JP2010147040A - 半導体発光装置及びその製造方法 - Google Patents
半導体発光装置及びその製造方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2010147040A JP2010147040A JP2008319085A JP2008319085A JP2010147040A JP 2010147040 A JP2010147040 A JP 2010147040A JP 2008319085 A JP2008319085 A JP 2008319085A JP 2008319085 A JP2008319085 A JP 2008319085A JP 2010147040 A JP2010147040 A JP 2010147040A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light emitting
- sealing resin
- resin
- refractive index
- emitting element
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/44—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process
- H01L2224/45—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/45001—Core members of the connector
- H01L2224/45099—Material
- H01L2224/451—Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron (B), silicon (Si), germanium (Ge), arsenic (As), antimony (Sb), tellurium (Te) and polonium (Po), and alloys thereof
- H01L2224/45138—Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron (B), silicon (Si), germanium (Ge), arsenic (As), antimony (Sb), tellurium (Te) and polonium (Po), and alloys thereof the principal constituent melting at a temperature of greater than or equal to 950°C and less than 1550°C
- H01L2224/45144—Gold (Au) as principal constituent
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/4805—Shape
- H01L2224/4809—Loop shape
- H01L2224/48091—Arched
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/73—Means for bonding being of different types provided for in two or more of groups H01L2224/10, H01L2224/18, H01L2224/26, H01L2224/34, H01L2224/42, H01L2224/50, H01L2224/63, H01L2224/71
- H01L2224/732—Location after the connecting process
- H01L2224/73201—Location after the connecting process on the same surface
- H01L2224/73203—Bump and layer connectors
- H01L2224/73204—Bump and layer connectors the bump connector being embedded into the layer connector
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/73—Means for bonding being of different types provided for in two or more of groups H01L2224/10, H01L2224/18, H01L2224/26, H01L2224/34, H01L2224/42, H01L2224/50, H01L2224/63, H01L2224/71
- H01L2224/732—Location after the connecting process
- H01L2224/73251—Location after the connecting process on different surfaces
- H01L2224/73265—Layer and wire connectors
Landscapes
- Led Devices (AREA)
- Structures Or Materials For Encapsulating Or Coating Semiconductor Devices Or Solid State Devices (AREA)
- Led Device Packages (AREA)
Abstract
【課題】
光の外部取り出し効率を改善するため、半導体発光素子と封止樹脂界面での反射率の低減及び全反射の臨界角を広くし、信頼性の高い構造を得る。
【解決手段】
透光性封止材料による封止構造が2重構造であり、且つ、半導体発光素子の屈折率N1と、半導体発光素子の素子側面に接する第1の透光性封止材料の屈折率N2と、更にその外側と発光素子を封止する第2の透光性封止材料の屈折率N3との間に、N1>N2>N3>1の関係を有し、且つ、第1の封止樹脂には屈折率の高い光拡散材が混合されていることを特徴とするものである。
【選択図】図1
光の外部取り出し効率を改善するため、半導体発光素子と封止樹脂界面での反射率の低減及び全反射の臨界角を広くし、信頼性の高い構造を得る。
【解決手段】
透光性封止材料による封止構造が2重構造であり、且つ、半導体発光素子の屈折率N1と、半導体発光素子の素子側面に接する第1の透光性封止材料の屈折率N2と、更にその外側と発光素子を封止する第2の透光性封止材料の屈折率N3との間に、N1>N2>N3>1の関係を有し、且つ、第1の封止樹脂には屈折率の高い光拡散材が混合されていることを特徴とするものである。
【選択図】図1
Description
本発明は、半導体発光素子を備えた半導体発光装置に係り、特に、光の外部への取り出し効率の改善方法に関する。
従来例の半導体発光装置の略断面図を図6に示す。図6は面実装チップ部品型の発光装置であり、発光素子40はセラミックス基板45の電気的導電層46上に銀ペースト41等でダイボントされ、金線42で電気的導電層46とワイヤーボンドされている。そして、半導体発光素子40はその外側を透光性樹脂43で樹脂封止されている。
しかし、導体発光素子の屈折率は、例えば、GaP等の屈折率は3.2程度あり、透明樹脂43として、たとえばシリコーン樹脂の屈折率1.4との屈折率差が大きいので、接合界面で発光した光を有効に外部に取り出すことは困難で、光が半導体発光素子の内部に閉じ込められる割合が高い。この内部に閉じ込められる要因は、界面での屈折率差による反射である。屈折率NA=3.2の媒質(半導体)から屈折率NB=1.4の媒質(シリコーン樹脂)に光が進むと、フレネルの式から、界面での反射率Rは、R=((NA−NB)/(NA+NB))^2 = 0.16となり、R(%)=16%となる。
また、このときの全反射の臨界角θCは、スネルの式から、Sin(θC)=NB/NA、θC≒26°、約26度となる。つまり、界面で16%の減衰を受けるだけでなく、界面に対する法線より26度以上の角度にある光は全反射して、外部に取り出せないことになる。
この問題点を改善する方法として、特開平10−65220号公報では、発光素子と封止樹脂界面での反射率低減および全反射の臨界角を広くする方法として透明性封止材料による封止構造を2重構造とすることで発光素子の側面からの光取りだし効率の向上を図っている。これを図7に示す。
図7の断面図において、発光素子40は液晶ポリマー樹脂基板またはセラミックス基板45の電気的導電層46上に銀ペースト41等でダイボントされ、金線42で電気的導電層46とワイヤーボンドされている。そして、屈折率N1をもつ発光素子40は屈折率N2をもつ透光性高屈折率樹脂43で封止され、その外側に屈折率N3をもつ透光性低屈折率樹脂44で封止された2重封止構造とする。
ここで、屈折率にN1>N2>N3>1の関係を有することにより、界面での反射を低減し、臨界角を広げることで発光素子の側面からの光取りだし効率の向上を図っている。
しかし、特許文献1では、2種類の樹脂を用いて2重封止構造とすることで、樹脂間の熱膨張率差によるクラックまたはボイドが樹脂間界面に生じやすく、歩留まりや信頼性に問題があった。
また、2種類の透明樹脂にて2重構造にするために、銀ペースト及び樹脂の塗布工程と硬化工程を合計で3回行う必要があった。そのため加工時間とコストが増大する問題があった。
