JP2010239729A - 車両用充電発電装置 - Google Patents

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Abstract

【課題】多種多様の車両用充電発電装置に対して、標準化された制御ユニットを提供する。
【解決手段】整流制御回路50は、MOSFET整流回路31,32のゲート制御とロードダンプサージの検出と保護回路が半導体の1チップASIC1で構成され、発電制御回路40は、界磁電流iFの制御とロードダンプサージの検出と保護回路が半導体の1チップASIC2で構成され、発電制御回路40のみが必要なツェナーダイオード整流回路110の車両用充電発電装置10にも対応できるような構成としている。
【選択図】 図1

Description

本発明は、車両用充電発電装置に関する。
MOSFETにより構成された全波整流回路を用いた車両用充電発電装置において、ロードダンプサージ対策として、界磁電流を急速に減衰させる手段により、ロードダンプサージの発生時間を短縮して発生するエネルギーを小さくする技術が知られている(例えば特許文献1参照)。
この技術は、車両用充電発電装置の出力電圧と界磁コイルの一方の端子間に、第1の界磁電流制御用MOSFETを、界磁コイルの他方の端子と接地(GND)間に第2の界磁電流制御用MOSFETを接続している。
ロードダンプサージが発生した時の動作は、出力電圧が一定電圧以上に上昇した時には、第1のMOSFETをオフして第1の界磁電流減衰特性で減衰させ、第1のMOSFETをオフした後、MOSFET整流回路の素子保護のため第2のMOSFETをオフして第1の界磁電流減衰特性より減衰が急激な第2の界磁電流減衰特性で減衰させるようにしている。
そして、上記した第1,第2のMOSFETのロードダンプサージ対策制御回路や、正常動作時の界磁電流制御回路や、全波整流回路のMOSFETのゲート制御回路や、たとえばエンジン制御装置との協調制御を行う通信回路などが、1つ集積回路で構成するようになっている。
特開2006−238611号公報
上記従来技術では、ロードダンプサージ対策としては十分な性能を得ることができるが、車両用充電発電機の制御装置は、このようなMOSFET整流回路に限られることはなく、車種によって多様に存在するため、制御回路が1つの集積回路で構成されたものでは次の点において問題が発生する。
整流素子としてダイオードを用いるダイオード整流回路で十分性能が得られる車両用充電発電装置においては、整流素子を制御する端子がないので、MOSFET整流回路のようなゲート制御回路が不要となる。
また、整流素子としてのダイオードは、MOSFETに比較して電圧耐量の大きな素子が安価に入手できるため、MOSFET整流回路の素子保護を目的とした、第2のMOSFETをオフして第1の界磁電流減衰特性より減衰が急激な第2の界磁電流減衰特性で減衰させるような対策回路も不要となる。
すなわち、ダイオード整流回路においては、充電発電機の界磁電流のみで十分車両用充電発電装置としての性能を得ることができるので、制御回路が1つの集積回路で構成された制御回路は、使用しない不要な回路が存在することになる。
さらに、上記従来技術のように、エンジン制御との協調制御による性能向上を目的とした車両用充電発電装置にあっては、エンジン制御装置との通信回路が必要となるが、ここまでの性能を有する必要がない車両用充電発電装置においては、使用しない通信回路が存在することになる。
以上述べたように、車両用充電発電装置は機能を選択して使用されるので、制御回路が1つの集積回路で構成された1チップでは、所定の性能に対して価格が上昇する問題がある。
本発明は、車両用充電発電装置の多種多用な使用方法において、機能に応じた回路構成を選択的に実装するようにした車両用充電発電装置を提供するものである。
本発明は、三相固定子巻線と界磁巻線とを有する三相交流発電機の充電発電装置であって、三相固定子巻線の出力電圧の整流回路と、整流回路を制御する第1の制御手段と、界磁巻線の電流を制御し、出力電圧を所定値にする第2の制御手段と、を有し、第1の制御手段は、第1の半導体チップによる回路構成であり、第2の制御手段は、第2の半導体チップによる回路構成であり、第1と第2の制御手段は同一の回路基板上で構成されている車両用充電発電装置である。
また本発明は、第1の制御手段は、半導体で構成される第1のチップを含む第1の回路基板に、第2の制御手段は、前記半導体で構成される第2のチップを含む第2の回路基板に実装され、1つのユニット内で構成される車両用充電発電装置である。
また本発明は、第1の制御手段は、半導体で構成される第1のチップを含む第1のユニット、第2の制御手段は、前記半導体で構成される第2のチップを含む第2のユニットで構成される車両用充電発電装置である。
本発明によれば、多種多用な使用方法において、機能に応じた回路構成を選択的に実装するようにした車両用充電発電装置を提供することができる。
本発明の車両用充電発電装置の一実施例を示す図。 本発明の車両用充電発電装置の一部を変更した一実施例を示す図。 ロードダンプサージに対する動作図。 制御回路の実装図。 本発明の車両用充電発電装置の他の実施例を示す図。 本発明の車両用充電発電装置の他の実施例を示す図。 他の制御回路の実装図。 さらに他の制御回路の実装図。 本発明の車両用充電発電装置の他の一実施例を示す図。
以下、本発明の実施形態を、図面を用いて説明する。エンジンによって駆動され車両のバッテリや電気負荷に電力を供給する車両用充電発電装置を例として説明する。
図1は本発明の車両用充電発電装置の構成を示す図である。
車両用充電発電装置10は三相充電発電機20とパワーモジュール30と発電制御回路40と整流制御回路50で構成されており、端子11の出力電圧Voはバッテリ60のプラス、端子12のGNDはバッテリ60のマイナスと接続され、端子13はエンジン制御装置70と発電制御信号COMで接続され、バッテリ60の両端子には種々の電気負荷80が接続されている。
まず、整流制御回路50により三相充電発電機20に接続される整流回路の動作について説明する。
三相充電発電機20は、U相,V相,W相がMOSFETで構成された三相全波整流の上側アーム31と下側アーム32の接続点に接続され、三相交流電圧を全波整流した整流出力電圧Voを端子11で出力する。
ところで、低オン抵抗のMOSFETを整流回路に使用すると、寄生ダイオードの電圧降下に比較して、オン抵抗による電圧降下が小さく、電力消費を小さくして発熱を低減することができる。
ただし、この場合、寄生ダイオードが通電するタイミングに応じて、MOSFETのゲート端子を制御する必要がある。
整流制御回路50のゲート制御回路51は、U〜W相電圧と出力電圧Voを検出して、MOSFETの通電タイミングの生成と、上側アーム31と下側アーム32のMOSFETゲートのドライバで構成されている。
三相充電発電機20では、出力電流が流れている状態で、端子11の開放、又は、バッテリ60の端子の開放、又は、電気負荷80の開放によって、整流回路の出力電圧Voが過渡的に非常に大きくなるロードダンプサージが発生する。
MOSFET整流回路31,32では、ロードダンプサージに対してMOSFETの電圧耐量を大きくすることは、オン抵抗の増大による発熱量の増大や価格の上昇になることから得策とは言えない。
ロードダンプサージがMOSFETの電圧耐量を超えた場合、製造上形成されたアバランシェダイオードが導通するが、アバランシェ導通時間の制限があり、さらに繰り返しのアバランシェ耐量にも制限があるので、ロードダンプサージを短時間で減衰させる必要がある。
そこで、実施例1では、ロードダンプサージを短時間で減衰させる方法として、整流制御回路50において、三相充電発電機20の界磁巻線Fの電流iFを減少させるようにしている。
三相充電発電機20の界磁コイルFの端子F1とGND間にツェナーダイオード33とスイッチ素子53を並列接続し、ロードダンプサージ検出回路54において出力電圧Vo>ロードダンプサージ設定値VD1を検出した時点でスイッチ素子53をオフさせるようにしている。
スイッチ素子53がオフすると、界磁電流iFは、界磁巻線F→ツェナーダイオード33→ダイオード42(後述するようにスイッチ素子41はオフである)の経路で減衰し、ロードダンプサージの継続時間を短縮するようになっている。
界磁電流iFの減衰の程度は、ツェナー電圧Vzによって決まり、ツェナー電圧Vzが大きい値では小さい値に比較して速く減少するので、MOSFETの電圧耐量に応じて、ツェナー電圧Vzを設定する。
なお、界磁電流iFの減衰を速くする方法として、図2に示すようにダイオード55を接続し、ツェナーダイオード33の代わりに、MOSFET整流回路31,32またはバッテリ60または電気負荷80を負荷として使用し、界磁電流iFを減衰させる方法があり、この場合は、ダイオード55は整流制御回路50に含めて構成することができる。
以上の説明のように、MOSFET整流回路による車両用充電発電装置10では、整流制御回路50は、MOSFET(上側アーム31と下側アーム32)のゲート制御とロードダンプサージの対策回路(スイッチ素子53とロードダンプサージ検出回路54)が共に動作する状態になっている。
このように、必要な機能を集約した電子回路では、半導体による1チップ化されたASICを使用して、回路基板に実装すると、実装面積の縮減,コストの低減に有効である。
そこで、実施例1では、ゲート制御回路51,ロードダンプサージの対策回路(53,54)で構成される整流制御回路50は、1チップ化されたASIC1として回路基板に実装されている。
次に、発電制御回路40について、回路構成と車両用充電発電装置10の出力電圧Voの制御動作を説明する。
図1に示すように、三相充電発電機20の界磁コイルFの端子F2と出力電圧Vo間にスイッチ素子41を接続し、さらに端子F2がカソードとなるダイオード42をGND間に接続する。
スイッチ素子41は、電圧指令回路43において、エンジン制御装置70からシリアル通信COMのデータ処理回路44で得られた電圧設定値との出力電圧Voの偏差から演算されたDuty値によりPWM制御し、出力電圧Voが電圧設定値になるように界磁電流iFが流れる。
なお、スイッチ素子41はPWM制御に限らずリニアな電圧制御にすることもできる。
発電制御回路40にもロードダンプサージに対する対策としてロードダンプサージ検出回路45があり、出力電圧Vo>ロードダンプサージ設定値VD2を検出した時点でスイッチ素子41をオフさせるようにしている。
発電制御回路40のロードダンプサージ設定値VD2は、整流制御回路50のロードダンプサージ設定値VD1より低く設定されており、VD2<ロードダンプサージでは、スイッチ素子53がオンのままスイッチ素子41がオフする。
スイッチ素子41がオフすると界磁電流iFは、界磁巻線F→スイッチ素子53→ダイオード42の経路で減衰し、ロードダンプサージの継続時間を短縮するようになっている。
図3は、ロードダンプサージが発生して、出力電圧VoがVo1の傾斜で上昇した時の動作波形を示している。
図3において、時点t0以前は、整流制御回路50のスイッチ素子53がオン、発電制御回路40のスイッチ素子41がPWM制御によって界磁電流iFを流して出力電圧Voに制御する定常状態である。
時点t0において、ロードダンプサージが発生すると、出力電圧VoがVo1で上昇し始め、発電制御回路40のロードダンプサージ設定値VD2に達すると、スイッチ素子41がオフするが、界磁電流iFの応答は遅くiF1で減衰し始め、さらに出力電圧Voが上昇し、整流制御回路50のロードダンプサージ設定値VD1に達すると、時点t2でスイッチ素子53がオフする。
スイッチ素子53がオフすると、界磁電流iFはiF2で急速に減衰するが、ロードダンプサージに対してすぐに応答しないため、時点t3で出力電圧Voは整流回路31,32のMOSFETのアバランシェ電圧Vaで一定となる。
界磁電流をiF3で減衰させると、時点t4で整流回路31,32のアバランシェ領域から脱し、出力電圧VoはVo2で減衰し始める。
時点t5で出力電圧Vo2が設定値Vsまで減衰すると、発電制御回路40と整流制御回路50のロードダンプサージ設定値VD2,VD1が解除されて、まず、スイッチ素子53がオンし、さらに出力電圧Vo2が減衰して出力電圧Voになる時点t6でスイッチ素子41がPWM制御を開始して、出力電圧Voの一定制御となる。
なお、発電制御回路40のみにロードダンプサージ検出回路44がある場合は、図3の点線で示す動作波形であり、界磁電流iFがiF3の緩やかな減衰となり、アバランシェ電圧Vaの領域の時間が長くなることがわかる。
後述のように、整流回路にMOSFETに代えて、ツェナーダイオードを使用するような場合には、アバランシェ電圧Vaの領域が長くなることに問題はないため、図3に示す発電制御回路40のみが必要な車両用充電発電装置10に単独で使用できるようになっている。
すなわち、整流制御回路50で説明したのと同様に、発電制御回路40は、必要な機能を集約した電子回路であり、1チップ化したASICを使用して回路基板に実装すると、実装面積の縮減,コストの低減に有効である。
そこで、発電制御回路40は、1チップ化されたASIC2として、整流制御回路が実装された回路基板上に実装されている。
図4は、図1の車両用充電発電装置10の制御ユニット100の実装を示しており、整流制御回路50のASIC1と発電制御回路40のASIC2を回路基板90に実装している。
整流制御回路50と発電制御回路40は1チップ化したASIC単位で分割を可能にできる回路配線で構成しており、この構成による効果について説明する。
車両に要求される車両用充電発電装置10は多種多様であり、図1に示したMOSFET整流回路31,32がすべての車両に適合するとは限らない。
出力電流が比較的小さい車両用充電発電装置10では、整流回路での電力損失よりもコストや小型化のために実装面積が優先されるものや、電動機で駆動される車両システム以外では、充電発電機を電動機として動作させるような要求が少ないなど多種多様である。
図5は、多種多様な車両用充電発電装置10の例として、図1において、MOSFET整流回路31,32の代わりにツェナーダイオード整流回路110で構成し、ASIC2を実装した発電制御回路40の実施形態であり、図3と同一部分は同一符号で示している。ツェナーダイオード整流回路110では、MOSFETに比較して、順方向電流を流した時の電圧降下は大きく電力損失が大きくなるが、逆方向電圧に対してアバランシェ耐量が大きく、コスト的に安価な入手ができるので、車両用充電発電装置10として広く採用されている。
ロードダンプサージに対するツェナーダイオード整流回路110では、ツェナーダイオードがアバランシェ状態となって出力電圧Voを一定電圧にクランプするので、端子11に接続される電気負荷(特に電子制御装置)への影響を抑制している。
図5では、図3のMOSFETと異なりツェナーダイオードの保護は、発電制御回路40により界磁電流iFをオフするロードダンプサージ対策で十分である。
すなわち、図3に示したVD2のロードダンプサージの発生に対して、発電制御回路40のスイッチ素子41をオフし、界磁電流iFは、iF2で減少し、出力電圧VoもVo2で減少する。
ツェナーダイオード整流回路110では、MOSFETのようにゲート電圧の制御が不要であり、ロードダンプサージ対策も発電制御回路40で十分対策できるので、図4で示したようにASIC2を実装した発電制御回路40だけで車両用充電発電装置10の制御を行うことができる。
なお、発電制御回路40の端子13は、エンジン制御装置70からの発電制御信号COM、たとえばDuty信号などで十分性能を満足できる。
図6は図5に示したツェナーダイオード整流回路110の代わりにアバランシェダイオード整流回路120で構成し、ASIC2を実装した発電制御回路40の実施形態であり、図3と同一部分は同一符号で示している。
アバランシェダイオード整流回路120では、ツェナーダイオードに比較して電圧耐量の大きなものがさらに安価に入手できるので、更に安価な車両用充電発電装置10を提供できる。
