JP2010276349A - 膜厚計測方法、膜厚計測装置およびプログラム - Google Patents
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Abstract
【解決手段】カメラ(撮像部)13は、照明光12で照射された試料20の表面をカラー撮像する。この際、膜厚を計測する際には、位置(A)に設置され、照明光12の反射光14がこのカメラ13に直接入射しない構成とする。これにより、カメラ13が検出する光の大部分は、照明光12の試料20による散乱光15となる。パーソナルコンピュータ(制御部)16は、R信号、G信号、B信号の強度を、色相h、彩度s、明度vのHSV信号に変換する。パーソナルコンピュータ16は、この散乱光におけるh、s、vの値から塗膜22の膜厚tを算出する。
【選択図】図1
Description
本発明の請求項1に係る膜厚計測方法は、被検査物表面に形成された塗膜の膜厚を非接触で計測する膜厚計測方法であって、前記被検査物に照射された光の散乱光を撮像部を用いてカラー撮像するステップと、前記撮像部の出力であるカラー画像信号における色の属性値を算出するステップと、前記色の属性値を入力値とした数式を用いて前記膜厚を算出するステップと、を具備することを特徴とする。
この発明においては、非検査物からの散乱光のカラー画像信号における色の属性値が算出される。この属性値を数式に入力して膜厚が算出される。この散乱光の元となる光としては、LED、蛍光灯等、色の属性値が有意に得られるものであれば、任意の光源から発するものを用いることができる。
また、本発明の請求項2に係る膜厚計測方法において、前記塗膜は、SI(Self Indicating)塗料により形成されることを特徴とする。
この発明においては、色の膜厚依存性が特に顕著であるSI塗料が塗膜を構成する材料として用いられる。
また、本発明の請求項3に係る膜厚計測方法は、前記属性値として、色相の値を用いることを特徴とする。
この発明においては、膜厚との関係における照明光依存性が特に小さい色相(h)が、色の属性値として用いられる。
また、本発明の請求項4に係る膜厚計測方法は、前記カラー画像信号におけるR(Red)信号、G(Green)信号、B(Blue)信号を元に前記属性値を算出することを特徴とする。
この発明においては、一般的なカラー撮像の出力信号として用いられるRGB信号から色の属性値であるhsv信号が算出される。
また、本発明の請求項5に係る膜厚計測方法は、前記被検査物に対して、光源から発せられた照明光を照射することを特徴とする。
この発明においては、散乱光の元となる照明光を発するための光源が特に用いられる。
本発明の請求項6に係るプログラムは、前記膜厚計測方法を実行させることを特徴とする。
この発明によって、前記膜厚計測方法が例えばパーソナルコンピュータ上で実行される。
本発明の請求項7に係る膜厚計測装置は、被検査物表面に形成された塗膜の膜厚を非接触で計測する膜厚計測装置であって、前記被検査物に照射された光の散乱光をカラー撮像する撮像部と、前記撮像部の出力であるカラー画像信号における色の属性値を算出し、該属性値を入力値とした数式を用いて前記膜厚を算出する制御部と、を具備することを特徴とする。
この発明においては、非検査物からの散乱光が撮像部によってカラー撮像される。制御部は、このカラー画像信号における色の属性値を算出し、この属性値から数式を用いて、膜厚を算出する。この散乱光の元となる光としては、LED、蛍光灯等、色の属性値が有意に得られるものであれば、任意の光源から発するものを用いることができる。
また、本発明の請求項8に係る膜厚計測装置において、前記色の属性値は色相の値であることを特徴とする。
この発明においては、膜厚との関係における照明光依存性が特に小さい色相(h)が色の属性値として用いられ、制御部がこれを用いて膜厚を算出する。
また、本発明の請求項9に係る膜厚計測装置において、前記制御部は、前記カラー画像信号におけるR(Red)信号、G(Green)信号、B(Blue)信号を元に前記色の属性値を算出することを特徴とする。
この発明においては、制御部が、一般的なカラー撮像の出力信号として用いられるRGB信号から色の属性値であるhsv信号を算出する。
また、本発明の請求項10に係る膜厚計測装置は、前記被検査物に対して照明光を発する光源を具備することを特徴とする。
この発明においては、散乱光の元となる照明光を発するための光源が特に用いられる。
また、本発明の請求項11に係る膜厚計測装置において、前記照明光は白色光であることを特徴とする。
この発明においては、単一波長の光ではない白色光が特に照明光として用いられる。
また、本発明の請求項12に係る膜厚計測装置は、前記撮像部と前記光源の位置関係が、少なくとも、前記撮像部が前記照明光の前記被検査物側からの反射光を検出せず前記被検査物からの散乱光を検出する位置に設定される構成を具備することを特徴とする。
この発明においては、撮像部が被検査物からの反射光を検出せず散乱光を検出する位置に設定される。従って、撮像部は、反射光の影響を受けずに散乱光の撮像を行うことができる。
この際、SI塗料で構成された塗膜に対しては、特に高い精度で膜厚を計測することができる。
色の属性値として、特に色相(h)を用いた場合には、照明光の照度等に関する情報を用いずに膜厚を算出することができる。
また、照明光を発するのに特定の光源を用いれば、特に高い精度で膜厚を計測することができる。あるいは、照明光として白色光を用いれば、より安価な光源を用いることができる。
11 光源
12 照明光
13 カメラ(撮像部)
14 反射光
15 散乱光
16 パーソナルコンピュータ(制御部)
20 試料(被検査物)
21 鋼板
22 塗膜
Claims (12)
- 被検査物表面に形成された塗膜の膜厚を非接触で計測する膜厚計測方法であって、
前記被検査物に照射された光の散乱光を撮像部を用いてカラー撮像するステップと、
前記撮像部の出力であるカラー画像信号における色の属性値を算出するステップと、
前記色の属性値を入力値とした数式を用いて前記膜厚を算出するステップと、
を具備することを特徴とする膜厚計測方法。 - 前記塗膜は、SI(Self Indicating)塗料により形成されることを特徴とする請求項1に記載の膜厚計測方法。
- 前記属性値として、色相の値を用いることを特徴とする請求項1又は2に記載の膜厚計測方法。
- 前記カラー画像信号におけるR(Red)信号、G(Green)信号、B(Blue)信号を元に前記属性値を算出することを特徴とする請求項1から請求項3までのいずれか1項に記載の膜厚計測方法。
- 前記被検査物に対して、光源から発せられた照明光を照射することを特徴とする請求項1から請求項4までのいずれか1項に記載の膜厚計測方法。
- 請求項1から請求項5までのいずれか1項に記載の膜厚計測方法を実行させることを特徴とするプログラム。
- 被検査物表面に形成された塗膜の膜厚を非接触で計測する膜厚計測装置であって、
前記被検査物に照射された光の散乱光をカラー撮像する撮像部と、
前記撮像部の出力であるカラー画像信号における色の属性値を算出し、該属性値を入力値とした数式を用いて前記膜厚を算出する制御部と、
を具備することを特徴とする膜厚計測装置。 - 前記色の属性値は色相の値であることを特徴とする請求項7に記載の膜厚計測装置。
- 前記制御部は、前記カラー画像信号におけるR(Red)信号、G(Green)信号、B(Blue)信号を元に前記色の属性値を算出することを特徴とする請求項7又は8に記載の膜厚計測装置。
- 前記被検査物に対して照明光を発する光源を具備することを特徴とする請求項7から請求項9までのいずれか1項に記載の膜厚計測装置。
- 前記照明光は白色光であることを特徴とする請求項10に記載の膜厚計測装置。
- 前記撮像部と前記光源の位置関係が、少なくとも、前記撮像部が前記照明光の前記被検査物側からの反射光を検出せず前記被検査物からの散乱光を検出する位置に設定される構成を具備することを特徴とする請求項10又は11に記載の膜厚計測装置。
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