JP2009503471A5 - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
JP2009503471A5
JP2009503471A5 JP2008523265A JP2008523265A JP2009503471A5 JP 2009503471 A5 JP2009503471 A5 JP 2009503471A5 JP 2008523265 A JP2008523265 A JP 2008523265A JP 2008523265 A JP2008523265 A JP 2008523265A JP 2009503471 A5 JP2009503471 A5 JP 2009503471A5
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
change
field
clock
value
receiver
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2008523265A
Other languages
English (en)
Japanese (ja)
Other versions
JP2009503471A (ja
Filing date
Publication date
Priority claimed from DE102005045993A external-priority patent/DE102005045993B4/de
Priority claimed from DE102005063023A external-priority patent/DE102005063023A1/de
Application filed filed Critical
Priority claimed from PCT/EP2006/007550 external-priority patent/WO2007012502A1/de
Publication of JP2009503471A publication Critical patent/JP2009503471A/ja
Publication of JP2009503471A5 publication Critical patent/JP2009503471A5/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

JP2008523265A 2005-07-29 2006-07-29 容量性又は誘導性センサによる距離測定方法及び装置 Pending JP2009503471A (ja)

Applications Claiming Priority (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE102005036354 2005-07-29
DE102005045993A DE102005045993B4 (de) 2005-07-29 2005-09-27 Verfahren zur Lichtlaufzeitmessung
DE102005063023A DE102005063023A1 (de) 2005-12-14 2005-12-14 Anordnung zur Überwachung eines Objekts
PCT/EP2006/007550 WO2007012502A1 (de) 2005-07-29 2006-07-29 Verfahren und vorrichtung zur entfernungsmessung mittels kapazitiven oder induktiven sensoren

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2009503471A JP2009503471A (ja) 2009-01-29
JP2009503471A5 true JP2009503471A5 (enExample) 2009-09-10

Family

ID=36954749

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2008523265A Pending JP2009503471A (ja) 2005-07-29 2006-07-29 容量性又は誘導性センサによる距離測定方法及び装置

Country Status (6)

Country Link
US (1) US20080197835A1 (enExample)
EP (1) EP1910773B1 (enExample)
JP (1) JP2009503471A (enExample)
ES (1) ES2414955T3 (enExample)
PL (1) PL1910773T3 (enExample)
WO (1) WO2007012502A1 (enExample)

Families Citing this family (29)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9817146B2 (en) * 2005-07-29 2017-11-14 Gerd Reime Method and device for measuring distances by means of inductive sensors
DE102007005187B4 (de) * 2007-01-29 2008-11-20 Gerd Reime Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung einer Entfernung zu einem rückstrahlenden Objekt
JP4321602B2 (ja) * 2007-02-14 2009-08-26 セイコーエプソン株式会社 文書編集支援装置、プログラムおよび記憶媒体
DE102008003186A1 (de) * 2007-10-05 2009-04-16 Marantec Antriebs- Und Steuerungstechnik Gmbh & Co. Kg Verfahren und System zur Steuerung eines Torantriebes
US8111582B2 (en) * 2008-12-05 2012-02-07 Bae Systems Information And Electronic Systems Integration Inc. Projectile-detection collars and methods
DE102009009061A1 (de) 2009-01-21 2010-07-29 Gerd Reime Verfahren zum induktiven Erzeugen eines elektrischen Messsignals sowie zugehörige Sensorvorrichtung
DE102010007620B9 (de) 2009-02-13 2013-01-24 Sick Ag Näherungssensor
DE102010009576B4 (de) 2009-02-27 2014-05-08 Ifm Electronic Gmbh Induktiver Näherungsschalter
DE102009049821A1 (de) * 2009-10-19 2011-04-21 Icontrols, K.S. Vorrichtung und Verfahren zur Detektion von elektrisch leitfähigen Gegenständen
BR112012025465B1 (pt) * 2010-04-06 2023-10-10 Fmc Technologies Inc. Aparelho sensor e método para detectar uma condição sensível em um primeiro lado de uma barreira
DE102010028722A1 (de) * 2010-05-07 2011-11-10 Robert Bosch Gmbh Erfassung eines metallischen oder magnetischen Objekts
DE102010028719A1 (de) * 2010-05-07 2011-11-10 Robert Bosch Gmbh Suchgerät
DE102010042512B4 (de) 2010-10-15 2025-07-24 Ifm Electronic Gmbh Induktiver Näherungsschalter mit verringerter Temperaturabhängigkeit
WO2012049205A1 (de) 2010-10-15 2012-04-19 Ifm Electronic Gmbh Induktiver naeherungsschalter
DE102010042511B4 (de) 2010-10-15 2025-07-24 Ifm Electronic Gmbh Induktiver Näherungsschalter mit verringerter Temperaturabhängigkeit
DE102010042816A1 (de) 2010-10-22 2012-04-26 Ifm Electronic Gmbh Induktiver Näherungsschalter
DE102010042815A1 (de) 2010-10-22 2012-04-26 Ifm Electronic Gmbh Induktiver Näherungsschalter
DE102010043078A1 (de) * 2010-10-28 2012-05-03 Robert Bosch Gmbh Sensorvorrichtung, insbesondere Metallsensor, mit feldkompensiertem Magnetfeldsensor
WO2012104086A2 (de) 2011-02-02 2012-08-09 Gerd Reime Metalldetektor zur ortung metallischer objekte
EP2602635B1 (de) * 2011-12-06 2014-02-19 ELMOS Semiconductor AG Verfahren zur Vermessung einer Übertragungsstrecke mittels kompensierender Amplitudenmessung und Delta-Sigma-Methode sowie Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens
DE102011088406A1 (de) * 2011-12-13 2013-06-13 Robert Bosch Gmbh Metallsensor
DE102012201849B4 (de) 2012-02-08 2025-08-28 Ifm Electronic Gmbh Induktiver Näherungsschalter mit erhöhter Temperaturstabilität durch phasenunempfindliche Bewertung des Empfangssignals
EP2631674A1 (de) * 2012-02-23 2013-08-28 ELMOS Semiconductor AG Verfahren und Sensorsystem zur Vermessung der Eigenschaften einer Übertragungsstrecke eines Messsystems zwischen Sender und Empfänger
WO2014170118A1 (de) 2013-04-17 2014-10-23 Mechaless Systems Gmbh Verfahren zur optischen abstandsmessung im nah- und fernbereich
DE102019119904B4 (de) 2019-07-23 2024-12-19 Elmos Semiconductor Se Metalllagenfreies Thermopile mit optimiertem Layout
DE102019119917B4 (de) 2019-07-23 2025-02-06 Elmos Semiconductor Se Silizidierte Testvorrichtung und Testverfahren für metalllagenfreies Thermopaar in einer Ebene eines CMOS-Stapels
DE102019009338B4 (de) 2019-07-23 2025-02-27 Elmos Semiconductor Se Metalllagenfreies Thermopile mit optimiertem Layout
DE102020119245B4 (de) 2019-07-23 2024-06-13 Elmos Semiconductor Se Halios-Vorrichtung mit metalllagenfreiem Empfänger und Kompensation mittels Phononenstrahlung eines Heizelements oder eines elektroakustischen Wandlers
JP7168180B2 (ja) * 2019-11-12 2022-11-09 日本システム開発株式会社 変位センサ及び変位センサシステム

Family Cites Families (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2158320B2 (de) 1971-11-24 1980-04-10 Ferdy Dr. Grenoble Mayer (Frankreich) Vorrichtung zur berührungsfreien relativen Abstandsmessung
US4300097A (en) * 1979-07-27 1981-11-10 Techna, Inc. Induction balance metal detector with ferrous and non-ferrous metal identification
DE2944472A1 (de) * 1979-11-03 1981-05-14 Robert Bosch Gmbh, 7000 Stuttgart Induktive, insbesondere fuer eine brennkraftmaschine bestimmte messeinrichtung
US4677490A (en) 1985-09-13 1987-06-30 Rca Corporation CCD imager output signal processing using drain output signal and wide-band sampled detected floating-element output signal
US4806848A (en) 1987-03-11 1989-02-21 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Air Force Compressor blade clearance measurement system
US5136250A (en) * 1989-04-28 1992-08-04 Seagate Technology, Inc. Capacitance height gauge
EP0706648B1 (de) 1993-07-02 1997-09-03 Gerd Reime Anordnung zum messen oder erkennen einer veränderung an einem rückstrahlenden element
EP1078341A4 (en) 1999-03-05 2010-01-06 Tk Holdings Inc PROXIMITY SENSOR
DE10022054B4 (de) 2000-05-06 2006-05-24 Leuze Electronic Gmbh & Co Kg Optischer Distanzsensor
DE10025844A1 (de) 2000-05-25 2001-12-06 Adc Automotive Dist Control Verfahren zur Bestimmung der Entfernung zwischen einem Bezugsobjekt und mindestens einem Zielobjekt
DE10116411A1 (de) * 2001-04-02 2002-10-17 Abb Research Ltd Näherungssensor und Verfahren zu seinem Betrieb
US6803757B2 (en) * 2001-10-02 2004-10-12 Bentley Nevada, Llc Multi-coil eddy current proximity probe system
ITMO20030300A1 (it) * 2003-11-07 2005-05-08 M D Micro Detectors Spa Sensore di prossimita' induttivo, in particolare per rilevare la presenza di materiali ferrosi e non ferrosi

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2009503471A5 (enExample)
CN102870013B (zh) 金属的或磁性对象的检测
RU2013152616A (ru) Электромагнитный датчик и его калибровка
WO2018217355A3 (en) MAGNETIC FIELD SENSOR WITH ERROR CALCULATION
US20080197835A1 (en) Method and device for distance measurement by means of capacitive or inductive sensors
JP2008522151A5 (enExample)
JP2016534370A (ja) 複数の共振センサに対する単一チャネルインタフェースを備えた誘導性位置感知
WO2012121890A3 (en) Alignment apparatus for x-ray imaging system
WO2019204376A1 (en) Device and method for detecting a foreign object in a wireless power transfer system
JP2015517096A5 (enExample)
JP2015501430A5 (enExample)
CN102870011A (zh) 金属的或磁性对象的检测
EP2600230A3 (en) Position detector and position detection method
RU2014140311A (ru) Устройство обнаружения для оценки расстояния между rfid меткой и границей раздела между средами
WO2012093873A3 (ko) 터치스크린의 터치 위치 검출 방법 및 이러한 방법을 사용하는 터치스크린
WO2016210383A1 (en) System and method for locating underground lines using motion based responsiveness
JP4389033B2 (ja) 位相監視型金属検出装置
CN109709559B (zh) 超声传感器及其控制方法
KR101083679B1 (ko) 디지타이저
CN105806198B (zh) 异步输出协议
JP2972332B2 (ja) コイン確認器
JP6218951B2 (ja) 物体のタイプを判断する方法および近接センサー
CN204989499U (zh) 一种自动识别金属类型的金属探测器
US10247580B2 (en) Circuit and method for evaluating measurement signals and sensor system for capacitively detecting obstacles
TW200718930A (en) Temperature detecting apparatus