゾリル−(1’)]−エチル−s−トリアジン、2,4−ジアミノ−6−[2’−エチル−4’−メチルイミダゾリル−(1’)]−エチル−s−トリアジン、2,4−ジアミノ−6−[2’−メチルイミダゾリル−(1’)]−エチル−s−トリアジンイソシアヌル酸付加物、2−フェニルイミダゾールイソシアヌル酸付加物、2−フェニル−4,5−ジヒドロキシメチルイミダゾール、2−フェニル−4−メチル−5ヒドロキシメチルイミダゾール、2,3−ジヒドロ−1H−ピロロ[1,2−a]ベンズイミダゾール、1−ドデシル−2−メチル−3−ベンジルイミダゾリウムクロライド、2−メチルイミダゾリン、2−フェニルイミダゾリン等のイミダゾール化合物及びイミダゾール化合物とエポキシ樹脂とのアダクト体が挙げられる。   Examples of the imidazole curing accelerator include 2-methylimidazole, 2-undecylimidazole, 2-heptadecylimidazole, 1,2-dimethylimidazole, 2-ethyl-4-methylimidazole, 1,2-dimethylimidazole, 2- Ethyl-4-methylimidazole, 2-phenylimidazole, 2-phenyl-4-methylimidazole, 1-benzyl-2-methylimidazole, 1-benzyl-2-phenylimidazole, 1-cyanoethyl-2-methylimidazole, 1- Cyanoethyl-2-undecylimidazole, 1-cyanoethyl-2-ethyl-4-methylimidazole, 1-cyanoethyl-2-phenylimidazole, 1-cyanoethyl-2-undecylimidazolium trimellitate, 1-cyanoethyl-2- Feni Louis imidazolium trimellitate, 2,4-diamino-6- [2'-methylimidazolyl- (1 ')]-ethyl-s-triazine, 2,4-diamino-6- [2'-undecylimidazolyl- (1 ′)]-ethyl-s-triazine, 2,4-diamino-6- [2′-ethyl-4′-methylimidazolyl- (1 ′)]-ethyl-s-triazine, 2,4-diamino- 6- [2′-Methylimidazolyl- (1 ′)]-ethyl-s-triazine isocyanuric acid adduct, 2-phenylimidazole isocyanuric acid adduct, 2-phenyl-4,5-dihydroxymethylimidazole, 2-phenyl- 4-methyl-5-hydroxymethylimidazole, 2,3-dihydro-1H-pyrrolo [1,2-a] benzimidazole, 1-dodecyl-2-methyl-3-be Examples thereof include imidazole compounds such as benzyl imidazolium chloride, 2-methylimidazoline, 2-phenylimidazoline, and adducts of imidazole compounds and epoxy resins.

アミン系硬化促進剤としては、トリエチルアミン、トリブチルアミンなどのトリアルキルアミン、4−ジメチルアミノピリジン、ベンジルジメチルアミン、2,4,6,−トリス(ジメチルアミノメチル)フェノール、1,8−ジアザビシクロ(5,4,0)−ウンデセン(以下、DBUと略記する。)などのアミン化合物などが挙げられる。   Examples of the amine curing accelerator include trialkylamines such as triethylamine and tributylamine, 4-dimethylaminopyridine, benzyldimethylamine, 2,4,6, -tris (dimethylaminomethyl) phenol, 1,8-diazabicyclo (5 , 4, 0) -undecene (hereinafter abbreviated as DBU) and the like.

イミダゾール系硬化促進剤、アミン系硬化促進剤等の金属系硬化促進剤以外の硬化促進剤の含有量は、樹脂組成物中の不揮発分を100質量%とした場合、0.05〜3質量%の範囲であるのが好ましく、0.1〜2質量%の範囲であるのがより好ましい。0.05質量%未満であると、下地導体層との密着強度が低下する傾向にあり、3質量%を超えると硬化物の誘電正接が大きくなる傾向となる。金属系硬化促進剤とそれ以外の硬化促進剤(イミダゾール系硬化促進剤、アミン系硬化促進剤等)を組み合わせて用いる場合の含有量は、金属系硬化促進剤とそれ以外の硬化促進剤(イミダゾール系硬化促進剤、アミン系硬化促進剤等)をそれぞれ上記範囲内とするのが好ましい。   The content of curing accelerators other than metal-based curing accelerators such as imidazole-based curing accelerators and amine-based curing accelerators is 0.05 to 3% by mass when the nonvolatile content in the resin composition is 100% by mass. It is preferable that it is the range of 0.1-2 mass%. If it is less than 0.05% by mass, the adhesion strength with the underlying conductor layer tends to decrease, and if it exceeds 3% by mass, the dielectric loss tangent of the cured product tends to increase. When using a combination of a metal-based curing accelerator and other curing accelerators (imidazole-based curing accelerator, amine-based curing accelerator, etc.), the content of the metal-based curing accelerator and other curing accelerators (imidazole) It is preferable that the system-based curing accelerator, the amine-based curing accelerator, and the like are within the above ranges.

本発明の樹脂組成物は(A)成分、(B)成分、(C)成分、(D)成分を含み、絶縁層の誘電正接が低く、導体層と絶縁樹脂の密着性をより安定的に保つことができる。   The resin composition of the present invention comprises (A) component, (B) component, (C) component, and (D) component, the dielectric tangent of the insulating layer is low, and the adhesion between the conductor layer and the insulating resin is more stable. Can keep.

本発明の樹脂組成物の誘電正接は、後述する<誘電正接の測定及び評価>に記載の測定方法により把握することができる。   The dielectric loss tangent of the resin composition of the present invention can be grasped by the measurement method described in <Measurement and evaluation of dielectric loss tangent> described later.

本発明の樹脂組成物の誘電正接の上限値は、0.009が好ましく、0.0089がより好ましく、0.0087が更に好ましく、0.0085が更に一層好ましく、0,0083が殊更好ましく、0.0081が特に好ましい。本発明の樹脂組成物の誘電正接の下限値は、0.0072が好ましく、0.0070がより好ましく、0.0065が更に好ましく、0.006が更に一層好ましく、0.005が殊更好ましく、0.004が特に好ましい。   The upper limit of the dielectric loss tangent of the resin composition of the present invention is preferably 0.009, more preferably 0.0089, still more preferably 0.0087, still more preferably 0.0085, still more preferably 0,0083, and 0 .0081 is particularly preferred. The lower limit of the dielectric loss tangent of the resin composition of the present invention is preferably 0.0072, more preferably 0.0070, still more preferably 0.0065, still more preferably 0.006, even more preferably 0.005, and 0 .004 is particularly preferred.

本発明の樹脂組成物の環境試験前後の密着強度は、後述する<CZ処理銅箔と樹脂組成物間の密着強度の測定及び評価>に記載の測定方法により把握することができる。   The adhesion strength before and after the environmental test of the resin composition of the present invention can be grasped by the measurement method described in <Measurement and evaluation of adhesion strength between CZ-treated copper foil and resin composition> described later.

本発明の樹脂組成物の環境試験前後の密着強度低下率の上限値は、59%が好ましく、45%がより好ましく、36%が更に好ましく、33%が更に一層好ましく、30%が殊更好ましく、25%が特に好ましい。本発明の樹脂組成物の密着強度低下率の下限値は、17%が好ましく、13%がより好ましく、10%が更に好ましく、5%が更に一層好ましく、1%が殊更好ましく、0%が特に好ましい。   59% is preferable, 45% is more preferable, 36% is further more preferable, 33% is still more preferable, and 30% is still more preferable, as for the upper limit of the adhesive strength fall rate before and after the environmental test of the resin composition of this invention. 25% is particularly preferred. The lower limit value of the adhesion strength reduction rate of the resin composition of the present invention is preferably 17%, more preferably 13%, still more preferably 10%, still more preferably 5%, particularly preferably 1%, and particularly preferably 0%. preferable.

[(E)無機充填材]
本発明の樹脂組成物には、当該樹脂組成物から得られる絶縁層の熱膨張率をさらに低下させるために無機充填材を含有させる事ができる。無機充填材としては、例えば、シリカ、アルミナ、硫酸バリウム、タルク、クレー、雲母粉、水酸化アルミニウム、水酸化マグネシウム、炭酸カルシウム、炭酸マグネシウム、酸化マグネシウム、窒化ホウ素、ホウ酸アルミニウム、チタン酸バリウム、チタン酸ストロンチウム、チタン酸カルシウム、チタン酸マグネシウム、チタン酸ビスマス、酸化チタン、ジルコン酸バリウム、ジルコン酸カルシウムなどが挙げられる。なかでも、導体層と絶縁層の密着性向上の観点から、シリカ、タルクが好ましい。無機充填材は1種又は2種以上を組み合わせて用いてもよい。
無機充填材の平均粒子径は、特に限定されるものではないが、絶縁層への微細配線形成の観点から、5μm以下が好ましく、4μm以下がより好ましく、2.5μm以下が更に好ましく、1.3μm以下が更に一層好ましく、1μm以下が殊更好ましく、0.7μm以下が特に好ましい。なお、無機充填材の平均粒子径が小さくなりすぎると、エポキシ樹脂組成物を樹脂ワニスとした場合に、ワニスの粘度が上昇し、取り扱い性が低下する傾向にあるため、平均粒子径は0.05μm以上であるのが好ましく、0.1μm以上であるのがより好ましく、0.5μm以上であるのが更に好ましい。
[(E) Inorganic filler]
The resin composition of the present invention may contain an inorganic filler in order to further reduce the coefficient of thermal expansion of the insulating layer obtained from the resin composition. Examples of the inorganic filler include silica, alumina, barium sulfate, talc, clay, mica powder, aluminum hydroxide, magnesium hydroxide, calcium carbonate, magnesium carbonate, magnesium oxide, boron nitride, aluminum borate, barium titanate, Examples include strontium titanate, calcium titanate, magnesium titanate, bismuth titanate, titanium oxide, barium zirconate, and calcium zirconate. Of these, silica and talc are preferable from the viewpoint of improving the adhesion between the conductor layer and the insulating layer. The inorganic filler may be used alone or in combination of two or more.
The average particle diameter of the inorganic filler is not particularly limited, but is preferably 5 μm or less, more preferably 4 μm or less, still more preferably 2.5 μm or less, from the viewpoint of forming fine wiring on the insulating layer. 3 μm or less is even more preferable, 1 μm or less is particularly preferable, and 0.7 μm or less is particularly preferable. If the average particle size of the inorganic filler is too small, when the epoxy resin composition is used as a resin varnish, the viscosity of the varnish tends to increase and the handleability tends to decrease. The thickness is preferably 05 μm or more, more preferably 0.1 μm or more, and even more preferably 0.5 μm or more.

無機充填材の添加量の上限値は、硬化物が脆くなるのを防止し、樹脂組成物の密着強度が低下するのを防止するという観点から、樹脂組成物中の不揮発分を100質量%とした場合、70質量%が好ましく、67質量%がより好ましく、64質量%が更に好ましく、61質量%が更に一層好ましい。一方、無機充填材の添加量の下限値は、絶縁層の熱膨張率を低くするという観点から、樹脂組成物中の不揮発分を100質量%とした場合、5質量%が好ましく、10質量%がより好ましく、35質量%が更に好ましく、40質量%が更に一層好ましく、42質量%が殊更好ましく、44質量%が特に好ましく、46質量%がとりわけ好ましい。   From the viewpoint of preventing the cured product from becoming brittle and preventing the adhesion strength of the resin composition from decreasing, the upper limit of the amount of inorganic filler added is 100% by mass. 70 mass% is preferable, 67 mass% is more preferable, 64 mass% is still more preferable, and 61 mass% is still more preferable. On the other hand, the lower limit of the addition amount of the inorganic filler is preferably 5% by mass, preferably 10% by mass, when the nonvolatile content in the resin composition is 100% by mass from the viewpoint of reducing the thermal expansion coefficient of the insulating layer. Is more preferred, 35% by weight is still more preferred, 40% by weight is even more preferred, 42% by weight is particularly preferred, 44% by weight is particularly preferred, and 46% by weight is particularly preferred.

本発明の樹脂組成物において、加速環境試験後の銅配線からなる導体層と絶縁層との密着性がさらに向上するという観点から、無機充填材としてタルクを使用することが好ましい。一方、十分な密着性を維持し、また絶縁層の熱膨張率を下げる比較的大量のタルクが必要となるため、樹脂組成物の溶融粘度が高くなりすぎてラミネートに適さなくなるということを防止するために、シリカを組み合わせて用いる事がより好ましい。タルクとシリカを組み合わせて用いることにより、導体層の密着性、低熱膨張率、ラミネート性のバランスがとれた良好な絶縁層が形成可能となる。   In the resin composition of the present invention, it is preferable to use talc as the inorganic filler from the viewpoint of further improving the adhesion between the conductor layer comprising the copper wiring after the accelerated environmental test and the insulating layer. On the other hand, since a relatively large amount of talc is required to maintain sufficient adhesion and lower the coefficient of thermal expansion of the insulating layer, it prevents the melt viscosity of the resin composition from becoming too high to be suitable for lamination. Therefore, it is more preferable to use silica in combination. By using a combination of talc and silica, it is possible to form a good insulating layer that balances the adhesion of the conductor layer, the low coefficient of thermal expansion, and the laminating property.

本発明において使用されるタルクは、特に限定されず、各種タルクが使用でき、焼成タルクを用いてもよい。タルクの平均粒子径の上限値は、微細配線化、絶縁信頼性の観点から、5μm以下が好ましく、4μm以下がより好ましく、2.5μm以下が更に好ましく、1.3μm以下が更に一層好ましく、1μm以下が殊更好ましく、0.7μm以下が特に好ましい。一方、タルクの平均粒子径の下限値は、樹脂の粘度が高くなりすぎ、微細配線間に樹脂が埋め込まれにくくなるのを防止するという観点から、0.05μm以上であるのが好ましく、0.1μm以上であるのがより好ましく、0.5μm以上であるのが更に好ましい。   The talc used in the present invention is not particularly limited, and various talc can be used, and calcined talc may be used. The upper limit of the average particle diameter of talc is preferably 5 μm or less, more preferably 4 μm or less, still more preferably 2.5 μm or less, even more preferably 1.3 μm or less, and even more preferably 1 μm from the viewpoint of fine wiring and insulation reliability. The following is particularly preferable, and 0.7 μm or less is particularly preferable. On the other hand, the lower limit of the average particle diameter of talc is preferably 0.05 μm or more from the viewpoint of preventing the resin from becoming too high in viscosity and preventing the resin from being embedded between fine wires. It is more preferably 1 μm or more, and further preferably 0.5 μm or more.

市販されているタルクとしては、日本タルク(株)製D―600(平均粒子径0.6μm)、D−800(平均粒子径0.8μm)、D−1000(平均粒子径1.0μm)、SG−95S(平均粒子径1.2μm)、FG−15(平均粒子径1.2μm)、SG−95(平均粒子径2.5μm)、P−8(平均粒子径3.3μm)、P−6(平均粒子径4.0μm)、P−4(平均粒子径4.5μm)、P−3(平均粒子径5.0μm)、P−2(平均粒子径7.0μm)、L−1(平均粒子径5.0μm)、K−1(平均粒子径8.0μm)、L−G(平均粒子径5.0μm)などが挙げられる。   Commercially available talc includes D-600 (average particle size 0.6 μm), D-800 (average particle size 0.8 μm), D-1000 (average particle size 1.0 μm) manufactured by Nippon Talc Co., Ltd. SG-95S (average particle size 1.2 μm), FG-15 (average particle size 1.2 μm), SG-95 (average particle size 2.5 μm), P-8 (average particle size 3.3 μm), P- 6 (average particle size: 4.0 μm), P-4 (average particle size: 4.5 μm), P-3 (average particle size: 5.0 μm), P-2 (average particle size: 7.0 μm), L-1 ( Average particle diameter 5.0 μm), K-1 (average particle diameter 8.0 μm), LG (average particle diameter 5.0 μm) and the like.

本発明において使用されるシリカは、特には限定されず、無定形シリカ、溶融シリカ、結晶シリカ、合成シリカ等の各種シリカが用いられ、特に球状の溶融シリカが好ましい。シリカの平均粒子径は特に限定されないが微細配線化の形成を可能とし、絶縁信頼性を向上させるという観点から、平均粒子径は5μm以下が好ましく、4μm以下がより好ましく、2.5μm以下が更に好ましく、1.3μm以下が更に一層好ましく、1μm以下が殊更好ましい。一方、シリカの平均粒子径の下限値は、平均粒子径が小さすぎると、樹脂の粘度が高くなりすぎ、微細配線間に樹脂が埋め込まれにくくなるのを防止するという観点から、0.05μm以上であるのが好ましく、0.1μm以上であるのがより好ましく、0.5μm以上であるのが更に好ましい。   The silica used in the present invention is not particularly limited, and various silicas such as amorphous silica, fused silica, crystalline silica, and synthetic silica are used, and spherical fused silica is particularly preferable. Although the average particle diameter of silica is not particularly limited, the average particle diameter is preferably 5 μm or less, more preferably 4 μm or less, and further preferably 2.5 μm or less from the viewpoint of enabling formation of fine wiring and improving insulation reliability. It is preferably 1.3 μm or less, more preferably 1 μm or less. On the other hand, the lower limit of the average particle diameter of the silica is 0.05 μm or more from the viewpoint of preventing the resin from becoming too thick and difficult to be embedded between fine wirings if the average particle diameter is too small. Preferably, it is 0.1 μm or more, and more preferably 0.5 μm or more.