上述したように、図5や図6の車両用充電発電装置10では、整流制御回路50は不要であり、図1の車両用充電発電装置10に対応した制御ユニット100をそのまま使用すると、コストで無駄が多くなる。
そこで図5や図6の車両用充電発電装置10では、図4で示した発電制御回路40を実装するのみで対応するようにして、コスト低減をするようにしている。
すなわち、発電制御回路40と整流制御回路50で独立したASIC化による回路基板とした制御ユニット100は、多種多様の車両用充電発電装置10に対応できるように標準化されており、量産効率を向上でき、コストが低減できる効果がある。
ところで、整流制御回路50のスイッチ素子53,発電制御回路40のスイッチ素子41とダイオード42は、界磁電流iFを通電するので発熱源となる。
また、発電制御回路40における界磁電流iFの制御は、DutyによるPWM制御が多用されるので、スイッチ素子41とダイオード42はスイッチングロスも大きく、さらに発熱が大きくなる。
すなわち、整流制御回路50と発電制御回路40の2つの回路を半導体チップ上に構成した1チップ化のASICでは、熱伝導によって互いの発熱が影響し合って温度上昇が大きくなるので、半導体チップの信頼性が低下する。
本実施例では、図4に示したように、整流制御回路50と発電制御回路40は、別々の半導体チップ上に構成した2チップ化(ASIC1,ASIC2)であるため、2つのチップ間は空間を有して回路基板に実装されており、互いの発熱の影響を除くことができ、信頼性を向上することができる。
なお、実装された2つのチップ間に放熱樹脂の介在や配線導体の介在によって、さらに互いの発熱の影響を低減することができる。
図1〜図6の実施形態は、整流制御回路50と発電制御回路40を1つの回路基板上に配置したものであるが、図5,図6で示したツェナーダイオード整流回路110やアバランシェダイオード整流回路120による限定された車両用充電発電装置10では、整流制御回路50を実装しない制御ユニット100を使用した場合、2つの回路が実装されるように加工した1つの回路基板では、余分な半田量の消費や半田ブリッジのチェックなど余分な組立て工数が生ずる。
図7は、この対策として、整流制御回路50用の回路基板140と発電制御回路40用の回路基板150に分けた制御ユニット100にすることにより、半田量や組立て工数を低減するようにしている。
図1〜図6の実施形態は、整流制御回路50と発電制御回路40を1つの回路基板上に配置したものであるが、図5,図6で示したツェナーダイオード整流回路110やアバランシェダイオード整流回路120による限定された車両用充電発電装置10では、整流制御回路50を実装しない制御ユニット100を使用した場合、回路基板が占める割合が大きく、実装面積や回路基板コストで不利になることがある。
図8はその対策を示した制御回路の実装図であり、ASIC1を含む整流制御回路50の制御ユニット160とASIC2を含む発電制御回路40の制御ユニット170に分けた構成にしている。
車両用充電発電装置10の要求に応じて、図4と図7の構成を選択することで、特に制御ユニットの実装スペースの自由度を向上することができる。
図9は、図1において、MOSFET整流回路31,32の代わりにアバランシェダイオード整流回路120で構成し、ロードダンプサージ対策のパワーツェナー130と組合せた実施形態であり、図3と同一部分は同一符号で示している。熱容量の小さいパワーツェナーダイオード130を用いて、図5の実施形態と同等のロードダンプサージ対策を達成することもできる。
図1,図5,図6,図9の実施形態では、発電制御回路40による界磁電流iFの制御は、車両用充電発電装置10以外のエンジン制御装置70から発電制御指令COMで出力電圧Voの指令値を得るようにしているが、発電制御指令はこれに限られることはなく、ローカルエリアネットワークLANやシリアル通信SPI、または発電制御回路40自身で出力電圧Voの指令値を設定する限定された機能の車両用充電発電装置10においても、本発明が適用されるのは言うまでもない。
以上のように、本発明の実施形態では、三相交流発電機は三相固定子巻線と界磁巻線を有し、三相固定子巻線の出力電圧の整流回路と前記整流回路を制御する第1の制御手段と界磁巻線の電流を制御し、出力電圧を所定値にする第2の制御手段を備えるものにおいて、第1の制御手段は、第1の半導体チップによる回路構成であり、第2の制御手段は、第2の半導体チップによる回路構成であり、第1と第2の制御手段は同一の回路基板上で構成されるようにした。
さらに、整流回路はMOSFET整流回路であり、第1の制御手段は、MOSFETのゲート端子制御と、ロードダンプサージが第1の設定値を超えたとき、界磁巻線に直列接続された第1のスイッチ手段をオフし、第1のスイッチ手段と並列接続された負荷に、または、第3のスイッチ手段を介して第1のスイッチ手段と並列接続された負荷に、界磁電流を通電させる制御で構成されるようにした。
さらに、負荷はツェナーダイオードを接続するようにした。
さらに、第2の制御手段において、界磁巻線に直列接続された第2のスイッチ手段による界磁電流の制御と、ロードダンプサージが第2の設定値を超えたとき、第2のスイッチ手段をオフし、界磁巻線に並列接続されたダイオードに界磁電流を通電させる制御で構成されるようにした。
さらに、第2の設定値に対して第1の設定値が小さく設定されるようにした。
さらに、回路基板上において、第1の半導体チップと第2の半導体チップが隣接する空間には、放熱用手段を介在させるようにした。
さらに、放熱用手段において、それぞれのチップの発熱が互いに影響し合わないように、チップの熱伝導率に対して放熱用手段の熱伝導率が小さく設定されるようにした。
さらに、界磁電流の制御において、車両用充電発電装置以外の制御装置からの指令値に基づいて制御されるようにした。
さらに、整流回路がツェナーダイオード整流回路であり、第2の制御手段との組合せで構成されるようにした。
さらに、整流回路がアバランシェダイオード整流回路であり、第2の制御手段との組合せで構成されるようにした。
さらに、三相交流発電機は三相固定子巻線と界磁巻線を有し、三相固定子巻線の出力電圧の整流回路と整流回路を制御する第1の制御手段と界磁巻線の電流を制御し、出力電圧を所定値にする第2の制御手段を備えるものにおいて、第1の制御手段は、半導体で構成される第1のチップを含む第1の回路基板、第2の制御手段は、半導体で構成される第2のチップを含む第2の回路基板に実装されて、1つのユニット内で構成されるようにした。
さらに、三相交流発電機は三相固定子巻線と界磁巻線を有し、三相固定子巻線の出力電圧の整流回路と整流回路を制御する第1の制御手段と界磁巻線の電流を制御し、出力電圧を所定値にする第2の制御手段を備えるものにおいて、第1の制御手段は、半導体で構成される第1のチップを含む第1のユニット、第2の制御手段は、半導体で構成される第2のチップを含む第2のユニットで構成されるようにした。
上記実施形態により、多用な使用方法において、機能に応じた回路構成を選択的に実装することにより、標準化と低価格化ができる効果がある。
10 車両用充電発電装置
20 三相充電発電機
30 パワーモジュール
31 上アームMOSFET
32 下アームMOSFET
40 発電制御回路
50 整流制御回路
60 バッテリ
70 エンジン制御装置
80 電気負荷
100 制御ユニット
110 ツェナーダイオード整流回路
120 アバランシェダイオード整流回路
130 パワーツェナーダイオード

Claims (14)

  1. 三相固定子巻線と界磁巻線とを有する三相交流発電機の充電発電装置であって、
    前記三相固定子巻線の出力電圧の整流回路と、
    前記整流回路を制御する第1の制御手段と、
    前記界磁巻線の電流を制御し、前記出力電圧を所定値にする第2の制御手段と、を有し、
    前記第1の制御手段は、第1の半導体チップによる回路構成であり、
    前記第2の制御手段は、第2の半導体チップによる回路構成であり、
    前記第1と前記第2の制御手段は同一の回路基板上で構成されている車両用充電発電装置。
  2. 請求項1記載の車両用充電発電装置であって、
    前記整流回路はMOSFET整流回路であり、
    前記第1の制御手段は、前記MOSFETのゲート端子制御と、ロードダンプサージが第1の設定値を超えたとき、前記界磁巻線に直列接続された第1のスイッチ手段をオフし、前記第1のスイッチ手段と並列接続された負荷、または第3のスイッチ手段を介して前記第1のスイッチ手段と並列接続された負荷に、前記界磁電流を通電させる車両用充電発電装置。
  3. 請求項2記載の車両用充電発電装置であって、
    前記負荷はツェナーダイオードである車両用充電発電装置。
  4. 請求項3記載の車両用充電発電装置であって、
    前記ツェナーダイオードのクランプ電圧の設定値は、前記第1の制御手段の最大定格耐電圧と、前記第2の制御手段の最大定格に対して小さく設定されている車両用充電発電装置。
  5. 請求項2記載の車両用充電発電装置であって、
    前記負荷は前記MOSFETである車両用充電発電装置。
  6. 請求項1記載の車両用充電発電装置であって、
    前記第2の制御手段は、前記界磁巻線に直列接続された第2のスイッチ手段による界磁電流の制御と、ロードダンプサージが第2の設定値を超えたとき、前記第2のスイッチ手段をオフし、前記界磁巻線に並列接続されたダイオードに前記界磁電流を通電させる車両用充電発電装置。
  7. 請求項6記載の車両用充電発電装置であって、
    前記第2の設定値に対して前記第1の設定値が小さい車両用充電発電装置。
  8. 請求項1記載の車両用充電発電装置であって、
    前記回路基板上において、前記第1の半導体チップと前記第2の半導体チップが隣接する空間には、放熱用手段が介在されている車両用充電発電装置。
  9. 請求項8記載の車両用充電発電装置であって、
    前記放熱用手段は、それぞれのチップの発熱が互いに影響し合わないように、前記チップの熱伝導率に対して前記放熱用手段の熱伝導率が小さい車両用充電発電装置。
  10. 請求項1記載の車両用充電発電装置であって、
    前記界磁電流の制御は、前記車両用充電発電装置以外の制御装置からの指令値に基づいて制御される車両用充電発電装置。
  11. 請求項1記載の車両用充電発電装置であって、
    前記整流回路はツェナーダイオード整流回路であり、前記第2の制御手段との組合せで構成されている車両用充電発電装置。
  12. 請求項1記載の車両用充電発電装置であって、
    前記整流回路はアバランシェダイオード整流回路であり、前記第2の制御手段との組合せで構成されている車両用充電発電装置。
  13. 三相固定子巻線と界磁巻線とを有する三相交流発電機の充電発電装置であって、
    前記三相固定子巻線の出力電圧の整流回路と、
    前記整流回路を制御する第1の制御手段と、
    前記界磁巻線の電流を制御し、前記出力電圧を所定値にする第2の制御手段と、を有し、
    前記第1の制御手段は、半導体で構成される第1のチップを含む第1の回路基板に、前記第2の制御手段は、前記半導体で構成される第2のチップを含む第2の回路基板に実装され、1つのユニット内で構成される車両用充電発電装置。
  14. 三相固定子巻線と界磁巻線とを有する三相交流発電機の充電発電装置であって、
    前記三相固定子巻線の出力電圧の整流回路と、
    前記整流回路を制御する第1の制御手段と、
    前記界磁巻線の電流を制御し、前記出力電圧を所定値にする第2の制御手段と、を有し、
    前記第1の制御手段は、半導体で構成される第1のチップを含む第1のユニット、第2の制御手段は、前記半導体で構成される第2のチップを含む第2のユニットで構成される車両用充電発電装置。
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