JP2010052173A - 合成樹脂の成形方法および装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】位置ずれを抑制して、基板に成形部を高精度で成形することができる合成樹脂の成形方法および装置を提供する。
【解決手段】加熱で軟化若しくは液状化させた合成樹脂54をスタンパ金型60で押圧して、基板50に複数個の成形部55を同時に成形した後に、冷却工程を伴う合成樹脂の成形方法である。スタンパ金型60を保持するステージ61と基板50を保持するステージ62の各保持力を、周辺部よりも中央部を強く設定する。スタンパ金型60を吸着保持するステージ61と基板50を吸着保持するステージ62の各吸着穴61a,62aは、周辺部よりも中央部bに多く形成されている。
【選択図】図1
【解決手段】加熱で軟化若しくは液状化させた合成樹脂54をスタンパ金型60で押圧して、基板50に複数個の成形部55を同時に成形した後に、冷却工程を伴う合成樹脂の成形方法である。スタンパ金型60を保持するステージ61と基板50を保持するステージ62の各保持力を、周辺部よりも中央部を強く設定する。スタンパ金型60を吸着保持するステージ61と基板50を吸着保持するステージ62の各吸着穴61a,62aは、周辺部よりも中央部bに多く形成されている。
【選択図】図1
Description
本発明は、合成樹脂の成形方法および装置に関する。
従来、例えば特許文献1に記載されているような光電気変換装置は、電気信号を光信号に変換する発光素子が実装されたマウント基板と、光信号を電気信号に変換する受光素子が実装されたマウント基板とがそれぞれ回路基板を介して配線基板に実装されている。
この光電気変換装置においては、発光素子または受光素子と光学的に結合する導波路がマウント基板にそれぞれ形成され、これらの導波路がマウント基板から張り出して延在していて、その先端同士が光コネクタにより相互に連結されている。
前記のようなマウント基板の導波路は、一般に次のようにして形成される。図5(a)に示すような円形状のシリコン基板(シリコンウエハ)50を用いて、一点鎖線で区分けしたように、複数個(本例では15個)のマウント基板51を同時に形成する。そして、最終的には、シリコン基板50を一点鎖線位置で切断して、図5(b)のように、マウント基板51を個片化するのである。
先ず、シリコン基板50のマウント基板51の位置に、図6(a)のように、導波路形成用溝52(45度傾斜のミラー部53を含む。)を形成する。そして、図6(b)のように、導波路形成用溝52に下クラッド材54を充填(若しくは塗布。以下同様。)し、次いで、図6(c)のように、スタンパ金型(図示せず)を用いて下クラッド材54を押圧してコア用溝55を形成する。このコア用溝55に、図6(d)のように、コア材を充填してコア56を形成し、最後に、図6(e)のように、コア56の上に上クラッド材57を塗布して、クラッド58を形成することで、コア56とクラッド58とで導波路59が形成されるようになる。
図7は、シリコン基板50の各導波路形成用溝52に、熱可塑性樹脂である下クラッド材54を充填した後、スタンパ金型60を用いて下クラッド材54を押圧してコア用溝55を形成する工程図である。
図7(a)のように、常温(約23℃)状態で、固定の上ステージ61にスタンパ金型60を吸着保持するとともに、可動の下ステージ62にシリコン基板50を吸着保持する。
このシリコン基板50の導波路形成用溝52には、下クラッド材54が充填されていて、この状態で、スタンパ金型60とシリコン基板50とともに下クラッド材54を加熱(約90℃)して軟化若しくは液状化させる。
その後、図7(b)のように、シリコン基板50とスタンパ金型60の左右両端のアライメントマーク(図8の符号a参照)を、対応するカメラ63でそれぞれ監視する。そして、左右のアライメントマークの中点座標〔図8(a)の符号b参照。〕が一致するように、シリコン基板50とスタンパ金型60とを、吸着保持力に抗して水平面内で移動させながら合わせ込む。これにより、スタンパ金型60とシリコン基板50の中心部(重心位置)が一致する。
このようにして、シリコン基板50とスタンパ金型60の位置アライメントが完了した後、図7(c)のように、下ステージ62を上昇させることで、シリコン基板50の下クラッド材54をスタンパ金型60により押圧する。これにより、下クラッド材54にコア用溝(成形部)55が形成されるようになる。なお、後述する図8(a)では、黒四角マークで表示した部分が導波路形成用溝52であり、本例では、シリコン基板50の57個の導波路形成用溝52にコア用溝(成形部)55を同時に形成している。
そして、57個のコア用溝55を同時に成形した状態で、図8(d)のように、離型温度(約35℃)まで冷却して固化させる。
その後、図7(e)のように、下ステージ62を下降させて、シリコン基板50の下クラッド材54からスタンパ金型60を離型することで、図6(c)に示したように、下クラッド材54にコア用溝55が形成されるのである。
図8(a)は、上下のステージ61,62にスタンパ金型60とシリコン基板50をそれぞれ吸着保持した状態を真上から透過した平面図、図8(b)〜(e)は、それぞれ図8(a)のX−X部分の要部拡大断面図である。前述したように、図8(a)の例では、シリコン基板50の57個の導波路形成用溝52にコア用溝(成形部)55を黒四角マーク位置に同時に形成している。
図8(b)は、図7(a)の吸着保持工程であり、上下のステージ61,62にスタンパ金型60とシリコン基板50をそれぞれ吸着保持している。この場合には、スタンパ金型60の各コア用溝形成凸部60aは、図7(b)のアライメント工程と相俟って、各導波路形成用溝52に対して位置アライメントされている。
図8(c)は、図7(c)の押圧工程であり、加熱されるスタンパ金型60とシリコン基板50は外方向に膨張するようになる。この場合、スタンパ金型60とシリコン基板50の中心部になる中点座標bの位置では熱膨張は小さい。しかし、周辺部の位置cでは、熱膨張が大きくなり、導波路形成用溝52に対してスタンパ金型60のコア用溝形成凸部60aの位置が外方にずれて、コア用溝55に位置ずれdが生じる。
図8(d)は、図7(d)の冷却工程であり、冷却されるスタンパ金型60とシリコン基板50は内方向に熱収縮するようになる。この図8(d)では、スタンパ金型60のコア用溝形成凸部60aは、熱膨張によるコア用溝55の位置ずれdの分だけ正確に熱収縮している状態を表している。
図8(e)は、図7(e)の離型工程であり、コア用溝55に位置ずれdが無い状態を表している。
ここで、加熱・冷却工程が不必要な熱硬化性樹脂や、全工程を室温で行える光硬化性樹脂を用いる成形(インプリント)の場合は、前述のような熱膨張や熱収縮が無い。そのために、コア用溝(成形部)55の位置精度は、図7(b)のアライメント工程によるアライメント時の精度と、成形装置の重ね合わせ精度とで決まり、一般に、シリコン基板50の所定位置に高精度(±数um)で成形が可能である。
特開2003−222746号公報
しかしながら、加熱・冷却工程が必要な熱可塑性樹脂等を用いる成形(インプリント)の場合は、前述のような熱膨張や熱収縮が有る。そのために、図9に示すように、冷却工程中のスタンパ金型60とシリコン基板50の収縮で、上下のステージ61,62との吸着界面間の摩擦の面内ばらつきにより、コア用溝55に位置ずれdが生じるおそれがある。図9においては、白四角マーク位置が正規の位置、黒四角マーク位置が位置ずれdをした位置を表している。なお、位置ずれdとは、重心ずれeと回転ずれfを示し、熱収縮によって金型形状ピッチ寸法が変化することに起因したピッチずれは入らない。
この結果、シリコン基板50の所定位置にコア用溝(成形部)55を高精度(±数um)で成形することが困難であるという問題があった。
本発明は、前記問題を解消するためになされたもので、位置ずれを抑制して、基板に成形部を高精度で成形することができる合成樹脂の成形方法および装置を提供することを目的とするものである。
前記課題を解決するために、本発明は、加熱で軟化若しくは液状化させた合成樹脂をスタンパ金型で押圧して、基板に複数個の成形部を同時に成形した後に、冷却工程を伴う合成樹脂の成形方法であって、前記スタンパ金型を保持するステージと前記基板を保持するステージの各保持力を、周辺部よりも中央部を強く設定することを特徴とする合成樹脂の成形方法を提供するものである。
また、本発明は、加熱で軟化若しくは液状化させた合成樹脂をスタンパ金型で押圧して、基板に複数個の成形部を同時に成形した後に、冷却工程を伴う合成樹脂の成形装置であって、前記スタンパ金型を吸着保持するステージと前記基板を吸着保持するステージの各吸着穴は、周辺部よりも中央部に多く形成されていることを特徴とする合成樹脂の成形装置を提供するものである。
本発明の方法によれば、スタンパ金型と基板を保持する各ステージの保持力を、周辺部よりも中央部を強く設定する、つまり、保持力を中央部に集中させる。これにより、冷却工程において、スタンパ金型と基板の保持面は、熱収縮のために各ステージの保持面を摺動するが、中央部の保持力が周辺部よりも強いために、中央部(重心)を固定状態に維持できる。逆に、収縮量の多い周辺部は、より収縮しやすくなる。その結果、冷却時の収縮に伴うスタンパ金型と基板との位置ずれを抑制できるので、基板に成形部を高精度で成形することができる。
本発明の装置によれば、スタンパ金型と基板を吸着保持する各ステージの吸着保持力を、周辺部よりも中央部を強く設定する、つまり、吸着保持力を中央部に集中させる。これにより、冷却工程において、スタンパ金型と基板の吸着保持面は、熱収縮のために各ステージの吸着保持面を摺動するが、中央部の吸着保持力が周辺部よりも強いために、中央部(重心)を固定状態に維持できる。逆に、収縮量の多い周辺部は、より収縮しやすくなる。その結果、冷却時の収縮に伴うスタンパ金型と基板との位置ずれを抑制できるので、基板に成形部を高精度で成形することができる。また、ステージの吸着穴の位置を工夫するだけであるから、構造が簡単で装置コストが安価になる。
以下、本発明を実施するための最良の形態について、図面を参照しながら詳細に説明する。
最初に、前記スタンパ金型60と前記シリコン基板50の吸着保持力について説明する。図4(a)は前記上下のステージ61,62の平面図、図4(b)は図4(a)の断面図である。
各ステージ61,62の中点座標bの位置(重心)を中心とする複数(本例では3個)の同心円を描いて、各同心円の円周上等角度間隔(本例では45度)の位置に、吸着穴(本例では25個)61a,62aをそれぞれ形成している。すなわち、各ステージ61,62の吸着穴61a,62aは、各吸着保持面に対して、ほぼ均等に分散して形成されている。
したがって、冷却工程において、スタンパ金型60とシリコン基板50の吸着保持面は、熱収縮のために各ステージ61,62の吸着保持面を摺動する。この場合、吸着穴61a,62aは、各吸着保持面に対して、ほぼ均等に分散して形成されている。これにより、摺動方向が安定しないために、スタンパ金型60とシリコン基板50の中心部になる中点座標bの位置(重心)が移動してコア用溝55に位置ずれd(特に重心ずれe)が生じるようになる。なお、冷却状況によっては、回転ずれfも生じることがある。
そこで、本発明においては、冷却工程におけるスタンパ金型60とシリコン基板50の吸着保持力に着目したものである。
図1は、スタンパ金型60とシリコン基板50の吸着保持力に勾配(差)をつける実施形態の構成であって、(a)は上下のステージ61,62の平面図、(b)は(a)の側面断面図である。
図1(b)には、スタンパ金型60とシリコン基板50の中央部bと周辺部の吸着保持力の分布の曲線Dを併記してあり、周辺部よりも中央部bを強く設定している。
シリコン基板50は、例えば4インチのシリコンウエハを用いる場合を想定すると、スタンパ金型60は、対辺長100mmの八角形のニッケル電鋳スタンパ(厚さ300um〜500um程度)を用いることが好ましい。また、各ステージ61,62は、115mm角を用いることが好ましい。
図1(a)に示したように、各ステージ61,62の吸着穴61a,62aは、各ステージ61,62の中点座標bの位置(重心)、つまり中心部付近に集中して、多数個(本例では13個)を形成している。また、周辺部には、同心円上に数個(本例では4個)を形成している。なお、吸着穴61a,62aの個数は、理解を容易にするための例示であって、これらの個数に限らないことは言うまでもない。
なお、加熱で軟化若しくは液状化させた合成樹脂をスタンパ金型60で押圧して、複数個の成形部を同時に成形した後に、冷却工程を伴う合成樹脂としては、熱可塑性樹脂が一般的である。熱可塑性樹脂としては、アクリル樹脂(PMMA)、ポリカボネート樹脂(PC)、環状オレフィンコポリマー(COC)、シクロオレフィンコポリマー(COP)のようなナノインプリントに用いられるものがある。
この熱可塑性樹脂以外に、常温で固体のエポキシ化合物と常温で液状のエポキシ化合物とを所定の比率で含有し、さらに光重合開始剤を含有し、且つ、加熱により溶融または軟化する、常温で固体の光硬化性樹脂(いわゆる固形未硬化樹脂)も用いることができる。
図2は、実施形態の上ステージ61と下ステージ62の各吸着穴61a,62aを真空吸引する構成である。
図2(a)は補助プレート76の平面図、図2(b)は、補助プレート76の側面断面図である。
補助プレート76は、各ステージ61,62に設けられ、各ステージ61,62と同じ外形状に設定されている。そして、各ステージ61,62の吸着保持面の反対側の面に対向する面には、中心部の各吸着穴61a,62aの最外周部分を覆う円形状の窪み部76cと、周辺部の各吸着穴61a,62aを覆うリング状の窪み部76dとが形成されている。また、窪み部76cと窪み部76dを連通させる窪み部76eが放射状に形成されている。
さらに、中心部の窪み部76cから補助プレート76の内部を貫通して一側面の出口76fに至る真空吸引通路76gが形成されている。
補助プレート76は、図3に示すように、各ステージ61,62の吸着保持面の反対側の面に、窪み部76c〜76eを形成した面を宛って、気密に固定されるようになる。
そして、各補助プレート76の出口76fから真空吸引されると(矢印s参照)、各吸着穴61a,62aに真空吸引力が作用して、上ステージ61にスタンパ金型60が吸着保持されるとともに、下ステージ62のシリコン基板50が吸着保持されるようになる。
前記実施形態の構成であれば、スタンパ金型60とシリコン基板50を吸着保持する各ステージ61,62の吸着保持力を、周辺部よりも中央部bを強く設定する、つまり、吸着保持力を中央部bに集中させることができる。
これにより、冷却工程において、スタンパ金型60とシリコン基板50の吸着保持面は、熱収縮のために各ステージ61,62の吸着保持面を摺動するが、中央部bの吸着保持力が周辺部よりも強いために、中央部(重心)bを固定状態に維持できる。逆に、収縮量の多い周辺部は、より収縮しやすくなる。
その結果、冷却時の収縮に伴うスタンパ金型60とシリコン基板50との位置ずれdを抑制できるので、シリコン基板50にコア用溝(成形部)55を高精度で成形することができる。
また、各ステージ61,62の吸着穴61a,62aの位置を工夫するだけであるから、構造が簡単で装置コストが安価になる。
前記実施形態は、スタンパ金型60とシリコン基板50を各ステージ61,62にそれぞれ真空吸引で吸着保持したものであるが、真空吸引の吸着以外の保持構造であっても良い。
前記実施形態では、冷却工程時に押圧力が大きい場合は、押圧力と比べて真空吸引による吸着保持力が小さ過ぎて無視できる程度となり、効果は低いと考えられる。したがって、押圧力が大気圧(約0.1MPa)と同程度(若しくはそれ以下)か、最大でも0.5MPaまでの押圧力での成形(インプリント)時に、特に効果がある。
50 シリコン基板
51 マウント基板
52 導波路形成用溝
54 下クラッド材(熱可塑性樹脂)
55 コア用溝
58 クラッド
59 導波路
60 スタンパ金型
60a コア用溝形成凸部
61 上ステージ
61a 吸着穴
62 下ステージ
62a 吸着穴
76 補助プレート
b 中央部
d 位置ずれ
e 重心ずれ
f 回転ずれ
51 マウント基板
52 導波路形成用溝
54 下クラッド材(熱可塑性樹脂)
55 コア用溝
58 クラッド
59 導波路
60 スタンパ金型
60a コア用溝形成凸部
61 上ステージ
61a 吸着穴
62 下ステージ
62a 吸着穴
76 補助プレート
b 中央部
d 位置ずれ
e 重心ずれ
f 回転ずれ
Claims (2)
- 加熱で軟化若しくは液状化させた合成樹脂をスタンパ金型で押圧して、基板に複数個の成形部を同時に成形した後に、冷却工程を伴う合成樹脂の成形方法であって、
前記スタンパ金型を保持するステージと前記基板を保持するステージの各保持力を、周辺部よりも中央部を強く設定することを特徴とする合成樹脂の成形方法。 - 加熱で軟化若しくは液状化させた合成樹脂をスタンパ金型で押圧して、基板に複数個の成形部を同時に成形した後に、冷却工程を伴う合成樹脂の成形装置であって、
前記スタンパ金型を吸着保持するステージと前記基板を吸着保持するステージの各吸着穴は、周辺部よりも中央部に多く形成されていることを特徴とする合成樹脂の成形装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008216925A JP2010052173A (ja) | 2008-08-26 | 2008-08-26 | 合成樹脂の成形方法および装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008216925A JP2010052173A (ja) | 2008-08-26 | 2008-08-26 | 合成樹脂の成形方法および装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2010052173A true JP2010052173A (ja) | 2010-03-11 |
Family
ID=42068625
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JP2008216925A Pending JP2010052173A (ja) | 2008-08-26 | 2008-08-26 | 合成樹脂の成形方法および装置 |
Country Status (1)
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JP (1) | JP2010052173A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8906281B2 (en) | 2011-03-23 | 2014-12-09 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Imprint method, imprinting equipment, and method for manufacturing semiconductor device |
-
2008
- 2008-08-26 JP JP2008216925A patent/JP2010052173A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8906281B2 (en) | 2011-03-23 | 2014-12-09 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Imprint method, imprinting equipment, and method for manufacturing semiconductor device |
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