タルク及びシリカを併用する場合、タルク及びシリカの合計配合量の上限値は、回路基板へのラミネート性が悪化するのを防止するという観点から、樹脂組成物中の不揮発分を100質量%とした場合、70質量%が好ましく、68質量%がより好ましく、66質量%が更に好ましく、64質量%が更に一層好ましく、62質量%が殊更好ましく、61質量%が特に好ましい。一方、タルク及びシリカの合計配合量の下限値は、絶縁層の熱膨張率を低くするという観点から、樹脂組成物中の不揮発分を100質量%とした場合、5質量%が好ましく、10質量%がより好ましく、35質量%が更に好ましく、40質量%が更に一層好ましく、42質量%が殊更好ましく、44質量%が特に好ましく、46質量%がとりわけ好ましい。   When talc and silica are used in combination, the upper limit of the total blending amount of talc and silica is 100% by mass of the non-volatile content in the resin composition from the viewpoint of preventing the laminate property to the circuit board from deteriorating. In this case, 70% by mass is preferable, 68% by mass is more preferable, 66% by mass is further preferable, 64% by mass is still more preferable, 62% by mass is particularly preferable, and 61% by mass is particularly preferable. On the other hand, the lower limit of the total blending amount of talc and silica is preferably 5% by mass, preferably 10% by mass, when the nonvolatile content in the resin composition is 100% by mass from the viewpoint of lowering the thermal expansion coefficient of the insulating layer. %, More preferably 35% by weight, still more preferably 40% by weight, still more preferably 42% by weight, particularly preferably 44% by weight, and particularly preferably 46% by weight.

そして、タルク及びシリカを併用する場合、タルクの配合量の上限値は、回路基板へのラミネート性が悪化するのを防止するという観点から、樹脂組成物中の不揮発分を100質量%とした場合、20質量%が好ましく、19質量%がより好ましく、18質量%が更に好ましく、17質量%が更に一層好ましく、16質量%が殊更好ましく、15質量%が特に好ましい。一方、タルクの配合量の下限値は、環境試験後の導体層と絶縁層の密着強度が低下するのを防止するという観点から、樹脂組成物中の不揮発分を100質量%とした場合、5質量%が好ましく、6質量%がより好ましく、7質量%が更に好ましく、8質量%が更に一層好ましく、9質量%が殊更好ましく、10質量%が特に好ましい。 And when using together talc and silica, the upper limit of the amount of talc is when the non-volatile content in the resin composition is set to 100% by mass from the viewpoint of preventing the laminate property to the circuit board from deteriorating. 20% by weight, more preferably 19% by weight, still more preferably 18% by weight, still more preferably 17% by weight, still more preferably 16% by weight, and particularly preferably 15% by weight. On the other hand, the lower limit of the amount of talc is 5 when the nonvolatile content in the resin composition is 100% by mass from the viewpoint of preventing the adhesion strength between the conductor layer and the insulating layer after the environmental test from being reduced. % By weight is preferred, 6% by weight is more preferred, 7% by weight is more preferred, 8% by weight is even more preferred, 9% by weight is even more preferred, and 10% by weight is particularly preferred.

本発明における無機充填材は、エポキシシランカップリング剤、アミノシランカップリング剤、チタネート系カップリング剤等の表面処理剤で表面処理してその耐湿性を向上させたものが好ましい。表面処理剤は1種又は2種以上を組み合わせて使用してもよい。表面処理剤としては、アミノプロピルメトキシシラン、アミノプロピルトリエトキシシラン、ウレイドプロピルトリエトキシシラン、N−フェニルアミノプロピルトリメトキシシラン、N−2(アミノエチル)アミノプロビルトリメトキシシラン等のアミノシラン系カップリング剤、グリシドキシプロピルトリメトキシシラン、グリシドキシプロピルトリエトキシシラン、グリシドキシプロピルメチルジエトキシシラン、グリシジルブチルトリメトキシシラン、(3,4−エポキシシクロヘキシル)エチルトリメトキシシラン等のエポキシシラン系カップリング剤、メルカトプロピルトリメトキシシラン、メルカトプロピルトリエトキシシラン等のメルカプトシラン系カップリング剤、メチルトリメトキシシラン、オクタデシルトリメトキシシラン、フェニルトリメトキシシラン、メタクロキシプロピルトリメトキシシラン、イミダゾールシラン、トリアジンシラン等のシラン系カップリング剤、ヘキサメチルジシラザン、ヘキサフェニルジシラザン、トリシラザン、シクロトリシラザン、1,1,3,3,5,5−ヘキサメテルシクロトリシラザン等のオルガノシラザン化合
物、ブチルチタネートダイマー、チタンオクチレングリコレート、ジイソプロポキシチタンビス(トリエタノールアミネート)、ジヒドロキシチタンビスラクテート、ジヒドロキシビス(アンモニウムラクテート)チタニウム、ビス(ジオクチルパイロホスフェート)エチレンチタネート、ビス(ジオクチルパイロホスフェート)オキシアセテートチタネート、トリ−n−ブトキシチタンモノステアレート、テトラ−n−ブチルチタネート、テトラ(2−エチルヘキシル)チタネート、テトライソプロピルビス(ジオクチルホスファイト)チタネート、テトラオクチルビス(ジトリデシルホスファイト)チタネート、テトラ(2,2−ジアリルオキシメチル−1−ブチル)ビス(ジトリデシル)ホスファイトチタネート、イソプロピルトリオクタノイルチタネート、イソプロピルトリクミルフェニルチタネート、イソプロピルトリイソステアロイルチタネート、イソプロピルイソステアロイルジアクリルチタネート、イソプロピルジメタクリルイソステアロイルチタネート、イソプロピルトリ(ジオクチルホスフェート)チタネート、イソプロピルトリドデシルベンゼンスルホニルチタネート、イソプロピルトリス(ジオクチルパイロホスフェート)チタネート、イソプロピルトリ(N−アミドエチル・アミノエチル)チタネート等のチタネート系カップリング剤等が挙げられる。
The inorganic filler in the present invention is preferably one that has been surface treated with a surface treatment agent such as an epoxy silane coupling agent, an aminosilane coupling agent, or a titanate coupling agent to improve its moisture resistance. You may use a surface treating agent 1 type or in combination of 2 or more types. As the surface treatment agent, aminosilane-based cups such as aminopropylmethoxysilane, aminopropyltriethoxysilane, ureidopropyltriethoxysilane, N-phenylaminopropyltrimethoxysilane, N-2 (aminoethyl) aminopropyl trimethoxysilane, etc. Epoxy silanes such as ring agents, glycidoxypropyltrimethoxysilane, glycidoxypropyltriethoxysilane, glycidoxypropylmethyldiethoxysilane, glycidylbutyltrimethoxysilane, (3,4-epoxycyclohexyl) ethyltrimethoxysilane Coupling agents, mercaptosilane coupling agents such as mercatopropyltrimethoxysilane, mercatopropyltriethoxysilane, methyltrimethoxysilane, octadecyltrimethoxysilane Silane coupling agents such as lan, phenyltrimethoxysilane, methacroxypropyltrimethoxysilane, imidazolesilane, triazinesilane, hexamethyldisilazane, hexaphenyldisilazane, trisilazane, cyclotrisilazane, 1,1,3,3 , 5,5-hexametacyclotrisilazane and other organosilazane compounds, butyl titanate dimer, titanium octylene glycolate, diisopropoxy titanium bis (triethanolaminate), dihydroxy titanium bis lactate, dihydroxy bis (ammonium lactate) titanium, bis (Dioctyl pyrophosphate) ethylene titanate, bis (dioctyl pyrophosphate) oxyacetate titanate, tri-n-butoxy titanium monostearate, Tra-n-butyl titanate, tetra (2-ethylhexyl) titanate, tetraisopropyl bis (dioctyl phosphite) titanate, tetraoctyl bis (ditridecyl phosphite) titanate, tetra (2,2-diallyloxymethyl-1-butyl) Bis (ditridecyl) phosphite titanate, isopropyl trioctanoyl titanate, isopropyl tricumyl phenyl titanate, isopropyl triisostearoyl titanate, isopropyl isostearoyl diacryl titanate, isopropyl dimethacryl isostearoyl titanate, isopropyl tri (dioctyl phosphate) titanate, isopropyl tri Dodecylbenzenesulfonyl titanate, isopropyl tris (dioctyl pyrophosphate) Titanate, isopropyl tri (N- amidoethyl-aminoethyl) titanate coupling agents such as titanates.

タルク、シリカを含む無機充填材の平均粒子径はミー(Mie)散乱理論に基づくレーザー回折・散乱法により測定することができる。具体的にはレーザー回折式粒度分布測定装置により、無機充填材の粒度分布を体積基準で作成し、そのメディアン径を平均粒子径とすることで測定することができる。測定サンプルは、無機充填材を超音波により水中に分散させたものを好ましく使用することができる。レーザー回折式粒度分布測定装置としては、(株)堀場製作所製 LA−500等を使用することができる。   The average particle diameter of the inorganic filler containing talc and silica can be measured by a laser diffraction / scattering method based on the Mie scattering theory. Specifically, the particle size distribution of the inorganic filler can be prepared on a volume basis with a laser diffraction particle size distribution measuring device, and the median diameter can be measured as the average particle diameter. As the measurement sample, an inorganic filler dispersed in water by ultrasonic waves can be preferably used. As a laser diffraction type particle size distribution measuring apparatus, LA-500 manufactured by Horiba Ltd. can be used.

[(F)ビニルベンジル化合物]
本発明の樹脂組成物には、当該樹脂組成物から得られる絶縁層の誘電正接をさらに低下させるためにビニルベンジル化合物を含有させる事ができる。本発明において使用される硬化性ポリビニルベンジル化合物は、分子内に2以上のビニルベンジル基を有する化合物であり、例えば、インデン化合物を、(i)ビニルベンジルハライドとアルカリ存在下に反応させる方法、(ii)ビニルベンジルハライド及び炭素数2〜20のジハロメチル化合物とアルカリ存在下に反応させる方法、もしくは(iii)フルオレン化合物、ビニルベンジルハライド及び炭素数2〜20のジハロメチル化合物とアルカリ存在下に反応させる方法(特開2003−277440号公報参照)、又は(iv)フルオレン化合物及びビニルベンジルハライドをアルカリ存在下に反応させる方法(国際公開02/083610号パンフレット)等により製造することができる。硬化性ポリビニルベンジル化合物は、低誘電正接という観点から分子内にヘテロ原子を含まないものが好ましい。
[(F) Vinylbenzyl compound]
The resin composition of the present invention may contain a vinylbenzyl compound in order to further reduce the dielectric loss tangent of the insulating layer obtained from the resin composition. The curable polyvinyl benzyl compound used in the present invention is a compound having two or more vinyl benzyl groups in the molecule. For example, (i) a method of reacting a vinyl benzyl halide with an alkali in the presence of an alkali, ii) a method of reacting a vinylbenzyl halide and a dihalomethyl compound having 2 to 20 carbon atoms in the presence of an alkali; or (iii) a method of reacting a fluorene compound, vinylbenzyl halide and a dihalomethyl compound having 2 to 20 carbon atoms in the presence of an alkali. (Refer to Unexamined-Japanese-Patent No. 2003-277440), or (iv) It can manufacture by the method (International publication 02/083610 pamphlet) etc. which make a fluorene compound and vinylbenzyl halide react with alkali presence. The curable polyvinyl benzyl compound preferably contains no hetero atom in the molecule from the viewpoint of low dielectric loss tangent.

樹脂組成物中の硬化性ポリビニルベンジル化合物の含有量は、特に限定されるものではないが、樹脂組成物の不揮発分を100質量%とした場合、好ましくは2〜50質量%であり、より好ましくは5〜25質量%である。硬化性ポリビニルベンジル化合物の含有量が少なすぎると、誘電正接が増加する傾向にある。一方、硬化性ポリビニルベンジル化合物の含有量が多すぎると、密着性が低下する傾向にある。   The content of the curable polyvinyl benzyl compound in the resin composition is not particularly limited, but when the nonvolatile content of the resin composition is 100% by mass, it is preferably 2 to 50% by mass, and more preferably Is 5 to 25% by mass. When the content of the curable polyvinyl benzyl compound is too small, the dielectric loss tangent tends to increase. On the other hand, when there is too much content of a curable polyvinyl benzyl compound, it exists in the tendency for adhesiveness to fall.

インデン化合物としては例えば以下の式(5)で表されるインデン化合物が挙げられる。

Figure 2010285594
式(5)中、Rは、同一又は異なっていてもよく、水素原子、ハロゲン原子、アルキル基(好ましくは炭素数1〜5のアルキル基)、アルコキシ基(好ましくは炭素数1〜5のアルコキシ基)及びチオアルコキシ基(好ましくは炭素数1〜5のチオアルコキシ基)からなる群より選択される1つの基を示し(または2以上のRが一体となって環を形成していてもよい)、pは0〜4の整数を示す。環を形成する場合としては、5〜8員のシクロアルキル環、ベンゼン環等の環が縮環した構造を挙げることができる。 Examples of indene compounds include indene compounds represented by the following formula (5).
Figure 2010285594
In Formula (5), R 3 may be the same or different, and is a hydrogen atom, a halogen atom, an alkyl group (preferably an alkyl group having 1 to 5 carbon atoms), or an alkoxy group (preferably having 1 to 5 carbon atoms). One group selected from the group consisting of an alkoxy group) and a thioalkoxy group (preferably a thioalkoxy group having 1 to 5 carbon atoms) (or two or more R 3 groups together to form a ring) P) represents an integer of 0 to 4. Examples of forming a ring include a structure in which a ring such as a 5- to 8-membered cycloalkyl ring or a benzene ring is condensed.

フルオレン化合物としては、以下の式(6)で表されるフルオレン化合物が挙げられる。

Figure 2010285594
式(6)中、Rは、同一又は異なっていてもよく、水素原子、ハロゲン原子、アルキル基(好ましくは炭素数1〜5のアルキル基)、アルコキシ基(好ましくは炭素数1〜5のアルコキシ基)及びチオアルコキシ基(好ましくは炭素数1〜5のチオアルコキシ基)からなる群より選択される1つの基を示し(または2以上のRが一体となって環を形成していてもよい)、mは0〜4の整数を示す。環を形成する場合としては、5〜8員のシクロアルキル環、ベンゼン環等の環が縮環した構造を挙げることができる。 Examples of the fluorene compound include fluorene compounds represented by the following formula (6).
Figure 2010285594
In formula (6), R 2 may be the same or different, and is a hydrogen atom, a halogen atom, an alkyl group (preferably an alkyl group having 1 to 5 carbon atoms), or an alkoxy group (preferably having 1 to 5 carbon atoms). One group selected from the group consisting of an alkoxy group) and a thioalkoxy group (preferably a thioalkoxy group having 1 to 5 carbon atoms) (or two or more R 2 groups together to form a ring) And m represents an integer of 0 to 4. Examples of forming a ring include a structure in which a ring such as a 5- to 8-membered cycloalkyl ring or a benzene ring is condensed.

ビニルベンジルハライドとしては、上記で記載したものが挙げられる。また炭素数2〜20のジハロメチル化合物としては、例えば、1,2−ジクロロエタン、1,2−ジブロモエタン、1,3−ジクロロプロパン、1,3−ジブロモプロパン、1,4−ジクロロブタン、1,4−ジブロモブタン等のアルキレンジハライド、o−キシリレンジクロライド、o−キシリレンジブロマイド、m−キシリレンジクロライド、m−キシリレンジブロマイド、p−キシリレンジクロライド、p−キシリレンジブロマイド、4,4’−ビス(クロロメチル)ビフェニル、4,4’−ビス(クロロメチル)ジフェニルエーテル、4,4’−ビス(クロロメチル)ジフェニルスルフィド、2,6−ビス(ブロモメチル)ナフタレン、1,8−ビス(ブロモメチル)ナフタレン、1,4−ビス(クロロメチル)ナフタレン等のジハロメチル化合物を挙げることができる。   Examples of the vinyl benzyl halide include those described above. Examples of the dihalomethyl compound having 2 to 20 carbon atoms include 1,2-dichloroethane, 1,2-dibromoethane, 1,3-dichloropropane, 1,3-dibromopropane, 1,4-dichlorobutane, 1, Alkylene dihalides such as 4-dibromobutane, o-xylylene dichloride, o-xylylene dibromide, m-xylylene dichloride, m-xylylene dibromide, p-xylylene dichloride, p-xylylene dibromide, 4,4 ′ -Bis (chloromethyl) biphenyl, 4,4'-bis (chloromethyl) diphenyl ether, 4,4'-bis (chloromethyl) diphenyl sulfide, 2,6-bis (bromomethyl) naphthalene, 1,8-bis (bromomethyl) ) Diphthal such as naphthalene, 1,4-bis (chloromethyl) naphthalene It can be exemplified methyl compound.

アルカリとしては、例えば、ナトリウムメトキサイド、ナトリウムエトキサイド、水素化ナトリウム、水素化カリウム、水酸化ナトリウム、水酸化カリウム等が挙げられる。   Examples of the alkali include sodium methoxide, sodium ethoxide, sodium hydride, potassium hydride, sodium hydroxide, potassium hydroxide and the like.

このような硬化性ポリビニルベンジル化合物は、特開2003−277440号公報、国際公開02/083610号パンフレットの記載に従って容易に製造することができる。   Such a curable polyvinyl benzyl compound can be easily produced according to the description in JP-A No. 2003-277440 and WO 02/083610.

好ましい硬化性ポリビニルベンジル化合物としては、以下の式(7)で表されるものを挙げることができる。   Preferred curable polyvinyl benzyl compounds include those represented by the following formula (7).

Figure 2010285594
式(7)中、Rは炭素数2〜20の2価の有機基を示し、Rは、同一又は異なっていてもよく、水素原子、ハロゲン原子、アルキル基(好ましくは炭素数1〜5のアルキル基)、アルコキシ基(好ましくは炭素数1〜5のアルコキシ基)及びチオアルコキシ基(好ましくは炭素数1〜5のチオアルコキシ基)からなる群より選択される1つの基を示し(または2以上のRが一体となって環を形成していてもよい)、mは0〜4の整数を示し、nは平均値として0〜20の数を示す。環を形成する場合としては、5〜8員のシクロアルキル環、ベンゼン環等の環が縮環した構造を挙げることができる。
Figure 2010285594
In Formula (7), R 1 represents a divalent organic group having 2 to 20 carbon atoms, and R 2 may be the same or different, and may be a hydrogen atom, a halogen atom, or an alkyl group (preferably having a carbon number of 1 to 5 group), an alkoxy group (preferably an alkoxy group having 1 to 5 carbon atoms) and a thioalkoxy group (preferably a thioalkoxy group having 1 to 5 carbon atoms). Alternatively, two or more R 2 may be integrated to form a ring), m represents an integer of 0 to 4, and n represents an average value of 0 to 20. Examples of forming a ring include a structure in which a ring such as a 5- to 8-membered cycloalkyl ring or a benzene ring is condensed.

