JP2009175575A - 電気光学装置および電子機器 - Google Patents

Abstract

【課題】点灯検査を簡易に行うことができる電気光学装置を提供する。
【解決手段】点灯検査時においては、データ線駆動回路５０が基板１６上に実装されない状態で、電源用の端子を高位側電位供給線２０に接触させて高位側電位ＶＥＬを高位側電位供給線２０に供給するとともに、検査用の端子を発光制御線７０に接触させることによって発光信号ＡＬＬＥＭをハイレベルの状態にする。これにより、データ線駆動回路５０を基板１６上に実装しなくても、各単位回路Ｕにおける電気光学素子１００を発光させることができる。一方、電気光学装置１０の駆動時においては、発光信号ＡＬＬＥＭをローレベルに維持する。発光信号ＡＬＬＥＭがローレベルの場合は、論理回路２００は、データ信号Ｄの値に応じて駆動トランジスタＴｄを制御する。
【選択図】図２

Description

本発明は、電気光学素子を利用した電気光学装置および電子機器に関する。

近年、有機ＥＬ（ElectroLuminescent）素子や発光ポリマー素子などと呼ばれる有機発光ダイオード（Organic Light Emitting Diode、以下「ＯＬＥＤ」という）素子などの電気光学素子を用いた電気光学装置が各種提案されている。このような電気光学装置では、製品出荷前の入念な検査が必要不可欠であり、例えば特許文献１や特許文献２においては、基板上に実装された駆動用回路（例えば走査線駆動回路やデータ線駆動回路）が正常に動作しているか否かの検査を行っている。
特開２００３−２２８２９９号公報 特開２００４−１９９０５４号公報

ところで、特許文献１および特許文献２に記載された技術において、各電気光学素子が正常に動作するか否か（点灯するか否か、あるいは目標の階調に制御されるか否か）を判別するための検査（以下「点灯検査」という）を行うためには、実際に電気光学素子を駆動して発光させる必要がある。そのため、電気光学装置の点灯検査を行う際には、駆動用回路を基板上に実装して検査を行う必要がある。従って、検査工程が煩雑になるという問題があった。
本発明はこのような事情に鑑みてなされたものであり、電気光学装置の点灯検査を簡易に行うという課題の解決を目的としている。

上記課題を解決するため、本発明に係る電気光学装置は、階調を指定するデータ信号が供給されるデータ線と、発光信号が供給される発光制御線と、データ線および発光制御線が接続される複数の単位回路と、を備え、複数の単位回路の各々は、駆動電流に応じた輝度で発光する電気光学素子と、駆動電流を生成する駆動トランジスタと、発光信号が第１レベルにある場合は、データ信号の値に関わらず、駆動トランジスタが所定の大きさの駆動電流を生成し、発光信号が第２レベルにある場合は、単位回路に供給されるデータ信号に応じて駆動トランジスタを制御する制御回路と、を具備する。

以上の構成によれば、電気光学装置の点灯検査を行う際に、発光信号を制御回路に供給することによって電気光学素子を発光させることができる。従って、点灯検査の際に、電気光学素子の駆動に用いられる駆動用回路を実装する必要がないから、検査を簡便かつ迅速に行うことができる。

また、本発明に係る電気光学装置の好適な態様において、各単位回路における制御回路は、発光制御線に共通に接続される。この態様によれば、発光信号を発光制御線に供給することにより、各単位回路における電気光学素子を一斉に発光させることができる。従って、点灯検査の際に、各単位回路に対して個別に発光信号が供給される構成と比較して簡便に検査を行うことができる。

本発明に係る電気光学装置は、複数の単位回路と、発光信号が供給されて各単位回路に接続される発光制御線と、を備え、複数の単位回路の各々は、高位側電位供給線と低位側電位供給線との間に配置されて駆動電流に応じた輝度で発光する電気光学素子と、高位側電位供給線と電気光学素子との間に配置されて駆動電流を生成する駆動トランジスタと、 一方の端子が高位側電位供給線に接続されるとともに他方の端子が駆動トランジスタから電気光学素子に至る電流経路に接続され、ゲートが発光制御線に接続されるスイッチング素子と、を有する。

以上の構成によれば、電気光学装置の点灯検査を行う際に、発光信号が単位回路に供給されてスイッチング素子がオン状態に遷移することによって電気光学素子が発光する。すなわち、この構成によれば、点灯検査の際に、駆動用回路を実装する必要がない。また、本発明に係る電気光学装置の好適な態様において、各単位回路におけるスイッチング素子は、発光制御線に共通に接続される。

本発明に係る電気光学装置は各種の電子機器に利用される。この電子機器の典型例は、発光装置を表示装置として利用した機器である。この種の機器としては、パーソナルコンピュータや携帯電話機などがある。もっとも、本発明に係る発光装置の用途は画像の表示に限定されない。例えば、光線の照射によって感光体ドラムなどの像担持体に潜像を形成する構成の画像形成装置（印刷装置）においては、像担持体を露光する手段（いわゆる露光ヘッド）として本発明の電気光学装置を採用することもできる。

また、本発明に係る電気光学装置の検査方法は、駆動電流に応じた輝度で発光する電気光学素子と、駆動電流を生成する駆動トランジスタと、を各々が含む複数の単位回路と、階調を指定するデータ信号が供給されて各単位回路に接続されるデータ線と、を備えた電気光学装置の検査方法であって、各単位回路に接続される発光制御線に発光信号を供給して各単位回路における駆動トランジスタをオン状態に制御することによって各電気光学素子を発光させ、各電気光学素子の発光状態を検査する。この態様によれば、電気光学装置の点灯検査時において、駆動用回路を実装して検査を行う必要がないから、検査を簡便かつ迅速に行うことができる。

