JP2010112805A - ガス中の煤塵濃度計測装置及び煤塵濃度計測装置の煤塵濃度校正方法 - Google Patents
ガス中の煤塵濃度計測装置及び煤塵濃度計測装置の煤塵濃度校正方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2010112805A JP2010112805A JP2008284870A JP2008284870A JP2010112805A JP 2010112805 A JP2010112805 A JP 2010112805A JP 2008284870 A JP2008284870 A JP 2008284870A JP 2008284870 A JP2008284870 A JP 2008284870A JP 2010112805 A JP2010112805 A JP 2010112805A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- gas
- concentration
- scattered light
- dust
- dust concentration
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Landscapes
- Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
【解決手段】被測定ガス12にレーザ光11を照射するレーザ装置13と、発生するミー散乱光30を計測する第1の光検出器31と、発生するラマン散乱光15を計測する第2の光検出器18とを具備してなり、予め第1の光検出器31によりミー散乱光の信号強度(=M0)を計測すると共に、第2の光検出器18により測定領域に存在する濃度校正用ガスのラマン散乱光15の信号強度(=R0)を計測しておき、煤塵濃度の校正を行う際に、第1の光検出器31によりミー散乱光の検出信号強度(=M1)を計測すると共に、第2の光検出器18により測定領域に存在する濃度校正用ガスのラマン散乱光15の信号強度(=R1)を計測し、得られたR0/R1を校正定数(K)とし、前記M1に校正係数(K=R0/R1)を乗じて煤塵濃度(M2)を算出してなる。
【選択図】 図1
Description
とくに、レーザ出力の低下や光軸のずれによる、ミー散乱光の発光効率の低下が問題となる。特にミー散乱光法は、散乱光強度により直接濃度算出するので、計測装置側の変動による影響を受けやすいという、問題がある。
そこで、長期間に亙って安定して計測が可能となるガス成分計測装置の出現が切望されている。
図1は、実施例1に係るガス中の煤塵濃度計測装置の概略図である。
図1に示すように、ガス中の煤塵濃度計測装置10Aは、被測定ガス12に対して照射されるレーザ光11により発生するミー散乱光30から被測定ガス12中の煤塵濃度を計測するガス中の煤塵濃度計測装置において、被測定ガス12にレーザ光11を照射するレーザ装置13と、レーザ光11の照射により発生するミー散乱光30を計測する第1の光検出器(ミー散乱光検出器)31と、レーザ光11の照射により発生するラマン散乱光15を計測する分光部16とICCD(Intensified Charge Coupled Device)カメラ17からなる第2の光検出器(ラマン散乱光検出器)18とを具備してなり、予め、第1の光検出器31によりミー散乱光の煤塵の信号強度(=M0)を計測すると共に、第2の光検出器18により測定領域に存在する濃度校正用ガス(例えばN2、CH4等)のラマン散乱光15の信号強度(=R0)を計測しておき、煤塵濃度の校正を行う際に、第1の光検出器31によりミー散乱光の煤塵の検出信号強度(=M1)を計測すると共に、第2の光検出器18により測定領域に存在する濃度校正用ガス(N2、CH4等)のラマン散乱光15の信号強度(=R1)を計測し、得られたR0/R1を校正定数(K)とし、前記M1に校正係数(K=R0/R1)を乗じて煤塵濃度(M2)を算出してなるものである。
ここで、図1において、符号20は被測定ガス12が導入され、レーザ光11を照射してガス成分を計測する測定チャンバ、21はレーザ装置13からのレーザ光11を反射する反射ミラー、22はレーザ光11を集光する集光レンズ、23はデータ処理手段(CPU)を各々図示する。
なお、測定チャンバ20は被測定ガス12を内部に導入、保持又は排出させる機能を有するものであり、この導入は、生成ガスを送球する送給管の一部を又は送給管から分枝させて導入するようにしてもよい。
前記ICCDカメラ17からの計測データは、データ処理手段(CPU)23に送られ、ここで計測データの処理がなされる。
図2−1、2−2は初期時における計測結果を示すものであり、図2−1のチャートはミー散乱光の時間と信号強度の関係図である。図2−2のチャートはラマン散乱光計測の波長と信号強度との関係図である。
図2−2は校正時における計測結果を示すものであり、図3−1のチャートはミー散乱光の時間と信号強度の関係図である。図3−2のチャートはラマン散乱光計測の波長と信号強度との関係図である。図3−3は、図2−1と図3−1の各々右側のミー散乱光の計測結果を重ね合わせたものである。
図4はバイオマスガス化ガスのラマン散乱光計測結果のチャートである。図4に示すように、水素(H2)が8%、水(H2O)が62%、二酸化炭素(CO2)が12%、一酸化炭素(CO)が6%、メタン(CH4)が1%、窒素(N2)が12%である。なお割合はチャートからの計算による。
ここで、本実施例では、図4に示すバイオマスガス化ガスを被測定ガスとして用いており、このバイオマスガス化ガスに多量に含まれている窒素(N2)ガスを濃度校正用ガスとして用いている。
また、図2−2のチャートに示すように、第2の光検出器18により測定領域に存在する濃度校正用ガス(本例ではN2)のラマン散乱光15の信号強度(=R0)を求めておく。なお、レーザ出力とラマン散乱光の信号強度は図5に示すように、比例関係にある。
よって、レーザ出力の低下等があると、ラマン散乱光の信号強度も低下することとなるので、所定時間経過後に、煤塵濃度の校正を行う際には、以下のように操作する。
そして、図3−3に示すように、初期に得られたR0/と濃度計測の際に実際に測定されたR1をとから求めた「R0/R1」を校正定数(K)とする。そして、前記M1に校正係数(K=R0/R1)を乗じて、校正された煤塵濃度(M2)を算出する。
先ず、レーザ光11を出力し被測定ガス12へ照射する機能を有するレーザ装置13について説明する。
レーザ装置13は、レーザ発振によりレーザ光11を出力するものであり、使用するレーザにより、レーザ光11の波長は、所望のものを使用できる。
本発明では、波長が可視光域(400nm〜700nm)のものを使用するのが好ましい。ここでは、532nmのものを用いている。
これにより、レーザ光の位置検出精度が向上し、光軸修正を迅速に行うことが可能となる。ただし、劣悪環境では不向きである。
図6は、実施例2に係る煤塵濃度計測装置の概略図である。
図6に示すように、煤塵濃度計測装置10Bは、図1に示す煤塵濃度計測装置10Aにおいて、さらに被測定ガス12に別途濃度校正用ガス41を供給するラインを設けたものである。
この別途供給する濃度校正用ガス41とは、メタンガス(CH-)、アンモニアガス(NH3)等の無機系ガスや芳香族化合物やホルムアルデヒド等の有機系ガスを挙げることができる。
この添加ガスは、被測定ガスの1/100〜1/10程度とするのが望ましい。
この添加された濃度校正用ガス41を用いて、濃度校正を適切に行うことができる。
なお、蛍光を測定する場合には、第2の光検出器18のフィルタを変更するか、または蛍光検出器を別途設置するようにすればよい。
また、発電プラントのみならず、化学プラントから得られる有用ガス(例えばGTL)のガス組成を計測することができる。
11 レーザ光
12 被測定ガス
13 レーザ装置
14 測定領域
15 ラマン散乱光
16 分光部
18 第2の光検出器(ラマン散乱光検出器)
30 ミー散乱光
31 第1の光検出器(ミー散乱光検出器)
Claims (7)
- 被測定ガスに対して照射されるレーザ光により発生するミー散乱光から被測定ガス中の煤塵濃度を計測するガス中の煤塵濃度計測装置において、
被測定ガスにレーザ光を照射するレーザ装置と、
レーザ光の照射により発生するミー散乱光を計測する第1の光検出器と、
レーザ光の照射により発生するラマン散乱光を計測する第2の光検出器とを具備してなり、
予め、第1の光検出器によりミー散乱光の煤塵の信号強度(=M0)を計測すると共に、第2の光検出器により測定領域に存在する濃度校正用ガスのラマン散乱光の信号強度を計測しておき、
煤塵濃度の校正を行う際に、第1の光検出器によりミー散乱光の煤塵の検出信号強度(=M1)を計測すると共に、第2の光検出器により測定領域に存在する濃度校正用ガスのラマン散乱光の信号強度(=R1)を計測し、
得られたR0/R1を校正定数(K)とし、前記M1に校正係数(K=R0/R1)を乗じて煤塵濃度(M2)を算出してなることを特徴とするガス中の煤塵濃度計測装置。 - 請求項1において、
前記濃度校正用ガスが、被測定ガス中に存在する組成濃度が高いガスであることを特徴とするガス中の煤塵濃度計測装置。 - 請求項1において、
前記濃度校正用ガスを別途被測定ガスに添加することを特徴とするガス中の煤塵濃度計測装置。 - 請求項3において、
別途添加した濃度校正用ガスのラマン散乱光の計測を、被測定ガスの煤塵濃度の計測とは別に行うことを特徴とするガス中の煤塵濃度計測装置。 - 請求項1において、
前記濃度校正用ガスが、レーザ光が入射する窓に供給するパージガスであることを特徴とするガス中の煤塵濃度計測装置。 - 請求項3乃至5のいずれか一つにおいて、
前記別途添加する濃度校正用ガスが、芳香族化合物であり、芳香族化合物により発生する蛍光を検出する第3の光検出器を具備することを特徴とするガス中の煤塵濃度計測装置。 - 請求項1乃至6のいずれか一つのガス中の煤塵濃度計測装置を用い、
所定時間経過後又は煤塵濃度に変化がある際に、
煤塵濃度校正を行うことを特徴とするガス中の煤塵濃度計測装置の煤塵濃度校正方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008284870A JP5086971B2 (ja) | 2008-11-05 | 2008-11-05 | ガス中の煤塵濃度計測装置及び煤塵濃度計測装置の煤塵濃度校正方法、ガス中の煤塵濃度計測方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008284870A JP5086971B2 (ja) | 2008-11-05 | 2008-11-05 | ガス中の煤塵濃度計測装置及び煤塵濃度計測装置の煤塵濃度校正方法、ガス中の煤塵濃度計測方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2010112805A true JP2010112805A (ja) | 2010-05-20 |
JP5086971B2 JP5086971B2 (ja) | 2012-11-28 |
Family
ID=42301471
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2008284870A Expired - Fee Related JP5086971B2 (ja) | 2008-11-05 | 2008-11-05 | ガス中の煤塵濃度計測装置及び煤塵濃度計測装置の煤塵濃度校正方法、ガス中の煤塵濃度計測方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5086971B2 (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2012184739A (ja) * | 2011-03-07 | 2012-09-27 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | ガスエンジンシステム |
CN107167789A (zh) * | 2017-05-12 | 2017-09-15 | 北京怡孚和融科技有限公司 | 一种激光雷达的校准系统和方法 |
CN115096779A (zh) * | 2022-08-26 | 2022-09-23 | 苏州同人激光科技有限公司 | 一种车载气体质量检测系统 |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2005024250A (ja) * | 2003-06-30 | 2005-01-27 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | 光計測装置 |
JP2005024251A (ja) * | 2003-06-30 | 2005-01-27 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | ガス化装置の監視システム |
JP2005024249A (ja) * | 2003-06-30 | 2005-01-27 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | レーザ計測装置 |
-
2008
- 2008-11-05 JP JP2008284870A patent/JP5086971B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2005024250A (ja) * | 2003-06-30 | 2005-01-27 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | 光計測装置 |
JP2005024251A (ja) * | 2003-06-30 | 2005-01-27 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | ガス化装置の監視システム |
JP2005024249A (ja) * | 2003-06-30 | 2005-01-27 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | レーザ計測装置 |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2012184739A (ja) * | 2011-03-07 | 2012-09-27 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | ガスエンジンシステム |
CN107167789A (zh) * | 2017-05-12 | 2017-09-15 | 北京怡孚和融科技有限公司 | 一种激光雷达的校准系统和方法 |
CN115096779A (zh) * | 2022-08-26 | 2022-09-23 | 苏州同人激光科技有限公司 | 一种车载气体质量检测系统 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP5086971B2 (ja) | 2012-11-28 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
Sur et al. | TDLAS-based sensors for in situ measurement of syngas composition in a pressurized, oxygen-blown, entrained flow coal gasifier | |
US7787123B2 (en) | Two line gas spectroscopy calibration | |
ATE317115T1 (de) | Gasdetektionsverfahren und gasdetektoreinrichtung | |
ATE476650T1 (de) | Probenkonzentrationsdetektor mit temperaturausgleich | |
JP5022334B2 (ja) | ガス成分計測装置及びその光軸調整方法 | |
JP6024856B2 (ja) | ガス分析計 | |
JP2009098148A (ja) | 燃料給湿を感知するためのシステム及び方法 | |
JP5086971B2 (ja) | ガス中の煤塵濃度計測装置及び煤塵濃度計測装置の煤塵濃度校正方法、ガス中の煤塵濃度計測方法 | |
JP2014182106A (ja) | 温度計 | |
JP5351742B2 (ja) | ガス中の煤塵濃度計測方法及び燃焼設備の運転方法 | |
JP6473367B2 (ja) | ガス分析システム | |
JP4160866B2 (ja) | 光計測装置 | |
JP5594514B2 (ja) | レーザ式ガス分析計 | |
JP3842982B2 (ja) | ガス発熱量測定装置、ガス化装置、ガス発熱量測定方法及びガス化方法 | |
JP5330978B2 (ja) | ガス成分計測装置及び方法 | |
JP2005024249A (ja) | レーザ計測装置 | |
JP5022349B2 (ja) | ガス成分計測装置 | |
JP2011191164A (ja) | レーザ式ガス分析計 | |
JP5325091B2 (ja) | ガス成分計測装置及びガス成分分析方法 | |
JP7461937B2 (ja) | 試料分析装置 | |
WO2015005074A1 (ja) | ガス成分測定装置 | |
JP2011112546A (ja) | ガス中のガス成分計測装置及び方法 | |
JP6028889B2 (ja) | レーザ式ガス分析計 | |
JP2012145050A (ja) | 燃料ガス中のガス成分調整装置及びガスエンジンシステム | |
JP4906477B2 (ja) | ガス分析装置及びガス分析方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20101228 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20120518 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20120522 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20120723 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20120814 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20120907 |
|
R151 | Written notification of patent or utility model registration |
Ref document number: 5086971 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150914 Year of fee payment: 3 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |