JP2010038653A - 光学遅延装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】偏光子を透過(又は反射)した直線偏光のプローブ光は1/4波長板により円偏光とされ、ミラーにより1/4波長板に戻されて、偏光子から入射される直線偏光のプローブ光とは直交する直線偏光とされて偏光子を反射(又は透過)する。したがって、偏光子及び1/4波長板間に配置される光路長変位部がプローブ光の光路長を変位させた場合、偏光子からミラーへの往路と、ミラーから偏光子への復路との2倍の変位を与えることができ、一方通行のプローブ光の光路長を変位させる場合に比して、プローブ光の到達時間をより一段と遅延させることが可能となる。
【選択図】図2
Description
図1において、本実施の形態によるテラヘルツ分光装置10の全体構成を示す。このテラヘルツ分光装置10は、超短パルス発振器11、偏光ビームスプリッタ12、テラヘルツ波発生部13、時間遅延部14、テラヘルツ波検出部15及びコンピュータ16を含む構成とされる。
次に、第1の実施の形態による時間遅延部14の構成について図2を用いて説明する。この図2における時間遅延部14は、直線偏光のプローブ光を透過又は反射する偏光ビームスプリッタ21と、その偏光ビームスプリッタ21から入射されるプローブ光の光軸に垂直となる反射面をもつミラー22とをもつ。
次に、第2の実施の形態による時間遅延部14の構成について図6を用いて説明する。この図6に示す時間遅延部14では、ビームスプリッタ12及びテラヘルツ波発生部13間におけるポンプ光の光路上に直角プリズム51が配置される。
次に、第3の実施の形態による時間遅延部14の構成について図8を用いて説明する。この図8に示す時間遅延部14は、図4に示す時間遅延部14と、図6に示す時間遅延部14との組み合わせによるものである。
次に、第4の実施の形態による時間遅延部14の構成について図9を用いて説明する。この図9に示す時間遅延部14は、図6に示す時間遅延部14に対して、図2に示す時間遅延部14における構成の一部を加えたものである。
上述の実施の形態においては、時間分解測定で用いられるプローブ光を遅延させる光学遅延装置として、THz−TDSで用いられるプローブ光を遅延させる時間遅延部14を適用するようにした場合について述べたが、本発明はこれに限らず、例えば、レーザ誘起蛍光寿命の測定、励起分子等の過渡吸収分光、ラマン分光などの時間分解測定方法(FTS(Fourier Transform Spectroscopy))で用いられるプローブ光を遅延させるもの等に適用するようにしてもよい。
Claims (9)
- 時間分解測定で用いられるプローブ光を透過又は反射するビームスプリッタと、
上記ビームスプリッタから入射されるプローブ光を折り返すミラーと、
上記ビームスプリッタと、上記ミラーとの間に配置され、上記ビームスプリッタから入射されるプローブ光又は上記ミラーから折り返されるプローブ光に対して90度の位相を与える1/4波長板と、
上記ビームスプリッタと、上記1/4波長板との間に配置され、プローブ光の光路長に変位を与える光路長変位部と
を有する光学遅延装置。 - 上記光路長変位部は、
上記ビームスプリッタから入射されるプローブ光を折り曲げ、該折り曲げられたプローブ光の折り返し光を上記1/4波長板に出射し、上記1/4波長板から入射されるプローブ光を折り曲げ、該折り曲げられたプローブ光の折り返し光を上記ビームスプリッタに出射する第1の光学部材と、
開始位置から上記第1の光学部材に対して離れる方向へ所定の速度で移動され、上記第1の光学部材で折り曲げられたプローブ光の折り返し光を該第1の光学部材に与える第2の光学部材と
を有する請求項1に記載の光学遅延装置。 - 上記第2の光学部材は、
上記第1の光学部材に対して離れる方向へ所定の速度で直進移動される、請求項2に記載の光学遅延装置。 - 上記第1の光学部材は、
N個の直角プリズムを、底角をなす2辺の交点を1列に並べて配してなり、
上記第2の光学部材は、
(N+1)個の直角プリズムを、それら頂点と、上記N個の直角プリズムにおける交点とが対向される状態で、底角をなす2辺の交点を1列に並べて配してなる、請求項2に記載の光学遅延装置。 - 上記光路長変位部は、
開始位置から上記ビームスプリッタに対して離れる方向へ所定の速度で移動され、上記ビームスプリッタから上記1/4波長板に又は上記1/4波長板から上記ビームスプリッタにプローブ光を導く光学部材である、請求項1に記載の光学遅延装置。 - 上記ビームスプリッタから出射するプローブ光を、該プローブ光の出射位置とは異なる位置に入射させる光学部材
を有する請求項5に記載の光学遅延装置。 - 時間分解測定で用いられるポンプ光及びプローブ光のうち、該ポンプ光に対してプローブ光を遅延させる光学遅延装置であって、
ポンプ光の光路上に配置され、入射されるポンプ光の光路を変更し、該変更されたポンプ光の折り返し光を上記ポンプ光の光路上に戻す第1の光学部材と、
プローブ光路上に配置され、入射されるプローブ光の光路を変更し、該変更されたプローブ光の折り返し光を上記プローブ光路上に戻す第2の光学部材と、
上記第1の光学部材と、上記第2の光学部材とに対して離れる方向又は近づく方向へ相対的に移動可能に配置され、上記第1の光学学部材から入射されるポンプ光を該第1の光学学部材に折り返し、上記第2の光学部材から入射されるプローブ光を該第2の光学学部材に折り返す第3の光学部材と
を有する光学遅延装置。 - 上記第1の光学部材と、上記第2の光学部材とは直角プリズムでなり、互いに対向される、請求項7に記載の光学遅延装置。
- 上記第3の光学部材は、
開始位置から上記第1の光学部材に対して近づく方向へ所定の速度で直進移動される、請求項7に記載の光学遅延装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2008200080A JP5125858B2 (ja) | 2008-08-01 | 2008-08-01 | 光学遅延装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2008200080A JP5125858B2 (ja) | 2008-08-01 | 2008-08-01 | 光学遅延装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
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JP2010038653A true JP2010038653A (ja) | 2010-02-18 |
JP5125858B2 JP5125858B2 (ja) | 2013-01-23 |
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ID=42011367
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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JP2008200080A Expired - Fee Related JP5125858B2 (ja) | 2008-08-01 | 2008-08-01 | 光学遅延装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
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JP (1) | JP5125858B2 (ja) |
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