また、本発明に係る電気光学装置の検査方法は、高位側電位供給線と低位側電位供給線との間に配置されて駆動電流に応じた輝度で発光する電気光学素子と、高位側電位供給線と電気光学素子との間に配置されて駆動電流を生成する駆動トランジスタと、を含む複数の単位回路と、階調を指定するデータ信号が供給されて各単位回路に接続されるデータ線と、を備えた電気光学装置の検査方法であって、各単位回路の各々について、発光信号が供給されて各単位回路に接続される発光制御線と、駆動トランジスタから電気光学素子に至る電流経路とを導通させて電気光学素子を発光させ、電気光学素子の発光状態を検査する。また、本発明に係る電気光学装置の検査方法の好適な態様は、電気光学素子を発光させた後で、データ信号をデータ線に出力するデータ線駆動回路を実装する。すなわち、以上の態様によれば、電気光学装置の点灯検査時において、データ線駆動回路を実装して検査を行う必要がないから、検査を簡便かつ迅速に行うことができる。

＜Ａ：第１実施形態＞
図１は、本発明の第１実施形態に係る電気光学装置１０を露光装置（光ヘッド）として利用した画像形成装置の部分的な構成を示す斜視図である。同図に示すように、画像形成装置は電気光学装置１０と集光性レンズアレイ１２と感光体ドラム１４（像担持体）とを含む。電気光学装置１０は、基板１６の表面に直線状に配列された多数の電気光学素子（図１においては図示略）を含む。これらの電気光学素子は、用紙などの記録材に印刷されるべき画像の態様に応じて選択的に発光する。感光体ドラム１４は、主走査方向（図１に示すＸ方向）に延在する回転軸に支持され、外周面を電気光学装置１０に対向させた状態で副走査方向（図１に示すＹ方向）に回転する。

集光性レンズアレイ１２は電気光学装置１０と感光体ドラム１４との間隙に配置される。この集光性レンズアレイ１２は、各々の光軸を電気光学装置１０に向けた姿勢でアレイ状に配列された多数の屈折率分布型レンズを含む。このような集光性レンズアレイ１２としては、例えば日本板硝子株式会社から入手可能なＳＬＡ（セルフォック・レンズ・アレイ）がある（セルフォック／ＳＥＬＦＯＣは日本板硝子株式会社の登録商標）。

電気光学装置１０の各電気光学素子からの出射光は集光性レンズアレイ１２の各屈折率分布型レンズを透過したうえで感光体ドラム１４の表面に到達する。この露光によって感光体ドラム１４の表面には所望の画像に応じた潜像（静電潜像）が形成される。

図２は、電気光学装置１０の電気的な構成を示すブロック図である。図２に示すように、電気光学装置１０は、高位側電位ＶＥＬが供給される高位側電位供給線２０と、低位側電位ＶＣＴが供給される低位側電位供給線３０（接地線）と、データ信号Ｄが供給されるデータ線４０と、データ線駆動回路５０と、選択信号ＳＥＬが供給される選択線６０と、発光信号ＡＬＬＥＭが供給される発光制御線７０と、ｎ個の単位回路Ｕ（Ｕ_１〜Ｕ_ｎ）と、が基板１６上に配置された構造となっている。図２に示すデータ線駆動回路５０は、ＩＣチップとして基板１６上に実装され、各単位回路Ｕに対して階調を指定するデータ信号Ｄ（Ｄ_１〜Ｄ_ｎ）をデータ線４０に出力する。ｎ個の単位回路Ｕの各々には、高位側電位供給線２０、低位側電位供給線３０、データ線４０、選択線６０、発光制御線７０が共通に接続される。

図２に示すように、各単位回路Ｕは、電気光学素子１００と、駆動トラジスタＴｄと、論理回路２００と、記憶手段３００と、トランジスタＴｒと、を具備する。ここでは、第１段目の単位回路Ｕ_１について説明するが、他の単位回路Ｕ_２〜Ｕ_ｎも単位回路Ｕ_１と同じ構成である。駆動電流に応じた輝度で発光する電気光学素子１００は、陽極と陰極との間に有機ＥＬ材料の発光層を介在させたＯＬＥＤ素子である。図２に示すように、電気光学素子１００は、高位側電位供給線２０と低位側電位供給線３０との間に配置される。

駆動トランジスタＴｄは、そのゲート・ソース間電圧に応じた駆動電流を生成する。図２に示すように、Ｐチャネル型の駆動トランジスタＴｄは、高位側電位供給線２０と電気光学素子１００との間に配置され、ソースが高位側電位供給線２０に接続される一方、ドレインが電気光学素子１００に接続される。

論理回路２００は、駆動トランジスタＴｄを制御する制御回路である。図２に示すように、論理回路２００はＮＯＲ回路で構成され、発光制御線７０から供給される発光信号ＡＬＬＥＭと、データ線４０から供給されるデータ信号Ｄと、の否定論理和を駆動トランジスタＴｄのゲートに供給する。

論理回路２００は、発光信号ＡＬＬＥＭがハイレベルの場合は、データ信号Ｄが論理回路２００に供給されるか否かに関わらず駆動トランジスタＴｄをオン状態に制御し、発光信号ＡＬＬＥＭがローレベルの場合は、論理回路２００に供給されるデータ信号Ｄに応じて駆動トランジスタＴｄを制御する。発光信号ＡＬＬＥＭは、各単位回路Ｕにおける電気光学素子１００に対して強制発光を指定するか否かを決定する信号である。データ信号Ｄは、各単位回路Ｕにおける電気光学素子１００に対して点灯（高階調）および消灯（低階調）の何れかを指定する信号である。

図２に示す記憶手段３００は、論理回路２００へ供給されるデータ信号Ｄを保持する手段である。図２に示すように、記憶手段３００はＳＲＡＭ（Static Randam Access Memory）で構成される。

図２に示すトランジスタＴｒは、論理回路２００に対するデータ信号Ｄの供給の可否を決定する手段である。図２に示すように、Ｐチャネル型のトランジスタＴｒは、ソースがデータ線４０に接続される一方、ドレインが記憶手段３００に接続される。トランジスタＴｒのゲートは選択線６０に接続される。本形態では、制御回路（図示省略）から選択線６０に供給される選択信号ＳＥＬがローレベルの場合はトランジスタＴｒがオン状態に遷移する。これによって、データ線４０からのデータ信号Ｄが、トランジスタＴｒおよび記憶手段３００を介して論理回路２００に供給される。一方、選択信号ＳＥＬがハイレベルの場合はトランジスタＴｒがオフ状態となり、データ信号Ｄは論理回路２００へ供給されない。

次に、電気光学装置１０の点灯検査時の動作について説明する。本形態における点灯検査時においては、データ線駆動回路５０が基板１６上に実装される前の状態で、電源用の端子を高位側電位供給線２０に接触させて高位側電位ＶＥＬを高位側電位供給線２０に供給するとともに、検査用の端子を発光制御線７０に接触させることによって発光信号ＡＬＬＥＭをハイレベルの状態にする。

本形態では、電気光学素子１００の発光状態は図３のように制御される。図３に示すように、発光信号ＡＬＬＥＭがハイレベルの場合は、データ信号Ｄの値に関わらず電気光学素子１００は発光状態となる。さらに詳述すると、本形態では論理回路２００はＮＯＲ回路で構成されるから、発光信号ＡＬＬＥＭがハイレベルの場合は、データ信号Ｄの値に関わらず論理回路２００の出力はローレベルとなり、Ｐチャネル型の駆動トランジスタＴｄがオン状態となって所定の大きさの駆動電流が駆動トランジスタＴｄで生成される。駆動トランジスタＴｄで生成された駆動電流は電気光学素子１００に供給され、電気光学素子１００が発光する。そして、各単位回路Ｕにおける各電気光学素子１００の点灯状態を観察することで各電気光学素子１００の良否を判定する。以上の検査で良品と判定された場合には、データ線駆動回路５０が基板１６上に配置される。

次に、電気光学装置１０の駆動時の動作について説明する。この場合、図２に示す構成のもとで、発光信号ＡＬＬＥＭがローレベルに維持される。電気光学装置１０の駆動時においては、選択信号ＳＥＬがアクティブ状態（本形態ではローレベル）に遷移して各単位回路ＵにおけるトランジスタＴｒがオン状態となり、データ線駆動回路５０から出力されるデータ信号Ｄが各データ線４０を介して各単位回路Ｕに供給される。

図３に示すように、発光信号ＡＬＬＥＭがローレベルの場合は、論理回路２００は、データ信号Ｄの値に応じて駆動トランジスタＴｄを制御する。例えば、データ信号Ｄがハイレベルの場合は、論理回路２００の出力はローレベルとなって駆動トランジスタＴｄはオン状態となる。従って、図３に示すように、発光信号ＡＬＬＥＭがローレベルかつデータ信号Ｄがハイレベルの場合は、電気光学素子１００が発光する。一方、データ信号Ｄがローレベルの場合は、論理回路２００の出力はハイレベルとなって駆動トランジスタＴｄはオフ状態となる。従って、図３に示すように、発光信号ＡＬＬＥＭがローレベルかつデータ信号Ｄがローレベルの場合は、電気光学素子１００は消灯する。

以上に説明したように、本形態では、発光信号ＡＬＬＥＭがハイレベルの場合は電気光学素子１００に対して強制発光が指定され、発光信号ＡＬＬＥＭがローレベルの場合は電気光学素子１００に対する強制発光が解除される。また、本形態では、データ信号Ｄがハイレベルの場合は電気光学素子１００に対して点灯が指定され、データ信号Ｄがローレベルの場合は電気光学素子１００に対して消灯が指定される。

図４は、図２に示す電気光学装置１０において、論理回路２００および発光制御線７０を具備しない構成（以下「対比例」という）を示すブロック図である。図４の構成においては、ローレベルの選択信号ＳＥＬがトランジスタＴｒのゲートに供給されると、トランジスタＴｒがオン状態に遷移して、データ線駆動回路５０から出力されるデータ信号Ｄが記憶手段３００に供給される。ハイレベルのデータ信号Ｄが記憶手段３００に供給されると、記憶手段３００がそのデータ信号Ｄを保持している期間、駆動トランジスタＴｄがオン状態となり、電気光学素子１００が発光する。

図４に示す対比例において、電気光学装置１０の点灯検査を行うために各単位回路Ｕにおける電気光学素子１００を発光させる際には、データ線駆動回路５０やデータ線４０を基板１６上に実装したうえでデータ線駆動回路５０を駆動し、各単位回路Ｕにおける電気光学素子１００に対して点灯を指定するデータ信号Ｄ（すなわちハイレベルの信号）を各単位回路Ｕに供給する。これに対して、本実施形態においては、データ線駆動回路５０が各単位回路Ｕと電気的に接続される前の段階において、発光信号ＡＬＬＥＭをハイレベルに維持することによって各単位回路Ｕにおける電気光学素子１００を発光させることができる。従って、対比例に比べて点灯検査を簡便かつ迅速に行うことができる。

また、図４に示す対比例においては、データ線駆動回路５０を基板１６上に実装しなくても、基板１６上に実装されたｎ本のデータ線４０に検査用の端子を接触させてハイレベルのデータ信号Ｄを各単位回路Ｕに供給するとともに、高位側電位供給線２０に電源用の端子を接触させて高位側電位ＶＥＬを高位側電位供給線２０に供給し、選択線６０に検査用の端子を接触させてハイレベルの選択信号ＳＥＬを各単位回路Ｕに共通に供給すれば、各単位回路Ｕにおける電気光学素子１００を発光させることができる。しかしながら、各単位回路Ｕにハイレベルのデータ信号Ｄを供給するためには、ｎ本のデータ線４０総てに検査用の端子を接触させる必要があるため、検査工程が非常に煩雑になる。これに対して、本実施形態の構成によれば、ｎ本のデータ線４０に検査用の端子を接触させる必要が無く、発光制御線７０に検査用端子を接触させるとともに高位側電位供給線２０に電源用の端子を接触させることによって、各単位回路Ｕにおける電気光学素子１００を発光させることができる。従って、本実施形態の構成によれば、対比例に比べて点灯検査を簡便かつ迅速に行うことができる。

また、本実施形態においては、図２に示すように、各単位回路Ｕにおける論理回路２００は発光制御線７０に共通に接続されるから、電気光学装置１０の点灯検査の際にハイレベルの発光信号ＡＬＬＥＭを発光制御線７０に供給することによって各単位回路Ｕにおける電気光学素子１００を一斉に発光させることができる。従って、各単位回路Ｕの論理回路２００に対して個別に発光信号ＡＬＬＥＭが供給される構成と比較して簡便に点灯検査を行うことができる。なお、本形態では、各単位回路Ｕにおける論理回路２００は発光制御線７０に共通に接続されるが、各単位回路Ｕ毎に別個の発光制御線７０を接続し、各単位回路Ｕの論理回路２００に対して個別に発光信号ＡＬＬＥＭを供給する構成を採用することもできる。

＜Ｂ：第２実施形態＞
図５は、本実施形態に係る電気光学装置１０の構成を示すブロック図である。この電気光学装置１０は、画像を表示するための手段として各種の電子機器に採用される装置であり、複数の単位回路Ｕが面状に配列された画素アレイ部４００と、各単位回路Ｕを駆動するデータ線駆動回路５０および選択線駆動回路８０と、が基板１６上に配置される。図５に示すように、画素アレイ部４００には、Ｘ方向に延在するｍ本の選択線６０と、Ｘ方向に直交するＹ方向に延在するｎ本のデータ線４０とが設けられる（ｍおよびｎは自然数）。各単位回路Ｕは、選択線６０とデータ線４０との交差に対応する位置に配置される。従って、これらの単位回路Ｕは縦ｍ行×横ｎ列のマトリクス状に配列される。また、図５に示すように、各単位回路Ｕには発光制御線７０が共通に接続される。

図５に示す選択線駆動回路５０は、複数の単位回路Ｕを行単位で選択するための回路である。選択線駆動回路５０は順次アクティブとなる選択信号ＳＥＬを生成してｍ本の選択線６０に出力する。第ｉ行の選択線６０に供給される選択信号をＳＥＬ[ｉ]と表記する。第ｉ行の選択線６０に供給される選択信号ＳＥＬ[ｉ]のハイレベルへの遷移は、第ｉ行に属するｎ個の単位回路Ｕの選択を意味する。

図５に示すデータ線駆動回路５０は、選択された行に対応するｎ個の単位回路Ｕの各々に対応するデータ信号Ｄ_１ないしＤ_ｎを生成して各データ線４０に出力する。各単位回路Ｕの構成は第１実施形態と同様であるため、ここでは説明を省略する。

次に、電気光学装置１０の点灯検査時の動作について説明する。本形態における点灯検査時においては、データ線駆動回路５０および選択線駆動回路８０が基板１６上に実装されない状態で、検査用の端子を発光制御線７０に接触させることによって発光信号ＡＬＬＥＭをハイレベルの状態にする。

本形態においても、電気光学素子１００の発光状態は図３のように制御される。発光信号ＡＬＬＥＭがハイレベルの場合は、選択信号ＳＥＬおよびデータ信号Ｄが各単位回路Ｕに供給されるか否かに関わらず電気光学素子１００は発光状態となる。そして、各単位回路Ｕにおける電気光学素子１００の点灯状態を観察することで各電気光学素子１００の良否を判定する。以上の検査で良品と判定された場合には、データ線駆動回路５０および選択線駆動回路８０が基板１６上に配置される。

次に、電気光学装置１０の駆動時の動作について説明する。この場合、図５に示す構成のもとで、発光信号ＡＬＬＥＭがローレベルに維持される。電気光学装置１０の駆動時においては、各選択線６０に供給される選択信号ＳＥＬがアクティブ状態（本形態ではローレベル）に遷移すると、当該行に属するｎ個の単位回路ＵにおけるトランジスタＴｒがオン状態となり、データ線駆動回路５０から出力されるデータ信号Ｄがデータ線４０を介して各単位回路Ｕに供給される。第１実施形態と同様に、発光信号ＡＬＬＥＭがローレベルの場合は、各単位回路Ｕにおける論理回路２００は、データ信号Ｄの値に応じて各駆動トランジスタＴｄを制御する。

本形態では、データ線駆動回路５０および選択線駆動回路８０が各単位回路Ｕと電気的に接続される前の段階において、発光信号ＡＬＬＥＭをハイレベルに維持することによって各単位回路Ｕにおける電気光学素子１００を発光させて点灯検査を行うことができる。これに対して、発光制御線７０および論理回路２００を設けない構成において点灯検査を行う場合は、データ線駆動回路５０および選択線駆動回路８０を基板１６上に実装したうえで、選択線駆動回路８０からローレベルの選択信号ＳＥＬを各選択線６０に出力するとともに、選択された行に対応するｎ個の単位回路Ｕの各々にハイレベルのデータ信号Ｄをデータ線駆動回路５０から各データ線４０に出力することによって、各電気光学素子１００を発光させる。すなわち、本実施形態の構成によれば、発光制御線７０および論理回路２００を設けない構成に比べて点灯検査を簡便かつ迅速に行うことができる。

また、本形態の構成によれば、各データ線４０や各選択線６０に検査用の端子を接触させて各単位回路Ｕにおける電気光学素子を発光させる必要がないから、発光制御線７０および論理回路２００を設けない構成に比べて点灯検査を簡便かつ迅速に行うことができる。

また、本形態においては、第１実施形態と同様に、各単位回路Ｕにおける論理回路２００は発光制御線７０に共通に接続されるから、各単位回路Ｕの論理回路２００に対して個別に発光信号ＡＬＬＥＭが供給される構成と比較して簡便に点灯検査を行うことができる。

＜Ｃ：第３実施形態＞
図６は、本発明の第３実施形態に係る電気光学装置１０の電気的な構成を示すブロック図である。本実施形態においては、論理回路２００の代わりに発光制御用トランジスタＴｌが各単位回路Ｕに設けられる点で第１実施形態の構成と相違する。その他の構成は第１実施形態と同じであるため、重複する部分については説明を省略する。

図６に示すように、Ｎチャネル型の発光制御用トランジスタＴｌは、ドレインが高位側電位供給線２０に接続されるとともにソースが駆動トランジスタＴｄから電気光学素子１００に至る電流経路に接続され、ゲートが発光制御線７０に接続される。

電気光学装置１０の点灯検査時においては、データ線駆動回路５０が基板１６上に実装されない状態で、検査用の端子を発光制御線７０に接触させることによって発光信号ＡＬＬＥＭをハイレベルの状態にする。ハイレベルの発光信号ＡＬＬＥＭが発光制御用トランジスタＴｌのゲートに供給されて発光制御用トランジスタＴｌがオン状態となる。従って、データ信号Ｄおよび選択信号ＳＥＬが単位回路Ｕに供給されるか否かに関わらず高位側電位供給線２０からの電流が発光制御用トランジスタＴｌを介して電気光学素子１００に供給される。これによって、電気光学素子１００は発光状態となる。各単位回路Ｕにおける電気光学素子１００の点灯状態を観察することで各電気光学素子１００の良否を判定する。以上の検査で良品と判定された場合には、データ線駆動回路５０が基板１６上に配置される。

電気光学装置１０を駆動する場合、図６に示す構成のもとで、発光信号ＡＬＬＥＭがローレベルに維持される。従って、発光制御用トランジスタＴｌはオフ状態となる。電気光学装置１０の駆動時においては、選択信号ＳＥＬがアクティブ状態（本形態ではローレベル）に遷移して各単位回路ＵにおけるトランジスタＴｒがオン状態となり、データ線駆動回路５０から出力されるデータ信号Ｄが各データ線４０を介して各単位回路Ｕに供給される。第１実施形態と同様に、発光信号ＡＬＬＥＭがローレベルの場合は、各単位回路Ｕにおける駆動トランジスタＴｄはデータ信号Ｄの値に応じて制御される。

本形態では、データ線駆動回路５０が各単位回路Ｕと電気的に接続される前の段階において、発光制御線７０と、駆動トランジスタＴｄから電気光学素子１００に至る電流経路とを導通させることによって各単位回路Ｕにおける電気光学素子１００を発光させて点灯検査を行うことができる。すなわち、点灯検査の際にデータ線駆動回路５０を基板１６上に実装する必要がないから、図４に示す対比例に比べて点灯検査を簡便かつ迅速に行うことができる。

＜Ｄ：変形例＞
本発明は上述した各実施形態に限定されるものではなく、例えば、以下の変形が可能である。また、以下に示す変形例のうちの２以上の変形例を組み合わせることもできる。

（１）変形例１
上述の各実施形態においては、駆動トランジスタＴｄはＰチャネル型のトランジスタで構成されているが、これに限らず、Ｎチャネル型のトランジスタで構成することもできる。

（２）変形例２
上述の第１実施形態および第２実施形態においては、論理回路２００はＮＯＲ回路で構成されているが、論理回路２００の態様は任意である。例えば図７に示すように、論理回路２００をＡＮＤ回路で構成することもできる。また、例えば図８に示すように、駆動トランジスタＴｄをＮチャネル型のトランジスタで構成するとともに論理回路２００をＯＲ回路で構成することもできる。要するに、論理回路２００は、発光信号ＡＬＬＥＭが第１レベルの場合は、データ信号Ｄが論理回路２００に供給されるか否かに関わらず駆動トランジスタＴｄをオン状態に制御し、発光信号ＡＬＬＥＭが第２レベルの場合は、論理回路２００に供給されるデータ信号Ｄに応じて駆動トランジスタＴｄを制御するものであればよい。

（３）変形例３
上述の第１実施形態においては、駆動トランジスタＴｄおよびトランジスタＴｒはＰチャネル型のトランジスタで構成され、論理回路２００はＮＯＲ回路で構成されているが、ＮＯＲ回路を含めた総てのトランジスタをＰチャネル型のトランジスタで構成することもできる。図９は、ＮＯＲ回路をＰチャネル型のトランジスタで構成した場合のブロック図である。図９から理解されるように、発光信号ＡＬＬＥＭがハイレベルの場合は、データ信号Ｄの値とは無関係に低位側電位ＧＮＤが出力ＯＵＴ側に供給される。この場合、論理回路２００の出力はローレベルとなる。一方、発光信号ＡＬＬＥＭがローレベルの場合は、論理回路２００の出力は、データ信号Ｄの値に応じて決まる。さらに詳述すると、データ信号Ｄがローレベルの場合は、高位側電位ＶＤＤが出力ＯＵＴ側に供給され、論理回路２００の出力はハイレベルとなる。データ信号Ｄがハイレベルの場合は、低位側電位ＧＮＤが出力ＯＵＴ側に供給され、論理回路２００の出力はローレベルとなる。

また、例えば図７に示す構成において、ＡＮＤ回路を含めた総てのトランジスタをＰチャネル型のトランジスタで構成することもできる。図１０は、ＡＮＤ回路をＰチャネル型のトランジスタで構成した場合のブロック図である。

また、例えば図８に示す構成において、ＯＲ回路を含めた総てのトランジスタをＮチャネル型のトランジスタで構成することもできる。図１１は、ＯＲ回路をＮチャネル型のトランジスタで構成した場合のブロック図である。

要するに、各単位回路Ｕに含まれるトランジスタを総て同一チャネルのトランジスタで構成するという態様であればよい。この態様によれば、製造工程の簡略化を図ることができる。

（４）変形例４
上述の第１実施形態および第２実施形態において、論理回路２００は、発光信号ＡＬＬＥＭがローレベルの場合は、データ信号Ｄが単位回路Ｕに供給されるか否かに関わらず、駆動トランジスタＴｄをオン状態に制御し、発光信号ＡＬＬＥＭがハイレベルの場合は、単位回路Ｕに供給されるデータ信号Ｄに応じて駆動トランジスタＴｄを制御する態様とすることもできる。この態様においては、例えば図１２に示すように、論理回路２００は、ＮＡＮＤ回路とＮＯＴ回路とを組み合わせて構成することもできる。

（５）変形例５
上述の第３実施形態においては、発光制御用トランジスタＴｌは、Ｎチャネル型のトランジスタで構成されているが、これに限らず、発光制御用トランジスタＴｌはＰチャネル型のトランジスタで構成することもできる。この場合、点灯検査時においては、ローレベルの発光信号ＡＬＬＥＭが発光制御用トランジスタＴｌのゲートに供給される。これにより、発光制御用トランジスタＴｌがオン状態となる。一方、電気光学装置１０の駆動時においては、ハイレベルの発光信号ＡＬＬＥＭが発光制御用トランジスタＴｌのゲートに供給される。これにより、発光制御用トランジスタＴｌがオフ状態となる。

（６）変形例６
上述の各実施形態においては、記憶手段３００はＳＲＡＭで構成されているが、これに限らず、記憶手段３００は、各単位回路Ｕにおける駆動トランジスタＴｄへ供給されるデータ信号Ｄを保持する手段であればよい。例えば、記憶手段３００は、ＤＲＡＭ（Dynamic Random Access Memory）で構成することもできる。

（７）変形例７
上述の各実施形態においては、電気光学素子１００の一例として、ＯＬＥＤ素子を取り上げたが、無機発光ダイオードやＬＥＤ（Ｌｉｇｈｔ Ｅｍｉｔｔｉｎｇ Ｄｉｏｄｅ）であってもよい。要は、駆動電流に応じた発光輝度で発光するのであれば、どのような素子であってもよい。

＜Ｅ：電子機器＞
次に、図１３を参照して、本発明に係る電子機器のひとつの態様である画像形成装置について説明する。この画像形成装置は、ベルト中間転写体方式を利用したタンデム型のフルカラー画像形成装置である。

この画像形成装置では、各々が同様の構成である４個の電気光学装置１０Ｋ，１０Ｃ，１０Ｍ，１０Ｙが、各々の構成が同様である４個の感光体ドラム（像担持体）１１０Ｋ，１１０Ｃ，１１０Ｍ，１１０Ｙの像形成面１１０に対向する位置にそれぞれ配置されている。電気光学装置１０Ｋ，１０Ｃ，１０Ｍ，１０Ｙは、上記の各形態に係る電気光学装置１０と同様の構成である。

図１３に示すように、この画像形成装置には、駆動ローラ１２１と従動ローラ１２２とが設けられており、これらのローラ１２１，１２２には無端の中間転写ベルト１２０が巻回されて、矢印に示すようにローラ１２１，１２２の周囲を回転させられる。図示しないが、中間転写ベルト１２０に張力を与えるテンションローラなどの張力付与手段を設けてもよい。

この中間転写ベルト１２０の周囲には、外周面に感光層を有する４個の感光体ドラム１１０Ｋ，１１０Ｃ，１１０Ｍ，１１０Ｙが互いに所定の間隔をおいて配置される。添字「Ｋ」，「Ｃ」，「Ｍ」，「Ｙ」はそれぞれ黒、シアン、マゼンタ、イエローの顕像を形成するために使用されることを意味している。他の部材についても同様である。感光体ドラム１１０Ｋ，１１０Ｃ，１１０Ｍ，１１０Ｙは、中間転写ベルト１２０の駆動と同期して回転駆動される。

各感光体ドラム１１０（Ｋ，Ｃ，Ｍ，Ｙ）の周囲には、コロナ帯電器１１１（Ｋ，Ｃ，Ｍ，Ｙ）と、電気光学装置１０（Ｋ，Ｃ，Ｍ，Ｙ）と、現像器１１４（Ｋ，Ｃ，Ｍ，Ｙ）とが配置されている。コロナ帯電器１１１（Ｋ，Ｃ，Ｍ，Ｙ）は、これに対応する感光体ドラム１１０（Ｋ，Ｃ，Ｍ，Ｙ）の像形成面１１０Ａ（外周面）を一様に帯電させる。電気光学装置１０（Ｋ，Ｃ，Ｍ，Ｙ）は、各感光体ドラムの帯電した像形成面１１０Ａに静電潜像を書き込む。各電気光学装置１０（Ｋ，Ｃ，Ｍ，Ｙ）においては、感光体ドラム１１０（Ｋ，Ｃ，Ｍ，Ｙ）の母線（主走査方向）に沿って複数の電気光学素子１００が配列する。静電潜像の書き込みは、複数の電気光学素子１００によって感光体ドラム１１０（Ｋ，Ｃ，Ｍ，Ｙ）に光を照射することにより行う。現像器１１４（Ｋ，Ｃ，Ｍ，Ｙ）は、静電潜像に現像剤としてのトナーを付着させることにより感光体ドラム１１０（Ｋ，Ｃ，Ｍ，Ｙ）に顕像（すなわち可視像）を形成する。

このような４色の単色顕像形成ステーションにより形成された黒、シアン、マゼンタ、イエローの各顕像は、中間転写ベルト１２０上に順次に一次転写されることによって中間転写ベルト１２０上で重ね合わされ、この結果としてフルカラーの顕像が形成される。中間転写ベルト１２０の内側には、４つの一次転写コロトロン（転写器）１１２（Ｋ，Ｃ，Ｍ，Ｙ）が配置されている。一次転写コロトロン１１２（Ｋ，Ｃ，Ｍ，Ｙ）は、感光体ドラム１１０（Ｋ，Ｃ，Ｍ，Ｙ）の近傍にそれぞれ配置されており、感光体ドラム１１０（Ｋ，Ｃ，Ｍ，Ｙ）から顕像を静電的に吸引することにより、感光体ドラムと一次転写コロトロンの間を通過する中間転写ベルト１２０に顕像を転写する。

最終的に画像を形成する対象（記録材）としてのシート１０２は、ピックアップローラ１０３によって、給紙カセット１０１から１枚ずつ給送されて、駆動ローラ１２１に接した中間転写ベルト１２０と二次転写ローラ１２６の間のニップに送られる。中間転写ベルト１２０上のフルカラーの顕像は、二次転写ローラ１２６によってシート１０２の片面に一括して二次転写され、定着部である定着ローラ対１２７を通ることでシート１０２上に定着される。この後、シート１０２は、排紙ローラ対１２８によって、装置上部に形成された排紙カセット上へ排出される。

次に、図１４を参照して、本発明に係る画像形成装置の他の形態について説明する。この画像形成装置は、ベルト中間転写体方式を利用したロータリ現像式のフルカラー画像形成装置である。図１４に示すように、感光体ドラム１１０の周囲には、コロナ帯電器１６８と、ロータリ式の現像ユニット１６１と、上記の実施形態に係る電気光学装置１０と、中間転写ベルト１６９とが設けられている。

コロナ帯電器１６８は、感光体ドラム１１０の外周面を一様に帯電させる。電気光学装置１０は、感光体ドラム１１０の帯電させられた像形成面（外周面）に静電潜像を書き込む。この電気光学装置１０においては、感光体ドラム１１０の母線（主走査方向）に沿って複数の電気光学素子１００が配列する。静電潜像の書き込みは、これらの電気光学素子１００から感光体ドラム１１０に光を照射することにより行う。

現像ユニット１６１は、４つの現像器１６３Ｙ，１６３Ｃ，１６３Ｍ，１６３Ｋが９０°の角間隔をおいて配置されたドラムであり、軸１６１ａを中心にして反時計回りに回転可能である。現像器１６３Ｙ，１６３Ｃ，１６３Ｍ，１６３Ｋは、それぞれイエロー、シアン、マゼンタ、黒のトナーを感光体ドラム１１０に供給して、静電潜像に現像剤としてのトナーを付着させることにより感光体ドラム１１０に顕像（すなわち可視像）を形成する。

無端の中間転写ベルト１６９は、駆動ローラ１７０ａ、従動ローラ１７０ｂ、一次転写ローラ１６６およびテンションローラに巻回されて、これらのローラの周囲を矢印に示す向きに回転させられる。一次転写ローラ１６６は、感光体ドラム１１０から顕像を静電的に吸引することにより、感光体ドラム１１０と一次転写ローラ１６６の間を通過する中間転写ベルト１６９に顕像を転写する。

具体的には、感光体ドラム１１０の最初の１回転で、電気光学装置１０によりイエロー（Ｙ）像のための静電潜像が書き込まれて現像器１６３Ｙにより同色の顕像が形成され、さらに中間転写ベルト１６９に転写される。また、次の１回転で、電気光学装置１０Ａによりシアン（Ｃ）像のための静電潜像が書き込まれて現像器１６３Ｃにより同色の顕像が形成され、イエローの顕像に重なり合うように中間転写ベルト１６９に転写される。そして、このようにして感光体ドラム１１０が４回転する間に、イエロー、シアン、マゼンタ、黒の顕像が中間転写ベルト１６９に順次に重ね合わせられ、この結果としてフルカラーの顕像が転写ベルト１６９上に形成される。最終的に画像を形成する対象としてのシートの両面に画像を形成する場合には、中間転写ベルト１６９に表面と裏面の同色の顕像を転写し、次に中間転写ベルト１６９に表面と裏面の次の色の顕像を転写する形式で、フルカラーの顕像を中間転写ベルト１６９上に形成する。

画像形成装置には、シートが通過させられるシート搬送路１７４が設けられている。シートは、給紙カセット１７８から、ピックアップローラ１７９によって１枚ずつ取り出され、搬送ローラによってシート搬送路１７４を進行させられ、駆動ローラ１７０ａに接した中間転写ベルト１６９と二次転写ローラ１７１の間のニップを通過する。二次転写ローラ１７１は、中間転写ベルト１６９からフルカラーの顕像を一括して静電的に吸引することにより、シートの片面に顕像を転写する。二次転写ローラ１７１は、図示しないクラッチにより中間転写ベルト１６９に接近および離間させられるようになっている。そして、シートにフルカラーの顕像を転写する時に二次転写ローラ１７１は中間転写ベルト１６９に当接させられ、中間転写ベルト１６９に顕像を重ねている間は二次転写ローラ１７１から離される。

以上のようにして画像が転写されたシートは定着器１７２に搬送され、定着器１７２の加熱ローラ１７２ａと加圧ローラ１７２ｂの間を通過させられることにより、シート上の顕像が定着する。定着処理後のシートは、排紙ローラ対１７６に引き込まれて矢印Ｆの向きに進行する。両面印刷の場合には、シートの大部分が排紙ローラ対１７６を通過した後、排紙ローラ対１７６が逆方向に回転させられ、矢印Ｇで示すように両面印刷用搬送路１７５に導入される。そして、二次転写ローラ１７１により顕像がシートの他面に転写され、再び定着器１７２で定着処理が行われた後、排紙ローラ対１７６でシートが排出される。

図１３および図１４に例示した画像形成装置は、ＯＬＥＤ素子を電気光学素子１００として採用した光源（露光手段）を利用しているので、レーザ走査光学系を用いた場合よりも装置が小型化される。なお、以上に例示した以外の電子写真方式の画像形成装置にも本発明の電気光学装置１０を採用することができる。例えば、中間転写ベルトを使用せずに感光体ドラムからシートに対して直接的に顕像を転写するタイプの画像形成装置や、モノクロの画像を形成する画像形成装置にも本発明に係る電気光学装置１０を応用することが可能である。

本発明に係る電気光学装置１０の用途は感光体の露光に限定されない。例えば、本発明の電気光学装置１０は、原稿などの読取対象に光を照射するライン型の光ヘッド（照明装置）としてスキャナなどの画像読取装置に採用される。この種の画像読取装置としては、スキャナ、複写機やファクシミリの読取部分、バーコードリーダ、あるいはＱＲコード（登録商標）のような二次元画像コードを読む二次元画像コードリーダがある。また、複数の電気光学素子１００を面状に配列した電気光学装置１０は、液晶パネルの背面側に配置されるバックライトユニットとしても採用される。また、複数の電気光学素子１００を行列状に配列した電気光学装置１０は各種の電子機器の表示装置として採用される。

本発明の第１実施形態に係る電気光学装置を利用した画像形成装置の一部の構成を示す斜視図である。 同実施形態に係る電気光学装置の電気的な構成を示すブロック図である。 同実施形態に係る電気光学素子の発光状態を示す表である。 対比例に係る電気光学装置の電気的な構成を示すブロック図である。 本発明の第２実施形態に係る電気光学装置を利用した画像表示装置の構成を示す図である。 本発明の第３実施形態に係る電気光学装置の構成を示すブロック図である。 本発明の変形例に係る電気光学装置の構成を示すブロック図である。 本発明の変形例に係る電気光学装置の構成を示すブロック図である。 本発明の変形例に係る論理回路の構成を示すブロック図である。 本発明の変形例に係る論理回路の構成を示すブロック図である。 本発明の変形例に係る論理回路の構成を示すブロック図である。 本発明の変形例に係る電気光学装置の構成を示すブロック図である。 本発明に係る電気光学装置を利用した画像形成装置の構成を示す縦断面図である。 本発明に係る電気光学装置を利用した他の画像形成装置の構成を示す縦断面図である。

符号の説明

１０……電気光学装置、１６……基板、４０……データ線、５０……データ線駆動回路、６０……選択線６０、７０……発光制御線、Ｕ……単位回路、１００……電気光学素子、Ｔｄ……駆動トランジスタ、２００……論理回路、Ｄ……データ信号、ＡＬＬＥＭ……発光信号。

Claims (8)

1. 階調を指定するデータ信号が供給されるデータ線と、
   発光信号が供給される発光制御線と、
   前記データ線および前記発光制御線が接続される複数の単位回路と、を備え、
   前記複数の単位回路の各々は、
   駆動電流に応じた輝度で発光する電気光学素子と、
   前記駆動電流を生成する駆動トランジスタと、
   前記発光信号が第１レベルにある場合は、前記データ信号の値に関わらず、前記駆動トランジスタが所定の大きさの駆動電流を生成し、前記発光信号が第２レベルにある場合は、前記単位回路に供給される前記データ信号に応じて前記駆動トランジスタを制御する制御回路と、を具備する
   電気光学装置。
2. 前記各単位回路における前記制御回路は、前記発光制御線に共通に接続される
   請求項１に記載の電気光学装置。
3. 複数の単位回路と、
   発光信号が供給されて前記各単位回路に接続される発光制御線と、を備え、
   前記複数の単位回路の各々は、
   高位側電位供給線と低位側電位供給線との間に配置されて駆動電流に応じた輝度で発光する電気光学素子と、
   前記高位側電位供給線と前記電気光学素子との間に配置されて前記駆動電流を生成する駆動トランジスタと、
   一方の端子が高位側電位供給線に接続されるとともに他方の端子が前記駆動トランジスタから前記電気光学素子に至る電流経路に接続され、ゲートが前記発光制御線に接続されるスイッチング素子と、を有する
   電気光学装置。
4. 前記各単位回路における前記スイッチング素子は、前記発光制御線に共通に接続される
   請求項３に記載の電気光学装置。
5. 請求項１から請求項４の何れかに記載の電気光学装置を具備する電子機器。
6. 駆動電流に応じた輝度で発光する電気光学素子と、前記駆動電流を生成する駆動トランジスタと、を各々が含む複数の単位回路と、
   階調を指定するデータ信号が供給されて前記各単位回路に接続されるデータ線と、を備えた電気光学装置の検査方法であって、
   前記各単位回路に接続される発光制御線に発光信号を供給して前記各単位回路における前記駆動トランジスタをオン状態に制御することによって前記各電気光学素子を発光させ、前記各電気光学素子の発光状態を検査する
   電気光学装置の検査方法。
7. 高位側電位供給線と低位側電位供給線との間に配置されて駆動電流に応じた輝度で発光する電気光学素子と、
   前記高位側電位供給線と前記電気光学素子との間に配置されて前記駆動電流を生成する駆動トランジスタと、を含む複数の単位回路と、
   階調を指定するデータ信号が供給されて前記各単位回路に接続されるデータ線と、を備えた電気光学装置の検査方法であって、
   前記各単位回路の各々について、
   発光信号が供給されて前記各単位回路に接続される発光制御線と、前記駆動トランジスタから前記電気光学素子に至る電流経路とを導通させて前記電気光学素子を発光させ、前記電気光学素子の発光状態を検査する
   電気光学装置の検査方法。
8. 前記電気光学素子を発光させた後で、前記データ信号を前記データ線に出力するデータ線駆動回路を実装する
   請求項６または請求項７の電気光学装置の検査方法。
   

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