JP2010216859A - コンタクトプローブ、回路基板検査方法及び回路基板検査装置 - Google Patents

コンタクトプローブ、回路基板検査方法及び回路基板検査装置 Download PDF

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Abstract

【課題】最適なストロークを認識可能なコンタクトプローブ及びこのコンタクトプローブを用いた回路基板検査装置を提供する。
【解決手段】 導電性の筒状体からなるバレル3と、被検査対象と接触するとともに上記バレルと接触するプランジャー2と、上記バレル3内部にあり、上記プランジャー2を軸方向に付勢する弾性部材4と、を有してなり、前記プランジャー2は、最適なストローク位置をあらわすように塗装されている。塗装は、マーキング、色分けなどによる。プランジャー2の平坦面を色分け面とするとよい。
【選択図】 図4

Description

本発明は、最適なストロークを認識可能なコンタクトプローブ、およびこのコンタクトプローブを用いた回路基板検査方法、回路基板検査装置に関する。
電子回路基板は、電子部品が電子回路基板に正しく実装されることにより正確な動作が可能となる。回路基板検査装置は、この電子部品が電子回路基板上に実装された状態で被検査基板を検査する。一般的に回路基板検査装置は、被検査基板に実装された電子部品の導通部と、回路基板検査装置に備えられたコンタクトプローブを接触させ、上記電子部品に電流や電圧をコンタクトプローブから印加し、その電圧や電流などを測定することによって上記基板を検査する構成になっている。
回路基板検査装置の方式としては、主に治具方式と、フライングプローブ方式がある。治具方式は、コンタクトプローブを立てた検査治具を使用し、被検査基板を一括でプレスまたは真空吸着などにより、すべてのプローブを同時に被検査基板上の各配線パターンに接触させる。フライングプローブ方式は、コンタクトプローブを保持した複数のアームが被検査基板上の任意のポイントを移動してプロービングを行う。
一般的なコンタクトプローブは、上記被検査基板上のテストパッドやコネクタのソケットなどによる被検査基板との接触位置のばらつきなどに対応するため、上記接触個所が被検査基板に接触した際に伸縮する構造となっている。すなわち上記コンタクトプローブは、被検査基板上のテストパッドやコネクタと接触するためのプランジャーと本体部であるバレルとで構成され、プランジャーが伸縮できるような構造となっている。
上記のような伸縮構造を持つコンタクトプローブは、バレルとプラシジャーの接触面が電気的に導通されるように構成されている。具体的には、プランジャーの接触面積を確保するために、プランジャーを有底円筒状の形状を有するバレル内孔に入り込ませ、プランジャー外周と、バレル内孔の外壁が接触する構造になっている(以下、プランジャーがバレル内に入り込む寸法を「ストローク」とする。)。一般的にプランジャーのフルストロークにたいして、2/3のストローク程度まで縮小しないと、プランジャーとバレルとの接触面積が小さく接触抵抗が安定しない。そのため、コンタクトプローブを用いた回路基板検査装置では、ストロークが不十分であると正確に所望の検出信号を測定できない問題点があった。また、コンタクトプローブは、経時的変化によって劣化する。それにより、特に治具方式の電子回路の検査装置において、プランジャーのストロークが収縮不良になり、被検査基板の検査の際に、ストロークがばらつくなど検査に不具合が生ずることがあった。
ところで、特許文献1に記載の発明では、ソケットに調整子を設ける技術が開示されている。具体的には、コンタクトプローブの突き出し量を上記調節子によって調整して、被測定物の測定ランドに対するコンタクトプローブの最適接触加重が一様に得られるようにしている。また、特許文献2に記載の発明では、プランジャーのバレル内蔵部分の形状を変え、さらにバレルに内蔵されるバネとの間にバイアスピンを設けることで、プランジャーとバレルの接触抵抗軽減および安定化を図る技術が開示されている。しかしながら、上記各特許文献に記載の発明では、プランジャーが最適なストロークで接触対象と接しているかどうかをコンタクトプローブの外観をもって判定されるという技術事項は、記載もなければ示唆もなかった。
本発明は、最適なストロークが認識されるように色分けされ、ストローク不足の発見が容易になされるコンタクトプローブの提供および、このコンタクトプローブを用いた回路基板検査方法、回路基板検査装置の提供を目的とする。
本発明は、上記課題を達成するため以下の構成とした。すなわち、導電性の筒状体からなるバレルと、被検査対象と接触するとともに上記バレルと接触するプランジャーと、上記バレル内部にあり、上記プランジャーを軸方向に付勢する弾性部材からなり、上記プランジャーは、最適なストローク位置を表すように塗装されていることを特徴とするコンタクトプローブを最も主要な特徴とする。
本発明によれば、最適なストロークが認識され、ストローク不足の発見が容易になされるコンタクトプローブを提供をすることができる。また、このコンタクトプローブを用いることで例えば接触不良の原因の切り分けが容易となりメンテナンスを簡易に行うことができる回路基板検査方法および回路基板検査装置を提供することができる。
本発明に係るコンタクトプローブを用いた回路検査装置の概略を示す正断面図である。 図1におけるコンタクトプローブを使用した回路基板検査装置の操作手順を示す概念図である。 本発明に係るコンタクトプローブの実施例を示すもので、(a)は自然状態の断面図、(b)は、プランジャーが押された状態の断面図である。 本発明に係るコンタクトプローブの各種実施例を示す透視図である。 本発明に係る回路基板検査装置の実施例において、照射手段を用いた状態を示す正断面図である。 本発明に係る色分け面を設けたプランジャーを有するコンタクトプローブの別の実施例を示す(a)は正面図、(b)はプランジャーのみの平面図、(c)はプランジャーのみの左側面図、(d)はソケットの平面図、(e)はソケットの正面図である。 本発明に係るプランジャーの色分けの各種態様を示す上面図である。 本発明に係るコンタクトプローブを使用した実施例におけるストローク確認方法の例を示す説明図である。 本発明に係るコンタクトプローブを使用した実施例におけるストローク確認方法の別の例を示す説明図である。
以下に本発明に係るコンタクトプローブ及び上記コンタクトプローブを用いた回路基板検査装置の実施の形態を、図面を参照しながら説明する。
図1に基づいて、本発明に係るコンタクトプローブを用いた回路基板検査装置の構成の概要を説明する。図1において、回路基板検査装置は、上蓋8と、セットベース12と、ピンボード11、ピンボードの駆動部16を有した上箱9と、電源13と治具基板14を有した下箱10とで構成されている。上蓋8は、天井板を有しており、被検査基盤15をセットベース12に押圧するための構造を有してなる。
上箱9は、長方形の箱型をしており、被検査基板15を支持するためのセットベース12を上面部に有し、コンタクトプローブ1を嵌合する複数のソケット7を備えるピンボード11を上箱9内部に有してなる。セットベース12は、ピンボード11が有するコンタクトプローブ1と被検査基板15とを接触させるため、コンタクトプローブ1を貫通させるための穴を図1における垂直方向に有している。セットベース12の穴から貫通されたコンタクトプローブ1は、上箱9内部から外部へ先端部分を飛び出させ、上箱9の外部上面にセットされた被検査基板15と接触することができる。ピンボード11にはソケット7が、図1において垂直方向に貫通されて挿入されており、ソケット7と、コンタクトプローブ1は電気的に導通されている。コンタクトプローブ1がソケット7の図示しない嵌合部に図1において垂直方向に嵌合されて固定される。ピンボード11は、底面に駆動部16を有し、上記駆動部16は、上箱9の外部に貫通する連結棒によって、操作レバー17に連結している。従って、操作レバー17の操縦でピンボード11を上下運動させることができる。このようにして、コンタクトプローブ1は、被検査基板15に接離可能となっている。上記駆動部16としては、ピンボード11を上下運動させる上に限っては、適宜の構成が選択できる。特許文献3に記載の発明のように、フラックスを除去できるように、操作レバー17に連結する駆動部16として、従動歯車と、駆動回転軸からなる歯車構造、および該歯車構造に連結するカム部材を設けてもよく、エアプレス式でもよい。ソケット7は図示しない下箱10の天井面から上箱9の底面より貫通され、接続される導線18によって、下箱10の内部にある電源13と、治具基板14に電気的に接続される。
下箱10は、上述のとおり、電源13と、治具基板14からなり、電源13と、治具基板14が電気的にソケット7と導通することで、被検査基板15の検査を行うことができる。上記検査方法としては、目的に応じて適宜の方法が選択でき、例えば、コンタクトプローブに測定信号を印加したときの電圧と電流の値から電子部品Aの規定となる定数からの誤差を測定し、上記誤差が許容範囲内の値であるかどうかを判断する。
図2は、本発明に係るコンタクトプローブ1を用いた回路基板検査装置において、被検査基板15を検査する際の動作を示す模式図である。図2(b)のように、被検査基板15は、セットベース12上にセットされる。次に、図2(c)のように上蓋8を閉めることにより、被検査基板15が押圧される。そして、ピンボード11に接続された操作レバー17などの上下移動機構によりピンボード11のソケット7に嵌合されたコンタクトプローブ1の先端部分が被検査基板15上の電子部品Aの導通部分と接触される。
図3に基づいてのコンタクトプローブ1の構成の概要を説明する。
コンタクトプローブ1は、被検査基板15の電子部品の導通部分と接触するプランジャー2と、プランジャー2が挿入されるバレル3によって構成される。バレル3は、図2のように有底円筒状に構成され、プラシジャー2との接触面(太線部分)が電気的に導通される。バレル3内部には、バネなどによって構成される弾性部材4が備えられており、被検査基板15にバレル3の先端が接触することにより、ブランジャー2が伸縮する仕組みとなっている。図2において、太線で描かれているプランジャー2とバレル3の接触面が増えることで導通がよくなる。上述のように、プランジャー2のフルストロークに対して、2/3のストローク移動することでバレル3とプランジャー3の接触が安定するように設計されている。バレル3には、接触抵抗の低減と、腐食防止などのため、金メッキが施されている。
ソケット7は、図3のように有底円筒状に構成され、コンタクトプローブ1は、バレル3側からソケット7に嵌合され、ソケット7内に固定される。上記嵌合により、ソケット7とコンタクトプローブ1が接触し、両者が電気的に導通する。ソケット7には、バレル3と同様に接触抵抗の低減と、腐食防止などのため、金メッキが施されている。ソケット7は、一部に側面円周上に突起部Bがあり、上記突起部Bが上記ピンボード11に圧入されることで回路基板検査装置に固定される。なお、回路基板の接触個所により、図1における上蓋8側にもコンタクトプローブ1を設置することがある。コンタクトプローブ1の被検査回路基板15との接触部分の形状は、目的に応じて適宜選択できる。例えば、三角錐、円錐、王冠型、ポイント、フラットなどが挙げられる。
図4において、コンタクトプローブ1に外観で適切なストロークが判別されるよう、プランジャー1に対して油性ペンなどでプランジャー2の軸方向に対して水平方向に線状に塗装されたマーキング5または各種塗料などで面状に塗装された色分け6がなされている。例えば、図4(a)は、プランジャー2の軸方向に対して水平方向に線状に塗装されたマーキング5が見えなくなるところまでブラシジャー2がバレル3に沈み込むと、上記ストロークがフルストロークの2/3となる部分にマーキングをしている。また、図4(b)のように、ストロークの2/3の位置まで面状に色分けをしたり、図4(c)のように図4(b)における面状の色分け6部分の面積を小さくしたり、図4(d)のように上記マーキング5と上記色分け6を双方使うこともできる。プランジャー2の塗装の態様としては、上記実施例に限らず上記2/3のストロークを確認できる態様であればよく、上記実施例の態様に限られるものではない。
コンタクトプローブ1の被検査基板15の接触確認は、上蓋8を閉じるので、暗くなって見え辛くなるため、コンタクトプローブ1に塗装をする場合には蛍光塗料を用いると好ましい。また、図5のように、回路基板検査装置に照明手段19を備えることもできる。この場合単に明るくして見やすくするだけでなく、例えばプランジャー2の塗装にブラックライトに反応する塗料を用い、ストローク確認時にブラックライトを当て、特殊な塗料が反応しないことによって、すべてのプランジャー2が所定のストローク移動したことを確認することができる。上記特殊な塗料としては、ブラックライトに反応するものであれば適宜選択でき、例えばグローペイントなどが挙げられる。このような蓄光体の塗料を使用した場合、回路基板検査装置をカバーで覆って外光を遮断した状態にすると発光が見え易くなるため好ましい。また、照射手段19を配置する位置は、すべてのコンタクトプローブ1が照射できる位置に設置すると好ましく、例えば、回路基板検査装置の外部に配置してもよい。
図6は、本発明に係る色分け面20を設けたプランジャー2を有するコンタクトプローブ1の他の実施例を示す。
図6において、プランジャー2の色分け面20は、円柱状のプランジャー2の円周の一部を中心軸線に平行な平坦面とし、この平坦面が色分け6を有する色分け面20となっている。上記色分け面20には、プランジャー2のストロークがそのフルストロークに対して2/3となる位置まで、図6(a)の垂直方向に色分け6がなされている。図6(c)から見たように、周面には塗装がなされておらず、色分け面20に限られて塗装される。また、円柱状のプランジャー2の周面全体を色分けすると、プランジャー2の塗料とバレル3内部が接触する面積が大きくなり、接触抵抗が大きくなり接触不良を起こす可能性が発生するため、上記のように周面の一部を塗装することが好ましい。
有底円筒状のバレル3の内周面にもプランジャー2の上記平坦な色分け面20に合わせた図示しない平坦面が形成されている。バレル3にプランジャー2が嵌合されると双方の平地面同士が対向して嵌り合う。そうすることにより、上記プランジャー2が外力により回転しなくなり、色分け面20の観察位置が固定化され、上記ストローク確認を簡略化することができる。また同様にして、バレル3の形状21とソケット7の内径形状22が同じであることで、双方の平地面同士が対向して嵌り合い、色分け面20の観察位置が固定化される。
上記図6における実施例に限らず、プランジャー2の形状や塗装の態様としては、目的に応じて適宜のものが選択できる。図7において、太線は上記塗装を示す。図7(a)の太線部分ようにプランジャー2の周面全体に塗装するよりも、図7(b)の太線部分ように上記塗装をプランジャー2の周面の一部にすると上述のように電気導通面から好ましい。しかしながら、図7(b)のプランジャー2の形状では、上述のようにプランジャー2が回転してしまう可能性があり、ストローク確認をしづらくなる問題がある。上述のように図7(c)の太線部分ように色分け面20を持たせ、上述のようにバレル3の内周面にもプランジャー2の上記平坦面に合わせた図示しない平坦面が形成されていれば、コンタクトプローブ1の色分け面20が固定され、さらに好ましい。上述のように色分け面20の回転を防げるプランジャー2の形状としては、他にも図7(e)に示すように四角柱状、図7(f)に示すように三角柱状、図7(g)に示すように六角柱状などの多角柱状に色分け面20を形成することが挙げられる。ブラシジャー2が回転しない条件としては、プラシジャー2の形状とバレル3の内径形状が同じであること、バレル3の形状とソケット7の内径形状が同じであること、形状が多角形または非対象形状であることが挙げられる。また、円柱状のプランジャー2を用いた他の実施形態としては、図7(d)のように、円周の一部に切り込みを入れ、塗料(三角状の黒色の部分)を固形化させることが挙げられる。
図8は、本発明に係るコンタクトプローブ1をピンボード11に嵌合し、コンタクトプローブ2のストローク部分における色分け面20を観察して最適なストロークが判断される模式図である。図8のように、コンタクトプローブ1の色分け面20の色分け6の存在が、矢印の方向に目視され、色分け6の存在がないことが確認されることで、最適なストロークが判断される。以上によって、コンタクトプローブ1が回路基板検査装置に設置され、上記プランジャー2の塗装によって最適なストロークが判断され、簡素化された方法によって回路基板を検査できる検査方法及び回路基板検査装置を構成することができる。上記実施例に限らずコンタクトプローブ1のプランジャー2の塗装は、適宜のものが選択でき、例えば上述のマーキング5であってもよく、ブラックライトに反応する塗料でもよい。上述のプランジャー2の色分け面20は、あらかじめ外部から確認しやすいところに向けてピンボード11にセットすると、上記ストローク確認が容易になされ、好ましい。
実際に上記ストロークが確認される際には、図9のように被検査基板15とセットベース12の間が矢印の方向に覗き込こまれることになる。上記ストロークが確認される際は、暗い条件下でプランジャー2のストロークの判別がされなければならず、誤った判断がなされることが考えられる。そのため、上述のように照明手段19を取り付けると好ましい。図5の実施例では照明手段19は一つであるが、複数設置することもできる。上記プランジャー2は、目的に応じて適宜のものが選択でき、複数設置された照明手段19に対し、上記プランジャー2の塗装部分が、同一方向に正面を向くように設置されると、ストロークが確認しやすくなり好ましい。上記照明手段19は、上記プランジャー2の色分け面20に対して正面方向から照明するように設置されると外部から色分け面20を確認しやすく、上述のように色分け面20は回転しづらく設計されていることからさらに好ましい。また、単に明るさを上げるための照明手段19を取り付けるだけでなく、上述のようにコンタクトプローブ1への塗装をブラックライトに反応する特別な塗料にし、ブラックライトを照射することで、コンタクトプローブ1のストローク長を判断しやすくすることができる。上述のような確認方法は、照明手段19が回路基板検査装置に設置されていなくても、回路基板検査装置の本体外に照明手段19があれば可能である。
以上、本発明の実施形態について説明したが、本発明はこれに限定されるものではない。例えば、上記実施例においては治具方式の回路基板検査装置を用いたが、フライングプローブ方式の回路基板検査装置の調整時において、最適なストロークを調節する際に、本発明に係るコンタクトプローブを用いてもよい。
1 コンタクトプローブ
2 プランジャー
3 バレル
4 ハウジング
5 マーキング
6 色分け
7 ソケット
8 上蓋
9 上箱
10 下箱
11 ピンボード
12 セットベース
13 電源
14 治具基板
15 被検査基板
16 駆動部
17 レバー
18 導線
19 照明手段
20 色分け面
21 バレルの形状
22 ソケットの内面形状
特開平06−094750号公報 特開2006−090941号公報 特開2008−309608号公報

Claims (13)

  1. 導電性の筒状体からなるバレルと、
    被検査対象と接触するとともに上記バレルと接触するプランジャーと、上記バレル内部にあり、上記プランジャーを軸方向に付勢する弾性部材と、を有してなり、
    上記プランジャーは、最適なストローク位置をあらわすように塗装されていることを特徴とするコンタクトプローブ。
  2. 上記プランジャーの塗装は、上記プランジャーの軸方向に対して水平方向に線状であるマーキングでなされている請求項1に記載のコンタクトプローブ。
  3. 上記プランジャーの塗装は色分けでなされている請求項1に記載のコンタクトプローブ。
  4. 上記プランジャーの色分けは蛍光塗料で塗装されている請求項3に記載のコンタクトプローブ。
  5. 上記プランジャーの色分けは、ブラックライトに反応する塗料を塗装されている請求項3に記載のコンタクトプローブ。
  6. 上記プランジャーに平坦な色分け面が形成されている請求項1乃至5のいずれかに記載のコンタクトプローブ。
  7. コンタクトプローブを用いた回路基板の検査方法において、
    請求項1から6のいずれかに記載のコンタクトプローブが回路基板検査装置に設置される工程と、プランジャーの塗装によって最適なストロークが判断される工程とを含む回路基板の検査方法。
  8. 上記回路基板検査装置の検査方式が、治具方式である請求項7に記載の回路基板検査方法。
  9. コンタクトプローブを用いた回路基板検査装置において、
    請求項1から6のいずれかに記載のコンタクトプローブが設置される手段と、プランジャーの塗装によって最適なストロークが判断される手段とを含む回路基板検査装置。
  10. 上記回路基板検査装置の検査方式が、治具方式である請求項9に記載の回路基板検査装置。
  11. 上記プランジャーのストローク部分を照明するための照明手段を有する請求項9または10に記載の回路基板検査装置。
  12. 上記照明手段はブラックライトを照射する請求項11に記載の回路基板検査装置。
  13. 上記プランジャーは、平坦な色分け面を有することにより、同一方向に向くように設置され、上記照明手段は、上記プランジャーの上記色分け面に対して正面方向から照明する請求項11または12に記載の回路基板検査装置。
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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2016098175A1 (ja) * 2014-12-16 2016-06-23 Wit株式会社 回路検査用プローブ装置
JP2016125841A (ja) * 2014-12-26 2016-07-11 ヒロセ電機株式会社 同軸プローブ
CN113945196A (zh) * 2020-07-15 2022-01-18 陈冠宏 水平量测治具
KR102514926B1 (ko) * 2022-10-26 2023-03-29 (주)새한마이크로텍 포고 핀용 탐침 및 이를 구비하는 포고 핀
CN117706414A (zh) * 2024-02-06 2024-03-15 湖南尚智通信科技有限公司 一种通信电源模块测试装置

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2016098175A1 (ja) * 2014-12-16 2016-06-23 Wit株式会社 回路検査用プローブ装置
JP2016125841A (ja) * 2014-12-26 2016-07-11 ヒロセ電機株式会社 同軸プローブ
CN113945196A (zh) * 2020-07-15 2022-01-18 陈冠宏 水平量测治具
KR102514926B1 (ko) * 2022-10-26 2023-03-29 (주)새한마이크로텍 포고 핀용 탐침 및 이를 구비하는 포고 핀
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