JP2010154933A - 光プローブ、光断層画像化装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】光プローブにおいて、筒状体のプローブ外筒と、前記プローブ外筒内に配置され前記プローブ外筒を透過させて前記プローブ外筒外に照射光を出射させる光学素子と、を有し、前記プローブ外筒の外周面における前記照射光を透過させる位置の近傍に凸部が配置されていること、を特徴とする。
【選択図】図4
Description
図1は、本発明の光プローブ、光断層画像化装置を用いた画像診断装置10を示す外観図の一例である。
図2は、内視鏡100、光源装置300の構成を示すブロック図の一例である。
内視鏡100の先端部144には、観察光学系150、照明光学系152、及びCCD146が配設されている。
光面上に結像された被検体像を各受光素子によって電気信号に変換する。この実施の形態
のCCD146は、3原色の赤(R)、緑(G)、青(B)のカラーフィルタが所定の配列(ベイヤー配列、ハニカム配列)で各画素に配設されたカラーCCDである。
接続され、ライトガイド170他端170Bは、照明光学系152に対面している。光源装置300から発せられた光は、ライトガイド170を経由して照明光学系152から出
射され、観察光学系150の視野範囲を照明する。
光源装置300は、主として白色の光源310、絞り330、集光レンズ340、及び自動光量調整回路(ALC)370から構成されており、可視光をライトガイド170に入射させる。
から発せられる白色光は、400nm〜1800nmの波長域を有している。
図3は、OCTプロセッサ400、OCTプローブ600の内部構成を示すブロック図の一例である。
図3に示すOCTプロセッサ400は、光を射出する第1の光源ユニット412と第1の光源ユニット412から射出された光を測定光と参照光に分岐する分岐合波部414と、参照光の光路長を調整する光路長調整部416と、反射光と参照光を合波して干渉光を生成する分岐合波部418と、分岐合波部418で生成された干渉光を干渉信号として検出する干渉光検出部420と、干渉光検出部420で検出された干渉信号を処理する処理部422とを有する。
OCTプローブ600は、回転駆動部630を介して、光ファイバFB2と接続されており、光ファイバFB2から測定光L1が入射され、入射された測定光L1を測定対象Sに照射し、測定対象Sからの反射光L3を取得し、取得した反射光L3を光ファイバFB2に射出する。
本実施形態では、モニタ装置500における内視鏡画像510上の位置とOCT画像512上の位置の対応関係を明確にするため、図6に示すように、OCTプローブ600のプローブ外筒620の外周面620aに凸部632を形成している。凸部632は、測定光L1を透過させて出射させる位置の近傍に配置されている。凸部632は、高周波振動を付加しての加工や、プローブ外筒620の内部からの塑性加工により形成する。なお、以下凸部として説明するが、凹部としてもよい。
Claims (13)
- 筒状体のプローブ外筒と、
前記プローブ外筒内に配置され前記プローブ外筒を透過させて前記プローブ外筒外に照射光を出射させる光学素子と、を有し、
前記プローブ外筒の外周面における前記照射光を透過させる位置の近傍に凸部が配置されていること、
を特徴とする光プローブ。 - 前記凸部は、前記プローブ外筒の円周方向に形成されていること、
を特徴とする請求項1の光プローブ。 - 前記凸部は、前記プローブ外筒の円周方向の1周に亘って形成されていること、
を特徴とする請求項2の光プローブ。 - 前記凸部は、前記プローブ外筒の軸方向に形成されていること、
を特徴とする請求項1の光プローブ。 - 前記凸部は、前記プローブ外筒の中心軸に関して軸対称に配置されていること、
を特徴とする請求項4の光プローブ。 - 筒状体のプローブ外筒と、
前記プローブ外筒内に配置され前記プローブ外筒を透過させて前記プローブ外筒外に照射光を出射させる光学素子と、を有し、
前記プローブ外筒の外周面における前記照射光を透過させる位置の近傍に前記プローブ外筒の円周方向に形成されている凹部が配置されていること、
を特徴とする光プローブ。 - 前記凹部は、前記プローブ外筒の円周方向の1周に亘って形成されていること、
を特徴とする請求項6の光プローブ。 - 前記凸部または前記凹部は、前記プローブ外筒の軸方向の複数の部分に配置されていること、
を特徴とする請求項1乃至7のいずれか1つの光プローブ。 - 前記凸部または前記凹部は、前記プローブ外筒の軸方向の部分によって配置される数が異なること、
を特徴とする請求項8の光プローブ。 - 前記光学素子を前記プローブ外筒の軸方向に走査させながら前記照射光を前記プローブ外筒を透過させて前記プローブ外筒外に出射させるリニアスキャンを行なわせるリニアスキャン機構を有し、
前記凸部または前記凹部は、前記リニアスキャン機構により前記リニアスキャンが行なわれる領域であるリニアスキャン領域の両端位置の近傍の2箇所の部分に配置されていること、
を特徴とする請求項1乃至9のいずれか1つの光プローブ。 - 前記凸部または前記凹部は、前記リニアスキャン領域の領域内に配置されていること、
を特徴とする請求項10の光プローブ。 - 前記凸部または前記凹部は、前記リニアスキャン領域の領域外に配置されていること、
を特徴とする請求項10の光プローブ。 - 光源から射出された光を測定光と参照光とに分割する光分割手段と、
前記測定光を測定対象に照射する照射光学手段と、
前記照射光学手段により照射された前記測定光による前記測定対象からの反射光と前記参照光とを合波する合波手段と、
前記合波手段により合波された前記反射光と前記参照光との干渉光を検出する干渉光検出手段と、
前記干渉光検出手段により検出された前記干渉光の周波数および強度に基づいて、前記測定対象の複数の深さ位置における前記反射光の強度を検出し、これらの各深さ位置における前記反射光の強度に基づいて前記測定対象の断層画像を取得する画像取得手段と、
を有し、
前記照射光学手段は、請求項1乃至12のいずれか1つの光プローブを含んで構成されていること、
を特徴とする光断層画像化装置。
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JP2008334522A JP2010154933A (ja) | 2008-12-26 | 2008-12-26 | 光プローブ、光断層画像化装置 |
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JP2008334522A Ceased JP2010154933A (ja) | 2008-12-26 | 2008-12-26 | 光プローブ、光断層画像化装置 |
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