JP2009271958A - 磁気記録媒体及びその製造方法及び磁気記録再生装置 - Google Patents

磁気記録媒体及びその製造方法及び磁気記録再生装置 Download PDF

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Abstract

【課題】本発明はイオンドープにより磁気パターンを形成する磁気記録媒体及びその製造方法及び磁気記録再生装置に関し、主磁性膜内の記録領域に対する良好な磁気記録を可能とすることを課題とする。
【解決手段】ガラス基板2と、このガラス基板2上に形成されると共に局所的にイオンドープを行うことにより記録領域9と、この記録領域9よりも飽和磁化の小さいガード領域10とが形成された主磁性膜6を有する記録膜3とが設けられた磁気記録媒体であって、前記主磁性膜6のガラス基板2側に、Cr、B、Mo、Al、Si、Cから選択される少なくとも一種の元素を主成分とする薄膜からなる下地層5を設ける。
【選択図】図1

Description

本発明は磁気記録媒体及びその製造方法及び磁気記録再生装置に係り、特にイオンドープにより磁気パターンを形成する磁気記録媒体及びその製造方法及び磁気記録再生装置に関する。
ハードディスクドライブ(HDD)は、データの高速アクセス及び高速転送が可能な大容量記憶装置として主流であり、年率100%近く面記録密度が向上しており、更なる記録密度向上が求められている。
HDDの記録密度を向上させるためには、トラック幅の縮小、記録ビット長の短縮が必要であるが、トラック幅を縮小させると、隣接するトラック同士が干渉し易くなる問題が発生する。トラック幅の縮小は、記録時においては磁気記録情報が隣接するトラックに重ね書きされ易いという問題や、再生時においては隣接するトラックからの漏洩磁界によるクロストークの問題が起き易い問題を生じる。
これらの問題は、いずれも再生信号のS/N比の低下を招き、エラーレートが劣化するという問題を引き起こす要因となる。また、記録ビット長の短縮を進めると、ビットの安定性が低下する、熱揺らぎ現象が発生する。
こうした問題に対し、隣接するトラック間の影響を低減し、かつ、高いトラック密度を実現する方法として、ビットパターンド型の磁気記録媒体が提案されている(特許文献1参照)。
しかしながら、ビットパターンド型の磁気記録媒体の作成方法は、ビット以外の部分をエッチング加工して磁性膜を除去し、その後非磁性物質を充填して平坦化加工することで、磁気記録媒体上での磁気ヘッドの浮上特性を安定なものとする、非常に複雑な製造プロセスを行う必要があり、製造コストも増大する問題が生じる。
これらの問題を回避するための方法として、イオンを磁性膜にドープして局所的に磁気状態を変える加工方法が検討されている。イオンをドープして磁気状態を変えるため、エッチングや充填、平坦化などの複雑な製造プロセスが必要ではなくなり、製造コスト増大を押さえることが可能となる。
特公平06−028093号公報
しかしながら、従来のイオンをドーピングする方法においては、イオンドープした領域(ガード領域という)における磁性の消失を十分に行うことができなかった。また、これを改善するために磁性膜に希土類-遷移金属などのアモルファス磁性膜を用いた場合には、磁気状態を維持するベース部分(記録領域となる)の飽和磁化が小さく、高記録密度に適さないなどの問題が生じ、実用化には至っていなかった。
本発明は上記の点に鑑みてなされたものであり、下地層を設けることによりガード領域の飽和磁化を低減することにより記録領域に対する良好な磁気記録を可能とした磁気記録媒体及びその製造方法及び磁気記録再生装置を提供することを目的とする。
上記の課題は、本発明の第1の観点からは、基板と、該基板上に形成されると共に、局所的にイオンドープを行うことにより記録領域と、該記録領域よりも飽和磁化の小さいガード領域とが形成された主磁性膜を有する記録膜とが設けられた磁気記録媒体であって、
前記主磁性膜の前記基板側に、Cr、B、Mo、Al、Si、Cから選択される少なくとも一種の元素を主成分とする下地層を設けてなる磁気記録媒体により解決することができる。
また上記発明において、前記主磁性膜はCoPt、或いはCo膜とP膜とを積層した人工格子構造からなるものを用いることが望ましい。
また上記の課題は、本発明の第2の観点からは、基板上にCr、B、Mo、Al、Si、Cから選択される少なくとも一種の元素を主成分とする下地層を形成する工程と、該下地層を形成した後、該下地層上に主磁性膜を形成する工程と、該主磁性膜に局所的にイオンドープを行うことにより、記録領域と、該記録領域よりも飽和磁化の小さいガード領域とを形成する工程と有する磁気記録媒体の製造方法により解決することができる。
また上記の課題は、本発明の第3の観点からは、請求項1乃至6のいずれ一項に記載の磁気記録媒体と、該磁気記録媒体に対して磁気記録再生処理を行う磁気ヘッドと、該磁気ヘッドを支持するアームと、該アームを移動させる移動手段とを有する磁気記録再生装置により解決することができる。
上記の磁気記録媒体によれば、主磁性膜の前記基板側にCr、B、Mo、Al、Si、Cから選択される少なくとも一種の元素を主成分とする下地層を設けたことにより、イオンドープされた領域の飽和磁気を低減することができ、よって記録領域に対する良好な磁気記録を行うことが可能となる。
次に、本発明を実施するための最良の形態について図面と共に説明する。
図1は、本発明の一実施形態である磁気記録媒体1を示す概略断面図である。この磁気記録媒体1は垂直磁気記録媒体であり、非磁性材料で形成された非磁性基板2の上に記録膜3を積層した構造を有する。
非磁性基板2は、石英ガラス、アルミニウム、Si等の非磁性材料で形成されている。本実施形態では、非磁性基板2の材料としてガラスを適用している(以下、ガラス基板2という)。このガラス基板2は、磁気記録媒体1の全体としての強度を確保する機能を奏するものである。
記録膜3は、ガラス基板2側からベース層4、下地層5、主磁性膜6、及び保護膜7を積層した構造とされている。ベース層4は例えばRuからなる薄膜で、その厚さは例えば20nmとされている。このベース層4は、その上部に形成される主磁性膜6の結晶性を向上するための層であり、単層又は複数層で形成される。尚、ベース層4の材質はRuに限定されるものではなく、例えば、アモルファスTa層、NiFeCr層、Ru層の積層、NiFeCr層等を用いることもできる。
主磁性膜6は、CoとPtを主成分とする強磁性材料、CoとPdを主成分とする強磁性材料、或いはFeとPtを主成分とする強磁性材料を用いることができる。具体的には、CoPt或いはCoCrPt等のCoPtの磁性合金、Co膜とPd膜を積層した人工格子構造からなる強磁性膜、又はFe膜とPt膜を積層した人工格子構造からなる強磁性膜等を用いることができる。この主磁性膜6の厚さは、例えば20nmとされている。
この主磁性膜6は、後述するようにイオンドープ(イオン注入)が行われることにより、記録領域9とガード領域10が形成される。図3(C)は、この記録領域9とガード領域10を模式的に示している。主磁性膜6に対してイオンドープがされた領域は、極所定に磁気状態が変化して飽和磁化が低減する。これに対し、主磁性膜6のイオンドープが行われない領域は、高い飽和磁化を維持する。
よって、イオンドープがされた領域であるガード領域10は、記録領域9から磁界が漏洩するのをガード(防止)する機能を奏する。これにより、隣接する記録領域9はガード領域10により磁気的に隔離された構成となり、高密度な磁気記録を行うことが可能となる。
保護膜7は、主磁性膜6を保護する機能を奏するものである。この保護膜7の材料としては、例えばダイヤモンドライクカーボン(DLC)等を用いることができる。この保護膜7の厚さは、例えば3nmとされている。
下地層5は、本願の要部となるものであり、上記のベース層4と主磁性膜6との間に設けられている。即ち、下地層5は、主磁性膜6のガラス基板2側に形成されている。また、下地層5の材質は、Cr、B、Mo、Al、Si、Cから選択される少なくとも一種の元素を主成分とする材料が用いられている。
本実施形態のように、主磁性膜6のガラス基板2側に上記材料よりなる下地層5を形成することにより、イオンドープされたガード領域10の飽和磁気をより確実に低減することができ、よって記録領域9に対して良好な磁気記録を行うことが可能となる(これについては、後に詳述する)。
次に、本発明の一実施例である磁気記録媒体1の製造方法について説明する。図2及び図3は、磁気記録媒体1の製造方法を製造手順に沿って示している。尚、図2及び図3において、図1に示した構成と対応する構成については同一符号を付して、適宜その説明を省略する。
本実施例に係る磁気記録媒体1を作製するには、先ず図2(A)に示すように、記録膜3を保持する非磁性基板となるガラス基板2を用意する。尚、本実施形態では基板としてガラス基板2を用いているが、基板の材質はガラスに限定されるものではなく、アルミニウム、Si等の他の非磁性材料を用いることも可能である。
このガラス基板2の上面には、ベース層4が形成される。このベース層4は、ガラス基板2上に厚さ20nmのRu層をArガス圧4.0Pa,0.4kWのスパッタリングで成膜することにより形成する。図2(B)は、ガラス基板2上にベース層4が形成された状態を示している。
次に、ベース層4の上部に下地層5を形成する。このベース層4は、Cr、B、Mo、Al、Si、Cから選択される少なくとも一種の元素を主成分とする材料をターゲットとし、ベース層4の上にArガス圧4.0Pa,0.4kWのスパッタリングで5nmの厚さで成膜することにより形成する。図2(C)は、ベース層4上に下地層5が形成された状態を示している。
上記のように下地層5が形成されると、この下地層5上に主磁性膜6が形成される。本実施形態では、主磁性膜6としてCoPtを用いているため、CoPtをターゲットとし、下地層5上にArガス圧0.5Pa,0.1kWのスパッタリングで20nmの厚さで成膜する。図2(D)は、下地層5上に主磁性膜6が形成された状態を示している。
この際、主磁性膜6としてCoCrPtを用いた場合には、CoCrPtをターゲットとしてスパッタリングを行う。また、Co膜とPd膜を積層した人工格子構造からなる強磁性膜を形成する場合には、Coをターゲットとして先ずCo膜を形成し、続いてこのCo膜上にPdをターゲットとしてPd膜を形成する。そして、このCo膜及びPd膜の形成を交互に繰り返し所定回数実施することにより、Co膜とPd膜の人工格子構造を形成する。
また、Fe膜とPt膜を積層した人工格子構造からなる強磁性膜を形成する場合には、Feをターゲットとして先ずFe膜を形成し、続いてこのFe膜上にPtをターゲットとしてPt膜を形成する。そして、このFe膜とPt膜の形成を繰り返し所定回数実施することにより、Fe膜とPt膜の人工格子構造を形成する。尚、この人工格子構造を形成するときのスパッタリング条件は、例えばArガス圧0.5 Pa,スパッタ電力0.1kWとすることができる。
そして、最後に主磁性膜6の上部に、厚さ3nmのDLC層を保護膜7として形成した。実際に使用する場合は、保護膜7の上部に更に液体潤滑層を塗布することが好ましい。図2(E)は、保護膜7が形成された状態を示している。上記の図2(A)〜(E)に示す各工程を行うことにより、ガラス基板2上にベース層4,下地層5,主磁性膜6,及び保護膜7を含む記録膜3が形成される。
上記のようにガラス基板2上に記録膜3が形成されると、続いて記録膜3の上部に紫外線(UV)硬化樹脂8を配設する。続いて、このUV硬化樹脂8をナノインプリント用型11を用いて成型する。このナノインプリント用型11は、記録領域9及びガード領域10に対応した凹凸を有している。具体的には、記録領域9に対応する位置には凹部11aが形成され、ガード領域10に対応する位置には凸部11bが形成されている。
この凹部11a及び凸部11bが形成されたナノインプリント用型11をUV硬化樹脂8にプレスすることにより、UV硬化樹脂8にはナノインプリント用型11の凹部11a及び凸部11bに対応した凸部8aと凹部8bが形成される。よって、凸部8aは記録領域9に対応した位置に形成され、凹部8bはガード領域10に対応した位置に形成される。
このブレスを行った後、UV照射を行うことにより、UV硬化樹脂8を硬化させる。図3(A)は、ナノインプリント用型11によりUV硬化樹脂8を成型し、UV照射を行っている状態を示している。
UV硬化樹脂8の硬化処理が終了すると、ナノインプリント用型11は除去される。そして、UV硬化樹脂8をマスクとして記録膜3(具体的には、主磁性膜6)に対してイオンドープ処理が行われる。このイオンドープ処理は、周知のイオン注入装置を用いて実施される。
この際実施されるイオンドープは、打ち込みエネルギー等を調整することにより、下地層5と主磁性膜6との間を狙ったイオンドープとなるよう設定する。また、イオンドープするイオンとしては、主磁性膜6の飽和磁化を低減しうるイオン種であれば特定されることはない。本実施形態では、ドープイオンとしてArイオンを用いた。また、イオンドープ条件は、電圧25keV、ドーズ量5×1015atoms/cm2とした。図3(B)は、記録膜3に対してイオンドープを行っている状態を示している(図3(B)では、UV硬化樹脂8の図示は省略している)。
記録膜3に対するイオンドープ処理は、凸部8a及び凹部8bが形成されたUV硬化樹脂8を介して実施される。よって、肉厚とされた凸部8aが形成された部位では、イオン注入装置から出射されたイオンは凸部8a内で散乱し、記録膜3に対するイオン注入量が低下する。これに対し、凸部8aよりも肉薄とされた凹部8bでは、イオン注入装置から出射されたイオンは凹部8bを通過して記録膜3に強く打ち込まれる。
これにより、記録膜3の主磁性膜6の凸部8aと対向する位置にはイオンドープ処理によっても飽和磁化の低下のない記録領域9が形成される。これに対し、主磁性膜6の凹部8bと対向する位置にはイオンが打ち込まれるため、飽和磁気は記録領域9に比べて低下し、ガード領域10が形成される。図3(C)は、主磁性膜6に記録領域9及びガード領域10が形成された状態を示している。尚、図3(C)では図示の便宜上、記録膜3の厚さ方向全体が記録領域9及びガード領域10であるように図示しているが、実際は主磁性膜6のみにおいて記録領域9及びガード領域10が形成される。
以上の工程を実施することにより、磁気記録媒体1が製造される。この磁気記録媒体1の製造処理は、下地層5の形成を除き、従来から行われている処理と同一である。また、下地層5の形成処理は、記録膜3を構成する他の膜(ベース層4,主磁性膜6,保護膜7)と一連的な工程(同一真空環境下)で実施できる。このため、下地層5を有する磁気記録媒体1の製造は容易に行うことができ、特に製造工程が複雑化したり製造コストが上昇したりするようなことはない。
次に、上記のように製造される磁気記録媒体1の特性を図4〜図7を用いて説明する。
図4は、主磁性膜6の材料としてCoPtを用いると共に、下地層5の材料をCr,B,Mo,Mg,Cu,Al,C,Ti,Siとした各磁気記録媒体に対し、主磁性膜6に対してArイオンをドープしたときの保持力及び飽和磁気を測定した実施例を示している(イオンドープ条件は、電圧25keV、ドーズ量5×1015atoms/cm2)。
同様に、図5は主磁性膜6の材料としてCoCrPtを用いると共に下地層5の材料をCr,B,Mo,Mg,Cu,Al,C,Ti,Siとした場合、図6は主磁性膜6としてCo膜とPd膜を積層した人工格子構造膜を用いると共に下地層5の材料をCr,B,Mo,Mg,Cu,Al,C,Ti,Siとした場合、図7は主磁性膜6としてFe膜とPt膜を積層した人工格子構造膜を用いると共に下地層5の材料をCr,B,Mo,Mg,Cu,Al,C,Ti,Siとした場合の各磁気記録媒体に対してイオンドープしたとき(イオンドープ条件はCoCrPtを用いたときと同一)の保持力及び飽和磁気を測定した実施例を示している。
また、各図において「イオンドープ前」とした比較例は、主磁性膜6に対してイオンドープ処理を行う前における磁気記録媒体1の保持力及び飽和磁化の測定を行った結果である。また、各図において「下地層なし(従来)」とした比較例は、図9に示す磁気記録媒体100のようにガラス基板102の上部にベース層104,主磁性膜106,保護膜107を積層した記録膜103を形成し、主磁性膜106に対してのみイオンドープを行ったときの保持力及び飽和磁化の測定結果を示している。
尚、上記の従来の磁気記録媒体100は、下地層5のみが存在しないことのみが本実施形態に係る磁気記録媒体1と異なり、他の各膜104,106,107は磁気記録媒体1のベース層4,ベース層4,保護膜7と同一構成である。
先ず、図4の主磁性膜6の材料としてCoPtを用いた磁気記録媒体1の特性に注目する。同図より、イオンドープを行った実施例1−1〜1−9は、イオンドープを行う前の比較例1−1及びイオンドープを実施しない比較例1−2に比べて飽和磁化が低減していることが分る。
この飽和磁化の低減は、図5〜図7に示す他の磁気記録媒体に対しても同様に生じる。即ち、図5に示すように主磁性膜6の材料としてCoCrPtを用いた場合、実施例2−1〜2−9は比較例2−1及び比較例2−2に比べて飽和磁化が低減している。また、図6に示すように主磁性膜6の材料としてCo膜とPd膜を交互に積層した人工格子構造とした場合、実施例3−1〜3−9は比較例3−1及び比較例3−2に比べて飽和磁化が低減している。また、図7に示すように主磁性膜6の材料としてFe膜とPt膜を交互に積層した人工格子構造とした場合も、実施例4−4〜4−9は比較例4−1及び比較例4−2に比べて飽和磁化が低減している。
上記の主磁性膜6のガラス基板2側に、Cr,B,Mo,Mg,Cu,Al,C,Ti,Si等よりなる下地層5を形成し、この下地層5と主磁性膜6との間を狙ったイオンドープを行うことによりドープ位置における飽和磁化が低減するのは、イオンドープにより下地層5の原子が主磁性膜6に拡散したことによるものと考えられる。下地層5の原子が主磁性膜6に拡散すると、主磁性膜6の原子(図4に示す例ではCoPr)と下地層5の原子(Cr,B,Mo,Mg,Cu,Al,C,Ti,Si)とが混ざり合い、これにより非磁性化が生じたものと考えられる。この観点より、ガード領域10の飽和磁化を確実に低減するためには、主磁性膜6を下地層5上に直接形成することが必要となる。
次に、図4〜図7より、主磁性膜6の非磁性化を有効に実現できる下地層5の材質について検討する。磁気記録媒体1を垂直磁気記録媒体として使用する際、隣接した記録領域9間で干渉が発生しないためには、図4及び図5に示すCoPt及びCoCrPtよりなる主磁性膜6である場合には、ガード領域10の飽和磁化は370emu/cm2未満であることが望ましい。また、図6及び図7に示すCo膜とPd膜とよりなる人工格子構造及びFe膜とPt膜とよりなる人工格子構造を優位下主磁性膜6である場合には、ガード領域10の飽和磁化は250emu/cm2未満であることが望ましい。
この観点に基づき、図4〜図7に判定結果として○(良好),△(やや不良),×(不良)を示している。この判定結果より、下地層5の材料としては、Cr、B、Mo、Al、Si、Cから選択される少なくとも一種の元素を主成分とする材質を用いることが望ましいことが判明した。
よって、Cr、B、Mo、Al、Si、Cから選択される少なくとも一種の元素を主成分とする材質よりなる下地層5を形成し、この下地層5上にCoPt,CoCrPt,Co/Pd人工格子構造,Fe/Pt等よりなる人工格子構造よりなる主磁性膜6を形成し、下地層5を狙ってイオンドープすることにより、ガード領域10の飽和磁化を低減でき、記録領域9にクロストークのない良好な磁気記録を行うことができる。
次に、本実施形態の磁気記録媒体1を備えた磁気記録再生装置20ついて説明する。図8は、磁気記録再生装置20の平面図である。この磁気記録再生装置20は、パーソナルコンピュータやテレビの録画装置に搭載されるハードディスク装置である。
この磁気記録再生装置20では、磁気記録媒体1が、スピンドルモータ等によって回転可能な状態でハードディスクとして筐体17に収められる。更に、筐体17の内部には、軸16を中心にしてVCM18(ボイスコイルモータ)により回転可能なキャッリッジアーム14が設けられている。磁気ヘッド13はキャリッジアーム14の先端に設けられており、磁気ヘッド13が磁気記録媒体10の上方を走査することにより磁気記録媒体10への磁気情報の書き込みと読み取りが行われる。
尚、磁気ヘッド13の種類は特に限定されず、GMR(Giant Magneto-Resistive)素子やTuMR(Tunneling Magneto-Resistive)素子等の磁気抵抗素子で磁気ヘッドを構成してよい。また、磁気記録再生装置20は、上記のようなハードディスク装置に限定されず、可撓性のテープ状の磁気記録媒体に対して磁気情報を記録するための装置であってもよい。
以上、本発明の好ましい実施例について詳述したが、本発明は上記した特定の実施形態に限定されるものではなく、特許請求の範囲に記載された本発明の要旨の範囲内において、種々の変形・変更が可能なものである。
以上の説明に関し、更に以下の項を開示する。
(付記1)
基板と、
該基板上に形成されると共に、局所的にイオンドープを行うことにより記録領域と、該記録領域よりも飽和磁化の小さいガード領域とが形成された主磁性膜を有する記録膜とが設けられた磁気記録媒体であって、
前記主磁性膜の前記基板側に、Cr、B、Mo、Al、Si、Cから選択される少なくとも一種の元素を主成分とする下地層を設けてなる磁気記録媒体。
(付記2)
前記主磁性膜が、CoPtからなる付記1に記載の磁気記録媒体。
(付記3)
前記主磁性膜が、CoCrPtからなる付記1に記載の磁気記録媒体。
(付記4)
前記主磁性膜が、Co膜とP膜とを積層した人工格子構造からなる付記1に記載の磁気記録媒体。
(付記5)
前記主磁性膜が、Fe膜とPt膜とを積層した人工格子構造からなる付記1に記載の磁気記録媒体。
(付記6)
前記記録膜は、前記基板側からベース層、前記下地層、前記主磁性膜、保護膜が積層された構成である付記1乃至5のいずれか一項に記載の磁気記録媒体。
(付記7)
基板上にCr、B、Mo、Al、Si、Cから選択される少なくとも一種の元素を主成分とする下地層を形成する工程と、
該下地層を形成した後、該下地層上に主磁性膜を形成する工程と、
該主磁性膜に局所的にイオンドープを行うことにより、記録領域と、該記録領域よりも飽和磁化の小さいガード領域とを形成する工程と、
を有する磁気記録媒体の製造方法。
(付記8)
前記主磁性膜が、CoPtからなる付記7に記載の磁気記録媒体の製造方法。
(付記9)
前記主磁性膜が、CoCrPtからなる付記7に記載の磁気記録媒体の製造方法。
(付記10)
前記主磁性膜が、Co膜とP膜とを積層した人工格子構造からなる付記7に記載の磁気記録媒体の製造方法。
(付記11)
前記主磁性膜が、Fe膜とPt膜とを積層した人工格子構造からなる付記7に記載の磁気記録媒体の製造方法。
(付記12)
前記主磁性膜を形成する工程は、
前記基板上にベース層を形成する工程と、該ベース層上に前記下地層を形成する工程と、該下地層上に前記主磁性膜を形成する工程と、該主磁性膜上に前記保護膜を形成する工程とを有する付記6乃至11のいずれか一項に記載の磁気記録媒体の製造方法。
(付記13)
付記1乃至6のいずれ一項に記載の磁気記録媒体と、
該磁気記録媒体に対して磁気記録再生処理を行う磁気ヘッドと、
該磁気ヘッドを支持するアームと、
該アームを移動させる移動手段とを有する磁気記録再生装置。
図1は、本発明の一実施形態である磁気記録媒体の断面図である。 図2は、本発明の一実施形態である磁気記録媒体の製造方法を説明するための図である(その1)。 図3は、本発明の一実施形態である磁気記録媒体の製造方法を説明するための図である(その2)。 図4は、磁性膜としてCoPtを用いた本発明の一実施形態である磁気記録媒体の磁気特性を比較例と共に示す図である。 図5は、磁性膜としてCoCrPtを用いた本発明の一実施形態である磁気記録媒体の磁気特性を比較例と共に示す図である。 図6は、磁性膜としてCo薄膜とPt薄膜を積層したものを用いた本発明の一実施形態である磁気記録媒体の磁気特性を比較例と共に示す図である。 図7は、磁性膜としてFe薄膜とPt薄膜を積層したものを用いた本発明の一実施形態である磁気記録媒体の磁気特性を比較例と共に示す図である。 図8は、本発明の一実施形態である磁気記録再生装置を示す平面図である。 図9は、従来の一例(比較例)である磁気記録媒体の断面図である。
符号の説明
1 磁気記録媒体
2 ガラス基板
3 記録膜
4 ベース層
5 下地層
6 主磁性膜
7 保護膜
8 UV硬化樹脂
9 記録領域
10 ガード領域
11 ディスク
13 磁気ヘッド
14 アーム
18 VCM
20 磁気記録再生装置

Claims (5)

  1. 基板と、
    該基板上に形成されると共に、局所的にイオンドープを行うことにより記録領域と、該記録領域よりも飽和磁化の小さいガード領域とが形成された主磁性膜を有する記録膜とが設けられた磁気記録媒体であって、
    前記主磁性膜の前記基板側に、Cr、B、Mo、Al、Si、Cから選択される少なくとも一種の元素を主成分とする下地層を設けてなる磁気記録媒体。
  2. 前記主磁性膜が、CoPtからなる請求項1に記載の磁気記録媒体。
  3. 前記主磁性膜が、Co膜とP膜とを積層した人工格子構造からなる請求項1に記載の磁気記録媒体。
  4. 基板上にCr、B、Mo、Al、Si、Cから選択される少なくとも一種の元素を主成分とする下地層を形成する工程と、
    該下地層を形成した後、該下地層上に主磁性膜を形成する工程と、
    該主磁性膜に局所的にイオンドープを行うことにより、記録領域と、該記録領域よりも飽和磁化の小さいガード領域とを形成する工程と、
    を有する磁気記録媒体の製造方法。
  5. 請求項1乃至6のいずれ一項に記載の磁気記録媒体と、
    該磁気記録媒体に対して磁気記録再生処理を行う磁気ヘッドと、
    該磁気ヘッドを支持するアームと、
    該アームを移動させる移動手段とを有する磁気記録再生装置。
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