本発明は、光の外部取り出し効率を改善するため半導体発光素子と封止樹脂界面での反射率の低減及び全反射の臨界角を広くした高信頼な半導体発光装置を提供することを目的とする。
本発明は、上記課題を解決するために、半導体発光素子を透光性封止材料により封止し、該透光性封止材料による封止構造が2重構造であり、且つ、該半導体発光素子の屈折率N1と、半導体発光素子の素子側面に接する第1の透光性封止材料の屈折率N2と、更にその外側と発光素子を封止する第2の透光性封止材料の屈折率N3との間に、N1>N2>N3の関係を有し、且つ、第1の封止樹脂の材料は、少なくとも1種類以上の屈折率を高める添加物が第2の封止樹脂の材料に対して混合されていることを特徴とするものである。
また、本発明は、上記課題を解決するために、半導体発光素子を透光性封止材料により封止し、該透光性封止材料による封止構造が2重構造であり、且つ、該半導体発光素子の屈折率N1と、半導体発光素子の素子側面に接する第1の透光性封止材料の屈折率N2と、更にその外側と発光素子を封止する第2の透光性封止材料の屈折率N3との間に、N1>N2>N3の関係を有し、且つ、第1の封止樹脂の材料は、半導体発光素子の下面と側面を覆っていることを特徴とするものである。
本発明によれば、光の外部取り出し効率を改善した高信頼な半導体発光装置を提供することができる。
本発明の実施例を、図面を用いて説明する。
図1乃至図5は本発明の一実施の形態よりなる図である。
図1に本発明の一実施の形態よりなる半導体発光装置の略断面図を示し、図1は面実装チップ部品型の発光装置である。
半導体発光素子10は、ガラスエポキシ樹脂基板またはメタル基板またはセラミックス基板15上に透光性高屈折率樹脂13によってダイボンドされ、金線12で基板15上に形成された電気的導電層16と超音波接合によりワイヤーボンドされている。ここで、ダイボンド時の透光性高屈折率樹脂13は塗布量を調整することで発光素子10の側面を覆うように封止しており(第1の樹脂封止)、発光層が形成された発光素子10の上面は覆っていない。ここで半導体発光素子10の上面とは基板15とは反対の方向を向いた面であり、半導体発光素子10の側面とは、基板の略面方向を向いた面である。また、透光性高屈折率樹脂13は発光素子10との濡れ性がよいために側面に濡れ上がっている。このために透光性高屈折率樹脂13はすそが広がった形状となっている。透光性高屈折率樹脂13の外側と発光素子10は透光性低屈折率樹脂14で封止されている(第2の樹脂封止)。
本半導体発光装置の製造方法を説明する。まず、電気導電層16が形成された基板15上に高屈折率樹脂13をポッティングする。高屈折率樹脂13の一例として、添加物である光拡散材として酸化チタンTiO2(屈折率2.7)の微粒子体積比40%を第1の透光性樹脂であるシリコーン系樹脂(屈折率1.4)に混合した樹脂を使用する。高屈折率樹脂13をセラミック基板15上にポッティングした上に発光素子10を発光層を形成した面が上面になるように、高屈折率樹脂13の上に搭載する。このとき、発光素子10は高屈折率樹脂13の中に沈み込み、その底面及び側面が高屈折率樹脂13に覆われる。そして透光性高屈折率樹脂13を硬化して第1の樹脂封止を行う。ポッティングの際、発光素子10の上面に高屈折率樹脂13が載らない様に、事前にポッティング塗布量、発光素子10の搭載位置を調整しておく。
なお、第1の透光性高屈折率樹脂の一例としてシリコーン系樹脂を挙げたが、その他にもエポキシ樹脂、変性エポキシ樹脂、変性シリコーン樹脂、アクリレート樹脂、ウレタン樹脂、ポリイミド樹脂などの透明樹脂であれば同じ効果が得られる。
さらに、屈折率を高めるために高屈折率樹脂13に添加する添加物である光拡散材として酸化チタンTiO2を一例として取り上げたが、その他にもAl、Si、Zr、Ti、Sn、Ce、Ta、Nb、Znの群から選択される1種または2種以上含有した酸化物または窒化物であり光吸収率が30%以内であれば、TiO2に限ったものではない。これらの物質は、透明または白色の微粒子状であるため光が透過し、屈折率が樹脂の屈折率よりも大きいため、樹脂の屈折率を高めることができる。なお、添加物は、光拡散物のように光拡散の効果が無くても、樹脂の屈折率を高める効果があれば足りる。
次に、発光素子10の上面の発光層と電気的導電層16とを金線12で電気的に接続し、そして、発光素子10と高屈折率樹脂13と金線12との外側を覆うように、トランスファーモールド成形法により低屈折率樹脂14としてのシリコーン系樹脂(透光性低屈折率樹脂14)を塗布して硬化させることで第2の樹脂封止を行う。ここで用いる透光性高屈折率樹脂13と透光性低屈折率樹脂14とのシリコーン系樹脂はどちらも同じジメチル系シリコーン樹脂である。
図1(b)に発光素子10としてR(Red)−LED(Light Emitting Diode)とした一例を示す。図1(b)のR−LEDではGaP(屈折率3.2)を原料とした厚さ250μm程度の基板101とその上に結晶成長にて製膜されたInAlGaPを原料とした複数層からなる厚さ2〜5μm程度発光層102から構成されている。基板101は側面からの光取り出し効率を向上させるためにテーパ形状103が設けられている。
図1(c)に発光素子10としてGまたはB−LEDとした一例を示す。図1(c)のLEDではサファイア(屈折率1.75)を原料とした厚さ100μm程度の基板201とその上に結晶成長にて製膜されたInAlGaNを原料とした複数層からなる厚さ2〜5μm程度の発光層202から構成されている。
図2に、本実施例による光の外部取り出し効率の実験結果を示す。発光素子10としてのR−LED、G−LED、B−LEDをそれぞれ本実施例にように基板10実装したものについて、発光装置から取り出された放射束を測定する実験をおこなった。比較例として用いた従来品としては、図6に示す発光装置を用いた。この実験結果によると、RGBいずれのLEDにおいても従来品に比べ、発光装置から取り出された放射束は上昇している。取り出し効率はR−LEDにおいて35%以上、G−LEDにおいては16%、B−LEDでは27%の向上が図れた。したがって、LEDの形状やRGBの色は問わず、全ての発光素子において効果があることが実証された。
図3を用いて、本発明の2重構造の封止における光の外部への取り出し作用について、発光素子10からの光L1、L2を例に取り説明する。
図3において、発光素子10の基材の屈折率N1と、発光素子10に接する第1の透光性高屈折率樹脂13の屈折率N2と、更にその外側を封止する第2の透光性低屈折樹脂14の屈折率N3と、空気中での屈折率(=1)の間に、N1>N2>N3>1の関係がある。発光素子10の発光点である発光層から出た光L1は発光素子上面に向かう。発光点Oから透光性封止材料14との界面Aまでの距離は非常に近いため、光L1は界面Aから透光性封止材料14へ垂直に近い角度で放射される。したがって、光の反射はほとんど起こらない。
図示した別の光線L2は発光素子10の側面である界面Bで光の反射・全反射の作用を受けて、高屈折率樹脂13内に進行しL2bとなる。光拡散材には、屈折率を上げるほかに光を散乱させる作用もあり、L2bは光拡散材での散乱を繰り返しながら進行し、界面Cにて透光性封止材料14へ進行する。界面Dで光の反射・全反射の作用を受けてL2cとなって空気中へ放射される。
本実施例では、発生した光が、屈折率N1、N2、N3、1の媒体をこの順で通過する界面B、界面Dでの反射、全反射光を削減できる。媒体間での屈折率の差が小さいため、臨界角が小さくなり、界面を通り抜けずに反射する確率が小さくなるからである。また、透光性高屈折率樹脂13の樹脂材料と透光性低屈折率樹脂14はどちらもジメチル系シリコーン樹脂であり同材料であるため、界面Cでの反射、全反射はほとんどない。したがって、本形態においては、LED側面からの光取り出し効率を向上させることができる。
また、LED上面からの光取り出し効率についても、発光素子10から直接、透光性低屈折率樹脂14に放射され、透光性高屈折率樹脂13を通らないので、両樹脂の界面での反射が無く、光取り出し効率を高くすることができる。
発光素子の側面から光取り出し割合を向上させている図1(b)構造をもつR−LEDは、図1(c)構造であるGB-LEDよりも本発明の2重構造の封止における光の外部への取り出し効果が大きい。
上述の実施形態によれば、光取り出し効率向上以外の効果も期待できる。第1の透光性高屈折率樹脂13が基板15側であるすそが広がった形状にて発光素子10の側面を覆うことから、発光素子10のダイボンドのせん断強度が向上する。これによりワイヤボンド強度低下を低減することができる。さらに、界面Cにおいて透光性高屈折率樹脂13の透明樹脂と透光性低屈折率樹脂14は同一材料のジメチルシリコーンであるため、クラック、ボイドは生じにくい。これにより信頼性の高い発光装置を作ることができる。
また、上述の実施形態であれば、透光性高屈折率樹脂13によって発光素子10をダイボンドが可能である。したがって、透光性高屈折率樹脂13の塗布工程を従来工程のダイボンド工程に置き換えることが可能であるため、新たに製造工程を増やす必要がない。
図4に本発明の一実施の形態よりなる他の半導体発光装置の略断面図を示し、図4は面実装チップ部品型の発光装置である。図4において、半導体発光素子10は発光層及び電極を形成した下面を基板側に向けるフリップチップ(FC)タイプの発光素子である。半導体発光素子10の電極は樹脂製、メタル製またはセラミックス製基板15上に設けられた電気的導電層16に、はんだ、または、導電性ペーストなどの接合部材18によって接合される。接合は、半導体発光素子10を透光性高屈折率樹脂13内に設置するときに、行う。半導体発光素子10の下面と側面は透光性高屈折率樹脂13により封止され、さらに、その外側を透光性低屈折率樹脂14で封止されている。
実施の形態2によれば、透光性高屈折率樹脂13によって基板15と発光素子10の電極面との空間は充填されている。これにより透光性高屈折率樹脂13はいわゆるアンダーフィルとしての機能を果たすことができる。
つまり、発光素子10で発生した熱を透光性高屈折率樹脂13を通して効率よく基板15に伝達することができる。また、基板15と発光素子10の材料間での熱膨張の違いが原因で生じる接合部材18でのクラックの発生や進展を抑制する効果がある。よって、熱伝導性に優れ、また信頼性にも優れた発光装置を作ることが可能である。
図5に本発明の一実施の形態よりなる他の半導体発光装置の断面図を示し、図5は複数チップ搭載型の発光装置である。
図5において、発光素子310、311はセラミックス製基板15上に搭載されている。
本実施例では、搭載された発光素子は2個の場合の説明であるが、搭載個数に制限はなく、また搭載発光素子の種類の制限もない。
図5においては、図1(b)または図1(c)で示された複数のLEDを実装している。発光素子10の実装方法は実施例1に記載した方法による。
図5においては隣り合う発光素子310より放射された光が隣接する半導体素子311側面方向に進行した時、隣接する半導体発光素子間最短距離Dと、隣接する半導体発光素子を囲う第1の透光性樹脂材料13の最短距離dとの間にD>dを満たしていることで、屈折率はN2>N3であるから、界面Eにおいて多くの光は反射、散乱されて透光性樹脂材料14内に戻されるために半導体素子311の側面に到達しない。これにより半導体素子311によって吸収される光が減少し、結果として、外部に取り出す光が増加する。特に、半導体素子310がBまたはG−LEDで、半導体素子311がR−LEDの場合、効果が大きい。
10…半導体発光素子、12…金線、13…透光性高屈折率樹脂、14…透光性低屈折率樹脂、15…液晶ポリマー樹脂基板またはセラミックス基板、16…電気的導電層、101、201…発光素子の基板、102、202…発光層、103…テーパー面、310、311…発光素子、R…隣接する半導体発光素子間最短距離、r…隣接する半導体発光素子を囲う第1の透光性樹脂材料の最短距離。
Claims (19)
- 基板と、
前記基板上に設けられ、半導体の基材と発光層とを有する発光素子と、
前記発光素子の側面を覆い、前記発光素子の基材よりも屈折率が小さい透光性の第一の封止樹脂と、
前記第一の封止樹脂を覆い、前記第一の封止樹脂よりも屈折率が小さい透光性の第二の封止樹脂とを備え、
前記第一の封止樹脂は、前記第二の封止樹脂の材料に、添加物を添加したものであることを特徴とする半導体発光装置。 - 基板と、
前記基板上に設けられ、半導体の基材と発光層とを有する発光素子と、
前記発光素子の側面及び下面を覆い、前記発光素子の基材よりも屈折率が小さい透光性の第一の封止樹脂と、
前記発光素子の上面及び前記第一の封止樹脂を覆い、前記第一の封止樹脂よりも屈折率が小さい透光性の第二の封止樹脂とを備えた半導体発光装置。 - 請求項2において、
前記基板は、導電層を有し、
前記発光層と前記導電層とは、導線により導通可能に接続されおり、
前記導線は、前記第二の封止樹脂により封止されていることを特徴とする半導体発光装置。 - 請求項2において、
前記第一の封止樹脂は、前記第二の封止樹脂の材料に添加物を添加したものであることを特徴とする半導体発光装置。 - 請求項4において、
前記添加物は、酸化物または窒化物であることを特徴とする半導体発光装置。 - 請求項1または請求項4において、
前記第二の封止樹脂は、エポキシ樹脂、変性エポキシ樹脂、シリコーン樹脂、変性シリコーン樹脂、アクリレート樹脂、ウレタン樹脂、ポリイミド樹脂からなる群から選択される少なくとも1種により形成されてなることを特徴とする半導体発光装置。 - 請求項5において、
前記添加物は、Al、Si、Zr、Ti、Sn、Ce、Ta、Nb、Znの群から選択される1種または2種以上含有した酸化物または窒化物からなることを特徴とする半導体発光装置。 - 請求項1または請求項2において、
前記第一の封止樹脂は、基板側のすそが広がった形状であることを特徴とする半導体発光装置。 - 請求項1または請求項2において、
前記発光素子は、下面に電極を有し、
前記電極と基板上の導電層を、接合材より前記第一の封止樹脂内で接続されていることを特徴とする半導体発光装置。 - 請求項1または請求項2において、
前記発光素子、前記第一の封止樹脂を複数組備え、
前記複数組の発光素子及び第一の封止樹脂を一つの前記第二の封止樹脂で覆っていることを特徴とする半導体発光装置。 - 基板上に透光性の第一の封止樹脂を塗布する第一の塗布工程と、
基材と発光層を有し、前記基材の屈折率が前記第一の封止樹脂よりも大きい発光素子を、当該第一の封止樹脂が当該発光素子側面を覆うように設置する設置工程と、
前記第一の封止樹脂を硬化させる第一の硬化工程と、
前記第一の封止樹脂よりも屈折率が小さい透光性の第二の封止樹脂を、前記第一の封止樹脂を覆うように塗布する第二の塗布工程と、
前記塗布した第二の封止樹脂を硬化させる第二の硬化工程とを含み、
前記第一の封止樹脂は、前記第二の封止樹脂の材料に、添加物を添加したものである半導体発光装置の製造方法。 - 基板上に透光性の第一の封止樹脂を塗布する第一の塗布工程と、
基材と発光層を有し、前記基材の屈折率が前記第一の封止樹脂よりも大きい発光素子を、その下面及び側面の少なくとも一部を前記第一の封止樹脂が覆うように、前記塗布した第一の封止樹脂の上に設置する設置工程と、
前記発光素子を設置した後に前記第一の封止樹脂を硬化させる第一の硬化工程と、
前記第一の封止樹脂よりも屈折率が小さい透光性の第二の封止樹脂を、前記発光素子及び前記第一の封止樹脂を覆うように塗布する第二の塗布工程と、
前記塗布した第二の封止樹脂を硬化させる第二の硬化工程とを含む半導体発光装置の製造方法。 - 請求項12において、
前記第一の封止樹脂は、前記第二の封止樹脂の材料に、添加物を添加したものであることを特徴とする半導体発光装置の製造方法。 - 請求項11または請求項13において、
前記添加物は、酸化物または窒化物であることを特徴とする半導体発光装置の製造方法。 - 請求項12において、
前記第一の硬化工程後に、前記発光素子の発光層と基板上の導電層とを導線により接続する接続工程を行い、
前記第二の塗布工程では、前記導線を覆うように塗布することを特徴とする半導体発光装置の製造方法。 - 請求項11または請求項13において、
前記第二の封止樹脂は、エポキシ樹脂、変性エポキシ樹脂、シリコーン樹脂、変性シリコーン樹脂、アクリレート樹脂、ウレタン樹脂、ポリイミド樹脂からなる群から選択される少なくとも1種により形成されてなることを特徴とする半導体発光装置の製造方法。 - 請求項14において、
前記添加物は、Al、Si、Zr、Ti、Sn、Ce、Ta、Nb、Znの群から選択される1種または2種以上含有した酸化物または窒化物からなることを特徴とする半導体発光装置の製造方法。 - 請求項11または請求項12において、
前記第一の封止樹脂は、基板側のすそが広がった形状であることを特徴とする半導体発光装置の製造方法。 - 請求項11または請求項12において、
前記発光素子は、下面に電極を有し、
前記設置工程では、前記電極と基板上の導電層を、接合材より前記第一の封止樹脂内で接続することを特徴とする半導体発光装置の製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008319085A JP2010147040A (ja) | 2008-12-16 | 2008-12-16 | 半導体発光装置及びその製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008319085A JP2010147040A (ja) | 2008-12-16 | 2008-12-16 | 半導体発光装置及びその製造方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2010147040A true JP2010147040A (ja) | 2010-07-01 |
Family
ID=42567192
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2008319085A Pending JP2010147040A (ja) | 2008-12-16 | 2008-12-16 | 半導体発光装置及びその製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2010147040A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2012039105A1 (ja) * | 2010-09-24 | 2012-03-29 | 株式会社小糸製作所 | 発光モジュール |
JP2016149541A (ja) * | 2015-02-13 | 2016-08-18 | 台医光電科技股▲ふん▼有限公司 | 光学センサモジュール、光学センサアクセサリー、及び光学センサデバイス |
GB2551048A (en) * | 2016-05-31 | 2017-12-06 | Nichia Corp | Light emitting device |
-
2008
- 2008-12-16 JP JP2008319085A patent/JP2010147040A/ja active Pending
Cited By (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2012039105A1 (ja) * | 2010-09-24 | 2012-03-29 | 株式会社小糸製作所 | 発光モジュール |
JP2012069749A (ja) * | 2010-09-24 | 2012-04-05 | Koito Mfg Co Ltd | 発光モジュール |
JP2016149541A (ja) * | 2015-02-13 | 2016-08-18 | 台医光電科技股▲ふん▼有限公司 | 光学センサモジュール、光学センサアクセサリー、及び光学センサデバイス |
JP2016149542A (ja) * | 2015-02-13 | 2016-08-18 | 台医光電科技股▲ふん▼有限公司 | 多方向光学センサモジュール、多方向光学センサアクセサリー、及び多方向光学センサデバイス |
US9696199B2 (en) | 2015-02-13 | 2017-07-04 | Taiwan Biophotonic Corporation | Optical sensor |
US9752925B2 (en) | 2015-02-13 | 2017-09-05 | Taiwan Biophotonic Corporation | Optical sensor |
GB2551048A (en) * | 2016-05-31 | 2017-12-06 | Nichia Corp | Light emitting device |
US10720552B2 (en) | 2016-05-31 | 2020-07-21 | Nichia Corporation | Light emitting device |
GB2551048B (en) * | 2016-05-31 | 2020-07-29 | Nichia Corp | Light emitting device |
US11171261B2 (en) | 2016-05-31 | 2021-11-09 | Nichia Corporation | Light emitting device |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US20210159369A1 (en) | Light emitting device | |
JP6424738B2 (ja) | 発光装置および発光装置の製造方法 | |
JP6724933B2 (ja) | 発光装置の製造方法 | |
TWI515925B (zh) | 光電元件與其製造方法 | |
TWI495164B (zh) | 發光裝置 | |
US8089087B2 (en) | Light emitting device package | |
JP6387954B2 (ja) | 波長変換部材を用いた発光装置の製造方法 | |
JP2016219743A5 (ja) | ||
KR102538448B1 (ko) | 조명 모듈 | |
RU2728830C2 (ru) | Светоизлучающее устройство | |
JP2011119739A (ja) | 発光装置及びその製造方法 | |
CN109427704A (zh) | 半导体封装结构 | |
JP2019176081A (ja) | 発光装置およびその製造方法 | |
JP2014072213A (ja) | 発光装置及びその製造方法 | |
JP2013232484A (ja) | 発光装置およびその製造方法 | |
JP6079544B2 (ja) | 発光装置および発光装置の製造方法 | |
JP2010147040A (ja) | 半導体発光装置及びその製造方法 | |
TWI642211B (zh) | 具有斜面晶片反射結構之晶片級封裝發光裝置及其製造方法 | |
JP6696550B2 (ja) | 発光装置 | |
JP2015111626A (ja) | 発光装置およびその製造方法 | |
US12040434B2 (en) | Diode package structure and manufacturing method thereof | |
JP2015230903A (ja) | 発光装置 | |
KR101408867B1 (ko) | 나노입자층을 포함하는 발광 다이오드 패키지 및 그 제조방법 | |
JP2016139833A (ja) | 発光装置 | |
TW201108473A (en) | Light emitting diode package structure |