JP2009162982A - Electro-optical device, driving circuit, driving method, and electronic device - Google Patents

Electro-optical device, driving circuit, driving method, and electronic device Download PDF

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To suppress display unevenness which occurs in a lateral direction in a configuration of changing the voltage of a capacity line 132. <P>SOLUTION: A pixel 110 includes pixel capacity and storage capacity with one end connected to a pixel electrode and the other end connected to the capacity line 132. The capacity line 132 is provided corresponding to each of 1-320 lines, and a capacity line driving circuit 150 has a pair of TFTs 151, 152 in each of the 1-320 lines. When the capacity line 132 in a certain i-th line is changed in voltage from a second voltage to a predetermined value from application of selection voltage to an i-th scanning line 112 until the end of application of the selection voltage, the voltage of a first capacity signal Vc1 is set to a first voltage which is excessively changed in a voltage change direction from the second voltage in a first-half period where the selection voltage is applied to the i-th scanning line 1 112, and set to a second voltage in a second-half period. <P>COPYRIGHT: (C)2009,JPO&INPIT

Description

本発明は、液晶などの電気光学装置において容量線の電圧を変化させる場合に、横方向に発生する表示むらを抑える技術に関する。   The present invention relates to a technique for suppressing display unevenness that occurs in a horizontal direction when a voltage of a capacitor line is changed in an electro-optical device such as a liquid crystal.

液晶などの電気光学装置では、走査線とデータ線との交差に対応して画素容量(液晶容量)が設けられるが、この画素容量を交流駆動する必要がある場合、データ信号の電圧振幅が正負の両極性となる。このため、データ線にデータ信号を供給するデータ線駆動回路においては、構成素子に電圧振幅に対応した耐圧が要求される。そこで、画素容量に並列して蓄積容量を設けるとともに、各行において蓄積容量を共通接続した容量線を、走査線の選択に同期させて2値電圧で駆動することにより、データ信号の電圧振幅を狭める技術が提案されている(特許文献1参照)。
特開2001−83943号公報参照
In an electro-optical device such as a liquid crystal, a pixel capacitor (liquid crystal capacitor) is provided corresponding to the intersection of a scanning line and a data line. When this pixel capacitor needs to be AC driven, the voltage amplitude of the data signal is positive or negative. The polarity is For this reason, in a data line driving circuit that supplies a data signal to the data line, a breakdown voltage corresponding to the voltage amplitude is required for the constituent elements. Therefore, a storage capacitor is provided in parallel with the pixel capacitor, and a capacitor line commonly connected to the storage capacitor in each row is driven with a binary voltage in synchronization with the selection of the scanning line, thereby narrowing the voltage amplitude of the data signal. A technique has been proposed (see Patent Document 1).
See JP 2001-83943 A

ところで、この技術では、画素容量への電圧書き込み時において、容量線の電圧が、ノイズ等の重畳によって所定の電圧から乖離してしまうと、当該容量線に対応した画素は、目的とする階調とならなくなる。1行の容量線には多数の画素に対応しており、これらの画素がすべて目標とする階調にならなくなるので、表示ムラが容量線・走査線の延在方向である横方向に沿って現れることになる。
本発明は、このような事情に鑑みてなされたもので、その目的の1つは、容量線の電圧を変化させる構成において、横方向に発生する表示むらを抑える技術を提供することにある。
By the way, in this technique, when the voltage of the capacitor line deviates from a predetermined voltage due to superimposition of noise or the like at the time of voltage writing to the pixel capacitor, the pixel corresponding to the capacitor line has a target gradation. It will not become. Since one row of capacitor lines corresponds to a large number of pixels, and all of these pixels do not have the target gradation, display unevenness occurs along the horizontal direction, which is the extending direction of the capacitor lines / scanning lines. Will appear.
The present invention has been made in view of such circumstances, and one of its purposes is to provide a technique for suppressing display unevenness that occurs in the horizontal direction in a configuration in which the voltage of a capacitor line is changed.

上記目的を達成するために、本発明に係る電気光学装置の駆動回路は、複数の走査線と、複数のデータ線と、前記複数の走査線に対応して設けられた複数の容量線と、前記複数の走査線と前記複数のデータ線との交差に対応して設けられ、各々は、一端が前記データ線に接続されるとともに、前記走査線に選択電圧が印加されたときに導通状態となる画素スイッチング素子と、一端が前記画素スイッチング素子の他端に接続され、他端がコモン電極に接続された画素容量と、前記画素容量の一端と前記走査線に対応して設けられた容量線との間に電気的に介挿された蓄積容量と、を含む画素と、を有する電気光学装置の駆動回路であって、前記複数の走査線を所定の順番で選択し、選択した走査線に選択電圧を印加する走査線駆動回路と、一の走査線に対応して設けられた容量線に対して、当該一の走査線に選択電圧が印加される期間のうち、時間的に前方寄りの第1期間において第1電圧を印加し、時間的に後方寄りの第2期間において第2電圧を印加するとともに、当該一の走査線に対する選択電圧の印加が終了した後に、前記第2電圧から所定値だけ変化させる容量線駆動回路と、前記選択電圧が印加された走査線に対応する画素に対し、当該画素の階調に応じた電圧のデータ信号を、データ線を介して供給するデータ線駆動回路と、を具備し、前記第1電圧は、前記第2電圧とは異なる電圧であって、前記第2電圧に対して前記所定値への変化方向とは反対方向の電圧であることを特徴とする。本発明によれば、一の容量線は、自身に対応する走査線に選択電圧が印加された期間から、当該選択電圧の印加が終了した後にかけて、第2電圧から所定値だけ電圧変化する。このときに、蓄積容量に蓄積された電荷が画素容量に再配分されるので、画素容量に対して、データ信号に応じた値以上の電圧を保持させることができる。さらに、当該一の容量線は、画素容量に電圧を書き込むために走査線に選択電圧が印加される期間において、電圧変化方向に過剰に
振った第1電圧が印加された後に第2電圧が印加されるので、選択電圧の印加終了時において、第2電圧に収束させることができる。
In order to achieve the above object, a drive circuit for an electro-optical device according to the present invention includes a plurality of scanning lines, a plurality of data lines, and a plurality of capacitance lines provided corresponding to the plurality of scanning lines, Provided corresponding to the intersection of the plurality of scanning lines and the plurality of data lines, each of which is connected to the data line and is in a conductive state when a selection voltage is applied to the scanning line. A pixel switching element, one end of which is connected to the other end of the pixel switching element and the other end of which is connected to a common electrode, and a capacitance line provided corresponding to one end of the pixel capacity and the scanning line And a pixel including a storage capacitor electrically interposed between the plurality of scanning lines, wherein the plurality of scanning lines are selected in a predetermined order, and the selected scanning lines are selected. A scanning line driving circuit for applying a selection voltage; A first voltage is applied to a capacitor line provided corresponding to a scan line in a first period closer to the front in a period in which a selection voltage is applied to the one scan line. A capacitor line driving circuit that applies a second voltage in a second period closer to the rear and changes the second voltage by a predetermined value after the application of the selection voltage to the one scanning line is completed, and the selection voltage A data line driving circuit that supplies a data signal having a voltage corresponding to the gradation of the pixel to the pixel corresponding to the scanning line to which the pixel is applied via the data line, and the first voltage is The voltage is different from the second voltage, and is a voltage in a direction opposite to the direction of change to the predetermined value with respect to the second voltage. According to the present invention, the voltage of one capacitor line changes from the second voltage by a predetermined value from the period when the selection voltage is applied to the scanning line corresponding to itself to after the application of the selection voltage is completed. At this time, since the charge accumulated in the storage capacitor is redistributed to the pixel capacitor, the pixel capacitor can hold a voltage equal to or higher than the value corresponding to the data signal. Further, the first capacitor line is applied with the second voltage after the first voltage that is excessively swung in the voltage change direction is applied during the period in which the selection voltage is applied to the scanning line in order to write the voltage to the pixel capacitor. Therefore, it is possible to converge to the second voltage at the end of application of the selection voltage.

本発明において、一の画素容量では、前記コモン電極に対する画素電極の電位が高位側となる正極性書込と低位側となる負極性書込とが交互に実行され、前記容量線駆動回路は、前記正極性書込となる画素容量の容量線に対し、前記第2電圧として低位電圧を印加し、前記負極性書込となる画素容量の容量線に対し、前記第2電圧として高位電圧を印加する構成が好ましい。
また、本発明において、前記容量線駆動回路については、前記容量線の各々に対応して、第1および第2トランジスタの組を有し、一の容量線に対応する前記第1トランジスタは、ゲート電極が当該一の容量線に対応する走査線に接続され、ソース電極が第1容量信号を給電する第1給電線に接続され、前記第2トランジスタは、ゲート電極が当該一の走査線に対して所定数行だけ離間した走査線に接続され、ソース電極が第2容量信号を給電する第2給電線に接続され、前記第1および第2トランジスタのドレイン電極が当該一の容量線に共通接続された構成としても良いし、前記容量線の各々に対応して、第1乃至第4トランジスタの組を有し、一の容量線に対応する前記第1トランジスタは、ゲート電極が当該一の容量線に対応する走査線に接続され、ソース電極が第1容量信号を給電する第1給電線に接続され、前記第2トランジスタは、ソース電極が第2容量信号を給電する第2給電線に接続され、前記第3トランジスタは、ゲート電極が当該一の容量線に対応する走査線に接続され、ソース電極が前記第2トランジスタをオフさせるためのオフ電圧を給電するオフ電圧給電線に接続され、前記第4トランジスタは、ゲート電極が当該一の走査線に対して所定数行だけ離間した走査線に接続され、ソース電極が前記第2トランジスタをオンさせるためのオン電圧を給電するオン電圧給電線に接続され、前記第3および第4トランジスタのドレイン電極が前記第2トランジスタのゲート電極に共通接続され、前記第1および第2トランジスタのドレイン電極が当該一の容量線に接続された構成としても良い。特に、容量線に対し第1乃至第4トランジスタの組を有する構成では、容量線の電位が不確定となる期間をなくす、または、極力少なくすることができる。
In the present invention, in one pixel capacitor, positive polarity writing in which the potential of the pixel electrode with respect to the common electrode is on the higher side and negative polarity writing on the lower side are alternately performed, and the capacitance line driving circuit A low voltage is applied as the second voltage to the capacitor line of the pixel capacitance for the positive polarity writing, and a high voltage is applied as the second voltage to the capacitance line of the pixel capacitance for the negative polarity writing. The structure which does is preferable.
In the present invention, the capacitor line driving circuit has a set of first and second transistors corresponding to each of the capacitor lines, and the first transistor corresponding to one capacitor line is a gate. The electrode is connected to the scanning line corresponding to the one capacitance line, the source electrode is connected to the first feeding line that feeds the first capacitance signal, and the gate electrode of the second transistor is connected to the one scanning line. Connected to a scanning line separated by a predetermined number of rows, a source electrode is connected to a second feeding line that feeds a second capacitance signal, and the drain electrodes of the first and second transistors are commonly connected to the one capacitance line The first transistor corresponding to each capacitor line may have a pair of first to fourth transistors, and the gate electrode of the first transistor corresponding to one capacitor line may be the one capacitor. Run corresponding to the line A source electrode connected to a first feed line feeding a first capacitance signal, the second transistor connected to a second feed line feeding a second capacitance signal, and the third transistor The transistor has a gate electrode connected to a scanning line corresponding to the one capacitor line, a source electrode connected to an off-voltage power supply line that supplies an off-voltage for turning off the second transistor, and the fourth transistor includes The gate electrode is connected to a scanning line separated by a predetermined number of rows from the one scanning line, and the source electrode is connected to an on-voltage power supply line that supplies an on-voltage for turning on the second transistor, The drain electrodes of the third and fourth transistors are commonly connected to the gate electrode of the second transistor, and the drain electrodes of the first and second transistors are connected to the one capacitor. It may be connected to each to. In particular, in the structure including the first to fourth transistor groups with respect to the capacitor line, a period in which the potential of the capacitor line is uncertain can be eliminated or minimized.

また、容量線に対し第1および第2トランジスタの組、または、第1乃至第4トランジスタの組を有する構成においては、前記容量線の各々に対応して設けられ、各々は、当該一の容量線に対応する走査線に前記選択電圧が印加されたときに、当該一の容量線と検出線との間でオンする検出用スイッチング素子と、前記第1期間において前記第1電圧をバッファリングした電圧を、前記第2期間において前記検出線の電圧が前記第2電圧となるように制御した電圧を、それぞれ前記第1容量信号として前記第1給電線に出力する容量信号出力回路と、をさらに備える構成としても良い。選択電圧の印加期間のうち、時間的に前方寄りの第1期間では、容量線と検出線との電圧差が大きい場合があるので、検出線の電圧をいきなり第2電圧となるように制御すると、電流が多く流れたり、発振したりする不具合が発生する可能性がある。この構成では、第1期間では、そのような制御を行わず、バッファリングだけを行って、電圧差が小さくなるようにした上で、その後の第2期間で、上記制御を行うので、上記不具合の発生が抑えられる。
このような構成として、記容量信号出力回路は、前記第1期間において前記第1電圧となり、前記第2期間において前記第2電圧となる目標信号を非反転入力端に入力し、出力端が前記第1給電線に接続されたオペアンプと、前記オペアンプの出力端と前記オペアンプの反転入力端との間に電気的に介挿され、前記第1期間においてオンし、前記第2期間においてオフする第1スイッチと、前記検出線と前記オペアンプの反転入力端との間に電気的に介挿され、前記第1期間においてオフし、前記第2期間においてオンする第2スイッチと、を含む構成としても良い。
一方、前記容量信号出力回路は、一の走査線に選択電圧が印加される期間のうち、時間的に前方の期間において前記給電線と前記検出線との間でオンする補助スイッチを有する構成としても良い。このような構成によれば、補助スイッチがオンしたときに、容量信号
出力回路によって出力される第1容量信号を、第1給電線および第1トランジスタを介した経路とともに、検出線および補助スイッチを介した経路によっても容量線に供給することができる。
また、前記容量線の各々に対応して、当該一の容量線と検出線との間に電気的に介挿された検出容量と、前記第1期間において前記第1電圧をバッファリングした電圧を、前記第2期間において前記検出線の電圧が前記第2電圧となるように制御した電圧を、それぞれ前記第1容量信号として前記第1給電線に出力する容量信号出力回路と、を、さらに備える構成としても良い。この構成によれば、トランジスタ等を用いる場合と比較して、簡略化を図ることができる。
なお、本発明は、電気光学装置の駆動回路のみならず、駆動方法としても、電気光学装置としても、さらには、当該電気光学装置を有する電子機器としても概念することが可能である。
Further, in the configuration having the first and second transistor groups or the first to fourth transistor groups with respect to the capacitor line, the capacitor line is provided corresponding to each of the capacitor lines. A switching element for detection that is turned on between the one capacitance line and the detection line when the selection voltage is applied to the scanning line corresponding to the line, and the first voltage is buffered in the first period. A capacitance signal output circuit that outputs a voltage, the voltage of which is controlled so that the voltage of the detection line becomes the second voltage in the second period, to the first feeder line as the first capacitance signal, respectively. It is good also as a structure provided. Among the selection voltage application periods, in the first period closer to the front in time, there may be a large voltage difference between the capacitance line and the detection line. Therefore, if the voltage of the detection line is suddenly controlled to become the second voltage. There may be a problem that a large amount of current flows or oscillates. In this configuration, since such control is not performed in the first period, only the buffering is performed so that the voltage difference is reduced, and then the control is performed in the second period thereafter, the above-described problem. Occurrence is suppressed.
As such a configuration, the storage signal output circuit has the first voltage in the first period, the target signal that becomes the second voltage in the second period, is input to the non-inverting input terminal, and the output terminal is the output terminal. An operational amplifier connected to the first feeder, and electrically inserted between the output terminal of the operational amplifier and the inverting input terminal of the operational amplifier, and is turned on in the first period and turned off in the second period. And a second switch that is electrically inserted between the detection line and the inverting input terminal of the operational amplifier, and is turned off in the first period and turned on in the second period. good.
On the other hand, the capacitance signal output circuit includes an auxiliary switch that is turned on between the power supply line and the detection line in a period that is temporally forward in a period in which a selection voltage is applied to one scanning line. Also good. According to such a configuration, when the auxiliary switch is turned on, the first capacitance signal output by the capacitance signal output circuit is supplied to the detection line and the auxiliary switch together with the path through the first power supply line and the first transistor. The capacitor line can also be supplied through the route.
Further, a detection capacitor electrically inserted between the one capacitance line and the detection line, and a voltage obtained by buffering the first voltage in the first period, corresponding to each of the capacitance lines. A capacitance signal output circuit that outputs the voltage controlled so that the voltage of the detection line becomes the second voltage in the second period as the first capacitance signal to the first feeder line, respectively. It is good also as a structure. According to this configuration, simplification can be achieved as compared with the case of using a transistor or the like.
The present invention can be conceptualized not only as a driving circuit for an electro-optical device, but also as a driving method, an electro-optical device, and an electronic apparatus having the electro-optical device.

以下、本発明の実施の形態について図面を参照して説明する。   Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.

<第1実施形態>
まず、本発明の第1実施形態について説明する。図1は、本発明の第1実施形態に係る電気光学装置の構成を示すブロック図である。
この図に示されるように、電気光学装置10は、表示領域100の周辺に、走査線駆動回路140、容量線駆動回路150、データ線駆動回路190が配置するとともに、制御回路20が、これらの各部をそれぞれ制御する構成となっている。
<First Embodiment>
First, a first embodiment of the present invention will be described. FIG. 1 is a block diagram showing the configuration of the electro-optical device according to the first embodiment of the invention.
As shown in this figure, in the electro-optical device 10, a scanning line driving circuit 140, a capacitor line driving circuit 150, and a data line driving circuit 190 are arranged around the display area 100, and the control circuit 20 includes these components. Each part is controlled individually.

表示領域100は、画素110が配列する領域であり、本実施形態では、1行目から321行目までの計321行の走査線112が行(X)方向に延在するように設けられ、また、240列のデータ線114が列(Y)方向に延在するように設けられている。そして、図1において最も下の321行目を除いた1〜320行目の走査線112と1〜240列目のデータ線114との交差に対応して、画素110がそれぞれ配列している。したがって、本実施形態では、画素110が表示領域100において縦320行×横240列でマトリクス状に配列することになる。ただし、本発明をこの配列に限定する趣旨ではない。   The display area 100 is an area where the pixels 110 are arranged. In the present embodiment, the display area 100 is provided so that a total of 321 scanning lines 112 from the first line to the 321st line extend in the row (X) direction. In addition, 240 data lines 114 are provided so as to extend in the column (Y) direction. Then, the pixels 110 are arranged corresponding to the intersections of the scanning lines 112 in the 1st to 320th lines excluding the lowermost 321st line in FIG. 1 and the data lines 114 in the 1st to 240th columns. Therefore, in the present embodiment, the pixels 110 are arranged in a matrix of 320 vertical rows × 240 horizontal columns in the display area 100. However, the present invention is not intended to be limited to this arrangement.

321行目の走査線112は、画素110に対応していないので、ダミー走査線として機能する。このため、321行目の走査線112は、表示領域100の垂直走査(走査線に順番に選択電圧を印加する動作)において、選択されても画素110に対する電圧書込にはなんら寄与しない。
また、1〜320行目の走査線112に対応して、それぞれ容量線132がX方向に延在して設けられている。このため、本実施形態において、容量線132については、ダミーとなる321行目の走査線112を除いた1〜320行目の走査線112に対応して設けられることになる。
Since the scanning line 112 in the 321st row does not correspond to the pixel 110, it functions as a dummy scanning line. For this reason, even if the scanning line 112 in the 321st row is selected in the vertical scanning of the display region 100 (operation of sequentially applying the selection voltage to the scanning line), it does not contribute to voltage writing to the pixel 110 at all.
In addition, corresponding to the scanning lines 112 in the first to 320th rows, capacitance lines 132 are provided extending in the X direction, respectively. For this reason, in the present embodiment, the capacitor line 132 is provided corresponding to the 1st to 320th scanning lines 112 excluding the dummy 321st scanning line 112.

ここで、画素110の詳細な構成について説明する。図2は、画素110の構成を示す図であり、i行及びこれに下方向で隣接する(i+1)行と、j列及びこれに右方向で隣接する(j+1)列との交差に対応する2×2の計4画素分の構成が示されている。
なお、i、(i+1)は、画素110が配列する行を一般的に示す場合の記号であって、1以上320以下の整数であり、j、(j+1)は、画素110が配列する列を一般的に示す場合の記号であって、1以上240以下の整数である。ここで、i、(i+1)については、画素110が配列する行を一般的に示す場合には、1以上320以下の整数であるが、走査線112の行を説明する場合には、ダミーである321行目を含める場合があるので1以上321以下の整数となる。
Here, a detailed configuration of the pixel 110 will be described. FIG. 2 is a diagram showing the configuration of the pixel 110, corresponding to the intersection of the i row and the (i + 1) row adjacent thereto in the downward direction and the j column and the (j + 1) column adjacent thereto in the right direction. A 2 × 2 configuration for a total of four pixels is shown.
Note that i and (i + 1) are symbols for generally indicating a row in which the pixels 110 are arranged, and are integers of 1 to 320, and j and (j + 1) are columns in which the pixels 110 are arranged. It is a symbol in the case of showing generally, and is an integer of 1 or more and 240 or less. Here, i and (i + 1) are integers of 1 or more and 320 or less when generally indicating the row in which the pixels 110 are arranged, but are dummy when describing the row of the scanning line 112. Since there is a case where a certain 321st line is included, it is an integer of 1 to 321.

図2に示されるように、各画素110は、画素スイッチング素子として機能するnチャネル型の薄膜トランジスタ(thin film transistor:以下単に「TFT」と略称する)116と、画素容量(液晶容量)120と、蓄積容量130とを有する。各画素110については互いに同一構成なので、i行j列に位置するもので代表して説明すると、当該i行j列の画素110において、TFT116のゲート電極はi行目の走査線112に接続される一方、そのソース電極はj列目のデータ線114に接続され、そのドレイン電極は画素容量120の一端たる画素電極118に接続されている。
また、画素容量120の他端はコモン電極108に接続されている。このコモン電極108は、図1に示されるように全ての画素110にわたって共通であり、コモン信号Vcomが制御回路20から供給される。なお、本実施形態においてコモン信号Vcomは、後述するように時間的に電圧LCcomで一定である。
なお、図2において、Yi、Y(i+1)は、それぞれi、(i+1)行目の走査線112に供給される走査信号を示し、また、Ci、C(i+1)は、それぞれi、(i+1)行目の容量線132の電圧を示している。
As shown in FIG. 2, each pixel 110 includes an n-channel thin film transistor (hereinafter simply referred to as “TFT”) 116 that functions as a pixel switching element, a pixel capacitor (liquid crystal capacitor) 120, And a storage capacitor 130. Since each pixel 110 has the same configuration, a description will be given by representatively assuming that the pixel 110 is located in i row and j column. In the pixel 110 in the i row and j column, the gate electrode of the TFT 116 is connected to the scanning line 112 in the i row. On the other hand, the source electrode is connected to the data line 114 in the j-th column, and the drain electrode is connected to the pixel electrode 118 that is one end of the pixel capacitor 120.
The other end of the pixel capacitor 120 is connected to the common electrode 108. As shown in FIG. 1, the common electrode 108 is common to all the pixels 110, and a common signal Vcom is supplied from the control circuit 20. In the present embodiment, the common signal Vcom is constant at the voltage LCcom in terms of time as will be described later.
In FIG. 2, Yi and Y (i + 1) indicate scanning signals supplied to the i and (i + 1) th scanning lines 112, respectively, and Ci and C (i + 1) indicate i and (i + 1), respectively. ) The voltage of the capacitor line 132 in the row is shown.

表示領域100は、画素電極118が形成された素子基板とコモン電極108が形成された対向基板との一対の基板同士を、電極形成面が互いに対向するように一定の間隙を保って貼り合わせるとともに、この間隙に液晶105を封止した構成となっている。このため、画素容量120は、画素電極118とコモン電極108とで誘電体の一種である液晶105を挟持したものとなり、画素電極118とコモン電極108との差電圧を保持することになる。この構成において、画素容量120では、その透過光量が当該保持電圧の実効値に応じて変化する。
なお、本実施形態では説明の便宜上、画素容量120において保持される電圧実効値がゼロに近ければ、光の透過率が最大となって白色表示になる一方、電圧実効値が大きくなるにつれて透過する光量が減少して、ついには透過率が最小の黒色表示になるノーマリーホワイトモードとする。
In the display region 100, a pair of substrates, an element substrate on which the pixel electrode 118 is formed and a counter substrate on which the common electrode 108 is formed, are bonded together with a certain gap so that the electrode formation surfaces face each other. The liquid crystal 105 is sealed in the gap. Therefore, the pixel capacitor 120 sandwiches the liquid crystal 105 that is a kind of dielectric between the pixel electrode 118 and the common electrode 108, and holds the differential voltage between the pixel electrode 118 and the common electrode 108. In this configuration, in the pixel capacitor 120, the amount of transmitted light changes according to the effective value of the holding voltage.
In the present embodiment, for convenience of explanation, if the effective voltage value held in the pixel capacitor 120 is close to zero, the light transmittance is maximized to display white, while the effective voltage value is increased. The normally white mode in which the amount of light decreases and finally the black display with the minimum transmittance is achieved.

また、i行j列の画素110における蓄積容量130は、一端が画素電極118(TFT116のドレイン電極)に接続されるとともに、他端がi行目の容量線132に接続されている。ここで、画素容量120および蓄積容量130における容量値を、それぞれCpixおよびCsとする。   The storage capacitor 130 in the pixel 110 in the i row and j column has one end connected to the pixel electrode 118 (the drain electrode of the TFT 116) and the other end connected to the i-th capacitor line 132. Here, the capacitance values in the pixel capacitor 120 and the storage capacitor 130 are Cpix and Cs, respectively.

説明を再び図1に戻すと、制御回路20は、各種の制御信号を出力して電気光学装置10における各部の制御等をするとともに、第1容量信号Vc1を第1給電線165に供給し、第2容量信号Vc2を第2給電線167に供給し、さらにコモン信号Vcomをコモン電極
108に供給する。なお、制御信号や第1容量信号Vc1、第2容量信号Vc2については後述する。
Returning to FIG. 1 again, the control circuit 20 outputs various control signals to control each part in the electro-optical device 10, and supplies the first capacitance signal Vc1 to the first power supply line 165. The second capacitance signal Vc2 is supplied to the second power supply line 167, and the common signal Vcom is supplied to the common electrode. The control signal, the first capacitance signal Vc1, and the second capacitance signal Vc2 will be described later.

表示領域100の周辺には、上述したように、走査線駆動回路140や、容量線駆動回路150、データ線駆動回路190などの周辺回路が設けられている。
このうち、走査線駆動回路140は、制御回路20による制御にしたがって、1フレームの期間において、走査信号Y1、Y2、Y3、…、Y320、Y321を、それぞれ1、2、3、…、320、321行目の走査線112に供給するものである。詳細には、走査線駆動回路140は、走査線112を図1において上から数えて1、2、3、…、320、321行目という順番で選択して、選択した走査線への走査信号を選択電圧Vddに相当するHレベルとし、それ以外の走査線への走査信号を非選択電圧Vssに相当するLレベルとする。
As described above, peripheral circuits such as the scanning line driving circuit 140, the capacitor line driving circuit 150, and the data line driving circuit 190 are provided around the display region 100.
Among these, the scanning line driving circuit 140 sends the scanning signals Y1, Y2, Y3,..., Y320, Y321 to 1, 2, 3,. This is supplied to the scanning line 112 in the 321st row. Specifically, the scanning line driving circuit 140 selects the scanning lines 112 in the order of the first, second, third,..., 320, and 321st rows from the top in FIG. Is set to the H level corresponding to the selection voltage Vdd, and the scanning signals to the other scanning lines are set to the L level corresponding to the non-selection voltage Vss.

なお、走査線駆動回路140は、図4に示されるように、制御回路20から供給される
スタートパルスDyを、クロック信号Clyにしたがって順次シフトすること等によって、
走査信号Y1、Y2、Y3、Y4、…、Y320、Y321を出力する また、本実施形態において1フレームの期間には、走査信号Y1がHレベルになってから走査信号Y320がLレベルになるまでの有効走査期間Faのほか、それ以外の垂直帰線期間が含まれる
。なお、1行の走査線112が選択されて選択電圧が印加される期間が水平走査期間Hである。
As shown in FIG. 4, the scanning line driving circuit 140 sequentially shifts the start pulse Dy supplied from the control circuit 20 in accordance with the clock signal Cly.
The scanning signals Y1, Y2, Y3, Y4,..., Y320, Y321 are output. In this embodiment, during the period of one frame, the scanning signal Y1 becomes H level until the scanning signal Y320 becomes L level. In addition to the effective scanning period Fa, other vertical blanking periods are included. The horizontal scanning period H is a period in which one row of scanning lines 112 is selected and a selection voltage is applied.

容量線駆動回路150は、本実施形態では、1〜320行目の容量線132に対応して設けられたnチャネル型のTFT151、152の組から構成される。ここで、i行目の容量線132に対応するTFT151、152について説明すると、当該TFT151(第1トランジスタ)のゲート電極は、i行目の走査線112に接続され、そのソース電極は、第1給電線165に接続される一方、TFT152(第2トランジスタ)のゲート電極は、(i+1)行目の走査線112に接続され、そのソース電極は、第2給電線167に接続されている。そして、TFT151、152のドレイン電極同士がi行目の容量線132に共通接続されている。   In the present embodiment, the capacitor line driving circuit 150 includes a set of n-channel TFTs 151 and 152 provided corresponding to the capacitor lines 132 in the first to 320th rows. Here, the TFTs 151 and 152 corresponding to the i-th capacitor line 132 will be described. The gate electrode of the TFT 151 (first transistor) is connected to the i-th scanning line 112, and the source electrode thereof is the first On the other hand, the gate electrode of the TFT 152 (second transistor) is connected to the scanning line 112 in the (i + 1) th row, and its source electrode is connected to the second power supply line 167 while being connected to the power supply line 165. The drain electrodes of the TFTs 151 and 152 are commonly connected to the i-th capacitor line 132.

このような構成において、i行目の走査線112に供給される走査信号YiがHレベルになると、走査信号Y(i+1)はLレベルであるから、i行目のTFT151がオンし、TFT152がオフするので、i行目の容量線132が第1給電線165に接続される。このため、i行目の容量線132の電圧は、第1給電線165に供給される第1容量信号Vc1で決定されることになる。
次に、走査信号YiがLレベルとなり、次の(i+1)行目の走査線112に供給される走査信号Y(i+1)がHレベルになると、i行目のTFT151がオフし、TFT152がオンするので、i行目の容量線132が第2給電線167に接続される。このため、i行目の容量線132の電圧は、第2給電線167に供給された第2容量信号Vc2で決定されることになる。
In such a configuration, when the scanning signal Yi supplied to the i-th scanning line 112 becomes H level, since the scanning signal Y (i + 1) is at L level, the i-th TFT 151 is turned on and the TFT 152 is turned on. Since it is turned off, the i-th capacitor line 132 is connected to the first power supply line 165. For this reason, the voltage of the capacitor line 132 in the i-th row is determined by the first capacitor signal Vc1 supplied to the first feeder line 165.
Next, when the scanning signal Yi becomes L level and the scanning signal Y (i + 1) supplied to the next (i + 1) th scanning line 112 becomes H level, the i-th TFT 151 is turned off and the TFT 152 is turned on. Therefore, the i-th capacitor line 132 is connected to the second power feed line 167. For this reason, the voltage of the capacitance line 132 in the i-th row is determined by the second capacitance signal Vc2 supplied to the second feeder line 167.

データ線駆動回路190は、走査線駆動回路140によってHレベルの走査信号が供給される走査線(選択走査線)に位置する画素110に対して、階調に応じた電圧であって、かつ、極性指示信号Polで指定された極性に応じた電圧(詳細については後述する)のデータ信号をデータ線114に供給するものである。
ここで、データ線駆動回路190は、縦320行×横240列のマトリクス配列に対応した記憶領域(図示省略)を有し、各記憶領域には、それぞれ対応する画素110の階調値(明るさ)を指定する表示データDaが記憶される。各記憶領域に記憶される表示デー
タDaは、表示内容に変更が生じた場合に、制御回路20によって変更後の表示データDaが供給されて記憶領域の内容が書き換えられる。
データ線駆動回路190は、選択走査線に位置する画素110の表示データDaを記憶
領域から1行分読み出すとともに、当該読み出した表示データで指定された階調および指定された極性に応じた電圧のデータ信号に変換し、データ線114に供給する動作を、選択走査線位置する1〜240列のそれぞれについて実行する。
The data line driving circuit 190 is a voltage corresponding to the gradation with respect to the pixel 110 located on the scanning line (selected scanning line) to which the H level scanning signal is supplied by the scanning line driving circuit 140, and A data signal having a voltage (details will be described later) corresponding to the polarity designated by the polarity instruction signal Pol is supplied to the data line 114.
Here, the data line driving circuit 190 has storage areas (not shown) corresponding to a matrix arrangement of 320 rows × 240 columns, and each storage area has a gradation value (brightness) of the corresponding pixel 110. Display data Da for designating the data is stored. The display data Da stored in each storage area is supplied with the changed display data Da by the control circuit 20 when the display contents are changed, and the contents of the storage area are rewritten.
The data line driving circuit 190 reads out the display data Da of the pixels 110 located on the selected scanning line for one row from the storage area, and at a voltage corresponding to the gradation specified by the read display data and the specified polarity. The operation of converting to a data signal and supplying it to the data line 114 is executed for each of the 1st to 240th columns positioned at the selected scanning line.

書込極性は、制御回路20によって出力される極性指定信号Polによって指定される。詳細には、極性指定信号Polは、本実施形態では図4に示されるように、ある1フレームの期間(「nフレーム」と表記)において、奇数1、3、5、…、319行への走査信号がHレベルとなる期間においてHレベルとなって正極性書込を指定し、偶数2、4、6、…、320行への走査信号がHレベルとなる期間においてLレベルとなって負極性書込を指定する。このため、本実施形態では、画素への書き込み極性が、走査線毎に反転する走査線反転(ライン反転)方式となる。
また、極性指示信号Polは、次の(n+1)フレームにおいて、奇数行への走査信号がHレベルとなる期間においてLレベルとなり、偶数行への走査信号がHレベルとなる期間
においてHレベルとなって、nフレームと比較して各行について書込極性が反転する。このように書込極性を反転する理由は、直流成分の印加による液晶の劣化を防止するためである。
なお、本実施形態における書込極性については、画素容量120に対して電圧を保持させる際に、コモン電極108の電圧LCcomよりも画素電極118の電位を高位側とする
場合を正極性といい、低位側とする場合を負極性という。
電圧については、特に説明のない限り、図示しない電源の接地電位を電圧ゼロの基準としている。
The write polarity is designated by a polarity designation signal Pol output by the control circuit 20. Specifically, in this embodiment, the polarity designation signal Pol is supplied to odd-numbered 1, 3, 5,..., 319 lines in a period of one frame (denoted as “n frame”) as shown in FIG. In the period when the scanning signal is at the H level, the positive writing is designated, and the scanning signal to even rows 2, 4, 6,. Specifies sex writing. Therefore, in this embodiment, a scanning line inversion (line inversion) method in which the writing polarity to the pixel is inverted for each scanning line is employed.
In addition, in the next (n + 1) frame, the polarity instruction signal Pol becomes L level during a period when the scanning signal to the odd-numbered row is H level, and becomes H level during the period when the scanning signal to the even-numbered row is H level. Thus, the writing polarity is inverted for each row as compared with the n frame. The reason for reversing the writing polarity in this way is to prevent deterioration of the liquid crystal due to application of a DC component.
As for the writing polarity in the present embodiment, when the voltage is held in the pixel capacitor 120, the case where the potential of the pixel electrode 118 is higher than the voltage LCcom of the common electrode 108 is called positive polarity. The case of the lower side is called negative polarity.
As for the voltage, unless otherwise specified, the ground potential of a power source (not shown) is used as a reference for zero voltage.

第1容量信号Vc1は、極性指示信号Polによって、ある行の画素に対して正極性書込が指定されていれば、当該行への走査信号がHレベルとなる期間のうち、時間的に前方寄りの期間Haにおいて電圧(Vsl−Va)となり、残りの期間である時間的に後方寄りの期間Hbにおいて電圧Vslとなる。一方、第1容量信号Vc1は、ある行の画素に対して負極性
書込が指定されていれば、当該行への走査信号がHレベルとなる期間のうち、期間Haに
おいて電圧(Vsh+Va)となり、期間Hbにおいて電圧Vshとなる。
また、第2容量信号Vc2は、本実施形態では極性指示信号Polで指定される書込極性にかかわらず、コモン電極108と同じ電圧LCcomで一定である。
ここで、電圧Vsl、Vshは、(Vss≦)Vsl<Vsh(≦Vdd)という関係にあり、電圧Vslが、電圧Vshよりも相対的に低い電圧となっている。また、本実施形態では、電圧Vslと電圧LCcomとの差、および、電圧Vshと電圧LCcomとの差、をそれぞれΔVとしている。このため、電圧(Vsl−Va)および電圧(Vsh+Va)と、電圧Vslおよび電圧Vshとは、それぞれ電圧LCcomを基準にして対称の位置関係にある。
If positive polarity writing is designated for a pixel in a certain row by the polarity instruction signal Pol, the first capacitance signal Vc1 is temporally forward in the period in which the scanning signal to the row is at the H level. The voltage becomes Vsl−Va in the close period Ha, and becomes the voltage Vsl in the time period Hb that is the rearward period, which is the remaining period. On the other hand, if negative polarity writing is designated for a pixel in a certain row, the first capacitance signal Vc1 becomes a voltage (Vsh + Va) in the period Ha during the period in which the scanning signal to that row is at the H level. In the period Hb, the voltage becomes Vsh.
Further, in the present embodiment, the second capacitance signal Vc2 is constant at the same voltage LCcom as that of the common electrode 108, regardless of the writing polarity specified by the polarity instruction signal Pol.
Here, the voltages Vsl and Vsh have a relationship of (Vss ≦) Vsl <Vsh (≦ Vdd), and the voltage Vsl is relatively lower than the voltage Vsh. In the present embodiment, the difference between the voltage Vsl and the voltage LCcom and the difference between the voltage Vsh and the voltage LCcom are respectively set to ΔV. Therefore, the voltage (Vsl−Va) and the voltage (Vsh + Va), and the voltage Vsl and the voltage Vsh are in a symmetrical positional relationship with respect to the voltage LCcom.

なお、制御回路20は、クロック信号Clyの論理レベルが遷移するタイミングにおいてラッチパルスLpをデータ線駆動回路190に供給する。上述したように、走査線駆動回
路140は、スタートパルスDyをクロック信号Clyにしたがって順次シフトすること等
によって、走査信号Y1、Y2、Y3、Y4、…、Y320、Y321を出力するので、走査線がHレベルとなる期間の開始タイミングは、クロック信号Clyの論理レベルが遷移するタイミングである。したがって、データ線駆動回路190は、例えばラッチパルスLpを1フレームの期間にわたってカウントし続けることによって何行目の走査信号がHレ
ベルとなるのか、および、ラッチパルスLpの供給タイミングによってHレベルとなる期
間の開始タイミングを知ることができる。
The control circuit 20 supplies the latch pulse Lp to the data line driving circuit 190 at the timing when the logic level of the clock signal Cly changes. As described above, the scanning line driving circuit 140 outputs the scanning signals Y1, Y2, Y3, Y4,..., Y320, Y321 by sequentially shifting the start pulse Dy according to the clock signal Cly. The start timing of the period during which becomes H level is the timing at which the logic level of the clock signal Cly transitions. Therefore, the data line driving circuit 190 becomes H level depending on, for example, which row scanning signal becomes H level by continuously counting the latch pulse Lp over a period of one frame and the supply timing of the latch pulse Lp. You can know the start timing of the period.

