JP2010145775A - 撮像装置の焦点調整方法および焦点調整装置 - Google Patents
撮像装置の焦点調整方法および焦点調整装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2010145775A JP2010145775A JP2008323378A JP2008323378A JP2010145775A JP 2010145775 A JP2010145775 A JP 2010145775A JP 2008323378 A JP2008323378 A JP 2008323378A JP 2008323378 A JP2008323378 A JP 2008323378A JP 2010145775 A JP2010145775 A JP 2010145775A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- focus
- imaging
- blur
- information
- focus adjustment
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Abstract
【解決手段】この焦点調整方法は、認識対象物を撮像装置の視野内の一の位置で撮像する予備撮像工程と、その予備撮像工程で撮像された撮像画像の少なくとも二つの部分について非点収差による認識対象物の暈け具合の情報を算出する暈け情報算出工程と、その暈け情報算出工程で算出された少なくとも二つの部分の暈け具合の情報、および前記非点収差による光軸方向での焦点高さの差異の相関関係の情報に基づいて、撮像装置の光軸方向での合焦位置があるべき方向およびその範囲の少なくとも一方を設定する焦点位置設定工程とを含む。
【選択図】図4
Description
特許文献1に記載の技術は、認識対象物の設置面に対し、例えば図10に例示するように、所定の走査範囲で、カメラ(撮像装置)を光軸方向に移動させつつ、所定サンプリング間隔毎に認識対象物の画像を撮影する。そして、この撮影画像から所定の領域を抽出し、抽出された撮像画像のコントラスト値を算出しつつ、カメラの対物レンズの位置を検出する。そして、算出されたコントラスト値の中から最大コントラスト値を検索する。
そして、暈け(ボケ)情報算出工程では、予備撮像工程で撮像された撮像画像内の少なくとも二つの部分について前記認識対象物の非点収差による暈け具合の情報を算出するので、少なくとも二つの部分相互の暈け具合の差異が判る。
このような構成であれば、予備撮像工程での一の位置が、撮像装置の光軸方向での合焦位置があるべき位置またはその近傍となる蓋然性が高いため、撮像装置の合焦位置を効率良く設定する上で好適である。
このような構成であれば、暈け具合の情報に差異がない場合には、予備撮像工程での、認識対象物を撮像装置の視野内の一の位置で撮像しただけで撮像装置の合焦位置を設定することができるので、その後の走査が不要であり、撮像装置の合焦位置をより効率良く設定する構成として好適である。
また、上記課題を解決するために、本発明のうち第二の発明は、電子部品または基板を認識対象物として撮像する撮像装置の焦点を調整する焦点調整装置であって、前記認識対象物を前記撮像装置の視野内の一の位置で撮像する予備撮像手段と、該予備撮像手段で撮像された撮像画像の少なくとも二つの部分について非点収差による前記認識対象物の暈け具合の情報を算出する暈け情報算出手段と、該暈け情報算出手段で算出された少なくとも二つの部分の暈け具合の情報、および前記非点収差による前記撮像装置の焦点高さの差異の相関関係の情報に基づいて、前記撮像装置の光軸方向での合焦位置があるべき方向およびその範囲の少なくとも一方を設定する焦点位置設定手段とを有することを特徴としている。
同図に示すように、この電子部品実装装置1は、図示の下側に、電子部品(不図示)を供給する部品供給部11が配設されている。また、図示の略中央部には、基板Kの搬入および搬出をする回路基板搬送路15が左右方向に延在され、この回路基板搬送路15上に基板Kが載置されるようになっている。さらに、この回路基板搬送路15の上方には吸着ヘッド部13が配置されている。この吸着ヘッド部13は、吸着ノズル13aを垂直方向(Z軸方向)に昇降可能に移動させるZ軸移動機構を備えるとともに、吸着ノズル13aを、ノズル軸(吸着軸)を中心に回転させるθ軸移動機構を備えている。そして、この吸着ヘッド部13は、基板認識部17および吸着ノズル13aと共にX軸移動機構12およびY軸移動機構14によってX軸およびY軸方向に移動されるようになっている。
同図に示すように、この電子部品実装装置1は、装置全体を制御するマイクロコンピュータ(CPU)、およびRAM、ROMなどからなるコントローラ(制御手段)20を備えている。記憶装置30は、フラッシュメモリなどで構成され、キーボード28やマウス29から入力された部品などのデータ、及び不図示のホストコンピュータから供給される部品データなどを格納する。表示装置(モニタ)31は、部品データ、演算データ、及び部品認識カメラ16で撮像した電子部品Pの画像などをその表示面31aに表示する。
