JP2010249662A - ディレイ故障診断プログラム - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 故障仮定と終点フリップフロップFF抽出部116を設け、故障仮定情報より故障仮定を選択し、故障仮定より出力側に向かって論理トレースを実行する。故障仮定からトレースの結果得られた終点のフリップフロップFFのテスト結果を判定する(117)。終点のフリップフロップFFまでの伝搬経路の最大値と最小値を求め、そこからディレイ余裕度を求める。ディレイ余裕度と117で求めたテスト結果を用いてディレイ範囲を求め(118)、故障候補とディレイ範囲決定部119で故障候補とディレイ故障のディレイ範囲を特定する。
【選択図】 図2
Description
図1は本発明であるディレイ故障診断プログラムを実行するハードウェアの環境を示している。このハードウェアは、半導体集積回路130、半導体集積回路のテスタ120、ネットワーク509、情報処理装置510から構成される。情報処理装置は、CPU501、メモリ502、ROM503、ハードディスク504、ディスプレイ505、マウス506、キーボード507、これらを結ぶバス508ととで構成される。テスタ120と情報処理装置510は、ネットワーク509を介し接続される。
<プログラム処理の流れ>
図2は本発明の処理の流れの概要を示している。
ステップ115では、半導体集積回路130についてスキャンテストを行う。
ステップ116では、フェイル情報101とネットリスト102とセルライブラリ103と配線・セルの遅延情報104と故障仮定情報105とテストパタン121を入力し、故障仮定と終点フリップフロップFF110を出力する。
ステップ117では、フェイル情報101とネットリスト102とセルライブラリ103と配線・セルの遅延情報104と故障仮定情報105とテストパタン121、そして故障仮定と終点フリップフロップFF110を入力し、故障仮定と終点フリップフロップFFのテスト結果111を出力する。
ステップ118では、フェイル情報101とネットリスト102とセルライブラリ103と配線・セルの遅延情報104と故障仮定情報105とテストパタン121、そして故障仮定と終点フリップフロップFFのテスト結果111を入力し、故障仮定と各終点フリップフロップFFのディレイ範囲112を出力する。
ステップ119では、故障仮定と各終点フリップフロップFFのディレイ範囲112を入力し、故障候補とディレイ範囲113を出力する。各処理の詳細な説明は後述する。
<半導体集積回路のスキャンテストの処理の詳細>
図3はスキャンテストの機能を持つ半導体集積回路130の詳細図を示している。半導体集積回路130は、はフリップフロップFF301〜307と、フリップフロップFFを直列に繋ぎ合わせたスキャンチェイン350、351と、各フリップフロップFFにテストクロックを供給するテストクロック生成回路(TGN)360と、スキャンチェインの入出力端子371〜374とテスト対象となる組合せ回路201〜210から構成される。
<故障仮定と終点フリップフロップFF抽出部の処理の詳細>
以下では故障仮定と終点フリップフロップFF抽出116の詳細を説明する。
<故障仮定の各終点フリップフロップFFのテスト結果判定部の処理の詳細>
以下では故障仮定の各終点フリップフロップFFのテスト結果判定117の詳細を説明する。
<故障仮定の各終点フリップフロップFFのディレイ範囲抽出部の処理の詳細>
以下では故障仮定の各終点フリップフロップFFのディレイ範囲抽出118の詳細を説明する。
図11は故障仮定P1(250)と論理素子201〜210と終点フリップフロップFF301〜303と始点フリップフロップFF304〜307から構成されている。図11では、S301で故障仮定P1(250)が選択され、S302で終点フリップフロップFF301が選択されたとする。この場合、S303の処理は以下に説明するようになる。まず、故障仮定から入力側に向かって論理回路の出力端子をトレースする。論理素子207の出力端子に到達した場合、その入力端子から再び次の論理素子の入力までトレースする。これをフリップフロップFFの出力端子に到達するまで繰り返す。図11の故障仮定P1(250)の場合、4つの始点フリップフロップFF304〜307を得ることが出来る。
Df(P,フリップフロップFF) < Tmgn_max(P,フリップフロップFF)
選択された終点フリップフロップFFのテスト結果がテストフェイルの場合、少なくともディレイ余裕度の最小値よりディレイ故障のディレイ値が大きくなければならない。故障仮定Pにおける選択された終点フリップフロップFFのテスト結果がテストフェイルの場合のディレイ範囲をDf(P,フリップフロップFF)とするとディレイ余裕度の最小値Tmgn_min(P,フリップフロップFF)との関係は次のように表される。
Tmgn_min(P,フリップフロップFF) < Df(P,フリップフロップFF)
選択された終点フリップフロップFFのテスト結果がテストパス・フェイルの場合、少なくともディレイ余裕度の最小値よりディレイ故障のディレイ値が大きく、かつディレイ余裕度の最大値よりディレイ故障のディレイ値が小さくなければならない。故障仮定Pにおける選択された終点フリップフロップFFのテスト結果がテストパス・フェイルの場合のディレイ範囲をDf(P,フリップフロップFF)とするとディレイ余裕度の最小値Tmgn_min(P,フリップフロップFF)、最大値Tmgn_max(P,フリップフロップFF)との関係は次のように表される。
Tmgn_min(P,フリップフロップFF) < Df(P,フリップフロップFF) < Tmgn_max(P,フリップフロップFF)
ディレイ範囲を計算した後は、全ての終点フリップフロップFFついて処理を行ったかの判断を行う(S306)。故障仮定の終点フリップフロップFF全てについてS302〜S305までの処理を行った場合はYESへ進み、故障仮定と各終点フリップフロップFFのディレイ範囲を登録する(S307)。まだ処理を終えていない終点フリップフロップFFがある場合はNOに進み、S302から処理を再実行する。ここまでの処理を具体的な例として図13、14を用いて説明する。
Df(P1,フリップフロップFF301) < Tmgn_max(P1,フリップフロップFF301)
終点フリップフロップFF302はテストパス・フェイルのため、少なくともディレイ余裕度の最大値よりはディレイ故障のディレイ値が小さく、かつ最小値よりはディレイ故障のディレイ値が大きくなければならない。よって、ディレイ範囲を式で表すと次のようになる。
Tmgn_min(P1,フリップフロップFF302) < Df(P1,フリップフロップFF302) < Tmgn_max(P1,フリップフロップFF302)
終点フリップフロップFF303はテストフェイルのため、少なくともディレイ余裕度の最小値よりはディレイ故障のディレイ値が大きくなければならない。よって、ディレイ範囲を式で表すと次のようになる。
Tmgn_min(P1,フリップフロップFF303) < Df(P1,フリップフロップFF303)
以上、故障仮定P1(250)に関しては終点フリップフロップFFのディレイ範囲としてDf(P1,フリップフロップFF301)、Df(P1,フリップフロップFF302)、Df(P1,フリップフロップFF303)を登録することになる。
<故障候補とディレイ範囲決定部の処理の詳細>
以下では故障候補とディレイ範囲決定119の詳細を説明する。
Tmgn_min(P1,フリップフロップFF302) < Df(P1) < Tmgn_max(P1,フリップフロップFF301)
図16の例では共通範囲が存在しているが、故障仮定によっては共通範囲が存在しないものもある。以下、具体的な例を説明する。
<実施例1の効果>
本発明は、故障仮定から終点フリップフロップFFまでの全ての伝搬経路の長さを計算し、テストタイミングからディレイ余裕度の最大値と最小値を計算している。次にディレイ余裕度の最大値、最小値と終点フリップフロップFFのテスト結果を用いてディレイ範囲を計算している。そのため、伝搬経路の長さを考慮しない従来のディレイ故障診断より高精度な故障箇所の特定を行うことが出来る。
さらに故障箇所と同時にディレイ故障のディレイ範囲も求められるため故障解析時間の短縮にも繋がる。
<実施例2の効果>
実施例2は複数のテストタイミングを使うため、テスト時間と故障診断の処理時間が実施例1に対し増加する。しかし、故障候補の絞込み、ディレイ故障のディレイ範囲の絞込みという観点では実施例2のほうが有利である。
Claims (6)
- テスタから、スキャンチェイン入力端子を介し、半導体集積回路装置内のスキャンチェインのフリップフロップへ、テストパタンを入力し、
テストクロックを供給することにより、前記半導体集積回路装置を動作させ、
前記スキャンチェインから、スキャンチェイン出力端子を介し、前記テスタへ、テスト結果を出力し、
前記テスタから情報処理装置へ前記テスト結果を送信し、
前記情報処理装置により、データベースから期待値を読み出し、前記スキャンチェインを構成する各フリップフロップについて前記テスト結果と前記期待値との一致・不一致を判定し、判定結果を前記データベースに格納し、
前記情報処理装置により、前記データベースに格納されたネットリスト情報を読み出し、前記フリップフロップ間の信号伝搬経路の中から、所定箇所を経路として含み前記フリップフロップの一つである第1フリップフロップを終点として含む複数の第1伝搬経路と、前記所定箇所を経路として含み、前記フリップフロップの一つである第2フリップフロップを終点として含む複数の第2伝搬経路とを抽出し、
前記情報処理装置により、前記データベースに格納された配線、及び、セルの遅延情報を読み出し、前記第1伝搬経路および上にある配線、及び、セルの遅延情報を足し合わせることにより、前記第1経路の伝搬時間を求め、前記テストクロックの時間間隔から前記伝搬時間を引き、各第1伝搬経路について第1ディレイ余裕度をそれぞれ求め、前記第2伝搬経路および上にある配線、及び、セルの遅延情報を足し合わせることにより、前記第2経路の伝搬時間を求め、前記テストクロックの時間間隔から前記伝搬時間を引き、各第2伝搬経路について第2ディレイ余裕度をそれぞれ求め、
前記情報処理装置により、前記第1フリップフロップにおける前記判定結果が一致である場合には、前記所定箇所における信号の論理レベルの第1遷移時間は最長の前記第1ディレイ余裕度より短いと判定し、
前記情報処理装置により、前記第1フリップフロップにおける前記判定結果が不一致である場合には、前記所定箇所における信号の論理レベルの前記第1遷移時間は最短の前記第1ディレイ余裕度より長いと判定し、
前記情報処理装置により、前記第2フリップフロップにおける前記判定結果が一致である場合には、前記所定箇所における信号の論理レベルの第2遷移時間は最長の前記第2ディレイ余裕度より短いと判定し、
前記情報処理装置により、前記第2フリップフロップにおける前記判定結果が不一致である場合には、前記所定箇所における信号の論理レベルの第2遷移時間は最短の前記第2ディレイ余裕度より長いと判定し、
前記情報処理装置により、前記第1遷移時間と前記第2遷移時間について共通範囲がある場合には、前記所定箇所にディレイ故障が存在すると判定することを特徴とする故障診断方法。 - 請求項1に記載の故障診断方法において、
異なる時間間隔の前記テストクロックを供給し、前記半導体集積回路装置を動作させることを特徴とする故障診断方法。 - テスタから、スキャンチェイン入力端子を介し、半導体集積回路装置内のスキャンチェインのフリップフロップへ、テストパタンを入力するステップと、
テストクロックを供給することにより、前記半導体集積回路装置を動作させるステップと、
前記スキャンチェインから、スキャンチェイン出力端子を介し、前記テスタへ、テスト結果を出力するステップと、
前記テスタから情報処理装置へ前記テスト結果を送信するステップと、
前記情報処理装置により、データベースから期待値と前記テスト結果を読み出し、前記スキャンチェインを構成する各フリップフロップについて前記テスト結果と前記期待値との一致・不一致を判定し、判定結果を前記データベースに格納するステップと、
前記情報処理装置により、前記データベースに格納されたネットリスト情報を読み出し、前記フリップフロップ間の信号伝搬経路の中から、所定箇所を経路として含み前記フリップフロップの一つである第1フリップフロップを終点として含む複数の第1伝搬経路と、前記所定箇所を経路として含み、前記フリップフロップの一つである第2フリップフロップを終点として含む複数の第2伝搬経路とを抽出するステップと、
前記情報処理装置により、前記データベースに格納された配線、及び、セルの遅延情報を読み出し、前記第1伝搬経路および上にある配線、及び、セルの遅延情報を足し合わせることにより、前記第1経路の伝搬時間を求め、前記テストクロックの時間間隔から前記伝搬時間を引き、各第1伝搬経路について第1ディレイ余裕度をそれぞれ求め、前記第2伝搬経路および上にある配線、及び、セルの遅延情報を足し合わせることにより、前記第2経路の伝搬時間を求め、前記テストクロックの時間間隔から前記伝搬時間を引き、各第2伝搬経路について第2ディレイ余裕度をそれぞれ求めるステップと、
前記情報処理装置により、前記第1フリップフロップにおける前記判定結果が一致である場合には、前記所定箇所における信号の論理レベルの第1遷移時間は最長の前記第1ディレイ余裕度より短いと判定するステップと、
前記情報処理装置により、前記第1フリップフロップにおける前記判定結果が不一致である場合には、前記所定箇所における信号の論理レベルの前記第1遷移時間は最短の前記第1ディレイ余裕度より長いと判定するステップと、
前記情報処理装置により、前記第2フリップフロップにおける前記判定結果が一致である場合には、前記所定箇所における信号の論理レベルの第2遷移時間は最長の前記第2ディレイ余裕度より短いと判定するステップと、
前記情報処理装置により、前記第2フリップフロップにおける前記判定結果が不一致である場合には、前記所定箇所における信号の論理レベルの第2遷移時間は最短の前記第2ディレイ余裕度より長いと判定するステップと、
前記情報処理装置により、前記第1遷移時間と前記第2遷移時間について共通範囲がある場合には、前記所定箇所にディレイ故障が存在すると判定するステップとを有することを特徴とする故障診断プログラム。 - 請求項3に記載の故障診断プログラムにおいて、
異なる時間間隔の前記テストクロックを供給し、前記半導体集積回路装置を動作させることを特徴とする故障診断プログラム。 - テスタと、データベースを有する情報処理装置と有し、
前記テスタから、スキャンチェイン入力端子を介し、半導体集積回路装置内のスキャンチェインのフリップフロップへ、テストパタンを入力し、
テストクロックを供給することにより、前記半導体集積回路装置を動作させ、
前記スキャンチェインから、スキャンチェイン出力端子を介し、前記テスタへ、テスト結果を出力し、
前記テスタから前記情報処理装置へ前記テスト結果を送信し、
前記情報処理装置により、データベースから期待値を読み出し、前記スキャンチェインを構成する各フリップフロップについて前記テスト結果と前記期待値との一致・不一致を判定し、判定結果を前記データベースに格納し、
前記情報処理装置により、前記データベースに格納されたネットリスト情報を読み出し、前記フリップフロップ間の信号伝搬経路の中から、所定箇所を経路として含み前記フリップフロップの一つである第1フリップフロップを終点として含む複数の第1伝搬経路と、前記所定箇所を経路として含み、前記フリップフロップの一つである第2フリップフロップを終点として含む複数の第2伝搬経路とを抽出し、
前記情報処理装置により、前記データベースに格納された配線、及び、セルの遅延情報を読み出し、前記第1伝搬経路および上にある配線、及び、セルの遅延情報を足し合わせることにより、前記第1経路の伝搬時間を求め、前記テストクロックの時間間隔から前記伝搬時間を引き、各第1伝搬経路について第1ディレイ余裕度をそれぞれ求め、前記第2伝搬経路および上にある配線、及び、セルの遅延情報を足し合わせることにより、前記第2経路の伝搬時間を求め、前記テストクロックの時間間隔から前記伝搬時間を引き、各第2伝搬経路について第2ディレイ余裕度をそれぞれ求め、
前記情報処理装置により、前記第1フリップフロップにおける前記判定結果が一致である場合には、前記所定箇所における信号の論理レベルの第1遷移時間は最長の前記第1ディレイ余裕度より短いと判定し、
前記情報処理装置により、前記第1フリップフロップにおける前記判定結果が不一致である場合には、前記所定箇所における信号の論理レベルの前記第1遷移時間は最短の前記第1ディレイ余裕度より長いと判定し、
前記情報処理装置により、前記第2フリップフロップにおける前記判定結果が一致である場合には、前記所定箇所における信号の論理レベルの第2遷移時間は最長の前記第2ディレイ余裕度より短いと判定し、
前記情報処理装置により、前記第2フリップフロップにおける前記判定結果が不一致である場合には、前記所定箇所における信号の論理レベルの第2遷移時間は最短の前記第2ディレイ余裕度より長いと判定し、
前記情報処理装置により、前記第1遷移時間と前記第2遷移時間について共通範囲がある場合には、前記所定箇所にディレイ故障が存在すると判定することを特徴とする故障診断システム。 - 請求項5に記載の故障診断方法において、
異なる時間間隔の前記テストクロックを供給し、前記半導体集積回路装置を動作させることを特徴とする故障診断システム。
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