JP2009229387A - 非定常発光体の分光解析方法およびその装置 - Google Patents
非定常発光体の分光解析方法およびその装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2009229387A JP2009229387A JP2008077843A JP2008077843A JP2009229387A JP 2009229387 A JP2009229387 A JP 2009229387A JP 2008077843 A JP2008077843 A JP 2008077843A JP 2008077843 A JP2008077843 A JP 2008077843A JP 2009229387 A JP2009229387 A JP 2009229387A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- analysis
- emission spectrum
- illuminant
- emission
- stationary
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Abstract
【解決手段】非定常発光体を高速撮影し、複数の撮影像における発光スペクトルを時間的に積算し、該発光スペクトルの時間的積算量を用いて、元素分析および/または温度解析を行うようにする。
【選択図】図2
Description
・前記非定常発光体を高速撮影する手段;
・複数の撮影像における発光スペクトルを時間的に積算する手段、または複数の撮影像の中から選択した一つの撮影像における発光スペクトルを空間的に積算する手段;および
・該発光スペクトルの時間的積算量または空間的積算量を用いて、元素分析および/または温度解析を行う手段;を有するところに特徴を有する。
(i)発光体を高速撮影し、
(ii)複数の撮影像における発光スペクトルを時間的に積算し、
(iii)該発光スペクトルの時間的積算量を用いて、元素分析および/または温度解析を行う方法(第1の分光解析方法)がよいことを見出した。
(I)発光体を高速撮影し、
(II)複数の撮影像の中から選択した一つの撮影像における発光スペクトルを空間的に積算し、
(III)該発光スペクトルの空間的積算量を用いて、元素分析および/または温度解析を行う方法(第2の分光解析方法)を規定する。
(A)発光体を高速撮影する手段;
(B)複数の撮影像における発光スペクトルを時間的に積算する手段、または複数の撮影像の中から選択した一つの撮影像における発光スペクトルを空間的に積算する手段;および
(C)該発光スペクトルの時間的積算量または空間的積算量を用いて、元素分析および/または温度解析を行う手段;
を有するところに特徴を有する。
上記測定結果をもとに、まず、測定点:Yにおいて、測定時間:Xのみの発光スペクトルと、測定時間:Xから測定時間:X+t1までの発光スペクトルを積算した結果を対比する。
次に、測定時間:Xにおいて、測定点:Yのみの発光スペクトルと、測定点:Yを含む複数の測定位置(分析ライン)の発光スペクトルを積算した結果を対比する。
Claims (4)
- 発光状態が非定常である発光体(以下、「非定常発光体」という)の分光解析方法であって、
上記非定常発光体を高速撮影し、複数の撮影像における発光スペクトルを時間的に積算し、該発光スペクトルの時間的積算量を用いて、元素分析および/または温度解析を行うことを特徴とする非定常発光体の分光解析方法。 - 非定常発光体の分光解析方法であって、
上記非定常発光体を高速撮影し、複数の撮影像の中から選択した一つの撮影像における発光スペクトルを空間的に積算し、該発光スペクトルの空間的積算量を用いて、元素分析および/または温度解析を行うことを特徴とする非定常発光体の分光解析方法。 - 前記元素分析および/または温度解析における発光スペクトルの波長同定に際し、
既知の波長を示す2以上の、発光スペクトル中のピークを用いて、前記発光スペクトルの波長を校正する請求項1または2に記載の分光解析方法。 - 非定常発光体の分光解析を行うための装置であって、
前記非定常発光体を高速撮影する手段;
複数の撮影像における発光スペクトルを時間的に積算する手段、または複数の撮影像の中から選択した一つの撮影像における発光スペクトルを空間的に積算する手段;および
該発光スペクトルの時間的積算量または空間的積算量を用いて、元素分析および/または温度解析を行う手段;
を有することを特徴とする非定常発光体の分光解析装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008077843A JP2009229387A (ja) | 2008-03-25 | 2008-03-25 | 非定常発光体の分光解析方法およびその装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008077843A JP2009229387A (ja) | 2008-03-25 | 2008-03-25 | 非定常発光体の分光解析方法およびその装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2009229387A true JP2009229387A (ja) | 2009-10-08 |
Family
ID=41244945
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2008077843A Pending JP2009229387A (ja) | 2008-03-25 | 2008-03-25 | 非定常発光体の分光解析方法およびその装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2009229387A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2020148970A1 (ja) * | 2019-01-18 | 2020-07-23 | 国立研究開発法人産業技術総合研究所 | 誘導結合プラズマ分析システム及び誘導結合プラズマ分析方法 |
Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63182076A (ja) * | 1987-01-23 | 1988-07-27 | Nippon Steel Corp | 表面処理金属板 |
JPH07229835A (ja) * | 1994-02-16 | 1995-08-29 | Hamamatsu Photonics Kk | エネルギー移動検出法およびその装置 |
JPH10153554A (ja) * | 1996-11-22 | 1998-06-09 | Horiba Ltd | Icpによる形態別元素分析方法 |
JPH11271226A (ja) * | 1998-03-24 | 1999-10-05 | Japan Science & Technology Corp | ナノ秒時間ゲート分光診断装置 |
JP2000249655A (ja) * | 1999-02-26 | 2000-09-14 | Shimadzu Corp | レーザ励起プラズマ発光分光分析装置 |
JP2000289145A (ja) * | 1999-02-04 | 2000-10-17 | Bridgestone Corp | 複合体及びその製造方法 |
JP2002093781A (ja) * | 2000-09-12 | 2002-03-29 | Hitachi Ltd | プラズマ処理装置及び処理方法 |
-
2008
- 2008-03-25 JP JP2008077843A patent/JP2009229387A/ja active Pending
Patent Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63182076A (ja) * | 1987-01-23 | 1988-07-27 | Nippon Steel Corp | 表面処理金属板 |
JPH07229835A (ja) * | 1994-02-16 | 1995-08-29 | Hamamatsu Photonics Kk | エネルギー移動検出法およびその装置 |
JPH10153554A (ja) * | 1996-11-22 | 1998-06-09 | Horiba Ltd | Icpによる形態別元素分析方法 |
JPH11271226A (ja) * | 1998-03-24 | 1999-10-05 | Japan Science & Technology Corp | ナノ秒時間ゲート分光診断装置 |
JP2000289145A (ja) * | 1999-02-04 | 2000-10-17 | Bridgestone Corp | 複合体及びその製造方法 |
JP2000249655A (ja) * | 1999-02-26 | 2000-09-14 | Shimadzu Corp | レーザ励起プラズマ発光分光分析装置 |
JP2002093781A (ja) * | 2000-09-12 | 2002-03-29 | Hitachi Ltd | プラズマ処理装置及び処理方法 |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2020148970A1 (ja) * | 2019-01-18 | 2020-07-23 | 国立研究開発法人産業技術総合研究所 | 誘導結合プラズマ分析システム及び誘導結合プラズマ分析方法 |
JP2020118467A (ja) * | 2019-01-18 | 2020-08-06 | 国立研究開発法人産業技術総合研究所 | 誘導結合プラズマ分析システム及び誘導結合プラズマ分析方法 |
CN112930477A (zh) * | 2019-01-18 | 2021-06-08 | 国立研究开发法人产业技术综合研究所 | 感应耦合等离子体分析系统以及感应耦合等离子体分析方法 |
US11538672B2 (en) | 2019-01-18 | 2022-12-27 | National Institute Of Advanced Industrial Science And Technology | Inductively coupled plasma spectrometric system and inductively coupled plasma spectrometric method |
JP7226775B2 (ja) | 2019-01-18 | 2023-02-21 | 国立研究開発法人産業技術総合研究所 | 誘導結合プラズマ分析システム及び誘導結合プラズマ分析方法 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4829995B2 (ja) | 電荷結合素子検出器を有する発光分光計 | |
US7489396B1 (en) | Spectrophotometric camera | |
US10168215B2 (en) | Color measurement apparatus and color information processing apparatus | |
US10514335B2 (en) | Systems and methods for optical spectrometer calibration | |
US7414717B2 (en) | System and method for detection and identification of optical spectra | |
JP3260469B2 (ja) | 粒子分析装置 | |
US7616314B2 (en) | Methods and apparatuses for determining a color calibration for different spectral light inputs in an imaging apparatus measurement | |
US20140247442A1 (en) | Spectroradiometer device and applications of same | |
JP4418731B2 (ja) | フォトルミネッセンス量子収率測定方法およびこれに用いる装置 | |
EP2732264A1 (en) | Method and apparatus for gold detection | |
US20090219524A1 (en) | Method and apparatus for controlled raman spectrometer | |
JP2020118477A (ja) | 分光測定装置および分光測定方法 | |
JP2009229387A (ja) | 非定常発光体の分光解析方法およびその装置 | |
US10371641B2 (en) | Method and apparatus for measuring inelastic scattering | |
US11366013B2 (en) | Method of obtaining quantum efficiency distribution, method of displaying quantum efficiency distribution, program for obtaining quantum efficiency distribution, program for displaying quantum efficiency distribution, fluorescence spectrophotometer, and display device | |
US20220283088A1 (en) | Viral load tester and applications thereof | |
KR20220034887A (ko) | 방사선 모니터링을 위한 방법 및 장치 | |
KR101557769B1 (ko) | 복사조도 측정장치 및 그 측정방법 | |
Talala et al. | Timing skew compensation methods for CMOS SPAD line sensors used for Raman spectroscopy | |
US8823931B1 (en) | Laser wavelength tracking via direct laser measurement and optical filters in a spectrometer | |
JP6681967B2 (ja) | 画像表示方法、画像表示プログラム、および画像表示装置 | |
US11079277B2 (en) | Spectral imaging device and method | |
JP2005077417A (ja) | ホトディテクタのマトリックスを含む結像装置を有する分光測定装置と方法 | |
Reichelt et al. | Chromatic modulation monitoring of airborne particulates | |
TWM619615U (zh) | 光譜照相裝置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A711 | Notification of change in applicant |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A711 Effective date: 20110118 |
|
A621 | Written request for application examination |
Effective date: 20110120 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 |
|
A521 | Written amendment |
Effective date: 20110118 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20120619 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20120620 |
|
A521 | Written amendment |
Effective date: 20120820 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Effective date: 20121106 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20121228 |
|
A02 | Decision of refusal |
Effective date: 20130226 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 |
|
A521 | Written amendment |
Effective date: 20130527 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 |
|
A911 | Transfer of reconsideration by examiner before appeal (zenchi) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911 Effective date: 20130709 |
|
A912 | Removal of reconsideration by examiner before appeal (zenchi) |
Effective date: 20130913 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A912 |