図3に示すように、この基板認識部17は、撮像レンズ35を有する基板認識カメラ36と、撮像レンズ35と基板Kとの間に配設されたプレート型のハーフミラー34と、このハーフミラー34の側方に配置された照明基板32および拡散板33とを備えている。照明基板32からの光は拡散板33で拡散させられた後、ハーフミラー34で下方向(基板Kの方向)に折り曲げられ、基板K上に形成されている平面視が円形の基板マークKaを照明する。そして、その反射光は、撮像レンズ35を通って基板認識カメラ36に入光するようになっている。ここで、このプレート型のハーフミラー34は、Z軸に対して、ZX平面内で45°傾いていており、光軸方向に非点収差を与える非点収差付与手段になっている。また、この基板認識部17内には、図示しないリニアガイドおよび直動モータが取り付けられており、基板認識カメラ36を光軸方向Lに移動可能となっている。したがって、上記基板マークKaの高さに変動があっても、常に焦点を合わせることができる。なお、本実施形態では、この基板認識部17が、上記「課題を解決する手段」に記載の「撮像装置」に対応する。
コントローラ20で焦点調整処理が実行されると、図4に示すように、まずステップS1に移行して、基板認識部17が、基板K上の円形の基板マークKaをその視野に捉えるように吸着ヘッド部13を移動させる。このとき、基板認識部17の焦点位置は、基板マークKaを認識するために光軸方向での予め設定された高さ(以下、「基板マークKaを認識するために光軸方向での予め設定された高さ」を「予備撮像高さ」ともいう)に位置決めされる。本実施形態の例では、この「予備撮像高さ」は、基板認識部17の設計上の焦点の高さに一致する値に設定されている。なお、この「予備撮像高さ」が、上記「課題を解決する手段」に記載の「撮像装置の視野内の一の位置」に対応する。
ステップS3では、ステップS2で得られた基板マークKaの撮像画像のX方向エッジExとY方向エッジEyの「暈け具合を示すデータ(暈け具合の情報)」を求める。本実施形態の例では、X方向エッジExのコントラスト値CxとY方向エッジEyのコントラスト値Cyを、「暈け具合を示すデータ(暈け具合の情報)」として求めている。
続くステップS4では、ステップ3で得られたX方向エッジExのコントラスト値CxとY方向エッジEyのコントラスト値Cyとを比較する。
(B) X方向エッジExとY方向エッジEyとの暈け具合が等しい(図6(b)参照)。
(C) Y方向エッジExよりもX方向エッジEyの方が暈けている(図6(c)参照)。
(A) Cx>Cy
(B) Cx=Cy
(C) Cx<Cy
まず、ステップS4において、基板マークKaが「予備撮像高さ」とほぼ等しい位置にあるのかを判断する。この判断では、以下の条件式(式1)を用いている。(図8に基板マークKaの高さとCx/Cyの関係を示す。)
α≦(Cx/Cy)≦β かつ min(Cx,Cy)≧γ ・・・(式1)
この(式1)を満たすときは、基板マークKaは「予備撮像高さ」とほぼ等しい位置にあると判断してステップS11に移行する。ステップS11では、以降の走査動作は行わず、上記所定の認識対象領域に記憶されている、ステップS2で撮像した撮像画像を用いて、基板マークKaのXY方向の位置の認識を行い、処理を終える。
ステップS5においては、例えば以下の条件式(式2)を用いる。
(Cx/Cy)>α・・・・・(式2)
この(式2)を満たすならば、基板マークKaは「予備撮像高さ」よりも低い位置にあると判断してステップS6に移行する。これに対し、(式2)を満たさないならば、「予備撮像高さ」よりも高い位置にあると判断してステップS7に移行する。
ここで、上記(式1)および(式2)中のα、β、γ(α≦1≦β、γ≧0)は予め設定された任意の値である(図7および図8参照)。
ステップS8では、ステップS7あるいはステップS8で求めた各コントラスト値CxとCyの平均値のピーク位置を算出する(図9参照)。なお、この際、例えば特許文献1に記載の技術同様に、予め設定された所定の関数からなる近似式を用いてもよい。
続くステップS10では、移動後の基板認識部17にて再度基板マークKaを撮像し、当該撮像した撮像画像のデータを上記所定の認識対象領域に記憶してステップS11に移行し、ステップS11では、所定の認識対象領域に記憶された、当該再度の基板マークKaを撮像した撮像画像のデータを用いて、基板マークKaのXY方向の位置の認識を行い、処理を終える。
この電子部品実装装置1は、基板認識部17の合焦位置を調整する際には、まず、基板認識部17が、基板K上の円形の基板マークKaをその視野に据えるように吸着ヘッド部13を移動させると同時に、基板認識部17の焦点位置を「予備撮像高さ」に位置決めする。次いで、この予備撮像高さにおいて、基板認識部17により基板マークKaを撮像し、その撮像画像のデータを所定の認識対象領域に記憶する(予備撮像工程(ステップS1〜S2))。
次いで、基板マークKaの撮像画像のX方向エッジExのコントラスト値CxとY方向エッジEyのコントラスト値Cyを求める(暈け情報算出工程(ステップS3))。この暈け情報算出工程では、予備撮像工程で撮像された撮像画像内のX方向エッジExとY方向エッジEyについて、コントラスト値Cxとコントラスト値Cyを基板マークKaの非点収差による暈け具合の情報として算出するので、X方向エッジExとY方向エッジEy相互のコントラスト値の差異が判る。
例えば、上記実施形態では、電子部品実装装置1を例に、基板K上の基板マークKaの認識に主眼を置いた例で説明しているが、これに限定されず、本発明に係る撮像装置の焦点調整方法および焦点調整装置は、例えば実装後の部品の検査等に使用してもよい。また、撮像装置として、基板認識部17に適用した例で説明したが、これに限らず、撮像装置として、部品認識カメラ16についても同様に適用可能であることは勿論である。
また、上記実施形態では、基板マークKaが予め設定した「予備撮像高さ」とほぼ等しい位置にある時は、その後の走査動作を行わない例で説明したが、これに限らず、「予備撮像高さ」を含む所定の範囲を設定して走査動作を行う構成としてもよい。但し、迅速な設定を優先するのであれば、上記実施形態のように、基板マークKaが予め設定した「予備撮像高さ」とほぼ等しい位置にある時は、その後の走査動作を行わないようにすることは好ましい。
また、上記実施形態では、コントラスト値Cx、Cyの平均値のピーク位置に、基板認識部17の焦点位置を移動させて、基板マークKaの認識を行ったが、これに限らず、コントラスト値Cxのピーク位置あるいはコントラスト値Cyのピーク位置等、その他の位置に基板認識部17の焦点位置を移動させて、基板マークKaの認識を行ってもよい。
11 部品供給部
12 X軸移動機構
13 吸着ヘッド部
14 Y軸移動機構
15 回路基板搬送路
16 部品認識カメラ
17 基板認識部(撮像装置)
20 コントローラ
27 画像認識装置
30 記憶装置
32 照明基板
33 拡散板
34 ハーフミラー
35 撮像レンズ
36 基板認識カメラ
K 基板
Ka 基板マーク
L 光軸方向
P 電子部品
Claims (8)
- 電子部品または基板を認識対象物として撮像する撮像装置の焦点を調整する方法であって、
前記認識対象物を前記撮像装置の視野内の一の位置で撮像する予備撮像工程と、該予備撮像工程で撮像された撮像画像の少なくとも二つの部分について非点収差による前記撮像画像の暈け具合の情報を算出する暈け情報算出工程と、該暈け情報算出工程で算出された少なくとも二つの部分の暈け具合の情報、および前記非点収差による光軸方向での焦点高さの差異の相関関係の情報に基づいて、前記撮像装置の光軸方向での合焦位置があるべき方向およびその範囲の少なくとも一方を設定する焦点位置設定工程とを含むことを特徴とする撮像装置の焦点調整方法。 - 前記予備撮像工程における前記撮像装置の視野内の一の位置を、前記撮像装置の設計上の焦点の高さに一致して、光軸方向での予め設定された高さに設定することを特徴とする請求項1に記載の撮像装置の焦点調整方法。
- 前記焦点位置設定工程は、前記暈け情報算出工程で算出された少なくとも二つの部分の暈け具合の情報に差異がないと認めるときには、前記一の位置を合焦点位置として設定することを特徴とする請求項1または2に記載の撮像装置の焦点調整方法。
- 前記焦点位置設定工程は、前記暈け情報算出工程で算出された少なくとも二つの部分の暈け具合の情報に差異があると認めるときには、前記撮像装置の光軸方向での合焦位置があるべき方向およびその範囲の少なくとも一方を仮設定し、その仮設定された合焦位置があるべき方向およびその範囲の少なくとも一方の情報に基づいて、前記認識対象物を撮像し、前記撮像装置の合焦位置を設定することを特徴とする請求項1〜3のいずれか一項に記載の撮像装置の焦点調整方法。
- 前記非点収差は、前記撮像装置を構成する光学部品により与えることを特徴とする請求項1〜4のいずれか一項に記載の撮像装置の焦点調整方法。
- 前記光学部品は、プレート型ハーフミラーであることを特徴とする請求項5に記載の撮像装置の焦点調整方法。
- 前記暈け具合の情報は、コントラスト値であることを特徴とする請求項1〜6のいずれか一項に記載の撮像装置の焦点調整方法。
- 電子部品または基板を認識対象物として撮像する撮像装置の焦点を調整する焦点調整装置であって、
