JP2010123561A - 曲線状イオンガイドおよび関連方法 - Google Patents
曲線状イオンガイドおよび関連方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2010123561A JP2010123561A JP2008327139A JP2008327139A JP2010123561A JP 2010123561 A JP2010123561 A JP 2010123561A JP 2008327139 A JP2008327139 A JP 2008327139A JP 2008327139 A JP2008327139 A JP 2008327139A JP 2010123561 A JP2010123561 A JP 2010123561A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- ion
- electrodes
- curved
- voltage
- ion guide
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Images
Landscapes
- Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
- Electron Tubes For Measurement (AREA)
Abstract
【解決手段】イオンガイドは複数の曲線状電極と、イオン偏向装置とを備えている。上記電極は互いにおよび曲線状中心軸と平行に配列されており、上記曲線状中心軸は曲率半径を有する円形部の円弧に沿って延びている。上記複数の電極はそれぞれ上記曲線状中心軸から半径方向に離隔していて、上記曲線状中心軸の周りにおいて上記電極のうち対向する電極対間に配置された曲線状イオン誘導領域を画成している。上記イオン偏向装置は上記複数の電極のうちの少なくとも2個以上に対して半径方向にDC電界を印加する装置を備えていてもよい。上記イオン偏向装置はまた、曲線状で平行なイオン偏向電極対を有していてもよい。上記イオン偏向電極対は曲線状電極に加えてRFイオン誘導電界を印加するために用いられる。
【選択図】図2
Description
イオンガイドを種々のタイプのイオン処理装置、一例として質量分析計(MS)においてイオンを移送するために用いてもよい。当業者には種々のタイプの質量分析計の理論、デザイン、および動作が公知であるため、本開示において詳述する必要はない。一般的に使用されるイオンガイドは多極構造、通常はRF(高周波)専用電極構造に基づくものである。RF専用電極構造において、イオンガイドを通過するイオンは2次元RFトラップ電界に曝され、電極構造を貫通する軸方向経路に沿うよう集束される。曲線状イオンガイドにおいて該イオンガイドを通過するイオンが沿うイオン軸は直線状経路ではなく、曲線状経路である。曲線状イオンガイドを好んで質量分析計等のイオン処理装置に実装する場合が多いが、その理由は曲線状イオンガイドによって質量分析計の感度およびロバスト性を改善することができるためである。このような状況下における曲線状イオンガイドの主要な利点は、ニュートラルノイズ、大きな液滴ノイズ、またはフォトンをイオンからライン・オブ・サイト分離し、それによってニュートラル成分がイオン光学系およびイオン検出器のより感度の高い部材にまで達することを防止する点にある。また、曲線状イオンガイドはイオン経路の折れ曲がりを可能にして、関連する機器の設置面積を縮小することができる。
このため、イオンを高い運動エネルギーで移送すると同時に複数の質量のイオンを移送することでき、さらには最適なイオンの移送条件を維持することが可能なイオンガイドを含む改良型曲線状イオンガイドが常に必要とされている。
ある実施態様によれば、イオンガイドは複数の曲線状電極と、イオン偏向装置とを備えている。上記曲線状電極は互いにかつ曲線状中心軸と平行に配列されており、上記曲線状中心軸は曲率半径を有する円形部の円弧に沿って延びている。上記複数の電極はそれぞれ上記曲線状中心軸から半径方向に離隔していて、上記曲線状中心軸の周りにおいて上記電極のうち対向する電極対間に曲線状イオン誘導領域を画成している。上記イオン偏向装置は半径方向DC電界を、上記イオン誘導領域を横切るように、上記曲率半径に沿うように印加するよう構成されている。
他の実施態様によれば、イオンをイオンガイドを通して誘導するための方法が提供される。上記イオンは上記イオンガイドの曲線状イオン誘導領域内へ移送される。上記イオン誘導領域は互いにかつ曲線状中心軸と平行に配列された複数の曲線状電極によって画成されており、上記曲線状中心軸は曲率半径を有する円形部の円弧に沿って延びて上記イオン誘導領域を貫通している。各電極は上記曲線状中心軸から半径方向に離隔していて、上記曲線状イオン誘導領域は上記曲線状中心軸の周りで上記電極のうち対向する電極対間にある。高周波電界がイオン誘導領域を横切るように発生されて上記イオンを上記曲線状中心軸にほぼ沿って動くよう集束する。半径方向DC電界が上記イオン誘導領域を横切るように上記曲率半径に沿うように発生されて上記曲率半径に沿う方向のイオン偏向力を供給する。
本発明を、以下の図面を参照することによってより良く理解することができる。図中の構成部材は必ずしもその一定の比率の縮尺で描かれておらず、むしろ本発明の原則を説明することに重点が置かれている。図中、同じ参照符号は異なる全図を通じて対応する部材を示している。
また図1に示されるように、中心軸120を曲率中心Cおよび曲率半径Rによって画成される円形部142の円弧に沿って延びるものとして概念化してもよい。曲率半径Rとは中心軸120と曲率中心Cとの間の半径方向距離である。よって、イオンガイド100とその対応する電極群とはこの曲率半径Rを有していることを特徴とする。中心軸120は、円形部142によって一部が構成される円の円弧沿いに任意の長さだけ延びていてもよい。例えば、図示された例において中心軸120は全円のうち丸々四分円を占める円形部142を画成する程度の長さを有しており、その場合イオン導入口128およびイオン導出口132のそれぞれの軸は90度オフセットされている。このように、本実施例においては、イオンガイド100が90度の肘形状のイオン経路沿いに移送される集束イオンビームを提供する。ただし、他の実施例において中心軸120の長さはこれより短くても長くてもよく、その結果円形部142が図示されているよりも大きくなったり小さくなったり、それに応じてイオン導入口128およびイオン導出口132のそれぞれの軸間の角度が90度を上回っても下回ってもよい。
また、ここに開示中の態様を説明する目的で、電極202および204を外側電極、電極206および208を内側電極と考えてもよい。外側電極202および204は内側電極206および208よりもイオンガイド200の曲率中心から遠くに位置している。以下に述べる様に、一つの実施態様において電極202、204,206、および208はイオン誘導電極としてだけではなく、イオン偏向電極としても機能する。この機能を外側電極202および204と内側電圧206および208との間に直流(DC)電圧差を発生させることによって実現してもよく、それによって静的DCイオン偏向電界は曲率半径Rに沿う方向に配向されて、イオンをほぼ曲率中心方向に(つまり、ほぼ外側電極202および204から離れてほぼ内側電極206および208へ向かう方向に)バイアスする。
ここで説明した構成の半径方向DC電界により、従来この種のイオンガイドに対して実現されたよりも高い運動エネルギーでイオンを効率よく曲線状イオンガイド200を通して移送することが可能となる。DC電界によってイオンに付与された偏向力が高い運動エネルギーを補償し、イオンガイド200によって形成された曲線状イオン経路の周りで高エネルギーイオンを誘導する一助となる。さらに、移送効率を維持しつつ、イオンの広い帯域幅(つまり、複数種の質量のより広い範囲)を同時にイオンガイド200を通して移送してもよい。高運動エネルギーおよび/またはより広い質量範囲にあっても、最適なイオン移送条件と、その結果高い機器感度とをイオンガイド200において維持してもよい。
ここに開示されたイオンガイド100、200、および600を、曲線状集束イオンビームがイオンを所定のイオン源から所定の誘導先に誘導すると想定されるいかなるプロセス、装置、機器、器具、システム等において利用してもよい。図1に模式的に示されるイオン処理システム110はイオンガイド100(または200または600)が動作する可能性のある上記環境のうち任意のものを表している。よって、例えばイオン処理システム110が通常1つ以上の上流側装置172および174および/または1つ以上の下流側装置176および178を含んでいてもよい。イオン処理システム110は所望のMS技術(例えば単ステージ式MS,タンデムMS,MS/MS、またはMSn等)を実行するように構成された質量分析(MS)システム(装置または機器等)であってもよい。したがって、さらなる実施例として、上流側装置172がイオン源、下流側装置178はイオン検出器であってもよく、またその他の装置174および176はイオン蓄積もしくはトラップ装置、質量選別もしくは分析装置、衝突セルもしくは他のフラグメント化装置、またはイオン光学系および他のイオン誘導装置等1つ以上の他の構成部材に相当していてもよい。よって、例えば、イオンガイド100を質量分析器の前に(例えばQ0装置として)用いてもよく、それ自体をRF/DC質量分析器として用いもよく、または第1の質量分析器の後ろおよび第2の質量分析器の前に位置する衝突セルとして用いてもよい。よって、イオンガイドは真空引きされても、またはイオンと気体分子との間に衝突が起こる形態で(例えば、高真空GC/MSにおけるQ0装置として、LC/MSのイオン源領域内でQ0装置として、またはQ2装置として)作動されてもよい。
Claims (20)
- 互いにかつ曲線状中心軸と平行に配列された複数の曲線状電極を備え、上記曲線状中心軸は曲率半径を有する円形部の円弧に沿って延びており、上記複数の電極の各々は上記曲線状中心軸から半径方向に離隔していて、上記曲線状中心軸の周りにおいて上記電極のうち対向する電極対間に曲線状イオン誘導領域を画成しており、かつ
半径方向DC電界を、上記イオン誘導領域を横切るように上記曲率半径に沿って印加するよう構成されたイオン偏向装置を備えていることを特徴とするイオンガイド。 - 上記イオン偏向装置は、上記複数の電極のうち少なくとも1対の電極と接続されたDC電圧源を備えていることを特徴とする、請求項1に記載のイオンガイド。
- 上記曲線状中心軸に沿って軸方向DC電界を印加するよう構成された軸方向DC電圧源をさらに備えていることを特徴とする、請求項1に記載のイオンガイド。
- 上記複数の電極のうち少なくとも1対の対向している電極と接続されたRF電圧発生器をさらに備えていることを特徴とする、請求項1に記載のイオンガイド。
- 上記複数の曲線状電極は、外側電極対と内側電極対とを含み、上記外側電極対は上記曲率半径に対して上記内側電極対よりも半径方向外側に配置されており、また上記イオン偏向装置は上記外側および内側電極対の各電極と接続されたDC電圧源を備えており、上記DC電圧源は第1の大きさのDC電圧と第2の大きさのDC電圧とを上記外側電極対と上記内側電極対とにそれぞれ印加するよう構成されていることを特徴とする、請求項1に記載のイオンガイド。
- 上記DC電圧源は、上記曲線状中心軸における電圧に対して、上記DC電圧を所定の極性で上記外側電極対に印加し、上記DC電圧を反対の極性で上記内側電極対に印加するよう構成されていることを特徴とする、請求項5に記載のイオンガイド。
- 上記複数の曲線状電極は第1のイオン誘導対向電極対と第2のイオン誘導対向電極対とを含み、上記イオン偏向装置は曲線状のイオン偏向対向電極対を備え、上記イオン偏向電極は互いにかつ上記曲線状中心軸と平行に配列されて上記曲率半径方向に沿って位置していることを特徴とする、請求項1に記載のイオンガイド。
- 上記イオン偏向装置はさらに、第1の大きさのDC電圧を上記イオン偏向電極対のうちの一方のイオン偏向電極に印加し、第2の大きさのDC電圧を他方のイオン偏向電極に印加するように構成されたDC電圧源を備えていることを特徴とする、請求項7に記載のイオンガイド。
- 上記DC電圧源は、上記曲線状中心軸における電圧に対して、上記DC電圧を所定の極性で上記一方のイオン偏向電極に印加し、上記DC電圧を反対の極性で上記他方のイオン偏向電極に印加するよう構成されていることを特徴とする、請求項8に記載のイオンガイド。
- 上記イオン誘導電極対のうち少なくとも1つのイオン誘導電極対と接続されているRF電圧発生器をさらに備えていることを特徴とする、請求項7に記載のイオンガイド。
- 上記イオン偏向電極は上記イオン誘導領域の外側に配置されていることを特徴とする、請求項7に記載のイオンガイド。
- 上記イオン偏向装置はDC電圧を印加するよう構成されており、上記DC電圧の大きさは、上記イオンの運動エネルギー(KE)と、上記複数の電極の上記中心軸周りの内接半径(r0)と、上記曲率半径(R)とに、関係式Vdeflect=k×KE×(r0/R)に従って比例する絶対値(Vdeflect)を有し、上記式中kは上記複数の電極の断面および寸法に応じて定まる比例定数であることを特徴とする、請求項1に記載のイオンガイド。
- イオンをイオンガイドを通して誘導するための方法であって、
上記イオンを上記イオンガイドの曲線状イオン誘導領域内へ移送する工程を含み、上記イオン誘導領域は互いにかつ曲線状中心軸と平行に配列された複数の曲線状電極によって画成されており、上記曲線状中心軸は曲率半径を有する円形部の円弧に沿って延びて上記イオン誘導領域を貫通しており、各電極は上記曲線状中心軸から半径方向に離隔していて、上記曲線状イオン誘導領域は上記曲線状中心軸の周りで上記電極のうち対向する電極対間にあり、かつ、
高周波電界を上記イオン誘導領域を横切るように発生させて、上記イオンを上記曲線状中心軸にほぼ沿って動くように集束する工程と、
半径方向DC電界を上記イオン誘導領域を横切るように上記曲率半径に沿うように発生させて、上記曲率半径に沿う方向のイオン偏向力を提供する工程とを含むことを特徴とする方法。 - 上記DC電界を発生させる工程は、DC電圧電位を上記複数の電極のうち少なくとも1対の電極に印加する工程を含むことを特徴とする請求項13に記載の方法。
- 軸方向DC電界を上記曲線状中心軸に沿うように発生させて軸方向のイオン速度を制御する工程を更に含むことを特徴とする請求項13に記載の方法。
- 上記複数の曲線状電極は外側電極対と内側電極対とを含み、上記外側電極対は上記曲率半径に対して上記内側電極対よりも半径方向外側に配置されており、また上記DC電界を発生させる工程は、第1の大きさのDC電圧と第2の大きさのDC電圧とを上記外側電極対と上記内側電極対とにそれぞれ印加して、上記外側電極対と上記内側電極対との間にDC電位差を発生させる工程を含むことを特徴とする請求項13に記載の方法。
- 上記DC電界を発生させる工程は、上記曲線状中心軸における電圧に対して、上記DC電圧を所定の極性で上記外側電極に印加し、上記DC電圧を反対の極性で上記内側電極に印加する工程を含むことを特徴とする請求項16に記載の方法。
- 上記複数の曲線状電極は第1のイオン誘導対向電極対と第2のイオン誘導対向電極対とを含み、上記高周波電界を発生させる工程は高周波電圧電位を上記イオン誘導電極のうちの2個以上に印加する工程を含み、また上記DC電界を発生させる工程はDC電圧電位を曲線状のイオン偏向対向電極対間に印加する工程を含み、上記イオン偏向電極は互いにかつ上記曲線状中心軸と平行に配列されて上記曲率半径方向に沿って位置していることを特徴とする請求項13に記載の方法。
- 上記DC電界を発生させる工程はDC電圧を印加する工程を含み、上記DC電圧の大きさは上記イオンの運動エネルギー(KE)と、上記複数の電極の上記中心軸周りの内接半径(r0)と、上記曲率半径(R)とに、関係式Vdeflect=k×KE×(r0/R)に従って比例する絶対値(Vdeflect)を有し、上記式中kは上記複数の電極の断面および寸法に応じて定まる比例定数であることを特徴とする、請求項13に記載の方法。
- 上記イオンガイドを真空引きして、上記イオンを上記イオン誘導領域内に移送された1種または質量の異なる2種以上のイオンに関して質量分析するか、または気体分子を上記イオンガイド内へ導入して、上記イオンを上記気体分子のうちの1種以上の分子と衝突させる工程をさらに含むことを特徴とする請求項13に記載の方法。
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US12/277,198 US9236235B2 (en) | 2008-05-30 | 2008-11-24 | Curved ion guide and related methods |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2010123561A true JP2010123561A (ja) | 2010-06-03 |
Family
ID=42332779
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2008327139A Pending JP2010123561A (ja) | 2008-11-24 | 2008-12-24 | 曲線状イオンガイドおよび関連方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2010123561A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2012081122A1 (ja) * | 2010-12-17 | 2012-06-21 | 株式会社島津製作所 | イオンガイド及び質量分析装置 |
WO2012124041A1 (ja) * | 2011-03-14 | 2012-09-20 | 株式会社島津製作所 | イオンガイド及び質量分析装置 |
JP2015512510A (ja) * | 2012-03-20 | 2015-04-27 | ブルカー ケミカル アナリシス ベーフェー | 質量分析計用イオンデフレクター |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH10302709A (ja) * | 1997-04-28 | 1998-11-13 | Jeol Ltd | イオン導入装置 |
JP2000243347A (ja) * | 1999-02-18 | 2000-09-08 | Hitachi Ltd | イオントラップ型質量分析装置およびイオントラップ質量分析方法 |
JP2000268770A (ja) * | 1999-03-17 | 2000-09-29 | Jeol Ltd | イオンガイド |
JP2004520685A (ja) * | 2000-11-23 | 2004-07-08 | ユニバーシティー オブ ワーウィック | イオン集束および伝達素子、並びにイオンの集束および伝達方法 |
-
2008
- 2008-12-24 JP JP2008327139A patent/JP2010123561A/ja active Pending
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH10302709A (ja) * | 1997-04-28 | 1998-11-13 | Jeol Ltd | イオン導入装置 |
JP2000243347A (ja) * | 1999-02-18 | 2000-09-08 | Hitachi Ltd | イオントラップ型質量分析装置およびイオントラップ質量分析方法 |
JP2000268770A (ja) * | 1999-03-17 | 2000-09-29 | Jeol Ltd | イオンガイド |
JP2004520685A (ja) * | 2000-11-23 | 2004-07-08 | ユニバーシティー オブ ワーウィック | イオン集束および伝達素子、並びにイオンの集束および伝達方法 |
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2012081122A1 (ja) * | 2010-12-17 | 2012-06-21 | 株式会社島津製作所 | イオンガイド及び質量分析装置 |
JP5644863B2 (ja) * | 2010-12-17 | 2014-12-24 | 株式会社島津製作所 | イオンガイド及び質量分析装置 |
US9589781B2 (en) | 2010-12-17 | 2017-03-07 | Shimadzu Corporation | Ion guide and mass spectrometer |
WO2012124041A1 (ja) * | 2011-03-14 | 2012-09-20 | 株式会社島津製作所 | イオンガイド及び質量分析装置 |
JPWO2012124041A1 (ja) * | 2011-03-14 | 2014-07-17 | 株式会社島津製作所 | イオンガイド及び質量分析装置 |
JP5626448B2 (ja) * | 2011-03-14 | 2014-11-19 | 株式会社島津製作所 | イオンガイド及び質量分析装置 |
JP2015512510A (ja) * | 2012-03-20 | 2015-04-27 | ブルカー ケミカル アナリシス ベーフェー | 質量分析計用イオンデフレクター |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US9236235B2 (en) | Curved ion guide and related methods | |
US8084750B2 (en) | Curved ion guide with varying ion deflecting field and related methods | |
US7855361B2 (en) | Detection of positive and negative ions | |
JP5152320B2 (ja) | 質量分析装置 | |
JP6458128B2 (ja) | イオンガイド及びそれを用いた質量分析装置 | |
US8436317B1 (en) | Wien filter | |
JP6237896B2 (ja) | 質量分析装置 | |
JP5776839B2 (ja) | 質量分析装置及びイオンガイドの駆動方法 | |
JP5673848B2 (ja) | 質量分析装置 | |
JP2010123561A (ja) | 曲線状イオンガイドおよび関連方法 | |
CN109216150B (zh) | 一种离子导引装置及导引方法 | |
JPWO2006098230A1 (ja) | 質量分析装置 | |
JP4940977B2 (ja) | イオン偏向装置及び質量分析装置 | |
JP2023549626A (ja) | 質量分析計および方法 | |
JP4285283B2 (ja) | 質量分析装置 | |
US11848184B2 (en) | Mass spectrometer | |
JP6759321B2 (ja) | 多重極イオンガイド | |
WO2020195062A1 (ja) | イオン検出装置 | |
JP2007194094A (ja) | 質量分析装置 | |
JP2020198317A (ja) | イオンガイド及びそれを用いた質量分析装置 | |
US9129790B2 (en) | Orthogonal acceleration TOF with ion guide mode | |
EP2718960B1 (en) | Mass spectrometry for a gas analysis with a two-stage charged particle deflector lens between a charged particle source and a charged particle analyzer both offset from a central axis of the deflector lens | |
GB2583311A (en) | Ion guide and mass spectrometer using same |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
RD04 | Notification of resignation of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424 Effective date: 20100621 |
|
A711 | Notification of change in applicant |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A711 Effective date: 20110323 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20111207 |
|
RD04 | Notification of resignation of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424 Effective date: 20120629 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20130328 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20130829 |