JP2010060326A - 眼鏡枠形状測定装置 - Google Patents

Abstract

【課題】 装置の大型化を抑え、高カーブフレーム、ブリッジが前面に迫り出したタイプのフレーム等も両枠トレースを可能にする。
【解決手段】 眼鏡枠形状測定装置は、フレームの左右レンズ枠を装用時の上下方向から保持する第１スライダーと第２スライダーとからなるフレーム保持手段と、測定子をレンズ枠溝に沿って移動させる測定子移動機構を持ち、測定子の移動を検知してレンズ枠の三次元形状を得る測定ユニットと、両眼トレース時に測定ユニットを左右方向に移動させる左右移動機構と、第１スライダー又は第２スライダーに形成され、両眼トレース時に測定ユニットが左右に移動される際に左右レンズ枠の枠外で測定子が通過する通路と、一方のレンズ枠の測定終了後に測定子移動機構及び左右移動機構を制御して測定子を通路に移動させ、他方のレンズ枠の測定開始位置に移動させる制御手段と、を備える。

【選択図】 図９

Description

本発明は、眼鏡レンズを枠入れする眼鏡フレームのリム（レンズ枠）の形状を測定するための眼鏡枠形状測定装置に関する。

眼鏡フレームを所期する状態に保持する眼鏡フレーム保持機構と、眼鏡フレームのリム（レンズ枠）の溝に挿入した測定子をリムの溝に沿って移動させ、測定子の移動を検知することによりリムの三次元形状を得る測定ユニットと、測定ユニットを右リム測定位置と左リム測定位置との間で左右方向に移動させる左右移動機構と、を備える眼鏡枠形状測定装置が知られている（例えば、特許文献１、２参照）。眼鏡フレーム保持機構は、眼鏡フレームの上下方向（装用時の上下方向）から押圧し、眼鏡フレームの上下方向の位置を決める２つのスライダーを備え、各スライダーには左右のリムをそれぞれクランプするクランプピンが設けられている。

この装置においては、左右両方のリムを測定する両枠トレースの場合、例えば、右リムの形状測定が終了してリムの溝から測定子が離脱された後、下降される。その後、左右移動機構により測定ユニットが左リムを測定するための所定の初期位置まで移動される。そして、右リムと同様に、左リムの溝に測定子が挿入されて左リムの形状測定が行われる。両枠トレースの測定結果により、左右玉型の中心間距離（ＦＰＤ）、左右玉型の鼻側端距離、眼鏡フレームの反り角度等の情報が得られる。
特開２０００−３１４６１７号公報 特開平４−９３１６３号公報

ところで、近年は眼鏡フレームのデザインの多様化により、フレームの反り角度が急な高カーブフレームが増加し、また、左右のリムを接続するブリッジが前側（装用時の前側）に大きく迫り出したタイプも使用されている。このような眼鏡フレームの両枠トレースにおいては、右リムから左リムの方向に測定子が移動される際に、測定子が十分に下方に下降されていないと、眼鏡フレームのブリッジに接触したり、高カーブフレームのリム枠に接触したりする問題が生じてしまう。このようなフレームの場合、作業者は両枠トレースをあきらめ、片方のリムのみをクランプピンによりクランプし、片枠毎にトレースを行うしかなかった。この場合、両枠トレースによる左右のリムの中心間距離及び眼鏡フレームの反り角度等の情報が得られない。両枠トレースにおいても測定子がブリッジ又は高カーブフレームのリムに接触しないようにするためには、測定子をクランプピンの位置から十分に下降させる必要があるが、この距離を大きくすると装置が大型化する。また、高カーブフレームの測定に対応するために測定子の上下移動の距離を長くし、且つ両枠トレース時に測定子が下降される最下点の位置をクランプピンの位置から大きく離すと、さらに装置の上下高さが大型化する傾向にある。

本発明は、上記従来技術の問題点に鑑み、装置の大型化を抑え、高カーブフレーム、ブリッジが前面に迫り出したタイプのフレーム等も両枠トレースが可能な眼鏡枠形状測定装置を提供することを技術課題とする。

上記課題を解決するために、本発明は以下のような構成を備えることを特徴とする。

（１） 眼鏡フレームの右レンズ枠及び左レンズ枠を上下方向（装用時の上下方向）から押圧して保持する第１スライダー及び第２スライダーを有する眼鏡フレーム保持手段と、測定子をレンズ枠の溝に沿って移動させる測定子移動機構を持ち、前記測定子の移動を検知してレンズ枠の三次元形状を得る測定ユニットと、両枠トレース時に前記測定ユニットを左右方向に移動させる左右移動機構と、を備える眼鏡枠形状測定装置において、前記第１又は第２スライダーに形成された通路であって、両枠トレース時に前記測定ユニットが左右移動される際に右レンズ枠及び左レンズ枠の枠外で前記測定子が通過可能に形成された通路と、一方のレンズ枠の測定終了後に前記測定子移動機構及び左右移動機構を制御して前記測定子を前記スライダーに形成された前記通路に移動させ、他方のレンズ枠を測定するための所定の初期位置に移動させる制御手段と、を備えることを特徴とする。
（２） （１）の眼鏡枠形状測定装置において、前記第１及び第２スライダーは右レンズ枠及び左レンズ枠をそれぞれクランプするクランプピンを持ち、前記通路は、前記測定子が左右レンズ枠のそれぞれのクランプピンの下を通過して移動可能にされる領域で前記スライダーに形成され、前記制御手段は、一方のレンズ枠の測定終了後にクランプピンの下を通過させて前記測定子を前記通路に移動させ、前記通路を経由した後に他方のレンズ枠側のクランプピンの下を通過させて測定子を他方のレンズ枠の初期位置に移動させることを特徴とする。
（３） （２）の眼鏡枠形状測定装置において、前記制御手段は、一方のレンズ枠の測定終了後にクランプピンの下を通過させて前記測定子を前記通路に移動させる位置を、そのレンズ枠の形状測定結果に基づいて設定することを特徴とする。
（４） （１）の眼鏡枠形状測定装置は、一方のレンズ枠の測定終了後に他方のレンズ枠の初期測定位置に測定子を移動させる際に、前記通路を通過させて測定子を移動させる第１経路と前記通路を通過させずに測定子を移動させる第２経路とを選択する選択手段を備え、前記制御手段は、前記第２経路が選択されたときは、一方のレンズ枠の測定終了後に前記左右移動機構を制御し、左右のレンズ枠の下を通過させて他方のレンズ枠の初期位置に直接測定子を移動させることを特徴とする。

本発明によれば、装置の大型化を抑え、高カーブフレーム、ブリッジが前面に迫り出したタイプのフレーム等も両枠トレースが可能になる。

以下、本発明の実施形態を図面に基づいて説明する。図１は、眼鏡枠測定装置を内蔵する眼鏡レンズ加工装置の外観構成を示す図である。図１において、眼鏡枠測定装置２は眼鏡レンズ加工装置１の筐体上面に配置されている。眼鏡枠測定装置２は、後述する構成のフレーム保持ユニット２００、測定子２８０を持つ測定ユニット２４０及び両枠トレースのための左右移動機構２４０Ａを備える。加工装置１の上面には眼鏡枠測定装置２への操作信号を入力するためのスイッチを持つスイッチパネル部４１０、加工情報等を表示するディスプレイ４１６、加工条件等の入力や加工のための指示を行う各種のスイッチを持つスイッチパネル部４２０が配置されている。４０２は加工室用の開閉窓である。なお、加工装置１に配置されるレンズ加工機構は、特開２０００−３１４６１７号公報等に記載された周知のものが使用できるので、その説明は省略する。

図２は、眼鏡枠測定装置２が備えるフレーム保持ユニット２００を上から見た平面図であり、図３は図２のＡ−Ａ断面の要部を示す図である。図２の紙面の左右方向をＸ方向と、縦方向をＹ方向とする。また、ＸＹ平面に直交する方向をＺ方向とする。

図２、図３において、保持部ベース２０１上には、眼鏡フレームＦの上下方向（眼鏡装用時の上下方向）に位置し、中央の基準線Ｌ１を中心に対向して開閉される一対の第１スライダー２０２及び第２スライダー２０３が配置されている。第１スライダー２０２及び第２スライダー２０３は、保持部ベース２０１の左右に配置されてＹ方向に延びるガイドレール２０４，２０５上を摺動可能に配置されている。第１スライダー２０２及び第２スライダー２０３は、中央の基準線Ｌ１に向かう方向にバネ２１３により引っ張られている。第１スライダー２０２又は第２スライダー２０３の一方を開く方向に摺動させることにより、眼鏡フレームＦを保持するための間隔が確保され、第１スライダー２０２及び第２スライダー２０３をフリーな状態にすれば、バネ２１３の付勢力により両者の間隔が縮められる。第１スライダー２０２及び第２スライダー２０３は、眼鏡フレームＦを装用時の上下方向から押圧し、眼鏡フレームの上下方向の位置を決める。この例では、第１スライダー２０２は装置の手前側（操作者側）に配置され、第２スライダー２０３は装置の奥側（後方）に配置されている。このフレーム保持ユニット２００の構成は、特開２０００−２１４６１７号公報に記載されたものを使用できる。

第２スライダーに対向する第１スライダー２０２の面側には、眼鏡フレームＦの右枠リムＦＲを厚み方向（上下方向）からクランプする一対のクランプピン２３０Ｒａ，２３０Ｒｂと、眼鏡フレームＦの左枠リムを厚み方向（上下方向）からクランプする一対のクランプピン２３０Ｌａ，２３０Ｌｂとが配置されている。同様に第１スライダー２０２に対向する第２スライダー２０３の面側には、右枠リムＦＲをクランプするクランプピン２３１Ｒａ，２３１Ｒｂと、左枠リムＦＬをクランプするクランプピン２３１Ｌａ，２３１Ｌｂとが配置されている。これらのクランプピンは同一高さに配置され、眼鏡フレームＦは測定基準面に保持される。

図４は、第１スライダー２０２に配置されたクランプピン２３０Ｒａ，２３０Ｒｂのクランプ機構２３０の構成図である。第１スライダー２０２の内部にベース板２３０１が配置されている。上側に配置されたクランプピン２３０Ｒａは、第１アーム２３０３の先端に取り付けられている。第１アーム２３０３の中心部は、ベース板２３０１に対して回転軸２３０４により回転可能に保持されている。下側に配置されたクランプピン２３０Ｒｂは、第２アーム２３０５の先端に取り付けられている。第２アーム２３０５の中心部は、ベース板２３０１に対して回転軸２３０６により回転可能に保持されている。第１アーム２３０３及び第２アーム２３０５の間には、圧縮バネ２３０７が取り付けられ、２つのクランプピン２３０Ｒａ及び２３０Ｒｂの間隔が常に開く方向に付勢されている。また、第１アーム２３０３の中心部には、回転軸２３０４と中心を同じにしたギヤ２３０９が形成されている。同様に、第２アーム２３０５の中心部には、回転軸２３０６と中心を同じにしたギヤ２３１１が形成され、ギヤ２３０９はギヤ２３１１に噛み合わされている。

第１アーム２３０３の後端には、バネ２３１３が取り付けられたワイヤー２３１５が固定されており、ワイヤー２３１５はベース板２３０１に回転可能に取り付けられたプーリー２３１７を介し、図２に示されるシャフト２２０に取り付けられている。シャフト２２０が回転されることにより、ワイヤー２３１５が引っ張られ、第１アーム２３０３は回転軸２３０４を中心にして反時計回りに回転される。このとき、ギヤ２３０９とギヤ２３１１が噛み合わされていることにより、第２アームは回転軸２３０６を中心にして時計回りに回転される。これにより、２つのクランプピン２３０Ｒａ及び２３０Ｒｂが連動して閉じられる。

シャフト２２０は、図２に示されるクランプ用モータ２２３により回転される。図２において、保持部ベース２０１の裏側にモータ２２３が取り付けられている。モータ２２３の回転軸にはウォームギア２２４が取り付けられており、保持部ベース２０１に回転可能に取り付けられたシャフト２２０の一端にある２２１と噛み合うことにより、モータ２２３の回転がシャフト２２０の回転に変換される。

第１スライダー２０２に配置されたクランプピン２３０Ｌａ，２３０Ｌｂのクランプ機構、第２スライダーに配置されたクランプピン２３１Ｒａ，２３１Ｒｂ及びクランプピン２３１Ｌａ，２３１Ｌｂのクランプ機構も基本的に同様である。モータ２２３の駆動によりシャフト２２０が回転され、４箇所のクランプピンが同時に開閉される。このようなクランプピンの開閉機構の構成は、特開平４−９３１６３号公報に記載されたものが使用できる。

次に、測定子２８０を持つ測定ユニット２４０、左右移動機構２４０Ａの構成を、図５、図６、図７に基づいて説明する。図５は測定ユニット２４０及び左右移動機構２４０Ａを上から見た平面図である。

図５において、左右移動機構２４０Ａは次のように構成されている。横移動ベース２４１は保持部ベース２０１に軸支されて左右方向に延びる２本のレール２４２、２４３にしたがって左右方向にスライド可能に支持されている。横移動ベース２４１の横移動は、保持部ベース２０１に取り付けられているモータ２４４の駆動により行われる。モータ２４４の回転軸にはボールネジ２４５が連結されている。ボールネジ２４５は横移動ベース２４１の下側に固定された雌ネジ部材２４６と噛合されている。モータ２４４の正逆回転されると、横移動ベース２４１が左右方向に移動される。両枠トレースの指令信号が入力されると、例えば、始めに右リムＦＲの所定の測定位置に横移動ベース２４１が置かれ、右リムの形状が測定される。右リムＦＲの測定に続いて、左リムＦＬを測定するために、モータ２４４の駆動により横移動ベース２４１が左リムＦＲの所定の測定位置に移動される。

測定ユニット２４０は、測定子２８０をリムの動径方向に二次元的に移動させるＸＹ移動機構２５０Ａと、測定子２８０をリムの動径方向に対して垂直な方向に移動させるＺ移動機構２６０Ａと、を備える。ＸＹ移動機構２５０Ａは、さらに回転機構２５０Ｂと横移動機構２５０Ｃとにより構成される。回転機構２５０Ｂは、次のように構成されている。横移動ベース２４１には、３個所に取り付けられたローラ２５１により回転ベース２５０が回転可能に保持されている。図６に示すように、回転ベース２５０の円周端部にはギヤ部２５０ａが形成され、その下部には外周側に突出する山形形状のガイドレール２５０ｂが形成されている。このガイドレール２５０ｂが各ローラ２５１のＶ溝部に接触しており、回転ベース２５０は３個のローラ２５１によって保持されながら回転する。回転ベース２５０のギヤ部２５０ａはアイドルギヤ２５２に噛み合い、アイドルギヤ２５２は横移動ベース２４１の下側に固定されたパルスモータ２５４の回転軸に取り付けられたギヤ２５３に噛合している。これによりモータ２５４の回転が回転ベース２５０に伝達される。回転ベース２５０の下面には、横移動機構２５０Ｃ及びＺ移動機構２６０Ａを備える測定子保持ユニット２５５が取り付けられている。

横移動機構２５０Ｃ及びＺ移動機構２６０Ａの構成を図６、図７により説明する。図６は測定子保持ユニット２５５の側面図、図７は図６のＣ方向の図である。横移動機構２５０Ｃは次のように構成される。回転ベース２５０の下面には固定ブロック２５６が固定されている。固定ブロック２５６の側面にはガイドレール受け２５６ａが回転ベース２５０の平面方向に延びるように取り付けられており、このガイドレール受け２５６ａにスライドレール２６１を持つ横移動支基２６０が摺動可能に取り付けられている。固定ブロック２５６には、横移動支基２６０を移動するためのＤＣモータ２５８とその移動量を検出するエンコーダ２５７が取り付けられている。エンコーダ２５７の回転軸に取り付けられたギヤ２５７ａは、横移動支基２６０の下方に固定されたラック２６２に噛合されている。また、ギヤ２５７ａは、アイドルギヤ２５９を介してモータ２５８の回転軸に取り付けられたギヤに噛合されている。モータ２５８の回転により横移動支基２６０は図６上の左右方向に移動される。また、横移動支基２６０の移動量がエンコーダ２５７により検出される。

Ｚ移動機構２６０Ａは次のように構成される。横移動支基２６０には上下支基２６５が上下移動可能に支持されている。その移動機構は横移動支基２６０と同じように、横移動支基２６０に取り付けられて上下方向に延びるガイドレール受け２６６に、上下支基２６５に取り付けられたスライドレール（図示せず）が摺動可能に保持されている。上下支基２６５には上下方向に延びるラック２６８が固定されている。ラック２６８には横移動支基２６０と固定板金により取り付けられたエンコーダ２７０の回転軸に取り付けられたギヤ２７０ａが噛み合わされている。また、ギヤ２７０ａはアイドルギヤ２７１を介してＤＣモータ２７２の回転軸に取り付けられたギヤに噛み合わされている。ＤＣモータ２７２の回転により上下支基２６５が上下移動される。上下支基２６５の上下移動位置は、エンコーダ２７０により検出される。なお、上下支基２６５は横移動支基２６０に取り付けられたゼンマイ２７５により下方向への荷重が減少され、上下移動が軽い力でスムーズに行われる。

また、上下支基２６５には測定子軸２７６が回転可能に保持されている。測定子軸２７６の上先端にはＬ字状の取付け部材２７７が設けられ、さらに取付け部材２７７の上部には測定子２８０が固定されている。測定子２８０の先端は測定子軸２７６の回転軸線と一致されており、測定時には測定子２８０の先端が眼鏡フレームＦのリムの溝に挿入される。

測定子軸２７６の下端には制限部材２８１が取り付けられている。制限部材２８１は略円筒形状であり、その側面に縦方向に沿って凸部２８１ａが形成されている。また、図６における紙面反対側の方向にも凸部２８１ａが形成されている。この２個所の凸部２８１ａが上下支基２６５の切り欠き面２６５ａ（図６における紙面反対側にも同じ切り欠き面２６５ａがある）に当接されることにより、測定子軸２７６の回転（すなわち測定子２８０の回転）がある範囲で制限される。また、制限部材２８１の下方は斜めカットされた斜面が形成されている。上下支基２６５の上下移動により測定子軸２７６と共に制限部材２８１が下方へ下げられたとき、この斜面が横移動支基２６０に固定されたブロック２６３の斜面に当接されることにより、制限部材２８１の回転は図６の状態に誘導され、測定子２８０の先端の向きが横移動支基２６０の移動方向に正される。

なお、高カーブフレームの場合には、測定子２８０が上下移動される最上点を高くする必要があるので、この場合には測定子軸２７６の長さが長くされ、また、Ｚ移動機構２６０Ａが持つガイドレール受け２６６の距離も長くされる。

ここで、両枠トレースに際して、高カーブフレーム及びブリッジが前側に大きく迫り出したタイプのフレームの測定を可能にするために、次のように構成されている。図２、図３において、第１スライダー２０２には測定ユニット２４０（測定子２８０）が右リムＦＲから左リムＦＬ（又は、左リムＦＬから右リムＦＲ）へと移動される際に、右リムＦＲ及び左リムＦＬの枠外で測定子２８０を通過させる為の通路３００が形成されている。本実施例では、通路３００は、第１スライダー２０２の中央部の内側で、クランプピン２３０Ｒｂ、２３０Ｌｂの下側を測定子２８０が通過可能に窪ませた溝で形成されている。通路３００の横幅Ｗ（Ｘ方向の幅）は、右リムＦＲ側のクランプピン２３０Ｒａ、２３０Ｒｂと、左リムＦＬ側のクランプピン２３０Ｌａ、２３０Ｌｂとが配置された間隔Ｗ１よりも広くされている。

また、第１スライダー２０２がリムに対向する面に対する通路３００の前後方向（Ｙ方向）の幅Ｄは、測定子２８０が第１スライダー２０２の下に収められるように、測定子２８０の水平方向の長さｄ１より広くされている。横移動ベース２４１の上面からの通路３００の高さｈは、クランプピン２３０Ｒｂ，２３０Ｌｂ及びクランプ機構２３０等の位置よりも低くされ、且つ、測定子２８０が最下点に下降されたときに、第１スライダー２０２の下に収められる長さが確保されている。なお、本実形態では、第１スライダー２０２側に通路３００が設けられているが、第２スライダー２０３側に通路３００を設けても良い。

次に、上記のような構成の眼鏡枠測定装置の測定動作を、図８の制御ブロック図を使用して説明する。操作者は、図２に示されるように、第１スライダー２０２及び第２スライダー２０３に配置された４箇所のクランプピンにより、眼鏡フレームＦをフレーム保持ユニット２００に保持させる。その後、スイッチパネル部４１０の両枠トレース用スイッチ４１２により測定開始信号が入力されると、制御部１５０は測定ユニット２４０のＸＹ移動機構２５０Ａ及びＺ移動機構２６０Ａの駆動を制御して、初めに右リムＦＲの形状を測定した後、連続して左リムＦＬの形状を測定する。なお、装置起動時、測定子２８０の中心は測定ユニット２４０の回転ベース２５０の回転中心に位置され、その中心は右リムＦＲの内側である位置Ｐ１に初期設定されている。位置Ｐ１のＸ方向は、第１スライダー２０２が持つクランプピン２３０Ｒａ（２３０Ｒｂ）の中心に一致され、位置Ｐ１のＹ方向は中方の基準線Ｌ１に一致されている。そして、測定子２８０の先端がクランプピン２３０Ｒａ（２３０Ｒｂ）側に向くように、回転ベース２５０がモータ２５４により回転されている。また、測定子２８０のＺ方向の位置は、最下点まで下げられている。

制御部１５０は、測定開始信号が入力されると、まず、ＤＣモータ２７２を駆動し、測定子２８０の先端がクランプピン２３０Ｒａ，２３０Ｒｂの上下方向の中心に一致すクランプピン２３０Ｒａ側に移動させ、測定子２８０の先端をリムＦＲの溝に挿入させる。この移動に際して、ＤＣモータ２５８への駆動電流が制御されることにより、リムを変形させず、且つ測定子２８０がリムの溝から外れない程度の測定圧が掛けられる。このときの測定開始位置における測定子２８０の移動位置は、エンコーダ２５７により検出され、メモリ１６１に記憶される。

続いて、制御部１５０は、モータ２５４を予め定めた単位回転パルス数毎に回転させ、回転ベース２５０と共に測定子保持ユニット２５５を回転させる。この回転により、測定子２８０がリムの溝に沿って移動される。このとき、動径方向に移動される横移動支基２６０の移動量がエンコーダ２５７によって検出される。Ｚ方向に移動される上下支基２６５の移動量がエンコーダ２７０によって検出される。そして、回転ベース２５０が１回転され、この1回転中のモータ２５４の回転角θと、エンコーダ２５７による検出量ｒと、エンコーダ２７０による検出量ｚとから、右リムＦＲの三次元形状（ｒｎ，θｎ，ｚｎ）（ｎ＝１，２，……Ｎ）が測定される。測定データはメモリ１６１に記憶される。

右リムＦＲの計測が終了した後、制御部１５０はモータ２５８を駆動し、測定子２８０をリムＦＲの溝から離脱させ、右リムＦＲの初期位置Ｐ１まで戻す。続いて、制御部１５０はモータ２７２を駆動して測定子２８０を最下点まで下降させる。ここで、両枠トレースの場合、左リムＦＬを測定するために、左右移動機構２４０Ａにより横移動ベース２４１と共に測定子２８０が左リムＦＬ内に定められた初期位置Ｐ４（図２参照）に移動される。しかし、位置Ｐ１から位置Ｐ４に測定子２８０が直接移動されると、高カーブフレーム及びブリッジが前側に大きく迫り出したタイプのフレームにおいては、測定子２８０が干渉してしまう。これを避けるため、制御部１５０は次のように測定子２８０を移動させる。

制御部１５０は、モータ２５８を駆動して横移動支基２６０を第１スライダー２０２側に移動させ、位置Ｐ１に置かれた測定子２８０をクランプピン２３０Ｒｂの下（その近傍の場合も含む）を通過させて第１スライダー２０２に形成された通路３００内に入る位置Ｐ２まで移動させる。図９に示されるように、測定子２８０を位置Ｐ１から位置Ｐ２まで移動させる距離ＬＤは、右リムＦＲの測定開始位置で測定されたＹ方向の動径距離ＬＤａと、予め定められた距離ＬＤｂとにより設定される。距離ＬＤｂは、測定子２８０が第１スライダー２０２の側面２０２ａより外側に位置して、第１スライダー２０２の下に収められるように（すなわち、測定子２８０がリムＦＲ，ＦＬの外側に外れるように）、測定子２８０の長さｄ１に対して余裕の距離を加えた距離として予め定められている。測定子２８０が位置Ｐ２まで達したことは、エンコーダ２５７の検出情報により得られる。通路３００のＹ方向の幅Ｄは、位置Ｐ２に対して測定子２８０が衝突しない距離で形成されている。

なお、測定子２８０を位置Ｐ２に移動させるに当っては、右リムＦＲの測定終了後に初期位置Ｐ１に戻さなくてもよく、右リムＦＲの溝から測定子２８０が離脱した時点で測定子２８０を最下点まで下降させ、その位置からクランプピン２３０Ｒｂの下を通過させて位置Ｐ２まで移動させる制御を行っても良い。右リムＦＲの溝から測定子２８０を離脱させる移動距離は、リムの溝の深さが最も大きいものを基準にして、それに余裕を加味した距離として決定できる。

測定子２８０が位置Ｐ２に達したら、次に、制御部１５０はモータ２４４の駆動を制御し、横移動ベース２４１を図２（図９）上の左方向に移動させ、第１スライダー２０２に形成された通路３００内の位置Ｐ３まで測定子２８０を移動させる。このときの移動距離は、位置Ｐ１から位置Ｐ４までＸ方向の移動距離と同じとされる。次に、制御部１５０はモータ２５８の駆動を制御し、測定子２８０を位置Ｐ３からクランプピン２３０Ｌｂの下（その近傍の場合も含む）を通過させて左リムＦＬの初期位置Ｐ４まで移動させる。その後は、従来と同じく、測定子２８０がクランプピン２３０Ｌａ，２３０Ｌｂのクランプされた左リムＦＬの溝に挿入された後、回転ベース２５０が１回転されることにより、左リムＦＬの三次元形状が測定される。

なお、測定子２８０が通路３００を通過する際に測定子２８０がリムＦＲ，ＦＬの外側（枠外）に実質的に外れていれば良い。眼鏡フレームのブリッジＢ又はリムＦＲ，ＦＬの鼻側端に測定子２８０が干渉しなければ、第１スライダー２０２の側面２０２ａより測定子２８０が外れて移動される場合も含まれるものである。

以上のよう測定子２８０は右リムＦＲ及び左リムＦＬを避けて左右方向に移動されるので、高カーブフレーム及びブリッジが前側に大きく迫り出したタイプのフレームにおいても、これらに接触することが回避され、両枠トレースが可能にされる。

両枠トレースが可能になれば、右リムＦＲ及び左リムＦＬの三次元形状の測定結果と、左右移動機構２４０Ａにより横移動ベース２４１を移動したときの移動情報と、に基づいて左右玉型の中心間距離（ＦＰＤ）、左右玉型の鼻側端距離、眼鏡フレームの反り角度等の情報が制御部１５０により求められる。

また、上記のように、クランプピンのリムのクランプ位置から測定子２８０が下降される最下点の位置は従来と変えられていないため、眼鏡枠測定装置２の本体の高さを大型化させないで済む。このため、従来の眼鏡枠測定装置２を内蔵する眼鏡レンズ加工装置１を所有する使用者においては、眼鏡枠測定装置２を交換するか、又は通路３００を持つ第１スライダー２０２に交換すると共に制御部１５０に持たせる制御プログラムを書き換えることにより、高カーブフレーム及びブリッジが前側に大きく迫り出したタイプのフレームの両枠トレースが可能にされる。

以上説明した実施形態は様々な変容が可能である。両枠トレースを行う際に、眼鏡フレームＦのタイプに応じて測定子２８０が左リムＦＬと右リムＦＲとの間で移動させる経路を選択可能にすることにより、全体の測定時間を短縮できる。

例えば、図１０に示すように、測定子２８０を位置Ｐ１から位置Ｐ４へ移動させる経路として、従来と同じように位置Ｐ１から位置Ｐ４へ直接移動させる経路８００と、ブリッジＢを避けるように測定子２８０を位置Ｐ５、Ｐ６を経由して斜めに移動させる経路８０１と、先に説明したように位置Ｐ２、Ｐ３を経由して移動させる経路８０２とが設けられ、これらを選択可能にする。何れの経路にするかは、操作者がフレームＦのタイプを見て決定し、スイッチパネル部４１０に設けられたスイッチ４１３、４１４、４１５により選択する。

フレームのブリッジＢが迫り出しておらず、フレームの反り角度も小さく、測定子２８０を位置Ｐ１から位置Ｐ４へ直接移動させても接触が避けられる場合には、操作者は経路８００を選択する。この場合、経路８０１、経路８０２に対して測定子２８０は移動される距離が短いので、その分測定時間が短縮される。

フレームのブリッジＢが迫り出しているが、フレーム反り角度が小さいタイプのフレームの場合には、測定子２８０はブリッジＢと干渉してしまうが、眼鏡フレームＦとは干渉しない。この場合には、ブリッジＢとの干渉のみを避ければ良いので、操作者は経路８０１を選択する。経路８０１が選択された場合、制御部１５０は、モータ２４４の駆動を制御して横移動ベース２４１を左方向へ移動させると同時に、横移動支基２６０を第１スライダー２側のＹ方向へ移動させ、測定子２８０を位置Ｐ５まで移動させる。その後、横移動支基２６０の位置をそのままとし、横移動ベース２４１のみを移動させ、測定子２８０を位置Ｐ６まで移動させ、次に、横移動支基２６０を第１スライダー２から離れる側へ移動させることにより、測定子２８０を位置Ｐ４まで移動させる。この経路８０１の選択においては、経路８０２よりも移動距離が短くされるため、その分測定時間が短縮される。なお、経路８０２は先に説明したものであるので、その説明は省略する。

眼鏡枠測定装置を内蔵する眼鏡レンズ加工装置の外観構成図である。 フレーム保持ユニットを上から見た平面図である。 図２のＡ−Ａ断面の要部を示す図である。 クランプピンのクランプ機構の構成図である。 測定ユニット及び左右移動機構を上から見た平面図である。 測定子保持ユニットの側面図である。 図６の測定子保持ユニットをＣ方向から見た図である。 眼鏡レンズ加工装置の制御ブロック図である。 眼鏡枠測定装置の動作についての説明図である。 眼鏡枠測定装置の動作の変容例についての説明図である。

符号の説明

２ 眼鏡枠測定装置
１５０ 制御部
２００ フレーム保持ユニット
２０２ 第１スライダー
２０３ 第２スライダー
２３０ クランプ機構
２４０ 測定ユニット
２４０Ａ 左右移動機構
２５５ 測定子保持ユニット
３００ 通路
４１０ スイッチパネル部

Claims (4)

1. 眼鏡フレームの右レンズ枠及び左レンズ枠を上下方向（装用時の上下方向）から押圧して保持する第１スライダー及び第２スライダーを有する眼鏡フレーム保持手段と、測定子をレンズ枠の溝に沿って移動させる測定子移動機構を持ち、前記測定子の移動を検知してレンズ枠の三次元形状を得る測定ユニットと、両枠トレース時に前記測定ユニットを左右方向に移動させる左右移動機構と、を備える眼鏡枠形状測定装置において、
   前記第１又は第２スライダーに形成された通路であって、両枠トレース時に前記測定ユニットが左右移動される際に右レンズ枠及び左レンズ枠の枠外で前記測定子が通過可能に形成された通路と、
   一方のレンズ枠の測定終了後に前記測定子移動機構及び左右移動機構を制御して前記測定子を前記スライダーに形成された前記通路に移動させ、他方のレンズ枠を測定するための所定の初期位置に移動させる制御手段と、
   を備えることを特徴とする眼鏡枠形状測定装置。
2. 請求項１の眼鏡枠形状測定装置において、
   前記第１及び第２スライダーは右レンズ枠及び左レンズ枠をそれぞれクランプするクランプピンを持ち、
   前記通路は、前記測定子が左右レンズ枠のそれぞれのクランプピンの下を通過して移動可能にされる領域で前記スライダーに形成され、
   前記制御手段は、一方のレンズ枠の測定終了後にクランプピンの下を通過させて前記測定子を前記通路に移動させ、前記通路を経由した後に他方のレンズ枠側のクランプピンの下を通過させて測定子を他方のレンズ枠の初期位置に移動させることを特徴とする眼鏡枠形状測定装置。
3. 請求項２の眼鏡枠形状測定装置において、前記制御手段は、一方のレンズ枠の測定終了後にクランプピンの下を通過させて前記測定子を前記通路に移動させる位置を、そのレンズ枠の形状測定結果に基づいて設定することを特徴とする眼鏡枠形状測定装置。
4. 請求項１の眼鏡枠形状測定装置は、一方のレンズ枠の測定終了後に他方のレンズ枠の初期測定位置に測定子を移動させる際に、前記通路を通過させて測定子を移動させる第１経路と前記通路を通過させずに測定子を移動させる第２経路とを選択する選択手段を備え、
   前記制御手段は、前記第２経路が選択されたときは、一方のレンズ枠の測定終了後に前記左右移動機構を制御し、左右のレンズ枠の下を通過させて他方のレンズ枠の初期位置に直接測定子を移動させることを特徴とする眼鏡枠形状測定装置。