KR200414978Y1 - 일체형 프로드 자분 탐상 손잡이 조립체 - Google Patents

Abstract

본 고안은 보다 적은 인력으로 보다 짧은 시간에 시험재의 검사를 보다 확실하게 수행하여 검사의 신뢰성을 향상시킬 수 있는 일체형 프로드 자분 탐상 손잡이 조립체에 관한 것이다. 일체형 프로드 자분 탐상 손잡이 조립체는, 절연성 복합 재료로 만들어지며, 서로 소정 거리 이격되어 있는 한 쌍의 전극봉 설치공, 상기 전극봉 설치공들 사이에 제공되는 다수의 소켓, 및 상기 소켓들 양측에 형성되는 2쌍의 손잡이 설치공들을 구비하는 지지 플레이트와; 상기 전극봉 설치공에 각각 설치되며, 각각 전원 공급용 케이블이 접속되고 상부가 절연캡에 의해 덮여지는 한 쌍의 프로드 전극봉들과; 상기 소켓들에 설치되는 다수의 조명 기구들과; 상기 지지 플레이트의 손잡이 설치공에 설치되며, 상기 조명 기구를 점등 및 소등시키기 위한 스위치가 제공되는 손잡이를 포함한다.

자분, 탐상, 프로드(PROD), 일체형 손잡이, 조명 기구

Description

일체형 프로드 자분 탐상 손잡이 조립체{Integral type of PROD magnetic particle testing handle assembly}

도 1은 종래의 프로드 자분 탐상 검사 방법을 개략적으로 도시한 도면.

도 2는 본 고안에 따른 일체형 프로드 자분 탐상 손잡이 조립체의 분해 사시도.

도 3은 본 고안에 따른 일체형 프로드 자분 탐상 손잡이 조립체의 저면을 나타내기 위한 사시도.

도 4는 도 3의 선 Ⅳ-Ⅳ를 따라서 화살표 방향으로 취한 일체형 프로드 자분 탐상 손잡이 조립체의 단면도.

(도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명)

1 : 일체형 프로드 자분 탐상 손잡이 조립체

2a,2b : 프로드 전극봉 3 : 지지 플레이트

4 : 손잡이 5 : 전극봉 설치공

6a,6b : 케이블 7 : 절연 캡

8 : 조명 기구 9 : 홈

10 : 소켓 11 : 스위치

12,13 :전선

본 고안은 프로드(PROD) 자분 탐상 장치에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 2개의 프로드 자분 탐상 전극봉을 일체형으로 하여 작업의 효율성을 향상시킬 수 있는 일체형 프로드 자분 탐상 손잡이 조립체에 관한 것이다.

일반적으로, 자분 탐상 방법은 강자성체인 시험재의 표면 및 표면 바로 아래의 불연속(결함)을 검출하기 위하여 시험재에 자장을 걸어 자화시킨 후 자분을 시험재에 적용하여 누설자장으로 인해 형성된 자분지시를 관찰하여, 그 지시의 크기, 위치 및 형상 등을 검사하여 시험재에 불연속된 부분이 있는지를 검사하는 방법이다.

자분 탐상 검사 방법은, 미세한 표면균열검출에 가장 적합하며 검사품의 크기, 형상 등에 크게 구애됨이 없이 비교적 저렴한 비용으로 검사수행이 가능하고, 검사자가 쉽게 검사방법을 배울 수 있으며, 액체 침투 탐상 검사와 비교하였을 때 도장된 제품의 표면 하부의 결함에 대해서도 어느 정도 결함 검출이 가능하다는 이점을 가지는 반면에, 자화가 가능한 강자성체만 적용할 수 있으며, 시험재의 내부전체에 걸친 건전성을 판별할 수 없을 뿐만 아니라, 전기접촉 부위의 아크발생으로 시험재가 손상될 우려가 있다는 결점이 존재한다.

이러한 자분 탐상 방법으로는 자분의 자화 형상에 따라서 선형 자화 방법과 원형 자화 방법으로 구분될 수 있으며, 선형 자화 방법으로는 요오크법(Yoke Method)이 있으며, 요오크법은 U자형 철심에 코일을 감아 선형자장을 유도시킨 것으로 대형 또는 복잡한 부품의 국부검사에 용이하고, 자극의 배치를 90ㅀ씩 교대로 바꾸어 최소 2회 이상 자화하는 것이고, 원형 자화 방법으로는 프로드법이 있으며, 프로드법은 시험재에 전극을 접촉시켜 직접 통전하거나 튜브와 같은 속이 빈 부품안에 전도체를 위치시켜 통전시키면 시험재에 원형자장이 형성된다.

도 1은 종래의 프로드 자분 탐상 검사 방법을 개략적으로 도시한 도면이다. 도 1에 도시된 바와 같이, 프로드형 자분 탐상 검사는 2명의 작업자가 각각 시험재(100)에 프로드 전극봉(101)을 접촉시킨 후, 한 쪽 작업자가 자장 형성 전류 스위치를 ON한 상태에서 자분을 시험재(100)의 표면에 분사를 한다. 이때, 다른 작업자는 시험재(100) 위를 백열전등을 사용하여 시험재(100)를 밝게 조명한 상태에서 자분을 분사한 작업자가 시험재(100) 표면의 결함 발생 유무를 관찰한다.

그러나, 상기된 바와 같은 종래의 프로드 자분 탐상 방법은 2명의 작업자들이 동일하게 전극봉을 시험재에 접촉시키지 않은 경우 또는 조명등을 시험재를 밝게 조명하지 못할 경우, 검사의 신뢰성이 저하되는 한편 검사 시간이 과다하게 소요되는 문제점이 있었다.

또한, 2인이 1개조로 하여 검사를 수행하기 때문에, 검사 인력의 효율적 운영에도 어려움이 발생되는 문제점도 있었다.

따라서, 본 고안의 목적은 이런 문제점을 해결하기 위해 안출된 것으로서, 보다 적은 인력으로 보다 짧은 시간에 시험재의 검사를 보다 확실하게 수행하여 검 사의 신뢰성을 향상시킬 수 있는 일체형 프로드 자분 탐상 손잡이 조립체를 제공하는데 있다.

상기된 바와 같은 목적은, 절연성 복합 재료로 만들어지며, 서로 소정 거리 이격되어 있는 한 쌍의 전극봉 설치공, 상기 전극봉 설치공들 사이에 제공되는 다수의 소켓, 및 상기 소켓들 양측에 형성되는 2쌍의 손잡이 설치공들을 구비하는 지지 플레이트와; 상기 전극봉 설치공에 각각 설치되며, 각각 전원 공급용 케이블이 접속되고 상부가 절연캡에 의해 덮여지는 한 쌍의 프로드 전극봉들과; 상기 소켓들에 설치되는 다수의 조명 기구들과; 상기 지지 플레이트의 손잡이 설치공에 설치되며, 상기 조명 기구를 점등 및 소등시키기 위한 스위치가 제공되는 손잡이를 포함하는 것을 특징으로 하는 본 고안에 따른 일체형 프로드 자분 탐상 손잡이 조립체에 의하여 달성될 수 있다.

상기 프로드 전극봉들은 바람직하게 6 내지 8인치 떨어져 위치된다.

상기 소켓들은 지그재그 형태로 배열되어서, 상기 소켓에 설치되는 조명 기구들이 지그재그로 배열된다.

상기 지지 플레이트는 상부에 홈이 형성되고, 상기 홈에 상기 스위치로부터 상기 조명 기구들에 연결되는 전선이 삽입 수용된다.

상기 조명 기구는 소형 전구이다.

이하, 본 고안의 바람직한 실시예를 명세서에 첨부된 도면을 참조하여 보다 상세하게 설명한다.

도 2는 본 고안에 따른 일체형 프로드 자분 탐상 손잡이 조립체의 분해 사시도이고, 도 3은 본 고안에 따른 일체형 프로드 자분 탐상 손잡이 조립체의 저면을 나타내기 위한 사시도이며, 도 4는 도 3의 선 Ⅳ-Ⅳ를 따라서 화살표 방향으로 취한 일체형 프로드 자분 탐상 손잡이 조립체의 단면도이다.

도 2에 도시된 바와 같이, 본 고안에 따른 일체형 프로드 자분 탐상 손잡이 조립체(1)는 한 쌍의 프로드 전극봉(2a,2b)들이 소정의 거리, 예를 들어 6~8인치 정도의 거리를 두고 지지 플레이트(3)에 고정된다. 각각의 프로드 전극봉(2a,2b)들이 고정되는 지지 플레이트(3)는 절연체로 만들어지며, 지지 플레이트(3)의 상부에 작업자들이 손잡이 조립체를 용이하게 파지하여 탐상 작업을 할 수 있도록 손잡이(4)가 설치된다.

지지 플레이트(3)는 절연성 복합 재료로 만들어지며, 도 3에 도시된 바와 같이 양측부에 프로드 전극봉(2a,2b)들이 각각 삽입되는 전극봉 설치공(5)들이 형성되고, 전극봉 설치공(5)들 사이에는 다수의 소켓(10)들이 제공된다. 소켓(10)들이 지그재그 형태로 배열되어, 소켓(10)에 설치되는 조명 기구(8) 또한 지그재그로 배열된다.

프로드 전극봉(2a,2b)들은 지지 플레이트(3)에 형성된 한 쌍의 전극봉 설치공(5)들에 각각 고정되도록, 지지 플레이트(3)의 하방으로부터 전극봉 설치공(5)에 각각 삽입된다. 프로드 전극봉(2a,2b)들이 전극봉 설치공(5)에 삽입되었을 때, 프로드 전극봉(2a,2b)들의 상부 부분은 지지 플레이트(3)의 상부로 돌출된다. 이 때, 전원을 공급하기 위한 케이블(6a,6b)들이 지지 플레이트(3)의 상부로 돌출된 프로 드 전극봉(2a,2b)들의 상부 부분에 각각 접속된다. 케이블(6a,6b)들이 프로드 전극봉(2a,2b)의 상부 부분에 접속된 상태에서, 프로드 전극봉(2a,2b)의 상부 부분은 절연캡(7)으로 덮여진다. 그러므로, 프로드 전극봉(2a,2b)들이 지지 플레이트(3)에 고정되는 한편, 프로드 전극봉(2a,2b)의 상부 부분이 외부로부터 은폐되어 감전 사고가 방지될 수 있다.

상기된 바와 같이, 프로드 전극봉(2a,2b)들이 지지 플레이트(3)에 설치되었을 때, 케이블(6a,6b)들을 통하여 프로드 전극봉(2a,2b)들에 전원이 공급된다. 이때, 프로드 전극봉(2a,2b)들에 각각 접속되는 케이블(6a,6b)들은 프로드 전극봉(2a,2b)들이 최대한 원활하게 움직일 수 있도록 보다 가벼운 것이 사용되는 것이 바람직하며, 지지 플레이트(3) 또한 자분 탐상 검사 동안 감전 사고의 방지 및 작업자의 피로도를 줄이기 위해 절연성 복합 재료로 제작되는 것이 바람직하다.

상기된 바와 같이, 프로드 전극봉(2a,2b)들 사이의 하부 부분에 제공되는 조명 기구(8)에 의하여, 작업자가 프로드 전극봉(2a,2b)을 이용하여 시험재에 대한 탐상 검사를 수행하는 동안 조명 기구(8)의 조명에 의해 시험재의 상태를 육안으로 용이하게 검사할 수 있다. 조명 기구(8)들이 또한 지그재그 형태로 배열되는 것에 의하여, 시험재의 검사하고자하는 면이 조명 기구(8)들에 의해 골고루 조명될 수 있다.

상기된 바와 같은 조명 기구(8)는 손잡이(4)에 제공되는 스위치(11)에 의하여 점등 및 소등되고, 이러한 스위치(11)에는 조명 기구(8)에 전원을 공급하기 위한 전선(12)이 접속된다. 손잡이(4)는 도 3에 도시된 바와 같이 지지 플레이트(3) 의 조명 기구(8)의 양측에 형성되는 2쌍의 손잡이 설치공(13)들에 설치되며, 하나의 파지부(4a)를 가진다. 조명 기구(8)를 점, 소등하기 위한 스위치(11)는 파지부(4a)의 하부에 제공됨으로써, 작업자가 조명 기구(8)를 용이하게 점등 또는 소등할 수 있다.

한편, 지지 플레이트(3)에 설치된 각각의 조명 기구(8)들에 전원을 공급하기 위하여 스위치(11)로부터 조명 기구(8)에 연결되는 전선(14)은 지지 플레이트(3)의 상부에 형성된 홈(9)에 삽입 수용됨으로써 시험재의 검사 동안 전선에 의한 작업 방해가 방지된다.

상기된 바와 같은 구조를 가지는 본 고안에 따른 일체형 프로드 자분 탐상 손잡이 조립체에 의하면, 보다 적은 인력으로 보다 짧은 시간에 시험재의 검사를 보다 확실하게 수행하여 검사의 신뢰성을 향상시킬 수 있다.

Claims (5)

1. 절연성 복합 재료로 만들어지며, 서로 소정 거리 이격되어 있는 한 쌍의 전극봉 설치공, 상기 전극봉 설치공들 사이에 제공되는 다수의 소켓, 및 상기 소켓들 양측에 형성되는 2쌍의 손잡이 설치공들을 구비하는 지지 플레이트와;

   상기 전극봉 설치공에 각각 설치되며, 각각 전원 공급용 케이블이 접속되고 상부가 절연캡에 의해 덮여지는 한 쌍의 프로드 전극봉들과;

   상기 소켓들에 설치되는 다수의 조명 기구들과;

   상기 지지 플레이트의 손잡이 설치공에 설치되며, 상기 조명 기구를 점등 및 소등시키기 위한 스위치가 제공되는 손잡이를 포함하는 것을 특징으로 하는 일체형 프로드 자분 탐상 손잡이 조립체.
2. 제 1 항에 있어서, 상기 프로드 전극봉들은 6 내지 8인치 떨어져 위치되는 것을 특징으로 하는 일체형 프로드 자분 탐상 손잡이 조립체.
3. 제 1 항에 있어서, 상기 소켓들은 지그재그 형태로 배열되는 것을 특징으로 하는 일체형 프로드 자분 탐상 손잡이 조립체.
4. 제 1 항에 있어서, 상기 지지 플레이트는 상부에 홈이 형성되고, 상기 홈에 상기 스위치로부터 상기 조명 기구들에 연결되는 전선이 삽입 수용되는 것을 특징 으로 하는 일체형 프로드 자분 탐상 손잡이 조립체.
5. 제 1 항 내지 제 4 항중 어느 한 항에 있어서, 상기 조명 기구는 소형 전구인것을 특징으로 하는 일체형 프로드 자분 탐상 손잡이 조립체.

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