JP2009199792A - 接触性能係数算出装置及び接触性能係数算出方法 - Google Patents

Abstract

【課題】シミュレーションによって接触抵抗に応じた接触性能係数を算出する。
【解決手段】芯線をかしめ片によりかしめた後の芯線モデル３ｍ及びかしめ片モデル２ｍを構成する各節の変位及び各節に作用する力を有限要素法により算出する。算出された各節の変位から芯線モデル３ｍの輪郭上の節のうちかしめ片モデル２ｍに接触する節Ｎ_Sを抽出する。抽出された節Ｎ_S、及び芯線モデル３ｍの輪郭上の節のうち節Ｎ_Sに隣接する節Ｎ_k+1、間の距離Ｌ_k+1と、抽出された節Ｎ_S、及び、芯線モデル３ｍの輪郭上の節のうち抽出された節に隣接する節Ｎ_k-1、間の距離Ｌ_k-1と、求めて、距離Ｌ_k+1及び距離Ｌ_k-1の和の１／２を抽出された節Ｎ_Sの接触長さＬ_kとして求める。抽出された全ての節Ｎ_Sについて求めた接触長さＬ_kと抽出された節Ｎ_Sがかしめ片モデル２ｍに作用する力Ｐ_Sとを乗じた値の総和を求めて、当該総和の逆数を接触性能係数として求める。
【選択図】図４

Description

本発明は、接触性能係数算出装置及び接触性能係数算出方法に係り、特に、端子金具に設けられたかしめ片と、前記かしめ片にかしめられる芯線と、の接触抵抗に応じた接触性能係数を算出する接触性能係数算出装置及び接触性能係数算出方法に関するものである。

従来から、導線の芯線と端子金具とを電気的に接続する方法として、例えば、端子金具に設けられたかしめ片によって、芯線を加締め圧着して接続する方法がある（例えば特許文献１〜３）。この圧着接続に用いられる端子金具は、一般的に、図７（Ａ）に示すような構成になっている。同図に示すように、端子金具１はかしめ片２を備えている。そして、上述した端子金具１のかしめ片２及び芯線３を、図７（Ｂ）及び（Ｃ）に示すように、クリンパ４（上型）及びアンビル５（下型）によって挟んだ後、圧力を加えることにより、かしめ片２によって芯線３が加締め圧着され、図７（Ｄ）に示すように、端子金具１と芯線３とが電気的、機械的に接続される。

ところで、上述した圧着後のクリンプ高さＣ／Ｈ（図７（Ｄ）参照）と、圧着後の端子金具１−芯線３間の固着力Ｆ又は接触抵抗Ｒとの関係は、図８に示すようになる。同図に示すように、固着力Ｆは、クリンプ高さＣ/Ｈに対して上に凸の非線形特性を有するため、クリンプ高さＣ／Ｈは一定範囲に対して使用可能な固着力Ｆが存在することになる。同様に、接触抵抗Ｒはクリンプ高さＣ／Ｈに対して使用可能な接触抵抗Ｒが存在することになる。このような非線形特性を有する固着力Ｆと接触抵抗Ｒとの関係から、固着力Ｆ、接触抵抗Ｒ共に使用可能とするクリンプ高さＣ／Ｈの範囲（図８中に示す「最適クリンプ高さ」）が限定されることになる。

そこで、従来では、例えば、新しい接続設計をする際、端子金具１、芯線３、クリンパ４又はアンビル５などの設計を行う。そして、この設計された端子金具１、芯線３、クリンパ４又はアンビル５などを用いて、実際に、圧着接続を行った後、固着力Ｆ、接触抵抗Ｒなどを計測して、最適な固着力Ｆ、接触抵抗Ｒが得られるか否かといった評価が実行される。得られない場合は、また、新たに端子金具１、芯線３、クリンパ４又はアンビル５などの設計を行った後、上述したことを繰り返し行う。

ところで、上述した接触抵抗Ｒは低温環境や高温環境に放置すると上昇してしまうことが分かっている。そこで、接触抵抗Ｒの計測は、例えば−４０℃の低温環境と＋１２０℃の高温環境とを交互に１０００回繰り返す冷熱衝突試験を実行した後に行っていた。この低温環境と高温環境との１サイクルが仮に２時間要する場合には、接触抵抗Ｒの計測までに２０００時間を要する。即ち、従来の端子金具１−芯線３の接続設計では、上述したように設計→実際に接続する→冷熱衝突試験→評価（測定）といったカットアンドトライを繰り返して適正なものを得る必要がある。このため、設計の経験があまりない者が上述した接続設計を行うと、希望のものを得るまで無駄な時間を費やすことが多くなり、設計期間が長くなったり、設計コストアップを招くという問題があった。
特開２００７−１７３２１５号公報 特開２００６−３５１４５１号公報 特開平１０−５０４４９号公報

そこで、本発明は、上記のような問題点に着目し、設計者の経験に左右されることなく、端子金具と芯線との接続設計を誰もが簡単に、かつ、短時間に行えるように支援することができるように、シミュレーションによって接触抵抗に応じた接触性能係数を算出する接触性能係数算出装置及び接触性能係数算出方法を提供することを課題とする。

本発明者は、設計者の経験に左右されることなく、シミュレーションによって接触抵抗に応じた接触性能係数を算出する接触性能係数算出装置及び接触性能係数算出方法を得るべく検討を重ねた結果、下記の式（１）及び（２）に示す接触性能係数ＣＣが接触抵抗Ｒに応じた値となることを見出し、本発明を完成するに至った。

Ｌ_k＝（Ｌ_k+1＋Ｌ_k-1）／２ …（２）

なお、図４（Ｂ）に示すように、Ｐ_SKは有限要素法を実行して得た圧着後（かしめた後）の芯線モデル３ｍの輪郭上の節のうちかしめ片モデル２ｍに接触する節Ｎ_SKからかしめ片モデル２ｍに作用する力である。Ｌ_k+1は節Ｎ_SK、及び、芯線モデル３ｍの輪郭上の節のうち節Ｎ_SKに隣接する節Ｎ_k+1との距離であり、Ｌ_k-1は節Ｎ_SKと芯線モデル３ｍの輪郭上の節のうち節Ｎ_SKに隣接する節Ｎ_k-1との距離である。ｎは、芯線モデル３ｍの輪郭上の節のうちかしめ片モデル２ｍに接触する節Ｎ_SKの総数である。

即ち、請求項１記載の発明は、端子金具に設けられたかしめ片と、前記かしめ片にかしめられる芯線と、の接触抵抗に応じた接触性能係数を算出する接触性能係数算出装置であって、前記芯線を複数の要素に分割した芯線モデルを取得する芯線モデル取得手段と、前記かしめ片を複数の要素に分割したかしめ片モデルを取得するかしめ片モデル取得手段と、上型及び下型の間に挟んで前記芯線を前記かしめ片によりかしめた後の前記芯線モデル及び前記かしめ片モデルを構成する各節の変位及び各節に作用する力を有限要素法により算出する変形算出手段と、前記変形算出手段により算出された前記各節の変位から前記かしめた後の前記芯線モデルの輪郭上の節のうち前記かしめ片モデルに接触する節を抽出する節抽出手段と、前記節抽出手段により抽出された節、及び、前記かしめた後の前記芯線モデルの輪郭上の節のうち前記節抽出手段により抽出された節に隣接する一対の節の一方、間の第１の距離を求める第１の距離算出手段と、前記節抽出手段により抽出された節、及び、前記かしめた後の前記芯線モデルの輪郭上の節のうち前記節抽出手段により抽出された節に隣接する一対の節の他方、間の第２の距離を求める第２の距離算出手段と、前記第１の距離、及び、前記第２の距離、の和の１／２を前記節抽出手段により抽出された節の接触長さとして求める接触長さ算出手段と、前記節抽出手段により抽出された全ての節について求めた前記接触長さと前記節抽出手段により抽出された節が前記かしめ片モデルに作用する力とを乗じた値の総和を求めて、当該総和の逆数を前記接触性能係数として求める接触性能係数算出手段と、を備えたことを特徴とする接触性能係数算出装置に存する。

請求項２記載の発明は、端子金具に設けられたかしめ片と、前記かしめ片にかしめられる芯線と、の接触抵抗に応じた接触性能係数を算出する接触性能係数算出方法であって、前記芯線を複数の要素に分割した芯線モデル、及び、前記かしめ片を複数の要素に分割したかしめ片モデル、を取得する工程と、上型及び下型の間に挟んで前記芯線を前記かしめ片によりかしめた後の前記芯線モデル及び前記かしめ片モデルを構成する各節の変位及び各節に作用する力を有限要素法により算出する工程と、前記算出された各節の変位から前記かしめた後の前記芯線モデルの輪郭上の節のうち前記かしめ片モデルに接触する節を抽出する工程と、前記抽出された節、及び、前記かしめた後の前記芯線モデルの輪郭上の節のうち前記抽出された節に隣接する一対の節の一方、間の第１の距離を求める工程と、前記抽出された節、及び、前記かしめた後の前記芯線モデルの輪郭上の節のうち前記抽出された節に隣接する一対の節の他方、間の第２の距離を求める工程と、前記第１の距離、及び、前記第２の距離、の和の１／２を前記抽出された節の接触長さとして求める工程と、前記抽出された全ての節について求めた前記接触長さと前記抽出された節が前記かしめ片モデルに作用する力とを乗じた値の総和を求めて、当該総和の逆数を前記接触性能係数として求める工程と、を順次行うことを特徴とする接触性能係数算出方法に存する。

以上説明したように請求項１及び２記載の発明によれば、シミュレーションによって接触抵抗に応じた接触性能係数を算出することができるので、設計者の経験に左右されることなく、端子金具と芯線との接続設計を誰もが簡単に、かつ、短時間に行えるように支援することができる。

以下、本発明の接触性能係数算出装置及び接触性能係数算出方法を図面に基づいて説明する。図１に示す接触性能係数算出装置６は、例えばパーソナルコンピュータから構成されていて、端子金具１と芯線３とを圧着して接続する際に、実際の圧着接続に先立って端子金具１−芯線３間の接触抵抗Ｒに応じた接触性能係数ＣＣを算出するための装置である。

同図に示すように、接触性能係数算出装置６は、入力装置７と、表示装置８と、マイクロコンピュータ（以下μＣＯＭ９）と、を備えている。入力装置７は、例えばキーボードや、マウスといった操作手段などから構成されていて、従来技術で説明した端子金具１のかしめ片２、芯線３、クリンパ４及びアンビル５の形状情報と、かしめ片２及び芯線３の材料の応力−歪特性である材料特性情報を入力するための装置である。上記形状情報としては、例えばＣＡＤで作成したかしめ片２、芯線３、クリンパ４及びアンビル５のＣＡＤデータなどが考えられる。

表示装置８は、例えば算出した接触性能係数を表示するための装置である。μＣＯＭ９は、接触性能係数算出装置６全体の制御を司り処理プログラムに従って各種の処理を行う中央演算処理ユニット（以下ＣＰＵ）１０と、ＣＰＵ１０が行う処理のプログラムなどを格納した読出専用のメモリであるＲＯＭ１１と、ＣＰＵ１０での各種の処理過程で利用するワークエリア、各種データを格納するデータ記憶エリアなどを有する読出書込自在のメモリであるＲＡＭ１２と、を有している。

次に、上述した構成の接触性能係数算出装置６の動作について図２〜図４を参照して以下説明する。まず、入力装置７によって解析シミュレーション処理の開始操作が行われると、ＣＰＵ１０は、解析シミュレーション処理を開始する。まず、ＣＰＵ１０は、上述した端子金具１のかしめ片２、芯線３、クリンパ４及びアンビル５の形状情報と、かしめ片２及び芯線３の材料特性情報を入力させるための入力画面を表示装置８に表示させる入力処理を行う（図２のステップＳ１）。

ユーザは、表示装置８の表示に従って入力装置７のキーボードやマウスといった操作手段を操作して上記形状情報、材料特性情報を入力させる。なお、端子金具１の種類Ａ、Ｂ、Ｃ…、芯線３の種類Ａ、Ｂ、Ｃ…、圧着型であるクリンパ４及びアンビル５の種類Ａ、Ｂ、Ｃ…に応じた形状情報、材料特性情報を予めＲＯＭ１１内に記録させて、ユーザにより端子金具１、芯線３、圧着型であるクリンパ４及びアンビル５の種類を選択させることで、上記形状情報、材料情報を入力させるようにしてもよい。

その後、ＣＰＵ１０は、有限要素モデル変換処理を行う（ステップＳ２）。有限要素モデル変換処理においてＣＰＵ１０は、図３（Ａ）に示すように、上記入力処理によって入力されたかしめ片２及び芯線３をそれぞれ複数の要素に分割したかしめ片モデル２ｍ及び芯線モデル３ｍに変換する。この有限要素モデル変換処理においてＣＰＵ１０は、請求項中の芯線モデル取得手段、かしめ片モデル取得手段として働く。

次に、ＣＰＵ１０は、変形算出処理を行う（ステップＳ３）。変形算出処理においてＣＰＵ１０は、図３（Ｂ）〜（Ｄ）に示すように、有限要素法を用いてクリンパ４とアンビル５との間に挟んで芯線３をかしめ片２によりかしめた後にクリンパ４及びアンビル５を離してかしめ片２及び芯線３に加えられた負荷を除荷した後の芯線モデル３ｍ及びかしめ片モデル２ｍを構成する各節Ｎの変位及び各節Ｎに作用する力Ｐを算出する。この変形算出処理においてＣＰＵ１０は、請求項中の変形算出手段として働く。

上記クリンパ４及びアンビル５を近づけてかしめ片２をかしめた後にクリンパ４及びアンビル５を離してかしめ片２及び芯線３に加えられた負荷を除荷すると、かしめ片２及び芯線３にはスプリングバックと呼ばれる弾性回復現象が生じる。よって、上記変形算出処理により、スプリングバック後の芯線モデル３ｍ及びかしめ片モデル２ｍを構成する各節Ｎの変位及び各節Ｎに作用する力Ｐを算出することができる。

その後、ＣＰＵ１０は、ステップＳ４〜Ｓ６を実行して、上記変形算出処理によって求めた各節Ｎの変位及び各節Ｎに作用する力Ｐからかしめ片２及び芯線３間の接触抵抗Ｒに応じた後述する接触性能係数ＣＣを求める。上記接触抵抗Ｒは、かしめ片２及び芯線３間の接触面積、接触圧力が大きくなるに従って小さくなる。そこで、ＣＰＵ１０は、下記のステップＳ４及びＳ５を実行して、図３に示すような断面上のかしめ片２及び芯線３間の接触長さを接触面積に応じた値として求める。

即ち、ＣＰＵ１０は、節抽出手段として働き、上述した変形算出処理により算出された各節Ｎの変位からスプリングバック後の芯線モデル３ｍの輪郭上の節Ｎのうちかしめ片モデル２ｍに接触する節Ｎ_Sを抽出する節抽出処理を行う（ステップＳ４）。結果を図４（Ａ）に示す。同図に示すように、節抽出処理を行った結果、例えば総数ｎ個の節Ｎ_Sが抽出される。なお、図４（Ａ）中のＰ_SはステップＳ４で抽出した芯線モデル３ｍ上の節Ｎ_Sに作用する力、即ち、ステップＳ４で抽出した芯線モデル３ｍ上の節Ｎ_Sからかしめ片２モデルに作用する接触圧力を示す。次に、ＣＰＵ１０は、第１の距離算出手段、第２の距離算出手段、接触長さ算出手段として働き、節抽出処理により抽出した各節Ｎ_Sにおけるスプリングバック後のかしめ片２と芯線３との接触長さを求める接触長さ算出処理を行う（ステップＳ５）。図４（Ｂ）に示すように、かしめ片モデル２ｍと芯線モデル３ｍとは点（節）で接触しているが、本発明者は、実際にはステップＳ４で抽出された任意の節Ｎ_Skでは、下記の式（２）で示す接触長さＬ_kで接触していると仮定した。
Ｌ_k＝（Ｌ_k+1＋Ｌ_k-1）／２ …（２）

なお、Ｌ_k+1は抽出された任意の節Ｎ_Sk及び節Ｎ_k+1間の距離（第１の距離）である。上記節Ｎ_k+1は、芯線モデル３ｍの輪郭上の節Ｎのうち節Ｎ_Skに隣接する一対の節Ｎ_k+1、Ｎ_k-1の一方である。Ｌ_k-1は抽出された任意の節Ｎ_Sk及び節Ｎ_k-1間の距離（第２の距離）である。上記節Ｎ_k-1は、芯線モデル３ｍの輪郭上の節Ｎのうち節Ｎ_Skに隣接する一対の節Ｎ_k+1、Ｎ_k-1の他方である。

次に、ＣＰＵ１０は、接触性能係数算出手段として働き、下記の式（１）に示すように、ステップＳ４で抽出された全ての、即ち総数ｎ個の節Ｎ_Sについて求めた接触長さＬ_kとステップＳ４で抽出された節Ｎ_Sがかしめ片モデル２ｍに作用する接触圧力Ｐ_SKとを乗じた値の総和を求めて、当該総和の逆数を接触性能係数ＣＣとして求める接触性能係数算出処理を行った後（ステップＳ６）、その算出した接触性能係数ＣＣを表示装置８に表示して（ステップ７）、解析シミュレーション処理を終了する。

上記接触性能係数ＣＣは、式（１）からも明らかなように、接触抵抗Ｒと同様にかしめ片２及び芯線３間の接触長さ（面積）Ｌ_k、接触圧力Ｐ_Skが大きくなるに従って小さくなる係数である。即ち、本発明者は、上記式（１）に示す接触性能係数ＣＣが接触抵抗Ｒに応じた値になるだろうと仮定した。

次に、本発明の発明者は、図５に示すサンプル品（１）〜（５）について前述した本発明品を用いて算出した接触性能係数ＣＣと、図５に示すサンプル品（１）〜（５）を実際に試作して冷熱衝突試験を実行した後に計測した接触抵抗Ｒと、比較した。結果を図６に示す。サンプル品（１）は、種類Ａの芯線３、種類Ａの端子金具１、種類Ａの圧着型（クリンパ４、アンビル５）を用いて、芯線３を端子金具１のかしめ片２でかしめた品である。同様に、サンプル品（２）は種類Ａの芯線３、種類Ｂの端子金具１、種類Ａの圧着型、サンプル品（３）は種類Ａの芯線３、種類Ａの端子金具１、種類Ｂの圧着型、サンプル品（４）は種類Ａの芯線３、種類Ｃの端子金具１、種類Ａの圧着型、サンプル品（５）は種類Ａの芯線３、種類Ａの端子金具１、種類Ｃの圧着型を各々用いて、芯線３を端子金具１のかしめ片２でかしめた品である。

図６に示すように、実測値である導体圧縮比率％（＝クリンプ高さ）に応じた接触抵抗Ｒは、サンプル品（４）、サンプル品（３）、サンプル品（２）、サンプル品（１）、サンプル品（５）の順で大きくなる。よって、実測品の性能としては、サンプル品（４）が１番良く、サンプル品（３）、サンプル品（２）、サンプル品（１）、サンプル品（５）の順で悪くなる。

これに対して、シミュレーション値である導体圧縮比率％に応じた接触性能係数ＣＣも、サンプル品（４）、サンプル品（３）、サンプル品（２）、サンプル品（１）、サンプル品（５）の順で大きくなる。よって、実測品と同様に、シミュレーション値である接触性能係数ＣＣからもサンプル品（４）が１番良く、サンプル品（３）、サンプル品（２）、サンプル品（１）、サンプル品（５）の順で悪くなることが分かる。即ち、式（１）に示す接触性能係数ＣＣが接触抵抗Ｒに応じた値になっていることが分かった。

上述した接触性能係数算出装置６によれば、実際に複数のサンプル品を作ってその接触抵抗Ｒを実測しなくても、シミュレーション値である接触性能係数ＣＣを算出することにより、複数のサンプル品の接触抵抗Ｒの大きさを比較することができる。このため、設計者の経験に左右されることなく、端子金具１と芯線３との接続設計を誰もが簡単に、かつ、短時間に行えるように支援することができる。

なお、上述した実施形態によれば、入力処理によって入力されたかしめ片２及び芯線３をそれぞれかしめ片モデル２ｍ及び芯線モデル３ｍに変換する有限要素モデル変換処理を設けていたが、本発明はこれに限ったものではない。例えば、端子金具１の種類Ａ、Ｂ、Ｃ…に応じたかしめ片モデル２ｍ及び芯線３の種類Ａ、Ｂ、Ｃ…に応じた芯線モデル３ｍを予めＲＯＭ１１内に記録させて、ユーザにより端子金具１及び芯線３の種類を選択させることで、入力処理によって上記かしめ片モデル２ｍ、芯線モデル３ｍを入力させるようにしてもよい。この場合、有限要素モデル変換処理を行う必要がない。

また、前述した実施形態は本発明の代表的な形態を示したに過ぎず、本発明は、実施形態に限定されるものではない。即ち、本発明の骨子を逸脱しない範囲で種々変形して実施することができる。

本発明の接触性能係数算出方法を実施した接触性能係数算出装置の一実施の形態を示すブロック図である。 図１に示すＣＰＵの解析シミュレーション処理手順を示すフローチャートである。 図２に示す変形算出処理を説明するための説明図である。 （Ａ）は図２に示す変形算出処理結果を説明するための説明図であり、（Ｂ）は（Ａ）のＸ部の拡大図である。 サンプル品（１）〜（５）に対応する芯線、端子金具及び圧着型の種類、接触抵抗の序列、接触性能係数の序列を示す表である。 導体圧縮率に対応するサンプル品（１）〜（５）の接触抵抗及び接触性能係数を示すグラフである。 （Ａ）は圧着接続に用いられる端子金具の形状を示す側面図であり、（Ｂ）は圧着作業に用いられるアンビルとクリンパとの形状を示す図であり、（Ｃ）は端子金具と芯線との圧着作業中の状態を示す図であり、（Ｄ）は端子金具と芯線との圧着後の状態を示す図である。 圧着接続を行った際のクリンプ高さ対固着力及び接触抵抗の関係を示すグラフである。

符号の説明

１ 端子金具
２ かしめ片
３ 芯線
４ クリンパ（上型）
５ アンビル（下型）
６ 接触性能係数算出装置
１０ ＣＰＵ（芯線モデル取得手段、かしめ片モデル取得手段、変形算出手段、節抽出手段、第１の距離算出手段、第２の距離算出手段、接触長さ算出手段、接触性能係数算出手段）
Ｌ_k+1 距離（第１の距離）
Ｌ_k-1 距離（第２の距離）
Ｎ 節
Ｎ_S 節
Ｎ_Sk 節

Claims (2)

1. 端子金具に設けられたかしめ片と、前記かしめ片にかしめられる芯線と、の接触抵抗に応じた接触性能係数を算出する接触性能係数算出装置であって、
   前記芯線を複数の要素に分割した芯線モデルを取得する芯線モデル取得手段と、
   前記かしめ片を複数の要素に分割したかしめ片モデルを取得するかしめ片モデル取得手段と、
   上型及び下型の間に挟んで前記芯線を前記かしめ片によりかしめた後の前記芯線モデル及び前記かしめ片モデルを構成する各節の変位及び各節に作用する力を有限要素法により算出する変形算出手段と、
   前記変形算出手段により算出された前記各節の変位から前記かしめた後の前記芯線モデルの輪郭上の節のうち前記かしめ片モデルに接触する節を抽出する節抽出手段と、
   前記節抽出手段により抽出された節、及び、前記かしめた後の前記芯線モデルの輪郭上の節のうち前記節抽出手段により抽出された節に隣接する一対の節の一方、間の第１の距離を求める第１の距離算出手段と、
   前記節抽出手段により抽出された節、及び、前記かしめた後の前記芯線モデルの輪郭上の節のうち前記節抽出手段により抽出された節に隣接する一対の節の他方、間の第２の距離を求める第２の距離算出手段と、
   前記第１の距離、及び、前記第２の距離、の和の１／２を前記節抽出手段により抽出された節の接触長さとして求める接触長さ算出手段と、
   前記節抽出手段により抽出された全ての節について求めた前記接触長さと前記節抽出手段により抽出された節が前記かしめ片モデルに作用する力とを乗じた値の総和を求めて、当該総和の逆数を前記接触性能係数として求める接触性能係数算出手段と、
   を備えたことを特徴とする接触性能係数算出装置。
2. 端子金具に設けられたかしめ片と、前記かしめ片にかしめられる芯線と、の接触抵抗に応じた接触性能係数を算出する接触性能係数算出方法であって、
   前記芯線を複数の要素に分割した芯線モデル、及び、前記かしめ片を複数の要素に分割したかしめ片モデル、を取得する工程と、
   上型及び下型の間に挟んで前記芯線を前記かしめ片によりかしめた後の前記芯線モデル及び前記かしめ片モデルを構成する各節の変位及び各節に作用する力を有限要素法により算出する工程と、
   前記算出された各節の変位から前記かしめた後の前記芯線モデルの輪郭上の節のうち前記かしめ片モデルに接触する節を抽出する工程と、
   前記抽出された節、及び、前記かしめた後の前記芯線モデルの輪郭上の節のうち前記抽出された節に隣接する一対の節の一方、間の第１の距離を求める工程と、
   前記抽出された節、及び、前記かしめた後の前記芯線モデルの輪郭上の節のうち前記抽出された節に隣接する一対の節の他方、間の第２の距離を求める工程と、
   前記第１の距離、及び、前記第２の距離、の和の１／２を前記抽出された節の接触長さとして求める工程と、
   前記抽出された全ての節について求めた前記接触長さと前記抽出された節が前記かしめ片モデルに作用する力とを乗じた値の総和を求めて、当該総和の逆数を前記接触性能係数として求める工程と、
   を順次行うことを特徴とする接触性能係数算出方法。

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