JP2017198941A - エレクトロクロミック素子およびそれを有する光学系、撮像装置、レンズ装置 - Google Patents

エレクトロクロミック素子およびそれを有する光学系、撮像装置、レンズ装置 Download PDF

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Abstract

【課題】 所望の透過率分布を得ることのできるエレクトロクロミック素子を提供することである。【解決手段】 第1の電極層31と第2の電極層32の間に、エレクトロクロミック層33を設ける。第1の電極層31と第2の電極層32のうち少なくとも一方の厚さと電気抵抗率の少なくとも一方をエレクトロクロミック素子10上の位置に応じて変化させる。【選択図】 図1

Description

本発明は、電圧の印加によって透過率が変化するエレクトロクロミック素子に関する。
ボケ像の輪郭を滑らかにするための光学素子として、アポダイゼーションフィルタが知られている。アポダイゼーションフィルタは、光軸から離れるにつれて透過率が低下するような透過率分布を有する素子である。
一方、電圧の印加によって透過率を可逆的に変化させられるエレクトロクロミック素子が知られている。このエレクトロクロミック素子を用いてアポダイゼーションフィルタを実現することで、アポダイゼーション効果のオン・オフの切り替えが可能となることが期待される。
特許文献1には、対向して配置された2枚の平板電極の間にエレクトロクロミック層を設けた構成のエレクトロクロミック素子を用いた電気制御絞りが記載されている。特許文献1のエレクトロクロミック素子では、2枚の平板電極に電圧を印加した際、それぞれの電極内で電圧降下が起こることから、エレクトロクロミック素子の透過率が中心から離れるにつれて低下することが開示されている。
特表2002−537582号公報
アポダイゼーションフィルタに求められる透過率分布は、搭載される光学系によって様々である。しかしながら、特許文献1に記載されたエレクトロクロミック素子のように、平板電極における電圧降下によって透過率分布を形成しようとすると、必ずしもアポダイゼーションフィルタに適した透過率分布を得ることはできなかった。
本発明の目的は、所望の透過率分布を得られるエレクトロクロミック素子を提供することである。
本発明のエレクトロクロミック素子は、第1の電極層と、第2の電極層と、前記第1の電極層と前記第2の電極層の間に設けられたエレクトロクロミック層を有し、前記第1の電極層と前記第2の電極層の間に電位差を与えた際に、前記エレクトロクロミック層の中心から周辺に向かって光の透過率が減少するエレクトロクロミック素子において、前記第1の電極層と前記第2の電極層の少なくとも一方は、厚さと電気抵抗率の少なくとも一方が前記エレクトロクロミック層の位置に応じて変化していることを特徴とする。
本発明によれば、所望の透過率分布を得られるエレクトロクロミック素子を提供することができる。
実施例1のエレクトロクロミック素子の概略図である。 第1の電極層の法線に平行な方向から見た場合の実施例1のエレクトロクロミック素子の概略図である。 実施例1のエレクトロクロミック素子における第1の電極層の電気抵抗率の変化および厚さの変化を示した図である。 実施例1のエレクトロクロミック素子において電圧を印加した際の透過率分布を示した図である。 実施例2のエレクトロクロミック素子における第1の電極層の電気抵抗率の変化および厚さの変化を示した図である。 実施例2のエレクトロクロミック素子において電圧を印加した際の透過率分布を示した図である。 実施例3のエレクトロクロミック素子の概略図である。 実施例3のエレクトロクロミック素子における第1の電極層の電気抵抗率の変化および厚さの変化を示した図である。 実施例3のエレクトロクロミック素子において電圧を印加した際の透過率分布を示した図である。 位相補償層を設けた場合の実施例3のエレクトロクロミック素子の概略図である。 実施例4の光学系の概略図である。 実施例4の撮像装置の概略図である。
以下、本発明の実施例について、図面を参照しながら説明する。
[実施例1]
図1は本実施例のエレクトロクロミック素子(以下、EC素子と称する)10を示す概略図である。
EC素子10は、第1の電極層1と、第2の電極層2を有する。実施例1において、第1の電極層1は第1の基板4に設けられている。第2の電極層2は、第2の基板5に設けられている。第1の基板4と第2の基板5は、第1の電極層1と第2の電極層2が互いに向かい合うように配置されている。
図1において、OはEC素子10の中心軸を示している。第1の電極層1の厚みは、EC素子の中心軸Oからrなる距離だけ離れた位置においてt(r)となっている。また、第2の電極層2の厚みは、EC素子の中心軸Oからrなる距離だけ離れた位置においてt(r)となっている。
第1の電極層1には、第1の電極層1と電気接点を有する第1の給電部6が設けられている。また、第2の電極層2には、第2の電極層2と電気接点を有する第2の給電部7が設けられている。不図示の電気回路によって、第1の電極層1と第2の電極層2に電圧を印加することができる。
第1の電極層1と第2の電極層2の間には、エレクトロクロミック層(以下、EC層と称する)3が設けられている。EC層3は、電気化学的な酸化還元反応によって、着色または消色する材料(以下、着色材料と称する)を含んでいる。これによって、EC層3の透過率は、第1の電極層1と第2の電極層2の間の電位差に応じて変化する。
第1の給電部6および第2の給電部7を介して第1の電極層1と第2の電極層2の間に電位差を与えると、EC層3の透過率は、中心軸Oから離れるにつれて減少するような分布を示す。これは、第1の電極層1および第2の電極層2の内部抵抗によって、電圧降下が起こるためである。すなわち、第1の給電部6および第2の給電部7を介して第1の電極層1と第2の電極層2に電圧が印加されている場合、第1の電極層1においては第1の給電部6から離れるにつれて第1の電極層1の電位は変化することになる。また、第2の電極層2の電位は、第2の給電部7から離れるにつれて変化することになる。
ゆえに、第1の電極層1と第2の電極層2の間に生じる電場は均一とはならない。従って、EC素子10の位置に応じてEC層3の透過率は異なる。このため、EC層3の透過率の分布を制御するためには、第1の電極層1と第2の電極層2の少なくとも一方の電極層における内部抵抗を制御すれば良い。
図2は、EC素子10を第1の電極層1の法線に平行な方向から見た場合のEC素子10を示す概略図である。図2に示す通りEC素子10は、Oを中心とした円形状となっている。このとき、中心軸Oから第1の給電部6までの距離はrmaxとなっている。また、図2には示していないが、第2の電極層2の外形は第1の電極層1と同様であるとする。すなわち、第2の電極層2は第1の電極層1と同じく、Oを中心とした円形状である。
このとき、第1の電極層1に関して、中心軸Oからrなる距離だけ離れた位置における、幅drなる輪の抵抗値dR(r)は、以下の条件式(1)によって与えられる。
Figure 2017198941
ここで、式(1)におけるρ(r)は、中心軸Oからrなる距離だけ離れた位置における第1の電極層1の電気抵抗率である。また、t(r)は中心軸Oからrなる距離だけ離れた位置における第1の電極層1の厚みである。
また、第2の電極層2についても同様に、EC素子10の中心軸Oからrなる距離だけ離れた位置における、幅drなる輪の抵抗値dR(r)は、以下の条件式(2)によって与えられる。
Figure 2017198941
ここで、式(2)におけるρ(r)は、中心軸Oからrなる距離だけ離れた位置における第2の電極層2の電気抵抗率である。また、t(r)は中心軸Oからrなる距離だけ離れた位置における第2の電極層2の厚みである。
式(1)からわかるように、ρ(r)とt(r)の少なくとも一方をrに対して変化させることで、第1の電極層1の内部抵抗を制御することができる。また、式(2)からわかるように、ρ(r)とt(r)の少なくとも一方をrに対して変化させることで、第2の電極層2の内部抵抗を制御することができる。
すなわち、第1の電極層1と第2の電極層2のうち少なくとも一方の電極層について、厚さと電気抵抗率の少なくとも一方をEC素子10の位置に応じて変化させることで、第1の電極層1と第2の電極層2に生じる電場の強さの分布を制御することができる。これによって、所望の透過率分布を有するEC素子10を得ることができる。
また、本実施例のEC素子10の第1の電極層1および第2の電極層2は複雑な形状を有さないため、後述のように電極層の形状による透過波面の位相ずれが生じたとしても、容易に補正することができる。さらに、第1の電極層1および第2の電極層2は複雑な形状を有さないため、EC素子10を容易に製造することができる。
アポダイゼーションフィルタを用いると、ボケ像の輪郭を滑らかにすることはできるが、透過光量が減少する。そのため、アポダイゼーションフィルタの透過率分布は、できる限り透過光量を多くすることができるような分布にすることが好ましい。具体的には、EC素子10の中心部の透過率はなるべく大きくし、周辺部において大きく透過率が減少するような透過率分布を形成すれば良い。これは、EC素子10の中心部の透過率はアポダイゼーションフィルタによるボケ像の輪郭を滑らかにする効果に対して大きく寄与しないためである。
そのため、第1の電極層1や第2の電極層2の厚みの分布によってEC素子10の透過率分布を制御する場合、中心軸Oから離れるにつれて電極層の厚みを薄くすることが好ましい。式(1)または(2)からわかるように、これによって電極層の周辺部における内部抵抗をより大きくすることができる。したがって、電極層の周辺部における電圧降下をより大きくすることができ、結果として、EC素子10の中心部の透過率を大きくすることができる。
また、第1の電極層1や第2の電極層2の電気抵抗率の分布によってEC素子10の透過率分布を制御する場合、中心軸Oから離れるにつれて電気抵抗率を大きくすることが好ましい。式(1)または(2)からわかるように、これによって電極層の周辺部における内部抵抗をより大きくすることができる。したがって、電極層の周辺部における電圧降下をより大きくすることができ、結果として、EC素子10の中心部の透過率を大きくすることができる。
また、第1の電極層1や第2の電極層2の厚さや電気抵抗率は滑らかに変化していることが好ましい。これによって、第1の電極層1と第2の電極層2の間に生じる電場の強さの分布を連続的に変化させることができる。結果として、EC素子10の透過率を連続的に変化させることができる。
第1の給電部6の電気抵抗率は、第1の電極層1の電気抵抗率の最低値よりも小さいことが好ましい。これにより、第1の給電部6における電圧降下を低減することができる。また、第1の給電部6上の位置に依らず一定の電位とすることができる。同様に、第2の給電部7は、第2の電極層2よりも電気抵抗率が小さいことが好ましい。これにより、第2の給電部6における電圧降下を低減することができる。また、第2の給電部7上の位置に依らず一定の電位とすることができる。
さらに、第1の給電部6および第2の給電部7は、図2に示すように、円環状であることが好ましい。これによって、第1の給電部6および第2の給電部7を介して第1の電極層1と第2の電極層2の間に電圧を印加する際、第1の電極層1と第1の給電部6の電気接点から中心軸Oに向かって同心円状に第1の電極層1の電位を変化させることができる。
同様に、第2の電極層2と第2の給電部7の電気接点から中心軸Oに向かって同心円状に第2の電極層2の電位を変化させることができる。すなわち、第1の電極層1と第2の電極層2の間の電場の大きさが等しい領域をEC素子10の中心軸Oに対して同心円状に分布させることができる。この結果、EC素子10の中心軸Oに対して同心円状の透過率分布を得ることができる。
次にEC素子10を構成する材料について説明する。
EC層3は、電気化学的な酸化還元反応によって、着色または消色する材料(着色材料)を含んでいれば良い。EC層3の構成としては、着色材料を含む層と電解質層を積層する構成であっても良いし、着色材料を溶媒に溶解した単一の層により構成しても良い。
EC層3を、着色材料を含む層と電解質層を積層する構成により構成する場合、着色材料としては還元により着色するものであっても、酸化により着色するものであっても良い。還元により着色する材料としてはWO、MoO、V,Nb、TiOが挙げられる。また、酸化により着色する材料としてはIrO、NiOOH、CoOOH、ヘプチルビオロゲン、Cr、チオフェン系化合物、スチリル系化合物、金属錯体などが挙げられる。
また、電解質層としては、酸化チタン、酸化タンタル、酸化ケイ素、酸化アルミニウム、酸化ニオブ,酸化ジルコニウムなどを用いることができる。
着色材料を溶媒に溶解した単一の層によりEC層3を構成する場合、EC層3は少なくとも一種類以上のアノード性の着色材料と、少なくとも一種類以上のカソード性の着色材料とを含有していることが好ましい。
アノード性の着色材料は酸化されることによって着色する材料、カノード性の着色材料は還元されることによって着色する材料である。アノード性の着色材料及びカソード性の着色材料は、中性状態で可視光に対して透明な材料であることが好ましい。可視光に対して吸収係数の波長依存性の異なる着色材料を複数混合することにより、透過率の波長依存性を平坦にすることができる。アノード性の着色材料の例としては、チオフェン類等の有機エレクトロクロミック分子が挙げられる。またカソード性の着色材料の例としてはビオロゲン類等の有機エレクトロクロミック分子が挙げられる。
着色材料を溶解する溶媒としては、溶解性、蒸気圧、粘性、電位窓等を考慮し、プロピレンカーボネート、γ−ブチロラクトン、ベンゾニトリル、N−メチルピロリドン、N,N−ジメチルアセトアミド等の極性非プロトン溶媒を使用することができる。
第1の電極層1および第2の電極層2は、可視光に対して透明であり、導電性を有する材料を用いれば良い。ここで、透明とは、波長400〜700nmの光に対して透過率が70%以上であれば透明とみなすことができる。
第1の電極層1および第2の電極層2を構成する材料としては、スズドープ酸化インジウム(ITO)、酸化亜鉛、ガリウムドープ酸化亜鉛(GZO)、アルミニウムドープ酸化亜鉛(AZO)、酸化スズ、アンチモンドープ酸化スズ(ATO)等がある。また、PEDOTなどの導電性ポリマーを用いても良い。さらに導電性と高透明性を考慮して、これら材料を積層して第1の電極層1や第2の電極層2を構成しても良い。
本実施例において、第1の電極層1は、例えば蒸着を用いて、第1の基板4に形成することができる。その際、蒸着源と第1の基板4との間にマスクを配置することで、厚さの分布を有する第1の電極層1を形成することができる。また、スズドープ酸化インジウムなどは、蒸着時の基板の温度を変化させることによって電気抵抗率を変化させられることが知られている。
第1の電極層1や第2の電極層2を形成する方法は蒸着に限定されず、第1の電極層1や第2の電極層2を構成する材料の特性に応じて、スパッタリングやゾル・ゲル法などを選択すれば良い。
第1の基板4および第2の基板5は、可視光に対して透明であれば良く、ガラス板やプラスチック板、ポリイミドなどの合成樹脂板が挙げられる。
第1の給電部6および第2の給電部7は、電気抵抗率の小さい材料により構成することが好ましい。例えば、金(Au)、銀(Ag)、銅(Cu)、アルミニウム(Al)、白金(Pt)等の金属を用いると良い。
次に、実施例1のEC素子10の特性について説明する。
図3(a)に、本実施例のEC素子10について、中心軸Oからの距離と第1の電極層1の電気抵抗率の関係を示す。図3(a)の横軸は、中心軸Oから第1の給電部6までの距離rmaxを1として中心軸Oからの距離を規格化した値である。また、図3(a)の縦軸は、第1の電極層1の電気抵抗率の最大値ρ1,maxを1として第1の電極層1の電気抵抗率を規格化した値である。
また、図3(b)に、本実施例のEC素子10について、中心軸Oからの距離と第1の電極層1の厚さの関係を示す。図3(a)の縦軸は、第1の電極層1の厚さの最大値t1,maxを1として第1の電極層1の厚さを規格化した値である。
図3(a)に示すように、第1の電極層1の電気抵抗率は中心軸Oから離れるにつれて直線的に大きくなるように変化している。すなわち、第1の電極層1の電気抵抗率のr/rmaxに対する変化量は一定である。また、図3(b)に示すように、第1の電極層1の厚さは、中心軸Oからの距離に依らず一定である。なお、第2の電極層2の電気抵抗率および厚さは、r/rmaxに依らず一定である。
図4に、本実施例のEC素子10に電圧を印加した際の透過率分布を示す。図4より、本実施例のEC素子10は、電圧の印加により中心から周辺に向かって透過率が減少するような透過率分布を形成することがわかる。すなわち、アポダイゼーションフィルタとして用いるのに適した透過率分布が得られている。
また、図4に示すように、EC素子10の透過率は、中心部において略一定であり、周辺部において大きく減少していることがわかる。これは、図3(a)に示すように、中心軸Oからの離れるにつれて第1の電極層1の電気抵抗率を増加させたためである。これによって、アポダイゼーション効果によりボケ像の輪郭を滑らかにしつつ、透過光量を多くすることができる。
[実施例2]
次に、実施例2のEC素子について説明する。本実施例のEC素子は、図1に示す実施例1のEC素子10と同様の形状となっている。
図5(a)に、本実施例のEC素子について、中心軸Oからの距離と第1の電極層の電気抵抗率の関係を示す。また、図5(b)に、本実施例のEC素子について、中心軸Oからの距離と第1の電極層の厚さの関係を示す。
図5(a)に示すように、第1の電極層の電気抵抗率は中心軸Oから離れるにつれて二次関数的に大きくなるように変化している。すなわち、本実施例は、r/rmaxに対する第1の電極層の電気抵抗率の変化量が大きくなっている点で実施例1と異なる。なお、図5(b)に示すように、第1の電極層の厚さは、中心軸Oからの距離に依らず一定である。また、第2の電極層の電気抵抗率および厚さは、r/rmaxに依らず一定である。
図6に、本実施例のEC素子に電圧を印加した際の透過率分布を示す。なお、印加した電圧は、図4に示した場合と同一である。
図6より、本実施例のEC素子においても、電圧の印加により中心から周辺に向かって透過率が減少するような透過率分布が得られることがわかる。
また、図6に示すように、本実施例のEC素子の透過率分布は、実施例1のEC素子と比較して、透過率が略一定である領域が広がっていることがわかる。これは、r/rmaxに対する第1の電極層の電気抵抗率の変化量を実施例1よりも大きくしたためである。アポダイゼーション効果によりボケ像の輪郭を滑らかにしつつ、なるべく大きなボケ像を得るためには、本実施例のように透過率が一定である領域を広くすることが好ましい。
[実施例3]
次に、実施例3のEC素子30について説明する。EC素子30は、前述した実施例1や実施例2のEC素子と異なり、EC素子30上の位置に応じて第1の電極層の厚さが変化している。
図7は、本実施例のEC素子30を示す概略図である。EC素子30は、第1の電極層31と、第2の電極層32を有する。本実施例において、第1の電極層31は第1の基板34に設けられている。第2の電極層32は第2の基板35に設けられている。第1の基板34と第2の基板35は、第1の電極層31と第2の電極層32が互いに向かい合うように配置されている。第1の電極層31と第2の電極層32の間には、EC層33が設けられている。
図7において、OはEC素子30の中心軸を示している。第1の電極層31の厚みは、EC素子30の中心軸Oからrなる距離だけ離れた位置においてt(r)となっている。また、第2の電極層32の厚みは、EC素子30の中心軸Oからrなる距離だけ離れた位置においてt(r)となっている。図7に示すように、第1の電極層31の厚みt(r)は、EC素子30の中心軸Oから離れるにつれて薄くなっている。また、第2の電極層32の厚みt(r)は、EC素子30の中心軸Oからの距離によらず一定となっている。
第1の電極層31には、第1の電極層31と電気接点を有する第1の給電部36が設けられている。また、第2の電極層32には、第2の電極層32と電気接点を有する第2の給電部37が設けられている。
図8(a)に、本実施例のEC素子30について、中心軸Oからの距離と第1の電極層31の電気抵抗率の関係を示す。また、図8(b)に、本実施例のEC素子30について、中心軸Oからの距離と第1の電極層31の厚さの関係を示す。
図8(a)に示すように、第1の電極層31の電気抵抗率は一定である。また、図8(b)に示すように、第1の電極層31の厚さは、中心軸Oから離れるにつれて直線的に減少している。なお、第2の電極層32の電気抵抗率および厚さは、r/rmaxに依らず一定である。
図9に、本実施例のEC素子30に電圧を印加した際の透過率分布を示す。なお、印加した電圧は、図4や図6に示した場合と同一である。
図9より、本実施例のEC素子30は、電圧の印加により中心から周辺に向かって透過率が減少するような透過率分布を形成することがわかる。すなわち、アポダイゼーションフィルタとして用いるのに適した透過率分布が得られている。
図8(a)、(b)の各図に示すように、第1の電極層31の電気抵抗率を一定にし、第1の電極層31の厚さを直線的に変化させることで、EC素子30の中心から透過率を減少させるような透過率分布を形成することもできる。
なお、本実施例のEC素子30ように、電極層の厚さを変えて透過率分布を制御する場合、EC素子30を透過する光の透過波面において、第1の電極層31の厚さに応じて位相がずれることが考えられる。このような透過波面の位相ずれを補償するために、図10に示すように、EC素子30において位相補償層38を設けることが好ましい。
位相補償層38は、導電性を有さない透明な材料により構成される。第1の電極層31の厚さがrの増加に対して薄くなるのに対して、位相補償層38の厚さはrの増加に対して厚くなっている。すなわち、位相補償層38の厚さは、第1の電極層31の厚さの増加する方向に対して反対の方向に厚さが増加するように変化している。
これによって、第1の電極層31の厚さの変化による透過波面の位相ずれを低減することができる。
なお、位相補償層38を設ける場合、EC素子30に電圧を印加した際に第1の電極層31と第2の電極層32の間に生じる電場の強さを低減しないような位置に配置することが好ましい。そのため、位相補償層38は第1の電極層31と第2の電極層32の間には配置されていないことが好ましい。すなわち、位相補償層38は第1の電極層31に対してEC層33とは反対側に配置されることが好ましい。また、位相補償層38を第2の電極層32に対してEC層33とは反対側に配置してもよい。これによって、EC素子30において、印加した電圧を有効に利用することができる。
なお、実施例1乃至3では、第1の電極層のみの電気抵抗率または厚みを変化させることによって透過率分布を制御していたが、第1の電極層の電気抵抗率と厚みの両方を変化させても良いし、これらに加えて第2の電極層の電気抵抗率や厚みも変化させても良い。
[実施例4]
次に、実施例4としての光学系について述べる。
図11は本実施例における光学系70の断面図である。光学系70は、複数の光学素子としてのレンズを有する。物体からの光は光学系70を透過して、撮像面IPにおいて結像する。
本実施例では、絞り71の直後にEC素子72が配置されている。EC素子72は、前述した実施例1乃至3のEC素子のいずれかである。
光学系70にEC素子72を配置し、EC素子72に透過率分布を形成することで、アポダイゼーション効果により滑らかな輪郭を有するボケ像を得ることができる。
また、EC素子72の中心部に透過率が一定である領域を設けることで、EC素子72による透過光量の減少を抑制することができる。また、その場合、EC素子72の中心部を透過する光束は、EC素子72による透過率の変調を受けない。そのため、光学系70を有する撮像装置が位相差方式の自動焦点合わせ機構を有している場合、EC素子72の中心部を透過した光束を用いて自動焦点合わせを行うことができる。
加えて、EC素子72の中心部に透過率が一定である領域を設けることで、アポダイゼーション効果によるボケ像の輪郭を滑らかにしつつ、ボケ像が小さくなりすぎないようにすることができる。
なお、EC素子72の配置としては図11(a)に示した位置に限定されない。EC素子73は光学系70のどこに配置していても良い。ただし、光学系70が1つのEC素子73のみを有する場合は、EC素子73を絞り71の位置の近くに配置することで、アポダイゼーション効果によるボケ像の輪郭を滑らかにする効果をより大きくすることができる。
図11(b)に示すように、2つのEC素子72a、72bを絞り71の光入射側と光出射側に1つずつ配置することで、軸外光束に対しても有効にアポダイゼーション効果を得ることができる。この結果、画面全域で滑らかな輪郭を有するボケ像を得ることができる。
次に、本実施例の光学系70を有する撮像装置について説明する。
図12(a)は、本実施例の撮像装置としてのデジタルカメラ80である。デジタルカメラ80は、レンズ部82に前述した実施例の光学系70を有する。また、光学系70の結像面IPには、CCDやCMOSセンサーなどの撮像素子83が、本体部81に配置される。
図12(b)は、レンズ部82の断面を示している。73は光学系70における光学素子としてのレンズである。EC素子72は、EC素子に電圧を印加するための電気回路84と接続されている。電気回路84の端子は、不図示の第1の給電部と第2の給電部に接続されている。電気回路84を介して、EC素子72に電圧を印加することで、EC素子に透過率分布を形成することができる。
すなわち、デジタルカメラ80が光学系70を有することで、アポダイゼーション効果により滑らかな輪郭を有するボケ像を得ることができる。
また、EC素子72への電圧の印加を停止することで、EC素子72の透過率を一定にすることもできる。すなわち、アポダイゼーション効果のオン・オフを切り替えることができる。このような電圧のオン・オフは、不図示の制御部によって行われる。
なお、図12(a)では、本体部81とレンズ部82が一体となった例を示しているが、撮像装置本体に対して着脱可能なレンズ装置に本発明を適用してもよい。このようなレンズ装置は、例えば一眼カメラ用の交換レンズとして用いられる。この場合、図12(a)は、光学系70を有するレンズ装置82が撮像装置本体81に装着されている状態と見ることもできる。
なお、本発明の光学系は、デジタルカメラ等の撮像装置や、撮像装置本体に着脱可能なレンズ装置(交換レンズ)以外に適用することもできる。例えば双眼鏡や顕微鏡等に対しても、本発明の光学系を適用しても良い。
以上、本発明の好ましい実施形態及び実施例について説明したが、本発明はこれらの実施形態及び実施例に限定されず、その要旨の範囲内で種々の組合せ、変形及び変更が可能である。
1 第1の電極層
2 第2の電極層
3 エレクトロクロミック層
10 エレクトロクロミック素子

Claims (12)

  1. 第1の電極層と、第2の電極層と、前記第1の電極層と前記第2の電極層の間に設けられたエレクトロクロミック層を有し、前記第1の電極層と前記第2の電極層の間に電位差を与えた際に、前記エレクトロクロミック層の中心から周辺に向かって光の透過率が減少するエレクトロクロミック素子において、
    前記第1の電極層と前記第2の電極層の少なくとも一方は、厚さと電気抵抗率の少なくとも一方が前記エレクトロクロミック層の位置に応じて変化していることを特徴とするエレクトロクロミック素子。
  2. 前記第1の電極層には、前記第1の電極層の電気抵抗率の最低値よりも小さな電気抵抗率の第1の給電部が設けられており、
    前記第2の電極層には、前記第2の電極層の電気抵抗率の最低値よりも小さな電気抵抗率の第2の給電部が設けられていることを特徴とする請求項1に記載のエレクトロクロミック素子。
  3. 前記第1の給電部と前記第2の給電部は、共に円環状の形状を有していることを特徴とする請求項2に記載のエレクトロクロミック素子。
  4. 前記第1の電極層と前記第2の電極層のうち少なくとも一方の電極層の厚さは、前記一方の電極層の中心から離れるほど減少することを特徴とする請求項1乃至3のいずれか一項に記載のエレクトロクロミック素子。
  5. 前記第1の電極層と前記第2の電極層のうち少なくとも一方の電極層の電気抵抗率は、前記一方の電極層の中心から離れるほど増加することを特徴とする請求項1乃至4のいずれか一項に記載のエレクトロクロミック素子。
  6. 前記第1の電極層と前記第2の電極層のうち少なくとも一方の電極層の厚さは前記エレクトロクロミック素子の位置に応じて変化しており、
    前記一方の電極層の厚さが増加する方向に対して反対の方向に厚さが増加する位相補償層を有することを特徴とする請求項1乃至5のいずれか一項に記載のエレクトロクロミック素子。
  7. 前記位相補償層は、前記第1の電極層に対して前記エレクトロクロミック層とは反対側に配置されていることを特徴とする請求項6に記載のエレクトロクロミック素子。
  8. 前記位相補償層は、前記第2の電極層に対して前記エレクトロクロミック層とは反対側に配置されていることを特徴とする請求項6に記載のエレクトロクロミック素子。
  9. 複数の光学素子と、請求項1乃至8のいずれか一項に記載されたエレクトロクロミック素子を有することを特徴とする光学系。
  10. 絞りと、前記絞りの光入射側と光出射側に少なくとも1つずつ配置された請求項1乃至8のいずれか一項に記載されたエレクトロクロミック素子と、を有することを特徴とする光学系。
  11. 撮像素子と、請求項9または10に記載の光学系と、前記エレクトロクロミック素子に対して電圧を印加するための電気回路と、を有することを特徴とする撮像装置。
  12. 請求項9または10に記載の光学系と、前記エレクトロクロミック素子に対して電圧を印加するための電気回路とを有し、撮像装置本体に対して着脱可能であることを特徴とするレンズ装置。
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