JP2010177482A - 金属部材付き配線基板およびその接続方法 - Google Patents

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Abstract

【課題】基板上の金属層と金属部材とを接合した金属部材付き配線基板であって、基板の内部に設けられた貫通導体に対して抵抗溶接による損傷が無いか若しくは小さく、かつ金属層と金属部材との接合強度が大きい金属部材付き配線基板を提供する。
【解決手段】金属部材付き配線基板(1)は、絶縁基板(2)と、絶縁基板(2)の表面に設けられた、突起部(4)を有する金属層(3)と、金属層(3)の突起部(4)に抵抗溶接により接続された金属部材(5)と、金属部材(5)の下方であって絶縁基板(2)の内部に設けられ、突起部(4)に電気的に接続される貫通導体(6)とを有する。貫通導体(6)は、平面透視したときに、突起部(4)の内側にある。
【選択図】図2

Description

本発明は、例えば基板上の金属層とリード線とを接続してなる金属部材付き配線基板およびその製造方法に関する。
基板上の金属層と金属からなるリード線とを接続する方法として、抵抗溶接法がある。抵抗溶接法とは、金属に電流を流すことによって抵抗発熱させ、接合したい金属の一方あるいは両方を溶融させるか、両金属間で元素が拡散することによって接合を行う方法である(例えば、特許文献1参照)。
特開2004−223603号公報
しかしながら、溶融させる金属が高融点材料である場合、抵抗溶接するために大きな熱が必要となる。例えば、セラミック基板上にタングステン等の高融点材料からなる金属層が形成されている場合、抵抗溶接の際に大きな熱が加えられることから、発熱が瞬間的であっても、これが原因でセラミック基板に破断が生じたり、金属層がセラミック基板から剥離したりする場合があった。特に、セラミック基板の内部に貫通導体が設けられ、その貫通導体が、抵抗溶接する部分の直下または近傍において金属層に接続されている場合には、その貫通導体とセラミック基板との間に隙間が生じる場合があった。
本発明の目的は、基板上の金属層と金属部材とを接続した金属部材付き配線基板であって、基板の内部に設けられた貫通導体の直上または近傍にて金属層と金属部材とが抵抗溶接されている場合に、貫通導体に対して抵抗溶接による損傷が無いか若しくは小さく、かつ金属層と金属部材との接合強度が大きい金属部材付き配線基板およびその製造方法を提供することである。
本発明の一形態にかかる金属部材付き配線基板によれば、絶縁基板と、前記の絶縁基板の表面に設けられた、突起部を有する金属層と、前記の金属層の前記の突起部に抵抗溶接により接続された金属部材と、前記の金属部材の下方であって前記の絶縁基板の内部に設けられ、前記の突起部に電気的に接続される貫通導体とを有する。前記の貫通導体は、平面透視したときに、前記の突起部の内側にある。
本発明の一形態にかかる金属部材付き配線基板の製造方法によれば、絶縁基板と、該絶縁基板の表面に設けられた、突起部を有する金属層と、前記の金属層の前記の突起部に抵抗溶接により接続された金属部材とを有する金属部材付き配線基板の製造方法である。この製造方法は、前記の絶縁基板と、該絶縁基板の表面に設けられた、前記の突起部を有する前記の金属層と、前記の絶縁基板の内部であって前記の突起部の下方に設けられた、前記の突起部に電気的に接続される貫通導体とを有する金属層付き基板を準備する工程と、前記の突起部に前記の金属部材を接触させる工程と、前記の突起部に前記の金属部材を介して第1の溶接電極を押し当て、前記の金属層の前記の突起部以外の領域に第2の溶接電極を押し当てる工程と、前記の第1の溶接電極と前記の第2の溶接電極との間に電流を供給する工程とを有する。
本発明の一態様によれば、金属部材付き配線基板は、基板の内部に設けられた貫通導体に対して抵抗溶接による損傷が無いか若しくは小さく、かつ金属層と金属部材との接合強度が大きい金属部材付き配線基板を実現することができる。
本発明の一態様によれば、金属部材付き配線基板の製造方法は、基板の内部に設けられた貫通導体に対して抵抗溶接による損傷を小さくし、かつ金属層と金属部材との接合強度を大きくすることができる。
本発明の実施の形態による金属部材付き配線基板の斜視図である。 (a)は、本発明の実施の形態による金属部材付き配線基板の断面図であり、(b)は、金属部材付き配線基板を一主面側から平面透視した場合の平面図である。 本発明の実施の形態による金属部材付き配線基板のうち、金属部材を除いた部分を製造する工程を表す図である。 (a)は、焼成した突起部に金属部材を溶接する工程を表す図であり、(b)は、焼成した突起部に金属部材を溶接する工程において、溶接電極を接触させる位置を示す平面図である。
以下に、添付の図面を参照して、本発明の実施の形態について説明する。
図1は本発明の実施の形態による金属部材付き配線基板の構成例を表す斜視図である。図2(a)は、図1の線分A−A’における断面図であり、図2(b)は、図1の領域Bを上方から見た場合の平面図であり、説明を簡単にするためにリード線5を省いたものである。
本実施の形態による金属部材付き配線基板1は、セラミックスを含む基板2(以下、「セラミック基板2」ともいう。)を備える。セラミック基板2の表面S1には金属層3が形成されている。金属層3は突起部4を有し、その突起部4に、抵抗溶接によってリード線5が接続されている。
また、セラミック基板2の内部には、図2(a)に示すように、貫通導体6が形成されている。貫通導体6は、セラミック基板2を平面透視したときに、突起部4の内側に位置するように設けられている。貫通導体6は、一方の端部がセラミック基板2の表面S1に位置し、他方の端部がその表面S1に対向する表面S2に位置している。なお、セラミック基板2の表面S2には、金属部材付き配線基板の使用目的に応じた形状を有する別の金属層7が形成されてもよい。なお、この金属層7は、金属層3と同じ材料であってもよいし、異なっていてもよい。
セラミック基板2は、電気絶縁材料から成り、例えば、アルミナ(Al)を含むセラミックスから成る。アルミナセラミックスは主成分であるアルミナ(Al)に加え、シリカ(SiO)、カルシア(CaO)、およびマグネシア(MgO)等を含む。
金属層3は、主にモリブデン、タングステン、銅、銀、金、白金またはそれらの合金から成るが、セラミック基板2との焼成収縮挙動を合わせたり、セラミック基板2と熱膨張係数を合わせたりする目的のために、アルミナ等のセラミック成分を添加してもよい。
突起部4は、金属層3と同じ材料であっても良いし、異なる材料であってもよいが、焼成をした際に金属層3と化学的に反応しないものが良い。また、突起部4は、リード線5と抵抗溶接されるために、金属と濡れが悪いセラミック成分等の成分は添加しない方が好ましい。
リード線5の材料は、金属部材付き配線基板1を使用する目的に応じて選択する。例えば、高温大気中での使用が目的である場合、リード線5の材料は、高融点で耐酸化性を有する金、パラジウム、または白金等を使用するとよい。
貫通導体6は、主にモリブデン、タングステン、銅、銀、金、白金またはそれらの合金から成るが、セラミック基板2との焼成収縮挙動を合わせたり、セラミック基板2と熱膨張係数を合わせたりする目的のために、アルミナ等のセラミックス成分を添加しても良い。
本実施の形態による金属部材付き配線基板1によれば、抵抗溶接の通電時に熱が発生する部分とセラミック基板2とが十分離れていることから、熱によるセラミック基板2への影響を軽減することができる。
また、突起部4を含む金属層3を厚膜法によって形成するため、溶接の通電時において突起部4と金属層3との間での接触抵抗による発熱を抑制することができる。
なお、突起部4の表面は、角部を有さず、できるだけ滑らかであることが好ましい。好ましくは、突起部4の表面は、曲面状である。突起部4の表面を曲面とすることにより、突起部4において発熱による応力が集中することを抑制することができる。さらに好ましくは、突起部4は半球状である。突起部4が半球状であるとき、突起部4をセラミック基板2の表面と水平な面で切断すると、その断面形状は略円あるいは略楕円形状となる。
以下に、本実施の形態による金属部材付き配線基板1の製造方法を説明する。図3は、本実施の形態による金属部材付き配線基板1のうち、基板部分を製造する工程を表す断面図である。基板部分とは、金属部材付き配線基板1のうち、リード線5を除いた部分をいう。
(セラミックグリーンシートを準備する工程)
まず、図3(a)に示すように、複数のセラミックグリーンシート8を準備する。セラミックグリーンシート8は、アルミナ(Al)、シリカ(SiO)、カルシア(CaO)、およびマグネシア(MgO)等の原料粉末に適当な有機溶剤および溶媒を添加混合して泥漿状となすとともにこれを従来周知のドクターブレード法やカレンダーロール法等を採用し、シート状に成形することによって得られる。
(穴部を形成する工程)
次に、図3(b)に示すように、複数のセラミックグリーンシート8のうち少なくとも1つに穴部9を形成する。この穴部9はシート状に成型されたセラミックグリーンシートの適当な位置に、パンチングあるいはレーザー加工等で形成される。
(穴部に導体ペーストを注入する工程)
さらに、図3(c)に示すように、セラミックグリーンシート8に形成された穴部9に、スクリーン印刷法等を用いて、導体ペースト10を注入する。導体ペースト10は、主成分であるモリブデン、タングステン、銅、銀、金、白金、またはこれらの合金粉末に有機バインダーおよび有機溶剤、並びに必要に応じて分散剤等を加えて、ボールミル、三本ロールミル、またはプラネタリーミキサー等の混練手段により混合および混練することで製造される。導体ペースト10には、セラミックグリーンシート8の収縮挙動に合わせたり、セラミックグリーンシート8の熱膨張係数に合わせたりするために、適当な量のセラミックス粉末を添加してもよい。
(金属層を印刷する工程)
次に、図3(d)に示すように、導体ペースト10が注入された穴部9を覆うように、スクリーン印刷法等を用いて、セラミックグリーンシート8の主面側に導体ペースト11を印刷する。導体ペースト11は、後に記載する積層体を形成する工程において、積層体の最表面に露出する層のみに印刷しても良いし、全ての層の表面に印刷しても良い。また、最表面に露出する層に印刷する導体ペースト11の厚みは、後に記載する抵抗溶接におけるセラミック基板2への影響を緩和するために、50μm以上あることが望ましい。導体ペースト11は、主成分であるモリブデン、タングステン、銅、銀、金、白金、またはこれらの合金粉末に有機バインダーおよび有機溶剤、並びに必要に応じて分散剤等を加えて、ボールミル、三本ロールミル、またはプラネタリーミキサー等の混練手段により混合および混練することで製造される。導体ペースト11には、セラミックグリーンシート7の収縮挙動に合わせたり、アルミナセラミックスとの熱膨張係数に合わせたりするために、適当な材質および量のセラミックス粉末を添加してもよい。
(積層体を形成する工程)
次に、図3(e)に示すように、セラミックグリーンシート8を積み重ねた後、圧着を行なうことにより、セラミックグリーンシートの積層体12を形成する。圧着は3.0〜8.0MPa程度の圧力を加えて行ない、必要に応じて35〜80℃で加熱を行なう。また、セラミックグリーンシート8同士の十分な接着性を得るために、溶剤と樹脂バインダーを混合するなどして作製した接着剤を用いてもよい。セラミックグリーンシート8に印刷した導体ペースト11は、圧着時にかかる圧力のためにセラミックグリーンシート8に埋没し、セラミックグリーンシート8の主面と導体ペースト11の表面は、略同一平面となる。
(突起部を形成する工程)
次に、図2(f)に示すように、積層体12の表面に形成された導体ペースト11の上に、焼成後に突起部4となる導体ペースト13を形成する。導体ペースト13は、例えば、半球状であり、スクリーン印刷法による印刷によって形成される。導体ペースト13は、主成分であるモリブデン、タングステン、銅、銀、金、白金、またはこれらの合金粉末に有機バインダーおよび有機溶剤、並びに必要に応じて分散剤等を加えて、ボールミル、三本ロールミル、またはプラネタリーミキサー等の混練手段により混合および混練することで製造される。導体ペースト13は、後に記載する焼成工程において、導体ペースト11と化学反応を起こさない材料を選定する。導体ペースト13には、焼成後にリード線5が溶接されるため、金属との濡れが悪いセラミックスのような成分は添加しない方が好ましい。導体ペースト13は、積層体12を主面側から平面透視したときに、貫通導体6を完全に覆うように形成される。また、導体ペースト13は、積層体12の主面側から平面視したときには円形となるが、その直径は貫通導体6の直径よりも例えば200μm以上大きくする。また導体ペースト13の厚みは、例えば100μm以上にする。ここで、スクリーン印刷法にて厚さが100μm以上の導体ペースト13を形成するためには、導体ペースト13に含有する溶剤の量を減らすか、有機バインダーの量を増やし、粘度を上げると良い。また、スクリーン印刷に使用するスクリーンを厚くすると良い。このような導体ペースト13の大きさや配置の制約は、後に記載するリード線5を溶接する工程において、セラミック基板2、金属層3、突起部4、および貫通導体6への熱影響を軽減するためである。なお、以下では、導体ペースト13が形成された積層体12を焼成前積層体14ともいう。突起部4は、ここに挙げたようにスクリーン印刷法による形成方法でなくても、予め粉末をプレスして形成したプレス体を配置するなどして形成してもよい。
(焼成する工程)
次に、図3(g)に示すように、図3(d)の焼成前積層体14を焼成して焼成後積層体15を生成する。このように焼成することにより、焼成後積層体15は、図3(d)の焼成前積層体14よりも収縮する。焼成は大気雰囲気、窒素雰囲気あるいは還元雰囲気下の800〜1800℃の高温でなされる。還元雰囲気とは、例えば窒素に対し10〜20体積%の水素を加えたものである。窒素雰囲気若しくは還元雰囲気を使用する場合、セラミックグリーンシート8に加えられた有機溶剤を分解したり、導体の粒子成長を制御したりするために、適当な量の水蒸気を加えることが望ましい。
(金属部材を溶接する工程)
次に、図4(a)は、焼成後積層体15の突起部4にリード線5を溶接する工程を表す。リード線5を溶接するには、抵抗溶接法を用いる。ここで、抵抗溶接を行うために、図4(a)に示すように、陽極Va、陰極Vbを有する溶接電源Vを用いる。突起部4の頂点部分に接触するように、リード線5を配置し、それを抑えるように陽極Vaに電気的に接続された溶接電極16aを押し当てる。また、金属層3の一部であって、突起部4と接触していない部分の表面に、陰極Vbに電気的に接続された溶接電極16bを押し当てる。
図4(b)は溶接電極を接触させる位置を示す平面図である。領域19a、19bは、それぞれ溶接電極16a、16bを接触させる領域を示している。溶接電極16aおよび16bは、ばね等を用いて、領域19aでリード線5を、領域19bで金属層3をそれぞれ加圧する。溶接は加圧力を維持したまま、溶接電源Vにより溶接電極16a,16b間に電流を通じることによってなされる。電流や通電時間の最適値は、金属層3、突起部4、およびリード線5の固有抵抗および通電経路の断面積、並びに突起部4とリード線5との接点17における接触抵抗によって異なる。電流を通じた際、電流は陽極Vaから溶接電極16a、リード線5、突起部4、金属層3、溶接電極16b、および陰極Vbの順に流れる。
以下、通電経路に沿って溶接工程による発熱量について記載する。溶接電極16a、16bは、銅などの熱伝導係数が大きく低抵抗の金属を主成分とし、通電経路の断面積が大きいことから、溶接の電流によってほとんど発熱しない。また、溶接電極16aとリード線5との接触部分、およびリード線5は、接触部分の断面積、およびリード線5の内部における通電経路の断面積が大きいことから、発熱量が小さい。リード線5と突起部4の接点17では、リード線5の表面が平面で、突起部4の表面が曲面であることから、接触面積が小さく、通電経路の断面積が小さくなるため、接触抵抗が大きくなる。したがって、リード線5と突起部4との接点17では接触抵抗による大きな熱が発生し、リード線5の突起部4側および突起部4のリード線5側が溶融し、結果としてリード線5と突起部4が溶接される。
突起部4と金属層3は焼結により一体化しており、両者の接触抵抗は小さいため、電気的には一体化していると見なしてよい。これを考慮すると、突起部4の金属層3側と、金属層3において突起部4に覆われる部分は通電経路の断面積が大きいことから、抵抗による発熱が小さい。金属層3において突起部4に覆われておらず、かつ溶接電極16bに接触していない領域18は、通電経路の断面積が小さくなるため、接点17ほどではないが大きな抵抗発熱が起こる。しかし、セラミック基板2を平面透視した際に、突起部4の内側に貫通導体6を配置することにより、この抵抗発熱が貫通導体6に与える影響を低減することができる。本実施の形態による金属部材付き配線基板1では、突起部4の直径は貫通導体6の直径よりも200μm以上大きいため、領域18は貫通導体6の外周のどの地点からも100μm以上離れた場所に位置する。これにより、領域18の発熱が貫通導体6に与える影響は十分低減できる。仮に領域18が発熱によって溶断したとしても、リード線5から貫通導体6を経て金属層7に電流を通じるという金属部材付き配線基板1の機能へは支障を与えない。
なお、平面視したとき、領域18は、突起部4に隣接する。よって、貫通導体6の外周が突起部4の外周よりも100μm以上内側にあるとき、領域18は貫通導体6の外周のどの地点からも100μm以上離れた場所に位置することになる。その結果、領域18の発熱が貫通導体6に与える影響を十分に低減できる。
本実施の形態による金属部材付き配線基板1によれば、セラミック基板2を平面透視した際に、突起部4の内側に貫通導体6を配置することにより、通電による抵抗発熱が大きい箇所を貫通導体6から離間させることができる。その結果、貫通導体6への熱による影響を軽減することができる。
また、貫通導体6を突起部の下方に設けることにより、抵抗溶接によって発生した熱を、貫通導体6に伝えることができる。また、この熱が貫通導体6を介してセラミック基板2の内部および表面に伝わるため、抵抗溶接によって発生した熱を局所的に留まらせることなく、分散させることができる。結果として、抵抗溶接によって発生する熱が、セラミック基板2、金属層3、および貫通導体6を破断させるといった、熱による悪影響を抑制することができる。さらに、貫通導体6の上方でリード線5が溶接されるので、リード線5から貫通導体6までの経路を短くすることができ、配線抵抗を小さくすることができる。
また、リード線5と突起部4との接続部を平面視したときの面積よりも、突起部4に隣接する領域(この領域は、領域19bを含んでいる)の面積を広くし、この部分に溶接電極16bを接触させることから、通電による発熱量が最大となる箇所をリード線5と突起部との接続部分とすることができ、その接続部分以外に過大な熱影響を与えることなく溶接ができる。
なお、リード線5と突起部4が接続される接続部分の面積、および金属層3における突起部4以外の領域の面積を測定するためには、金属部材付き配線基板1を主面側から平面研磨して断面積を測定するとよい。突起部4は焼結して形成しているため粒界が存在し、リード線5と識別が可能である。また、突起部4と金属層3は、粒界の大きさや添加している酸化物の量または種類等で識別することが可能である。
以上に記載した本実施の形態による金属部材付き配線基板の製造方法を用いることにより、セラミック基板2および金属層3における損傷が無いか若しくは小さく、かつ金属層3とリード線5との接合強度が大きい金属部材付き配線基板を得ることができる。
1・・・・・・金属部材付き配線基板
2・・・・・・セラミック部材
3・・・・・・金属層
4・・・・・・突起部
5・・・・・・リード線
6・・・・・・貫通導体
7・・・・・・金属層
8・・・・・・セラミックグリーンシート
9・・・・・・穴部
10・・・・・導体ペースト(貫通導体6を形成する)
11・・・・・導体ペースト(金属層3を形成する)
12・・・・・積層体
13・・・・・導体ペースト(突起部4を形成する)
14・・・・・焼成前積層体
15・・・・・基板
V・・・・・・溶接電源
Va・・・・・溶接電源の陽極
Vb・・・・・溶接電源の陰極
16a・・・・溶接電源の陽極と電気的に接続される溶接電極
16b・・・・溶接電源の陰極と電気的に接続される溶接電極
17・・・・・突起部とリード線との接点
18・・・・・金属層のうち、表面を突起部に覆われていない部分

Claims (3)

  1. 絶縁基板と、
    前記絶縁基板の表面に設けられた、突起部を有する金属層と、
    前記金属層の前記突起部に抵抗溶接により接続された金属部材と、
    前記金属部材の下方であって前記絶縁基板の内部に設けられ、前記突起部に電気的に接続される貫通導体と
    を有する金属部材付き配線基板であって、
    前記貫通導体は、平面透視したときに、前記突起部の内側にある金属部材付き配線基板。
  2. 前記貫通導体は、平面透視したときに、その外周が前記突起部の外周よりも100μm以上内側にある請求項1に記載の金属部材付き配線基板。
  3. 絶縁基板と、該絶縁基板の表面に設けられた、突起部を有する金属層と、前記金属層の前記突起部に抵抗溶接により接続された金属部材とを有する金属部材付き配線基板の製造方法であって、
    前記絶縁基板と、該絶縁基板の表面に設けられた、前記突起部を有する前記金属層と、前記絶縁基板の内部であって前記突起部の下方に設けられた、前記突起部に電気的に接続される貫通導体とを有する金属層付き基板を準備する工程と、
    前記突起部に前記金属部材を接触させる工程と、
    前記突起部に前記金属部材を介して第1の溶接電極を押し当て、前記金属層の前記突起部以外の領域に第2の溶接電極を押し当てる工程と、
    前記第1の溶接電極と前記第2の溶接電極との間に電流を供給する工程と
    を有する金属部材付き配線基板の製造方法。
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