JP2009160467A

JP2009160467A - Ｘ線ｃｔ装置

Info

Publication number: JP2009160467A
Application number: JP2009106837A
Authority: JP
Inventors: Katsuyuki Taguchi; 克行田口; Hiroaki Miyazaki; 博明宮崎
Original assignee: Toshiba Corp
Current assignee: Toshiba Corp
Priority date: 1997-09-09
Filing date: 2009-04-24
Publication date: 2009-07-23
Also published as: JP4346677B2; JP2009028559A

Abstract

【課題】ヘリカルスキャン開始時及び終了時におけるの被検体に対する余計な被曝を低
減する。
【解決手段】寝台に載置された被検体に対してＸ線を曝射するＸ線発生手段と、この
Ｘ線の曝射により形成されたＸ線像を複数の検出器列で検出するＸ線検出手段とを架台に
対向配置し、前記寝台或いは架台を回転軸方向に相対的に移動制御すると共に架台を回転
させながらＸ線の曝射を行うことにより被検体の所望の部位の撮影を行うＸ線ＣＴ装置に
おいて、
データを収集した際のビュー角度、レイ角度、検出器列のＺ座標に基づいて、補間するデ
ータを求める制御手段を有することを特徴とする。
【選択図】図１

Description

本発明は、被検体の体軸方向に沿って螺旋状にスキャンを行い、これにより形成された
Ｘ線像を複数の検出器列で検出するマルチスライス用のＸ線ＣＴ装置に関する。

従来、被検体に対してＸ線を曝射するＸ線ビーム発生源と、このＸ線ビーム発生源に対
して対向配置されＸ線の曝射により形成されたＸ線像を検出するＸ線検出器とを回転させ
ながら寝台を被検体の体軸方向に移動させることにより被検体の断層像を得るヘリカルス
キャンによるＸ線ＣＴ装置が種々提案されている。このようなヘリカルスキャンでは、Ｘ
線ビーム発生源と検出器との中心点を回転中心として回転させながら、寝台を被検体の体
軸方向に移動させる。このため、被検体を基準にすると、Ｘ線ビーム発生源と検出器とは
螺線軌道を取ることになる。

ヘリカルスキャンによるＸ線ＣＴ装置では、シングルスライス（ファンビーム）ＣＴ装
置と、マルチスライス（コーンビーム）ＣＴ装置が開発されている。シングルスライスＣ
Ｔ装置は、ファン状のＸ線ビームを曝射するＸ線ビーム発生源と、扇状に複数チャンネル
、例えば１０００チャンネルを１列に並べた検出器とを有する。シングルスライスＣＴで
は、このＸ線ビーム発生源と検出器を被検体の周囲に回転させ、１回転で例えば１０００
データ分を収集し（１回のデータ収集を１ビューと称する）、そのデータを基に３６０°
補間法或いは対向ビーム補間法による補間処理により画像を再構成する。

また、マルチスライスＣＴ装置は、円錐状のＸ線ビームを曝射するＸ線ビーム発生源と
、Ｍチャンネルを円弧状に配列した検出器列をＺ軸方向に並べた（Ｍチャンネル×Ｎ列）
２次元検出器とを有する。マルチスライスＣＴ装置では、このＸ線ビーム発生源と検出器
を被検体の周囲に回転させ、１回転でＭ×Ｎデータ分を収集し、そのデータを基に隣接補
間法により画像を再構成する。臨床では、ヘリカルピッチ（１回転当たりの寝台送り量）
は、通常、スライス厚と同じとしている（これを基本ピッチと称する）。

ここで、従来のシングルスライスＣＴ装置では、図１４に示すように断層像と共に、被
検者の名前（Ｎａｍｅ）、撮影ポジション（Ｐｏｓｉｔｉｏｎ）、撮影の日付、管電圧及
び１秒間の管電流（ＫＶ／ｍＡｓ）、スキャン時間（例えば１．０ｓ）、スキャン回数、
再構成関数及びＦＯＶサイズ等が表示され、これらの各パラメータに基づいて再スキャン
を行い同じ断層像を得ることができるのであるが、マルチスライスＣＴ装置では、オーバ
ーサンプリングの考慮が必要なうえ、スライス方向のフィルタ処理のフィルタ幅及び基本
スライス厚の考慮が必要なことから、シングルスライスＣＴ装置と同じ前記各パラメータ
を表示しただけでは同じ画像を再スキャンして得ることができない問題がある。

すなわち、シングルスライスＣＴ装置における断層像のスライス厚は、Ｘ線ビームのス
ライス方向の厚さにより一義的に決まるのであるが、マルチスライスＣＴ装置のスライス
厚は、Ｘ線検出器自体のスライス幅と再構成に使用する検出器列の列数で決まり、さらに
ヘリカルスキャンを行う場合には、これらに加えヘリカルピッチ及び再構成に用いるフィ
ルタ幅の各パラメータの組み合わせによって決まる。

このため、表示画像として１０ｍｍスライス厚の断層像が表示されている場合でも、こ
の断層像の取り込みを行った際のＸ線検出器のスライス幅が２ｍｍである場合もあれば１
０ｍｍである場合もある。また、同様に、再構成する人体のスライス部位に照射されるＸ
線のＸ線照射量（ｍＡｓ）は、スキャン時間（ｓｅｃ）と管電流（ｍＡ）との積を演算し
て表示するのであるが、スキャンモードによっては、所定の断面をオーバーラップしてス
キャンする場合がある。そして、この場合、実際に表示される断層像に対応するＸ線照射
量（ｍＡｓ）は、前記オーバーラップの度合いによって変化するようになっている。

このようなことから、従来のマルチスライスＣＴ装置は、シングルスライスＣＴと同様
のパラメータを表示しただけでは、同じ画像を再スキャンして得ることができない問題が
あった。

また、従来のマルチスライスＣＴ装置は、ヘリカルスキャンを行う際に、基本スライス
厚、ピッチ、スキャン時間、スキャン回数等の「スキャンパラメータ」、ヘリカル補間方
法、フィルタ幅、フィルタ形状等の「再構成パラメータ」、及び再構成関数、管電圧、管
電流、ＦＯＶサイズ等の「その他のパラメータ」の入力が必要なのであるが、これらの各
パラメータを全て手動で入力するのは大変面倒である。マルチスライスＣＴ装置に全ての
パラメータを自動設定させることも可能であるが、医師等が真に所望する断層像が得られ
るようにするには、例えば医師等が所望するパラメータの入力を行えば、他のパラメータ
が自動的に設定されるようなシ
ステムとすることが好ましく、また、このようなＸ線ＣＴ装置の開発が望まれている。

また、従来のマルチスライスＣＴ装置は、ヘリカルスキャンを行う際に、被検体が載置
された寝台を、「ヘッド・トゥ・フット」又は「フット・トゥ・ヘッド」の各スキャン方
向に移動させながら断層像の撮影を行うのであるが、補間に用いる補間データや重み付け
データは各スキャン方向毎にそれぞれ異なる。このため、各スキャン方向に対応するため
には、各スキャン方向に対応した２種類のハードウェア及びソフトウェアが必要となり、
コスト的に高くなるうえ、構成的にも複雑となる問題があった。

さらに、従来のマルチスライスＣＴ装置は、ヘリカルスキャンを行うと、断層像の再構
成に用いることのない収集データに係る余計なＸ線の曝射を行うこととなり、被検体に対
する余分な被曝量がシングルスライスＣＴ装置に比べて大きくなる問題がある。

具体的には、被検体の目的領域の撮影を行う場合は、目的領域の前段から寝台を助走さ
せると共にガントリに設けられたＸ線管及びＸ線検出器を回転させて寝台の移動速度が安
定したタイミングでＸ線の曝射を開始し、目的領域にＸ線が曝射されその撮影が行われる
ように制御される。このとき、再構成を行う部位の外側のデータ収集を「助走期間」と称
する。このような助走期間は、シングルスライスＣＴ装置、被検体の体軸方向に広がりを
有するＸ線ビームでＸ線像の撮影を行うコーンビームＣＴ装置やマルチスライスＣＴ装置
が共に必要とするのであるが、シングルスライスＣＴ装置の場合は、図１５（ａ）に示す
ように再構成に用いられない収集データに係るＸ線の曝射範囲は無いのに対して、コーン
ビームＣＴ装置やマルチスライスＣＴ装置の場合は、同図（ｂ）に示すように複数列の検
出器列に対してＸ線を曝射することとなるため、前記助走期間における再構成に用いられ
ない収集データに係るＸ線の曝射範囲が発生してしまう。このようなことから、従来のコ
ーンビームＣＴ装置やマルチスライスＣＴ装置は、ヘリカルスキャンを行うと、被検体に
対する余分な被曝量がシングルスライスＣＴ装置に比べて大きくなる問題があった。

また、Ｘ線の曝射は、被検体の再構成を行う部位にのみ行われればよいのであるが、ヘ
リカルスキャンは、再構成を行う部位（スライス面）の前後のデータ補間することが必要
なので、図１５（ｂ）に示すように全回転角度において前記補間のためのデータ収集が終
了するまでスキャン（Ｘ線の曝射）が継続されることとなる。前述のように、コーンビー
ムＣＴ装置の場合は、Ｘ線ビームが被検体の体軸方向に広がりを持ち、また、マルチスラ
イスＣＴ装置の場合は、複数列の検出器列に対してＸ線を曝射することとなるため、スキ
ャン終了時において、被検体の再構成を行う部位以外の部位に対するＸ線の曝射範囲がシ
ングルスライスＣＴ装置の場合と
比べて広くなり、被検体を余計に被曝させる問題があった。

本発明は、上述の課題に鑑みてなされたものであり、過去の撮影と同じ条件の断層像を
簡単に再撮影することができ、所望する一部のパラメータを入力しただけで他のパラメー
タが自動的に設定されて撮影を行うことができ、「ヘッド・トゥ・フット」又はフット・
トゥ・ヘッド」の各スキャンに１種類のハードウェア及びソフトウェアで対応することが
でき、再構成に用いることのない収集データに係る余計なＸ線の曝射を低減して被検体の
被曝量を低減することができるようなＸ線ＣＴ装置の提供を目的とする。

本発明に係るＸ線ＣＴ装置は、寝台に載置された被検体に対してＸ線を曝射するＸ線発
生手段と、このＸ線の曝射により形成されたＸ線像を複数の検出器列で検出するＸ線検出
手段とを架台に対向配置し、前記寝台或いは架台を回転軸方向に相対的に移動制御すると
共に、架台を回転させながらＸ線の曝射を行うことにより被検体の所望の部位の撮影を行
う、いわゆるマルチスライス方式のヘリカルスキャンのＸ線ＣＴ装置である。なお、前記
ヘリカルスキャンにより撮像した複数の断層像に基づいて３次元再構成を行うＸ線ＣＴ装
置も含む概念である。

そして、上述の課題を解決するために、本発明に係るＸ線ＣＴ装置は、データを収集し
た際のビュー角度、レイ角度、検出器列のＺ座標に基づいて、補間するデータを求める制
御手段を有することを特徴とする。

また、本発明の他の観点に係るＸ線ＣＴ装置は、検出器列に少なくとも寝台の送り方向
に応じた相対的な番号を付し、この相対番号に基づいて、各検出器列からの収集データに
応じた再構成画像を形成する制御手段を有することを特徴とする。

本発明に係るＸ線ＣＴ装置は、複数の撮影モードに対して、共通したソフトウェア又は
ハードウェアで対応することができる。

本発明に係るＸ線ＣＴ装置を適用した第１の実施の形態のマルチスライスＣＴ装置のブロック図である。前記第１の実施の形態のマルチスライスＣＴ装置で選択可能なフィルタ形状を示す図である。前記第１の実施の形態のマルチスライスＣＴ装置で操作者により指定される再構成範囲と実際のスキャン範囲との関係を示す図である。前記第１の実施の形態のマルチスライスＣＴ装置で設定される各パラメータを示す図である。前記第１の実施の形態のマルチスライスＣＴ装置で設定される各パラメータを示す図である。前記第１の実施の形態のマルチスライスＣＴ装置のヘリカルピッチが２．５及び３．５の場合のスキャン状態を示す図である。前記第１の実施の形態のマルチスライスＣＴ装置のヘリカルピッチが４．０及び３．５の場合のスキャン状態を示す図である。前記第１の実施の形態のマルチスライスＣＴ装置において、表示部に表示されるマルチスライスＣＴ装置特有のパラメータを示す図である。本発明に係るＸ線ＣＴ装置を適用した第２の実施の形態のＸ線ＣＴ装置のスキャン開始時（助走期間）における被曝低減動作を説明するための図である。前記第２の実施の形態のＸ線ＣＴ装置のスキャン終了時における被曝低減動作を説明するための図である。コーンビームＣＴ装置のスキャン開始時（助走期間）及びスキャン終了時における被曝低減動作を説明するための図である。前記コーンビームＣＴ装置の被曝低減動作における第１、第２のプリコリメータの位置関係を説明するための図である。本発明に係るＸ線ＣＴ装置を適用した第３の実施の形態のマルチスライスＣＴ装置における収集データの検出器列の相対番号でのデータ処理を説明するための図である。シングルスライスＣＴ装置の断層像と共に表示される各パラメータを示す図である。シングルスライスＣＴ装置とマルチスライスＣＴ装置におけるヘリカルスキャン開始時の余計な被曝量の差を説明するための図である。

