JP2009211758A - ヘッドスタックアセンブリ及びその製造方法並びにマルチディスク磁気記憶装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】ヘッドスタックアセンブリに組み付け出来る磁気ヘッドとしての歩留まり及び在庫を低減してマルチディスク磁気記憶装置としての製造コストを低減したヘッドスタックアセンブリ及びその製造方法を提供することにある。
【解決手段】磁気ヘッドHがサスペンションSを介して組み付けられる複数のアクチュエータアームA1〜A4を備えたヘッドスタックアセンブリ及びその製造方法であって、前記複数のアクチュエータアームの内、内側のアクチュエータアームA2,A3に組み付けられる磁気ヘッドHb1,Hs2のコア幅若しくは記録素子幅の許容範囲を外側のアクチュエータアームA1,A4に組み付けられる磁気ヘッドHs1,Hb2のコア幅若しくは記録素子幅の許容範囲よりも狭くして構成したことを特徴とする。
【選択図】図2
【解決手段】磁気ヘッドHがサスペンションSを介して組み付けられる複数のアクチュエータアームA1〜A4を備えたヘッドスタックアセンブリ及びその製造方法であって、前記複数のアクチュエータアームの内、内側のアクチュエータアームA2,A3に組み付けられる磁気ヘッドHb1,Hs2のコア幅若しくは記録素子幅の許容範囲を外側のアクチュエータアームA1,A4に組み付けられる磁気ヘッドHs1,Hb2のコア幅若しくは記録素子幅の許容範囲よりも狭くして構成したことを特徴とする。
【選択図】図2
Description
本発明は、マルチディスク磁気記憶装置並びにマルチディスク磁気記憶装置に組み付けるヘッドスタックアセンブリ及びその製造方法に関する。
マルチディスク磁気記憶装置は、記憶媒体である複数の磁気ディスクに対して、複数組の磁気ヘッドで情報の記録と再生を行うように構成される。一台のマルチディスク磁気記憶装置は、その記憶容量(ディスク枚数)に応じて複数枚の記憶媒体であるディスクに対して組み込まれる複数の表面用の磁気ヘッド及び複数の裏面用の磁気ヘッドの各々を取り付けたアクチュエータアームの複数を有するヘッドスタックアセンブリを備えて構成される。
複数の磁気ヘッドを組み付けたヘッドスタックアセンブリには、記憶媒体である複数のディスクに対して複数の表面用の磁気ヘッドと複数の裏面用の磁気ヘッドがそれぞれ交互に備わっている。表面用の磁気ヘッドと裏面用の磁気ヘッドは、ディスクに対して、高精度な低空飛行を実現するために、浮上面等をほぼ線対称の関係で設計、製造する。すなわち、表面用の磁気ヘッドと裏面用の磁気ヘッドは、異なる設計図面に従って作る。
ここで、磁気ヘッド、特に磁気ヘッド内の再生素子や記録素子は、微細加工を施して製造するため、完成した磁気ヘッドの再生素子や記録素子は、ばらつきをもつ。そのため、表面用の磁気ヘッド、裏面用の磁気ヘッドともに、それぞれある程度の許容範囲内であれば無作為にヘッドスタックアセンブリに組み付けていた。
また、特に磁気ヘッドの磁気的なコア幅(Magnetic Core Width)のばらつきは、マルチディスク磁気記憶装置の良否に影響を与えることが知られている。例えば、特許文献1(米国特許第7、023、633号明細書)では、ヘッドスタックアセンブリに組み付ける磁気ヘッドを予めそのコア幅に応じて似たコア幅に細かく分類し、似たコア幅の磁気ヘッド同士を同じヘッドスタックアセンブリに組み付けることが良いと記載している。
上記のように、表面用の磁気ヘッド、裏面用の磁気ヘッドともに、それぞれある程度の許容範囲内であれば無作為にヘッドスタックアセンブリに組み付ける方法では、マルチディスク磁気記憶装置としての良品率を高めようとすると、上記許容範囲を狭めざるを得ず、結果として磁気ヘッドの歩留まりが非常に悪く、製造コストの増加を齎していた。
また、上記特許文献1に記載された方法においても、似たコア幅の磁気ヘッドを揃える必要があるが、実際には多量の磁気ヘッドを製造しない限り、似たコア幅の磁気ヘッドを揃えることが困難となり、結局製造された磁気ヘッドの在庫が増え続けることになり、マルチディスク磁気記憶装置としての製造コストの増加を齎していた。
本発明の目的は、上記課題を解決すべく、ヘッドスタックアセンブリに組み付け出来る磁気ヘッドとしての歩留まり及び在庫を低減してマルチディスク磁気記憶装置としての製造コストを低減したヘッドスタックアセンブリ及びその製造方法並びにマルチディスク磁気記憶装置を提供することにある。
上記目的を達成するために、本発明は、磁気ヘッドがサスペンションを介して組み付けられる複数のアクチュエータアームの備えたヘッドスタックアセンブリであって、前記複数のアクチュエータアームの内、内側のアクチュエータアームに組み付けられる磁気ヘッドのコア幅若しくは記録素子幅の許容範囲を外側のアクチュエータアームに組み付けられる磁気ヘッドのコア幅若しくは記録素子幅の許容範囲よりも狭くして構成したことを特徴とする。
また、本発明は、前記磁気ヘッドとして、複数のディスクの各々に対する表面用の磁気ヘッドと裏面用の磁気ヘッドとによって構成することを特徴とする。
また、本発明は、前記ヘッドスタックアセンブリを備えたことを特徴とするマルチディスク磁気記憶装置である。
また、本発明は、順次磁気ヘッド群を製造する製造工程と、該製造工程で順次製造される磁気ヘッド群について各磁気ヘッドのコア幅若しくは記録素子幅を測定する測定工程と、該測定工程で測定された各磁気ヘッドのコア幅若しくは記録素子幅に基づいて磁気ヘッド群を複数のグループに分類する分類工程と、該分類工程で分類された各グループの磁気ヘッドをヘッドスタックアセンブリにおける規定したアクチュエータアームに組み付ける組付工程とを有することを特徴とするヘッドスタックアセンブリの製造方法である。
また、本発明は、前記分類工程において、少なくともコア幅若しくは記録素子幅の許容範囲が狭い磁気ヘッドとコア幅若しくは記録素子幅の許容範囲が広い磁気ヘッドとに分類することを特徴とする。
また、本発明は、順次磁気ヘッド群を製造する製造工程と、該製造工程で製造される磁気ヘッド群について各磁気ヘッドのコア幅若しくは記録素子幅を測定する測定工程と、該測定工程で測定された各磁気ヘッドのコア幅若しくは記録素子幅に基づいて磁気ヘッド群を、少なくとも内側のアクチュエータアームに組み付けるコア幅若しくは記録素子幅の許容範囲の磁気ヘッドと外側のアクチュエータアームに組み付けるコア幅若しくは記録素子幅の許容範囲の磁気ヘッドとに分類する分類工程と、該分類工程で分類された各磁気ヘッドを対応するアクチュエータアームに組み付ける組付工程とを有することを特徴とするヘッドスタックアセンブリの製造方法である。
また、本発明は、前記分類工程において、前記内側のアクチュエータアームに組み付けるコア幅若しくは記録素子幅の許容範囲が、外側のアクチュエータアームに組み付けるコア幅若しくは記録素子幅の許容範囲よりも狭いことを特徴とする。また、本発明は、前記組付工程において、前記内側のアクチュエータアームに組み付けるコア幅若しくは記録素子幅の許容範囲の磁気ヘッドが足りなくなった若しくはそれに近い状態になった場合のみ、前記内側のアクチュエータアームに組み付けるコア幅若しくは記録素子幅の許容範囲を広げることを特徴とする。また、本発明は、前記分類工程において、前記測定工程で測定された前記磁気ヘッド群についてのコア幅若しくは記録素子幅のデータを整列する整列処理と、該整列処理により整列したデータのランクに基づいて、データを複数種類に分類するデータ分類処理と、該データ分類処理によってデータを複数種類に分類された結果に基づいて、磁気ヘッド群をソート装置により複数のグループに分類する磁気ヘッド分類処理とを含むことを特徴とする。
本発明によれば、ヘッドスタックアセンブリに組み付け出来る磁気ヘッドとしての歩留まり及び在庫を低減してマルチディスク磁気記憶装置としての製造コストを低減することが可能となる。
本発明に係るマルチディスク磁気記憶装置(以降単に磁気記憶装置と称する)に組み付けるヘッドスタックアセンブリ及びその製造方法の実施の形態について図面を用いて説明する。
[第1の実施の形態]
磁気記憶装置は、図1に示すように、複数の記憶媒体であるディスク1に対して、複数の磁気ヘッドで情報の記録と再生を行うように構成される。マルチディスク磁気記憶装置は、複数枚の磁気ディスク1を支持し、モータコントローラ4が制御するモータ3により回転されるスピンドル2を備える。そして、磁気記憶装置は、例えば2枚の磁気ディスク1に対して、本発明に係る図2又は図15に示すような4個、6個、8個、10個の磁気ヘッド、すなわち2個、3個、4個、5個の表面用の磁気ヘッドと2個、3個、4個、5個の裏面用の磁気ヘッドを組み付けたヘッドスタックアセンブリ(HSA)5a〜5dを備えて構成される。
磁気記憶装置は、図1に示すように、複数の記憶媒体であるディスク1に対して、複数の磁気ヘッドで情報の記録と再生を行うように構成される。マルチディスク磁気記憶装置は、複数枚の磁気ディスク1を支持し、モータコントローラ4が制御するモータ3により回転されるスピンドル2を備える。そして、磁気記憶装置は、例えば2枚の磁気ディスク1に対して、本発明に係る図2又は図15に示すような4個、6個、8個、10個の磁気ヘッド、すなわち2個、3個、4個、5個の表面用の磁気ヘッドと2個、3個、4個、5個の裏面用の磁気ヘッドを組み付けたヘッドスタックアセンブリ(HSA)5a〜5dを備えて構成される。
本発明に係るヘッドスタックアッセンブリ(HSA)5aは、軸13と、軸13を中心にしてボイスコイルモータ(VCM)コイル14によって一体的に揺動駆動される4枚のアクチュエータアーム(以降単にアームと称する。)A1〜A4と、各アームA1〜A4の先端に支持された各サスペンションS1〜S4と、該各サスペンションS1〜S4の先に取り付けられ、各磁気ヘッドHs1,Hb1,Hs2,Hb2が形成された各スライダと、各磁気ヘッドHs1,Hb1,Hs2,Hb2による情報の記録、再生やVCMコイル14への電流を制御する制御回路を有するフレキシブルプリント基板(FPC)(図示せず)などとにより構成される。通常、各スライダを各サスペンションS1〜S4の先に接続したヘッドジンバルアセンブリ(HGA)を各アームA1〜A4の先端に取り付けられることになる。
なお、アーム間には、スペーサ15やスペーサと一体型のVCMコイル14が挟まることになる。また、磁気ヘッドHsは表面用を示し、磁気ヘッドHbは裏面用を示す。また、アームA2、A3は、磁気ディスク1にサーボ信号、すなわち磁気的な位置決め信号を書き込むとき、基準となる磁気ヘッドHb1,Hs2,を取り付けた内側のアームであり、アームA1、A4は、内側のアームに対して外側のアームを示す。
以上説明したように、磁気記憶装置は、複数のディスク(マルチディスク)1に対応させて複数の磁気ヘッドHs1,Hb1,Hs2,Hb2を組み付けたHSA5aを備え、該HSA5aは、表面用の磁気ヘッドHs1,Hs2と裏面用の磁気ヘッドHb1,Hb2とをそれぞれ交互に備えて構成される。そして、表面用の磁気ヘッドHs1,Hs2と裏面用の磁気ヘッドHb1,Hb2とは、ディスク1に対して、高精度な低空飛行を実現するために、浮上面等をほぼ線対称の関係で設計し、製造される。すなわち、磁気ヘッド内の再生素子や記録素子を含めて表面用の磁気ヘッドと裏面用の磁気ヘッドとは、異なる設計図面に従って微細加工を施して製造されるため、完成した表面用の磁気ヘッド及び裏面用の磁気ヘッドは設計値(目標値)通りに製造できないと共に互いに異なるばらつきを持ち、完成された少量の表面用の磁気ヘッド及び裏面用の磁気ヘッドから4枚のアームA1〜A4に組み付けるための例えば5nmピッチでほぼ同じ寸法のコア幅(Magnetic Core Width)を有する表面用の磁気ヘッドと裏面用の磁気ヘッドとを揃えることが困難となり、その結果ほぼ同じ寸法のコア幅を有する表面用の磁気ヘッドと裏面用の磁気ヘッドとが揃うまで、表面用の磁気ヘッド及び裏面用の磁気ヘッドを製造し続け、その結果として高価な多量の表面用の磁気ヘッド及び裏面用の磁気ヘッドの在庫が増え続けることになり、最後には増え続けた高価な多量の表面用磁気ヘッド及び裏面用磁気ヘッドを廃棄しなければならなくなり、磁気記憶装置として製造コストが増加することになった。
そこで、発明者らは、磁気記憶装置としての製造コスト削減を目的に、磁気記憶装置の良品率の向上を目指すべく、磁気記憶装置の良品率を阻害している要因を、多数の磁気記憶装置の試験データを様々な観点から解析してきた。その結果、磁気記憶装置の良品率を阻害している要因の一つに、HSAに組み付ける各磁気ヘッドのコア幅(Magnetic Core Width)とその磁気ヘッドを組み付けるアーム位置との組合せに起因する現象があることを発見した。すなわち、図3及び図4に示すように、その組合せと磁気記憶装置の良品率との間に相関関係あることを発見した。
図3は上記解析の結果を示す図である。グラフ20は、4個の磁気ヘッドHs1,Hb1,Hs2,Hb2、すなわち、2枚のディスク1に対して、表面用の磁気ヘッドHs1,Hs2を2個と裏面用の磁気ヘッドHb1,Hbを2個とを組み付けたヘッドスタックアセンブリ5aを搭載した磁気記憶装置の良品率と、組み付けた磁気ヘッドのコア幅、すなわち、磁気ヘッド用の電気試験装置(テスタ)で、磁気ヘッドの磁気的なコア幅を測定した結果とを比較した結果である。実線の折れ線グラフ21は、多数の磁気記憶装置に亘って、多数製造されたコア幅が80−110nmの範囲でばらつく表面用の磁気ヘッドHs群から任意に選び出された各表面用の磁気ヘッドをHSA5の内側のアームA3に取り付けた際得られる磁気記憶装置としての良否判定結果を基に良品率を計算し、上記任意に選び出された各表面用の磁気ヘッドのコア幅に対して上記計算された良品率を打点し、実線で結んだものである。図4は、実線の折れ線グラフ21の打点を計算するために用いた多量に製造された表面用の磁気ヘッドHs群のコア幅に対して、表面用の磁気ヘッドHs群を内側のアームA3に取り付けた際得られる磁気記憶装置としての良品・不良品の度数分布をヒストグラムで表したものである。このヒストグラム25は、多量に製造されたコア幅が80−110nmの範囲でばらつく表面用の磁気ヘッドHs群からコア幅を5nmのピッチで区分し、該区分された各階級の度数は、区分された表面用の磁気ヘッドHs群を内側のアームA3に取り付けた際、良品になった磁気記憶装置の台数と、不良品になった磁気記憶装置の台数とで表した。白抜きの棒27が良品になった磁気記憶装置の台数、斜線で示した棒26が不良品になった磁気記憶装置の台数である。図3に示す折れ線グラフ21の各打点の位置は、多量に製造された表面用の磁気ヘッドHs群のコア幅を5nmのピッチで区分された各階級において、良品になった磁気記憶装置の台数を、良品及び不良品となった磁気記憶装置の合計台数で割った良品率である。
一方、破線の折れ線グラフ22は、実線の折れ線グラフ21の解析結果と同様に、多数の磁気記憶装置に亘って、多数製造されたコア幅が80−110nmの範囲でばらつく表面用の磁気ヘッド群から任意に選び出された各表面用の磁気ヘッドHsをHSA5の外側のアームA1に取り付けた際得られる磁気記憶装置としての良否判定結果を基に良品率を計算し、上記任意に選び出された各表面用磁気ヘッドHsのコア幅に対して上記計算された良品率を打点し、破線で結んだものである。
以上説明したように、図3に示す如く、各階級に区分けされた表面用の磁気ヘッド群を内側のアームA3に取り付けた場合の磁気記憶装置の良品率を示す実線の折れ線グラフ21と各階級に区分けされた表面用の磁気ヘッド群を外側のアームA1に取り付けた場合の磁気記憶装置の良品率を示す破線の折れ線グラフ22とを比較した場合、どちらも表面用磁気ヘッドのコア幅が90nmから100nmの間では、磁気記憶装置の良品率が高く、それよりコア幅が狭いか広いと、磁気記憶装置の良品率は低くなることが判明した。しかし、上記実線の折れ線グラフ21と上記破線の折れ線グラフ22とを比較した場合、表面用磁気ヘッドのコア幅が90nmから100nmの間では、破線の折れ線グラフ22より実線の折れ線グラフ21の方が磁気記憶装置の良品率は高く、それよりコア幅が狭いか広いと、破線の折れ線グラフ22より実線の折れ線グラフ21の方が磁気記憶装置の良品率は低くなることが判明した。
また、多量に製造された裏面用の磁気ヘッドHb群に対して同様に解析した結果、図3に示すグラフ20と同様な結果が得られた。
即ち、上記解析の結果、HSA5に組み付ける各磁気ヘッドのコア幅とその磁気ヘッドを組み付けるアーム位置(内側と外側)との組合せと、磁気記憶装置の良品率の間には相関関係があることが判明した。また、HSA5の外側のアームA1,A4より内側のアームA2,A3の方が、磁気ヘッドのコア幅の寸法が磁気記憶装置としての良否判定結果に敏感に影響することが判明した。その理由は、磁気ディスク1にサーボ信号すなわち磁気的な位置決め信号を書き込むとき、内側のアームA2,A3に取り付けた磁気ヘッドHb1、Hs2が基準になるためと推察される。
次に、磁気ヘッド用の電気試験装置(テスタ)で測定される磁気ヘッドの磁気的なコア幅(Magnetic Core Width)の定義について図5を用いて説明する。磁気ヘッドの磁気的なコア幅とは、記録素子を用いて、ディスク上に1ビットの磁気的な信号を書き込んだときに、記録された信号の幅である。図5は、ディスク上に記録された信号を磁気ヘッド用の電気試験装置(テスタ)で測定される信号強度を示す図である。横軸はディスクの半径方向の信号幅、縦軸は信号強度である。コア幅の測定では、まず、磁気ヘッド用の電気試験装置(テスタ)により、ディスク上に、これからコア幅を測定しようとする信号のすぐ隣りのトラックに破線で示した信号101と102を書き込む、次に、新たに、太い実線の信号100を書き込む。このときの信号の幅がコア幅であるが、実際には、この後、磁気ヘッド用の電気試験装置(テスタ)により新たに書き込んだ信号100を読み取り、読み取った信号の幅であるコア幅を測定する。これを幾何学的に説明すると次のようになる。新たに書き込んだ信号100に対する接線103、104、105の交点から交点までの幅をW1、接線103と104とX軸の交点から交点までの幅をW2、予め書き込んでおいた隣りのトラックの信号101と102のそれぞれの接線106と107とX軸の交点から交点までの幅をW3と定義する。このとき、コア幅とは、W2とW3を足し、その和を2で割った商で求められた値である。ただし、コア幅は、W1とW2を足し、その和を2で割った商として定義してもよい。
なお、磁気ヘッドの磁気的なコア幅は、幾何学的な記録素子幅と相関関係がとても強いため、記録素子幅を走査型電子顕微鏡により視覚的に測定して代用しても良い。
次に、上記解析の結果に基づく本発明の実施の形態について説明する。即ち、本発明は、図1及び図2に示す如く、表面用の磁気ヘッドHs1,Hs2を2個と裏面用の磁気ヘッドHb1,Hb2を2個とを組み付けて、2枚のディスク1を有する磁気記憶装置に搭載されるヘッドスタックアセンブリ(HSA)5aを製造する方法において、内側のアームA2,A3に取り付ける磁気ヘッドHb1,Hs2のコア幅の許容範囲と、外側のアームA1,A4に取り付ける磁気ヘッドHs1,Hb2のコア幅の許容範囲との間で差をつけることを特徴とする。具体的には、次の表1に示すように、ヘッドスタックアッセンブリ5において、外側のアームA1に取り付ける表面用の磁気ヘッドHs1のコア幅の許容範囲(例えば80nm−110nm)より、内側のアームA3に取り付ける表面用の磁気ヘッドHs2のコア幅の許容範囲(例えば90nm−100nm)を狭く規定し、同様に、外側のアームA4に取り付ける裏面用の磁気ヘッドHb2のコア幅の許容範囲(例えば80nm−110nm)より、内側のアームA2に取り付ける裏面用の磁気ヘッドHb1のコア幅の許容範囲(例えば90nm−100nm)を狭く規定することを特徴とする。
ここで、磁気ヘッドのコア幅の許容範囲として、例えば、80nm、90nm、100nm、110nmといった具体的な数値を記述したが、本発明はこのコア幅の許容範囲に限ったものではない。
また、本発明は、4個の磁気ヘッド、すなわち2個の表面用の磁気ヘッドHs1,Hs2と2個の裏面用の磁気ヘッドHb1,Hb2との各々を組み付けた外側のアームA1,A4及び内側のアームA2,A3を備えたHSAに限ったものではなく、磁気ヘッドを組み付けた外側のアーム及び内側のアームを備えたHSAであれば、磁気ヘッドの個数に関係なく、同様の方法を適用できる。
次に、本発明に係るヘッドスタックアセンブリ(HSA)の製造方法の第1の実施の形態について、4個の磁気ヘッド、すなわち2個の表面用の磁気ヘッドHsと2個の裏面用の磁気ヘッドHbを組み付けたHSAの場合について説明する。ただし、本発明は4個の磁気ヘッドを組み付けたHSAの場合に限定されるものではない。
図6は、本発明に係る磁気ヘッドHs,Hbの製造工程からHSA組立工程までの製造手順を表すフローチャートの第1の実施の形態を示す図である。図7は、本発明に係るヘッド試験・測定工程からHSA組立工程を実行するハードウェアの概略構成の第1の実施の形態を示すブロック図である。なお、磁気ヘッド用の電気試験装置(テスタ)62又は走査型電子顕微鏡63、データベース64、ヘッドソート装置65及びHSA組立装置66は、例えばネットワーク61で接続される。
磁気ヘッドHs,Hbの製造工程は、ウエハプロセスP51とスライダプロセスP52とから構成される。例えば、特開2002−331452号公報に記載されているように、まず、ウエハプロセスP51において、表面用の磁気ヘッドHs及び裏面用の磁気ヘッドHbの各々について、レジスト塗布、露光、現像、エッチング、成膜、研磨などを繰り返して磁気ヘッドを形成するための再生素子(図示せず)と記録素子(図示せず)との立体構造がウエハ(図示せず)上に2次元的に多数配列して形成される。次に、スライダプロセスP52において、表面用の磁気ヘッドHs及び裏面用の磁気ヘッドHbの各々について、ウエハを切断し、研磨し、浮上面などを有する上記磁気ヘッドが形成されたスライダ(図示せず)を形成する。以上説明したように、本発明に係るヘッドスタックアセンブリ5にヘッドジンバルアセンブリ(HGA)を介して取り付ける(組み付ける)ためのスライダとしての磁気ヘッドが順次製造されることになる。
次に、表面用の磁気ヘッドHs及び裏面用の磁気ヘッドHbの各々について、ヘッド試験・測定工程P53において、順次製造されるスライダとしての磁気ヘッドの再生素子幅や記録素子幅を磁気ヘッド用の電気試験装置(テスタ)62又は走査型電子顕微鏡63により測定してネットワーク61を介してデータベース64に格納される。ここで、測定される幅とは、図7に示す磁気ヘッド用の電気試験装置(テスタ)62で磁気的に測定されるコア幅や、走査型電子顕微鏡63で視覚的に観察される記録素子幅である。特に本発明においては電気試験装置(テスタ)62により図5に示すように測定される磁気ヘッドの磁気的なコア幅(Magnetic Core Width)と呼ばれる寸法の測定が重要である。即ち、磁気ヘッドのコア幅が、磁気記憶装置の記憶容量を決定するといっても過言ではない。また、磁気的なコア幅と記録素子幅は、相関関係がとても強いため、走査型電子顕微鏡63で視覚的に観察される記録素子幅を測定して代用してもよい。次に、表面用の磁気ヘッドHs及び裏面用の磁気ヘッドHbの各々について、ヘッドジンバルアセンブリ(HGA)組立工程P54において、順次各スライダとして製造された各磁気ヘッドと別途準備した各サスペンションとを接続してHGAを組み立てる。次に、ヘッド分類工程P55では、表面用の磁気ヘッドHs及び裏面用の磁気ヘッドHbの各々について、ヘッドソート装置65において、データベース64に格納された各磁気ヘッドのコア幅のデータを、順次製造された各HGAの各磁気ヘッドの製造番号をキーに検索し、順次製造された各HGAの各磁気ヘッドのコア幅を前記表1で示したように、各磁気ヘッドを取り付けるアーム位置(内側、外側)に応じた許容範囲(90nm−100nm、80nm−110nm)と許容範囲外とに分類し、該順次分類された許容範囲(90nm−100nm)の磁気ヘッドが接続されたHGAを内側アーム用として図8に示すアンロード用トレイ72に収納し、順次分類された許容範囲(80nm−110nm)の磁気ヘッドが接続されたHGAを外側アーム用として図8に示すアンロード用トレイ73に収納し、順次分類された許容範囲外の磁気ヘッドが接続されたHGAを廃棄用としてアンロード用トレイ74に収納する。
なお、分類の仕方として、許容範囲の磁気ヘッドを(90nm−100nm)のものと、(80nm−90nm;100nm−110nm)のものとに分類することは可能である。
最後に、ヘッドスタックアセンブリ(HSA)組立工程P56において、表面用の磁気ヘッドHs及び裏面用の磁気ヘッドHbの各々について、HSA組立装置66により、アンロード用トレイ72に収納されたHGAを内側アームA3、A2に組み付け、アンロード用トレイ73に収納されたHGAを外側アームA1、A3に組み付けることによってヘッドスタックアセンブリ(HSA)5が完成し、完成したヘッドスタックアセンブリ(HSA)5を備えた磁気記憶装置を高い良品率で製造できることになる。
次に、ヘッドソート装置65の具体的な一実施例について図8を用いて説明する。表面用の磁気ヘッドHs及び裏面用の磁気ヘッドHbの各々について、分類前の複数の磁気ヘッド又は該複数の磁気ヘッドを有するHGAをセットするロード用トレイ71、分類後の複数の磁気ヘッド又は該複数の磁気ヘッドを有するHGAを取り出すアンロード用トレイ72、73、74があり、また、各磁気ヘッド又は該各磁気ヘッドを有するHGAを移動させるロボットハンドラ82、磁気ヘッドの製造番号を読取るための製造番号読み取りユニット75、磁気記憶装置76、リードオンリーメモリ(ROM)77、ランダムアクセスメモリ(RAM)78、中央演算ユニット(CPU)79、ネットワークインターフェース80、ユーザインターフェース81がそれぞれバスで接続し、相互にデータを送受信し、各種処理を実行する。また、ネットワークインターフェース80は、ネットワーク61に接続され、データベース64に格納された磁気ヘッドのコア幅のデータを、磁気ヘッドの製造番号をキーに検索する。例えば、トレイ71にセットされた各磁気ヘッドは、磁気記憶装置76に格納されたプログラムを一時的にRAM78に展開し、CPU79がロボットハンドラ82をハンドリングする。ロボットハンドラ82は、ハンドリングした磁気ヘッドを製造番号読み取りユニット75の位置に移動し、磁気ヘッドの製造番号を読み取る。読み取った製造番号は、RAM78に一時的に格納され、CPU79の指示で、ネットワークインターフェース80、ネットワーク61を経由し、データベース64に伝送され、データベース64からその製造番号のコア幅のデータを検索する。検索したコア幅のデータは、データベース64からネットワーク61、ネットワークインターフェース80を介して、RAM78に一時的に格納する。CPU79は、RAM78に格納したコア幅のデータの値を基に前記表1で示したように、各磁気ヘッドを取り付けるアーム位置(内側、外側)に応じた許容範囲(90nm−100nm、80nm−110nm)と許容範囲外とに分類し、該分類された各磁気ヘッド又は該各磁気ヘッドを有するHGAを移動して収納するアンロード用トレイ72、73、74をロボットハンドラ82に対して指示し、磁気ヘッドをアンロードする。
次に、ヘッドソート装置65において、順次製造される表面用の磁気ヘッドHs及び裏面用の磁気ヘッドHbの各々について、実行するヘッド分類工程P55での具体的な処理手順について図9を用いて説明する。製造番号読み取りユニット75は順次製造される磁気ヘッドの製造番号を読み取り(P551)、その後、該順次読取られた磁気ヘッドの製造番号に対するコア幅のデータをデータベース64から検索して読み込み(P552)、また、前記表1に規定した許容範囲を磁気記憶装置76から検索して読み込む(P553)。次に、表面用の磁気ヘッドHs及び裏面用の磁気ヘッドHbの各々について、処理P554及び処理P555において、表1に規定した許容範囲と順次読込まれるコア幅のデータとを基に条件分岐する。処理P554は、ヘッドスタックアセンブリの内側のアームA3またはA2に組み付けてよいかどうかの条件分岐であり、処理P555は、ヘッドスタックアセンブリの外側のアームA1またはA4に組み付けてよいかどうかの条件分岐である。その結果、順次製造された各磁気ヘッドは、内側のアームに組み付けるためのトレイ72と外側のアームに組み付けるためのトレイ73とに分岐されて収納される。なお、トレイ75には、表1に規定した許容範囲外の磁気ヘッドが収納されることになる。ここで、ヘッド試験・測定工程P53で許容範囲外の磁気ヘッドをすでにスクリーニングしている場合には、トレイ74にアンロードされる磁気ヘッドは存在しない。この処理の結果、表面用の磁気ヘッドHs及び裏面用の磁気ヘッドHbの各々について、ヘッドスタックアセンブリ組立工程P56では、トレイ72に置かれた磁気ヘッドは、ヘッドスタックアセンブリの内側のアームA3またはA2に組み付けられ、トレイ73に置かれた磁気ヘッドは、ヘッドスタックアセンブリの外側のアームA1またはA4に組み付けられる。
[第2の実施の形態]
次に、本発明に係るヘッドスタックアセンブリ(HSA)の製造方法の第2の実施の形態について、4個の磁気ヘッド、すなわち2個の表面用の磁気ヘッドHsと2個の裏面用の磁気ヘッドHbを組み付けたHSAの場合について説明する。ただし、本発明は4個の磁気ヘッドを組み付けたHSAの場合に限定されるものではない。
次に、本発明に係るヘッドスタックアセンブリ(HSA)の製造方法の第2の実施の形態について、4個の磁気ヘッド、すなわち2個の表面用の磁気ヘッドHsと2個の裏面用の磁気ヘッドHbを組み付けたHSAの場合について説明する。ただし、本発明は4個の磁気ヘッドを組み付けたHSAの場合に限定されるものではない。
図10は、本発明に係る磁気ヘッドHs,Hbの製造工程からHSA組立工程までの製造手順を表すフローチャートの第2の実施の形態を示す図である。図6との相違点は、ヘッド試験・測定工程P53とヘッド分類工程P55の代わりにヘッド試験と分類工程P57を挿入していることである。この製造手順の場合、ヘッドスタックアセンブリを製造するために用いる磁気ヘッドのコア幅を、ヘッドスタックアセンブリ組立工程P56の直前に測定する。
図11は、本発明に係るヘッド試験・測定工程からHSA組立工程を実行するハードウェアの概略構成の第2の実施の形態を示すブロック図である。ネットワーク61に、ヘッド試験と分類工程P57を実行するソート機能付きの電気試験装置67とヘッドスタックアセンブリ(HSA)組立装置66が存在するだけで、ネットワーク61やデータベース64は存在しなくてもよい。
図12は、ソート機能付きの電気試験装置67の一実施例を示す図である。ソート機能付きの電気試験装置67は、図8に示したヘッドソート装置65と基本的に同じ構成であるが、ヘッドソート装置65にさらにプローブ84とテスト回路85が組み込まれている。プローブ84を磁気ヘッドの電気端子にあてて、テスト回路85で生成された電気的な信号パターンを磁気ヘッドに与えてディスクに書き込み、該書き込まれた信号を読み取って図5に示すように磁気ヘッドの磁気的なコア幅を測定する。トレイ71にセットされた各磁気ヘッドは、このソート機能付きの電気試験装置67で磁気ヘッドの磁気的なコア幅が測定され、そのコア幅の値とアーム位置に応じた許容範囲との関係に基づいて、第1の実施の形態と同様に、トレイ72、73、74のいずれかにアンロードされる。この処理の結果、ヘッドスタックアセンブリ組立工程56では、トレイ72に置かれた磁気ヘッドは、ヘッドスタックアセンブリの内側のアームA3またはA2に組み付け、トレイ73に置かれた磁気ヘッドは、ヘッドスタックアセンブリの外側のアームA1またはA4に組み付ける。
なお、第2の実施の形態でも、磁気的なコア幅の代わりに相関関係がとても強い磁気記録素子幅でも良い。
[第3の実施の形態]
次に、本発明に係るヘッドスタックアセンブリ(HSA)の製造方法の第3の実施の形態について、4個の磁気ヘッド、すなわち2個の表面用の磁気ヘッドHsと2個の裏面用の磁気ヘッドHbを組み付けたHSAの場合について説明する。ただし、本発明は4個の磁気ヘッドを組み付けたHSAの場合に限定されるものではない。
次に、本発明に係るヘッドスタックアセンブリ(HSA)の製造方法の第3の実施の形態について、4個の磁気ヘッド、すなわち2個の表面用の磁気ヘッドHsと2個の裏面用の磁気ヘッドHbを組み付けたHSAの場合について説明する。ただし、本発明は4個の磁気ヘッドを組み付けたHSAの場合に限定されるものではない。
第3の実施の形態において,第1の実施の形態と相違する点は、次に示す許容範囲を規定する表2である。表1では、表面用の磁気ヘッドHs及び裏面用の磁気ヘッドHbの各々において、取り付ける内側のアームA2,A3か外側のアームA1,A4かでコア幅の許容範囲に差を設けている。しかし、このようにコア幅の許容範囲に差を設けると、図9で示したように、順次製造される磁気ヘッドをコア幅の許容範囲で厳密に分類する必要がある。しかしながら、コア幅の許容範囲で厳密に磁気ヘッドを分類すると、製造されたすべての磁気ヘッドを有効に活用できず、スクラップあるいは在庫として余る磁気ヘッドが発生し、コストの観点から損失が生じる。そこで、表2では、コア幅の許容範囲は磁気ヘッドを組み付けるすべてのアームA1〜A3の位置で同一(80nm−110nm)とし、その代わり、内側のアームA2、A3に取り付ける磁気ヘッドについてはコア幅の許容範囲(80nm−110nm)より狭く設定したコア幅の目安許容範囲(90nm−100nm)を設ける。この規定は、外側のアームA1,A4には、順次製造される磁気ヘッドのコア幅が許容範囲(80nm−110nm)であれば何れかの磁気ヘッドを組み付けてもよく、一方、内側のアームA2,A3には、できる限り目安許容範囲(90nm−100nm)のコア幅を有する磁気ヘッドを組み付け、目安許容範囲(90nm−100nm)のコア幅を有する磁気ヘッドが足りない若しくはそれに近い状態の場合のみ、磁気記憶装置としての良品率は多少低下するが目安許容範囲外で許容範囲内のコア幅を有する磁気ヘッドを組み付けると規定する。
図13は、ヘッド分類工程P55の第3の実施の形態を示す図である。ここで示す処理は、ヘッドソート装置65で実行される図9の前処理である。まず、ネットワークI/F80は、ある一日などの一定期間に製造された複数の磁気ヘッドの製造番号リストを磁気ヘッド製造管理システム(図示せず)から入力する製造番号リスト入力処理P5501が行われる。次に、CPU79等は、コア幅の検索・読み込み処理P5502において、入力された複数の磁気ヘッドの製造番号に対するコア幅のデータがデータベース64から検索され、RAM78に読み込まれる。次に、CPU79等は、許容範囲と目安許容範囲の検索・読み込み処理P5503において、上記表2で規定した許容範囲と目安許容範囲とを磁気記憶装置76から検索してRAM78に読み込まれる。次に、CPU79等は、コア幅のデータの整列処理P5504において、磁気ヘッドの製造番号とコア幅のデータを、コア幅の値の大小で昇順に並べる。次に、CPU79等は、許容範囲のポイントP1、P4の設定と目安許容範囲のポインタP2、P3の初期値の設定との処理P5505において、整列された製造番号とコア幅のデータとの表に、ポインタを付ける。次に、CPU79等は、P4とP1から計算できる許容範囲内に入る磁気ヘッドの個数と、P2とP3から計算できる目安許容範囲内に入る磁気ヘッドの個数を比較する。本第3の実施の形態では、たとえば、表面用磁気ヘッド及び裏面用磁気ヘッドの各々を取り付ける外側のアームA1、A4に対しては、コア幅の目安許容範囲を設けず、内側のアームA3、A2に対してはコア幅の目安許容範囲を設けていることから、許容範囲内の磁気ヘッドの個数の半分が、ちょうど目安許容範囲内の磁気ヘッドの個数と一致すれば、スクラップや在庫が増えることはないので、許容範囲内の磁気ヘッドの個数の半分と目安許容範囲内の磁気ヘッドの個数の大小を比較する(P5506)。次に、比較結果に基づいて、ポインタP2またはポインタP3の指すランクを一つずらす(P5508,P5509)。もし、許容範囲内の磁気ヘッドの個数の半分と目安許容範囲内の磁気ヘッドの個数が等しいなら、目安許容範囲であるポインタP2、P3が指すランクのコア幅の値を、内側のアームA3またはA2に対する一時的な許容範囲として本来の許容範囲の代わりに登録し(P5507)、その後図9の処理P551へ移行して、磁気ヘッドを分類する。
図14は、図13のポインタの動きを説明するための図である。本実施例は、製造プロセスP51,P52によって製造された表面用の磁気ヘッドHs群として、製造番号リスト入力処理P5501で五万個の製造番号が入力された場合を示す。本実施例では、コア幅が最小の磁気ヘッドは、製造番号AA1118715でコア幅が83.53nmであり、コア幅が最大の磁気ヘッドは、製造番号AA1116901でコア幅が119.2nmであり、この表は、コア幅の値で昇順に整列してある。最左列は、五万個の順位(ランク)、中央の列は、製造番号、最右列は、コア幅の値である。許容範囲と目安許容範囲は、表2のように、許容範囲の下限が80nm、許容範囲の上限が110nm、目安許容範囲の下限が90nm、目安許容範囲の上限が100nmである。まず、ポインタP1は、許容範囲に入る最小の寸法の磁気ヘッドのランクを指す。すなわち、この実施例ではランク1を指す。ポインタP2は、目安許容範囲に入る最小のコア幅の磁気ヘッドを初期値として指す。すなわち、この実施例ではランク12011を指す。ポインタP3は、目安許容範囲に入る最大のコア幅の磁気ヘッドを初期値として指す。すなわち、この実施例ではランク37001を指す。ポインタP4は、許容範囲に入る最大のコア幅の磁気ヘッドを指す。すなわち、この実施例では、ランク50000を指す。ポインタP1とポインタP3はこの後、固定となる。一方、ポインタP2とポインタP3は、図13に示す条件分岐P5506と処理P5508と処理P5509に基づいて、1ランクずつ変化する。たとえば、(P4−P1+1)*0.5は、はじめ、(50000−1+1)*0.5で、25000である。一方、(P3−P2+1)は、はじめ、37001−12011+1で、24991である。そこで、条件分岐P5506では、(P3−P2+1)の方が小さいと判断され、処理P5508に進む。処理P5508では、P2から1を減算するか、P3に1を加算するかどちらかを実行する。この判断は、(P2−1)が指す磁気ヘッドのコア幅と、(P3+1)が指す磁気ヘッドのコア幅を比較し、目安許容範囲に近い方を基準に選ぶ。この実施例では、(P2−1)が指す磁気ヘッドのコア幅は、89.97nmで、目安許容範囲から0.03nmだけ外れており、(P3+1)が指す磁気ヘッドのコア幅は、100.05nmで、目安許容範囲から0.05nm外れている。そこで、P2に、P2−1を代入する。すなわち、ポインタP2の位置を一つずらす。このとき、P3は何もしない。図13に示すフローチャートに従い、(P4−P1+1)*0.5が25000であることから、(P3−P2+1)が25000になるまで繰り返す。その結果、P2は、ランク12008まで移動し、P3はランク37007まで移動する。次に図13に示す処理P5507では、P2が指す89.73nmからP3が指す100.27nmまでを内側のアームA3に取り付ける磁気ヘッドのコア幅の一時的な許容範囲と規定して、処理P551以降を続けて、表面用の磁気ヘッドHsを取り付けるアーム位置に対応させて分類してアンロード用トレイ72,73に収納する。
製造プロセスP51,P52によって製造された裏面用の磁気ヘッドHb群に対しても同様な処理を行い、内側のアームA2に取り付ける一時的なコア幅の許容範囲を規定して、裏面用の磁気ヘッドHbを取り付けるアーム位置に対応させて分類してアンロード用トレイ72,73に収納する。
上記の方法で分類してアンロード用トレイ72,73に収納された磁気ヘッド又は該磁気ヘッドを有するHGAをヘッドスタックアセンブリ組立装置66にセットし、HSAを組み立てる。
以上説明したように、第3の実施の形態によれば、外側のアームA1,A4には、順次製造される磁気ヘッドのコア幅が許容範囲(80nm−110nm)であれば何れかの磁気ヘッドを組み付け、一方、内側のアームA2,A3には、できる限り目安許容範囲(90nm−100nm)のコア幅を有する磁気ヘッドを組み付け、目安許容範囲(90nm−100nm)のコア幅を有する磁気ヘッドが足りない場合のみ、目安許容範囲(90nm−100nm)外で許容範囲(80nm−110nm)内のコア幅を有する磁気ヘッドを組み付けることによって、製造された多くの磁気ヘッドを有効に活用し、スクラップあるいは在庫として余る磁気ヘッドの量を低減して磁気記憶装置としての大幅な製造コスト低減を図るが可能となる。
なお、第3の実施の形態でも、磁気的なコア幅の代わりに相関関係がとても強い磁気記録素子幅でも良い。
[第4の実施の形態]
図15は、本発明に係る表面用の磁気ヘッドHsが3個、裏面用の磁気ヘッドHbが3個、合計6個の磁気ヘッドを組み付けたHSAの第4の実施の形態を示す図である。ここで、次に示す表3は、内側のアームA3,A2に取り付けされる磁気ヘッドHs2,Hb1のコア幅の許容範囲を狭く、外側のアームA1,A4,A5,A6に取り付けされる磁気ヘッドHs1,Hb2,Hb3,Hs3のコア幅の許容範囲を広くした実施の形態であり、次に示す表4は、内側のアームA3,A2,A5,A6に取り付けされる磁気ヘッドHs2,Hb1,Hb3のコア幅の許容範囲を狭く、外側のアームA1,A4に取り付けされる磁気ヘッドHs1,Hb2のコア幅の許容範囲を広くした実施の形態である。
図15は、本発明に係る表面用の磁気ヘッドHsが3個、裏面用の磁気ヘッドHbが3個、合計6個の磁気ヘッドを組み付けたHSAの第4の実施の形態を示す図である。ここで、次に示す表3は、内側のアームA3,A2に取り付けされる磁気ヘッドHs2,Hb1のコア幅の許容範囲を狭く、外側のアームA1,A4,A5,A6に取り付けされる磁気ヘッドHs1,Hb2,Hb3,Hs3のコア幅の許容範囲を広くした実施の形態であり、次に示す表4は、内側のアームA3,A2,A5,A6に取り付けされる磁気ヘッドHs2,Hb1,Hb3のコア幅の許容範囲を狭く、外側のアームA1,A4に取り付けされる磁気ヘッドHs1,Hb2のコア幅の許容範囲を広くした実施の形態である。
また,表面用の磁気ヘッドが5個、裏面用の磁気ヘッドが5個、合計10個の磁気ヘッドを組み付けたHSA5dでは、2枚を内側のアームとし、該内側のアームの両側のアーム8枚を外側アームと定義する場合と、4枚を内側のアームとし、該内側のアームの両側のアーム6枚を外側のアームと定義する場合と、6枚を内側のアームとし、該内側のアームの両側のアーム4枚を外側のアームと定義する場合と、8枚を内側のアームとし、該内側のアームの両側のアーム2枚を外側のアームと定義する場合とが考えられる。
何れにしても、コア幅の許容範囲の狭い磁気ヘッドを取り付ける内側のアームの枚数を減らしてコア幅の許容範囲の広い磁気ヘッドを取り付ける外側のアームの枚数を増やせば、磁気記憶装置としての良品率は多少低下するが、順次製造される磁気ヘッドの在庫を減らして製造コストの低減を図ることが可能となる。
[第5の実施の形態]
次に、比較例である無作為に磁気ヘッドを組み付けて製造されたHSAと、本発明に基づいて製造されたHSAとに対して、リバースエンジニアリングを実施した結果について説明する。ここでは、4個の磁気ヘッドを組み付けたHSAの一実施例を示す。ただし、本発明は4個の磁気ヘッドを組み付けたHSAに限ったものではなく、複数の磁気ヘッドを組み付けたHSAであれば、磁気ヘッドの個数に関係なく,同様の傾向を確認できる。
次に、比較例である無作為に磁気ヘッドを組み付けて製造されたHSAと、本発明に基づいて製造されたHSAとに対して、リバースエンジニアリングを実施した結果について説明する。ここでは、4個の磁気ヘッドを組み付けたHSAの一実施例を示す。ただし、本発明は4個の磁気ヘッドを組み付けたHSAに限ったものではなく、複数の磁気ヘッドを組み付けたHSAであれば、磁気ヘッドの個数に関係なく,同様の傾向を確認できる。
図16は、比較例である無作為に磁気ヘッドを組み付けて製造された多数のHSAの各アームに付けられた磁気ヘッドのコア幅を測定した結果の分布である。ヒストグラム120は、アーム位置A1に付けられた磁気ヘッドのコア幅の分布、ヒストグラム121は、アーム位置A2に付けられた磁気ヘッドのコア幅の分布、ヒストグラム122は、アーム位置A3に付けられた磁気ヘッドのコア幅の分布、ヒストグラム123は、アーム位置A4に付けられた磁気ヘッドのコア幅の分布である。比較例の製造方法では、アーム位置A1とA3には、多数の表面用の磁気ヘッドから無作為に選ばれた磁気ヘッドが付き、アーム位置A2とA4には、多数の裏面用の磁気ヘッドから無作為に選ばれた磁気ヘッドが付いているため、ヒストグラム120とヒストグラム122は、ほぼ同じ分布になる。また、ヒストグラム121とヒストグラム123も、ほぼ同じ分布になる。分布が同じか否かは、t検定やF検定などの統計的仮説検定を用いて、有意確率(p値)を算出することで分かる。たとえば、有意確率が0.05あるいは0.01より小さい場合は、同じ分布とは言えない。一方、有意確率が0.05あるいは0.01おり大きい場合は、同じ分布であると判断できる。比較例の製造方法では、何らかの不具合がないかぎり、有意確率(p値)は0.01より大きな値が算出される。
図17は、本発明に基づいて製造された多数のヘッドスタックアセンブリの各アームに付けられた磁気ヘッドのコア幅を測定した結果の分布である。ヒストグラム130は、アーム位置A1に付けられた磁気ヘッドのコア幅の分布、ヒストグラム131は、アーム位置A2に付けられた磁気ヘッドのコア幅の分布、ヒストグラム132は、アーム位置A3に付けられた磁気ヘッドのコア幅の分布、ヒストグラム133は、アーム位置A4に付けられた磁気ヘッドのコア幅の分布である。本発明の製造方法では、アーム位置A1とA3には、表面用の磁気ヘッドとは言え、異なる許容範囲が設定されている。また、アーム位置A2とA4には、裏面用の磁気ヘッドとは言え、異なる許容範囲が設定されている。そのため、ヒストグラム130とヒストグラム132とは、明らかに異なる分布になる。また、ヒストグラム131とヒストグラム133とも、明らかに異なる分布となる。すなわち、t検定やF検定などの統計的仮説検定を用いて、有意確率(p値)を算出すると、0.01より小さい値が算出される。
1…磁気ディスク、2…スピンドル、3…モータ、4…モータコントローラ、5a〜5d…ヘッドスタックアセンブリ(HSA)、13…軸、14…スペーサ一体形のVCMコイル、15…スペーサ、A1〜A6…アクチュエータアーム、S1〜S6…サスペンション、Hs1〜Hs3…表面用の磁気ヘッド、Hb1〜Hb3…裏面用の磁気ヘッド、61…ネットワーク、62…電気試験装置、63…走査型電子顕微鏡、64…データベース、65…ヘッドソート装置、66…HSA組立装置、67…電気試験装置(ソート機能付き)、71…ロード用トレイ、72、73、74…アンロード用トレイ、75…製造番号読み取りユニット、79…CPU、80…ネットワークI/F、81…ユーザI/F、82…ロボットハンドラ、84…プローブ、85…テスト回路。
Claims (12)
- 磁気ヘッドがサスペンションを介して組み付けられる複数のアクチュエータアームの備えたヘッドスタックアセンブリであって、
前記複数のアクチュエータアームの内、内側のアクチュエータアームに組み付けられる磁気ヘッドのコア幅若しくは記録素子幅の許容範囲を外側のアクチュエータアームに組み付けられる磁気ヘッドのコア幅若しくは記録素子幅の許容範囲よりも狭くして構成したことを特徴とするヘッドスタックアセンブリ。 - 前記磁気ヘッドとして、複数のディスクの各々に対する表面用の磁気ヘッドと裏面用の磁気ヘッドとによって構成することを特徴とする請求項1に記載のヘッドスタックアセンブリ。
- 請求項1又は2に記載のヘッドスタックアセンブリを備えたことを特徴とするマルチディスク磁気記憶装置。
- 順次磁気ヘッド群を製造する製造工程と、
該製造工程で順次製造される磁気ヘッド群について各磁気ヘッドのコア幅若しくは記録素子幅を測定する測定工程と、
該測定工程で測定された各磁気ヘッドのコア幅若しくは記録素子幅に基づいて磁気ヘッド群を複数のグループに分類する分類工程と、
該分類工程で分類された各グループの磁気ヘッドをヘッドスタックアセンブリにおける規定したアクチュエータアームに組み付ける組付工程と
を有することを特徴とするヘッドスタックアセンブリの製造方法。 - 前記分類工程において、少なくともコア幅若しくは記録素子幅の許容範囲が狭い磁気ヘッドとコア幅若しくは記録素子幅の許容範囲が広い磁気ヘッドとに分類することを特徴とする請求項4に記載のヘッドスタックアセンブリの製造方法。
- 前記分類工程において、前記分類される前記複数のグループとしては、少なくとも内側のアクチュエータアームに組み付けるコア幅若しくは記録素子幅の許容範囲の磁気ヘッドと外側のアクチュエータアームに組み付けるコア幅若しくは記録素子幅の許容範囲の磁気ヘッドとであることを特徴とする請求項4に記載のヘッドスタックアセンブリの製造方法。
- 前記分類工程において、前記内側のアクチュエータアームに組み付けるコア幅若しくは記録素子幅の許容範囲が、外側のアクチュエータアームに組み付けるコア幅若しくは記録素子幅の許容範囲よりも狭いことを特徴とする請求項6に記載のヘッドスタックアセンブリの製造方法。
- 前記組付工程において、前記内側のアクチュエータアームに組み付けるコア幅若しくは記録素子幅の許容範囲の磁気ヘッドが足りなくなった若しくはそれに近い状態になった場合のみ、前記内側のアクチュエータアームに組み付けるコア幅若しくは記録素子幅の許容範囲を広げることを特徴とする請求項7に記載のヘッドスタックアセンブリの製造方法。
- 順次磁気ヘッド群を製造する製造工程と、
該製造工程で製造される磁気ヘッド群について各磁気ヘッドのコア幅若しくは記録素子幅を測定する測定工程と、
該測定工程で測定された各磁気ヘッドのコア幅若しくは記録素子幅に基づいて磁気ヘッド群を、少なくとも内側のアクチュエータアームに組み付けるコア幅若しくは記録素子幅の許容範囲の磁気ヘッドと外側のアクチュエータアームに組み付けるコア幅若しくは記録素子幅の許容範囲の磁気ヘッドとに分類する分類工程と、
該分類工程で分類された各磁気ヘッドを対応するアクチュエータアームに組み付ける組付工程と
を有することを特徴とするヘッドスタックアセンブリの製造方法。 - 前記分類工程において、前記内側のアクチュエータアームに組み付けるコア幅若しくは記録素子幅の許容範囲が、外側のアクチュエータアームに組み付けるコア幅若しくは記録素子幅の許容範囲よりも狭いことを特徴とする請求項9に記載のヘッドスタックアセンブリの製造方法。
- 前記組付工程において、前記内側のアクチュエータアームに組み付けるコア幅若しくは記録素子幅の許容範囲の磁気ヘッドが足りなくなった若しくはそれに近い状態になった場合のみ、前記内側のアクチュエータアームに組み付けるコア幅若しくは記録素子幅の許容範囲を広げることを特徴とする請求項10に記載のヘッドスタックアセンブリの製造方法。
- 前記分類工程において、
前記測定工程で測定された前記磁気ヘッド群についてのコア幅若しくは記録素子幅のデータを整列する整列処理と、
該整列処理により整列したデータのランクに基づいて、データを複数種類に分類するデータ分類処理と、
該データ分類処理によってデータを複数種類に分類された結果に基づいて、磁気ヘッド群をソート装置により複数のグループに分類する磁気ヘッド分類処理と
を含むことを特徴とする請求項4に記載のヘッドスタックアセンブリの製造方法。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
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US12/380,491 US8059365B2 (en) | 2008-03-04 | 2009-02-26 | Head stack assembly, manufacturing method thereof and multi-disc magnetic storage device |
SG200901499-4A SG155156A1 (en) | 2008-03-04 | 2009-03-03 | Head stack assembly, manufacturing method thereof and multi-disc magnetic storage device |
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---|---|---|---|
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---|---|
JP2009211758A true JP2009211758A (ja) | 2009-09-17 |
Family
ID=41053366
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2008053547A Pending JP2009211758A (ja) | 2008-03-04 | 2008-03-04 | ヘッドスタックアセンブリ及びその製造方法並びにマルチディスク磁気記憶装置 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8059365B2 (ja) |
JP (1) | JP2009211758A (ja) |
CN (1) | CN101527143B (ja) |
SG (1) | SG155156A1 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8552716B2 (en) | 2009-12-09 | 2013-10-08 | HGST Netherlands B.V. | Testing methods for magnetic heads and magnetic storage devices assembled with the magnetic heads |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2021180061A (ja) | 2020-05-14 | 2021-11-18 | 株式会社東芝 | 磁気ディスク装置 |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH07320428A (ja) * | 1994-05-26 | 1995-12-08 | Hitachi Ltd | 磁気ディスク装置 |
Family Cites Families (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4992898A (en) * | 1988-03-31 | 1991-02-12 | Applied Magnetic Corporation | Magnetic head slider suspension assembly having inverted load rails |
JP3045113B2 (ja) * | 1997-07-31 | 2000-05-29 | 日本ビクター株式会社 | ディジタル信号記録再生装置 |
JP4408334B2 (ja) | 2001-03-08 | 2010-02-03 | 株式会社日立グローバルストレージテクノロジーズ | 磁気ヘッド素子の研磨装置 |
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US7023633B2 (en) * | 2003-01-31 | 2006-04-04 | Hitachi Global Storage Technologies Netherland B.V. | Adaptive track count determination for a self-servowritten disk drive |
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JP4990817B2 (ja) * | 2008-02-29 | 2012-08-01 | 株式会社日立製作所 | パターン媒体を用いたハードディスク記録装置の製造方法 |
-
2008
- 2008-03-04 JP JP2008053547A patent/JP2009211758A/ja active Pending
-
2009
- 2009-02-26 US US12/380,491 patent/US8059365B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2009-03-03 SG SG200901499-4A patent/SG155156A1/en unknown
- 2009-03-04 CN CN200910118563XA patent/CN101527143B/zh not_active Expired - Fee Related
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN101527143A (zh) | 2009-09-09 |
US8059365B2 (en) | 2011-11-15 |
US20090225476A1 (en) | 2009-09-10 |
SG155156A1 (en) | 2009-09-30 |
CN101527143B (zh) | 2011-05-04 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20110221 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20111114 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
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|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20120417 |