本実施形態において、素子基板には、表示領域100における走査線112や、データ線114、TFT116、画素電極118、蓄積容量130に加えて、容量線駆動回路150におけるTFT151、152、第1給電線165、第2給電線167なども形成される。   In the present embodiment, the element substrate includes the scanning lines 112 in the display region 100, the data lines 114, the TFTs 116, the pixel electrodes 118, and the storage capacitors 130, as well as the TFTs 151 and 152 in the capacitor line driving circuit 150, and the first feeder lines. 165, the second feeder 167, and the like are also formed.

図3は、このような素子基板のうち、容量線駆動回路150と表示領域100の周辺付近との構成を示す平面図である。
この図に示されるように、本実施形態では、TFT116、151、152は、アモルファスシリコン型であって、そのゲート電極が半導体層よりも下側に位置するボトムゲート型である。詳細には、第1導電層となるゲート電極層のパターニングにより走査線112や容量線132などが形成され、その上にゲート絶縁膜(図示省略)が形成され、さらにTFT116、151、152の半導体層が島状に形成されている。この半導体層の上には、保護層を介して第2導電層となるITO(indium tin oxide)層がパターニングされて、矩形形状であって透明性を有する画素電極118が形成され、さらに、第3導電層となるアルミニウムなどの金属層がパターニングにされて、TFT116、151、152のソース・ドレイン電極や、データ線114、第1給電線165、第2給電線167等の配線が形成されている。
FIG. 3 is a plan view showing the configuration of the capacitive line driving circuit 150 and the vicinity of the display area 100 in such an element substrate.
As shown in this figure, in the present embodiment, the TFTs 116, 151, and 152 are of an amorphous silicon type, and are of a bottom gate type in which the gate electrode is located below the semiconductor layer. Specifically, the scanning line 112, the capacitor line 132, and the like are formed by patterning the gate electrode layer serving as the first conductive layer, a gate insulating film (not shown) is formed thereon, and the semiconductors of the TFTs 116, 151, and 152 are further formed. The layer is formed in an island shape. On the semiconductor layer, an ITO (indium tin oxide) layer serving as a second conductive layer is patterned through a protective layer to form a pixel electrode 118 having a rectangular shape and transparency. A metal layer such as aluminum to be the three conductive layers is patterned to form source / drain electrodes of the TFTs 116, 151, 152, wirings such as the data line 114, the first power supply line 165, and the second power supply line 167. Yes.

ここで、容量線駆動回路150において、i行目に対応するTFT151のゲート電極は、i行目の走査線112からY(下)方向にT字状に分岐した部分であり、同じくi行目に対応するTFT152のゲート電極は、(i+1)行目の走査線112からY(上)方向にT字状に分岐した部分である。
また、i行目に対応するTFT151、152の共通ドレイン電極132aは、上記第3導電層をパターニングしたものであり、上記ゲート絶縁膜および保護層を貫通するコンタクトホール(図において×印)132bを介し、i行目の容量線132に接続される。
一方、表示領域100において、蓄積容量130は、画素電極118の下層において幅広となるように形成された容量線132の部分と当該画素電極118とにより上記ゲート絶縁膜を誘電体として挟持した構成である。このため、蓄積容量130の他端は、容量線132そのものとなる。
なお、画素電極118と対向するコモン電極108は、対向基板に形成されるので、素子基板の平面図を示す図3には現れない。
Here, in the capacitor line driving circuit 150, the gate electrode of the TFT 151 corresponding to the i-th row is a portion branched in a T shape in the Y (downward) direction from the i-th scanning line 112. The gate electrode of the TFT 152 corresponding to is a portion branched in a T shape in the Y (up) direction from the scanning line 112 in the (i + 1) th row.
The common drain electrode 132a of the TFTs 151 and 152 corresponding to the i-th row is obtained by patterning the third conductive layer, and has a contact hole (marked with x in the figure) 132b penetrating the gate insulating film and the protective layer. Through the i-th capacitor line 132.
On the other hand, in the display region 100, the storage capacitor 130 has a configuration in which the gate insulating film is sandwiched as a dielectric by the portion of the capacitor line 132 formed so as to be wide in the lower layer of the pixel electrode 118 and the pixel electrode 118. is there. For this reason, the other end of the storage capacitor 130 becomes the capacitor line 132 itself.
Note that the common electrode 108 facing the pixel electrode 118 is formed on the counter substrate, and thus does not appear in FIG. 3 showing a plan view of the element substrate.

図3に示す構成は、あくまでも一例であり、TFTについては他の構造、例えばゲート電極の配置でいえばトップゲート型としても良いし、プロセスでいえばポリシリコン型としても良い。また、容量線駆動回路150の構成素子についてはTFT116と共通プロセスで形成するのではなく、別体のICチップを素子基板側に実装する構成としても良い。
ICチップを素子基板側に実装する場合、走査線駆動回路140、容量線駆動回路150を、データ線駆動回路190とともに半導体チップとしてまとめても良いし、それぞれ別々のチップとしても良い。また、制御回路20については、素子基板に造り込む構成としても良い。
また、本実施形態を透過型ではなく反射型とする場合には、画素電極118について反射性の導電層をパターニングしたものとしても良いし、別途の反射性金属層を持たせても良い。さらに、透過型および反射型の両者を組み合わせた、いわゆる半透過半反射型としても良い。
The configuration shown in FIG. 3 is merely an example, and the TFT may have another structure, for example, a top gate type in terms of the arrangement of the gate electrode, or a polysilicon type in terms of the process. In addition, the constituent elements of the capacitor line driving circuit 150 are not formed by a common process with the TFT 116, but a separate IC chip may be mounted on the element substrate side.
When the IC chip is mounted on the element substrate side, the scanning line driving circuit 140 and the capacitor line driving circuit 150 may be integrated as a semiconductor chip together with the data line driving circuit 190, or may be separate chips. Further, the control circuit 20 may be configured to be built in the element substrate.
When the present embodiment is a reflective type instead of a transmissive type, the reflective conductive layer may be patterned for the pixel electrode 118, or a separate reflective metal layer may be provided. Furthermore, a so-called transflective type in which both a transmissive type and a reflective type are combined may be used.

次に、本実施形態に係る電気光学装置10の動作について説明する。
nフレームにおいて、走査線駆動回路140は、走査信号Y1、Y2、Y3、…、Y321を順番にHレベルとする。そこでまず、これらの各行のうち、代表してi行目および(i+1)行目の動作について説明する。また、ここでは、iを奇数とし、(i+1)を偶数として、i行目の画素に対して正極性の電圧が書き込まれるものとする。
走査信号YiがHレベルになると、i行j列のTFT116がオンするので、正極性のデータ信号Xjが画素容量120の一端(画素電極118)と蓄積容量130の一端とにそれぞれ印加される。
一方、走査信号YiがHレベルであれば、走査信号Y(i+1)はLレベルである。このため、容量線駆動回路150では、i行目に対応するTFT151がオンし、TFT152がオフであるので、当該i行目の容量線132は、第1給電線165に接続された状態となる。ここで、第1給電線165に供給される第1容量信号Vc1は、i行目に対して正極性書込が指定されているので、走査信号YiがHレベルとなる期間のうち、前半寄りの期間Haにおいて電圧(Vsl−Va)であり、後半寄りの期間Hbにおいて電圧Vslであ
る。
したがって、このときのデータ信号Xjの電圧をVjとすれば、走査信号YiがHレベルとなる期間の終了時には、図5(a)に示されるようにi行j列における画素容量120には電圧(Vj−LCcom)が充電され、蓄積容量130には電圧(Vj−Vsl)が充
電される。
Next, the operation of the electro-optical device 10 according to this embodiment will be described.
In the n frame, the scanning line driving circuit 140 sequentially sets the scanning signals Y1, Y2, Y3,. First, of these rows, the operations of the i-th row and the (i + 1) -th row will be described as a representative. Here, i is an odd number, (i + 1) is an even number, and a positive voltage is written to a pixel in the i-th row.
When the scanning signal Yi becomes H level, the TFTs 116 in the i-th row and j-th column are turned on, so that the positive data signal Xj is applied to one end of the pixel capacitor 120 (pixel electrode 118) and one end of the storage capacitor 130, respectively.
On the other hand, when the scanning signal Yi is at the H level, the scanning signal Y (i + 1) is at the L level. For this reason, in the capacitor line driving circuit 150, the TFT 151 corresponding to the i-th row is turned on and the TFT 152 is turned off, so that the i-th row capacitor line 132 is connected to the first power supply line 165. . Here, since the first capacity signal Vc1 supplied to the first power supply line 165 is designated as positive polarity writing for the i-th row, the first capacitance signal Vc1 is closer to the first half of the period in which the scanning signal Yi is at the H level. In the period Ha, the voltage is Vsl-Va, and in the period Hb closer to the second half, the voltage is Vsl.
Therefore, if the voltage of the data signal Xj at this time is Vj, the voltage is applied to the pixel capacitor 120 in the i row and j column as shown in FIG. 5A at the end of the period in which the scanning signal Yi is at the H level. (Vj−LCcom) is charged, and the storage capacitor 130 is charged with a voltage (Vj−Vsl).

次に走査信号YiがLレベルになるとともに、走査信号Y(i+1)がHレベルになる
。走査信号YiがLレベルになると、i行1列〜i行240列の画素におけるTFT116がオフする。また、走査信号YiがLレベル、走査信号Y(i+1)がHレベルであれば、容量線駆動回路150では、i行目に対応するTFT151がオフし、TFT152がオンして、当該i行目の容量線132は、第2給電線167に接続された状態となり、電圧LCcomに上昇する。このため、図5(b)に示されるように、画素容量120と蓄
積容量130との直列接続において、画素容量120の他端(コモン電極)が電圧LCcomに保たれたまま、蓄積容量130の他端が電圧Vslから電圧LCcomに電圧ΔVだけ上昇するので、電荷の再配分により画素電極118の電圧も上昇する。
Next, the scanning signal Yi becomes L level and the scanning signal Y (i + 1) becomes H level. When the scanning signal Yi becomes L level, the TFTs 116 in the pixels in the i row 1 column to the i row 240 column are turned off. If the scanning signal Yi is L level and the scanning signal Y (i + 1) is H level, the capacitor line driving circuit 150 turns off the TFT 151 corresponding to the i-th row, turns on the TFT 152, and turns on the i-th row. The capacitor line 132 is connected to the second power supply line 167 and rises to the voltage LCcom. For this reason, as shown in FIG. 5B, in the series connection of the pixel capacitor 120 and the storage capacitor 130, the other end (common electrode) of the pixel capacitor 120 is maintained at the voltage LCcom. Since the other end rises from the voltage Vsl to the voltage LCcom by the voltage ΔV, the voltage of the pixel electrode 118 also rises due to charge redistribution.

詳細には、当該直列の接続点である画素電極118の電圧は、
Vj+{Cs/(Cs+Cpix)}・ΔV
となり、走査信号YiがHレベルであったときのデータ信号の電圧Vjよりも、i行目の容量線132の電圧変化分ΔVに、画素容量120および蓄積容量130の容量比{Cs/(Cs+Cpix)}を乗じた値だけ上昇することになる。
換言すれば、i行目の容量線132の電圧CiがΔVだけ上昇すると、画素電極118の電圧は、走査信号YiがHレベルであったときのデータ信号の電圧Vjよりも、{Cs
/(Cs+Cpix)}・ΔV(=ΔVpixとする)だけ上昇することになる。なお、各部の
寄生容量は無視している。
Specifically, the voltage of the pixel electrode 118 which is the series connection point is
Vj + {Cs / (Cs + Cpix)} · ΔV
Therefore, the capacitance ratio {Cs / (Cs + Cpix) of the pixel capacitor 120 and the storage capacitor 130 is more than the voltage change ΔV of the capacitor line 132 in the i-th row than the voltage Vj of the data signal when the scanning signal Yi is at the H level. )}.
In other words, when the voltage Ci of the capacitor line 132 in the i-th row is increased by ΔV, the voltage of the pixel electrode 118 is more than {Cs than the voltage Vj of the data signal when the scanning signal Yi is at the H level.
/ (Cs + Cpix)} · ΔV (= ΔVpix). Note that the parasitic capacitance of each part is ignored.

以後、本実施形態においてi行目の容量線132は、再度、走査信号YiがHレベルとなるまで寄生容量によって電圧LCcomに保持されるので、画素容量120によって保持
される電圧は、電圧ΔVpixだけ上昇した画素電極118の電圧とコモン電極108の電
圧LCcomとの差電圧ということになる。
このため、データ線駆動回路190は、正極性書込が指定される場合に、走査信号YiがHレベルのときのデータ信号Xjを、画素電極118が電圧ΔVpixだけ上昇すること
を見越した電圧とする。すなわち、データ線駆動回路190は、データ信号Xjを、上昇後の画素電極118の電圧がコモン電極108の電圧LCcomよりも高位であって両者の
差電圧がi行j列の階調に応じた値となるような電圧とする。
詳細には、図6に示されるように、電圧ΔVpixだけ上昇したときに、画素電極は、白
色wに相当する電圧Vw(+)から黒色bに相当する電圧Vb(+)までの範囲cであって、階調が低く(暗く)なるにつれて電圧Vw(+)から高位側の電圧となるので、電圧ΔVpixだけ
上昇する前に画素電極に印加すべきデータ信号は、範囲cをΔVpixだけ下降させた範囲
dであって、低い階調を指定するにつれて高位側とした電圧となる。
Thereafter, in the present embodiment, the capacitance line 132 in the i-th row is held at the voltage LCcom by the parasitic capacitance until the scanning signal Yi becomes the H level again. Therefore, the voltage held by the pixel capacitor 120 is only the voltage ΔVpix. This is a difference voltage between the increased voltage of the pixel electrode 118 and the voltage LCcom of the common electrode 108.
Therefore, the data line driving circuit 190 uses the data signal Xj when the scanning signal Yi is at the H level as a voltage in anticipation that the pixel electrode 118 rises by the voltage ΔVpix when positive polarity writing is designated. To do. That is, the data line driving circuit 190 determines that the data signal Xj has a voltage of the pixel electrode 118 after the rise is higher than the voltage LCcom of the common electrode 108, and the difference voltage between the two corresponds to the gray level of i row and j column. Set the voltage to a value.
Specifically, as shown in FIG. 6, when the voltage ΔVpix increases, the pixel electrode has a range c from a voltage Vw (+) corresponding to white w to a voltage Vb (+) corresponding to black b. Since the voltage becomes higher from the voltage Vw (+) as the gray level becomes lower (darker), the data signal to be applied to the pixel electrode before rising by the voltage ΔVpix lowers the range c by ΔVpix. Within the range d, the voltage becomes higher as the lower gradation is designated.

一方、i行目の画素に対して正極性書込が指定されると、次の(i+1)行目の画素に対しては負極性書込が指定される。走査信号Y(i+1)がHレベルになると、(i+1)行j列のTFT116がオンして、負極性のデータ信号Xjが画素容量120の一端(画素電極118)と蓄積容量130の一端とにそれぞれ印加される。
走査信号Y(i+1)がHレベルであれば、走査信号Y(i+2)はLレベルであるから、(i+1)行目に対応するTFT151がオンし、TFT152がオフし、当該(i+1)行目の容量線132は、第1給電線165に接続される。ここで、第1給電線165に供給される第1容量信号Vc1は、(i+1)行目に対して負極性書込が指定されているので、走査信号Y(i+1)がHレベルとなる期間のうち、前半寄りの期間Haにおい
て電圧(Vsh+Va)であり、後半寄りの期間Hbにおいて電圧Vshである。
したがって、走査信号Y(i+1)がHレベルとなる期間の終了時には、図5(c)に示されるように(i+1)行j列における画素容量120には電圧(LCcom−Vj)が
充電され、蓄積容量130には電圧(Vsh−Vj)が充電される。
On the other hand, when the positive polarity writing is designated for the pixel in the i-th row, the negative polarity writing is designated for the pixel in the next (i + 1) -th row. When the scanning signal Y (i + 1) becomes H level, the TFT 116 in (i + 1) rows and j columns is turned on, and the negative data signal Xj is supplied to one end of the pixel capacitor 120 (pixel electrode 118) and one end of the storage capacitor 130. Each is applied.
If the scanning signal Y (i + 1) is at the H level, the scanning signal Y (i + 2) is at the L level, so the TFT 151 corresponding to the (i + 1) th row is turned on, the TFT 152 is turned off, and the (i + 1) th row. The capacitor line 132 is connected to the first power supply line 165. Here, since the first capacity signal Vc1 supplied to the first power supply line 165 designates negative polarity writing for the (i + 1) th row, the period during which the scanning signal Y (i + 1) is at the H level. Among them, the voltage (Vsh + Va) is in the period Ha near the first half, and the voltage Vsh is in the period Hb near the second half.
Therefore, at the end of the period in which the scanning signal Y (i + 1) is at the H level, as shown in FIG. 5C, the pixel capacitor 120 in (i + 1) rows and j columns is charged with a voltage (LCcom−Vj). The storage capacitor 130 is charged with a voltage (Vsh−Vj).

次に走査信号Y(i+1)がLレベルになるとともに、走査信号Y(i+2)がHレベルになる。走査信号Y(i+1)がLレベルになると、(i+1)行1列〜(i+1)行
240列の画素におけるTFT116がオフする。また、走査信号Y(i+1)がLレベル、走査信号Y(i+2)がHレベルであれば、(i+1)行目に対応するTFT151がオフし、TFT152がオンして、当該(i+1)行目の容量線132は、第2給電線167に接続された状態となり、電圧LCcomに下降する。このため、図5(d)に示さ
れるように画素容量120と蓄積容量130との直列接続において、画素容量120の他端(コモン電極)が電圧LCcomに保たれたまま、蓄積容量130の他端が電圧Vshから
電圧LCcomに電圧ΔVだけ下降するので、電荷の再配分により画素電極118の電圧も
下降する。
Next, the scanning signal Y (i + 1) becomes L level and the scanning signal Y (i + 2) becomes H level. When the scanning signal Y (i + 1) becomes L level, the TFTs 116 in the pixels in the (i + 1) row 1 column to the (i + 1) row 240 column are turned off. If the scanning signal Y (i + 1) is L level and the scanning signal Y (i + 2) is H level, the TFT 151 corresponding to the (i + 1) th row is turned off, the TFT 152 is turned on, and the (i + 1) th row is turned on. The capacitor line 132 is connected to the second power supply line 167 and drops to the voltage LCcom. For this reason, as shown in FIG. 5D, in the serial connection of the pixel capacitor 120 and the storage capacitor 130, the other end (common electrode) of the pixel capacitor 120 is maintained at the voltage LCcom and Since the end decreases from the voltage Vsh to the voltage LCcom by the voltage ΔV, the voltage of the pixel electrode 118 also decreases due to the charge redistribution.

詳細には、画素電極118の電圧は、
Vj−{Cs/(Cs+Cpix)}・ΔV
となり、走査信号Y(i+1)がHレベルであったときのデータ信号の電圧Vjよりも、(i+1)行目の容量線132の電圧変化分ΔVに、容量比{Cs/(Cs+Cpix)}
を乗じた値だけ下降することになる。
Specifically, the voltage of the pixel electrode 118 is
Vj− {Cs / (Cs + Cpix)} · ΔV
Thus, the capacitance ratio {Cs / (Cs + Cpix)} is greater than the voltage change ΔV of the capacitor line 132 in the (i + 1) th row, rather than the voltage Vj of the data signal when the scanning signal Y (i + 1) is at the H level.
Decreases by the value multiplied by.

このため、データ線駆動回路190は、負極性書込が指定される場合に、走査信号YiがHレベルのときのデータ信号Xjを、画素電極118が電圧ΔVpixだけ下降すること
を見越した電圧とする。すなわち、データ線駆動回路190は、データ信号Xjを、下降後の画素電極118の電圧がコモン電極108の電圧LCcomよりも高位であって両者の
差電圧がi行j列の階調に応じた値となるような電圧とする。詳細には、図6に示されるように、電圧ΔVpixだけ下降したときに、画素電極は、白色wに相当する電圧Vw(-)か
ら黒色bに相当する電圧Vb(-)までの範囲eであって、階調が低く(暗く)なるにつれて電圧Vw(-)から低位側の電圧となるので、電圧ΔVpixだけ下降する前に画素電極に印加
すべきデータ信号は、範囲eをΔVpixだけ上昇させた範囲fであって、低い階調を指定
するにつれて低位側とした電圧となる。
Therefore, when the negative polarity writing is designated, the data line driving circuit 190 uses the data signal Xj when the scanning signal Yi is at the H level as a voltage in anticipation that the pixel electrode 118 drops by the voltage ΔVpix. To do. That is, the data line driving circuit 190 determines that the data signal Xj is a voltage corresponding to the gray level of the i row and j column when the voltage of the pixel electrode 118 after the drop is higher than the voltage LCcom of the common electrode 108. Set the voltage to a value. Specifically, as shown in FIG. 6, when the voltage ΔVpix drops, the pixel electrode has a range e from a voltage Vw (−) corresponding to white w to a voltage Vb (−) corresponding to black b. Since the voltage becomes lower from the voltage Vw (−) as the gradation becomes lower (darker), the data signal to be applied to the pixel electrode before dropping by the voltage ΔVpix increases the range e by ΔVpix. Within the range f, the voltage becomes lower as the lower gradation is designated.

なお、図7は、走査信号と容量線と画素電極との電圧関係を示す図であり、i行j列の画素電極118の電圧変化をPix(i,j)で示し、i行(j+1)列の画素電極118の電圧変化をPix(i+1,j)で示している。
この図に示されるように、i行目に正極性書込が指定されている場合、i行目の容量線132の電圧Ciは、走査信号YiがHレベルからLレベルに変化するタイミングの直前において電圧Vslとなり、その次の走査信号Y(i+1)がHレベルになったときに電圧LCcomとなって電圧ΔVだけ上昇する。
一方、i行目に正極性書込が指定されている場合、(i+1)行目には負極性書込が指定されるので、(i+1)行目の容量線132の電圧C(i+1)は、走査信号Y(i+1)がHレベルからLレベルに変化するタイミングの直前において電圧Vshとなり、その次の走査信号Y(i+2)がHレベルになったときに電圧LCcomとなって電圧ΔVだけ
下降する。
なお、この図で示される容量線132の電圧Ci、C(i+1)は、理想的な場合を示しており、実際の波形は、後述する通りである。
FIG. 7 is a diagram showing the voltage relationship among the scanning signal, the capacitor line, and the pixel electrode. The voltage change of the pixel electrode 118 in i row and j column is indicated by Pix (i, j), and i row (j + 1). The voltage change of the pixel electrode 118 in the column is indicated by Pix (i + 1, j).
As shown in this figure, when positive polarity writing is designated in the i-th row, the voltage Ci of the capacitance line 132 in the i-th row is just before the timing when the scanning signal Yi changes from the H level to the L level. When the next scanning signal Y (i + 1) becomes H level, the voltage becomes LCcom and increases by the voltage ΔV.
On the other hand, when positive polarity writing is designated in the i-th row, negative polarity writing is designated in the (i + 1) -th row, so that the voltage C (i + 1) of the capacitor line 132 in the (i + 1) -th row is The voltage Vsh immediately before the timing when the scanning signal Y (i + 1) changes from the H level to the L level, and when the next scanning signal Y (i + 2) becomes the H level, the voltage becomes LCcom and decreases by the voltage ΔV. To do.
Note that the voltages Ci and C (i + 1) of the capacitor line 132 shown in this figure show an ideal case, and the actual waveforms are as described later.

次に、nフレームにおいて、実際の各行の動作について順番に説明すると、走査線駆動回路140によって最初に走査信号Y1がHレベルになる。一方、走査信号Y1がHレベルになるタイミングにおいてラッチパルスLpが出力されると、データ線駆動回路190
は、1行目であって1〜240列目の画素の表示データDaを読み出すとともに、当該表
示データDaで指定された階調および正極性に応じた電圧(ΔVpixの上昇を見越して、範囲dであって低い階調を指定するにつれて高位側とした電圧)のデータ信号X1〜X240に変換し、それぞれ1〜240列のデータ線114に供給する。走査信号Y1がHレベルになると、1行1列〜1行240列の画素におけるTFT116がオンするので、これらの画素電極118には、データ信号X1〜X240が印加される。このため、走査信号
Y1がHレベルとなる期間において、1行1列〜1行240列の画素容量120には、それぞれデータ信号X1〜X240の電圧とコモン電極108の電圧LCcomとの差電圧が
書き込まれることになる。
Next, in the n frame, the actual operation of each row will be described in order. The scanning signal driving circuit 140 first sets the scanning signal Y1 to the H level. On the other hand, when the latch pulse Lp is output at the timing when the scanning signal Y1 becomes the H level, the data line driving circuit 190 is output.
Reads out the display data Da of the pixels in the first row and the 1st to 240th columns, and at the same time, the voltage corresponding to the gradation and the positive polarity specified by the display data Da (range d The data signals are converted to data signals X1 to X240 having higher voltages as a low gradation is specified, and are supplied to the data lines 114 of 1 to 240 columns, respectively. When the scanning signal Y1 becomes H level, the TFTs 116 in the pixels in the 1st row and 1st column to the 1st row and 240th column are turned on, so that the data signals X1 to X240 are applied to these pixel electrodes 118. For this reason, during the period in which the scanning signal Y1 is at the H level, the voltage difference between the voltage of the data signals X1 to X240 and the voltage LCcom of the common electrode 108 is applied to the pixel capacitors 120 in the first row and first column to the first row and 240 columns, respectively. Will be written.

一方、走査信号Y1がHレベルであれば、走査信号Y2はLレベルである。このため、1行目の容量線132は、第1給電線165に接続されて、走査信号Y1がHレベルとなる期間のうち、前半寄りの期間Haにおいて電圧(Vsl−Va)となり、後半寄りの期間Hbにおいて電圧Vslとなる。
このため、走査信号Y1がHレベルとなる期間のうち、終了直前のタイミングでみたとき、1行1列〜1行240列の蓄積容量130には、それぞれデータ信号X1〜X240の電圧と電圧Vslとの差電圧が書き込まれることになる。
On the other hand, if the scanning signal Y1 is H level, the scanning signal Y2 is L level. For this reason, the capacitor line 132 in the first row is connected to the first power supply line 165 and becomes the voltage (Vsl−Va) in the period Ha near the first half of the period in which the scanning signal Y1 is at the H level. During the period Hb, the voltage is Vsl.
Therefore, when viewed at the timing immediately before the end of the period in which the scanning signal Y1 is at the H level, the voltage of the data signals X1 to X240 and the voltage Vsl are respectively stored in the storage capacitor 130 of the 1st row 1st column to the 1st row 240th column. The difference voltage is written.

次に走査信号Y1がLレベルになるとともに、走査信号Y2がHレベルになる。
走査信号Y1がLレベルになると、1行1列〜1行240列の画素におけるTFT116がオフする。また、走査信号Y1がLレベルとなり、走査信号Y2がHレベルになると、1行目の容量線132は、第2給電線167に接続されて、電圧ΔVだけ上昇する。これにより、1行目における画素電極118は、電圧ΔVpixだけ上昇して、指定する階調
が暗くなるにつれて高位側の電圧にシフトし、画素容量120で保持される電圧が階調に応じた差電圧となる。
Next, the scanning signal Y1 becomes L level and the scanning signal Y2 becomes H level.
When the scanning signal Y1 becomes L level, the TFTs 116 in the pixels in the first row and first column to the first row and 240th column are turned off. Further, when the scanning signal Y1 becomes L level and the scanning signal Y2 becomes H level, the capacitor line 132 in the first row is connected to the second power supply line 167 and is increased by the voltage ΔV. As a result, the pixel electrode 118 in the first row rises by the voltage ΔVpix and shifts to a higher voltage as the designated gradation becomes darker, and the voltage held in the pixel capacitor 120 differs depending on the gradation. Voltage.

一方、走査信号Y2がHレベルになるタイミングにおいてラッチパルスLpが出力され
ると、データ線駆動回路190は、2行目であって1〜240列目の画素の表示データDaを読み出すとともに、当該表示データDaで指定された階調および負極性に応じた電圧(ΔVpixの下降を見越して、範囲fであって低い階調を指定するにつれて低位側とした電
圧)のデータ信号X1〜X240に変換し、それぞれ1〜240列のデータ線114に供給する。走査信号Y2がHレベルになると、2行1列〜2行240列の画素におけるTFT116がオンするので、これらの画素電極118には、データ信号X1〜X240が印加される。このため、走査信号Y2がHレベルとなる期間において、2行1列〜2行240列の画素容量120には、それぞれデータ信号X1〜X240の電圧とコモン電極108の電圧LCcomとの差電圧が書き込まれることになる。
On the other hand, when the latch pulse Lp is output at the timing when the scanning signal Y2 becomes H level, the data line driving circuit 190 reads the display data Da of the pixels in the second row and the first to 240th columns, and Converted to data signals X1 to X240 of a voltage corresponding to the gradation specified by the display data Da and the negative polarity (a voltage that becomes lower as the lower gradation is specified in the range f in anticipation of the fall of ΔVpix) Then, the data lines 114 are supplied to 1 to 240 columns of data lines 114, respectively. When the scanning signal Y2 becomes H level, the TFTs 116 in the pixels in the 2nd row and the 1st column to the 2nd row and the 240th column are turned on, so that the data signals X1 to X240 are applied to these pixel electrodes 118. For this reason, during the period in which the scanning signal Y2 is at the H level, the voltage difference between the voltage of the data signals X1 to X240 and the voltage LCcom of the common electrode 108 is respectively applied to the pixel capacitors 120 in the 2nd row and 1st column to the 2nd row and 240th column. Will be written.

一方、走査信号Y2がHレベルであれば、走査信号Y3はLレベルである。このため、2行目の容量線132は、第1給電線165に接続されて、走査信号Y2がHレベルとなる期間のうち、前半寄りの期間Haにおいて電圧(Vsh+Va)となり、後半寄りの期間Hbにおいて電圧Vshとなる。
このため、走査信号Y2がHレベルとなる期間のうち、終了直前のタイミングでみたとき、2行1列〜2行240列の蓄積容量130には、それぞれデータ信号X1〜X240の電圧と電圧Vshとの差電圧が書き込まれることになる。
On the other hand, if the scanning signal Y2 is at the H level, the scanning signal Y3 is at the L level. For this reason, the capacitor line 132 in the second row is connected to the first power supply line 165 and becomes the voltage (Vsh + Va) in the period Ha near the first half of the period in which the scanning signal Y2 is at the H level. The voltage Vsh at Hb.
For this reason, when viewed at the timing immediately before the end of the period in which the scanning signal Y2 is at the H level, the voltage of the data signals X1 to X240 and the voltage Vsh are respectively stored in the storage capacitor 130 of 2 rows 1 column to 2 rows 240 columns. The difference voltage is written.

続いて、走査信号Y2がLレベルになるとともに、走査信号Y3がHレベルになる。走査信号Y2がLレベルになると、2行1列〜2行240列の画素におけるTFT116がオフする。また、走査信号Y2がLレベルとなり、走査信号Y3がHレベルになると、2行目の容量線132は、第2給電線167に接続されて、電圧Vshから電圧LCcomに電
圧ΔVだけ下降する。これにより、2行目における画素電極118は、電圧ΔVpixだけ
下降して、指定する階調が暗くなるにつれて低位側の電圧にシフトし、画素容量120で保持される電圧が階調に応じた差電圧となる。
Subsequently, the scanning signal Y2 becomes L level and the scanning signal Y3 becomes H level. When the scanning signal Y2 becomes L level, the TFTs 116 in the pixels of 2 rows and 1 column to 2 rows and 240 columns are turned off. When the scanning signal Y2 becomes L level and the scanning signal Y3 becomes H level, the capacitor line 132 in the second row is connected to the second power supply line 167 and drops from the voltage Vsh to the voltage LCcom by the voltage ΔV. As a result, the pixel electrode 118 in the second row drops by the voltage ΔVpix and shifts to a lower voltage as the designated gradation becomes darker, and the voltage held in the pixel capacitor 120 differs depending on the gradation. Voltage.

nフレームでは、以降同様にして書き込み動作および容量線の電圧シフト動作が320行目まで実行される。これにより、nフレームにおいて、奇数1、3、5、…、319行目の画素容量120には、容量線132の電圧ΔVの上昇後に階調に応じた正極性電圧が
保持される一方、偶数2、4、6、…、320行目の画素容量120には、容量線132の電圧ΔVの下降後に階調に応じた負極性電圧が保持されることになる。
次の(n+1)フレームでも同様な動作が繰り返されるが、各行の書込極性が反転されるので、奇数行目の画素容量120には、容量線132の電圧ΔVの下降後に階調に応じた負極性電圧が保持される一方、偶数行目の画素容量120には、容量線132の電圧ΔVの上昇後に階調に応じた正極性電圧が保持されることになる。
In the nth frame, the write operation and the capacitor line voltage shift operation are executed up to the 320th row in the same manner. As a result, in the n frames, the pixel capacitors 120 in the odd-numbered 1, 3, 5,..., 319 rows hold the positive voltage corresponding to the gradation after the voltage ΔV of the capacitor line 132 rises, while the even number. In the pixel capacitors 120 in the second, fourth, sixth,..., 320th rows, a negative voltage corresponding to the gradation is held after the voltage ΔV of the capacitor line 132 is lowered.
The same operation is repeated in the next (n + 1) frame. However, since the writing polarity of each row is inverted, the pixel capacitance 120 in the odd-numbered row corresponds to the gradation after the voltage ΔV of the capacitance line 132 is lowered. While the negative voltage is held, the pixel capacitors 120 in the even-numbered rows hold the positive voltage corresponding to the gradation after the voltage ΔV of the capacitor line 132 rises.

画素容量120の交流駆動では、電圧LCcomに一定に保たれたコモン電極108に対
して、画素電極118に正極性および負極性の電圧を交互に印加するので、画素電極118の電圧は、ノーマリーホワイトモードであれば、図6に示されるように、負極性の黒色に相当する電圧Vb(-)から正極性の黒色に相当する電圧Vb(+)までの範囲Pにわたる。
しかしながら、本実施形態では、画素電極を正極性の電圧範囲cとする場合には、データ線を介して印加するデータ信号の電圧を容量線の電圧シフトにより電圧ΔVpixだけ上
昇させる一方、画素電極を電圧範囲eとする場合には、データ信号の電圧を容量線の電圧シフトにより電圧ΔVpixだけ下降させるので、データ信号の電圧範囲は狭くて済む。
このため、本実施形態によれば、データ線駆動回路190を構成する素子の耐圧が低く抑えられるだけでなく、データ線の寄生容量により無駄に消費される電力も少なくて済むことになる。
In the AC driving of the pixel capacitor 120, positive and negative voltages are alternately applied to the pixel electrode 118 with respect to the common electrode 108 kept constant at the voltage LCcom, so that the voltage of the pixel electrode 118 is normally set. In the white mode, as shown in FIG. 6, the voltage ranges from a voltage Vb (−) corresponding to negative black to a voltage Vb (+) corresponding to positive black.
However, in the present embodiment, when the pixel electrode is in the positive voltage range c, the voltage of the data signal applied via the data line is increased by the voltage ΔVpix by the voltage shift of the capacitance line, while the pixel electrode is In the case of the voltage range e, the voltage of the data signal is lowered by the voltage ΔVpix due to the voltage shift of the capacitance line, so that the voltage range of the data signal may be narrow.
For this reason, according to the present embodiment, not only the breakdown voltage of the elements constituting the data line driving circuit 190 can be kept low, but also the power consumed wastefully due to the parasitic capacitance of the data line can be reduced.

ところで、本実施形態において、1〜320行の容量線132は、例えばi行目の容量線132は、i行目に対し正極性書込が指定されていれば、i行目の走査信号がHレベルとなる水平走査期間Hのうち、時間的に前方寄りの期間Haにおいて電圧(Vsl−Va)となり、時間的に後方寄りの期間Hbにおいて電圧Vslとなる一方、負極性書込が指定され
ていれば、当該水平走査期間のうち、期間Haにおいて電圧(Vsh+Va)となり、期間Hbにおいて電圧Vshとなる第1容量信号Vc1が、オン状態となったTFT151を介して
印加される。
このように走査線への走査信号がHレベルとなる水平走査期間Hにおいて、容量線の電圧を2段階に分けて印加する場合の効果を説明する前に、2段階にわけないで電圧Vslまたは電圧Vshの一方のみを印加する構成の問題について説明する。
By the way, in the present embodiment, for the capacitor lines 132 of 1 to 320 rows, for example, if positive polarity writing is designated for the i-th capacitor line 132 for the i-th row, the i-th row scanning signal is generated. In the horizontal scanning period H that becomes the H level, the voltage (Vsl−Va) is obtained in the time period Ha closer to the front, and the voltage Vsl is obtained in the time period Hb closer to the rear, while the negative polarity writing is designated. In the horizontal scanning period, the first capacitance signal Vc1 that becomes the voltage (Vsh + Va) in the period Ha and becomes the voltage Vsh in the period Hb is applied via the TFT 151 that is turned on.
In this way, in the horizontal scanning period H in which the scanning signal to the scanning line is at the H level, the voltage Vsl or the voltage Vsl is not divided into two stages before describing the effect when the voltage of the capacitor line is applied in two stages. The problem of the configuration in which only one of the voltages Vsh is applied will be described.

i行目の容量線132は、i行目の走査信号YiがHレベルとなったときに、i行目のTFT151のオンによって第1給電線165に接続され、走査信号YiがLレベルになるとともに走査信号Y(i+1)がHレベルとなったときに、電圧ΔVの変化を与えるべく、第2給電線167に接続される。
ただし、各行の容量線132には、実際には、様々な容量が寄生するとともに、TFT151のオン抵抗によって、一種の積分回路が形成されるので、走査信号がHレベルとなったときの電圧Vslまたは電圧Vshへの変化は、理想的にパルス的ではなく、図8(a)または図8(b)に示されるように、積分波形的となって波形鈍りが生じる。
さらに、1〜320行目の容量線132は、それぞれ1〜240列目のデータ線114と電気的な絶縁を保ちつつ交差するので、図2において破線で示されるように、各列のデータ線114と容量を介して結合する。このため、各行の容量線132は、データ線114の電圧変化の影響も受けることにもなる。
When the i-th row scanning signal Yi becomes H level, the i-th row capacitance line 132 is connected to the first power supply line 165 by turning on the i-th row TFT 151, and the scanning signal Yi becomes L level. At the same time, when the scanning signal Y (i + 1) becomes the H level, it is connected to the second feeder 167 in order to change the voltage ΔV.
However, various capacitances are actually parasitic on the capacitance line 132 of each row, and a kind of integration circuit is formed by the on-resistance of the TFT 151. Therefore, the voltage Vsl when the scanning signal becomes H level. Alternatively, the change to the voltage Vsh is not ideally pulse-like, and as shown in FIG. 8A or FIG.
Further, since the capacitor lines 132 in the 1st to 320th rows intersect with the data lines 114 in the 1st to 240th columns respectively while maintaining electrical insulation, the data lines in the respective columns as shown by broken lines in FIG. It couple | bonds with 114 through a capacity | capacitance. For this reason, the capacitor line 132 of each row is also affected by the voltage change of the data line 114.

ここで、データ線の電圧変化方向は、表示領域100での表示内容に応じて定まるが、例えばi行目の容量線132では、走査信号YiがHレベルとなるときの当該i行目の容量線における電圧変化方向がデータ線の電圧変化と反対方向であるときに、i行目の容量線132がデータ線114の電圧変化により受ける影響が大きくなる。詳細には、正極性書込が指定された場合に走査信号YiがHレベルとなったとき、i行目の容量線132は電圧LCcomから電圧Vslに向かって下降する際に、データ線の電圧変化が上昇方向であ
れば、図8(a)に示されるような正方向の微分パルス(正ノイズ)が当該i行目の容量
線132に重畳される。
このため、i行目の容量線132の電圧Ciは、実際には同図に示されるように、当該水平走査期間の終了タイミングでみたときに、電圧Vslから電圧ΔVpだけずれて収束し
、正確に電圧ΔVだけ変化しない状態が発生する。
i行目の容量線が電圧Vslに収束していない状態で、走査信号YiがHレベルからLレベルになるとともに、走査信号Y(i+1)がHレベルになると、当該i行目の容量線132の電圧変化は、ΔVpだけ少ない(ΔV−ΔVp)しか変化しないことになる。
Here, the voltage change direction of the data line is determined according to the display content in the display region 100. For example, in the capacitor line 132 in the i-th row, the capacitance in the i-th row when the scanning signal Yi becomes H level. When the voltage change direction in the line is opposite to the voltage change in the data line, the i-th capacitor line 132 is greatly affected by the voltage change in the data line 114. Specifically, when the positive polarity writing is designated and the scanning signal Yi becomes H level, the voltage of the data line when the capacitance line 132 of the i-th row drops from the voltage LCcom toward the voltage Vsl. If the change is in the upward direction, a differential pulse (positive noise) in the positive direction as shown in FIG. 8A is superimposed on the capacitance line 132 in the i-th row.
For this reason, the voltage Ci of the capacitance line 132 in the i-th row actually converges with a deviation of the voltage ΔVp from the voltage Vsl when viewed at the end timing of the horizontal scanning period, as shown in FIG. A state occurs in which the voltage ΔV does not change.
When the scanning signal Yi changes from the H level to the L level and the scanning signal Y (i + 1) changes to the H level in a state where the i-th capacitance line has not converged to the voltage Vsl, the i-th capacitance line 132 Therefore, the voltage change of ΔVp changes only by ΔVp (ΔV−ΔVp).

ここで、i行j列の画素について検討すると、走査信号YiがHレベルとなる期間においてデータ信号Xjが電圧Vjであるとき、走査信号Y(i+1)がHレベルとなったときにi行目の容量線132が電圧(ΔV−ΔVp)しか変化しないと、画素電極118の
電圧は、
Vj+{Cs/(Cs+Cpix)}・(ΔV−ΔVp)
となり、本来の電圧よりも、
{Cs/(Cs+Cpix)}・ΔVp
だけ少なく変化し、この電圧に応じた階調となってしまう。
この現象は、i行j列だけでなく、i行目の容量線132に対応する画素1行分について同様に発生するので、横方向の表示むらとなって視認されることになる。
Here, considering the pixel in the i-th row and j-th column, when the data signal Xj is the voltage Vj during the period in which the scanning signal Yi is at the H level, the i-th row is obtained when the scanning signal Y (i + 1) is at the H level. When the capacitance line 132 of the pixel changes only by the voltage (ΔV−ΔVp), the voltage of the pixel electrode 118 is
Vj + {Cs / (Cs + Cpix)}. (ΔV−ΔVp)
Than the original voltage,
{Cs / (Cs + Cpix)} · ΔVp
The gradation changes according to this voltage.
This phenomenon occurs not only for i rows and j columns but also for one row of pixels corresponding to the capacitance line 132 of the i row, so that it is visually recognized as uneven display in the horizontal direction.

なお、TFT151のオン抵抗による波形鈍りとデータ線の電圧変化とでは、どちらの影響が支配的であるかについては、パネルの構成や駆動方法などの様々な条件が絡み合うので、一概には言えない。仮に、波形鈍りの影響が大きいのであれば、TFT151のオン抵抗を小さくすれば良いが、TFT151には大きなトランジスタサイズが要求される。TFT151のトランジスタサイズが大きくなると、TFT151を素子基板に内蔵する場合に、表示領域100の外側面積(いわゆる額縁)が拡大してしまう。
いずれにしても各容量線132の電圧が、それぞれに対応する走査線へ走査信号がHレベルからLレベルとなったときに、正確に電圧ΔVだけ変化しない状態が発生する。
Note that the influence of the blunting due to the on-resistance of the TFT 151 and the voltage change of the data line is dominant because various conditions such as the configuration of the panel and the driving method are entangled. . If the influence of waveform dullness is large, the on-resistance of the TFT 151 may be reduced, but the TFT 151 is required to have a large transistor size. When the transistor size of the TFT 151 is increased, the outer area (so-called frame) of the display region 100 is enlarged when the TFT 151 is built in the element substrate.
In any case, when the voltage of each capacitor line 132 changes from the H level to the L level to the corresponding scanning line, a state in which the voltage ΔV does not change accurately occurs.

また、ここでは、i行目に対し正極性書込が指定された場合に、i行目の容量線132に正ノイズが重畳されるときを例にとって説明したが、負極性書込が指定された場合に、同容量線132に負ノイズが重畳されるときについても、図8(b)に示されるように、当該容量線132は電圧ΔVshから電圧LCcomに変化しないので、同様な表示ムラが発
生する。
In addition, here, an example has been described in which positive noise is superimposed on the i-th capacitor line 132 when positive-polarity writing is designated for the i-th row, but negative-polarity writing is designated. In the case where negative noise is superimposed on the capacitance line 132, the capacitance line 132 does not change from the voltage ΔVsh to the voltage LCcom, as shown in FIG. appear.

これに対して、本実施形態では、i行目に対し正極性書込が指定されていれば、第1容量信号Vc1は、走査信号YiがHレベルとなる水平走査期間Hのうち、前方寄りの期間Haにて電圧(Vsl−Va)となり、電圧LCcomから電圧Vslに変化するに際して電圧Vaだけ過剰に振られる。このため、正ノイズが急速に減衰するので、i行目の容量線132の電圧Ciは、実際には、図8(c)に示されるようなものとなる。なお、この時点において、正ノイズは表示内容によっては完全に消失せず、または、容量線の電圧Ciは、目的の電圧Vslを通り超して、さらに低位側に振られてしまう場合もあり得るが、そのような場合であっても、電圧Vslからの差は僅少である。そして、後方寄りの期間Hbにて第1
容量信号Vc1は電圧Vslとなるので、正ノイズの影響は無視できるほどに小さくなって、容量線の電圧Ciをほぼ電圧Vslに収束させることができる。
なお、i行目に対し負極性書込が指定されていれば、第1容量信号Vc1は、期間Haに
て電圧(Vsh+Va)となり、電圧LCcomから電圧Vshに変化するに際して電圧Vaだけ
過剰に振られるので、図8(d)に示されるように、負ノイズの影響も、無視できるほどに小さくなって容量線の電圧Ciをほぼ電圧Vshに収束させることができる。
In contrast, in the present embodiment, if positive polarity writing is designated for the i-th row, the first capacitance signal Vc1 is closer to the front in the horizontal scanning period H in which the scanning signal Yi is at the H level. During this period Ha, the voltage becomes (Vsl-Va), and when the voltage LCcom changes to the voltage Vsl, the voltage Va is excessively shaken. For this reason, since the positive noise is rapidly attenuated, the voltage Ci of the capacitance line 132 in the i-th row is actually as shown in FIG. At this time, the positive noise may not completely disappear depending on the display content, or the voltage Ci of the capacitance line may pass the target voltage Vsl and be further swung to the lower side. However, even in such a case, the difference from the voltage Vsl is small. And in the period Hb closer to the rear, the first
Since the capacitance signal Vc1 becomes the voltage Vsl, the influence of the positive noise becomes so small that it can be ignored, and the voltage Ci of the capacitance line can be converged to the voltage Vsl.
If negative polarity writing is specified for the i-th row, the first capacitance signal Vc1 becomes a voltage (Vsh + Va) in the period Ha, and excessively swings by the voltage Va when changing from the voltage LCcom to the voltage Vsh. Therefore, as shown in FIG. 8D, the influence of negative noise is reduced to a negligible level, and the voltage Ci of the capacitance line can be converged to the voltage Vsh.

したがって、本実施形態によれば、容量線132を電圧ΔVに正確に変化させることが
できるので、上述したようにデータ線の電圧振幅を狭めつつ、横方向に発生する表示むらの発生を抑えることができる上に、TFT151のオン抵抗を小さくする必要もないので、額縁を狭くして、表示領域100の面積拡大を図ることも可能となるのである。
Therefore, according to the present embodiment, since the capacitor line 132 can be accurately changed to the voltage ΔV, the occurrence of display unevenness that occurs in the horizontal direction can be suppressed while the voltage amplitude of the data line is reduced as described above. In addition, since it is not necessary to reduce the on-resistance of the TFT 151, the frame can be narrowed and the area of the display region 100 can be increased.

<第1実施形態の応用・変形>
上述した第1実施形態では、次のような応用・変形が可能である。
<Application and modification of the first embodiment>
In the first embodiment described above, the following applications and modifications are possible.

<その1>
第1給電線165と第2給電線167とは、図3に示されるように、走査線112と絶縁を保った上で交差等するために寄生容量が発生する。したがって、第1給電線165と第2給電線167との電圧が変化すると、この寄生容量によって無駄な電力が消費されることになる。一般に、この寄生容量をC、変化電圧をV、変化頻度(周波数)をfとすると、消費電力はCVfで表せる。
<Part 1>
As shown in FIG. 3, the first power supply line 165 and the second power supply line 167 intersect with the scanning line 112 while maintaining insulation, and thus parasitic capacitance is generated. Therefore, when the voltage between the first power supply line 165 and the second power supply line 167 changes, wasteful power is consumed by this parasitic capacitance. In general, if the parasitic capacitance is C, the change voltage is V, and the change frequency (frequency) is f, the power consumption can be expressed by CV 2 f.

そこで、第1容量信号Vc1のみならず、第2容量信号Vc2を時間的に変化させる構成が考えられる。第2容量信号Vc2の目的は、容量線に対して、第1容量信号Vc1の電圧印加後に、第2容量信号Vc2の電圧とすることによって電圧ΔVだけ変化させることにあるから、第1容量信号Vc1と第2容量信号Vc2との相対的変化を用いて電圧ΔVだけ変化させるのである。具体的には、図9に示されるように、第2容量信号Vc2を、正極性書込が指定される場合には電圧Vflとし、負極性書込が指定される場合には電圧Vfhとする。一方、第1容量信号Vc1を、正極性書込が指定されていれば、期間Haにおいて電圧(Vfl−
Va)とし、期間Hbにおいて電圧Vflとし、負極性書込が指定されていれば、期間Haに
おいて電圧(Vfh+Va)とし、期間Hbにおいて電圧Vfhとする。そして、電圧Vfhと電圧Vflの差の絶対値が電圧ΔVとなるように設定する。
このように構成すると、第1容量信号Vc1および第2容量信号Vc2の電圧振幅を、図4における第1容量信号Vc1の電圧振幅のほぼ半分とすることができる。ただし、第1給電線165と第2給電線167との両方が電圧変化するので、結局、
2C(V/2)f=(1/2)CV
となって、図4の場合に比べて、第1給電線165と第2給電線167とによって消費される電力を半減することが出来る。
Therefore, a configuration in which not only the first capacitance signal Vc1 but also the second capacitance signal Vc2 is changed with time is conceivable. The purpose of the second capacitance signal Vc2 is to change the voltage of the second capacitance signal Vc2 by the voltage ΔV after the voltage of the first capacitance signal Vc1 is applied to the capacitance line. The voltage ΔV is changed by using the relative change between Vc1 and the second capacitance signal Vc2. Specifically, as shown in FIG. 9, the second capacitance signal Vc2 is set to the voltage Vfl when the positive polarity writing is designated, and is set to the voltage Vfh when the negative polarity writing is designated. . On the other hand, if positive polarity writing is designated, the first capacitance signal Vc1 is supplied with the voltage (Vfl−
Va), the voltage Vfl in the period Hb, and if negative polarity writing is specified, the voltage (Vfh + Va) in the period Ha and the voltage Vfh in the period Hb. Then, the absolute value of the difference between the voltage Vfh and the voltage Vfl is set to be the voltage ΔV.
With this configuration, the voltage amplitude of the first capacitance signal Vc1 and the second capacitance signal Vc2 can be made almost half the voltage amplitude of the first capacitance signal Vc1 in FIG. However, since both the first feed line 165 and the second feed line 167 change in voltage,
2C (V / 2) 2 f = (1/2) CV 2 f
Thus, compared with the case of FIG. 4, the power consumed by the first feeder 165 and the second feeder 167 can be halved.

<その2>
特に図に示さないが、i行目のTFT151のゲート電極を(i+1)行目の走査線112ではなく、もう1行下の(i+2)行目の走査線112に接続した構造にした上で、図10に示されるように、第2容量信号Vc2を図9に示される波形を反転させた構成としても良い。第1容量信号Vc1および第2容量信号Vc2を、図10に示されるような波形とすると、水平走査期間の開始(または終了)タイミングにおける電圧変化方向が互いに逆向きとなるので、第1給電線165の電圧変化が及ぼす影響は、第2給電線167の電圧変化が及ぼす影響によって相殺させる、または、小さく抑えることが可能となる。
<Part 2>
Although not particularly shown in the figure, the gate electrode of the TFT 151 in the i-th row is connected to the scanning line 112 in the (i + 2) -th row, not the (i + 1) -th scanning line 112, in the structure. As shown in FIG. 10, the second capacitance signal Vc2 may be configured by inverting the waveform shown in FIG. If the first capacitance signal Vc1 and the second capacitance signal Vc2 have waveforms as shown in FIG. 10, the voltage change directions at the start (or end) timing of the horizontal scanning period are opposite to each other. The influence of the voltage change of 165 can be offset by the influence of the voltage change of the second feeder 167, or can be suppressed to a small level.

<その3>
また、走査線反転方式に限られず、フレーム期間における書込極性を各行にわたって同一とする面反転(フレーム反転)方式としても良い。フレーム反転方式とする場合、極性指定信号Pol、第1容量信号Vc1および第2容量信号Vc2については、例えば図11に示されるようなものとなる。
すなわち、面反転方式とする場合、極性指定信号Polはフレーム期間毎に極性反転し、第1容量信号Vc1は、正極性書込が指定されていれば、走査線に選択電圧が印加される期間のうち、期間Haにて電圧(Vsl−Va)となり、期間Hbにおいて電圧Vslとなる一方
、負極性書込が指定されていれば、走査線に選択電圧が印加される期間のうち、期間Ha
にて電圧(Vsh+Va)となり、期間Hbにおいて電圧Vshとなる。なお、第2容量信号V
c2は、電圧LCcomで一定として良い。
<Part 3>
Further, the present invention is not limited to the scanning line inversion method, and may be a surface inversion (frame inversion) method in which the writing polarity in the frame period is the same for each row. When the frame inversion method is used, the polarity designation signal Pol, the first capacitance signal Vc1, and the second capacitance signal Vc2 are as shown in FIG. 11, for example.
That is, in the case of the surface inversion method, the polarity designation signal Pol is inverted every frame period, and the first capacitance signal Vc1 is a period during which the selection voltage is applied to the scanning line if the positive polarity writing is designated. Of these, the voltage (Vsl−Va) is obtained in the period Ha, and the voltage Vsl is obtained in the period Hb. On the other hand, if negative polarity writing is designated, the period Ha is selected among the periods in which the selection voltage is applied to the scanning lines.
The voltage becomes (Vsh + Va) at, and becomes the voltage Vsh during the period Hb. The second capacitance signal V
c2 may be constant at the voltage LCcom.

<その4>
また、TFT151の特性、特にオン抵抗は周辺温度によって変化する傾向があるので、容量線の電圧変化時における波形鈍りの程度が、温度に応じて変化する。このため、期間Haにおいて電圧Vsl、Vshを振らす電圧±Vaを、温度に応じて変化させても良いし、1行の走査線に選択電圧が印加される水平走査期間Hにおいて、期間Ha、Hbの比率を変化させても良いし、電圧±Vaと期間Ha、Hbの比率との両者を変化させても良い。
<Part 4>
In addition, since the characteristics of the TFT 151, particularly the on-resistance, tend to change depending on the ambient temperature, the degree of waveform dullness when the voltage of the capacitor line changes changes according to the temperature. For this reason, the voltage ± Va that fluctuates the voltages Vsl and Vsh in the period Ha may be changed according to the temperature. In the horizontal scanning period H in which the selection voltage is applied to one scanning line, the period Ha, The ratio of Hb may be changed, or both the voltage ± Va and the ratios of the periods Ha and Hb may be changed.

<第2実施形態>
次に、本発明の第2実施形態に係る電気光学装置について説明する。図12は、第2実施形態に係る電気光学装置の構成を示すブロック図である。
図12に示す構成が図1に示した第1実施形態と相違する部分は、主に各行に対応してTFT176が設けられている点、検出線185および容量信号出力回路31を備える点、並びに、制御回路20が目標信号Vc1refおよび期間指定信号Hsを出力する点である。そこで以下については、これらの相違点を中心に説明することにする。
Second Embodiment
Next, an electro-optical device according to a second embodiment of the invention will be described. FIG. 12 is a block diagram illustrating a configuration of the electro-optical device according to the second embodiment.
12 differs from the first embodiment shown in FIG. 1 mainly in that TFTs 176 are provided corresponding to each row, a detection line 185 and a capacitance signal output circuit 31 are provided, and The control circuit 20 outputs the target signal Vc1ref and the period specifying signal Hs. Therefore, the following will be described focusing on these differences.

まず、容量線駆動回路150には、各行の容量線132に対応して検出用スイッチング素子として機能するTFT176がそれぞれ設けられている。ここで、i行目のTFT176のゲート電極はi行目の走査線に112に接続され、ソース電極はi行目の容量線132に接続され、ドレイン電極は検出線185に接続されている。なお、検出線185は、各行のTFT176のドレイン電極に対して共通接続されている。   First, the capacitor line driving circuit 150 is provided with a TFT 176 that functions as a switching element for detection corresponding to the capacitor line 132 of each row. Here, the gate electrode of the i-th TFT 176 is connected to the i-th scanning line 112, the source electrode is connected to the i-th capacitance line 132, and the drain electrode is connected to the detection line 185. The detection line 185 is commonly connected to the drain electrode of the TFT 176 in each row.

図13は、第2実施形態に係る素子基板のうち、容量線駆動回路150と表示領域100の周辺付近との構成を示す平面図である。
この図に示す構成は、TFT176およびその周辺を除き、図3に示した例とほぼ同様である。i行目のTFT176のゲート電極は、i行目の走査線112からY(下)方向にT字状に分岐した部分である。また、i行目に対応するTFT176のソース電極132cと検出線185とは、第3導電層をパターニングしたものである。このうち、TFT176のソース電極132cは、ゲート絶縁膜および保護層を貫通するコンタクトホール132dを介し、i行目の容量線132に接続される。また、検出線185の幅広の部分が、TFT176のドレイン電極となっている。
FIG. 13 is a plan view showing a configuration of the capacitive line driving circuit 150 and the vicinity of the periphery of the display region 100 in the element substrate according to the second embodiment.
The configuration shown in this figure is substantially the same as the example shown in FIG. 3 except for the TFT 176 and its periphery. The gate electrode of the i-th TFT 176 is a portion branched from the i-th scanning line 112 in a T-shape in the Y (downward) direction. The source electrode 132c and the detection line 185 of the TFT 176 corresponding to the i-th row are obtained by patterning the third conductive layer. Among these, the source electrode 132c of the TFT 176 is connected to the i-th capacitor line 132 through a contact hole 132d that penetrates the gate insulating film and the protective layer. Further, the wide portion of the detection line 185 is the drain electrode of the TFT 176.

図14は、容量信号出力回路31の構成を示す図である。
この図に示されるように、容量信号出力回路31は、オペアンプ300と、スイッチ311、312と、NOT回路315と、抵抗素子316とを有する。
オペアンプ300の出力端は、第1給電線165およびスイッチ311の一端に接続され、検出線185がスイッチ312の一端に接続されている。スイッチ311、312の他端は、オペアンプ300の反転入力端(−)にそれぞれ接続されている。換言すれば、スイッチ311(第1スイッチ)は、オペアンプ300の出力端(第1給電線165)と反転入力端(−)との間に電気的に介挿され、スイッチ312(第2スイッチ)は、検出線185と反転入力端(−)との間に電気的に介挿されている。
FIG. 14 is a diagram illustrating a configuration of the capacitance signal output circuit 31.
As shown in this figure, the capacitive signal output circuit 31 includes an operational amplifier 300, switches 311 and 312, a NOT circuit 315, and a resistance element 316.
The output terminal of the operational amplifier 300 is connected to one end of the first power supply line 165 and the switch 311, and the detection line 185 is connected to one end of the switch 312. The other ends of the switches 311 and 312 are connected to the inverting input terminal (−) of the operational amplifier 300, respectively. In other words, the switch 311 (first switch) is electrically inserted between the output terminal (first feed line 165) and the inverting input terminal (−) of the operational amplifier 300, and the switch 312 (second switch). Is electrically interposed between the detection line 185 and the inverting input terminal (−).

一方、オペアンプ300の非反転入力端(+)には、制御回路20からの目標信号Vc1refが供給される。オペアンプ300の出力端と反転入力端(−)との間にはスイッチ3
11のほか、抵抗素子316が挿入されている。
スイッチ311、312は、制御回路20から供給される期間指定信号Hsの論理レベ
ルに応じて互いに排他的にオンオフする。詳細には、スイッチ311、312は、期間指定信号HsがHレベルであれば、それぞれオン、オフし、期間指定信号HsがLレベルであれば、それぞれオフ、オンする。
On the other hand, the target signal Vc1ref from the control circuit 20 is supplied to the non-inverting input terminal (+) of the operational amplifier 300. A switch 3 is provided between the output terminal and the inverting input terminal (−) of the operational amplifier 300.
11, a resistance element 316 is inserted.
The switches 311 and 312 are exclusively turned on / off according to the logic level of the period specifying signal Hs supplied from the control circuit 20. Specifically, the switches 311 and 312 are turned on and off when the period designation signal Hs is at the H level, and are turned off and on when the period designation signal Hs is at the L level.

ここで、期間指定信号Hsは、図15に示されるように、ある1行の走査線に選択電圧
が印加される水平走査期間Hのうち、前方の期間HaにおいてHレベルとなり、後方寄り
の期間HbにおいてLレベルとなる信号である。一方、制御回路20から供給される目標
信号Vc1refは、同図に示されるように、図4における第1容量信号Vc1と同波形である
Here, as shown in FIG. 15, the period specifying signal Hs becomes H level in the front period Ha in the horizontal scanning period H in which the selection voltage is applied to a certain scanning line, and is a period closer to the rear. It is a signal that becomes L level at Hb. On the other hand, the target signal Vc1ref supplied from the control circuit 20 has the same waveform as the first capacitance signal Vc1 in FIG. 4, as shown in FIG.

このような構成において、走査信号YiがHレベルであると、i行目のTFT176がオンするので、i行目の容量線132は検出線185に接続される。ただし、期間Haで
はスイッチ312がオフするので、検出線185の電圧は容量信号出力回路31の出力に影響を与えない。
また、期間Haでは、スイッチ311がオンするので、オペアンプ300は、ボルテー
ジフォロワ回路となる。このため、期間Haにおいて容量信号出力回路31は、目標信号
Vc1refの電圧をそのままバッファリングして第1容量信号Vc1として、第1給電線16
5に出力することになる。
ここで、目標信号Vc1refは、期間Haにおいて、i行目に対して正極性書込が指定されていれば、電圧(Vsl−Va)となり、負極性書込が指定されていれば、電圧(Vsh+Va)となって、第2実施形態では、この電圧が第1給電線165にそのまま供給されるので、第1実施形態と同様に、波形鈍りやノイズの影響を急速に減衰させることができる。
In such a configuration, when the scanning signal Yi is at the H level, the i-th TFT 176 is turned on, so that the i-th capacitor line 132 is connected to the detection line 185. However, since the switch 312 is turned off in the period Ha, the voltage of the detection line 185 does not affect the output of the capacitance signal output circuit 31.
Further, since the switch 311 is turned on in the period Ha, the operational amplifier 300 becomes a voltage follower circuit. For this reason, during the period Ha, the capacitance signal output circuit 31 buffers the voltage of the target signal Vc1ref as it is to obtain the first capacitance signal Vc1, and the first feeder 16
5 is output.
Here, the target signal Vc1ref becomes the voltage (Vsl−Va) if the positive polarity writing is designated for the i-th row in the period Ha, and the voltage (Vsl−Va) if the negative polarity writing is designated. Vsh + Va), and in the second embodiment, this voltage is supplied to the first feeder 165 as it is, so that the effects of waveform dullness and noise can be rapidly attenuated as in the first embodiment.

次に、期間Hbにおいてスイッチ311、312がそれぞれオフ、オンして、検出線1
85の電圧がオペアンプ300の反転入力端(−)に帰還される。このため、期間Hbに
おいて、容量信号出力回路31は、検出線185の電圧が目標信号Vc1refの電圧となる
ように制御した第1容量信号Vc1を出力することになる。
ここで、走査信号YiがHレベルとなる水平走査期間Hでは、i行目のTFT176によって検出線185にはi行目の容量線132の(実際の)電圧が現れる。一方、目標信号Vc1refは、期間Hbにおいて、i行目に対して正極性書込が指定されていれば、電圧Vslであり、負極性書込が指定されていれば、電圧Vshである。このため、容量信号出力回路31は、期間Hbにおいて、i行目の容量線132に対して、正極性書込が指定されて
いれば、電圧Vslとなるように、負極性書込が指定されていれば、電圧Vshとなるように、それぞれ負帰還制御する。
Next, in the period Hb, the switches 311 and 312 are turned off and on, respectively, and the detection line 1
The voltage 85 is fed back to the inverting input terminal (−) of the operational amplifier 300. Therefore, in the period Hb, the capacitance signal output circuit 31 outputs the first capacitance signal Vc1 that is controlled so that the voltage of the detection line 185 becomes the voltage of the target signal Vc1ref.
Here, in the horizontal scanning period H in which the scanning signal Yi is at the H level, the (actual) voltage of the i-th capacitor line 132 appears on the detection line 185 by the i-th TFT 176. On the other hand, the target signal Vc1ref is the voltage Vsl if positive polarity writing is designated for the i-th row in the period Hb, and is the voltage Vsh if negative polarity writing is designated. For this reason, if the positive polarity writing is designated for the i-th capacitance line 132 in the period Hb, the capacitance signal output circuit 31 designates the negative polarity writing so as to be the voltage Vsl. If so, negative feedback control is performed so that the voltage Vsh is obtained.

したがって、第2実施形態によれば、第1実施形態と比較すると、走査信号YiがHレベルとなる水平走査期間Hの終了時に、i行目の容量線132を、波形鈍りやノイズの程度によらずに、電圧Vslまたは電圧Vshの一方に、より正確に安定化させることが可能となる。
このため、第2実施形態によれば、第1実施形態と同様に、データ線の電圧振幅を狭めることができるだけなく、TFT151のトランジスタサイズを必要上に大きくしなくて済む上に、第1実施形態と比較して、横方向に発生する表示むらの発生をより確実に抑えることが可能となる。
なお、例えばi行目の容量線132は、走査信号YiがHレベルとなった直後では電圧LCcomに近いので、電圧Vslまたは電圧Vshとの差が大きい。このため、走査信号Yi
がHレベルとなる水平走査期間Hにわたってi行目の容量線132(検出線185)が電圧Vslまたは電圧Vshとなるように負帰還制御する構成では、走査信号YiがHレベルとなった直後において、オペアンプ300で消費される電流が大きくなったり、オペアンプ300が発振したりする可能性がある。しかしながら、第2実施形態では、走査信号YiがHレベルとなった直後の期間Haでは、負帰還制御ではなく、単なるボルテージフォロ
ワ回路として機能するので、そのような可能性は極めて小さい。
なお、ここでは動作説明を、i行目で代表させて説明しているが、1〜320行については同様に、順番に実行される。
Therefore, according to the second embodiment, as compared with the first embodiment, at the end of the horizontal scanning period H in which the scanning signal Yi is at the H level, the capacitor line 132 in the i-th row is set to a level of waveform dullness or noise. Regardless, the voltage Vsl or the voltage Vsh can be stabilized more accurately.
For this reason, according to the second embodiment, as in the first embodiment, the voltage amplitude of the data line can be reduced, the transistor size of the TFT 151 does not need to be increased as necessary, and the first embodiment is performed. Compared with the form, it is possible to more reliably suppress the occurrence of display unevenness that occurs in the horizontal direction.
For example, the capacitance line 132 in the i-th row is close to the voltage LCcom immediately after the scanning signal Yi becomes the H level, so that the difference from the voltage Vsl or the voltage Vsh is large. For this reason, the scanning signal Yi
In the configuration in which negative feedback control is performed so that the capacitance line 132 (detection line 185) in the i-th row becomes the voltage Vsl or the voltage Vsh over the horizontal scanning period H during which the H level becomes H level, immediately after the scanning signal Yi becomes H level. The current consumed by the operational amplifier 300 may increase or the operational amplifier 300 may oscillate. However, in the second embodiment, in the period Ha immediately after the scanning signal Yi becomes the H level, it functions as a simple voltage follower circuit, not as a negative feedback control, so such a possibility is extremely small.
In addition, although operation | movement description is represented and represented here by the i-th line, about 1-320 lines, it is performed in order similarly.

<第2実施形態の応用・変形>
第2実施形態では、次のような応用・変形が可能である。
詳細には、図16に示されるように、容量信号出力回路31において、第1給電線165(オペアンプ300の出力端)と検出線185との間に、例えば期間指定信号HsがH
レベルであればオンするスイッチ318(補助スイッチ)を挿入しても良い。
上述したように期間Haにおいて、オペアンプ300は、ボルテージフォロワ回路とな
るので目標信号Vc1refの電圧がそのまま第1容量信号Vc1として第1給電線165に出
力され、オン状態にあるTFT151を介して容量線132に供給される。当該構成においてスイッチ318がオンしていると、第1給電線165が検出線185に接続されるので、第1容量信号Vc1は、スイッチ318、検出線185およびオン状態にあるTFT176という経路によっても同じ容量線132に供給される。すなわち、図16に示される構成では、期間Haにおいて、第1容量信号Vc1を容量線132に供給する経路が2通り
存在することになる。
したがって、当該構成によれば、期間Haにおいて、オペアンプ300の出力端から容
量線に至るまでの合成抵抗値を、2つの経路における抵抗値の和を分母とし当該抵抗値の積を分子とした分数にまで減少させることができるので、特に波形鈍りの影響を小さく抑えることが可能となる。
<Application and Modification of Second Embodiment>
In the second embodiment, the following applications and modifications are possible.
Specifically, as shown in FIG. 16, in the capacitance signal output circuit 31, for example, a period designation signal Hs is H between the first feeder 165 (the output terminal of the operational amplifier 300) and the detection line 185.
If it is level, a switch 318 (auxiliary switch) that turns on may be inserted.
As described above, since the operational amplifier 300 becomes a voltage follower circuit during the period Ha, the voltage of the target signal Vc1ref is output as it is to the first power supply line 165 as the first capacitance signal Vc1, and the capacitance line is connected via the TFT 151 in the on state. 132. In this configuration, when the switch 318 is turned on, the first power supply line 165 is connected to the detection line 185. Therefore, the first capacitance signal Vc1 is also transmitted through the path of the switch 318, the detection line 185, and the TFT 176 in the on state. The same capacity line 132 is supplied. That is, in the configuration shown in FIG. 16, there are two paths for supplying the first capacitance signal Vc1 to the capacitance line 132 in the period Ha.
Therefore, according to the configuration, in the period Ha, the combined resistance value from the output terminal of the operational amplifier 300 to the capacitance line is a fraction with the sum of the resistance values in the two paths as the denominator and the product of the resistance values as the numerator. In particular, the influence of waveform dullness can be kept small.

なお、この構成において、TFT176における信号の流れは、期間Hbでは、容量線
132から検出線185に向かう方向であったのが、期間Haでは、検出線185から容
量線132に向かう方向となるので、TFT176を片チャネルとするのではなく、p型およびn型の双方を組み合わせたトランスミッションゲート(アナログスイッチ)とするのが好ましい。
また、この構成では、スイッチ318のオン期間と、スイッチ311のオン期間(スイッチ312のオフ期間)とを互いに一致させたが、一致させずに、いずれか一方を先にオフとするように独立して制御しても良い。なお。スイッチ318を、スイッチ311、312と独立して制御させると、制御信号が増えることになる。
In this configuration, the signal flow in the TFT 176 is in the direction from the capacitance line 132 to the detection line 185 in the period Hb, but is in the direction from the detection line 185 to the capacitance line 132 in the period Ha. The TFT 176 is preferably not a single channel but a transmission gate (analog switch) combining both p-type and n-type.
Further, in this configuration, the ON period of the switch 318 and the ON period of the switch 311 (the OFF period of the switch 312) are matched with each other, but without being matched, either one is turned off first. And may be controlled. Note that. When the switch 318 is controlled independently of the switches 311 and 312, the control signal increases.

<第3実施形態>
上述した第1、第2実施形態においてi行目の容量線132は、走査信号Y(i+1)がHレベルからLレベルになると、以後1フレームの期間経過して、再び走査信号YiがHレベルになるまで、電気的にどの部分にも接続されないハイ・インピーダンス状態(フローティング状態)となる。各行の容量線132は、交差する(または、近接する)他の配線と寄生容量を介して結合するので、これらの配線における電圧変動の影響を受けやすい。
そこで、各行の容量線132をハイ・インピーダンス状態とさせずに、電圧を確定させた第3実施形態について説明することにする。
<Third Embodiment>
In the first and second embodiments described above, when the scanning signal Y (i + 1) is changed from the H level to the L level, the scanning signal Yi is again set to the H level after the passage of one frame. Until it becomes, it will be in the high impedance state (floating state) which is not electrically connected to any part. Since the capacitor lines 132 in each row are coupled to other wirings that intersect (or are close to each other) via parasitic capacitance, they are easily affected by voltage fluctuations in these wirings.
Therefore, a third embodiment will be described in which the voltage is fixed without setting the capacitance line 132 of each row to the high impedance state.

図17は、本発明の第3実施形態に係る電気光学装置の構成を示すブロック図である。
この図に示されるように、第3実施形態では、主に、容量線駆動回路150の構成が第2実施形態と相違する。詳細には、第3実施形態における容量線駆動回路150は、1〜320行目の容量線132に対し、TFT151、152、176に加えて、nチャネル型のTFT153、154の組から構成される。
ここで、i行目の容量線132に対応するTFT151〜154について説明すると、当該TFT151のゲート電極は、i行目の走査線112に接続され、そのソース電極は、第1給電線165に接続されているが、TFT152のゲート電極は、TFT153、154のドレイン電極に共通接続されている。なお、TFT152のソース電極は、第2給電線167に接続され、また、TFT151、152のドレイン電極同士がi行目の容量線132に共通接続されている。
FIG. 17 is a block diagram illustrating a configuration of an electro-optical device according to the third embodiment of the invention.
As shown in this figure, in the third embodiment, the configuration of the capacitive line driving circuit 150 is mainly different from that of the second embodiment. Specifically, the capacitor line driving circuit 150 according to the third embodiment includes a set of n-channel TFTs 153 and 154 in addition to the TFTs 151, 152, and 176 with respect to the capacitor lines 132 in the first to 320th rows. .
Here, the TFTs 151 to 154 corresponding to the i-th capacitor line 132 will be described. The gate electrode of the TFT 151 is connected to the i-th scanning line 112, and its source electrode is connected to the first power supply line 165. However, the gate electrode of the TFT 152 is commonly connected to the drain electrodes of the TFTs 153 and 154. Note that the source electrode of the TFT 152 is connected to the second power supply line 167, and the drain electrodes of the TFTs 151 and 152 are commonly connected to the i-th capacitor line 132.

i行目のTFT153(第3トランジスタ)のゲート電極は、i行目の走査線112に接続され、そのソース電極は、オフ電圧給電線161に接続され、また、TFT154(第4トランジスタ)のゲート電極は、(i+1)行目の走査線112に接続され、そのソース電極は、オン電圧給電線163に接続されている。
ここで、オフ電圧給電線161には信号Voffが供給され、その信号Voffの電圧は、それがTFT152のゲート電極に印加されたとしても、当該TFT152をオフ(ソース・ドレイン間が非導通)状態とさせる電圧である。また、オン電圧給電線163には信号Vonが供給され、その信号Vonの電圧は、それがTFT152のゲート電極に印加されたときに、当該TFT152をオン(ソース・ドレイン間が導通)状態とさせる電圧である。
なお、図17に示される構成は、図12に示した構成と比較して、TFT151、152の配置が左右逆転しているが、これは便宜的な措置であり、第1給電線165、第2給電線167および容量線132との接続関係について変更はない。また、第3実施形態における信号については、第2実施形態(図15参照)と同一波形を用いることができる。
The gate electrode of the i-th TFT 153 (third transistor) is connected to the i-th scanning line 112, the source electrode is connected to the off-voltage power supply line 161, and the TFT 154 (fourth transistor) gate. The electrode is connected to the scanning line 112 in the (i + 1) th row, and the source electrode is connected to the on-voltage power supply line 163.
Here, the signal Voff is supplied to the off-voltage power supply line 161, and the voltage of the signal Voff is in a state where the TFT 152 is turned off (the source and the drain are not conductive) even when the signal Voff is applied to the gate electrode of the TFT 152. The voltage to be Further, a signal Von is supplied to the on-voltage power supply line 163, and the voltage of the signal Von turns on the TFT 152 (conduction between the source and drain) when it is applied to the gate electrode of the TFT 152. Voltage.
In the configuration shown in FIG. 17, the arrangement of the TFTs 151 and 152 is reversed left and right as compared with the configuration shown in FIG. 12, but this is a convenient measure, and the first feed line 165, There is no change in the connection relationship between the two power supply lines 167 and the capacity line 132. Further, the same waveform as that of the second embodiment (see FIG. 15) can be used for signals in the third embodiment.

図18は、第3実施形態に係る素子基板のうち、容量線駆動回路150と表示領域100の周辺付近との構成を示す平面図である。
この図に示されるように、i行目のTFT153のゲート電極は、i行目の走査線112からY(下)方向にT字状に分岐した部分であり、同じくi行目に対応するTFT154のゲート電極は、(i+1)行目の走査線112からY(上)方向にT字状に分岐した部分である。TFT153、154の共通ドレイン電極51aは、コンタクトホール51bを介してTFT152のゲート電極51cに接続されている。
また、第3実施形態において、i行目のTFT151、176のゲート電極は、i行目の走査線112からY(下)方向にT字状に分岐した部分を共用したものである。また、i行目のTFT176のドレイン電極176aは、コンタクトホール176bを介して、一旦、ゲート電極層をパターニングした配線176cに接続され、さらに、この配線176cは、コンタクトホール176dを介して、検出線185に接続されている。
FIG. 18 is a plan view showing the configuration of the capacitive line drive circuit 150 and the vicinity of the periphery of the display region 100 in the element substrate according to the third embodiment.
As shown in this figure, the gate electrode of the TFT 153 in the i-th row is a portion branched in a T-shape in the Y (downward) direction from the scanning line 112 in the i-th row, and the TFT 154 corresponding to the i-th row in the same manner. The gate electrode is a portion branched from the scanning line 112 in the (i + 1) th row in the Y (up) direction in a T shape. The common drain electrode 51a of the TFTs 153 and 154 is connected to the gate electrode 51c of the TFT 152 through the contact hole 51b.
Further, in the third embodiment, the gate electrodes of the i-th TFTs 151 and 176 share a portion branched in a T-shape from the i-th scanning line 112 in the Y (downward) direction. Further, the drain electrode 176a of the TFT 176 in the i-th row is once connected to a wiring 176c having a patterned gate electrode layer through a contact hole 176b. The wiring 176c is further connected to a detection line through a contact hole 176d. 185.

第3実施形態によれば、走査信号YiがHレベルとなると、当該水平走査期間Hにわたって、i行目の153がオンする。このため、i行目のTFT152は、ゲート電極にオフ電圧給電線161の信号Voffが印加されるので、オフとなる。また、i行目の151
、176がオンするので、i行目の容量線132は、第1給電線165とともに、検出線185に接続されるので、目標信号Vc1refの電圧となるように、容量信号出力回路31
によって制御される。
According to the third embodiment, when the scanning signal Yi becomes H level, the 153 in the i-th row is turned on over the horizontal scanning period H. For this reason, the TFT 152 in the i-th row is turned off because the signal Voff of the off-voltage power supply line 161 is applied to the gate electrode. In addition, the 151st line 151
176 is turned on, and the capacitor line 132 in the i-th row is connected to the detection line 185 together with the first power supply line 165, so that the capacitor signal output circuit 31 has the voltage of the target signal Vc1ref.
Controlled by.

次に、走査信号YiがLレベルとなり、走査信号Y(i+1)がHレベルになると、当該水平走査期間(H)にわたって、i行目の153がオフとなり、TFT154がオンする。このため、i行目のTFT152は、ゲート電極にオン電圧給電線163の信号Vonが印加されるので、オンとなる。このため、i行目の容量線132は、第2給電線167に接続されて電圧LCcomとなる。   Next, when the scanning signal Yi becomes L level and the scanning signal Y (i + 1) becomes H level, the i-th row 153 is turned off and the TFT 154 is turned on over the horizontal scanning period (H). For this reason, the TFT 152 in the i-th row is turned on because the signal Von of the on-voltage power supply line 163 is applied to the gate electrode. For this reason, the capacitor line 132 in the i-th row is connected to the second feeder line 167 and becomes the voltage LCcom.

続いて、走査信号Y(i+1)がLレベルとなり、走査信号Y(i+2)がHレベルになると、i行目の154がオフとなるので、TFT152のゲート電極は、ハイ・インピーダンス状態となるが、その寄生容量によって、直前状態である信号Vonの電圧に保持される。このため、TFT152ではオン状態が継続されるので、i行目の容量線132は、第2給電線167の電圧LCcomを維持することになる。すなわち、i行目の容量線1
32は、走査信号Yi、Y(i+1)がともにLレベルとなっても、電圧LCcomに確定
するのである。
Subsequently, when the scanning signal Y (i + 1) becomes L level and the scanning signal Y (i + 2) becomes H level, the i-th row 154 is turned off, so that the gate electrode of the TFT 152 is in a high impedance state. The voltage of the signal Von that is in the immediately preceding state is held by the parasitic capacitance. For this reason, since the TFT 152 is kept on, the i-th capacitor line 132 maintains the voltage LCcom of the second power feed line 167. That is, the i-th capacitance line 1
No. 32 determines the voltage LCcom even if the scanning signals Yi and Y (i + 1) are both at the L level.

したがって、第3実施形態によれば、各行の容量線132がハイ・インピーダンス状態となることはないので、データ線の電圧振幅を狭めることができるだけなく、TFT151のトランジスタサイズを必要上に大きくしなくて済む上に、第2実施形態と比較して、横方向に発生する表示むらの発生を、なお一層、確実に抑えることが可能となる。
なお、第3実施形態においても、容量信号出力回路31について、図14のみならず、図16に示した構成を採用することができる。
Therefore, according to the third embodiment, since the capacitor line 132 in each row does not enter a high impedance state, the voltage amplitude of the data line can be reduced, and the transistor size of the TFT 151 is not increased as necessary. In addition, as compared with the second embodiment, it is possible to further reliably suppress the occurrence of display unevenness that occurs in the horizontal direction.
Also in the third embodiment, the configuration shown in FIG. 16 as well as FIG. 14 can be adopted for the capacitance signal output circuit 31.

<第4実施形態>
次に、本発明の第4実施形態に係る電気光学装置について説明する。図19は、本発明の第4実施形態に係る電気光学装置の構成を示す図である。
この図に示される構成が第2実施形態(図12参照)と主に相違する部分は、主に、容量線駆動回路150の各行においてTFT176の代わりとして検出容量179が設けられている点にある。
詳細には、奇数行に対応する検出容量179は、その一端が当該行の容量線132に接続され、その他端が第1検出線187に接続される一方、偶数行に対応する検出容量179は、その一端が当該行の容量線132に接続され、その他端が第2検出線188に接続されている。
<Fourth embodiment>
Next, an electro-optical device according to a fourth embodiment of the invention will be described. FIG. 19 is a diagram illustrating a configuration of an electro-optical device according to the fourth embodiment of the invention.
The main difference between the configuration shown in this figure and the second embodiment (see FIG. 12) is that a detection capacitor 179 is provided instead of the TFT 176 in each row of the capacitor line driving circuit 150. .
Specifically, one end of the detection capacitor 179 corresponding to the odd row is connected to the capacitor line 132 of the row, and the other end is connected to the first detection line 187, while the detection capacitor 179 corresponding to the even row is , One end thereof is connected to the capacitor line 132 of the row, and the other end is connected to the second detection line 188.

スイッチ35は、制御回路20から供給される信号Oeによっていずれかの検出線を選
択するものである。詳細には、スイッチ35は、走査線駆動回路140によって奇数行への走査信号がHレベルとなっている場合には第1検出線187を選択し、偶数行への走査信号がHレベルとなっている場合には第2検出線188を選択する。
The switch 35 selects one of the detection lines according to a signal Oe supplied from the control circuit 20. Specifically, the switch 35 selects the first detection line 187 when the scanning signal to the odd-numbered row is at the H level by the scanning line driving circuit 140, and the scanning signal to the even-numbered row is at the H level. If so, the second detection line 188 is selected.

図20は、第4実施形態に係る素子基板のうち、容量線駆動回路150と表示領域100の周辺付近との構成を示す平面図である。
この図に示されるように、奇数i行の検出容量179は、i行目の容量線132を幅広とした部分に、第1検出線187を幅広とした部分が絶縁層を介して重なることによって構成されている。同様に、偶数(i+1)行の検出容量179は、(i+1)行目の容量線132を幅広とした部分に、第2検出線188を幅広とした部分が絶縁層を介して重なることによって構成されている。
FIG. 20 is a plan view showing the configuration of the capacitive line driving circuit 150 and the vicinity of the display area 100 in the element substrate according to the fourth embodiment.
As shown in this figure, the odd-numbered i-th row detection capacitors 179 are formed by overlapping the i-th row capacitance line 132 with the wider first detection line 187 via the insulating layer. It is configured. Similarly, the detection capacitors 179 in the even (i + 1) th row are configured by overlapping the widened portion of the capacitor line 132 in the (i + 1) th row with the widened portion of the second detection line 188 through an insulating layer. Has been.

第4実施形態によれば、選択電圧が印加された走査線112が奇数行である場合に、当該選択された奇数行の容量線132にノイズが発生したとき、そのノイズは、当該選択された行の検出容量179を介して第1検出線187に伝搬し、スイッチ35を介して、容量信号出力回路31に供給される。容量信号出力回路31は、第1給電線165に、上述したように水平走査期間の期間Haにおいて電圧変化方向に対して電圧Vaだけ過剰に振った電圧をバッファリングして出力し、期間Hbにおいては第1検出線187の電圧が目標
信号Vc1refの電圧となるように制御した電圧を出力するので、当該水平走査期間の終了
時に、当該選択された奇数行の容量線132は、電圧Vslまたは電圧Vshの一方に、より正確に安定化する。
一方、選択電圧が印加された走査線112が偶数行である場合に、当該選択された偶数行の容量線132にノイズが発生したとき、そのノイズは、当該選択された偶数行の検出容量179を介して第2検出線188に伝搬し、スイッチ35を介して、容量信号出力回路31に供給されるので、同様な動作となる。
これにより、第4実施形態においても、第2実施形態と同様に、データ線の電圧振幅を狭めることはできるだけなく、TFT151のトランジスタサイズを必要上に大きくしなくて済む上に、横方向に発生する表示むらの発生をより確実に抑えることが可能となる。
According to the fourth embodiment, when the scanning line 112 to which the selection voltage is applied is an odd number row, when noise occurs in the selected odd number row capacitance line 132, the noise is selected. The signal propagates to the first detection line 187 via the row detection capacitor 179 and is supplied to the capacitance signal output circuit 31 via the switch 35. The capacitance signal output circuit 31 buffers and outputs to the first feeder 165 the voltage that is excessively shifted by the voltage Va with respect to the voltage change direction in the period Ha of the horizontal scanning period as described above, and outputs the voltage in the period Hb. Outputs a voltage controlled so that the voltage of the first detection line 187 becomes the voltage of the target signal Vc1ref. Therefore, at the end of the horizontal scanning period, the selected odd-numbered capacitor line 132 has the voltage Vsl or voltage Stabilizes more precisely to one of the Vsh.
On the other hand, in the case where the scanning line 112 to which the selection voltage is applied is an even row, when noise occurs in the selected capacitance line 132 in the even row, the noise is detected capacitance 179 in the selected even row. Is transmitted to the second detection line 188 and supplied to the capacitance signal output circuit 31 via the switch 35, and thus the same operation is performed.
As a result, in the fourth embodiment, as in the second embodiment, the voltage amplitude of the data line can not be reduced, the transistor size of the TFT 151 does not have to be increased as necessary, and the voltage is generated in the lateral direction. It is possible to more reliably suppress the occurrence of display unevenness.

なお、第4実施形態では、容量線132と検出線とを結ぶ素子は、直流成分を流さない検出容量179である。このため、容量信号出力回路31として図16に示した構成を用
いることができない。
また、第4実施形態においても、第3実施形態のように、各行にTFT153、154の組を設けて、非選択期間において、容量線132の電位を確定させる構成としても良い。
In the fourth embodiment, the element connecting the capacitance line 132 and the detection line is the detection capacitance 179 that does not flow a direct current component. For this reason, the configuration shown in FIG. 16 cannot be used as the capacitance signal output circuit 31.
Also in the fourth embodiment, as in the third embodiment, a set of TFTs 153 and 154 may be provided in each row so that the potential of the capacitor line 132 is determined in the non-selection period.

<第1〜第4実施形態の関連事項>
上述した実施形態では、容量線駆動回路150において、i行目の容量線132に対応するTFT152(第3実施形態では、TFT154)のゲート電極を、次の(i+1)行の走査線112に接続したが、一定の行数m(mは2以上の整数)だけ離間した走査線112に接続する構成でも良い。ただし、離間行数mが多くなると、i行目の容量線132に対応するTFT152のゲート電極を、(i+m)行目の走査線112に接続する必要があり、配線が複雑化する。
また、最終の320行目の容量線132に対応するTFT152(154)までを駆動するために、ダミーの走査線112がm行必要となる。ただし、各実施形態のようにmが「1」であれば、垂直帰線期間をなくして、320行目の容量線132に対応するTFT152(154)のゲート電極を、1行目の走査線112に接続する構成とすれば、また、例えばmが「2」であれば、垂直帰線期間をなくして、319、320行目の容量線132に対応するTFT152(154)のゲート電極を、それぞれ1、2行目の走査線112に接続する構成とすれば、あえてダミーの走査線を設ける必要もない。
また、垂直帰線期間においては書込極性を指定することは無意味であるので、期間指定信号Haなどの論理信号を一定のレベルに固定しても良い。さらに、コモン電極108の
電圧Vcomを、正極性書込が指定されたときに低位とし、負極性書込が指定されたときに
高位として切り替える構成でも良い。
<Related matters of the first to fourth embodiments>
In the embodiment described above, the gate electrode of the TFT 152 (TFT 154 in the third embodiment) corresponding to the i-th capacitor line 132 is connected to the next (i + 1) -th scanning line 112 in the capacitor line driving circuit 150. However, the configuration may be such that the scanning lines 112 are separated by a certain number of rows m (m is an integer of 2 or more). However, when the number m of separated rows increases, it is necessary to connect the gate electrode of the TFT 152 corresponding to the i-th capacitor line 132 to the (i + m) -th scanning line 112, and the wiring becomes complicated.
In addition, in order to drive up to the TFT 152 (154) corresponding to the capacitor line 132 of the final 320th row, m dummy scanning lines 112 are required. However, if m is “1” as in each embodiment, the vertical blanking period is eliminated, and the gate electrode of the TFT 152 (154) corresponding to the capacitor line 132 in the 320th row is used as the scanning line in the first row. 112, and for example, if m is “2”, the vertical blanking period is eliminated, and the gate electrode of the TFT 152 (154) corresponding to the capacitor line 132 in the 319th and 320th rows is replaced by If each is connected to the first and second rows of scanning lines 112, there is no need to provide dummy scanning lines.
In addition, since it is meaningless to specify the writing polarity in the vertical blanking period, a logic signal such as the period specifying signal Ha may be fixed at a certain level. Furthermore, the voltage Vcom of the common electrode 108 may be switched to a low level when the positive polarity writing is designated and switched to a high level when the negative polarity writing is designated.

また、各実施形態では、画素容量120として画素電極118とコモン電極108とで液晶105を挟持して、液晶にかかる電界方向を基板面垂直方向とした構成としたが、画素電極、絶縁層およびコモン電極とを積層して、液晶にかかる電界方向を基板面水平方向とした構成としても良い。
一方、各実施形態では、垂直走査方向を図1において上から下方向に向かった方向としているので、i行目の容量線132に対応するTFT152のゲート電極を、(i+1)行目の走査線112に接続したが、垂直走査方向を下から上方向に向かった方向とした場合には(i−1)行目の走査線112に接続すれば良い。すなわち、i行目の容量線132に対応するTFT152のゲート電極については、i行目の走査線以外の走査線であって、i行目の走査線に選択電圧の印加終了後に、選択電圧が印加される走査線112に接続される構成であれば良い。
Further, in each embodiment, the liquid crystal 105 is sandwiched between the pixel electrode 118 and the common electrode 108 as the pixel capacitor 120, and the electric field direction applied to the liquid crystal is set to be the direction perpendicular to the substrate surface. A common electrode may be stacked so that the direction of the electric field applied to the liquid crystal is the horizontal direction of the substrate surface.
On the other hand, in each embodiment, since the vertical scanning direction is a direction from the top to the bottom in FIG. 1, the gate electrode of the TFT 152 corresponding to the i-th capacitor line 132 is used as the (i + 1) -th scanning line. In the case where the vertical scanning direction is the direction from the bottom to the top, it is only necessary to connect to the scanning line 112 in the (i-1) th row. That is, the gate electrode of the TFT 152 corresponding to the i-th capacitance line 132 is a scanning line other than the i-th scanning line, and the selection voltage is applied after the application of the selection voltage to the i-th scanning line is completed. Any structure connected to the scanning line 112 to be applied may be used.

さらに、画素容量120はノーマリーホワイトモードとしたが、電圧無印加状態において暗い状態となるノーマリーブラックモードとしても良い。また、R(赤)、G(緑)、B(青)の3画素で1ドットを構成して、カラー表示を行うとしても良いし、さらに、例えばGを、YG(黄緑)およびEG(エメラルドグリーン)に分けて、これらの4色の画素で1ドットを構成して、広色帯化を図った構成としても良い。   Furthermore, although the pixel capacitor 120 is in the normally white mode, it may be in a normally black mode in which the pixel capacitor 120 becomes dark when no voltage is applied. In addition, one dot may be formed by three pixels of R (red), G (green), and B (blue), and color display may be performed. Further, for example, G is changed to YG (yellowish green) and EG ( It is also possible to make a wide color band by forming one dot with these four color pixels.

上述した説明では、書込極性の基準をコモン電極108に印加される電圧LCcomとし
ているが、これは、画素110におけるTFT116が理想的なスイッチとして機能する場合であり、実際には、TFT116のゲート・ドレイン間の寄生容量に起因して、オンからオフに状態変化するときにドレイン電極(画素電極118)の電位が低下する現象(プッシュダウン、突き抜け、フィールドスルーなどと呼ばれる)が発生する。液晶の劣化を防止するため、画素容量120については交流駆動としなければならないが、コモン電極108への印加電圧LCcomを書込極性の基準として交流駆動すると、プッシュダウン
のために、負極性書込による画素容量120の電圧実効値が、正極性書込による実効値よ
りも若干大きくなってしまう(TFT116がnチャネルの場合)。このため、実際には、書込極性の基準電圧とコモン電極108の電圧LCcomとを別々として、書込極性の基
準電圧を、プッシュダウンの影響が相殺されるように、電圧LCcomよりも高位側にオフ
セットして設定するようにしても良い。
さらに、蓄積容量130は、直流的には絶縁されているので、第1給電線165と第2給電線167に印加されている電位差だけが上述の関係となっていれば良いので、例えば電圧LCcomとの電位差は何ボルトであっても構わない。
In the above description, the reference of the writing polarity is the voltage LCcom applied to the common electrode 108. This is a case where the TFT 116 in the pixel 110 functions as an ideal switch. -Due to the parasitic capacitance between the drains, a phenomenon in which the potential of the drain electrode (pixel electrode 118) decreases when the state changes from on to off (referred to as push-down, penetration, field-through, etc.) occurs. In order to prevent the deterioration of the liquid crystal, the pixel capacitor 120 must be AC driven. However, when AC driving is performed with the applied voltage LCcom applied to the common electrode 108 as a reference for the writing polarity, negative writing is performed for pushdown. The effective voltage value of the pixel capacitor 120 is slightly larger than the effective value of the positive polarity writing (when the TFT 116 is n-channel). Therefore, in actuality, the reference voltage of the write polarity and the voltage LCcom of the common electrode 108 are separated from each other, and the reference voltage of the write polarity is set higher than the voltage LCcom so that the influence of pushdown is offset. You may make it set by offsetting.
Further, since the storage capacitor 130 is insulated in terms of direct current, it is sufficient that only the potential difference applied to the first feeder 165 and the second feeder 167 has the above-described relationship. The potential difference between and may be any number of volts.

<電子機器>
次に、上述した実施形態に係る電気光学装置10を表示装置として有する電子機器について説明する。図21は、いずれかの実施形態に係る電気光学装置10を用いた携帯電話1200の構成を示す図である。
この図に示されるように、携帯電話1200は、複数の操作ボタン1202のほか、受話口1204、送話口1206とともに、上述した電気光学装置10を備えるものである。なお、電気光学装置10のうち、表示領域100に相当する部分の構成要素については外観としては現れない。
<Electronic equipment>
Next, an electronic apparatus having the electro-optical device 10 according to the above-described embodiment as a display device will be described. FIG. 21 is a diagram illustrating a configuration of a mobile phone 1200 using the electro-optical device 10 according to any of the embodiments.
As shown in this figure, a mobile phone 1200 includes the electro-optical device 10 described above, together with a plurality of operation buttons 1202, an earpiece 1204 and a mouthpiece 1206. Note that the components of the electro-optical device 10 corresponding to the display region 100 do not appear as appearance.

なお、電気光学装置10が適用される電子機器としては、図21に示される携帯電話の他にも、デジタルスチルカメラや、ノートパソコン、液晶テレビ、ビューファインダ型(またはモニタ直視型)のビデオレコーダ、カーナビゲーション装置、ページャ、電子手帳、電卓、ワードプロセッサ、ワークステーション、テレビ電話、POS端末、フォトストレージビューワ、タッチパネルを備えた機器等などが挙げられる。そして、これらの各種電子機器の表示装置として、上述した電気光学装置10が適用可能であることは言うまでもない。   As an electronic apparatus to which the electro-optical device 10 is applied, in addition to the mobile phone shown in FIG. 21, a digital still camera, a notebook computer, a liquid crystal television, a viewfinder type (or a monitor direct view type) video recorder. And car navigation devices, pagers, electronic notebooks, calculators, word processors, workstations, videophones, POS terminals, photo storage viewers, devices equipped with touch panels, and the like. Needless to say, the electro-optical device 10 described above can be applied as a display device of these various electronic devices.

本発明の第1実施形態に係る電気光学装置の構成を示す図である。1 is a diagram illustrating a configuration of an electro-optical device according to a first embodiment of the invention. FIG. 同電気光学装置における画素の構成を示す図である。It is a figure which shows the structure of the pixel in the same electro-optical apparatus. 同電気光学装置の表示領域の周辺構成を示す図である。FIG. 3 is a diagram illustrating a peripheral configuration of a display area of the electro-optical device. 同電気光学装置の動作を説明するための図である。FIG. 6 is a diagram for explaining an operation of the electro-optical device. 同電気光学装置において容量線の電圧シフトを示す図である。It is a figure which shows the voltage shift of a capacitive line in the same electro-optical apparatus. 同電気光学装置のデータ信号の電圧と画素電極の電圧との関係を示す図である。It is a figure which shows the relationship between the voltage of the data signal of the same electro-optical apparatus, and the voltage of a pixel electrode. 同電気光学装置の動作を説明するための電圧波形図である。FIG. 6 is a voltage waveform diagram for explaining the operation of the same electro-optical device. 同電気光学装置における容量線の波形鈍りやノイズ等の影響を示す図である。It is a figure which shows the influence of the waveform dullness of a capacitance line, noise, etc. in the same electro-optical device. 同電気光学装置の別動作(その1)を説明するための図である。FIG. 6 is a diagram for explaining another operation (part 1) of the electro-optical device. 同電気光学装置の別動作(その2)を説明するための図である。FIG. 10 is a diagram for explaining another operation (part 2) of the same electro-optical device. 同電気光学装置の別動作(その3)を説明するための図である。FIG. 11 is a diagram for explaining another operation (part 3) of the same electro-optical device. 本発明の第2実施形態に係る電気光学装置の構成を示す図である。FIG. 6 is a diagram illustrating a configuration of an electro-optical device according to a second embodiment of the invention. 同電気光学装置の表示領域の周辺構成を示す図である。FIG. 3 is a diagram illustrating a peripheral configuration of a display area of the electro-optical device. 同電気光学装置における容量信号出力回路の構成を示す図である。It is a figure which shows the structure of the capacitive signal output circuit in the same electro-optical apparatus. 同電気光学装置の動作を説明するための図である。FIG. 6 is a diagram for explaining an operation of the electro-optical device. 容量信号出力回路の別構成を示す図である。It is a figure which shows another structure of a capacitive signal output circuit. 本発明の第3実施形態に係る電気光学装置の構成を示す図である。FIG. 6 is a diagram illustrating a configuration of an electro-optical device according to a third embodiment of the invention. 同電気光学装置の表示領域の周辺構成を示す図である。FIG. 3 is a diagram illustrating a peripheral configuration of a display area of the electro-optical device. 本発明の第3実施形態に係る電気光学装置の構成を示す図である。FIG. 6 is a diagram illustrating a configuration of an electro-optical device according to a third embodiment of the invention. 同電気光学装置の表示領域の周辺構成を示す図である。FIG. 3 is a diagram illustrating a peripheral configuration of a display area of the electro-optical device. 実施形態に係る電気光学装置を用いた携帯電話を示す図である。It is a figure which shows the mobile telephone using the electro-optical apparatus which concerns on embodiment.

符号の説明Explanation of symbols

10…電気光学装置、20…制御回路、31…容量信号出力回路、100…表示領域、108…コモン電極、110…画素、112…走査線、114…データ線、116…TFT、120…画素容量、130…蓄積容量、132…容量線、140…走査線駆動回路、150…容量線駆動回路、151〜154…TFT、165…第1給電線、167…第2給電線、176…TFT、179…検出容量、185…検出線、300…オペアンプ、311、312、318…スイッチ、1200…携帯電話 DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 ... Electro-optical apparatus, 20 ... Control circuit, 31 ... Capacitance signal output circuit, 100 ... Display area, 108 ... Common electrode, 110 ... Pixel, 112 ... Scan line, 114 ... Data line, 116 ... TFT, 120 ... Pixel capacity , 130: Storage capacitor, 132: Capacitor line, 140: Scanning line drive circuit, 150 ... Capacitance line drive circuit, 151-154 ... TFT, 165 ... First feed line, 167 ... Second feed line, 176 ... TFT, 179 ... Detection capacity, 185 ... detection line, 300 ... op amp, 311, 312, 318 ... switch, 1200 ... cell phone

Claims (11)

複数の走査線と、
複数のデータ線と、
前記複数の走査線に対応して設けられた複数の容量線と、
前記複数の走査線と前記複数のデータ線との交差に対応して設けられ、
各々は、一端が前記データ線に接続されるとともに、前記走査線に選択電圧が印加されたときに導通状態となる画素スイッチング素子と、一端が前記画素スイッチング素子の他端に接続され、他端がコモン電極に接続された画素容量と、前記画素容量の一端と前記走査線に対応して設けられた容量線との間に電気的に介挿された蓄積容量と、
を含む画素と、
を有する電気光学装置の駆動回路であって、
前記複数の走査線を所定の順番で選択し、選択した走査線に選択電圧を印加する走査線駆動回路と、
一の走査線に対応して設けられた容量線に対して、
当該一の走査線に選択電圧が印加される期間のうち、時間的に前方寄りの第1期間において第1電圧を印加し、
時間的に後方寄りの第2期間において第2電圧を印加するとともに、
当該一の走査線に対する選択電圧の印加が終了した後に、前記第2電圧から所定値だけ変化させる容量線駆動回路と、
前記選択電圧が印加された走査線に対応する画素に対し、当該画素の階調に応じた電圧のデータ信号を、データ線を介して供給するデータ線駆動回路と、
を具備し、
前記第1電圧は、前記第2電圧とは異なる電圧であって、前記第2電圧に対して前記所定値への変化方向とは反対方向の電圧である
ことを特徴とする電気光学装置の駆動回路。
A plurality of scan lines;
Multiple data lines,
A plurality of capacitance lines provided corresponding to the plurality of scanning lines;
Provided corresponding to the intersection of the plurality of scanning lines and the plurality of data lines;
Each has one end connected to the data line and a conductive state when a selection voltage is applied to the scanning line, and one end connected to the other end of the pixel switching element. A pixel capacitor connected to a common electrode, a storage capacitor electrically interposed between one end of the pixel capacitor and a capacitor line provided corresponding to the scanning line,
A pixel containing
A drive circuit for an electro-optical device having:
A scanning line driving circuit for selecting the plurality of scanning lines in a predetermined order and applying a selection voltage to the selected scanning lines;
For the capacitance line provided corresponding to one scanning line,
The first voltage is applied in the first period closer to the front in the period in which the selection voltage is applied to the one scanning line,
Applying a second voltage in a second period closer to the rear in time;
A capacitance line driving circuit that changes the second voltage by a predetermined value after the application of the selection voltage to the one scanning line is completed;
A data line driving circuit for supplying a data signal of a voltage corresponding to the gradation of the pixel to the pixel corresponding to the scanning line to which the selection voltage is applied via the data line;
Comprising
The first voltage is a voltage different from the second voltage, and is a voltage in a direction opposite to the direction of change to the predetermined value with respect to the second voltage. circuit.
一の画素容量では、前記コモン電極に対する画素電極の電位が高位側となる正極性書込と低位側となる負極性書込とが交互に実行され、
前記容量線駆動回路は、
前記正極性書込となる画素容量の容量線に対し、前記第2電圧として低位電圧を印加し、
前記負極性書込となる画素容量の容量線に対し、前記第2電圧として高位電圧を印加する
ことを特徴とする請求項1に記載の電気光学装置の駆動回路。
In one pixel capacitance, positive polarity writing in which the potential of the pixel electrode with respect to the common electrode is on the higher side and negative polarity writing on the lower side are alternately performed,
The capacitor line driving circuit includes:
Applying a low voltage as the second voltage to the capacitor line of the pixel capacitance that is the positive polarity writing,
The drive circuit of the electro-optical device according to claim 1, wherein a high potential voltage is applied as the second voltage to a capacitor line of a pixel capacitor that becomes the negative polarity writing.
前記容量線駆動回路は、
前記容量線の各々に対応して、第1および第2トランジスタの組を有し、
一の容量線に対応する前記第1トランジスタは、ゲート電極が当該一の容量線に対応する走査線に接続され、ソース電極が第1容量信号を給電する第1給電線に接続され、
前記第2トランジスタは、ゲート電極が当該一の走査線に対して所定数行だけ離間した走査線に接続され、ソース電極が第2容量信号を給電する第2給電線に接続され、
前記第1および第2トランジスタのドレイン電極が当該一の容量線に共通接続された
ことを特徴とする請求項1に記載の電気光学装置の駆動回路。
The capacitor line driving circuit includes:
Corresponding to each of the capacitance lines, it has a set of first and second transistors,
In the first transistor corresponding to one capacitance line, a gate electrode is connected to a scanning line corresponding to the one capacitance line, and a source electrode is connected to a first supply line that supplies a first capacitance signal.
The second transistor has a gate electrode connected to a scanning line separated by a predetermined number of rows from the one scanning line, a source electrode connected to a second feeding line that feeds a second capacitance signal,
The drive circuit of the electro-optical device according to claim 1, wherein drain electrodes of the first and second transistors are commonly connected to the one capacitor line.
前記容量線駆動回路は、
前記容量線の各々に対応して、第1乃至第4トランジスタの組を有し、
一の容量線に対応する前記第1トランジスタは、ゲート電極が当該一の容量線に対応する走査線に接続され、ソース電極が第1容量信号を給電する第1給電線に接続され、
前記第2トランジスタは、ソース電極が第2容量信号を給電する第2給電線に接続され

前記第3トランジスタは、ゲート電極が当該一の容量線に対応する走査線に接続され、ソース電極が前記第2トランジスタをオフさせるためのオフ電圧を給電するオフ電圧給電線に接続され、
前記第4トランジスタは、ゲート電極が当該一の走査線に対して所定数行だけ離間した走査線に接続され、ソース電極が前記第2トランジスタをオンさせるためのオン電圧を給電するオン電圧給電線に接続され、
前記第3および第4トランジスタのドレイン電極が前記第2トランジスタのゲート電極に共通接続され、
前記第1および第2トランジスタのドレイン電極が当該一の容量線に接続された
ことを特徴とする請求項1に記載の電気光学装置の駆動回路。
The capacitor line driving circuit includes:
Corresponding to each of the capacitance lines, it has a set of first to fourth transistors,
In the first transistor corresponding to one capacitance line, a gate electrode is connected to a scanning line corresponding to the one capacitance line, and a source electrode is connected to a first supply line that supplies a first capacitance signal.
The second transistor has a source electrode connected to a second feed line that feeds the second capacitance signal,
The third transistor has a gate electrode connected to a scanning line corresponding to the one capacitor line, and a source electrode connected to an off-voltage power supply line that supplies an off-voltage for turning off the second transistor,
In the fourth transistor, a gate electrode is connected to a scanning line separated by a predetermined number of rows from the one scanning line, and a source electrode supplies an on-voltage power supply line for supplying an on-voltage for turning on the second transistor. Connected to
The drain electrodes of the third and fourth transistors are commonly connected to the gate electrode of the second transistor;
The drive circuit of the electro-optical device according to claim 1, wherein drain electrodes of the first and second transistors are connected to the one capacitance line.
前記容量線の各々に対応して設けられ、各々は、当該一の容量線に対応する走査線に前記選択電圧が印加されたときに、当該一の容量線と検出線との間でオンする検出用スイッチング素子と、
前記第1期間において前記第1電圧をバッファリングした電圧を、
前記第2期間において前記検出線の電圧が前記第2電圧となるように制御した電圧を、
それぞれ前記第1容量信号として前記第1給電線に出力する容量信号出力回路と、
をさらに備える
ことを特徴とする請求項3または4に記載の電気光学装置の駆動回路。
Provided corresponding to each of the capacitance lines, and each is turned on between the one capacitance line and the detection line when the selection voltage is applied to the scanning line corresponding to the one capacitance line. A switching element for detection;
A voltage obtained by buffering the first voltage in the first period;
The voltage controlled so that the voltage of the detection line becomes the second voltage in the second period,
A capacitance signal output circuit that outputs the first capacitance signal to the first feeder line, respectively.
The drive circuit of the electro-optical device according to claim 3, further comprising:
前記容量信号出力回路は、
前記第1期間において前記第1電圧となり、前記第2期間において前記第2電圧となる目標信号を非反転入力端に入力し、出力端が前記第1給電線に接続されたオペアンプと、
前記オペアンプの出力端と前記オペアンプの反転入力端との間に電気的に介挿され、前記第1期間においてオンし、前記第2期間においてオフする第1スイッチと、
前記検出線と前記オペアンプの反転入力端との間に電気的に介挿され、前記第1期間においてオフし、前記第2期間においてオンする第2スイッチと、
を含むことを特徴とする請求項5に記載の電気光学装置の駆動回路。
The capacitance signal output circuit includes:
An operational amplifier having the first voltage in the first period and the second voltage in the second period being input to a non-inverting input terminal and an output terminal connected to the first power supply line;
A first switch electrically inserted between an output terminal of the operational amplifier and an inverting input terminal of the operational amplifier, turned on in the first period, and turned off in the second period;
A second switch electrically interposed between the detection line and the inverting input terminal of the operational amplifier, and turned off in the first period and turned on in the second period;
The drive circuit for the electro-optical device according to claim 5, comprising:
前記容量信号出力回路は、
一の走査線に選択電圧が印加される期間のうち、時間的に前方の期間において前記給電線と前記検出線との間でオンする補助スイッチを有する
ことを特徴とする請求項5に記載の電気光学装置。
The capacitance signal output circuit includes:
6. The auxiliary switch according to claim 5, further comprising an auxiliary switch that is turned on between the power supply line and the detection line in a period that is temporally forward in a period in which the selection voltage is applied to one scanning line. Electro-optic device.
前記容量線の各々に対応して、当該一の容量線と検出線との間に電気的に介挿された検出容量と、
前記第1期間において前記第1電圧をバッファリングした電圧を、
前記第2期間において前記検出線の電圧が前記第2電圧となるように制御した電圧を、
それぞれ前記第1容量信号として前記第1給電線に出力する容量信号出力回路と、
を、さらに備える
ことを特徴とする請求項3に記載の電気光学装置の駆動回路。
A detection capacitor electrically inserted between the one capacitance line and the detection line, corresponding to each of the capacitance lines,
A voltage obtained by buffering the first voltage in the first period;
The voltage controlled so that the voltage of the detection line becomes the second voltage in the second period,
A capacitance signal output circuit that outputs the first capacitance signal to the first feeder line, respectively.
The drive circuit of the electro-optical device according to claim 3, further comprising:
複数の走査線と、
複数のデータ線と、
前記複数の走査線に対応して設けられた複数の容量線と、
前記複数の走査線と前記複数のデータ線との交差に対応して設けられ、
各々は、一端が前記データ線に接続されるとともに、前記走査線に選択電圧が印加されたときに導通状態となる画素スイッチング素子と、一端が前記画素スイッチング素子の他端に接続され、他端がコモン電極に接続された画素容量と、前記画素容量の一端と前記走
査線に対応して設けられた容量線との間に電気的に介挿された蓄積容量と、
を含む画素と、
を有する電気光学装置の駆動方法であって、
前記複数の走査線を所定の順番で選択し、選択した走査線に選択電圧を印加し、
一の走査線に対応して設けられた容量線に対し当該一の走査線に選択電圧が印加される期間のうち、時間的に前方寄りの第1期間において第1電圧を印加し、
時間的に後方寄りの第2期間において第2電圧を印加するとともに、
当該一の走査線に対する選択電圧の印加が終了した後に、前記第2電圧から前記所定値だけ変化させ、
前記選択電圧が印加された走査線に対応する画素に対し、当該画素の階調に応じた電圧のデータ信号を、データ線を介して供給し、
前記第1電圧は、前記第2電圧とは異なる電圧であって、前記第2電圧に対して所定値への変化方向とは反対方向の電圧である
ことを特徴とする電気光学装置の駆動方法。
A plurality of scan lines;
Multiple data lines,
A plurality of capacitance lines provided corresponding to the plurality of scanning lines;
Provided corresponding to the intersection of the plurality of scanning lines and the plurality of data lines;
Each has one end connected to the data line and a conductive state when a selection voltage is applied to the scanning line, and one end connected to the other end of the pixel switching element. A pixel capacitor connected to a common electrode, a storage capacitor electrically interposed between one end of the pixel capacitor and a capacitor line provided corresponding to the scanning line,
A pixel containing
A driving method of an electro-optical device having:
Selecting the plurality of scanning lines in a predetermined order, and applying a selection voltage to the selected scanning lines;
A first voltage is applied in a first period closer to the front in the time period in which a selection voltage is applied to the one scanning line with respect to a capacitor line provided corresponding to one scanning line,
Applying a second voltage in a second period closer to the rear in time;
After the application of the selection voltage to the one scanning line is completed, the second voltage is changed by the predetermined value,
A data signal having a voltage corresponding to the gradation of the pixel is supplied to the pixel corresponding to the scanning line to which the selection voltage is applied via the data line,
The first voltage is a voltage different from the second voltage, and is a voltage in a direction opposite to the direction of change to the predetermined value with respect to the second voltage. .
複数の走査線と、
複数のデータ線と、
前記複数の走査線に対応して設けられた複数の容量線と、
前記複数の走査線と前記複数のデータ線との交差に対応して設けられ、
各々は、一端が前記データ線に接続されるとともに、前記走査線に選択電圧が印加されたときに導通状態となる画素スイッチング素子と、一端が前記画素スイッチング素子の他端に接続され、他端がコモン電極に接続された画素容量と、前記画素容量の一端と前記走査線に対応して設けられた容量線との間に電気的に介挿された蓄積容量と、
を含む画素と、
前記複数の走査線を所定の順番で選択し、選択した走査線に選択電圧を印加する走査線駆動回路と、
一の走査線に対応して設けられた容量線に対して、
当該一の走査線に選択電圧が印加される期間のうち、時間的に前方寄りの第1期間において第1電圧を印加し、
時間的に後方寄りの第2期間において第2電圧を印加するとともに、
当該一の走査線に対する選択電圧の印加が終了した後に、前記第2電圧から前記所定値だけ変化させる容量線駆動回路と、
前記選択電圧が印加された走査線に対応する画素に対し、当該画素の階調に応じた電圧のデータ信号を、データ線を介して供給するデータ線駆動回路と、
を具備し、
前記第1電圧は、前記第2電圧とは異なる電圧であって、前記第2電圧に対して所定値への変化方向とは反対方向の電圧である
ことを特徴とする電気光学装置。
A plurality of scan lines;
Multiple data lines,
A plurality of capacitance lines provided corresponding to the plurality of scanning lines;
Provided corresponding to the intersection of the plurality of scanning lines and the plurality of data lines;
Each has one end connected to the data line and a conductive state when a selection voltage is applied to the scanning line, and one end connected to the other end of the pixel switching element. A pixel capacitor connected to a common electrode, a storage capacitor electrically interposed between one end of the pixel capacitor and a capacitor line provided corresponding to the scanning line,
A pixel containing
A scanning line driving circuit for selecting the plurality of scanning lines in a predetermined order and applying a selection voltage to the selected scanning lines;
For the capacitance line provided corresponding to one scanning line,
The first voltage is applied in the first period closer to the front in the period in which the selection voltage is applied to the one scanning line,
Applying a second voltage in a second period closer to the rear in time;
A capacitance line driving circuit for changing the predetermined voltage from the second voltage after the application of the selection voltage to the one scanning line is completed;
A data line driving circuit for supplying a data signal of a voltage corresponding to the gradation of the pixel to the pixel corresponding to the scanning line to which the selection voltage is applied via the data line;
Comprising
The electro-optical device, wherein the first voltage is a voltage different from the second voltage, and is a voltage in a direction opposite to a change direction to the predetermined value with respect to the second voltage.
請求項10に記載の電気光学装置を有する
ことを特徴とする電子機器。
An electronic apparatus comprising the electro-optical device according to claim 10.
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2011105503A1 (en) * 2010-02-26 2011-09-01 シャープ株式会社 Liquid crystal display device
US8830152B2 (en) 2010-02-26 2014-09-09 Sharp Kabushiki Kaisha Liquid crystal display device
JP5631968B2 (en) * 2010-02-26 2014-11-26 シャープ株式会社 Liquid crystal display

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