JP2009507387A - フォトリソグラフィデバイスのための照明装置 - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、フォトリソグラフィデバイスのための照明装置、及びそのようなデバイスに関する。
フォトリソグラフィ(「マイクロリソグラフィ」とも呼ばれる)は、何年にもわたって半導体デバイスを製造するために用いられており、このために、電磁放射を用いて半導体デバイス上に細かいパターンを生成する。この目的を果たすために、フォトリソグラフィデバイスのための照明装置によってマスクが照明され、そのマスクの像が半導体ウェーハ上に投影され、当業者に知られている特別な処理を施した後に、回路が設けられる。
デバイスの瞳(pupil)の照明プロファイル
マスク(それゆえウェーハ)上の照明の均一性
マスク上の照明プロファイル
本発明は、これらの不利な点のうちの少なくとも1つを克服することを意図している。
図4A及び図6は、フォトリソグラフィデバイスの本発明による照明装置のシャッタ6が、主に、少なくとも1つのシャッタプレート61を備えることを概略的に示す。
Claims (23)
- フォトリソグラフィデバイスの照明装置であって、
マスク(8)を照明すると共にウェーハ(W)の1つのゾーンを露光する光ビーム(10)の光源(1’)と、
少なくとも1つのメインマイクロレンズアレイ(4)と、
少なくとも1つのシャッタプレート(61)を備えるシャッタ(6)であって、
前記プレート(61)は、
前記光ビーム(10)に対して不透過性の少なくとも1つの部分(612)と、
前記ビームに対して透過性の複数の部分(610)と
を含み、
前記プレート(61)は、前記プレートに対して実質的に平行な移動方向(X)において、前記ビーム(10)に対して動かすことができ、それにより、
前記不透過性の部分(612)が前記光ビームを少なくとも部分的に遮断できるようになるか、又は
前記透過性の部分によって、前記光ビーム(10)が少なくとも部分的にその中を通過できるようすることが可能になる
シャッタ(6)と
を備える、照明装置において、
前記照明装置は、前記マスク(8)及び前記ウェーハ(W)の動きに合わせて前記シャッタ(6)を動かすことができる移動手段(9)を備え、
前記シャッタ(6)は、少なくとも前記メインマイクロレンズアレイ(4)を備える光学系の瞳(40、410)の近くのゾーン(11)内に配置される
ことを特徴とする、照明装置。 - 前記複数の透過性の部分(610)はそれぞれ、細長い形状と、長軸(611)とを有する、請求項1に記載の照明装置。
- 前記複数の透過性の部分(610)はそれぞれ、実質的に長方形の形状を有し、
各長方形は、長辺(613)と短辺(614)とによって囲まれ、
前記透過性の部分の前記長軸は互いに対して平行である
請求項2に記載の照明装置。 - 前記移動方向(X)における2つの連続した透過性の部分の2つの長軸(611)間の距離(a)と、前記2つの連続した透過性の部分の2つの長辺(613)間の距離(b)との間の比の値(a/b)は、前記2つの長辺が、前記移動方向(X)において近くにあり且つ連続している場合に、2未満である、請求項3に記載の照明装置。
- 前記シャッタ(6)は、前記シャッタプレート(61)と光学的に向かい合って配置される少なくとも1つの交差プレート(62)も備えており、
前記交差プレート(62)は、
前記光ビーム(10)に対して不透過性の部分(622)と、
前記光ビームがその中を通過することを可能にすることができる透過性の部分(620)と
が少なくとも一度だけ交互に配置されたものを含む、請求項1〜4のいずれか一項に記載の照明装置。 - 前記交差プレート(62)の前記透過性の部分は、細長い形状と、長軸(621)とを有する、請求項5に記載の照明装置。
- 前記交差プレート(62)は、複数の交互に配置されたものを含む、請求項6に記載の照明装置。
- 前記2つのプレート(61、62)の前記透過性の部分のそれぞれの前記長軸(611、621)は互いに対して垂直である、請求項3に従属するときの請求項7に記載の照明装置。
- 前記交差プレート(62)の各透過性の部分(620)は、実質的に長方形の形状を有し、
各長方形は、長辺(623)と短辺(624)とによって囲まれ、
前記透過性の部分の前記長軸(622)は互いに対して平行である
請求項5〜8のいずれか一項に記載の照明装置。 - 前記交差プレート(62)は、前記交差プレート(62)に対して実質的に平行な平面(X,Y)において前記ビームに対して静止している、請求項5〜9のいずれか一項に記載の照明装置。
- シャッタ移動手段は、前記シャッタプレート(61)を動かす手段(91)と、前記交差プレート(62)を動かす手段(92)とを備え、
前記シャッタプレート(61)は、前記マスク(8)及び前記ウェーハ(W)の動きに合わせて動くことができ、
前記交差プレート(62)は、前記交差プレート(62)に対して実質的に平行な平面(X,Y)内で前記ビームに対して移動することができる、請求項5〜9のいずれか一項に記載の照明装置。 - 前記シャッタプレート(61)は、前記シャッタプレート(61)に対して実質的に平行な2つの方向(X,Y)において移動することができる、請求項11に記載の照明装置。
- 前記交差プレート(62)は、前記シャッタプレート(61)と光学的に向かい合って、少なくとも1つの前記マイクロレンズアレイ(4)を備える前記光学系の瞳(40、410)の近くのゾーン(11)内に配置される、請求項5〜12のいずれか一項に記載の照明装置。
- 前記2つのプレート(61、62)の前記透過性の部分(610、620)を形成する前記長方形の前記短辺(614、624)の比、又は前記2つのプレートの前記透過性の部分の組み合わせは、前記アレイ(4)の1つのマイクロレンズの寸法の比に等しい、請求項9〜13のいずれか一項に記載の照明装置。
- 2つのシャッタプレート(61、61’)を備え、
前記2つのシャッタプレートは、互いに光学的に向かい合って配置され、一方が他方に対して移動可能であり、前記シャッタプレート(61、61’)に対して実質的に平行である移動方向(X)において、前記ビーム(10)に対して移動可能である
請求項1〜14のいずれか一項に記載の照明装置。 - 2つのシャッタプレート(62、62’)を備え、
前記2つのシャッタプレートは、互いに光学的に向かい合って配置され、一方が他方に対して移動可能であり、前記交差プレート(62、62’)に対して実質的に平行である移動方向(Y)において、前記ビーム(10)に対して移動可能であり、
前記交差プレートの移動方向は、少なくとも1つのシャッタプレート(61)の前記移動方向(X)に対して垂直である、請求項5〜15のいずれか一項に記載の照明装置。 - 前記系は、前記メインアレイ(4)の前記瞳の瞳像(410)を生成するマイクロレンズの少なくとも1つのアレイ(41)も備えており、
前記生成アレイ(41)は、前記メインマイクロレンズアレイ(4)の下流であって前記シャッタ(6)の上流に配置される、請求項1〜16のいずれか一項に記載の照明装置。 - 前記シャッタ(6)の下流と集光レンズ(5)の上流との間に配置される均質化マイクロレンズのアレイ(42)を備える、請求項17に記載の照明装置。
- 照明装置とマスク(8)とを備えるフォトリソグラフィデバイスであって、
前記照明装置は、
マスク(8)を照明すると共にウェーハ(W)の1つのゾーンを露光する光ビーム(10)の光源(1’)と、
少なくとも1つのメインマイクロレンズアレイ(4)と、
少なくとも1つのシャッタプレート(61)を備えるシャッタ(6)であって、
前記プレート(61)は、
前記光ビーム(10)に対して不透過性の少なくとも1つの部分(612)と、
前記ビームに対して透過性の複数の部分(610)と
を備え、
前記プレート(61)は、前記プレートに対して実質的に平行な移動方向(X)において、前記ビーム(10)に対して動かすことができ、それにより、
前記不透過性の部分(612)が前記光ビームを少なくとも部分的に遮断できるようになるか、又は
前記透過性の部分によって、前記光ビーム(10)が少なくとも部分的にその中を通過できるようにすることが可能になる
シャッタ(6)と、
前記マスク(8)及び前記ウェーハ(W)の動きに合わせて前記シャッタ(6)を動かすことができる移動手段(9)であって、前記シャッタ(6)は、少なくとも前記メインマイクロレンズアレイ(4)を備える光学系の瞳(40、410)の近くのゾーン(11)内に配置される、移動手段と、
前記マスク(8)の上流に配置される集光レンズ(5)と
を備えることを特徴とする、デバイス。 - 前記マスク(8)は、前記マスク(8)の移動方向に対して垂直な方向(Z)において、前記集光レンズ(5)の合焦面(51)において焦点を外される、請求項19に記載のデバイス。
- 前記シャッタプレート(61)の前記透過性の部分(610)のピッチは、前記マスク(8)の移動方向に対して実質的に平行な方向における前記メインマイクロレンズアレイ(4)のピッチよりも大きい、請求項20に記載のデバイス。
- 前記照明装置は、前記メインアレイ(4)の前記瞳の瞳像(410)を生成するマイクロレンズの少なくとも1つのアレイ(41)を備え、
前記生成アレイ(41)は、前記メインマイクロレンズアレイ(4)の下流であって前記シャッタ(6)の上流に配置され、
前記シャッタプレート(61)の前記透過性の部分(610)のピッチは、前記マスク(8)の移動方向に対して実質的に平行な方向における前記生成アレイ(41)のピッチよりも大きい、請求項21に記載のデバイス。 - 前記照明装置は、均質化マイクロレンズの少なくとも1つのアレイ(42)を備え、
前記生成アレイ(42)は前記メインマイクロレンズアレイ(4)の下流であって前記集光レンズ(5)の上流に配置され、
前記シャッタプレート(61)の前記透過性の部分(610)のピッチは、前記マスク(8)の移動方向に対して実質的に平行な方向における前記均質化アレイ(42)のピッチよりも大きい、請求項21又は22に記載のデバイス。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
FR0509036A FR2890461B1 (fr) | 2005-09-05 | 2005-09-05 | Obturateur et illuminateur d'un dispositif de photolithographie |
FR0509036 | 2005-09-05 | ||
PCT/EP2006/066032 WO2007028793A1 (fr) | 2005-09-05 | 2006-09-05 | Illuminateur d'un dispositif de photolithographie |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2009507387A true JP2009507387A (ja) | 2009-02-19 |
JP5113753B2 JP5113753B2 (ja) | 2013-01-09 |
Family
ID=36501946
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2008529623A Expired - Fee Related JP5113753B2 (ja) | 2005-09-05 | 2006-09-05 | フォトリソグラフィデバイスのための照明装置 |
Country Status (9)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7982855B2 (ja) |
EP (1) | EP1924889B1 (ja) |
JP (1) | JP5113753B2 (ja) |
KR (1) | KR101274159B1 (ja) |
CN (1) | CN101273304B (ja) |
AT (1) | ATE421114T1 (ja) |
DE (1) | DE602006004890D1 (ja) |
FR (1) | FR2890461B1 (ja) |
WO (1) | WO2007028793A1 (ja) |
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- 2006-09-05 JP JP2008529623A patent/JP5113753B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2006-09-05 WO PCT/EP2006/066032 patent/WO2007028793A1/fr active Application Filing
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Publication number | Publication date |
---|---|
KR20080071550A (ko) | 2008-08-04 |
EP1924889A1 (fr) | 2008-05-28 |
DE602006004890D1 (de) | 2009-03-05 |
FR2890461B1 (fr) | 2008-12-26 |
FR2890461A1 (fr) | 2007-03-09 |
KR101274159B1 (ko) | 2013-06-13 |
EP1924889B1 (fr) | 2009-01-14 |
US7982855B2 (en) | 2011-07-19 |
WO2007028793A1 (fr) | 2007-03-15 |
US20090257041A1 (en) | 2009-10-15 |
CN101273304B (zh) | 2011-05-11 |
CN101273304A (zh) | 2008-09-24 |
ATE421114T1 (de) | 2009-01-15 |
JP5113753B2 (ja) | 2013-01-09 |
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