JP2009257781A - 電子機器監視装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】温度偏差積算値算出部12は、電子機器の温度偏差の積算値を、温度上昇分と温度下降分の2種類、算出する。状況判定・報知部13は、この2種類の温度偏差の積算値に基づいて状況判定し、必要に応じて報知する。状況判定内容は、例えば、「冷却不足状態」、「ヒートショック状態」、「過冷却状態」等である。
【選択図】 図1
Description
特許文献1の発明は、コンピュータにおいて一定間隔毎に電気機器の寿命損失を計算し、その結果を自動的に積算して表示するものである。寿命損失は、電気機器の温度に応じて計算され、温度が高いほど寿命が短くなるものである。
また、例えば、温度が高いときと低いときとが繰返される場合、所謂“ヒートショック”の影響によって寿命が短くなることも考えられる。
例えば、上記状況判定・報知手段は、前記2種類の温度偏差の積算値の差を求め、前記温度上昇分が前記温度下降分より大きく、且つこの差が予め設定される所定の第1の閾値を超えた場合には、「冷却不足状態」と判定する。
本手法は、電子機器の温度の上昇・下降変化を長期にわたって監視し、温度による電子機器の寿命へ悪影響を与える状況を判別して報知等することができるものである。すなわち、温度の影響を基準温度下で上昇、下降分の両方に分けて時間積分監視し、上記状況として「冷却不足状態」、「ヒートショック状態」、「過冷却状態」等を提示するものである。
まず、電子機器の寿命に対する温度ストレスによる影響度は、アレニウス則で決まってくることが知られている。例えば、電子機器内の電子部品としての電解コンデンサは、温度が10°上昇すれば寿命が半減することが、一般的に知られている。
・アレニウス則
L=A・exp(Ea/kT)
(L:寿命、A:定数、Ea:活性化エネルギ(eV)、T:絶対温度、k:ボルツマン定数[8.6159×10(eV)] )
電子部品はアレニウス則によれば、温度の上昇で寿命が短くなり、温度の下降で長くなる。
ここでは、対象電子機器の温度(盤内温度等)をT1(℃)とし、電子機器が安定的な寿命を得ることができる経済的な基準温度をTbとする。“経済的な”と言っているのは、上記の通り、温度が低いほど寿命が長くなるからといって室内温度を下げすぎると、空調設備による電力消費量が増大し、経済的な損失が大きくなることから、この点も考慮する必要があるからである。よって、上記基準温度Tbは、オペレータ等が経済性も考慮して適宜決定するものである。但し、この例に限らず、基準温度Tbを例えば対象電子機器に対して規格で定められた常時運転時の温度としてもよい。
図示の電子機器監視装置10は、上記対象電子機器の温度を計測する不図示の温度センサAによる温度計測結果(上記温度T1(℃))を入力する入力部11と、この温度T1と上記基準温度Tbとから、温度偏差の積算値を算出する温度偏差積算値算出部12と、この温度偏差の積算値と予め設定される所定の閾値とに基づいて状況判定し、必要に応じて報知する状況判定・報知部13とを有する。尚、報知の方法としては、例えば、電子機器監視装置10が備えるディスプレイに所定のメッセージを表示する等する。
温度偏差積算値算出部12と状況判定・報知部13による処理機能は、電子機器監視装置10が有する不図示のCPU/MPU等が、不図示のメモリ等の記憶装置に記憶されている所定のアプリケーションプログラムを実行することにより実現される。
図2に示す処理は、例えば所定のサンプリング周期で上記温度計測結果(温度T1(℃))を取得する毎に実行する。
すなわち、
温度偏差ΔT=T1−Tb
を求める。
すなわち、ΔT>0(正)の場合には(ステップS12,YES)、このΔTをΔTupとし(ステップS13)、以下の(1)式により、温度上昇分の積算値Tupを求める(ステップS14)。
尚、(1)式におけるΔTは、今回も含めてこれまでに取得した全てのΔTupを意味する。よって、過去に図2の処理においてそれまでの積算値Tupを求めて保持しているならば、(1)式の代わりにTup=Tup+ΔTupとしてもよい。これは、以下の(2)式に関しても同様である。
温度下降分の積算値Tdown=∫ΔTdown…(2)式
但し、この場合には温度下降分の積算値Tdownが負の値となるので、図2に示す処理では、これが正の値となるようにしている。すなわち、図2の処理では、上記ΔTdownの絶対値をとり(S=|ΔTdown|とする)(ステップS16)、この絶対値Sの積算を行っている(ステップS17)。
温度下降分の積算値Tdown=∫S…(2)’式
となる。
状況判定・報知部13は、上記温度偏差積算値算出部12によって随時算出・更新される上記2種類の温度偏差積算値、すなわち温度上昇分の積算値Tup、温度下降分の積算値Tdownに基づいて、以下に説明する状況判定を行い、必要に応じて報知等を行う。
尚、以下に説明する状況判定処理のうち、以下の(i)の方法のみは、温度上昇分の積算値Tupのみを用いて状況判定を行う。よって、この方法のみを実行する場合には、上記ステップS12の判定がNOの場合には何も処理を行わないようにしてもよい。
(i)温度の影響度を厳しく監視するときは、温度T1が基準値Tb以下の状態は考慮しない(上述の(2)式=0または(2)’=0とみなす)。すなわち、温度上昇分の積算値Tupのみを用いて状況判定を行う。
また、尚、(i)の手法では、長期間にわたってΔTupの積算を続ければ、何れTupが閾値Pを越えることになるので、所定期間毎に(例えば一ヶ月毎に)温度上昇分の積算値Tupをリセットする(0にする)ようにしてもよい。
(ii)温度の影響度を温度下降分も考慮する時には、積算値の差分Y=Tup−Tdownを算出し、この差分Yと予め設定される所定の閾値Qとを比較し、差分Yが閾値Qを越えた場合には(Y>Q)、「冷却不足状態」と判定する。例えば、図3に示すような状態が続けば何れ「冷却不足状態」と判定されることになる。そして、この判定結果をディスプレイに表示する等の報知を行う。尚、閾値Qは正の値である。よって、少なくともTup>Tdownとならなければ、「冷却不足状態」と判定されることはないことになる。
(iii)上記(ii)の方法は、図3に示すような状況では有効であるが、図4に示すような状況では有効ではなくなる。すなわち、図4に示す例では、温度が高い期間と温度が低い期間とが混在しているが、温度偏差が大きく且つ積算値TupとTdownがほぼ同じ程度の値となっている。この場合、上記(ii)の方法では、積算値の差分Yは低い値となるので、報知等は行われないし、また上記アレニウス則による寿命に関しては特に問題ないと考えられる。
そして、Tup>U且つ|Y|<Rと判定された場合には、ヒートショックの影響により電子機器の寿命が短くなってしまう可能性があると判定し、その旨を報知する。温度上昇分の積算値Tupがある程度以上高いにも係らず、積算値の差分Yが小さい場合には、温度下降分の積算値Tdownも大きいことになり、温度変化が大きいことになりヒートショックの影響を受ける状況にある可能性があるからである。
(iv)上述したように、電子機器の温度が低いほど寿命が長くなるからといって室内温度を下げすぎると、空調設備による電力消費量が増大し、経済的な損失が大きくなり、経済的には不適切なものとなる。
尚、上記(i)〜(iv)の何れの方法においても、上記のように報知を行うだけに限らず、オペレータ等に対して更に他の有意な情報を提供(表示等)するようにしてもよい。例えば、図3、図4、図5に示すような温度偏差ΔTの変動を示すグラフ(時系列データ)を表示するようにしてもよい。このようなグラフを表示する為には、上記図2の処理を行う毎に当該処理中に求めた上記温度偏差ΔTを、そのときの時刻に対応付けて記憶しておけばよい。
11 入力部
12 温度偏差積算値算出部
13 状況判定・報知部
Claims (7)
- 対象の電子機器の温度の測定値を入力する入力手段と、
該温度測定値と予め設定される基準温度とに基づいて、温度上昇分と温度下降分の2種類の温度偏差の積算値を算出する温度偏差積算値算出手段と、
該2種類の温度偏差の積算値と予め設定される所定の閾値とに基づいて状況判定し、必要に応じて報知する状況判定・報知手段と、
を有することを特徴とする電子機器監視装置。 - 前記状況判定・報知手段による前記状況判定結果は、「冷却不足状態」、「ヒートショック状態」、「過冷却状態」の何れかであることを特徴とする請求項1記載の電子機器監視装置。
- 前記状況判定・報知手段は、前記温度上昇分の温度偏差の積算値が、予め設定される所定の第1の閾値を超えた場合には、「冷却不足状態」と判定することを特徴とする請求項1記載の電子機器監視装置。
- 前記状況判定・報知手段は、前記2種類の温度偏差の積算値の差を求め、前記温度上昇分が前記温度下降分より大きく、且つこの差が予め設定される所定の第2の閾値を超えた場合には、「冷却不足状態」と判定することを特徴とする請求項1記載の電子機器監視装置。
- 前記状況判定・報知手段は、前記2種類の温度偏差の積算値の差を求め、この差の絶対値が0又は0に近い場合あるいは所定の第3の閾値未満の場合であって、更に前記温度上昇分の温度偏差の積算値が所定の第4の閾値を越える場合には、「ヒートショック状態」と判定することを特徴とする請求項1記載の電子機器監視装置。
- 前記状況判定・報知手段は、前記2種類の温度偏差の積算値の差を求め、前記温度下降分が前記温度上昇分より大きく、且つこの差の絶対値が予め設定される所定の第5の閾値を超えた場合には、「過冷却状態」と判定することを特徴とする請求項1記載の電子機器監視装置。
- 前記基準温度は、前記電子機器が安定的な寿命を得ることができる経済的な温度であることを特徴とする請求項1〜6の何れかに記載の電子機器監視装置。
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JP2013084093A (ja) * | 2011-10-07 | 2013-05-09 | Fuji Electric Co Ltd | 自動販売機の制御装置 |
JP2015075310A (ja) * | 2013-10-10 | 2015-04-20 | 富士電機株式会社 | 冷却装置およびショーケース |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01303016A (ja) * | 1988-05-30 | 1989-12-06 | Fujita Corp | 電力供給設備診断方法と電力供給設備診断装置 |
JPH03203518A (ja) * | 1989-12-29 | 1991-09-05 | Nemitsuku Ramuda Kk | 電源装置の環境状態監視装置 |
JPH04152220A (ja) * | 1990-10-17 | 1992-05-26 | Asahi Chem Ind Co Ltd | 異常検出方法および装置 |
-
2008
- 2008-04-11 JP JP2008103894A patent/JP5359006B2/ja active Active
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01303016A (ja) * | 1988-05-30 | 1989-12-06 | Fujita Corp | 電力供給設備診断方法と電力供給設備診断装置 |
JPH03203518A (ja) * | 1989-12-29 | 1991-09-05 | Nemitsuku Ramuda Kk | 電源装置の環境状態監視装置 |
JPH04152220A (ja) * | 1990-10-17 | 1992-05-26 | Asahi Chem Ind Co Ltd | 異常検出方法および装置 |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2013084093A (ja) * | 2011-10-07 | 2013-05-09 | Fuji Electric Co Ltd | 自動販売機の制御装置 |
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