JP2010071934A - 光ctの温度特性補正装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】コストの上昇やセンサヘッドの大型化を招くことなく、光CTの温度依存性を解消して高精度に電流を測定可能とした光CTの温度特性補正装置を提供する。
【解決手段】磁界内に配置されるセンサファイバを備えたセンサヘッドと、センサファイバ中を伝搬する光の偏波面のファラデー回転角を測定する信号処理装置とを備え、前記ファラデー回転角から磁界の発生源である被測定電流の大きさを測定する光CTにおいて、信号処理装置100Aは、その周囲温度を測定する温度センサ123と、温度センサ123により測定した温度をセンサヘッド110Aの周囲温度として推定し、推定した周囲温度を用いて光CTの出力を補正する温度補償部124及びゲイン可変アンプ125と、を備える。
【選択図】図1
【解決手段】磁界内に配置されるセンサファイバを備えたセンサヘッドと、センサファイバ中を伝搬する光の偏波面のファラデー回転角を測定する信号処理装置とを備え、前記ファラデー回転角から磁界の発生源である被測定電流の大きさを測定する光CTにおいて、信号処理装置100Aは、その周囲温度を測定する温度センサ123と、温度センサ123により測定した温度をセンサヘッド110Aの周囲温度として推定し、推定した周囲温度を用いて光CTの出力を補正する温度補償部124及びゲイン可変アンプ125と、を備える。
【選択図】図1
Description
本発明は、いわゆるファラデー効果を利用して各種電流の大きさを測定する光CT(光変流器)の温度特性補正装置に関するものである。
ファラデー効果は、磁界中に配置されたセンサファイバ(ファラデーセンサファイバ)に光を透過させると偏波面が回転する現象であり、光CTは、上記回転角(ファラデー回転角)を測定することにより、回転角に比例する磁界の強度、言い換えれば磁界の発生源である電流の大きさを測定するものとして知られている。
ここで、光CTには、周知のように反射型と透過型とがあり、反射型は、被測定電流が流れる導体に近接して配置されたセンサヘッドの終端にミラーを設け、センサヘッドを往復する光を利用して前記導体を流れる電流を測定するものであり、透過型は、導体を周回するセンサヘッドの透過光を利用して電流を測定するものである。
ここで、光CTには、周知のように反射型と透過型とがあり、反射型は、被測定電流が流れる導体に近接して配置されたセンサヘッドの終端にミラーを設け、センサヘッドを往復する光を利用して前記導体を流れる電流を測定するものであり、透過型は、導体を周回するセンサヘッドの透過光を利用して電流を測定するものである。
この種の光CTの感度は、周囲温度によって変動することが知られており、例えば特許文献1〜特許文献3には、その原因として、センサファイバに使用される鉛ガラス等の材料の感度(ヴェルデ定数)に温度依存性があること、センサファイバを含む光学部品中の複屈折、熱膨張による光軸のずれに起因すること等が挙げられている。
なお、図5,図6は、それぞれ反射型光CT,透過型光CTについて、30℃における光CTの出力を基準(比誤差を0)とした場合の温度特性を示しており、周囲温度の変化によって光CTの出力が変動することが明らかである。
なお、図5,図6は、それぞれ反射型光CT,透過型光CTについて、30℃における光CTの出力を基準(比誤差を0)とした場合の温度特性を示しており、周囲温度の変化によって光CTの出力が変動することが明らかである。
上述した光CTの温度依存性を解消するため、特許文献1では、センサファイバ用のセンサ素子として、施光性を有する光学素子(捻りを加えた光ファイバ等)を用い、この光学素子の施光性を電子回路からなる処理手段により補正することが記載されている。
また、特許文献2には、センサファイバを導体から十分離して配置することにより、導体の発熱によるセンサファイバの温度変化を低減して複屈折や光軸のずれを防止することが記載されている。
更に、特許文献3には、センサファイバの近傍に温度センサを配置し、この温度センサによる検出温度に基づいて、予め設定された感度曲線により感度を補正することが記載されている。
また、特許文献2には、センサファイバを導体から十分離して配置することにより、導体の発熱によるセンサファイバの温度変化を低減して複屈折や光軸のずれを防止することが記載されている。
更に、特許文献3には、センサファイバの近傍に温度センサを配置し、この温度センサによる検出温度に基づいて、予め設定された感度曲線により感度を補正することが記載されている。
しかしながら、特許文献1に記載された従来技術では、センサファイバ用のセンサ素子として汎用の部品を使用することができないため、コスト高になるという問題があった。
また、特許文献2に記載された従来技術では、センサファイバの位置が制約されると共に、センサファイバを導体に近接して配置できないため、センサヘッドが大型化するという問題があった。
特許文献3に記載された従来技術は、センサファイバに近接して配置される温度センサの検出温度をセンサファイバの温度と見なすものであるが、この検出温度は厳密にはセンサファイバ自体の温度と異なるので、感度補正を高精度に行うことが困難であった。
また、特許文献2に記載された従来技術では、センサファイバの位置が制約されると共に、センサファイバを導体に近接して配置できないため、センサヘッドが大型化するという問題があった。
特許文献3に記載された従来技術は、センサファイバに近接して配置される温度センサの検出温度をセンサファイバの温度と見なすものであるが、この検出温度は厳密にはセンサファイバ自体の温度と異なるので、感度補正を高精度に行うことが困難であった。
そこで、本発明の解決課題は、コストの上昇やセンサヘッドの大型化を招くことなく、光CTの温度依存性を解消して高精度に電流を測定可能とした光CTの温度特性補正装置を提供することにある。
上記課題を解決するため、請求項1に係る発明は、磁界内に配置されるセンサファイバを備えたセンサヘッドと、前記センサファイバ中を伝搬する光の偏波面のファラデー回転角を測定する信号処理装置とを備え、前記ファラデー回転角から前記磁界の発生源である被測定電流の大きさを測定する光CTにおいて、
前記信号処理装置は、
この信号処理装置の周囲温度を測定する温度測定手段と、
この温度測定手段により測定した温度を前記センサヘッドの周囲温度として推定し、推定した周囲温度を用いて前記光CTの出力を補正する補正手段と、を備えたものである。
前記信号処理装置は、
この信号処理装置の周囲温度を測定する温度測定手段と、
この温度測定手段により測定した温度を前記センサヘッドの周囲温度として推定し、推定した周囲温度を用いて前記光CTの出力を補正する補正手段と、を備えたものである。
請求項2に係る発明は、請求項1に記載された光CTの温度特性補正装置において、
前記信号処理装置が、前記センサヘッドに近接して配置されていることを特徴とする。
前記信号処理装置が、前記センサヘッドに近接して配置されていることを特徴とする。
請求項3に係る発明は、磁界内に配置されるセンサファイバを備えたセンサヘッドと、前記センサファイバ中を伝搬する光の偏波面のファラデー回転角を測定する信号処理装置とを備え、前記ファラデー回転角から前記磁界の発生源である被測定電流の大きさを測定する光CTにおいて、
前記信号処理装置は、
前記センサヘッドからの後方散乱光を用いて温度を測定する温度測定手段と、
この温度測定手段により測定した温度を前記センサヘッドの周囲温度として推定し、推定した周囲温度を用いて前記光CTの出力を補正する補正手段と、を備えたものである。
前記信号処理装置は、
前記センサヘッドからの後方散乱光を用いて温度を測定する温度測定手段と、
この温度測定手段により測定した温度を前記センサヘッドの周囲温度として推定し、推定した周囲温度を用いて前記光CTの出力を補正する補正手段と、を備えたものである。
請求項4に係る発明は、請求項1〜3の何れか1項に記載した光CTの温度特性補正装置において、
前記補正手段は、推定した周囲温度を用いて前記光CTの出力の増幅ゲインを変化させるものである。
前記補正手段は、推定した周囲温度を用いて前記光CTの出力の増幅ゲインを変化させるものである。
本発明によれば、センサファイバとして特殊な素子を用いたり、センサファイバの位置が制約されることがなく、信号処理装置の構成を若干変更するだけで、センサファイバ(センサヘッド)の温度依存性を適切に補償した出力を得ることができる。また、本発明によれば、センサヘッドと信号処理装置とが近接して配置される場合や両者が離れて配置される場合の何れについても、良好な温度補償を行うことが可能である。
以下、図に沿って本発明の実施形態を説明する。
まず、図1は、本発明の第1実施形態を示す構成図であり、本発明を反射型光CTに適用した場合のものである。図1において、100Aは信号処理装置、101a,101bは伝送用光ファイバ、102は偏/検光子及び光学バイアス部、103は鉛ガラスファイバ等からなるセンサファイバ、104はセンサファイバ103の終端に配置されたミラー、110Aはセンサヘッドである。
まず、図1は、本発明の第1実施形態を示す構成図であり、本発明を反射型光CTに適用した場合のものである。図1において、100Aは信号処理装置、101a,101bは伝送用光ファイバ、102は偏/検光子及び光学バイアス部、103は鉛ガラスファイバ等からなるセンサファイバ、104はセンサファイバ103の終端に配置されたミラー、110Aはセンサヘッドである。
信号処理装置100Aにおいて、111はスーパールミネセントダイオードや半導体レーザ等からなる光源、112は光源111からの信号光を取り出すためのサーキュレータ、101c,101dは伝送用光ファイバ、113,114はフォトダイオード等の受光素子、115,116はバンドパスフィルタ、117,118はローパスフィルタ、119,120はそれぞれバンドパスフィルタ115,116の出力をローパスフィルタ117,118の出力により除算する除算器、121は除算器120の出力信号の極性を反転する反転器、122は除算器119の出力信号と反転器121の出力信号とを加算する加算器、123は温度センサ、124は温度センサによる検出温度に応じてゲイン調整信号を出力する温度補償部、125は温度補償部124から出力されるゲイン調整信号に従って増幅ゲインを変化させるゲイン可変アンプである。
ここで、温度センサ123は請求項における温度測定手段を構成し、温度補償部124及びゲイン可変アンプ125は請求項における補正手段を構成している。
ここで、温度センサ123は請求項における温度測定手段を構成し、温度補償部124及びゲイン可変アンプ125は請求項における補正手段を構成している。
この実施形態の動作を説明すると、光源111からの信号光はサーキュレータ112及び伝送用光ファイバ101aを介して偏/検光子及び光学バイアス部102に入射し、直線偏光になると共に、ファラデー回転により偏波面が例えば22.5度回転した光としてセンサヘッド110A内のセンサファイバ103に入射する。センサファイバ103内を伝搬する直線偏光の偏波面は、被測定電流が作る磁界によりファラデー回転を受け、ミラー104により反射されてセンサファイバ103内を逆方向に伝搬する。ここで、ファラデー効果は非相反性であるため、復路においても往路と同方向のファラデー回転を受ける。
よって、ファラデー回転角は、光がセンサファイバ103を往復することにより片道の場合の2倍となる。
よって、ファラデー回転角は、光がセンサファイバ103を往復することにより片道の場合の2倍となる。
センサファイバ103からの出射光は、偏/検光子及び光学バイアス部102を通過する際に光学バイアス部によって偏波面が更に22.5度回転するため、偏波面は往復で45度回転したことになり、これによって45度の光学的バイアスが実現される。この結果、偏/検光子及び光学バイアス部102の出射光の偏波面は、入射光に対して光学バイアス部により45度回転し、更に、被測定電流に起因するファラデー回転角が加わった値となる。
偏/検光子及び光学バイアス部102内の検光子により0度と90度の方向に分離された偏光成分の一方は、伝送用光ファイバ101a、サーキュレータ112及び伝送用光ファイバ101cを介して受光素子113に入射し、他方は伝送用光ファイバ101b,101dを介して受光素子114に入射する。
偏/検光子及び光学バイアス部102内の検光子により0度と90度の方向に分離された偏光成分の一方は、伝送用光ファイバ101a、サーキュレータ112及び伝送用光ファイバ101cを介して受光素子113に入射し、他方は伝送用光ファイバ101b,101dを介して受光素子114に入射する。
次に、受光素子113,114の出力信号は図示されていないアンプにより適宜増幅されてバンドパスフィルタ115,116及びローパスフィルタ117,118に入力され、バンドパスフィルタ115,116により交流成分(被測定電流による変調周波数成分)が、ローパスフィルタ117,118により直流成分がそれぞれ抽出される。これらの各成分は除算器119,120に入力され、交流成分と直流成分との比が変調度信号としてそれぞれ算出されると共に、除算器120の出力信号は反転器121により極性が反転される。
加算器122は、除算器119の出力信号と反転器121の出力信号とを加算することにより、被測定電流によるファラデー回転角に比例した信号を得る。
なお、除算器119,120は、交流成分を直流成分により規格化して平均化処理を行なうことにより、受光パワーの変化による検出感度の変動をキャンセルすると共に、光学バイアス部や受光素子113,114、図示されていないアンプ等の特性のバラツキを相殺するように作用する。
受光素子113,114から加算器122に至るまでの信号処理方法は、例えば特許第3342768号公報(発明の名称:光ファイバ型計測装置及び計測方法)に記載されていて周知であるため、ここでは詳細な説明を省略する。
加算器122は、除算器119の出力信号と反転器121の出力信号とを加算することにより、被測定電流によるファラデー回転角に比例した信号を得る。
なお、除算器119,120は、交流成分を直流成分により規格化して平均化処理を行なうことにより、受光パワーの変化による検出感度の変動をキャンセルすると共に、光学バイアス部や受光素子113,114、図示されていないアンプ等の特性のバラツキを相殺するように作用する。
受光素子113,114から加算器122に至るまでの信号処理方法は、例えば特許第3342768号公報(発明の名称:光ファイバ型計測装置及び計測方法)に記載されていて周知であるため、ここでは詳細な説明を省略する。
さて、この実施形態では、前述したように信号処理装置100Aに温度センサ123が内蔵されており、その出力信号が温度補償部124に入力されている。
いま、光CTをGCBに適用して電流を測定する場合を想定すると、図2に示すように、GCBの架台201に前述した信号処理装置100Aを固定し、被測定電流が流れる導体が収容されたブッシング204,205の根元にセンサヘッド110Aを固定することは容易である。すなわち、このように信号処理装置100A及びセンサヘッド110Aを近接して配置すれば、信号処理装置100A内の温度センサ123が測定した温度によってセンサヘッド110Aの周囲温度を推定することができる。なお、図2において、202は固定接触子、可動接触子が収容された接地容器、203は可動接触子を開閉操作するための開閉機構が収容された操作箱である。
いま、光CTをGCBに適用して電流を測定する場合を想定すると、図2に示すように、GCBの架台201に前述した信号処理装置100Aを固定し、被測定電流が流れる導体が収容されたブッシング204,205の根元にセンサヘッド110Aを固定することは容易である。すなわち、このように信号処理装置100A及びセンサヘッド110Aを近接して配置すれば、信号処理装置100A内の温度センサ123が測定した温度によってセンサヘッド110Aの周囲温度を推定することができる。なお、図2において、202は固定接触子、可動接触子が収容された接地容器、203は可動接触子を開閉操作するための開閉機構が収容された操作箱である。
上記のように、本実施形態によれば、温度センサ123によってセンサヘッド110Aの周囲温度を推定することができ、図1に示した温度補償部124では、温度センサ123による測定温度と前述の図5に示したような反射型光CTの出力の温度特性に基づき、測定温度に応じた比誤差を補正するようなゲイン調整信号を演算する。そして、ゲイン可変アンプ125では、上記ゲイン調整信号により補正したゲインを用いて加算器122の出力信号を増幅することで加算器122の出力信号を補正し、これによってセンサヘッド110Aの周囲温度に基づいた温度補償を行うことができる。
この実施形態では、補正手段として、温度補償部124が温度センサ123による測定温度に応じてゲイン調整信号を演算する例を説明した。しかしながら、補正手段の他の構成としては、温度補償部124内に予めテーブルを設けておき、温度センサ123による測定温度に応じたゲイン調整信号を直接出力するように構成しても良いし、温度補償部124やゲイン可変アンプ125の機能をソフトウェアによって実現しても良い。
また、本発明をGCBに適用する場合には、複数のセンサヘッドに近接させて単一の信号処理装置を配置し、その信号処理装置に内蔵した単一の温度センサにより各センサヘッドの周囲温度を一括して検出可能であるから、信号処理装置を含む光CTの全体的な構成が複雑化したり大型化するおそれはない。
また、本発明をGCBに適用する場合には、複数のセンサヘッドに近接させて単一の信号処理装置を配置し、その信号処理装置に内蔵した単一の温度センサにより各センサヘッドの周囲温度を一括して検出可能であるから、信号処理装置を含む光CTの全体的な構成が複雑化したり大型化するおそれはない。
次に、図3は本発明の第2実施形態を示す構成図であり、この実施形態は、本発明を透過型光CTに適用した場合のものである。
図3において、図1と同一の構成要素には同一の参照符号を付してあり、以下では異なる部分を中心に説明する。図3における110Bはセンサヘッドであり、このセンサヘッド110Bは、伝送用光ファイバ101aを介して光源111に接続された偏光子105と、センサファイバ103と、検光子106とを備えている。
光源111から出射して偏光子105を経た直線偏光の偏波面は、センサファイバ103を介して検光子106に入射するまでの間に、被測定電流が作る磁界によりファラデー回転を受ける。第1実施形態と同様に検光子106では、直線偏光が0度と90度の方向に分離され、偏光成分の一方は、伝送用光ファイバ101e,101fを介して受光素子113に入射し、他方は伝送用光ファイバ101b,101dを介して受光素子114に入射する。
図3において、図1と同一の構成要素には同一の参照符号を付してあり、以下では異なる部分を中心に説明する。図3における110Bはセンサヘッドであり、このセンサヘッド110Bは、伝送用光ファイバ101aを介して光源111に接続された偏光子105と、センサファイバ103と、検光子106とを備えている。
光源111から出射して偏光子105を経た直線偏光の偏波面は、センサファイバ103を介して検光子106に入射するまでの間に、被測定電流が作る磁界によりファラデー回転を受ける。第1実施形態と同様に検光子106では、直線偏光が0度と90度の方向に分離され、偏光成分の一方は、伝送用光ファイバ101e,101fを介して受光素子113に入射し、他方は伝送用光ファイバ101b,101dを介して受光素子114に入射する。
図3において、130は、図1におけるバンドパスフィルタ115,116、ローパスフィルタ117,118、除算器119,120、反転器121及び加算器122からなる平均化処理ブロックである。図3における平均化処理ブロック130と、温度センサ123、温度補償部124及びゲイン可変アンプ125の動作は第1実施形態とほぼ同様であり、温度補償部124では、温度センサ123による測定温度と前述の図6に示したような透過型光CTの出力の温度特性に基づき、測定温度に応じた比誤差を補償するようなゲイン調整信号を演算する。そして、ゲイン可変アンプ125では、上記ゲイン調整信号により補正したゲインを用いて加算器122の出力信号を増幅することにより、センサヘッド110Bの周囲温度に基づいた温度補償を行う。
この実施形態においても、温度補償部124内に予め設けたテーブルを用いて測定温度に応じたゲイン調整信号を直接出力したり、ソフトウェアの処理によって温度補償を行っても良い。
この実施形態においても、温度補償部124内に予め設けたテーブルを用いて測定温度に応じたゲイン調整信号を直接出力したり、ソフトウェアの処理によって温度補償を行っても良い。
次いで、図4は本発明の第3実施形態を示す構成図であり、この実施形態は、本発明を例えばGISに適用する場合に好適なものである。
GISでは、導体の多数箇所における電流を光CTにより測定する場合が多く、通常は多数のセンサヘッドと信号処理装置とが数十〜数百m離れて配置され、両者間を光ファイバにて接続することが行われる。この場合、直射日光が当たる屋外に設置されたセンサヘッドと、冷房の効いた屋内に設置される信号処理装置との温度差が、数十℃となることもある。
従って、第1,第2実施形態のように、信号処理装置に温度センサを内蔵してセンサヘッドの周囲温度を推定することはできないため、適切な温度補償を行うことは困難である。
GISでは、導体の多数箇所における電流を光CTにより測定する場合が多く、通常は多数のセンサヘッドと信号処理装置とが数十〜数百m離れて配置され、両者間を光ファイバにて接続することが行われる。この場合、直射日光が当たる屋外に設置されたセンサヘッドと、冷房の効いた屋内に設置される信号処理装置との温度差が、数十℃となることもある。
従って、第1,第2実施形態のように、信号処理装置に温度センサを内蔵してセンサヘッドの周囲温度を推定することはできないため、適切な温度補償を行うことは困難である。
また、信号処理装置をセンサヘッドと共にGIS側に設置するとしても、各センサヘッドの位置が離れているので、1台の信号処理装置に内蔵した温度センサにより測定した温度を多数のセンサヘッドの周囲温度と推定することもできず、何れにしても第1,第2実施形態のような構成をそのまま適用することができない。
本発明の第3実施形態は、上記のような点に鑑み、GISにおける電流測定に光CTを用いる時のように、センサヘッドと信号処理装置とが離れて配置される場合に最適な温度特性補正装置を提供するものである。
本発明の第3実施形態は、上記のような点に鑑み、GISにおける電流測定に光CTを用いる時のように、センサヘッドと信号処理装置とが離れて配置される場合に最適な温度特性補正装置を提供するものである。
図4において、第1,第2実施形態と同一の構成要素には同一の参照符号を付してあり、以下では異なる部分を中心に説明する。なお、図4に示す第3実施形態は、本発明を透過型光CTに適用した場合のものである。
図4において、信号処理装置100C内の光源111から出射した光はサーキュレータ112を介して伝送用光ファイバ101aからセンサヘッド110Bに入射するが、光ファイバ内を進行する際に散乱が生じ、その一部は後方散乱光としてサーキュレータ112方向に戻ってくる。この後方散乱光はラマン散乱光、レイリー散乱光、ブリルアン散乱光等を含んでいるが、本実施形態では、温度感受性が最も高いラマン散乱光を利用するものとする。すなわち、センサヘッド110Bの周囲温度をラマン散乱光を用いて推定するようにした。
図4において、信号処理装置100C内の光源111から出射した光はサーキュレータ112を介して伝送用光ファイバ101aからセンサヘッド110Bに入射するが、光ファイバ内を進行する際に散乱が生じ、その一部は後方散乱光としてサーキュレータ112方向に戻ってくる。この後方散乱光はラマン散乱光、レイリー散乱光、ブリルアン散乱光等を含んでいるが、本実施形態では、温度感受性が最も高いラマン散乱光を利用するものとする。すなわち、センサヘッド110Bの周囲温度をラマン散乱光を用いて推定するようにした。
センサヘッド110Bから伝送用光ファイバ101a方向に戻ってきたラマン散乱光は、サーキュレータ112及び伝送用光ファイバ101cを介して波長分離フィルタ131に入射し、ストークス光及び反ストークス光に分離された上、フォトダイオード等の受光素子132,133により電気信号に変換されて温度演算部134に入力される。
温度演算部134では、受光素子132,133の出力信号からストークス光と反ストークス光との強度の比を演算し、この強度比に基づいてセンサヘッド110Bの周囲温度を推定する。こうして推定した温度に基づいて温度補償を行う温度補償部124以降の動作は、第1,第2実施形態と同様である。
温度演算部134では、受光素子132,133の出力信号からストークス光と反ストークス光との強度の比を演算し、この強度比に基づいてセンサヘッド110Bの周囲温度を推定する。こうして推定した温度に基づいて温度補償を行う温度補償部124以降の動作は、第1,第2実施形態と同様である。
ここで、サーキュレータ112、伝送用光ファイバ101c、波長分離フィルタ131、受光素子132,133及び温度演算部134は請求項における温度測定手段を構成し、温度補償部124及びゲイン可変アンプ125は請求項における補正手段を構成している。
この実施形態においても、上記補正手段の構成として、温度補償部124内に予め設けたテーブルを用いて測定温度に応じたゲイン調整信号を直接出力したり、ソフトウェアの処理によって温度補償を行っても良い。
上述した如く、ラマン散乱光を用いて光ファイバの長手方向に沿った位置の温度を測定する技術は、例えば特許第2603714号公報(発明の名称:光ファイバ式分布形温度センサ)、特許第2705837号公報(発明の名称:分布型光温度センサ)等に開示されているため、ここでは詳述を省略する。
この実施形態においても、上記補正手段の構成として、温度補償部124内に予め設けたテーブルを用いて測定温度に応じたゲイン調整信号を直接出力したり、ソフトウェアの処理によって温度補償を行っても良い。
上述した如く、ラマン散乱光を用いて光ファイバの長手方向に沿った位置の温度を測定する技術は、例えば特許第2603714号公報(発明の名称:光ファイバ式分布形温度センサ)、特許第2705837号公報(発明の名称:分布型光温度センサ)等に開示されているため、ここでは詳述を省略する。
このようにして、本実施形態では信号処理装置100Cに温度センサを内蔵しなくてもセンサヘッド110Bの周囲温度を推定することができるため、センサヘッド110Bと信号処理装置100Cとが離れて配置される場合でも、センサヘッド110Bの周囲温度に基づいて光CTの出力を適切に温度補償することが可能である。
また、本実施形態は、反射形光CTにも適用可能であることは言うまでもない。
また、本実施形態は、反射形光CTにも適用可能であることは言うまでもない。
100A,100B,100C:信号処理装置
101a,101b,101c,101d,101e,101f:伝送用光ファイバ
102:偏/検光子及び光学バイアス部
103:センサファイバ
104:ミラー
105:偏光子
106:検光子
110A,110B:センサヘッド
111:光源
112:サーキュレータ
113,114:受光素子
115,116:バンドパスフィルタ
117,118:ローパスフィルタ
119,120:除算器
121:反転器
122:加算器
123:温度センサ
124:温度補償部
125:ゲイン可変アンプ
131:波長分離フィルタ
132,133:受光素子
134:温度演算部
200:GCB
201:架台
202:接地容器
203:操作箱
204,205:ブッシング
101a,101b,101c,101d,101e,101f:伝送用光ファイバ
102:偏/検光子及び光学バイアス部
103:センサファイバ
104:ミラー
105:偏光子
106:検光子
110A,110B:センサヘッド
111:光源
112:サーキュレータ
113,114:受光素子
115,116:バンドパスフィルタ
117,118:ローパスフィルタ
119,120:除算器
121:反転器
122:加算器
123:温度センサ
124:温度補償部
125:ゲイン可変アンプ
131:波長分離フィルタ
132,133:受光素子
134:温度演算部
200:GCB
201:架台
202:接地容器
203:操作箱
204,205:ブッシング
Claims (4)
- 磁界内に配置されるセンサファイバを備えたセンサヘッドと、前記センサファイバ中を伝搬する光の偏波面のファラデー回転角を測定する信号処理装置とを備え、前記ファラデー回転角から前記磁界の発生源である被測定電流の大きさを測定する光CTにおいて、
前記信号処理装置は、
この信号処理装置の周囲温度を測定する温度測定手段と、
この温度測定手段により測定した温度を前記センサヘッドの周囲温度として推定し、推定した周囲温度を用いて前記光CTの出力を補正する補正手段と、
を備えたことを特徴とする光CTの温度特性補正装置。 - 請求項1に記載された光CTの温度特性補正装置において、
前記信号処理装置が、前記センサヘッドに近接して配置されていることを特徴とする光CTの温度特性補正装置。 - 磁界内に配置されるセンサファイバを備えたセンサヘッドと、前記センサファイバ中を伝搬する光の偏波面のファラデー回転角を測定する信号処理装置とを備え、前記ファラデー回転角から前記磁界の発生源である被測定電流の大きさを測定する光CTにおいて、
前記信号処理装置は、
前記センサヘッドからの後方散乱光を用いて温度を測定する温度測定手段と、
この温度測定手段により測定した温度を前記センサヘッドの周囲温度として推定し、推定した周囲温度を用いて前記光CTの出力を補正する補正手段と、
を備えたことを特徴とする光CTの温度特性補正装置。 - 請求項1〜3の何れか1項に記載した光CTの温度特性補正装置において、
前記補正手段は、推定した周囲温度を用いて前記光CTの出力の増幅ゲインを変化させることを特徴とする光CTの温度特性補正装置。
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JP2008242481A JP2010071934A (ja) | 2008-09-22 | 2008-09-22 | 光ctの温度特性補正装置 |
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Publication Number | Publication Date |
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JP2010071934A true JP2010071934A (ja) | 2010-04-02 |
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Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN102072980A (zh) * | 2010-11-29 | 2011-05-25 | 浙江工业大学 | 电子式电流互感器光纤温度补偿器 |
JP2014190879A (ja) * | 2013-03-27 | 2014-10-06 | Takaoka Toko Co Ltd | 光ファイバ電流センサ |
JP2014238398A (ja) * | 2013-06-10 | 2014-12-18 | ゼネラル・エレクトリック・カンパニイ | 光ファイバ電流検知システムを監視するシステム及び方法 |
CN105247328A (zh) * | 2013-06-04 | 2016-01-13 | 西门子公司 | 在高压电势下的温度测量 |
CN109581266A (zh) * | 2018-11-20 | 2019-04-05 | 国网江苏省电力有限公司 | 一种全光纤电流互感器的运行健康状况分析方法 |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01240828A (ja) * | 1988-03-22 | 1989-09-26 | Hitachi Cable Ltd | 光ファイバ形温度分布計測装置 |
JPH0835994A (ja) * | 1994-07-25 | 1996-02-06 | Toshiba Corp | 光変流器 |
JP2004219120A (ja) * | 2003-01-10 | 2004-08-05 | Toko Electric Corp | 電圧センサ |
-
2008
- 2008-09-22 JP JP2008242481A patent/JP2010071934A/ja active Pending
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01240828A (ja) * | 1988-03-22 | 1989-09-26 | Hitachi Cable Ltd | 光ファイバ形温度分布計測装置 |
JPH0835994A (ja) * | 1994-07-25 | 1996-02-06 | Toshiba Corp | 光変流器 |
JP2004219120A (ja) * | 2003-01-10 | 2004-08-05 | Toko Electric Corp | 電圧センサ |
Cited By (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN102072980A (zh) * | 2010-11-29 | 2011-05-25 | 浙江工业大学 | 电子式电流互感器光纤温度补偿器 |
JP2014190879A (ja) * | 2013-03-27 | 2014-10-06 | Takaoka Toko Co Ltd | 光ファイバ電流センサ |
CN105247328A (zh) * | 2013-06-04 | 2016-01-13 | 西门子公司 | 在高压电势下的温度测量 |
KR101805094B1 (ko) | 2013-06-04 | 2017-12-05 | 지멘스 악티엔게젤샤프트 | 고전압 전위에서의 온도 측정 |
US9945733B2 (en) | 2013-06-04 | 2018-04-17 | Siemens Aktiengesellschaft | Temperature measurement at high-voltage potential |
JP2014238398A (ja) * | 2013-06-10 | 2014-12-18 | ゼネラル・エレクトリック・カンパニイ | 光ファイバ電流検知システムを監視するシステム及び方法 |
CN104237834A (zh) * | 2013-06-10 | 2014-12-24 | 通用电气公司 | 用于监测光纤电流传感系统的系统及方法 |
CN109581266A (zh) * | 2018-11-20 | 2019-04-05 | 国网江苏省电力有限公司 | 一种全光纤电流互感器的运行健康状况分析方法 |
CN109581266B (zh) * | 2018-11-20 | 2021-10-08 | 国网江苏省电力有限公司 | 一种全光纤电流互感器的运行健康状况分析方法 |
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