JP2010048639A - レーザ式ガス分析計及びガス濃度測定方法 - Google Patents
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 33
- 239000007789 gas Substances 0.000 claims abstract description 187
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 claims abstract description 46
- 230000031700 light absorption Effects 0.000 claims abstract description 36
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 54
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 35
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 claims description 27
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 11
- 230000000644 propagated effect Effects 0.000 claims description 4
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 abstract 1
- IXCSERBJSXMMFS-UHFFFAOYSA-N hcl hcl Chemical compound Cl.Cl IXCSERBJSXMMFS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 19
- VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-N Hydrochloric acid Chemical compound Cl VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 15
- 229910000041 hydrogen chloride Inorganic materials 0.000 description 15
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 15
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Chemical compound O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 13
- 230000007274 generation of a signal involved in cell-cell signaling Effects 0.000 description 10
- 238000000862 absorption spectrum Methods 0.000 description 9
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 description 8
- QGZKDVFQNNGYKY-UHFFFAOYSA-N Ammonia Chemical compound N QGZKDVFQNNGYKY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 239000000284 extract Substances 0.000 description 5
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 description 5
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 description 5
- 238000002835 absorbance Methods 0.000 description 3
- 238000005192 partition Methods 0.000 description 3
- CURLTUGMZLYLDI-UHFFFAOYSA-N Carbon dioxide Chemical compound O=C=O CURLTUGMZLYLDI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910021529 ammonia Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 2
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 2
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 2
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 2
- 229920006395 saturated elastomer Polymers 0.000 description 2
- 238000003786 synthesis reaction Methods 0.000 description 2
- UGFAIRIUMAVXCW-UHFFFAOYSA-N Carbon monoxide Chemical compound [O+]#[C-] UGFAIRIUMAVXCW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N Hydrogen Chemical compound [H][H] UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 1
- 229910002092 carbon dioxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000001569 carbon dioxide Substances 0.000 description 1
- 229910002091 carbon monoxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 238000000605 extraction Methods 0.000 description 1
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 description 1
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 1
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 1
- 230000000737 periodic effect Effects 0.000 description 1
- 238000012887 quadratic function Methods 0.000 description 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 1
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 description 1
- 230000002194 synthesizing effect Effects 0.000 description 1
- -1 that is Substances 0.000 description 1
- 230000001052 transient effect Effects 0.000 description 1
- 238000003466 welding Methods 0.000 description 1
Images
Landscapes
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
【解決手段】測定対象ガスの吸収波長を走査するようにレーザ素子41の発光波長を変化させ、測定対象ガスを透過した透過光を光検出部22で検出する。光検出部22の検出信号から発光波長の変調信号の2倍周波数成分を検出し、この2倍周波数成分の信号波形のピーク値に基づき低濃度ガスの濃度演算を行う。光検出部22の検出信号から発光波長の変調信号の1倍周波数成分の信号波形を検出し、この1倍周波数成分の信号波形において、光吸収が最大となるピーク波長における振幅値と光吸収が生じない波長における振幅値とに基づき高濃度ガスの濃度演算を行うが、ピーク波長及びピーク波長近傍の折り返し判定用波長の振幅値に基づき、信号波形に折り返しが生じているかどうかを判定し、折り返しの有無に応じて濃度の演算方法を切り替える。
【選択図】 図11
Description
この光吸収スペクトルは、ガスの種類毎に固有のものであり、レーザ式ガス分析計は、レーザ光の特定波長の吸収量が測定対象ガスの濃度に比例することを利用してガス濃度を測定している。
レーザ式ガス分析計の測定方法としては、2波長差分方式及び周波数変調方式とに大別される。本発明は、周波数変調方式を用いたレーザ式ガス分析計に関するものである。
図13は、周波数変調方式の原理図を示したものであって、例えば特許文献1に記載されているものである。周波数変調方式のレーザ式ガス分析計では、中心周波数fc、変調周波数fmで半導体レーザの出射光を周波数変調し、測定対象のガスに照射する。ここで、周波数変調とは、半導体レーザに供給するドライブ電流の波形を正弦波状にすることである。
DFB(Distributed Feedback Laser)レーザ等の半導体レーザは、図14(a)、(b)に示すように、ドライブ電流や温度によって発光波長が変化するため、周波数変調を行うことにより、ドライブ電流の変調に伴って発光波長が変調されることになる。
ガスの濃度が高いほどレーザ光の吸収が大きくなるため2倍波信号の強度も強くなる。したがって、2倍波信号の強度を検出することによって、測定対象ガスの濃度を計測することができる。
ここで、半導体レーザの発光波長を測定対象ガスの吸収波長に同調させ続けることは困難である。そのため、ある波長幅で、変調周波数fmにて変調しながら、波長幅の中心波長を徐々に替えて掃引(スキャン)していく方法等も提案されている(例えば、特許文献2参照)。
また、図15(b)は、図15(a)に示す駆動電流で半導体レーザを駆動した場合の、半導体レーザの発光波長を示したものであり、前述の図14(a)の特性に基づくものである。
この、変調周波数fmによる変調とスロープ掃引とを組み合わせた方式においては、半導体レーザのレーザ素子にもよるが、例えば、0.5〔nm〕程度の範囲で波長をスキャンすることが可能である。
例えば、塩化水素HClは1747.2〔nm〕に、また、水蒸気H2Oは1747.1〔nm〕に吸収スペクトルを有し、これらの吸収スペクトルは近接しているため、塩化水素HClと水蒸気H2Oとは、一つのレーザ素子によって同時に検出することが可能である。塩化水素HClは水分に吸着しやすく、水分量により見かけの濃度が変化するので、水分量を計測することは実用上、非常に有用である。
前述の1747.2〔nm〕及び1747.1〔nm〕における吸光量は、塩化水素の方が10倍以上大きいが、濃度は水蒸気の方が高いため、吸光量は水蒸気の方が数十倍〜100倍以上大きくなる。
これを回避するために、第1の方法として、低濃度検出用の信号処理回路と、高濃度検出用の信号処理回路とを両方設け、回路ゲインなどを、それぞれの信号に対して最適となるように合わせておく方法がある。しかしながら、この場合、信号処理回路を2系統備えることになり、処理回路が大型化、また複雑化し、コストアップにつながるという問題がある。
この発明は、上記従来の未解決の問題点に着目してなされたものであり、回路の大型化を伴うことなく、2種類のガスの濃度を安定して計測することが可能で、かつ、1倍周波数成分の信号波形に折り返しが生じている場合であっても、的確に濃度演算を行うことができるレーザ式ガス分析計及びガス濃度測定方法を提供することを目的としている。
また、請求項3に係るレーザ式ガス分析計は、前記折り返し判定手段は、前記1倍周波数成分において、前記吸光量がピークとなるときの波長の近傍に予め設定した折り返し判定用の波長における振幅値を、折り返し判定用振幅値として検出し、前記折り返し判定用振幅値が、前記ピーク振幅値よりも小さいとき、前記折り返しが生じていると判定することを特徴としている。
また、請求項4に係るレーザ式ガス分析計は、前記高濃度側の測定対象ガスの吸光量は、前記低濃度側の測定対象ガスの吸光量の10倍以上であることを特徴としている。
図1は、本発明を適用したレーザ式ガス分析計の概略構成を示す断面図である。
このレーザ式ガス分析計は、図1に示すように、発光部1と受光部2とを備える。
発光部1は、レーザ素子が搭載された光源部11と、この光源部11から出射されたレーザ光を平行ビームに変換するコリメートレンズ12とを備える。なお、レーザ素子としては、半導体レーザを用いることができる。
光検出部22としては例えばフォドタイオードを用いることができ、後述のレーザ素子41の発光波長に感度をもつ受光素子が用いられる。
ここで、発光部1の光源部11及びコリメートレンズ12は、一端が開口された略円筒状の発光部筐体17に収納され、集光レンズ21、光検出部22及び信号処理部23は、一端が開口された略円筒状の受光部筐体27に収納される。
このとき、光源部11、コリメートレンズ12、集光レンズ21及び光検出部22は、これらの光軸が一致するように配置され、光源部11から出射されたレーザ光が、コリメートレンズ12により平行光に変換された後、隔壁31a、31b間の測定対象ガスを透過して、集光レンズ21に入射され、集光レンズ21により光検出部22上に集光されるようになっている。
図2は、光源部11の構成を示すブロック図である。
図2において、光源部11は、レーザ素子41と、レーザ素子41を駆動するためのレーザ駆動信号を生成するレーザ駆動信号生成部42と、レーザ駆動信号生成部42で生成したレーザ駆動信号を電流に変換し、これをレーザ素子41に供給する電流制御部43と、を備える。
波長走査駆動信号I1の部分i2は、レーザ素子41に供給される電流の大きさを直線的に替えることにより、レーザ素子41の発光波長を徐々にずらすための部分である。したがって、波長走査駆動信号I1の部分i2は、光吸収強度が比較的高い波長を中心として、その波長を挟んである程度の線幅を走査可能な幅に設定される。例えば、測定対象ガスがアンモニアガスの場合には、0.2〔nm〕程度の線幅を走査可能な値に設定される。
そして、波長走査駆動信号発生部42aからの波長走査駆動信号I1と、高調波変調信号発生部42bからの高周波変調信号I2とが合成されてなるレーザ駆動信号に応じてレーザ素子41が駆動されることにより、レーザ素子41からは、図3に示すように、測定対象ガス(図3はアンモニアガスの場合を示す)の吸収波長帯を含むように周波数変調されたレーザ光が出射されることになる。
さらに、光源部11は、レーザ素子41に近接して配置される、温度検出素子としてのサーミスタ44と、このサーミスタ44に近接して配置されたペルチェ素子45と、ペルチェ素子45を制御する温度制御部46とを備え、レーザ素子41とペルチェ素子45との間で温度が同等となるように配置されている。温度制御部46は、サーミスタ44の抵抗値が一定値となるようにペルチェ素子45を制御し、これにより結果的に、レーザ素子41の温度を安定化するようになっている。
図4は、信号処理部23の構成を示すブロック図である。
信号処理部23は、図4に示すように、フォトダイオード等からなる光検出部22からの受光光量に応じた出力電流を電圧に変換するIV変換器51と、IV変換器51の出力を増幅する増幅器52と、低濃度ガス処理回路53と、高濃度ガス処理回路54と、低濃度ガス処理回路53又は高濃度ガス処理回路54の出力をデジタル信号に変換するAD変換器55と、AD変換器55の出力をもとに、低濃度ガス及び高濃度ガスの濃度を演算する演算処理部56と、を備える。
バンドパスフィルタ54aは、例えば、図5に示すように、一対の信号入力端の一方に接続されるダイオードDと、ダイオードDの出力側と他方の信号入力端との間に接続されるコンデンサC及びこのコンデンサCと並列に接続される抵抗Rとで構成され、抵抗Rの両端が信号出力端に接続される。なお、Vi(t)、Vo(t)はそれぞれ入力信号、出力信号である。
演算処理部56はマイクロコンピュータ等の演算処理装置で構成され、予め設定した切り替えタイミングで、AD変換器55に入力される信号を切り替え、AD変換器55からの、2倍周波数成分信号又は1倍周波数成分信号を入力し、これらに基づき測定対象ガスの濃度を演算する。
まず、レーザ素子41の温度をサーミスタ44により検出し、図2に示した波長走査駆動信号I1の直線的に増加する部分i2の中心部分近傍で、2種類の測定対象ガスの濃度を測定できるように、すなわち所定の吸収特性が得られるように、温度制御部46により、ペルチェ素子45への通電を制御してレーザ素子41の温度を調整する。
次に、レーザ素子41を駆動し、図3に示す、レーザ駆動信号に応じたレーザ光を出射させ、隔壁31a、31b間を透過したレーザ光を集光し、これを光検出部22に入射させる。
ここで、図6(a)の波形は、塩化水素も水も低濃度の場合を表したものであるが、通常の使用環境下では、塩化水素の濃度は一般的に数ppmから数1000ppmといった濃度レンジであるのに対し、水の濃度は数%〜数10%といった濃度レンジであって、塩化水素は低濃度レンジであるのに対し、水は非常に高濃度レンジとなっている。
このため、本実施形態では、図4に示すように、光検出部22からの受光光量に応じた電流信号をI/V変換器51で電圧信号に変換し、この電圧信号を、高濃度の塩化水素の信号成分が飽和しない程度に増幅器52で増幅した後、低濃度側の塩化水素については、低濃度ガス処理回路53で処理する。すなわち、受光光量に応じた電圧信号から2倍周波数成分のみを抽出する。これによって、発光波長が、塩化水素の吸収波長を走査するタイミングで、塩化水素の濃度に応じた振幅が現れる。したがって、発光波長が、塩化水素の吸収波長を走査するタイミングにおける高側ピーク値と低側ピーク値とを検出しこれらの差分値w1を求めることにより、この差分値w1から塩化水素の濃度を算出することができる。
図7(b)は、図7(a)の受光信号を、1倍周波数近傍のみを通すバンドパスフィルタを通した波形であって、横軸は時間、縦軸は信号レベルである。図7(b)に示すように、発光波長が吸収波長と一致する時点tにおいて、振幅が小さくなっていることがわかる。
しかしながら、高濃度ガスの濃度がさらに高濃度の場合には、その受光信号は図9(a)に示すように、受光光量がさらに低下し、その1倍周波数成分信号は、図9(b)に示すようにゼロ軸を挟んで折り返しが生じた信号波形となる。
このような折り返しが生じた場合、図10に示すように、1倍周波数成分の信号波形において、ガスの吸光強度がピークとなる波長における濃度に相当する振幅値は、ゼロ軸を上回るa点の値ではなくゼロ軸を下回る値であって、ゼロ軸を挟んでa点を反転したa′点の値である。
このため、1倍周波数成分の信号波形において、信号波形に折り返しが生じているか否かを判定し、折り返しが生じているときと折り返しが生じていないときとで、ガスの濃度の演算方法を切り替える。
発光部1では、図3に示す、レーザ駆動信号に応じたレーザ光を発光させる。受光部2ではこのレーザ光を受光し、低濃度ガス処理回路53でレーザ駆動信号生成に用いた高調波変調信号I2の2倍の周波数成分を2倍周波数成分信号として抽出すると共に、高調波変調信号I2の周波数と同一周波数の成分を1倍周波数成分信号として抽出する。そして、A/D変換器55でこれら2倍周波数成分信号及び1倍周波数成分信号を選択的にデジタル信号に変換し、演算処理部56に出力する。
次いで、A/D変換器55に入力すべき信号を、高濃度ガス処理回路54側に切り替え(ステップS4)、高濃度ガス処理回路54の出力信号である1倍周波数成分信号において、図10に示すように、発光部1での発光波長が、高濃度側のガスのピーク波長と一致するタイミングにおける振幅値と、発光部1での発光波長が、高濃度側のガスの吸収が生じないときの波長と一致するタイミングにおける振幅値と、発光部1での発光波長が、予め設定したピーク波長近傍の判定用波長と一致するタイミングにおける振幅値とを検出する(ステップS5)。例えば、光吸収強度がピークとなるピーク波長と、光の吸収がほとんどないときの波長と、判定用波長とを予め設定しておき、発光部1での発光波長が、これら波長と一致するタイミングにおける1倍周波数成分信号における振幅値を読み込む。この場合も、レーザ駆動信号に同期したトリガ信号を発生させることで、このトリガ信号を基準として、発光部1での発光波長が、各波長と一致するタイミングを特定すればよい。
このように、上記実施の形態の形態においては、低濃度ガスについては、低濃度ガス処理回路53により処理し、高濃度ガスについては高濃度ガス処理回路54により処理する構成とし、この高濃度ガス処理回路54は、バンドパスフィルタ54aで形成しており、図7に示すような簡易な構成で実現することができる。このため、2種類のガスの濃度を検出する場合であっても装置の大型化やコストの増加を抑制しつつ実現することができると共に、応答性の遅れなどを伴うことなく実現することができる。このとき、高濃度ガスの測定は、比較的簡易な構成で実現しており、微小信号を扱う場合には安定性に欠けるが、このバンドパスフィルタ54aを用いた高濃度ガス処理回路54では、比較的高濃度ガスを対象としているため、簡易な構成の処理回路であっても的確に濃度測定を行うことができる。
なお、上記実施の形態においては、図10において、ピーク波長における振幅値と、判定用波長における振幅値とを検出し、これらの大小関係に基づいて、折り返しが生じているか否かを判定する場合について説明したが、これに限るものではない。折り返しが生じているか否かを検出することができればどのような方法を用いてもよく、例えば、高濃度ガスの吸収がある位置の前後のタイミングを含めて、1f信号の包絡線検波信号を連続的に監視し、包絡線信号の大きさがほぼゼロになる個所があれば折り返しが生じていると判断するようにしてもよい。
また、図11において、ステップS5〜ステップS8の処理が高濃度演算手段に対応し、図11のステップS2及びステップS3の処理が低濃度演算手段に対応し、ステップS5の処理が振幅値検出手段に対応し、ステップS6の処理が折り返し判定手段に対応し、ステップS8及びステップS9の処理が濃度演算手段に対応している。
2 受光部
11 光源部
12 コリメートレンズ
21 集光レンズ
22 光検出部
23 信号処理部
41 レーザ素子
42a 波長走査駆動信号発生部
42b 高調波変調信号発生部
42c 合成部
44 サーミスタ
51 I/V変換器
52 増幅器
53 低濃度ガス処理回路
53a バンドパスフィルタ
53b 検波器
53c ローパスフィルタ
53d 増幅器
54 高濃度ガス処理回路
54a バンドパスフィルタ
55 AD変換器
56 演算処理部
Claims (5)
- 変調信号で周波数変調され且つ測定対象ガスの吸収波長を走査するように発光波長が変化するレーザ光を出射するレーザ素子を有する光源部と、
前記光源部からの出射光をコリメートする第1の光学系と、
前記第1の光学系からの出射光が、前記測定対象ガスが存在する測定空間を介して伝播された透過光を集光する第2の光学系と、
前記第2の光学系により集光された光を受光する受光素子と、を有し、濃度の異なる2種類の測定対象ガスの濃度を検出するレーザ式ガス分析計であって、
前記受光素子の出力信号から、前記変調信号の周波数と同一周波数成分を検出する1倍周波数成分検出手段と、
前記1倍周波数成分検出手段で検出した1倍周波数成分に基づき前記測定対象ガスのうち高濃度側の測定対象ガスの濃度を演算する高濃度演算手段と、
前記受光素子の出力信号から、前記変調信号の周波数の2倍の周波数成分を検出する2倍周波数成分検出手段と、
前記2倍周波数成分検出手段で検出した2倍周波数成分に基づき前記測定対象ガスのうち低濃度側の測定対象ガスの濃度を演算する低濃度演算手段と、を有し、
前記高濃度演算手段は、前記1倍周波数成分から、吸光量がピークとなるときの振幅値であるピーク振幅値及び吸光が行われないときの振幅値である非吸光振幅値を検出する振幅値検出手段と、
前記1倍周波数成分の信号波形においてゼロ軸に対して波形が折り返される折り返しが生じているか否かを判定する折り返し判定手段と、
前記振幅値検出手段で検出した振幅値に基づき前記高濃度側の測定対象ガスの濃度を演算する濃度演算手段と、を備え、
前記濃度演算手段は、前記折り返し判定手段での判定結果に基づき、前記折り返しが生じている場合と生じていない場合とで前記濃度の演算方法を切り替えることを特徴とするレーザ式ガス分析計。 - 前記濃度演算手段は、前記折り返しが生じていないときには、前記非吸光振幅値と前記ピーク振幅値との差分値を濃度相当値とし、前記折り返しが生じているときには、前記非吸光振幅値と前記ピーク振幅値との和を前記濃度相当値とし、前記濃度相当値に基づき濃度演算を行うことを特徴とする請求項1記載のレーザ式ガス分析計。
- 前記折り返し判定手段は、前記1倍周波数成分において、前記吸光量がピークとなるときの波長の近傍に予め設定した折り返し判定用の波長における振幅値を、折り返し判定用振幅値として検出し、
前記折り返し判定用振幅値が、前記ピーク振幅値よりも小さいとき、前記折り返しが生じていると判定することを特徴とする請求項1又は請求項2記載のレーザ式ガス分析計。 - 前記高濃度側の測定対象ガスの吸光量は、前記低濃度側の測定対象ガスの吸光量の10倍以上であることを特徴とする請求項1から請求項3の何れか1項に記載のレーザ式ガス分析計。
- 濃度の異なる2種類の測定対象ガスが存在する測定空間を介して伝播されたレーザ素子の出射光を受光素子で受光し、前記受光素子の出力信号に基づき前記測定対象ガスの濃度を測定するガス濃度測定方法であって、
変調信号で周波数変調され且つ測定対象ガスの吸収波長を走査するように発光波長が変化するレーザ光を前記レーザ素子から出射させるステップと、
前記受光素子の出力信号から前記変調信号の周波数の2倍の周波数成分を検出するステップと、
前記2倍の周波数成分に基づき前記測定対象ガスのうち低濃度側の測定対象ガスの濃度を演算するステップと、
前記受光素子の出力信号から前記変調信号の周波数と同一周波数成分を1倍周波数成分として検出するステップと、
前記1倍周波数成分において、吸光量がピークとなるときの振幅値であるピーク振幅値及び吸光が行われないときの振幅値である非吸光振幅値を検出するステップと、
前記1倍周波数成分の信号波形においてゼロ軸に対して波形が折り返される折り返しが生じているか否かを判定するステップと、
前記折り返しが生じていないと判定されるとき、前記ピーク振幅値及び前記非吸光振幅値との差分値を濃度相当値として濃度演算を行い、前記折り返しが生じていると判定されるとき、前記ピーク振幅値及び前記非吸光振幅値との和を前記濃度相当値として濃度演算を行うステップと、を備えることを特徴とするガス濃度測定方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008212476A JP5163360B2 (ja) | 2008-08-21 | 2008-08-21 | レーザ式ガス分析計及びガス濃度測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008212476A JP5163360B2 (ja) | 2008-08-21 | 2008-08-21 | レーザ式ガス分析計及びガス濃度測定方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2010048639A true JP2010048639A (ja) | 2010-03-04 |
JP5163360B2 JP5163360B2 (ja) | 2013-03-13 |
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Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2008212476A Active JP5163360B2 (ja) | 2008-08-21 | 2008-08-21 | レーザ式ガス分析計及びガス濃度測定方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5163360B2 (ja) |
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- 2008-08-21 JP JP2008212476A patent/JP5163360B2/ja active Active
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A711 | Notification of change in applicant |
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