JP4732977B2 - 電子装置およびラック型電子装置 - Google Patents
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Description
2,20…温度センサ
3,30…制御回路
4…不揮発性記憶素子
5…ファン
6…入気部
7…排気部
10,11,12…電子装置
13,14…電源装置
50…ラック
60…ケーブル
70…温度管理装置
100…上位装置。
Claims (2)
- 複数の電子部品を搭載し該電子部品からの発熱を冷却風にて放熱する電子装置において、
上記電子部品毎にその温度を検出する複数の温度センサおよび冷却風の入気部と排気部の温度を測定する温度センサと、
該各温度センサの測定した温度データから当該電子装置内の温度異常を検知し異常発生の原因とともに報告する制御回路とを備え、
該制御回路は、上記冷却風の入気部の温度が許容値以下で、上記冷却風の入気部と排気部の温度差が許容値を超えている場合において、
(1)上記複数の電子部品のうち冷却風の入気部に近い側に配置される複数の電子部品(以下、特定部品と呼ぶ)の温度が全て許容値を超えている場合は、上記冷却風の通風路が異常であると判定し、
(2)上記特定部品のうち少なくとも1つの部品が許容値以下であって、上記特定部品を含む上記複数の電子部品の中に許容値を超えている部品がある場合には、該許容値を超えている部品が異常であると判定する、
ことを特徴とする電子装置。 - 請求項1記載の電子装置をラックに複数個搭載し、該電子装置からの発熱を冷却風にて放熱するラック型電子装置において、
該ラックに入気する冷却風の温度を測定する温度センサと、
上記各電子装置の温度異常を管理する温度管理装置とを備え、
該温度管理装置は、上記ラックに入気する冷却風の温度データと各電子装置内の温度データを基に、上記電子装置の温度異常の発生を検知し、その原因が当該電子装置自身にあるか、ラック内の冷却風にあるか、当該ラック型電子装置の設置環境にあるかを判定して報告することを特徴とするラック型電子装置。
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