JP2010016080A - Substrate holding fixture attaching jig and semiconductor manufacturing equipment - Google Patents

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JP2010016080A JP2008173175A JP2008173175A JP2010016080A JP 2010016080 A JP2010016080 A JP 2010016080A JP 2008173175 A JP2008173175 A JP 2008173175A JP 2008173175 A JP2008173175 A JP 2008173175A JP 2010016080 A JP2010016080 A JP 2010016080A
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Satoshi Aizawa
相澤  聡
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a substrate holding fixture attaching jig which can easily attach and detach a substrate holding fixture safely. <P>SOLUTION: This substrate holding fixture attaching jig has: a substrate holding fixture supporting table 53 for supporting a rim of a substrate holding fixture 8; a fall prevention tool 55 provided on the substrate holding fixture supporting table for preventing the substrate holding fixture mounted on the substrate holding fixture supporting table from falling down; and a support 46 for supporting the substrate holding fixture supporting table so as to move freely. <P>COPYRIGHT: (C)2010,JPO&INPIT

Description

本発明は半導体製造装置に用いられる基板保持具の着脱の際に用いられる基板保持具装着治具、及び該基板保持具装着治具を用いて基板保持具の着脱を可能とした半導体製造装置に関するものである。   The present invention relates to a substrate holder mounting jig used when a substrate holder used in a semiconductor manufacturing apparatus is attached / detached, and a semiconductor manufacturing apparatus capable of attaching / detaching a substrate holder using the substrate holder mounting jig. Is.

半導体製造装置は、処理室を画成する反応管、該反応管を収納する様に設けられ、反応管、処理室を加熱する加熱装置、前記処理室に処理ガス等のガスを供給するガス供給系、処理室のガスを排気する排気系等から構成される処理を具備しており、前記処理室には基板保持具に保持されたシリコンウェーハ等の基板が装入され、基板表面に薄膜の生成、不純物の拡散、エッチング、アニール処理等の処理を実行して半導体装置を製造する。   A semiconductor manufacturing apparatus includes a reaction tube that defines a processing chamber, a reaction tube, a heating device that heats the processing chamber, and a gas supply that supplies a gas such as a processing gas to the processing chamber. A processing system comprising an exhaust system for exhausting the gas from the system and the processing chamber, and the processing chamber is loaded with a substrate such as a silicon wafer held by a substrate holder, and a thin film is formed on the substrate surface. A semiconductor device is manufactured by performing processes such as generation, impurity diffusion, etching, and annealing.

例えば、成膜処理を行う場合、反応生成物は基板表面だけでなく、反応管の壁面、基板保持具にも付着堆積する。付着堆積した反応生成物はやがて剥離してパーティクルとなって基板を汚染するので、定期的或は所定稼働時間毎に清浄して除去する必要がある。   For example, when a film forming process is performed, the reaction product adheres not only to the substrate surface but also to the wall surface of the reaction tube and the substrate holder. The deposited and deposited reaction products are eventually peeled off and become particles, which contaminates the substrate. Therefore, it is necessary to clean and remove regularly or every predetermined operation time.

反応管、基板保持具を清浄する場合、反応管、基板保持具は半導体製造装置から取外されるが、反応管は大型で重量があり、而も半導体製造装置内部の狭小な空間での作業となり、作業者の負担が大きく、又反応管の破損事故の虞れもあった。   When cleaning reaction tubes and substrate holders, the reaction tubes and substrate holders are removed from the semiconductor manufacturing equipment, but the reaction tubes are large and heavy, and work in a narrow space inside the semiconductor manufacturing equipment. As a result, the burden on the operator is large, and there is a risk of damage to the reaction tube.

この為、特許文献1に於いて、反応管着脱用台車が提案され、反応管については着脱作業が安全に又容易に行える様になった。   Therefore, in Patent Document 1, a carriage for attaching / detaching a reaction tube has been proposed, and the attaching / detaching operation of the reaction tube can be performed safely and easily.

一方で、前記基板保持具については、作業者が狭小な空間での手作業により直接着脱を行っている為、基板保持具の着脱については依然として、作業性が悪く、又破損の虞れがあった。   On the other hand, since the operator directly attaches / detaches the substrate holder by hand in a narrow space, the attachment / detachment of the substrate holder is still inferior in workability and may be damaged. It was.

特開2001−23913号公報Japanese Patent Laid-Open No. 2001-23913

本発明は斯かる実情に鑑み、基板保持具の着脱を安全に而も容易に行える基板保持具装着治具及び該基板保持具装着治具が使用可能な半導体製造装置を提供するものである。   In view of such circumstances, the present invention provides a substrate holder mounting jig capable of safely and easily attaching and detaching a substrate holder, and a semiconductor manufacturing apparatus capable of using the substrate holder mounting jig.

本発明は、基板保持具の周縁を支持する基板保持具支持テーブルと、該基板保持具支持テーブルに設けられ、該基板保持具支持テーブルに載置された前記基板保持具が転倒するのを防止する転倒防止具と、前記基板保持具支持テーブルを支持し、移動自在にされた支持部とを有する基板保持具装着治具に係るものである。   The present invention provides a substrate holder support table that supports the peripheral edge of the substrate holder, and prevents the substrate holder provided on the substrate holder support table from falling down. And a substrate holder mounting jig having a support unit that supports the substrate holder support table and is movable.

又本発明は、請求項1の前記基板保持具装着治具を用いる半導体製造装置であって、前記基板保持具に保持された基板を処理する処理室と、該処理室の下方に設けられる予備室と、前記基板保持具の底面中央部を支持する支持体と、前記予備室と前記処理室との間で前記基板保持具を前記支持体で支持しつつ搬送する搬送装置とを備える半導体製造装置に係るものである。   According to another aspect of the present invention, there is provided a semiconductor manufacturing apparatus using the substrate holder mounting jig according to claim 1, wherein a processing chamber for processing a substrate held by the substrate holder and a spare provided below the processing chamber are provided. A semiconductor device comprising: a chamber; a support that supports a central portion of the bottom surface of the substrate holder; and a transfer device that transfers the substrate holder while supporting the substrate holder between the preliminary chamber and the processing chamber. It concerns the device.

本発明によれば、基板保持具の周縁を支持する基板保持具支持テーブルと、該基板保持具支持テーブルに設けられ、該基板保持具支持テーブルに載置された前記基板保持具が転倒するのを防止する転倒防止具と、前記基板保持具支持テーブルを支持し、移動自在にされた支持部とを有するので、狭小な空間での前記基板保持具の支持を作業者が負担する必要がなくなり、又前記基板保持具が安定に支持されるので、該基板保持具の着脱作業が安全容易になり、作業性が向上すると共に破損事故の発生が防止できる。   According to the present invention, the substrate holder support table that supports the peripheral edge of the substrate holder, and the substrate holder that is provided on the substrate holder support table and placed on the substrate holder support table falls over. And a support unit that supports the substrate holder support table and is movable, so that it is not necessary for the operator to bear the support of the substrate holder in a narrow space. In addition, since the substrate holder is stably supported, the attachment and detachment work of the substrate holder becomes easy and safe, and the workability is improved and the occurrence of damage accidents can be prevented.

又本発明によれば、前記基板保持具装着治具を用いる半導体製造装置であって、前記基板保持具に保持された基板を処理する処理室と、該処理室の下方に設けられる予備室と、前記基板保持具の底面中央部を支持する支持体と、前記予備室と前記処理室との間で前記基板保持具を前記支持体で支持しつつ搬送する搬送装置とを備えるので、前記基板保持具の清浄を行う保守時での該基板保持具の着脱作業が安全容易になり、作業性が向上し、保守時間の短縮が図れ、半導体製造装置稼働率の向上が図れるという優れた効果を発揮する。   According to the invention, there is provided a semiconductor manufacturing apparatus using the substrate holder mounting jig, wherein a processing chamber for processing a substrate held by the substrate holder, and a spare chamber provided below the processing chamber, The substrate holder includes a support that supports a central portion of the bottom surface of the substrate holder, and a transport device that transports the substrate holder while supporting the substrate holder between the preliminary chamber and the processing chamber. The substrate holder can be attached and detached at the time of maintenance to clean the holder, making it easier and safer, improving workability, shortening the maintenance time, and improving the operating rate of the semiconductor manufacturing equipment. Demonstrate.

以下、図面を参照しつつ本発明を実施する為の最良の形態を説明する。   The best mode for carrying out the present invention will be described below with reference to the drawings.

先ず、図1に於いて、半導体製造装置に具備される処理炉の一例を説明する。   First, referring to FIG. 1, an example of a processing furnace provided in a semiconductor manufacturing apparatus will be described.

処理炉1は予備室10の上方に立設され、該予備室10の内部と前記処理炉1の内部(処理室7)とは連通され、該処理炉1は下端に形成される炉口部が炉口シャッタ(図示せず)、或はシール蓋13によって気密に閉塞される様になっている。   The processing furnace 1 is erected above the preliminary chamber 10, the interior of the preliminary chamber 10 and the interior of the processing furnace 1 (processing chamber 7) are communicated, and the processing furnace 1 is a furnace port formed at the lower end. Is hermetically closed by a furnace port shutter (not shown) or a seal lid 13.

前記処理室7には基板保持具であるボート8が収納され、該ボート8には被処理基板であるウェーハ35が水平姿勢で多段に保持される。前記予備室10の内部には、該予備室10と前記処理室7間での基板保持具搬送装置であるボートエレベータ26が設けられ、該ボートエレベータ26からは基板保治具の支持体である昇降アーム30が水平方向に延出している。前記ボート8は前記シール蓋13を介して前記昇降アーム30に支持され、前記ボートエレベータ26により前記昇降アーム30が昇降されることで、前記ボート8が前記処理室7に装脱される様になっている。   A boat 8 as a substrate holder is accommodated in the processing chamber 7, and wafers 35 as substrates to be processed are held in a plurality of stages in a horizontal posture in the boat 8. Inside the preliminary chamber 10, a boat elevator 26, which is a substrate holder transfer device between the preliminary chamber 10 and the processing chamber 7, is provided. From the boat elevator 26, a lift that is a support for a substrate holding jig is provided. The arm 30 extends in the horizontal direction. The boat 8 is supported by the lift arm 30 via the seal lid 13, and the boat 8 is lifted and lowered by the boat elevator 26, so that the boat 8 is attached to and detached from the processing chamber 7. It has become.

前記処理炉1は、加熱機構としてのヒータ2を有する。該ヒータ2は円筒形状であり、保持板としてのヒータベース3に支持されることにより垂直に据付けられている。   The processing furnace 1 has a heater 2 as a heating mechanism. The heater 2 has a cylindrical shape and is vertically installed by being supported by a heater base 3 as a holding plate.

前記ヒータ2の内側には、該ヒータ2と同心円に反応管としてのプロセスチューブ4が配設されている。該プロセスチューブ4は内部反応管としてのインナチューブ5と、その外側に設けられた外部反応管としてのアウタチューブ6とから構成されている。前記インナチューブ5は、例えば石英(SiO2 )又は炭化シリコン(SiC)等の耐熱性材料からなり、上端及び下端が開口した円筒形状である。前記インナチューブ5の内側には処理室7が画成されており、該処理室7にボート8が装入される。   Inside the heater 2, a process tube 4 as a reaction tube is disposed concentrically with the heater 2. The process tube 4 is composed of an inner tube 5 as an internal reaction tube and an outer tube 6 as an external reaction tube provided outside thereof. The inner tube 5 is made of a heat-resistant material such as quartz (SiO2) or silicon carbide (SiC), and has a cylindrical shape with upper and lower ends opened. A processing chamber 7 is defined inside the inner tube 5, and a boat 8 is loaded into the processing chamber 7.

前記アウタチューブ6は、例えば石英又は炭化シリコン等の耐熱性材料からなり、内径が前記インナチューブ5の外径よりも大きく上端が閉塞し、下端が開口した円筒形状に形成されており、前記インナチューブ5と同心円状に設けられている。該インナチューブ5と前記アウタチューブ6との間には筒状空間9が形成される。   The outer tube 6 is made of a heat-resistant material such as quartz or silicon carbide, and has an inner diameter larger than the outer diameter of the inner tube 5 and has a cylindrical shape with an upper end closed and a lower end opened. It is provided concentrically with the tube 5. A cylindrical space 9 is formed between the inner tube 5 and the outer tube 6.

前記アウタチューブ6の下方には、該アウタチューブ6と同心円状にマニホールド11が配設され、該マニホールド11は、例えばステンレス等からなり、前記インナチューブ5、前記アウタチューブ6は前記マニホールド11によって支持されている。   Below the outer tube 6, a manifold 11 is disposed concentrically with the outer tube 6. The manifold 11 is made of, for example, stainless steel, and the inner tube 5 and the outer tube 6 are supported by the manifold 11. Has been.

尚、該マニホールド11と前記アウタチューブ6との間にはシール部材としてのOリング12が設けられている。前記マニホールド11が前記ヒータベース3に支持されることにより、前記プロセスチューブ4は垂直に据付けられた状態となっている。該プロセスチューブ4と前記マニホールド11により反応容器が形成され、該マニホールド11の下端開口部は炉口部を形成し、該炉口部は前記シール蓋13によって気密に閉塞される様になっている。   An O-ring 12 as a seal member is provided between the manifold 11 and the outer tube 6. The manifold 11 is supported by the heater base 3 so that the process tube 4 is installed vertically. A reaction vessel is formed by the process tube 4 and the manifold 11, the lower end opening of the manifold 11 forms a furnace port, and the furnace port is hermetically closed by the seal lid 13. .

該シール蓋13にはガス導入部としてのノズル14が前記処理室7内に連通する様に接続されており、前記ノズル14にはガス供給管15が接続されている。該ガス供給管15の上流側には、ガス流量調整器(マスフローコントローラ)16を介して図示しない処理ガス供給源や不活性ガス供給源が接続されている。前記ガス流量調整器16にはガス流量制御部17が電気的に接続されており、供給するガスの流量が所望の量となる様所望のタイミングにて制御する様に構成されている。   A nozzle 14 as a gas introduction part is connected to the seal lid 13 so as to communicate with the inside of the processing chamber 7, and a gas supply pipe 15 is connected to the nozzle 14. A processing gas supply source and an inert gas supply source (not shown) are connected to the upstream side of the gas supply pipe 15 via a gas flow rate regulator (mass flow controller) 16. A gas flow rate controller 17 is electrically connected to the gas flow rate regulator 16 and is configured to control at a desired timing so that the flow rate of the supplied gas becomes a desired amount.

前記マニホールド11には、前記処理室7内の雰囲気を排気する排気管18が連通されている。該排気管18は、前記筒状空間9の下端部に連通している。   An exhaust pipe 18 that exhausts the atmosphere in the processing chamber 7 communicates with the manifold 11. The exhaust pipe 18 communicates with the lower end portion of the cylindrical space 9.

前記排気管18には下流側に向って圧力検出器としての圧力センサ19及び弁装置20が設けられ、前記排気管18は真空ポンプ等の真空排気装置21に接続されている。   The exhaust pipe 18 is provided with a pressure sensor 19 and a valve device 20 as a pressure detector toward the downstream side, and the exhaust pipe 18 is connected to a vacuum exhaust device 21 such as a vacuum pump.

前記弁装置20及び前記圧力センサ19には、圧力制御部22が電気的に接続されており、該圧力制御部22は前記圧力センサ19により検出された圧力に基づいて前記弁装置20により前記処理室7内の圧力が所望の圧力(真空度)となる様所望のタイミングにて制御する様に構成されている。   A pressure control unit 22 is electrically connected to the valve device 20 and the pressure sensor 19, and the pressure control unit 22 performs the processing by the valve device 20 based on the pressure detected by the pressure sensor 19. Control is performed at a desired timing so that the pressure in the chamber 7 becomes a desired pressure (degree of vacuum).

前記炉口部を開閉する前記シール蓋13は、例えばステンレス等の金属からなり、円盤状に形成されている。前記シール蓋13の上面には前記マニホールド11の下端と当接するシール部材としてのOリング23が設けられる。   The seal lid 13 that opens and closes the furnace port portion is made of a metal such as stainless steel and is formed in a disc shape. An O-ring 23 is provided on the upper surface of the seal lid 13 as a seal member that contacts the lower end of the manifold 11.

前記シール蓋13の下側には前記ボート8を回転させる回転機構24が設置されている。該回転機構24の回転軸25は前記シール蓋13を貫通して、前記ボート8に接続されており、該ボート8を回転可能となっている。   A rotating mechanism 24 that rotates the boat 8 is installed below the seal lid 13. A rotating shaft 25 of the rotating mechanism 24 passes through the seal lid 13 and is connected to the boat 8 so that the boat 8 can rotate.

前記シール蓋13は前記昇降アーム30により支持され、又該昇降アーム30は前記ボートエレベータ26に昇降可能に支持され、該ボートエレベータ26により前記昇降アーム30が昇降されることで、前記ボート8は前記処理室7に装入、装脱可能となっている。前記回転機構24及び前記ボートエレベータ26には駆動制御部27が電気的に接続されており、所望の動作をする様、所望のタイミングにて制御する様に構成されている。ここで、前記回転軸25、前記シール蓋13、前記昇降アーム30等はボート支持部を構成する。   The seal lid 13 is supported by the elevating arm 30, and the elevating arm 30 is supported by the boat elevator 26 so that the elevating arm 30 is raised and lowered by the boat elevator 26. The processing chamber 7 can be loaded and unloaded. A drive control unit 27 is electrically connected to the rotation mechanism 24 and the boat elevator 26, and is configured to control at a desired timing so as to perform a desired operation. Here, the rotating shaft 25, the seal lid 13, the lifting arm 30 and the like constitute a boat support portion.

前記ボート8は、例えば石英や炭化珪素等の耐熱性材料からなり、複数枚のウェーハ35を水平姿勢で且つ互いに中心を揃えた状態で整列させて多段に保持する様に構成されている。尚、前記ボート8の下部には、例えば石英や炭化珪素等の耐熱性材料からなる円板形状をした断熱部材としての断熱板28が水平姿勢で多段に複数枚配置された断熱部29を構成し、前記ヒータ2からの熱が前記マニホールド11側に伝わり難くなる様になっている。   The boat 8 is made of a heat-resistant material such as quartz or silicon carbide, and is configured to hold a plurality of wafers 35 in a horizontal posture and in a state where the centers are aligned with each other and held in multiple stages. In addition, at the lower part of the boat 8, a heat insulating portion 29 is configured in which a plurality of heat insulating plates 28 as a disk-shaped heat insulating member made of a heat resistant material such as quartz or silicon carbide are arranged in a horizontal posture in multiple stages. The heat from the heater 2 is not easily transmitted to the manifold 11 side.

前記プロセスチューブ4内には、温度センサ31が設置され、該温度センサ31及び前記ヒータ2には、温度制御部32が電気的に接続されており、前記温度センサ31により検出された温度情報に基づき前記ヒータ2への通電具合を調整することにより前記処理室7の温度が所望の温度分布となる様所望のタイミングにて制御する様に構成されている。   A temperature sensor 31 is installed in the process tube 4, and a temperature control unit 32 is electrically connected to the temperature sensor 31 and the heater 2, and the temperature information detected by the temperature sensor 31 is displayed. On the basis of this, by adjusting the energization condition to the heater 2, the temperature of the processing chamber 7 is controlled at a desired timing so as to have a desired temperature distribution.

前記ガス流量制御部17、前記圧力制御部22、前記駆動制御部27、前記温度制御部32及び図示しない操作部、入出力部は、基板処理装置全体を制御する主制御装置33に電気的に接続されている。   The gas flow rate control unit 17, the pressure control unit 22, the drive control unit 27, the temperature control unit 32, an operation unit (not shown), and an input / output unit are electrically connected to a main controller 33 that controls the entire substrate processing apparatus. It is connected.

次に、上記構成に係る前記処理炉1を用いて、半導体デバイスの製造工程の1工程として、CVD法によりウェーハ35上に薄膜を生成する方法について説明する。尚、以下の説明に於いて、基板処理装置を構成する各部の動作は前記主制御装置33により制御される。   Next, a method of forming a thin film on the wafer 35 by the CVD method as one step of the semiconductor device manufacturing process using the processing furnace 1 having the above configuration will be described. In the following description, the operation of each part constituting the substrate processing apparatus is controlled by the main controller 33.

所定枚数のウェーハ35が前記ボート8に装填されると、該ボート8は、前記ボートエレベータ26によって前記処理室7に装入(ボートローディング)される。この状態では、前記シール蓋13は前記Oリング23を介して炉口部を気密に閉塞する。   When a predetermined number of wafers 35 are loaded into the boat 8, the boat 8 is loaded into the processing chamber 7 by the boat elevator 26 (boat loading). In this state, the seal lid 13 hermetically closes the furnace port portion via the O-ring 23.

前記処理室7が所望の圧力(真空度)となる様に前記真空排気装置21によって真空排気される。この際、前記処理室7の圧力は、前記圧力センサ19で測定され、この測定された圧力に基づき前記圧力制御部22が、前記弁装置20をフィードバック制御する。   The processing chamber 7 is evacuated by the evacuation device 21 so as to have a desired pressure (degree of vacuum). At this time, the pressure in the processing chamber 7 is measured by the pressure sensor 19, and the pressure control unit 22 feedback-controls the valve device 20 based on the measured pressure.

又、前記処理室7が所望の温度となる様に前記ヒータ2によって加熱される。この際、前記処理室7が所望の温度分布となる様に前記温度センサ31が検出した温度情報に基づき前記ヒータ2への通電具合がフィードバック制御される。続いて、前記回転機構24により、前記ボート8が回転され、同時にウェーハ35が回転される。   Further, the processing chamber 7 is heated by the heater 2 so as to reach a desired temperature. At this time, the power supply to the heater 2 is feedback-controlled based on the temperature information detected by the temperature sensor 31 so that the processing chamber 7 has a desired temperature distribution. Subsequently, the boat 8 is rotated by the rotating mechanism 24 and the wafer 35 is simultaneously rotated.

次いで、図示しない処理ガス供給源から処理ガスが供給され、前記ガス流量調整器16にて所望の流量となる様に制御されたガスは、前記ガス供給管15を流通して前記ノズル14から前記処理室7に導入される。導入されたガスは前記処理室7を上昇し、前記インナチューブ5の上端開口を折返し、前記筒状空間9を流下して前記排気管18から排気される。ガスは前記処理室7を通過する際にウェーハ35の表面と接触し、この際に熱CVD反応によってウェーハ35の表面上に薄膜が堆積される。   Next, a processing gas is supplied from a processing gas supply source (not shown), and the gas controlled to have a desired flow rate by the gas flow rate regulator 16 is circulated through the gas supply pipe 15 from the nozzle 14. It is introduced into the processing chamber 7. The introduced gas rises in the processing chamber 7, turns over the upper end opening of the inner tube 5, flows down the cylindrical space 9, and is exhausted from the exhaust pipe 18. The gas contacts the surface of the wafer 35 as it passes through the processing chamber 7, and at this time, a thin film is deposited on the surface of the wafer 35 by a thermal CVD reaction.

予め設定された処理時間が経過すると、図示しない不活性ガス供給源から不活性ガスが供給され、前記処理室7が不活性ガスに置換されると、前記弁装置20が閉塞され、前記処理室7の圧力が常圧に復帰される。   When a preset processing time has passed, an inert gas is supplied from an inert gas supply source (not shown), and when the processing chamber 7 is replaced with an inert gas, the valve device 20 is closed, and the processing chamber The pressure of 7 is returned to normal pressure.

その後、前記ボートエレベータ26により前記シール蓋13が降下され、炉口部が開口されると共に、処理済ウェーハ35が前記ボート8に保持された状態で前記処理室7から引出される。その後、処理済ウェーハ35は図示しない基板移載装置によって前記ボート8から払出される。   Thereafter, the seal lid 13 is lowered by the boat elevator 26 to open the furnace opening, and the processed wafer 35 is pulled out of the processing chamber 7 while being held by the boat 8. Thereafter, the processed wafer 35 is discharged from the boat 8 by a substrate transfer device (not shown).

基板処理を繰返し実行した後、堆積物除去の為に、前記プロセスチューブ4、前記インナチューブ5、前記ボート8に付着生成した堆積物の清浄作業が行われる。   After the substrate processing is repeatedly performed, the deposits deposited on the process tube 4, the inner tube 5, and the boat 8 are cleaned to remove the deposits.

清浄作業に伴う、前記プロセスチューブ4、前記インナチューブ5、前記ボート8の着脱については、反応管着脱用台車、基板保持具装着治具が使用される。   For the attachment / detachment of the process tube 4, the inner tube 5, and the boat 8 accompanying the cleaning operation, a reaction tube attachment / detachment carriage and a substrate holder attachment jig are used.

先ず、図2に於いて、反応管着脱用台車38、基板保持具装着治具39について概略を説明する。   First, referring to FIG. 2, the reaction tube attaching / detaching carriage 38 and the substrate holder mounting jig 39 will be outlined.

図2中、41は半導体製造装置であり、42は架体を示している。該架体42は前記半導体製造装置41の底部に所要高さ、所要幅の空間43を形成する様に構成されている。   In FIG. 2, reference numeral 41 denotes a semiconductor manufacturing apparatus, and 42 denotes a frame. The frame 42 is configured to form a space 43 having a required height and a required width at the bottom of the semiconductor manufacturing apparatus 41.

前記反応管着脱用台車38は、主フレーム44、該主フレーム44から床面に沿って延出する支持脚45、前記主フレーム44の上面に取付けられ、床面と平行に、即ち水平に延出する反応管支持テーブル46を具備している。該反応管支持テーブル46は前記支持脚45の上方に片持支持されている。   The reaction tube attachment / detachment carriage 38 is attached to a main frame 44, a support leg 45 extending from the main frame 44 along the floor surface, and attached to the upper surface of the main frame 44, and extends parallel to the floor surface, that is, horizontally. A reaction tube support table 46 is provided. The reaction tube support table 46 is cantilevered above the support leg 45.

該支持脚45の先端には小径の車輪47、前記主フレーム44の下面には大径の車輪48が設けられ、前記反応管着脱用台車38は走行自在となっている。前記支持脚45は前記空間43に進入可能であり、又前記反応管支持テーブル46は半導体製造装置41の内部に進入可能である。尚、図2中、49は把手である。   A small-diameter wheel 47 is provided at the distal end of the support leg 45, and a large-diameter wheel 48 is provided on the lower surface of the main frame 44, so that the reaction tube attaching / detaching carriage 38 can run freely. The support leg 45 can enter the space 43, and the reaction tube support table 46 can enter the semiconductor manufacturing apparatus 41. In FIG. 2, 49 is a handle.

前記支持脚45が前記空間43に進入する様に前記反応管着脱用台車38を進めると、前記反応管着脱用台車38に支持された前記反応管支持テーブル46も前記半導体製造装置41内に進入し、前記処理炉1の直下に位置することができる。従って、前記プロセスチューブ4、前記インナチューブ5を前記反応管支持テーブル46上に載置することができる(特許文献1参照)。   When the reaction tube attachment / detachment carriage 38 is advanced so that the support leg 45 enters the space 43, the reaction tube support table 46 supported by the reaction tube attachment / detachment carriage 38 also enters the semiconductor manufacturing apparatus 41. However, it can be located directly under the processing furnace 1. Therefore, the process tube 4 and the inner tube 5 can be placed on the reaction tube support table 46 (see Patent Document 1).

本発明では、前記反応管支持テーブル46に前記基板保持具装着治具39を着脱可能とし、該基板保持具装着治具39を前記反応管支持テーブル46に取付けることで、前記ボート8の着脱を可能としている。   In the present invention, the substrate holder mounting jig 39 can be attached to and detached from the reaction tube support table 46, and the boat 8 can be attached and detached by attaching the substrate holder mounting jig 39 to the reaction tube support table 46. It is possible.

図3〜図6に於いて、前記基板保持具装着治具39について説明する。   The substrate holder mounting jig 39 will be described with reference to FIGS.

前記支持脚45は、2股フォーク状となっており、前記昇降アーム30が降下した場合に前記回転機構24等、ボートエレベータ26の部材と干渉しない様になっている。前記反応管支持テーブル46には、U字形の欠切部51が形成され、該欠切部51は前記プロセスチューブ4、前記インナチューブ5が自在に進退可能な大きさとなっている。   The support leg 45 has a bifurcated fork shape so that it does not interfere with members of the boat elevator 26 such as the rotating mechanism 24 when the elevating arm 30 is lowered. The reaction tube support table 46 is formed with a U-shaped notch 51, and the notch 51 has a size that allows the process tube 4 and the inner tube 5 to freely advance and retract.

前記反応管支持テーブル46に前記基板保持具装着治具39が取付けられる。前記反応管支持テーブル46は移動可能な前記反応管着脱用台車38の一部であり、又前記基板保持具装着治具39を支持する支持部となっている。   The substrate holder mounting jig 39 is attached to the reaction tube support table 46. The reaction tube support table 46 is a part of the movable reaction tube attaching / detaching carriage 38 and is a support portion for supporting the substrate holder mounting jig 39.

前記基板保持具装着治具39は、主に前記反応管支持テーブル46に取付けられる治具ベース52、ボート8を支持する基板保持具支持テーブル53、該基板保持具支持テーブル53を前記反応管支持テーブル46に対して所定の高さに支持する支持脚柱54、前記基板保持具支持テーブル53に設けられた転倒防止具55から主に構成される。   The substrate holder mounting jig 39 mainly supports a jig base 52 attached to the reaction tube support table 46, a substrate holder support table 53 for supporting the boat 8, and the substrate holder support table 53 for supporting the reaction tube. The table 46 mainly includes a support leg 54 that supports the table 46 at a predetermined height, and a fall prevention tool 55 provided on the substrate holder support table 53.

前記治具ベース52には前記欠切部51と同心で、同形状或は同形状の欠切部56が形成されている。前記治具ベース52に前記支持脚柱54が立設され、更に該支持脚柱54の上端に前記基板保持具支持テーブル53が取付けられる。   The jig base 52 is concentric with the notch 51 and has the same shape or the same notch 56. The support leg 54 is erected on the jig base 52, and the substrate holder support table 53 is attached to the upper end of the support leg 54.

該基板保持具支持テーブル53はリング形状の一部が欠切され前記欠切部56と同様の形状となっており、該基板保持具支持テーブル53の断面は、内縁上部が矩形に切除されたL形状となっており、切除部には保持具受け57が内嵌し、固定されている。該保持具受け57は前記基板保持具支持テーブル53と相似形状で、リングの一部が欠切された形状であり、材質にはフッ素樹脂等非金属材料が用いられ、前記ボート8との接触で該ボート8が損傷しない様な保護材質となっている。   The substrate holder support table 53 is partially cut out in a ring shape and has the same shape as the notch 56. The cross section of the substrate holder support table 53 has a rectangular inner edge cut out. It has an L shape, and a holder receiver 57 is fitted and fixed to the cut portion. The holder receiver 57 has a shape similar to that of the substrate holder support table 53 and a part of the ring is cut off. A non-metallic material such as a fluororesin is used as the material, and the holder 8 is in contact with the boat 8. Therefore, the boat 8 is made of a protective material so as not to be damaged.

前記保持具受け57の断面も前記基板保持具支持テーブル53と同様にL形状となっており、前記保持具受け57の切除部59は後述する様に、前記ボート8のフランジ周縁を支持する段差面58を有している(図5参照)。前記保持具受け57の前記切除部59に臨接する内縁上部は面取61され、前記ボート8のフランジが前記切除部59に嵌脱する場合のガイドとなっている。又、前記保持具受け57の上端は、前記基板保持具支持テーブル53の上面より上方に突出し、前記保持具受け57の内縁は前記基板保持具支持テーブル53の内縁よりも中心側に突出し、前記ボート8のフランジが直接、金属製の前記基板保持具支持テーブル53に接触しない様になっている。   The cross section of the holder receiver 57 is also L-shaped like the substrate holder support table 53, and the cut portion 59 of the holder receiver 57 is a step that supports the flange periphery of the boat 8 as will be described later. It has a surface 58 (see FIG. 5). The upper part of the inner edge adjacent to the cut portion 59 of the holder receiver 57 is chamfered 61, and serves as a guide when the flange of the boat 8 is fitted to and detached from the cut portion 59. The upper end of the holder holder 57 protrudes upward from the upper surface of the substrate holder support table 53, the inner edge of the holder holder 57 protrudes to the center side from the inner edge of the substrate holder support table 53, and The flange of the boat 8 does not directly contact the metal substrate holder support table 53.

前記基板保持具支持テーブル53の上面にザグリ部53aが円弧に沿って等間隔で所要数設けられている。ザグリ部53aには、前記転倒防止具55が円弧に沿って等間隔で所要数(図示では4個)設けられている。ザグリ部53aにより、転倒防止具55は位置決めされる。前記転倒防止具55は、前記基板保持具支持テーブル53の進行方向手前側(把手49がある側)のみに設けられている。これにより、基板処理装置内という内部の幅が小さく、メンテナンスしにくい空間内であっても、装置外から作業者が容易に転倒防止具55にアクセスすることができる。   On the upper surface of the substrate holder support table 53, a required number of counterbore portions 53a are provided at equal intervals along an arc. The counterbore part 53a is provided with a required number (four in the figure) of the overturn prevention tools 55 at equal intervals along the arc. The fall prevention tool 55 is positioned by the counterbore 53a. The fall prevention tool 55 is provided only on the front side of the substrate holder support table 53 in the traveling direction (the side with the handle 49). Thereby, even within the space where the inside width of the substrate processing apparatus is small and maintenance is difficult, the operator can easily access the fall prevention tool 55 from outside the apparatus.

該転倒防止具55は、前記ボート8との接触で該ボート8が損傷しない様フッ素樹脂等の非金属材料が用いられる。前記転倒防止具55は、ローレットボルト62によって前記基板保持具支持テーブル53に取付けられ、前記ローレットボルト62を緩めることで、前記転倒防止具55が回転可能となる。又該転倒防止具55の先端部下面は、前記基板保持具支持テーブル53の上面と所定の間隔を形成する様に切除されている。又ボート8が前記基板保持具支持テーブル53の上面に支持された際に、該転倒防止具55の先端部下面は、ボート8底板64の上面との間に隙間S(図6参照)が形成されるように構成されている。この隙間の存在により、前記基板保持具支持テーブル53に載置されたボート8を反応管着脱用台車38にて搬送しても前記基板保持具支持テーブル53とボート8底面との間、前記転倒防止具55とボート8底板64上面との間のこすれの問題を抑制することができる。尚、前記ローレットボルト62は、紛失を防止する為、抜け止螺子が使用されることが好ましい。   The tipping prevention tool 55 is made of a non-metallic material such as fluororesin so that the boat 8 is not damaged by contact with the boat 8. The fall prevention tool 55 is attached to the substrate holder support table 53 by a knurled bolt 62, and the fall prevention tool 55 can be rotated by loosening the knurled bolt 62. Further, the lower surface of the tip of the tipping prevention tool 55 is cut out so as to form a predetermined distance from the upper surface of the substrate holder support table 53. Further, when the boat 8 is supported on the upper surface of the substrate holder support table 53, a gap S (see FIG. 6) is formed between the lower surface of the tip of the tipping prevention device 55 and the upper surface of the boat 8 bottom plate 64. It is configured to be. Due to the existence of this gap, even if the boat 8 placed on the substrate holder support table 53 is transported by the reaction tube attachment / detachment carriage 38, the fall between the substrate holder support table 53 and the bottom surface of the boat 8 occurs. The problem of rubbing between the prevention tool 55 and the upper surface of the boat 8 bottom plate 64 can be suppressed. The knurled bolt 62 preferably uses a retaining screw in order to prevent loss.

次に、前記基板保持具装着治具39に支持されるボート8について概略を説明する。   Next, an outline of the boat 8 supported by the substrate holder mounting jig 39 will be described.

該ボート8はウェーハ35を保持する基板保持部63と、該基板保持部63の下方に位置し、炉口部からの放熱を抑制する断熱部29から構成されており、前記ウェーハ35には断熱板28が所要枚数装填されている。   The boat 8 includes a substrate holding portion 63 that holds the wafer 35 and a heat insulating portion 29 that is positioned below the substrate holding portion 63 and suppresses heat radiation from the furnace opening. The required number of plates 28 is loaded.

又、前記ボート8は前記基板保持部63と前記断熱部29が一体に構成されたものと、前記基板保持部63と前記断熱部29とが分離された構成のものとがあり、図1に示すボート8は、前記基板保持部63と前記断熱部29が一体構造のものであり、一体構造のものでは、前記ボート8が前記シール蓋13に支持される。   The boat 8 includes a structure in which the substrate holding portion 63 and the heat insulating portion 29 are integrally formed, and a boat 8 in which the substrate holding portion 63 and the heat insulating portion 29 are separated. In the illustrated boat 8, the substrate holding portion 63 and the heat insulating portion 29 are integrally structured. In the integrally structured structure, the boat 8 is supported by the seal lid 13.

又、図2に示すボート8は前記断熱部29が別構造である場合を示している。分離構造の前記ボート8では、該ボート8が前記断熱部29に載置され、該断熱部29を介して前記シール蓋13に支持される。前記ボート8は下端に底板64を有し、該底板64の外径は、前記断熱部29の上端の外径より大きく、前記底板64の周縁が外側に張出している。   Moreover, the boat 8 shown in FIG. 2 has shown the case where the said heat insulation part 29 is another structure. In the boat 8 having the separation structure, the boat 8 is placed on the heat insulating portion 29 and supported by the seal lid 13 through the heat insulating portion 29. The boat 8 has a bottom plate 64 at the lower end. The outer diameter of the bottom plate 64 is larger than the outer diameter of the upper end of the heat insulating portion 29, and the periphery of the bottom plate 64 projects outward.

先ず、図2に示される分離構成の前記ボート8の着脱に、本発明の前記基板保持具装着治具39が実施された場合を説明する。尚、前記支持脚柱54の高さは、前記断熱部29の高さに対応して設定されている。   First, the case where the substrate holder mounting jig 39 of the present invention is implemented in the mounting and detaching of the boat 8 having the separation configuration shown in FIG. 2 will be described. Note that the height of the support leg 54 is set corresponding to the height of the heat insulating portion 29.

前記ボートエレベータ26により、前記昇降アーム30を前記予備室10に降下させ、前記ボート8を降下状態とする。   The boat elevator 26 lowers the elevating arm 30 to the preliminary chamber 10 to bring the boat 8 into a lowered state.

前記反応管着脱用台車38を前記半導体製造装置41内に進入させ、前記欠切部51、前記欠切部56の中心が前記処理炉1の中心と合致する様に位置決めする。この時、前記転倒防止具55は先端部が外側となる様に回転されている。   The reaction tube attaching / detaching carriage 38 is inserted into the semiconductor manufacturing apparatus 41 and positioned so that the centers of the notch 51 and the notch 56 coincide with the center of the processing furnace 1. At this time, the fall prevention tool 55 is rotated so that the tip portion is on the outside.

又、前記反応管着脱用台車38が進入する際の、前記基板保持具支持テーブル53と前記底板64の上下位置関係は、図5に示される様に前記底板64の下面が前記保持具受け57の上端より上方に位置する様に設定される。尚、上下位置の設定は、前記ボートエレベータ26による前記昇降アーム30の上下位置の調整により行われる。   Further, when the reaction tube attaching / detaching carriage 38 enters, the vertical positional relationship between the substrate holder supporting table 53 and the bottom plate 64 is such that the lower surface of the bottom plate 64 is placed on the holder receiver 57 as shown in FIG. It is set so as to be located above the upper end of. The vertical position is set by adjusting the vertical position of the lift arm 30 by the boat elevator 26.

更に、前記保持具受け57の内径D1、前記断熱部29上端の外径D2、前記底板64の外径D3の関係は、D2<D1<D3の関係となっている。   Further, the relationship between the inner diameter D1 of the holder receiver 57, the outer diameter D2 of the upper end of the heat insulating portion 29, and the outer diameter D3 of the bottom plate 64 is D2 <D1 <D3.

前記基板保持部63は前記欠切部51、前記欠切部56に進入し、前記反応管支持テーブル46、前記治具ベース52と干渉することはない。   The substrate holding part 63 enters the notch 51 and the notch 56 and does not interfere with the reaction tube support table 46 and the jig base 52.

前記ボートエレベータ26により前記昇降アーム30を所定量下降させる。前記切除部59に前記底板64が嵌合し、更に前記保持具受け57に前記基板保持部63が支持された状態で持上げられる。前記底板64が前記断熱部29の上端より離反する。概して、前記基板保持部63は前記保持具受け57に支持され、前記基板保持部63は前記断熱部29から切離される。   The boat elevator 26 lowers the lifting arm 30 by a predetermined amount. The bottom plate 64 is fitted to the cut portion 59 and is further lifted in a state where the substrate holder 63 is supported by the holder receiver 57. The bottom plate 64 is separated from the upper end of the heat insulating portion 29. In general, the substrate holding part 63 is supported by the holder receiver 57, and the substrate holding part 63 is separated from the heat insulating part 29.

前記転倒防止具55を回転させ、前記底板64を前記転倒防止具55と前記保持具受け57間で挾持し、前記ローレットボルト62を締込み固定する。各前記転倒防止具55で前記底板64を固定することで、前記ボート8の転倒が防止される(図6参照)。   The fall prevention tool 55 is rotated, the bottom plate 64 is clamped between the fall prevention tool 55 and the holder receiver 57, and the knurled bolt 62 is fastened and fixed. By fixing the bottom plate 64 with each of the overturn prevention tools 55, the boat 8 is prevented from overturning (see FIG. 6).

尚、前記断熱部29の着脱については、適宜作業者による人手で行われる。該断熱部29については、小型軽量であり、作業者の負担は少ない。   In addition, attachment / detachment of the heat insulating portion 29 is appropriately performed manually by an operator. About this heat insulation part 29, it is small and lightweight, and there is little burden on an operator.

次に、前記反応管着脱用台車38を後退させることで、基板保持部63即ち前記ボート8を前記半導体製造装置41から取出すことができる。この前記反応管着脱用台車38を後退させる際に振動等があった場合でも、前記ボート8は前記転倒防止具55により、前記基板保持具支持テーブル53に固定されているので転倒が防止される。   Next, the substrate holding part 63, that is, the boat 8 can be taken out from the semiconductor manufacturing apparatus 41 by retracting the reaction tube attaching / detaching carriage 38. Even if there is vibration or the like when the reaction tube attaching / detaching carriage 38 is moved backward, the boat 8 is fixed to the substrate holder supporting table 53 by the tipping prevention tool 55, so that the tipping is prevented. .

前記ボート8の装着時の搬入については、上記搬出時の逆の手順で行われる。   Carrying in when the boat 8 is mounted is performed in the reverse procedure of the carrying out.

次に、ボート8が図1に見られる様に、基板保持部63と断熱部29とが一体構造であった場合、前記基板保持具装着治具39は、前記支持脚柱54が取外され、前記基板保持具支持テーブル53が前記治具ベース52に或は前記反応管支持テーブル46に直接取付けられる。   Next, as shown in FIG. 1, when the substrate holding portion 63 and the heat insulating portion 29 are integrated, the substrate holder mounting jig 39 has the support leg 54 removed. The substrate holder support table 53 is directly attached to the jig base 52 or the reaction tube support table 46.

例えば、前記基板保持具支持テーブル53が前記反応管支持テーブル46に直接固定され、前記基板保持具支持テーブル53に前記保持具受け57、前記転倒防止具55がそれぞれ取付けられる。   For example, the substrate holder support table 53 is directly fixed to the reaction tube support table 46, and the holder receiver 57 and the overturn prevention tool 55 are attached to the substrate holder support table 53, respectively.

前記ボート8を取外す場合は、前記反応管支持テーブル46が前記ボート8の底板64とシール蓋13との間に挿入され、前記ボート8の前記底板64が前記保持具受け57と嵌合し、ボートエレベータ26により、前記ボート8を降下させることで、該ボート8は前記保持具受け57に支持される。前記転倒防止具55により、前記ボート8の前記底板64を固定することで転倒が防止される。前記ボート8とシール蓋13とを切離せば、前記反応管着脱用台車38を後退させることで、一体型の前記ボート8を半導体製造装置41の外部に搬出することができる。   When removing the boat 8, the reaction tube support table 46 is inserted between the bottom plate 64 of the boat 8 and the seal lid 13, and the bottom plate 64 of the boat 8 is fitted with the holder receiver 57. The boat 8 is supported by the holder receiver 57 by lowering the boat 8 by the boat elevator 26. The fall prevention tool 55 prevents the fall by fixing the bottom plate 64 of the boat 8. When the boat 8 and the seal lid 13 are separated from each other, the integrated boat 8 can be carried out of the semiconductor manufacturing apparatus 41 by retracting the reaction tube attaching / detaching carriage 38.

図7は他の実施の形態を示している。   FIG. 7 shows another embodiment.

転倒防止具55にローレットボルト62の貫通孔と同心に、有底のスプリング収納穴65を穿設し、該スプリング収納穴65内にコイルスプリング66を圧縮状態で嵌入する。バネ抑え67を介して前記ローレットボルト62を基板保持具支持テーブル53に螺着する。尚、前記バネ抑え67と前記転倒防止具55の上面とは所要の間隙を残置させる。   A bottomed spring storage hole 65 is formed in the fall prevention tool 55 concentrically with the through hole of the knurled bolt 62, and the coil spring 66 is fitted into the spring storage hole 65 in a compressed state. The knurled bolt 62 is screwed to the substrate holder support table 53 through a spring retainer 67. It should be noted that a necessary gap is left between the spring retainer 67 and the top surface of the overturn prevention tool 55.

該転倒防止具55の底板64に対する押付け力は前記コイルスプリング66の付勢力であり、ボート8が傾く等して前記転倒防止具55に上方への力が作用した場合、前記コイルスプリング66が撓んで前記転倒防止具55が上方に逃げ、前記底板64に過度の荷重が作用することを防止する。   The pressing force of the toppling prevention tool 55 against the bottom plate 64 is the urging force of the coil spring 66, and when the upward force is applied to the toppling prevention tool 55 by tilting the boat 8 or the like, the coil spring 66 is bent. Thus, the fall prevention tool 55 escapes upward and prevents an excessive load from acting on the bottom plate 64.

又、前記転倒防止具55が上下方向に変位可能であるので、微調整がし易くなり、又目視にて容易に変位状態を認識し易くなり、ボートエレベータ26による前記ボート8の上下方向の位置合わせ作業がやり易くなる。   Further, since the overturn prevention tool 55 can be displaced in the vertical direction, it is easy to make fine adjustments, and it is easy to visually recognize the displacement state, and the boat elevator 26 positions the boat 8 in the vertical direction. Matching work becomes easier.

尚、前記コイルスプリング66は、前記転倒防止具55を前記底板64に押圧する押圧部材であり、押圧部材としてはコイルスプリングの代りに、皿バネを複数枚重ねたものであってもよく、或はゴム等の高弾性体を用いてもよい。   The coil spring 66 is a pressing member that presses the fall prevention tool 55 against the bottom plate 64. The pressing member may be a stack of a plurality of disc springs instead of the coil spring. May be a highly elastic material such as rubber.

(付記)
又、本発明は以下の実施の態様を含む。
(Appendix)
The present invention includes the following embodiments.

(付記1)基板保持具の周縁を基板保持具支持テーブルで支持しつつ、該基板保持具支持テーブルに設けられた転倒防止具が前記基板保持具の転倒するのを防止した状態で、前記基板保持具支持テーブルを支持する支持部を移動させる工程と、前記基板支持具テーブルから前記基板保持具の底面中央部を支持する支持体に前記基板保持具を乗替える工程と、前記支持体に支持された前記基板保持具に基板を装着して、処理室内に搬送し、基板を処理する工程とを有することを特徴とする半導体装置の製造方法。   (Supplementary Note 1) While supporting the periphery of the substrate holder with the substrate holder support table, the substrate holder is prevented from being overturned by the tipping prevention tool provided on the substrate holder support table. A step of moving a support portion that supports the holder support table, a step of transferring the substrate holder from the substrate support table to a support that supports a bottom center portion of the substrate holder, and a support that supports the support Mounting the substrate on the substrate holder, transporting the substrate into a processing chamber, and processing the substrate.

(付記2)基板保持具の周縁を支持する基板保持具支持テーブルと、該基板保持具支持テーブルに設けられ、該基板保持具テーブルに載置された前記基板保持具が転倒するのを防止する転倒防止具と、前記基板保持具支持テーブルを支持し、移動自在にされた支持部とを有することを特徴とする基板保持具装着治具。   (Supplementary Note 2) A substrate holder support table that supports the periphery of the substrate holder, and the substrate holder that is provided on the substrate holder support table and prevents the substrate holder placed on the substrate holder table from falling over. A substrate holder mounting jig comprising a fall prevention tool and a support portion that supports the substrate holder support table and is movable.

(付記3)前記転倒防止具には、前記基板保持具の移動を規制する押圧部材が設けられている付記2の基板保持具装着治具。   (Additional remark 3) The board | substrate holder mounting jig of Additional remark 2 with which the said fall prevention tool is provided with the press member which regulates the movement of the said substrate holder.

(付記4)前記転倒防止具は、前記基盤保持具支持テーブルの欠切部の円弧に沿って複数設けられている付記2の基板保持具装着治具。   (Supplementary note 4) The substrate holder mounting jig according to supplementary note 2, wherein a plurality of the overturn prevention tools are provided along an arc of a notch portion of the base holder support table.

本発明が実施される半導体製造装置に用いられる処理炉の一例を示す断面図である。It is sectional drawing which shows an example of the processing furnace used for the semiconductor manufacturing apparatus with which this invention is implemented. 本発明に係る基板保持具装着治具の概略を示す側面図である。It is a side view which shows the outline of the board | substrate holder mounting jig which concerns on this invention. 該基板保持具装着治具の分解斜視図である。It is a disassembled perspective view of this board | substrate holder mounting jig. 該基板保持具装着治具の基板保持具支持テーブルを示す平面図である。It is a top view which shows the board | substrate holder support table of this board | substrate holder mounting jig. 本発明の要部を示し、転倒防止具にボートを固定していない状態を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the principal part of this invention and shows the state which has not fixed the boat to the fall prevention tool. 本発明の要部を示し、転倒防止具にボートを固定した状態を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the principal part of this invention and shows the state which fixed the boat to the fall prevention tool. 本発明の他の実施の形態の要部を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the principal part of other embodiment of this invention.

符号の説明Explanation of symbols

1 処理炉
8 ボート
13 シール蓋
26 ボートエレベータ
29 断熱部
30 昇降アーム
38 反応管着脱用台車
39 基板保持具装着治具
46 反応管支持テーブル
52 治具ベース
53 基板保持具支持テーブル
55 転倒防止具
56 欠切部
57 保持具受け
62 ローレットボルト
64 底板
66 コイルスプリング
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Processing furnace 8 Boat 13 Seal lid 26 Boat elevator 29 Heat insulation part 30 Lifting arm 38 Reaction tube attaching / detaching carriage 39 Substrate holder mounting jig 46 Reaction tube support table 52 Jig base 53 Substrate holder support table 55 Fall prevention tool 56 Notch 57 Retaining holder 62 Knurled bolt 64 Bottom plate 66 Coil spring

Claims (2)

基板保持具の周縁を支持する基板保持具支持テーブルと、該基板保持具支持テーブルに設けられ、該基板保持具支持テーブルに載置された前記基板保持具が転倒するのを防止する転倒防止具と、前記基板保持具支持テーブルを支持し、移動自在にされた支持部とを有することを特徴とする基板保持具装着治具。   A substrate holder support table that supports the peripheral edge of the substrate holder, and a tipping prevention tool that is provided on the substrate holder support table and prevents the substrate holder placed on the substrate holder support table from falling down And a substrate holder mounting jig that supports the substrate holder support table and is movable. 請求項1の前記基板保持具装着治具を用いる半導体製造装置であって、前記基板保持具に保持された基板を処理する処理室と、該処理室の下方に設けられる予備室と、前記基板保持具の底面中央部を支持する支持体と、前記予備室と前記処理室との間で前記基板保持具を前記支持体で支持しつつ搬送する搬送装置とを備えることを特徴とする半導体製造装置。   2. A semiconductor manufacturing apparatus using the substrate holder mounting jig according to claim 1, wherein a processing chamber for processing a substrate held by the substrate holder, a preliminary chamber provided below the processing chamber, and the substrate A semiconductor manufacturing method comprising: a support body that supports a bottom center portion of a holder; and a transfer device that transfers the substrate holder while being supported by the support body between the preliminary chamber and the processing chamber. apparatus.
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