JP2009282522A - フィルム型光分解性転写材料 - Google Patents

フィルム型光分解性転写材料 Download PDF

Info

Publication number
JP2009282522A
JP2009282522A JP2009125210A JP2009125210A JP2009282522A JP 2009282522 A JP2009282522 A JP 2009282522A JP 2009125210 A JP2009125210 A JP 2009125210A JP 2009125210 A JP2009125210 A JP 2009125210A JP 2009282522 A JP2009282522 A JP 2009282522A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
film
transfer material
type
photodegradable transfer
material according
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2009125210A
Other languages
English (en)
Other versions
JP5054066B2 (ja
Inventor
Kook Hyeon Han
ヒュン ハン,クック
Jeong Kun Kim
クン キム,ジュン
Sang Hoon Suk
フ−ン スック,サン
Byeong Il Lee
イル リー,ビョン
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Kolon Industries Inc
Original Assignee
Kolon Industries Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Kolon Industries Inc filed Critical Kolon Industries Inc
Publication of JP2009282522A publication Critical patent/JP2009282522A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5054066B2 publication Critical patent/JP5054066B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/004Photosensitive materials
    • G03F7/0045Photosensitive materials with organic non-macromolecular light-sensitive compounds not otherwise provided for, e.g. dissolution inhibitors
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/004Photosensitive materials
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/004Photosensitive materials
    • G03F7/0047Photosensitive materials characterised by additives for obtaining a metallic or ceramic pattern, e.g. by firing
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/004Photosensitive materials
    • G03F7/022Quinonediazides
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/20Exposure; Apparatus therefor

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Ceramic Engineering (AREA)
  • Materials For Photolithography (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)

Abstract

【課題】露光の際、基板による反射を防止し、目的のパターン形状に具現しやすく、解像度及び細線密着力を向上させるフィルム型光分解性転写材料を提供する。
【解決手段】支持体フィルム;光分解性フォトレジスト層;及び基板にラミネーションされる面に形成された反射抑制層を含むフィルム型光分解性転写材料。
【選択図】なし

Description

本発明はフォトリソグラフィーによるパターン形成に使用されるフィルム型転写材料に関するものである。
半導体の製造などにおいて、高集積度を収得するために、レジスト画像の微細化が図られており、このような要求を満足させるために、フィルム型転写材料を利用したフォトリソグラフィー技術が行われている。
フィルム型転写材料を利用したフォトリソグラフィー技術は、パターン形成のための基板上にフィルム型転写材料のフォトレジスト層が接するようにラミネーションした後、これを露光、現像及びエッチングすることで目的とするパターンを得る。
露光の際には、所定パターンが形成された露光用マスクを通じて露光することになるが、露光マスクパターンのとおりでない、意図に反した一部パターンの歪みがたびたび生じている。
パターンの歪みを誘発する原因としては、露光の際、斜めに反射された光によって起こる反射ノッチング(reflective notching)と呼ばれるものがある。これについては、非特許文献1に開示されている。
このような問題を解決するための方法の一つとして、特許文献1及び2などに開示されている、フォトレジストに染料を添加する方法を挙げることができる。しかし、フォトレジストに染料を添加して、露光波長に対して高吸収のレジスト被膜を形成することによって前記問題を解決しようとすると、レジストの感度が低下するか、あるいは硬化工程中の問題、アルカリ現像剤中でのレジストの薄化、ベーキングの際の染料の昇華などの別の問題が現れる。レジストへの染料の添加のほかに、表面イメージング(TSI)法が知られている。
このような方法のほかに、別途の反射防止膜をフォトレジスト層の形成前に塗布する方法も開示されているが、これも付加の工程が加えられなければならず、煩雑である。
アメリカ特許第4,575,480号明細書 アメリカ特許第4,882,260号明細書 M.Bolsen、G.Buhr、H.Merrem及びK.VanWerden、Solid State Technology、Feb.1986,p.83
したがって、本発明の一態様では、露光の際、基板による反射を防止することができるフィルム型光分解性転写材料を提供しようとする。
本発明の一態様では、目的のパターン形状に具現しやすく、解像度及び細線密着力を向上させることができるフィルム型光分解性転写材料を提供しようとする。
前記課題を解決するために、本発明の一態様では、支持体フィルム;光分解性フォトレジスト層;及び基板にラミネーションされる面に形成された反射抑制層;を含む、フィルム型光分解性転写材料を提供する。
本発明の好ましい一態様によれば、前記フィルム型光分解性転写材料は、保護層をさらに含むことができる。
本発明の一態様によれば、反射抑制層は、200nm〜700nmの範囲の波長の光に対する吸収率が90%以上であることができる。
本発明の一態様によれば、反射抑制層は、光分解性フォトレジスト層と同じ組成に加え、ブラック染料、ブラック顔料または実質的にブラック色相を発現する顔料混合物を含むものであることができる。
本発明の一態様によれば、実質的にブラック色相を発現する顔料混合物は、レッド顔料、イエロー顔料及びブルー顔料の混合物を含むことができる。
本発明の一態様によれば、反射抑制層は、厚さが0.1〜1.0μmであることができる。
本発明の一態様によれば、光分解性フォトレジスト層は、アルカリ可溶性樹脂及び感光性化合物を含むことができる。
本発明の一態様によれば、アルカリ可溶性樹脂はノボラック樹脂であることができる。
本発明の一態様によれば、アルカリ可溶性樹脂はクレゾールノボラック樹脂であることができる。
本発明の一態様によれば、感光性化合物は、2,3,4,4’−テトラヒドロキシベンゾフェノン−1,2−ナフトキノンジアジド−5−スルホネート、2,3,4−トリヒドロキシベンゾフェノン−1,2−ナフトキノンジアジド−5−スルホネート及び(1−[1−(4−ヒドロキシフェニル)イソプロピル]−4−[1,1−ビス(4−ヒドロキシフェニル)エチル]ベンゼン)−1,2−ナフトキノンジアジド−5−スルホネートから選ばれた1種以上であることができる。
本発明の一態様によれば、2,3,4−トリヒドロキシベンゾフェノン、2,3,4,4’−テトラヒドロキシベンゾフェノン及び1−[1−(4−ヒドロキシフェニル)イソプロピル]−4−[1,1−ビス(4−ヒドロキシフェニル)エチル]ベンゼンから選ばれた1種以上の感度増進剤を含むことができる。
以上のように、本発明の一態様によるフィルム型光分解性転写材料は、露光の際のパターンの歪みを防止することができるので、目的とする形状のパターンを具現することができ、解像度及び細線密着力を向上させることができる。
以下、本発明を詳細に説明する。
本発明の一態様によるフィルム型光分解性転写材料は、支持体フィルム及び光分解性フォトレジスト層を含み、基板に接する面に反射抑制層が形成されたものである。
本発明の一態様によるフィルム型光分解性転写材料は、パターンを形成しようとする基板に接して用いられる。
以下、「フィルム型光分解性転写材料」なる用語は、この語が使用される局面に応じて「ポジティブ型フォトレジストフィルム」、「フォトレジスト樹脂フィルム」、「ポジティブ型ドライフィルムフォトレジスト」、または「ポジティブフォトレジスト樹脂フィルム」等と称される場合があるが、当業者に容易に理解されよう。
反射抑制層は基板からの光の反射を減少させるためのもので、このような点で、反射抑制層は200nm〜700nmの範囲の波長を持つ光を少なくとも90%以上吸収するものであることができる。より好ましくは200nm〜410nmの範囲の波長を持つ光を少なくとも90%以上吸収するものであることができる。
反射抑制層を含む場合、フォトレジスト層を通過した光は反射抑制層によって吸収されるので、基板からの反射の問題は生じない。反射抑制層としては、無機系または有機系のものを使用することができる。無機反射抑制層としては、例えば、文献[参照:Proc.SPIE.vol.1086(1989),p.242に記載されたC.Nolscherなどの論文;Thin Solid Films,200,93(1991)に記載されたK.Bather,H.Schreiberの論文;MicroelectronicEngineering、21(1993)、p.51に記載されたG.Czechなどの論文]に開示されている、厚さ300ÅのTiN、TiNO、TiW、無機重合体の膜であることができる。また、このほかにも、チタン膜、酸化クロム膜、カーボン膜、α−シリコン膜などの無機系膜であることができる。これら無機系反射抑制層は、通常、真空蒸着、CVD、スパッタリングなどの方法で形成できる。
一方、有機反射抑制層としては、重合体膜の中に照射波長の光を吸収する染料を添加したもの[参照:Proc.SPIE,vol.539(1985),p.342]を挙げることができる。
他の方法として、膜形成重合体に染料を化学的に結合させて反射抑制層を形成する方法を挙げることができる。その例としては、ファーヘイ(Fahey)など[参照:Proc.SPIE,vol.2195,p.422]が報告したポリ(ビニルメチルエーテル−コ−無水マレイン酸)の酸無水物基にアミノ基含有染料を反応させたものを本発明の一態様の反射抑制層の材料として使用することができる。
以上のもののほかにも、次のような特徴を満足するものであれば、いずれも反射抑制層形成材料として使用することができる:
(a)良好なフィルム形成性
(b)目的とする露光波長での高光吸収率
(c)フォトレジストとの非混合性
このような点で、本発明の一態様によるフィルム型光分解性転写材料において、反射抑制層はフォトレジスト層と同じ組成にさらにブラック染料、ブラック顔料または実質的にブラック色相を発現する顔料混合物を含む層であることができる。このような染料または顔料、顔料混合物は、フォトレジスト層と共通する成分と完全に混合させることが好ましい。
本発明の一態様によるフィルム型光分解性転写材料において、反射抑制層は、フォトレジスト層と同じ組成に加え、ブラック色相を発現する顔料混合物としてレッド顔料、イエロー顔料及びブルー顔料の混合物を含む層であることができる。
商業的に容易に購入することができる反射抑制層形成用材料としては、Rhom&Hass社のAR40などを挙げることができるが、これに限定されるものではない。
反射抑制層の形成の際、その厚さは特に限定されるものではないが、0.1〜1.0μm程度のものが適当であると考えられる。0.1μmより薄い場合、光吸収率が90%以下に落ちることができ、1.0μmより厚い場合、露光量が増加して作業性が悪くなることができる。
一方、本発明の一態様の一フィルム型光分解性転写材料において、光分解性フォトレジスト層を構成する組成には特に限定されるものではないが、フォトレジスト層はアルカリ可溶性樹脂及びジアジド系感光性化合物を含むことができ、特にアルカリ可溶性樹脂としてノボラック樹脂を使用することができ、より好ましくはクレゾールノボラック樹脂を含むことができる。
ノボラック樹脂は、フェノール類単独で、またはフェノール類と、アルデヒド類及び酸性触媒とを組み合わせて重縮合反応させて得ることができる。
この際、フェノール類としては、特に限定されるものではなく、フェノール、o−クレゾール、m−クレゾール、p−クレゾール、2,3−キシレノール、2,5−キシレノール、3,4−キシレノール、3,5−キシレノール、2,3,5−トリメチルフェノール−キシレノール、4−t−ブチルフェノール、2−t−ブチルフェノール、3−t−ブチルフェノール、4−メチル−2−t−ブチルなどの1価フェノール類;及び2−ナフトール、1,3−ジヒドロキシナフタレン、1,7−ジヒドロキシナフタレン、1,5−ジヒドロキシナフタレン、レゾルシノール、ピロカテコール、ヒドロキノン、ビスフェノールA、フロログルシノール、ピロガロールなどの多価フェノール類などを挙げることができ、これらから選択して単独であるいは2種以上組み合わせて使用することができる。特に、m−クレゾール、p−クレゾールの組合せが好ましい。
アルデヒド類としては、特に限定されるものではないが、ホルムアルデヒド、トリオキサン、パラホルムアルデヒド、ベンズアルデヒド、アセトアルデヒド、プロピルアルデヒド、フェニルアセトアルデヒド、アルファまたはベータ−フェニルプロピルアルデヒド、o−、m−またはp−ヒドロキシベンズアルデヒド、グルタールアルデヒド、テレフタルアルデヒドなどを挙げることができ、単独でまたは2種以上組み合わせて使用することができる。
クレゾールノボラック樹脂は、重量平均分子量(GPC測定法に基づくとき)が2,000〜30,000であることが好ましく、クレゾールノボラック樹脂は、メタ/パラクレゾールの含量比によって感光速度と残膜率などの物性が変わることができるので、メタ/パラクレゾールの含量が重量基準で4:6〜6:4の割合で混合されたものが好ましい。
クレゾールノボラック樹脂中のメタクレゾールの含量が前記範囲を超過すれば、感光速度が速くなるとともに残膜率が急激に低くなり、一方、パラクレゾールの含量が前記範囲を超過すれば、感光速度が遅くなる欠点がある。
クレゾールノボラック樹脂は、メタ/パラクレゾールの含量が重量基準で4:6〜6:4のクレゾールノボラック樹脂を単独で使用することができるが、より好ましくは互いに異なる樹脂を混合して使用することができる。この場合、クレゾールノボラック樹脂を、重量平均分子量8,000〜30,000のクレゾールノボラック樹脂と、重量平均分子量2,000〜8,000未満のクレゾールノボラック樹脂を7:3〜9:1の割合で混合して使用することが好ましい。
前記及び後記で、“重量平均分子量”はゲル透過クロマトグラフィー(GPC)によって決まる、ポリスチレン当量の換算値に定義される。
一方、フォトレジスト層の組成の中で、ジアジド系感光性化合物は、アルカリ可溶性樹脂のアルカリに対する溶解度を減少させる溶解抑制剤として作用し、光が照射されるとアルカリ可溶性物質に変化してアルカリ可溶性樹脂のアルカリ溶解度を増加させる役目をする。このように、光照射による溶解度の変化によって本発明のフィルム型光分解性転写材料は露光部位が現像される。
ジアジド系感光性化合物は、ポリヒドロキシ化合物とキノンジアジドスルホン酸化合物とのエステル化反応によって合成することができる。ジアジド系感光性化合物を得るためのエステル化反応は、ポリヒドロキシ化合物とキノンジアジドスルホン酸化合物をジオキサン、アセトン、テトラヒドロフラン、メチルエチルケトン、N−メチルピロリドン、クロロホルム、トリエチルアミン、N−メチルモルホリン、N−メチルピペラジン または4−ジメチルアミノピリジンのような塩基性触媒を滴下して縮合させた後、得られた生成物を洗浄、精製、乾燥させることで得ることができる。
ここで、キノンジアジドスルホン酸化合物としては、例として、1,2−ベンゾキノンジアジド−4−スルホン酸、1,2−ナフトキノンジアジド−4−スルホン酸、1,2−ベンゾキノンジアジド−5−スルホン酸、及び1,2−ナフトキノンジアジド−5−スルホン酸などのo−キノンジアジドスルホン酸化合物及びそのほかのキノンジアジドスルホン酸誘導体などを挙げることができる。
キノンジアジドスルホン酸化合物は、それ自体は、アルカリ中でアルカリ可溶性樹脂の溶解度を低くする溶解阻止制としての機能を持つ。しかし、露光の際、分解されてアルカリ可溶性になり、それによってむしろアルカリにおいてアルカリ可溶性樹脂の溶解を促進させる特性を持つ。
ポリヒドロキシ化合物としては、2,3,4−トリヒドロキシベンゾフェノン、2,2’,3−トリヒドロキシベンゾフェノン、2,3,4’−トリヒドロキシベンゾフェノンなどのトリヒドロキシベンゾフェノン類;2,3,4,4’−テトラヒドロキシベンゾフェノン、2,2’,4,4’−テトラヒドロキシベンゾフェノン、2,3,4,5−テトラヒドロキシベンゾフェノンなどのテトラヒドロキシベンゾフェノン類;2,2’,3,4,4’−ペンタヒドロキシベンゾフェノン、2,2’,3,4,5−ペンタヒドロキシベンゾフェノンなどのペンタヒドロキシベンゾフェノン類;2,3,3’,4,4’,5’− ヘキサヒドロキシベンゾフェノン、2,2’,3,3’,4,5’− ヘキサヒドロキシベンゾフェノンなどのヘキサヒドロキシベンゾフェノン類;没食子酸アルキルエステル類;オキシフラボン類などを挙げることができる。
これらから得られたジアジド系感光性化合物の具体的な例としては、2,3,4,4’−テトラヒドロキシベンゾフェノン−1,2−ナフトキノンジアジド−5−スルホネート、2,3,4−トリヒドロキシベンゾフェノン−1,2−ナフトキノンジアジド−5−スルホネート及び(1−[1−(4−ヒドロキシフェニル)イソプロピル]−4−[1,1−ビス(4−ヒドロキシフェニル)エチル]ベンゼン)−1,2−ナフトキノンジアジド−5−スルホネートから選ばれた1種以上を挙げることができる。
このようなジアジド系感光性化合物は、フォトレジスト層の組成のうち、アルカリ可溶性樹脂100重量部に対して30〜80重量部であるものが現像性や溶解性の面で有利であることができる。
一方、本発明の一態様によるフィルム型光分解性転写材料において、フォトレジスト層は感度増進剤を含むことができる。これは感度を向上させるためのものである。その例としては、2,3,4−トリヒドロキシベンゾフェノン、2,3,4,4’−テトラヒドロキシベンゾフェノン及び1−[1−(4−ヒドロキシフェニル)イソプロピル]−4−[1,1−ビス(4−ヒドロキシフェニル)エチル]ベンゼンから選ばれた1種以上が挙げられる。
感度増進剤を含むとき、その含量はアルカリ可溶性樹脂100重量部を基準として、3〜15重量部であることが感光効果向上及びウィンドウ工程マージンの面で有利であることができる。
さらに、フォトレジスト層は、レベリング剤、充填剤、酸化防止剤などのその他の成分や添加剤を含むことができる。
このようなアルカリ可溶性樹脂、ジアジド系感光性化合物などを含む組成物を一定量の溶剤に分散させて造液した後、フィルム支持体フィルム上に塗布してから乾燥すれば、フォトレジスト層を形成することができる。
この際、溶媒の例としては、エチルアセテート、ブチルアセテート、エチレングリコールモノエチルエーテルアセテート、ジエチレングリコールモノエチルエーテルアセテート、プロピレングリコールモノエチルエーテルアセテート、アセトン、メチルエチルケトン、エチルアルコール、メチルアルコール、プロピルアルコール、イソプロピルアルコール、ベンゼン、トルエン、シクロペンタノン、シクロヘキサノン、エチレングリコール、キシレン、エチレングリコールモノエチルエーテル及びジエチレングリコールモノエチルエーテルよりなる群から選ばれた1種以上を挙げることができる。
前記混合物は前記支持体フィルムに1〜100μmの厚さで塗布される。前記支持体フィルム上にフォトレジスト層を形成させることは、一般的に使用されているローラー、ロールコーター、マイアーロッド(Meyer rod)、グラビア、スプレーなどの塗装法によって、前記溶剤と混合された組成物を前記記載フィルム上に塗装し乾燥して組成物中の溶剤を揮発させることで実施できる。必要に応じて、塗布された組成物を加熱硬化してもよい。
一方、フィルム型転写材料において、支持体フィルムとしては、光透過性を阻害しない透明性を満足するものであれば特に限定されない。その例は、ポリカーボネートフィルム、ポリエチレン(PE)フィルム、ポリプロピレン(PP)フィルム、延伸ポリプロピレン(OPP)フィルム、ポリエチレンテレフタレート(PET)フィルム、ポリエチレンナフタレート(PEN)フィルム、エチレンビニルアセテート(EVA)フィルム、ポリビニルフィルム、その他の適切なポリオレフィンフィルム、エポキシフィルムなどを含む。特に好ましいポリオレフィンフィルムは、ポリプロピレン(PP)フィルム、ポリエチレン(PE)フィルム、エチレンビニルアセテート(EVA)フィルムなどである。好ましいポリビニルフィルムは、ポリ塩化ビニル(PVC)フィルム、ポリ酢酸ビニル(PVA)フィルム、ポリビニルアルコール(PVOH)フィルムなどである。特に好ましいポリスチレンフィルムは、ポリスチレン(PS)フィルム、アクリロニトリル/ブタジエン/スチレン(ABS)フィルムなどを挙げることができる。支持体フィルムは、好ましくは、ドライフィルムレジストの形状支持のための骨格の役目をするために、通常、約10〜50μmの範囲内の厚さ、好ましくは約15〜50μm、より好ましくは約15〜25μmの範囲内の厚さを持つことができる。
さらに、前記製造された本発明のポジティブ型フォトレジストフィルムは、フォトレジスト層の上面に保護層をさらに含むことができる。このような保護層は、空気の遮断及び異物などからフォトレジスト層を保護する役目をするもので、ポリエチレンフィルム、ポリエチレンテレフタレートフィルム、ポリプロピレンフィルムなどで形成されたものが好ましく、その厚さは15〜30μmであることがより好ましい。
反射抑制層の形成は、フォトレジスト層の形成と同様に、フォトレジスト層の面上に、ローラー、ロールコーター、マイアーロッド(Meyer rod)、グラビア、スプレーなどを用いた塗装法などで行い、その後、その上に保護層を形成することもでき、あるいは別法として、保護層上にローラー、ロールコーター、マイアーロッド、グラビア、スプレーなどの塗装法などの方法で反射抑制層を形成した後、フォトレジスト層が表面上に形成された支持体フィルムと合着する方法も可能であるが、これらに特に限定されるものではない。
一方、本発明のフォトレジスト樹脂フィルムを使ってパターンを形成する方法は、一般的なフォトレジスト樹脂フィルムを使用する方法と同一であり、
(I)ガラス基板上に、本発明によって製造されたドライフィルムフォトレジストの反射抑制層が接するように、ドライフィルムフォトレジストを配置し、必要に応じて前記フォトレジスト樹脂フィルムから支持体フィルムを剥離する工程;
(II)前記被膜上に、所望のパターンを得るために、紫外線をマスクを通じて、または通じなくて直接照射する工程;及び
(III)前記フォトレジスト樹脂フィルムから支持体フィルムを剥離しない場合は、これを剥離した後、照射部のフォトレジスト層を現像処理で除去することでレジストパターン被膜を形成する工程を含む。
前記工程(I)は、基板上に、ポジティブ型ドライフィルムフォトレジストの反射抑制層が接するように付着させることにより、反射抑制層とその上にポジティブ型フォトレジスト樹脂被膜を形成する工程である。この際、ドライフィルムフォトレジストの支持体フィルムは剥離しなくてもよい。また、基板上に形成された反射抑制層とフォトレジスト樹脂被膜を乾燥する必要はない。
必要に応じて、工程(III)で現像するとき、レジストパターン被膜が洗い落とされないように、基材との決着力強化のために、必要に応じて工程(II)の前または後の工程に熱処理(Baking)工程が必要である。より詳しく説明すれば、工程(II)を行う前に、基材にポジティブ型フォトレジスト樹脂被膜を形成した後、フォトレジスト樹脂フィルムから支持体フィルムを剥離した後、基材との決着力強化のために、熱処理(Baking)を行うことができ、または工程(II)を行った後、フォトレジスト樹脂フィルムの支持体フィルムを剥離し、基材との決着力強化のために、熱処理(Baking)を行うことができる。または、工程(II)を行った後、支持体フィルムを前記フォトレジスト樹脂から剥離し、この剥離されたフィルムを熱処理して、基材に対する接着性を強化させることもできる。すなわち、フォトレジストフィルムの要求事項、溶媒系の複雑性及び沸点差などによって熱処理工程を多様に繰り返すことができる。
このように、工程(I)、工程(II)及び工程(III)によって所望のレジストパターン被膜が形成される。
本発明のポジティブフォトレジスト樹脂フィルムを現像処理するための現像液は、2.38%テトラメチルアンモニウムヒドロキシド(TMAH:tetramethylammonium hydroxide)が好ましい。
以下、本発明の実施例に基づいて本発明をより詳細に説明するが、本発明の範囲がこれらの実施例に限定されるものではない。
以下の実施例において、反射抑制層の光吸収率は、具体的に反射抑制層を光学用ポリエチレンテレフタレートフィルム(厚さ、100μm)上に、乾燥後の厚さが0.1〜1.0μmになるように塗布した。このように得られた膜に対し、磁気分光光度計(UV−3101PC、SHIMADZU)方法によって200〜700nm波長での光透過率を測定した。
<実施例1>
アルカリ可溶性樹脂(フェノールノボラック樹脂)100重量部に対し、感光性化合物として34重量部の2,3,4−トリヒドロキシベンゾフェノン−1,2−ナフトキノンジアジド−5−スルホネート;感度増進剤として3.6重量部の2,3,4−トリヒドロキシベンゾフェノン;及び220重量部のメチルエチルケトンを含む溶液を製造した。
製造されたフォトレジスト層造液を0.2μmのミリポア(millipore)テフロンフィルターを通じて濾過させて不溶物質を除去した。
結果として得た溶液を、フィルム基材としてポリエチレンテレフタレートフィルム(厚さ、19μm)上に3μmの厚さで塗布してフォトレジスト層を形成した。
反射抑制層は、フォトレジストと同じ組成に、さらにカーボンブラック(Mikuni社製)56重量部を溶媒のプロピレングリコールモノエチルエーテルアセテートと完全に混合して製造した。
一方、このように製造された反射抑制層で、前記フォトレジスト層上にグラビアコーティング法で反射抑制層(厚さ0.1μm、200〜700nm波長光に対する吸収率90%)を形成した。
その後、ポリエチレンテレフタレートフィルム(厚さ16μm)を前記反射抑制層上に塗布してポジティブ型フォトレジストフィルムを製造した。
<実施例2>
実施例1と同様な方法で製造するが、フォトレジスト層の厚さが2.0μm、反射抑制層の厚さが1.0μmになるように製造した。
<実施例3>
前記実施例1と同様な組成と厚さに製造するが、反射抑制層を保護フィルムのポリエチレンテレフタレートフィルム(厚さ16μm)に先にコートした後、フォトレジスト層と反射抑制層が触れ合うように合着して製造した。
<比較例1>
前記実施例1と同様な方法でポジティブ型フォトレジストフィルムを製造するが、反射抑制層は形成しなかった。
<評価>
前記製造されたフィルムをラミネーション速度2m/分、温度110℃、加熱ロール圧力70psiでガラス基板にラミネーションした後、支持体フィルムを剥離し、ポジティブ型フォトレジスト層を100℃のホットプレートで120秒間熱処理し、フォトマスクを通じて紫外線で照射(露光)し、2.38%TMAHアルカリ現像液で適正時間現像した後、洗浄及び30秒間乾燥すれば、未露光の部分は残って回路を形成する。この際の解像度を電子燎微鏡で評価した。
解像度が3μm以下なら”非常に良い”に、3μmを超えた場合、”良い”に評価した。
また得られたパターンに対して走査型電子顕微鏡(SEM)を利用して観察して、パターン端面形が直四角形に類似であればパターン安定性が”非常に良い”と評価し、梯形に類似であればパターン安定性が”良い”と評価した。
これらの解像度とパターン形観察結果をまとめ、解像度が3μm以下であり、かつパターン端面形が直四角形に類似であれば、密着力が”非常に良い”したと評価し、解像度が3μmを超え、かつパターン端面形が梯形に類似であれば密着力が”良い”と評価した。
その結果を次の表1に示した。
Figure 2009282522
*非常に良い:◎、良い:○
本発明は、フォトリソグラフィーによるパターン形成に使用されるフィルム型転写材料に適用可能である。

Claims (11)

  1. 支持体フィルム;
    光分解性フォトレジスト層;及び
    基板にラミネーションされる面に形成された反射抑制層;
    を含むことを特徴とする、
    フィルム型光分解性転写材料。
  2. 保護層をさらに含むことを特徴とする、請求項1に記載のフィルム型光分解性転写材料。
  3. 反射抑制層は、200nm〜700nmの範囲の波長の光に対する吸収率が90%以上であることを特徴とする、請求項1または2に記載のフィルム型光分解性転写材料。
  4. 反射抑制層は、光分解性フォトレジスト層と同じ組成に加え、ブラック染料、ブラック顔料または実質的にブラック色相を発現する顔料混合物を含むものであることを特徴とする、請求項3に記載のフィルム型光分解性転写材料。
  5. 実質的にブラック色相を発現する顔料混合物は、レッド顔料、イエロー顔料及びブルー顔料の混合物を含むことを特徴とする、請求項4に記載のフィルム型光分解性転写材料。
  6. 反射抑制層は、厚さが0.1〜1.0μmであることを特徴とする、請求項1に記載のフィルム型光分解性転写材料。
  7. 光分解性フォトレジスト層は、アルカリ可溶性樹脂及び感光性化合物を含むことを特徴とする、請求項1に記載のフィルム型光分解性転写材料。
  8. アルカリ可溶性樹脂はノボラック樹脂であることを特徴とする、請求項7に記載のフィルム型光分解性転写材料。
  9. アルカリ可溶性樹脂はクレゾールノボラック樹脂であることを特徴とする、請求項7または8に記載のフィルム型光分解性転写材料。
  10. 感光性化合物は、2,3,4,4’−テトラヒドロキシベンゾフェノン−1,2−ナフトキノンジアジド−5−スルホネート、2,3,4−トリヒドロキシベンゾフェノン−1,2−ナフトキノンジアジド−5−スルホネート及び(1−[1−(4−ヒドロキシフェニル)イソプロピル]−4−[1,1−ビス(4−ヒドロキシフェニル)エチル]ベンゼン)−1,2−ナフトキノンジアジド−5−スルホネートから選ばれた1種以上であることを特徴とする、請求項7に記載のフィルム型光分解性転写材料。
  11. 2,3,4−トリヒドロキシベンゾフェノン、2,3,4,4’−テトラヒドロキシベンゾフェノン及び1−[1−(4−ヒドロキシフェニル)イソプロピル]−4−[1,1−ビス(4−ヒドロキシフェニル)エチル]ベンゼンから選ばれた1種以上の感度増進剤を含むことを特徴とする、請求項7に記載のフィルム型光分解性転写材料。
JP2009125210A 2008-05-23 2009-05-25 フィルム型光分解性転写材料 Expired - Fee Related JP5054066B2 (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020080048045A KR101335044B1 (ko) 2008-05-23 2008-05-23 필름형 광분해성 전사재료
KR10-2008-0048045 2008-05-23

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2009282522A true JP2009282522A (ja) 2009-12-03
JP5054066B2 JP5054066B2 (ja) 2012-10-24

Family

ID=41452972

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2009125210A Expired - Fee Related JP5054066B2 (ja) 2008-05-23 2009-05-25 フィルム型光分解性転写材料

Country Status (2)

Country Link
JP (1) JP5054066B2 (ja)
KR (1) KR101335044B1 (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010249927A (ja) * 2009-04-13 2010-11-04 Hitachi Chem Co Ltd パターン形成用材料、これを用いたフィルム状エレメント及びパターン形成方法
JP2019066518A (ja) * 2017-09-28 2019-04-25 富士フイルム株式会社 転写フィルムの製造方法、レジストパターンの形成方法、導電性配線パターンの製造方法、及び、転写フィルム
JP7452144B2 (ja) 2020-03-19 2024-03-19 artience株式会社 積層体及びそれを用いたパターンの製造方法

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01112244A (ja) * 1987-01-30 1989-04-28 Konica Corp 多色転写画像形成方法
JPH1172611A (ja) * 1997-08-28 1999-03-16 Fuji Photo Film Co Ltd ブラックマトリックスを有する画素シートの製造方法及びその方法に用いられる感光性転写シート
JP2005031575A (ja) * 2003-07-11 2005-02-03 Asahi Kasei Electronics Co Ltd ブラックマトリックス形成用材料
WO2006062347A1 (en) * 2004-12-09 2006-06-15 Kolon Industries, Inc Positive type dry film photoresist

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02126263A (ja) * 1988-11-07 1990-05-15 Daicel Chem Ind Ltd 感光性積層体

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01112244A (ja) * 1987-01-30 1989-04-28 Konica Corp 多色転写画像形成方法
JPH1172611A (ja) * 1997-08-28 1999-03-16 Fuji Photo Film Co Ltd ブラックマトリックスを有する画素シートの製造方法及びその方法に用いられる感光性転写シート
JP2005031575A (ja) * 2003-07-11 2005-02-03 Asahi Kasei Electronics Co Ltd ブラックマトリックス形成用材料
WO2006062347A1 (en) * 2004-12-09 2006-06-15 Kolon Industries, Inc Positive type dry film photoresist

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010249927A (ja) * 2009-04-13 2010-11-04 Hitachi Chem Co Ltd パターン形成用材料、これを用いたフィルム状エレメント及びパターン形成方法
JP2019066518A (ja) * 2017-09-28 2019-04-25 富士フイルム株式会社 転写フィルムの製造方法、レジストパターンの形成方法、導電性配線パターンの製造方法、及び、転写フィルム
JP7039229B2 (ja) 2017-09-28 2022-03-22 富士フイルム株式会社 転写フィルムの製造方法、レジストパターンの形成方法、及び、導電性配線パターンの製造方法
JP7452144B2 (ja) 2020-03-19 2024-03-19 artience株式会社 積層体及びそれを用いたパターンの製造方法

Also Published As

Publication number Publication date
KR101335044B1 (ko) 2013-11-29
KR20090121897A (ko) 2009-11-26
JP5054066B2 (ja) 2012-10-24

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN101809502B (zh) 厚膜抗蚀剂
JPH03155554A (ja) 放射線感応性樹脂組成物
KR101318517B1 (ko) 필름형 광분해성 전사재료
JP5048754B2 (ja) ポジティブ型フォトレジスト用組成物およびこれから製造されたポジティブ型フォトレジストフィルム
US6030741A (en) Positive resist composition
JP5054066B2 (ja) フィルム型光分解性転写材料
JP3105459B2 (ja) ポジ型ホトレジスト組成物およびこれを用いた多層レジスト材料
KR100384186B1 (ko) 포지티브형포토레지스트조성물
JP3688469B2 (ja) ポジ型ホトレジスト組成物およびこれを用いたレジストパターンの形成方法
TWI271420B (en) Novolak resin mixtures and photosensitive compositions comprising the same
JP2010020321A (ja) フィルム型光分解性転写材料
JP3245207B2 (ja) 感放射線性樹脂組成物
JP3488332B2 (ja) ポジ型ホトレジスト塗布液
GB2360600A (en) Positive resist composition
JP2010039214A (ja) 感光性樹脂組成物及びこれを用いた感光性エレメント
JP3844236B2 (ja) 感光性樹脂組成物塗布性向上剤を含有する感光性樹脂組成物
JP2009151266A (ja) ポジ型感放射線性樹脂組成物
JP3635598B2 (ja) ポジ型フォトレジスト組成物
JPH09197667A (ja) ポジ型フォトレジスト組成物
JP3577442B2 (ja) ポジ型ホトレジスト組成物、感光性膜付基板、レジストパターンの形成方法およびポジ型ホトレジスト組成物の製造方法
JP3452206B2 (ja) ポジ型感放射線性樹脂組成物
KR20090127466A (ko) 필름형 광분해성 전사재료
KR20100018340A (ko) 필름형 전사재료 슬릿팅 롤
KR100987785B1 (ko) 금속 전극의 제조방법
KR101324871B1 (ko) 필름형 광분해성 전사재료

Legal Events

Date Code Title Description
A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20110518

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20110607

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20110906

A602 Written permission of extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602

Effective date: 20110909

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20111006

A602 Written permission of extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602

Effective date: 20111012

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20111107

A602 Written permission of extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602

Effective date: 20111110

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20111205

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20120306

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20120424

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20120724

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20120726

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5054066

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150803

Year of fee payment: 3

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees