JP2010048826A - 方位角計測方法および方位角計測装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】X軸およびY軸ホール素子の出力を10点取得すると(S23)、すでに基準点を1回以上求めているかどうか判定する(S24)。基準点が求められている場合は、その基準点と最新の出力値との距離が地磁気サイズとして妥当か判定する(S26)。妥当である場合は、データバッファ部18から古いデータを削除し今回取得した出力データを加え(S27)、それら出力値からの距離が等しくなる基準点を推定し(S29)、その推定された基準点と各出力値が形成する円周との半径距離が地磁気サイズとして妥当か判定する(S30)。妥当である場合は、推定された基準点をX軸およびY軸ホール素子のオフセット値として出力する(S31)。
【選択図】図2
Description
図6において、方位角計測装置には、2軸磁気センサ11、磁気センサ駆動電源部12、マルチプレクサ部13、増幅部14、A/D変換部15、感度補正情報記憶部16、感度補正計算部17、データバッファ部18、オフセット情報算出部19、オフセット情報記憶部20、オフセット補正部21および方位角計算部22が設けられている。
図1において、オフセット情報算出部19は、x軸ホール素子HExの出力増幅値Srxおよびy軸ホール素子HEyの出力増幅値Sryをそれぞれ10点分格納するためのデータバッファを用意する(ステップS11)。
図3において、測定点P1からP10までのデータがバッファ内に蓄積された後に、測定点が平面に描く円周軌跡の中心座標C0を計算する。ここで求められたC0が各軸のオフセット値となる。次に着磁している構造物の近くで測定を行い、地磁気としては異常値である測定値P11が得られたとする。従来の方法では、データバッファをひとつ更新して、すなわちP1をバッファ内から削除して、P2からP11までのデータ群を使って円周の中心座標C1を求める。この場合、P11が異常値であるので中心座標C1は前回の中心座標C0からずれた位置となり、誤った値となる。したがって、最終的な方位角度には誤差が生じることになる。
前記推定した基準点を中心とし、前記出力データ群の各々が円周を形成する円の半径距離を算出するステップと、前記出力データ群を構成する個々のデータと前記基準点との距離のばらつきが大きい場合に、前記基準点を破棄するステップとを具えたことを特徴とする。
正しい方位角を演算・表示する。
(第1の実施形態)
図7は、本発明の一実施形態に係る方位角測定装置の概略構成を示すブロック図である。
Srx=ax・Mx+Crx ・・・(1)
Sry=ay・My+Cry ・・・(2)
ただし、axは、x軸ホール素子HExの感度、Crxは、x軸ホール素子HExのオフセット、ayは、y軸ホール素子HEyの感度、Cryは、y軸ホール素子HEyのオフセット、Mxは、地磁気Mのx方向成分、Myは、地磁気Mのy方向成分である。
感度補正後のx軸ホール素子HExの出力増幅値Sxおよびy軸ホール素子HEyの出力増幅値Syは、以下の(3)、(4)式のように表すことができる。
Sx=a0/ax・Srx=a0・Mx+Cx ・・・(3)
Sy=a0/ay・Sry=a0・My+Cy ・・・(4)
ただし、a0/axは、x軸ホール素子HExの感度補正係数、a0/ayは、y軸ホール素子HEyの感度補正係数、a0は、x軸ホール素子HExおよびy軸ホール素子HEyの感度補正後の感度である。
Cx=a0/ax・Crx
Cy=a0/ay・Cry
である。
(Sx−Cx)/a0=Mx ・・・(5)
(Sy−Cy)/a0=My ・・・(6)
となる。
(Mx2+My2)=const ・・・(7)
が成り立つ。
((Sx−Cx)/a0)2+((Sy−Cy)/a0)2
=Mx2+My2 ・・・(8)
となる。
(Sx−Cx)2+(Sy−C)2=r2 ・・・(9)
が成り立つ。
例えば、データ取得数は4以上、好ましくは10以上とする。
オフセット情報算出部19は、x軸ホール素子HExの出力増幅値Srxおよびy軸ホール素子HEyの出力増幅値Sry(SrxとSryとを総じて測定データとも呼ぶ)をそれぞれ10点分格納するためのデータバッファを用意する(ステップS21)。
図4において、測定点P1からP10までのデータがバッファ内に蓄積された後、円周の中心座標C0を計算する。ここで求められたC0が各軸のオフセット値となる。次にP11の測定点が得られた時点ですでに求められているオフセット値(C0)を使ってC0とP11の距離を計算し、地磁気ベクトルの大きさとして妥当な値が得られているかを評価する。その結果、測定値が地磁気ベクトルの大きさとしては異常値であると判断された場合、P11は破棄され、オフセット値は計算されずに、オフセット値としてC0の座標を再び使用する。
第1の実施形態では、出力データとすでに求められたオフセットとの距離や、求められた半径距離が、例えば、地磁気ベクトルの大きさに比べて妥当か否かを判断しているが、それらを混合させた方法も考えられる。
12 磁気センサ駆動電源部
13 マルチプレクサ部
14 増幅部
15 A/D変換部
16 感度補正情報記憶部
17 感度補正部
18 データバッファ部
19 オフセット情報算出部
20 オフセット情報記憶部
21 オフセット補正部
22 方位角計算部
23 第一の距離判定部
24 第二の距離判定部
Claims (12)
- 2軸の地磁気検出手段における検出方向を所定の平面上にあるよう保ちながら該検出方向を変化させる、または3軸の地磁気検出手段における検出方向を3次元空間において変化させながら、前記検出方向が変化した時の前記2軸または3軸の地磁気検出手段からの出力データを所定回数以上取得するステップと、
前記2軸の地磁気検出手段からの出力データを成分とする2次元座標上、または前記3軸の地磁気検出手段からの出力データを成分とする3次元座標上において、前記取得された2軸または3軸の地磁気検出手段からの出力データからなる出力データ群からの距離のばらつきが最小になるような位置の座標を基準点として推定するステップと、
前記推定した基準点を中心とし、前記出力データ群の各々が円周を形成する円の半径距離を算出するステップと、
前記出力データ群を構成する個々のデータと前記基準点との距離のばらつきが大きい場合に、前記基準点を破棄するステップと
を具えたことを特徴とする方位角計測方法。 - 前記基準点の座標は、オフセット情報であることを特徴とする請求項1記載の方位角計測方法。
- 前記ばらつきの判断指標が、
前記出力データ群を構成する個々のデータと前記推定された基準点との距離と、前記半径距離との差であることを特徴とする請求項1または2記載の方位角計測方法。 - 前記ばらつきの判断指標が、
前記出力データ群を構成する個々のデータと前記推定された基準点との距離と前記半径距離との差の最大値と、最小値との差であることを特徴とする請求項1または2記載の方位角計測方法。 - 前記ばらつきの判断指標が、
前記出力データ群を構成する個々のデータと前記推定された基準点との距離と前記半径距離との差の標準偏差であることを特徴とする請求項1または2記載の方位角計測方法。 - 前記ばらつきの判断指標が、
前記出力データ群を構成する個々のデータと前記推定された基準点との距離と前記半径距離との差の最大値と最小値との差と、前記半径距離との比であることを特徴とする請求項1または2記載の方位角計測方法。 - 地磁気を検出する2軸または3軸の地磁気検出手段と、
前記2軸の地磁気検出手段の検出方向が所定の平面上にあるよう保ちながら該検出方向が変化した時の前記地磁気検出手段からの2軸の出力データ、または前記3軸の地磁気検出手段の向きが3次元空間において変化した時の前記地磁気検出手段からの3軸の出力データを所定回数以上繰り返して取得する出力データ取得手段と、
前記2軸の出力データを各軸方向成分とする2次元座標上、または前記3軸の出力データを各軸方向成分とする3次元座標上において、前記出力データ取得手段によって得られた2軸または3軸の出力データ群からの距離のばらつきが最小になるような位置の座標を基準点として推定する基準点推定手段と、
前記推定した基準点を中心とし、前記出力データ群の各々が円周を形成する円の半径距離を算出する半径距離算出手段と、
前記出力データ群を構成する個々のデータと前記基準点との距離のばらつきが大きい場合に、前記基準点を破棄することを特徴とする方位角計測装置。 - 前記基準点の座標は、オフセット情報であることを特徴とする請求項7記載の方位角計測装置。
- 前記ばらつきの判断指標が、
前記出力データ群を構成する個々のデータと前記推定された基準点との距離と、前記半径距離との差であることを特徴とする請求項7または8記載の方位角計測方法。 - 前記ばらつきの判断指標が、
前記出力データ群を構成する個々のデータと前記推定された基準点との距離と前記半径距離との差の最大値と、最小値との差であることを特徴とする請求項7または8記載の方位角計測方法。 - 前記ばらつきの判断指標が、
前記出力データ群を構成する個々のデータと前記推定された基準点との距離と前記半径距離との差の標準偏差であることを特徴とする請求項7または8記載の方位角計測方法。 - 前記ばらつきの判断指標が、
前記出力データ群を構成する個々のデータと前記推定された基準点との距離と前記半径距離との差の最大値と最小値との差と、前記半径距離との比であることを特徴とする請求項7または8記載の方位角計測方法。
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