JP2009536338A - 質量分析計 - Google Patents
質量分析計 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2009536338A JP2009536338A JP2009508494A JP2009508494A JP2009536338A JP 2009536338 A JP2009536338 A JP 2009536338A JP 2009508494 A JP2009508494 A JP 2009508494A JP 2009508494 A JP2009508494 A JP 2009508494A JP 2009536338 A JP2009536338 A JP 2009536338A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- mass
- ion
- ions
- charge ratio
- parent
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 0 CC=CC(F)=C(C=C)C(c1cc(Cl)ccc1N1C(C)=*C2)=NCC1=C2O Chemical compound CC=CC(F)=C(C=C)C(c1cc(Cl)ccc1N1C(C)=*C2)=NCC1=C2O 0.000 description 1
- WJDSKWDQCYLRAU-ICFOKQHNSA-N CCc1ncc2[n]1-c(ccc(Cl)c1)c1C(/C(/C#CC)=C(/C=C)\F)=NC2 Chemical compound CCc1ncc2[n]1-c(ccc(Cl)c1)c1C(/C(/C#CC)=C(/C=C)\F)=NC2 WJDSKWDQCYLRAU-ICFOKQHNSA-N 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/0027—Methods for using particle spectrometers
- H01J49/0031—Step by step routines describing the use of the apparatus
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/004—Combinations of spectrometers, tandem spectrometers, e.g. MS/MS, MSn
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/004—Combinations of spectrometers, tandem spectrometers, e.g. MS/MS, MSn
- H01J49/0045—Combinations of spectrometers, tandem spectrometers, e.g. MS/MS, MSn characterised by the fragmentation or other specific reaction
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/26—Mass spectrometers or separator tubes
- H01J49/34—Dynamic spectrometers
- H01J49/40—Time-of-flight spectrometers
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/26—Mass spectrometers or separator tubes
- H01J49/34—Dynamic spectrometers
- H01J49/42—Stability-of-path spectrometers, e.g. monopole, quadrupole, multipole, farvitrons
Abstract
【選択図】 図1
Description
質量分析の方法であって、
(a)親または前駆イオンを衝突、フラグメンテーションまたは反応デバイスに渡すステップと、
(b)衝突、フラグメンテーションまたは反応デバイスを第1の動作モードにおいて動作させるステップであって、第1の動作モードにおいては、親または前駆イオンのうちの少なくともいくつかが衝突、フラグメンテーションまたは反応されて、フラグメント、生成、娘または付加イオンを生成する、ステップと、
(c)第1の動作モードにおいて動作する衝突、フラグメンテーションまたは反応デバイスから現れるか、またはそこを通って移送されてきたイオンに関係する第1の質量スペクトルデータを記録するステップと、
(d)衝突、フラグメンテーションまたは反応デバイスを第2の動作モードにおいて動作するように切り換え、改変、または変更するステップであって、第2の動作モードにおいては、実質的により少ない親または前駆イオンが衝突、フラグメンテーションまたは反応される、ステップと、
(e)第2の動作モードにおいて動作する衝突、フラグメンテーションまたは反応デバイスから現れるか、またはそこを通って移送されてきたイオンに関係する第2の質量スペクトルデータを記録するステップと、
(f)ステップ(b)〜(e)を複数回繰り返すステップと、
(g)1つまたはそれ以上の親もしくは前駆物質またはイオンの正確なまたは厳密な質量または質量電荷比を決定するステップであって、1つまたはそれ以上の親もしくは前駆物質またはイオンの正確なまたは厳密な質量または質量電荷比は、第1の整数質量または質量電荷比成分M1および第1の小数質量または質量電荷比成分m1を含む、ステップと、
(h)第1の質量スペクトルデータにおいてまたはそれから1つまたはそれ以上のフラグメント、生成、娘もしくは付加物質またはイオンを検索または決定するステップであって、1つまたはそれ以上のフラグメント、生成、娘もしくは付加物質またはイオンは、第2の整数質量または質量電荷比成分M2および第2の小数質量または質量電荷比成分m2を含み、第2の小数質量または質量電荷比成分m2は、第1の小数質量または質量電荷比成分m1よりも0〜x1mDaまたはミリ−質量電荷比単位大きい、および/または第1の小数質量または質量電荷比成分m1よりも0〜x2mDaまたはミリ−質量電荷比単位小さい、ステップとを含む方法が提供される。
(i)第1の小数質量または質量電荷比成分m1よりも0〜x1mDaまたはミリ−質量電荷比単位大きい、および/または第1の小数質量または質量電荷比成分m1よりも0〜x2mDaまたはミリ−質量電荷比単位小さい小数質量または質量電荷比成分を有する1つまたはそれ以上の第2の物質またはイオン、
および/または
(ii)衝突、フラグメンテーションまたは反応した場合、第1の小数質量または質量電荷比成分m1よりも0〜x1mDaまたはミリ−質量電荷比単位大きい、および/または第1の小数質量または質量電荷比成分m1よりも0〜x2mDaまたはミリ−質量電荷比単位小さい小数質量または質量電荷比成分を有する1つまたはそれ以上のフラグメント、生成、娘もしくは付加物質またはイオンを生成する1つまたはそれ以上の第2の物質またはイオン
のいずれかをさらなる分析のために選択するステップをさらに含む。
質量分析の方法であって、
(a)親または前駆イオンを衝突、フラグメンテーションまたは反応デバイスに渡すステップと、
(b)衝突、フラグメンテーションまたは反応デバイスを第1の動作モードにおいて動作させるステップであって、親または前駆イオンの少なくともいくつかが衝突、フラグメンテーションまたは反応されて、フラグメント、生成、娘または付加イオンを生成する、ステップと、
(c)第1の動作モードにおいて動作する衝突、フラグメンテーションまたは反応デバイスから現れるか、またはそこを通って移送されてきたイオンに関係する第1の質量スペクトルデータを記録するステップと、
(d)衝突、フラグメンテーションまたは反応デバイスを第2の動作モードにおいて動作するように切り換え、改変、または変更するステップであって、実質的により少ない親または前駆イオンが衝突、フラグメンテーションまたは反応される、ステップと、
(e)第2の動作モードにおいて動作する衝突、フラグメンテーションまたは反応デバイスから現れるか、またはそこを通って移送されてきたイオンに関係する第2の質量スペクトルデータを記録するステップと、
(f)ステップ(b)〜(e)を複数回繰り返すステップと、
(g)1つまたはそれ以上の第1の親もしくは前駆物質またはイオンの正確なまたは厳密な質量または質量電荷比を決定するステップであって、1つまたはそれ以上の第1の親もしくは前駆物質またはイオンの正確なまたは厳密な質量または質量電荷比は、第1の整数質量または質量電荷比成分M1および第1の小数質量または質量電荷比成分m1を含む、ステップと、
(h)第1の質量スペクトルデータにおいてまたはそれから1つまたはそれ以上の第2の親もしくは前駆物質またはイオンを検索または決定するステップであって、1つまたはそれ以上の第2の親もしくは前駆物質またはイオンは、第2の整数質量または質量電荷比成分M2および第2の小数質量または質量電荷比成分m2を含み、第2の小数質量または質量電荷比成分m2は、第1の小数質量または質量電荷比成分m1よりも0〜x1mDaまたはミリ−質量電荷比単位大きい、および/または第1の小数質量または質量電荷比成分m1よりも0〜x2mDaまたはミリ−質量電荷比単位小さい、ステップとを含む方法が提供される。
第1の質量スペクトルまたは質量スペクトルデータを、実質的に同時に得られる第2の質量スペクトルまたは質量スペクトルデータと比較するステップと、
第2の質量スペクトルまたは質量スペクトルデータにおいて第1の質量スペクトルまたは質量スペクトルデータと比べて大きな強度を有するイオンを親または前駆イオンとして認識するステップとを含む。
第1の質量スペクトルまたは質量スペクトルデータを、実質的に同時に得られる第2の質量スペクトルまたは質量スペクトルデータと比較するステップと、
第1の質量スペクトルまたは質量スペクトルデータにおいて第2の質量スペクトルまたは質量スペクトルデータと比べて大きな強度を有するイオンをフラグメント、生成、娘または付加イオンとして認識するステップとを含む。
各親または前駆イオンに対して親または前駆イオン質量クロマトグラムを生成するステップと、
親または前駆イオン質量クロマトグラムにおける各ピークの中心を決定するステップと、
対応する親または前駆イオンの溶出時間を決定するステップと、
各フラグメント、生成、娘または付加イオンに対してフラグメント、生成、娘または付加イオン質量クロマトグラムを生成するステップと、
フラグメント、生成、娘または付加イオン質量クロマトグラムにおける各ピークの中心を決定するステップと、
対応するフラグメント、生成、娘または付加イオンの溶出時間を決定するステップとをさらに含み得る。
質量分析計であって、
衝突、フラグメンテーションまたは反応デバイスと、
質量分析器と、
制御システムとを含み、
制御システムは、
(a)親または前駆イオンを衝突、フラグメンテーションまたは反応デバイスに渡すステップと、
(b)衝突、フラグメンテーションまたは反応デバイスを第1の動作モードにおいて動作させるステップであって、親または前駆イオンの少なくともいくつかが衝突、フラグメンテーションまたは反応されて、フラグメント、生成、娘または付加イオンを生成する、ステップと、
(c)第1の動作モードにおいて動作する衝突、フラグメンテーションまたは反応デバイスから現れるか、またはそこを通って移送されてきたイオンに関係する第1の質量スペクトルデータを記録するステップと、
(d)衝突、フラグメンテーションまたは反応デバイスを第2の動作モードにおいて動作するように切り換え、改変、または変更するステップであって、実質的により少ない親または前駆イオンが衝突、フラグメンテーションまたは反応される、ステップと、
(e)第2の動作モードにおいて動作する衝突、フラグメンテーションまたは反応デバイスから現れるか、またはそこを通って移送されてきたイオンに関係する第2の質量スペクトルデータを記録するステップと、
(f)ステップ(b)〜(e)を複数回繰り返すステップと、
(g)1つまたはそれ以上の親もしくは前駆物質またはイオンの正確なまたは厳密な質量または質量電荷比を決定するステップであって、1つまたはそれ以上の親もしくは前駆物質またはイオンの正確なまたは厳密な質量または質量電荷比は、第1の整数質量または質量電荷比成分M1および第1の小数質量または質量電荷比成分m1を含む、ステップと、
(h)第1の質量スペクトルデータにおいてまたはそれから1つまたはそれ以上のフラグメント、生成、娘もしくは付加物質またはイオンを検索または決定するステップであって、1つまたはそれ以上のフラグメント、生成、娘もしくは付加物質またはイオンは、第2の整数質量または質量電荷比成分M2および第2の小数質量または質量電荷比成分m2を含み、第2の小数質量または質量電荷比成分m2は、第1の小数質量または質量電荷比成分m1よりも0〜x1mDaまたはミリ−質量電荷比単位大きい、および/または第1の小数質量または質量電荷比成分m1よりも0〜x2mDaまたはミリ−質量電荷比単位小さい、ステップとを行うように構成および適合される、質量分析計が提供される。
質量分析計であって、
衝突、フラグメンテーションまたは反応デバイスと、
質量分析器と、
制御システムとを含み、
制御システムは、
(a)親または前駆イオンを衝突、フラグメンテーションまたは反応デバイスに渡すステップと、
(b)衝突、フラグメンテーションまたは反応デバイスを第1の動作モードにおいて動作させるステップであって、親または前駆イオンの少なくともいくつかが衝突、フラグメンテーションまたは反応されて、フラグメント、生成、娘または付加イオンを生成する、ステップと、
(c)第1の動作モードにおいて動作する衝突、フラグメンテーションまたは反応デバイスから現れるか、またはそこを通って移送されてきたイオンに関係する第1の質量スペクトルデータを記録するステップと、
(d)衝突、フラグメンテーションまたは反応デバイスを第2の動作モードにおいて動作するように切り換え、改変、または変更するステップであって、実質的により少ない親または前駆イオンが衝突、フラグメンテーションまたは反応される、ステップと、
(e)第2の動作モードにおいて動作する衝突、フラグメンテーションまたは反応デバイスから現れるか、またはそこを通って移送されてきたイオンに関係する第2の質量スペクトルデータを記録するステップと、
(f)ステップ(b)〜(e)を複数回繰り返すステップと、
(g)1つまたはそれ以上の第1の親もしくは前駆物質またはイオンの正確なまたは厳密な質量または質量電荷比を決定するステップであって、1つまたはそれ以上の第1の親もしくは前駆物質またはイオンの正確なまたは厳密な質量または質量電荷比は、第1の整数質量または質量電荷比成分M1および第1の小数質量または質量電荷比成分m1を含むステップと、
(h)第1の質量スペクトルデータにおいてまたはそれから1つまたはそれ以上の第2の親もしくは前駆物質またはイオンを検索または決定するステップであって、1つまたはそれ以上の第2の親もしくは前駆物質またはイオンは、第2の整数質量または質量電荷比成分M2および第2の小数質量または質量電荷比成分m2を含み、第2の小数質量または質量電荷比成分m2は、第1の小数質量または質量電荷比成分m1よりも0〜x1mDaまたはミリ−質量電荷比単位大きい、および/または第1の小数質量または質量電荷比成分m1よりも0〜x2mDaまたはミリ−質量電荷比単位小さい、ステップとを行うように構成および適合される、質量分析計が提供される。
Claims (157)
- 質量分析の方法であって、
(a)親または前駆イオンを衝突、フラグメンテーションまたは反応デバイスに渡すステップと、
(b)前記衝突、フラグメンテーションまたは反応デバイスを第1の動作モードにおいて動作させるステップであって、前記親または前駆イオンのうちの少なくともいくつかが衝突、フラグメンテーションまたは反応されて、フラグメント、生成、娘または付加イオンを生成する、ステップと、
(c)前記第1の動作モードにおいて動作する衝突、フラグメンテーションまたは反応デバイスから現れるか、またはそこを通って移送されてきたイオンに関係する第1の質量スペクトルデータを記録するステップと、
(d)前記衝突、フラグメンテーションまたは反応デバイスを第2の動作モードにおいて動作するように切り換え、改変、または変更するステップであって、実質的により少ない親または前駆イオンが衝突、フラグメンテーションまたは反応される、ステップと、
(e)前記第2の動作モードにおいて動作する衝突、フラグメンテーションまたは反応デバイスから現れるか、またはそこを通って移送されてきたイオンに関係する第2の質量スペクトルデータを記録するステップと、
(f)ステップ(b)〜(e)を複数回繰り返すステップと、
(g)1つまたはそれ以上の親もしくは前駆物質またはイオンの正確なまたは厳密な質量または質量電荷比を決定するステップであって、前記1つまたはそれ以上の親もしくは前駆物質またはイオンの正確なまたは厳密な質量または質量電荷比は、第1の整数質量または質量電荷比成分M1および第1の小数質量または質量電荷比成分m1を含む、ステップと、
(h)前記第1の質量スペクトルデータにおいてまたはそれから1つまたはそれ以上のフラグメント、生成、娘もしくは付加物質またはイオンを検索または決定するステップであって、前記1つまたはそれ以上のフラグメント、生成、娘もしくは付加物質またはイオンは、第2の整数質量または質量電荷比成分M2および第2の小数質量または質量電荷比成分m2を含み、前記第2の小数質量または質量電荷比成分m2は、前記第1の小数質量または質量電荷比成分m1よりも0〜x1mDaまたはミリ−質量電荷比単位大きい、および/または前記第1の小数質量または質量電荷比成分m1よりも0〜x2mDaまたはミリ−質量電荷比単位小さい、ステップとを含む方法。 - 前記1つまたはそれ以上の親もしくは前駆物質またはイオンは、製薬化合物、薬物または活性成分を含むか、またはそれに関係する、請求項1に記載の方法。
- 前記1つまたはそれ以上の親もしくは前駆物質またはイオンは、製薬化合物、薬物または活性成分の1つまたはそれ以上の代謝産物または誘導体を含むか、またはそれに関係する、請求項1に記載の方法。
- 前記1つまたはそれ以上の親もしくは前駆物質またはイオンは、生体高分子、タンパク質、ペプチド、ポリペプチド、オリゴヌクレオチド、オリゴヌクレオシド、アミノ酸、炭水化物、糖、脂質、脂肪酸、ビタミン、ホルモン、DNAの部分もしくはフラグメント、cDNAの部分もしくはフラグメント、RNAの部分もしくはフラグメント、mRNAの部分もしくはフラグメント、tRNAの部分もしくはフラグメント、ポリクローナル抗体、モノクローナル抗体、リボヌクレアーゼ、酵素、代謝産物、多糖類、リン酸化ペプチド、リン酸化タンパク質、糖ペプチド、糖タンパク質、またはステロイドを含むか、あるいはそれらに関係する、請求項1、2または3のいずれかに記載の方法。
- 前記1つまたはそれ以上のフラグメント、生成、娘もしくは付加物質またはイオンを検索または決定するステップは、前記1つまたはそれ以上のフラグメント、生成、娘もしくは付加物質またはイオンの小数質量または質量電荷比成分にのみ基づき、前記1つまたはそれ以上のフラグメント、生成、娘もしくは付加物質またはイオンの整数質量または質量電荷比成分には基づかずに検索または決定するステップを含む、先行する請求項のいずれかに記載の方法。
- 前記1つまたはそれ以上のフラグメント、生成、娘もしくは付加物質またはイオンを検索または決定するステップは、前記第1の整数質量または質量電荷比成分M1と異なる第2の整数質量または質量電荷比成分M2を有する一部またはすべてのフラグメント、生成、娘もしくは付加物質またはイオンを検索または決定するステップを含む、先行する請求項のいずれかに記載の方法。
- 前記1つまたはそれ以上のフラグメント、生成、娘もしくは付加物質またはイオンを検索または決定するステップは、小数質量または質量電荷比ウィンドウを前記第1の質量スペクトルデータまたは質量スペクトルに適用するステップをさらに含む、先行する請求項のいずれかに記載の方法。
- 前記小数質量または質量電荷比ウィンドウは、前記小数質量または質量電荷比ウィンドウから外れる小数質量または質量電荷比成分を有するフラグメント、生成、娘もしくは付加物質またはイオンの有意性をフィルタで取り除くか、除去するか、減衰させるか、または少なくとも低減する、請求項7に記載の方法。
- 前記第1の整数質量または質量電荷比M1から前記第2の整数質量または質量電荷比M2を差し引いたものがΔMダルトンまたは質量電荷比単位の値を有する、先行する請求項のいずれかに記載の方法。
- 前記x1および/またはx2は、ΔMの関数として実質的に一定のままとなるように構成される、請求項9に記載の方法。
- 前記x1および/またはx2は、ΔMの関数として変化するように構成される、請求項9に記載の方法。
- 前記x1および/またはx2は、ΔMの関数として対称的、非対称的、直線的、非直線的、曲線的または段階的に変化するように構成される、請求項11に記載の方法。
- 前記x1および/またはx2は、(i)0、(ii)±0〜5、(iii)±5〜10、(iv)±10〜15、(v)±15〜20、(vi)±20〜25、(vii)±25〜30、(viii)±30〜35、(ix)±35〜40、(x)±40〜45、(xi)±45〜50、(xii)±50〜55、(xiii)±55〜60、(xiv)±60〜65、(xv)±65〜70、(xvi)±70〜75、(xvii)±75〜80、(xviii)±80〜85、(xix)±85〜90、(xx)±90〜95、(xxi)±95〜100、(xxii)>100、および(xxiii)<−100からなる群から選択されるΔMの値を中心にして対称にΔMの関数として変化するように構成される、請求項11または12に記載の方法。
- 前記x1および/またはx2は、y%*ΔMの率で増加するか、または減少するように構成され、前記yは、(i)<0.01、(ii)0.01〜0.02、(iii)0.02〜0.03、(iv)0.03〜0.04、(v)0.04〜0.05、(vi)0.05〜0.06、(viii)0.06〜0.07、(ix)0.07〜0.08、(x)0.08〜0.09、(xi)0.09〜0.10、(xii)0.10〜0.11、(xiii)0.11〜0.12、(xiv)0.12〜0.13、(xv)0.13〜0.14、(xvi)0.14〜0.15、(xvii)0.15〜0.16、(xviii)0.16〜0.17、(xix)0.17〜0.18、(xx)0.18〜0.19、(xxi)0.19〜0.20、および(xxii)>0.20からなる群から選択される、請求項9〜13のいずれかに記載の方法。
- ΔM<Mlowerおよび/またはΔM>Mlowerおよび/またはΔM<Mupperおよび/またはΔM>Mupperならば、x1および/またはx2は、実質的に一定値を有するように構成される、請求項9〜14のいずれかに記載の方法。
- ΔM<Mlowerおよび/またはΔM>Mlowerおよび/またはΔM<Mupperおよび/またはΔM>Mupperならば、x1および/またはx2は、ΔMの関数として変化するように構成される、請求項9〜15のいずれかに記載の方法。
- ΔM<Mlowerおよび/またはΔM>Mlowerおよび/またはΔM<Mupperおよび/またはΔM>Mupperならば、x1および/またはx2は、ΔMの関数として対称的、非対称的、直線的、非直線的、曲線的または段階的に変化するように構成される、請求項16に記載の方法。
- 前記x1および/またはx2は、(i)0、(ii)±0〜5、(iii)±5〜10、(iv)±10〜15、(v)±15〜20、(vi)±20〜25、(vii)±25〜30、(viii)±30〜35、(ix)±35〜40、(x)±40〜45、(xi)±45〜50、(xii)±50〜55、(xiii)±55〜60、(xiv)±60〜65、(xv)±65〜70、(xvi)±70〜75、(xvii)±75〜80、(xviii)±80〜85、(xix)±85〜90、(xx)±90〜95、(xxi)±95〜100、(xxii)>100、および(xxiii)<−100からなる群から選択されるΔMの値を中心にして対称にΔMの関数として変化するように構成される、請求項16または17に記載の方法。
- ΔM<Mlowerおよび/またはΔM>Mlowerおよび/またはΔM<Mupperおよび/またはΔM>Mupperならば、x1および/またはx2は、y%*ΔMの率で増加するか、または減少するように構成され、前記yは、(i)<0.01、(ii)0.01〜0.02、(iii)0.02〜0.03、(iv)0.03〜0.04、(v)0.04〜0.05、(vi)0.05〜0.06、(viii)0.06〜0.07、(ix)0.07〜0.08、(x)0.08〜0.09、(xi)0.09〜0.10、(xii)0.10〜0.11、(xiii)0.11〜0.12、(xiv)0.12〜0.13、(xv)0.13〜0.14、(xvi)0.14〜0.15、(xvii)0.15〜0.16、(xviii)0.16〜0.17、(xix)0.17〜0.18、(xx)0.18〜0.19、(xxi)0.19〜0.20、および(xxii)>0.20からなる群から選択される、請求項9〜18のいずれかに記載の方法。
- 前記Mupperは、ダルトンまたは質量電荷比単位の値であり、(i)<1、(ii)1〜5、(iii)5〜10、(iv)10〜15、(v)15〜20、(vi)20〜25、(vii)25〜30、(viii)30〜35、(ix)35〜40、(x)40〜45、(xi)45〜50、(xii)50〜55、(xiii)55〜60、(xiv)60〜65、(xv)65〜70、(xvi)70〜75、(xvii)75〜80、(xviii)80〜85、(xix)85〜90、(xx)90〜95、(xxi)95〜100、および(xxii)>100からなる群から選択される範囲に入る、請求項15〜19のいずれかに記載の方法。
- 前記Mlowerは、ダルトンまたは質量電荷比単位の値であり、(i)<−100、(ii)−100〜−95、(iii)−95〜−90、(iv)−90〜−85、(v)−85〜−80、(vi)−80〜−75、(vii)−75〜−70、(viii)−70〜−65、(ix)−65〜−60、(x)−60〜−55、(xi)−55〜−50、(xii)−50〜−45、(xiii)−45〜−40、(xiv)−40〜−35、(xv)−35〜−30、(xvi)−30〜−25、(xvii)−25〜−20、(xviii)−20〜−15、(xix)−15〜−10、(xx)−10〜−5、(xxi)−5〜−1、および(xxii)>−1からなる群から選択される範囲に入る、請求項15〜20のいずれかに記載の方法。
- 前記x1および/またはx2は、M1および/またはM2の関数として実質的に一定のままとなるように構成される、先行する請求項のいずれかに記載の方法。
- 前記x1および/またはx2は、M1および/またはM2の関数として変化するように構成される、請求項1〜21のいずれかに記載の方法。
- 前記x1および/またはx2は、M1および/またはM2の関数として対称的、非対称的、直線的、非直線的、曲線的または段階的に変化するように構成される、請求項23に記載の方法。
- 前記x1および/またはx2は、(i)0〜50、(ii)50〜100、(iii)100〜150、(iv)150〜200、(v)200〜250、(vi)250〜300、(vii)300〜350、(viii)350〜400、(ix)400〜450、(x)450〜500、(xi)500〜550、(xii)550〜600、(xiii)600〜650、(xiv)650〜700、(xv)700〜750、(xvi)750〜800、(xvii)800〜850、(xviii)850〜900、(xix)900〜950、(xx)950〜1000、および(xxi)>1000からなる群から選択されるM1および/またはM2の値を中心にして対称にM1および/またはM2の関数として変化するように構成される、請求項24に記載の方法。
- 前記x1および/またはx2は、y%*M1および/またはy%*M2の率で増加するか、または減少するように構成され、前記yは、(i)<0.01、(ii)0.01〜0.02、(iii)0.02〜0.03、(iv)0.03〜0.04、(v)0.04〜0.05、(vi)0.05〜0.06、(viii)0.06〜0.07、(ix)0.07〜0.08、(x)0.08〜0.09、(xi)0.09〜0.10、(xii)0.10〜0.11、(xiii)0.11〜0.12、(xiv)0.12〜0.13、(xv)0.13〜0.14、(xvi)0.14〜0.15、(xvii)0.15〜0.16、(xviii)0.16〜0.17、(xix)0.17〜0.18、(xx)0.18〜0.19、(xxi)0.19〜0.20、および(xxii)>0.20からなる群から選択される、先行する請求項のいずれかに記載の方法。
- M1<Mlowerおよび/またはM1>Mlowerおよび/またはM1<Mupperおよび/またはM1>Mupperおよび/またはM2<Mlowerおよび/またはM2>Mlowerおよび/またはM2<Mupperおよび/またはM2>Mupperならば、x1および/またはx2は、実質的に一定値を有するように構成される、請求項9〜26のいずれかに記載の方法。
- M1<Mlowerおよび/またはM1>Mlowerおよび/またはM1<Mupperおよび/またはM1>Mupperおよび/またはM2<Mlowerおよび/またはM2>Mlowerおよび/またはM2<Mupperおよび/またはM2>Mupperならば、x1および/またはx2は、M1および/またはM2の関数として変化するように構成される、請求項9〜27のいずれかに記載の方法。
- M1<Mlowerおよび/またはM1>Mlowerおよび/またはM1<Mupperおよび/またはM1>Mupperおよび/またはM2<Mlowerおよび/またはM2>Mlowerおよび/またはM2<Mupperおよび/またはM2>Mupperならば、x1および/またはx2は、M1および/またはM2の関数として対称的、非対称的、直線的、非直線的、曲線的または段階的に変化するように構成される、請求項28に記載の方法。
- 前記x1および/またはx2は、(i)0〜50、(ii)50〜100、(iii)100〜150、(iv)150〜200、(v)200〜250、(vi)250〜300、(vii)300〜350、(viii)350〜400、(ix)400〜450、(x)450〜500、(xi)500〜550、(xii)550〜600、(xiii)600〜650、(xiv)650〜700、(xv)700〜750、(xvi)750〜800、(xvii)800〜850、(xviii)850〜900、(xix)900〜950、(xx)950〜1000、および(xxi)>1000からなる群から選択されるM1および/またはM2の値を中心にして対称にM1および/またはM2の関数として変化するように構成される、請求項28または29に記載の方法。
- M1<Mlowerおよび/またはM1>Mlowerおよび/またはM1<Mupperおよび/またはM1>Mupperおよび/またはM2<Mlowerおよび/またはM2>Mlowerおよび/またはM2<Mupperおよび/またはM2>Mupperならば、x1および/またはx2は、y%*M1またはy%*M2の率で増加するか、または減少するように構成され、前記yは、(i)<0.01、(ii)0.01〜0.02、(iii)0.02〜0.03、(iv)0.03〜0.04、(v)0.04〜0.05、(vi)0.05〜0.06、(viii)0.06〜0.07、(ix)0.07〜0.08、(x)0.08〜0.09、(xi)0.09〜0.10、(xii)0.10〜0.11、(xiii)0.11〜0.12、(xiv)0.12〜0.13、(xv)0.13〜0.14、(xvi)0.14〜0.15、(xvii)0.15〜0.16、(xviii)0.16〜0.17、(xix)0.17〜0.18、(xx)0.18〜0.19、(xxi)0.19〜0.20、および(xxii)>0.20からなる群から選択される、請求項9〜30のいずれかに記載の方法。
- 前記Mupperは、ダルトンまたは質量電荷比単位の値であり、(i)0〜50、(ii)50〜100、(iii)100〜150、(iv)150〜200、(v)200〜250、(vi)250〜300、(vii)300〜350、(viii)350〜400、(ix)400〜450、(x)450〜500、(xi)500〜550、(xii)550〜600、(xiii)600〜650、(xiv)650〜700、(xv)700〜750、(xvi)750〜800、(xvii)800〜850、(xviii)850〜900、(xix)900〜950、(xx)950〜1000、および(xxi)>1000からなる群から選択される範囲に入る、請求項27〜31のいずれかに記載の方法。
- 前記Mlowerは、ダルトンまたは質量電荷比単位の値であり、(i)0〜50、(ii)50〜100、(iii)100〜150、(iv)150〜200、(v)200〜250、(vi)250〜300、(vii)300〜350、(viii)350〜400、(ix)400〜450、(x)450〜500、(xi)500〜550、(xii)550〜600、(xiii)600〜650、(xiv)650〜700、(xv)700〜750、(xvi)750〜800、(xvii)800〜850、(xviii)850〜900、(xix)900〜950、(xx)950〜1000、および(xxi)>1000からなる群から選択される範囲に入る、請求項27〜32のいずれかに記載の方法。
- (i)前記第1の小数質量または質量電荷比成分m1よりも0〜x1mDaまたはミリ−質量電荷比単位大きい、および/または前記第1の小数質量または質量電荷比成分m1よりも0〜x2mDaまたはミリ−質量電荷比単位小さい小数質量または質量電荷比成分を有する1つまたはそれ以上の第2の物質またはイオン、
および/または
(ii)衝突、フラグメンテーションまたは反応した場合、前記第1の小数質量または質量電荷比成分m1よりも0〜x1mDaまたはミリ−質量電荷比単位大きい、および/または前記第1の小数質量または質量電荷比成分m1よりも0〜x2mDaまたはミリ−質量電荷比単位小さい小数質量または質量電荷比成分を有する1つまたはそれ以上のフラグメント、生成、娘もしくは付加物質またはイオンを生成する1つまたはそれ以上の第2の物質またはイオン
のいずれかをさらなる分析のために選択するステップをさらに含む、先行する請求項のいずれかに記載の方法。 - 前記さらなる分析のために選択するステップは、前記1つまたはそれ以上の第2の物質またはイオンをフラグメンテーションするステップを含む、請求項34に記載の方法。
- 前記さらなる分析のために選択するステップは、前記第1の小数質量または質量電荷比成分m1よりも0〜x1mDaまたはミリ−質量電荷比単位大きい、および/または前記第1の小数質量または質量電荷比成分m1よりも0〜x2mDaまたはミリ−質量電荷比単位小さい小数質量または質量電荷比成分を有する前記1つまたはそれ以上の第2の物質またはイオンを、衝突、フラグメンテーションまたは反応デバイスへ前方向に移送するステップを含む、請求項34または35に記載の方法。
- 質量分析の方法であって、
(a)親または前駆イオンを衝突、フラグメンテーションまたは反応デバイスに渡すステップと、
(b)前記衝突、フラグメンテーションまたは反応デバイスを第1の動作モードにおいて動作させるステップであって、前記親または前駆イオンの少なくともいくつかが衝突、フラグメンテーションまたは反応されて、フラグメント、生成、娘または付加イオンを生成する、ステップと、
(c)前記第1の動作モードにおいて動作する衝突、フラグメンテーションまたは反応デバイスから現れるか、またはそこを通って移送されてきたイオンに関係する第1の質量スペクトルデータを記録するステップと、
(d)前記衝突、フラグメンテーションまたは反応デバイスを第2の動作モードにおいて動作するように切り換え、改変、または変更するステップであって、実質的により少ない親または前駆イオンが衝突、フラグメンテーションまたは反応される、ステップと、
(e)前記第2の動作モードにおいて動作する衝突、フラグメンテーションまたは反応デバイスから現れるか、またはそこを通って移送されてきたイオンに関係する第2の質量スペクトルデータを記録するステップと、
(f)ステップ(b)〜(e)を複数回繰り返すステップと、
(g)1つまたはそれ以上の第1の親もしくは前駆物質またはイオンの正確なまたは厳密な質量または質量電荷比を決定するステップであって、前記1つまたはそれ以上の第1の親もしくは前駆物質またはイオンの正確なまたは厳密な質量または質量電荷比は、第1の整数質量または質量電荷比成分M1および第1の小数質量または質量電荷比成分m1を含む、ステップと、
(h)前記第1の質量スペクトルデータにおいてまたはそれから1つまたはそれ以上の第2の親もしくは前駆物質またはイオンを検索または決定するステップであって、前記1つまたはそれ以上の第2の親もしくは前駆物質またはイオンは、第2の整数質量または質量電荷比成分M2および第2の小数質量または質量電荷比成分m2を含み、前記第2の小数質量または質量電荷比成分m2は、前記第1の小数質量または質量電荷比成分m1よりも0〜x1mDaまたはミリ−質量電荷比単位大きい、および/または前記第1の小数質量または質量電荷比成分m1よりも0〜x2mDaまたはミリ−質量電荷比単位小さい、ステップとを含む方法。 - 前記第1および/または第2の親もしくは前駆物質またはイオンは、製薬化合物、薬物または活性成分を含むか、またはそれに関係する、請求項37に記載の方法。
- 前記第1および/または第2の親もしくは前駆物質またはイオンは、製薬化合物、薬物または活性成分の1つまたはそれ以上の代謝産物または誘導体を含むか、またはそれに関係する、請求項37または38に記載の方法。
- 前記第1および/または第2の親もしくは前駆物質またはイオンは、生体高分子、タンパク質、ペプチド、ポリペプチド、オリゴヌクレオチド、オリゴヌクレオシド、アミノ酸、炭水化物、糖、脂質、脂肪酸、ビタミン、ホルモン、DNAの部分もしくはフラグメント、cDNAの部分もしくはフラグメント、RNAの部分もしくはフラグメント、mRNAの部分もしくはフラグメント、tRNAの部分もしくはフラグメント、ポリクローナル抗体、モノクローナル抗体、リボヌクレアーゼ、酵素、代謝産物、多糖類、リン酸化ペプチド、リン酸化タンパク質、糖ペプチド、糖タンパク質、またはステロイドを含むか、あるいはそれらに関係する、請求項37、38または39に記載の方法。
- 前記1つまたはそれ以上の第2の親もしくは前駆物質またはイオンを検索または決定するステップは、前記第2の小数質量または質量電荷比成分m2にのみ基づき、前記第2の整数質量または質量電荷比成分M2には基づかずに検索するステップを含む、請求項37〜40のいずれかに記載の方法。
- 前記1つまたはそれ以上の第2の親もしくは前駆物質またはイオンを検索または決定するステップは、前記第1の整数質量または質量電荷比成分M1とは異なる第2の整数質量または質量電荷比成分M2を有する一部またはすべての第2の親もしくは前駆物質またはイオンを検索または決定するステップを含む、請求項37〜41のいずれかに記載の方法。
- 前記1つまたはそれ以上の第2の親もしくは前駆物質またはイオンを検索または決定するステップは、小数質量または質量電荷比ウィンドウを前記第1の質量スペクトルデータおよび/または前記第2の質量スペクトルデータおよび/または質量スペクトルに対して適用するステップをさらに含む、請求項37〜42のいずれかに記載の方法。
- 前記小数質量または質量電荷比ウィンドウは、前記小数質量または質量電荷比ウィンドウから外れる第2の小数質量または質量電荷比成分m2を有する第2の親もしくは前駆物質またはイオンの有意性をフィルタで取り除くか、除去するか、減衰させるか、または少なくとも低減する、請求項43に記載の方法。
- 前記第1の整数質量または質量電荷比M1から前記第2の整数質量または質量電荷比M2を差し引いたものがΔMダルトンまたは質量電荷比単位の値を有する、請求項37〜44のいずれかに記載の方法。
- 前記x1および/またはx2は、ΔMの関数として実質的に一定のままとなるように構成される、請求項45に記載の方法。
- 前記x1および/またはx2は、ΔMの関数として変化するように構成される、請求項45に記載の方法。
- 前記x1および/またはx2は、ΔMの関数として対称的、非対称的、直線的、非直線的、曲線的または段階的に変化するように構成される、請求項47に記載の方法。
- 前記x1および/またはx2は、(i)0、(ii)±0〜5、(iii)±5〜10、(iv)±10〜15、(v)±15〜20、(vi)±20〜25、(vii)±25〜30、(viii)±30〜35、(ix)±35〜40、(x)±40〜45、(xi)±45〜50、(xii)±50〜55、(xiii)±55〜60、(xiv)±60〜65、(xv)±65〜70、(xvi)±70〜75、(xvii)±75〜80、(xviii)±80〜85、(xix)±85〜90、(xx)±90〜95、(xxi)±95〜100、(xxii)>100、および(xxiii)<−100からなる群から選択されるΔMの値を中心にして対称にΔMの関数として変化するように構成される、請求項47または48に記載の方法。
- 前記x1および/またはx2は、y%*ΔMの率で増加するか、または減少するように構成され、前記yは、(i)<0.01、(ii)0.01〜0.02、(iii)0.02〜0.03、(iv)0.03〜0.04、(v)0.04〜0.05、(vi)0.05〜0.06、(viii)0.06〜0.07、(ix)0.07〜0.08、(x)0.08〜0.09、(xi)0.09〜0.10、(xii)0.10〜0.11、(xiii)0.11〜0.12、(xiv)0.12〜0.13、(xv)0.13〜0.14、(xvi)0.14〜0.15、(xvii)0.15〜0.16、(xviii)0.16〜0.17、(xix)0.17〜0.18、(xx)0.18〜0.19、(xxi)0.19〜0.20、および(xxii)>0.20からなる群より選択される、請求項37〜49のいずれかに記載の方法。
- ΔM<Mlowerおよび/またはΔM>Mlowerおよび/またはΔM<Mupperおよび/またはΔM>Mupperならば、x1および/またはx2は、実質的に一定値を有するように構成される、請求項37〜50のいずれかに記載の方法。
- ΔM<Mlowerおよび/またはΔM>Mlowerおよび/またはΔM<Mupperおよび/またはΔM>Mupperならば、x1および/またはx2は、ΔMの関数として変化するように構成される、請求項37〜51のいずれかに記載の方法。
- ΔM<Mlowerおよび/またはΔM>Mlowerおよび/またはΔM<Mupperおよび/またはΔM>Mupperならば、x1および/またはx2は、ΔMの関数として対称的、非対称的、直線的、非直線的、曲線的または段階的に変化するように構成される、請求項52に記載の方法。
- 前記x1および/またはx2は、(i)0、(ii)±0〜5、(iii)±5〜10、(iv)±10〜15、(v)±15〜20、(vi)±20〜25、(vii)±25〜30、(viii)±30〜35、(ix)±35〜40、(x)±40〜45、(xi)±45〜50、(xii)±50〜55、(xiii)±55〜60、(xiv)±60〜65、(xv)±65〜70、(xvi)±70〜75、(xvii)±75〜80、(xviii)±80〜85、(xix)±85〜90、(xx)±90〜95、(xxi)±95〜100、(xxii)>100、および(xxiii)<−100からなる群から選択されるΔMの値を中心にして対称にΔMの関数として変化するように構成される、請求項52または53に記載の方法。
- ΔM<Mlowerおよび/またはΔM>Mlowerおよび/またはΔM<Mupperおよび/またはΔM>Mupperならば、x1および/またはx2は、y%*ΔMの率で増加するか、または減少するように構成され、前記yは、(i)<0.01、(ii)0.01〜0.02、(iii)0.02〜0.03、(iv)0.03〜0.04、(v)0.04〜0.05、(vi)0.05〜0.06、(viii)0.06〜0.07、(ix)0.07〜0.08、(x)0.08〜0.09、(xi)0.09〜0.10、(xii)0.10〜0.11、(xiii)0.11〜0.12、(xiv)0.12〜0.13、(xv)0.13〜0.14、(xvi)0.14〜0.15、(xvii)0.15〜0.16、(xviii)0.16〜0.17、(xix)0.17〜0.18、(xx)0.18〜0.19、(xxi)0.19〜0.20、および(xxii)>0.20からなる群から選択される、請求項37〜54のいずれかに記載の方法。
- 前記Mupperは、ダルトンまたは質量電荷比単位の値であり、(i)<1、(ii)1〜5、(iii)5〜10、(iv)10〜15、(v)15〜20、(vi)20〜25、(vii)25〜30、(viii)30〜35、(ix)35〜40、(x)40〜45、(xi)45〜50、(xii)50〜55、(xiii)55〜60、(xiv)60〜65、(xv)65〜70、(xvi)70〜75、(xvii)75〜80、(xviii)80〜85、(xix)85〜90、(xx)90〜95、(xxi)95〜100、および(xxii)>100からなる群から選択される範囲に入る、請求項51〜55のいずれかに記載の方法。
- 前記Mlowerは、ダルトンまたは質量電荷比単位の値であり、(i)<−100、(ii)−100〜−95、(iii)−95〜−90、(iv)−90〜−85、(v)−85〜−80、(vi)−80〜−75、(vii)−75〜−70、(viii)−70〜−65、(ix)−65〜−60、(x)−60〜−55、(xi)−55〜−50、(xii)−50〜−45、(xiii)−45〜−40、(xiv)−40〜−35、(xv)−35〜−30、(xvi)−30〜−25、(xvii)−25〜−20、(xviii)−20〜−15、(xix)−15〜−10、(xx)−10〜−5、(xxi)−5〜−1、および(xxii)>−1からなる群から選択される範囲に入る、請求項51〜56のいずれかに記載の方法。
- 前記x1および/またはx2は、M1および/またはM2の関数として実質的に一定のままとなるように構成される、請求項37〜57のいずれかに記載の方法。
- 前記x1および/またはx2は、M1および/またはM2の関数として変化するように構成される、請求項37〜57のいずれかに記載の方法。
- 前記x1および/またはx2は、M1および/またはM2の関数として対称的、非対称的、直線的、非直線的、曲線的または段階的に変化するように構成される、請求項59に記載の方法。
- 前記x1および/またはx2は、(i)0〜50、(ii)50〜100、(iii)100〜150、(iv)150〜200、(v)200〜250、(vi)250〜300、(vii)300〜350、(viii)350〜400、(ix)400〜450、(x)450〜500、(xi)500〜550、(xii)550〜600、(xiii)600〜650、(xiv)650〜700、(xv)700〜750、(xvi)750〜800、(xvii)800〜850、(xviii)850〜900、(xix)900〜950、(xx)950〜1000、および(xxi)>1000からなる群から選択されるM1および/またはM2の値を中心にして対称にM1および/またはM2の関数として変化するように構成される、請求項59または60に記載の方法。
- 前記x1および/またはx2は、y%*M1および/またはy%*M2の率で増加するか、または減少するように構成され、前記yは、(i)<0.01、(ii)0.01〜0.02、(iii)0.02〜0.03、(iv)0.03〜0.04、(v)0.04〜0.05、(vi)0.05〜0.06、(viii)0.06〜0.07、(ix)0.07〜0.08、(x)0.08〜0.09、(xi)0.09〜0.10、(xii)0.10〜0.11、(xiii)0.11〜0.12、(xiv)0.12〜0.13、(xv)0.13〜0.14、(xvi)0.14〜0.15、(xvii)0.15〜0.16、(xviii)0.16〜0.17、(xix)0.17〜0.18、(xx)0.18〜0.19、(xxi)0.19〜0.20、および(xxii)>0.20からなる群から選択される、請求項37〜61のいずれかに記載の方法。
- M1<Mlowerおよび/またはM1>Mlowerおよび/またはM1<Mupperおよび/またはM1>Mupperおよび/またはM2<Mlowerおよび/またはM2>Mlowerおよび/またはM2<Mupperおよび/またはM2>Mupperならば、x1および/またはx2は、実質的に一定値を有するように構成される、請求項37〜62のいずれかに記載の方法。
- M1<Mlowerおよび/またはM1>Mlowerおよび/またはM1<Mupperおよび/またはM1>Mupperおよび/またはM2<Mlowerおよび/またはM2>Mlowerおよび/またはM2<Mupperおよび/またはM2>Mupperならば、x1および/またはx2は、M1および/またはM2の関数として変化するように構成される、請求項37〜63のいずれかに記載の方法。
- M1<Mlowerおよび/またはM1>Mlowerおよび/またはM1<Mupperおよび/またはM1>Mupperおよび/またはM2<Mlowerおよび/またはM2>Mlowerおよび/またはM2<Mupperおよび/またはM2>Mupperならば、x1および/またはx2は、M1および/またはM2の関数として対称的、非対称的、直線的、非直線的、曲線的または段階的に変化するように構成される、請求項64に記載の方法。
- 前記x1および/またはx2は、(i)0〜50、(ii)50〜100、(iii)100〜150、(iv)150〜200、(v)200〜250、(vi)250〜300、(vii)300〜350、(viii)350〜400、(ix)400〜450、(x)450〜500、(xi)500〜550、(xii)550〜600、(xiii)600〜650、(xiv)650〜700、(xv)700〜750、(xvi)750〜800、(xvii)800〜850、(xviii)850〜900、(xix)900〜950、(xx)950〜1000、および(xxi)>1000からなる群から選択されるM1および/またはM2の値を中心にして対称にM1および/またはM2の関数として変化するように構成される、請求項64または65に記載の方法。
- M1<Mlowerおよび/またはM1>Mlowerおよび/またはM1<Mupperおよび/またはM1>Mupperおよび/またはM2<Mlowerおよび/またはM2>Mlowerおよび/またはM2<Mupperおよび/またはM2>Mupperならば、x1および/またはx2は、y%*M1またはy%*M2の率で増加するか、または減少するように構成され、前記yは、(i)<0.01、(ii)0.01〜0.02、(iii)0.02〜0.03、(iv)0.03〜0.04、(v)0.04〜0.05、(vi)0.05〜0.06、(viii)0.06〜0.07、(ix)0.07〜0.08、(x)0.08〜0.09、(xi)0.09〜0.10、(xii)0.10〜0.11、(xiii)0.11〜0.12、(xiv)0.12〜0.13、(xv)0.13〜0.14、(xvi)0.14〜0.15、(xvii)0.15〜0.16、(xviii)0.16〜0.17、(xix)0.17〜0.18、(xx)0.18〜0.19、(xxi)0.19〜0.20、および(xxii)>0.20からなる群から選択される、請求項37〜66のいずれかに記載の方法。
- 前記Mupperは、ダルトンまたは質量電荷比単位の値であり、(i)0〜50、(ii)50〜100、(iii)100〜150、(iv)150〜200、(v)200〜250、(vi)250〜300、(vii)300〜350、(viii)350〜400、(ix)400〜450、(x)450〜500、(xi)500〜550、(xii)550〜600、(xiii)600〜650、(xiv)650〜700、(xv)700〜750、(xvi)750〜800、(xvii)800〜850、(xviii)850〜900、(xix)900〜950、(xx)950〜1000、および(xxi)>1000からなる群から選択される範囲に入る、請求項37〜67のいずれかに記載の方法。
- 前記Mlowerは、ダルトンまたは質量電荷比単位の値であり、(i)0〜50、(ii)50〜100、(iii)100〜150、(iv)150〜200、(v)200〜250、(vi)250〜300、(vii)300〜350、(viii)350〜400、(ix)400〜450、(x)450〜500、(xi)500〜550、(xii)550〜600、(xiii)600〜650、(xiv)650〜700、(xv)700〜750、(xvi)750〜800、(xvii)800〜850、(xviii)850〜900、(xix)900〜950、(xx)950〜1000、および(xxi)>1000からなる群から選択される範囲に入る、請求項37〜68のいずれかに記載の方法。
- 前記第1の小数質量または質量電荷比成分m1よりも0〜x1mDaまたはミリ−質量電荷比単位大きい、および/または前記第1の小数質量または質量電荷比成分m1よりも0〜x2mDaまたはミリ−質量電荷比単位小さい小数質量または質量電荷比成分m2を有する1つまたはそれ以上の第2の親もしくは前駆物質またはイオンをさらなる分析のために選択するステップをさらに含む、請求項37〜69のいずれかに記載の方法。
- 前記さらなる分析のために選択するステップは、前記1つまたはそれ以上の第2の親もしくは前駆物質またはイオンをフラグメンテーションするステップを含む、請求項70に記載の方法。
- 前記さらなる分析のために選択するステップは、前記第1の小数質量または質量電荷比成分m1よりも0〜x1mDaまたはミリ−質量電荷比単位大きい、および/または前記第1の小数質量または質量電荷比成分m1よりも0〜x2mDaまたはミリ−質量電荷比単位小さい小数質量または質量電荷比成分m2を有する前記1つまたはそれ以上の第2の親もしくは前駆物質またはイオンを、衝突、フラグメンテーションまたは反応デバイスへ前方向に移送するステップを含む、請求項70または71に記載の方法。
- 前記x1は、(i)<1、(ii)1〜5、(iii)5〜10、(iv)10〜15、(v)15〜20、(vi)20〜25、(vii)25〜30、(viii)30〜35、(ix)35〜40、(x)40〜45、(xi)45〜50、(xii)50〜55、(xiii)55〜60、(xiv)60〜65、(xv)65〜70、(xvi)70〜75、(xvii)75〜80、(xviii)80〜85、(xix)85〜90、(xx)90〜95、(xxi)95〜100、および(xxii)>100からなる群から選択される範囲に入る、先行する請求項のいずれかに記載の方法。
- 前記x2は、(i)<1、(ii)1〜5、(iii)5〜10、(iv)10〜15、(v)15〜20、(vi)20〜25、(vii)25〜30、(viii)30〜35、(ix)35〜40、(x)40〜45、(xi)45〜50、(xii)50〜55、(xiii)55〜60、(xiv)60〜65、(xv)65〜70、(xvi)70〜75、(xvii)75〜80、(xviii)80〜85、(xix)85〜90、(xx)90〜95、(xxi)95〜100、および(xxii)>100からなる群から選択される範囲に入る、先行する請求項のいずれかに記載の方法。
- 異なるアイデンティティを有するか、または異なる種を含む、少なくとも、2、5、10、20、30、40、50、60、70、80、90、100、200、300、400、500、600、700、800、900、1000、1500、2000、2500、3000、3500、4000、4500、または5000個の成分、分子または検体を含む試料を分析するステップをさらに含む、先行する請求項のいずれかに記載の方法。
- 前記衝突、フラグメンテーションまたは反応デバイスは、衝突誘起解離デバイスを含む、先行する請求項のいずれかに記載の方法。
- 前記衝突、フラグメンテーションまたは反応デバイスは、(i)表面誘起解離(「SID」)フラグメンテーションデバイス、(ii)電子移動解離フラグメンテーションデバイス、(iii)電子捕獲解離フラグメンテーションデバイス、(iv)電子衝突または衝撃解離フラグメンテーションデバイス、(v)光誘起解離(「PID」)フラグメンテーションデバイス、(vi)レーザ誘起解離フラグメンテーションデバイス、(vii)赤外放射誘起解離デバイス、(viii)紫外放射誘起解離デバイス、(ix)ノズル−スキマ間インターフェースフラグメンテーションデバイス、(x)インソースフラグメンテーションデバイス、(xi)イオン源衝突誘起解離フラグメンテーションデバイス、(xii)熱または温度源フラグメンテーションデバイス、(xiii)電界誘起フラグメンテーションデバイス、(xiv)磁場誘起フラグメンテーションデバイス、(xv)酵素消化または酵素分解フラグメンテーションデバイス、(xvi)イオン−イオン反応フラグメンテーションデバイス、(xvii)イオン−分子反応フラグメンテーションデバイス、(xviii)イオン−原子反応フラグメンテーションデバイス、(xix)イオン−メタステーブルイオン反応フラグメンテーションデバイス、(xx)イオン−メタステーブル分子反応フラグメンテーションデバイス、(xxi)イオン−メタステーブル原子反応フラグメンテーションデバイス、(xxii)イオンを反応させて付加または生成イオンを形成するためのイオン−イオン反応デバイス、(xxiii)イオンを反応させて付加または生成イオンを形成するためのイオン−分子反応デバイス、(xxiv)イオンを反応させて付加または生成イオンを形成するためのイオン−原子反応デバイス、(xxv)イオンを反応させて付加または生成イオンを形成するためのイオン−メタステーブルイオン反応デバイス、(xxvi)イオンを反応させて付加または生成イオンを形成するためのイオン−メタステーブル分子反応デバイス、および(xxvii)イオンを反応させて付加または生成イオンを形成するためのイオン−メタステーブル原子反応デバイスからなる群から選択される、請求項1〜75のいずれかに記載の方法。
- 前記1つまたはそれ以上の第2の物質またはイオンまたは前記1つまたはそれ以上の第2の親もしくは前駆物質またはイオンのフラグメンテーションによって得られるフラグメント生成物またはイオンを質量分析するステップをさらに含む、請求項35または71に記載の方法。
- 分析されるべき試料中の成分、検体または分子を分離プロセスによって分離するステップをさらに含む、先行する請求項のいずれかに記載の方法。
- 前記分離プロセスは液体クロマトグラフィを含む、請求項79に記載の方法。
- 分離プロセスは、(i)高速液体クロマトグラフィ(「HPLC」)、(ii)陰イオン変換、(iii)陰イオン変換クロマトグラフィ、(iv)陽イオン変換、(v)陽イオン変換クロマトグラフィ、(vi)イオン対逆相クロマトグラフィ、(vii)クロマトグラフィ、(viii)1次元電気泳動、(ix)多次元電気泳動、(x)サイズ排除、(xi)親和性、(xii)逆相クロマトグラフィ、(xiii)キャピラリ電気泳動クロマトグラフィ(「CEC」)、(xiv)電気泳動、(xv)イオン移動度分離、(xvi)フィールド非対称なイオン移動度分離またはスペクトロメトリ(「FAIMS」)、(xvii)キャピラリ電気泳動、(xviii)ガスクロマトグラフィ、および(xix)超臨界流体クロマトグラフィを含む、請求項79に記載の方法。
- 分析されるべき試料中の成分、検体または分子をイオン化するステップをさらに含む、先行する請求項のいずれかに記載の方法。
- 成分、検体または分子を連続またはパルス化イオン源を用いてイオン化するステップをさらに含む請求項82に記載の方法。
- 前記成分、検体または分子をイオン化するステップは、(i)エレクトロスプレーイオン化(「ESI」)イオン源、(ii)大気圧光イオン化(「APPI」)イオン源、(iii)大気圧化学イオン化(「APCI」)イオン源、(iv)マトリックス支援レーザ脱離イオン化(「MALDI」)イオン源、(v)レーザ脱離イオン化(「LDI」)イオン源、(vi)大気圧イオン化(「API」)イオン源、(vii)シリコンを用いた脱離イオン化(「DIOS」)イオン源、(viii)電子衝突(「EI」)イオン源、(ix)化学イオン化(「CI」)イオン源、(x)電界イオン化(「FI」)イオン源、(xi)電界脱離(「FD」)イオン源、(xii)誘導結合プラズマ(「ICP」)イオン源、(xiii)高速原子衝撃(「FAB」)イオン源、(xiv)液体二次イオン質量分析(「LSIMS」)イオン源、(xv)脱離エレクトロスプレーイオン化(「DESI」)イオン源、(xvi)ニッケル−63放射性イオン源、および(xvii)サーモスプレーイオン源からなる群から選択されるイオン源を用いて前記成分、検体または分子をイオン化するステップを含む、請求項82または83に記載の方法。
- 前記1つまたはそれ以上の第1の親もしくは前駆物質またはイオンおよび/または前記1つまたはそれ以上の第2の親もしくは前駆物質またはイオンおよび/または前記1つまたはそれ以上の第2の物質またはイオンおよび/またはフラグメント生成物またはイオンを質量分析器を用いて質量分析するステップをさらに含む、先行する請求項のいずれかに記載の方法。
- 前記質量分析するステップは、(i)フーリエ変換(「FT」)質量分析器、(ii)フーリエ変換イオンサイクロトロン共鳴(「FTICR」)質量分析器、(iii)飛行時間(「TOF」)質量分析器、(iv)直交加速飛行時間(「oaTOF」)質量分析器、(v)軸方向加速飛行時間質量分析器、(vi)扇形磁場質量分析計、(vii)ポールまたは3D四重極質量分析器、(viii)2Dまたは直線四重極質量分析器、(ix)ペニングトラップ質量分析器、(x)イオントラップ質量分析器、(xi)フーリエ変換オービトラップ、(xii)静電イオンサイクロトロン共鳴質量分析計、(xiii)静電フーリエ変換質量分析計、および(xiv)四重極質量分析器からなる群から選択される質量分析器を用いて質量分析するステップを含む、請求項85に記載の方法。
- 前記1つまたはそれ以上の親もしくは前駆物質またはイオンおよび/または前記1つまたはそれ以上のフラグメント、生成、娘または付加イオンおよび/または前記1つまたはそれ以上の第1の親もしくは前駆物質またはイオンおよび/または前記1つまたはそれ以上の第2の親もしくは前駆物質またはイオンの厳密なまたは正確な質量または質量電荷比は、20ppm、19ppm、18ppm、17ppm、16ppm、15ppm、14ppm、13ppm、12ppm、11ppm、10ppm、9ppm、8ppm、7ppm、6ppm、5ppm、4ppm、3ppm、2ppm、1ppm以内または<1ppmに決定される、先行する請求項のいずれかに記載の方法。
- 前記1つまたはそれ以上の親もしくは前駆物質またはイオンおよび/または前記1つまたはそれ以上のフラグメント、生成、娘または付加イオンおよび/または前記1つまたはそれ以上の第1の親もしくは前駆物質またはイオンおよび/または前記1つまたはそれ以上の第2の親もしくは前駆物質またはイオンの厳密なまたは正確な質量または質量電荷比は、0.40質量単位、0.35質量単位、0.30質量単位、0.25質量単位、0.20質量単位、0.15質量単位、0.10質量単位、0.05質量単位、0.01質量単位、0.009質量単位、0.008質量単位、0.007質量単位、0.006質量単位、0.005質量単位、0.004質量単位、0.003質量単位、0.002質量単位、0.001質量単位以内または<0.001質量単位に決定される、先行する請求項のいずれかに記載の方法。
- 分析される試料は、疾患生体、非疾患生体、処置生体、非処置生体、変異生体または野生型生体から採取される、先行する請求項のいずれかに記載の方法。
- 前記1つまたはそれ以上の親もしくは前駆物質またはイオンおよび/または前記1つまたはそれ以上のフラグメント、生成、娘または付加イオンおよび/または前記1つまたはそれ以上の第1の親もしくは前駆物質またはイオンおよび/または前記1つまたはそれ以上の第2の親もしくは前駆物質またはイオンの組成を同定または決定するステップをさらに含む、先行する請求項のいずれかに記載の方法。
- 前記1つまたはそれ以上の親もしくは前駆物質またはイオンおよび/または前記1つまたはそれ以上のフラグメント、生成、娘または付加イオンおよび/または前記1つまたはそれ以上の第1の親もしくは前駆物質またはイオンおよび/または前記1つまたはそれ以上の第2の親もしくは前駆物質またはイオンの強度、濃度または発現レベルを定量または決定するステップをさらに含む、先行する請求項のいずれかに記載の方法。
- 前記1つまたはそれ以上の親もしくは前駆物質またはイオンおよび/または前記1つまたはそれ以上のフラグメント、生成、娘または付加イオンおよび/または前記1つまたはそれ以上の第1の親もしくは前駆物質またはイオンおよび/または前記1つまたはそれ以上の第2の親もしくは前駆物質またはイオンを認識するステップをさらに含む、先行する請求項のいずれかに記載の方法。
- 第1の質量スペクトルまたは質量スペクトルデータを、実質的に同時に得られる第2の質量スペクトルまたは質量スペクトルデータと比較するステップと、
第2の質量スペクトルまたは質量スペクトルデータにおいて第1の質量スペクトルまたは質量スペクトルデータと比べて大きな強度を有するイオンを親または前駆イオンとして認識するステップとを含む、請求項92に記載の方法。 - フラグメント、生成、娘または付加イオンを認識するステップをさらに含む、先行する請求項のいずれかに記載の質量分析の方法。
- 第1の質量スペクトルまたは質量スペクトルデータを、実質的に同時に得られる第2の質量スペクトルまたは質量スペクトルデータと比較するステップと、
第1の質量スペクトルまたは質量スペクトルデータにおいて第2の質量スペクトルまたは質量スペクトルデータと比べて大きな強度を有するイオンをフラグメント、生成、娘または付加イオンとして認識するステップとを含む、請求項94に記載の質量分析の方法。 - すべての前記親または前駆イオンから1サブグループの可能な候補の親または前駆イオンを選択する工程をさらに含む、先行する請求項のいずれかに記載の質量分析の方法。
- 所定のフラグメント、生成、娘または付加イオンに対するそれらの関係に基づいて可能な候補の親または前駆イオンを選択するステップをさらに含む、請求項96に記載の質量分析の方法。
- 第1の質量スペクトルを用いて前記所定のフラグメント、生成、娘または付加イオンに対する所定のフラグメント、生成、娘または付加イオン質量クロマトグラムを生成するステップと、
前記所定のフラグメント、生成、娘または付加イオン質量クロマトグラムにおける各ピークの中心を決定するステップと、
対応する所定のフラグメント、生成、娘または付加イオン溶出時間を決定するステップとをさらに含む、先行する請求項97に記載の質量分析の方法。 - 前記所定のフラグメント、生成、娘または付加イオン質量クロマトグラムにおける各ピークに対して、
以前に認識された親または前駆イオンの存在について、前記所定のフラグメント、生成、娘または付加イオン溶出時間の直前に得られる第2の質量スペクトルおよび前記所定のフラグメント、生成、娘または付加イオン溶出時間の直後に得られる第2の質量スペクトルの両方を調べるステップと、
前記所定のフラグメント、生成、娘または付加イオン溶出時間の直前の第2の質量スペクトルおよび前記所定のフラグメント、生成、娘または付加イオン溶出時間の直後の第2の質量スペクトルの両方に存在が見つかったいずれの以前に認識された親または前駆イオンに対して可能な候補の親または前駆イオン質量クロマトグラムを生成するステップと、
各前記可能な候補の親または前駆イオン質量クロマトグラムにおいて各ピークの中心を決定するステップと、
対応する可能な候補の親または前駆イオン溶出時間を決定するステップとをさらに含む、請求項98に記載の質量分析の方法。 - 可能な候補の親または前駆イオンをそれらの溶出時間の前記所定のフラグメント、生成、娘または付加イオン溶出時間との一致度にしたがって順位づけするステップをさらに含む、請求項99に記載の質量分析の方法。
- 可能な候補の親または前駆イオンの溶出時間が、前記所定のフラグメント、生成、娘または付加イオン溶出時間よりも所定量より多く先行または超える場合に、前記可能な候補の親または前駆イオンを棄却することにより、前記可能な候補の親または前駆イオンから最終候補の親または前駆イオンのリストを作成するステップをさらに含む、請求項100に記載の質量分析の方法。
- 可能な候補の親または前駆イオンを、それらが所定の質量損失を生じることに基づいて、選択するステップをさらに含む、先行する請求項のいずれかに記載の質量分析の方法。
- 各第2の質量スペクトルまたは第2の質量スペクトルデータに対して、
前記第2の質量スペクトルまたは第2の質量スペクトルデータ中に存在する各以前に認識された親または前駆イオンからの所定のイオンまたは中性粒子の損失によって得られ得るターゲットフラグメント、生成、娘または付加イオン質量電荷値のリストを生成するステップと、
前記ターゲットフラグメント、生成、娘または付加イオン質量電荷値に対応する質量電荷値を有するフラグメント、生成、娘または付加イオンの存在について、前記第2の質量スペクトルまたは第2の質量スペクトルデータの直前に得られる第1の質量スペクトルまたは第1の質量スペクトルデータおよび前記第2の質量スペクトルまたは第2の質量スペクトルデータの直後に得られる第1の質量スペクトルまたは第1の質量スペクトルデータの両方を調べるステップと、
前記ターゲットフラグメント、生成、娘または付加イオン質量電荷値に対応する質量電荷値を有するフラグメント、生成、娘または付加イオンが前記第2の質量スペクトルまたは第2の質量スペクトルデータの直前の前記第1の質量スペクトルまたは第1の質量スペクトルデータおよび前記第2の質量スペクトルまたは第2の質量スペクトルデータの直後の前記第1の質量スペクトルまたは第1の質量スペクトルデータの両方に存在することが見つかった場合に、前記リストに親または前駆イオンを含めることによって、可能な候補の親または前駆イオンのリストを、必要に応じてそれらに対応するフラグメント、生成、娘または付加イオンとともに、作成するステップとをさらに含む、先行する請求項のいずれかに記載の質量分析の方法。 - 可能な候補の親または前駆イオンおよびそれらに対応するフラグメント、生成、娘または付加イオンに基づいて質量損失クロマトグラムを生成するステップと、
前記質量損失クロマトグラムにおいて各ピークの中心を決定するステップと、
対応する質量損失溶出時間を決定するステップとをさらに含む、先行する請求項のいずれかに記載の質量分析の方法。 - 各可能な候補の親または前駆イオンに対して、
第2の質量スペクトルまたは第2の質量スペクトルデータを用いて前記可能な候補の親または前駆イオンに対する可能な候補の親または前駆イオン質量クロマトグラムを生成するステップと、
対応するフラグメント、生成、娘または付加イオンに対する対応のフラグメント、生成、娘または付加イオン質量クロマトグラムを生成するステップと、
前記可能な候補の親または前駆イオン質量クロマトグラムおよび対応するフラグメント、生成、娘または付加イオン質量クロマトグラムにおいて各ピークの中心を決定するステップと、
対応する可能な候補の親または前駆イオン溶出時間および対応するフラグメント、生成、娘または付加イオン溶出時間を決定するステップとをさらに含む、先行する請求項のいずれかに記載の質量分析の方法。 - 可能な候補の親または前駆イオンの溶出時間が、対応するフラグメント、生成、娘または付加イオン溶出時間よりも所定量より多く先行または超える場合に、前記可能な候補の親または前駆イオンを棄却することにより、前記可能な候補の親または前駆イオンから最終候補の親または前駆イオンのリストを作成するステップをさらに含む、請求項105に記載の質量分析の方法。
- 各最終候補の親または前駆イオンを同定するステップをさらに含む、先行する請求項のいずれかに記載の方法。
- 各最終候補の親または前駆イオンに対して、
前記最終候補の親または前駆イオンの溶出時間を呼び戻すステップと、
前記最終候補の親または前駆イオンの溶出時間の直前に得られる第2の質量スペクトルまたは第2の質量スペクトルデータおよび前記最終候補の親または前駆イオンの溶出時間の直後に得られる第2の質量スペクトルまたは第2の質量スペクトルデータの両方に存在する以前に認識されたフラグメント、生成、娘または付加イオンを含む可能な候補のフラグメント、生成、娘または付加イオンのリストを生成するステップと、
各可能な候補のフラグメント、生成、娘または付加イオンの可能な候補のフラグメント、生成、娘または付加イオン質量クロマトグラムを生成するステップと、
各前記可能な候補のフラグメント、生成、娘または付加イオン質量クロマトグラムにおける各ピークの中心を決定するステップと、
対応する可能な候補のフラグメント、生成、娘または付加イオン溶出時間を決定するステップとをさらに含む、請求項107に記載の方法。 - 可能な候補のフラグメント、生成、娘または付加イオンをそれらの溶出時間の前記最終候補の親または前駆イオンの溶出時間との一致度にしたがって順位づけするステップをさらに含む、請求項108に記載の方法。
- 可能な候補のフラグメント、生成、娘または付加イオンの溶出時間が前記最終候補の親または前駆イオンの溶出時間を所定量より多く先行または超える場合に、可能な候補のフラグメント、生成、娘または付加イオンを棄却することにより、前記可能な候補のフラグメント、生成、娘または付加イオンから最終候補のフラグメント、生成、娘または付加イオンのリストを作成するステップをさらに含む、請求項108または109に記載の方法。
- 前記最終候補の親または前駆イオンの溶出時間に時間的に最も近い時間に得られる第2の質量スペクトルまたは第2の質量スペクトルデータにおいて存在する近接の親または前駆イオンのリストを生成するステップと、
前記リストにおいて含まれる各親または前駆イオンの近接の親または前駆イオン質量クロマトグラムを生成するステップと、
各近接の親または前駆イオン質量クロマトグラムの中心を決定するステップと、
対応する近接の親または前駆イオン溶出時間を決定するステップとをさらに含む、請求項110に記載の方法。 - 前記最終候補のフラグメント、生成、娘または付加イオンのリストから、前記最終候補の親または前駆イオンの溶出時間よりも近接の親または前駆イオンの溶出時間により接近して対応する溶出時間を有するいずれの最終候補のフラグメント、生成、娘または付加イオンを棄却するステップをさらに含む、先行する請求項のいずれかに記載の方法。
- 最終候補のフラグメント、生成、娘または付加イオンをそれらの溶出時間の一致度にしたがって前記最終候補の親または前駆イオンに割り当てるステップをさらに含む、先行する請求項のいずれかに記載の方法。
- 前記最終候補の親または前駆イオンに対応づけられたすべての最終候補のフラグメント、生成、娘または付加イオンをリストするステップをさらに含む、請求項113に記載の方法。
- 各認識された親または前駆イオンに対して親または前駆イオン質量クロマトグラムを生成するステップと、
前記親または前駆イオン質量クロマトグラムにおける各ピークの中心を決定するステップと、
対応する親または前駆イオンの溶出時間を決定するステップと、
各認識されたフラグメント、生成、娘または付加イオンに対してフラグメント、生成、娘または付加イオン質量クロマトグラムを生成するステップと、
前記フラグメント、生成、娘または付加イオン質量クロマトグラムにおける各ピークの中心を決定するステップと、
対応するフラグメント、生成、娘または付加イオン溶出時間を決定するステップとをさらに含む、先行する請求項のいずれかに記載の方法。 - フラグメント、生成、娘または付加イオンをそれらのそれぞれの溶出時間の一致度にしたがって親または前駆イオンに割り当てるステップをさらに含む、先行する請求項のいずれかに記載の方法。
- 各親または前駆イオンに対応づけられたすべてのフラグメント、生成、娘または付加イオンをリストするステップをさらに含む、先行する請求項のいずれかに記載の方法。
- イオン源によって生成されたイオンを、前記衝突、フラグメンテーションまたは反応デバイスに渡すか、またはそこを通って移送させる前に、質量フィルタに通すステップであって、前記質量フィルタは、所定の範囲内にある質量電荷値を有するイオンを実質的に移送し、かつ前記範囲外にある質量電荷値を有するイオンを実質的に減衰させる、ステップをさらに含む、先行する請求項のいずれかに記載の方法。
- イオンが第1の質量スペクトルまたは第1の質量スペクトルデータ中に存在し、かつ前記範囲外の質量電荷値を有する場合に、前記イオンをフラグメント、生成、娘または付加イオンとして認識するステップをさらに含む、請求項118に記載の方法。
- 前記第1の質量スペクトルまたは第1の質量スペクトルデータおよび/または前記第2の質量スペクトルまたは第2の質量スペクトルデータから親または前駆イオンおよびフラグメント、生成、娘または付加イオンを認識するステップをさらに含む、先行する請求項のいずれかに記載の方法。
- 各親または前駆イオンに対して親または前駆イオン質量クロマトグラムを生成するステップと、
前記親または前駆イオン質量クロマトグラムにおける各ピークの中心を決定するステップと、
対応する親または前駆イオンの溶出時間を決定するステップと、
各フラグメント、生成、娘または付加イオンに対してフラグメント、生成、娘または付加イオン質量クロマトグラムを生成するステップと、
前記フラグメント、生成、娘または付加イオン質量クロマトグラムにおける各ピークの中心を決定するステップと、
対応するフラグメント、生成、娘または付加イオンの溶出時間を決定するステップとをさらに含む、先行する請求項のいずれかに記載の方法。 - フラグメント、生成、娘または付加イオンをそれらのそれぞれの溶出時間の一致度にしたがって親または前駆イオンに割り当てるステップをさらに含む、先行する請求項のいずれかに記載の方法。
- 前記衝突、フラグメンテーションまたは反応デバイスの上流および/または下流に質量電荷比移送ウィンドウを有する質量フィルタを設けるステップをさらに含む、先行する請求項のいずれかに記載の方法。
- 前記質量フィルタの移送ウィンドウ外にある質量電荷値を有する第1の質量スペクトルまたは第1の質量スペクトルデータに存在するイオンを認識することによってフラグメント、生成、娘または付加イオンを認識するステップをさらに含む、先行する請求項のいずれかに記載の方法。
- 親または前駆イオンを前記親または前駆イオンの質量電荷比に基づいて同定するステップをさらに含む、先行する請求項のいずれかに記載の方法。
- 親または前駆イオンを1つまたはそれ以上のフラグメント、生成、娘または付加イオンの質量電荷比に基づいて同定するステップをさらに含む、先行する請求項のいずれかに記載の方法。
- 1つまたはそれ以上の親または前駆イオンの質量電荷比を決定することによってタンパク質を同定するステップであって、前記1つまたはそれ以上の親または前駆イオンは、前記タンパク質のペプチドを含む、ステップをさらに含む、先行する請求項のいずれかに記載の方法。
- 1つまたはそれ以上のフラグメント、生成、娘または付加イオンの質量電荷比を決定することによってタンパク質を同定するステップであって、前記1つまたはそれ以上のフラグメント、生成、娘または付加イオンは、前記タンパク質のペプチドのフラグメントを含む、ステップをさらに含む、先行する請求項のいずれかに記載の方法。
- データベースと突き合わせて前記1つまたはそれ以上の親または前駆イオンおよび/または前記1つまたはそれ以上のフラグメント、生成、娘または付加イオンの質量電荷比を検索するステップであって、前記データベースは、既知のタンパク質を含む、ステップをさらに含む、先行する請求項のいずれかに記載の方法。
- データベースと突き合わせて前記1つまたはそれ以上の親または前駆イオンの質量電荷比を検索するステップであって、前記データベースは、既知のタンパク質を含む、ステップをさらに含む、先行する請求項のいずれかに記載の方法。
- 親または前駆イオンのフラグメンテーションから得られると予想され得るフラグメント、生成、娘または付加イオンの存在を求めて第1の質量スペクトルまたは第1の質量スペクトルデータを検索するステップをさらに含む、先行する請求項のいずれかに記載の方法。
- 前記所定量は、(i)0.25秒、(ii)0.5秒、(iii)0.75秒、(iv)1秒、(v)2.5秒、(vi)5秒、(vii)10秒、および(viii)クロマトグラフィピークの半分の高さで測定された幅の5%に対応する時間からなる群から選択される、請求項101、106または110に記載の方法。
- ヘリウム、アルゴン、窒素またはメタンを含むガスを前記衝突、フラグメンテーションまたは反応デバイス中に導入するステップをさらに含む、先行する請求項のいずれかに記載の方法。
- 少なくとも、1ms、10ms、100ms、200ms、300ms、400ms、500ms、600ms、700ms、800ms、900ms、1s、2s、3s、4s、5s、6s、7s、8s、9sまたは10sに一度、少なくとも前記第1のモードと前記第2のモードとの間で前記衝突、フラグメンテーションまたは反応デバイスを自動的に切り替え、改変または変更するステップを含む、先行する請求項のいずれかに記載の方法。
- 一動作モードにおいて前記衝突、フラグメンテーションまたは反応デバイスを動作させた後であって別の動作モードで前記衝突、フラグメンテーションまたは反応デバイスを動作させるために切り替え、改変または変更する前にスキャン間遅延が行われ、前記スキャン間遅延の継続時間は、少なくとも、1ms、2ms、3ms、4ms、5ms、6ms、7ms、8ms、9ms、10ms、11ms、12ms、13ms、14ms、15ms、16ms、17ms、18ms、19ms、20ms、30ms、40ms、50ms、60ms、70ms、80ms、90msまたは100msである、先行する請求項のいずれかに記載の方法。
- 質量分析計であって、
衝突、フラグメンテーションまたは反応デバイスと、
質量分析器と、
制御システムとを含み、
前記制御システムは、
(a)親または前駆イオンを前記衝突、フラグメンテーションまたは反応デバイスに渡すステップと、
(b)前記衝突、フラグメンテーションまたは反応デバイスを第1の動作モードにおいて動作させるステップであって、前記第1の動作モードにおいては、前記親または前駆イオンの少なくともいくつかが衝突、フラグメンテーションまたは反応されて、フラグメント、生成、娘または付加イオンを生成する、ステップと、
(c)前記第1の動作モードにおいて動作する衝突、フラグメンテーションまたは反応デバイスから現れるか、またはそこを通って移送されてきたイオンに関係する第1の質量スペクトルデータを記録するステップと、
(d)前記衝突、フラグメンテーションまたは反応デバイスを第2の動作モードにおいて動作するように切り換え、改変、または変更するステップであって、前記第2の動作モードにおいては、実質的により少ない親または前駆イオンが衝突、フラグメンテーションまたは反応される、ステップと、
(e)前記第2の動作モードにおいて動作する衝突、フラグメンテーションまたは反応デバイスから現れるか、またはそこを通って移送されてきたイオンに関係する第2の質量スペクトルデータを記録するステップと、
(f)ステップ(b)〜(e)を複数回繰り返すステップと、
(g)1つまたはそれ以上の親もしくは前駆物質またはイオンの正確なまたは厳密な質量または質量電荷比を決定するステップであって、前記1つまたはそれ以上の親もしくは前駆物質またはイオンの正確なまたは厳密な質量または質量電荷比は、第1の整数質量または質量電荷比成分M1および第1の小数質量または質量電荷比成分m1を含む、ステップと、
(h)前記第1の質量スペクトルデータにおいてまたはそれから1つまたはそれ以上のフラグメント、生成、娘もしくは付加物質またはイオンを検索または決定するステップであって、前記1つまたはそれ以上のフラグメント、生成、娘もしくは付加物質またはイオンは、第2の整数質量または質量電荷比成分M2および第2の小数質量または質量電荷比成分m2を含み、前記第2の小数質量または質量電荷比成分m2は、前記第1の小数質量または質量電荷比成分m1よりも0〜x1mDaまたはミリ−質量電荷比単位大きい、および/または前記第1の小数質量または質量電荷比成分m1よりも0〜x2mDaまたはミリ−質量電荷比単位小さい、ステップとを行うように構成および適合される、質量分析計。 - 質量分析計であって、
衝突、フラグメンテーションまたは反応デバイスと、
質量分析器と、
制御システムとを含み、
前記制御システムは、
(a)親または前駆イオンを前記衝突、フラグメンテーションまたは反応デバイスに渡すステップと、
(b)前記衝突、フラグメンテーションまたは反応デバイスを第1の動作モードにおいて動作させるステップであって、前記親または前駆イオンの少なくともいくつかが衝突、フラグメンテーションまたは反応されて、フラグメント、生成、娘または付加イオンを生成する、ステップと、
(c)前記第1の動作モードにおいて動作する衝突、フラグメンテーションまたは反応デバイスから現れるか、またはそこを通って移送されてきたイオンに関係する第1の質量スペクトルデータを記録するステップと、
(d)前記衝突、フラグメンテーションまたは反応デバイスを第2の動作モードにおいて動作するように切り換え、改変、または変更するステップであって、実質的により少ない親または前駆イオンが衝突、フラグメンテーションまたは反応される、ステップと、
(e)前記第2の動作モードにおいて動作する衝突、フラグメンテーションまたは反応デバイスから現れるか、またはそこを通って移送されてきたイオンに関係する第2の質量スペクトルデータを記録するステップと、
(f)ステップ(b)〜(e)を複数回繰り返すステップと、
(g)1つまたはそれ以上の第1の親もしくは前駆物質またはイオンの正確なまたは厳密な質量または質量電荷比を決定するステップであって、前記1つまたはそれ以上の第1の親もしくは前駆物質またはイオンの正確なまたは厳密な質量または質量電荷比は、第1の整数質量または質量電荷比成分M1および第1の小数質量または質量電荷比成分m1を含むステップと、
(h)前記第1の質量スペクトルデータにおいてまたはそれから1つまたはそれ以上の第2の親もしくは前駆物質またはイオンを検索または決定するステップであって、前記1つまたはそれ以上の第2の親もしくは前駆物質またはイオンは、第2の整数質量または質量電荷比成分M2および第2の小数質量または質量電荷比成分m2を含み、前記第2の小数質量または質量電荷比成分m2は、前記第1の小数質量または質量電荷比成分m1よりも0〜x1mDaまたはミリ−質量電荷比単位大きい、および/または前記第1の小数質量または質量電荷比成分m1よりも0〜x2mDaまたはミリ−質量電荷比単位小さい、ステップとを行うように構成および適合される、質量分析計。 - 前記衝突、フラグメンテーションまたは反応デバイスは、衝突誘起解離デバイスを含む、請求項136または137に記載の質量分析計。
- 前記衝突、フラグメンテーションまたは反応デバイスは、(i)表面誘起解離(「SID」)衝突、フラグメンテーションまたは反応デバイス、(ii)電子移動解離衝突、フラグメンテーションまたは反応デバイス、(iii)電子捕獲解離衝突、フラグメンテーションまたは反応デバイス、(iv)電子衝突または衝撃解離衝突、フラグメンテーションまたは反応デバイス、(v)光誘起解離(「PID」)衝突、フラグメンテーションまたは反応デバイス、(vi)レーザ誘起解離衝突、フラグメンテーションまたは反応デバイス、(vii)赤外放射誘起解離デバイス、(viii)紫外放射誘起解離デバイス、(ix)ノズル−スキマ間インターフェース衝突、フラグメンテーションまたは反応デバイス、(x)インソース衝突、フラグメンテーションまたは反応デバイス、(xi)イオン源衝突誘起解離衝突、フラグメンテーションまたは反応デバイス、(xii)熱または温度源衝突、フラグメンテーションまたは反応デバイス、(xiii)電界誘起衝突、フラグメンテーションまたは反応デバイス、(xiv)磁場誘起衝突、フラグメンテーションまたは反応デバイス、(xv)酵素消化または酵素分解衝突、フラグメンテーションまたは反応デバイス、(xvi)イオン−イオン反応衝突、フラグメンテーションまたは反応デバイス、(xvii)イオン−分子反応衝突、フラグメンテーションまたは反応デバイス、(xviii)イオン−原子反応衝突、フラグメンテーションまたは反応デバイス、(xix)イオン−メタステーブルイオン反応衝突、フラグメンテーションまたは反応デバイス、(xx)イオン−メタステーブル分子反応衝突、フラグメンテーションまたは反応デバイス、(xxi)イオン−メタステーブル原子反応衝突、フラグメンテーションまたは反応デバイス、(xxii)イオンを反応させて付加または生成イオンを形成するためのイオン−イオン反応デバイス、(xxiii)イオンを反応させて付加または生成イオンを形成するためのイオン−分子反応デバイス、(xxiv)イオンを反応させて付加または生成イオンを形成するためのイオン−原子反応デバイス、(xxv)イオンを反応させて付加または生成イオンを形成するためのイオン−メタステーブルイオン反応デバイス、(xxvi)イオンを反応させて付加または生成イオンを形成するためのイオン−メタステーブル分子反応デバイス、および(xxvii)イオンを反応させて付加または生成イオンを形成するためのイオン−メタステーブル原子反応デバイスからなる群から選択される、請求項136または137に記載の質量分析計。
- イオン源をさらに含む、請求項136〜139のいずれかに記載の質量分析計。
- 前記イオン源は、(i)エレクトロスプレーイオン化(「ESI」)イオン源、(ii)大気圧光イオン化(「APPI」)イオン源、(iii)大気圧化学イオン化(「APCI」)イオン源、(iv)マトリックス支援レーザ脱離イオン化(「MALDI」)イオン源、(v)レーザ脱離イオン化(「LDI」)イオン源、(vi)大気圧イオン化(「API」)イオン源、(vii)シリコンを用いた脱離イオン化(「DIOS」)イオン源、(viii)電子衝突(「EI」)イオン源、(ix)化学イオン化(「CI」)イオン源、(x)電界イオン化(「FI」)イオン源、(xi)電界脱離(「FD」)イオン源、(xii)誘導結合プラズマ(「ICP」)イオン源、(xiii)高速原子衝撃(「FAB」)イオン源、(xiv)液体二次イオン質量分析(「LSIMS」)イオン源、(xv)脱離エレクトロスプレーイオン化(「DESI」)イオン源、(xvi)ニッケル−63放射性イオン源、(xvii)大気圧マトリックス支援レーザ脱離イオン化イオン源、および(xviii)サーモスプレーイオン源からなる群から選択される、請求項140に記載の質量分析計。
- 前記イオン源は、パルス化または連続イオン源を含む、請求項140または141に記載の質量分析計。
- 前記イオン源には、所定期間にわたり溶出物が提供され、前記溶出物は、液体クロマトグラフィまたはキャピラリー電気泳動によって混合物から分離されてきたものである、請求項140、141または142のいずれかに記載の質量分析計。
- 前記イオン源には、所定期間にわたり溶出物が提供され、前記溶出物は、ガスクロマトグラフィによって混合物から分離されてきたものである、請求項140、141または142のいずれかに記載の質量分析計。
- 前記質量分析器は、(i)四重極質量分析器、(ii)2Dまたは直線四重極質量分析器、(iii)ポールまたは3D四重極質量分析器、(iv)ペニングトラップ質量分析器、(v)イオントラップ質量分析器、(vi)扇形磁場質量分析器、(vii)イオンサイクロトロン共鳴(「ICR」)質量分析器、(viii)フーリエ変換イオンサイクロトロン共鳴(「FTICR」)質量分析器、(ix)静電またはオービトラップ質量分析器、(x)フーリエ変換静電またはオービトラップ質量分析器、および(xi)フーリエ変換質量分析器、(xii)飛行時間質量分析器、(xiii)直交加速飛行時間質量分析器、および(xiv)軸方向加速飛行時間質量分析器からなる群から選択される、請求項136〜144のいずれかに記載の質量分析計。
- 前記衝突、フラグメンテーションまたは反応デバイスの上流および/または下流に配置される質量フィルタをさらに含む、請求項136〜145のいずれかに記載の質量分析計。
- 前記質量フィルタは、四重極ロッドセット質量フィルタを含む、請求項145に記載の質量分析計。
- 前記質量フィルタは、高域通過質量電荷比フィルタとして動作される、請求項146または147に記載の質量分析計。
- 前記質量フィルタは、(i)≧100、(ii)≧150、(iii)≧200、(iv)≧250、(v)≧300、(vi)≧350、(vii)≧400、(viii)≧450、および(ix)≧500からなる群から選択される質量電荷比を有するイオンを移送するように構成される、請求項146、147または148のいずれかに記載の質量分析計。
- 前記質量フィルタは、低域通過または帯域通過質量フィルタとして動作される、請求項146または147に記載の質量分析計。
- 前記衝突、フラグメンテーションまたは反応デバイスの上流および/または下流に配置されるイオンガイドをさらに含む、請求項136〜150のいずれかに記載の質量分析計。
- 前記イオンガイドは、(i)六重極、(ii)四重極、(iii)八重極、(iv)イオンが使用時に移送される開口を有する複数のリングまたはプレート電極、および(v)イオンの走行平面に一般に配置される複数の平面、プレートまたはメッシュ電極からなる群から選択される、請求項151に記載の質量分析計。
- 前記衝突、フラグメンテーションまたは反応デバイスは、(i)六重極、(ii)四重極、(iii)八重極、(iv)イオンが使用時に移送される開口を有する複数のリングまたはプレート電極、および(v)イオンの走行平面に一般に配置される複数の平面、プレートまたはメッシュ電極からなる群から選択される、請求項136〜152のいずれかに記載の質量分析計。
- 前記衝突、フラグメンテーションまたは反応デバイスは、筐体であって、イオン入口開口部、イオン出口開口部、および必要に応じてガスを前記筐体へ導入するための手段を別にすれば実質的に気密な封入体を含む、請求項136〜153のいずれかに記載の質量分析計。
- ヘリウム、アルゴン、窒素またはメタンを含むガスを使用時に前記衝突、フラグメンテーションまたは反応デバイス中に導入する、請求項136〜154のいずれかに記載の質量分析計。
- 前記第1の動作モードにおいて、前記制御システムは、(i)≧15V、(ii)≧20V、(iii)≧25V、(iv)≧30V、(v)≧50V、(vi)≧100V、(vii)≧150V、および(viii)≧200Vからなる群から選択される電圧を前記衝突、フラグメンテーションまたは反応デバイスに供給するように構成される、請求項136〜155のいずれかに記載の質量分析計。
- 前記第2の動作モードにおいて、前記制御システムは、(i)≦5V、(ii)≦4.5V、(iii)≦4V、(iv)≦3.5V、(v)≦3V、(vi)≦2.5V、(vii)≦2V、(viii)≦1.5V、(ix)≦1V、(x)≦0.5V、および(xi)実質的に0Vからなる群から選択される電圧を前記衝突、フラグメンテーションまたは反応デバイスに供給するように構成される、請求項136〜156のいずれかに記載の質量分析計。
Applications Claiming Priority (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
GB0609253.0 | 2006-05-10 | ||
GBGB0609253.0A GB0609253D0 (en) | 2006-05-10 | 2006-05-10 | Mass spectrometer |
US80188306P | 2006-05-19 | 2006-05-19 | |
US60/801,883 | 2006-05-19 | ||
PCT/GB2007/001726 WO2007129107A2 (en) | 2006-05-10 | 2007-05-10 | Mass spectrometer |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2009536338A true JP2009536338A (ja) | 2009-10-08 |
JP4848454B2 JP4848454B2 (ja) | 2011-12-28 |
Family
ID=36637230
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2009508494A Active JP4848454B2 (ja) | 2006-05-10 | 2007-05-10 | 質量分析計 |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8237106B2 (ja) |
EP (1) | EP2016612B1 (ja) |
JP (1) | JP4848454B2 (ja) |
CA (1) | CA2650908C (ja) |
GB (2) | GB0609253D0 (ja) |
WO (1) | WO2007129107A2 (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2013537304A (ja) * | 2010-09-08 | 2013-09-30 | ディーエイチ テクノロジーズ デベロップメント プライベート リミテッド | タンデム質量分析計において可変質量選択窓幅を用いるためのシステムおよび方法 |
JP2016106362A (ja) * | 2011-06-03 | 2016-06-16 | ディーエイチ テクノロジーズ デベロップメント プライベート リミテッド | スキャン内ダイナミックレンジを改善するための可変窓バンドパスフィルタリングを使用する調査スキャンからのイオンの除去 |
JP2018059949A (ja) * | 2010-09-15 | 2018-04-12 | ディーエイチ テクノロジーズ デベロップメント プライベート リミテッド | 生成イオンスペクトルのデータ独立取得および参照スペクトルライブラリ照合 |
Families Citing this family (31)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102008023694B4 (de) * | 2008-05-15 | 2010-12-30 | Bruker Daltonik Gmbh | Fragmentierung von Analytionen durch Ionenstoß in HF-Ionenfallen |
US9548193B2 (en) * | 2008-05-26 | 2017-01-17 | Shimadzu Corporation | Quadrupole mass spectrometer with quadrupole mass filter as a mass separator |
NZ591617A (en) * | 2008-09-09 | 2012-11-30 | Nederlanden Staat | Liquid chromatography-mass spectrometer and its uses for the selective identification of immunogenic epitopes |
US7910877B2 (en) * | 2008-10-31 | 2011-03-22 | Agilent Technologies, Inc. | Mass spectral analysis of complex samples containing large molecules |
EP2427844A4 (en) * | 2009-05-08 | 2016-11-02 | Thermo Finnigan Llc | PROCESSES AND SYSTEMS FOR VOTING PRODUCTS AND PRE-REFERENCES |
DE102009035587B3 (de) * | 2009-07-31 | 2011-03-24 | Siemens Aktiengesellschaft | Verfahren zur Filterung eines Chromatogramms |
GB0915474D0 (en) | 2009-09-04 | 2009-10-07 | Micromass Ltd | Multiple reaction monitoring with a time-of-flight based mass spectrometer |
CN101872708B (zh) * | 2010-02-05 | 2013-03-27 | 厦门大学 | 一种适合于固体样品直接电离的离子源引出装置 |
GB201019337D0 (en) * | 2010-11-16 | 2010-12-29 | Micromass Ltd | Controlling hydrogen-deuterium exchange on a spectrum by spectrum basis |
US8935101B2 (en) | 2010-12-16 | 2015-01-13 | Thermo Finnigan Llc | Method and apparatus for correlating precursor and product ions in all-ions fragmentation experiments |
US8525106B2 (en) * | 2011-05-09 | 2013-09-03 | Bruker Daltonics, Inc. | Method and apparatus for transmitting ions in a mass spectrometer maintained in a sub-atmospheric pressure regime |
US20120318970A1 (en) * | 2011-06-15 | 2012-12-20 | Quimby Bruce D | Ion selection optimization for mass spectrometry |
GB201122178D0 (en) | 2011-12-22 | 2012-02-01 | Thermo Fisher Scient Bremen | Method of tandem mass spectrometry |
CA2873806A1 (en) * | 2012-05-18 | 2013-11-21 | Micromass Uk Limited | Method of ms/ms mass spectrometry |
JP2015523552A (ja) * | 2012-05-18 | 2015-08-13 | マイクロマス ユーケー リミテッド | 改善MSe質量分析法 |
US20140138531A1 (en) * | 2012-11-20 | 2014-05-22 | David A. Wright | Use of Neutral Loss Mass to Reconstruct MS-2 Spectra in All Ions Fragmentation |
JP2016507151A (ja) * | 2013-02-18 | 2016-03-07 | マイクロマス ユーケー リミテッド | 自動排出イオントラップを用いた質量分析器における、気相反応の改善された効率および精密制御 |
EP2956957B1 (en) | 2013-02-18 | 2020-01-22 | Micromass UK Limited | Device allowing improved reaction monitoring of gas phase reactions in mass spectrometers using an auto ejection ion trap |
GB2514836B (en) | 2013-06-07 | 2020-04-22 | Thermo Fisher Scient Bremen Gmbh | Isotopic Pattern Recognition |
JP6028875B2 (ja) * | 2014-01-20 | 2016-11-24 | 株式会社島津製作所 | タンデム質量分析データ処理装置 |
GB201406981D0 (en) * | 2014-04-17 | 2014-06-04 | Micromass Ltd | Hybrid acquisition method incorporating electron transfer dissociation triggered from fast sequential 2D MS/MS collision induced dissociation |
US10163619B2 (en) * | 2014-04-23 | 2018-12-25 | Micromass Uk Limited | Identification and removal of chemical noise for improved MS and MS/MS analysis |
JP6698668B2 (ja) * | 2015-02-05 | 2020-05-27 | ディーエイチ テクノロジーズ デベロップメント プライベート リミテッド | 断片化エネルギーを切り替えながらの幅広い四重極rf窓の高速スキャニング |
CN105758953B (zh) * | 2016-02-29 | 2018-02-13 | 吉林大学 | 一种单克隆抗体药物糖基化修饰的质谱定量分析方法 |
JP6528896B2 (ja) * | 2016-03-16 | 2019-06-12 | 株式会社島津製作所 | 質量分析装置 |
CN109425662A (zh) * | 2017-08-23 | 2019-03-05 | 深圳华大基因研究院 | 一种鉴定蛋白的方法及系统 |
US10199207B1 (en) * | 2017-09-07 | 2019-02-05 | California Institute Of Technology | Determining isotope ratios using mass spectrometry |
US10615016B2 (en) | 2017-09-07 | 2020-04-07 | Thermo Fisher Scientific (Bremen) Gmbh | Determining isotope ratios using mass spectrometry |
CN109830426B (zh) | 2017-11-23 | 2021-04-02 | 株式会社岛津制作所 | 质谱数据采集方法 |
JP6943897B2 (ja) | 2019-01-18 | 2021-10-06 | 日本電子株式会社 | マススペクトル処理装置及び方法 |
CN115516301A (zh) * | 2020-05-28 | 2022-12-23 | 株式会社岛津制作所 | 色谱质量分析数据处理方法、色谱质量分析装置以及色谱质量分析数据处理用程序 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002100318A (ja) * | 2000-06-09 | 2002-04-05 | Micromass Ltd | 質量分析方法および装置 |
WO2006003429A2 (en) * | 2004-07-01 | 2006-01-12 | Micromass Uk Limited | Mass spectrometer |
Family Cites Families (43)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4851669A (en) * | 1988-06-02 | 1989-07-25 | The Regents Of The University Of California | Surface-induced dissociation for mass spectrometry |
US5073713A (en) * | 1990-05-29 | 1991-12-17 | Battelle Memorial Institute | Detection method for dissociation of multiple-charged ions |
US6002130A (en) * | 1991-09-12 | 1999-12-14 | Hitachi, Ltd. | Mass spectrometry and mass spectrometer |
JP2913924B2 (ja) * | 1991-09-12 | 1999-06-28 | 株式会社日立製作所 | 質量分析の方法および装置 |
GB9510052D0 (en) | 1995-05-18 | 1995-07-12 | Fisons Plc | Mass spectrometer |
GB2308917B (en) * | 1996-01-05 | 2000-04-12 | Maxent Solutions Ltd | Reducing interferences in elemental mass spectrometers |
US5885841A (en) * | 1996-09-11 | 1999-03-23 | Eli Lilly And Company | System and methods for qualitatively and quantitatively comparing complex admixtures using single ion chromatograms derived from spectroscopic analysis of such admixtures |
US6323482B1 (en) * | 1997-06-02 | 2001-11-27 | Advanced Research And Technology Institute, Inc. | Ion mobility and mass spectrometer |
GB9717926D0 (en) * | 1997-08-22 | 1997-10-29 | Micromass Ltd | Methods and apparatus for tandem mass spectrometry |
US6331702B1 (en) * | 1999-01-25 | 2001-12-18 | University Of Manitoba | Spectrometer provided with pulsed ion source and transmission device to damp ion motion and method of use |
JP2002502086A (ja) * | 1998-01-23 | 2002-01-22 | アナリティカ オブ ブランフォード インコーポレーテッド | 表面からの質量分光測定 |
US6489121B1 (en) * | 1999-04-06 | 2002-12-03 | Micromass Limited | Methods of identifying peptides and proteins by mass spectrometry |
EP1688987A1 (en) | 1999-04-06 | 2006-08-09 | Micromass UK Limited | Improved methods of identifying peptides and proteins by mass spectrometry |
US6487523B2 (en) | 1999-04-07 | 2002-11-26 | Battelle Memorial Institute | Model for spectral and chromatographic data |
US6647341B1 (en) | 1999-04-09 | 2003-11-11 | Whitehead Institute For Biomedical Research | Methods for classifying samples and ascertaining previously unknown classes |
GB2364168B (en) | 2000-06-09 | 2002-06-26 | Micromass Ltd | Methods and apparatus for mass spectrometry |
NL1016034C2 (nl) * | 2000-08-03 | 2002-02-08 | Tno | Werkwijze en systeem voor het identificeren en kwantificeren van chemische componenten van een te onderzoeken mengsel van materialen. |
US20020119490A1 (en) * | 2000-12-26 | 2002-08-29 | Aebersold Ruedi H. | Methods for rapid and quantitative proteome analysis |
US20020115056A1 (en) * | 2000-12-26 | 2002-08-22 | Goodlett David R. | Rapid and quantitative proteome analysis and related methods |
US6958472B2 (en) * | 2001-03-22 | 2005-10-25 | Syddansk Universitet | Mass spectrometry methods using electron capture by ions |
US6835927B2 (en) * | 2001-10-15 | 2004-12-28 | Surromed, Inc. | Mass spectrometric quantification of chemical mixture components |
US6770872B2 (en) * | 2001-11-22 | 2004-08-03 | Micromass Uk Limited | Mass spectrometer |
CA2465297C (en) * | 2001-12-08 | 2011-02-15 | Micromass Uk Limited | Method of mass spectrometry |
GB2394545B (en) | 2001-12-08 | 2005-03-16 | Micromass Ltd | Method of mass spectrometry |
US6989100B2 (en) | 2002-05-09 | 2006-01-24 | Ppd Biomarker Discovery Sciences, Llc | Methods for time-alignment of liquid chromatography-mass spectrometry data |
AU2003247472A1 (en) | 2002-05-31 | 2003-12-19 | Analytica Of Branford, Inc. | Fragmentation methods for mass spectrometry |
GB0305796D0 (en) | 2002-07-24 | 2003-04-16 | Micromass Ltd | Method of mass spectrometry and a mass spectrometer |
CA2503292A1 (en) | 2002-11-22 | 2004-06-10 | Caprion Pharmaceuticals, Inc. | Constellation mapping and uses thereof |
US7202473B2 (en) * | 2003-04-10 | 2007-04-10 | Micromass Uk Limited | Mass spectrometer |
US7417226B2 (en) * | 2003-07-16 | 2008-08-26 | Micromass Uk Limited | Mass spectrometer |
US7473892B2 (en) * | 2003-08-13 | 2009-01-06 | Hitachi High-Technologies Corporation | Mass spectrometer system |
GB2405991B (en) | 2003-08-22 | 2005-08-31 | Micromass Ltd | Mass spectrometer |
US7365309B2 (en) * | 2003-12-22 | 2008-04-29 | Micromass Uk Limited | Mass spectrometer |
DE05727506T1 (de) * | 2004-03-12 | 2007-09-06 | The University Of Virginia Patent Foundation | Elektronentransferdissoziation zur biopolymer-sequenzanalyse |
EP1770754B1 (en) * | 2004-04-05 | 2014-06-11 | Micromass UK Limited | Mass spectrometer |
CA2501003C (en) | 2004-04-23 | 2009-05-19 | F. Hoffmann-La Roche Ag | Sample analysis to provide characterization data |
WO2005114930A2 (en) * | 2004-05-20 | 2005-12-01 | Waters Investments Limited | Method and apparatus for identifying proteins in mixtures |
GB0420408D0 (en) * | 2004-09-14 | 2004-10-20 | Micromass Ltd | Mass spectrometer |
JP4620446B2 (ja) * | 2004-12-24 | 2011-01-26 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 質量分析方法、質量分析システム、診断システム、検査システム及び質量分析プログラム |
EP1866950B1 (en) * | 2005-03-29 | 2016-05-11 | Thermo Finnigan Llc | Improvements relating to a mass spectrometer |
GB2432712B (en) * | 2005-11-23 | 2007-12-27 | Micromass Ltd | Mass spectrometer |
US7858929B2 (en) * | 2006-04-13 | 2010-12-28 | Thermo Fisher Scientific (Bremen) Gmbh | Ion energy spread reduction for mass spectrometer |
GB0607542D0 (en) * | 2006-04-13 | 2006-05-24 | Thermo Finnigan Llc | Mass spectrometer |
-
2006
- 2006-05-10 GB GBGB0609253.0A patent/GB0609253D0/en not_active Ceased
-
2007
- 2007-05-10 JP JP2009508494A patent/JP4848454B2/ja active Active
- 2007-05-10 WO PCT/GB2007/001726 patent/WO2007129107A2/en active Application Filing
- 2007-05-10 CA CA2650908A patent/CA2650908C/en active Active
- 2007-05-10 GB GB0709045A patent/GB2438488B/en not_active Expired - Fee Related
- 2007-05-10 US US12/299,996 patent/US8237106B2/en active Active
- 2007-05-10 EP EP07732752.6A patent/EP2016612B1/en active Active
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002100318A (ja) * | 2000-06-09 | 2002-04-05 | Micromass Ltd | 質量分析方法および装置 |
JP2002110081A (ja) * | 2000-06-09 | 2002-04-12 | Micromass Ltd | 質量分析方法および装置 |
WO2006003429A2 (en) * | 2004-07-01 | 2006-01-12 | Micromass Uk Limited | Mass spectrometer |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2013537304A (ja) * | 2010-09-08 | 2013-09-30 | ディーエイチ テクノロジーズ デベロップメント プライベート リミテッド | タンデム質量分析計において可変質量選択窓幅を用いるためのシステムおよび方法 |
JP2016057312A (ja) * | 2010-09-08 | 2016-04-21 | ディーエイチ テクノロジーズ デベロップメント プライベート リミテッド | タンデム質量分析計において可変質量選択窓幅を用いるためのシステムおよび方法 |
JP2018059949A (ja) * | 2010-09-15 | 2018-04-12 | ディーエイチ テクノロジーズ デベロップメント プライベート リミテッド | 生成イオンスペクトルのデータ独立取得および参照スペクトルライブラリ照合 |
JP2016106362A (ja) * | 2011-06-03 | 2016-06-16 | ディーエイチ テクノロジーズ デベロップメント プライベート リミテッド | スキャン内ダイナミックレンジを改善するための可変窓バンドパスフィルタリングを使用する調査スキャンからのイオンの除去 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
GB2438488B (en) | 2008-10-08 |
US20090302210A1 (en) | 2009-12-10 |
JP4848454B2 (ja) | 2011-12-28 |
EP2016612A2 (en) | 2009-01-21 |
WO2007129107A2 (en) | 2007-11-15 |
CA2650908C (en) | 2013-02-26 |
GB0609253D0 (en) | 2006-06-21 |
US8237106B2 (en) | 2012-08-07 |
CA2650908A1 (en) | 2007-11-15 |
GB2438488A (en) | 2007-11-28 |
EP2016612B1 (en) | 2019-07-03 |
GB0709045D0 (en) | 2007-06-20 |
WO2007129107A3 (en) | 2009-03-05 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4848454B2 (ja) | 質量分析計 | |
US10083825B2 (en) | Mass spectrometer with bypass of a fragmentation device | |
US9779929B2 (en) | Method of screening a sample for the presence of one or more known compounds of interest and a mass spectrometer performing this method | |
JP4852541B2 (ja) | 質量分析方法及び質量分析計 | |
JP4778564B2 (ja) | 質量分析計 | |
JP4959712B2 (ja) | 質量分析計 | |
JP4959713B2 (ja) | 質量分析計 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20100510 |
|
A871 | Explanation of circumstances concerning accelerated examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A871 Effective date: 20100510 |
|
A975 | Report on accelerated examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971005 Effective date: 20100609 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20100615 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20100906 |
|
A602 | Written permission of extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20100913 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20101006 |
|
A602 | Written permission of extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20101014 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20101108 |
|
A602 | Written permission of extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20101115 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20101214 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20110201 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20110425 |
|
A602 | Written permission of extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20110506 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20110525 |
|
A602 | Written permission of extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20110601 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20110624 |
|
A602 | Written permission of extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20110701 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20110801 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20110823 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20110902 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20110927 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20111017 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20141021 Year of fee payment: 3 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 4848454 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |