JP2010230317A - 3次元形状計測方法 - Google Patents
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Abstract
【課題】処理の簡素化を図りつつ測定対象物の3次元形状をより高精度に測定する上で有利な3次元形状計測方法を提供する。
【解決手段】第1マーク60Aと第2マーク60Bとで構成された被撮像パターン50を撮像して得た画像データから被撮像パターンが形成された表面の3次元形状を求める。第1マーク60Aと第2マーク60Bとを複数のマークエレメント62に分割する。互いに第1マーク60Aの位置がマークエレメント62の1つ分X方向およびY方向において異なり、かつ、第1マーク60Aの色をR,G,Bとした第1、第2、第3のパターン70、72、74を形成する。第1、第2、第3のパターン70、72、74を重ね合わせる。被撮像パターン50は、3原色のうちの1つの原色を共通に含む色を有してX方向またはY方向に並ぶ3つのマークエレメント62の組み合わせを含んで構成される。
【選択図】図15
【解決手段】第1マーク60Aと第2マーク60Bとで構成された被撮像パターン50を撮像して得た画像データから被撮像パターンが形成された表面の3次元形状を求める。第1マーク60Aと第2マーク60Bとを複数のマークエレメント62に分割する。互いに第1マーク60Aの位置がマークエレメント62の1つ分X方向およびY方向において異なり、かつ、第1マーク60Aの色をR,G,Bとした第1、第2、第3のパターン70、72、74を形成する。第1、第2、第3のパターン70、72、74を重ね合わせる。被撮像パターン50は、3原色のうちの1つの原色を共通に含む色を有してX方向またはY方向に並ぶ3つのマークエレメント62の組み合わせを含んで構成される。
【選択図】図15
Description
本発明は3次元形状計測方法に関する。
従来から、CCDカメラなどの撮像装置により測定対象物を撮像して得た画像データに基づいて測定対象物の3次元形状を測定する方法が種々提案されている。
例えば、予め、CCDカメラの画素の例えば2つ分(2画素分)のピッチを有する白黒のテストパターンを測定対象物の表面に形成しておき、該テストパターンをCCDカメラで撮影し、得られた撮像データからテストパターン位相を解析することで測定対象物の形状や歪を測定する方法が提案されている(特許文献1参照)。
例えば、予め、CCDカメラの画素の例えば2つ分(2画素分)のピッチを有する白黒のテストパターンを測定対象物の表面に形成しておき、該テストパターンをCCDカメラで撮影し、得られた撮像データからテストパターン位相を解析することで測定対象物の形状や歪を測定する方法が提案されている(特許文献1参照)。
しかし、この方法では、画素毎に1つの画像データ、すなわち輝度データを得ることになる。そのため、1画素分のデータに含まれる誤差が測定結果に及ぼす影響が大きなものとなっている。
言い換えると、隣接する測定点での測定結果から単純に形状や歪みを求めるため、測定結果の微妙な誤差が形状や歪の測定結果に大きな影響を与えることがある。
このような誤差の影響を小さくするためには、例えば、複数回の測定結果を解析し、その結果を平均化するなどの複雑な処理が必要であった。しかし、測定精度の向上を図る上では限界があった。
本発明は、このような事情に鑑みてなされたものであり、その目的は、処理の簡素化を図りつつ測定対象物の3次元形状をより高精度に測定する上で有利な3次元形状計測方法を提供することにある。
言い換えると、隣接する測定点での測定結果から単純に形状や歪みを求めるため、測定結果の微妙な誤差が形状や歪の測定結果に大きな影響を与えることがある。
このような誤差の影響を小さくするためには、例えば、複数回の測定結果を解析し、その結果を平均化するなどの複雑な処理が必要であった。しかし、測定精度の向上を図る上では限界があった。
本発明は、このような事情に鑑みてなされたものであり、その目的は、処理の簡素化を図りつつ測定対象物の3次元形状をより高精度に測定する上で有利な3次元形状計測方法を提供することにある。
上記目的を達成するために本発明は、正方形状を呈し互いに色が異なる第1マークと第2マークとが互いに直交するX方向とY方向とに沿って格子状に並べられることで構成される被撮像パターンを測定対象物の表面に形成しておき、前記被撮像パターンを2台の撮像装置によって撮像して得た画像データを演算処理することにより前記被撮像パターンが形成された前記表面の3次元形状を求める3次元形状測定方法であって、複数の第1マークと複数の第2マークとを配置することで矩形状の基本パターンを形成し、前記基本パターンを構成する前記第1マークをX方向およびY方向のそれぞれにおいて3等分することにより9つのマークエレメントに分割し、前記基本パターンを構成する前記第2マークをX方向およびY方向のそれぞれにおいて3等分することにより9つのマークエレメントに分割し、前記第1マークの9つのマークエレメントの色を3原色のうちから選択された第1の原色とすると共に、前記第2マークの9つのマークエレメントの色をBL(黒)とすることで第1のパターンを形成し、前記第1のパターンに対して、前記第1マークおよび前記第2マークを、X方向に1つのマークエレメント分変位させ、かつ、Y方向に1つのマークエレメント分変位させた状態で、前記第1マークの9つのマークエレメントの色を3原色のうち前記第1の原色を除く残り2つの原色から選択された第2の原色とすると共に、前記第2マークの9つのマークエレメントの色をBLとすることで第2のパターンを形成し、前記第2のパターンに対して、前記第1マークおよび前記第2マークを、X方向に1つのマークエレメント分変位させ、かつ、Y方向に1つのマークエレメント分変位させた状態で、前記第1マークの9つのマークエレメントの色を3原色のうちの残り1つの原色である第3の原色とすると共に、前記第2マークの9つのマークエレメントの色をBLとすることで第3のパターンを形成し、前記第1、第2、第3のパターンを重ね合わせることにより、前記第1マークおよび前記第2マークを構成し、それら第1マークおよび第2マークにより前記被撮像パターンを構成したことを特徴とする。
また本発明は、正方形状を呈し互いに色が異なる第1マークと第2マークとが互いに直交するX方向とY方向とに沿って格子状に並べられることで構成される被撮像パターンを測定対象物の表面に形成しておき、前記被撮像パターンを2台の撮像装置によって撮像して得た画像データを演算処理することにより前記被撮像パターンが形成された前記表面の3次元形状を求める3次元形状測定方法であって、複数の第1マークと複数の第2マークとを配置することで矩形状の基本パターンを形成し、前記基本パターンを構成する前記第1マークをX方向およびY方向のそれぞれにおいて2等分することにより4つのマークエレメントに分割し、前記基本パターンを構成する前記第2マークをX方向およびY方向のそれぞれにおいて2等分することにより4つのマークエレメントに分割し、前記第1マークの4つのマークエレメントの色を3原色のうちから選択された第1の原色とすると共に、前記第2マークの4つのマークエレメントの色をBL(黒)とすることで第1のパターンを形成し、前記第1のパターンに対して、前記第1マークおよび前記第2マークを、X方向に1つのマークエレメント分変位させ、かつ、Y方向に1つのマークエレメント分変位させた状態で、前記第1マークの4つのマークエレメントの色を3原色のうち前記第1の原色を除く残り2つの原色から選択された第2の原色とすると共に、前記第2マークの4つのマークエレメントの色をBLとすることで第2のパターンを形成し、前記第1、第2のパターンを重ね合わせることにより、前記第1マークおよび前記第2マークを構成し、それら第1マークおよび第2マークにより前記被撮像パターンを構成したことを特徴とする。
また本発明は、正方形状を呈し互いに色が異なる第1マークと第2マークとが互いに直交するX方向とY方向とに沿って格子状に並べられることで構成される被撮像パターンを測定対象物の表面に形成しておき、前記被撮像パターンを2台の撮像装置によって撮像して得た画像データを演算処理することにより前記被撮像パターンが形成された前記表面の3次元形状を求める3次元形状測定方法であって、複数の第1マークと複数の第2マークとを配置することで矩形状の基本パターンを形成し、前記基本パターンを構成する前記第1マークをX方向およびY方向のそれぞれにおいて2等分することにより4つのマークエレメントに分割し、前記基本パターンを構成する前記第2マークをX方向およびY方向のそれぞれにおいて2等分することにより4つのマークエレメントに分割し、前記第1マークの4つのマークエレメントの色を3原色のうちから選択された第1の原色とすると共に、前記第2マークの4つのマークエレメントの色をBL(黒)とすることで第1のパターンを形成し、前記第1のパターンに対して、前記第1マークおよび前記第2マークを、X方向に1つのマークエレメント分変位させ、かつ、Y方向に1つのマークエレメント分変位させた状態で、前記第1マークの4つのマークエレメントの色を3原色のうち前記第1の原色を除く残り2つの原色から選択された第2の原色とすると共に、前記第2マークの4つのマークエレメントの色をBLとすることで第2のパターンを形成し、前記第1、第2のパターンを重ね合わせることにより、前記第1マークおよび前記第2マークを構成し、それら第1マークおよび第2マークにより前記被撮像パターンを構成したことを特徴とする。
本発明によれば、処理の簡素化を図りつつ測定精度の向上を図る上で有利となり、また、3次元座標の情報をより多く得られることから測定対象物の3次元形状をより高精度に測定する上で有利となる。
(第1の実施の形態)
次に、本発明の実施の形態による3次元形状の測定方法について図面を参照して説明する。
なお、本実施の形態では、本発明を自動車のタイヤ形状測定に適用した場合について説明する。
以下では、タイヤ形状の測定方法を行うための測定システムとその動作について説明し、次いで、本発明方法について詳細に説明することにする。また、本明細書において、形状の測定は、歪の測定も含むものとする。
次に、本発明の実施の形態による3次元形状の測定方法について図面を参照して説明する。
なお、本実施の形態では、本発明を自動車のタイヤ形状測定に適用した場合について説明する。
以下では、タイヤ形状の測定方法を行うための測定システムとその動作について説明し、次いで、本発明方法について詳細に説明することにする。また、本明細書において、形状の測定は、歪の測定も含むものとする。
(測定システム10)
図1は本発明が適用されたタイヤ形状の測定システムの構成図である。
測定システム10は、回転ドラム12、モータ14、モータ制御部16、ライト18、第1の撮像装置20A、第2の撮像装置20B、トリガーセンサ22、パーソナルコンピュータ24などを含んで構成されている。
図1は本発明が適用されたタイヤ形状の測定システムの構成図である。
測定システム10は、回転ドラム12、モータ14、モータ制御部16、ライト18、第1の撮像装置20A、第2の撮像装置20B、トリガーセンサ22、パーソナルコンピュータ24などを含んで構成されている。
回転ドラム12は測定対象となるタイヤ2を回転させるためのものである。
回転ドラム12は、円筒状の外周面12Aを有する筒状を呈し、その中心軸を中心に不図示の軸受け機構により回転可能に支持されており、モータ14の駆動力によって前記中心軸を中心にして回転される。
測定対象となるタイヤ2は、その中心軸を回転ドラム12の中心軸と平行させた状態で不図示の軸受け機構により回転可能に支持されており、タイヤ2のトレッド部2Aが接地する外周面202が回転ドラム12の外周面12Aに当接された状態で回転ドラム12が回転されることにより、タイヤ2が回転ドラム12の回転に追従して回転されるように構成されている。
モータ制御部16は、モータ14の回転速度を調整するものである。
回転ドラム12は、円筒状の外周面12Aを有する筒状を呈し、その中心軸を中心に不図示の軸受け機構により回転可能に支持されており、モータ14の駆動力によって前記中心軸を中心にして回転される。
測定対象となるタイヤ2は、その中心軸を回転ドラム12の中心軸と平行させた状態で不図示の軸受け機構により回転可能に支持されており、タイヤ2のトレッド部2Aが接地する外周面202が回転ドラム12の外周面12Aに当接された状態で回転ドラム12が回転されることにより、タイヤ2が回転ドラム12の回転に追従して回転されるように構成されている。
モータ制御部16は、モータ14の回転速度を調整するものである。
ライト18は、タイヤ2のトレッド部2Aに対して撮影用の光を照射するものである。
ライト18としては、ハロゲンランプなど従来公知のさまざまなランプが採用可能である。
第1の撮像装置20A、第2の撮像装置20Bは、パーソナルコンピュータ24の制御により、後述するタイヤ2のトレッド部2Aの外周面202に設けられた被撮像パターン50を撮影すると共に、撮影した画像データをパーソナルコンピュータ24に供給するものである。
第1、第2の撮像装置20A、20Bは互いに異なる位置に設けられている。
これら第1、第2の撮像装置20A、20Bとしては、CCDカメラなど従来公知のさまざまな撮像装置が採用可能である。
トリガーセンサ22は、被撮像パターン50の回転位置が第1、第2の撮像装置20A、20Bによって撮影可能な箇所に到達したことをパーソナルコンピュータ24に知らせるためのものである。
トリガーセンサ22は、予めタイヤ2のリム部2Bに形成されたマーク4を検出することで生成したトリガー信号を第1、第2の撮像装置20A、20Bに供給することでトレッド部2Aの回転位置を第1、第2の撮像装置20A、20Bを介してパーソナルコンピュータ24に知らせる。
トリガーセンサ22としては反射型光電センサなどの従来公知のさまざまな位置検出用センサが採用可能である。
ライト18としては、ハロゲンランプなど従来公知のさまざまなランプが採用可能である。
第1の撮像装置20A、第2の撮像装置20Bは、パーソナルコンピュータ24の制御により、後述するタイヤ2のトレッド部2Aの外周面202に設けられた被撮像パターン50を撮影すると共に、撮影した画像データをパーソナルコンピュータ24に供給するものである。
第1、第2の撮像装置20A、20Bは互いに異なる位置に設けられている。
これら第1、第2の撮像装置20A、20Bとしては、CCDカメラなど従来公知のさまざまな撮像装置が採用可能である。
トリガーセンサ22は、被撮像パターン50の回転位置が第1、第2の撮像装置20A、20Bによって撮影可能な箇所に到達したことをパーソナルコンピュータ24に知らせるためのものである。
トリガーセンサ22は、予めタイヤ2のリム部2Bに形成されたマーク4を検出することで生成したトリガー信号を第1、第2の撮像装置20A、20Bに供給することでトレッド部2Aの回転位置を第1、第2の撮像装置20A、20Bを介してパーソナルコンピュータ24に知らせる。
トリガーセンサ22としては反射型光電センサなどの従来公知のさまざまな位置検出用センサが採用可能である。
図2はパーソナルコンピュータ24の構成を示すブロック図である。
パーソナルコンピュータ24は、CPU26と、不図示のインターフェース回路およびバスラインを介して接続されたROM28、RAM30、ハードディスク装置32、ディスク装置34、キーボード36、マウス38、ディスプレイ40、プリンタ42、入出力インターフェース44などを有している。
ROM28は制御プログラムなどを格納し、RAM30はワーキングエリアを提供するものである。
ハードディスク装置32は本発明方法を実現するためのプログラムを格納している。
ディスク装置34はCDやDVDなどの記録媒体に対してデータの記録および/または再生を行うものである。
キーボード36およびマウス38は、操作者による操作入力を受け付けるものである。
ディスプレイ40はデータを表示出力するものであり、プリンタ42はデータを印刷出力するものであり、ディスプレイ40およびプリンタ42によってデータを出力する。
入出力インターフェース44は、外部機器である第1、第2の撮像装置20A、20Bとの間でデータの授受を行うものであり、具体的には、第1、第2の撮像装置20A、20Bからの画像データの受付などを行う。
パーソナルコンピュータ24は、CPU26と、不図示のインターフェース回路およびバスラインを介して接続されたROM28、RAM30、ハードディスク装置32、ディスク装置34、キーボード36、マウス38、ディスプレイ40、プリンタ42、入出力インターフェース44などを有している。
ROM28は制御プログラムなどを格納し、RAM30はワーキングエリアを提供するものである。
ハードディスク装置32は本発明方法を実現するためのプログラムを格納している。
ディスク装置34はCDやDVDなどの記録媒体に対してデータの記録および/または再生を行うものである。
キーボード36およびマウス38は、操作者による操作入力を受け付けるものである。
ディスプレイ40はデータを表示出力するものであり、プリンタ42はデータを印刷出力するものであり、ディスプレイ40およびプリンタ42によってデータを出力する。
入出力インターフェース44は、外部機器である第1、第2の撮像装置20A、20Bとの間でデータの授受を行うものであり、具体的には、第1、第2の撮像装置20A、20Bからの画像データの受付などを行う。
図3はパーソナルコンピュータ24の機能ブロック図である。
パーソナルコンピュータ24は、機能的には、入力手段24A、処理手段24B、出力手段24Cを含んで構成されている。
入力手段24Aは、タイヤ2の形状を測定するために必要なデータを入力するものであり、それらデータについては後述する。
処理手段24Bは、入力手段24Aによって入力されたデータに基づいてタイヤ2の形状を示す3次元座標データ(3次元空間座標データ)を生成するものであり、ハードディスク装置32に格納されているプログラムがRAM30にロードされ、CPU26が前記プログラムに基づいて動作することで実現される。
出力手段24Cは、処理手段24Bによる処理結果から構成されるタイヤ2の形状を示す測定データを出力するものである。
本実施の形態では、CPU26、キーボード36、マウス38、ディスク装置34、入出力インターフェース44によって入力手段24Aが構成され、CPU26によって処理手段24Bが構成され、CPU26、ディスプレイ40、プリンタ42、ディスク装置34、入出力インターフェース44などによって出力手段24Cが構成されている。
パーソナルコンピュータ24は、機能的には、入力手段24A、処理手段24B、出力手段24Cを含んで構成されている。
入力手段24Aは、タイヤ2の形状を測定するために必要なデータを入力するものであり、それらデータについては後述する。
処理手段24Bは、入力手段24Aによって入力されたデータに基づいてタイヤ2の形状を示す3次元座標データ(3次元空間座標データ)を生成するものであり、ハードディスク装置32に格納されているプログラムがRAM30にロードされ、CPU26が前記プログラムに基づいて動作することで実現される。
出力手段24Cは、処理手段24Bによる処理結果から構成されるタイヤ2の形状を示す測定データを出力するものである。
本実施の形態では、CPU26、キーボード36、マウス38、ディスク装置34、入出力インターフェース44によって入力手段24Aが構成され、CPU26によって処理手段24Bが構成され、CPU26、ディスプレイ40、プリンタ42、ディスク装置34、入出力インターフェース44などによって出力手段24Cが構成されている。
(形状の測定原理)
次に、タイヤ2のトレッド部2Aに設けた被撮像パターン50を用いたタイヤ形状の測定原理について説明する。
被撮像パターン50は、図1に示すように、予めタイヤ2のトレッド部2Aの外周面202に形成されるものであり、後で詳細に説明する。
なお、互いに異なる位置に配置された2台の撮像装置で撮影した画像データに基づいて測定対象物の3次元座標を得る手法は種々提案されており、それらの手法を適宜採用すればよい。
例えば、互いに直交するX方向とY方向に沿って延在する直線が格子状に並べられた被撮像パターン(格子パターン)を測定対象物に形成し、格子パターンの画像データから3次元座標データを生成する演算処理(デジタル画像解析法)の手法としては、次に挙げる手法が採用可能である。
なお、このような被撮像パターン(格子パターン)は、例えば、白色の地に黒色の直線を形成するといったように2色(白黒)の組み合わせによって構成されている。したがって、2台の撮像装置によって撮像された被撮像パターンの画像データは、色データを含まない輝度データのみで構成されるものとなっている。
1)位相シフトモアレ法
文献(第4回知能メカトロニクスワークショップ講演論文集p.102-105(1999))に記載されている手法である。
位相シフトモアレ法は、2台のCCDカメラで得られた測定物体の画像と、画像上に作ったある一定の周期を持つ基準格子から画像の格子の位相分布を求める方法である。
2)フーリエ変換格子法
文献(「フーリエ変換を用いた応力・歪み分布測定」:非破壊検査第44巻第7号(1995年)」に記載されている手法であり、画像の輝度をフーリエ変換し、画像の格子の位相を求める方法である。
このようにして画像の位相分布が求まることにより、その位相がちょうどπや2πの時の画面上の位置が正確に求めることが出来る。そして、測定対象物の格子パターンを2台の撮像装置によって撮影して画像をそれぞれ求める。そして、3次元空間内のある点S(格子パターン上の点S)に対応する各撮像装置で撮影した画像内の座標値と各撮像装置の空間座標から直線lL、lRを求める。2つの直線lL、lRの交点を計算することで点Sの空間座標を得るものである。)
次に、タイヤ2のトレッド部2Aに設けた被撮像パターン50を用いたタイヤ形状の測定原理について説明する。
被撮像パターン50は、図1に示すように、予めタイヤ2のトレッド部2Aの外周面202に形成されるものであり、後で詳細に説明する。
なお、互いに異なる位置に配置された2台の撮像装置で撮影した画像データに基づいて測定対象物の3次元座標を得る手法は種々提案されており、それらの手法を適宜採用すればよい。
例えば、互いに直交するX方向とY方向に沿って延在する直線が格子状に並べられた被撮像パターン(格子パターン)を測定対象物に形成し、格子パターンの画像データから3次元座標データを生成する演算処理(デジタル画像解析法)の手法としては、次に挙げる手法が採用可能である。
なお、このような被撮像パターン(格子パターン)は、例えば、白色の地に黒色の直線を形成するといったように2色(白黒)の組み合わせによって構成されている。したがって、2台の撮像装置によって撮像された被撮像パターンの画像データは、色データを含まない輝度データのみで構成されるものとなっている。
1)位相シフトモアレ法
文献(第4回知能メカトロニクスワークショップ講演論文集p.102-105(1999))に記載されている手法である。
位相シフトモアレ法は、2台のCCDカメラで得られた測定物体の画像と、画像上に作ったある一定の周期を持つ基準格子から画像の格子の位相分布を求める方法である。
2)フーリエ変換格子法
文献(「フーリエ変換を用いた応力・歪み分布測定」:非破壊検査第44巻第7号(1995年)」に記載されている手法であり、画像の輝度をフーリエ変換し、画像の格子の位相を求める方法である。
このようにして画像の位相分布が求まることにより、その位相がちょうどπや2πの時の画面上の位置が正確に求めることが出来る。そして、測定対象物の格子パターンを2台の撮像装置によって撮影して画像をそれぞれ求める。そして、3次元空間内のある点S(格子パターン上の点S)に対応する各撮像装置で撮影した画像内の座標値と各撮像装置の空間座標から直線lL、lRを求める。2つの直線lL、lRの交点を計算することで点Sの空間座標を得るものである。)
図4は撮像装置の校正データを得る方法の説明図、図5(A)、(B)は各撮像装置で撮影された画像データの説明図、図6は校正を行うための構成を示す説明図である。
図4に示すように、第1、第2の撮像装置20A、20Bによって撮影可能な箇所に、その表示面が位置するように校正板を配置する。
図6に示すように、校正板100の表示面には、規則性をもって繰り返される形状で構成された校正用規則性パターン50´が形成されている。
校正板100は、その表示面が第1、第2の撮像装置20A、20Bと離間接近する方向(Z方向)に沿って移動するように、リニアステージ62を介してベース64上に設けられている。
図4、図5(A)、(B)に示すように、第1、第2の撮像装置20A、20Bによって校正用規則性パターン50´を撮影すると、校正用規則性パターン50´上に位置する3次元座標の点Sは、第1の撮像装置20Aによって撮影された画像上の2次元座標の点SL(iL、jL)に対応し、また、第2の撮像装置20Bによって撮影された画像上の2次元座標の点SR(iR、jR)に対応することになる。
言い換えると、2次元座標の点SL(iL、jL)、点SR(iR、jR)は、第1、第2の撮像装置20A、20Bの撮像素子(CCD)の画素位置に相当する。
ここで、図6に示すように、校正板100をZ方向における距離を変えつつ、第1、第2の撮像装置20A、20Bにおける画素位置を得る。言い換えると、校正板100(校正用規則性パターン50´)のZ方向における位置RをR0、R1と異ならせると共に、各位置R0、R1において校正用規則性パターン50´上の点Sをそれぞれ撮影して2次元座標の点SL=M0、M1、点SR=N0、N1を得る。
このようにZ方向の位置をZ0、Z1に変えて、校正用規則性パターン50´上の全ての点Sの撮影を行い、それら点Sに対応する2次元座標の点SL、点SRを得ることにより、2次元座標の点SL、点SRと3次元座標の点Sとの関連付けを行うことができる。
このような校正用規則性パターン50´上の点Sと第1、第2の撮像装置20A、20Bで撮影された画像における2次元座標の点SL、点SRとを関連付けたデータを本明細書では校正データという。
フーリエ変換格子法、位相シフトモアレ法は、共に校正データと測定物体画像の解析結果とを対比することで3次元座標を求める。
図4に示すように、第1、第2の撮像装置20A、20Bによって撮影可能な箇所に、その表示面が位置するように校正板を配置する。
図6に示すように、校正板100の表示面には、規則性をもって繰り返される形状で構成された校正用規則性パターン50´が形成されている。
校正板100は、その表示面が第1、第2の撮像装置20A、20Bと離間接近する方向(Z方向)に沿って移動するように、リニアステージ62を介してベース64上に設けられている。
図4、図5(A)、(B)に示すように、第1、第2の撮像装置20A、20Bによって校正用規則性パターン50´を撮影すると、校正用規則性パターン50´上に位置する3次元座標の点Sは、第1の撮像装置20Aによって撮影された画像上の2次元座標の点SL(iL、jL)に対応し、また、第2の撮像装置20Bによって撮影された画像上の2次元座標の点SR(iR、jR)に対応することになる。
言い換えると、2次元座標の点SL(iL、jL)、点SR(iR、jR)は、第1、第2の撮像装置20A、20Bの撮像素子(CCD)の画素位置に相当する。
ここで、図6に示すように、校正板100をZ方向における距離を変えつつ、第1、第2の撮像装置20A、20Bにおける画素位置を得る。言い換えると、校正板100(校正用規則性パターン50´)のZ方向における位置RをR0、R1と異ならせると共に、各位置R0、R1において校正用規則性パターン50´上の点Sをそれぞれ撮影して2次元座標の点SL=M0、M1、点SR=N0、N1を得る。
このようにZ方向の位置をZ0、Z1に変えて、校正用規則性パターン50´上の全ての点Sの撮影を行い、それら点Sに対応する2次元座標の点SL、点SRを得ることにより、2次元座標の点SL、点SRと3次元座標の点Sとの関連付けを行うことができる。
このような校正用規則性パターン50´上の点Sと第1、第2の撮像装置20A、20Bで撮影された画像における2次元座標の点SL、点SRとを関連付けたデータを本明細書では校正データという。
フーリエ変換格子法、位相シフトモアレ法は、共に校正データと測定物体画像の解析結果とを対比することで3次元座標を求める。
なお、タイヤ2に対する被撮像パターン50の形成は次のように行うことができる。
すなわち、図1に示すように、可撓性を有する薄板状のシート体52の表面に被撮像パターン50が形成されることでパターンシート54が構成される。
シート体52を構成する材料としては、可撓性と弾性に優れた材料であればよく、ゴムなどの弾性材料が採用可能であり、シート体52の厚さは、例えば、0.1mm〜0.5mm程度である。
被撮像パターン50の形成は、例えば、パターンシート54の表面に塗料を印刷することでなされる。
そして、パターンシート54の表面と反対側に位置する裏面をタイヤ2のトレッド部2Aの外周面202に接着剤により接着して貼り付けることによって、トレッド部2Aの外周面202に被撮像パターン50が形成される。
なお、上述のように被撮像パターン50を形成したパターンシート54をトレッド部2Aの外周面202に貼り付ける代わりに、被撮像パターン50をトレッド部2Aの外周面202に直接形成してもよいことは無論である。
ただし、パターンシート54を用いた場合には、パターンシート54をトレッド部2Aに貼り付けるという極めて簡単な作業で被撮像パターン50を形成することができ、タイヤ形状の測定時の作業性の向上を図る上で有利である。
すなわち、図1に示すように、可撓性を有する薄板状のシート体52の表面に被撮像パターン50が形成されることでパターンシート54が構成される。
シート体52を構成する材料としては、可撓性と弾性に優れた材料であればよく、ゴムなどの弾性材料が採用可能であり、シート体52の厚さは、例えば、0.1mm〜0.5mm程度である。
被撮像パターン50の形成は、例えば、パターンシート54の表面に塗料を印刷することでなされる。
そして、パターンシート54の表面と反対側に位置する裏面をタイヤ2のトレッド部2Aの外周面202に接着剤により接着して貼り付けることによって、トレッド部2Aの外周面202に被撮像パターン50が形成される。
なお、上述のように被撮像パターン50を形成したパターンシート54をトレッド部2Aの外周面202に貼り付ける代わりに、被撮像パターン50をトレッド部2Aの外周面202に直接形成してもよいことは無論である。
ただし、パターンシート54を用いた場合には、パターンシート54をトレッド部2Aに貼り付けるという極めて簡単な作業で被撮像パターン50を形成することができ、タイヤ形状の測定時の作業性の向上を図る上で有利である。
(測定手順)
次に、図7に示すタイヤ形状の測定方法の手順を示すフローチャートを参照して測定動作について説明する。
まず、測定対象となるタイヤ2のトレッド部2Aの外周面202にパターンシート54を接着することで被撮像パターン50を形成する(ステップS10)。
次に、図7に示すタイヤ形状の測定方法の手順を示すフローチャートを参照して測定動作について説明する。
まず、測定対象となるタイヤ2のトレッド部2Aの外周面202にパターンシート54を接着することで被撮像パターン50を形成する(ステップS10)。
次にコンピュータ24を用いて校正データD0を生成する。
すなわち、第1、第2の撮像装置20A、20Bにより校正用規則性パターン50´を撮影することにより入力手段24Aを介して第1、第2の画像データD1、D2が処理手段24Bに供給されると、処理手段24Bは、それら第1、第2の画像データD1、D2に基づいて校正データD0を生成する(ステップS12)。
校正データD0は、ハードディスク装置32などの記憶手段にいったん格納される。
すなわち、第1、第2の撮像装置20A、20Bにより校正用規則性パターン50´を撮影することにより入力手段24Aを介して第1、第2の画像データD1、D2が処理手段24Bに供給されると、処理手段24Bは、それら第1、第2の画像データD1、D2に基づいて校正データD0を生成する(ステップS12)。
校正データD0は、ハードディスク装置32などの記憶手段にいったん格納される。
次に、タイヤ2を前記軸受け部にセットし、タイヤ2のトレッド部2Aが回転ドラム12の外周面12Aに追従してタイヤ2が回転できる状態とする(ステップS14)。
そして、モータ制御部16を介してモータ14を起動させ、タイヤ2が所望の回転速度で回転するように制御する。
トリガーセンサ22のトリガー信号により第1、第2の撮像装置20A、20Bが撮影動作を実行して被撮像パターン50を撮影することで、処理手段24Bは第1の画像データD1、第2の画像データD2を入力手段24Aを介して取得する(ステップS16)。
そして、モータ制御部16を介してモータ14を起動させ、タイヤ2が所望の回転速度で回転するように制御する。
トリガーセンサ22のトリガー信号により第1、第2の撮像装置20A、20Bが撮影動作を実行して被撮像パターン50を撮影することで、処理手段24Bは第1の画像データD1、第2の画像データD2を入力手段24Aを介して取得する(ステップS16)。
次いで、処理手段24Bは、第1の画像データD1、第2の画像データD2、校正データD0に基づいて演算処理を行い(ステップS18)、被撮像パターン50の3次元座標データD10を生成し、3次元座標データD10を出力手段24Cを介して出力する(ステップS20)。
なお、タイヤ2のトレッド部2Aの形状の検証に際しては、いったん、ステップS14の後で、すなわち、タイヤ2を回転させる前に3次元座標データD10を取得しておく。そして、タイヤ2の回転前の3次元座標データD10と、ステップS20で得られたタイヤ2の回転時の3次元座標データD10とを比較することにより、タイヤ2のトレッド部2Aの形状変化、表面歪などを検証する。
なお、タイヤ2のトレッド部2Aの形状の検証に際しては、いったん、ステップS14の後で、すなわち、タイヤ2を回転させる前に3次元座標データD10を取得しておく。そして、タイヤ2の回転前の3次元座標データD10と、ステップS20で得られたタイヤ2の回転時の3次元座標データD10とを比較することにより、タイヤ2のトレッド部2Aの形状変化、表面歪などを検証する。
(被撮像パターン50)
次に本発明の要旨である被撮像パターン50について詳細に説明する。
上述したように従来方法では、被撮像パターン(格子パターン)は2色(白黒)の組み合わせによって構成され、撮像装置によって撮像された被撮像パターンの画像データは、色データを含まない輝度データのみで構成されるものとなっている。
これに対して本発明は、被撮像パターンを、白黒に加えて、3原色および3原色を混色して得た色を用いて構成した点が従来方法と異なるものである。
次に本発明の要旨である被撮像パターン50について詳細に説明する。
上述したように従来方法では、被撮像パターン(格子パターン)は2色(白黒)の組み合わせによって構成され、撮像装置によって撮像された被撮像パターンの画像データは、色データを含まない輝度データのみで構成されるものとなっている。
これに対して本発明は、被撮像パターンを、白黒に加えて、3原色および3原色を混色して得た色を用いて構成した点が従来方法と異なるものである。
まず、従来方法における被撮像パターンについて説明する。
図8は従来方法における被撮像パターンと、該パターンを撮像素子で撮像して得られた撮像情報(輝度)との関係を示す図、図9は被撮像パターンから求められる3次元座標を示す図である。
なお、以下では理解を容易とするために、被撮像パターンが直線状に並べられて構成されているものとして、言い換えると、被撮像パターンが1次元上に(例えばX座標と平行に)配置されているものとして簡単に説明する。
図8は従来方法における被撮像パターンと、該パターンを撮像素子で撮像して得られた撮像情報(輝度)との関係を示す図、図9は被撮像パターンから求められる3次元座標を示す図である。
なお、以下では理解を容易とするために、被撮像パターンが直線状に並べられて構成されているものとして、言い換えると、被撮像パターンが1次元上に(例えばX座標と平行に)配置されているものとして簡単に説明する。
図8に示すように、従来の被撮像パターン90は、同一の大きさの正方形からなる白マーク90Aと黒マーク90Bとが交互に直線状に並べられて構成され、本例では、白マーク90Aの中心の座標値(座標位置)を求めるものとする。
本例では、白マーク90Aと黒マーク90Bの合計5つのマークに対して8つの画素(画素1〜画素8)が対応している。
被撮像パターン90が画素1〜画素8によって撮像されることにより、各画素に対応して図8において○の記号で示す値の輝度(画像データ)が出力される。
そして、各画素に対応する輝度の値を位相解析することにより、図中実線で示すように座標値に対応した輝度の分布を得る。
そして、上記輝度のピーク値(以下最大値という)に対応する座標値を演算することにより、3つの白マーク90Aの座標値(画素の配列位置)が求められることになる。
座標値を画素単位で示すと、図中左から右に向かって配置された3つの白マーク90Aの座標値はそれぞれ1.25画素、4.47画素、7.65画素となる。
実際には、被撮像パターン90は互いに直交するX方向およびY方向に沿って格子状に(2次元に)配列されている。
そして、前述した従来公知の方法に基づいて、図9に示すように、各白マーク90Aの3次元座標(X座標値、Y座標値、Z座標値)が求められることになる。
なお、図9において符号L1、L2は、X座標における隣接する白マーク90Aの中心間の間隔を示す。
このような従来の被撮像パターン90を用いる方法では、画素毎に1つの画像データ、すなわち輝度データを得ることになる。そのため、1画素分のデータに含まれる誤差が測定結果に及ぼす影響が大きなものとなっている。
本例では、白マーク90Aと黒マーク90Bの合計5つのマークに対して8つの画素(画素1〜画素8)が対応している。
被撮像パターン90が画素1〜画素8によって撮像されることにより、各画素に対応して図8において○の記号で示す値の輝度(画像データ)が出力される。
そして、各画素に対応する輝度の値を位相解析することにより、図中実線で示すように座標値に対応した輝度の分布を得る。
そして、上記輝度のピーク値(以下最大値という)に対応する座標値を演算することにより、3つの白マーク90Aの座標値(画素の配列位置)が求められることになる。
座標値を画素単位で示すと、図中左から右に向かって配置された3つの白マーク90Aの座標値はそれぞれ1.25画素、4.47画素、7.65画素となる。
実際には、被撮像パターン90は互いに直交するX方向およびY方向に沿って格子状に(2次元に)配列されている。
そして、前述した従来公知の方法に基づいて、図9に示すように、各白マーク90Aの3次元座標(X座標値、Y座標値、Z座標値)が求められることになる。
なお、図9において符号L1、L2は、X座標における隣接する白マーク90Aの中心間の間隔を示す。
このような従来の被撮像パターン90を用いる方法では、画素毎に1つの画像データ、すなわち輝度データを得ることになる。そのため、1画素分のデータに含まれる誤差が測定結果に及ぼす影響が大きなものとなっている。
そこで、本発明では、次のような方法によって新たな被撮像パターン50を作成している。
図10は本実施の形態による被撮像パターン50の作成手順を模式的に示す説明図であり、(A)は基本パターン60の説明図、(B)は第1のパターン70の説明図、(C)は第2のパターン72の説明図、(D)は第3のパターン74の説明図、(E)は被撮像パターン50の説明図である。
図10(A)に示すように、正方形状を呈し互いに色が異なる第1マーク60Aと第2マーク60Bとを交互にX方向に並べる(X座標と平行に並べる)ことで基本パターン60を形成する。言い換えると、2つの第1マーク60Aが隣り合わず、かつ、2つの第2マーク60Bが隣り合わないように配置することで基本パターン60を形成する。
図10は本実施の形態による被撮像パターン50の作成手順を模式的に示す説明図であり、(A)は基本パターン60の説明図、(B)は第1のパターン70の説明図、(C)は第2のパターン72の説明図、(D)は第3のパターン74の説明図、(E)は被撮像パターン50の説明図である。
図10(A)に示すように、正方形状を呈し互いに色が異なる第1マーク60Aと第2マーク60Bとを交互にX方向に並べる(X座標と平行に並べる)ことで基本パターン60を形成する。言い換えると、2つの第1マーク60Aが隣り合わず、かつ、2つの第2マーク60Bが隣り合わないように配置することで基本パターン60を形成する。
次に、基本パターン60を構成する第1マーク60AをX方向において3等分することにより3つのマークエレメント62に分割し、基本パターン60を構成する第2マーク60BをX方向において3等分することにより3つのマークエレメント62に分割する。
なお、本明細書においては色について以下のように符号を用いて表記する。
R:赤、G:緑、B:青、C:シアン、M:マゼンタ、Y:黄、BL:黒、W:白
なお、本明細書においては色について以下のように符号を用いて表記する。
R:赤、G:緑、B:青、C:シアン、M:マゼンタ、Y:黄、BL:黒、W:白
図10(B)に示すように、第1マーク60Aの3つのマークエレメント62の色をR、G、Bの3原色のうちから選択された第1の原色であるRとすると共に、第2マーク60Bの3つのマークエレメント62の色をBLとすることで第1のパターン70を形成する。
図10(C)に示すように、第1のパターン70に対して、第1マーク60Aおよび第2マーク60Bを、X方向に1つのマークエレメント62分変位させた状態で、第1マーク60Aの3つのマークエレメント62の色を3原色のうち第1の原色Rを除く残り2つの原色G、Bから選択された第2の原色であるGとすると共に、第2マーク60Bの3つのマークエレメント62の色をBLとすることで第2のパターン72を形成する。
図10(D)に示すように、第2のパターン72に対して、第1マーク60Aおよび第2マーク60Bを、X方向に1つのマークエレメント62分変位させた状態で、第1マーク60Aの3つのマークエレメント62の色を3原色のうちの残り1つの原色である第3の原色であるBとすると共に、第2マーク60Bの3つのマークエレメント62の色をBLとすることで第3のパターン74を形成する。
図10(E)に示すように、第1、第2、第3のパターン70、72、74を重ね合わせることにより第1マーク60Aおよび第2マーク60Bを構成する。
そして、これら第1マーク60Aおよび第2マーク60Bにより被撮像パターン50が構成される。
すなわち、第1、第2、第3のパターン70、72、74を重ね合わせることにより構成された第1マーク60Aは、第1マーク60Aの3つのマークエレメント62が3色の色R、Y、Wで表現されている。
また、第1マーク60Aの3つのマークエレメント62は隣り合うマークエレメント62の色が互いに異なるように配置されている。
また、第1、第2、第3のパターン70、72、74を重ね合わせることにより構成された第2マーク60Bは、第2マーク60Bの3つのマークエレメント62が第1マーク60Aの3つのマークエレメント62の3色と異なる3色の色C、B、BLで表現されている。
また、第2マーク60Bの3つのマークエレメント62は隣り合うマークエレメント62の色が互いに異なるように配置されている。
したがって、第1マーク60Aの3つのマークエレメント62の3色と、第2マーク60Bの3つのマークエレメント62の3色との合計6色は互いに色が異なる。
そして、これら第1マーク60Aおよび第2マーク60Bにより被撮像パターン50が構成される。
すなわち、第1、第2、第3のパターン70、72、74を重ね合わせることにより構成された第1マーク60Aは、第1マーク60Aの3つのマークエレメント62が3色の色R、Y、Wで表現されている。
また、第1マーク60Aの3つのマークエレメント62は隣り合うマークエレメント62の色が互いに異なるように配置されている。
また、第1、第2、第3のパターン70、72、74を重ね合わせることにより構成された第2マーク60Bは、第2マーク60Bの3つのマークエレメント62が第1マーク60Aの3つのマークエレメント62の3色と異なる3色の色C、B、BLで表現されている。
また、第2マーク60Bの3つのマークエレメント62は隣り合うマークエレメント62の色が互いに異なるように配置されている。
したがって、第1マーク60Aの3つのマークエレメント62の3色と、第2マーク60Bの3つのマークエレメント62の3色との合計6色は互いに色が異なる。
ここで、第1、第2、第3のパターン70、72、74を重ね合わせることにより上述した互いに異なる6色のマークエレメント62が形成されることについて詳細に説明する。
図11は、R、G、Bの3原色の混色の説明図である。
図11に示すように、RとGを混色することによりYが形成され、RとBを混色することによりMが形成され、GとBを混色することによりCが形成される。また、R、G、Bを混色することによりWが形成され、BLとBLが混色されることでBLが形成される。
図11は、R、G、Bの3原色の混色の説明図である。
図11に示すように、RとGを混色することによりYが形成され、RとBを混色することによりMが形成され、GとBを混色することによりCが形成される。また、R、G、Bを混色することによりWが形成され、BLとBLが混色されることでBLが形成される。
ここで、各色を表現する色データについて説明する。
各色を表現する色データは、R、G、Bの3原色のそれぞれの階調を例えば8ビット(0〜255の256段階)によって下記のように表現される。なお、(1)〜(6)図10(E)の各エレメント62の色に対応している。
R(255,0,0):(1)
G(0,255,0)
B(0,0,255):(5)
C(0,255,255):(4)
M(255,0,255)
Y(255,255,0):(2)
W(255,255,255):(3)
BL(0,0,0):(6)
各色を表現する色データは、R、G、Bの3原色のそれぞれの階調を例えば8ビット(0〜255の256段階)によって下記のように表現される。なお、(1)〜(6)図10(E)の各エレメント62の色に対応している。
R(255,0,0):(1)
G(0,255,0)
B(0,0,255):(5)
C(0,255,255):(4)
M(255,0,255)
Y(255,255,0):(2)
W(255,255,255):(3)
BL(0,0,0):(6)
すなわち、上述の色データを表現するR、G、Bの階調から明らかなようにR、M、Y、Wの4色はRの階調が含まれた色である。
また、G、C、Y、Wの4色はGの階調が含まれた色である。
また、B、C、M、Wの4色はBの階調が含まれた色である。
また、BLはR、G、Bの階調を含まない色である。
また、G、C、Y、Wの4色はGの階調が含まれた色である。
また、B、C、M、Wの4色はBの階調が含まれた色である。
また、BLはR、G、Bの階調を含まない色である。
図12(A)は従来方法における被撮像パターン90と、該パターン90を撮像素子で撮像して得られた撮像情報(輝度)との関係を示す図、(B)は本発明方法における被撮像パターン50と、該被撮像パターン50を撮像素子で撮像して得られた撮像情報(輝度)との関係を示す図である。
図13(A)は従来方法における被撮像パターン90から求められる3次元座標を示す図、(B)は、本発明方法における被撮像パターン50から求められる3次元座標を示す図である。
なお、撮像素子は、カラー画像の撮像が可能であり、したがって、R、G、Bの3原色のそれぞれの輝度(すなわちR、G、Bの階調)が出力されるように構成されている。
図12(B)に示すように、被撮像パターン50が画素1〜画素8によって撮像されることにより、各画素に対応して、○の記号で示すRの輝度と、□の記号で示すGの輝度と、△の記号で示すBの輝度とが出力される。
R、G、Bの3色のそれぞれに対して、各画素に対応する輝度の値を位相解析することにより、図中実線で示すように座標値に対応した輝度の分布を得る。
本例では、Rに対応した上記輝度の最大値に対応する座標値を演算することにより、Rの階調を含む3つのマークエレメント62(R、Y、W)のうちで中央に位置するYのマークエレメント62(画素の配列位置)が求められることになる。
また、Gに対応した上記輝度の最大値に対応する座標値を演算することにより、Gの階調を含む3つのマークエレメント62(Y、W、C)のうちで中央に位置するWのマークエレメント62の座標値(画素の配列位置)が求められることになる。
また、Bに対応した上記輝度の最大値に対応する座標値を演算することにより、Bの階調を含む3つのマークエレメント62(W、C、B)のうちで中央に位置するCのマークエレメント62の座標値(画素の配列位置)が求められることになる。
図13(A)は従来方法における被撮像パターン90から求められる3次元座標を示す図、(B)は、本発明方法における被撮像パターン50から求められる3次元座標を示す図である。
なお、撮像素子は、カラー画像の撮像が可能であり、したがって、R、G、Bの3原色のそれぞれの輝度(すなわちR、G、Bの階調)が出力されるように構成されている。
図12(B)に示すように、被撮像パターン50が画素1〜画素8によって撮像されることにより、各画素に対応して、○の記号で示すRの輝度と、□の記号で示すGの輝度と、△の記号で示すBの輝度とが出力される。
R、G、Bの3色のそれぞれに対して、各画素に対応する輝度の値を位相解析することにより、図中実線で示すように座標値に対応した輝度の分布を得る。
本例では、Rに対応した上記輝度の最大値に対応する座標値を演算することにより、Rの階調を含む3つのマークエレメント62(R、Y、W)のうちで中央に位置するYのマークエレメント62(画素の配列位置)が求められることになる。
また、Gに対応した上記輝度の最大値に対応する座標値を演算することにより、Gの階調を含む3つのマークエレメント62(Y、W、C)のうちで中央に位置するWのマークエレメント62の座標値(画素の配列位置)が求められることになる。
また、Bに対応した上記輝度の最大値に対応する座標値を演算することにより、Bの階調を含む3つのマークエレメント62(W、C、B)のうちで中央に位置するCのマークエレメント62の座標値(画素の配列位置)が求められることになる。
そして、前述した従来公知の方法に基づいて、図13(B)に示すように、上述したY、W、Cのマークエレメント62の3次元座標(X座標値、Y座標値、Z座標値)が求められることになる。
なお、図13(B)において、符号L1R、L2Rは、X座標におけるYのマークエレメント62の中心間の間隔(ピッチ)を示す。
また、符号L1G、L2Gは、X座標におけるWのマークエレメント62の中心間の間隔(ピッチ)を示す。
また、符号L1B、L2Bは、X座標におけるCのマークエレメント62の中心間の間隔を示す。
このように第1マーク60Aおよび第2マーク60Bを構成する合計6つのマークエレメント62の色を異ならせることにより、R、G、Bの3原色の色の階調を含む3つのマークエレメント62のうちで中央に位置する色のマークエレメント62の3次元座標を得ることができる。
すなわち、従来方法では1つの白マーク90Aと1つの黒マーク90Bとの組み合わせに対して、1つの3次元座標(白マーク90Aの3次元座標)しか得られない。
これに対して、本発明方法では1つの第1マーク60Aと1つの第2マーク60Bとの組み合わせに対して、3つの3次元座標が得られるため、従来方法に比較して3次元座標の情報を3倍得られることになる。
なお、図13(B)において、符号L1R、L2Rは、X座標におけるYのマークエレメント62の中心間の間隔(ピッチ)を示す。
また、符号L1G、L2Gは、X座標におけるWのマークエレメント62の中心間の間隔(ピッチ)を示す。
また、符号L1B、L2Bは、X座標におけるCのマークエレメント62の中心間の間隔を示す。
このように第1マーク60Aおよび第2マーク60Bを構成する合計6つのマークエレメント62の色を異ならせることにより、R、G、Bの3原色の色の階調を含む3つのマークエレメント62のうちで中央に位置する色のマークエレメント62の3次元座標を得ることができる。
すなわち、従来方法では1つの白マーク90Aと1つの黒マーク90Bとの組み合わせに対して、1つの3次元座標(白マーク90Aの3次元座標)しか得られない。
これに対して、本発明方法では1つの第1マーク60Aと1つの第2マーク60Bとの組み合わせに対して、3つの3次元座標が得られるため、従来方法に比較して3次元座標の情報を3倍得られることになる。
次に、実際に3次元座標を得るために必要となる被撮像パターン50、すなわち、被撮像パターン50が、正方形状を呈し互いに色が異なる第1マーク60Aと第2マーク60Bとが互いに直交するX方向とY方向とに沿って(X座標とY座標とに沿って)格子状に並べられることで構成されている場合について説明する。
図14(A)は基本パターン60の説明図、(B)は第1のパターン70の説明図、(C)は第2のパターン72の説明図、(D)は第3のパターン74の説明図、(E)は被撮像パターン50の説明図であり、図15は第1、第2、第3のパターン70、72、74の説明図である。
図16(A)は被撮像パターン50の説明図、(B)は被撮像パターン50を構成するマークエレメント62の色を示す説明図、(C)はマークエレメント62の色を表す色データをR、G、Bの階調で表現した説明図である。
図14(A)は基本パターン60の説明図、(B)は第1のパターン70の説明図、(C)は第2のパターン72の説明図、(D)は第3のパターン74の説明図、(E)は被撮像パターン50の説明図であり、図15は第1、第2、第3のパターン70、72、74の説明図である。
図16(A)は被撮像パターン50の説明図、(B)は被撮像パターン50を構成するマークエレメント62の色を示す説明図、(C)はマークエレメント62の色を表す色データをR、G、Bの階調で表現した説明図である。
図14(A)に示すように、正方形状を呈し互いに色が異なる第1マーク60Aと第2マーク60Bとを互いに直交するX方向とY方向とに沿って格子状に並べることで基本パターン60を形成する。
すなわち、複数の第1マーク60Aと複数の第2マーク60Bとを配置することで矩形状の基本パターン60を形成する。
第1の実施の形態では、基本パターン60は、2つの第1マーク60Aが隣り合わず、かつ、2つの第2マーク60Bが隣り合わないように配置されている。
すなわち、複数の第1マーク60Aと複数の第2マーク60Bとを配置することで矩形状の基本パターン60を形成する。
第1の実施の形態では、基本パターン60は、2つの第1マーク60Aが隣り合わず、かつ、2つの第2マーク60Bが隣り合わないように配置されている。
次に、基本パターン60を構成する第1マーク60AをX方向およびY方向のそれぞれにおいて3等分することにより9つのマークエレメント62に分割し、基本パターン60を構成する第2マーク60BをX方向およびY方向のそれぞれにおいて3等分することにより9つのマークエレメント62に分割する。
図14(B)に示すように、第1マーク60Aの9つのマークエレメント62の色をR、G、Bの3原色のうちから選択された第1の原色であるRとすると共に、第2マーク60Bの9つのマークエレメント62の色をBLとすることで第1のパターン70を形成する。
図14(C)に示すように、第1のパターン70に対して、第1マーク60Aおよび第2マーク60Bを、X方向に1つのマークエレメント62分変位させ、かつ、Y方向に1つのマークエレメント62分変位させた状態で、第1マーク60Aの9つのマークエレメント62の色を3原色のうち第1の原色Rを除く残り2つの色G、Bから選択された第2の原色であるGとすると共に、第2マーク60Bの9つのマークエレメント62の色をBLとすることで第2のパターン72を形成する。
図14(D)に示すように、第2のパターン72に対して、第1マーク60Aおよび第2マーク60Bを、X方向に1つのマークエレメント62分変位させ、かつ、Y方向に1つのマークエレメント62分変位させた状態で、第1マーク60Aの9つのマークエレメント62の色を3原色のうちの残り1つの色である第3の原色Bとすると共に、第2マーク60Bの9つのマークエレメント62の色をBLとすることで第3のパターン74を形成する。
そして、図15に示すように第1、第2、第3のパターン70、72、74を重ね合わせることにより、図16(A)に示すように第1マーク60Aおよび第2マーク60Bを構成する。
そして、これら第1マーク60Aおよび第2マーク60Bにより被撮像パターン50が構成される。
すなわち、第1、第2、第3のパターン70、72、74を重ね合わせることにより構成された第1マーク60Aは、図16(B)に示すように第1マーク60Aの9つのマークエレメント62が4色の色R、Y、M、Wで表現されている。
言い換えると、第1マーク60Aは、第1マーク60Aを構成する9つのマークエレメント62がWを含む4色の色で表現されている。
また、第1マーク60Aの3つのマークエレメント62は隣り合うマークエレメント62の色が互いに異なるように配置されている。
そして、これら第1マーク60Aおよび第2マーク60Bにより被撮像パターン50が構成される。
すなわち、第1、第2、第3のパターン70、72、74を重ね合わせることにより構成された第1マーク60Aは、図16(B)に示すように第1マーク60Aの9つのマークエレメント62が4色の色R、Y、M、Wで表現されている。
言い換えると、第1マーク60Aは、第1マーク60Aを構成する9つのマークエレメント62がWを含む4色の色で表現されている。
また、第1マーク60Aの3つのマークエレメント62は隣り合うマークエレメント62の色が互いに異なるように配置されている。
また、第1、第2、第3のパターン70、72、74を重ね合わせることにより構成された第2マーク60Bは、図16(B)に示すように第2マーク60Bの3つのマークエレメント62が第1マーク60Aの9つのマークエレメント62の4色と異なる4色の色G、C、B、BLで表現されている。
言い換えると、第2マーク60Bは、第2マーク60Bを構成する9つのマークエレメント62がBLを含みかつ第1マーク60Aを構成する9つのマークエレメント62の4色と異なる4色の色で表現されている。
また、第2マーク60Bの9つのマークエレメント62は隣り合うマークエレメント62の色が互いに異なるように配置されている。
したがって、第1マーク60Aを構成する9つのマークエレメント62の4色と、第2マーク60Bを構成する9つのマークエレメント62の4色との合計8色は互いに色が異なる。
なお、第1、第2、第3のパターン70、72、74を重ね合わせることによる8色のマークエレメント62の形成は、前述したとおりR、G、Bの3原色を混色することによってなされるものである。
例えば、図15に示すように、第1、第2、第3のパターン70、72、74のそれぞれにおいて(1)で示す3つのマークエレメント62の色(R、G、B)を混色するとWとなる。
あるいは、図15に示すように、第1、第2、第3のパターン70、72、74のそれぞれにおいて(2)で示すマークエレメント62の色(R、BL、B)を混色するとMとなる。
言い換えると、第2マーク60Bは、第2マーク60Bを構成する9つのマークエレメント62がBLを含みかつ第1マーク60Aを構成する9つのマークエレメント62の4色と異なる4色の色で表現されている。
また、第2マーク60Bの9つのマークエレメント62は隣り合うマークエレメント62の色が互いに異なるように配置されている。
したがって、第1マーク60Aを構成する9つのマークエレメント62の4色と、第2マーク60Bを構成する9つのマークエレメント62の4色との合計8色は互いに色が異なる。
なお、第1、第2、第3のパターン70、72、74を重ね合わせることによる8色のマークエレメント62の形成は、前述したとおりR、G、Bの3原色を混色することによってなされるものである。
例えば、図15に示すように、第1、第2、第3のパターン70、72、74のそれぞれにおいて(1)で示す3つのマークエレメント62の色(R、G、B)を混色するとWとなる。
あるいは、図15に示すように、第1、第2、第3のパターン70、72、74のそれぞれにおいて(2)で示すマークエレメント62の色(R、BL、B)を混色するとMとなる。
このように構成された被撮像パターン50において、X方向あるいはY方向において隣り合う3つのマークエレメント62の組み合わせに着目すると、これらの組み合わせのうち、3原色のR、G、Bのうちの1つの原色の階調を共通に含む組み合わせが、特定マークエレメント群として構成されている。
言い換えると、被撮像パターン50は、3原色のうちの1つの原色を共通に含む色を有してX方向またはY方向に並ぶ3つのマークエレメント62の組み合わせを含んで構成されている。
言い換えると、被撮像パターン50は、3原色のうちの1つの原色を共通に含む色を有してX方向またはY方向に並ぶ3つのマークエレメント62の組み合わせを含んで構成されている。
図17(A)はRを共通に含む特定マークエレメント群を示す説明図、(B)はGを共通に含む特定マークエレメント群を示す説明図、(C)はBを共通に含む特定マークエレメント群を示す説明図である。
すなわち、特定マークエレメント群を構成するマークエレメントの色の組み合わせは、図17(A)、(B)、(C)においてハッチングを施したマークエレメント62の組み合わせであり、具体的には次の通りである。
(A)Rを共通に含む特定マークエレメント群:R、Y、M、Wを含むマークエレメント62の組み合わせ
(B)Gを共通に含む特定マークエレメント群:G、Y、C、Wを含むマークエレメント62の組み合わせ
(C)Bを共通に含む特定マークエレメント群:B、M、C、Wを含むマークエレメント62の組み合わせ
具体的には、図17(A)、(B)、(C)から明らかなように、Rを共通に含む特定マークエレメント群が2個構成され、Gを共通に含む特定マークエレメント群が2個構成され、Bを共通に含む特定マークエレメント群が2個構成され、合計6個の特定マークエレメント群が構成されることになる。
すなわち、特定マークエレメント群を構成するマークエレメントの色の組み合わせは、図17(A)、(B)、(C)においてハッチングを施したマークエレメント62の組み合わせであり、具体的には次の通りである。
(A)Rを共通に含む特定マークエレメント群:R、Y、M、Wを含むマークエレメント62の組み合わせ
(B)Gを共通に含む特定マークエレメント群:G、Y、C、Wを含むマークエレメント62の組み合わせ
(C)Bを共通に含む特定マークエレメント群:B、M、C、Wを含むマークエレメント62の組み合わせ
具体的には、図17(A)、(B)、(C)から明らかなように、Rを共通に含む特定マークエレメント群が2個構成され、Gを共通に含む特定マークエレメント群が2個構成され、Bを共通に含む特定マークエレメント群が2個構成され、合計6個の特定マークエレメント群が構成されることになる。
そして、前述した図12(B)、図13(B)の場合と同様に、被撮像パターン50が撮像素子の各画素によって撮像されることにより、各画素に対応して、Rの輝度と、Gの輝度と、Bの輝度とが出力される。
そして、R、G、Bの3色のそれぞれに対して、各画素に対応する輝度の値を位相解析することにより、座標値に対応した輝度の分布を得る。
これにより、Rに対応した上記輝度の最大値に対応する座標値を演算することにより、Rの階調を含む特定マークエレメント群において、X方向あるいはY方向において隣り合う3つのマークエレメント62のうち、中央に位置するマークエレメント62(画素の配列位置)、すなわち符号R1,R2で示すマークエレメント62が求められる。
また、Gに対応した上記輝度の最大値に対応する座標値を演算することにより、Gの階調を含む特定マークエレメント群において、X方向あるいはY方向において隣り合う3つのマークエレメント62のうち、中央に位置するマークエレメント62(画素の配列位置)、すなわち符号G1,G2で示すマークエレメント62が求められる。
また、Bに対応した上記輝度の最大値に対応する座標値を演算することにより、Bの階調を含む特定マークエレメント群において、X方向あるいはY方向において隣り合う3つのマークエレメント62のうち、中央に位置するマークエレメント62(画素の配列位置)、すなわち符号B1,B2で示すマークエレメント62が求められる。
そして、R、G、Bの3色のそれぞれに対して、各画素に対応する輝度の値を位相解析することにより、座標値に対応した輝度の分布を得る。
これにより、Rに対応した上記輝度の最大値に対応する座標値を演算することにより、Rの階調を含む特定マークエレメント群において、X方向あるいはY方向において隣り合う3つのマークエレメント62のうち、中央に位置するマークエレメント62(画素の配列位置)、すなわち符号R1,R2で示すマークエレメント62が求められる。
また、Gに対応した上記輝度の最大値に対応する座標値を演算することにより、Gの階調を含む特定マークエレメント群において、X方向あるいはY方向において隣り合う3つのマークエレメント62のうち、中央に位置するマークエレメント62(画素の配列位置)、すなわち符号G1,G2で示すマークエレメント62が求められる。
また、Bに対応した上記輝度の最大値に対応する座標値を演算することにより、Bの階調を含む特定マークエレメント群において、X方向あるいはY方向において隣り合う3つのマークエレメント62のうち、中央に位置するマークエレメント62(画素の配列位置)、すなわち符号B1,B2で示すマークエレメント62が求められる。
そして、前述した従来公知の方法に基づいて、各特定マークエレメント群の中央に位置するマークエレメント62の3次元座標(X座標値、Y座標値、Z座標値)が求められる。すなわち、符号R1,R2,G1,G2、B1,B2で示すマークエレメント62の3次元座標が求められる。
このように第1マーク60Aおよび第2マーク60Bをそれぞれ構成する合計9つのマークエレメント62の色を異ならせることにより、2つの第1マーク60Aおよび2つの第2マーク60Bにおいては、R、G、Bの3原色の色の階調を含む特定マークエレメント群を6個構成することができる。
図18(A)は従来方法における基本パターン60の説明図、(B)は第1の実施の形態によって得られる特定マークエレメント群を示す説明図である。
すなわち、図18(A)に示すように、白黒のマーク60A,60Bによって構成される基本パターン60を用いた従来方法では、2つの第1マーク60Aおよび2つの第2マーク60Bを用いることにより2点の3次元座標しか得られない。
これに対して、図18(B)に示すように、カラー画像を用いる本発明方法では、R1,R2,G1,G2,B1,B2の合計6点の3次元座標を得ることができ、従来方法に比較して3次元座標の情報を3倍得られることになる。
したがって、従来方法では、測定結果の微妙な誤差が形状や歪の測定結果に与える影響を除くために複数回の測定結果を解析してその結果を平均化するといった複雑な処理を必要としていたのに対して、本発明方法では、処理の簡素化を図りつつ測定精度の向上を図る上で有利となり、また、3次元座標の情報をより多く得られることから測定対象物の3次元形状をより高精度に測定する上で有利となる。
このように第1マーク60Aおよび第2マーク60Bをそれぞれ構成する合計9つのマークエレメント62の色を異ならせることにより、2つの第1マーク60Aおよび2つの第2マーク60Bにおいては、R、G、Bの3原色の色の階調を含む特定マークエレメント群を6個構成することができる。
図18(A)は従来方法における基本パターン60の説明図、(B)は第1の実施の形態によって得られる特定マークエレメント群を示す説明図である。
すなわち、図18(A)に示すように、白黒のマーク60A,60Bによって構成される基本パターン60を用いた従来方法では、2つの第1マーク60Aおよび2つの第2マーク60Bを用いることにより2点の3次元座標しか得られない。
これに対して、図18(B)に示すように、カラー画像を用いる本発明方法では、R1,R2,G1,G2,B1,B2の合計6点の3次元座標を得ることができ、従来方法に比較して3次元座標の情報を3倍得られることになる。
したがって、従来方法では、測定結果の微妙な誤差が形状や歪の測定結果に与える影響を除くために複数回の測定結果を解析してその結果を平均化するといった複雑な処理を必要としていたのに対して、本発明方法では、処理の簡素化を図りつつ測定精度の向上を図る上で有利となり、また、3次元座標の情報をより多く得られることから測定対象物の3次元形状をより高精度に測定する上で有利となる。
また、従来方法においては、注目する1つの点の座標値を、該1つの点に隣接する他の点の座標値を用いて補正することで該注目する1つの点の座標値を精度よく求めることが可能である。
本実施の形態においては、同様の補正方法を用いることで座標値を従来方法よりもさらに精度よく求めることが可能となる。
以下、このことについて説明するが、説明の簡単化を図るために、被撮像パターンが1次元上に(例えばX座標と平行に)配置されているものとする。
まず、従来の補正方法について説明する。
図13(A)に示すように、注目する1つの点 (X2, Y2, Z2)の座標値を精度良く求めようとする場合は、上記の点に隣接する点(X1,Y1,Z1)と、点(X3,Y3,Z3)の2つの点の座標値を用いて補正する。
これに対して本実施の形態では、図13(B)に示すように、注目する1つの点 (X2G, Y2G,Z2G)の座標値を補正する場合には、上記点の周囲の8つの点、すなわち点(X1R, Y1R, Z1R),点(X1G, Y1G, Z1G),点(X1B, Y1B, Z1B),点(X2R, Y2R, Z2R),点(X2B, Y2B, Z2B),点(X3R, Y3R,Z3R),点(X3G,Y3G,Z3G), 点(X3B, Y3B, Z3B)の座標値を用いることが可能となる。
すなわち、従来方法では、注目する点の周囲2点の座標値(情報)で補正していたのに対して、本実施の形態では、注目する点の周囲8点の座標値(情報)から補正することが可能になり、従来の4倍の情報が得られ、したがって、座標値を従来方法よりもさらに精度よく求めることが可能となる。
本実施の形態においては、同様の補正方法を用いることで座標値を従来方法よりもさらに精度よく求めることが可能となる。
以下、このことについて説明するが、説明の簡単化を図るために、被撮像パターンが1次元上に(例えばX座標と平行に)配置されているものとする。
まず、従来の補正方法について説明する。
図13(A)に示すように、注目する1つの点 (X2, Y2, Z2)の座標値を精度良く求めようとする場合は、上記の点に隣接する点(X1,Y1,Z1)と、点(X3,Y3,Z3)の2つの点の座標値を用いて補正する。
これに対して本実施の形態では、図13(B)に示すように、注目する1つの点 (X2G, Y2G,Z2G)の座標値を補正する場合には、上記点の周囲の8つの点、すなわち点(X1R, Y1R, Z1R),点(X1G, Y1G, Z1G),点(X1B, Y1B, Z1B),点(X2R, Y2R, Z2R),点(X2B, Y2B, Z2B),点(X3R, Y3R,Z3R),点(X3G,Y3G,Z3G), 点(X3B, Y3B, Z3B)の座標値を用いることが可能となる。
すなわち、従来方法では、注目する点の周囲2点の座標値(情報)で補正していたのに対して、本実施の形態では、注目する点の周囲8点の座標値(情報)から補正することが可能になり、従来の4倍の情報が得られ、したがって、座標値を従来方法よりもさらに精度よく求めることが可能となる。
(第2の実施の形態)
次に第2の実施の形態について説明する。
第2の実施の形態は、第2マーク60Bについて合計6点の3次元座標を得ることで第1の実施の形態と同様の効果を得るものである。
以下、このことについて詳細に説明する。
次に第2の実施の形態について説明する。
第2の実施の形態は、第2マーク60Bについて合計6点の3次元座標を得ることで第1の実施の形態と同様の効果を得るものである。
以下、このことについて詳細に説明する。
まず、被撮像パターンが直線状に並べられて構成されているものとして、言い換えると、被撮像パターンが1次元上に(例えばX座標と平行に)配置されているものとして簡単に説明する。
図19は第1マーク60Aと第2マーク60Bとから構成される被撮像パターンと、該パターンを撮像素子で撮像して得られた撮像情報(輝度)との関係を示す図、図20は被撮像パターンから求められる3次元座標を示す図である。
図19に示すように、同一の大きさの正方形からなる第1マーク60Aと第2マーク60Bとが交互に直線状に並べられて構成されている場合、第1マーク60Aおよび第2マーク60Bの中心の座標値(座標位置)を求めるものとする。
被撮像パターン90が画素1〜画素8によって撮像されることにより、各画素に対応して図19において○の記号で示す値の輝度(画像データ)が出力される。
そして、各画素に対応する輝度の値を位相解析することにより、図中実線で示すように座標値に対応した輝度の分布を得る。
そして、上記輝度の最大値に対応する座標値を演算することにより、3つの第1マーク60Aの座標値(画素の配列位置)を求めるのに代えて、上記輝度の最小値に対応する座標値を演算することにより、3つの第2マーク60Bの座標値(画素の配列位置)が求められる。
そして、前述した従来公知の方法に基づいて、図20に示すように、各第2マーク60Bの3次元座標(X座標値、Y座標値、Z座標値)が求められることになる。
そのため、図20に示すように、隣り合う第2マーク60Bの中心間の間隔L1が求められることになる。
したがって、以下に説明するように、第2マーク60Bを用いて合計6点の3次元座標を得ることにより、第1の実施の形態と同様の効果を得ることができる。
図19は第1マーク60Aと第2マーク60Bとから構成される被撮像パターンと、該パターンを撮像素子で撮像して得られた撮像情報(輝度)との関係を示す図、図20は被撮像パターンから求められる3次元座標を示す図である。
図19に示すように、同一の大きさの正方形からなる第1マーク60Aと第2マーク60Bとが交互に直線状に並べられて構成されている場合、第1マーク60Aおよび第2マーク60Bの中心の座標値(座標位置)を求めるものとする。
被撮像パターン90が画素1〜画素8によって撮像されることにより、各画素に対応して図19において○の記号で示す値の輝度(画像データ)が出力される。
そして、各画素に対応する輝度の値を位相解析することにより、図中実線で示すように座標値に対応した輝度の分布を得る。
そして、上記輝度の最大値に対応する座標値を演算することにより、3つの第1マーク60Aの座標値(画素の配列位置)を求めるのに代えて、上記輝度の最小値に対応する座標値を演算することにより、3つの第2マーク60Bの座標値(画素の配列位置)が求められる。
そして、前述した従来公知の方法に基づいて、図20に示すように、各第2マーク60Bの3次元座標(X座標値、Y座標値、Z座標値)が求められることになる。
そのため、図20に示すように、隣り合う第2マーク60Bの中心間の間隔L1が求められることになる。
したがって、以下に説明するように、第2マーク60Bを用いて合計6点の3次元座標を得ることにより、第1の実施の形態と同様の効果を得ることができる。
すなわち、第2の実施の形態においては、図21に示すように、被撮像パターンにおいて、X方向あるいはY方向において隣り合う3つのマークエレメント62の組み合わせに着目すると、これらの組み合わせのうち、3原色のR、G、Bのうちの1つの原色の階調を共通に含まない組み合わせが、特定マークエレメント群として構成されている。
言い換えると、被撮像パターン50は、3原色のうちの1つの原色を共通に含まない色およびBL(黒)の何れかの色を有してX方向またはY方向に並ぶ3つのマークエレメントの組み合わせを含んで構成されている。
言い換えると、被撮像パターン50は、3原色のうちの1つの原色を共通に含まない色およびBL(黒)の何れかの色を有してX方向またはY方向に並ぶ3つのマークエレメントの組み合わせを含んで構成されている。
図21は、(A)は第2の実施の形態においてRを共通に含まない色およびBL(黒)の何れかの色を有する特定マークエレメント群を示す説明図、(B)はGを共通に含まない色およびBL(黒)の何れかの色を有する特定マークエレメント群を示す説明図、(C)はBを共通に含まない色およびBL(黒)の何れかの色を有する特定マークエレメント群を示す説明図である。
すなわち、特定マークエレメント群を構成するマークエレメントの色の組み合わせは、図21(A)、(B)、(C)においてハッチングを施したマークエレメント62の組み合わせであり、具体的には次の通りである。
(A)Rを共通に含まない色およびBL(黒)の何れかの色を有する特定マークエレメント群:B,G,C,BLを含むマークエレメント62の組み合わせ
(B)Gを共通に含まない色およびBL(黒)の何れかの色を有する特定マークエレメント群:R,B,M,BLを含むマークエレメント62の組み合わせ
(C)Bを共通に含まない色およびBL(黒)の何れかの色を有する特定マークエレメント群:R,G,Y,BLを含むマークエレメント62の組み合わせ
具体的には、図19(A)、(B)、(C)から明らかなように、Rを共通に含まない色およびBL(黒)の何れかの色を有する特定マークエレメント群が2個構成され、Gを共通に含まない色およびBL(黒)の何れかの色を有する特定マークエレメント群が2個構成され、Bを共通に含まない色およびBL(黒)の何れかの色を有する特定マークエレメント群が2個構成され、合計6個の特定マークエレメント群が構成されることになる。
すなわち、特定マークエレメント群を構成するマークエレメントの色の組み合わせは、図21(A)、(B)、(C)においてハッチングを施したマークエレメント62の組み合わせであり、具体的には次の通りである。
(A)Rを共通に含まない色およびBL(黒)の何れかの色を有する特定マークエレメント群:B,G,C,BLを含むマークエレメント62の組み合わせ
(B)Gを共通に含まない色およびBL(黒)の何れかの色を有する特定マークエレメント群:R,B,M,BLを含むマークエレメント62の組み合わせ
(C)Bを共通に含まない色およびBL(黒)の何れかの色を有する特定マークエレメント群:R,G,Y,BLを含むマークエレメント62の組み合わせ
具体的には、図19(A)、(B)、(C)から明らかなように、Rを共通に含まない色およびBL(黒)の何れかの色を有する特定マークエレメント群が2個構成され、Gを共通に含まない色およびBL(黒)の何れかの色を有する特定マークエレメント群が2個構成され、Bを共通に含まない色およびBL(黒)の何れかの色を有する特定マークエレメント群が2個構成され、合計6個の特定マークエレメント群が構成されることになる。
そして、前述した図12(B)、図13(B)の場合と同様に、被撮像パターン50が撮像素子の各画素によって撮像されることにより、各画素に対応して、Rの輝度と、Gの輝度と、Bの輝度とが出力される。
そして、R、G、Bの3色のそれぞれに対して、各画素に対応する輝度の値を位相解析することにより、座標値に対応した輝度の分布を得る。
これにより、Rに対応した上記輝度の最小値に対応する座標値を演算することにより、Rの階調を含む特定マークエレメント群において、X方向あるいはY方向において隣り合う3つのマークエレメント62のうち、中央に位置するマークエレメント62(画素の配列位置)、すなわち符号NR1,NR2で示すマークエレメント62が求められる。
また、Gに対応した上記輝度の最小値に対応する座標値を演算することにより、Gの階調を含む特定マークエレメント群において、X方向あるいはY方向において隣り合う3つのマークエレメント62のうち、中央に位置するマークエレメント62(画素の配列位置)、すなわち符号G1,G2で示すマークエレメント62が求められる。
また、Bに対応した上記輝度の最小値に対応する座標値を演算することにより、Bの階調を含む特定マークエレメント群において、X方向あるいはY方向において隣り合う3つのマークエレメント62のうち、中央に位置するマークエレメント62(画素の配列位置)、すなわち符号B1,B2で示すマークエレメント62が求められる。
そして、R、G、Bの3色のそれぞれに対して、各画素に対応する輝度の値を位相解析することにより、座標値に対応した輝度の分布を得る。
これにより、Rに対応した上記輝度の最小値に対応する座標値を演算することにより、Rの階調を含む特定マークエレメント群において、X方向あるいはY方向において隣り合う3つのマークエレメント62のうち、中央に位置するマークエレメント62(画素の配列位置)、すなわち符号NR1,NR2で示すマークエレメント62が求められる。
また、Gに対応した上記輝度の最小値に対応する座標値を演算することにより、Gの階調を含む特定マークエレメント群において、X方向あるいはY方向において隣り合う3つのマークエレメント62のうち、中央に位置するマークエレメント62(画素の配列位置)、すなわち符号G1,G2で示すマークエレメント62が求められる。
また、Bに対応した上記輝度の最小値に対応する座標値を演算することにより、Bの階調を含む特定マークエレメント群において、X方向あるいはY方向において隣り合う3つのマークエレメント62のうち、中央に位置するマークエレメント62(画素の配列位置)、すなわち符号B1,B2で示すマークエレメント62が求められる。
そして、前述した従来公知の方法に基づいて、各特定マークエレメント群の中央に位置するマークエレメント62の3次元座標(X座標値、Y座標値、Z座標値)が求められる。すなわち、符号R1,R2,G1,G2、B1,B2で示すマークエレメント62の3次元座標が求められる。
このように第1マーク60Aおよび第2マーク60Bをそれぞれ構成する合計9つのマークエレメント62の色を異ならせることにより、2つの第1マーク60Aおよび2つの第2マーク60Bにおいては、R、G、Bの3原色の色の階調を含む特定マークエレメント群を6個構成することができる。
図22(A)は従来方法における基本パターン60の説明図、(B)は第2の実施の形態によって得られる特定マークエレメント群を示す説明図である。
すなわち、図22(A)に示すように、白黒のマーク60A,60Bによって構成される基本パターン60を用いた従来方法では、2つの第1マーク60Aおよび2つの第2マーク60Bを用いることにより2点の3次元座標しか得られない。
これに対して、図22(B)に示すように、カラー画像を用いる本発明方法では、NR1,NR2,NG1,NG2,NB1,NB2の合計6点の3次元座標を得ることができ、従来方法に比較して3次元座標の情報を3倍得られることになり、第1の実施の形態と同様の効果が奏される。
このように第1マーク60Aおよび第2マーク60Bをそれぞれ構成する合計9つのマークエレメント62の色を異ならせることにより、2つの第1マーク60Aおよび2つの第2マーク60Bにおいては、R、G、Bの3原色の色の階調を含む特定マークエレメント群を6個構成することができる。
図22(A)は従来方法における基本パターン60の説明図、(B)は第2の実施の形態によって得られる特定マークエレメント群を示す説明図である。
すなわち、図22(A)に示すように、白黒のマーク60A,60Bによって構成される基本パターン60を用いた従来方法では、2つの第1マーク60Aおよび2つの第2マーク60Bを用いることにより2点の3次元座標しか得られない。
これに対して、図22(B)に示すように、カラー画像を用いる本発明方法では、NR1,NR2,NG1,NG2,NB1,NB2の合計6点の3次元座標を得ることができ、従来方法に比較して3次元座標の情報を3倍得られることになり、第1の実施の形態と同様の効果が奏される。
(第3の実施の形態)
次に、第3の実施の形態について説明する。
第3の実施の形態は、第2の実施の形態の変形例であり、基本パターン60を構成する第1マーク60Aと第2マーク60Bの配置が第2の実施の形態と相違しており、その他の点は第2の実施の形態と同様である。
図23は第3の実施の形態における基本パターン60の説明図、図24(A)は第1のパターン70の説明図、(B)は第2のパターン72の説明図、(C)は第3のパターン74の説明図である。
図25(A)、(B)、(C)は被撮像パターン50の説明図である。
次に、第3の実施の形態について説明する。
第3の実施の形態は、第2の実施の形態の変形例であり、基本パターン60を構成する第1マーク60Aと第2マーク60Bの配置が第2の実施の形態と相違しており、その他の点は第2の実施の形態と同様である。
図23は第3の実施の形態における基本パターン60の説明図、図24(A)は第1のパターン70の説明図、(B)は第2のパターン72の説明図、(C)は第3のパターン74の説明図である。
図25(A)、(B)、(C)は被撮像パターン50の説明図である。
図23(A)に示すように、正方形状を呈し互いに色が異なる第1マーク60Aと第2マーク60Bとを互いに直交するX方向とY方向とに沿って格子状に並べることで基本パターン60を形成する。
すなわち、複数の第1マーク60Aと複数の第2マーク60Bとを配置することで矩形状の基本パターン60を形成する。
第3の実施の形態では、基本パターン60は、第2マーク60Bの回りに第1マーク60Aが配置され、第2マーク60B同士の間に第1マーク60Aが位置している。
言い換えると、基本パターン60は、第2マーク60B同士が並ばないように第2マーク60Bの回りに第1マーク60Aが配置されている。
すなわち、複数の第1マーク60Aと複数の第2マーク60Bとを配置することで矩形状の基本パターン60を形成する。
第3の実施の形態では、基本パターン60は、第2マーク60Bの回りに第1マーク60Aが配置され、第2マーク60B同士の間に第1マーク60Aが位置している。
言い換えると、基本パターン60は、第2マーク60B同士が並ばないように第2マーク60Bの回りに第1マーク60Aが配置されている。
次に、基本パターン60を構成する第1マーク60AをX方向およびY方向のそれぞれにおいて3等分することにより9つのマークエレメント62に分割し、基本パターン60を構成する第2マーク60BをX方向およびY方向のそれぞれにおいて3等分することにより9つのマークエレメント62に分割する。
図24(A)に示すように、第1マーク60Aの9つのマークエレメント62の色をR、G、Bの3原色のうちから選択された第1の原色であるRとすると共に、第2マーク60Bの9つのマークエレメント62の色をBLとすることで第1のパターン70を形成する。
図24(B)に示すように、第1のパターン70に対して、第1マーク60Aおよび第2マーク60Bを、X方向に1つのマークエレメント62分変位させ、かつ、Y方向に1つのマークエレメント62分変位させた状態で、第1マーク60Aの9つのマークエレメント62の色を3原色のうち第1の原色Rを除く残り2つの色G、Bから選択された第2の原色であるGとすると共に、第2マーク60Bの9つのマークエレメント62の色をBLとすることで第2のパターン72を形成する。
図24(C)に示すように、第2のパターン72に対して、第1マーク60Aおよび第2マーク60Bを、X方向に1つのマークエレメント62分変位させ、かつ、Y方向に1つのマークエレメント62分変位させた状態で、第1マーク60Aの9つのマークエレメント62の色を3原色のうちの残り1つの色である第3の原色Bとすると共に、第2マーク60Bの9つのマークエレメント62の色をBLとすることで第3のパターン74を形成する。
そして、第1、第2、第3のパターン70、72、74を重ね合わせることにより、図25(A)、(B)に示すように被撮像パターン50が構成される。
すなわち、第2の実施の形態と同様に、このように構成された被撮像パターン50において、X方向あるいはY方向において隣り合う3つのマークエレメント62の組み合わせに着目すると、これらの組み合わせのうち、3原色のR、G、Bのうちの1つの原色の階調を共通に含まない組み合わせが、特定マークエレメント群として構成されている。
言い換えると、被撮像パターン50は、3原色のうちの1つの原色を共通に含まない色およびBL(黒)の何れかの色を有してX方向またはY方向に並ぶ3つのマークエレメントの組み合わせを含んで構成されている。
言い換えると、被撮像パターン50は、3原色のうちの1つの原色を共通に含まない色およびBL(黒)の何れかの色を有してX方向またはY方向に並ぶ3つのマークエレメントの組み合わせを含んで構成されている。
図26はRを共通に含まない色およびBL(黒)の何れかの色を有する特定マークエレメント群を示す説明図、図27はGを共通に含まない色およびBL(黒)の何れかの色を有する特定マークエレメント群を示す説明図、図28はBを共通に含まない色およびBL(黒)の何れかの色を有する特定マークエレメント群を示す説明図である。
すなわち、特定マークエレメント群を構成するマークエレメントの色の組み合わせは、図26、図27、図28においてハッチングを施したマークエレメント62の組み合わせであり、具体的には次の通りである。
(A)Rを共通に含まない色およびBL(黒)の何れかの色を有する特定マークエレメント群:B,G,C,BLを含むマークエレメント62の組み合わせ
(B)Gを共通に含まない色およびBL(黒)の何れかの色を有する特定マークエレメント群:R,B,M,BLを含むマークエレメント62の組み合わせ
(C)Bを共通に含まない色およびBL(黒)の何れかの色を有する特定マークエレメント群:R,G,Y,BLを含むマークエレメント62の組み合わせ
すなわち、特定マークエレメント群を構成するマークエレメントの色の組み合わせは、図26、図27、図28においてハッチングを施したマークエレメント62の組み合わせであり、具体的には次の通りである。
(A)Rを共通に含まない色およびBL(黒)の何れかの色を有する特定マークエレメント群:B,G,C,BLを含むマークエレメント62の組み合わせ
(B)Gを共通に含まない色およびBL(黒)の何れかの色を有する特定マークエレメント群:R,B,M,BLを含むマークエレメント62の組み合わせ
(C)Bを共通に含まない色およびBL(黒)の何れかの色を有する特定マークエレメント群:R,G,Y,BLを含むマークエレメント62の組み合わせ
そして、被撮像パターン50が撮像素子の各画素によって撮像されることにより、各画素に対応して、Rの輝度と、Gの輝度と、Bの輝度とが出力される。
そして、R、G、Bの3色のそれぞれに対して、各画素に対応する輝度の値を位相解析することにより、座標値に対応した輝度の分布を得る。
Rに対応した上記輝度の最小値に対応する座標値を演算することにより、図26に示すように、Rを共通に含まない色およびBL(黒)の何れかの色を有する特定マークエレメント群において、X方向あるいはY方向において隣り合う3つのマークエレメント62のうち、中央に位置するマークエレメント62(画素の配列位置)、すなわち符号NR1で示すマークエレメント62が求められる。
また、Gに対応した上記輝度の最小値に対応する座標値を演算することにより、図27に示すように、Gを共通に含まない色およびBL(黒)の何れかの色を有する特定マークエレメント群において、X方向あるいはY方向において隣り合う3つのマークエレメント62のうち、中央に位置するマークエレメント62(画素の配列位置)、すなわち符号NG1で示すマークエレメント62が求められる。
また、Bに対応した上記輝度の最小値に対応する座標値を演算することにより、図28に示すように、Bを共通に含まない色およびBL(黒)の何れかの色を有する特定マークエレメント群において、X方向あるいはY方向において隣り合う3つのマークエレメント62のうち、中央に位置するマークエレメント62(画素の配列位置)、すなわち符号NB1で示すマークエレメント62が求められる。
そして、R、G、Bの3色のそれぞれに対して、各画素に対応する輝度の値を位相解析することにより、座標値に対応した輝度の分布を得る。
Rに対応した上記輝度の最小値に対応する座標値を演算することにより、図26に示すように、Rを共通に含まない色およびBL(黒)の何れかの色を有する特定マークエレメント群において、X方向あるいはY方向において隣り合う3つのマークエレメント62のうち、中央に位置するマークエレメント62(画素の配列位置)、すなわち符号NR1で示すマークエレメント62が求められる。
また、Gに対応した上記輝度の最小値に対応する座標値を演算することにより、図27に示すように、Gを共通に含まない色およびBL(黒)の何れかの色を有する特定マークエレメント群において、X方向あるいはY方向において隣り合う3つのマークエレメント62のうち、中央に位置するマークエレメント62(画素の配列位置)、すなわち符号NG1で示すマークエレメント62が求められる。
また、Bに対応した上記輝度の最小値に対応する座標値を演算することにより、図28に示すように、Bを共通に含まない色およびBL(黒)の何れかの色を有する特定マークエレメント群において、X方向あるいはY方向において隣り合う3つのマークエレメント62のうち、中央に位置するマークエレメント62(画素の配列位置)、すなわち符号NB1で示すマークエレメント62が求められる。
図29(A)は第1のパターン70上にマークエレメント62(NR1)を示す説明図、(B)は第2のパターン72上にマークエレメント62(NG1)を示す説明図、(C)は第3のパターン74におけるマークエレメント62(NB1)を示す説明図である。
図30はマークエレメント62(NR1,NG1,NB1)を示す説明図である。
図31は基本パターン60の第1、第2マーク60A,60Bを白黒で表した説明図である。
すなわち、図31に示すように、白黒のマーク60A,60Bによって構成される基本パターン60を用いた従来方法では、1つの基本パターン60において、9つの第2マーク60Bを用いることにより9点の3次元座標しか得られない。
これに対して、図29、図30に示すように、カラー画像を用いる本発明方法では、9つのNR1、9つのNG1,9つのNB1の合計27点の3次元座標を得ることができ、3次元座標の情報を3倍得られることになる。
このような第3の実施の形態においても第1の実施の形態と同様の効果が奏される。
図30はマークエレメント62(NR1,NG1,NB1)を示す説明図である。
図31は基本パターン60の第1、第2マーク60A,60Bを白黒で表した説明図である。
すなわち、図31に示すように、白黒のマーク60A,60Bによって構成される基本パターン60を用いた従来方法では、1つの基本パターン60において、9つの第2マーク60Bを用いることにより9点の3次元座標しか得られない。
これに対して、図29、図30に示すように、カラー画像を用いる本発明方法では、9つのNR1、9つのNG1,9つのNB1の合計27点の3次元座標を得ることができ、3次元座標の情報を3倍得られることになる。
このような第3の実施の形態においても第1の実施の形態と同様の効果が奏される。
なお、第3の実施の形態においては、注目する1つの点の座標値を該1つの点を囲む複数の点の座標値を用いた補間により求めることが可能である。
図32は第3の実施の形態における補間方法の説明図である。
まず、第1マーク60Aと第2マーク60Bとを白黒として配置した基本パターン60を考える。
この場合、第1マーク60Aと第2マーク60BとがX軸方向およびY軸方向に沿って交互に配置されていることから、基本パターン60を撮像して輝度の最小値に対応する座標値を演算することにより、X軸方向およびY軸方向に第2マーク60Bの中心点の3次元座標値をそれぞれ求めることができる。
例えば、矢印で示すように、1つの第1マーク60Aの中心点の3次元座標値を、該1つの第1マーク60Aを囲む4つの第2マーク60Bの中心点の3次元座標値で補間して求めることができる。
したがって、カラー画像を用いる本発明方法では、前述したように3次元座標の情報を3倍得られるので、補間に供する情報も3倍となり、補間によって求められる1つの第1マーク60Aの中心点の3次元座標値の精度を向上させる上で有利となる。
このような補間方法として従来公知のさまざまな補間方法が採用可能である。
図32は第3の実施の形態における補間方法の説明図である。
まず、第1マーク60Aと第2マーク60Bとを白黒として配置した基本パターン60を考える。
この場合、第1マーク60Aと第2マーク60BとがX軸方向およびY軸方向に沿って交互に配置されていることから、基本パターン60を撮像して輝度の最小値に対応する座標値を演算することにより、X軸方向およびY軸方向に第2マーク60Bの中心点の3次元座標値をそれぞれ求めることができる。
例えば、矢印で示すように、1つの第1マーク60Aの中心点の3次元座標値を、該1つの第1マーク60Aを囲む4つの第2マーク60Bの中心点の3次元座標値で補間して求めることができる。
したがって、カラー画像を用いる本発明方法では、前述したように3次元座標の情報を3倍得られるので、補間に供する情報も3倍となり、補間によって求められる1つの第1マーク60Aの中心点の3次元座標値の精度を向上させる上で有利となる。
このような補間方法として従来公知のさまざまな補間方法が採用可能である。
ここで、第1の実施の形態と第3の実施の形態とにおける基本パターン60を構成する第1マーク60Aと第2マーク60Bの配置の相違について説明する。
図33は第1の実施の形態における基本パターン60の説明図、図34は第3の実施の形態における基本パターン60の説明図である。
図33に示すように、第1の実施の形態では、正方形状を呈し白色の第1マーク60Aと黒色の第2マーク60Bとを互いに直交するX方向とY方向とに沿って格子状に並べることで基本パターン60を形成した。
すなわち、複数の第1マーク60Aと複数の第2マーク60Bとを配置することで矩形状の基本パターン60を形成する。
図中、LxはX方向と平行して第1マーク60Aおよび第2マーク60Bの中心を通る直線を示し、LyはY方向と平行して第1マーク60Aおよび第2マーク60Bの中心を通る直線を示している。
すなわち、直線Lx上に第1マーク60Aと第2マーク60Bとが交互に並べられ、かつ、直線Ly上に第1マーク60Aと第2マーク60Bとが交互に並べられている。
したがって、このような基本パターン60からなる被撮像パターンを撮像素子の各画素によって撮像することで、各画素に対応して、輝度が出力される。
直線Lxに沿って輝度の位相を求めることで第1マーク60Aおよび第2マーク60BのX座標が求められ、直線Lyに沿って輝度の位相を求めることで第1マーク60Aおよび第2マーク60BのY座標が求められることになる。
言い換えると、第1の実施の形態のように白色の第1マーク60Aを用いて合計6点の3次元座標を求めてもよいし、第2の実施の形態のように黒色の第2マーク60Bを用いて合計6点の3次元座標を求めてもよい。あるいは、第1、第2マーク60A、60Bの双方を用いて合計12点の3次元座標を求めても良い。
図33は第1の実施の形態における基本パターン60の説明図、図34は第3の実施の形態における基本パターン60の説明図である。
図33に示すように、第1の実施の形態では、正方形状を呈し白色の第1マーク60Aと黒色の第2マーク60Bとを互いに直交するX方向とY方向とに沿って格子状に並べることで基本パターン60を形成した。
すなわち、複数の第1マーク60Aと複数の第2マーク60Bとを配置することで矩形状の基本パターン60を形成する。
図中、LxはX方向と平行して第1マーク60Aおよび第2マーク60Bの中心を通る直線を示し、LyはY方向と平行して第1マーク60Aおよび第2マーク60Bの中心を通る直線を示している。
すなわち、直線Lx上に第1マーク60Aと第2マーク60Bとが交互に並べられ、かつ、直線Ly上に第1マーク60Aと第2マーク60Bとが交互に並べられている。
したがって、このような基本パターン60からなる被撮像パターンを撮像素子の各画素によって撮像することで、各画素に対応して、輝度が出力される。
直線Lxに沿って輝度の位相を求めることで第1マーク60Aおよび第2マーク60BのX座標が求められ、直線Lyに沿って輝度の位相を求めることで第1マーク60Aおよび第2マーク60BのY座標が求められることになる。
言い換えると、第1の実施の形態のように白色の第1マーク60Aを用いて合計6点の3次元座標を求めてもよいし、第2の実施の形態のように黒色の第2マーク60Bを用いて合計6点の3次元座標を求めてもよい。あるいは、第1、第2マーク60A、60Bの双方を用いて合計12点の3次元座標を求めても良い。
図34に示すように、第3の実施の形態では、基本パターン60は、第2マーク60Bの回りに第1マーク60Aが配置され、第2マーク60B同士の間に第1マーク60Aが位置している。
図中、Lx1はX方向に平行して第1マーク60Aおよび第2マーク60Bの中心を通る直線を示し、Lx2はX方向に平行して第1マーク60Aの中心のみを通る直線を示す。
また、Ly1はY方向に平行して第1マーク60Aおよび第2マーク60Bの中心を通る直線を示し、Ly2はY方向に平行して第1マーク60Aの中心のみを通る直線を示す。
すなわち、直線Lx1上には第1マーク60Aと第2マーク60Bとが交互に並べられているが、直線Lx2上には第1マーク60Aのみが並べられている。
また、直線Ly1上には第1マーク60Aと第2マーク60Bとが交互に並べられているが、直線Ly2上には第1マーク60Aのみが並べられている。
このような基本パターン60からなる被撮像パターンを撮像素子の各画素によって撮像し各画素に対応して輝度が出力された場合について考える。
直線Lx1に沿って輝度の位相を求めることで第1マーク60Aおよび第2マーク60BのX座標が求められ、直線Ly1に沿って輝度の位相を求めることで第1マーク60Aおよび第2マーク60BのY座標が求められることになる。
一方、直線Lx2、Ly2に沿っては、輝度の変化が得られないため、第1マーク60Aおよび第2マーク60BのX座標、Y座標は求めることができない。
すなわち、直線Lx1と直線Ly1との交点に位置する第2マーク60BのX座標、Y座標を求めることはできる。
しかしながら、直線Lx2と直線Ly1との交点に位置する第1マーク60AのX座標、Y座標と、直線Lx1と直線Ly2との交点に位置する第1マーク60AのX座標、Y座標とを求めることはできない。
以上説明したように、第3の実施の形態は、第2マーク60Bの回りに第1マーク60Aが配置され、第2マーク60B同士の間に第1マーク60Aが位置することで基本パターン60が構成されているので、白色の第1マーク60Aを用いて座標を求めることはできず、黒色の第2マーク60Bを用いて座標を求めることに限定される。
言い換えると、第3の実施の形態においては、特定マークエレメント群は、3原色のうちの1つの原色を共通に含まない色およびBL(黒)の何れかの色を有してX方向またはY方向に並ぶ3つのマークエレメントの組み合わせに限定されることになる。
図中、Lx1はX方向に平行して第1マーク60Aおよび第2マーク60Bの中心を通る直線を示し、Lx2はX方向に平行して第1マーク60Aの中心のみを通る直線を示す。
また、Ly1はY方向に平行して第1マーク60Aおよび第2マーク60Bの中心を通る直線を示し、Ly2はY方向に平行して第1マーク60Aの中心のみを通る直線を示す。
すなわち、直線Lx1上には第1マーク60Aと第2マーク60Bとが交互に並べられているが、直線Lx2上には第1マーク60Aのみが並べられている。
また、直線Ly1上には第1マーク60Aと第2マーク60Bとが交互に並べられているが、直線Ly2上には第1マーク60Aのみが並べられている。
このような基本パターン60からなる被撮像パターンを撮像素子の各画素によって撮像し各画素に対応して輝度が出力された場合について考える。
直線Lx1に沿って輝度の位相を求めることで第1マーク60Aおよび第2マーク60BのX座標が求められ、直線Ly1に沿って輝度の位相を求めることで第1マーク60Aおよび第2マーク60BのY座標が求められることになる。
一方、直線Lx2、Ly2に沿っては、輝度の変化が得られないため、第1マーク60Aおよび第2マーク60BのX座標、Y座標は求めることができない。
すなわち、直線Lx1と直線Ly1との交点に位置する第2マーク60BのX座標、Y座標を求めることはできる。
しかしながら、直線Lx2と直線Ly1との交点に位置する第1マーク60AのX座標、Y座標と、直線Lx1と直線Ly2との交点に位置する第1マーク60AのX座標、Y座標とを求めることはできない。
以上説明したように、第3の実施の形態は、第2マーク60Bの回りに第1マーク60Aが配置され、第2マーク60B同士の間に第1マーク60Aが位置することで基本パターン60が構成されているので、白色の第1マーク60Aを用いて座標を求めることはできず、黒色の第2マーク60Bを用いて座標を求めることに限定される。
言い換えると、第3の実施の形態においては、特定マークエレメント群は、3原色のうちの1つの原色を共通に含まない色およびBL(黒)の何れかの色を有してX方向またはY方向に並ぶ3つのマークエレメントの組み合わせに限定されることになる。
(第4の実施の形態)
次に第4の実施の形態について説明する。
第4の実施の形態は、基本パターン60を構成する第1マーク60Aと第2マーク60Bの配置は第1の実施の形態と同じであるが、被撮像パターン50を構成する際に第1、第2のパターン70、72の2つのパターンを用いる点が第1の実施の形態と異なる。
図35(A)は第4の実施の形態における基本パターン60の説明図、図35(B)は第1のパターン70の説明図、(C)は第2のパターン72の説明図である。
図36(A)、(B)は被撮像パターン50の説明図である。
次に第4の実施の形態について説明する。
第4の実施の形態は、基本パターン60を構成する第1マーク60Aと第2マーク60Bの配置は第1の実施の形態と同じであるが、被撮像パターン50を構成する際に第1、第2のパターン70、72の2つのパターンを用いる点が第1の実施の形態と異なる。
図35(A)は第4の実施の形態における基本パターン60の説明図、図35(B)は第1のパターン70の説明図、(C)は第2のパターン72の説明図である。
図36(A)、(B)は被撮像パターン50の説明図である。
図35(A)に示すように、正方形状を呈し互いに色が異なる第1マーク60Aと第2マーク60Bとを互いに直交するX方向とY方向とに沿って格子状に並べることで基本パターン60を形成する。
すなわち、複数の第1マーク60Aと複数の第2マーク60Bとを配置することで矩形状の基本パターン60を形成する。
第4の実施の形態では、基本パターン60は、2つの第1マーク60Aが隣り合わず、かつ、2つの第2マーク60Bが隣り合わないように配置されている。
すなわち、複数の第1マーク60Aと複数の第2マーク60Bとを配置することで矩形状の基本パターン60を形成する。
第4の実施の形態では、基本パターン60は、2つの第1マーク60Aが隣り合わず、かつ、2つの第2マーク60Bが隣り合わないように配置されている。
次に、基本パターン60を構成する第1マーク60AをX方向およびY方向のそれぞれにおいて2等分することにより4つのマークエレメントに分割し、基本パターン60を構成する第2マーク60BをX方向およびY方向のそれぞれにおいて2等分することにより4つのマークエレメントに分割する。
図35(B)に示すように、第1マーク60Aの4つのマークエレメント62の色をR、G、Bの3原色のうちから選択された第1の原色であるRとすると共に、第2マーク60Bの4つのマークエレメント62の色をBLとすることで第1のパターン70を形成する。
図35(C)に示すように、第1のパターン70に対して、第1マーク60Aおよび第2マーク60Bを、X方向に1つのマークエレメント62分変位させ、かつ、Y方向に1つのマークエレメント62分変位させた状態で、第1マーク60Aの4つのマークエレメント62の色を3原色のうち第1の原色Rを除く残り2つの色G、Bから選択された第2の原色であるGとすると共に、第2マーク60Bの4つのマークエレメント62の色をBLとすることで第2のパターン72を形成する。
そして、第1、第2、第3のパターン70、72を重ね合わせることにより、図36(A)、(B)に示すように被撮像パターン50が構成される。
このように構成された被撮像パターン50において、X方向あるいはY方向において隣り合う2つのマークエレメント62の組み合わせに着目すると、これらの組み合わせのうち、3原色のR、G、Bのうちの1つの原色の階調を共通に含む組み合わせが、特定マークエレメント群として構成されている。
言い換えると、被撮像パターン50は、第1の原色Rを共通に含む色を有してX方向に2つ、Y方向に2つ並ぶ合計4つのマークエレメント62の組み合わせと、第2の原色Gを共通に含む色を有してX方向に2つ、Y方向に2つ並ぶ合計4つのマークエレメント62の組み合わせとを含んで構成されている。
第1の原色Rについて着目すると、一点鎖線で囲むように、第1の原色Rの階調を含む色は、RとYとであり、このRとYとを含む4つのマークエレメント62が矩形状に並んでいる。
また、第2の原色Gについて着目すると、二点鎖線で囲むように、第2の原色Gの階調を含む色は、GとYとであり、このGとYとを含む4つのマークエレメント62が矩形状に並んでいる。
言い換えると、被撮像パターン50は、第1の原色Rを共通に含む色を有してX方向に2つ、Y方向に2つ並ぶ合計4つのマークエレメント62の組み合わせと、第2の原色Gを共通に含む色を有してX方向に2つ、Y方向に2つ並ぶ合計4つのマークエレメント62の組み合わせとを含んで構成されている。
第1の原色Rについて着目すると、一点鎖線で囲むように、第1の原色Rの階調を含む色は、RとYとであり、このRとYとを含む4つのマークエレメント62が矩形状に並んでいる。
また、第2の原色Gについて着目すると、二点鎖線で囲むように、第2の原色Gの階調を含む色は、GとYとであり、このGとYとを含む4つのマークエレメント62が矩形状に並んでいる。
この場合、被撮像パターン50が撮像素子の各画素によって撮像されることにより、各画素に対応して、Rの輝度と、Gの輝度と、Bの輝度とが出力される。
そして、R、G、Bの3色のそれぞれに対して、各画素に対応する輝度の値を位相解析することにより、座標値に対応した輝度の分布を得る。
Rに対応した上記輝度の最大値に対応する座標値を演算することにより、図36(B)に示すように、Rの階調を含む特定マークエレメント群において、X方向あるいはY方向において隣り合う4つのマークエレメント62の中央位置R1が求められる。
また、Gに対応した上記輝度の最大値に対応する座標値を演算することにより、図36(B)に示すように、Gの階調を含む特定マークエレメント群において、X方向あるいはY方向において隣り合う4つのマークエレメント62の中央位置G1が求められる。
そして、R、G、Bの3色のそれぞれに対して、各画素に対応する輝度の値を位相解析することにより、座標値に対応した輝度の分布を得る。
Rに対応した上記輝度の最大値に対応する座標値を演算することにより、図36(B)に示すように、Rの階調を含む特定マークエレメント群において、X方向あるいはY方向において隣り合う4つのマークエレメント62の中央位置R1が求められる。
また、Gに対応した上記輝度の最大値に対応する座標値を演算することにより、図36(B)に示すように、Gの階調を含む特定マークエレメント群において、X方向あるいはY方向において隣り合う4つのマークエレメント62の中央位置G1が求められる。
すなわち、図35(A)に示すように、白黒のマーク60A,60Bによって構成される基本パターン60を用いた従来方法では、1つの基本パターン60において、2つの第2マーク60Bを用いることにより2点の3次元座標しか得られない。
これに対して、図36(A),(B)に示すように、カラー画像を用いる本発明方法では、2つのR1、2つのG1の合計4点の3次元座標を得ることができ、3次元座標の情報を2倍得られることになる。
このような第4の実施の形態においても第1の実施の形態と同様の効果が奏される。
これに対して、図36(A),(B)に示すように、カラー画像を用いる本発明方法では、2つのR1、2つのG1の合計4点の3次元座標を得ることができ、3次元座標の情報を2倍得られることになる。
このような第4の実施の形態においても第1の実施の形態と同様の効果が奏される。
なお、本実施の形態では、測定対象物がタイヤである場合について説明したが、測定対象物はタイヤに限定されるものではなく、本発明は種々の測定対象物の3次元形状を測定する場合に広く適用可能である。
50……被撮像パターン、60……基本パターン、60A……第1マーク、60B……第2マーク、62……マークエレメント、70……第1のパターン、72……第2のパターン、74……第3のパターン。
Claims (12)
- 正方形状を呈し互いに色が異なる第1マークと第2マークとが互いに直交するX方向とY方向とに沿って格子状に並べられることで構成される被撮像パターンを測定対象物の表面に形成しておき、前記被撮像パターンを2台の撮像装置によって撮像して得た画像データを演算処理することにより前記被撮像パターンが形成された前記表面の3次元形状を求める3次元形状測定方法であって、
複数の第1マークと複数の第2マークとを配置することで矩形状の基本パターンを形成し、
前記基本パターンを構成する前記第1マークをX方向およびY方向のそれぞれにおいて3等分することにより9つのマークエレメントに分割し、
前記基本パターンを構成する前記第2マークをX方向およびY方向のそれぞれにおいて3等分することにより9つのマークエレメントに分割し、
前記第1マークの9つのマークエレメントの色を3原色のうちから選択された第1の原色とすると共に、前記第2マークの9つのマークエレメントの色をBL(黒)とすることで第1のパターンを形成し、
前記第1のパターンに対して、前記第1マークおよび前記第2マークを、X方向に1つのマークエレメント分変位させ、かつ、Y方向に1つのマークエレメント分変位させた状態で、前記第1マークの9つのマークエレメントの色を3原色のうち前記第1の原色を除く残り2つの原色から選択された第2の原色とすると共に、前記第2マークの9つのマークエレメントの色をBLとすることで第2のパターンを形成し、
前記第2のパターンに対して、前記第1マークおよび前記第2マークを、X方向に1つのマークエレメント分変位させ、かつ、Y方向に1つのマークエレメント分変位させた状態で、前記第1マークの9つのマークエレメントの色を3原色のうちの残り1つの原色である第3の原色とすると共に、前記第2マークの9つのマークエレメントの色をBLとすることで第3のパターンを形成し、
前記第1、第2、第3のパターンを重ね合わせることにより、前記第1マークおよび前記第2マークを構成し、
それら第1マークおよび第2マークにより前記被撮像パターンを構成した、
ことを特徴とする3次元形状測定方法。 - 前記基本パターンは、2つの第1マークが隣り合わず、かつ、2つの第2マークが隣り合わないように配置されている、
ことを特徴とする請求項1記載の3次元形状測定方法。 - 前記第1、第2、第3のパターンを重ね合わせることにより構成された前記第1マークは、前記第1マークの9つのマークエレメントがW(白)を含む互いに異なる4色の色で表現され、かつ、前記第1マークの9つのマークエレメントは隣り合うマークエレメントの色が互いに異なるように配置されたものであり、
前記第1、第2、第3のパターンを重ね合わせることにより構成された前記第2マークは、前記第2マークの9つのマークエレメントがBLを含みかつ前記第1マークの9つのマークエレメントの4色と異なる4色の色で表現され、かつ、前記第2マークの9つのマークエレメントは隣り合うマークエレメントの色が互いに異なるように配置されたものである、
ことを特徴とする請求項2記載の3次元形状測定方法。 - 前記基本パターンは、第2マークの回りに第1マークが配置され、第2マーク同士の間に第1マークが位置している、
ことを特徴とする請求項1記載の3次元形状測定方法。 - 前記各撮像装置は被写体像を撮像する複数の画素を有する撮像素子を有し、
前記各撮像装置は、前記各画素から出力される撮像信号に基づいて前記3原色を構成する3つの色のそれぞれの階調データを含む色情報を前記各画素毎に生成し、
前記画像データの演算処理は、前記各画素の前記色情報を用いてなされる、
ことを特徴とする請求項1乃至4に何れか1項記載の3次元形状測定方法。 - 前記3原色は、R(赤)、G(緑)、B(青)である、
ことを特徴とする請求項1乃至5に何れか1項記載の3次元形状計測方法。 - 前記3原色は、R(赤)、G(緑)、B(青)であり、
前記被撮像パターンは、3原色のうちの1つの原色を共通に含む色を有してX方向またはY方向に並ぶ3つのマークエレメントの組み合わせを含んで構成されている、
ことを特徴とする請求項1乃至5に何れか1項記載の3次元形状計測方法。 - 前記3原色は、R(赤)、G(緑)、B(青)であり、
前記被撮像パターンは、3原色のうちの1つの原色を共通に含まない色およびBL(黒)の何れかの色を有してX方向またはY方向に並ぶ3つのマークエレメントの組み合わせを含んで構成されている、
ことを特徴とする請求項1乃至5に何れか1項記載の3次元形状計測方法。 - 正方形状を呈し互いに色が異なる第1マークと第2マークとが互いに直交するX方向とY方向とに沿って格子状に並べられることで構成される被撮像パターンを測定対象物の表面に形成しておき、前記被撮像パターンを2台の撮像装置によって撮像して得た画像データを演算処理することにより前記被撮像パターンが形成された前記表面の3次元形状を求める3次元形状測定方法であって、
複数の第1マークと複数の第2マークとを配置することで矩形状の基本パターンを形成し、
前記基本パターンを構成する前記第1マークをX方向およびY方向のそれぞれにおいて2等分することにより4つのマークエレメントに分割し、
前記基本パターンを構成する前記第2マークをX方向およびY方向のそれぞれにおいて2等分することにより4つのマークエレメントに分割し、
前記第1マークの4つのマークエレメントの色を3原色のうちから選択された第1の原色とすると共に、前記第2マークの4つのマークエレメントの色をBL(黒)とすることで第1のパターンを形成し、
前記第1のパターンに対して、前記第1マークおよび前記第2マークを、X方向に1つのマークエレメント分変位させ、かつ、Y方向に1つのマークエレメント分変位させた状態で、前記第1マークの4つのマークエレメントの色を3原色のうち前記第1の原色を除く残り2つの原色から選択された第2の原色とすると共に、前記第2マークの4つのマークエレメントの色をBLとすることで第2のパターンを形成し、
前記第1、第2のパターンを重ね合わせることにより、前記第1マークおよび前記第2マークを構成し、
それら第1マークおよび第2マークにより前記被撮像パターンを構成した、
ことを特徴とする3次元形状測定方法。 - 前記基本パターンは、2つの第1マークが隣り合わず、かつ、2つの第2マークが隣り合わないように配置されている、
ことを特徴とする請求項9記載の3次元形状測定方法。 - 前記3原色は、R(赤)、G(緑)、B(青)であり、
前記被撮像パターンは、前記第1の原色を共通に含む色を有してX方向に2つ、Y方向に2つ並ぶ合計4つのマークエレメントの組み合わせと、前記第2の原色を共通に含む色を有してX方向に2つ、Y方向に2つ並ぶ合計4つのマークエレメントの組み合わせとを含んで構成されている、
ことを特徴とする請求項10記載の3次元形状計測方法。 - 可撓性を有する薄板状のシート体の表面に前記被撮像パターンを形成したパターンシートを設け、
前記測定対象物の表面への前記被撮像パターンの形成は、前記パターンシートを前記測定対象物の表面に貼り付けることでなされる、
ことを特徴とする請求項1乃至11に何れか1項記載の3次元形状計測方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2009074917A JP2010230317A (ja) | 2009-03-25 | 2009-03-25 | 3次元形状計測方法 |
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JP2009074917A JP2010230317A (ja) | 2009-03-25 | 2009-03-25 | 3次元形状計測方法 |
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Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2013221801A (ja) * | 2012-04-13 | 2013-10-28 | Motoharu Fujigaki | 三次元変位計測方法とその装置 |
JP2019039688A (ja) * | 2017-08-22 | 2019-03-14 | 国立研究開発法人産業技術総合研究所 | 広測定レンジの変形測定方法、装置、およびそのプログラム |
-
2009
- 2009-03-25 JP JP2009074917A patent/JP2010230317A/ja active Pending
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