前記認識対象物を前記撮像装置の視野内の一の位置で撮像する予備撮像手段と、該予備撮像手段で撮像された撮像画像の少なくとも二つの部分について非点収差による前記認識対象物の暈け具合の情報を算出する暈け情報算出手段と、該暈け情報算出手段で算出された少なくとも二つの部分の暈け具合の情報、および前記非点収差による前記撮像装置の焦点高さの差異の相関関係の情報に基づいて、前記撮像装置の光軸方向での合焦位置があるべき方向およびその範囲の少なくとも一方を設定する焦点位置設定手段とを有することを特徴とする撮像装置の焦点調整装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008323378A JP5339884B2 (ja) | 2008-12-19 | 2008-12-19 | 撮像装置の焦点調整方法および焦点調整装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008323378A JP5339884B2 (ja) | 2008-12-19 | 2008-12-19 | 撮像装置の焦点調整方法および焦点調整装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2010145775A true JP2010145775A (ja) | 2010-07-01 |
JP5339884B2 JP5339884B2 (ja) | 2013-11-13 |
Family
ID=42566271
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2008323378A Active JP5339884B2 (ja) | 2008-12-19 | 2008-12-19 | 撮像装置の焦点調整方法および焦点調整装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5339884B2 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2015125524A1 (ja) * | 2014-02-24 | 2015-08-27 | オリンパス株式会社 | 合焦方法、計測方法、主点検出方法、合焦装置、計測装置及び主点検出装置 |
WO2020044835A1 (ja) * | 2018-08-30 | 2020-03-05 | ソニー株式会社 | 信号処理装置、信号処理方法、信号処理プログラムおよび撮像装置 |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6473978A (en) * | 1987-09-16 | 1989-03-20 | Sanyo Electric Co | Automatic focus video camera |
JPH0528247A (ja) * | 1991-07-19 | 1993-02-05 | Hitachi Ltd | 自動焦点拡大装置およびその合焦位置決定方法 |
JPH0612683A (ja) * | 1993-05-17 | 1994-01-21 | Hitachi Ltd | 光学式読取再生装置 |
JP2002267923A (ja) * | 2001-03-09 | 2002-09-18 | Olympus Optical Co Ltd | 撮影レンズのピント調整方法 |
-
2008
- 2008-12-19 JP JP2008323378A patent/JP5339884B2/ja active Active
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6473978A (en) * | 1987-09-16 | 1989-03-20 | Sanyo Electric Co | Automatic focus video camera |
JPH0528247A (ja) * | 1991-07-19 | 1993-02-05 | Hitachi Ltd | 自動焦点拡大装置およびその合焦位置決定方法 |
JPH0612683A (ja) * | 1993-05-17 | 1994-01-21 | Hitachi Ltd | 光学式読取再生装置 |
JP2002267923A (ja) * | 2001-03-09 | 2002-09-18 | Olympus Optical Co Ltd | 撮影レンズのピント調整方法 |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2015125524A1 (ja) * | 2014-02-24 | 2015-08-27 | オリンパス株式会社 | 合焦方法、計測方法、主点検出方法、合焦装置、計測装置及び主点検出装置 |
JP2015158570A (ja) * | 2014-02-24 | 2015-09-03 | オリンパス株式会社 | 合焦方法、計測方法、主点検出方法、合焦装置、計測装置及び主点検出装置 |
US10705325B2 (en) | 2014-02-24 | 2020-07-07 | Olympus Corporation | Focusing method, measuring method, principal point detecting method, focusing device, measuring device, and principal point detecting device |
WO2020044835A1 (ja) * | 2018-08-30 | 2020-03-05 | ソニー株式会社 | 信号処理装置、信号処理方法、信号処理プログラムおよび撮像装置 |
US11792534B2 (en) | 2018-08-30 | 2023-10-17 | Sony Corporation | Signal processing device, signal processing method, and image capture device |
JP7415929B2 (ja) | 2018-08-30 | 2024-01-17 | ソニーグループ株式会社 | 信号処理装置、信号処理方法、信号処理プログラムおよび撮像装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP5339884B2 (ja) | 2013-11-13 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5174589B2 (ja) | 電子部品実装装置の自動焦点調整方法 | |
JP4618691B2 (ja) | マーク画像処理方法、プログラム及び装置 | |
KR101809875B1 (ko) | 사면 화상인식기술을 이용한 카메라 모듈 생산용 하우징 어태칭 장치 | |
JP5339884B2 (ja) | 撮像装置の焦点調整方法および焦点調整装置 | |
JP5759271B2 (ja) | 電子部品実装装置 | |
JP2011082506A (ja) | 部品検査装置及び部品実装装置 | |
JP6470484B2 (ja) | 描画装置、露光描画装置、プログラム及び描画方法 | |
JP5100484B2 (ja) | 自動焦点調整方法 | |
CN102334025A (zh) | 透光性板状物的拉引线道检测方法 | |
JP2009074849A (ja) | 線幅測定装置の検査方法 | |
JP2006267191A (ja) | 露光装置 | |
JP6836938B2 (ja) | ダイボンディング装置および半導体装置の製造方法 | |
JP2008124336A (ja) | 半導体チップの外形認識方法および位置補正方法 | |
JP5241530B2 (ja) | 電子部品実装装置および搭載方法 | |
JP5040829B2 (ja) | 部品実装装置および部品実装方法 | |
KR101665764B1 (ko) | 묘화 장치, 기판 처리 시스템 및 묘화 방법 | |
JP5740082B2 (ja) | 複数の表面実装装置からなる基板生産ライン | |
JP4901451B2 (ja) | 部品実装装置 | |
JP2010282536A (ja) | 画像処理方法及び画像処理装置 | |
JP2008116274A (ja) | 電子部品の三次元測定装置 | |
WO2022269912A1 (ja) | 認識装置及び認識方法 | |
JP2012233782A (ja) | 形状認識方法、形状認識装置及び実装基板生産装置 | |
KR102325610B1 (ko) | 손떨림보정용 엑츄에이터 검사 장치 및 방법 | |
JP6326170B2 (ja) | 描画装置、露光描画装置、プログラム及び描画方法 | |
JP2008045887A (ja) | 検査装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20111215 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20120726 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20121106 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20121228 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20130709 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20130806 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5339884 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |