JP2010037630A - 多結晶体の製造装置及び多結晶体の製造方法 - Google Patents
多結晶体の製造装置及び多結晶体の製造方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2010037630A JP2010037630A JP2008204600A JP2008204600A JP2010037630A JP 2010037630 A JP2010037630 A JP 2010037630A JP 2008204600 A JP2008204600 A JP 2008204600A JP 2008204600 A JP2008204600 A JP 2008204600A JP 2010037630 A JP2010037630 A JP 2010037630A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- reaction vessel
- periodic table
- group
- silicon
- producing
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims abstract description 36
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims abstract description 58
- 239000013078 crystal Substances 0.000 claims abstract description 49
- 230000000737 periodic effect Effects 0.000 claims abstract description 38
- 229910052800 carbon group element Inorganic materials 0.000 claims abstract description 36
- 239000012530 fluid Substances 0.000 claims abstract description 29
- 150000004820 halides Chemical class 0.000 claims abstract description 22
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 claims abstract description 22
- 239000010703 silicon Substances 0.000 claims abstract description 22
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 18
- VXEGSRKPIUDPQT-UHFFFAOYSA-N 4-[4-(4-methoxyphenyl)piperazin-1-yl]aniline Chemical group C1=CC(OC)=CC=C1N1CCN(C=2C=CC(N)=CC=2)CC1 VXEGSRKPIUDPQT-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 35
- 239000005049 silicon tetrachloride Substances 0.000 claims description 35
- 239000011261 inert gas Substances 0.000 claims description 5
- 238000001556 precipitation Methods 0.000 claims description 4
- 229910052732 germanium Inorganic materials 0.000 claims description 3
- GNPVGFCGXDBREM-UHFFFAOYSA-N germanium atom Chemical compound [Ge] GNPVGFCGXDBREM-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- CPELXLSAUQHCOX-UHFFFAOYSA-M Bromide Chemical compound [Br-] CPELXLSAUQHCOX-UHFFFAOYSA-M 0.000 claims description 2
- 150000001805 chlorine compounds Chemical group 0.000 claims 1
- XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N Argon Chemical compound [Ar] XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 44
- 229910052786 argon Inorganic materials 0.000 description 22
- 229910021420 polycrystalline silicon Inorganic materials 0.000 description 16
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 15
- 229920005591 polysilicon Polymers 0.000 description 15
- 239000002994 raw material Substances 0.000 description 15
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 13
- 239000000463 material Substances 0.000 description 12
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 12
- 239000012159 carrier gas Substances 0.000 description 11
- XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N Iron Chemical compound [Fe] XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 10
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 6
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 description 5
- 229910052742 iron Inorganic materials 0.000 description 5
- 230000001105 regulatory effect Effects 0.000 description 5
- XPDWGBQVDMORPB-UHFFFAOYSA-N Fluoroform Chemical compound FC(F)F XPDWGBQVDMORPB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 229910003902 SiCl 4 Inorganic materials 0.000 description 4
- 150000002291 germanium compounds Chemical class 0.000 description 4
- BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N platinum Chemical compound [Pt] BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- AIFMYMZGQVTROK-UHFFFAOYSA-N silicon tetrabromide Chemical compound Br[Si](Br)(Br)Br AIFMYMZGQVTROK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 4
- VJHDVMPJLLGYBL-UHFFFAOYSA-N tetrabromogermane Chemical compound Br[Ge](Br)(Br)Br VJHDVMPJLLGYBL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- IEXRMSFAVATTJX-UHFFFAOYSA-N tetrachlorogermane Chemical compound Cl[Ge](Cl)(Cl)Cl IEXRMSFAVATTJX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- JIAARYAFYJHUJI-UHFFFAOYSA-L zinc dichloride Chemical compound [Cl-].[Cl-].[Zn+2] JIAARYAFYJHUJI-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 4
- HCHKCACWOHOZIP-UHFFFAOYSA-N Zinc Chemical compound [Zn] HCHKCACWOHOZIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 238000005229 chemical vapour deposition Methods 0.000 description 3
- 238000000295 emission spectrum Methods 0.000 description 3
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 3
- 238000011084 recovery Methods 0.000 description 3
- 150000003377 silicon compounds Chemical class 0.000 description 3
- FDNAPBUWERUEDA-UHFFFAOYSA-N silicon tetrachloride Chemical compound Cl[Si](Cl)(Cl)Cl FDNAPBUWERUEDA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000002904 solvent Substances 0.000 description 3
- 238000003786 synthesis reaction Methods 0.000 description 3
- 229910052725 zinc Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000011701 zinc Substances 0.000 description 3
- 229910001369 Brass Inorganic materials 0.000 description 2
- CURLTUGMZLYLDI-UHFFFAOYSA-N Carbon dioxide Chemical compound O=C=O CURLTUGMZLYLDI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- KZBUYRJDOAKODT-UHFFFAOYSA-N Chlorine Chemical compound ClCl KZBUYRJDOAKODT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- HEDRZPFGACZZDS-UHFFFAOYSA-N Chloroform Chemical compound ClC(Cl)Cl HEDRZPFGACZZDS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N Nickel Chemical compound [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- ATUOYWHBWRKTHZ-UHFFFAOYSA-N Propane Chemical compound CCC ATUOYWHBWRKTHZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- WAIPAZQMEIHHTJ-UHFFFAOYSA-N [Cr].[Co] Chemical compound [Cr].[Co] WAIPAZQMEIHHTJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000010951 brass Substances 0.000 description 2
- 239000000460 chlorine Substances 0.000 description 2
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 2
- WPBNNNQJVZRUHP-UHFFFAOYSA-L manganese(2+);methyl n-[[2-(methoxycarbonylcarbamothioylamino)phenyl]carbamothioyl]carbamate;n-[2-(sulfidocarbothioylamino)ethyl]carbamodithioate Chemical compound [Mn+2].[S-]C(=S)NCCNC([S-])=S.COC(=O)NC(=S)NC1=CC=CC=C1NC(=S)NC(=O)OC WPBNNNQJVZRUHP-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 2
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 2
- VNWKTOKETHGBQD-UHFFFAOYSA-N methane Chemical compound C VNWKTOKETHGBQD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 239000012071 phase Substances 0.000 description 2
- 229910052697 platinum Inorganic materials 0.000 description 2
- -1 silicon halide compound Chemical class 0.000 description 2
- 239000007790 solid phase Substances 0.000 description 2
- 235000005074 zinc chloride Nutrition 0.000 description 2
- 239000011592 zinc chloride Substances 0.000 description 2
- VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-M Chloride anion Chemical compound [Cl-] VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- ZAMOUSCENKQFHK-UHFFFAOYSA-N Chlorine atom Chemical compound [Cl] ZAMOUSCENKQFHK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000005046 Chlorosilane Substances 0.000 description 1
- MYCFAOTZHKGWOT-UHFFFAOYSA-N ClSCl.[Si] Chemical compound ClSCl.[Si] MYCFAOTZHKGWOT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910000531 Co alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- OTMSDBZUPAUEDD-UHFFFAOYSA-N Ethane Chemical compound CC OTMSDBZUPAUEDD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910001030 Iron–nickel alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910000861 Mg alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910003691 SiBr Inorganic materials 0.000 description 1
- BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N Silver Chemical compound [Ag] BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N Tin Chemical compound [Sn] ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- YXFVVABEGXRONW-UHFFFAOYSA-N Toluene Chemical group CC1=CC=CC=C1 YXFVVABEGXRONW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- QVYYOKWPCQYKEY-UHFFFAOYSA-N [Fe].[Co] Chemical compound [Fe].[Co] QVYYOKWPCQYKEY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 1
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 1
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 239000001273 butane Substances 0.000 description 1
- 239000006227 byproduct Substances 0.000 description 1
- 150000001722 carbon compounds Chemical class 0.000 description 1
- 229910002092 carbon dioxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000001569 carbon dioxide Substances 0.000 description 1
- 229910052801 chlorine Inorganic materials 0.000 description 1
- KOPOQZFJUQMUML-UHFFFAOYSA-N chlorosilane Chemical compound Cl[SiH3] KOPOQZFJUQMUML-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- SLLGVCUQYRMELA-UHFFFAOYSA-N chlorosilicon Chemical compound Cl[Si] SLLGVCUQYRMELA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910017052 cobalt Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010941 cobalt Substances 0.000 description 1
- GUTLYIVDDKVIGB-UHFFFAOYSA-N cobalt atom Chemical compound [Co] GUTLYIVDDKVIGB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000005260 corrosion Methods 0.000 description 1
- 230000007797 corrosion Effects 0.000 description 1
- 229910021419 crystalline silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000002425 crystallisation Methods 0.000 description 1
- 230000008025 crystallization Effects 0.000 description 1
- 238000000354 decomposition reaction Methods 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 1
- DTOHXGVDKNULFO-UHFFFAOYSA-N dibromo(dichloro)silane Chemical compound Cl[Si](Cl)(Br)Br DTOHXGVDKNULFO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- DUVPPTXIBVUIKL-UHFFFAOYSA-N dibromogermanium Chemical compound Br[Ge]Br DUVPPTXIBVUIKL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- BUMGIEFFCMBQDG-UHFFFAOYSA-N dichlorosilicon Chemical compound Cl[Si]Cl BUMGIEFFCMBQDG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- NTQGILPNLZZOJH-UHFFFAOYSA-N disilicon Chemical compound [Si]#[Si] NTQGILPNLZZOJH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000007772 electrode material Substances 0.000 description 1
- 239000012776 electronic material Substances 0.000 description 1
- RTZKZFJDLAIYFH-UHFFFAOYSA-N ether Substances CCOCC RTZKZFJDLAIYFH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000010574 gas phase reaction Methods 0.000 description 1
- QHGIKMVOLGCZIP-UHFFFAOYSA-N germanium dichloride Chemical compound Cl[Ge]Cl QHGIKMVOLGCZIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- GGJOARIBACGTDV-UHFFFAOYSA-N germanium difluoride Chemical compound F[Ge]F GGJOARIBACGTDV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000001307 helium Substances 0.000 description 1
- 229910052734 helium Inorganic materials 0.000 description 1
- SWQJXJOGLNCZEY-UHFFFAOYSA-N helium atom Chemical compound [He] SWQJXJOGLNCZEY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000008018 melting Effects 0.000 description 1
- 238000002844 melting Methods 0.000 description 1
- IJDNQMDRQITEOD-UHFFFAOYSA-N n-butane Chemical compound CCCC IJDNQMDRQITEOD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- OFBQJSOFQDEBGM-UHFFFAOYSA-N n-pentane Natural products CCCCC OFBQJSOFQDEBGM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052754 neon Inorganic materials 0.000 description 1
- GKAOGPIIYCISHV-UHFFFAOYSA-N neon atom Chemical compound [Ne] GKAOGPIIYCISHV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 1
- 229920001296 polysiloxane Polymers 0.000 description 1
- 239000000047 product Substances 0.000 description 1
- 239000001294 propane Substances 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 1
- 150000004756 silanes Chemical class 0.000 description 1
- HBMJWWWQQXIZIP-UHFFFAOYSA-N silicon carbide Chemical compound [Si+]#[C-] HBMJWWWQQXIZIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ABTOQLMXBSRXSM-UHFFFAOYSA-N silicon tetrafluoride Chemical compound F[Si](F)(F)F ABTOQLMXBSRXSM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- CFTHARXEQHJSEH-UHFFFAOYSA-N silicon tetraiodide Chemical compound I[Si](I)(I)I CFTHARXEQHJSEH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000004332 silver Substances 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
- 239000010935 stainless steel Substances 0.000 description 1
- 229910001220 stainless steel Inorganic materials 0.000 description 1
- JBQYATWDVHIOAR-UHFFFAOYSA-N tellanylidenegermanium Chemical compound [Te]=[Ge] JBQYATWDVHIOAR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- CUDGTZJYMWAJFV-UHFFFAOYSA-N tetraiodogermane Chemical compound I[Ge](I)(I)I CUDGTZJYMWAJFV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052718 tin Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011135 tin Substances 0.000 description 1
- KDSIMFNFMPPQRD-UHFFFAOYSA-N tribromo(chloro)silane Chemical compound Cl[Si](Br)(Br)Br KDSIMFNFMPPQRD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- KRCZLPQTJDWPKN-UHFFFAOYSA-N tribromosilicon Chemical compound Br[Si](Br)Br KRCZLPQTJDWPKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- LXEXBJXDGVGRAR-UHFFFAOYSA-N trichloro(trichlorosilyl)silane Chemical compound Cl[Si](Cl)(Cl)[Si](Cl)(Cl)Cl LXEXBJXDGVGRAR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- QHAHOIWVGZZELU-UHFFFAOYSA-N trichloro(trichlorosilyloxy)silane Chemical compound Cl[Si](Cl)(Cl)O[Si](Cl)(Cl)Cl QHAHOIWVGZZELU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- PZKOFHKJGUNVTM-UHFFFAOYSA-N trichloro-[dichloro(trichlorosilyl)silyl]silane Chemical compound Cl[Si](Cl)(Cl)[Si](Cl)(Cl)[Si](Cl)(Cl)Cl PZKOFHKJGUNVTM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- APLLVYZLAPKPFW-UHFFFAOYSA-N trichloro-[dichloro-[dichloro-[dichloro(trichlorosilyl)silyl]silyl]silyl]silane Chemical compound Cl[Si](Cl)(Cl)[Si](Cl)(Cl)[Si](Cl)(Cl)[Si](Cl)(Cl)[Si](Cl)(Cl)Cl APLLVYZLAPKPFW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ZDHXKXAHOVTTAH-UHFFFAOYSA-N trichlorosilane Chemical compound Cl[SiH](Cl)Cl ZDHXKXAHOVTTAH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000005052 trichlorosilane Substances 0.000 description 1
- PPDADIYYMSXQJK-UHFFFAOYSA-N trichlorosilicon Chemical compound Cl[Si](Cl)Cl PPDADIYYMSXQJK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02P—CLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
- Y02P20/00—Technologies relating to chemical industry
- Y02P20/50—Improvements relating to the production of bulk chemicals
- Y02P20/54—Improvements relating to the production of bulk chemicals using solvents, e.g. supercritical solvents or ionic liquids
Landscapes
- Silicon Compounds (AREA)
- Chemical Vapour Deposition (AREA)
Abstract
【解決手段】多結晶体の製造装置であって、内部に導入された周期表14族元素のハロゲン化物の超臨界流体状態を形成するための反応容器10と、反応容器10の内部に設けられプラズマ放電を行うための電極11,12と、反応容器10本体の内部に設けられプラズマ放電で分解したシリコンを表面上で析出させる種結晶30と、を有することを特徴とする多結晶体の製造装置I。
【選択図】図1
Description
また、最近、四塩化ケイ素(SiCl4)の還元方法が見直され、特許文献2には、四塩化ケイ素と亜鉛(Zn)の気相合成反応による針状結晶性シリコンの製造方法が記載されている。さらに、特許文献3には、塩化亜鉛ガス中で四塩化ケイ素と金属亜鉛との気相反応を行う高純度シリコンの製造方法が記載されている。
しかし、従来のCVD法は、通常、数十〜数百パスカルの減圧下で行われるため、原料ガスの濃度が極めて低く、結晶成長速度が遅いという問題がある。また、四塩化ケイ素の還元方法を利用する気相合成反応では、生成物の回収や副生成物である塩化亜鉛の分離において問題があり、得られるポリシリコンの純度が不十分である。
本発明の目的は、シリコン等の周期表14族元素の高純度な多結晶体を高速で得ることが可能な製造装置及び多結晶体の製造方法を提供することにある。
ここで、本発明が適用される多結晶体の製造装置において、種結晶に所定の電圧を印加する外部電源を有することが好ましい。
また、種結晶は、シリコン単結晶から構成されることが好ましい。
さらに、本発明が適用される多結晶体の製造方法では、超臨界流体状態形成工程において、反応容器中に不活性ガスを導入することが好ましい。
この場合、周期表14族元素のハロゲン化物0.1ml〜100,000mlに対し不活性ガス50mlを導入することが好ましい。
また、周期表14族元素が、ケイ素(Si)及びゲルマニウム(Ge)から選ばれることが好ましい。この場合、周期表14族元素のハロゲン化物が、塩化物又は臭化物であることが好ましい。さらに、周期表14族元素のハロゲン化物が、四塩化ケイ素であることが好ましい。
図1は、本実施の形態が適用される多結晶体の製造方法を実施するための製造装置の一例を説明する図である。
図1に示すように、製造装置Iは、後述する周期表14族元素のハロゲン化物の超臨界流体状態を保つことが可能な耐圧を有する反応容器(反応容器本体)10と、反応容器10内で形成される超臨界流体状態においてプラズマ放電を発生させるために平行に配置された1対の電極11,12と、反応容器10内に供給される周期表14族元素のハロゲン化物を貯蔵する原料貯槽21と、反応容器10内に供給されるキャリアガス(不活性ガス)を貯蔵するキャリアガス貯槽22と、を有している。
尚、図示しないが、反応容器10を所定の温度に加熱するための加熱装置が設けられている。加熱装置としては、所定の熱媒を使用するジャケット式加熱器、カートリッジ式ヒータ等が挙げられる。また、反応容器10を恒温槽内に設置してもよい。
また、電極11,12の電極間距離は、反応容器10内の温度、圧力又は放電条件によって適宜選択され、特に限定されないが、通常、0.002mm〜5mmの範囲内で設定される。
種結晶30を構成する材料は、析出させる周期表14族元素の単結晶が好ましく、例えば、シリコン単結晶、ゲルマニウム単結晶等が挙げられる。さらに、炭化ケイ素(SiC)等も使用可能である。後述するように、種結晶30の表面に到達した周期表14族元素のラジカルは、種結晶30により結晶化を誘発され、固相エピタキシャル成長が起こり、最終的に多結晶体が得られると考えられる。
次に、本実施の形態において原料として使用する周期表14族元素のハロゲン化物について説明する。
本実施の形態で使用する周期表14族元素のハロゲン化物としては、ハロゲン化炭素化合物、ハロゲン化ケイ素化合物、ハロゲン化ゲルマニウム化合物等が挙げられる。これらの中でも、ハロゲン化ケイ素化合物、ハロゲン化ゲルマニウム化合物が好ましく、さらに、ハロゲン化ケイ素化合物が特に好ましい。
ハロゲン化ケイ素化合物としては、フッ化ケイ素、塩化ケイ素、臭化ケイ素、ヨウ化ケイ素が挙げられる。これらの中でも、塩化ケイ素、臭化ケイ素が好ましい。
塩化ケイ素としては、例えば、四塩化ケイ素(SiCl4)、ヘキサクロルジシラン、オクタクロルトリシラン、デカクロルトリシラン、ドデカクロルペンタシラン等が挙げられる。また、クロルシラン(SiH3Cl)、ジクロルシラン(SiH2Cl2)、トリクロルシラン(SiHCl3)等のシラン誘導体が挙げられる。
臭化ケイ素としては、四臭化ケイ素(SiBr4)、六臭化二ケイ素、八臭化三ケイ素、十臭化四ケイ素等が挙げられる。
さらに、臭化三塩化ケイ素、二臭化二塩化ケイ素、三臭化塩化ケイ素、ヨウ化三塩化ケイ素、塩化硫化水素ケイ素、ヘキサクロルジシロキサン等も挙げられる。
これらのなかでも、四塩化ケイ素(SiCl4)が特に好ましい。
ハロゲン化ゲルマニウム化合物としては、フッ化ゲルマニウム、塩化ゲルマニウム、臭化ゲルマニウム、ヨウ化ゲルマニウムが挙げられる。これらの中でも、塩化ゲルマニウム、臭化ゲルマニウムが好ましい。
塩化ゲルマニウムとしては、二塩化ゲルマニウム、四塩化ゲルマニウムが挙げられる。臭化ゲルマニウムとしては、二臭化ゲルマニウム、四臭化ゲルマニウムが挙げられる。
次に、上述した製造装置Iを用いて周期表14族元素の多結晶体を製造する方法について説明する。本実施の形態では、周期表14族元素のハロゲン化物として四塩化ケイ素(SiCl4)を使用し、キャリアガスとしてアルゴンを使用し、多結晶シリコン(ポリシリコン)を製造する例について説明する。
ここで超臨界流体状態とは、物質固有の気液の臨界温度を超えた非凝縮性流体と定義される。即ち、密閉容器内に気体と液体とが存在すると、温度上昇とともに液体は熱膨張しその密度は低下する。一方、気体は、蒸気圧の増加によりその密度が増大する。そして最後に、両者の密度が等しくなり、気体とも液体とも区別の付かない均一な状態になる。物質の温度−圧力線図(図示せず)では、このような状態になる点を臨界点といい、臨界点の温度を臨界温度(Tc)、臨界点の圧力を臨界圧力(Pc)という。超臨界流体状態とは、物質の温度及び圧力が臨界点を超えた状態にあることをいう。
四塩化ケイ素とアルゴンとの混合物の場合、混合物の臨界温度(Tc)と臨界圧力(Pc)とは、四塩化ケイ素とアルゴンの組成により、それぞれの物質の臨界温度(Tc)と臨界圧力(Pc)との間で適宜調整することができる。
また、超臨界流体状態の四塩化ケイ素は、高い拡散性を有するため、種結晶30等の表面にケイ素ラジカルを効率よく供給することが可能となる。さらに、四塩化ケイ素とアルゴンとの混合物の超臨界流体状態を形成することにより、反応系内が均一濃度に保たれ、生成するポリシリコンの緻密性が向上する。
また、種結晶30としてシリコン単結晶を用いることにより、ポリシリコンの成長が促進される。
また、超臨界流体状態におけるプラズマ放電により分解した塩素は、所定の塩素ガス回収装置(図示せず)により回収される。さらに、未反応の四塩化ケイ素回収装置(図示せず)により回収され、原料貯槽21へリサイクルされる。
図1に示す製造装置Iを使用し、以下の操作によりポリシリコンを製造する。
反応容器10として、通電可能なハステロイC製の耐圧セル(内容量:50ml)を使用する。供給機24として送液ポンプ(日本分光株式会社製)、圧力調整弁22aとして全自動圧力調整弁(日本分光株式会社製)、排圧調整弁25として全自動排圧調整弁(日本分光株式会社製)を用いる。
尚、高周波電源27として、交流発生器(東京ハイパワー株式会社製PSG−1301)、高周波発生器(東京ハイパワー株式会社製PA−150)及び直流変換器(東京ハイパワー株式会社製PS−330)を用い、整合器26として東京ハイパワー株式会社製HC−2000を用いる。
続いて、四塩化ケイ素とアルゴンガスとの混合物の超臨界流体状態において、高周波電源27(13.56MHz)により、電極11,12に100Wの電力を約3分間印加し、プラズマ放電を発生させる。その後、反応容器10を冷却し、反応容器10中の圧力を、0.1MPa/分の速度で減圧する。
反応終了後、反応容器10内に設けたシリコン単結晶からなる種結晶30の表面上にポリシリコンが形成される。
Claims (11)
- 多結晶体の製造装置であって、
内部に導入された周期表14族元素のハロゲン化物の超臨界流体状態を形成するための反応容器本体と、
前記反応容器本体の内部に設けられプラズマ放電を行うための電極と、
前記反応容器本体の内部に設けられ前記プラズマ放電で分解したシリコンを表面上で析出させる種結晶と、を有する
ことを特徴とする多結晶体の製造装置。 - 前記種結晶に所定の電圧を印加する外部電源を有することを特徴とする請求項1に記載の多結晶体の製造装置。
- 前記種結晶は、シリコン単結晶から構成されることを特徴とする請求項1又は2に記載の多結晶体の製造装置。
- 多結晶体の製造方法であって、
内部に電極と種結晶とを備える反応容器中で周期表14族元素のハロゲン化物の超臨界流体状態を形成する超臨界流体状態形成工程と、
形成された前記超臨界流体状態においてプラズマ放電を行い前記種結晶上に周期表14族元素の多結晶体を析出させる結晶析出工程と、を有する
ことを特徴とする多結晶体の製造方法。 - 前記反応容器中の圧力が3MPa以上、当該反応容器中の温度が80K以上に保持されることを特徴とする請求項4に記載の多結晶体の製造方法。
- 前記超臨界流体状態形成工程において、前記反応容器中に不活性ガスを導入することを特徴とする請求項4又は5に記載の多結晶体の製造方法。
- 周期表14族元素のハロゲン化物0.1ml〜100,000mlに対し不活性ガス50mlを導入することを特徴とする請求項6に記載の多結晶体の製造方法。
- 前記結晶析出工程において、前記種結晶の温度を450K以上に保持することを特徴とする請求項4乃至7のいずれか1項に記載の多結晶体の製造方法。
- 周期表14族元素が、ケイ素(Si)及びゲルマニウム(Ge)から選ばれることを特徴とする請求項4乃至8のいずれか1項に記載の多結晶体の製造方法。
- 周期表14族元素のハロゲン化物が、塩化物又は臭化物であることを特徴とする請求項4乃至9のいずれか1項に記載の多結晶体の製造方法。
- 周期表14族元素のハロゲン化物が、四塩化ケイ素であることを特徴とする請求項4乃至10のいずれか1項に記載の多結晶体の製造方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2008204600A JP5502294B2 (ja) | 2008-08-07 | 2008-08-07 | 多結晶体の製造装置及び多結晶体の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2008204600A JP5502294B2 (ja) | 2008-08-07 | 2008-08-07 | 多結晶体の製造装置及び多結晶体の製造方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2010037630A true JP2010037630A (ja) | 2010-02-18 |
| JP5502294B2 JP5502294B2 (ja) | 2014-05-28 |
Family
ID=42010477
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2008204600A Expired - Fee Related JP5502294B2 (ja) | 2008-08-07 | 2008-08-07 | 多結晶体の製造装置及び多結晶体の製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP5502294B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2012180233A (ja) * | 2011-02-28 | 2012-09-20 | Silicon Plus Corp | ポリシリコン製造装置及びポリシリコンの製造方法 |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006131656A (ja) * | 2004-11-02 | 2006-05-25 | Daikin Ind Ltd | ポリマー組成物からのフッ素含有界面活性剤の除去方法 |
| WO2006054393A1 (ja) * | 2004-11-22 | 2006-05-26 | Tokyo University Of Agriculture And Technology | 薄膜製造方法及び薄膜製造装置 |
| JP2006249566A (ja) * | 2005-03-14 | 2006-09-21 | Tokyo Univ Of Agriculture & Technology | 膜の製造方法 |
-
2008
- 2008-08-07 JP JP2008204600A patent/JP5502294B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006131656A (ja) * | 2004-11-02 | 2006-05-25 | Daikin Ind Ltd | ポリマー組成物からのフッ素含有界面活性剤の除去方法 |
| WO2006054393A1 (ja) * | 2004-11-22 | 2006-05-26 | Tokyo University Of Agriculture And Technology | 薄膜製造方法及び薄膜製造装置 |
| JP2006249566A (ja) * | 2005-03-14 | 2006-09-21 | Tokyo Univ Of Agriculture & Technology | 膜の製造方法 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2012180233A (ja) * | 2011-02-28 | 2012-09-20 | Silicon Plus Corp | ポリシリコン製造装置及びポリシリコンの製造方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP5502294B2 (ja) | 2014-05-28 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| Wang et al. | Chemical vapor transport reactions for synthesizing layered materials and their 2D counterparts | |
| US20090202415A1 (en) | Process for producing high-purity silicon and apparatus | |
| US9242865B2 (en) | Systems and methods for production of graphene by plasma-enhanced chemical vapor deposition | |
| CN102947025B (zh) | 单晶半导体材料的制造 | |
| TW200804633A (en) | Plasma deposition apparatus and method for making polycrystalline silicon | |
| JPH06196419A (ja) | 化学気相堆積装置及びそれによる半導体装置の製造方法 | |
| CN102498063A (zh) | 多晶硅制造系统、多晶硅制造装置及多晶硅的制造方法 | |
| JP5128411B2 (ja) | ポリシリコンの製造装置及びポリシリコンの製造方法 | |
| JP5502294B2 (ja) | 多結晶体の製造装置及び多結晶体の製造方法 | |
| JP2003342016A (ja) | 多結晶シリコンの製造方法 | |
| US20120211023A1 (en) | Method for Removing Deposits | |
| JP5712001B2 (ja) | ポリシリコン製造装置及びポリシリコンの製造方法 | |
| CN101010453B (zh) | 周期表第13族金属氮化物结晶的制造方法以及使用其的半导体器件的制造方法 | |
| JPH0317768B2 (ja) | ||
| JP5284691B2 (ja) | 周期表14族元素の多結晶体の製造方法 | |
| JP2011040439A (ja) | 光発電素子の製造方法 | |
| WO2001048277A1 (en) | Method and apparatus for producing single crystal of silicon carbide | |
| JP5475708B2 (ja) | チタンの製造方法及び製造装置 | |
| JP5180947B2 (ja) | 多結晶シリコン製造用の反応炉の洗浄方法 | |
| JP6293294B2 (ja) | 金属シリサイドの表面改質方法、表面改質された金属シリサイドを用いた三塩化シランの製造方法及び製造装置 | |
| JP5502650B2 (ja) | ポリシリコンの製造方法 | |
| JP5730423B2 (ja) | 熱プラズマ処理装置 | |
| JP2016216286A (ja) | Iii族窒化物単結晶の製造方法 | |
| KR850001945B1 (ko) | 반도체용 고순도 실리콘 본체 제조방법 | |
| JP2007126342A (ja) | シリコン製造装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20110801 |
|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20130104 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20130514 |
|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20130716 |
|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20130827 |
|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20131127 |
|
| A911 | Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911 Effective date: 20140117 |
|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20140218 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20140313 |
|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5502294 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |