JP2010008550A - 光学素子及び光学ユニット - Google Patents
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Abstract
【課題】観察や計測に充分な光量を確保し、かつ、透明導電性膜に安定に電流を供給して表面の曇りを防止する光学素子、及び該光学素子を備えた光学ユニット。
【解決手段】透明基板11上に透明導電性膜12が設けられた光学素子であって、前記透明導電性膜上に、Cr膜とNi膜とAu膜とが順次積層された電極部材と、少なくとも1層以上の高屈折率膜と低屈折率膜とが積層された反射防止部材とが設けられていることを特徴とする光学素子。また、前記光学素子10と、光学素子10に電流を供給する給電機構と、光学素子10と給電機構とを接続するリード線とを備えた光学ユニット。
【選択図】図1
【解決手段】透明基板11上に透明導電性膜12が設けられた光学素子であって、前記透明導電性膜上に、Cr膜とNi膜とAu膜とが順次積層された電極部材と、少なくとも1層以上の高屈折率膜と低屈折率膜とが積層された反射防止部材とが設けられていることを特徴とする光学素子。また、前記光学素子10と、光学素子10に電流を供給する給電機構と、光学素子10と給電機構とを接続するリード線とを備えた光学ユニット。
【選択図】図1
Description
本発明は、光学素子表面の曇りを防止できる光学素子、及び該光学素子を備えた光学ユニットに関する。
例えば、口腔内、体内等の高湿度環境下で用いられるカメラ、観察機器、計測機器等では、それらの機器が有する光学素子表面の温度と使用環境における温度の差や、湿度の差によって、光学素子表面に微小水滴が生じて曇りが生じることがある。
光学素子に曇りが生じると、観察画像が不明瞭となったり、正確な計測ができなくなったりする問題がある。そのため、光学素子に生じる曇りを防ぐことが必要である。
光学素子に曇りが生じると、観察画像が不明瞭となったり、正確な計測ができなくなったりする問題がある。そのため、光学素子に生じる曇りを防ぐことが必要である。
光学素子の曇りを防ぐ方法としては、加熱手段により光学素子の温度を高くすることにより、表面に微小水滴が生じたり、付着したりするのを防ぐ方法がある。このような方法においては、光学素子表面に透明導電性膜を形成させ、外部給電機構から給電することにより、透明導電性膜が抵抗熱により発熱することを利用する。透明導電性膜としては、一般的に酸化インジウムと酸化錫との混合物であるITO膜が用いられる。
特許文献1では、テレビカメラやビデオカメラ等のカメラのレンズの曇り防止手段として、レンズ面に透明導電性膜を形成させ、給電制御回路より給電手段を介して該透明導電性膜に給電し、レンズ面を加熱して曇りを除去する方法が示されている。また、特許文献1の方法では、レンズ面に温度センサーを設けておき、レンズ面の温度が一定値に達したときに給電を停止することにより、レンズ面の曇りを効率的に除去している。
特開平5−53077号公報
しかし、特許文献1の曇り防止方法では、電流供給が不安定になり、曇り防止機能が低下することがあった。また、一般的に透明導電性膜は膜屈折率が高いため、表面反射率が高い。そのため、透明導電性膜を光学素子として使用する場合、透明導電性膜表面での反射により透過光量が低下し、観察画像の劣化や計測誤差を引き起こすことがあった。
以上のような理由から、本発明では、光の透過率が高く、かつ、透明導電性膜に安定に電流を供給して表面の曇りを防止する光学素子、及び該光学素子を備えた光学ユニットを目的とする。
以上のような理由から、本発明では、光の透過率が高く、かつ、透明導電性膜に安定に電流を供給して表面の曇りを防止する光学素子、及び該光学素子を備えた光学ユニットを目的とする。
本発明の光学素子は、透明基板上に透明導電性膜が設けられた光学素子において、前記透明導電性膜上に、Cr膜とNi膜とAu膜とが順次積層された電極部材と、少なくとも1層以上の高屈折率膜と低屈折率膜とが積層された反射防止部材とが設けられていることを特徴とする。
また、本発明の光学素子は、前記電極部材のCr膜の膜厚が50〜200nmであり、Ni膜の膜厚が100〜300nmであり、Au膜の膜厚が100〜400nmであることが好ましい。
また、本発明の光学素子は、前記電極部材のCr膜の膜厚が50〜200nmであり、Ni膜の膜厚が100〜300nmであり、Au膜の膜厚が100〜400nmであることが好ましい。
また、本発明の光学ユニットは、前記光学素子と、該光学素子に電流を供給する給電機構と、前記光学素子と前記給電機構とを接続するリード線とを備えている。
本発明の光学素子は、光の透過率が高く、また透明導電性膜に安定に電流を供給して表面の曇りを防止することができる。
また、本発明の光学ユニットは、光の透過率が高く、また透明導電性膜に安定に電流を供給して表面の曇りを防止できる光学素子を備えている。
また、本発明の光学ユニットは、光の透過率が高く、また透明導電性膜に安定に電流を供給して表面の曇りを防止できる光学素子を備えている。
[光学素子]
以下、本発明の光学素子の一実施形態例について図1に基づいて説明する。
この光学素子10は、図1に示すように、透明基板11の表面11a側に透明導電性膜12が設けられ、透明導電性膜12上に電極部材13と反射防止部材14とが設けられている。また、透明基板11の他方の表面11b側には反射防止部材15が設けられている。
ただし、本発明における透明とは、少なくとも波長420〜680nmの光の透過率が95%以上であることを意味する。
以下、本発明の光学素子の一実施形態例について図1に基づいて説明する。
この光学素子10は、図1に示すように、透明基板11の表面11a側に透明導電性膜12が設けられ、透明導電性膜12上に電極部材13と反射防止部材14とが設けられている。また、透明基板11の他方の表面11b側には反射防止部材15が設けられている。
ただし、本発明における透明とは、少なくとも波長420〜680nmの光の透過率が95%以上であることを意味する。
(透明基板)
透明基板11は、光が透過する透明なものであればよく、ガラス基板であることが好ましい。
透明基板11は平板であることが好ましい。
また、透明基板11は、透明基板11と透明導電性膜12との密着性を向上させる点から、表面にアンダーコート層等を有していてもよい。
透明基板11は、光が透過する透明なものであればよく、ガラス基板であることが好ましい。
透明基板11は平板であることが好ましい。
また、透明基板11は、透明基板11と透明導電性膜12との密着性を向上させる点から、表面にアンダーコート層等を有していてもよい。
(透明導電性膜)
透明導電性膜12は、導電性を有する透明の金属酸化物膜である。
金属酸化物としては、例えば、錫をドープした酸化インジウム(ITO)、フッ素をドープした酸化錫(FTO)、アンチモンをドープした酸化錫(ATO)、アルミニウムをドープした酸化亜鉛(AZO)、ガリウムをドープした酸化亜鉛(GZO)等が挙げられる。これらは1種のみを使用してもよく、2種以上を併用してもよい。
透明導電性膜12は、導電性を有する透明の金属酸化物膜である。
金属酸化物としては、例えば、錫をドープした酸化インジウム(ITO)、フッ素をドープした酸化錫(FTO)、アンチモンをドープした酸化錫(ATO)、アルミニウムをドープした酸化亜鉛(AZO)、ガリウムをドープした酸化亜鉛(GZO)等が挙げられる。これらは1種のみを使用してもよく、2種以上を併用してもよい。
透明導電性膜12の膜厚は、5〜30nmであることが好ましく、8〜15nmであることがより好ましい。
透明導電性膜12の膜厚が5nm以上であれば、充分な導電性が得られ、曇りを防止しやすい。また、透明導電性膜12の膜厚が30nm以下であれば、充分な光の透過率を得やすい。
透明導電性膜12の膜厚が5nm以上であれば、充分な導電性が得られ、曇りを防止しやすい。また、透明導電性膜12の膜厚が30nm以下であれば、充分な光の透過率を得やすい。
(電極部材)
電極部材13は、外部給電機構と接続するリード線20を接合して、該外部給電機構から透明導電性膜12に電流を供給する部材である。電極部材13は、透明導電性膜12上に、Cr膜13a、Ni膜13b、Au膜13cが順次積層されて設けられている。
電極部材13は、外部給電機構と接続するリード線20を接合して、該外部給電機構から透明導電性膜12に電流を供給する部材である。電極部材13は、透明導電性膜12上に、Cr膜13a、Ni膜13b、Au膜13cが順次積層されて設けられている。
Cr膜13aは、透明導電性膜12と、Ni膜13b及びAu膜13cとの密着性を高める膜である。
Cr膜13aの膜厚は、50〜200nmであることが好ましく、80〜150nmであることがより好ましい。Cr膜13aの膜厚が50nm以上であれば、透明導電性膜12との密着性が充分に得られやすい。また、Cr膜13aの膜厚が200nm以下であれば、Cr膜13aに生じる膜応力が小さくなるため、透明導電性膜12から剥離することを防止しやすい。
Cr膜13aの膜厚は、50〜200nmであることが好ましく、80〜150nmであることがより好ましい。Cr膜13aの膜厚が50nm以上であれば、透明導電性膜12との密着性が充分に得られやすい。また、Cr膜13aの膜厚が200nm以下であれば、Cr膜13aに生じる膜応力が小さくなるため、透明導電性膜12から剥離することを防止しやすい。
Ni膜13bは、ほとんど電気抵抗の無い状態で透明導電性膜12に電流を供給すると共に、リード線20をはんだ21で接合する際のリード線密着性を高めることができる。
Ni膜13bの膜厚は、100〜300nmであることが好ましく、150〜250nmであることがより好ましい。Ni膜13bの膜厚が100nm以上であれば、リード線20をはんだ接合する際、熱によるはんだ拡散によって生じる膜剥離を防止しやすい。また、Ni膜13bの膜厚が300nm以下であれば、Ni膜13bに生じる膜応力が小さくなるため、Cr膜13aから剥離することを防止しやすい。
Ni膜13bの膜厚は、100〜300nmであることが好ましく、150〜250nmであることがより好ましい。Ni膜13bの膜厚が100nm以上であれば、リード線20をはんだ接合する際、熱によるはんだ拡散によって生じる膜剥離を防止しやすい。また、Ni膜13bの膜厚が300nm以下であれば、Ni膜13bに生じる膜応力が小さくなるため、Cr膜13aから剥離することを防止しやすい。
Au膜13cは、最表面に形成されており、Ni膜13bの酸化を防止すると共に、はんだ濡れ性が高く、リード線20をはんだ21で接合する際のリード線密着性を高めることができる。
Au膜13cの膜厚は、100〜400nmであることが好ましく、150〜250nmであることがより好ましい。Au膜13cの膜厚が100nm以上であれば、成膜時にピンホールができて、Ni膜13bが酸化してしまうことを防止しやすい。また、Au膜13cの膜厚が400nm以下であれば、Au膜13cに生じる膜応力が小さくなるため、Ni膜13bから剥離することを防止しやすい。
Au膜13cの膜厚は、100〜400nmであることが好ましく、150〜250nmであることがより好ましい。Au膜13cの膜厚が100nm以上であれば、成膜時にピンホールができて、Ni膜13bが酸化してしまうことを防止しやすい。また、Au膜13cの膜厚が400nm以下であれば、Au膜13cに生じる膜応力が小さくなるため、Ni膜13bから剥離することを防止しやすい。
電極部材13を形成する位置及び形状は、透明導電性膜12上の下記反射防止部材14を設ける部分以外で、観察や計測に悪影響を及ぼさない範囲あれば特に限定されず、例えば、透明基板の外縁部とすることが挙げられる。
(反射防止部材)
反射防止部材14は、透明導電性膜12における光の反射率を低くして、透過光量を増大させる役割を果たす。反射防止部材14は、透明導電性膜12上に高屈折率膜14aと低屈折率膜14bとが順次積層されて設けられている。
高屈折率膜14aは、波長500nmにおける屈折率が1.55〜2.40の膜である。高屈折率膜14aとしては、例えば、Al2O3膜(屈折率:1.63)、ZrO2膜(屈折率:2.05)等が挙げられる。高屈折率膜14aは、2種以上の膜が積層されたものであってもよい。
低屈折率膜14bは、波長500nmにおける屈折率が1.35〜1.50の膜である。低屈折率膜14bとしては、例えば、MgF2膜(屈折率:1.38)、SiO2膜(屈折率:1.46)等が挙げられる。低屈折率膜14bは、2種以上の膜が積層されたものであってもよい。
反射防止部材14は、透明導電性膜12における光の反射率を低くして、透過光量を増大させる役割を果たす。反射防止部材14は、透明導電性膜12上に高屈折率膜14aと低屈折率膜14bとが順次積層されて設けられている。
高屈折率膜14aは、波長500nmにおける屈折率が1.55〜2.40の膜である。高屈折率膜14aとしては、例えば、Al2O3膜(屈折率:1.63)、ZrO2膜(屈折率:2.05)等が挙げられる。高屈折率膜14aは、2種以上の膜が積層されたものであってもよい。
低屈折率膜14bは、波長500nmにおける屈折率が1.35〜1.50の膜である。低屈折率膜14bとしては、例えば、MgF2膜(屈折率:1.38)、SiO2膜(屈折率:1.46)等が挙げられる。低屈折率膜14bは、2種以上の膜が積層されたものであってもよい。
高屈折率膜14a、低屈折率膜14bの膜厚は、使用する膜の膜屈折率と層数により、反射率を低くするよう任意に設定してよい。
また、本発明の光学素子10は、透明基板11の表面11b側に反射防止部材15が設けられている。
反射防止部材15としては、波長500nmにおける屈折率が1.35〜1.50の膜であり、例えば、MgF2膜等が挙げられる。
反射防止部材15の膜厚は、80〜100nmであることが好ましく、85〜95nmであることがより好ましい。
反射防止部材15としては、波長500nmにおける屈折率が1.35〜1.50の膜であり、例えば、MgF2膜等が挙げられる。
反射防止部材15の膜厚は、80〜100nmであることが好ましく、85〜95nmであることがより好ましい。
反射防止部材14を形成する位置及び形状は、観察や計測に悪影響を及ぼさない範囲であれば特に限定されない。例えば、円板状の透明基板11である場合には、反射防止部材14を、透明導電性膜12の中央に円形状に形成することが挙げられる。
本発明の光学素子10は、以下に示す方法により製造できる。
透明基板11上に透明導電性膜12を形成する方法は、ITO膜の形成等に通常用いられる方法を用いることができ、例えば、スパッタリング法が挙げられる。
また、透明導電性膜12上に、電極部材13と反射防止部材14とを形成する方法は公知の方法を用いることができ、例えば、スパッタリング法や蒸着法が挙げられる。
透明基板11上に透明導電性膜12を形成する方法は、ITO膜の形成等に通常用いられる方法を用いることができ、例えば、スパッタリング法が挙げられる。
また、透明導電性膜12上に、電極部材13と反射防止部材14とを形成する方法は公知の方法を用いることができ、例えば、スパッタリング法や蒸着法が挙げられる。
[光学ユニット]
以下、本発明の光学ユニットの一実施形態例について、図2に基づいて説明する。
光学ユニット1は、図2に示すように、光学素子10と、光学素子10に電流を供給する給電機構(図示せず)と、光学素子10と給電機構とを接続するリード線20とを備えている。また、光学ユニット1は、光学レンズ群30、観察像をセンシングする撮像素子40の他、ユニット外装、給電制御機構、光源部、外部モニター(図示せず)を備えている。光学ユニット1は前記以外の部材を備えていてもよい。
以下、本発明の光学ユニットの一実施形態例について、図2に基づいて説明する。
光学ユニット1は、図2に示すように、光学素子10と、光学素子10に電流を供給する給電機構(図示せず)と、光学素子10と給電機構とを接続するリード線20とを備えている。また、光学ユニット1は、光学レンズ群30、観察像をセンシングする撮像素子40の他、ユニット外装、給電制御機構、光源部、外部モニター(図示せず)を備えている。光学ユニット1は前記以外の部材を備えていてもよい。
光学ユニット1の前面部には、光学素子10の面10a(反射防止部材15が形成されている面)が外側、面10b(透明導電性膜12、電極部材13、反射防止部材14が形成されている面)が光学レンズ群30側を向くように、光学素子10が配置されている。この光学ユニット1により口腔内等を観察する際には、口腔内の画像を光学素子10から光学レンズ群30、撮像素子40へと伝達し、外部モニターに出力する。
光学ユニット1は、このような観察装置に限定されるものではなく、計測機器として用いられるものであってもよい。
光学ユニット1は、このような観察装置に限定されるものではなく、計測機器として用いられるものであってもよい。
以上説明した本発明の光学素子は、透明導電性膜に安定に電流を供給して表面の曇りを防止することができる。これは、透明導電性膜に電極部材を直接形成し、該電極部材と外部給電機構に接続されたリード線とをはんだで接合しているため、湿気等により電気抵抗の変化が抑えられ、安定的に電流を供給できるためである。
特許文献1等の従来の方法では、押え環や鏡筒の給電手段を光学素子面に形成した透明導電性膜に押し当てて給電していた。そのため、透明導電性膜と給電手段との間に隙間ができてしまい、隙間に入り込んだ湿気により透明導電性膜表面や給電手段表面に酸化皮膜が生じて電流供給が不安定化することがあった。
特許文献1等の従来の方法では、押え環や鏡筒の給電手段を光学素子面に形成した透明導電性膜に押し当てて給電していた。そのため、透明導電性膜と給電手段との間に隙間ができてしまい、隙間に入り込んだ湿気により透明導電性膜表面や給電手段表面に酸化皮膜が生じて電流供給が不安定化することがあった。
また、本発明の光学素子は、観察や計測に充分な光量を確保することができる。これは、透明導電性膜上に高屈折率膜と低屈折率膜とが積層された反射防止部材が設けられていることにより、光学素子における反射が低減されて透過率が高くなるためである。
また、本発明の光学ユニットは、前記光学素子を備えているため、観察や計測に充分な光量が得られ、かつ光学素子表面の曇りを安定して防止できる。
なお、本発明の光学素子は、図1に例示したものには限定されず、例えば、表面11b側の反射防止部材15が形成されていない構成としてもよい。
また、それぞれ2層以上の高屈折率膜14aと低屈折率膜14bとが、この順に交互に積層されていてもよい。
また、それぞれ2層以上の高屈折率膜14aと低屈折率膜14bとが、この順に交互に積層されていてもよい。
以下、実施例及び比較例を示して本発明を詳細に説明する。ただし、本発明は以下の記載によっては限定されない。
[実施例1]
透明基板として、円板状のガラス基板(φ10mm、厚さ1mm)を用いた。このガラス基板上に、透明導電性膜であるITO膜(膜厚10nm)をスパッタリング法により形成した。ついで、形成したITO膜上の外縁部(外縁から0.1mm巾)に、電極部材(長さ12mmの半円形状)をスパッタリング法により2つ対向させて形成した。前記電極部材は、Cr膜の膜厚を100nm、Ni膜の膜厚を200nm、Au膜の膜厚を200nmとした。その後、それら2箇所の電極部材のそれぞれのAu膜上に、外部給電機構に接続されたリード線をはんだ接合により接続した。
[実施例1]
透明基板として、円板状のガラス基板(φ10mm、厚さ1mm)を用いた。このガラス基板上に、透明導電性膜であるITO膜(膜厚10nm)をスパッタリング法により形成した。ついで、形成したITO膜上の外縁部(外縁から0.1mm巾)に、電極部材(長さ12mmの半円形状)をスパッタリング法により2つ対向させて形成した。前記電極部材は、Cr膜の膜厚を100nm、Ni膜の膜厚を200nm、Au膜の膜厚を200nmとした。その後、それら2箇所の電極部材のそれぞれのAu膜上に、外部給電機構に接続されたリード線をはんだ接合により接続した。
ついで、ガラス基板のITO膜上の2つの電極部材の間に、高屈折率膜と低屈折率膜とを蒸着法により順次形成させ、反射防止部材(φ9.6mmの円形状)を形成した。前記高屈折率膜はAl2O3膜及びZrO2膜であり、ITO膜上にAl2O3膜、ZrO2膜を順次形成した。Al2O3膜の膜厚は61nm、ZrO2膜の膜厚は130nmであった。前記低屈折率膜はMgF2膜であり、膜厚は90nmであった。この反射防止部材の反射率特性を図3に示す。
また、ガラス基板の電極部材及び反射防止部材を形成した逆側の面にも、反射防止部材としてMgF2膜(膜厚90nm)を形成した。ついで、得られた光学素子に、光学レンズ群、観察像をセンシングする撮像素子、ユニット外装、給電制御機構、光源部、外部モニターを設置して光学ユニットAを作製した。
また、ガラス基板の電極部材及び反射防止部材を形成した逆側の面にも、反射防止部材としてMgF2膜(膜厚90nm)を形成した。ついで、得られた光学素子に、光学レンズ群、観察像をセンシングする撮像素子、ユニット外装、給電制御機構、光源部、外部モニターを設置して光学ユニットAを作製した。
[比較例1]
ITO膜上に反射防止部材(Al2O3膜、ZrO2膜及びMgF2膜)を形成させないこと以外は、実施例1と同様の方法で光学ユニットBを作製した。
ITO膜上に反射防止部材(Al2O3膜、ZrO2膜及びMgF2膜)を形成させないこと以外は、実施例1と同様の方法で光学ユニットBを作製した。
光学ユニットAに、給電制御機構により光学素子面(図2の面10a側)の温度が40℃となるように設定した電流を供給したところ、ITO膜が発熱することにより光学素子面の温度が約30秒で40℃に到達した。このように、光学素子面の温度が40℃に設定できれば、口腔内等で使用した場合でも光学素子面における曇りを防ぎ、画像劣化のない観察画像が得られる。
また、光学ユニットAの光学素子側から光学素子と光学レンズ群を通過した光の透過率を測定した結果、図4に示すように、光学ユニットAに対する波長420〜680nmの光の透過率は97〜99%であり、観察に充分な透過率を備えていた。
一方、ITO膜上に反射防止部材を形成していない比較例1の光学ユニットBでは、同じく図4に示すように、波長420〜680nmの光の透過率は86〜91%であり、実施例1の光学ユニットAと比較して8〜11%低く、観察画像が暗くなっていた。
本発明の光学素子及び該光学素子を備えた光学ユニットは、観察や計測に充分な光量を確保することができ、また透明導電性膜に安定に電流を供給して表面の曇りを防止することができる。そのため、口腔内等を観察するカメラ、観察機器、計測機器等に好適に使用できる。
1 光学ユニット 10 光学素子 11 透明基板 12 透明導電性膜 13 電極部材 13a Cr膜 13b Ni膜 13c Au膜 14 反射防止部材 14a 高屈折率膜 14b 低屈折率膜 20 リード線
Claims (3)
- 透明基板上に透明導電性膜が設けられた光学素子において、
前記透明導電性膜上に、Cr膜とNi膜とAu膜とが順次積層された電極部材と、少なくとも1層以上の高屈折率膜と低屈折率膜とが積層された反射防止部材とが設けられていることを特徴とする光学素子。 - 前記電極部材のCr膜の膜厚が50〜200nmであり、Ni膜の膜厚が100〜300nmであり、Au膜の膜厚が100〜400nmである、請求項1に記載の光学素子。
- 請求項1又は2に記載の光学素子と、光学素子に電流を供給する給電機構と、前記光学素子と前記給電機構とを接続するリード線とを備えた光学ユニット。
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2008
- 2008-06-25 JP JP2008165708A patent/JP2010008550A/ja not_active Withdrawn
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