JP5032766B2 - Substrate processing apparatus and maintenance method for substrate processing apparatus - Google Patents
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Description
本発明は、半導体ウエハやガラス基板等の基板の表面をエッチングしたり、表面に薄膜を形成したり、表面を改質したり等する基板処理装置と、このような基板処理装置をメンテナンスする基板処理装置のメンテナンス方法とに関する。 The present invention relates to a substrate processing apparatus that etches the surface of a substrate such as a semiconductor wafer or a glass substrate, forms a thin film on the surface, or modifies the surface, and a substrate that maintains such a substrate processing apparatus. The present invention relates to a maintenance method for a processing apparatus .
基板処理装置であって、重力方向下向きの開放部が形成された反応管と、この反応管の開放部を重力方向下方から支持しつつ、反応管に形成された開放部を塞ぐ炉口フランジと、反応管と炉口フランジとの間に配置されたシール部材とを有する技術が知られている。この技術では、反応管と炉口フランジとで囲まれる基板処理室に配置された部品を交換したり、基板処理室内を洗浄したり等のメンテナンスをする場合、反応管を持ち上げる等して、シール部材よりも上側に位置する部分とシール部材よりも下側に位置する部分に、基板処理装置を分解することが行われている。 A substrate processing apparatus, a reaction tube in which an opening portion downward in the gravitational direction is formed, and a furnace port flange that closes the opening portion formed in the reaction tube while supporting the opening portion of the reaction tube from below in the gravity direction A technique having a seal member disposed between a reaction tube and a furnace port flange is known. In this technique, when performing maintenance such as exchanging parts arranged in the substrate processing chamber surrounded by the reaction tube and the furnace port flange, or cleaning the substrate processing chamber, the reaction tube is lifted, etc. The substrate processing apparatus is disassembled into a portion located above the member and a portion located below the seal member.
しかしながら、従来の技術では、シール部材がシール部材よりも上側に位置する部分と、シール部材よりも下側に位置する部分とに付着してしまうことがあり、この場合、基板処理装置を分解する作業が困難であり、基板処理装置のメンテナンスが容易になしえないことがあるとの問題点があった。 However, in the conventional technique, the seal member may adhere to a portion located above the seal member and a portion located below the seal member. In this case, the substrate processing apparatus is disassembled. There is a problem that the work is difficult and the maintenance of the substrate processing apparatus may not be easily performed.
本発明は、上記問題点を解決し、メンテナンスを容易に行うことを可能とする基板処理装置及び基板処理装置のメンテナンス方法を提供することを目的とする。 It is an object of the present invention to provide a substrate processing apparatus and a substrate processing apparatus maintenance method that can solve the above-described problems and facilitate maintenance.
本発明の特徴とするところは、重力方向下向きの開放部が形成された反応管と、反応管固定リングを用いて前記反応管に固定されていて、前記反応管を重力方向下方から支持しつつ、前記開放部を塞ぐ炉口フランジと、前記反応管と前記炉口フランジとの間に配置されたシール部材と、前記シール部材への押圧力を調整する調整手段と、を有し、前記反応管は、前記シール部材よりも上側に位置する上側部分の少なくとも一部をなし、前記炉口フランジは、前記シール部材よりも下側に位置する下側部分の少なくとも一部をなし、前記調整手段は、先端部が突出可能な状態で前記上側部分及び前記下側部分の一方に螺合し、前記上側部分及び前記下側部分の他方を前記先端部で押圧するボルトを有することを特徴とする基板処理装置にある。また、本発明の特徴とするところは、重力方向下向きの開放部が形成された反応管と、反応管固定リングを用いて前記反応管に固定されていて、前記反応管を重力方向下方から支持しつつ、前記開放部を塞ぐ炉口フランジと、前記反応管と前記炉口フランジとの間に配置されたシール部材とを有し、前記反応管は、前記シール部材よりも上側に位置する上側部分の少なくとも一部をなし、前記炉口フランジは、前記シール部材よりも下側に位置する下側部分の少なくとも一部をなす基板処理装置のメンテナンス方法であって、前記上側部分及び前記下側部分の一方に先端部が突出可能な状態で螺合したボルトを回転させ、前記ボルトを重力方向に移動させることにより前記ボルトの先端部が前記上側部分及び前記下側部分の他方を押圧し、前記上側部分を前記下側部分から取り外すことを特徴とする基板処理装置のメンテナンス方法にある。したがって、調整手段でシール部材への押圧力を調整し、シール部材に加わる押圧力を弱めることで、シール部材よりも上側に位置する部分とシール部材よりも下側部分とに基板処理装置分解することが容易になる。 A feature of the present invention is that a reaction tube formed with an open portion downward in the direction of gravity is fixed to the reaction tube using a reaction tube fixing ring, and the reaction tube is supported from below in the direction of gravity. A reactor port flange that closes the open portion, a seal member disposed between the reaction tube and the furnace port flange, and an adjusting unit that adjusts a pressing force to the seal member, and the reaction The tube forms at least a part of an upper part located above the seal member, and the furnace port flange forms at least a part of a lower part located below the seal member, and the adjusting means Has a bolt that is screwed into one of the upper part and the lower part in a state in which the tip part can protrude and presses the other of the upper part and the lower part with the tip part. It is in the substrate processing apparatus. Further, the present invention is characterized in that a reaction tube having a downward opening in the direction of gravity is formed and a reaction tube fixing ring is used to fix the reaction tube from below in the direction of gravity. However, it has a furnace port flange that closes the open portion, and a seal member disposed between the reaction tube and the furnace port flange, and the reaction tube is located above the seal member. A maintenance method for a substrate processing apparatus, comprising at least a part of a part, wherein the furnace port flange forms at least a part of a lower part located below the seal member, the upper part and the lower part Rotate a bolt screwed in a state in which the tip part can protrude into one of the parts, and move the bolt in the direction of gravity, so that the tip part of the bolt presses the other of the upper part and the lower part, in front In maintenance method of a substrate processing apparatus, characterized by removing the upper portion from the lower portion. Therefore, the substrate processing apparatus is disassembled into a portion positioned above the seal member and a lower portion than the seal member by adjusting the pressing force to the seal member with the adjusting means and weakening the pressing force applied to the seal member. It becomes easy.
好適には、少なくとも前記反応管を含み前記シール部材よりも上側に位置する上側部分と、少なくとも前記炉口フランジを含み前記シール部材よりも下側に位置する下側部分とを有し、前記調整手段は、前記上側部分と前記下側部分とを離間させる離間手段からなる。したがって、離間手段によって、基板処理装置が上側部分と下側部分とに離間される。 Preferably, the adjustment includes an upper portion including at least the reaction tube and positioned above the seal member, and a lower portion including at least the furnace port flange and positioned below the seal member. The means includes separation means for separating the upper part and the lower part. Therefore, the substrate processing apparatus is separated into the upper part and the lower part by the separating means.
好適には、少なくとも前記反応管を含み前記シール部材よりも上側に位置する上側部分と、少なくとも前記炉口フランジを含み前記シール部材よりも下側に位置する下側部分とを有し、前記調整手段は、前記下側部分に対して前記上側部分を重力方向上方に移動させる移動手段からなる。したがって、移動手段により上側部分が下側部分に対して上方に移動して、基板処理装置が容易に上側部分と下側部分とに離間する。 Preferably, the adjustment includes an upper portion including at least the reaction tube and positioned above the seal member, and a lower portion including at least the furnace port flange and positioned below the seal member. The means comprises moving means for moving the upper part upward in the gravity direction with respect to the lower part. Therefore, the upper part moves upward with respect to the lower part by the moving means, and the substrate processing apparatus is easily separated into the upper part and the lower part.
好適には、少なくとも前記反応管を含み前記シール部材よりも上側に位置する上側部分と、少なくとも前記炉口フランジを含み前記シール部材よりも下側に位置する下側部分とを有し、前記調整手段は、前記上側部分又は前記下側部分の一方に設けられた、前記上側部分又は前記下側部分の他方を押圧する押圧手段からなる。したがって、上側部分と下側部分といずれか一方が押圧手段により押圧されて、シール部材に加わる押圧力が小さくなり、基板処理装置が上側部分と下側部分とに離間しやすくなる。 Preferably, the adjustment includes an upper portion including at least the reaction tube and positioned above the seal member, and a lower portion including at least the furnace port flange and positioned below the seal member. The means includes pressing means that is provided on one of the upper part and the lower part and presses the other of the upper part and the lower part. Therefore, either the upper part or the lower part is pressed by the pressing means, and the pressing force applied to the seal member is reduced, and the substrate processing apparatus is easily separated into the upper part and the lower part.
好適には、少なくとも前記反応管を含み前記シール部材よりも上側に位置する上側部分と、少なくとも前記炉口フランジを含み前記シール部材よりも下側に位置する下側部分とを有し、前記調整手段は、先端部が突出可能な状態で、前記上側部分又は前記下側部分の一方に螺合し、前記上側部又は前記下側部の他方を押圧するボルトを有する。したがって、ボルトの先端部により上側部分又は下側部分の一方が、上側部分又は下側部分の他方に対して押圧されて、基板処理装置が上側部分と下側部分とに離間しやすくなる。 Preferably, the adjustment includes an upper portion including at least the reaction tube and positioned above the seal member, and a lower portion including at least the furnace port flange and positioned below the seal member. The means includes a bolt that is screwed into one of the upper part or the lower part and presses the other of the upper part or the lower part in a state where the tip part can protrude. Accordingly, one of the upper part and the lower part is pressed against the other of the upper part and the lower part by the tip of the bolt, and the substrate processing apparatus is easily separated into the upper part and the lower part.
好適には、前記ボルトの先端部から前記上側部又は前記下側部の一方に加えられる応力の集中を緩和する緩和部材を有する。したがって、押圧手段又はボルトから、上側部分又は下側部分に加わる応力が一部分に集中して加わることが防止され、集中して加えられる応力によって、上側容器又は下側容器が破損するとの問題が生じにくくなる。 Preferably, there is provided a relaxation member for relaxing concentration of stress applied to one of the upper side portion and the lower side portion from the tip end portion of the bolt. Accordingly, the stress applied to the upper part or the lower part from the pressing means or the bolt is prevented from being concentrated on a part, and the problem that the upper container or the lower container is damaged by the concentrated stress is generated. It becomes difficult.
また、好適には、応力緩和部材は金属製のリングからなる。したがって、応力緩和部材そのものの破損が生じにくい。 Preferably, the stress relaxation member is made of a metal ring. Therefore, the stress relaxation member itself is hardly damaged.
また、好適には、前記緩和部材と前記上側部分又は前記下側部分の一方との付着を防止する付着防止部材を有する。したがって、緩和部材と上側部材、又は緩和部材と下側部材とが互いに付着しやすい材質からできていても、応力緩和部材と上側部分又は下側部分とが付着しにくくなり、基板処理装置の分解がより容易になる。 Preferably, an adhesion preventing member for preventing adhesion between the relaxation member and one of the upper part or the lower part is provided. Therefore, even if the relaxation member and the upper member, or the relaxation member and the lower member are made of a material that easily adheres to each other, the stress relaxation member and the upper portion or the lower portion are less likely to adhere to each other. Becomes easier.
また、好適には、前記付着防止部材は耐熱性樹脂からなる。また、好適には、前記シール部材はOリングからなる。また、好適には、前記シール部材は、パーフオル系フッ素ゴムからなる。また、好適には、上側反応管は石英からなる。 Preferably, the adhesion preventing member is made of a heat resistant resin. Preferably, the seal member is an O-ring. Preferably, the seal member is made of perfluoro fluororubber. Preferably, the upper reaction tube is made of quartz.
本発明によれば、従来の技術よりも容易にメンテナンスを行うことを可能とする基板処理装置及び基板処理装置のメンテナンス方法が提供される。 ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this invention, the maintenance method of a substrate processing apparatus and a substrate processing apparatus which makes it possible to perform maintenance more easily than the prior art is provided.
次に本発明の実施形態を図面に基づいて説明する。
図1には、本発明の実施形態に係る基板処理装置10が示されている。この基板処理装置10は、縦型であり、主要部が配置された筺体12を有する。この筺体12には、ポッドステージ14が接続されており、このポッドステージ14にポッド16が搬送される。ポッド16には、例えば25枚の基板(ウエハ)が収納され、図示しない蓋が閉じられた状態でポッドステージ14にセットされる。
Next, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.
FIG. 1 shows a
筺体12内の正面側であって、ポッドステージ14に対向する位置には、ポッド搬送装置18が配置されている。また、このポッド搬送装置18の近傍には、ポッド棚20、ポッドオープナ22及び基板枚数検知器24が配置されている。ポッド棚20はポッドオープナ22の上方に配置され、基板枚数検知器24はポッドオープナ22に隣接して配置される。ポッド搬送装置18は、ポッドステージ14とポッド棚20とポッドオープナ22との間でポッド16を搬送する。ポッドオープナ22は、ポッド16の蓋を開けるものであり、この蓋が開けられたポッド16内の基板枚数が基板枚数検知器24により検知される。
A
さらに、筺体12内には、基板移載機26、ノッチアライナ28及び複数枚の基板を支持する支持具として用いられる基板支持体(ボート)30が配置されている。基板移載機26は、例えば5枚の基板を取り出すことができるアーム(ツィーザ)32を有し、このアーム32を動かすことにより、ポッドオープナ22の位置に置かれたポッド、ノッチアライナ28及び基板支持体30間で基板を搬送する。ノッチアライナ28は、基板に形成されたノッチ又はオリフラを検出して基板のノッチ又はオリフラを一定の位置に揃えるものである。さらに筐体12内の背面側上部には反応炉50が配置されている。この反応炉50内に複数枚の基板を装填した基板支持体30が搬入され熱処理が行われる。
Furthermore, a substrate support (boat) 30 used as a support for supporting the
図2及び3には、反応炉50が示されている。反応炉50は、重力方向下向きの開放部54が形成された反応管52と、この反応管52を重力方向下方から支持しつつ、開放部54を塞ぐ炉口フランジ68と、反応管52と炉口フランジ68との間に配置されたシール部材として用いられるOリング60と、Oリング60への押圧力を調整する調整手段として用いられるプッシュボルト62と、プッシュボルト62から反応管52に加えられる応力の集中を緩和する緩和部材として用いられるスペーサリング64と、スペーサリング64と反応管52との付着を防止する付着防止部材として用いられる耐熱樹脂リング66とを有する。
2 and 3, a
反応管52は石英からなり、上端部が閉塞され、下端部に開放部54が形成され、開放部54の周囲にフランジ52aが形成されている。反応管52は、少なくとも反応管52を含みOリング60よりも上方に位置する上側部分として用いられる。
The
炉口フランジ68は、金属からなり、反応管52に形成された開放部54と略同径の開放部が上端部から下端部まで貫通するように形成されていて、この炉口フランジの開放部6と開放部54とが上下に重なった状態となるように、炉口フランジ68が反応管52の下部に配置される。炉口フランジ68の上向きの面には、スペーサリング64と耐熱樹脂リング66とを介して、反応管52のフランジ52aの下向きの面が載置される。そして、フランジ52aが炉口フランジ68に載置された状態で、反応管固定リング72を用いて反応管52と炉口フランジ68とが固定される。
The
炉口フランジ68の下方には、Oリング61を解してシールキャップ70が配置される。シールキャップ70は、上向きの面で炉口フランジ68を支持するとともに、炉口フランジ68の開放部を密閉する。シールキャップ70により炉口フランジ68の開放部が密閉されるため、炉口フランジ68を用いて反応管52の開放部54を塞ぐことができる。シールキャップ70、炉口フランジ68、及び後述するOリング61で、少なくとも炉口フランジ68を含むOリング60よりも下側に位置する下側部分として用いられる下側容器56が形成される。
Below the
炉口フランジ68、シールキャップ70、Oリング61、及び反応管52で囲まれる空間で基板処理室58が形成され、この基板処理室58内で基板150が処理される。また、反応管52、炉口フランジ68、及びシールキャップ70が、基板処理室58を形成する基板処理容器74をなす。
A
基板処理室58内には、処理がなされる基板150を支持する基板支持体30が挿入されている。この基板支持体30は、多数枚の、例えば25枚〜100枚程度の基板150を略水平状態で隙間をもって多段に支持する。
A
基板処理室58内に反応ガスを供給する供給管80と、基板処理室58から反応ガスを排出する排出管82とが、反応管52を貫通するように反応管52に取り付けられる。供給管80の基板処理室58内側に位置する端部には、基板支持体30により多段に支持される基板150に反応ガスを吹き付けるノズル84が接続され、供給管80の基板処理室58の外側に位置する端部には、反応ガス供給手段として用いられる図示を省略するガスボンベが接続されている。また、排出管82の、基板処理室58の外側に位置する端部には、吸引手段として用いられる図示を省略する吸引ポンプが接続されている。
A
基板処理室58を形成する基板処理容器74の周囲には、基板支持体30により基板処理室58内に支持される基板150を加熱する加熱手段として用いられるヒータ88が配置される。このヒータ88は、ヒータベース90により下側から支持される状態にあり、このヒータベース90は、天板92と支持部材94とで支持される。支持部材94は、先述の炉口フランジ68に固定ボルト96により固定される。
Around the
Oリング60は、反応管52、炉口フランジ68等で形成される基板処理室58を略気密状態に維持するシール部材であり、反応管52と炉口フランジ68との間に隙間が生じないようにシールするシール部材である。このOリング60はパーフオル系フッ素ゴムからなり、反応管52から加えられる重力やヒータ88からの熱の影響等で、反応管52と炉口フランジ68とに付着しやすい。
The O-
プッシュボルト62は、炉口フランジ68に形成された略鉛直方向のネジ孔68bに下方から螺合され、その先端部62aが炉口フランジ68から突出可能となっている。プッシュボルト62は、炉口フランジ68の周方向に複数個が等間隔で設けられている。例えば、炉口フランジ68の開放部の中心から、等角度に45度間隔で8個のプッシュボルト62が設けられている。操作者が、このプッシュボルト62を上昇させる方向に回転させることで、先端部62aが上昇し、この上昇した先端部62aがスペーサリング64と耐熱樹脂リング66とを介して反応管52を重力方向下方から押圧する。このように、プッショボルト62は、下側容器56に設けられた、反応管52を押圧する押圧手段として用いられる。
The
また、プッショボルト62は、反応管52を重力方向下方から押圧することで、反応管52を下側容器56から離間させ、反応管52を下側容器56から重力方向上方に移動させる。このように、プッシュボルト62は、Oリング60への押圧力を調整する調整手段として用いられるのみならず、反応管52を下側容器56から離間させる離間手段として用いられ、また、反応管52を重力方向上方に移動させる移動手段として用いられる。
Further, the
スペーサリング64は金属であるステンレスからなる。スペーサリング64は、必ずしも円形である必要はなく、反応管52の形状と炉口フランジ68の形状とに合わせて、適宜、形状が選択される。スペーサリング64を設けることで、プッシュボルト62の先端部62aが直接に反応管52を押し上げるのではなく、スペーサリング64を介して反応管52を押し上げることになる。このため、反応管52に加えられる応力は、スペーサリング64の反応管52に接触する部分全体に分散され、プッシュボルト62の先端部62aに応力が集中する場合に生じる虞がある反応管52の破損が生じにくくなる。なお、スペーサリング64を設けないこともできる。反応管の材質、反応管の重量、Oリングの材質、プッシュボルト62の先端部62aが反応管52に接する面積等から、応力集中による反応管52の破損の虞がない場合等は、スペーサリング64を設けなくても良い。
The
耐熱樹脂リング66は、スペーサリング64と反応管52との間に配置され、金属であるステンレスからなるスペーサリング64と、石英からなる反応管52とを付着しにくくする。また、反応管52と反応管固定リング72との間に耐熱樹脂リング98が配置される。よって、反応管固定リング72を金属から形成しても、石英からなる反応管52と付着しにくい。なお、耐熱樹脂リング66と耐熱樹脂リング98とを設けないこともできる。例えば、反応管52の材質、炉口フランジ68の材質、反応管固定リング72の材質の組合せが、互いに付着しにくいものである場合等は、耐熱樹脂リング66と耐熱樹脂リング98とを設けなくても良い。
The heat-
次に基板処理装置10の作用について説明する。
まず、ポッドステージ14に複数枚の基板150を収容したポッド16がセットされると、ポッド搬送装置18によりポッド16をポッドステージ14からポッド棚20へ搬送し、このポッド棚20にストックする。次に、ポッド搬送装置18により、このポッド棚20にストックされたポッド16をポッドオープナ22に搬送してセットし、このポッドオープナ22によりポッド16の蓋を開き、基板枚数検知器24によりポッド16に収容されている基板150の枚数を検知する。
Next, the operation of the
First, when the
次に、基板移載機26により、ポッドオープナ22の位置にあるポッド16から基板150を取り出し、ノッチアライナ28に移載する。このノッチアライナ28においては、基板150を回転させながら、ノッチを検出し、検出した情報に基づいて複数枚の基板150のノッチを同じ位置に整列させる。次に、基板移載機26により、ノッチアライナ28から基板150を取り出し、基板支持体30に移載する。
Next, the
このようにして、1バッチ分の基板150を基板支持体30に移載すると、例えば600℃程度の温度に設定された反応炉50内(基板処理室58内)に複数枚の基板150を装填した基板支持体30を装入し、シールキャップ70により反応管52内を密閉する。次に、炉内温度を熱処理温度まで昇温させて、供給管80を介して反応管52内に処理ガスを導入する。処理ガスには、窒素(N2)、アルゴン(Ar)、水素(H2)、酸素(O2)等が含まれる。
Thus, when one batch of
基板150の熱処理が終了すると、炉内の温度が予め定められた温度まで下がった後、熱処理後の基板150を支持した基板支持体30を反応炉50からアンロードし、基板支持体30に支持された全ての基板150が冷えるまで、基板支持体30を所定位置で待機させる。次に、待機させた基板支持体30の基板150が所定温度まで冷却されると、基板移載機26により、基板支持体30から基板150を取り出し、ポッドオープナ22にセットされている空のポッド16に搬送して収容する。次に、ポッド搬送装置18により、基板150が収容されたポッド16をポッド棚20に搬送し、さらにポッドステージ14に搬送して一連の処理が完了する。
When the heat treatment of the
また、メンテナンス等のために、反応管52を下側容器56から取り外すには、まず、基板処理容器74が基板処理装置10から取り外され、例えば、メンテナンスエリアへと搬送される。そして、メンテナンスエリアにおいて、反応管固定リング72が、炉口フランジ68から取り外される。その後、操作者が、このプッシュボルト62を回転させることで、プッシュボルト62の先端部62aを上昇させ、この上昇した先端部62aでスペーサリング64と耐熱樹脂リング66とを介して、反応管52を重力方向下方から押圧し、反応管52を重力方向上方に移動させて、反応管52を下側容器56から離間させる。
In order to remove the
複数のプッシュボルト62を操作する際には、炉口フランジ68の開放部に対して、円周方向に均等となるように各プッシュボルト62の操作がなされる。例えば、あるプッシュボルト62を上昇させる操作をした直後に、炉口フランジ68の開放部の中心に対して逆側にあるプッシュボルト62(炉口フランジ68の開放部の中心からの角度が180度の位置にあるプッシュボルト62)の操作がなされる。このような順序でプッシュボルト62の操作することで、反応管52を、炉口フランジ68と略平行な状態を保ったままで上昇させることができる。
When operating the plurality of
メンテナンス等が終了した後に反応管52を下側容器56に取り付けるには、以上の動作を逆の順序で行う。
In order to attach the
以上で説明した実施形態では、プッシュボルト62として、操作者により操作される形態を説明したが、プッシュボルト62を回転させプッシュボルト62の先端部62aを上昇させる装置を設けても良い。また、本実施形態では、反応管52を重力方向上方に移動させ、反応管52を下側容器56と離間させる離間手段として、プッシュボルト62を用いたが、プッシュボルト62に替えて、又はプッシュボルト62と併せて、エアシリンダーやモータ等の動力源を用いても良い。
In the embodiment described above, the
図4には、比較例に係る基板処理装置200の、図3に示される本発明の要部に相当する部分が示されている。図3に示されるように、基板処理装置200は、本発明の実施形態に係る基板処理装置10が有していたプッシュボルト62を有していない。したがって、反応管固定リング72を取り外した後に、操作者が反応管52を持ち上げることで、反応管52が下側容器56から取り外される。
FIG. 4 shows a portion of the
この場合、石英からなる反応管52にパーフオル系フッ素ゴムからなるOリング60が付着し、また、金属からなる炉口フランジ68にOリング60が付着することで、反応管52と炉口フランジ68とが付着した状態となっていて、反応管52を取り外すことが困難である。また、操作者が反応管52を持ち上げる際に、反応管52が傾いた状態となり、反応管52のフランジ52aが金属からなる炉口フランジ68に強く打ち付けられることがある。この場合、金属よりも破壊しやすい材質である石英からなる反応管52が破損する虞が大きい。また、反応管52を傾いた状態で持ち上げようとすると、反応管52と炉口フランジ68とのOリング60を介して付着している部分に強い力が加わり、反応管52又は炉口フランジ68を破損させる虞がある。なお、実施形態に係る基板処理装置10と同一部分については、図4に同一の符号を付して、その説明を省略する。
In this case, the O-
以上述べたように、本発明は、半導体ウエハやガラス基板等の基板の表面をエッチングしたり、表面に薄膜を形成したり、表面を改質したり等する基板処理装置に利用することができる。 As described above, the present invention can be used for a substrate processing apparatus that etches the surface of a substrate such as a semiconductor wafer or a glass substrate, forms a thin film on the surface, or modifies the surface. .
10 基板処理装置
30 基板支持体
50 反応炉
52 反応管
54 開放部
56 下側容器
58 基板処理室
60 Oリング
62 プッシュボルト
64 スペーサリング
66 耐熱樹脂リング
68 炉口フランジ
70 シールキャップ
74 基板処理容器
150 基板
DESCRIPTION OF
Claims (2)
反応管固定リングを用いて前記反応管に固定されていて、前記反応管を重力方向下方から支持しつつ、前記開放部を塞ぐ炉口フランジと、
前記反応管と前記炉口フランジとの間に配置されたシール部材と、
前記シール部材への押圧力を調整する調整手段と、
を有し、
前記反応管は、前記シール部材よりも上側に位置する上側部分の少なくとも一部をなし、
前記炉口フランジは、前記シール部材よりも下側に位置する下側部分の少なくとも一部をなし、
前記調整手段は、先端部が突出可能な状態で前記上側部分及び前記下側部分の一方に螺合し、前記上側部分及び前記下側部分の他方を前記先端部で押圧するボルトを有することを特徴とする基板処理装置。 A reaction tube formed with an open portion downward in the direction of gravity;
A furnace port flange that is fixed to the reaction tube using a reaction tube fixing ring, and supports the reaction tube from below in the direction of gravity, and closes the opening.
A seal member disposed between the reaction tube and the furnace port flange;
Adjusting means for adjusting the pressing force to the seal member;
Have
The reaction tube forms at least a part of an upper portion located above the seal member;
The furnace port flange forms at least a part of a lower part located below the seal member,
The adjusting means includes a bolt that is screwed into one of the upper part and the lower part in a state in which the tip part can protrude and presses the other of the upper part and the lower part with the tip part. A substrate processing apparatus.
前記上側部分及び前記下側部分の一方に先端部が突出可能な状態で螺合したボルトを回転させ、前記ボルトを重力方向に移動させることにより前記ボルトの先端部が前記上側部分及び前記下側部分の他方を押圧し、前記上側部分を前記下側部分から取り外すことを特徴とする基板処理装置のメンテナンス方法。 A reaction tube in which an opening portion downward in the direction of gravity is formed, and a furnace port flange that is fixed to the reaction tube by using a reaction tube fixing ring and closes the opening portion while supporting the reaction tube from below in the direction of gravity And a seal member disposed between the reaction tube and the furnace port flange, wherein the reaction tube forms at least a part of an upper portion located above the seal member, and the furnace port The flange is a maintenance method for a substrate processing apparatus that forms at least a part of a lower portion located below the seal member,
By rotating a bolt screwed in a state where the tip can protrude into one of the upper part and the lower part and moving the bolt in the direction of gravity, the tip of the bolt becomes the upper part and the lower part. A maintenance method for a substrate processing apparatus, wherein the other part is pressed and the upper part is removed from the lower part.
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