JP2010281708A - 光部品評価装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】本発明は、高い波長分解能かつ広いダイナミックレンジにて、アクティブ光部品とパッシブ光部品の両方の光部品を評価可能な光部品評価装置を提供することを目的とする。
【解決手段】上記目的を達成するために、本願発明の光部品評価装置１０１は、波長可変光源１１からの出力光を外部に出力しかつローカル光として利用するための出力光分波部１２と、当該出力光をパッシブ光部品に入力させるための光出力端子１３と、被測定光と出力光の干渉光を２光束に偏光分離する光合分波部１５ａと、光合分波部１５ａからの干渉光を光電変換する第１受光器１６ａ及び第２受光器１６ｂと、パッシブ光部品からの出力光を被測定光として光電変換する第３受光器と、を備えることを特徴とする。これにより、ヘテロダイン検波を用いたアクティブ光部品の評価とパッシブ光部品の評価を可能とした。
【選択図】図１
【解決手段】上記目的を達成するために、本願発明の光部品評価装置１０１は、波長可変光源１１からの出力光を外部に出力しかつローカル光として利用するための出力光分波部１２と、当該出力光をパッシブ光部品に入力させるための光出力端子１３と、被測定光と出力光の干渉光を２光束に偏光分離する光合分波部１５ａと、光合分波部１５ａからの干渉光を光電変換する第１受光器１６ａ及び第２受光器１６ｂと、パッシブ光部品からの出力光を被測定光として光電変換する第３受光器と、を備えることを特徴とする。これにより、ヘテロダイン検波を用いたアクティブ光部品の評価とパッシブ光部品の評価を可能とした。
【選択図】図１
Description
本発明は、光部品評価装置に関し、特に、パッシブ光部品及びアクティブ光部品のスペクトラム特性測定装置に関する。
波長分割多重（ＷＤＭ）ネットワークでは、限られた波長帯域をより有効に使うために、波長間隔がいちだんと高密度化しており、パッシブ光部品である光フィルタやＡＷＧ（Ａｒｒａｙ Ｗａｖｅｇｕｉｄｅ Ｇｒａｔｉｎｇｓ）は狭帯域化している。したがって、これらの光部品を評価するためには、高い波長分解能かつ広いダイナミックレンジで光スペクトラムを測定できる測定装置が必要となる。
アクティブ光部品を評価する装置としては、分散分光方式を用いた光スペクトラムアナライザが用いられている。パッシブ光部品を評価する装置としては、広帯域光源と前記光スペクトラムアナライザの組み合わせか、又は波長可変光源と光パワーメータの組み合わせが用いられている。
しかし、１台でアクティブ光部品とパッシブ光部品の両方を高い波長分解能かつ広いダイナミックレンジで測定できる評価装置は実現されていない。
そこで、本発明は、高い波長分解能かつ広いダイナミックレンジにて、アクティブ光部品とパッシブ光部品の両方の光部品を評価可能な光部品評価装置を提供することを目的とする。
上記目的を達成するために、本願発明の光部品評価装置は、光部品からの被測定光のスペクトラムを求める光部品評価装置（１０１）であって、任意の波長の光を出力する波長可変光源（１１）と、前記波長可変光源からの出力光を２光束に分波する出力光分波部（１２）と、前記出力光分波部の一方の出力光を前記光部品評価装置の外部へ出力する光出力端子（１３）と、前記光部品評価装置の外部から被測定光が入力される第１の光入力端子（１４ａ）及び第２の光入力端子（１４ｂ）と、前記第１の光入力端子から被測定光が入力されるとともに前記出力光分波部のもう一方の出力光がローカル光として入力され、前記被測定光と前記ローカル光との干渉光を２光束に偏光分離する光合分波部（１５ａ）と、前記光合分波部からの光を光電変換する第１受光器（１６ａ）及び第２受光器（１６ｂ）と、前記第２の光入力端子からの光を光電変換する第３受光器（１６ｃ）と、前記第１受光器と前記第２受光器と前記第３受光器の出力信号を増幅する受信部（２１）と、前記受信部で増幅した信号をデジタル信号に変換するＡＤ変換部（２２）と、前記ＡＤ変換部のＡＤ変換のためのサンプリングトリガを発生するサンプリングトリガ発生部（２４）と、前記ＡＤ変換部のデジタル信号からスペクトラムを求め、前記光部品評価装置の外部に出力する処理部（２３）と、前記波長可変光源から出力光の波長を変化させる波長制御部（２５）と、を備えることを特徴とする。
アクティブ光部品からの被測定光を第１の光入力端子（１４ａ）に入力することで、アクティブ光部品からの被測定光の光スペクトラムを測定することができる。また、光出力端子（１３）からの出力光をパッシブ光部品に入力し、パッシブ光部品からの出力光を被測定光として第２の光入力端子（１４ｂ）に入力することで、パッシブ光部品の波長特性、例えば透過率や反射率の波長依存性を測定することができる。
ここで、波長可変光源（１１）と出力光分波部（１２）と光合分波部（１５ａ）と第１受光器（１６ａ）と第２受光器（１６ｂ）とを備えるため、被測定光をヘテロダイン検波することができる。これにより、被測定光の光スペクトラムを高い波長分解能で測定することができる。また、波長可変光源（１１）と波長制御部（２５）とを備えるため、出力光の波長を変化させることができる。これにより、被測定光の光スペクトラムを広いダイナミックレンジで測定することができる。
従って、本発明により、高い波長分解能かつ広いダイナミックレンジにて、アクティブ光部品とパッシブ光部品の両方の光部品を評価可能な光部品評価装置を提供することができる。
ここで、波長可変光源（１１）と出力光分波部（１２）と光合分波部（１５ａ）と第１受光器（１６ａ）と第２受光器（１６ｂ）とを備えるため、被測定光をヘテロダイン検波することができる。これにより、被測定光の光スペクトラムを高い波長分解能で測定することができる。また、波長可変光源（１１）と波長制御部（２５）とを備えるため、出力光の波長を変化させることができる。これにより、被測定光の光スペクトラムを広いダイナミックレンジで測定することができる。
従って、本発明により、高い波長分解能かつ広いダイナミックレンジにて、アクティブ光部品とパッシブ光部品の両方の光部品を評価可能な光部品評価装置を提供することができる。
上記目的を達成するために、本願発明の光部品評価装置は、光部品からの被測定光のスペクトラムを求める光部品評価装置（１０２）であって、任意の波長の光を出力する波長可変光源（１１）と、前記波長可変光源からの出力光を前記光部品評価装置の外部へ出力する光出力端子（１３）と、前記光部品評価装置の外部から被測定光が入力される第１の光入力端子（１４ａ）と、前記光出力端子から出力された出力光が入力される第２の光入力端子（１４ｂ）と、前記第１の光入力端子から被測定光が入力されるとともに前記第２の光入力端子から前記出力光がローカル光として入力され、前記被測定光と前記ローカル光との干渉光を２光束に偏光分離する光合分波部（１５ａ）と、前記光合分波部からの光を光電変換する第１受光器（１６ａ）及び第２受光器（１６ｂ）と、前記第１受光器と前記第２受光器の出力信号を増幅する受信部（２１）と、前記受信部で増幅した信号をデジタル信号に変換するＡＤ変換部（２２）と、前記ＡＤ変換部のＡＤ変換のためのサンプリングトリガを発生するサンプリングトリガ発生部（２４）と、前記ＡＤ変換部のデジタル信号からスペクトラムを求め、前記光部品評価装置の外部に出力する処理部（２３）と、前記波長可変光源から出力光の波長を変化させる波長制御部（２５）と、を備えることを特徴とする。
光出力端子（１３）からの出力光を第２の光入力端子（１４ｂ）に入力し、アクティブ光部品からの被測定光を第１の光入力端子（１４ａ）に入力することで、アクティブ光部品からの被測定光の光スペクトラムを測定することができる。また、光出力端子（１３）からの出力光をパッシブ光部品に入力し、パッシブ光部品からの出力光を被測定光として第１の光入力端子（１４ａ）に入力することで、パッシブ光部品の波長特性を測定することができる。
ここで、波長可変光源（１１）と第２の光入力端子（１４ｂ）と光合分波部（１５ａ）と第１受光器（１６ａ）と第２受光器（１６ｂ）とを備えるため、被測定光をヘテロダイン検波することができる。これにより、被測定光の光スペクトラムを高い波長分解能で測定することができる。また、波長可変光源（１１）と波長制御部（２５）とを備えるため、出力光の波長を変化させることができる。これにより、被測定光の光スペクトラムを広いダイナミックレンジで測定することができる。
従って、本発明により、高い波長分解能かつ広いダイナミックレンジにて、アクティブ光部品とパッシブ光部品の両方の光部品を評価可能な光部品評価装置を提供することができる。
ここで、波長可変光源（１１）と第２の光入力端子（１４ｂ）と光合分波部（１５ａ）と第１受光器（１６ａ）と第２受光器（１６ｂ）とを備えるため、被測定光をヘテロダイン検波することができる。これにより、被測定光の光スペクトラムを高い波長分解能で測定することができる。また、波長可変光源（１１）と波長制御部（２５）とを備えるため、出力光の波長を変化させることができる。これにより、被測定光の光スペクトラムを広いダイナミックレンジで測定することができる。
従って、本発明により、高い波長分解能かつ広いダイナミックレンジにて、アクティブ光部品とパッシブ光部品の両方の光部品を評価可能な光部品評価装置を提供することができる。
上記目的を達成するために、本願発明の光部品評価装置は、光部品からの被測定光のスペクトラムを求める光部品評価装置（１０３）であって、任意の波長の光を出力する波長可変光源（１１）と、前記波長可変光源からの出力光を２光束に分波する出力光分波部（１２）と、前記出力光分波部の一方の出力光を前記光部品評価装置の外部へ出力する光出力端子（１３）と、前記出力光分波部のもう一方の出力光が入力されて光を透過又は遮断する光シャッタ（３３）と、前記光部品評価装置の外部から被測定光が入力される光入力端子（１４）と、前記光入力端子から被測定光が入力されるとともに前記光シャッタから出力光がローカル光として入力され、前記被測定光と前記ローカル光との干渉光を２光束に偏光分離する光合分波部（１５ａ）と、前記光合分波部からの光を光電変換する第１受光器（１６ａ）及び第２受光器（１６ｂ）と、前記第１受光器と前記第２受光器の出力信号を増幅する受信部（２１）と、前記受信部で増幅した信号をデジタル信号に変換するＡＤ変換部（２２）と、前記ＡＤ変換部のＡＤ変換のためのサンプリングトリガを発生するサンプリングトリガ発生部（２４）と、前記ＡＤ変換部のデジタル信号からスペクトラムを求め、前記光部品評価装置の外部に出力する処理部（２３）と、前記波長可変光源から出力光の波長を変化させる波長制御部（２５）と、前記光シャッタを開閉する光シャッタ制御部（２６）と、を備えることを特徴とする。
光シャッタ（３３）を開き、アクティブ光部品からの被測定光を光入力端子（１４）に入力することで、アクティブ光部品からの被測定光の光スペクトラムを測定することができる。また、光シャッタ（３３）を閉じ、光出力端子（１３）からの出力光をパッシブ光部品に入力し、パッシブ光部品からの出力光を被測定光として光入力端子（１４）に入力することで、パッシブ光部品の波長特性を測定することができる。
ここで、波長可変光源（１１）と出力光分波部（１２）と光合分波部（１５ａ）と第１受光器（１６ａ）と第２受光器（１６ｂ）とを備えるため、被測定光をヘテロダイン検波することができる。これにより、被測定光の光スペクトラムを高い波長分解能で測定することができる。また、波長可変光源（１１）と波長制御部（２５）とを備えるため、出力光の波長を変化させることができる。これにより、被測定光の光スペクトラムを広いダイナミックレンジで測定することができる。
従って、本発明により、高い波長分解能かつ広いダイナミックレンジにて、アクティブ光部品とパッシブ光部品の両方の光部品を評価可能な光部品評価装置を提供することができる。
ここで、波長可変光源（１１）と出力光分波部（１２）と光合分波部（１５ａ）と第１受光器（１６ａ）と第２受光器（１６ｂ）とを備えるため、被測定光をヘテロダイン検波することができる。これにより、被測定光の光スペクトラムを高い波長分解能で測定することができる。また、波長可変光源（１１）と波長制御部（２５）とを備えるため、出力光の波長を変化させることができる。これにより、被測定光の光スペクトラムを広いダイナミックレンジで測定することができる。
従って、本発明により、高い波長分解能かつ広いダイナミックレンジにて、アクティブ光部品とパッシブ光部品の両方の光部品を評価可能な光部品評価装置を提供することができる。
上記目的を達成するために、本願発明の光部品評価装置は、光部品からの出力光のスペクトラムを求める光部品評価装置（１０４）であって、任意の波長の光を出力する波長可変光源（１１）と、前記波長可変光源からの出力光を２光束に分波する出力光分波部（１２）と、前記出力光分波部の一方の出力光を前記光部品評価装置の外部へ出力する光出力端子（１３）と、前記光部品評価装置の外部から被測定光が入力される光入力端子（１４）と、前記光入力端子からの被測定光を２光束に分波する入力光分波部（３１）と、前記入力光分波部の一方の出力光が入力されるとともに前記出力光分波部のもう一方の出力光がローカル光として入力され、前記被測定光と前記ローカル光との干渉光を２光束に偏光分離する光合分波部（１５ａ）と、前記光合分波部からの光を光電変換する第１受光器（１６ａ）及び第２受光器（１６ｂ）と、前記入力光分波部のもう一方の出力光を光電変換する第３受光器（１６ｃ）と、前記第１受光器と前記第２受光器と前記第３受光器の出力信号を増幅する受信部（２１）と、前記受信部で増幅した信号をデジタル信号に変換するＡＤ変換部（２２）と、前記ＡＤ変換部のＡＤ変換のためのサンプリングトリガを発生するサンプリングトリガ発生部（２４）と、前記ＡＤ変換部のデジタル信号からスペクトラムを求め、前記光部品評価装置の外部に出力する処理部（２３）と、前記波長可変光源から出力光の波長を変化させる波長制御部（２５）と、を備えることを特徴とする。
アクティブ光部品からの被測定光を光入力端子（１４）に入力することで、アクティブ光部品からの被測定光の光スペクトラムを測定することができる。また、光出力端子（１３）からの出力光をパッシブ光部品に入力し、パッシブ光部品からの出力光を被測定光として光入力端子（１４）に入力することで、パッシブ光部品の波長特性を測定することができる。
ここで、波長可変光源（１１）と出力光分波部（１２）と光合分波部（１５ａ）と第１受光器（１６ａ）と第２受光器（１６ｂ）とを備えるため、被測定光をヘテロダイン検波することができる。これにより、被測定光の光スペクトラムを高い波長分解能で測定することができる。また、波長可変光源（１１）と波長制御部（２５）とを備えるため、出力光の波長を変化させることができる。これにより、被測定光の光スペクトラムを広いダイナミックレンジで測定することができる。
従って、本発明により、高い波長分解能かつ広いダイナミックレンジにて、アクティブ光部品とパッシブ光部品の両方の光部品を評価可能な光部品評価装置を提供することができる。
ここで、波長可変光源（１１）と出力光分波部（１２）と光合分波部（１５ａ）と第１受光器（１６ａ）と第２受光器（１６ｂ）とを備えるため、被測定光をヘテロダイン検波することができる。これにより、被測定光の光スペクトラムを高い波長分解能で測定することができる。また、波長可変光源（１１）と波長制御部（２５）とを備えるため、出力光の波長を変化させることができる。これにより、被測定光の光スペクトラムを広いダイナミックレンジで測定することができる。
従って、本発明により、高い波長分解能かつ広いダイナミックレンジにて、アクティブ光部品とパッシブ光部品の両方の光部品を評価可能な光部品評価装置を提供することができる。
上記目的を達成するために、本願発明の光部品評価装置は、光部品からの出力光のスペクトラムを求める光部品評価装置（１０５）であって、任意の波長の光を出力する波長可変光源（１１）と、前記波長可変光源からの出力光を２光束に分波する出力光分波部（１２）と、前記出力光分波部の一方の出力光を前記光部品評価装置の外部へ出力する光出力端子（１３）と、前記光部品評価装置の外部から被測定光が入力される光入力端子（１４）と、前記光入力端子からの被測定光が入力されて２つの出力ポートのうちのいずれかに選択出力する入力光スイッチ（３２）と、前記入力光スイッチの一方の出力ポートからの被測定光が入力されるとともに前記出力光分波部のもう一方の出力光がローカル光として入力され、前記被測定光と前記ローカル光との干渉光を２光束に偏光分離する光合分波部（１５ａ）と、前記光合分波部からの光を光電変換する第１受光器（１６ａ）及び第２受光器（１６ｂ）と、前記入力光スイッチのもう一方の出力ポートからの被測定光を光電変換する第３受光器（１６ｃ）と、前記第１受光器と前記第２受光器と前記第３受光器の出力信号を増幅する受信部（２１）と、前記受信部で増幅した信号をデジタル信号に変換するＡＤ変換部（２２）と、前記ＡＤ変換部のＡＤ変換のためのサンプリングトリガを発生するサンプリングトリガ発生部（２４）と、前記ＡＤ変換部のデジタル信号からスペクトラムを求め、前記光部品評価装置の外部に出力する処理部（２３）と、前記波長可変光源から出力光の波長を変化させる波長制御部（２５）と、前記入力光スイッチの出力ポートを切り替える入力光スイッチ制御部（２７）と、を備えることを特徴とする。
入力光スイッチ（３２）の出力ポートを光合分波部（１５ａ）側に設定し、アクティブ光部品からの被測定光を光入力端子（１４）に入力することで、アクティブ光部品からの被測定光の光スペクトラムを測定することができる。また、入力光スイッチ（３２）の出力ポートを第３受光器（１６ｃ）側に設定し、光出力端子（１３）からの出力光をパッシブ光部品に入力し、パッシブ光部品からの出力光を被測定光として光入力端子（１４）に入力することで、パッシブ光部品の波長特性を測定することができる。
ここで、波長可変光源（１１）と出力光分波部（１２）と光合分波部（１５ａ）と第１受光器（１６ａ）と第２受光器（１６ｂ）とを備えるため、被測定光をヘテロダイン検波することができる。これにより、被測定光の光スペクトラムを高い波長分解能で測定することができる。また、波長可変光源（１１）と波長制御部（２５）とを備えるため、出力光の波長を変化させることができる。これにより、被測定光の光スペクトラムを広いダイナミックレンジで測定することができる。
従って、本発明により、高い波長分解能かつ広いダイナミックレンジにて、アクティブ光部品とパッシブ光部品の両方の光部品を評価可能な光部品評価装置を提供することができる。
ここで、波長可変光源（１１）と出力光分波部（１２）と光合分波部（１５ａ）と第１受光器（１６ａ）と第２受光器（１６ｂ）とを備えるため、被測定光をヘテロダイン検波することができる。これにより、被測定光の光スペクトラムを高い波長分解能で測定することができる。また、波長可変光源（１１）と波長制御部（２５）とを備えるため、出力光の波長を変化させることができる。これにより、被測定光の光スペクトラムを広いダイナミックレンジで測定することができる。
従って、本発明により、高い波長分解能かつ広いダイナミックレンジにて、アクティブ光部品とパッシブ光部品の両方の光部品を評価可能な光部品評価装置を提供することができる。
上記目的を達成するために、本願発明の光部品評価装置は、光部品からの出力光のスペクトラムを求める光部品評価装置（１０６）であって、任意の波長の光を出力する波長可変光源（１１）と、前記波長可変光源から出力光が入力されて２つの出力ポートのうちのいずれかに選択出力する出力光スイッチ（３４）と、前記出力光スイッチの一方の出力ポートからの出力光を前記光部品評価装置の外部へ出力する光出力端子（１３）と、前記光部品評価装置の外部から被測定光が入力される光入力端子（１４）と、前記光入力端子から被測定光が入力されるとともに前記出力光スイッチのもう一方の出力ポートから出力光がローカル光として入力され、前記被測定光と前記ローカル光との干渉光を２光束に偏光分離する光合分波部（１５ａ）と、前記光合分波部からの光を光電変換する第１受光器（１６ａ）及び第２受光器（１６ｂ）と、前記第１受光器と前記第２受光器の出力信号を増幅する受信部（２１）と、前記受信部で増幅した信号をデジタル信号に変換するＡＤ変換部（２２）と、前記ＡＤ変換部のＡＤ変換のためのサンプリングトリガを発生するサンプリングトリガ発生部（２４）と、前記ＡＤ変換部のデジタル信号からスペクトラムを求め、前記光部品評価装置の外部に出力する処理部（２３）と、前記波長可変光源から出力光の波長を変化させる波長制御部（２５）と、前記出力光スイッチの出力ポートを切り替える出力光スイッチ制御部（２８）と、を備えることを特徴とする。
出力光スイッチ（３４）の出力ポートを光合分波部（１５ａ）側に設定し、アクティブ光部品からの被測定光を光入力端子（１４）に入力することで、アクティブ光部品からの被測定光の光スペクトラムを測定することができる。また、出力光スイッチ（３４）の出力ポートを光出力端子（１３）側に設定し、光出力端子（１３）からの出力光をパッシブ光部品に入力し、パッシブ光部品からの出力光を被測定光として光入力端子（１４）に入力することで、パッシブ光部品の波長特性を測定することができる。
ここで、波長可変光源（１１）と出力光スイッチ（３４）と光合分波部（１５ａ）と第１受光器（１６ａ）と第２受光器（１６ｂ）とを備えるため、被測定光をヘテロダイン検波することができる。これにより、被測定光の光スペクトラムを高い波長分解能で測定することができる。また、波長可変光源（１１）と波長制御部（２５）とを備えるため、出力光の波長を変化させることができる。これにより、被測定光の光スペクトラムを広いダイナミックレンジで測定することができる。
従って、本発明により、高い波長分解能かつ広いダイナミックレンジにて、アクティブ光部品とパッシブ光部品の両方の光部品を評価可能な光部品評価装置を提供することができる。
ここで、波長可変光源（１１）と出力光スイッチ（３４）と光合分波部（１５ａ）と第１受光器（１６ａ）と第２受光器（１６ｂ）とを備えるため、被測定光をヘテロダイン検波することができる。これにより、被測定光の光スペクトラムを高い波長分解能で測定することができる。また、波長可変光源（１１）と波長制御部（２５）とを備えるため、出力光の波長を変化させることができる。これにより、被測定光の光スペクトラムを広いダイナミックレンジで測定することができる。
従って、本発明により、高い波長分解能かつ広いダイナミックレンジにて、アクティブ光部品とパッシブ光部品の両方の光部品を評価可能な光部品評価装置を提供することができる。
上記目的を達成するために、本願発明の光部品評価装置は、光部品からの出力光のスペクトラムを求める光部品評価装置（１０７）であって、任意の波長の光を出力する波長可変光源（１１）と、前記波長可変光源からの出力光を２光束に分波する出力光分波部（１２）と、前記出力光分波部の一方の出力光を前記光部品評価装置の外部へ出力する光出力端子（１３）と、前記光部品評価装置の外部から被測定光が入力される第１の光入力端子（１４ａ）及び第２の光入力端子（１４ｂ）と、前記第１の光入力端子から被測定光が入力されるとともに前記出力光分波部のもう一方の出力光がローカル光として入力され、前記被測定光と前記ローカル光とを干渉させる光合波部（１５ｂ）と、前記出力光分波部（１２）と前記光合波部（１５ｂ）の間の光路、および前記出力光分波部（１２）と前記光出力端子（１３）の間の光路、および前記第１の光入力端子（１４ａ）と前記光合波部（１５ｂ）の間の光路、および前記波長可変光源（１１）と前記出力光分波部（１２）の間の光路のいずれかに配置され、前記ローカル光または前記被測定光の偏波依存性を解消する偏波スクランブラ（３５）と、前記光合波部からの光を光電変換する第１受光器（１６ａ）と、前記第２の光入力端子からの光を光電変換する第２受光器（１６ｂ）と、前記第１受光器と前記第２受光器の出力信号を増幅する受信部（２１）と、前記受信部で増幅した信号をデジタル信号に変換するＡＤ変換部（２２）と、前記ＡＤ変換部のＡＤ変換のためのサンプリングトリガを発生するサンプリングトリガ発生部（２４）と、前記ＡＤ変換部のデジタル信号からスペクトラムを求め、前記光部品評価装置の外部に出力する処理部（２３）と、前記波長可変光源から出力光の波長を変化させる波長制御部（２５）と、を備えることを特徴とする。
アクティブ光部品からの被測定光を第１の光入力端子（１４ａ）に入力することで、アクティブ光部品からの被測定光の光スペクトラムを測定することができる。また、光出力端子（１３）からの出力光をパッシブ光部品に入力し、パッシブ光部品からの出力光を被測定光として第２の光入力端子（１４ｂ）に入力することで、パッシブ光部品の波長特性を測定することができる。
ここで、波長可変光源（１１）と出力光分波部（１２）と偏波スクランブラ（３５）と光合波部（１５ｂ）と第１受光器（１６ａ）とを備えるため、被測定光をヘテロダイン検波することができる。これにより、被測定光の光スペクトラムを高い波長分解能で測定することができる。また、波長可変光源（１１）と波長制御部（２５）とを備えるため、出力光の波長を変化させることができる。これにより、被測定光の光スペクトラムを広いダイナミックレンジで測定することができる。
従って、本発明により、高い波長分解能かつ広いダイナミックレンジにて、アクティブ光部品とパッシブ光部品の両方の光部品を評価可能な光部品評価装置を提供することができる。
ここで、波長可変光源（１１）と出力光分波部（１２）と偏波スクランブラ（３５）と光合波部（１５ｂ）と第１受光器（１６ａ）とを備えるため、被測定光をヘテロダイン検波することができる。これにより、被測定光の光スペクトラムを高い波長分解能で測定することができる。また、波長可変光源（１１）と波長制御部（２５）とを備えるため、出力光の波長を変化させることができる。これにより、被測定光の光スペクトラムを広いダイナミックレンジで測定することができる。
従って、本発明により、高い波長分解能かつ広いダイナミックレンジにて、アクティブ光部品とパッシブ光部品の両方の光部品を評価可能な光部品評価装置を提供することができる。
上記目的を達成するために、本願発明の光部品評価装置は、光部品からの被測定光のスペクトラムを求める光部品評価装置（１０８）であって、任意の波長の光を出力する波長可変光源（１１）と、前記波長可変光源からの出力光を前記光部品評価装置の外部へ出力する光出力端子（１３）と、前記光部品評価装置の外部から被測定光が入力される第１の光入力端子（１４ａ）と、前記光出力端子から出力された出力光が入力される第２の光入力端子（１４ｂ）と、前記第１の光入力端子から被測定光が入力されるとともに前記第２の光入力端子から前記出力光がローカル光として入力され、前記被測定光と前記ローカル光とを干渉させる光合波部（１５ｂ）と、前記第２の光入力端子（１４ｂ）と前記光合波部（１５ｂ）の間の光路、および前記波長可変光源（１１）と前記光出力端子（１３）の間の光路、および前記第１の光入力端子（１４ａ）と前記光合波部（１５ｂ）の間の光路のいずれかに配置され、前記ローカル光または前記被測定光の偏波依存性を解消する偏波スクランブラ（３５）と、前記光合波部からの光を光電変換する受光器（１６）と、前記受光器の出力信号を増幅する受信部（２１）と、前記受信部で増幅した信号をデジタル信号に変換するＡＤ変換部（２２）と、前記ＡＤ変換部のＡＤ変換のためのサンプリングトリガを発生するサンプリングトリガ発生部（２４）と、前記ＡＤ変換部のデジタル信号からスペクトラムを求め、前記光部品評価装置の外部に出力する処理部（２３）と、前記波長可変光源から出力光の波長を変化させる波長制御部（２５）と、を備えることを特徴とする。
光出力端子（１３）からの出力光を第２の光入力端子（１４ｂ）に入力し、アクティブ光部品からの被測定光を第１の光入力端子（１４ａ）に入力することで、アクティブ光部品からの被測定光の光スペクトラムを測定することができる。また、光出力端子（１３）からの出力光をパッシブ光部品に入力し、パッシブ光部品からの出力光を被測定光として第１の光入力端子（１４ａ）に入力することで、パッシブ光部品の波長特性を測定することができる。
ここで、波長可変光源（１１）と第２の光入力端子（１４ｂ）と偏波スクランブラ（３５）と光合波部（１５ｂ）と受光器（１６）とを備えるため、被測定光をヘテロダイン検波することができる。これにより、被測定光の光スペクトラムを高い波長分解能で測定することができる。また、波長可変光源（１１）と波長制御部（２５）とを備えるため、出力光の波長を変化させることができる。これにより、被測定光の光スペクトラムを広いダイナミックレンジで測定することができる。
従って、本発明により、高い波長分解能かつ広いダイナミックレンジにて、アクティブ光部品とパッシブ光部品の両方の光部品を評価可能な光部品評価装置を提供することができる。
ここで、波長可変光源（１１）と第２の光入力端子（１４ｂ）と偏波スクランブラ（３５）と光合波部（１５ｂ）と受光器（１６）とを備えるため、被測定光をヘテロダイン検波することができる。これにより、被測定光の光スペクトラムを高い波長分解能で測定することができる。また、波長可変光源（１１）と波長制御部（２５）とを備えるため、出力光の波長を変化させることができる。これにより、被測定光の光スペクトラムを広いダイナミックレンジで測定することができる。
従って、本発明により、高い波長分解能かつ広いダイナミックレンジにて、アクティブ光部品とパッシブ光部品の両方の光部品を評価可能な光部品評価装置を提供することができる。
上記目的を達成するために、本願発明の光部品評価装置は、光部品からの被測定光のスペクトラムを求める光部品評価装置（１０９）であって、任意の波長の光を出力する波長可変光源（１１）と、前記波長可変光源からの出力光を２光束に分波する出力光分波部（１２）と、前記出力光分波部の一方の出力光を前記光部品評価装置の外部へ出力する光出力端子（１３）と、前記出力光分波部のもう一方の出力光が入力されて光を透過又は遮断する光シャッタ（３３）と、前記光部品評価装置の外部から被測定光が入力される光入力端子（１４）と、前記光入力端子から被測定光が入力されるとともに前記光シャッタから出力光がローカル光として入力され、前記被測定光と前記ローカル光とを干渉させる光合波部（１５ｂ）と、前記出力光分波部（１２）と前記光合波部（１５ｂ）の間の光路、および前記出力光分波部（１２）と前記光出力端子（１３）の間の光路、および前記光入力端子（１４）と前記光合波部（１５ｂ）の間の光路、および前記波長可変光源（１１）と前記出力光分波部（１２）の間の光路のいずれかに配置され、前記ローカル光または前記被測定光の偏波依存性を解消する偏波スクランブラ（３５）と、前記光合波部からの光を光電変換する受光器（１６）と、前記受光器の出力信号を増幅する受信部（２１）と、前記受信部で増幅した信号をデジタル信号に変換するＡＤ変換部（２２）と、前記ＡＤ変換部のＡＤ変換のためのサンプリングトリガを発生するサンプリングトリガ発生部（２４）と、前記ＡＤ変換部のデジタル信号からスペクトラムを求め、前記光部品評価装置の外部に出力する処理部（２３）と、前記波長可変光源から出力光の波長を変化させる波長制御部（２５）と、前記光シャッタを開閉する光シャッタ制御部（２６）と、を備えることを特徴とする。
光シャッタ（３３）を開き、アクティブ光部品からの被測定光を光入力端子（１４）に入力することで、アクティブ光部品からの被測定光の光スペクトラムを測定することができる。また、光シャッタ（３３）を閉じ、光出力端子（１３）からの出力光をパッシブ光部品に入力し、パッシブ光部品からの出力光を被測定光として光入力端子（１４）に入力することで、パッシブ光部品の波長特性を測定することができる。
ここで、波長可変光源（１１）と出力光分波部（１２）と偏波スクランブラ（３５）と光合波部（１５ｂ）と受光器（１６）とを備えるため、被測定光をヘテロダイン検波することができる。これにより、被測定光の光スペクトラムを高い波長分解能で測定することができる。また、波長可変光源（１１）と波長制御部（２５）とを備えるため、出力光の波長を変化させることができる。これにより、被測定光の光スペクトラムを広いダイナミックレンジで測定することができる。
従って、本発明により、高い波長分解能かつ広いダイナミックレンジにて、アクティブ光部品とパッシブ光部品の両方の光部品を評価可能な光部品評価装置を提供することができる。
ここで、波長可変光源（１１）と出力光分波部（１２）と偏波スクランブラ（３５）と光合波部（１５ｂ）と受光器（１６）とを備えるため、被測定光をヘテロダイン検波することができる。これにより、被測定光の光スペクトラムを高い波長分解能で測定することができる。また、波長可変光源（１１）と波長制御部（２５）とを備えるため、出力光の波長を変化させることができる。これにより、被測定光の光スペクトラムを広いダイナミックレンジで測定することができる。
従って、本発明により、高い波長分解能かつ広いダイナミックレンジにて、アクティブ光部品とパッシブ光部品の両方の光部品を評価可能な光部品評価装置を提供することができる。
上記目的を達成するために、本願発明の光部品評価装置は、光部品からの出力光のスペクトラムを求める光部品評価装置（１１０）であって、任意の波長の光を出力する波長可変光源（１１）と、前記波長可変光源からの出力光を２光束に分波する出力光分波部（１２）と、前記出力光分波部の一方の出力光を前記光部品評価装置の外部へ出力する光出力端子（１３）と、前記光部品評価装置の外部から被測定光が入力される光入力端子（１４）と、前記光入力端子からの被測定光を２光束に分波する入力光分波部（３１）と、前記入力光分波部の一方の出力光が入力されるとともに前記出力光分波部のもう一方の出力光がローカル光として入力され、前記被測定光と前記ローカル光とを干渉させる光合波部（１５ｂ）と、前記出力光分波部（１２）と前記光合波部（１５ｂ）の間の光路、および前記出力光分波部（１２）と前記光出力端子（１３）の間の光路、および前記光入力端子（１４）と前記入力光分波部（３１）の間の光路、および前記入力光分波部（３１）と前記光合波部（１５ｂ）の間の光路、および前記波長可変光源（１１）と前記出力光分波部（１２）の間の光路のいずれかに配置され、前記ローカル光または前記被測定光の偏波依存性を解消する偏波スクランブラ（３５）と、前記光合波部からの光を光電変換する第１受光器（１６ａ）と、前記入力光分波部のもう一方の出力光を光電変換する第２受光器（１６ｂ）と、前記第１受光器と前記第２受光器の出力信号を増幅する受信部（２１）と、前記受信部で増幅した信号をデジタル信号に変換するＡＤ変換部（２２）と、前記ＡＤ変換部のＡＤ変換のためのサンプリングトリガを発生するサンプリングトリガ発生部（２４）と、前記ＡＤ変換部のデジタル信号からスペクトラムを求め、前記光部品評価装置の外部に出力する処理部（２３）と、前記波長可変光源から出力光の波長を変化させる波長制御部（２５）と、を備えることを特徴とする。
アクティブ光部品からの被測定光を光入力端子（１４）に入力することで、アクティブ光部品からの被測定光の光スペクトラムを測定することができる。また、光出力端子（１３）からの出力光をパッシブ光部品に入力し、パッシブ光部品からの出力光を被測定光として光入力端子（１４）に入力することで、パッシブ光部品の波長特性を測定することができる。
ここで、波長可変光源（１１）と出力光分波部（１２）と偏波スクランブラ（３５）と光合波部（１５ｂ）と第１受光器（１６ａ）とを備えるため、被測定光をヘテロダイン検波することができる。これにより、被測定光の光スペクトラムを高い波長分解能で測定することができる。また、波長可変光源（１１）と波長制御部（２５）とを備えるため、出力光の波長を変化させることができる。これにより、被測定光の光スペクトラムを広いダイナミックレンジで測定することができる。
従って、本発明により、高い波長分解能かつ広いダイナミックレンジにて、アクティブ光部品とパッシブ光部品の両方の光部品を評価可能な光部品評価装置を提供することができる。
ここで、波長可変光源（１１）と出力光分波部（１２）と偏波スクランブラ（３５）と光合波部（１５ｂ）と第１受光器（１６ａ）とを備えるため、被測定光をヘテロダイン検波することができる。これにより、被測定光の光スペクトラムを高い波長分解能で測定することができる。また、波長可変光源（１１）と波長制御部（２５）とを備えるため、出力光の波長を変化させることができる。これにより、被測定光の光スペクトラムを広いダイナミックレンジで測定することができる。
従って、本発明により、高い波長分解能かつ広いダイナミックレンジにて、アクティブ光部品とパッシブ光部品の両方の光部品を評価可能な光部品評価装置を提供することができる。
上記目的を達成するために、本願発明の光部品評価装置は、光部品からの出力光のスペクトラムを求める光部品評価装置（１１１）であって、任意の波長の光を出力する波長可変光源（１１）と、前記波長可変光源からの出力光を２光束に分波する出力光分波部（１２）と、前記出力光分波部の一方の出力光を前記光部品評価装置の外部へ出力する光出力端子（１３）と、前記光部品評価装置の外部から被測定光が入力される光入力端子（１４）と、前記光入力端子からの被測定光が入力されて２つの出力ポートのうちのいずれかに選択出力する入力光スイッチ（３２）と、前記入力光スイッチの一方の出力ポートからの被測定光が入力されるとともに前記出力光分波部のもう一方の出力光がローカル光として入力され、前記被測定光と前記ローカル光とを干渉させる光合波部（１５ｂ）と、前記出力光分波部（１２）と前記光合波部（１５ｂ）の間の光路、および前記出力光分波部（１２）と前記光出力端子（１３）の間の光路、および前記光入力端子（１４）と前記入力光スイッチ（３２）の間の光路、および前記入力光スイッチ（３２）と前記光合波部（１５ｂ）の間の光路、および前記波長可変光源（１１）と前記出力光分波部（１２）の間の光路のいずれかに配置され、前記ローカル光または前記被測定光の偏波依存性を解消する偏波スクランブラ（３５）と、前記光合波部からの光を光電変換する第１受光器（１６ａ）と、前記入力光スイッチのもう一方の出力ポートからの被測定光を光電変換する第２受光器（１６ｂ）と、前記第１受光器と前記第２受光器の出力信号を増幅する受信部（２１）と、前記受信部で増幅した信号をデジタル信号に変換するＡＤ変換部（２２）と、前記ＡＤ変換部のＡＤ変換のためのサンプリングトリガを発生するサンプリングトリガ発生部（２４）と、前記ＡＤ変換部のデジタル信号からスペクトラムを求め、前記光部品評価装置の外部に出力する処理部（２３）と、前記波長可変光源から出力光の波長を変化させる波長制御部（２５）と、前記入力光スイッチの出力ポートを切り替える入力光スイッチ制御部（２７）と、を備えることを特徴とする。
入力光スイッチ（３２）の出力ポートを光合波部（１５ｂ）側に設定し、アクティブ光部品からの被測定光を光入力端子（１４）に入力することで、アクティブ光部品からの被測定光の光スペクトラムを測定することができる。また、入力光スイッチ（３２）の出力ポートを第２受光器（１６ｂ）側に設定し、光出力端子（１３）からの出力光をパッシブ光部品に入力し、パッシブ光部品からの出力光を被測定光として光入力端子（１４）に入力することで、パッシブ光部品の波長特性を測定することができる。
ここで、波長可変光源（１１）と出力光分波部（１２）と偏波スクランブラ（３５）と光合波部（１５ｂ）と第１受光器（１６ａ）とを備えるため、被測定光をヘテロダイン検波することができる。これにより、被測定光の光スペクトラムを高い波長分解能で測定することができる。また、波長可変光源（１１）と波長制御部（２５）とを備えるため、出力光の波長を変化させることができる。これにより、被測定光の光スペクトラムを広いダイナミックレンジで測定することができる。
従って、本発明により、高い波長分解能かつ広いダイナミックレンジにて、アクティブ光部品とパッシブ光部品の両方の光部品を評価可能な光部品評価装置を提供することができる。
ここで、波長可変光源（１１）と出力光分波部（１２）と偏波スクランブラ（３５）と光合波部（１５ｂ）と第１受光器（１６ａ）とを備えるため、被測定光をヘテロダイン検波することができる。これにより、被測定光の光スペクトラムを高い波長分解能で測定することができる。また、波長可変光源（１１）と波長制御部（２５）とを備えるため、出力光の波長を変化させることができる。これにより、被測定光の光スペクトラムを広いダイナミックレンジで測定することができる。
従って、本発明により、高い波長分解能かつ広いダイナミックレンジにて、アクティブ光部品とパッシブ光部品の両方の光部品を評価可能な光部品評価装置を提供することができる。
上記目的を達成するために、本願発明の光部品評価装置は、光部品からの出力光のスペクトラムを求める光部品評価装置（１１２）であって、任意の波長の光を出力する波長可変光源（１１）と、前記波長可変光源から出力光が入力されて２つの出力ポートのうちのいずれかに選択出力する出力光スイッチ（３４）と、前記出力光スイッチの一方の出力ポートからの出力光を前記光部品評価装置の外部へ出力する光出力端子（１３）と、前記光部品評価装置の外部から被測定光が入力される光入力端子（１４）と、前記光入力端子から被測定光が入力されるとともに前記出力光スイッチのもう一方の出力ポートから出力光がローカル光として入力され、前記被測定光と前記ローカル光とを干渉させる光合波部（１５ｂ）と、前記出力光スイッチ（３４）と前記光合波部（１５ｂ）の間の光路、および前記出力光スイッチ（３４）と前記光出力端子（１３）の間の光路、および前記光入力端子（１４）と前記光合波部（１５ｂ）の間の光路、および前記波長可変光源（１１）と前記出力光スイッチ（３４）の間の光路のいずれかに配置され、前記ローカル光または前記被測定光の偏波依存性を解消する偏波スクランブラ（３５）と、前記光合波部からの光を光電変換する受光器（１６）と、前記受光器の出力信号を増幅する受信部（２１）と、前記受信部で増幅した信号をデジタル信号に変換するＡＤ変換部（２２）と、前記ＡＤ変換部のＡＤ変換のためのサンプリングトリガを発生するサンプリングトリガ発生部（２４）と、前記ＡＤ変換部のデジタル信号からスペクトラムを求め、前記光部品評価装置の外部に出力する処理部（２３）と、前記波長可変光源から出力光の波長を変化させる波長制御部（２５）と、前記出力光スイッチの出力ポートを切り替える出力光スイッチ制御部（２８）と、を備えることを特徴とする。
出力光スイッチ（３４）の出力ポートを光合波部（１５ｂ）側に設定し、アクティブ光部品からの被測定光を光入力端子（１４）に入力することで、アクティブ光部品からの被測定光の光スペクトラムを測定することができる。また、出力光スイッチ（３４）の出力ポートを光出力端子（１３）側に設定し、光出力端子（１３）からの出力光をパッシブ光部品に入力し、パッシブ光部品からの出力光を被測定光として光入力端子（１４）に入力することで、パッシブ光部品の波長特性を測定することができる。
ここで、波長可変光源（１１）と出力光スイッチ（３４）と偏波スクランブラ（３５）と光合波部（１５ｂ）と受光器（１６）とを備えるため、被測定光をヘテロダイン検波することができる。これにより、被測定光の光スペクトラムを高い波長分解能で測定することができる。また、波長可変光源（１１）と波長制御部（２５）とを備えるため、出力光の波長を変化させることができる。これにより、被測定光の光スペクトラムを広いダイナミックレンジで測定することができる。
従って、本発明により、高い波長分解能かつ広いダイナミックレンジにて、アクティブ光部品とパッシブ光部品の両方の光部品を評価可能な光部品評価装置を提供することができる。
ここで、波長可変光源（１１）と出力光スイッチ（３４）と偏波スクランブラ（３５）と光合波部（１５ｂ）と受光器（１６）とを備えるため、被測定光をヘテロダイン検波することができる。これにより、被測定光の光スペクトラムを高い波長分解能で測定することができる。また、波長可変光源（１１）と波長制御部（２５）とを備えるため、出力光の波長を変化させることができる。これにより、被測定光の光スペクトラムを広いダイナミックレンジで測定することができる。
従って、本発明により、高い波長分解能かつ広いダイナミックレンジにて、アクティブ光部品とパッシブ光部品の両方の光部品を評価可能な光部品評価装置を提供することができる。
なお、上記各発明は、可能な限り組み合わせることができる。
本発明によれば、高い波長分解能かつ広いダイナミックレンジにて、アクティブ光部品とパッシブ光部品の両方の光部品を評価可能な光部品評価装置を提供することができる。
添付の図面を参照して本発明の実施形態を説明する。以下に説明する実施形態は本発明の実施例であり、本発明は、以下の実施形態に制限されるものではない。なお、本明細書及び図面において符号が同じ構成要素は、相互に同一のものを示すものとする。
（実施形態１）
図１は、本実施形態に係る光部品評価装置の概略構成図である。本発明の実施形態に係る光部品評価装置１０１は、波長可変光源１１と、出力光分波部１２と、光出力端子１３と、第１の光入力端子１４ａ及び第２の光入力端子１４ｂと、光合分波部１５ａと、第１受光器１６ａ及び第２受光器１６ｂと、第３受光器１６ｃと、受信部２１と、ＡＤ変換部２２と、サンプリングトリガ発生部２４と、処理部２３と、波長制御部２５と、を備える。
図１は、本実施形態に係る光部品評価装置の概略構成図である。本発明の実施形態に係る光部品評価装置１０１は、波長可変光源１１と、出力光分波部１２と、光出力端子１３と、第１の光入力端子１４ａ及び第２の光入力端子１４ｂと、光合分波部１５ａと、第１受光器１６ａ及び第２受光器１６ｂと、第３受光器１６ｃと、受信部２１と、ＡＤ変換部２２と、サンプリングトリガ発生部２４と、処理部２３と、波長制御部２５と、を備える。
光部品がアクティブ光部品の場合について説明する。波長可変光源１１は、任意の波長の光を出力する。出力光分波部１２は、波長可変光源１１からの出力光を２光束に分波する。光部品評価装置１０１の外部から、アクティブ光部品からの被測定光が第１の光入力端子１４ａに入力される。光合分波部１５ａは、第１の光入力端子１４ａから被測定光が入力されるとともに、出力光分波部１２のもう一方の出力光がローカル光として入力され、前記被測定光と前記ローカル光との干渉光を２光束に偏光分離する。ここで、偏光分離は、例えば偏光ビームスプリッター（ＰＢＳ）を用いて行なう。第１受光器１６ａ及び第２受光器１６ｂは、光合分波部１５ａからの干渉光を光電変換する。
光部品がパッシブ光部品の場合について説明する。波長可変光源１１は、任意の波長の光を出力する。出力光分波部１２は、波長可変光源１１からの出力光を２光束に分波する。光出力端子１３は、出力光分波部１２の一方の出力光を光部品評価装置１０１の外部へ出力する。光出力端子１３から出力された出力光がパッシブ光部品に入力される。そして、第２の光入力端子１４ｂに、光部品評価装置１０１の外部から、パッシブ光部品からの出力光が被測定光として入力される。第３受光器１６ｃは、第２の光入力端子１４ｂからの被測定光を光電変換する。
受信部２１は、第１受光器１６ａと第２受光器１６ｂと第３受光器１６ｃの出力信号を増幅する。サンプリングトリガ発生部２４は、ＡＤ変換部２２のＡＤ変換のためのサンプリングトリガを発生する。ＡＤ変換部２２は、サンプリングトリガ発生部２４のタイミングで、受信部２１で増幅した信号をデジタル信号に変換する。処理部２３は、ＡＤ変換部２２のデジタル信号からスペクトラムを求め、光部品評価装置１０１の外部に出力する。
波長制御部２５で波長可変光源１１からの出力光の波長を変化させながら、ＡＤ変換部２２で求めたデジタル信号を検出することで、光部品からの被測定光のスペクトラムを求めることができる。
上記構成とすることにより、第１の光入力端子１４ａにレーザダイオード等のアクティブ光部品の出力光を入力することで、ヘテロダイン検波による超高分解能での発光スペクトラムの測定が可能になる。また、光出力端子１３と第２の光入力端子１４ｂに光フィルタ等のパッシブ光部品を接続することにより、超高分解能による光透過特性の測定が可能になる。したがって、光部品評価装置１０１は、高い波長分解能かつ広いダイナミックレンジにて、アクティブ光部品とパッシブ光部品の両方の光部品の評価を行なうことができる。
（実施形態２）
図２は、本実施形態に係る光部品評価装置の概略構成図である。光部品評価装置１０２は、波長可変光源１１と、光出力端子１３と、第１の光入力端子１４ａ及び第２の光入力端子１４ｂと、光合分波部１５ａと、第１受光器１６ａ及び第２受光器１６ｂと、受信部２１と、ＡＤ変換部２２と、サンプリングトリガ発生部２４と、処理部２３と、波長制御部２５と、を備える。
図２は、本実施形態に係る光部品評価装置の概略構成図である。光部品評価装置１０２は、波長可変光源１１と、光出力端子１３と、第１の光入力端子１４ａ及び第２の光入力端子１４ｂと、光合分波部１５ａと、第１受光器１６ａ及び第２受光器１６ｂと、受信部２１と、ＡＤ変換部２２と、サンプリングトリガ発生部２４と、処理部２３と、波長制御部２５と、を備える。
光部品がアクティブ光部品の場合について説明する。波長可変光源１１は、任意の波長の光を出力する。光出力端子１３は、波長可変光源１１からの出力光を光部品評価装置１０２の外部へ出力する。第２の光入力端子１４ｂに、光部品評価装置１０２の外部から、光出力端子１３から出力された出力光が入力される。第１の光入力端子１４ａに、光部品評価装置１０２の外部から、アクティブ光部品からの被測定光が入力される。光合分波部１５ａは、第１の光入力端子１４ａから被測定光が入力されるとともに、第２の光入力端子１４ｂから出力光がローカル光として入力され、被測定光とローカル光との干渉光を２光束に偏光分離する。第１受光器１６ａ及び第２受光器１６ｂは、光合分波部１５ａからの干渉光を光電変換する。
光部品がパッシブ光部品の場合について説明する。波長可変光源１１は、任意の波長の光を出力する。光出力端子１３は、波長可変光源１１からの出力光を光部品評価装置１０２の外部へ出力する。光出力端子１３から出力された出力光がパッシブ光部品に入力される。そして、第１の光入力端子１４ａに、光部品評価装置１０２の外部から、パッシブ光部品からの出力光が被測定光として入力される。光合分波部１５ａは、第１の光入力端子１４ａからの被測定光を、第１受光器１６ａ及び第２受光器１６ｂの少なくともいずれかに入射させる。第１受光器１６ａ及び第２受光器１６ｂの少なくともいずれかは、光合分波部１５ａからの被測定光を光電変換する。
受信部２１は、第１受光器１６ａと第２受光器１６ｂの出力信号を増幅する。ＡＤ変換部２２、サンプリングトリガ発生部２４、処理部２３及び波長制御部２５の機能及び動作は、実施形態１と同様である。
上記構成とすることにより、光部品評価装置１０２は、高い波長分解能かつ広いダイナミックレンジにて、アクティブ光部品とパッシブ光部品の両方の光部品の評価を行なうことができる。ここで、光部品評価装置１０２では、波長可変光源１１からの出力光をそのまま利用することができるため、波長可変光源１１の出力光強度を実施形態１に比べて低くすることができる。また、光部品評価装置１０２では、実施形態１に比べて受光器の数が少ないため、構成を簡易にすることができる。
（実施形態３）
図３は、本実施形態に係る光部品評価装置の概略構成図である。本発明の実施形態に係る光部品評価装置１０３は、波長可変光源１１と、出力光分波部１２と、光出力端子１３と、光入力端子１４と、光合分波部１５ａと、第１受光器１６ａ及び第２受光器１６ｂと、受信部２１と、ＡＤ変換部２２と、サンプリングトリガ発生部２４と、処理部２３と、波長制御部２５と、光シャッタ３３と、光シャッタ制御部２６と、を備える。
図３は、本実施形態に係る光部品評価装置の概略構成図である。本発明の実施形態に係る光部品評価装置１０３は、波長可変光源１１と、出力光分波部１２と、光出力端子１３と、光入力端子１４と、光合分波部１５ａと、第１受光器１６ａ及び第２受光器１６ｂと、受信部２１と、ＡＤ変換部２２と、サンプリングトリガ発生部２４と、処理部２３と、波長制御部２５と、光シャッタ３３と、光シャッタ制御部２６と、を備える。
光部品がアクティブ光部品の場合について説明する。波長可変光源１１は、任意の波長の光を出力する。出力光分波部１２は、波長可変光源１１からの出力光を２光束に分波する。光シャッタ制御部２６は、光シャッタ３３を制御して、光シャッタ３３を開く。光シャッタ３３は、出力光分波部１２のもう一方の出力光が入力され、当該出力光を透過する。光入力端子１４に、光部品評価装置１０３の外部から、アクティブ光部品からの被測定光が入力される。光合分波部１５ａは、光入力端子１４から被測定光が入力されるとともに、光シャッタ３３から出力光がローカル光として入力され、被測定光とローカル光との干渉光を２光束に偏光分離する。第１受光器１６ａ及び第２受光器１６ｂは、光合分波部１５ａからの干渉光を光電変換する。
光部品がパッシブ光部品の場合について説明する。波長可変光源１１は、任意の波長の光を出力する。出力光分波部１２は、波長可変光源１１からの出力光を２光束に分波する。光出力端子１３は、出力光分波部１２の一方の出力光を光部品評価装置１０３の外部へ出力する。光シャッタ制御部２６は、光シャッタ３３を制御して、光シャッタ３３を閉じる。光シャッタ３３は、出力光分波部１２のもう一方の出力光が入力され、当該出力光を遮断する。光出力端子１３から出力された出力光がパッシブ光部品に入力される。光入力端子１４に、光部品評価装置１０３の外部から、パッシブ光部品からの出力光が被測定光として入力される。光合分波部１５ａは、光入力端子１４からの被測定光を、第１受光器１６ａ及び第２受光器１６ｂの少なくともいずれかに入射させる。第１受光器１６ａ及び第２受光器１６ｂの少なくともいずれかは、光合分波部１５ａからの被測定光を光電変換する。
受信部２１は、第１受光器１６ａと第２受光器１６ｂの出力信号を増幅する。ＡＤ変換部２２、サンプリングトリガ発生部２４、処理部２３及び波長制御部２５の機能及び動作は、実施形態１と同様である。
上記構成とすることにより、光部品評価装置１０３は、高い波長分解能かつ広いダイナミックレンジにて、アクティブ光部品とパッシブ光部品の両方の光部品の評価を行なうことができる。ここで、光部品評価装置１０３では、実施形態１に比べて受光器の数が少ないため、構成を簡易にすることができる。また、光入力端子が１個であるため、取り扱いが容易になる。
（実施形態４）
図４は、本実施形態に係る光部品評価装置の概略構成図である。本発明の実施形態に係る光部品評価装置１０４は、波長可変光源１１と、出力光分波部１２と、光出力端子１３と、光入力端子１４と、入力光分波部３１と、光合分波部１５ａと、第１受光器１６ａ及び第２受光器１６ｂと、第３受光器１６ｃと、受信部２１と、ＡＤ変換部２２と、サンプリングトリガ発生部２４と、処理部２３と、波長制御部２５と、を備える。
図４は、本実施形態に係る光部品評価装置の概略構成図である。本発明の実施形態に係る光部品評価装置１０４は、波長可変光源１１と、出力光分波部１２と、光出力端子１３と、光入力端子１４と、入力光分波部３１と、光合分波部１５ａと、第１受光器１６ａ及び第２受光器１６ｂと、第３受光器１６ｃと、受信部２１と、ＡＤ変換部２２と、サンプリングトリガ発生部２４と、処理部２３と、波長制御部２５と、を備える。
光部品がアクティブ光部品の場合について説明する。波長可変光源１１は、任意の波長の光を出力する。出力光分波部１２は、波長可変光源１１からの出力光を２光束に分波する。光入力端子１４に、光部品評価装置１０４の外部から、アクティブ光部品からの被測定光が入力される。入力光分波部３１は、光入力端子１４からの被測定光を２光束に分波する。光合分波部１５ａは、入力光分波部３１の一方の出力光である被測定光が入力されるとともに、出力光分波部１２のもう一方の出力光がローカル光として入力され、被測定光とローカル光との干渉光を２光束に偏光分離する。第１受光器１６ａ及び第２受光器１６ｂは、光合分波部１５ａからの干渉光を光電変換する。
光部品がパッシブ光部品の場合について説明する。波長可変光源１１は、任意の波長の光を出力する。出力光分波部１２は、波長可変光源１１からの出力光を２光束に分波する。光出力端子１３は、出力光分波部１２の一方の出力光を光部品評価装置１０４の外部へ出力する。光出力端子１３から出力された出力光がパッシブ光部品に入力される。そして、光入力端子１４に、光部品評価装置１０４の外部から、パッシブ光部品からの出力光が被測定光として入力される。入力光分波部３１は、光入力端子１４からの被測定光を２光束に分波する。第３受光器１６ｃは、入力光分波部３１のもう一方の出力光である被測定光を光電変換する。
受信部２１は、第１受光器１６ａと第２受光器１６ｂと第３受光器１６ｃの出力信号を増幅する。ＡＤ変換部２２、サンプリングトリガ発生部２４、処理部２３及び波長制御部２５の機能及び動作は、実施形態１と同様である。
上記構成とすることにより、光部品評価装置１０４は、高い波長分解能かつ広いダイナミックレンジにて、アクティブ光部品とパッシブ光部品の両方の光部品の評価を行なうことができる。ここで、光部品評価装置１０４では、光入力端子が１個であるため、取り扱いが容易になる。
（実施形態５）
図５は、本実施形態に係る光部品評価装置の概略構成図である。本発明の実施形態に係る光部品評価装置１０５は、波長可変光源１１と、出力光分波部１２と、光出力端子１３と、光入力端子１４と、入力光スイッチ３２と、光合分波部１５ａと、第１受光器１６ａ及び第２受光器１６ｂと、第３受光器１６ｃと、受信部２１と、ＡＤ変換部２２と、サンプリングトリガ発生部２４と、処理部２３と、波長制御部２５と、入力光スイッチ制御部２７と、を備える。
図５は、本実施形態に係る光部品評価装置の概略構成図である。本発明の実施形態に係る光部品評価装置１０５は、波長可変光源１１と、出力光分波部１２と、光出力端子１３と、光入力端子１４と、入力光スイッチ３２と、光合分波部１５ａと、第１受光器１６ａ及び第２受光器１６ｂと、第３受光器１６ｃと、受信部２１と、ＡＤ変換部２２と、サンプリングトリガ発生部２４と、処理部２３と、波長制御部２５と、入力光スイッチ制御部２７と、を備える。
光部品がアクティブ光部品の場合について説明する。波長可変光源１１は、任意の波長の光を出力する。出力光分波部１２は、波長可変光源１１からの出力光を２光束に分波する。光入力端子１４に、光部品評価装置１０５の外部から、アクティブ光部品からの被測定光が入力される。入力光スイッチ制御部２７は、入力光スイッチ３２の出力ポートを切り替え、２つの出力ポートのうちの光合分波部１５ａ側に設定する。入力光スイッチ３２は、光入力端子１４からの被測定光が入力されて２つの出力ポートのうちの光合分波部１５ａ側に選択出力する。光合分波部１５ａは、入力光スイッチ３２の一方の出力ポートからの被測定光が入力されるとともに、出力光分波部１２のもう一方の出力光がローカル光として入力され、被測定光とローカル光との干渉光を２光束に偏光分離する。第１受光器１６ａ及び第２受光器１６ｂは、光合分波部１５ａからの干渉光を光電変換する。
光部品がパッシブ光部品の場合について説明する。波長可変光源１１は、任意の波長の光を出力する。出力光分波部１２は、波長可変光源１１からの出力光を２光束に分波する。光出力端子１３は、出力光分波部１２の一方の出力光を光部品評価装置１０５の外部へ出力する。光出力端子１３から出力された出力光がパッシブ光部品に入力される。そして、光入力端子１４に、光部品評価装置１０５の外部から、パッシブ光部品からの出力光が被測定光として入力される。入力光スイッチ制御部２７は、入力光スイッチ３２の出力ポートを切り替え、２つの出力ポートのうちの第３受光器１６ｃ側に設定する。入力光スイッチ３２は、光入力端子１４からの被測定光が入力されて、２つの出力ポートのうちの第３受光器１６ｃ側に選択出力する。第３受光器１６ｃは、入力光スイッチ３２のもう一方の出力ポートからの被測定光を光電変換する。
受信部２１は、第１受光器１６ａと第２受光器１６ｂと第３受光器１６ｃの出力信号を増幅する。ＡＤ変換部２２、サンプリングトリガ発生部２４、処理部２３及び波長制御部２５の機能及び動作は、実施形態１と同様である。
上記構成とすることにより、光部品評価装置１０５は、高い波長分解能かつ広いダイナミックレンジにて、アクティブ光部品とパッシブ光部品の両方の光部品の評価を行なうことができる。ここで、光部品評価装置１０５では、光入力端子が１個であるため、取り扱いが容易になる。
（実施形態６）
図６は、本実施形態に係る光部品評価装置の概略構成図である。本発明の実施形態に係る光部品評価装置１０６は、波長可変光源１１と、出力光スイッチ３４と、光出力端子１３と、光入力端子１４と、光合分波部１５ａと、第１受光器１６ａ及び第２受光器１６ｂと、受信部２１と、ＡＤ変換部２２と、サンプリングトリガ発生部２４と、処理部２３と、波長制御部２５と、出力光スイッチ制御部２８と、を備える。
図６は、本実施形態に係る光部品評価装置の概略構成図である。本発明の実施形態に係る光部品評価装置１０６は、波長可変光源１１と、出力光スイッチ３４と、光出力端子１３と、光入力端子１４と、光合分波部１５ａと、第１受光器１６ａ及び第２受光器１６ｂと、受信部２１と、ＡＤ変換部２２と、サンプリングトリガ発生部２４と、処理部２３と、波長制御部２５と、出力光スイッチ制御部２８と、を備える。
光部品がアクティブ光部品の場合について説明する。波長可変光源１１は、任意の波長の光を出力する。出力光スイッチ制御部２８は、出力光スイッチ３４の出力ポートを切り替え、２つの出力ポートのうちの光合分波部１５ａ側に設定する。出力光スイッチ３４は、波長可変光源１１から出力光が入力されて２つの出力ポートのうちの光合分波部１５ａ側に選択出力する。光入力端子１４に、光部品評価装置１０６の外部から、アクティブ光部品からの被測定光が入力される。光合分波部１５ａは、光入力端子１４から被測定光が入力されるとともに、出力光スイッチ３４のもう一方の出力ポートから出力光がローカル光として入力され、被測定光とローカル光との干渉光を２光束に偏光分離する。第１受光器１６ａ及び第２受光器１６ｂは、光合分波部１５ａからの干渉光を光電変換する。
光部品がパッシブ光部品の場合について説明する。波長可変光源１１は、任意の波長の光を出力する。出力光スイッチ制御部２８は、出力光スイッチ３４の出力ポートを切り替え、２つの出力ポートのうちの光出力端子１３側に設定する。出力光スイッチ３４は、波長可変光源１１から出力光が入力されて２つの出力ポートのうちの光出力端子１３側に選択出力する。光出力端子１３は、出力光スイッチ３４の一方の出力ポートからの出力光を光部品評価装置１０６の外部へ出力する。光出力端子１３から出力された出力光がパッシブ光部品に入力される。そして、光入力端子１４に、光部品評価装置１０６の外部から、パッシブ光部品からの出力光が被測定光として入力される。光合分波部１５ａは、光入力端子１４からの被測定光を、第１受光器１６ａ及び第２受光器１６ｂの少なくともいずれかに入射させる。第１受光器１６ａ及び第２受光器１６ｂの少なくともいずれかは、光合分波部１５ａからの被測定光を光電変換する。
受信部２１は、第１受光器１６ａと第２受光器１６ｂの出力信号を増幅する。ＡＤ変換部２２、サンプリングトリガ発生部２４、処理部２３及び波長制御部２５の機能及び動作は、実施形態１と同様である。
上記構成とすることにより、光部品評価装置１０６は、高い波長分解能かつ広いダイナミックレンジにて、アクティブ光部品とパッシブ光部品の両方の光部品の評価を行なうことができる。ここで、光部品評価装置１０６では、波長可変光源１１からの出力光をそのまま利用することができるため、波長可変光源１１の出力光強度を実施形態１に比べて低くすることができる。また、光部品評価装置１０６では、実施形態１に比べて受光器の数が少ないため、構成を簡易にすることができる。さらに、光部品評価装置１０６では、光入力端子が１個であるため、取り扱いが容易になる。
（実施形態７）
図７は、本実施形態に係る光部品評価装置の概略構成図である。本発明の実施形態に係る光部品評価装置１０７は、波長可変光源１１と、出力光分波部１２と、光出力端子１３と、第１の光入力端子１４ａ及び第２の光入力端子１４ｂと、偏波スクランブラ３５と、光合波部１５ｂと、第１受光器１６ａ及び第２受光器１６ｂと、受信部２１と、ＡＤ変換部２２と、サンプリングトリガ発生部２４と、処理部２３と、波長制御部２５と、を備える。
図７は、本実施形態に係る光部品評価装置の概略構成図である。本発明の実施形態に係る光部品評価装置１０７は、波長可変光源１１と、出力光分波部１２と、光出力端子１３と、第１の光入力端子１４ａ及び第２の光入力端子１４ｂと、偏波スクランブラ３５と、光合波部１５ｂと、第１受光器１６ａ及び第２受光器１６ｂと、受信部２１と、ＡＤ変換部２２と、サンプリングトリガ発生部２４と、処理部２３と、波長制御部２５と、を備える。
光部品がアクティブ光部品の場合について説明する。波長可変光源１１は、任意の波長の光を出力する。出力光分波部１２は、波長可変光源１１からの出力光を２光束に分波する。第１の光入力端子１４ａに、光部品評価装置１０７の外部から、アクティブ光部品からの被測定光が入力される。光合波部１５ｂは、第１の光入力端子１４ａから被測定光が入力されるとともに、出力光分波部１２のもう一方の出力光がローカル光として入力され、被測定光とローカル光とを干渉させる。偏波スクランブラ３５は、出力光分波部１２と光合波部１５ｂの間の光路に配置され、ローカル光の偏波依存性を解消する。第１受光器１６ａは、光合波部１５ｂからの干渉光を光電変換する。
ここで、偏波スクランブラ３５は、出力光分波部１２と光出力端子１３の間の光路、又は波長可変光源１１と出力光分波部１２の間の光路に配置され、ローカル光の偏波依存性を解消してもよい。また、第１の光入力端子１４ａと光合波部１５ｂの間の光路に配置され、被測定光の偏波依存性を解消してもよい。
光部品がパッシブ光部品の場合について説明する。波長可変光源１１は、任意の波長の光を出力する。出力光分波部１２は、波長可変光源１１からの出力光を２光束に分波する。光出力端子１３は、出力光分波部１２の一方の出力光を光部品評価装置１０７の外部へ出力する。光出力端子１３から出力された出力光がパッシブ光部品に入力される。そして、第２の光入力端子１４ｂに、光部品評価装置１０７の外部から、パッシブ光部品からの出力光が被測定光として入力される。第２受光器１６ｂは、第２の光入力端子１４ｂからの被測定光を光電変換する。
受信部２１は、第１受光器１６ａと第２受光器１６ｂの出力信号を増幅する。ＡＤ変換部２２、サンプリングトリガ発生部２４、処理部２３及び波長制御部２５の機能及び動作は、実施形態１と同様である。
上記構成とすることにより、光部品評価装置１０７は、高い波長分解能かつ広いダイナミックレンジにて、アクティブ光部品とパッシブ光部品の両方の光部品の評価を行なうことができる。ここで、光部品評価装置１０７では、実施形態１に比べて受光器の数が少ないため構成を簡易にすることができる。
（実施形態８）
図８は、本実施形態に係る光部品評価装置の概略構成図である。本発明の実施形態に係る光部品評価装置１０８は、波長可変光源１１と、光出力端子１３と、第１の光入力端子１４ａ及び第２の光入力端子１４ｂと、偏波スクランブラ３５と、光合波部１５ｂと、受光器１６と、受信部２１と、ＡＤ変換部２２と、サンプリングトリガ発生部２４と、処理部２３と、波長制御部２５と、を備える。
図８は、本実施形態に係る光部品評価装置の概略構成図である。本発明の実施形態に係る光部品評価装置１０８は、波長可変光源１１と、光出力端子１３と、第１の光入力端子１４ａ及び第２の光入力端子１４ｂと、偏波スクランブラ３５と、光合波部１５ｂと、受光器１６と、受信部２１と、ＡＤ変換部２２と、サンプリングトリガ発生部２４と、処理部２３と、波長制御部２５と、を備える。
光部品がアクティブ光部品の場合について説明する。波長可変光源１１は、任意の波長の光を出力する。光出力端子１３は、波長可変光源１１からの出力光を光部品評価装置１０２の外部へ出力する。第２の光入力端子１４ｂに、光部品評価装置１０２の外部から、光出力端子１３から出力された出力光が入力される。第１の光入力端子１４ａに、光部品評価装置１０８の外部から、アクティブ光部品からの被測定光が入力される。光合波部１５ｂは、第１の光入力端子１４ａから被測定光が入力されるとともに、第２の光入力端子１４ｂから出力光がローカル光として入力され、被測定光とローカル光とを干渉させる。偏波スクランブラ３５は、第２の光入力端子１４ｂと光合波部１５ｂの間の光路に配置され、ローカル光の偏波依存性を解消する。受光器１６は、光合波部１５ｂからの干渉光を光電変換する。
ここで、偏波スクランブラ３５は、波長可変光源１１と光出力端子１３の間の光路に配置され、ローカル光の偏波依存性を解消してもよい。また、第１の光入力端子１４ａと光合波部１５ｂの間の光路に配置され、被測定光の偏波依存性を解消してもよい。
光部品がパッシブ光部品の場合について説明する。波長可変光源１１は、任意の波長の光を出力する。光出力端子１３は、波長可変光源１１からの出力光を光部品評価装置１０８の外部へ出力する。光出力端子１３から出力された出力光がパッシブ光部品に入力される。そして、第１の光入力端子１４ａに、光部品評価装置１０８の外部から、パッシブ光部品からの出力光が被測定光として入力される。光合波部１５ｂは、光入力端子１４からの被測定光を、受光器１６に入射させる。受光器１６は、光合波部１５ｂからの被測定光を光電変換する。
受信部２１は、受光器１６の出力信号を増幅する。ＡＤ変換部２２、サンプリングトリガ発生部２４、処理部２３及び波長制御部２５の機能及び動作は、実施形態１と同様である。
上記構成とすることにより、光部品評価装置１０８は、高い波長分解能かつ広いダイナミックレンジにて、アクティブ光部品とパッシブ光部品の両方の光部品の評価を行なうことができる。ここで、光部品評価装置１０８では、波長可変光源１１からの出力光をそのまま利用することができるため、波長可変光源１１の出力光強度を実施形態１に比べて低くすることができる。また、光部品評価装置１０８では、実施形態１〜実施形態７に比べて受光器の数が少ないため、構成を簡易にすることができる。
（実施形態９）
図９は、本実施形態に係る光部品評価装置の概略構成図である。本発明の実施形態に係る光部品評価装置１０９は、波長可変光源１１と、出力光分波部１２と、光出力端子１３と、光入力端子１４と、光合波部１５ｂと、偏波スクランブラ３５と、受光器１６と、受信部２１と、ＡＤ変換部２２と、サンプリングトリガ発生部２４と、処理部２３と、波長制御部２５と、光シャッタ３３と、光シャッタ制御部２６と、を備える。
図９は、本実施形態に係る光部品評価装置の概略構成図である。本発明の実施形態に係る光部品評価装置１０９は、波長可変光源１１と、出力光分波部１２と、光出力端子１３と、光入力端子１４と、光合波部１５ｂと、偏波スクランブラ３５と、受光器１６と、受信部２１と、ＡＤ変換部２２と、サンプリングトリガ発生部２４と、処理部２３と、波長制御部２５と、光シャッタ３３と、光シャッタ制御部２６と、を備える。
光部品がアクティブ光部品の場合について説明する。波長可変光源１１は、任意の波長の光を出力する。出力光分波部１２は、波長可変光源１１からの出力光を２光束に分波する。光シャッタ制御部２６は、光シャッタ３３を制御して、光シャッタ３３を開く。光シャッタ３３は、出力光分波部１２のもう一方の出力光が入力され、当該出力光を透過する。第１の光入力端子１４ａに、光部品評価装置１０９の外部から、アクティブ光部品からの被測定光が入力される。光合波部１５ｂは、第１の光入力端子１４ａから被測定光が入力されるとともに、光シャッタ３３から出力光がローカル光として入力され、被測定光とローカル光とを干渉させる。偏波スクランブラ３５は、出力光分波部１２と光合波部１５ｂの間の光路に配置され、ローカル光の偏波依存性を解消する。受光器１６は、光合波部１５ｂからの干渉光を光電変換する。
ここで、偏波スクランブラ３５は、出力光分波部１２と光出力端子１３の間の光路、又は波長可変光源１１と出力光分波部１２の間の光路に配置され、ローカル光の偏波依存性を解消してもよい。また、光入力端子１４と光合波部１５ｂの間の光路に配置され、被測定光の偏波依存性を解消してもよい。
光部品がパッシブ光部品の場合について説明する。波長可変光源１１は、任意の波長の光を出力する。出力光分波部１２は、波長可変光源１１からの出力光を２光束に分波する。光シャッタ制御部２６は、光シャッタ３３を制御して、光シャッタ３３を閉じる。光シャッタ３３は、出力光分波部１２のもう一方の出力光が入力され、当該出力光を遮断する。光出力端子１３は、出力光分波部１２の一方の出力光を光部品評価装置１０９の外部へ出力する。光出力端子１３から出力された出力光がパッシブ光部品に入力される。光入力端子１４に、光部品評価装置１０９の外部から、パッシブ光部品からの出力光が被測定光として入力される。光合波部１５ｂは、光入力端子１４からの被測定光を通過させる。受光器１６は、光合波部１５ｂからの被測定光を光電変換する。
受信部２１は、受光器１６の出力信号を増幅する。ＡＤ変換部２２、サンプリングトリガ発生部２４、処理部２３及び波長制御部２５の機能及び動作は、実施形態１と同様である。
上記構成とすることにより、光部品評価装置１０９は、高い波長分解能かつ広いダイナミックレンジにて、アクティブ光部品とパッシブ光部品の両方の光部品の評価を行なうことができる。ここで、光部品評価装置１０９では、実施形態１〜実施形態７に比べて受光器の数が少ないため、構成を簡易にすることができる。また、光入力端子が１個であるため、取り扱いが容易になる。
（実施形態１０）
図１０は、本実施形態に係る光部品評価装置の概略構成図である。本発明の実施形態に係る光部品評価装置１１０は、波長可変光源１１と、出力光分波部１２と、光出力端子１３と、光入力端子１４と、入力光分波部３１と、光合波部１５ｂと、偏波スクランブラ３５と、第１受光器１６ａ及び第２受光器１６ｂと、受信部２１と、ＡＤ変換部２２と、サンプリングトリガ発生部２４と、処理部２３と、波長制御部２５と、を備える。
図１０は、本実施形態に係る光部品評価装置の概略構成図である。本発明の実施形態に係る光部品評価装置１１０は、波長可変光源１１と、出力光分波部１２と、光出力端子１３と、光入力端子１４と、入力光分波部３１と、光合波部１５ｂと、偏波スクランブラ３５と、第１受光器１６ａ及び第２受光器１６ｂと、受信部２１と、ＡＤ変換部２２と、サンプリングトリガ発生部２４と、処理部２３と、波長制御部２５と、を備える。
光部品がアクティブ光部品の場合について説明する。波長可変光源１１は、任意の波長の光を出力する。出力光分波部１２は、波長可変光源１１からの出力光を２光束に分波する。光入力端子１４に、光部品評価装置１１０の外部から、アクティブ光部品からの被測定光が入力される。入力光分波部３１は、光入力端子１４からの被測定光を２光束に分波する。光合波部１５ｂは、入力光分波部３１の一方の出力光である被測定光が入力されるとともに、出力光分波部１２のもう一方の出力光がローカル光として入力され、被測定光とローカル光とを干渉させる。偏波スクランブラ３５は、出力光分波部１２と光合波部１５ｂの間の光路に配置され、ローカル光の偏波依存性を解消する。第１受光器１６ａは、光合波部１５ｂからの干渉光を光電変換する。
ここで、偏波スクランブラ３５は、出力光分波部１２と光出力端子１３の間の光路、又は波長可変光源１１と出力光分波部１２の間の光路に配置され、ローカル光の偏波依存性を解消してもよい。また、偏波スクランブラ３５は、光入力端子１４と光合波部１５ｂの間の光路に配置され、被測定光の偏波依存性を解消してもよい。
光部品がパッシブ光部品の場合について説明する。波長可変光源１１は、任意の波長の光を出力する。出力光分波部１２は、波長可変光源１１からの出力光を２光束に分波する。光出力端子１３は、出力光分波部１２の一方の出力光を光部品評価装置１１０の外部へ出力する。光出力端子１３から出力された出力光がパッシブ光部品に入力される。そして、光入力端子１４に、光部品評価装置１１０の外部から、パッシブ光部品からの出力光が被測定光として入力される。入力光分波部３１は、光入力端子１４からの被測定光を２光束に分波する。第２受光器１６ｂは、入力光分波部３１のもう一方の出力光である被測定光を光電変換する。
受信部２１は、第１受光器１６ａと第２受光器１６ｂの出力信号を増幅する。ＡＤ変換部２２、サンプリングトリガ発生部２４、処理部２３及び波長制御部２５の機能及び動作は、実施形態１と同様である。
上記構成とすることにより、光部品評価装置１１０は、高い波長分解能かつ広いダイナミックレンジにて、アクティブ光部品とパッシブ光部品の両方の光部品の評価を行なうことができる。ここで、光部品評価装置１１０では、実施形態１に比べて受光器の数が少ないため、構成を簡易にすることができる。また、光入力端子が１個であるため、取り扱いが容易になる。
（実施形態１１）
図１１は、本実施形態に係る光部品評価装置の概略構成図である。本発明の実施形態に係る光部品評価装置１１１は、波長可変光源１１と、出力光分波部１２と、光出力端子１３と、光入力端子１４と、入力光スイッチ３２と、光合波部１５ｂと、偏波スクランブラ３５と、第１受光器１６ａ及び第２受光器１６ｂと、受信部２１と、ＡＤ変換部２２と、サンプリングトリガ発生部２４と、処理部２３と、波長制御部２５と、入力光スイッチ制御部２７と、を備える。
図１１は、本実施形態に係る光部品評価装置の概略構成図である。本発明の実施形態に係る光部品評価装置１１１は、波長可変光源１１と、出力光分波部１２と、光出力端子１３と、光入力端子１４と、入力光スイッチ３２と、光合波部１５ｂと、偏波スクランブラ３５と、第１受光器１６ａ及び第２受光器１６ｂと、受信部２１と、ＡＤ変換部２２と、サンプリングトリガ発生部２４と、処理部２３と、波長制御部２５と、入力光スイッチ制御部２７と、を備える。
光部品がアクティブ光部品の場合について説明する。波長可変光源１１は、任意の波長の光を出力する。出力光分波部１２は、波長可変光源１１からの出力光を２光束に分波する。光入力端子１４に、光部品評価装置１１１の外部から、アクティブ光部品からの被測定光が入力される。入力光スイッチ制御部２７は、入力光スイッチ３２の出力ポートを切り替え、２つの出力ポートのうちの光合波部１５ｂ側に設定する。入力光スイッチ３２は、光入力端子１４からの被測定光が入力されて２つの出力ポートのうちの光合波部１５ｂ側に選択出力する。光合波部１５ｂは、入力光スイッチ３２の一方の出力ポートからの被測定光が入力されるとともに、出力光分波部１２のもう一方の出力光がローカル光として入力され、被測定光とローカル光とを干渉させる。偏波スクランブラ３５は、出力光分波部１２と光合波部１５ｂの間の光路に配置され、ローカル光の偏波依存性を解消する。第１受光器１６ａは、光合波部１５ｂからの干渉光を光電変換する。
ここで、偏波スクランブラ３５は、出力光分波部１２と光出力端子１３の間の光路、又は波長可変光源１１と出力光分波部１２の間の光路に配置され、ローカル光の偏波依存性を解消してもよい。また、偏波スクランブラ３５は、入力光スイッチ３２と光合波部１５ｂの間の光路、又は光入力端子１４と入力光スイッチ３２の間の光路に配置され、被測定光の偏波依存性を解消してもよい。
光部品がパッシブ光部品の場合について説明する。波長可変光源１１は、任意の波長の光を出力する。出力光分波部１２は、波長可変光源１１からの出力光を２光束に分波する。光出力端子１３は、出力光分波部１２の一方の出力光を光部品評価装置１１１の外部へ出力する。光出力端子１３から出力された出力光がパッシブ光部品に入力される。そして、光入力端子１４に、光部品評価装置１１１の外部から、パッシブ光部品からの出力光が被測定光として入力される。入力光スイッチ制御部２７は、入力光スイッチ３２の出力ポートを切り替え、２つの出力ポートのうちの第２受光器１６ｂ側に設定する。入力光スイッチ３２は、光入力端子１４からの被測定光が入力されて、２つの出力ポートのうちの第１受光器１６ｂ側に選択出力する。第２受光器１６ｂは、入力光スイッチ３２のもう一方の出力ポートからの被測定光を光電変換する。
受信部２１は、第１受光器１６ａと第２受光器１６ｂの出力信号を増幅する。ＡＤ変換部２２、サンプリングトリガ発生部２４、処理部２３及び波長制御部２５の機能及び動作は、実施形態１と同様である。
上記構成とすることにより、光部品評価装置１１１は、高い波長分解能かつ広いダイナミックレンジにて、アクティブ光部品とパッシブ光部品の両方の光部品の評価を行なうことができる。ここで、光部品評価装置１１１では、実施形態１に比べて受光器の数が少ないため、構成を簡易にすることができる。また、光入力端子が１個であるため、取り扱いが容易になる。
（実施形態１２）
図１２は、本実施形態に係る光部品評価装置の概略構成図である。本発明の実施形態に係る光部品評価装置１１２は、波長可変光源１１と、出力光スイッチ３４と、光出力端子１３と、光入力端子１４と、光合波部１５ｂと、偏波スクランブラ３５と、受光器１６と、受信部２１と、ＡＤ変換部２２と、サンプリングトリガ発生部２４と、処理部２３と、波長制御部２５と、出力光スイッチ制御部２８と、を備える。
図１２は、本実施形態に係る光部品評価装置の概略構成図である。本発明の実施形態に係る光部品評価装置１１２は、波長可変光源１１と、出力光スイッチ３４と、光出力端子１３と、光入力端子１４と、光合波部１５ｂと、偏波スクランブラ３５と、受光器１６と、受信部２１と、ＡＤ変換部２２と、サンプリングトリガ発生部２４と、処理部２３と、波長制御部２５と、出力光スイッチ制御部２８と、を備える。
光部品がアクティブ光部品の場合について説明する。波長可変光源１１は、任意の波長の光を出力する。出力光スイッチ制御部２８は、出力光スイッチ３４の出力ポートを切り替え、２つの出力ポートのうちの光合波部１５ｂ側に設定する。出力光スイッチ３４は、波長可変光源１１から出力光が入力されて２つの出力ポートのうちの光合波部１５ｂ側に選択出力する。光入力端子１４に、光部品評価装置１１２の外部から、アクティブ光部品からの被測定光が入力される。光合波部１５ｂは、光入力端子１４から被測定光が入力されるとともに、出力光スイッチ３４のもう一方の出力ポートから出力光がローカル光として入力され、被測定光とローカル光とを干渉させる。偏波スクランブラ３５は、出力光スイッチ３４と光合波部１５ｂの間の光路に配置され、ローカル光の偏波依存性を解消する。受光器１６は、光合波部１５ｂからの干渉光を光電変換する。
ここで、偏波スクランブラ３５は、出力光スイッチ３４と光出力端子１３の間の光路、又は波長可変光源１１と出力光スイッチ３４の間の光路に配置され、ローカル光の偏波依存性を解消してもよい。また、光入力端子１４と光合波部１５ｂの間の光路に配置され、被測定光の偏波依存性を解消してもよい。
光部品がパッシブ光部品の場合について説明する。波長可変光源１１は、任意の波長の光を出力する。出力光スイッチ制御部２８は、出力光スイッチ３４の出力ポートを切り替え、２つの出力ポートのうちの光出力端子１３側に設定する。出力光スイッチ３４は、波長可変光源１１から出力光が入力されて２つの出力ポートのうちの光出力端子１３側に選択出力する。光出力端子１３は、出力光スイッチ３４の一方の出力ポートからの出力光を光部品評価装置１１２の外部へ出力する。光出力端子１３から出力された出力光がパッシブ光部品に入力される。そして、光入力端子１４に、光部品評価装置１１２の外部から、パッシブ光部品からの出力光が被測定光として入力される。光合波部１５ｂは、光入力端子１４からの被測定光を、受光器１６に入射させる。受光器１６は、光合波部１５ｂからの被測定光を光電変換する。
受信部２１は、受光器１６の出力信号を増幅する。ＡＤ変換部２２、サンプリングトリガ発生部２４、処理部２３及び波長制御部２５の機能及び動作は、実施形態１と同様である。
上記構成とすることにより、光部品評価装置１１２は、高い波長分解能かつ広いダイナミックレンジにて、アクティブ光部品とパッシブ光部品の両方の光部品の評価を行なうことができる。ここで、光部品評価装置１１２では、波長可変光源１１からの出力光をそのまま利用することができるため、波長可変光源１１の出力光強度を実施形態１に比べて低くすることができる。また、光部品評価装置１１２では、実施形態１〜実施形態７に比べて受光器の数が少ないため、構成を簡易にすることができる。また、光入力端子が１個であるため、取り扱いが容易になる。
本発明の光部品評価装置は、光通信に用いられる光部品の評価が行なえるため、情報通信産業に利用することができる。
１１：波長可変光源
１２：出力光分波部
１３：光出力端子
１４：光入力端子
１４ａ：第１の光入力端子
１４ｂ：第２の光入力端子
１５ａ：光合分波部
１５ｂ：光合波部
１６：受光器
１６ａ：第１受光器
１６ｂ：第２受光器
１６ｃ：第３受光器
２１：受信部
２２：ＡＤ変換部
２３：処理部
２４：サンプリングトリガ発生部
２５：波長制御部
２６：光シャッタ制御部
２７：入力光スイッチ制御部
２８：出力光スイッチ制御部
３１：入力光分波部
３２：入力光スイッチ
３３：光シャッタ
３４：出力光スイッチ
３５：偏波スクランブラ
１０１〜１１２：光部品評価装置
１２：出力光分波部
１３：光出力端子
１４：光入力端子
１４ａ：第１の光入力端子
１４ｂ：第２の光入力端子
１５ａ：光合分波部
１５ｂ：光合波部
１６：受光器
１６ａ：第１受光器
１６ｂ：第２受光器
１６ｃ：第３受光器
２１：受信部
２２：ＡＤ変換部
２３：処理部
２４：サンプリングトリガ発生部
２５：波長制御部
２６：光シャッタ制御部
２７：入力光スイッチ制御部
２８：出力光スイッチ制御部
３１：入力光分波部
３２：入力光スイッチ
３３：光シャッタ
３４：出力光スイッチ
３５：偏波スクランブラ
１０１〜１１２：光部品評価装置
Claims (12)
- 光部品からの被測定光のスペクトラムを求める光部品評価装置（１０１）であって、
任意の波長の光を出力する波長可変光源（１１）と、
前記波長可変光源からの出力光を２光束に分波する出力光分波部（１２）と、
前記出力光分波部の一方の出力光を前記光部品評価装置の外部へ出力する光出力端子（１３）と、
前記光部品評価装置の外部から被測定光が入力される第１の光入力端子（１４ａ）及び第２の光入力端子（１４ｂ）と、
前記第１の光入力端子から被測定光が入力されるとともに前記出力光分波部のもう一方の出力光がローカル光として入力され、前記被測定光と前記ローカル光との干渉光を２光束に偏光分離する光合分波部（１５ａ）と、
前記光合分波部からの干渉光を光電変換する第１受光器（１６ａ）及び第２受光器（１６ｂ）と、
前記第２の光入力端子からの光を光電変換する第３受光器（１６ｃ）と、
前記第１受光器と前記第２受光器と前記第３受光器の出力信号を増幅する受信部（２１）と、
前記受信部で増幅した信号をデジタル信号に変換するＡＤ変換部（２２）と、
前記ＡＤ変換部のＡＤ変換のためのサンプリングトリガを発生するサンプリングトリガ発生部（２４）と、
前記ＡＤ変換部のデジタル信号からスペクトラムを求め、前記光部品評価装置の外部に出力する処理部（２３）と、
前記波長可変光源から出力光の波長を変化させる波長制御部（２５）と、
を備えることを特徴とする光部品評価装置。 - 光部品からの被測定光のスペクトラムを求める光部品評価装置（１０２）であって、
任意の波長の光を出力する波長可変光源（１１）と、
前記波長可変光源からの出力光を前記光部品評価装置の外部へ出力する光出力端子（１３）と、
前記光部品評価装置の外部から被測定光が入力される第１の光入力端子（１４ａ）と、
前記光出力端子から出力された出力光が入力される第２の光入力端子（１４ｂ）と、
前記第１の光入力端子から被測定光が入力されるとともに前記第２の光入力端子から前記出力光がローカル光として入力され、前記被測定光と前記ローカル光との干渉光を２光束に偏光分離する光合分波部（１５ａ）と、
前記光合分波部からの光を光電変換する第１受光器（１６ａ）及び第２受光器（１６ｂ）と、
前記第１受光器と前記第２受光器の出力信号を増幅する受信部（２１）と、
前記受信部で増幅した信号をデジタル信号に変換するＡＤ変換部（２２）と、
前記ＡＤ変換部のＡＤ変換のためのサンプリングトリガを発生するサンプリングトリガ発生部（２４）と、
前記ＡＤ変換部のデジタル信号からスペクトラムを求め、前記光部品評価装置の外部に出力する処理部（２３）と、
前記波長可変光源から出力光の波長を変化させる波長制御部（２５）と、
を備えることを特徴とする光部品評価装置。 - 光部品からの被測定光のスペクトラムを求める光部品評価装置（１０３）であって、
任意の波長の光を出力する波長可変光源（１１）と、
前記波長可変光源からの出力光を２光束に分波する出力光分波部（１２）と、
前記出力光分波部の一方の出力光を前記光部品評価装置の外部へ出力する光出力端子（１３）と、
前記出力光分波部のもう一方の出力光が入力されて光を透過又は遮断する光シャッタ（３３）と、
前記光部品評価装置の外部から被測定光が入力される光入力端子（１４）と、
前記光入力端子から被測定光が入力されるとともに前記光シャッタから出力光がローカル光として入力され、前記被測定光と前記ローカル光との干渉光を２光束に偏光分離する光合分波部（１５ａ）と、
前記光合分波部からの光を光電変換する第１受光器（１６ａ）及び第２受光器（１６ｂ）と、
前記第１受光器と前記第２受光器の出力信号を増幅する受信部（２１）と、
前記受信部で増幅した信号をデジタル信号に変換するＡＤ変換部（２２）と、
前記ＡＤ変換部のＡＤ変換のためのサンプリングトリガを発生するサンプリングトリガ発生部（２４）と、
前記ＡＤ変換部のデジタル信号からスペクトラムを求め、前記光部品評価装置の外部に出力する処理部（２３）と、
前記波長可変光源から出力光の波長を変化させる波長制御部（２５）と、
前記光シャッタを開閉する光シャッタ制御部（２６）と、
を備えることを特徴とする光部品評価装置。 - 光部品からの出力光のスペクトラムを求める光部品評価装置（１０４）であって、
任意の波長の光を出力する波長可変光源（１１）と、
前記波長可変光源からの出力光を２光束に分波する出力光分波部（１２）と、
前記出力光分波部の一方の出力光を前記光部品評価装置の外部へ出力する光出力端子（１３）と、
前記光部品評価装置の外部から被測定光が入力される光入力端子（１４）と、
前記光入力端子からの被測定光を２光束に分波する入力光分波部（３１）と、
前記入力光分波部の一方の出力光が入力されるとともに前記出力光分波部のもう一方の出力光がローカル光として入力され、前記被測定光と前記ローカル光との干渉光を２光束に偏光分離する光合分波部（１５ａ）と、
前記光合分波部からの光を光電変換する第１受光器（１６ａ）及び第２受光器（１６ｂ）と、
前記入力光分波部のもう一方の出力光を光電変換する第３受光器（１６ｃ）と、
前記第１受光器と前記第２受光器と前記第３受光器の出力信号を増幅する受信部（２１）と、
前記受信部で増幅した信号をデジタル信号に変換するＡＤ変換部（２２）と、
前記ＡＤ変換部のＡＤ変換のためのサンプリングトリガを発生するサンプリングトリガ発生部（２４）と、
前記ＡＤ変換部のデジタル信号からスペクトラムを求め、前記光部品評価装置の外部に出力する処理部（２３）と、
前記波長可変光源から出力光の波長を変化させる波長制御部（２５）と、
を備えることを特徴とする光部品評価装置。 - 光部品からの出力光のスペクトラムを求める光部品評価装置（１０５）であって、
任意の波長の光を出力する波長可変光源（１１）と、
前記波長可変光源からの出力光を２光束に分波する出力光分波部（１２）と、
前記出力光分波部の一方の出力光を前記光部品評価装置の外部へ出力する光出力端子（１３）と、
前記光部品評価装置の外部から被測定光が入力される光入力端子（１４）と、
前記光入力端子からの被測定光が入力されて２つの出力ポートのうちのいずれかに選択出力する入力光スイッチ（３２）と、
前記入力光スイッチの一方の出力ポートからの被測定光が入力されるとともに前記出力光分波部のもう一方の出力光がローカル光として入力され、前記被測定光と前記ローカル光との干渉光を２光束に偏光分離する光合分波部（１５ａ）と、
前記光合分波部からの光を光電変換する第１受光器（１６ａ）及び第２受光器（１６ｂ）と、
前記入力光スイッチのもう一方の出力ポートからの被測定光を光電変換する第３受光器（１６ｃ）と、
前記第１受光器と前記第２受光器と前記第３受光器の出力信号を増幅する受信部（２１）と、
前記受信部で増幅した信号をデジタル信号に変換するＡＤ変換部（２２）と、
前記ＡＤ変換部のＡＤ変換のためのサンプリングトリガを発生するサンプリングトリガ発生部（２４）と、
前記ＡＤ変換部のデジタル信号からスペクトラムを求め、前記光部品評価装置の外部に出力する処理部（２３）と、
前記波長可変光源から出力光の波長を変化させる波長制御部（２５）と、
前記入力光スイッチの出力ポートを切り替える入力光スイッチ制御部（２７）と、
を備えることを特徴とする光部品評価装置。 - 光部品からの出力光のスペクトラムを求める光部品評価装置（１０６）であって、
任意の波長の光を出力する波長可変光源（１１）と、
前記波長可変光源から出力光が入力されて２つの出力ポートのうちのいずれかに選択出力する出力光スイッチ（３４）と、
前記出力光スイッチの一方の出力ポートからの出力光を前記光部品評価装置の外部へ出力する光出力端子（１３）と、
前記光部品評価装置の外部から被測定光が入力される光入力端子（１４）と、
前記光入力端子から被測定光が入力されるとともに前記出力光スイッチのもう一方の出力ポートから出力光がローカル光として入力され、前記被測定光と前記ローカル光との干渉光を２光束に偏光分離する光合分波部（１５ａ）と、
前記光合分波部からの光を光電変換する第１受光器（１６ａ）及び第２受光器（１６ｂ）と、
前記第１受光器と前記第２受光器の出力信号を増幅する受信部（２１）と、
前記受信部で増幅した信号をデジタル信号に変換するＡＤ変換部（２２）と、
前記ＡＤ変換部のＡＤ変換のためのサンプリングトリガを発生するサンプリングトリガ発生部（２４）と、
前記ＡＤ変換部のデジタル信号からスペクトラムを求め、前記光部品評価装置の外部に出力する処理部（２３）と、
前記波長可変光源から出力光の波長を変化させる波長制御部（２５）と、
前記出力光スイッチの出力ポートを切り替える出力光スイッチ制御部（２８）と、
を備えることを特徴とする光部品評価装置。 - 光部品からの出力光のスペクトラムを求める光部品評価装置（１０７）であって、
任意の波長の光を出力する波長可変光源（１１）と、
前記波長可変光源からの出力光を２光束に分波する出力光分波部（１２）と、
前記出力光分波部の一方の出力光を前記光部品評価装置の外部へ出力する光出力端子（１３）と、
前記光部品評価装置の外部から被測定光が入力される第１の光入力端子（１４ａ）及び第２の光入力端子（１４ｂ）と、
前記第１の光入力端子から被測定光が入力されるとともに前記出力光分波部のもう一方の出力光がローカル光として入力され、前記被測定光と前記ローカル光とを干渉させる光合波部（１５ｂ）と、
前記出力光分波部（１２）と前記光合波部（１５ｂ）の間の光路、および前記出力光分波部（１２）と前記光出力端子（１３）の間の光路、および前記第１の光入力端子（１４ａ）と前記光合波部（１５ｂ）の間の光路、および前記波長可変光源（１１）と前記出力光分波部（１２）の間の光路のいずれかに配置され、前記ローカル光または前記被測定光の偏波依存性を解消する偏波スクランブラ（３５）と、
前記光合波部からの光を光電変換する第１受光器（１６ａ）と、
前記第２の光入力端子からの光を光電変換する第２受光器（１６ｂ）と、
前記第１受光器と前記第２受光器の出力信号を増幅する受信部（２１）と、
前記受信部で増幅した信号をデジタル信号に変換するＡＤ変換部（２２）と、
前記ＡＤ変換部のＡＤ変換のためのサンプリングトリガを発生するサンプリングトリガ発生部（２４）と、
前記ＡＤ変換部のデジタル信号からスペクトラムを求め、前記光部品評価装置の外部に出力する処理部（２３）と、
前記波長可変光源から出力光の波長を変化させる波長制御部（２５）と、
を備えることを特徴とする光部品評価装置。 - 光部品からの被測定光のスペクトラムを求める光部品評価装置（１０８）であって、
任意の波長の光を出力する波長可変光源（１１）と、
前記波長可変光源からの出力光を前記光部品評価装置の外部へ出力する光出力端子（１３）と、
前記光部品評価装置の外部から被測定光が入力される第１の光入力端子（１４ａ）と、
前記光出力端子から出力された出力光が入力される第２の光入力端子（１４ｂ）と、
前記第１の光入力端子から被測定光が入力されるとともに前記第２の光入力端子から前記出力光がローカル光として入力され、前記被測定光と前記ローカル光とを干渉させる光合波部（１５ｂ）と、
前記第２の光入力端子（１４ｂ）と前記光合波部（１５ｂ）の間の光路、および前記波長可変光源（１１）と前記光出力端子（１３）の間の光路、および前記第１の光入力端子（１４ａ）と前記光合波部（１５ｂ）の間の光路のいずれかに配置され、前記ローカル光または前記被測定光の偏波依存性を解消する偏波スクランブラ（３５）と、
前記光合波部からの光を光電変換する受光器（１６）と、
前記受光器の出力信号を増幅する受信部（２１）と、
前記受信部で増幅した信号をデジタル信号に変換するＡＤ変換部（２２）と、
前記ＡＤ変換部のＡＤ変換のためのサンプリングトリガを発生するサンプリングトリガ発生部（２４）と、
前記ＡＤ変換部のデジタル信号からスペクトラムを求め、前記光部品評価装置の外部に出力する処理部（２３）と、
前記波長可変光源から出力光の波長を変化させる波長制御部（２５）と、
を備えることを特徴とする光部品評価装置。 - 光部品からの被測定光のスペクトラムを求める光部品評価装置（１０９）であって、
任意の波長の光を出力する波長可変光源（１１）と、
前記波長可変光源からの出力光を２光束に分波する出力光分波部（１２）と、
前記出力光分波部の一方の出力光を前記光部品評価装置の外部へ出力する光出力端子（１３）と、
前記出力光分波部のもう一方の出力光が入力されて光を透過又は遮断する光シャッタ（３３）と、
前記光部品評価装置の外部から被測定光が入力される光入力端子（１４）と、
前記光入力端子から被測定光が入力されるとともに前記光シャッタから出力光がローカル光として入力され、前記被測定光と前記ローカル光とを干渉させる光合波部（１５ｂ）と、
前記出力光分波部（１２）と前記光合波部（１５ｂ）の間の光路、および前記出力光分波部（１２）と前記光出力端子（１３）の間の光路、および前記光入力端子（１４）と前記光合波部（１５ｂ）の間の光路、および前記波長可変光源（１１）と前記出力光分波部（１２）の間の光路のいずれかに配置され、前記ローカル光または前記被測定光の偏波依存性を解消する偏波スクランブラ（３５）と、
前記光合波部からの光を光電変換する受光器（１６）と、
前記受光器の出力信号を増幅する受信部（２１）と、
前記受信部で増幅した信号をデジタル信号に変換するＡＤ変換部（２２）と、
前記ＡＤ変換部のＡＤ変換のためのサンプリングトリガを発生するサンプリングトリガ発生部（２４）と、
前記ＡＤ変換部のデジタル信号からスペクトラムを求め、前記光部品評価装置の外部に出力する処理部（２３）と、
前記波長可変光源から出力光の波長を変化させる波長制御部（２５）と、
前記光シャッタを開閉する光シャッタ制御部（２６）と、
を備えることを特徴とする光部品評価装置。 - 光部品からの出力光のスペクトラムを求める光部品評価装置（１１０）であって、
任意の波長の光を出力する波長可変光源（１１）と、
前記波長可変光源からの出力光を２光束に分波する出力光分波部（１２）と、
前記出力光分波部の一方の出力光を前記光部品評価装置の外部へ出力する光出力端子（１３）と、
前記光部品評価装置の外部から被測定光が入力される光入力端子（１４）と、
前記光入力端子からの被測定光を２光束に分波する入力光分波部（３１）と、
前記入力光分波部の一方の出力光が入力されるとともに前記出力光分波部のもう一方の出力光がローカル光として入力され、前記被測定光と前記ローカル光とを干渉させる光合波部（１５ｂ）と、
前記出力光分波部（１２）と前記光合波部（１５ｂ）の間の光路、および前記出力光分波部（１２）と前記光出力端子（１３）の間の光路、および前記光入力端子（１４）と前記入力光分波部（３１）の間の光路、および前記入力光分波部（３１）と前記光合波部（１５ｂ）の間の光路、および前記波長可変光源（１１）と前記出力光分波部（１２）の間の光路のいずれかに配置され、前記ローカル光または前記被測定光の偏波依存性を解消する偏波スクランブラ（３５）と、
前記光合波部からの光を光電変換する第１受光器（１６ａ）と、
前記入力光分波部のもう一方の出力光を光電変換する第２受光器（１６ｂ）と、
前記第１受光器と前記第２受光器の出力信号を増幅する受信部（２１）と、
前記受信部で増幅した信号をデジタル信号に変換するＡＤ変換部（２２）と、
前記ＡＤ変換部のＡＤ変換のためのサンプリングトリガを発生するサンプリングトリガ発生部（２４）と、
前記ＡＤ変換部のデジタル信号からスペクトラムを求め、前記光部品評価装置の外部に出力する処理部（２３）と、
前記波長可変光源から出力光の波長を変化させる波長制御部（２５）と、
を備えることを特徴とする光部品評価装置。 - 光部品からの出力光のスペクトラムを求める光部品評価装置（１１１）であって、
任意の波長の光を出力する波長可変光源（１１）と、
前記波長可変光源からの出力光を２光束に分波する出力光分波部（１２）と、
前記出力光分波部の一方の出力光を前記光部品評価装置の外部へ出力する光出力端子（１３）と、
前記光部品評価装置の外部から被測定光が入力される光入力端子（１４）と、
前記光入力端子からの被測定光が入力されて２つの出力ポートのうちのいずれかに選択出力する入力光スイッチ（３２）と、
前記入力光スイッチの一方の出力ポートからの被測定光が入力されるとともに前記出力光分波部のもう一方の出力光がローカル光として入力され、前記被測定光と前記ローカル光とを干渉させる光合波部（１５ｂ）と、
前記出力光分波部（１２）と前記光合波部（１５ｂ）の間の光路、および前記出力光分波部（１２）と前記光出力端子（１３）の間の光路、および前記光入力端子（１４）と前記入力光スイッチ（３２）の間の光路、および前記入力光スイッチ（３２）と前記光合波部（１５ｂ）の間の光路、および前記波長可変光源（１１）と前記出力光分波部（１２）の間の光路のいずれかに配置され、前記ローカル光または前記被測定光の偏波依存性を解消する偏波スクランブラ（３５）と、
前記光合波部からの光を光電変換する第１受光器（１６ａ）と、
前記入力光スイッチのもう一方の出力ポートからの被測定光を光電変換する第２受光器（１６ｂ）と、
前記第１受光器と前記第２受光器の出力信号を増幅する受信部（２１）と、
前記受信部で増幅した信号をデジタル信号に変換するＡＤ変換部（２２）と、
前記ＡＤ変換部のＡＤ変換のためのサンプリングトリガを発生するサンプリングトリガ発生部（２４）と、
前記ＡＤ変換部のデジタル信号からスペクトラムを求め、前記光部品評価装置の外部に出力する処理部（２３）と、
前記波長可変光源から出力光の波長を変化させる波長制御部（２５）と、
前記入力光スイッチの出力ポートを切り替える入力光スイッチ制御部（２７）と、
を備えることを特徴とする光部品評価装置。 - 光部品からの出力光のスペクトラムを求める光部品評価装置（１１２）であって、
任意の波長の光を出力する波長可変光源（１１）と、
前記波長可変光源から出力光が入力されて２つの出力ポートのうちのいずれかに選択出力する出力光スイッチ（３４）と、
前記出力光スイッチの一方の出力ポートからの出力光を前記光部品評価装置の外部へ出力する光出力端子（１３）と、
前記光部品評価装置の外部から被測定光が入力される光入力端子（１４）と、
前記光入力端子から被測定光が入力されるとともに前記出力光スイッチのもう一方の出力ポートから出力光がローカル光として入力され、前記被測定光と前記ローカル光とを干渉させる光合波部（１５ｂ）と、
前記出力光スイッチ（３４）と前記光合波部（１５ｂ）の間の光路、および前記出力光スイッチ（３４）と前記光出力端子（１３）の間の光路、および前記光入力端子（１４）と前記光合波部（１５ｂ）の間の光路、および前記波長可変光源（１１）と前記出力光スイッチ（３４）の間の光路のいずれかに配置され、前記ローカル光または前記被測定光の偏波依存性を解消する偏波スクランブラ（３５）と、
前記光合波部からの光を光電変換する受光器（１６）と、
前記受光器の出力信号を増幅する受信部（２１）と、
前記受信部で増幅した信号をデジタル信号に変換するＡＤ変換部（２２）と、
前記ＡＤ変換部のＡＤ変換のためのサンプリングトリガを発生するサンプリングトリガ発生部（２４）と、
前記ＡＤ変換部のデジタル信号からスペクトラムを求め、前記光部品評価装置の外部に出力する処理部（２３）と、
前記波長可変光源から出力光の波長を変化させる波長制御部（２５）と、
前記出力光スイッチの出力ポートを切り替える出力光スイッチ制御部（２８）と、
を備えることを特徴とする光部品評価装置。
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