JP2010282516A - 電磁界シミュレーション装置、電磁界シミュレーションプログラムおよび近傍界測定装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】本願が開示する電磁界シミュレーション装置は、電磁界シミュレーション対象であるプリント配線板CADデータの所定領域を、近傍界測定器によって測定された測定データで置き換えて、新たなプリント配線板CADデータを生成する。続いて、電磁界シミュレーション装置は、生成された新たなプリント配線板CADデータにおける測定データ部分について、近傍界測定器によって測定された電界または磁界を波源として設定した解析用モデルデータを生成する。その後、電磁界シミュレーション装置は、波源が設定された解析用モデルデータに対して、電磁界シミュレーションを実行する。
【選択図】図1
Description
次に、電磁界シミュレーション装置の構成について説明する。図1は、実施例1に係る電磁界シミュレーション装置の構成を示すブロック図である。
次に、図9を用いて、電磁界シミュレーション装置による処理の流れを説明する。図9は、実施例1に係る電磁界シミュレーション装置による処理の流れを示すフローチャートである。
このように、実施例1によれば、電磁界シミュレーション対象であるモデルデータを作成するのに際して、近傍界測定器によって測定されたデータを一部使用することができる。そのため、膨大なモデルデータ全てに対して、材質・回路部品・波源を設定する必要がない。また、モデルデータの一部に測定データを用いてモデルを簡略化したので、効率の良い解析が可能である。したがって、本願が開示する電磁界シミュレーション装置は、電磁界シミュレーションの解析規模の拡大を抑止し、電磁界シミュレーションの計算コストを削減することが可能である。
例えば、電磁界シミュレーション装置20は、近傍界測定器10による電界または磁界の測定位置がFDTD法におけるYeeセルの位置と対応するように測定された測定データを用いることで、測定データを容易にシミュレーションとして利用できる。具体的には、近傍界測定器10は、図10に示すように、FDTDにおけるセル構造(Yeeセル)上におけるx軸上でHx、y軸でHyを測定するように測定位置を決定した状態で、電界や磁界を測定する。そして、電磁界シミュレーション装置20は、このようにして測定データを用いることで、測定データを容易にシミュレーションとして利用できる。図10は、測定位置とYeeセルとの位置関係を示す図である。
また、本願が開示する電磁界シミュレーション装置20は、携帯電話などに対する電磁界シミュレーションにも有効である。具体的には、図11の(1)に示すように、携帯電話に対して電磁界シミュレーションを行う場合、可動部について精密にモデル化しようとすると規模が大きくなり、電磁界シミュレーションの計算コストも大きくなる。ここで、図11の(2)に示すように、携帯電話の可動部を上述した格子状に整列した測定データに置き換えることで、モデル規模が少なくてすみ、電磁界シミュレーションの計算コストを削減することが可能である。図11は、本願が開示する電磁界シミュレーション装置の活用例を示す図である。
例えば、電磁界シミュレーション装置20は、離散化して解析モデルデータを作成するのに際して、格子状に配置された測定データを補間することで、Yeeセル上の電磁界に自動的に置き換えることが可能である。
また、本実施例において説明した各処理のうち、自動的におこなわれるものとして説明した処理の全部または一部を手動的におこなうこともでき、あるいは、手動的におこなわれるものとして説明した処理の全部または一部を公知の方法で自動的におこなうこともできる。この他、上記文書中や図面中で示した処理手順、制御手順、具体的名称、各種のデータやパラメータを含む情報については、特記する場合を除いて任意に変更することができる。
ところで、上記の実施例で説明した各種の処理は、あらかじめ用意されたプログラムをパーソナルコンピュータやワークステーションなどのコンピュータシステムで実行することによって実現することができる。そこで、以下では、上記の実施例と同様の機能を有するプログラムを実行するコンピュータシステムを他の実施例として説明する。
11 測定器
12 スペアナ
13 制御用PC
15 測定データDB
20 電磁界シミュレーション装置
21 CADデータDB
22 プリプロセッサ
22a 使用領域指定部
22b 測定データ読み込み部
22c 逆変換部
22d 波源等設定部
22e 解析用モデルデータ作成部
23 ソルバ
24 ポストプロセッサ
25 結果ファイルDB
100 コンピュータシステム
101 RAM
102 HDD
102a CADデータテーブル
102b 測定データテーブル
103 ROM
103a 使用領域指定プログラム
103b 測定データ読み込みプログラム
103c 逆変換プログラム
103d 波源等設定プログラム
103e 解析用モデルデータ作成プログラム
103f シミュレーション実行プログラム
104 CPU
104a 使用領域指定プロセス
104b 測定データ読み込みプロセス
104c 逆変換プロセス
104d 波源等設定プロセス
104e 解析用モデルデータ作成プロセス
104f シミュレーション実行プロセス
Claims (7)
- 電磁界シミュレーション対象であるプリント配線板CADデータの所定領域を、近傍界測定器によって測定された測定データで置き換えて、新たなプリント配線板CADデータを生成するデータ生成手段と、
前記データ生成手段により生成された新たなプリント配線板CADデータにおける測定データ部分について、前記近傍界測定器によって測定された電界または磁界を波源として設定した解析用モデルデータを生成する波源設定手段と、
前記波源設定手段により波源が設定された解析用モデルデータに対して、前記電磁界シミュレーションを実行するシミュレーション実行手段と、
を有することを特徴とする電磁界シミュレーション装置。 - 前記波源設定手段は、前記近傍界測定器によって測定された電界または磁界を磁流源または電流源に変換し、変換した磁流源または電流源を波源として設定して、前記解析用モデルデータを生成することを特徴とする請求項1に記載の電磁界シミュレーション装置。
- 前記波源設定手段は、前記近傍界測定器によって測定された磁界を表面電流に換算し、換算した表面電流を波源として設定して、前記解析用モデルデータを生成することを特徴とする請求項1に記載の電磁界シミュレーション装置。
- 前記データ生成手段は、前記近傍界測定器による電界または磁界の測定位置がFDTD法におけるYeeセルの位置と対応するように測定された測定データで置き換えて、前記新たなプリント配線板CADデータを生成することを特徴とする請求項1〜3のいずれか一つに記載の電磁界シミュレーション装置。
- 前記シミュレーション実行手段は、前記波源設定手段により波源が設定された解析用モデルデータに対して、前記電磁界シミュレーションを実行するのに際して、格子状に配置された測定データを補間した上で、前記電磁界シミュレーションを実行することを特徴とする請求項1〜4のいずれか一つに記載の電磁界シミュレーション装置。
- 電磁界シミュレーション対象であるプリント配線板CADデータの所定領域を、近傍界測定器によって測定された測定データで置き換えて、新たなプリント配線板CADデータを生成するデータ生成手順と、
前記データ生成手順により生成された新たなプリント配線板CADデータにおける測定データ部分について、前記近傍界測定器によって測定された電界または磁界を波源として設定した解析用モデルデータを生成する波源設定手順と、
前記波源設定手順により波源が設定された解析用モデルデータに対して、前記電磁界シミュレーションを実行するシミュレーション実行手順と、
を電磁界シミュレーション装置としてのコンピュータに実行することを特徴とする電磁界シミュレーションプログラム。 - 被測定物に電流を供給して、前記被測定物に発生する電界または磁界を測定するのに際して、前記発生する電界または磁界を取得するプローブの位置と、FDTD法におけるYeeセルの位置とが対応するように制御して、前記被測定物に発生する電界または磁界を測定する測定手段を有することを特徴とする近傍界測定装置。
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2019148495A (ja) * | 2018-02-27 | 2019-09-05 | 沖電気工業株式会社 | 電磁界シミュレーション装置、電磁界シミュレーション方法、電磁界シミュレーションプログラムおよび近傍界測定器 |
Families Citing this family (23)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5143052B2 (ja) * | 2009-02-24 | 2013-02-13 | 株式会社日立製作所 | ノイズ解析設計方法およびノイズ解析設計装置 |
CN102480328B (zh) * | 2010-11-24 | 2014-12-10 | 中兴通讯股份有限公司 | 天线信道外模式场重构方法及装置 |
WO2012129850A1 (zh) * | 2011-03-30 | 2012-10-04 | 中兴通讯股份有限公司 | 一种多输入多输出天线信道外模式场重构方法及装置 |
US20160253448A1 (en) * | 2012-11-21 | 2016-09-01 | Nec Corporation | Circuit board design system, circuit board design method and program recording medium |
CN105373673B (zh) * | 2015-12-02 | 2018-08-03 | 中南大学 | 一种自然电场监测数据动态反演方法及系统 |
CN105824992B (zh) * | 2016-03-10 | 2019-01-29 | 东南大学 | 一种继电保护设备数据模型的智能匹配方法及系统 |
US10380293B1 (en) * | 2016-12-19 | 2019-08-13 | Cadence Design Systems, Inc. | Methods, systems, and computer program product for implementing physics aware model reduction for three-dimensional designs |
US11205022B2 (en) | 2019-01-10 | 2021-12-21 | X Development Llc | System and method for optimizing physical characteristics of a physical device |
US10615869B1 (en) | 2019-01-10 | 2020-04-07 | X Development Llc | Physical electromagnetics simulator for design optimization of photonic devices |
US11550971B1 (en) | 2019-01-18 | 2023-01-10 | X Development Llc | Physics simulation on machine-learning accelerated hardware platforms |
US11295212B1 (en) | 2019-04-23 | 2022-04-05 | X Development Llc | Deep neural networks via physical electromagnetics simulator |
US11238190B1 (en) | 2019-04-23 | 2022-02-01 | X Development Llc | Physical device optimization with reduced computational latency via low-rank objectives |
US11397895B2 (en) | 2019-04-24 | 2022-07-26 | X Development Llc | Neural network inference within physical domain via inverse design tool |
US11900026B1 (en) | 2019-04-24 | 2024-02-13 | X Development Llc | Learned fabrication constraints for optimizing physical devices |
US11106841B1 (en) | 2019-04-29 | 2021-08-31 | X Development Llc | Physical device optimization with reduced memory footprint via time reversal at absorbing boundaries |
US11501169B1 (en) | 2019-04-30 | 2022-11-15 | X Development Llc | Compressed field response representation for memory efficient physical device simulation |
US11003814B1 (en) | 2019-05-22 | 2021-05-11 | X Development Llc | Optimization of physical devices via adaptive filter techniques |
US11379633B2 (en) | 2019-06-05 | 2022-07-05 | X Development Llc | Cascading models for optimization of fabrication and design of a physical device |
US10909302B1 (en) | 2019-09-12 | 2021-02-02 | Cadence Design Systems, Inc. | Method, system, and computer program product for characterizing electronic designs with electronic design simplification techniques |
CN111274759B (zh) * | 2020-02-24 | 2023-08-04 | Oppo广东移动通信有限公司 | 一种电磁场求解方法及装置、存储介质 |
CN111458577B (zh) * | 2020-03-04 | 2022-03-08 | 中国工程物理研究院应用电子学研究所 | 一种复杂电磁环境构建方法 |
US20220217136A1 (en) * | 2021-01-04 | 2022-07-07 | Bank Of America Corporation | Identity verification through multisystem cooperation |
CN112881815A (zh) * | 2021-01-22 | 2021-06-01 | 北京航空航天大学 | 一种基于可编程超表面反射阵的场模拟器 |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001318961A (ja) * | 2000-02-28 | 2001-11-16 | Nec Corp | 設計支援ツール及び設計支援方法 |
JP2008204086A (ja) * | 2007-02-19 | 2008-09-04 | Shin Etsu Polymer Co Ltd | 電子機器の製造方法 |
JP2008209123A (ja) * | 2007-02-23 | 2008-09-11 | Sharp Corp | シミュレーションプログラム、シミュレーションプログラムが格納された記録媒体、シミュレーション装置およびシミュレーション方法 |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002019547A (ja) | 2000-07-06 | 2002-01-23 | Mitsubishi Electric Corp | 車両用電装品の搭載設計方法および車両用電装品の搭載設計装置 |
US7498564B2 (en) * | 2001-02-06 | 2009-03-03 | University Of Bristol Of Senate House | Resonant scanning near-field optical microscope |
US20050251353A1 (en) * | 2004-05-04 | 2005-11-10 | Zoltan Azary | System and method for analyzing an electrical network |
US7088088B1 (en) * | 2005-01-19 | 2006-08-08 | Agilent Technologies, Inc. | Triggered narrow-band method for making pulsed-RF networking measurements |
JP4156636B2 (ja) * | 2006-07-11 | 2008-09-24 | シャープ株式会社 | シミュレーション装置、シミュレーションプログラムおよびシミュレーションプログラムが格納された記録媒体 |
US8078446B2 (en) * | 2008-03-13 | 2011-12-13 | Agilent Technologies, Inc. | Linear time-invariant system modeling apparatus and method of generating a passive model |
-
2009
- 2009-06-05 JP JP2009136677A patent/JP2010282516A/ja active Pending
-
2010
- 2010-05-26 US US12/787,610 patent/US8352233B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2010-06-02 EP EP10164739A patent/EP2261825A2/en not_active Withdrawn
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001318961A (ja) * | 2000-02-28 | 2001-11-16 | Nec Corp | 設計支援ツール及び設計支援方法 |
JP2008204086A (ja) * | 2007-02-19 | 2008-09-04 | Shin Etsu Polymer Co Ltd | 電子機器の製造方法 |
JP2008209123A (ja) * | 2007-02-23 | 2008-09-11 | Sharp Corp | シミュレーションプログラム、シミュレーションプログラムが格納された記録媒体、シミュレーション装置およびシミュレーション方法 |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2019148495A (ja) * | 2018-02-27 | 2019-09-05 | 沖電気工業株式会社 | 電磁界シミュレーション装置、電磁界シミュレーション方法、電磁界シミュレーションプログラムおよび近傍界測定器 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP2261825A2 (en) | 2010-12-15 |
US8352233B2 (en) | 2013-01-08 |
US20100312539A1 (en) | 2010-12-09 |
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