JP2010243355A - プローブ顕微鏡及びそれを用いた測定方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】液中で試料より拡散されるイオンを検知する機能を有し、プローブ3を試料7上の所定の範囲を走査した後、試料とプローブとの距離を試料表面の微小な構造を観察できない距離まで一定間隔離して、特定の液中位置にプローブを固定する。その後、プローブ3と対極4間の電流、プローブと参照極5間の電位の一方を制御して他方の追随を測定することで、試料より拡散されるイオンを検知する。
【選択図】図1
Description
を、簡便に高感度で検出できる。また、不純物を簡便に高感度で検出できる不純物検査装
置を提供できる。
(1)計測モード制御部9で形状計測モードを選択する。従来手法により原子間力顕微鏡像を取得し、画像解析する。この時点で、欠陥部や、ピット、盛り上がり部などの形状の特異点をマークしておく。
(2)計測モード制御部9でイオン計測モードを選択する。先のマークしたXY座標にプローブを移動する。Z軸は20nm以上10μm以下の距離の範囲で一定とする。
(3)試料7の表面に液を導入する。液量はプローブ先端が浸漬する程度の僅かな量でもよい。液、及び試料の組合せについて特に指定はない。例えば、海水による自動車部品等の筐体の腐食が懸念される場合には、塩水(塩化ナトリウム水溶液)中での腐食の進行度合いを計測する。微細配線を備えたチップやウエハなどの製造プロセス中での欠陥が問題である場合には、めっき液中や、化学的機械的研磨液(CMPスラリー液)中、様々な洗浄工程で使用される洗浄液中での欠陥の発生度合いを計測する。
(4)検出装置8に内蔵された電位制御部10で、プローブ3と参照極5間の電位を制御する。電位制御方法は従来法を適宜使用する。例として、電位を一定の速度で走査するサイクリックボルタンメトリ法では、プローブ3と参照極5間の自然電位から負側の方向に電位を走査させる。電流計測部11でプローブ3と対極4間に流れる電流、即ち還元電流を検出する。この還元電流が最大となるピークの電位と電流値を計測する。
(6)データ解析部21では、還元電流が最大となるピークの電位よりイオンの種類を同定する。事前に、存在する可能性のある複数のイオンのデータベースを保管しておく。データ解析部21では、このデータベースと測定で得られた電位とを照合して、最も近い電位のイオンを選定する。
(7)演算部22では、還元電流が最大となるピークの電流値より、イオンの濃度を算出する。事前に、各イオンでの複数の濃度におけるデータベースを保管しておく。演算部22では、濃度と電流値との関係を表す検量線、装置固有の係数、イオン濃度を算出するための演算式を求めておく。このデータベースと、測定で得られた電流値とを照合して、イオンの濃度を算出する。
(8)先のマークしたXY座標の周囲にプローブを移動して、複数の測定位置で同様に測定する。
(9)画像処理部20を用いて、各測定位置をX軸とY軸の座標軸として、還元電流が最大となるピークの電位をZ軸として表すことにより三次元の画像にする。
(10)画像処理部20を用いて、各測定位置をX軸とY軸の座標軸として、還元電流が最大となるピークの電流値をZ軸として表すことにより三次元の画像にする。
(12)画像処理部20を用いて、各測定位置をX軸とY軸の座標軸とし、イオンの種類を色分けすることによって画像化する。
(13)画像処理部20を用いて、各測定位置をX軸とY軸の座標軸とし、イオンの濃度をZ軸として表すことにより三次元の画像とする。
(1)計測モード制御部9で形状計測モードを選択する。従来手法により原子間力顕微鏡像を取得し、画像解析する。この時点で、欠陥部や、ピット、盛り上がり部などの形状の特異点をマークしておく。(図6中に、○で位置を示す)
(2)計測モード制御部9でイオン計測モードを選択する。先のマークしたXY座標にプローブを移動する。Z軸は20nm以上10μm以下の距離の範囲で一定とする。
(3)試料7の表面に0.1モルの塩化ナトリウム溶液を導入する。液量はプローブ先端が浸漬する程度の僅かな量でもよい。
(5)データ変換部18では電流計測部11で得られた信号を基に、電流を縦軸に、時間を横軸にプロットした電流曲線を取得する。データ表示部19はこの曲線をグラフ化して表示する。図7は、Feの電位(図2より−950mV)に保持したときの電流を縦軸に、時間を横軸にプロットした電流曲線を示す。
(6)演算部22では、電流値よりイオンの濃度を算出する。事前に、各イオンでの複数の濃度におけるデータベースを保管しておく。演算部22では、濃度と電流値との関係を表す検量線、装置固有の係数、イオン濃度を算出するための演算式を求めておく。上記の測定方法と同じ条件で鉄イオンの添加量を1000,500,100,50ppmと振って電流と時間の関係を計測したものから、絶対値で最大の電流値をFeイオンの濃度に対してプロットしたいわゆる検量線を求めて、これから演算式(3)を求めた。但し、Yは電流値、XはFeの濃度、係数は装置固有の数値である。
(8)画像処理部20を用いて、各測定位置をX軸とY軸の座標軸として、電流値をZ軸として表すことにより三次元の画像にする。図8は、各測定位置をX軸とY軸の座標軸として、電流値をZ軸として三次元画像化した図である。
(9)データ表示部19を用いて、イオンの濃度を縦軸に、測定点のX軸、又はY軸を横軸にプロットした曲線を表示する。図9は、イオンの濃度を縦軸に、測定点のX軸を横軸にプロットした曲線を示す。
(10)画像処理部20を用いて、各測定位置をX軸とY軸の座標軸とし、イオンの濃度をZ軸として表すことにより三次元の画像とする。図10は、各測定位置をX軸とY軸の座標軸とし、Feイオン濃度をZ軸として三次元画像化した図である。但し、測定点と測定点との間の間隔はX軸、Y軸いずれも200nmピッチとし、その間は、最小二乗法を用いて近似してある。
(1)計測モード制御部9で形状計測モードを選択する。従来手法により原子間力顕微鏡像を取得し、画像解析する。この時点で、欠陥部や、ピット、盛り上がり部などの形状の特異点をマークしておく。(図11中に、○で位置を示す)
(2)計測モード制御部9でイオン計測モードを選択する。先のマークしたXY座標にプローブを移動する。Z軸は20nm以上10μm以下の距離の範囲で一定とする。
(3)試料7の表面に0.1モルの塩化ナトリウム溶液を導入する。液量はプローブ先端が浸漬する程度の僅かな量でもよい。
(4)検出装置80に内蔵された電流制御部12で、プローブ3と対極4間の還元方向に流れる電流を制御する。電流制御方法は従来法を適宜使用する。例として、電流を一定の状態に保持し続けるクロノポテンショメトリ法では、プローブ3と対極4間の電流を一定となるように任意の時間制御し続ける。電位計測部13でプローブ3と参照極5間の電位を計測する。この電位が一定となる還元電位を検出する。
(6)データ解析部21では、上記の電位よりイオンの種類を同定する。事前に、存在する可能性のある複数のイオンのデータベースを保管しておく。データ解析部21では、このデータベースと測定で得られた電位とを照合して、最も近い電位のイオンを選定する。データベースでは、図2で示したFeに関する電気化学データから、−950mVの電位はFeであることが分る。同様に、電気化学データをNi,Co,Cuなどの遷移金属について格納しておいたものから検証すると、−700mVの電位はNiであることが判別できる。
(7)先のマークしたXY座標の周囲にプローブを移動して、複数の測定位置で同様に測定する。
(8)画像処理部20を用いて、各測定位置をX軸とY軸の座標軸とし、イオンの種類を色分けすることによって画像化する。図13は、Feが検出された部分を黒、FeとNiが両方検出された部分を紫として色分けして示した画像である。このように、イオンの分離検出が可能である。
図17は、従来の液中観察用走査型トンネル顕微鏡を示す模式図である。実施例1,2と同様に、試験セル1、プローブ3、対極4、参照極5、微動/粗動機構14、高精密除震台15を備える。
次に、従来の走査型トンネル顕微鏡の模式図を図18に示す。バイポテンショスタット・ガルバノスタット25は、参照極5と試料7間の電位を制御する参照極5−試料7間電位制御部26と、試料に流れる電流を検出するための対極4−試料7間電流検出部27を備える。本発明の検出部8とは、異なる構成であることは明白である。
図19は、従来の液中観察用の走査型原子間力顕微鏡を示す模式図である。試料7は液6で満たされた試験セル1内に収められる。試料7はポテンショスタット・ガルバノスタット28に、図中には示していないが導通部を介して接続させている。試験セル1内には、プローブ3と対極4と参照極5とが液6に浸された状態で収められている。試験セル1は微動/粗動機構14上に配置されている。微動/粗動機構14は、プローブ3との水平(XY)および垂直(Z)方向の相対移動が可能なXYZ微動機構と、試料7とプローブ3間が離れた状態からアプローチするためのZ軸粗動機構を備えている。また、微動/粗動機構14は、外部からの振動を除去するための高精密除震台15上に置かれている。
Claims (17)
- 試料を保持し、液体を注入することのできる試験セルと、
プローブと、
対極と、
参照極と、
前記プローブを原子間力顕微鏡の原理で試料表面に追随させながら走査させる駆動機構と、
前記プローブと前記参照極間の電位を制御する電位制御部と、
前記プローブと前記対極間に流れる電流を計測する電流計測部とを備え、
前記プローブを、前記原子間力顕微鏡の原理で計測した試料表面から液体中で所定距離だけ離した状態で、前記電位制御部によって前記プローブと前記参照極間の電位を制御して前記電流計測部によって前記プローブと前記対極間に流れる電流を計測し、前記計測された電流がピークを示す電位から前記液体中のイオンの種類を検出することを特徴とするプローブ顕微鏡。 - 請求項1記載のプローブ顕微鏡において、前記ピークを示す電流の大きさからイオンの濃度を求めることを特徴とするプローブ顕微鏡。
- 試料を保持し、液体を注入することのできる試験セルと、
プローブと、
対極と、
参照極と、
前記プローブを原子間力顕微鏡の原理で試料表面に追随させながら走査させる駆動機構と、
前記プローブと前記参照極間の電位を制御する電位制御部と、
前記プローブと前記対極間に流れる電流を計測する電流計測部と、
前記電流計測部によって計測される電流がピークを示す電位とイオンの種類との関係をデータとして格納したデータベースとを備え、
前記プローブを、前記原子間力顕微鏡の原理で計測した試料表面から液体中で所定距離だけ離した状態で、前記電位制御部によって前記プローブと前記参照極間の電位を制御して前記電流計測部によって前記プローブと前記対極間に流れる電流を計測し、計測結果を前記データベースと照合することにより液体中のイオンの種類を検出することを特徴とするプローブ顕微鏡。 - 請求項3記載のプローブ顕微鏡において、前記データベースは、前記ピークを示す電流の大きさとイオンの濃度との関係を示すデータを格納しており、前記計測結果を前記データベースと照合することによりイオンの濃度を求めることを特徴とするプローブ顕微鏡。
- 請求項1〜4のいずれか1項記載のプローブ顕微鏡において、各測定位置において、電流を縦軸に時間を横軸にとり任意の電位に対して計測された電流をプロットした曲線、もしくは、電流を縦軸に電位を横軸にとり計測された電流をプロットした曲線を表示する表示部を有することを特徴とするプローブ顕微鏡。
- 請求項2又は4記載のプローブ顕微鏡において、各測定位置においてイオンの種類及び/又はイオンの濃度を表示する表示部を有することを特徴とするプローブ顕微鏡。
- 試料を保持し、液体を注入することのできる試験セルと、
プローブと、
対極と、
参照極と、
前記プローブを原子間力顕微鏡の原理で試料表面に追随させながら走査させる駆動機構と、
前記プローブと前記対極間に流す電流を制御する電流制御部と、
前記プローブと前記参照極間の電位を計測する電位計測部とを備え、
前記プローブを、前記原子間力顕微鏡の原理で計測した試料表面から液体中で所定距離だけ離した状態で、前記電流制御部によって前記プローブと前記対極間に流す電流を制御して前記電位計測部によって前記プローブと前記参照極間の電位を計測し、前記計測された電位が一定となる電位から液体中のイオンの種類を検出することを特徴とするプローブ顕微鏡。 - 請求項7記載のプローブ顕微鏡において、前記一定の電位を示す時間からイオンの濃度を求めることを特徴とするプローブ顕微鏡。
- 試料を保持し、液体を注入することのできる試験セルと、
プローブと、
対極と、
参照極と、
前記プローブを原子間力顕微鏡の原理で試料表面に追随させながら走査させる駆動機構と、
前記プローブと前記対極間に流す電流を制御する電流制御部と、
前記プローブと前記参照極間の電位を計測する電位計測部と、
前記電位計測部によって計測される電位が一定となる電位とイオンの種類との関係を保持するデータベースとを備え、
前記プローブを、前記原子間力顕微鏡の原理で計測した試料表面から液体中で所定距離だけ離した状態で、前記電流制御部によって前記プローブと前記対極間に流す電流を制御して前記電位計測部によって前記プローブと前記参照極間の電位を計測し、計測結果を前記データベースと照合することによって液体中のイオンの種類を検出することを特徴とするプローブ顕微鏡。 - 請求項9記載のプローブ顕微鏡において、前記データベースは、一定の電位を示す時間とイオンの濃度との関係を示すデータを格納しており、前記計測結果を前記データベースと照合することによりイオンの濃度を求めることを特徴とするプローブ顕微鏡。
- 請求項7〜10のいずれか1項記載のプローブ顕微鏡において、前記電位計測部により得られた信号を基に、各測定位置において、電位を縦軸に時間を横軸にとり任意の電流に対して計測された電位をプロットした曲線、もしくは、電位を縦軸に電流を横軸にとり計測された電位をプロットした曲線を表示する表示部を有することを特徴とするプローブ顕微鏡。
- 請求項8又は10記載のプローブ顕微鏡において、各測定位置においてイオンの種類及び/又はイオンの濃度を表示する表示部を有することを特徴とするプローブ顕微鏡。
- 大気中、真空中、雰囲気ガス中、液中のうちいずれかの環境下で原子間力顕微鏡の原理に基づいてプローブを走査して試料の凹凸形状を計測する工程と、
前記計測した形状に対応した試料の表面近傍における特定の液中位置に前記プローブを固定する工程と、
前記液体に浸漬している前記プローブと参照極間の電位を制御して前記プローブと対極間の電流を計測し、電流がピークを示す電位を検出する工程と、
前記電流がピークを示す電位から液中のイオン種を同定する工程と、
前記ピーク電流の大きさからイオン濃度を求める工程と
を有することを特徴とする測定方法。 - 請求項13記載の測定方法において、液中に存在するイオンの酸化電位及び/又は還元電位により、イオンの種類を特定することを特徴とする測定方法。
- 大気中、真空中、雰囲気ガス中、液中のうちいずれかの環境下で原子間力顕微鏡の原理に基づいてプローブを走査して試料の凹凸形状を計測する工程と、
前記計測した形状に対応した試料の表面近傍における特定の液中位置に前記プローブを固定する工程と、
前記液体に浸漬している前記プローブと対極間の電流を制御して前記プローブと参照電極間の電位を計測し、計測される電位が一定となる電位を検出する工程と、
前記検出した電位から液中のイオン種を同定する工程と、
一定の電位を示す時間からイオン濃度を求める工程と
を有することを特徴とする測定方法。 - 請求項15記載の測定方法において、液中に存在するイオンの酸化及び/又は還元電流の大きさにより、イオンの濃度を求めることを特徴とする測定方法。
- 請求項13〜16のいずれか1項記載の測定方法において、前記プローブは、前記試料の凹凸形状計測後、試料表面の上方20nm以上10μm以下の位置に固定することを特徴とする測定方法。
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