JP2009186457A5 - - Google Patents
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Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2008284425A JP5264418B2 (ja) | 2008-01-08 | 2008-11-05 | 熱型赤外線検出素子 |
| US12/346,126 US8357900B2 (en) | 2008-01-08 | 2008-12-30 | Thermal infrared detecting device |
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2008001118 | 2008-01-08 | ||
| JP2008001118 | 2008-01-08 | ||
| JP2008284425A JP5264418B2 (ja) | 2008-01-08 | 2008-11-05 | 熱型赤外線検出素子 |
Publications (3)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2009186457A JP2009186457A (ja) | 2009-08-20 |
| JP2009186457A5 true JP2009186457A5 (https=) | 2011-01-20 |
| JP5264418B2 JP5264418B2 (ja) | 2013-08-14 |
Family
ID=41069831
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2008284425A Active JP5264418B2 (ja) | 2008-01-08 | 2008-11-05 | 熱型赤外線検出素子 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP5264418B2 (https=) |
Families Citing this family (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP5747498B2 (ja) * | 2010-01-06 | 2015-07-15 | セイコーエプソン株式会社 | センサーデバイス及び電子機器 |
| US8803063B2 (en) * | 2010-02-19 | 2014-08-12 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Photodetector circuit |
| EP3447461B1 (en) * | 2016-04-19 | 2020-04-01 | Mitsubishi Electric Corporation | Infrared imaging element and infrared camera |
| WO2018235817A1 (ja) * | 2017-06-23 | 2018-12-27 | パイオニア株式会社 | 電磁波検出装置 |
| WO2018235819A1 (ja) * | 2017-06-23 | 2018-12-27 | パイオニア株式会社 | 電磁波検出装置 |
| CN115053113B (zh) * | 2020-02-10 | 2025-09-09 | 三菱电机株式会社 | 红外线检测元件 |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP3583704B2 (ja) * | 2000-01-12 | 2004-11-04 | 独立行政法人 科学技術振興機構 | 温度測定装置、熱型赤外線イメージセンサ及び温度測定方法 |
| JP2004233314A (ja) * | 2003-02-03 | 2004-08-19 | Mitsubishi Electric Corp | 熱型赤外線固体撮像素子 |
| JP2009265000A (ja) * | 2008-04-28 | 2009-11-12 | Mitsubishi Electric Corp | 熱型赤外線検出素子 |
-
2008
- 2008-11-05 JP JP2008284425A patent/JP5264418B2/ja active Active
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