特に好ましい硬化性ポリビニルベンジル化合物としては、以下の式(8)で表されるものを挙げることができる。

Figure 2010285594
(式(8)中、Rは炭素数2〜20の2価の有機基(好ましくはアルキル基)、nは平均値として0〜20の数を示す) Particularly preferable curable polyvinyl benzyl compounds include those represented by the following formula (8).
Figure 2010285594
(In formula (8), R 4 is a divalent organic group (preferably an alkyl group) having 2 to 20 carbon atoms, and n is an average value of 0 to 20)

市場で入手可能なものとしては昭和高分子(株)製のポリビニルベンジル樹脂V−5000X(硬化物のTg154℃、比誘電率2.63、誘電正接0.0016)、V−6000X(硬化物のTg136℃、比誘電率2.59、誘電正接0.0013)などが挙げられる。   As commercially available products, polyvinyl benzyl resin V-5000X (Tg 154 ° C. of cured product, relative dielectric constant 2.63, dielectric loss tangent 0.0016) manufactured by Showa Polymer Co., Ltd., V-6000X (of cured product) Tg 136 ° C., relative dielectric constant 2.59, dielectric loss tangent 0.0013) and the like.

本発明における硬化性ポリビニルベンジル化合物は、硬化性ポリビニルベンジルエーテル化合物であっても良い。例えば、1分子中に2個以上のヒドロキシベンジル基を有する化合物(ポリフェノール化合物)をビニルベンジルハライドとアルカリ存在下に反応させることによって得ることが出来る(特開平9−31006号公報、特開2001−181383号公報参照)。   The curable polyvinyl benzyl compound in the present invention may be a curable polyvinyl benzyl ether compound. For example, it can be obtained by reacting a compound having two or more hydroxybenzyl groups in one molecule (polyphenol compound) with vinylbenzyl halide in the presence of an alkali (JP-A-9-31006, JP-A-2001-2001). 181383).

ポリフェノール化合物としては、例えば、ハイドロキノン、ビスフェノールA、ビスフェノールF、ビスフェノールS、ビフェノール、フェノールノボラック樹脂、フェノールとベンズアルデヒドの縮合物、ザイロック(Xylok)型フェノール樹脂等が挙げられる。これら化合物の芳香環はアルキル基、ハロゲンなどで置換されていてもよい。   Examples of the polyphenol compound include hydroquinone, bisphenol A, bisphenol F, bisphenol S, biphenol, phenol novolak resin, a condensate of phenol and benzaldehyde, xylok type phenol resin, and the like. The aromatic ring of these compounds may be substituted with an alkyl group, halogen or the like.

ビニルベンジルハライドとしては、p−ビニルベンジルクロライド、m−ビニルベンジルクロライド及びこれらの任意の混合物等が挙げられる。   Examples of the vinyl benzyl halide include p-vinyl benzyl chloride, m-vinyl benzyl chloride, and any mixture thereof.

代表的なポリビニルベンジルエーテル化合物としては、以下の式(9)で表されるものを挙げることができる(特開平9−31006号公報、特開2001−181383号公報等参照)。 Typical polyvinyl benzyl ether compounds include those represented by the following formula (9) (see JP-A-9-31006, JP-A-2001-181383, etc.).

Figure 2010285594
式(9)中、Rはメチル基又はエチル基、Rは水素原子又は1〜10の炭化水素基、Rは水素原子又はビニルベンジル基(但し、水素原子とビニルベンジル基のモル比は60:40〜0:100の範囲である)、nは平均値として2〜4の数を表す。
Figure 2010285594
In formula (9), R 1 is a methyl group or an ethyl group, R 2 is a hydrogen atom or a hydrocarbon group of 1 to 10, R 3 is a hydrogen atom or a vinylbenzyl group (provided that the molar ratio of the hydrogen atom to the vinylbenzyl group) Is a range of 60:40 to 0: 100), and n represents a number of 2 to 4 as an average value.

これらポリビニルベンジルエーテル化合物は特開平9−31006号公報、特開2001−181383号公報の記載に従って容易に製造することができる。   These polyvinyl benzyl ether compounds can be easily produced according to the descriptions in JP-A-9-31006 and JP-A-2001-181383.

市場で入手可能なものとしては昭和高分子(株)製V−1000X(硬化物のTg160℃、比誘電率2.7、誘電正接0.0045)、V−1100X(硬化物のTg171℃、比誘電率2.56、誘電正接0.0038)などが挙げられる。   The products available on the market are Showa Polymer Co., Ltd. V-1000X (Tg 160 ° C. of cured product, relative dielectric constant 2.7, dielectric loss tangent 0.0045), V-1100X (Tg 171 ° C. of cured product, ratio) Dielectric constant 2.56, dielectric loss tangent 0.0038) and the like.

これらポリビニルベンジル化合物は1種又は2種以上を組み合わせて用いてもよい。   These polyvinyl benzyl compounds may be used alone or in combination of two or more.

[(G)高分子化合物]
本発明の樹脂組成物は、さらに特定の高分子化合物(G)を含有させることで、硬化物の機械強度や接着フィルムの形態で使用する場合のフィルム成型能を向上させることが可能である。このような高分子化合物としては、ポリビニルアセタール樹脂、フェノキシ樹脂、ポリイミド樹脂、ポリアミドイミド樹脂、ポリエーテルイミド樹脂、ポリスルホン樹脂、ポリエーテルスルホン樹脂、ポリフェニレンエーテル樹脂、ポリカーボネート樹脂、ポリエーテルエーテルケトン樹脂、ポリエステル樹脂を挙げることができる。高分子化合物は1種又は2種以上を組み合わせて使用してもよい。高分子化合物としては、特にポリビニルア
セタール樹脂、フェノキシ樹脂が好ましい。
[(G) polymer compound]
The resin composition of the present invention can improve the mechanical strength of the cured product and the film molding ability when used in the form of an adhesive film by further containing a specific polymer compound (G). Examples of such a polymer compound include polyvinyl acetal resin, phenoxy resin, polyimide resin, polyamideimide resin, polyetherimide resin, polysulfone resin, polyethersulfone resin, polyphenylene ether resin, polycarbonate resin, polyetheretherketone resin, polyester. Resins can be mentioned. You may use a high molecular compound 1 type or in combination of 2 or more types. As the polymer compound, polyvinyl acetal resin and phenoxy resin are particularly preferable.

ポリビニルアセタール樹脂としては、特にポリビニルブチラール樹脂が好ましい。ポリビニルアセタール樹脂の具体例としては、電気化学工業(株)製、電化ブチラール4000−2、5000−A、6000−C、6000−EP、積水化学工業(株)製エスレックBHシリーズ、BXシリーズ、KSシリーズ、BLシリーズ、BMシリーズ等が挙げられる。フェノキシ樹脂の具体例としては東都化成(株)製FX280、FX293、ジャパンエポキシレジン(株)製YX8100、YX6954、YL6974、YL7482、YL7553、YL6794、YL7213、YL7290等が挙げられる。ポリビニルアセタール樹脂はガラス転移温度が80℃以上のものが特に好ましい。ここでいう「ガラス転移温度」はJIS K 7197に記載の方法に従って決定される。なお、ガラス転移温度が分解温度よりも高く、実際にはガラス転移温度が観測されない場合には、分解温度を本発明におけるガラス転移温度とみなすことができる。なお、分解温度とは、JIS K 7120に記載の方法に従って測定したときの質量減少率が5%となる温度で定義される。   As the polyvinyl acetal resin, a polyvinyl butyral resin is particularly preferable. Specific examples of the polyvinyl acetal resin include those manufactured by Denki Kagaku Kogyo Co., Ltd., electrified butyral 4000-2, 5000-A, 6000-C, 6000-EP, and Sekisui Chemical Co., Ltd., ESREC BH series, BX series, and KS. Series, BL series, BM series and the like. Specific examples of the phenoxy resin include FX280 and FX293 manufactured by Toto Kasei Co., Ltd., YX8100, YX6954, YL6974, YL7482, YL7553, YL6794, YL7213, YL7290, and the like manufactured by Japan Epoxy Resin Co., Ltd. The polyvinyl acetal resin having a glass transition temperature of 80 ° C. or higher is particularly preferable. The “glass transition temperature” here is determined according to the method described in JIS K7197. When the glass transition temperature is higher than the decomposition temperature and the glass transition temperature is not actually observed, the decomposition temperature can be regarded as the glass transition temperature in the present invention. The decomposition temperature is defined as the temperature at which the mass reduction rate is 5% when measured according to the method described in JIS K 7120.

高分子化合物の重量平均分子量は5000〜200000の範囲であるのが好ましく、10000〜150000の範囲であるのがより好ましく、15000〜100000の範囲であるのが更に好ましく、20000〜80000の範囲であるのが更に一層好ましい。この範囲よりも小さいとフィルム成型能や機械強度向上の効果が十分発揮されない傾向にあり、この範囲よりも大きいとシアネートエステル樹脂及びエポキシ樹脂との相溶性が低下し、絶縁層表面の粗化処理後の粗度が増大する傾向にある。   The weight average molecular weight of the polymer compound is preferably in the range of 5000 to 200000, more preferably in the range of 10000 to 150,000, still more preferably in the range of 15000 to 100,000, and in the range of 20000 to 80000. Is even more preferred. If it is smaller than this range, the effect of improving the film forming ability and mechanical strength tends to be insufficient. If it is larger than this range, the compatibility with the cyanate ester resin and the epoxy resin is lowered, and the surface of the insulating layer is roughened. Later roughness tends to increase.

なお本発明における重量平均分子量は、ゲルパーミエーションクロマトグラフィー(GPC)法(ポリスチレンン換算)で測定される。GPC法による重量平均分子量は、具体的には、測定装置として(株)島津製作所製LC−9A/RID−6Aを、カラムとして昭和電工(株)社製Shodex K−800P/K−804L/K−804Lを、移動相としてクロロホルム等を用いて、カラム温度40℃にて測定し、標準ポリスチレンの検量線を用いて算出することができる。   In addition, the weight average molecular weight in this invention is measured by the gel permeation chromatography (GPC) method (polystyrene conversion). Specifically, the weight average molecular weight by the GPC method is LC-9A / RID-6A manufactured by Shimadzu Corporation as a measuring device, and Shodex K-800P / K-804L / K manufactured by Showa Denko KK as a column. -804L can be measured at a column temperature of 40 ° C. using chloroform or the like as a mobile phase, and can be calculated using a standard polystyrene calibration curve.

樹脂組成物中の高分子化合物の含有量は、特に限定されるものではないが、樹脂組成物中の不揮発分100質量%に対し、好ましくは0.5〜20質量%であり、より好ましくは1〜10質量%である。高分子化合物の含有量が少なすぎるとフィルム成型能や機械強度向上の効果が発揮されにくい傾向にあり、多すぎると粗化工程後の絶縁層表面の粗度が増大する傾向にある。   Although content of the high molecular compound in a resin composition is not specifically limited, Preferably it is 0.5-20 mass% with respect to 100 mass% of non volatile matters in a resin composition, More preferably 1 to 10% by mass. If the content of the polymer compound is too small, the effect of improving the film forming ability and the mechanical strength tends to be hardly exhibited. If the content is too large, the roughness of the surface of the insulating layer after the roughening process tends to increase.

[ゴム粒子]
本発明の樹脂組成物には、メッキ密着性向上の観点から、ゴム粒子をさらに含有することができる。本発明において使用され得るゴム粒子は、例えば、当該樹脂組成物のワニスを調製する際に使用する有機溶剤にも溶解せず、必須成分であるシアネートエステル樹脂やエポキシ樹脂などとも相溶しないものである。従って、該ゴム粒子は、本発明の樹脂組成物のワニス中では分散状態で存在する。このようなゴム粒子は、一般には、ゴム成分の分子量を有機溶剤や樹脂に溶解しないレベルまで大きくし、粒子状とすることで調製される。
[Rubber particles]
The resin composition of the present invention can further contain rubber particles from the viewpoint of improving plating adhesion. The rubber particles that can be used in the present invention are, for example, those that do not dissolve in the organic solvent used when preparing the varnish of the resin composition, and are incompatible with the essential components such as cyanate ester resin and epoxy resin. is there. Accordingly, the rubber particles exist in a dispersed state in the varnish of the resin composition of the present invention. Such rubber particles are generally prepared by increasing the molecular weight of the rubber component to a level at which it does not dissolve in an organic solvent or resin and making it into particles.

本発明で使用され得るゴム粒子の好ましい例としては、コアシェル型ゴム粒子、架橋アクリロニトリルブタジエンゴム粒子、架橋スチレンブタジエンゴム粒子、アクリルゴム粒子などが挙げられる。コアシェル型ゴム粒子は、コア層とシェル層とを有するゴム粒子であり、例えば、外層のシェル層がガラス状ポリマーで構成され、内層のコア層がゴム状ポリマーで構成される2層構造、又は外層のシェル層がガラス状ポリマーで構成され、中間層がゴム状ポリマーで構成され、コア層がガラス状ポリマーで構成される3層構造のものなどが挙げられる。ガラス層は、例えば、メタクリル酸メチルの重合物などで構成され、
ゴム状ポリマー層は、例えば、ブチルアクリレート重合物(ブチルゴム)などで構成される。ゴム粒子は1種又は2種以上を組み合わせて使用してもよい。コアシェル型ゴム粒子の具体例としては、スタフィロイドAC3832、AC3816N(商品名、ガンツ化成(株)製)、メタブレンKW−4426(商品名、三菱レイヨン(株)製)が挙げられる。架橋アクリロニトリルブタジエンゴム(NBR)粒子の具体例としては、XER−91(平均粒子径0.5μm、JSR(株)製)などが挙げられる。架橋スチレンブタジエンゴム(SBR)粒子の具体例としては、XSK−500(平均粒子径0.5μm、JSR(株)製)などが挙げられる。アクリルゴム粒子の具体例としては、メタブレンW300A(平均粒子径0.1μm)、W450A(平均粒子径0.2μm)(三菱レイヨン(株)製)を挙げることができる。
Preferable examples of rubber particles that can be used in the present invention include core-shell type rubber particles, cross-linked acrylonitrile butadiene rubber particles, cross-linked styrene butadiene rubber particles, and acrylic rubber particles. The core-shell type rubber particles are rubber particles having a core layer and a shell layer. For example, a two-layer structure in which an outer shell layer is made of a glassy polymer and an inner core layer is made of a rubbery polymer, or Examples include a three-layer structure in which the outer shell layer is made of a glassy polymer, the intermediate layer is made of a rubbery polymer, and the core layer is made of a glassy polymer. The glass layer is composed of, for example, a polymer of methyl methacrylate,
The rubbery polymer layer is made of, for example, a butyl acrylate polymer (butyl rubber). The rubber particles may be used alone or in combination of two or more. Specific examples of the core-shell type rubber particles include Staphyloid AC3832, AC3816N (trade name, manufactured by Ganz Kasei Co., Ltd.), and Metabrene KW-4426 (trade name, manufactured by Mitsubishi Rayon Co., Ltd.). Specific examples of the crosslinked acrylonitrile butadiene rubber (NBR) particles include XER-91 (average particle size: 0.5 μm, manufactured by JSR Corporation). Specific examples of the crosslinked styrene butadiene rubber (SBR) particles include XSK-500 (average particle size: 0.5 μm, manufactured by JSR Corporation). Specific examples of the acrylic rubber particles include Methbrene W300A (average particle size 0.1 μm) and W450A (average particle size 0.2 μm) (manufactured by Mitsubishi Rayon Co., Ltd.).

配合するゴム粒子の平均粒子径は、好ましくは0.005〜1μmの範囲であり、より好ましくは0.2〜0.6μmの範囲である。本発明で使用されるゴム粒子の平均粒子径は、動的光散乱法を用いて測定することができる。例えば、適当な有機溶剤にゴム粒子を超音波などにより均一に分散させ、濃厚系粒径アナライザー(FPAR−1000;大塚電子(株)製)を用いて、ゴム粒子の粒度分布を質量基準で作成し、そのメディアン径を平均粒子径とすることで測定することができる。   The average particle diameter of the rubber particles to be blended is preferably in the range of 0.005 to 1 μm, more preferably in the range of 0.2 to 0.6 μm. The average particle diameter of the rubber particles used in the present invention can be measured using a dynamic light scattering method. For example, rubber particles are uniformly dispersed in an appropriate organic solvent by ultrasonic waves, etc., and a particle size distribution of rubber particles is created on a mass basis using a concentrated particle size analyzer (FPAR-1000; manufactured by Otsuka Electronics Co., Ltd.). And it can measure by making the median diameter into an average particle diameter.

ゴム粒子の含有量は、樹脂組成物中の不揮発分100質量%に対し、好ましくは1〜10質量%であり、より好ましくは2〜5質量%である。   The content of the rubber particles is preferably 1 to 10% by mass, and more preferably 2 to 5% by mass with respect to 100% by mass of the nonvolatile content in the resin composition.

[難燃剤]
本発明の樹脂組成物は、難燃性向上の観点から、難燃剤をさらに含有することができる。難燃剤としては、例えば、有機リン系難燃剤、有機系窒素含有リン化合物、窒素化合物、シリコーン系難燃剤、金属水酸化物等が挙げられる。有機リン系難燃剤としては、三光(株)製のHCA、HCA−HQ、HCA−NQ等のフェナントレン型リン化合物、昭和高分子(株)製のHFB−2006M等のリン含有ベンゾオキサジン化合物、味の素ファインテクノ(株)製のレオフォス30、50、65、90、110、TPP、RPD、BAPP、CPD、TCP、TXP、TBP、TOP、KP140、TIBP、北興化学工業(
株)製のPPQ、クラリアント(株)製のOP930、大八化学(株)製のPX200等のリン酸エステル化合物、東都化成(株)製のFX289、FX305等のリン含有エポキシ樹脂、東都化成(株)製のERF001等のリン含有フェノキシ樹脂、ジャパンエポキシレジン(株)製のYL7613等のリン含有エポキシ樹脂等が挙げられる。有機系窒素含有リン化合物としては、四国化成工業(株)製のSP670、SP703等のリン酸エステルミド化合物、大塚化学(株)社製のSPB100、SPE100、(株)伏見製作所製FP−series等のホスファゼン化合物等が挙げられる。金属水酸化物として
は、宇部マテリアルズ(株)製のUD65、UD650、UD653等の水酸化マグネシウム、巴工業(株)社製のB−30、B−325、B−315、B−308、B−303、UFH−20等の水酸化アルミニウム等が挙げられる。
[Flame retardants]
The resin composition of the present invention can further contain a flame retardant from the viewpoint of improving flame retardancy. Examples of the flame retardant include an organic phosphorus flame retardant, an organic nitrogen-containing phosphorus compound, a nitrogen compound, a silicone flame retardant, and a metal hydroxide. Examples of organic phosphorus flame retardants include phenanthrene-type phosphorus compounds such as HCA, HCA-HQ, and HCA-NQ manufactured by Sanko Co., Ltd., phosphorus-containing benzoxazine compounds such as HFB-2006M manufactured by Showa Polymer Co., Ltd., and Ajinomoto Co., Inc. Reefos 30, 50, 65, 90, 110, Fine Techno Co., TPP, RPD, BAPP, CPD, TCP, TXP, TBP, TOP, KP140, TIBP, Hokuko Chemical Industries (
PPQ manufactured by Clariant Co., Ltd., OP930 manufactured by Clariant Co., Ltd., phosphate ester compounds such as PX200 manufactured by Daihachi Chemical Co., Ltd., phosphorus-containing epoxy resins such as FX289 and FX305 manufactured by Toto Kasei Co., Ltd. Examples thereof include phosphorus-containing phenoxy resins such as ERF001 manufactured by Co., Ltd. and phosphorus-containing epoxy resins such as YL7613 manufactured by Japan Epoxy Resin Co., Ltd. Examples of organic nitrogen-containing phosphorus compounds include phosphate ester compounds such as SP670 and SP703 manufactured by Shikoku Kasei Kogyo Co., Ltd., SPB100 and SPE100 manufactured by Otsuka Chemical Co., Ltd., and FP-series manufactured by Fushimi Seisakusho Co., Ltd. Examples thereof include phosphazene compounds. As the metal hydroxide, magnesium hydroxide such as UD65, UD650, UD653 manufactured by Ube Materials Co., Ltd., B-30, B-325, B-315, B-308 manufactured by Sakai Kogyo Co., Ltd. Examples thereof include aluminum hydroxide such as B-303 and UFH-20.

[他の成分]
本発明の樹脂組成物には、本発明の効果を阻害しない範囲で、必要に応じて他の成分を配合することができる。他の成分としては、例えば、シリコンパウダー、ナイロンパウダー、フッ素パウダー等の有機充填剤、オルベン、ベントン等の増粘剤、シリコーン系、フッ素系、高分子系の消泡剤又はレベリング剤、イミダゾール系、チアゾール系、トリアゾール系、シラン系カップリング剤等の密着性付与剤、フタロシアニン・ブルー、フタロシアニン・グリーン、アイオジン・グリーン、ジスアゾイエロー、カーボンブラック等の着色剤等を挙げることができる。
[Other ingredients]
In the resin composition of the present invention, other components can be blended as necessary within a range not inhibiting the effects of the present invention. Other components include, for example, organic fillers such as silicon powder, nylon powder, and fluorine powder, thickeners such as olben and benton, silicone-based, fluorine-based, polymer-based antifoaming agents or leveling agents, and imidazole-based materials. Examples thereof include adhesion imparting agents such as thiazole, triazole, and silane coupling agents, and coloring agents such as phthalocyanine / blue, phthalocyanine / green, iodin / green, disazo yellow, and carbon black.

本発明の樹脂組成物の調製方法は、特に限定されるものではなく、例えば、配合成分を、必要により溶媒等を添加し、回転ミキサーなどを用いて混合する方法などが挙げられる。   The method for preparing the resin composition of the present invention is not particularly limited, and examples thereof include a method in which the components are mixed using a rotary mixer or the like, if necessary, by adding a solvent or the like.

本発明の樹脂組成物の用途は、特に限定されないが、接着フィルム、プリプレグ等の絶縁樹脂シート、回路基板、ソルダーレジスト、アンダ−フィル材、ダイボンディング材、半導体封止材、穴埋め樹脂、部品埋め込み樹脂等、樹脂組成物が必要とされる用途の広範囲に使用できる。なかでも、多層プリント配線板の製造において絶縁層を形成するために好適に使用することができる。本発明の樹脂組成物は、ワニス状態で回路基板に塗布して絶縁層を形成することもできるが、工業的には一般に、接着フィルム、プリプレグ等のシート状積層材料の形態で用いるのが好ましい。樹脂組成物の軟化点は、シート状積層材料のラミネート性の観点から40〜150℃が好ましい。   The use of the resin composition of the present invention is not particularly limited, but includes insulating resin sheets such as adhesive films and prepregs, circuit boards, solder resists, underfill materials, die bonding materials, semiconductor encapsulants, hole filling resins, and component embeddings. It can be used in a wide range of applications where a resin composition is required, such as a resin. Especially, it can use suitably in order to form an insulating layer in manufacture of a multilayer printed wiring board. The resin composition of the present invention can be applied to a circuit board in a varnish state to form an insulating layer, but in general, it is preferably used in the form of a sheet-like laminated material such as an adhesive film or a prepreg. . The softening point of the resin composition is preferably 40 to 150 ° C. from the viewpoint of the laminate property of the sheet-like laminated material.

[接着フィルム]
本発明の接着フィルムは、当業者に公知の方法、例えば、有機溶剤に樹脂組成物を溶解した樹脂ワニスを調製し、この樹脂ワニスを、ダイコーターなどを用いて、支持体に塗布し、更に加熱、あるいは熱風吹きつけ等により有機溶剤を乾燥させて樹脂組成物層を形成させることにより製造することができる。
[Adhesive film]
The adhesive film of the present invention is prepared by a method known to those skilled in the art, for example, by preparing a resin varnish in which a resin composition is dissolved in an organic solvent, and applying the resin varnish to a support using a die coater or the like. It can be produced by drying the organic solvent by heating or blowing hot air to form the resin composition layer.

有機溶剤としては、例えば、アセトン、メチルエチルケトン、シクロヘキサノン等のケトン類、酢酸エチル、酢酸ブチル、セロソルブアセテート、プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート、カルビトールアセテート等の酢酸エステル類、セロソルブ、ブチルカルビトール等のカルビトール類、トルエン、キシレン等の芳香族炭化水素類、ジメチルホルムアミド、ジメチルアセトアミド、N−メチルピロリドン等が挙げられる。有機溶剤は1種又は2種以上を組みわせて用いてもよい。   Examples of the organic solvent include ketones such as acetone, methyl ethyl ketone and cyclohexanone, acetates such as ethyl acetate, butyl acetate, cellosolve acetate, propylene glycol monomethyl ether acetate and carbitol acetate, and carbitols such as cellosolve and butyl carbitol. , Aromatic hydrocarbons such as toluene and xylene, dimethylformamide, dimethylacetamide, N-methylpyrrolidone and the like. You may use an organic solvent combining 1 type (s) or 2 or more types.

乾燥条件は特に限定されないが、樹脂組成物層への有機溶剤の含有量が通常10質量%以下、好ましくは5質量%以下となるように乾燥させる。ワニス中の有機溶剤量、有機溶剤の沸点によっても異なるが、例えば30〜60質量%の有機溶剤を含むワニスを50〜150℃で3〜10分程度乾燥させることにより、樹脂組成物層が形成される。   The drying conditions are not particularly limited, but the drying is performed so that the content of the organic solvent in the resin composition layer is usually 10% by mass or less, preferably 5% by mass or less. Depending on the amount of organic solvent in the varnish and the boiling point of the organic solvent, for example, a resin composition layer is formed by drying a varnish containing 30 to 60% by mass of an organic solvent at 50 to 150 ° C. for about 3 to 10 minutes. Is done.

接着フィルムにおいて形成される樹脂組成物層の厚さは、通常、導体層の厚さ以上とする。回路基板が有する導体層の厚さは通常5〜70μmの範囲であるので、樹脂組成物層は10〜100μmの厚さを有するのが好ましい。   The thickness of the resin composition layer formed in the adhesive film is usually not less than the thickness of the conductor layer. Since the thickness of the conductor layer of the circuit board is usually in the range of 5 to 70 μm, the resin composition layer preferably has a thickness of 10 to 100 μm.

支持体としては、ポリエチレン、ポリプロピレン、ポリ塩化ビニル等のポリオレフィンのフィルム、ポリエチレンテレフタレート(以下「PET」と略称することがある。)、ポリエチレンナフタレート等のポリエステルのフィルム、ポリカーボネートフィルム、ポリイミドフィルムなどの各種プラスチックフィルムが挙げられる。また離型紙や銅箔、アルミニウム箔等の金属箔などを使用してもよい。支持体及び後述する保護フィルムには、マッド処理、コロナ処理等の表面処理が施してあってもよい。また、シリコーン樹脂系離型剤、アルキッド樹脂系離型剤、フッ素樹脂系離型剤等の離型剤で離型処理が施してあっ
てもよい。
Examples of the support include polyolefin films such as polyethylene, polypropylene, and polyvinyl chloride, polyethylene terephthalate (hereinafter sometimes abbreviated as “PET”), polyester films such as polyethylene naphthalate, polycarbonate films, and polyimide films. Various plastic films are listed. Moreover, you may use release foil, metal foil, such as copper foil and aluminum foil. The support and a protective film described later may be subjected to surface treatment such as mud treatment or corona treatment. The release treatment may be performed with a release agent such as a silicone resin release agent, an alkyd resin release agent, or a fluororesin release agent.

支持体の厚さは特に限定されないが、10〜150μmが好ましく、25〜50μmがより好ましい。   Although the thickness of a support body is not specifically limited, 10-150 micrometers is preferable and 25-50 micrometers is more preferable.

樹脂組成物層の支持体が密着していない面には、支持体に準じた保護フィルムをさらに積層することができる。保護フィルムの厚みは、特に限定されるものではないが、例えば、1〜40μmである。保護フィルムを積層することにより、樹脂組成物層の表面へのゴミ等の付着やキズを防止することができる。接着フィルムは、ロール状に巻きとって貯蔵することもできる。   A protective film according to the support can be further laminated on the surface of the resin composition layer on which the support is not in close contact. Although the thickness of a protective film is not specifically limited, For example, it is 1-40 micrometers. By laminating the protective film, it is possible to prevent dust and the like from being attached to the surface of the resin composition layer and scratches. The adhesive film can also be stored in a roll.

[接着フィルムを用いた多層プリント配線板]
上記のようにして製造した接着フィルムを用いて多層プリント配線板を製造することができる。その方法の一例を次に説明する。
[Multilayer printed wiring board using adhesive film]
A multilayer printed wiring board can be manufactured using the adhesive film manufactured as described above. An example of the method will be described next.

まず、接着フィルムを、真空ラミネーターを用いて回路基板の片面又は両面にラミネートする。回路基板に用いられる基板としては、例えば、ガラスエポキシ基板、金属基板、ポリエステル基板、ポリイミド基板、BTレジン基板、熱硬化型ポリフェニレンエーテル基板等が挙げられる。なお、ここで回路基板とは、上記のような基板の片面又は両面にパターン加工された導体層(回路)が形成されたものをいう。また導体層と絶縁層とを交互に積層してなる多層プリント配線板において、該多層プリント配線板の最外層の片面又は両面がパターン加工された導体層(回路)となっているものも、ここでいう回路基板に含
まれる。なお導体層表面には、黒化処理、銅エッチング等により予め粗化処理が施されていてもよい。
First, an adhesive film is laminated on one side or both sides of a circuit board using a vacuum laminator. Examples of the substrate used for the circuit substrate include a glass epoxy substrate, a metal substrate, a polyester substrate, a polyimide substrate, a BT resin substrate, a thermosetting polyphenylene ether substrate, and the like. In addition, a circuit board means here that the conductor layer (circuit) patterned was formed in the one or both surfaces of the above boards. Also, in a multilayer printed wiring board in which conductor layers and insulating layers are alternately laminated, one of the outermost layers of the multilayer printed wiring board is a conductor layer (circuit) in which one or both sides are patterned. It is included in the circuit board. The surface of the conductor layer may be previously roughened by blackening, copper etching, or the like.

上記ラミネートにおいて、接着フィルムが保護フィルムを有している場合には該保護フィルムを除去した後、必要に応じて接着フィルム及び回路基板をプレヒートし、接着フィルムを加圧及び加熱しながら回路基板に圧着する。本発明の接着フィルムにおいては、真空ラミネート法により減圧下で回路基板にラミネートする方法が好適に用いられる。ラミネートの条件は、特に限定されるものではないが、例えば、圧着温度(ラミネート温度)を好ましくは70〜140℃、圧着圧力を好ましくは1〜11kgf/cm(9.8×10〜107.9×10N/m)とし、空気圧20mmHg(26.7hPa)以下の減圧下でラミネートするのが好ましい。また、ラミネートの方法は、バッチ式であってもロールでの連続式であってもよい。 In the above laminate, when the adhesive film has a protective film, after removing the protective film, the adhesive film and the circuit board are preheated as necessary, and the adhesive film is pressed and heated to the circuit board. Crimp. In the adhesive film of the present invention, a method of laminating on a circuit board under reduced pressure by a vacuum laminating method is preferably used. Lamination conditions are not particularly limited. For example, the pressure bonding temperature (laminating temperature) is preferably 70 to 140 ° C., and the pressure bonding pressure is preferably 1 to 11 kgf / cm 2 (9.8 × 10 4 to 107). 9.9 × 10 4 N / m 2 ), and lamination is preferably performed under reduced pressure with an air pressure of 20 mmHg (26.7 hPa) or less. The laminating method may be a batch method or a continuous method using a roll.

真空ラミネートは、市販の真空ラミネーターを使用して行うことができる。市販の真空ラミネーターとしては、例えば、ニチゴー・モートン(株)製バキュームアップリケーター、(株)名機製作所製真空加圧式ラミネーター、(株)日立インダストリイズ製ロール式ドライコータ、日立エーアイーシー(株)製真空ラミネーター等を挙げることができる。   The vacuum lamination can be performed using a commercially available vacuum laminator. Commercially available vacuum laminators include, for example, a vacuum applicator manufactured by Nichigo-Morton Co., Ltd., a vacuum pressurizing laminator manufactured by Meiki Seisakusho, a roll dry coater manufactured by Hitachi Industries, Ltd., and Hitachi AIC Co., Ltd. ) Made vacuum laminator and the like.

また、減圧下、加熱及び加圧を行う積層工程は、一般の真空ホットプレス機を用いて行うことも可能である。例えば、加熱されたSUS板等の金属板を支持体層側からプレスすることにより行うことができる。 Moreover, the lamination process which heats and pressurizes under reduced pressure can also be performed using a general vacuum hot press machine. For example, it can be performed by pressing a metal plate such as a heated SUS plate from the support layer side.

プレス条件は、減圧度を通常1×10−2 MPa以下、好ましくは1×10−3 MPa以下の減圧下とする。加熱及び加圧は、1段階で行うことも出来るが、樹脂のしみだしを制御する観点から2段階以上に条件を分けて行うのが好ましい。例えば、1段階目のプレスを、温度が70〜150℃、圧力が1〜15kgf/cm2 の範囲、2段階目のプレスを、温度が150〜200℃、圧力が1〜40kgf/cm2 の範囲で行うのが好ましい。各段階の時間は30〜120分で行うのが好ましい。市販されている真空ホットプレス機としては、例えば、MNPC−V−750−5−200(株)名機製作所製)、VH1−1603(北川精機(株)製)等が挙げられる。 The pressing condition is that the degree of vacuum is usually 1 × 10 −2 MPa or less, preferably 1 × 10 −3 MPa or less. Although heating and pressurization can be carried out in one stage, it is preferable to carry out the conditions separately in two or more stages from the viewpoint of controlling the oozing of the resin. For example, the first stage press has a temperature of 70 to 150 ° C. and the pressure is in a range of 1 to 15 kgf / cm 2, and the second stage press has a temperature of 150 to 200 ° C. and a pressure of 1 to 40 kgf / cm 2 It is preferred to do so. The time for each stage is preferably 30 to 120 minutes. Examples of commercially available vacuum hot press machines include MNPC-V-750-5-200 (manufactured by Meiki Seisakusho), VH1-1603 (manufactured by Kitagawa Seiki Co., Ltd.), and the like.

接着フィルムを回路基板にラミネートした後、室温付近に冷却してから、支持体を剥離する場合は剥離し、樹脂組成物を熱硬化することにより回路基板に絶縁層を形成することができる。熱硬化の条件は、樹脂組成物中の樹脂成分の種類、含有量などに応じて適宜選択すればよいが、好ましくは150℃〜220℃で20分〜180分、より好ましくは160℃〜200℃で30〜120分の範囲で選択される。   After laminating the adhesive film on the circuit board, it is cooled to around room temperature, and then the support is peeled off, and then the resin composition is thermally cured to form an insulating layer on the circuit board. The thermosetting conditions may be appropriately selected according to the type and content of the resin component in the resin composition, but preferably 150 ° C. to 220 ° C. for 20 minutes to 180 minutes, more preferably 160 ° C. to 200 ° C. It is selected in the range of 30 to 120 minutes at ° C.

絶縁層を形成した後、硬化前に支持体を剥離しなかった場合は、ここで剥離する。次いで必要により、回路基板上に形成された絶縁層に穴開けを行ってビアホール、スルーホールを形成する。穴あけは、例えば、ドリル、レーザー、プラズマ等の公知の方法により、また必要によりこれらの方法を組み合わせて行うことができるが、炭酸ガスレーザー、YAGレーザー等のレーザーによる穴あけが最も一般的な方法である。   If the support is not peeled off after the insulating layer is formed, it is peeled off here. Next, if necessary, holes are formed in the insulating layer formed on the circuit board to form via holes and through holes. Drilling can be performed, for example, by a known method such as drilling, laser, or plasma, and if necessary, by combining these methods. However, drilling with a laser such as a carbon dioxide laser or YAG laser is the most common method. is there.

次いで、乾式メッキ又は湿式メッキにより絶縁層上に導体層を形成する。乾式メッキとしては、蒸着、スパッタリング、イオンプレーティング等の公知の方法を使用することができる。湿式メッキの場合は、まず、硬化した樹脂組成物層(絶縁層)の表面を、過マンガン酸塩(過マンガン酸カリウム、過マンガン酸ナトリウム等)、重クロム酸塩、オゾン、過酸化水素/硫酸、硝酸等の酸化剤で粗化処理し、凸凹のアンカーを形成する。酸化剤としては、特に過マンガン酸カリウム、過マンガン酸ナトリウム等の水酸化ナトリウム水溶液(アルカリ性過マンガン酸水溶液)が好ましく用いられる。次いで、無電解メッキと
電解メッキとを組み合わせた方法で導体層を形成する。また導体層とは逆パターンのメッキレジストを形成し、無電解メッキのみで導体層を形成することもできる。その後のパターン形成の方法として、例えば、当業者に公知のサブトラクティブ法、セミアディティブ法などを用いることができる。
Next, a conductor layer is formed on the insulating layer by dry plating or wet plating. As the dry plating, a known method such as vapor deposition, sputtering, or ion plating can be used. In the case of wet plating, first, the surface of the cured resin composition layer (insulating layer) is coated with permanganate (potassium permanganate, sodium permanganate, etc.), dichromate, ozone, hydrogen peroxide / Roughening treatment is performed with an oxidizing agent such as sulfuric acid or nitric acid to form an uneven anchor. As the oxidizing agent, an aqueous sodium hydroxide solution (alkaline permanganate aqueous solution) such as potassium permanganate and sodium permanganate is particularly preferably used. Next, a conductor layer is formed by a method combining electroless plating and electrolytic plating. Alternatively, a plating resist having a pattern opposite to that of the conductor layer can be formed, and the conductor layer can be formed only by electroless plating. As a subsequent pattern formation method, for example, a subtractive method or a semi-additive method known to those skilled in the art can be used.

[プリプレグ]
本発明のプリプレグは、本発明の樹脂組成物を繊維からなるシート状補強基材にホットメルト法又はソルベント法により含浸させ、加熱して半硬化させることにより製造することができる。すなわち、本発明の樹脂組成物が繊維からなるシート状補強基材に含浸した状態となるプリプレグとすることができる。繊維からなるシート状補強基材としては、例えば、ガラスクロスやアラミド繊維等のプリプレグ用繊維として常用されている繊維からなるものを用いることができる。
[Prepreg]
The prepreg of the present invention can be produced by impregnating the resin composition of the present invention into a sheet-like reinforcing base material made of fibers by a hot melt method or a solvent method, and heating and semi-curing. That is, it can be set as the prepreg which will be in the state which the resin composition of this invention impregnated the sheet-like reinforcement base material which consists of fibers. As the sheet-like reinforcing substrate made of fibers, for example, those made of fibers that are commonly used as prepreg fibers such as glass cloth and aramid fibers can be used.

ホットメルト法は、樹脂を、有機溶剤に溶解することなく、該樹脂との剥離性の良い塗工紙に一旦コーティングし、それをシート状補強基材にラミネートする、あるいは樹脂を、有機溶剤に溶解することなく、ダイコーターによりシート状補強基材に直接塗工するなどして、プリプレグを製造する方法である。またソルベント法は、接着フィルムと同様にして樹脂を有機溶剤に溶解して樹脂ワニスを調製し、このワニスにシート状補強基材を浸漬し、樹脂ワニスをシート状補強基材に含浸させ、その後乾燥させる方法である。   In the hot melt method, the resin is once coated on a coated paper having good releasability from the resin without dissolving it in an organic solvent, and then laminated on a sheet-like reinforcing substrate, or the resin is used in an organic solvent. This is a method for producing a prepreg by directly coating a sheet-like reinforcing substrate with a die coater without dissolving it. In the solvent method, a resin varnish is prepared by dissolving a resin in an organic solvent in the same manner as the adhesive film, and a sheet-like reinforcing base material is immersed in the varnish, and then the resin-like varnish is impregnated into the sheet-like reinforcing base material. It is a method of drying.

[プリプレグを用いた多層プリント配線板]
上記のようにして製造したプリプレグを用いて多層プリント配線板を製造することができる。その方法の一例を次に説明する。回路基板に本発明のプリプレグを1枚あるいは必要により数枚重ね、離型フィルムを介して金属プレートで挟み、加圧・加熱条件下でプレス積層する。加圧・加熱条件は、好ましくは、圧力が5〜40kgf/cm(49×10〜392×10N/m)、温度が120〜200℃で20〜100分である。また接着フィルムと同様に、プリプレグを真空ラミネート法により回路基板にラミネートした後、加熱硬化することも可能である。その後、上記で記載した方法と同様にして、硬化したプリプレグ表面を粗化した後、導体層をメッキにより形成して多層プリント配線板を製造することができる。
[Multilayer printed wiring board using prepreg]
A multilayer printed wiring board can be produced using the prepreg produced as described above. An example of the method will be described next. One or several prepregs of the present invention are stacked on a circuit board, sandwiched between metal plates through a release film, and press-laminated under pressure and heating conditions. The pressurizing / heating conditions are preferably a pressure of 5 to 40 kgf / cm 2 (49 × 10 4 to 392 × 10 4 N / m 2 ) and a temperature of 120 to 200 ° C. for 20 to 100 minutes. Similarly to the adhesive film, the prepreg can be laminated on a circuit board by a vacuum laminating method and then cured by heating. Thereafter, in the same manner as described above, the surface of the cured prepreg is roughened, and then a conductor layer is formed by plating to produce a multilayer printed wiring board.

以下、本発明を実施例により具体的に説明するが、本発明はこれらの実施例に限定されるものではない。   EXAMPLES The present invention will be specifically described below with reference to examples, but the present invention is not limited to these examples.

<実施例1>
ビスフェノールAジシアネートのプレポリマー(ロンザジャパン(株)製「BA230S75」、シアネート当量232、不揮発分75質量%のメチルエチルケトン(以下MEKと略す)溶液)13質量部、フェノールノボラック型多官能シアネートエステル樹脂(ロンザジャパン(株)製「PT30」、シアネート当量124)を9質量部、MEK10部と共に攪拌混合し、ナフトール型エポキシ樹脂として東都化成(株)製「ESN−475V」(前記一般式(1)で表されるエポキシ当量340の不揮発分65質量%のMEK溶液)40質量部、さらに液状ビスフェノールA型エポキシ樹脂(ジャパンエポキシレジン(株)製「jER828EL」、エポキシ当量185)3質量部、リン含有エポキシ樹脂(東都化成(株)製「FX289EK75」、エポキシ当量306の不揮発分75質量%のMEK溶液)8質量部、活性エステル硬化剤(DIC(株)製「EXB9460−65T」、活性基当量223の不揮発分65質量%のトルエン溶液)10質量部、フェノキシ樹脂溶液(ジャパンエポキシレジン(株)製「YX−6954」、不揮発分30質量%のMEKとシクロヘキサノンとの混合溶液)6質量部、硬化促進剤としてイミダゾール化合物とエポキシ樹脂とのアダクト体(ジャパンエポキシレジン(株)製「jERcure P200H50」、不揮発分50質量%のプロピレングリコールモノメチルエーテル溶液)0.3質量部、コバルト(II)アセチルアセトナート(東京化成(株)製)の3質量%のN,N−ジメチルホルムアミド(DMF)溶液4質量部、及び球形シリカ((株)アドマテックス製「SOC2」をアミノシランで表面処理したもの、平均粒子径0.5μm)85質量部を混合し、高速回転ミキサーで均一に分散して、熱硬化性樹脂組成物のワニスを作製した。
樹脂組成物の不揮発分中、エポキシ樹脂24質量%、シアネートエステル樹脂13質量%、活性エステル硬化剤4質量%、イミダゾール系硬化促進剤0.1質量%、金属系硬化促進剤として添加した金属(コバルト)49ppm、高分子化合物1質量%、無機充填材58質量%となる。
次に、かかる樹脂組成物ワニスをポリエチレンテレフタレートフィルム(厚さ38μm、以下PETフィルムと略す)上に、乾燥後の樹脂組成物層の厚みが40μmとなるようにダイコーターにて均一に塗布し、80〜120℃(平均100℃)で6分間乾燥した(樹脂組成物層中の残留溶媒量:1.5質量%)。次いで、樹脂組成物層の表面に厚さ15μmのポリプロピレンフィルムを貼り合わせながらロール状に巻き取った。ロール状の接着フィルムを幅507mmにスリットし、507×336mmサイズのシート状の接着フィルムを得た。
<Example 1>
Prepolymer of bisphenol A dicyanate (“BA230S75” manufactured by Lonza Japan Co., Ltd.), 13 parts by mass of methyl ethyl ketone (hereinafter abbreviated as MEK) solution having a cyanate equivalent of 232 and a nonvolatile content of 75% by mass, a phenol novolac type polyfunctional cyanate ester resin (Lonza) “PT30” manufactured by Japan Co., Ltd., and 9 parts by mass of cyanate equivalent 124) were stirred and mixed together with 10 parts of MEK, and “ESN-475V” manufactured by Toto Kasei Co., Ltd. as a naphthol type epoxy resin (represented by the above general formula (1)). 40 parts by mass of a MEK solution having a nonvolatile content of 65% by mass with an epoxy equivalent of 340), 3 parts by mass of a liquid bisphenol A type epoxy resin (“JER828EL” manufactured by Japan Epoxy Resin Co., Ltd., epoxy equivalent 185), and a phosphorus-containing epoxy resin ("FX2 made by Tohto Kasei Co., Ltd. 9EK75 ", MEK solution having an epoxy equivalent of 306 with a nonvolatile content of 75% by mass) 8 parts by mass, active ester curing agent (" EXB9460-65T "manufactured by DIC Corporation, toluene solution with an active group equivalent of 223 having a nonvolatile content of 65% by mass) 10 parts by mass, 6 parts by mass of a phenoxy resin solution (“YX-6554” manufactured by Japan Epoxy Resin Co., Ltd., a mixed solution of MEK and cyclohexanone having a nonvolatile content of 30% by mass), an imidazole compound and an epoxy resin as a curing accelerator 3 parts of adduct (Japan Epoxy Resin Co., Ltd. "jERcure P200H50", propylene glycol monomethyl ether solution having a nonvolatile content of 50% by mass), cobalt (II) acetylacetonate (manufactured by Tokyo Chemical Industry Co., Ltd.) 4 parts by mass of a mass% N, N-dimethylformamide (DMF) solution And 85 parts by weight of spherical silica (“SOC2” manufactured by Admatechs Co., Ltd., surface-treated with aminosilane, average particle size 0.5 μm) are mixed and dispersed uniformly with a high-speed rotary mixer to produce a thermosetting resin composition A product varnish was prepared.
In the nonvolatile content of the resin composition, epoxy resin 24% by mass, cyanate ester resin 13% by mass, active ester curing agent 4% by mass, imidazole curing accelerator 0.1% by mass, metal added as metal curing accelerator ( Cobalt) 49 ppm, polymer compound 1 mass%, inorganic filler 58 mass%.
Next, such a resin composition varnish is uniformly applied on a polyethylene terephthalate film (thickness 38 μm, hereinafter abbreviated as PET film) with a die coater so that the thickness of the resin composition layer after drying is 40 μm, It dried for 6 minutes at 80-120 degreeC (average 100 degreeC) (residual solvent amount in a resin composition layer: 1.5 mass%). Subsequently, it wound up in roll shape, bonding a 15-micrometer-thick polypropylene film on the surface of a resin composition layer. The roll-like adhesive film was slit to a width of 507 mm to obtain a sheet-like adhesive film having a size of 507 × 336 mm.

<実施例2>
ビスフェノールAジシアネートのプレポリマー(ロンザジャパン(株)製「BA230S75」、シアネート当量232、不揮発分75質量%のメチルエチルケトン(以下MEKと略す)溶液)13質量部、フェノールノボラック型多官能シアネートエステル樹脂(ロンザジャパン(株)製「PT30」、シアネート当量124)を9質量部、MEK10部と共に攪拌混合し、ナフトール型エポキシ樹脂として東都化成(株)製「ESN−475V」(前記一般式(1)で表されるエポキシ当量340の不揮発分65質量%のMEK溶液)40質量部、さらに液状ビスフェノールA型エポキシ樹脂(ジャパンエポキ
シレジン(株)製「jER828EL」、エポキシ当量185)3質量部、リン含有エポキシ樹脂(東都化成(株)製「FX289EK75」、エポキシ当量306の不揮発分75質量%のMEK溶液)8質量部、活性エステル硬化剤(DIC(株)製「EXB9460−65T」、活性基当量223の不揮発分65質量%のトルエン溶液)10質量部、フェノキシ樹脂溶液(ジャパンエポキシレジン(株)製「YX−6954」、不揮発分30質量%のMEKとシクロヘキサノンとの混合溶液)6質量部、硬化促進剤としてグアニジン化合物とエポキシ樹脂とのアダクト体(ジシアンジアミド15質量部(ジャパンエポキシレジン(株)製「jERcure DICY7」)とビスフェノールA型エポキシ樹脂30質量部(ジャパンエポキシレジン(株)製「jER 828US」とを1−メトキシプロパノール溶液55質量部中で100℃、2時間反応させた不揮発分45質量%の溶液)を1.5質量部、コバルト(II)アセチルアセトナート(東京化成(株)製)の3質量%のN,N−ジメチルホルムアミド(DMF)溶液4質量部、及び球形シリカ((株)アドマテックス製「SOC2」をアミノシランで表面処理したもの、平均粒子径0.5μm)85質量部を混合し、高速回転ミキサーで均一に分散して、熱硬化性樹脂組成物のワニスを作製した。
樹脂組成物の不揮発分中、エポキシ樹脂24質量%、シアネートエステル樹脂13質量%、活性エステル硬化剤4質量%、アミン系硬化促進剤0.1質量%、金属系硬化促進剤に由来する金属(コバルト)49ppm、高分子化合物1質量%、無機充填材58質量%となる。
次に、かかる樹脂組成物ワニスを使用し、実施例1と全く同様にして接着フィルムを得た。
<Example 2>
Prepolymer of bisphenol A dicyanate (“BA230S75” manufactured by Lonza Japan Co., Ltd.), 13 parts by mass of methyl ethyl ketone (hereinafter abbreviated as MEK) solution having a cyanate equivalent of 232 and a nonvolatile content of 75% by mass, a phenol novolac type polyfunctional cyanate ester resin (Lonza) “PT30” manufactured by Japan Co., Ltd., and 9 parts by mass of cyanate equivalent 124) were stirred and mixed together with 10 parts of MEK, and “ESN-475V” manufactured by Toto Kasei Co., Ltd. as a naphthol type epoxy resin (represented by the above general formula (1)). 40 parts by mass of a MEK solution having a nonvolatile content of 65% by mass with an epoxy equivalent of 340), 3 parts by mass of a liquid bisphenol A type epoxy resin (“JER828EL” manufactured by Japan Epoxy Resin Co., Ltd., epoxy equivalent 185), and a phosphorus-containing epoxy resin ("FX2 made by Tohto Kasei Co., Ltd. 9EK75 ", MEK solution having an epoxy equivalent of 306 with a nonvolatile content of 75% by mass) 8 parts by mass, active ester curing agent (" EXB9460-65T "manufactured by DIC Corporation, toluene solution with an active group equivalent of 223 having a nonvolatile content of 65% by mass) 10 parts by mass, 6 parts by mass of a phenoxy resin solution (“YX-6654” manufactured by Japan Epoxy Resin Co., Ltd., a mixed solution of MEK and cyclohexanone having a nonvolatile content of 30% by mass), a guanidine compound and an epoxy resin as a curing accelerator Adduct body (15 parts by mass of dicyandiamide (“JERcure DICY7” manufactured by Japan Epoxy Resin Co., Ltd.)) and 30 parts by mass of bisphenol A type epoxy resin (“jER 828US” manufactured by Japan Epoxy Resin Co., Ltd.) 55 masses of 1-methoxypropanol solution Nonvolatile content reacted at 100 ° C. for 2 hours in the part 45 mass% solution) 1.5 mass parts, cobalt (II) acetylacetonate (manufactured by Tokyo Chemical Industry Co., Ltd.) 3 mass% N, N-dimethylformamide (DMF) solution 4 mass parts, and spherical silica (Surface treatment of “SOC2” manufactured by Admatechs Co., Ltd. with aminosilane, average particle size 0.5 μm) is mixed with 85 parts by mass and dispersed uniformly with a high-speed rotary mixer, and the varnish of the thermosetting resin composition Was made.
In the nonvolatile content of the resin composition, epoxy resin 24% by mass, cyanate ester resin 13% by mass, active ester curing agent 4% by mass, amine curing accelerator 0.1% by mass, metal derived from metal curing accelerator ( Cobalt) 49 ppm, polymer compound 1 mass%, inorganic filler 58 mass%.
Next, using this resin composition varnish, an adhesive film was obtained in exactly the same manner as in Example 1.

<実施例3>
ジシクロペンタジエン型シアネートエステル樹脂(ロンザジャパン(株)製「DT−4000」、シアネート当量140、不揮発分85質量%のトルエン溶液)15質量部、フェノールノボラック型多官能シアネートエステル樹脂(ロンザジャパン(株)製「PT30」、シアネート当量124)を4.5質量部、MEK10部と共に攪拌混合し、ナフトール型エポキシ樹脂として東都化成(株)製「ESN−475V」(エポキシ当量340の不揮発分65質量%のMEK溶液)15質量部にビフェニル型エポキシ樹脂(エポキシ当量269、日本化薬(株)製「NC3000L」)10質量部をシクロヘキサノン20質量部と共に加熱溶解させた後、ナフタレン型2官能エポキシ樹脂(DIC(株)製「HP4032SS」エポキシ当量145)3質量部、リン含有エポキシ樹脂(東都化成(株)製「FX289EK75」、エポキシ当量306の不揮発分75質量%のMEK溶液)10質量部、ビフェニル型エポキシ樹脂(エポキシ当量328の不揮発分75質量%のMEK溶液、日本化薬(株)製「NC3000FH−75M」)4質量部、活性エステル硬化剤(DIC(株)製「EXB9460−65T」、活性基当量223の不揮発分65質量%のトルエン溶液)10質量部、ビニルベンジル化合物(昭和高分子(株)製「V5000X」、不揮発分65質量%のトルエン溶液)10質量部を添加した。そこへ、ポリビニルブチラール樹脂溶液(ガラス転移温度105℃、積水化学工業(株)製「KS-1」)を固形分15%のシクロヘキサノンとMEKの1:1溶液)10部を混合し、さらに硬化促進剤としてイミダゾール化合物とエポキシ樹脂とのアダクト体(ジャパンエポキシレジン(株)製「jERcure P200H50」)0.5質量部、ナフテン酸亜鉛(II)(東京化成(株)製、亜鉛含有量8%のミネラルスピリット溶液)の3質量%のシクロヘキサノン溶液3質量部、及び球形シリカ((株)アドマテックス製「SOC2」をアミノシランで表面処理したもの、平均粒子径0.5μm)85質量部を混合し、高速回転ミキサーで均一に分散して、熱硬化性樹脂組成物のワニスを作製した。
樹脂組成物の不揮発分中、エポキシ樹脂22質量%、シアネートエステル樹脂11質量%、活性エステル硬化剤4質量%、ビニルベンジル化合物4質量%、イミダゾール系硬化促進剤0.17質量%、金属系硬化促進剤に由来する金属(亜鉛)48ppm、高分子化合物1質量%、無機充填材57質量%となる。
次に、かかる樹脂組成物ワニスを使用し、実施例1と全く同様にして接着フィルムを得た。
<Example 3>
15 parts by mass of dicyclopentadiene type cyanate ester resin (Lonza Japan Co., Ltd. “DT-4000”, cyanate equivalent 140, toluene solution with non-volatile content of 85% by mass), phenol novolac type polyfunctional cyanate ester resin (Lonza Japan Co., Ltd.) ) "PT30", cyanate equivalent 124) together with 4.5 parts by mass and 10 parts of MEK, and mixed as a naphthol type epoxy resin "ESN-475V" (epoxy equivalent 340 non-volatile content 65 mass%) After adding 10 parts by mass of biphenyl type epoxy resin (epoxy equivalent 269, “NC3000L” manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.) together with 20 parts by mass of cyclohexanone to 15 parts by mass of MEK solution, a naphthalene type bifunctional epoxy resin ( "HP4032SS" epoxy equivalent manufactured by DIC Corporation 1 5) 3 parts by mass, phosphorus-containing epoxy resin (“FX289EK75” manufactured by Tohto Kasei Co., Ltd., MEK solution having an epoxy equivalent of 306 with a nonvolatile content of 75% by mass), 10 parts by mass, biphenyl type epoxy resin (nonvolatile content with an epoxy equivalent of 328 of 75 4% by mass of MEK solution by mass%, “NC3000FH-75M” manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd., active ester curing agent (“EXB 9460-65T” manufactured by DIC Corporation), 65% by mass of nonvolatile content of active group equivalent 223 10 parts by mass of a toluene solution) and 10 parts by mass of a vinylbenzyl compound (“V5000X” manufactured by Showa Polymer Co., Ltd., a toluene solution having a nonvolatile content of 65% by mass) were added. Thereto, 10 parts of a polyvinyl butyral resin solution (glass transition temperature 105 ° C., “KS-1” manufactured by Sekisui Chemical Co., Ltd.) is mixed with 15 parts of a solid solution of cyclohexanone and MEK having a solid content of 15%, and further cured. 0.5 parts by mass of adduct of imidazole compound and epoxy resin ("jERcure P200H50" manufactured by Japan Epoxy Resin Co., Ltd.) as a promoter, zinc naphthenate (II) (manufactured by Tokyo Chemical Industry Co., Ltd., zinc content 8% 3 parts by mass of a cyclohexanone solution of 3% by mass of mineral spirit solution) and 85 parts by mass of spherical silica (“SOC2” manufactured by Admatechs Co., Ltd., surface-treated with aminosilane, average particle size 0.5 μm). A thermosetting resin composition varnish was prepared by uniformly dispersing with a high-speed rotary mixer.
In the nonvolatile content of the resin composition, 22% by mass of epoxy resin, 11% by mass of cyanate ester resin, 4% by mass of active ester curing agent, 4% by mass of vinylbenzyl compound, 0.17% by mass of imidazole curing accelerator, metal curing The metal (zinc) derived from the accelerator is 48 ppm, the polymer compound is 1% by mass, and the inorganic filler is 57% by mass.
Next, using this resin composition varnish, an adhesive film was obtained in exactly the same manner as in Example 1.

<実施例4>
ジシクロペンタジエン型シアネートエステル樹脂(ロンザジャパン(株)製「DT−4000」、シアネート当量140、不揮発分85質量%のトルエン溶液)15.3質量部、ビスフェノールAジシアネートのプレポリマー(ロンザジャパン(株)製「BA230S75」、シアネート当量232、不揮発分75質量%のメチルエチルケトン(以下MEKと略す)溶液)12質量部を共に攪拌混合し、さらに液状ビスフェノールA型エポキシ樹脂(ジャパンエポキシレジン(株)製「jER828EL」、エポキシ当量185)8質量部、ビフェニル型エポキシ樹脂(エポキシ当量269、日本化薬(株)製「N
C3000L」)15部をシクロヘキサノン20部と共に加熱溶解させた後、リン含有エポキシ樹脂(東都化成(株)製「FX289EK75」、エポキシ当量306の不揮発分75質量%のMEK溶液)15質量部、活性エステル硬化剤(DIC(株)製「EXB9460−65T」、活性基当量223の不揮発分65質量%のトルエン溶液)20質量部、ビニルベンジル化合物(昭和高分子(株)製「V5000X」、不揮発分65質量%のトルエン溶液)5質量部、フェノキシ樹脂溶液(ジャパンエポキシレジン(株)製「YX−6954」、不揮発分30質量%のMEKとシクロヘキサノンとの混合溶液)6質
量部を添加した。硬化促進剤としてイミダゾール化合物とエポキシ樹脂とのアダクト体(ジャパンエポキシレジン(株)製「jERcure P200H50」)0.5質量部、4−ジメチルアミノピリジン(東京化成(株)製)0.1質量部、ナフテン酸亜鉛(II)(東京化成(株)製、亜鉛含有量8%のミネラルスピリット溶液)の3質量%のシクロヘキサノン溶液4.5質量部、及び球形シリカ((株)アドマテックス製「SOC2」をアミノシランで表面処理したもの、平均粒子径0.5μm)85質量部を混合し、高速回転ミキサーで均一に分散して、熱硬化性樹脂組成物のワニスを作製した。
樹脂組成物の不揮発分中、エポキシ樹脂21質量%、シアネートエステル樹脂15質量%、活性エステル硬化剤8質量%、ビニルベンジル化合物2質量%、イミダゾール系硬化促進剤0.15質量%、金属系硬化促進剤に由来する金属(亜鉛)44ppm、高分子化合物1質量%、無機充填材53質量%となる。
次に、かかる樹脂組成物ワニスを使用し、実施例1と全く同様にして接着フィルムを得た。
<Example 4>
Dicyclopentadiene-type cyanate ester resin (Lonza Japan Co., Ltd. “DT-4000”, cyanate equivalent 140, toluene solution with non-volatile content of 85% by mass) 15.3 parts by mass, bisphenol A dicyanate prepolymer (Lonza Japan Co., Ltd.) ) “BA230S75”, 12 parts by mass of methyl ethyl ketone (hereinafter abbreviated as MEK) solution having a cyanate equivalent of 232 and a non-volatile content of 75% by mass are stirred and mixed together, and liquid bisphenol A type epoxy resin (manufactured by Japan Epoxy Resin Co., Ltd.) jER828EL ", epoxy equivalent 185) 8 parts by mass, biphenyl type epoxy resin (epoxy equivalent 269, Nippon Kayaku Co., Ltd." N
C3000L ") 15 parts by mass with 20 parts of cyclohexanone, phosphorus-containing epoxy resin (" FX289EK75 "manufactured by Tohto Kasei Co., Ltd., MEK solution having an epoxy equivalent of 306 with a nonvolatile content of 75% by mass), active ester 20 parts by mass of a curing agent (“EXB 9460-65T” manufactured by DIC Corporation, a toluene solution having an active group equivalent of 223 with a nonvolatile content of 65% by mass), a vinylbenzyl compound (“V5000X” manufactured by Showa Polymer Co., Ltd.), a nonvolatile content of 65 5 parts by mass of a toluene solution (mass%) and 6 parts by mass of a phenoxy resin solution (“YX-6554” manufactured by Japan Epoxy Resin Co., Ltd., a mixed solution of MEK and cyclohexanone having a nonvolatile content of 30% by mass) were added. 0.5 parts by mass of an adduct of an imidazole compound and an epoxy resin (“jERcure P200H50” manufactured by Japan Epoxy Resin Co., Ltd.) as a curing accelerator, 0.1 part by mass of 4-dimethylaminopyridine (manufactured by Tokyo Chemical Industry Co., Ltd.) , 4.5 parts by mass of a 3% by mass cyclohexanone solution of zinc naphthenate (II) (manufactured by Tokyo Chemical Industry Co., Ltd., mineral spirit solution having a zinc content of 8%), and spherical silica (“SOC2” manufactured by Admatechs Co., Ltd.) Was subjected to surface treatment with aminosilane, an average particle diameter of 0.5 μm), and uniformly dispersed with a high-speed rotary mixer to prepare a varnish of a thermosetting resin composition.
In the nonvolatile content of the resin composition, 21% by mass of epoxy resin, 15% by mass of cyanate ester resin, 8% by mass of active ester curing agent, 2% by mass of vinylbenzyl compound, 0.15% by mass of imidazole-based curing accelerator, metal-based curing The metal (zinc) derived from the accelerator is 44 ppm, the polymer compound is 1% by mass, and the inorganic filler is 53% by mass.
Next, using this resin composition varnish, an adhesive film was obtained in exactly the same manner as in Example 1.

<実施例5>
ビスフェノールAジシアネートのプレポリマー(ロンザジャパン(株)製「BA230S75」、シアネート当量232、不揮発分75質量%のメチルエチルケトン(以下MEKと略す)溶液)13質量部、フェノールノボラック型多官能シアネートエステル樹脂(ロンザジャパン(株)製「PT30」、シアネート当量124)を9質量部、MEK10質量部と共に攪拌混合し、ナフトール型エポキシ樹脂として東都化成(株)製「ESN−475V」(前記一般式(1)で表されるエポキシ当量340の不揮発分65質量%のMEK溶液)40質量部、さらに液状ビスフェノールA型エポキシ樹脂(ジャパンエポキシレジン(株)製「jER828EL」、エポキシ当量185)3質量部、リン含有エポキシ樹脂(東都化成(株)製「FX289EK75」、エポキシ当量306の不揮発分75質量%のMEK溶液)8質量部、活性エステル硬化剤(DIC(株)製「EXB9460−65T」、活性基当量223の不揮発分65質量%のトルエン溶液)10質量部、フェノキシ樹脂溶液(ジャパンエポキシレジン(株)製「YX−6954BH30」、不揮発分30質量%のMEKとシクロヘキサノンとの混合溶液)6質量部、硬化促進剤としてイミダゾール化合物とエポキシ樹脂とのアダクト体(ジャパンエポキシレジン(株)製「jERcure P200H50」、不揮発分50質量%のプロピレングリコールモノメチルエーテル溶液)0.3質量部、コバルト(II)アセチルアセトナート(東京化成(株)製)の1質量%のN,N−ジメチルホルムアミド(DMF)溶液4質量部、球形シリカ((株)アドマテックス製「SOC2」をアミノシランで表面処理したもの、平均粒子径0.5μm)74質量部及び、タルク(日本タルク(株)製「D800」をアミノシランで表面処理したもの、平均粒子径0.8μm)11質量部を混合し、高速回転ミキサーで均一に分散して、熱硬化性樹脂組成物のワニスを作製した。
樹脂組成物の不揮発分中、エポキシ樹脂24質量%、シアネートエステル樹脂13質量%、活性エステル硬化剤4質量%、イミダゾール系硬化促進剤0.1質量%、金属系硬化促進剤に由来する金属(コバルト)49ppm、高分子化合物1質量%、無機充填材58質量%となる。
次に、かかる樹脂組成物ワニスを使用し、実施例1と全く同様にして接着フィルムを得た。
<Example 5>
Prepolymer of bisphenol A dicyanate (“BA230S75” manufactured by Lonza Japan Co., Ltd.), 13 parts by mass of methyl ethyl ketone (hereinafter abbreviated as MEK) solution having a cyanate equivalent of 232 and a nonvolatile content of 75% by mass, a phenol novolac type polyfunctional cyanate ester resin (Lonza) “PT30” manufactured by Japan Co., Ltd., and 9 parts by mass of cyanate equivalent 124) were stirred and mixed together with 10 parts by mass of MEK, and “ESN-475V” manufactured by Tohto Kasei Co., Ltd. as a naphthol type epoxy resin (in the general formula (1)) 40 parts by mass of MEK solution having an epoxy equivalent of 340 with a nonvolatile content of 65% by mass), 3 parts by mass of liquid bisphenol A type epoxy resin (Japan Epoxy Resin Co., Ltd. “jER828EL”, epoxy equivalent 185), phosphorus-containing epoxy Resin (“F” manufactured by Toto Kasei Co., Ltd. 289EK75 ", MEK solution having an epoxy equivalent of 306 with a nonvolatile content of 75% by mass), 8 parts by mass, active ester curing agent (DIC Corporation" EXB9460-65T ", active group equivalent of 223 with a nonvolatile content of 65% by mass in toluene) 10 parts by mass, 6 parts by mass of a phenoxy resin solution (“YX-6594BH30” manufactured by Japan Epoxy Resin Co., Ltd., a mixed solution of MEK and cyclohexanone having a nonvolatile content of 30% by mass), an imidazole compound and an epoxy resin as a curing accelerator 1 part of adduct body (Japan Epoxy Resin Co., Ltd. “jERcure P200H50”, propylene glycol monomethyl ether solution having a nonvolatile content of 50% by mass), cobalt (II) acetylacetonate (manufactured by Tokyo Chemical Industry Co., Ltd.) Mass% N, N-dimethylformamide (DMF) 4 parts by mass of liquid, spherical silica ("SOC2" manufactured by Admatechs Co., Ltd., surface-treated with aminosilane, 74 parts by mass of average particle diameter 0.5 µm) and talc ("D800" manufactured by Nippon Talc Co., Ltd.) And 11 parts by mass (average particle diameter 0.8 μm) were mixed and dispersed uniformly with a high-speed rotary mixer to prepare a varnish of a thermosetting resin composition.
In the nonvolatile content of the resin composition, epoxy resin 24% by mass, cyanate ester resin 13% by mass, active ester curing agent 4% by mass, imidazole-based curing accelerator 0.1% by mass, metal derived from metal-based curing accelerator ( Cobalt) 49 ppm, polymer compound 1 mass%, inorganic filler 58 mass%.
Next, using this resin composition varnish, an adhesive film was obtained in exactly the same manner as in Example 1.

<実施例6>
ジシクロペンタジエン型シアネートエステル樹脂(ロンザジャパン(株)製「DT−4000」、シアネート当量140、不揮発分85質量%のトルエン溶液)15質量部、フェノールノボラック型多官能シアネートエステル樹脂(ロンザジャパン(株)製「PT30」、シアネート当量124)を4.5質量部、MEK10部と共に攪拌混合し、ナフトール型エポキシ樹脂として東都化成(株)製「ESN−475V」(エポキシ当量340の不揮発分65質量%のMEK溶液)15質量部にビフェニル型エポキシ樹脂(エポキシ当量269、日本化薬(株)製「NC3000L」)10部をシクロヘキサノン2
0部と共に加熱溶解させた後、ナフタレン型2官能エポキシ樹脂(DIC(株)製「HP4032SS」エポキシ当量145)3質量部、リン含有エポキシ樹脂(東都化成(株)製「FX289EK75」、エポキシ当量306の不揮発分75質量%のMEK溶液)10質量部、ビフェニル型エポキシ樹脂(エポキシ当量328の不揮発分75質量%のMEK溶液、日本化薬(株)製「NC3000FH−75M」)4質量部、活性エステル硬化剤(DIC(株)製「EXB9460−65T」、活性基当量223の不揮発分65質量%のトルエン溶液)10質量部、ビニルベンジル化合物(昭和高分子(株)製「V5
000X」、不揮発分65質量%のトルエン溶液)10質量部を添加した。そこへ、ポリビニルブチラール樹脂溶液(ガラス転移温度105℃、積水化学工業(株)製「KS-1」)を固形分15%のシクロヘキサノンとMEKの1:1溶液)10部を混合し、さらに硬化促進剤としてイミダゾール化合物とエポキシ樹脂とのアダクト体(ジャパンエポキシレジン(株)製「jERcure P200H50」)0.5質量部、ナフテン酸亜鉛(II)(東京化成(株)製、亜鉛含有量8%のミネラルスピリット溶液)の3質量%のシクロヘキサノン溶液3質量部、球形シリカ((株)アドマテックス製「SOC2」をアミノシランで表面処理したもの、平均粒子径0.5μm)74質量部及び、タルク(日本タルク(株)製「D800」をアミノシランで表面処理したもの、平均粒子径0.8μm)11質量部を混合し、高速回転ミキサーで均一に分散して、熱硬化性樹脂組成物のワニスを作製した。
樹脂組成物の不揮発分中、エポキシ樹脂22質量%、シアネートエステル樹脂11質量%、活性エステル硬化剤4質量%、ビニルベンジル化合物4質量%、イミダゾール系硬化促進剤0.17質量%、金属系硬化促進剤に由来する金属(亜鉛)48ppm、高分子化合物1質量%、無機充填材57質量%となる。
次に、かかる樹脂組成物ワニスを使用し、実施例1と全く同様にして接着フィルムを得た。
<Example 6>
15 parts by mass of dicyclopentadiene type cyanate ester resin (Lonza Japan Co., Ltd. “DT-4000”, cyanate equivalent 140, toluene solution with non-volatile content of 85% by mass), phenol novolac type polyfunctional cyanate ester resin (Lonza Japan Co., Ltd.) ) "PT30", cyanate equivalent 124) together with 4.5 parts by mass and 10 parts of MEK, and mixed as a naphthol type epoxy resin "ESN-475V" (epoxy equivalent 340 non-volatile content 65 mass%) 10 parts of biphenyl type epoxy resin (epoxy equivalent 269, “NC3000L” manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.) is added to 15 parts by mass of cyclohexanone 2
After heating and dissolving together with 0 parts, 3 parts by mass of a naphthalene-type bifunctional epoxy resin (DIC Corporation "HP4032SS" epoxy equivalent 145), phosphorus-containing epoxy resin (Tofu Kasei Co., Ltd. "FX289EK75", epoxy equivalent 306 10 parts by mass of MEK solution having a nonvolatile content of 75% by mass, 4 parts by mass of biphenyl type epoxy resin (MEK solution having a nonvolatile content of 75% by mass of epoxy equivalent 328, “NC3000FH-75M” manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.), activity 10 parts by mass of an ester curing agent (“EXB 9460-65T” manufactured by DIC Corporation, a toluene solution having a nonvolatile content of 65% by mass with an active group equivalent of 223), a vinylbenzyl compound (“V5 manufactured by Showa Polymer Co., Ltd.)
000X ", a toluene solution having a nonvolatile content of 65% by mass) was added 10 parts by mass. Thereto, 10 parts of a polyvinyl butyral resin solution (glass transition temperature 105 ° C., “KS-1” manufactured by Sekisui Chemical Co., Ltd.) is mixed with 15 parts of a solid solution of cyclohexanone and MEK having a solid content of 15%, and further cured. 0.5 parts by mass of adduct of imidazole compound and epoxy resin ("jERcure P200H50" manufactured by Japan Epoxy Resin Co., Ltd.) as a promoter, zinc naphthenate (II) (manufactured by Tokyo Chemical Industry Co., Ltd., zinc content 8% 3 parts by mass of a cyclohexanone solution of 3% by mass of mineral spirit solution), 74 parts by mass of spherical silica (“SOC2” manufactured by Admatechs Co., Ltd., surface-treated with aminosilane, average particle size 0.5 μm), and talc ( 11 parts by mass of “D800” manufactured by Nippon Talc Co., Ltd., surface-treated with aminosilane, average particle size 0.8 μm) Uniformly dispersed in a high-speed rotary mixer to prepare a varnish of a thermosetting resin composition.
In the nonvolatile content of the resin composition, 22% by mass of epoxy resin, 11% by mass of cyanate ester resin, 4% by mass of active ester curing agent, 4% by mass of vinylbenzyl compound, 0.17% by mass of imidazole curing accelerator, metal curing The metal (zinc) derived from the accelerator is 48 ppm, the polymer compound is 1% by mass, and the inorganic filler is 57% by mass.
Next, using this resin composition varnish, an adhesive film was obtained in exactly the same manner as in Example 1.

<実施例7>
ジシクロペンタジエン型シアネートエステル樹脂(ロンザジャパン(株)製「DT−4000」、シアネート当量140、不揮発分85質量%のトルエン溶液)15.3質量部、ビスフェノールAジシアネートのプレポリマー(ロンザジャパン(株)製「BA230S75」、シアネート当量232、不揮発分75質量%のメチルエチルケトン(以下MEKと略す)溶液)12質量部を共に攪拌混合し、ビフェニル型エポキシ樹脂(エポキシ当量269、日本化薬(株)製「NC3000L」)15質量部をシクロヘキサノン20質量部と共に加熱溶解させた後、リン含有エポキシ樹脂(東都化成(株)製「FX289EK75」、エポキシ当量306の不揮発分75質量%のMEK溶液)15質量部、液状ビスフェノールA型エポキシ樹脂(ジャパンエポキシレジン(株)製「jER828EL」、エポキシ当量185)8質量部、活性エステル硬化剤(DIC(株)製「EXB9460−65T」、活性基当量223の不揮発分65質量%のトルエン溶液)20質量部、ビニルベンジル化合物(昭和高分子(株)製「V5000X」、不揮発分65質量%のトルエン溶液)5質量部、フェノキシ樹脂溶液(ジャパンエポキシレジン(株)製「YX−6954」、不揮発分30質量%のMEKとシクロヘキサノンとの混合溶液)6質量部を添加した。硬化促進剤としてイミダゾール化合物とエポキシ樹脂とのアダクト体(ジャパンエポキシレジン(株)製「jERcure P200H50」)0.5質量部、4−ジメチルアミノピリジン(東京化成(株)製)0.1質量部、ナフテン酸亜鉛(II)(東京化成(株)製、亜鉛含有量8%のミネラルスピリット溶液)の3質量%のシクロヘキサノン溶液4.5質量部、及び球形シリカ((株)アドマテックス製「SOC2」をアミノシランで表面処理したもの、平均粒子径0.5μm)74質量部及び、タルク(日本タルク(株)製「D800」をアミノシランを表面処理したもの、平均粒子径0.8μm)11質量部を混合し、高速回転ミキサーで均一に分散して、熱硬化性樹脂組成物のワニスを作製した。
脂組成物の不揮発分中、エポキシ樹脂21質量%、シアネートエステル樹脂15質量%、活性エステル硬化剤8質量%、ビニルベンジル化合物2質量%、イミダゾール系硬化促進剤0.15質量%、金属系硬化促進剤に由来する金属(亜鉛)44ppm、高分子化合物1質量%、無機充填材53質量%となる。
次に、かかる樹脂組成物ワニスを使用し、実施例1と全く同様にして接着フィルムを得た。
<Example 7>
Dicyclopentadiene-type cyanate ester resin (Lonza Japan Co., Ltd. “DT-4000”, cyanate equivalent 140, toluene solution with non-volatile content of 85% by mass) 15.3 parts by mass, bisphenol A dicyanate prepolymer (Lonza Japan Co., Ltd.) ) “BA230S75”, 12 parts by mass of cyanate equivalent 232, methyl ethyl ketone (hereinafter abbreviated as MEK) solution with a non-volatile content of 75% by mass are stirred and mixed together, and a biphenyl type epoxy resin (epoxy equivalent 269, manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.) "NC3000L") 15 parts by mass with 20 parts by mass of cyclohexanone, and then 15 parts by mass of a phosphorus-containing epoxy resin ("FX289EK75" manufactured by Tohto Kasei Co., Ltd., MEK solution having a nonvolatile content of 75% by mass with an epoxy equivalent of 306) Liquid bisphenol A type epoxy resin Japan Epoxy Resin Co., Ltd. “jER828EL”, epoxy equivalent 185) 8 parts by mass, active ester curing agent (DIC Co., Ltd. “EXB 9460-65T”, active group equivalent 223 non-volatile content 65 mass% toluene solution) 20 5 parts by mass of vinyl benzyl compound (“V5000X” manufactured by Showa Polymer Co., Ltd., toluene solution having a nonvolatile content of 65% by mass), phenoxy resin solution (“YX-6554” manufactured by Japan Epoxy Resins Co., Ltd.), nonvolatile content 6 parts by mass of a mixed solution of 30% by mass of MEK and cyclohexanone) was added. 0.5 parts by mass of an adduct of an imidazole compound and an epoxy resin (“jERcure P200H50” manufactured by Japan Epoxy Resin Co., Ltd.) as a curing accelerator, 0.1 part by mass of 4-dimethylaminopyridine (manufactured by Tokyo Chemical Industry Co., Ltd.) , 4.5 parts by mass of a 3% by mass cyclohexanone solution of zinc naphthenate (II) (manufactured by Tokyo Chemical Industry Co., Ltd., mineral spirit solution having a zinc content of 8%), and spherical silica (“SOC2” manufactured by Admatechs Co., Ltd.) ”Surface-treated with aminosilane, average particle diameter 0.5 μm) 74 parts by mass and talc (“ D800 ”manufactured by Nippon Talc Co., Ltd., surface-treated with aminosilane, average particle diameter 0.8 μm) 11 parts by mass And were uniformly dispersed with a high-speed rotary mixer to prepare a varnish of a thermosetting resin composition.
In the non-volatile content of the fat composition, 21% by mass of epoxy resin, 15% by mass of cyanate ester resin, 8% by mass of active ester curing agent, 2% by mass of vinylbenzyl compound, 0.15% by mass of imidazole curing accelerator, metal curing The metal (zinc) derived from the accelerator is 44 ppm, the polymer compound is 1% by mass, and the inorganic filler is 53% by mass.
Next, using this resin composition varnish, an adhesive film was obtained in exactly the same manner as in Example 1.

<実施例8>
ジシクロペンタジエン型シアネートエステル樹脂(ロンザジャパン(株)製「DT−4000」、シアネート当量140、不揮発分85質量%のトルエン溶液)11質量部、ビスフェノールAジシアネートのプレポリマー(ロンザジャパン(株)製「BA230S75」、シアネート当量232、不揮発分75質量%のメチルエチルケトン(以下MEKと略す)溶液)30質量部を共に攪拌混合し、ナフトール型エポキシ樹脂として東都化成(株)製「ESN−475V」(エポキシ当量340の不揮発分65質量%のMEK溶液)25質量部にビフェニル型エポキシ樹脂(エポキシ当量269、日本化薬(株)製
「NC3000L」)10部をシクロヘキサノン20部と共に加熱溶解させた後、ナフタレン型2官能エポキシ樹脂(DIC(株)製「HP4032SS」エポキシ当量145)3質量部、活性エステル硬化剤(DIC(株)製「EXB9460−65T」、活性基当量223の不揮発分65質量%のトルエン溶液)10部、フェノキシ樹脂溶液(ジャパンエポキシレジン(株)製「YX−6954BH30」、不揮発分30質量%のMEKとシクロヘキサノンとの混合溶液)6質量部、硬化促進剤としてイミダゾール化合物とエポキシ樹脂とのアダクト体(ジャパンエポキシレジン(株)製「jERcure P200H50」、不揮発分50質量%のプロピレングリコールモノメチルエーテル溶液)0.5質量部、ナフテン酸亜鉛(II)(東京化成(株)製、亜鉛含有量8%のミネラルスピリット溶液)の3質量%のシクロヘキサノン溶液3質量部、及び球形シリカ((株)アドマテックス製「SOC2」をアミノシランで表面処理したもの、平均粒子径0.5μm)97質量部及び、タルク(日本タルク(株)製「D800」をアミノシランで表面処理したもの、平均粒子径0.8μm)13質量部を混合し、高速回転ミキサーで均一に分散して、熱硬化性樹脂組成物のワニスを作製した。
樹脂組成物の不揮発分中、エポキシ樹脂16質量%、シアネートエステル樹脂18質量%、活性エステル硬化剤4質量%、ビニルベンジル化合物0質量%、イミダゾール系硬化促進剤0.14質量%、金属系硬化促進剤に由来する金属(亜鉛)40ppm、高分子化合物1質量%、無機充填材61質量%となる。
次に、かかる樹脂組成物ワニスを使用し、実施例1と全く同様にして接着フィルムを得た。
<Example 8>
Dicyclopentadiene-type cyanate ester resin (Lonza Japan KK "DT-4000", cyanate equivalent 140, non-volatile content 85% by weight toluene solution) 11 parts by mass, bisphenol A dicyanate prepolymer (Lonza Japan KK) 30 parts by mass of “BA230S75”, methylate ketone (hereinafter abbreviated as MEK) solution having a cyanate equivalent of 232 and a non-volatile content of 75% by mass are stirred and mixed together to produce “ESN-475V” (epoxy) as a naphthol type epoxy resin. 10 parts of a biphenyl type epoxy resin (epoxy equivalent 269, “NC3000L” manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.) and 25 parts by mass of 20 parts of cyclohexanone were dissolved in 25 parts by mass of naphthalene. Type Bifunctional Epoxy Resin (DIC Corporation ) “HP4032SS” epoxy equivalent 145) 3 parts by mass, active ester curing agent (“EXB 9460-65T” manufactured by DIC Corporation, toluene solution 65% by mass of nonvolatile content of active group equivalent 223), phenoxy resin solution ( “YX-6654BH30” manufactured by Japan Epoxy Resin Co., Ltd., 6 parts by mass of a mixed solution of MEK and cyclohexanone with a nonvolatile content of 30% by mass, an adduct of an imidazole compound and an epoxy resin as a curing accelerator (Japan Epoxy Resin Co., Ltd.) ) “JERcure P200H50”, propylene glycol monomethyl ether solution with a nonvolatile content of 50% by mass) 0.5 part by mass, zinc naphthenate (II, manufactured by Tokyo Chemical Industry Co., Ltd., mineral spirit solution with a zinc content of 8%) 3 parts by weight of 3% by weight cyclohexanone solution and spherical silica 97 parts by mass of “SOC2” manufactured by Admatechs Co., Ltd., with aminosilane, average particle diameter of 0.5 μm, and talc (“D800” manufactured by Nippon Talc Co., Ltd., surface treated with aminosilane, average particles A varnish of a thermosetting resin composition was prepared by mixing 13 parts by mass (diameter 0.8 μm) and uniformly dispersing with a high-speed rotary mixer.
In the nonvolatile content of the resin composition, epoxy resin 16% by mass, cyanate ester resin 18% by mass, active ester curing agent 4% by mass, vinylbenzyl compound 0% by mass, imidazole-based curing accelerator 0.14% by mass, metal-based curing The metal (zinc) derived from the accelerator is 40 ppm, the polymer compound is 1% by mass, and the inorganic filler is 61% by mass.
Next, using this resin composition varnish, an adhesive film was obtained in exactly the same manner as in Example 1.

<比較例1>
実施例1において、活性エステル硬化剤(DIC(株)製EXB9460−65T、活性基当量223の不揮発分65質量%のトルエン溶液)を添加しない熱硬化性樹脂組成物及び球形シリカ((株)アドマテックス製「SOC2」をアミノシランで表面処理したもの、平均粒子径0.5μm)77質量部を混合し、樹脂組成物の不揮発分中、無機充填材が実施例1と同量(58質量%)となるように調製した。かかる樹脂組成物ワニスを使用し、実施例1と全く同様にして接着フィルムを得た。
<Comparative Example 1>
In Example 1, a thermosetting resin composition and spherical silica (AD Co., Ltd.) to which an active ester curing agent (EXB 9460-65T manufactured by DIC Corporation, toluene solution with a non-volatile content of 65% by mass of active group equivalent 223) is not added. Mattex “SOC2” surface-treated with aminosilane (average particle size 0.5 μm) was mixed in 77 parts by mass, and the inorganic filler in the non-volatile content of the resin composition was the same as in Example 1 (58% by mass). It prepared so that it might become. Using this resin composition varnish, an adhesive film was obtained in the same manner as in Example 1.

<比較例2>
実施例3において、活性エステル硬化剤(DIC(株)製EXB9460−65T、活性基当量223の不揮発分65質量%のトルエン溶液)を添加しない熱硬化性樹脂組成物及び球形シリカ((株)アドマテックス製「SOC2」をアミノシランで表面処理したもの、平均粒子径0.5μm)77質量部を混合し、樹脂組成物の不揮発分中、無機充填材が実施例3と同量(57質量%)となるように調製した。かかる樹脂組成物ワニスを使用し、実施例1と全く同様にして接着フィルムを得た。
<Comparative example 2>
In Example 3, a thermosetting resin composition without adding an active ester curing agent (EXB 9460-65T manufactured by DIC Corporation, a toluene solution having an active group equivalent of 223 and a nonvolatile content of 65% by mass) and spherical silica (AD Co., Ltd.) Mattex “SOC2” surface-treated with aminosilane (average particle size 0.5 μm) was mixed in 77 parts by mass, and the inorganic filler in the nonvolatile content of the resin composition was the same as in Example 3 (57% by mass). It prepared so that it might become. Using this resin composition varnish, an adhesive film was obtained in the same manner as in Example 1.

<密着強度低下率の測定及び評価>
(1)積層板の下地処理
内層回路を形成したガラス布基材エポキシ樹脂両面銅張積層板[銅箔の厚さ18μm、基板厚み0.3mm、松下電工(株)製R5715ES]の両面をメック(株)製メックエッチボンドCZ8100に浸漬して銅表面の粗化処理を行った(Ra値=1μm)。
(2)接着フィルムのラミネート
実施例及び比較例で作成した接着フィルムを、バッチ式真空加圧ラミネーターMVLP-500(名機(株)製商品名)を用いて、積層板の両面にラミネートした。ラミネートは、30秒間減圧して気圧を13hPa以下とし、その後30秒間、100℃、圧力0.74MPaでプレスすることにより行った。
(3)銅箔の下地処理
三井金属鉱山(株)製3EC−III(電界銅箔、35μm)の光沢面をメック(株)製メックエッチボンドCZ−8100に浸漬して銅表面に粗化処理(Ra値=1μm)を行った。この銅箔をCZ銅箔という。
(4)銅箔のラミネートと絶縁層形成
上記(2)においてラミネートされた接着フィルムからPETフィルムを剥離し、(3)のCZ銅箔の処理面を樹脂組成物層側にし、(2)と同様の条件で、銅箔を、回路基板両面に形成された樹脂組成物層上にラミネートした。そして、190℃、90分の硬化条件で樹脂組成物を硬化して絶縁層を形成することで、サンプルを作製した。
(5)銅箔引き剥がし強さ(密着強度)の測定
銅表面に1μmの粗化処理がされた銅箔を用いて作製された上記(4)記載のサンプル510×340mmを150×30mmの小片に切断した。小片の銅箔部分に、幅10mm、長さ100mmの部分の切込みをカッターを用いていれて、銅箔の一端を剥がしてつかみ具(株式会社ティー・エス・イー、オートコム型試験機 AC−50C−SL)で掴み、インストロン万能試験機を用いて、室温中にて、50mm/分の速度で垂直方向に35mmを引き剥がした時の荷重をJIS C6481に準拠して測定し、「環境試験前のCZ銅箔との密着強度」とした。
(6)高温高湿下での銅箔引き剥がし強さ(密着強度)の測定
上記(4)のサンプルに対して、130℃で85%RHの環境下で、100時間放置するHAST試験(highly accelerated temperature and humidity Stress Test)を実施した。その後室温に戻し、上記(5)と同様にして測定し、「環境試験後のCZ銅箔との密着強度」とした。
(7)密着強度低下率算出方法とその評価
「(環境試験前のCZ銅箔との密着強度―環境試験後のCZ銅箔との密着強度)/環境試験前のCZ銅箔との密着強度×100」の値を密着強度低下率(%)として算出した。密着強度低下率が60%以上の場合を「×」とし、60%未満40%以上の場合を「△」とし、40%未満30%以上の場合を「○」とし、30%未満20%以上の場合を「◎」とし、20%未満の場合を「◎◎」とした。
<Measurement and evaluation of adhesion strength reduction rate>
(1) Substrate treatment of laminate board Both sides of glass cloth base epoxy resin double-sided copper-clad laminate [copper foil thickness 18μm, substrate thickness 0.3mm, Matsushita Electric Works R5715ES] on which inner layer circuit was formed The copper surface was subjected to a roughening treatment by being immersed in Mek Et Bond CZ8100 manufactured by Co., Ltd. (Ra value = 1 μm).
(2) Lamination of adhesive film The adhesive films prepared in Examples and Comparative Examples were laminated on both surfaces of a laminate using a batch type vacuum pressure laminator MVLP-500 (trade name, manufactured by Meiki Co., Ltd.). Lamination was performed by reducing the pressure for 30 seconds to a pressure of 13 hPa or less, and then pressing at 100 ° C. and a pressure of 0.74 MPa for 30 seconds.
(3) Substrate treatment of copper foil The glossy surface of 3EC-III (electrolytic copper foil, 35 μm) manufactured by Mitsui Mining Co., Ltd. is immersed in Mec Etch Bond CZ-8100 manufactured by Mec Co., Ltd., and roughened on the copper surface. (Ra value = 1 μm). This copper foil is called CZ copper foil.
(4) Copper foil lamination and insulation layer formation The PET film is peeled from the adhesive film laminated in (2) above, the treated surface of the CZ copper foil in (3) is on the resin composition layer side, and (2) and Under the same conditions, the copper foil was laminated on the resin composition layer formed on both surfaces of the circuit board. And the sample was produced by hardening | curing a resin composition on 190 degreeC and the hardening conditions for 90 minutes, and forming an insulating layer.
(5) Measurement of peel strength (adhesion strength) of copper foil Sample 510 × 340 mm described in the above (4) prepared using a copper foil having a 1 μm roughening treatment on the copper surface, a piece of 150 × 30 mm Disconnected. A cutter is used to cut the copper foil part of the small piece with a width of 10 mm and a length of 100 mm, and one end of the copper foil is peeled off to grasp the tool (TSE Co., Ltd., Autocom type testing machine AC- 50C-SL), and using an Instron universal testing machine, the load when peeling 35 mm in the vertical direction at a speed of 50 mm / min at room temperature was measured according to JIS C6481, The adhesion strength with the CZ copper foil before the test ”.
(6) Measurement of peel strength (adhesion strength) of copper foil under high temperature and high humidity HAST test (highly) for the sample of (4) above, left at 130 ° C. in an environment of 85% RH for 100 hours accelerated temperature and humidity Stress Test). Thereafter, the temperature was returned to room temperature and measured in the same manner as in the above (5), and was set as “adhesion strength with CZ copper foil after environmental test”.
(7) Adhesion strength reduction rate calculation method and its evaluation "(Adhesion strength with CZ copper foil before environmental test-Adhesion strength with CZ copper foil after environmental test) / Adhesion strength with CZ copper foil before environmental test The value of “× 100” was calculated as the reduction rate of adhesion strength (%). When the rate of decrease in adhesion strength is 60% or more, it is “X”, when it is less than 60% and 40% or more, “△”, when it is less than 40% and 30% or more, it is “◯”, and less than 30% and 20% or more. In this case, “◎” was assigned, and in the case of less than 20%, “◎◎”.

<誘電正接の測定及び評価>
実施例及び比較例において、支持体にフッ素樹脂系離型剤(ETFE)処理したPET(三菱樹脂(株)製「フルオロージュRL50KSE」を用いた以外は同様にして、実施例1〜8、比較例1、2と同じ樹脂組成物層を有する接着フィルムを得た。得られた接着フィルムを190℃で90分間加熱することで熱硬化させ、支持体を剥離することによりシート状の硬化物を得た。その硬化物を長さ80mm、幅2mmに切り出し評価サンプルとした。この評価サンプルについてアジレントテクノロジーズ(Agilent Technologies)社製HP8362B装置を用い空洞共振摂動法により測定周波数
5.8GHz、測定温度23℃にて誘電正接を測定した。誘電正接の値が0.0075以下の場合を「◎」とし、0.0075より大きく0.0085以下の場合を「○」とし、0.0085より大きく0.0090以下の場合を「△」とし、0.0090より大きい場合を「×」と評価した。
<Measurement and evaluation of dielectric loss tangent>
In Examples and Comparative Examples, Examples 1 to 8 and Comparative Examples were the same except that PET (Mitsubishi Resin “Fluoroge RL50KSE”) treated with a fluororesin-based release agent (ETFE) was used for the support. An adhesive film having the same resin composition layer as 1 and 2 was obtained, and the obtained adhesive film was thermally cured by heating at 190 ° C. for 90 minutes, and a sheet-like cured product was obtained by peeling the support. The cured product was cut into a length of 80 mm and a width of 2 mm to give an evaluation sample, which was measured by a cavity resonance perturbation method using an HP 8362B apparatus manufactured by Agilent Technologies, and a measurement temperature of 23 ° C. The dielectric loss tangent was measured at a value of 0.0075 or less as “◎” and 0.007. And in the case of larger 0.0085 following a "○", and "△" in the case of 0.0090 following greater than 0.0085, it was evaluated if 0.0090 is larger than the "×".

<熱膨張率CTE(coefficient of thermal expansion)の測定及び評価>
実施例、比較例において、支持体にETFE処理したPET(三菱樹脂(株)製「フルオロージュRL50KSE」を用いた以外は同様にして、各実施例、比較例と同じ樹脂組成物層を有する接着フィルムを得た。得られた接着フィルムを190℃で90分間加熱することで熱硬化させ、支持体を剥離することによりシート状の硬化物を得た。その硬化物を、幅5mm、長さ15mmの試験片に切断し、熱機械分析装置Thermo Plus TMA8310((株)リガク製)を使用して、引張加重法で熱機械分析を行った。試験片を前記装置に装着後、荷重1g、昇温速度5℃/分の測定条件にて連続して2回測定した。2回目の測定における25℃から150℃までの平均線熱膨張率(ppm)を算出した。CTEの値が40ppm以下の場合は「○」と評価した。
<Measurement and evaluation of coefficient of thermal expansion (CTE)>
In the examples and comparative examples, adhesive films having the same resin composition layers as those of the examples and comparative examples are the same except that PET (Mitsubishi Resin Co., Ltd. "Fluorouge RL50KSE") was used as the support in the examples and comparative examples. The obtained adhesive film was heat-cured by heating at 190 ° C. for 90 minutes, and the support was peeled off to obtain a sheet-like cured product having a width of 5 mm and a length of 15 mm. A thermomechanical analysis was performed by a tensile load method using a thermomechanical analyzer Thermo Plus TMA8310 (manufactured by Rigaku Co., Ltd.) After mounting the test piece on the apparatus, the load was increased to 1 g. The measurement was carried out twice continuously under the measurement conditions of a temperature rate of 5 ° C./min.The average linear thermal expansion coefficient (ppm) from 25 ° C. to 150 ° C. in the second measurement was calculated. In the case of it was evaluated as "○".

結果を表1に示す。   The results are shown in Table 1.

Figure 2010285594
Figure 2010285594

表1の結果から、実施例1、2、3、4で得られた接着フィルムにより形成された絶縁層は、誘電正接が低く、また環境試験後のCZ銅箔との密着性の低下が抑制されている。一方、活性エステル硬化剤を含まない比較例1、2は、同様の組成で活性エステル硬化剤を含む実施例1と比較して誘電正接が高く、環境試験後のCZ銅箔との密着性も大きく低下している。また実施例5〜8は、活性エステル硬化剤の使用に加え、無機充填材としてシリカとタルクを配合しているため、シリカのみの実施例1〜4よりも、さらにCZ銅箔との密着性低下が改善され、密着強度低下率が非常に低いレベルに抑制されている。   From the results in Table 1, the insulating layer formed by the adhesive films obtained in Examples 1, 2, 3, and 4 has a low dielectric loss tangent and suppresses a decrease in adhesion with the CZ copper foil after the environmental test. Has been. On the other hand, Comparative Examples 1 and 2 that do not contain an active ester curing agent have a higher dielectric loss tangent than those of Example 1 that contain an active ester curing agent with the same composition, and also have good adhesion to CZ copper foil after environmental testing. It has greatly decreased. Moreover, since Examples 5-8 mix | blend silica and talc as an inorganic filler in addition to use of an active ester hardening | curing agent, rather than Examples 1-4 only of silica, adhesiveness with CZ copper foil is further included. The reduction is improved, and the adhesion strength reduction rate is suppressed to a very low level.

樹脂組成物により形成される絶縁層が、低誘電正接であり、加速環境試験後における絶縁層と導体層の密着性が優れた、樹脂組成物、接着フィルム、プリプレグ、多層プリント配線板を提供できるようになった。更にこれらを搭載した、コンピューター、携帯電話、デジタルカメラ、テレビ、等の電気製品や、自動二輪車、自動車、電車、船舶、航空機、等の乗物も提供できるようになった。   An insulating layer formed of the resin composition has a low dielectric loss tangent, and can provide a resin composition, an adhesive film, a prepreg, and a multilayer printed wiring board having excellent adhesion between the insulating layer and the conductor layer after the accelerated environmental test. It became so. Furthermore, electric products such as computers, mobile phones, digital cameras, and televisions, and vehicles such as motorcycles, automobiles, trains, ships, and aircraft equipped with these can be provided.

Claims (18)

(A)エポキシ樹脂、(B)シアネートエステル樹脂、(C)活性エステル硬化剤及び(D)硬化促進剤を含有することを特徴とする樹脂組成物。   A resin composition comprising (A) an epoxy resin, (B) a cyanate ester resin, (C) an active ester curing agent, and (D) a curing accelerator. (D)硬化促進剤が、金属系硬化促進剤及び、アミン系硬化促進剤、及びイミダゾール系硬化促進剤から選ばれた1種以上である請求項1記載の樹脂組成物。   The resin composition according to claim 1, wherein (D) the curing accelerator is at least one selected from a metal curing accelerator, an amine curing accelerator, and an imidazole curing accelerator. (D)硬化促進剤が、コバルト 、銅、亜鉛、鉄、ニッケル、マンガン、及びスズから選択される1種以上の金属の、有機金属錯体又は有機金属塩からなる金属系硬化促進剤である、請求項1又は2に記載の樹脂組成物。 (D) The curing accelerator is a metal-based curing accelerator composed of an organometallic complex or an organometallic salt of one or more metals selected from cobalt, copper, zinc, iron, nickel, manganese, and tin. The resin composition according to claim 1 or 2. 樹脂組成物中の不揮発分を100質量%とした場合、(A)エポキシ樹脂の含有量が5〜60質量%、(B)シアネートエステル樹脂の含有量が5〜50質量%、(C)活性エステル硬化剤の含有量が2〜20質量%である請求項1〜3のいずれか1項に記載の樹脂組成物。   When the non-volatile content in the resin composition is 100% by mass, the content of (A) epoxy resin is 5 to 60% by mass, the content of (B) cyanate ester resin is 5 to 50% by mass, and (C) activity. Content of ester hardening | curing agent is 2-20 mass%, The resin composition of any one of Claims 1-3. (D)硬化促進剤が金属系硬化促進剤を含み、樹脂組成物中の不揮発分を100質量%とした場合、該金属系硬化促進剤に基づく金属の含有量が25〜500ppmである請求項1〜4のいずれか1項に記載の樹脂組成物。   (D) When the curing accelerator contains a metal-based curing accelerator and the nonvolatile content in the resin composition is 100% by mass, the metal content based on the metal-based curing accelerator is 25 to 500 ppm. The resin composition according to any one of 1 to 4. (D)硬化促進剤がアミン系硬化促進剤及び/又はイミダゾール系硬化促進剤を含み、樹脂組成物中の不揮発分を100質量%とした場合、該アミン系硬化促進剤及び/又はイミダゾール系硬化促進剤の含有量が0.05〜3質量%である請求項1〜4のいずれか1項に記載の樹脂組成物。 (D) When the curing accelerator includes an amine-based curing accelerator and / or an imidazole-based curing accelerator, and the nonvolatile content in the resin composition is 100% by mass, the amine-based curing accelerator and / or imidazole-based curing. The resin composition according to any one of claims 1 to 4, wherein the content of the accelerator is 0.05 to 3% by mass. シアネートエステル基とエポキシ基との比率が1:0.4〜1:2、エステル基とエポキシ基との比率が1:2〜1:20である、請求項1〜6のいずれか1項に記載の樹脂組成物。   The ratio of the cyanate ester group to the epoxy group is 1: 0.4 to 1: 2, and the ratio of the ester group to the epoxy group is 1: 2 to 1:20. The resin composition as described. さらに(E)無機充填材を含有する請求項1〜7のいずれか1項に記載の樹脂組成物。   Furthermore, (E) The resin composition of any one of Claims 1-7 containing an inorganic filler. 無機充填材がタルク及びシリカである請求項8記載の樹脂組成物。   The resin composition according to claim 8, wherein the inorganic filler is talc and silica. 樹脂組成物中の不揮発分を100質量%とした場合、タルクとシリカの含有量の合計が35質量%〜70質量%であり、かつ、タルクの含有量が5質量%〜20質量%である請求項9記載の樹脂組成物。   When the nonvolatile content in the resin composition is 100% by mass, the total content of talc and silica is 35% by mass to 70% by mass, and the content of talc is 5% by mass to 20% by mass. The resin composition according to claim 9. さらに(F) ビニルベンジル化合物を含有する、請求項1〜10のいずれか1項に記載の樹脂組成物。   The resin composition according to any one of claims 1 to 10, further comprising (F) a vinylbenzyl compound. 樹脂組成物中の不揮発分を100質量%とした場合、(F)ビニルベンジル化合物の含有量が2〜50質量%である、請求項11記載の樹脂組成物。   The resin composition according to claim 11, wherein the content of the (F) vinylbenzyl compound is 2 to 50 mass% when the nonvolatile content in the resin composition is 100 mass%. さらに(G)ポリビニルアセタール樹脂、フェノキシ樹脂、ポリイミド樹脂、ポリアミドイミド樹脂、ポリエーテルイミド樹脂、ポリスルホン樹脂、ポリエーテルスルホン樹脂、ポリフェニレンエーテル樹脂、ポリカーボネート樹脂、ポリエーテルエーテルケトン樹脂、及びポリエステル樹脂から選択される1種以上の高分子化合物を含有する、請求項1〜12のいずれか1項に記載の樹脂組成物。   Furthermore, (G) selected from polyvinyl acetal resin, phenoxy resin, polyimide resin, polyamideimide resin, polyetherimide resin, polysulfone resin, polyethersulfone resin, polyphenylene ether resin, polycarbonate resin, polyetheretherketone resin, and polyester resin The resin composition of any one of Claims 1-12 containing 1 or more types of high molecular compounds. 樹脂組成物中の不揮発分を100質量%とした場合、(G)高分子化合物の含有量が1〜20質量%である、請求項13記載の樹脂組成物。   The resin composition of Claim 13 whose content of (G) polymer compound is 1-20 mass% when the non volatile matter in a resin composition is 100 mass%. 誘電正接特性が0.004〜0.009であり、環境試験前後の密着強度低下率が0%〜59%であることを特徴とする、請求項1〜14のいずれか1項に記載の樹脂組成物。 The resin according to any one of claims 1 to 14, wherein the dielectric loss tangent property is 0.004 to 0.009, and the adhesion strength reduction rate before and after the environmental test is 0% to 59%. Composition. 請求項1〜15のいずれか1項に記載の樹脂組成物が支持体上に層形成された接着フィルム。   The adhesive film by which the resin composition of any one of Claims 1-15 was layer-formed on the support body. 請求項1〜15のいずれか1項に記載の樹脂組成物がシート状補強基材中に含浸されたプリプレグ。   A prepreg in which the resin composition according to any one of claims 1 to 15 is impregnated in a sheet-like reinforcing base material. 請求項1〜15のいずれか1項に記載の樹脂組成物の硬化物により絶縁層が形成された多層プリント配線板。   The multilayer printed wiring board by which the insulating layer was formed with the hardened | cured material of the resin composition of any one of Claims 1-15.
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