JP2009180625A - コイル検査装置及びコイル検査方法 - Google Patents

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Abstract

【課題】検査にかかる時間を短縮することができるコイル検査装置を提供する。
【解決手段】本発明の一態様に係るコイル検査装置は、被検査コイルWが載置される検査槽11と、検査槽11内に貯留された導電性の検査液12と、検査槽11内に設けられた電極13と、被検査コイルWと電極13との間に電圧を印加する電源14と、被検査コイルWと電極13との間に流れる電流値を計測する電流計測器15と、電流計測器15で計測された電流値の整定値を予測する演算部20を備える。
【選択図】図1

Description

本発明は、コイルに発生した傷を検出するコイル検査装置及びコイル検査方法に関する。
モータのステータに組み付けられるステータコイル等のコイルにおいては、巻線の絶縁被覆部材に傷が存在し内部の導体が露出していると、絶縁劣化や短絡が発生する原因となり得る。このようなコイルに存在する傷の検査方法として、コイルを検査槽内に貯留された導電性の溶液中に浸漬し、検査槽内に設けられた基準電極との間のコイル傷による漏れ電流の大きさを測定し、コイル傷の大きさを検査する技術が提案されている(例えば、特許文献1)。
特許第3614141号公報
被検査コイルの巻線の長さは数十m程度と長いため、数十cm程度の基準電極と比較すると、そのキャパシタンス成分が大きいと考えられる。このため、コイル傷による漏れ電流は、被検査コイルに電圧を印加してから整定するまでに長時間を要する。従って、この検査を製造工程へ適用する場合、タクトタイムを満足できないという問題がある。
本発明は、このような事情に鑑みてなされたものであり、本発明の目的は、検査にかかる時間を短縮することができるコイル検査装置及びコイル検査方法を提供することである。
本発明の第1の態様に係るコイル検査装置は、被検査コイルが載置される検査槽と、前記検査槽内に貯留された導電性の検査液と、前記検査槽内に設けられた電極と、前記被検査コイルと前記電極との間に電圧を印加する電源と、前記被検査コイルと前記電極との間に流れる電流値を計測する電流計測器と、前記電流計測器で計測された前記電流値から、前記電流値の整定値を予測する整定電流導出部とを備えるものである。これにより、コイル傷による漏れ電流の整定値を予測することができ、検査にかかる時間を短縮することが可能となる。
本発明の第2の態様に係るコイル検査装置は、上記のコイル検査装置において、前記整定電流導出部は、過渡電流式を解くことにより前記電流値の整定値を予測するものである。これにより、簡便にコイル傷による漏れ電流の整定値を予測することができる。
本発明の第3の態様に係るコイル検査装置は、上記のコイル検査装置において、前記整定電流導出部は、以下の式により、前記電流値の整定値を予測するものである。
α=(Y1・y2−Y2・y1)/(Y1−Y2) [μA]
ここで、
α:予測整定電流値
y1:時間t1における前記電流計測器で計測された電流値
y2:時間t2における前記電流計測器で計測された電流値
Y1:時間t1での、時間と前記電流計測器で計測された電流値のグラフにおける傾き
Y2:時間t2での、時間と前記電流計測器で計測された電流値のグラフにおける傾き
このように、簡単な演算でコイル傷による漏れ電流の整定値を予測することができる。
本発明の第4の態様に係るコイル検査装置は、上記のコイル検査装置において、前記電流計測器で計測した計測時間内において、前記電流計測器で計測された電流値のグラフにおける近似曲線の決定係数が最大となるように、前記時間t1、t2を決定する近似区間決定部を備えるものである。これにより、予測した整定電流の精度を向上させることができる。
本発明の第5の態様に係るコイル検査装置は、上記のコイル検査装置において、前記整定電流導出部で予測された前記電流値の予測整定電流値に基づいて、前記被検査コイルの傷の大きさを導出する傷サイズ導出部を備えるものである。これにより、コイル傷の大きさを判定することができる。
本発明の第6の態様に係るコイル検査方法は、被検査コイルと電極とを導電性の検査液に浸漬し、前記被検査コイルと前記電極との間に電圧を印加し、前記被検査コイルと前記電極との間に流れる電流値を計測し、計測された前記電流値から、前記電流値の整定値を予測する。これにより、コイル傷による漏れ電流の整定値を予測することができ、検査にかかる時間を短縮することが可能となる。
本発明の第7の態様に係るコイル検査方法は、上記のコイル検査方法において、前記電流値の整定値を、過渡電流式を解くことにより予測する。これにより、簡便にコイル傷による漏れ電流の整定値を予測することができる。
本発明の第8の態様に係るコイル検査方法は、上記のコイル検査方法において、前記電流値の整定値を、以下の式により予測する。
α=(Y1・y2−Y2・y1)/(Y1−Y2) [μA]
ここで、
α:予測整定電流値
y1:時間t1における前記電流計測器で計測された電流値
y2:時間t2における前記電流計測器で計測された電流値
Y1:時間t1での、時間と前記電流計測器で計測された電流値のグラフにおける傾き
Y2:時間t2での、時間と前記電流計測器で計測された電流値のグラフにおける傾き
このように、簡単な演算でコイル傷による漏れ電流の整定値を予測することができる。
本発明の第9の態様に係るコイル検査方法は、上記のコイル検査方法において、前記時間t1、t2は、前記電流計測器で計測した計測時間内において、前記電流計測器で計測された電流値のグラフにおける近似曲線の決定係数が最大となるように決定する。これにより、予測した整定電流の精度を向上させることができる。
本発明の第10の態様に係るコイル検査方法は、上記のコイル検査方法において、前記整定電流導出部で予測された前記電流値の予測整定電流値に基づいて、前記被検査コイルの傷の大きさを導出する。これにより、コイル傷の大きさを判定することができる。
本発明によれば、検査にかかる時間を短縮することができるコイル検査装置及びコイル検査方法を提供することができる。
以下、本発明の実施形態について、図面を参照して説明する。説明の明確化のため、以下の記載及び図面は、適宜、省略、及び簡略化がなされている。各図面において同一の構成要素には同一の符号を付し、その説明を適宜省略する。
本発明は、導電性の検査液に被検査コイルと電極とを浸漬し、直流電圧を印加することで、被検査コイルの傷(導体露出部分)と電極間を流れる電流から、傷の大きさ(傷サイズ)を判定するコイル検査装置及びコイル検査方法に適用される。
本発明の実施の形態に係るコイル検査装置について、図1、2を参照して説明する。図1は、本実施の形態に係るコイル検査装置10の構成を示す図である。図2は、図1に示す演算部20の構成を示すブロック図である。図1に示すように、本実施の形態に係るコイル検査装置10は、検査槽11、検査液12、電極13、直流電源14、電流計測器15、演算部20を備えている。本実施の形態に係るコイル検査装置10は、モータのステータに組み付けられるステータコイル等の被検査コイルWを検査対象とする。
検査槽11は、導電性の検査液12を貯留する。検査液は、導電性の非破壊溶液である。検査液12としては、例えば、フッ素系溶剤、アルコール溶剤等を用いることができる。検査槽11内には、被検査コイルWと電極13とが配置される。被検査コイルWと電極13とは、検査液12内に浸漬される。
電極13は、配線16によって直流電源14の+端子に接続されている。被検査コイルWは、配線17によって電流計測器15に接続されている。電流計測器15は、配線によって直流電源14の−端子に接続されている。また、電流計測器15は、演算部20に接続されている。
直流電源14は、被検査コイルWと電極13との間に直流電流を印加する。電流計測器15は、被検査コイルWと電極13との間に流れる電流を計測する。被検査コイルWは、導体からなる巻線を絶縁被覆部材が覆った構成を有している。絶縁被覆部材に傷が存在し内部の導体が露出している箇所をコイル傷という。コイル傷としては、例えば、絶縁被覆部材であるエナメル剥がれ等が挙げられる。コイル傷による漏れ電流が、電流計測器15によって計測される。
具体的には、検査槽11に貯留される検査液12に浸漬された被検査コイルW、電極13間に、直流電源14によって直流電圧を印加する。被検査コイルWと電極13の間に印加された直流電流によって、被検査コイルWの傷(導体露出部分)と電極13との間に電流が流れる。この電流の流れを図1では、矢印とeを用いて示している。
ここで、図2を参照して、演算部20の構成について詳細に説明する。図2に示すように、演算部20は、近似区間決定部21、整定電流導出部22、傷サイズ導出部23、傷判定部24を備えている。近似区間決定部21は、電流計測器15が計測した電流値に基づいて、整定電流を導出する際の近似区間を決定する。整定電流導出部22は、近似区間決定部21において決定された近似区間を用いて、整定電流を予測する。具体的な整定電流の導出方法については、後述する。
傷サイズ導出部23は、整定電流導出部22で予測された整定電流値に基づいて、傷の大きさを導出する。傷判定部24は、傷サイズ導出部23で導出された傷の大きさに応じて、当該被検査コイルWが良品であるか不良品であるかを判定する。
ここで、整定電流の導出方法について図3、4を参照して説明する。図3は、本実施の形態に係るコイル検査装置10を示す等価回路である。図3に示すように、本実施の形態に係るコイル検査装置10は、RC直列回路に置き換えることができる。この等価回路は回路方程式で表現することができ、この方程式を解くことにより、過渡電流式が求められる。
図3に示す等価回路を流れる電流I(t)[μA]は、キャパシタCに蓄えられた初期電荷Q=0とすると、
I(t)=E/Re−t/RC・・・(1)
と表すことができる。
なお、Eは印加電圧[V]、Rはコイルの抵抗、Cは計測系の容量[F]である。図4に示すように、I(t)は0に収束していく。
本実施の形態では、図5に示すように、経過時間に伴って電流値はある値(整定電流値)に収束する。しかしながら、コイル傷による漏れ電流は、被検査コイルに電圧を印加してから整定するまでに長時間を要するため、本発明では以下のアルゴリズムに従って整定電流値を予測する。
図5に示す計測した電流波形を、
y=A・eBt+α ・・・(2)
と表す。ここで、tは時間、yは時間tにおける計測された電流値、αは予測整定電流値、A、Bは定数である。
時間t1のときの電流値をy1とすると、
y1=A・eBt1+α ・・・(3)
時間t2のときの電流値をy2とすると、
y2=A・eBt2+α ・・・(4)
となる。
これらをそれぞれ微分すると、
Y1=A・BeBt1 ・・・(5)
Y2=A・BeBt2 ・・・(6)
となる。
式5へ式3を代入すると、
Y1=B(y1−α) ・・・(7)
式6に式4を代入すると、
Y2=B(y1−α) ・・・(8)
となる。
式(7)、(8)からBを消去して、予測整定電流値αを求める。
α=(Y1・y2―Y2・y1)/(Y1−Y2)
従って、時間t1、t2のときの計測された電流値y1、y2、及び図5に示すグラフの時間t1、t2における傾きY1、Y2を求めることで、簡単な演算で予測整定電流値αを予導出することができる。すなわち、有限の時間内の計測値から無限時間計測後の整定電流値を予測することができる。
時間t1、t2は、電流計測器15で電流値を計測した時間内において様々な近似区間で近似を行い、決定関数Rが最大となる近似区間を求め、この近似区間のTSTART、TENDの計測電流値を用いて整定電流値を導出することが好ましい。これにより、予測した整定電流値の精度を向上させることが可能となる。また、直流電圧を印加した直後は、突入電流と呼ばれる大電流が被検査コイルWと電極13との間に流れることがある。このため、直流電流を印加した直後から5秒程度の期間を整定電流の予測に用いないことが好ましい。
そして、予測された整定電流値から、被検査コイルWの傷の大きさを求めることができる。図6に、予測された整定電流値[μA]と傷の大きさ(傷サイズ)[mm]の関係を示す。図6に示すように、整定電流値[μA]と傷の大きさ[mm]とは、整定電流値の増大に伴って、傷の大きさも増大する比例関係にあることが判る。このような整定電流値と傷の大きさとの関係は、コイルの種類(例えば、巻線の太さ等)により異なる。従って、あらかじめ図6に示すようなデータをとっておき、作成したグラフから傷大きさを求めることができる。
次に、図7を参照して、本実施の形態に係るコイル検査方法について説明する。図7は、本実施の形態に係るコイル検査方法を説明するためのフロー図である。まず、漏れ電流値を計測する(ステップS1)。具体的には、まず、検査槽11に検査液12が供給され、被検査コイルW、電極13が浸漬される。そして、直流電源14によって直流電圧を印加する。被検査コイルWと電極13の間に印加された直流電流によって、被検査コイルWの傷(導体露出部分)と電極13との間に電流が流れる。この電流を電流計測器15によって所定の時間計測することにより、漏れ電流値が計測される。本実施の形態では、例えば、180secまで漏れ電流を計測する。
そして、計測した時間内において、指数近似を行う(ステップS2)。近似開始時間をTSTART、近似終了時間をTENDとする。その後、その指数近似曲線の決定関数Rを導出する(ステップS3)。決定関数Rは、寄与率ともいわれる。この決定関数Rが1に近いほど、回帰のあてはまりが良い。従って、決定関数Rが最大となる近似区間を求め、この近似区間のTSTART、TENDの計測電流値を、決定関数Rを予測整定電流値の導出に用いることが好ましい。
例えば、180[sec]まで、漏れ電流を計測した場合、スキャン間隔を5[sec]と設定すると、近似区間を0〜180、5〜180、・・・として、それぞれの近似区間における決定関数Rを求める。そして、計算が終了したか否かが判断される(ステップS4)。計算完了条件として、決定関数Rが、最大となる区間が見つかったか否かが判断される。この計算が完了しない場合(ステップS4NO)、再度ステップ2、3に戻り、決定関数Rを求める。
計測した時間内において、すべての決定関数Rの計算が完了した場合(ステップS4YES)、近似区間が決定される(ステップS5)。上述したように、決定関数Rが最大となる近似区間が、整定電流値の予測に用いるために決定される。その後、決定関数Rが設定値以上であるか否かが判断される(ステップS6)。この決定関数Rが計測期間内において最大であっても、設定値よりも低いと回帰のあてはまりが悪く、精度よく整定電流値を予測することができない。
このため、決定関数Rが設定値以上(例えば0.9以上)となる場合(ステップS6YES)に、整定電流値を上述のアルゴリズムに従って導出する(ステップS7)。すなわち、決定関数Rが最大となる近似区間で、決定関数Rが設定値以上のTSTART、TENDを、t1、t2として予測整定電流値αを導出する。そして、予測した整定電流値に基づいて、図6を参照して、傷サイズを導出する(ステップS8)。
一方、決定関数Rが設定値未満(例えば0.9未満)となる場合(ステップS6NO)に、上述のアルゴリズムでの整定電流値の導出を行わず、例えば計測時間の最後の所定の期間内の平均電流値を使用して傷サイズを導出する。(ステップS8)。なお、この場合には、この傷サイズは、信頼性が低いデータとして注釈表示を行うようにしてもよい。
そして、導出した傷サイズが、所定の設定値以上であるか否かが判定される(ステップS9)。この傷サイズが所定の設定値以上の場合(ステップS9YES)、当該被検査コイルWは不良品としてNG判定となる。また、この傷サイズが所定の設定値未満の場合(ステップS9No)、当該被検査コイルWは良品としてOK判定となる。
従来は、漏れ電流値が収束し、整定電流値を求めるのにするのに10分以上かかっていたが、本発明によれば、所定の期間漏れ電流値を計測するだけで、整定電流値を精度よく予測することが可能となる。これにより、被検査コイルWの検査に係る時間を短縮することができ、製造工程のタクトタイムを満足することが可能となる。
なお、本発明は上記に示す実施形態に限定されるものではない。本発明の範囲において、上記実施形態の各要素を、当業者であれば容易に考えうる内容に変更、追加、変換することが可能である。
実施の形態に係るコイル検査装置の構成を示す図である。 図1のコイル検査装置に設けられた演算部の構成を示すブロック図である。 図1のコイル検査装置を示す等価回路である。 一般的な過渡現象を説明するためのグラフである。 経過時間に伴って電流値が推移する例を示すグラフである。 電流値と傷サイズとの関係の一例を示す図である。 実施の形態に係るコイル検査方法を説明するためのフロー図である。
符号の説明
10 コイル検査装置
11 検査槽
12 検査液
13 電極
14 直流電源
15 電流計測器
20 演算部
21 近似区間決定部
22 整定電流導出部
23 傷サイズ導出部
24 傷判定部
W 被検査コイル

Claims (10)

  1. 被検査コイルが載置される検査槽と、
    前記検査槽内に貯留された導電性の検査液と、
    前記検査槽内に設けられた電極と、
    前記被検査コイルと前記電極との間に電圧を印加する電源と、
    前記被検査コイルと前記電極との間に流れる電流値を計測する電流計測器と、
    前記電流計測器で計測された前記電流値から、前記電流値の整定値を予測する整定電流導出部と、
    を備えるコイル検査装置。
  2. 前記整定電流導出部は、過渡電流式を解くことにより前記電流値の整定値を予測する請求項1に記載のコイル検査装置。
  3. 前記整定電流導出部は、以下の式により、前記電流値の整定値を予測する請求項1に記載のコイル検査装置。
    α=(Y1・y2−Y2・y1)/(Y1−Y2) [μA]
    ここで、
    α:予測整定電流値
    y1:時間t1における前記電流計測器で計測された電流値
    y2:時間t2における前記電流計測器で計測された電流値
    Y1:時間t1での、時間と前記電流計測器で計測された電流値のグラフにおける傾き
    Y2:時間t2での、時間と前記電流計測器で計測された電流値のグラフにおける傾き
  4. 前記電流計測器で計測した計測時間内において、前記電流計測器で計測された電流値のグラフにおける近似曲線の決定係数が最大となるように、前記時間t1、t2を決定する近似区間決定部を備える請求項3に記載のコイル検査装置。
  5. 前記整定電流導出部で予測された前記電流値の予測整定電流値に基づいて、前記被検査コイルの傷の大きさを導出する傷サイズ導出部を備える1〜4のいずれか1項に記載のコイル検査装置。
  6. 被検査コイルと電極とを導電性の検査液に浸漬し、
    前記被検査コイルと前記電極との間に電圧を印加し、
    前記被検査コイルと前記電極との間に流れる電流値を計測し、
    計測された前記電流値から、前記電流値の整定値を予測するコイル検査方法。
  7. 前記電流値の整定値を、過渡電流式を解くことにより予測する請求項6に記載のコイル検査方法。
  8. 以下の式により予測する請求項6に記載のコイル検査方法。
    α=(Y1・y2−Y2・y1)/(Y1−Y2) [μA]
    ここで、
    α:予測整定電流値
    y1:時間t1における前記電流計測器で計測された電流値
    y2:時間t2における前記電流計測器で計測された電流値
    Y1:時間t1での、時間と前記電流計測器で計測された電流値のグラフにおける傾き
    Y2:時間t2での、時間と前記電流計測器で計測された電流値のグラフにおける傾き
  9. 前記時間t1、t2は、前記電流計測器で計測した計測時間内において、前記電流計測器で計測された電流値のグラフにおける近似曲線の決定係数が最大となるように決定する請求項8に記載のコイル検査方法。
  10. 前記整定電流導出部で予測された前記電流値の予測整定電流値に基づいて、前記被検査コイルの傷の大きさを導出する請求項6〜9のいずれか1項に記載のコイル検査装置。
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