JP2009276771A - 顕微鏡レンズの位置を制御する方法及びシステム - Google Patents
顕微鏡レンズの位置を制御する方法及びシステム Download PDFInfo
- Publication number
- JP2009276771A JP2009276771A JP2009119944A JP2009119944A JP2009276771A JP 2009276771 A JP2009276771 A JP 2009276771A JP 2009119944 A JP2009119944 A JP 2009119944A JP 2009119944 A JP2009119944 A JP 2009119944A JP 2009276771 A JP2009276771 A JP 2009276771A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- signal
- deviation
- microscope lens
- lens
- generate
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 33
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims abstract description 40
- 230000008859 change Effects 0.000 claims abstract description 6
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 claims description 26
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 3
- 230000004044 response Effects 0.000 claims description 3
- 230000000737 periodic effect Effects 0.000 claims description 2
- 230000003068 static effect Effects 0.000 abstract description 20
- 230000033001 locomotion Effects 0.000 description 68
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 10
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 8
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 5
- 239000012472 biological sample Substances 0.000 description 4
- 230000005484 gravity Effects 0.000 description 4
- 230000008569 process Effects 0.000 description 3
- 238000005452 bending Methods 0.000 description 2
- 238000005312 nonlinear dynamic Methods 0.000 description 2
- 229910001060 Gray iron Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000001133 acceleration Effects 0.000 description 1
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 239000002131 composite material Substances 0.000 description 1
- 230000006835 compression Effects 0.000 description 1
- 238000007906 compression Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 230000003631 expected effect Effects 0.000 description 1
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 1
- 230000000750 progressive effect Effects 0.000 description 1
- 230000002195 synergetic effect Effects 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/24—Base structure
- G02B21/241—Devices for focusing
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/36—Microscopes arranged for photographic purposes or projection purposes or digital imaging or video purposes including associated control and data processing arrangements
- G02B21/365—Control or image processing arrangements for digital or video microscopes
- G02B21/367—Control or image processing arrangements for digital or video microscopes providing an output produced by processing a plurality of individual source images, e.g. image tiling, montage, composite images, depth sectioning, image comparison
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Lens Barrels (AREA)
- Microscoopes, Condenser (AREA)
- Automatic Focus Adjustment (AREA)
Abstract
【解決手段】顕微鏡レンズの基準位置に対応する基準信号を受け取り(401)、顕微鏡レンズの実際の位置に対応する計測信号を受け取り(402)、基準位置からの既定の位置偏差の特徴を示す偏差信号を受け取り(403)、計測信号、偏差信号、及び基準信号を使用して顕微鏡レンズの位置を設定する際に使用される位置制御信号を生成すること(404)、を具備する顕微鏡レンズの位置を制御する方法である。
【選択図】図4
Description
Claims (23)
- 顕微鏡レンズの位置を制御する方法であって、
a.前記顕微鏡レンズの基準位置に対応する基準信号を受け取り、
b.前記顕微鏡レンズの実際の位置に対応する計測信号を受け取り、
c.前記基準信号からの既定の位置偏差の特徴を示す偏差信号を受け取り、
d.前記計測信号、前記偏差信号、及び前記基準信号を使用して前記顕微鏡レンズの位置を設定する際に使用される位置制御信号を生成すること、
を具備する方法。 - ステップd)は、前記偏差信号を使用して前記計測信号を変更し、変更済みの計測信号を生成することを具備する請求項1記載の方法。
- 前記計測信号は、前記偏差信号から算出された予測変位信号に基づいて変更される請求項2記載の方法。
- 前記偏差信号は、変位信号から算出される請求項1記載の方法。
- ステップd)は、前記変位信号を使用して前記計測信号を変更し、変更済みの計測信号を生成することを具備する請求項4記載の方法。
- ステップd)は、前記変更済みの計測信号と前記基準信号を比較し、比較信号を生成することを更に具備する請求項2、3、又は5記載の方法。
- ステップd)は、前記比較信号と前記偏差信号を加算し、前記位置制御信号を生成することを更に具備する請求項6記載の方法。
- ステップd)は、前記位置制御信号を、前記顕微鏡レンズに結合されたリニアアクチュエータに送信することを具備する請求項1〜7のいずれか一項記載の方法。
- 前記基準位置からの前記既定の位置偏差は、前記顕微鏡レンズの位置における一時的な変化である請求項1〜8のいずれか一項記載の方法。
- ステップd)は、ループ補償フィルタを使用して前記位置制御信号の1つ又は複数の成分を処理することを具備する請求項1〜9のいずれか一項記載の方法。
- ステップa)〜d)をフィードバック制御法の一部として反復することを更に具備する請求項1〜10のいずれか一項記載の方法。
- 顕微鏡レンズの位置を制御するシステムであって、
基準信号、計測信号、及び偏差信号を受け取るレシーバであって、前記基準信号は、前記顕微鏡レンズの基準位置に対応し、前記計測信号は、前記顕微鏡レンズの実際の位置に対応し、且つ、前記偏差信号は、基準位置からの前記顕微鏡レンズの既定の位置偏差の特徴を示す、レシーバと、
前記レシーバによって受け取られた前記信号に基づいて、前記顕微鏡レンズの位置を設定する際に使用される位置制御信号を生成するコントローラと、
を具備するシステム。 - 前記コントローラは、前記計測信号に基づいた信号と前記基準信号を比較して比較出力を生成する比較器を更に具備する請求項12記載のシステム。
- 前記コントローラは、前記比較の結果を処理するループ補償フィルタを更に具備する請求項12又は13記載のシステム。
- 前記レシーバ及び前記コントローラは、フィードバック制御システムの一部を形成する請求項12〜14の中のいずれか一項記載のシステム。
- 変位信号を生成すべく適合された変位信号生成器を更に具備し、前記偏差信号は、前記変位信号に基づいて算出される請求項12〜15の中のいずれか一項記載のシステム。
- 偏差信号を生成する偏差信号生成器を更に具備する請求項12〜15の中のいずれか一項記載のシステム。
- 前記偏差信号は、周期的信号及びインパルス信号の中の1つを具備する請求項17記載のシステム。
- 前記計測信号を生成するエンコーダを更に具備する請求項12〜18の中のいずれか一項記載のシステム。
- 前記位置制御信号に応答し、直線軸に沿って前記顕微鏡レンズの位置を制御するリニアアクチュエータを更に具備し、前記直線軸は、前記顕微鏡レンズの光学軸と同軸状態にある請求項12〜19の中のいずれか一項記載のシステム。
- レンズマウント内に取り付けられた顕微鏡レンズを更に具備し、前記レンズマウントは、前記リニアアクチュエータに動作可能に接続される請求項20記載のシステム。
- 前記位置制御信号は、変調された電流信号を具備する請求項20又は21記載のシステム。
- 前記リニアアクチュエータは、ボイスコイルアクチュエータを具備する請求項20〜22の中のいずれか一項記載のシステム。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US12/121,830 | 2008-05-16 | ||
US12/121,830 US8319829B2 (en) | 2008-05-16 | 2008-05-16 | Method and system for controlling the position of a microscope lens |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2009276771A true JP2009276771A (ja) | 2009-11-26 |
JP5519184B2 JP5519184B2 (ja) | 2014-06-11 |
Family
ID=40953439
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2009119944A Active JP5519184B2 (ja) | 2008-05-16 | 2009-05-18 | 顕微鏡レンズの位置を制御する方法及びシステム |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8319829B2 (ja) |
EP (1) | EP2120080B1 (ja) |
JP (1) | JP5519184B2 (ja) |
AT (1) | ATE527569T1 (ja) |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB201620548D0 (en) | 2016-12-02 | 2017-01-18 | Nordson Corp | Bond test apparatus and method |
EP3428708B1 (de) | 2017-07-10 | 2023-05-17 | FZMB GmbH Forschungszentrum für Medizintechnik und Biotechnologie | Vorrichtung zur bewegung eines optischen elements entlang der optischen achse eines mikroskops |
CN109068066B (zh) * | 2018-10-10 | 2020-07-10 | Oppo广东移动通信有限公司 | 摄像头对焦校正方法、相关设备和存储介质 |
WO2020244779A1 (en) * | 2019-06-07 | 2020-12-10 | Leica Microsystems Cms Gmbh | A system and method for processing biology-related data, a system and method for controlling a microscope and a microscope |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH07504749A (ja) * | 1992-03-13 | 1995-05-25 | サーモマイクロスコープス コーポレーション | 走査型プローブ電子顕微鏡 |
JPH11231253A (ja) * | 1998-01-27 | 1999-08-27 | Carl Zeiss Jena Gmbh | スキャナ駆動部のための方向制御システム |
JP2006031017A (ja) * | 2004-07-16 | 2006-02-02 | Carl Zeiss Jena Gmbh | 光ラスタ顕微鏡を用いて少なくとも一つの試料領域を把握するための方法 |
DE102005047200A1 (de) * | 2005-10-01 | 2007-04-05 | Carl Zeiss Jena Gmbh | Verfahren zur Korrektur einer Steuerung eines optischen Scanners in einer Vorrichtung zur scannenden Abbildung einer Probe und Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens |
Family Cites Families (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5946611A (ja) | 1982-09-09 | 1984-03-16 | Toshiba Corp | 光学検査装置 |
US5009488A (en) * | 1986-02-11 | 1991-04-23 | University Of Massachusetts Medical Center | Filter accessory for an imaging microspectrofluorimeter |
US4863252A (en) * | 1988-02-11 | 1989-09-05 | Tracor Northern, Inc. | Objective lens positioning system for confocal tandem scanning reflected light microscope |
US5293042A (en) * | 1991-05-10 | 1994-03-08 | Olympus Optical Co., Ltd. | Servo circuit of scanning probe microscope |
DE19702752C2 (de) * | 1997-01-27 | 2001-12-13 | Zeiss Carl Jena Gmbh | Ansteuersystem für einen Scannerantrieb |
DE10156235A1 (de) * | 2001-11-15 | 2003-06-05 | Leica Microsystems | Verfahren zum Betreiben einer Stellvorrichtung und Scanmikroskop |
DE10237384A1 (de) * | 2002-08-12 | 2004-03-04 | Zeiss Optronik Gmbh | Scanner und Verfahren zum Betreiben eines Scanners |
JP2006010568A (ja) * | 2004-06-28 | 2006-01-12 | Canon Inc | 位置検出装置 |
DE102004034956A1 (de) * | 2004-07-16 | 2006-02-02 | Carl Zeiss Jena Gmbh | Verfahren zur Erfassung mindestens eines Probenbereiches mit einem Lichtrastermikroskop mit linienförmiger Abtastung |
JP4933061B2 (ja) * | 2005-06-10 | 2012-05-16 | キヤノン株式会社 | 光学機器 |
JP4989063B2 (ja) | 2005-11-24 | 2012-08-01 | キヤノン株式会社 | 位置制御装置およびそれを用いた光学機器 |
-
2008
- 2008-05-16 US US12/121,830 patent/US8319829B2/en active Active
-
2009
- 2009-05-15 AT AT09160403T patent/ATE527569T1/de not_active IP Right Cessation
- 2009-05-15 EP EP09160403A patent/EP2120080B1/en active Active
- 2009-05-18 JP JP2009119944A patent/JP5519184B2/ja active Active
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH07504749A (ja) * | 1992-03-13 | 1995-05-25 | サーモマイクロスコープス コーポレーション | 走査型プローブ電子顕微鏡 |
JPH11231253A (ja) * | 1998-01-27 | 1999-08-27 | Carl Zeiss Jena Gmbh | スキャナ駆動部のための方向制御システム |
JP2006031017A (ja) * | 2004-07-16 | 2006-02-02 | Carl Zeiss Jena Gmbh | 光ラスタ顕微鏡を用いて少なくとも一つの試料領域を把握するための方法 |
DE102005047200A1 (de) * | 2005-10-01 | 2007-04-05 | Carl Zeiss Jena Gmbh | Verfahren zur Korrektur einer Steuerung eines optischen Scanners in einer Vorrichtung zur scannenden Abbildung einer Probe und Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP5519184B2 (ja) | 2014-06-11 |
ATE527569T1 (de) | 2011-10-15 |
EP2120080B1 (en) | 2011-10-05 |
US8319829B2 (en) | 2012-11-27 |
US20090284590A1 (en) | 2009-11-19 |
EP2120080A1 (en) | 2009-11-18 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN101713859B (zh) | 光学设备 | |
US9798243B2 (en) | Optical device having a deformable optical element | |
US5847874A (en) | Control apparatus for positional control of an optical system | |
JP5519184B2 (ja) | 顕微鏡レンズの位置を制御する方法及びシステム | |
TW201001086A (en) | Position control apparatus including iterative learning circuit, exposure apparatus, method for manufacturing device, and iterative learning method for use in position control apparatus having iterative learning circuit including learning filter | |
KR101885524B1 (ko) | 광학장치, 투영 광학계, 노광 장치, 및 물품의 제조 방법 | |
Mynderse et al. | Two-degree-of-freedom hysteresis compensation for a dynamic mirror actuator | |
WO2014002579A1 (ja) | ステージ装置および試料観察装置 | |
Csencsics et al. | System integration and control for 3D scanning laser metrology | |
JP6186352B2 (ja) | マイクロリソグラフィ用の投影露光装置の光学素子を動かす方法 | |
Merry et al. | Identification, control and hysteresis compensation of a 3 DOF metrological AFM | |
Csencsics et al. | Integration of control design and system operation of a high performance piezo-actuated fast steering mirror | |
US4393309A (en) | Method and apparatus for controlling the objective lens in a scanning electron microscope or the like | |
JP2006308709A (ja) | 顕微鏡ステージ、および、焦点位置計測装置と共焦点顕微鏡システム | |
US11415895B2 (en) | Compensation of creep effects in an imaging device | |
US20210405358A1 (en) | Compensation of creep effects in an imaging device | |
Schmidt et al. | Investigations and calculations into decreasing the uncertainty of a nanopositioning and nanomeasuring machine (NPM-Machine) | |
US11703770B2 (en) | Compensation of creep effects in an imaging device | |
DE60318424D1 (de) | Verfahren und vorrichtung zur neigungskorrektur mittels eines mehrdimensionalaktuators | |
CN108292099B (zh) | 具有主动可调整的度量支撑单元的光学成像布置 | |
JP2000275370A (ja) | ステージおよびアクティブ除振装置の補償パラメータ更新方法 | |
CN102159996B (zh) | 用于半导体光刻的投射曝光设备中的振动衰减 | |
JP2020187916A (ja) | 荷電粒子ビーム装置 | |
JP2007293796A (ja) | 移動体の位置決め制御装置及びレーザ加工装置 | |
KR20200112003A (ko) | 충격에 의한 발진을 방지하는 af 구동 방법 및 이를 위한 장치 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20120404 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20130911 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20131112 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20140212 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20140304 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20140403 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5519184 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |