JP2010216959A - レーザ式ガス分析装置 - Google Patents

レーザ式ガス分析装置 Download PDF

Info

Publication number
JP2010216959A
JP2010216959A JP2009063345A JP2009063345A JP2010216959A JP 2010216959 A JP2010216959 A JP 2010216959A JP 2009063345 A JP2009063345 A JP 2009063345A JP 2009063345 A JP2009063345 A JP 2009063345A JP 2010216959 A JP2010216959 A JP 2010216959A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
laser
laser element
light
gas
signal
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2009063345A
Other languages
English (en)
Inventor
Kazuhiro Koizumi
和裕 小泉
Noritomo Hirayama
紀友 平山
Yusuke Nakamura
裕介 中村
Hideo Kanai
秀夫 金井
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fuji Electric Co Ltd
Original Assignee
Fuji Electric Systems Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fuji Electric Systems Co Ltd filed Critical Fuji Electric Systems Co Ltd
Priority to JP2009063345A priority Critical patent/JP2010216959A/ja
Publication of JP2010216959A publication Critical patent/JP2010216959A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Abstract

【課題】レーザ式ガス分析装置において、レーザ光由来の干渉ノイズを低減させる振動手段を小型化する。
【解決手段】レーザ式ガス分析装置10は、レーザ素子24と、レーザ素子24の発光波長が被測定ガスの吸収波長を含むように信号を発生する波長制御手段21,22と、波長制御手段21,22で発生した信号をレーザ素子24の駆動電流に変換してレーザ素子24を駆動するレーザ素子駆動手段23と、レーザ素子24から出射された光を被測定ガスに照射させるレーザ光出射光学系30と、被測定ガスを透過した光を集光する集光光学系40と、集光光学系40で集光された光の強度を測定する受光素子50と、受光素子50の出力する受光信号を処理する受光信号処理部60と、レーザ素子24を光軸方向に微小振動させるレーザ素子振動手段28を備える。
【選択図】図2

Description

本発明は、ガスの濃度をレーザ光により測定するガス分析装置に関するものである。
気体状のガス分子には、それぞれ固有の光吸収スペクトルがあることが知られている。レーザ光を用いたガス分析装置(以下、「レーザ式ガス分析装置」)は、レーザ光の特定波長の吸収量が被測定ガス(測定対象ガス)の濃度に比例することを利用してガス濃度を測定する装置であり、ガス濃度の測定方法は、2波長差分方式と周波数変調方式とに大別される。以下では、周波数変調方式を用いたレーザ式ガス分析装置を用いた例について説明する。
まず、周波数変調方式によるガス濃度の測定原理について説明する。図8は、特許文献1に示される周波数変調方式のレーザ式ガス分析装置100の構成を示す概略断面図である。図8において、フランジ110a、110bは、被測定ガスG(図示せず:以下、省略して「ガスG」とよぶ)が内部を通過する煙道などの配管の壁W1,W2に溶接等によって固定されている。一方のフランジ110aには、取付座120aを介して有底円筒状のカバー130が取付けられている。
カバー130の内部には、レーザ光源部200及びコリメートレンズ300が収容されている。レーザ光源部200から出射した光はコリメートレンズ300にて平行光Lにコリメートされ、煙道に向けて入射する。平行光Lは煙道内のガスGを通過する際にガス吸収を受ける。
一方、他方のフランジ110bには、取付座120bを介して有底円筒状のカバー140が取付けられている。カバー140の内部には、集光レンズ400、受光素子500及び受光素子処理部600とが収容されている。煙道内を通過した平行光Lは、集光レンズ400により集光されて、受光部500により受光され、受光信号処理部600で電気信号として検出される。
図9は、図8に示したレーザ光源部200の概略構成を示す図である。レーザ光源部200は、ガスGの吸収波長を走査するようにレーザ素子の発光波長を可変とする波長走査駆動信号発生部210と、ガスGの吸収波形を検出するために、例えば10kHz程度の正弦波で波長を周波数変調する高周波変調信号発生部220とを備えている。これらの信号発生部210,220からの出力信号は合成されてレーザ駆動信号が生成され、このレーザ駆動信号は、電流制御部230によりレーザ素子240を駆動する電流に変換され、レーザ素子240に供給される。
レーザ光源部200内部において、レーザ素子240に接触して温度検出素子としてのサーミスタ250が配置され、サーミスタ250にはペルチェ素子260が接触して配置されている。ペルチェ素子260は、サーミスタ250の抵抗値が一定値になるように温度制御部270によってPID制御されることにより、レーザ素子240の温度を安定化させるためのものである。
図9に示される波長走査駆動信号発生部210で発生する出力信号は、図10に示すように、一定周期で繰り返される台形形状となる。図10における信号S1は、電流制御部230を介してレーザ素子240に供給される電流の大きさを直線的に変える部分である。この信号S1によってレーザ素子240の発光波長を徐々にずらしていき、例えばアンモニアガスであれば、0.2nm程度の線幅を走査可能としている。
図10に示される信号S2は、吸収波長は走査しないがレーザ素子240は発光させておく部分であり、レーザ素子240の発光が安定するスレッショルド電流値以上の値にしておく。さらに信号S3は、駆動電流をほぼ0にした部分である。
図11は、図8における受光素子500及び受光信号処理部600の概略構成を示す図である。受光素子500は例えばフォトダイオードであり、レーザ素子240の発光波長に感度を持つ素子が適用される。図11において、受光素子500の出力電流はI/V変換器610により電圧に変換される。I/V変換器610の出力信号は、発振器620からの2f信号(2倍波信号)が加えられる同期検波回路630に入力され、出射光の変調信号の2倍周波数成分の振幅のみが抽出される。同期検波回路630の出力信号は、ノイズ除去用のローパスフィルタ640を介してCPU等の演算部650に送られる。
次に、上記のレーザ式ガス分析装置100を用いた濃度測定の方法について説明する。まず、事前に、レーザ素子240の温度をサーミスタ250により検出する。さらに、図10に示した波長走査駆動信号S1の中心部分でガスGを測定できるように、温度制御部270によりペルチェ素子260の通電を制御してレーザ素子240の温度を所望の温度に保つ。レーザ素子240は、図12及び図13に示すように、ドライブ電流やレーザ素子240の温度によって発光波長が変化するため、この特性を利用し、吸収波長帯を測定する。以下の例では、レーザ素子240の温度を所定の温度に保ち、ドライブ電流を変化させることによって発光波長を変化させる。
レーザ素子240の温度を所望の温度に保ちながら、ドライブ電流を変化させることによりレーザ素子240を駆動し、ガスGが存在する空間にレーザ素子240から光を出射し、受光素子500へ光を入射させる。ガスの吸収がない場合は、図11に示した同期検波回路630によって2倍周波数信号(2倍波信号)が検出されないので、同期検波回路630の出力はほぼ直線となる。一方、ガスの吸収がある場合は、同期検波回路630によって2倍波信号が検出され、その出力波形は図14に示すようになる。図14に示す波形におけるA部分がガスによる吸収を受けた部分(ガス吸収波形)であり、この吸収波形Aの最大値又は最小値がガスの濃度に相当する。演算部650では、ガス吸収波形Aの最大値と最小値との差分を測定するか、あるいはガス吸収波形Aを積分して、その積分値からガス濃度を算出する。
ところで、上述したレーザ式ガス分析装置では、レーザ光のコヒーレント性によって、レーザ素子240とコリメートレンズ300との間、あるいは、集光レンズ400と受光素子500との間といった光学部品間での光の多重反射により干渉光が発生し、受光信号に干渉ノイズとして検出されてしまう。この干渉ノイズは外部環境(特に温度)の変化によって変動するため、装置の高感度化、高安定化の妨げになっている。
そこで、近年、上述した光学部品間での光の多重反射による干渉光を低減する手段を備えたレーザ式ガス検出装置が検討されている(例えば特許文献2を参照)。図15は、特許文献2に記載されるレーザ式ガス検出装置である。このレーザ式ガス検出装置700は、測定雰囲気(ガスG)中に所定測定光路長を隔てて投受光ユニット710と反射ユニット720とが対向配置されている。
投受光ユニット710は、レーザ素子を備える光源ユニット730と、光源ユニット730から出射されガス中を通過した光を集光する集光レンズ740と、集光レンズ740で集光した光を受光検出する受光素子750Aと、受光素子750Aで検出した受光信号を処理してガス濃度を演算する受光信号処理部750Bと、集光レンズ740を光軸方向に微小振動させる振動手段760とを備えている。この振動手段760は、振動モータなどの各種モータや圧電素子などの駆動手段で構成され、集光レンズ740に直接取り付けられている。一方、反射ユニット720は、投受光ユニット710からのレーザ光を再び測定雰囲気に向けて反射する反射板790を備えている。
光源ユニット730から出射されたレーザ光は、反射ミラー770A,770Bでそれぞれ反射したのち、集光レンズ740の中心位置に設けられたガラス窓780から測定雰囲気に向けて出射される。ガラス窓780から出射された光は、測定雰囲気中を通過して反射板790で反射し、再び測定雰囲気中を通過して集光レンズ740で集光され、受光素子750Aで受光される。受光された光は電気信号に変換されたのち、受光信号処理部750Bで信号処理される。
上記のように構成されるレーザ式ガス分析装置700では、ガスの検出動作中に振動手段760を動作させると、投受光ユニット710における集光レンズ740及び窓部780が光軸方向に微小振動することで、反射ミラー770Bと窓部780との間の距離D1、窓部780と反射板790との間の距離D2、反射板790と集光レンズ740との間の距離D3、集光レンズ740と受光素子750との間の距離D4といった光学部材間の距離がそれぞれ変化する。これにより、窓部780の表面、集光レンズ740の表面、反射板790の表面での干渉光の反射位置が変わって位相ずれが生じる。その結果、上記距離D1〜D4で発生する干渉光が多重反射する間に平均化され、測定に不要な干渉光を低減することができる。
国際公開WO2008/096524 A1 特開2008−70314号公報
特許文献2に示されるようにガスの検出中に集光レンズを微小振動させる方法は、ガス濃度測定を妨げるノイズ要因であるレーザ光由来の干渉ノイズを低減するのに有効な方法ではあるが、以下に示す問題がある。
まず、上述した測定方法では、通常、レーザ光のビームを拡大して測定対象空間に照射するため、集光レンズ740のレンズ径は25〜30mm程度と大きくなる。また、煙道のような高温・高腐食性の雰囲気下でガス濃度を計測する場合には、集光レンズ740の材料として耐熱性、耐腐食性を有する石英ガラスを用いる必要があるため、プラスチックレンズを用いる場合と比べて集光レンズ740の重量が重くなる。このように大きく重いガラスレンズを振動させるためには、振動手段760も大型かつ複雑な構造となり、コストアップの要因となる。
また、図15に示すように、集光レンズ740は投受光ユニット710の外部に露出した状態で配置されており、煙道内のガスに直接触れる構造となっている。通常、ガスが煙道外部に漏れ出すことがないように、煙道内部は外気に対して陰圧となっている。このため、集光レンズ740を振動させた場合には、煙道内・外の気圧差で集光レンズ740に圧力がかかり振動させることが困難になるという問題が発生する。集光レンズ740が外部に露出しないようにガラス板等で集光レンズ740を覆うことも考えられるが、このガラス板によって干渉光がさらに増加してしまうため適用することは困難である。
本発明は、上記の点に鑑み、レーザ光由来の干渉ノイズを低減させる振動手段を小型化し、安価に構成することのできるレーザ式ガス分析装置を提供することを目的とする。
本発明の請求項1に係るガス分析装置は、レーザ素子と、前記レーザ素子の発光波長が被測定ガスの吸収波長を含むように信号を発生する波長制御手段と、前記波長制御手段で発生した信号を前記レーザ素子の駆動電流に変換してレーザ素子を駆動するレーザ素子駆動手段と、前記レーザ素子から出射された光を被測定ガスに照射させるレーザ光出射光学系と、前記被測定ガスを透過した光を集光する集光光学系と、前記集光光学系で集光された光の強度を測定する受光素子と、前記受光素子の出力する受光信号を処理する受光信号処理部とを備え、前記受光信号処理部の処理結果に基づいて被測定ガス成分の濃度を検出するレーザ式ガス分析装置において、前記レーザ素子を光軸方向に微小振動させるレーザ素子振動手段を備えたことを特徴とする。
また、本発明の請求項2に係るガス分析装置は、上記請求項1において、前記波長制御手段は、前記測定ガスの吸収波長を走査するように前記レーザ素子の発光波長を可変とする波長走査信号を発生する波長走査信号発生手段と、前記レーザ素子に周波数変調を施す正弦波信号を発生する周波数変調手段とを備え、前記受光信号処理部は、前記受光素子の出力する受光信号から前記周波数変調手段による正弦波信号の2倍の周波数成分を検波信号として出力する2倍周波数成分検出手段を備え、前記検波信号の振幅を前記被測定ガス中に含まれる被測定ガス成分の濃度として検出することを特徴とする。
また、本発明の請求項3に係るガス分析装置は、上記請求項1又は2において、前記受光素子を光軸方向に微小振動させる受光素子振動手段を備えたことを特徴とする。
また、本発明の請求項4に係るガス分析装置は、上記請求項1から3のいずれか一つにおいて、前記レーザ素子振動手段及び前記受光素子振動手段の各振動周波数を、前記周波数変調手段による正弦波信号の周波数の10倍以上又は1/10倍以下に設定したことを特徴とする。
本発明のレーザ式ガス分析装置では、レーザ素子振動手段を用いてレーザ素子を光軸方向に微小振動させることで、レーザ光由来の干渉ノイズを低減させている。レーザ素子は集光レンズと比べてはるかに小型な部材である。そのため、本発明のレーザ式ガス分析装置によれば、大きく重い集光レンズを振動させる場合と比べて、振動手段を小型化して安価に構成することができるとともに、より信頼性の高いガス濃度計測を行うことが可能となる。
図1は、本実施の形態のレーザ式ガス分析装置の構成を示す概略断面図である。 図2は、図1に示されるレーザ光源部の概略構成を示す図である。 図3は、図1に示されるレーザ式ガス分析装置の受光信号波形を示す図である。 図4は、図1に示される受光信号処理部の概略構成を示す図である。 図5は、図1に示されるレーザ式ガス分析装置の受光信号処理部によって取出された波長走査信号成分を示す図であり、ガスを検出しているときの波形である。 図6は、図1に示されるレーザ式ガス分析装置の受光信号処理部によって取出された波長走査信号成分を示す図であり、ガスを検出していない状態の波形である。 図7は、レーザ素子振動手段の振動による干渉ノイズの低減を説明するための図である。 図8は、従来のレーザ式ガス分析装置の構成を示す概略断面図である。 図9は、図8に示されるレーザ光源部の概略構成を示す図である。 図10は、図8のレーザ式ガス分析装置の受光信号波形を示す図である。 図11は、図8における受光信号処理部の概略構成を示す図である。 図12は、レーザ素子の発光波長と電流との関係を示すグラフである。 図13は、レーザ素子の発光波長とレーザ素子の温度との関係を示すグラフである。 図14は、図8に示される受光信号処理部における同期検波回路の出力波形の一例を示す図である。 図15は、集光レンズを微小振動させる振動手段を備えた従来のレーザ式ガス分析装置の構成を示す図である。
以下に、添付図面を参照して、本発明に係るレーザ式ガス分析装置の好適な実施の形態について詳細に説明する。以下では、本発明を周波数変調方式を用いたレーザ式ガス分析装置に適用した例について説明する。
図1は、本実施の形態のレーザ式ガス分析装置10の構成を示す概略断面図である。図1に例示されるレーザ式ガス分析装置10は、後述するレーザ素子振動手段28を設けた点以外は、上述した図8のレーザ式ガス分析装置100と同じ構成を有したものであり、被測定ガスG(図示せず:以下、省略して「ガスG」とよぶ)が通過する煙道などの配管の壁W1,W2に設置されている。このレーザ式ガス分析装置10は、一対のフランジ11a、11bと、各フランジ11a,11bに取り付けられるカバー13,14と、一方のカバー13内に収容されるレーザ光源部(レーザ光源部)20及びコリメートレンズ(レーザ光出射光学系)30と、他方のカバー14内に収容される集光レンズ(集光光学系)40、受光素子50及び受光素子処理部60とから構成されている。
一対のフランジ11a,11bは、両端が開口した円筒状に形成されたものであり、煙道の壁W1,W2に溶接等によって固定されている。カバー13,14は、一端が開口し他端が閉塞した有底円筒状に形成されたものであり、取付座12a,12bを介してそれぞれフランジ11a,11bに取付けられている。
カバー13内に配置されたレーザ光源部20から出射した光はコリメートレンズ30を含む光学系にて平行光Lにコリメートされ、煙道内のガスGに入射する。平行光Lは、煙道内のガスGを通過する際にガスの吸収を受ける。煙道を通過した平行光Lは、カバー14内に配置された集光レンズ40により集光されたのち、受光部50により受光され、受光信号処理部60で電気信号として検出される。
図2は、図1に示したレーザ光源部20の概略構成を示す図である。レーザ光源部20は、以下に説明するレーザ素子24等の複数の部品をパッケージに収容したユニットとして構成されている。図2に示すように、このレーザ光源部20のパッケージ内部には、波長制御手段としての波長走査駆動信号発生部(波長走査信号発生手段)21及び高周波変調信号発生部(周波数変調手段)22、電流制御部(レーザ素子駆動手段)23、レーザ素子24、サーミスタ25、ペルチェ素子26、温度制御部27、レーザ素子振動手段28及び振動制御部29が収容されている。
波長走査駆動信号発生部21は、ガスGの吸収波長を走査するようにレーザ素子24の発光波長を可変とする波長走査信号を発生する。高周波変調信号発生部22は、ガスの吸収波形を検出するために、例えば10kHz程度の正弦波信号を発生して波長を周波数変調する。電流制御部23は、波長走査駆動信号発生部21で発生させた波長走査信号と高周波変調信号発生部22で発生させた正弦波信号とを合成した信号(レーザ駆動信号)を、レーザ素子24の駆動電流に変換してレーザ素子24を駆動する。
レーザ素子24は半導体レーザ(LD: laser diode)であり、電流制御部23から供給される駆動電流によりレーザ光を出射する。サーミスタ25は、レーザ素子24の温度を検出するための温度検出素子であり、レーザ素子24と接した状態で配置される。ペルチェ素子26は、レーザ素子24の加熱冷却手段であり、サーミスタ25と接した状態で配置される。温度制御部270は、サーミスタ25で測定した温度に基づいてペルチェ素子26を制御し、これによりレーザ素子24の温度を一定温度に保つことで、レーザ光の発振波長が制御される。
上述したレーザ素子24、サーミスタ25及びペルチェ素子26は、図2に示すようにレーザ光源部20のパッケージ内部において積層した状態で配置されている。そして、ペルチェ素子26に接触した状態で、レーザ素子振動手段28が配置されている。
レーザ素子振動手段28は、駆動した場合に自らが振動することにより、ペルチェ素子26とサーミスタ25とともにレーザ素子24をレーザ光の光軸方向に振動させるものである。ここで、レーザ素子振動手段28の振動方向は、必ずしも光軸方向である必要はなく、振動が光軸方向の成分をもっていればよい。すなわち、レーザ素子24とコリメートレンズ30との間の距離を変化させることができれば、振動方向はランダムな方向であってもよい。
レーザ素子24は全長が5mm程度と非常に小型なパッケージであるため、レーザ素子振動手段28としても小型で安価なものを適用することができる。具体的には、レーザ素子振動手段28として、携帯電話のバイブレーション機能で用いられる小型振動モータ(偏心ロータを備えたモータ)や圧電素子などを適用することができる。レーザ素子振動手段28の振動制御は、振動制御部29で処理される。レーザ素子振動手段28及び振動制御部29についての動作説明については後述する。
図2における波長走査駆動信号発生部21で発生する出力信号は、図3に示すように、一定周期で繰り返される台形形状となる。図3における信号S1は、電流制御部23を介してレーザ素子24に供給される電流の大きさを直線的に変える部分である。この信号S1によってレーザ素子240の発光波長を徐々にずらしていき、例えばアンモニアガスであれば、0.2nm程度の線幅を走査可能としている。
図3に示される信号S2は、吸収波長は走査しないがレーザ素子24は発光させておく部分であり、レーザ素子24の発光が安定するスレッショルド電流値以上の値にしておく。さらに信号S3は、駆動電流をほぼ0にした部分である。
さらに、波長走査駆動信号発生部21は、波長走査信号の1周期に同期したパルス状のトリガ信号(図示せず)を発生させて、そのトリガ信号をガス濃度検出のための演算処理を行う演算部65(図4を参照)に送信する。このトリガ信号は、例えば、レーザ素子24の駆動電流をゼロにするような波長走査駆動信号のタイミング(信号S3の発生タイミング)に同期して発生させる。
図4は、図1における受光素子50及び受光信号処理部60の概略構成を示す図である。受光素子50は、例えばフォトダイオードであり、レーザ素子24の発光波長に感度を持つ素子を適用する。受光素子50の出力は受光信号処理部60に送られ、I−V変換器61で電圧出力に変換され、ローパスフィルタ64Aで高周波ノイズ成分が除去される。ローパスフィルタ64Aからの出力信号は、発振器62からの2f信号(2倍波信号)が加えられる同期検波回路63に入力され、レーザ光の変調信号の2倍周波数成分の振幅のみが抽出される。同期検波回路63の出力信号は、ローパスフィルタ64Bでノイズ除去や増幅が行われ、演算部65に送られる。演算部65では、ガス濃度検出のための演算処理を行う。
上記のように構成したレーザ式ガス分析装置10を用いた濃度測定の方法について説明する。まず、事前に、レーザ素子24の温度をサーミスタ25により検出する。さらに、図3に示した波長走査駆動信号S1の中心部分でガスGを測定できるように、温度制御部27によりペルチェ素子26の通電を制御してレーザ素子24の温度を所望の温度に保つ。
レーザ素子24の温度を所望の温度に保ちながら、ドライブ電流を変化させることによりレーザ素子24を駆動し、ガスが存在する煙道内に向けてレーザ素子24から光を出射し、受光素子50へ光を入射させる。ガスの吸収がある場合は、同期検波回路63によって2倍波信号が検出され、ガスの吸収波形が現れる。図5は、ガスを検出しているときの波形を示すグラフであり、信号81はI−V変換器61から出力される受光信号波形であり、信号82は同期検波回路63の出力波形である。同期検波回路63の出力波形において、点線で囲んだA部がガスの吸収波形である。
吸収波形Aの大きさがガス濃度となるため、吸収波形Aの最大値又は最小値の大きさを計測してもよいし、信号変化を積分してもよい。しかしながら、何らかの原因によって同期検波回路63の出力にオフセット変動が発生した場合、最大値もしくは最小値のみの検出あるいは積分による検出では誤差が生じてしまい、ガス濃度を正確に検出できないおそれがある。そこで、さらに高精度に安定的にガス濃度を検出するため、以下の(数1)、(数2)式に示すように、最大値(図5のC点)と、最小値(図5のB点もしくはD点)の差分をとり、その差分値の絶対値を算出し、ガス濃度を検出する。
(数1)
ガス濃度=α×|B−C|
(数2)
ガス濃度=α×|C−D|
(数1)式及び(数2)式において、Cは図5中の吸収波形Aにおける最大値、B,Dは吸収波形Aにおける最小値、αはガス濃度変換係数を示す。
一方、ガスの吸収がない場合には、同期検波回路63は、2倍周波数信号が検出されないので、同期検波回路63の出力は理想的には直線となる。
上述した方法によりガス濃度検出が可能となるが、光源にレーザ素子24を使用しているため、その非常に高いコヒーレンス性によって、例えばレーザ素子24とコリメートレンズ30との間、集光レンズ40と受光素子50との間で、レーザ光の一部が多重反射し、この多重反射光が干渉光となる。
図6はガスが存在しない場合の波形を示すグラフであり、信号83はI−V変換器61から出力される受光信号波形であり、信号84は同期検波回路63の出力波形である。ガスの吸収がない場合、同期検波回路63の信号84の出力波形は理想的には直線となるが、実際には、図6に示すように干渉光によって凹凸の信号波形となる。この干渉光由来のノイズ(干渉ノイズ)は、ガス吸収波形に対して十分小さく、かつ、温度など外部環境変化に対して時間的に変化しなければ問題はない。しかしながら、温度変化によって干渉条件が変化するため、干渉ノイズは変動する。この干渉ノイズの変動は、ガス分析装置の温度ドリフトとして検出されてしまい、高感度化、高安定化の妨げになっている。
この干渉ノイズを低減させるために、上述したレーザ素子振動手段28によりレーザ素子24を光軸方向に微小振動させ、レーザ素子24とコリメートレンズ30との間の距離を変化させる。レーザ素子振動手段28は、振動制御部29の指令信号に基づいた振動周波数および振幅(光軸方向の変位量)で振動する。レーザ素子振動手段28の振幅は数μmから数10μmであり、振幅は時間によらず一定とするのが好ましい。また、レーザ素子振動手段28の振動周波数は、高周波変調信号発生部22による正弦波信号の周波数(たとえば10kHz)の10倍以上(たとえば100kHz以上)もしくは1/10倍以下(たとえば1kHz)に設定することがのぞましい。レーザ素子振動手段28の振動周波数が正弦波信号の周波数の1/10倍より大きく10倍未満の場合、レーザの変調周波数(たとえば10kHz)と振動周波数の分離が困難となり、干渉ノイズの除去が困難となる。また、上述したようにレーザ素子振動手段28の振動方向は、必ずしも光軸方向である必要はなく、振動が光軸方向の成分をもっていればよい。
上述したレーザ素子振動手段28によって、レーザ素子24が振動すると、レーザ素子24とコリメートレンズ30間の距離が変化する。これにより、コリメートレンズ30表面とレーザ素子24間の多重反射光によって発生している干渉光の強度は、干渉発生条件が変化するため変動する。この干渉光変動の周期はレーザ素子24の振動周波数に等しい。そこで、振動周波数成分を除去可能なローパスフィルタ等のフィルタ処理によって検出信号から干渉ノイズを除去することが可能となる。
図7は干渉ノイズの低減を説明するための概念図である。図7の信号85は、レーザ素子振動手段28を振動させない場合の同期検波回路63の出力波形を示している。図7の信号85に示すように、受光信号には凹凸形状の干渉ノイズが発生している。周囲温度の変動がなければ干渉ノイズは変動しない。しかしながら周囲温度などが微小でも変動すると信号85も形状や周期が変化し、先に説明したとおり、装置の温度ドリフトの要因となる。図7の信号86は、レーザ素子振動手段28によってレーザ素子24を振動させたときの同期検波回路63の出力波形であり、レーザ素子振動手段28の振動周波数に応じて干渉ノイズも変化する。この信号をローパスフィルタ等で振動による周波数成分を除去する。その結果が、図7の信号87であり、レーザ素子駆動手段28を駆動させない場合の信号85と比較すると大幅に干渉ノイズが低減できていることが分かる。
干渉光は、レーザ素子24とコリメートレンズ30との間で最も多く発生する。したがって、上記のようにレーザ素子28を振動させることで干渉ノイズが大幅に低減され、従来に比して正確なガス濃度計測を行うことができるようになる。しかしながら、上述したように干渉光は集光レンズ40と受光素子50との間でも発生する。そこで、ガス濃度計測をさらに精密に行うために、レーザ素子振動手段28に加えて、受光素子50を振動させる受光素子振動手段(図示せず)を設けるのが好ましい。この受光素子振動手段は、レーザ素子振動手段28と同様の小型振動モータや圧電素子などで構成され、受光素子50に接した状態で配置される。受光素子振動手段を用いて受光素子50を光軸方向に微小振動させると、集光レンズ40と受光素子50との距離が変化し、これにより集光レンズ40表面と受光素子50間の多重反射光によって発生している干渉光の強度は、干渉発生条件が変化するため変動する。この干渉光変動の周期は振動周波数に等しい。そこで、振動周波数成分を除去可能なローパスフィルタ等のフィルタ処理によって検出信号から干渉ノイズを除去することが可能となる。このように、レーザ素子24と受光素子50の両方を微小振動させることで干渉ノイズを大幅に低減させることができるため、高感度でかつ高安定な、信頼性の高いガス濃度計測が可能となる。
以上説明したように、本実施の形態に係るレーザ式ガス分析装置10では、レーザ素子振動手段28によりレーザ素子24を光軸方向に微小振動させることで、レーザ光由来の干渉ノイズを低減させている。レーザ素子24は集光レンズ40と比べてはるかに小型な部材である。そのため、従来のように大きく重い集光レンズ40を振動させる場合と比べて、振動手段を小型化して安価に構成することができるとともに、より信頼性の高いガス濃度計測を行うことが可能となる。また、振動手段が小型化することで、レーザ式ガス分析装置全体を小型化することができる。
また、本実施の形態のレーザ式ガス分析装置によれば、レーザ素子振動手段28に加えて、受光素子50を光軸方向に微小振動させる受光素子振動手段を設け、レーザ素子24と受光素子50の両方を微小振動させるように構成したことで、干渉ノイズをさらに低減させることができ、より精密なガス濃度の測定を行うことが可能となる。
また、本実施の形態のレーザ式ガス分析装置によれば、レーザ素子振動手段28及び受光素子振動手段の各振動周波数を、高周波変調信号発生部22による正弦波信号の周波数の10倍以上又は1/10倍以下に設定したことで、干渉光成分をローパスフィルタ等のフィルタ処理によって十分に削除することができるため、干渉ノイズの低減効果をより向上させることができる。
上記実施の形態では、ガス濃度の測定方法として周波数変調方式を用いたレーザ式ガス分析装置について説明したが、本発明はこれに限定されるものではなく、レーザ光の特定波長の吸収量が被測定ガスの濃度に比例することを利用してガス濃度を測定する他の方法を用いたレーザ式ガス分析装置にも適用することができる。例えば、2波長差分方式を用いたレーザ式ガス分析装置においても、レーザ素子単体、またはレーザ素子及び受光素子に振動手段を設け、この振動手段によりレーザ素子及び受光素子を振動させることにより、上述した効果と同様の効果が得られる。ここで、2波長差分方式とは、被測定ガスにより吸収されやすい(吸収の大きい)波長と、吸収され難い(吸収の小さい)波長の2波長のレーザ光をレーザ素子から被測定ガスに照射し、この2波長のレーザ光を受光素子で受光してガス濃度を測定する方法である。また、特定のガス吸収波長のレーザ光のみをガスに照射してガス濃度を測定するレーザ式ガス分析装置にも適用することができる。
10 レーザ式ガス分析装置
11a,11b フランジ
12a,12b 取付座
13,14 カバー
20 レーザ光源部
21 波長走査駆動振動発生部(波長走査信号発生手段:波長制御手段)
22 高周波変調信号発生部(周波数変調手段:波長制御手段)
23 電流制御部(レーザ素子駆動手段)
24 レーザ素子
25 サーミスタ
26 ペルチェ素子
27 温度制御部
28 レーザ素子振動手段
29 振動制御部
30 コリメートレンズ(レーザ光出射光学系)
40 集光レンズ(集光光学系)
50 受光素子
60 受光信号処理部
61 I/V変換器
62 発信器
63 同期検波回路(2倍周波数成分検出手段)
64A,64B ローパスフィルタ
65 演算部
G 被測定ガス
L 平行光(レーザ光)
W1,W2 (煙道の)壁

Claims (4)

  1. レーザ素子と、
    前記レーザ素子の発光波長が被測定ガスの吸収波長を含むように信号を発生する波長制御手段と、
    前記波長制御手段で発生した信号を前記レーザ素子の駆動電流に変換してレーザ素子を駆動するレーザ素子駆動手段と、
    前記レーザ素子から出射された光を被測定ガスに照射させるレーザ光出射光学系と、
    前記被測定ガスを透過した光を集光する集光光学系と、
    前記集光光学系で集光された光の強度を測定する受光素子と、
    前記受光素子の出力する受光信号を処理する受光信号処理部とを備え、
    前記受光信号処理部の処理結果に基づいて被測定ガス成分の濃度を検出するレーザ式ガス分析装置において、
    前記レーザ素子を光軸方向に微小振動させるレーザ素子振動手段を備えたことを特徴とするレーザ式ガス分析装置。
  2. 前記波長制御手段は、
    前記測定ガスの吸収波長を走査するように前記レーザ素子の発光波長を可変とする波長走査信号を発生する波長走査信号発生手段と、
    前記レーザ素子に周波数変調を施す正弦波信号を発生する周波数変調手段とを備え、
    前記受光信号処理部は、
    前記受光素子の出力する受光信号から前記周波数変調手段による正弦波信号の2倍の周波数成分を検波信号として出力する2倍周波数成分検出手段を備え、
    前記検波信号の振幅を前記被測定ガス中に含まれる被測定ガス成分の濃度として検出することを特徴とする請求項1に記載のするレーザ式ガス分析装置。
  3. 前記受光素子を光軸方向に微小振動させる受光素子振動手段を備えたことを特徴とする請求項1又は2に記載のレーザ式ガス分析装置。
  4. 前記レーザ素子振動手段及び前記受光素子振動手段の各振動周波数を、前記周波数変調手段による正弦波信号の周波数の10倍以上又は1/10倍以下に設定したことを特徴とする請求項1から3のいずれか一つに記載のレーザ式ガス分析装置。
JP2009063345A 2009-03-16 2009-03-16 レーザ式ガス分析装置 Pending JP2010216959A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2009063345A JP2010216959A (ja) 2009-03-16 2009-03-16 レーザ式ガス分析装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2009063345A JP2010216959A (ja) 2009-03-16 2009-03-16 レーザ式ガス分析装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2010216959A true JP2010216959A (ja) 2010-09-30

Family

ID=42975969

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2009063345A Pending JP2010216959A (ja) 2009-03-16 2009-03-16 レーザ式ガス分析装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2010216959A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2019105556A (ja) * 2017-12-13 2019-06-27 富士電機株式会社 レーザ式ガス分析計
JP2022043847A (ja) * 2020-09-04 2022-03-16 富士電機株式会社 ガス分析計

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH10267839A (ja) * 1997-03-28 1998-10-09 Anritsu Corp ガス濃度測定装置
JP2009047677A (ja) * 2007-02-02 2009-03-05 Fuji Electric Systems Co Ltd レーザ式ガス分析計

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH10267839A (ja) * 1997-03-28 1998-10-09 Anritsu Corp ガス濃度測定装置
JP2009047677A (ja) * 2007-02-02 2009-03-05 Fuji Electric Systems Co Ltd レーザ式ガス分析計

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2019105556A (ja) * 2017-12-13 2019-06-27 富士電機株式会社 レーザ式ガス分析計
JP7135313B2 (ja) 2017-12-13 2022-09-13 富士電機株式会社 レーザ式ガス分析計
JP2022043847A (ja) * 2020-09-04 2022-03-16 富士電機株式会社 ガス分析計

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5176535B2 (ja) レーザ式ガス分析計
JP4331741B2 (ja) ガス検出方法及びガス検出装置
CN109975240B (zh) 气体分析装置
JP4431622B2 (ja) 水晶により測定精度を向上させる光音響分光ガス検出方法及び検出器
JP6128361B2 (ja) 多成分用レーザ式ガス分析計
JP2010512536A (ja) 温度補償機能を備えるセンサ濃度検出器
JP5314301B2 (ja) ガス濃度計測方法および装置
JP5169586B2 (ja) レーザ式ガス分析計、酸素ガス濃度測定方法
JP2013156113A (ja) レーザ式ガス分析装置
JP2011196832A (ja) レーザ式ガス分析装置
JP5594514B2 (ja) レーザ式ガス分析計
JP2009041941A (ja) ガス濃度測定装置およびガス濃度測定方法
JP2008268064A (ja) 多成分対応レーザ式ガス分析計
JP5234381B1 (ja) レーザ式酸素ガス分析計
JP2014102152A (ja) レーザ式ガス分析計
JP5278757B2 (ja) レーザ式ガス分析計
WO2014162536A1 (ja) 多成分用レーザ式ガス分析計
JP2010216959A (ja) レーザ式ガス分析装置
JP4993213B2 (ja) レーザ式ガス分析計
JP7395846B2 (ja) レーザ式ガス分析計
JP5277763B2 (ja) レーザ式ガス分析計
JP5286911B2 (ja) 多成分用レーザ式ガス分析計
JP2009014661A (ja) ガス濃度計測装置
JP4905106B2 (ja) レーザの波長制御装置、ガス濃度測定装置、レーザの波長制御方法およびガス濃度測定方法
JP2012173176A (ja) 信号処理装置およびレーザ計測装置

Legal Events

Date Code Title Description
A711 Notification of change in applicant

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A712

Effective date: 20110422

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20120214

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20130218

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20130226

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20130702