以下、本発明に係るＸ線ＣＴ装置の好ましい実施の形態について図面を参照しながら詳
細に説明する。

まず、本発明に係るＸ線ＣＴ装置は、寝台に載置された被検体の体軸方向に沿って螺旋
状にスキャンを行い、これにより形成されたＸ線像を複数の検出器列で検出するマルチス
ライス用のＸ線ＣＴ装置（マルチスライスＣＴ装置）である。

図１に、当該技術的思想を適用した第１の実施の形態のマルチスライスＣＴ装置を示す
。この第１の実施の形態のマルチスライスＣＴ装置は、被検体が載置される寝台１と、架
台２の内周に回転自在かつ相対向するように設けられたＸ線管３及びＸ線検出器４と、Ｘ
線管３から曝射されるＸ線の線量等を制御するＸ線制御部５及び高電圧発生部６と、寝台
１をＸ線管３及びＸ線検出器４の回転軸方向に沿って移動制御する架台・寝台制御部７及
び寝台移動部８とを有している。

また、当該マルチスライスＣＴ装置は、Ｘ線検出器４で収集された収集データの取り込
みを行うデータ収集部９と、データ収集部９で収集された収集データに対して所定の補間
処理を施す補間処理部１０と、補間処理部により補間処理が施された収集データに基づい
て、Ｘ線像を再構成する画像再構成部１１と、画像再構成部１１により再構成されたＸ線
像を表示する表示部１２と、例えばスライス厚、回転速度等のヘリカルスキャン条件の入
力等を行うための操作部１３と、当該マルチスライスＣＴ装置全体のシステム制御を行う
システム制御部１４とを有している。

Ｘ線検出器４は、複数（例えば１０００チャンネル）のＸ線検出素子を前記回転軸方向
に対して直交する方向（スライス方向）に沿って並設してなる検出器列を、前記回転軸方
向に沿って例えば４列分並設して構成された、マルチスライス用のＸ線検出器となってい
る。

次に、このような構成を有する当該第１の実施の形態のマルチスライスＣＴ装置の動作
説明をする。

まず、操作者は、当該マルチスライスＣＴ装置を用いてヘリカルスキャンによるＸ線像
の撮影を行う前に、この撮影範囲を決めるために操作部１３を操作してスキャノグラム像
の撮影の指定を行う。

システム制御部１４は、このスキャノグラム像の撮影が指定されると、寝台１に載置さ
れた被検体の上面から、静止した状態で（回転することなく）少ない線量のＸ線が連続的
に曝射されるように、Ｘ線制御部５及び高電圧発生部６を介してＸ線管３を曝射制御する
と共に、前記回転軸に沿って寝台１が移動するように架台・寝台制御部７及び寝台移動部
８を介して寝台１を移動制御する。これにより、寝台の移動に応じて前記Ｘ線の曝射によ
り形成されたＸ線像がＸ線検出器４で検出される。データ収集部９は、このＸ線検出器４
で検出された各Ｘ線像の取り込みを行い、これらを補間処理部１０を介して画像再構成部
１１に供給する。画像再構成部１１は、各Ｘ線像を撮影順に並べることにより１枚の２次
元的な透視画像であるスキャノグラム像を形成し、これを表示部１２に供給する。これに
より、表示部１２にスキャノグラム像を表示することができる。

次に、操作者は、操作部１３を操作して以下に説明するスキャンパラメータ、再構成パ
ラメータ及び管電圧、管電流、視野サイズ等の入力を行う。

スキャンパラメータとしては、例えば０．５ｍｍ、１．０ｍｍ、２．０ｍｍ、３．０ｍ
ｍ、５．０ｍｍ、１０．０ｍｍ等の「基本スライス幅（Ｔｍｍ）」、２．５、３．５、４
．０、４．５等の「ピッチ（Ｐ）」、１０秒、２０秒等の任意の「スキャン時間（ｔ）」
、所望の撮影範囲に対してヘリカルスキャンを繰り返す回数である「スキャン回数」等の
入力を行う。

再構成パラメータとしては、０、０．５、１．０、２．０、４．０等の「フィルタ幅（
前記基本スライス幅Ｔで正規化したフィルタ幅Ｆｎ）」、フィルタの選択等の入力を行う
。

前記フィルタとしては、図２（ａ）に示すようにフィルタ幅Ｆｎが０〜＋Ｆｎ／２まで
、及び０〜−Ｆｎ／２までは所定の重み値を維持し、フィルタ幅Ｆｎが＋Ｆｎ／２或いは
−Ｆｎ／２となったときに重み値が０まで急峻に立ち下がるフィルタ特性を有する第１の
フィルタ（ＺＦＣ１）と、同図（ｂ）に示すようにフィルタ幅Ｆｎが０のときに最大の重
み値を有し、フィルタ幅Ｆｎが０〜＋Ｆｎ／２及び０〜−Ｆｎ／２にそれぞれ移行するに
連れてなだらかな放物線を描くように重み値が立ち下がるフィルタ特性を有する第２のフ
ィルタ（ＺＦＣ２）とが設けられている。

また、前記フィルタとしては、図２（ｃ）に示すようにフィルタ幅Ｆｎが０のときに最
大の重み値を有し、フィルタ幅Ｆｎが０〜略＋Ｆｎ／４及び０〜略−Ｆｎ／４にそれぞれ
移行するに連れて所定のマイナス値まで重み値がリニアに立ち下がり、略＋Ｆｎ／４〜＋
３Ｆｎ／８及び略−Ｆｎ／４〜−３Ｆｎ／８にそれぞれ移行するに連れて所定のプラス値
まで重み値がリニアに立ち下がり、＋３Ｆｎ／８〜＋Ｆｎ／２及び−３Ｆｎ／８〜−Ｆｎ
／２にそれぞれ移行するに連れてなだらかな放物線を描くように重み値が立ち下がるフィ
ルタ特性を有する第３のフィルタ（ＺＦＣ３）と、同図（ｄ）に示すようにこの第３のフ
ィルタ（ＺＦＣ３）の重み値の立ち上がり量及び立ち下がり量を少なくしたフィルタ特性
を有する第４のフィルタ（ＺＦＣ４）とが設けられている。

操作者は、再構成パラメータとして前記「フィルタ幅」と共に、これら第１〜第４のフ
ィルタ（ＺＦＣ１〜ＺＦＣ４）の中から所望のフィルタを選択して入力を行う。

ここで、当該マルチスライスＣＴ装置では、このスキャンパラメータ及び再構成パラメ
ータ等の入力に対して、以下に説明する第１〜第３の３つの入力方法が設けられている。

まず、第１の入力方法は、操作者が操作部１３を操作して前記各パラメータを全て手動
で入力する方法である。システム制御部１４は、手動で入力された各パラメータに基づい
てスキャン時間やフィルタ幅等の設定を行うのであるが、この場合、全てのパラメータを
操作者が所望する値に設定することができるため、操作者が所望する撮影画像を得ること
ができる利点がある。

なお、この場合操作者は、一部のパラメータの入力の省略が可能となっている。システ
ム制御部１４は、そのパラメータの入力が省略された場合は、これをデフォルト値に自動
設定する。これにより、全てのパラメータの手動入力に掛かる手間を軽減することができ
る。

次に、第２の入力方法は、操作者が操作部１３を操作して検査目的や、目的とする画像
の特徴等を入力する方法である。この場合、操作者は、第１の条件として例えば０．５ｍ
ｍ、１．０ｍｍ、２．０ｍｍ、３．０ｍｍ、１０．０ｍｍ等の再構成画像の実効スライス
厚ＩＴ（ｍｍ）の入力を行うと共に、第２の条件として以下の第１〜第３のモードの中か
ら所望のモードを選択する。なお、前記実効スライス厚ＩＴの入力は、操作者が所望する
値を入力してもよいが、幾つかの実効スライス厚を表示し、この中から操作者が選択する
ようにしてもよい。

前記第２の条件として入力される各モードのうち、第１のモードは、部分容積効果によ
るアーチファクトが抑制された画像を得ることができる「パーシャルフリーモード」とな
っている。システム制御部１４は、第２の条件としてこのパーシャルフリーモードが設定
されると、基本スライス幅Ｔを再構成画像の実効スライス厚ＩＴの略半分以下となるよう
に自動設定する。この場合、スキャン時間ｔが多少長くなる場合がある。

第２のモードは、スキャン時間ｔを優先する「高速スキャンモード」となっている。シ
ステム制御部１４は、第２の条件としてこの高速スキャンモードが設定されると、基本ス
ライス幅Ｔを実効スライス厚ＩＴの８０％となるように自動設定する。この場合、部分容
積効果が残る場合がある。

第３のモードは、前記パーシャルフリーモード及び高速スキャンモードの中間のモード
である「標準スキャンモード」となっている。システム制御部１４は、第２の条件として
この標準スキャンモードが設定されると、スキャン時間ｔを１５秒前後に、基本スライス
幅Ｔを再構成画像の実効スライス厚ＩＴの８０％以下に自動設定する。

システム制御部１４は、このような第１、第２の条件が選択されると、この選択された
各条件に基づいて、スキャンパラメータ及び再構成パラメータを自動的に設定する。

具体的には、例えば前述の第１のモード（パーシャルフリーモード）を選択した場合を
一例として操作手順の説明をすると、この場合まず操作者は、再構成画像の実効スライス
厚ＩＴの入力を行う。システム制御部１４には、図４（ａ）に示すようにこの第１のモー
ドにおいて入力された実効スライス厚ＩＴに対応する基本スライス幅ＬＴを演算するため
の計算式或いはテーブルが予め記憶されている。このため、システム制御部１４は、実効
スライス厚ＩＴが入力されると、この実効スライス厚を「ＩＴ」、基本スライス幅を「Ｔ
」として「ＩＴ／５≦Ｔ≦ＩＴ／２」の条件を満たすような基本スライス幅「ＬＴ」を検
出する。

なお、この第１のモードにおいては、実効スライス厚ＩＴは、その値が小さい程好まし
い。また、この実効スライス厚ＩＴが入力されなかった場合には、システム制御部１４は
、例えば「ＩＴ／２」をそのデフォルト値として自動的に設定するようになっている。

次に、操作者は、ヘリカルピッチＰ（ピッチＰ）の入力を行う。このヘリカルピッチＰ
は、例えば２．５、３．５、４．５・・・の中から選択或いは所望の値の入力を行う。シ
ステム制御部１４には、図４（ｂ）に示すようにこの第１のモードにおいて入力される各
ヘリカルピッチＰを基本スライス幅Ｔで正規化した値である「ヘリカルピッチＬＰ」を演
算するための計算式或いはテーブルが予め記憶されている。このため、システム制御部１
４は、ヘリカルピッチＰが入力されると前記計算式或いはテーブルに基づいて前記ヘリカ
ルピッチＬＰを検出する。

なお、この第１のモードにおいては、ピッチＰの値は小さい程好ましいものとなってい
る。また、この第１のモードにおいて、ヘリカルピッチＰが入力されなかった場合は、シ
ステム制御部１４は、例えば「２．５」をデフォルト値として自動的に設定するようにな
っている。

次に、操作者は、スキャン時間ｔの入力を行う。システム制御部１４には、図４（ｃ）
に示すようにこの第１のモードにおいて入力される各スキャン時間ｔを正規化した値であ
る「スキャン時間Ｌｔ」を演算するための計算式或いはテーブルが予め記憶されている。
このため、システム制御部１４は、スキャン時間ｔが入力されると前記計算式或いはテー
ブルに基づいて前記スキャン時間Ｌｔを検出する。なお、この第１のモードにおけるスキ
ャン時間ｔは、例えば「１５秒」程度に設定することが好ましいものとなっている。この
ため、このスキャン時間ｔが入力されなかった場合には、システム制御部１４は、例えば
「１５秒」をこのスキャン時間ｔのデフォルト値として自動的に設定するようになってい
る。

次に、操作者は、所望のスキャン回数の入力を行う。このスキャン回数は、操作者の所
望の回数を入力するようになっている。この入力が省略された場合、システム制御部１４
は、例えば「１回」を、このスキャン回数のデフォルト値として自動的に設定するように
なっている。

次に、このようにして基本スライス幅Ｔ、実効スライス厚ＩＴ及びヘリカルピッチＰが
入力されると、システム制御部１４は、図５（ａ）又は同図（ｂ）に示すように基本スラ
イス幅Ｔ、実効スライス厚ＩＴ及びヘリカルピッチＰに基づいて予め形成されたテーブル
又は演算式からフィルタ幅Ｆｎを求める。

次に、操作者は、図２（ａ）〜（ｄ）を用いて前述した第１のフィルタＺＦＣ１〜第４
のフィルタＺＦＣ４の中から所望のフィルタ形状のフィルタを選択し、その入力を行う。
なお、この第１のモードにおいて、フィルタ形状の入力が省略された場合、システム制御
部１４は、例えば「第１のフィルタＺＦＣ１」を自動的に選択して処理するようになって
いる。

次に、システム制御部１４は、図４（ａ）〜（ｃ）に示すように基本スライス幅ＬＴ、
ヘリカルピッチＬＰ及びスキャン時間Ｌｔを検出すると、以下の式に基づいて、Ｃ（Ｔ、
Ｐ、ｔ）が最大になる条件を検出する。なお、以下の式中「ｗＴ、ｗｐ、ｗｔ」は、基本
スライス幅、ヘリカルピッチ及びスキャン時間の各条件の所定の重み付け値を示し、各条
件はその重要度に応じて重み付けされるようになっている。

Ｃ（Ｔ、Ｐ、ｔ）＝ｗＴ×Ｌｔ＋ｗｐ×Ｌｐ＋ｗｔ×Ｌｔ
システム制御部１４は、Ｃ（Ｔ、Ｐ、ｔ）が最大になる条件を検出し、この条件に基づ
いて撮影画像の撮影を行うように各部を制御する。

次に、スキャンパラメータ及び再構成パラメータの第３の入力方法は、いわば前述の第
１、第２の入力方法の中間の入力方法であり、操作者が固定したいパラメータだけを手動
で入力或いは選択する入力方法である。

この第３の入力方法で各パラメータの入力を行う場合、操作者は、図１に示す操作部１
３を操作して、例えばスキャン時間ｔを１０秒に、スキャン回数を３回に、実効スライス
厚ＩＴを５ｍｍのスライス画像等のように所望のパラメータを入力する。システム制御部
１４は、このように操作者が所望するパラメータの入力が行われると、この入力された各
パラメータ以外のパラメータを、前述の第２の入力方法と同様に自動的に設定し、この設
定した条件に基づいて撮影画像の撮影を行うように各部を制御する。なお、前記第１〜第
３のモード（パーシャルフリーモード〜標準スキャンモード）のうち所望のモードが設定
されない場合には、システム制御部１４は、第３のモード（標準スキャンモード）を自動
的に選択するようになっている。

次に、操作者は、このようなスキャンパラメータ及び再構成パラメータ（及び管電圧、
管電流、視野サイズ）の各パラメータの入力が終了すると、再構成範囲の指定を行う。こ
の再構成範囲の指定は、いわゆるスキャノグラム像に基づいて行うようになっており、具
体的には、操作者は、例えば図３に示すようなスキャノグラム像の取り込みを行い、この
スキャノグラム像に基づいて操作部１３を操作し、同図中太線で示すように画像再構成を
行う範囲（再構成範囲）の指定を行う。

当該マルチスライスＣＴ装置には、前記各スキャンモードに応じて、指定された再構成
範囲と、これに対応して実際に設定されるスキャン範囲との関係が定式化されて記憶され
ている。具体的には、システム制御部１４は、この再構成範囲の指定がなされると、図３
に示すように指定された再構成範囲の前段及び後段に前記選択されたフィルタのフィルタ
幅の略半分の幅に相当するスキャン範囲を加えると共に、架台２の１回転分のスキャン範
囲を加え、これを全体で実際のスキャン範囲であるデータ収集範囲とする。システム制御
部１４は、このようにしてデータ収集範囲を決定すると、操作者により撮影の開始が指定
されるまで待機状態となる。

なお、前記スキャン範囲の前段及び後段に付加される前記選択されたフィルタのフィル
タ幅の略半分の幅に相当するスキャン範囲や、架台２の１回転分のスキャン範囲は、例え
ば５ｍｍ、１０ｍｍ等の少範囲であるが、図３においては理解を容易とするために、これ
らの各範囲を広めに図示している。また、システム制御部１４は、スキャン開始位置より
も前段で架台２の回転速度や寝台１の移動速度が一定速度となっていること等が必要な場
合には、図３に点線で示すように前記データ収集範囲にこのための助走範囲も計算して付
加するようになっている。

次に、操作者は、このようにして再構成範囲を指定した後に、操作部１３を操作して撮
影の開始を指定する。システム制御部１４は、この撮影の開始が指定されると、図１に示
す架台・寝台制御部７を介して架台２を所定の速度で回転制御し、寝台移動部８を介して
被検体の載置された寝台１を架台２の回転軸方向に沿って被検体の頭側から足側にかけて
移動制御（ヘッド・トゥ・フット）、或いは被検体の足側から頭側にかけて移動制御（フ
ット・トゥ・ヘッド）すると共に、Ｘ線制御部５及び高電圧発生部６を介してＸ線管３を
曝射制御する。これにより、いわゆるヘリカルスキャンにより、Ｘ線検出器４により被検
体のＸ線像が螺旋状に取り込まれデータ収集部９に供給されることとなる。

具体的には、図６（ａ）、（ｂ）にヘリカルピッチＰが２．５ピッチ、３．５ピッチの
場合におけるヘリカルスキャンの軌跡を、図７（ａ）、（ｂ）にヘリカルピッチＰが４．
０ピッチ、４．５ピッチの場合におけるヘリカルスキャンの軌跡をそれぞれ示す。なお、
この図６（ａ）、（ｂ）及び図７（ａ）、（ｂ）は、フィルタ幅Ｆ＝基本スライス幅の場
合を示し、また、Ｘ線検出器４の数字（１〜４）は、第１〜第４の検出器列を示すように
なっている。

この図６（ａ）において、ヘリカルピッチが２．５ピッチの場合は、まず、１回転目で
、図中細線の矢印で示すように前述のように決定されたスキャン範囲の開始位置から３６
０°分の収集データが収集され、次に２回転目で、図中太線の矢印で示すように１回転目
のスキャン開始位置から２．５ピッチ分離れた位置から３６０°分の収集データが収集さ
れ、以後同様に前記決定されたスキャン範囲の終了位置までに、スキャン開始位置を２．
５ピッチずつずらしながら収集データの収集が行われる。この場合、前のスキャン位置の
後半１．５ピッチ分が次のスキャン時にオーバースキャンされることとなる。

また、図６（ｂ）において、ヘリカルピッチが３．５ピッチの場合は、まず、１回転目
で、図中細線の矢印で示すように決定されたスキャン範囲の開始位置から３６０°分の収
集データが収集され、次に２回転目で、図中太線の矢印で示すように１回転目のスキャン
開始位置から３．５ピッチ分離れた位置から３６０°分の収集データが収集され、以後同
様に前記決定されたスキャン範囲の終了位置までに、スキャン開始位置を３．５ピッチず
つずらしながら収集データの収集が行われる。この場合、前のスキャン位置の後半０．５
ピッチ分が次のスキャン時にオーバースキャンされることとなる。

また、図７（ａ）において、ヘリカルピッチが４．０ピッチの場合は、まず、１回転目
で、図中細線の矢印で示すように決定されたスキャン範囲の開始位置から３６０°分の収
集データが収集され、次に２回転目で、図中太線の矢印で示すように１回転目のスキャン
終了位置から３６０°分の収集データが収集され、以後同様に前記決定されたスキャン範
囲の終了位置までに、前のスキャン位置と今回のスキャン位置とがオーバースキャンされ
ることなく収集データの収集が行われる。

また、図７（ｂ）において、ヘリカルピッチが４．５ピッチの場合は、まず、１回転目
で、図中細線の矢印で示すように決定されたスキャン範囲の開始位置から３６０°分の収
集データが収集され、次に２回転目で、図中太線の矢印で示すように１回転目のスキャン
終了位置から０．５ピッチ分離れた位置から３６０°分の収集データが収集され、以後同
様に前記決定されたスキャン範囲の終了位置までに、前のスキャン終了位置から０．５ピ
ッチずつずらしながら収集データの収集が行われる。

データ収集部９は、Ｘ線検出器４により取り込まれたＸ線像を収集し、これを収集デー
タとして補間処理部１０に供給する。

前述のようにＸ線検出器４は、例えば４列分の検出器列を有しており、操作者は、撮影
を行う前に前記４列分の検出器列の中から、再構成に用いる収集データに対応するＸ線像
の取り込みを行う検出器列を指定するようになっている。このため、システム制御部１４
は、補間処理部１０に供給された各検出器列に対応する収集データのうち、操作者により
指定された検出器列の収集データのみ所定の補間処理を施して出力するように補間処理部
１０を制御する。

補間処理部１０は、例えばいわゆるフィルタ補間法（或いは３６０°補間法、対向ビー
ム補間法等）により所定の補間処理を前記収集データに施し、これを画像再構成部１１に
供給する。画像再構成部１１は、前記スキャン範囲から得られた複数回転分の収集データ
に基づいて、操作者により指定された再構成範囲の断層像を形成（再構成）し、これを表
示部１２に供給する。これにより、表示部１２に、ヘリカルスキャンにより撮影した被検
体の所望の部位の断層像を表示することができる。

マルチスライスＣＴ装置では、画像の撮影を行う際に、オーバーサンプリングの考慮、
スライス方向のフィルタ処理のフィルタ幅の考慮及び基本スライス厚の考慮等が必要とな
るのであるが、当該第１の実施の形態のマルチスライスＣＴ装置は、操作者により指定さ
れた再構成範囲と実際のスキャン範囲との相互関係が定式化されており、これをスキャン
モード毎に検出するようになっている。このため、必要十分な被曝量及び撮影時間により
画像の撮影を行うことができる。

ここで、システム制御部１４は、断層像と共に、その断層像を撮影した際の再構成パラ
メータ及びスキャンパラメータを表示部１２に表示制御するようになっている。

具体的には、図８に示すように被検者の名前（Ｎａｍｅ）、撮影ポジション（Ｐｏｓｉ
ｔｉｏｎ）、撮影の日付、管電圧及び１秒間の管電流（ＫＶ／ｍＡｓ）、ヘリカルピッチ
（Ｐ）、実効管電流及び管電流（ｍＡｓｅ／ｍＡ）、実効スライス厚及び基本スライス厚
（Ｔｅ／Ｔ）、フィルタ形状及びフィルタ幅（ＦＳ／ＦＷ）、スキャン時間（例えば１．
０ｓ）、スキャン回数、再構成関数及びＦＯＶサイズ等が表示される。

このように表示される各パラメータのうち、ヘリカルピッチ（Ｐ）、実効管電流及び管
電流（ｍＡｓｅ／ｍＡ）、実効スライス厚及び基本スライス厚（Ｔｅ／Ｔ）、フィルタ形
状及びフィルタ幅（ＦＳ／ＦＷ）がマルチスライスＣＴ装置特有のパラメータとなってい
る。

なお、前述のようにＸ線検出器４は、４列の検出器列を有する。このため、システム制
御部１４は、実効管電流（ｍＡｓｅ）を表示する際に、ヘリカルピッチを「Ｐ」、管電流
を「ｍＡ」、回転速度を「ｓ」として「ｍＡｓｅ＝４／Ｐ×ｍＡ×ｓ」の演算式を用いて
実効管電流を算出して表示するようになっている。

マルチスライスＣＴ装置は、スキャンモードによっては、ある断面をオーバーラップし
てスキャンする場合があり、実際の画像の実効管電流はオーバーラップの度合いに応じて
変化する。このため、同じ撮影画像を再スキャンにより得ることは困難なのであるが、こ
のように、撮影画像と共にその撮影画像のパラメータを表示することにより、再構成した
画像を観察しながら画像の収集条件を知ることができ、他の画像との対応付けを容易とす
ることができると共に、観察中の画像と同じ条件での再スキャンを行うことを可能とする
ことができる。

次に、最初に指定した再構成範囲外の撮影画像を得たい場合がある。この場合、操作者
は、操作部１３を操作してその旨の指示を行う。この操作者の指示により指定された範囲
が、最初に指定した再構成範囲外で、かつ、この最初に指定した再構成範囲にフィルタ幅
の半分の幅を加えた範囲内であった場合、システム制御部１４は、初期に指示された範囲
外である旨のメッセージを表示部１２に表示制御すると共に、フィルタ幅を薄くして再構
成を行うか否かのメッセージを表示部１２に表示制御する。

操作者は、フィルタ幅を薄くして再構成を行ってよい場合は、操作部１３を操作して実
行を指示する。システム制御部１４は、操作者より実行の指示がなされると、フィルタ幅
を薄くして前記再構成範囲外の画像の撮影を実行制御する。そして、これにより得られた
補間データに基づいて画像を再構成し表示部１２に表示制御すると共に、この画像はフィ
ルタ幅が薄い旨を示すメッセージを表示部１２に表示制御する（図６（ａ）、（ｂ）、図
７（ａ）、（ｂ）参照）。

また、この操作者の指示により指定された範囲が、最初に指定した再構成範囲にフィル
タ幅の半分の幅を加えた範囲外で、かつ、この範囲の前後に架台２の１回転分の範囲を加
えた範囲内であった場合、システム制御部１４は、初期に指示された範囲の大幅に外側で
ある旨のメッセージを表示部１２に表示制御すると共に、粗いピッチの収集データで再構
成を行うか否かのメッセージを表示部１２に表示制御する。

操作者は、粗いピッチの収集データで再構成を行ってよい場合は、操作部１３を操作し
て実行を指示する。システム制御部１４は、操作者より実行の指示がなされると、この近
傍のデータを内挿或いは外挿で補間して補間データを得、これに基づいて画像を再構成し
表示部１２に表示制御すると共に、この画像は粗いピッチのデータで再構成した旨のメッ
セージを表示部１２に表示制御する（図６（ａ）、（ｂ）、図７（ａ）、（ｂ）参照）。

これにより、予め設定した再構成範囲の外側や厚いフィルタ幅の場合でも最良の撮影画
像を再構成することができる。

次に、本発明の第２の実施の形態のＸ線ＣＴ装置の説明をする。

図１２（ｂ）を用いて説明したように、ヘリカルスキャンを行うと、スキャン開始時点
と終了時点とで再構成に使うことができないデータを収集する余計な被曝があり、マルチ
スライスＣＴ装置やコーンビームＣＴ装置の場合、これがシングルスライスＣＴ装置に比
べ大きくなる。当該第２の実施の形態のＸ線ＣＴ装置は、この余計な被曝の低減を図った
ものである。

なお、当該第２の実施の形態のＸ線ＣＴ装置は、この点のみが第１の実施の形態のマル
チスライスＣＴ装置と異なるため、以下、この差異のみ説明し重複説明を省略することと
する。

すなわち、この第２の実施の形態のＸ線ＣＴ装置は、図９に示すようにＸ線管３から曝
射されたＸ線を所定分遮蔽するプリコリメータ２０を有している。このプリコリメータ２
０は、架台２の回転軸方向に開幅する第１、第２のプリコリメータ片２０ａ、２０ｂを有
しており、各プリコリメータ片２０ａ、２０ｂは、それぞれ独立に開幅制御されるように
なっている。

このようなＸ線ＣＴ装置は、非スキャン時にはシステム制御部１４により前記各プリコ
リメータ片２０ａ、２０ｂが、図９（ａ）に示すようになっている。

スキャンが開始時されると、システム制御部１４は、図９（ａ）に示すように架台２の
１回転目の回転角が０°のときには、Ｘ線検出器４の第１の検出器列４ａでのみＸ線像が
取り込まれるように、第２のプリコリメータ片２０ｂを開幅制御する。また、システム制
御部１４は、架台２の１回転目の回転角が９０°のときは、図９（ｂ）に示すようにＸ線
検出器４の第１、第２の検出器列４ａ、４ｂでＸ線像が取り込まれるように、第２のプリ
コリメータ片２０ｂを開幅制御する。また、システム制御部１４は、架台２の１回転目の
回転角が１８０°のときは、図９（ｃ）に示すようにＸ線検出器４の第１〜第３の検出器
列４ａ〜４ｃでＸ線像が取り込まれるように、第１、第２のプリコリメータ片２０ａ、２
０ｂを開幅制御する。そして、システム制御部１４は、架台２の１回転目の回転角２７０
°以降は、図９（ｄ）に示すようにＸ線検出器４の第１〜第４の検出器列４ａ〜４ｄでＸ
線像が取り込まれるように、第１、第２のプリコリメータ片２０ａ、２０ｂを開幅制御す
る。以後、Ｘ線検出器４の第１〜第３の検出器列４ａ〜４ｃでＸ線像が取り込まれるよう
に、第１、第２のプリコリメータ片２０ａ、２０ｂが開幅制御された状態で、画像再構成
を行う部位のスキャンが行われる。

一方、システム制御部１４は、スキャンが終了時における最後の回転時となると、図１
０（ａ）に示すようにそれまで全開に開幅制御していた各プリコリメータ片２０ａ、２０
ｂを、架台２の最終回転目の回転角が１８０°のときには、Ｘ線検出器４の第１の検出器
列４ａに曝射されるＸ線が遮蔽されるように、第２のプリコリメータ片２０ｂを閉幅制御
する。また、システム制御部１４は、架台２の最終回転目の回転角が２７０°のときは、
図１０（ｂ）に示すようにＸ線検出器４の第１、第２の検出器列４ａ、４ｂに曝射される
Ｘ線が遮蔽されるように、第２のプリコリメータ片２０ｂを閉幅制御する。また、システ
ム制御部１４は、架台２の最終回転目の回転角が３６０°（０°）のときは、図１０（ｃ
）に示すようにＸ線検出器４の第１〜第３の検出器列４ａ〜４ｃに曝射されるＸ線が遮蔽
されるように、第２のプリコリメータ片２０ｂを閉幅制御する。

このように、当該第２の実施の形態のＸ線ＣＴ装置は、システム制御部１４が、スキャ
ン開始時においては、架台２の１回転目の回転角に応じて、被検体に対するＸ線の曝射範
囲を徐々に広げるように各プリコリメータ片２０ａ、２０ｂを開幅制御し、スキャン終了
時においては、架台２の最終回転目の回転角に応じて、被検体に対するＸ線の曝射範囲を
徐々に狭めるように各プリコリメータ片２０ａ、２０ｂを閉幅制御する。これにより、図
１５（ｂ）に示すスキャン開始時の助走期間及びスキャン終了時における被検体の無駄な
被曝を低減することができる他、上述の第１の実施の形態のマルチスライスＣＴ装置と同
じ効果を得ることができる。

なお、図１５（ｂ）に示す無駄な被曝の領域は、スキャンパラメータ及び再構成パラメ
ータに基づいてシステム制御部１４が決定するようになっている。また、前述の粗いサン
プリングによる補間を行わない場合には、操作者により指定された再構成範囲外のデータ
を全てカットするようにしてもよい。

次に、以上は、マルチスライスＣＴ装置における余計なＸ線の遮蔽制御の説明であった
が、このような遮蔽制御は、体軸方向（Ｚ方向）に広がりを持ったＸ線の曝射を行うコー
ンビームＣＴ装置においても同様に行うことができる。

この場合、システム制御部１４は、図１１に示すように１回転目〜４回転目におけるス
キャンで被検体の画像再構成を行う部位の撮影を行うものとすると、最初の１回転目のス
キャン時に、画像再構成に寄与しない部位に対するＸ線の曝射を第１のプリコリメータ片
２０ａで遮蔽し、２回転目及び３回転目のスキャンでは各プリコリメータ片２０ａ、２０
ｂを全開に開幅制御し、最終の４回転目のスキャン時に、画像再構成に寄与しない部位に
対するＸ線の曝射を第２のプリコリメータ片２０ｂで遮蔽するように該各プリコリメータ
片２０ａ、２０ｂを開閉制御する。なお、図１１中、点ＰはＸ線管の焦点を示す。

図１２（ａ）〜（ｄ）は、１回転目〜４回転目における各プリコリメータ片２０ａ、２
０ｂの位置関係を示している。この図からわかるように、システム制御部１４は、１回転
目には第１のプリコリメータ片２０ａを閉幅制御して第２のプリコリメータ片２０ｂを開
幅制御する。また、２回転目及び３回転目には各プリコリメータ片２０ａ、２０ｂをそれ
ぞれ開幅制御し、４回転目には第２のプリコリメータ片２０ｂを閉幅制御する。これによ
り、コーンビームＣＴ装置においても、上述と同様にスキャン開始時の助走期間及びスキ
ャン終了時における被検体の無駄な被曝を低減することができる。

次に、本発明の第３の実施の形態のマルチスライスＣＴ装置の説明をする。

上述の第１の実施の形態のマルチスライスＣＴ装置は、その収集データを収集した検出
器列で定義することとしたが、この第３の実施の形態のマルチスライスＣＴ装置は、その
収集データを収集したときのビュー角度、焦点角度、レイ角度、検出器チャンネル番号、
検出器列のＺ座標で定義するようにしたものである。

すなわち、検出器列を列番号ではなくＺ座標で定義するようにしたものであり、Ｚ座標
に基づいた論理によって補間するデータを選択し、その重みを決定するようになっている
。

なお、当該第３の実施の形態のマルチスライスＣＴ装置は、この点のみが第１の実施の
形態のマルチスライスＣＴ装置と異なるため、以下、この差異のみ説明し重複説明を省略
することとする。

具体的には、当該第３の実施の形態のマルチスライスＣＴ装置のシステム制御部１４は
、検出器列番号を「ｋ」、正規化したヘリカルピッチを「Ｐ」、基本スライス幅を「Ｔ」
、ビュー角度を「φ」として以下の演算式に基づいてＺ座標（ｋ、φ）を検出する。

Ｚ（ｋ、φ）＝Ｐ×Ｔ×φ÷３６０＋Ｚ（ｋ、０）
さらに具体的には、このＺ座標の演算プログラムは、一例として以下のようになってお
り、ビュー角度毎及びレイ角度毎に実行するようになっている。

Ｚ０：再構成面のＺ座標
Ｚ（ｋ、φ）：データＤｉのＺ座標
ｄｏｉ＝１、ｎ
ｉｆ（Ｚ（ｋ、φ）≧Ｚ０）
ｉｆ（Ｚ（ｋ、φ）≦Ｔｈｅ−ｏｔｈｅｒ−ｄａｔａ）Ｕｐｐｅｒ＝Ｄｉ
ｅｌｓｅｉｆ（Ｚ（ｋ、φ）＜Ｚ０）
ｉｆ（Ｚ（ｋ、φ）＞Ｔｈｅ−ｏｔｈｅｒ−ｄａｔａ）Ｌｏｗｅｒ＝Ｄｉ
ｅｎｄｉｆ
ｅｎｄｄｏ
或いは、当該第３の実施の形態のマルチスライスＣＴ装置のシステム制御部１４は、ビ
ュー角φのときの第Ｎ番目のデータのＺ座標を「Ｚ（Ｎ、φ）」、ビュー角φのときの第
ｍ番目の焦点のＺ座標を「Ｚｓ（ｍ、φ）」、第ｍ回転を「ｍ」、検出器列番号を「ｋ」
、正規化したヘリカルピッチを「Ｐ」、基本スライス幅を「Ｔ」、ビュー角度を「φ」と
して以下の演算式に基づいてＺ座標（Ｎ、φ）を検出する。

Ｚ（Ｎ、φ）＝Ｚ（ｋ−１）×ｍ＋ｊ、φ）
＝Ｐ×Ｔ×φ÷３６０＋Ｚｓ（ｍ、φ）＋「ｊ−（ｋ＋１）／２」×Ｔ
（最大値は、検出器列数×スキャン回転数）このＺ座標の演算プログラムは、一例とし
て以下のようになっており、ビュー角度毎及びレイ角度毎に実行するようになっている。

Ｚ０：再構成面のＺ座標
Ｚ（Ｎ、φ）：第Ｎ番目のデータＤｉのＺ座標
ｄｏｉ＝１、ｎ
ｉｆ（Ｚ（Ｎ、φ）≧Ｚ０）
ｉｆ（Ｚ（Ｎ、φ）≦Ｔｈｅ−ｏｔｈｅｒ−ｄａｔａ）Ｕｐｐｅｒ＝Ｄｉ
ｅｌｓｅｉｆ（Ｚ（Ｎ、φ）＜Ｚ０）
ｉｆ（Ｚ（Ｎ、φ）＞Ｔｈｅ−ｏｔｈｅｒ−ｄａｔａ）Ｌｏｗｅｒ＝Ｄｉ
ｅｎｄｉｆ
ｅｎｄｄｏ
このようにシステム制御部１４は、データをデータ収集時のビュー角度（焦点角度）、
レイ角度（検出器チャンネル番号）及びＺ座標で定義する。そして、ファンビーム再構成
のための補間では、この３条件に加えてデータの選択と補間の重み決定を行う。

また、コーンビーム再構成（３次元再構成）を行う場合には、データの定義にＺ座標を
加え、「データを収集したときのビュー角度或いは焦点角度、レイ角度或いは検出器チャ
ンネル番号、（検出器列のＺ座標と焦点のＺ座標）或いは（焦点のＺ座標と検出器列の相
対的Ｚ座標）」で定義し、前述と同様に補間に用いるデータを選択し、重みを決定する。

当該マルチスライスＣＴ装置では、被検体の頭側から足側にかけて寝台１を移動制御し
て撮影を行うモード（ヘッド・トゥ・フット）と、被検体の足側から頭側にかけて寝台１
を移動制御して撮影を行うモード（フット・トゥ・ヘッド）との２つの撮影モードを有す
るのであるが、このようにデータを、データ収集時のビュー角度（焦点角度）、レイ角度
（検出器チャンネル番号）及びＺ座標で定義することにより、前記各撮影モード毎の２種
類のソフトウェア及びハードウェアを必要とすることなく、各撮影モード共１種類のソフ
トウェア及びハードウェアで対応することができ、寝台１の送り方向に拘わらず適切なデ
ータ選択等を行うことができる他、上述の各実施の形態のマルチスライスＣＴ装置と同じ
効果を得ることができる。

次に、本発明の第４の実施の形態のマルチスライスＣＴ装置の説明をする。

上述の第１の実施の形態のマルチスライスＣＴ装置は、その収集データを収集した検出
器列で定義することとしたが、この第４の実施の形態のマルチスライスＣＴ装置は、スキ
ャン開始側から何列目の検出器で収集データであるかでその収集データを定義するように
したものである。すなわち、検出器列を絶対番号ではなく相対番号で番号付けしたもので
ある。

なお、当該第４の実施の形態のマルチスライスＣＴ装置は、この点のみが第１の実施の
形態のマルチスライスＣＴ装置と異なるため、以下、この差異のみ説明し重複説明を省略
することとする。

ヘリカルスキャン時に前述のヘッド・トゥ・フットにより寝台１を移動制御した場合、
図１３（ａ）に示すようにスキャン開始位置から当該移動方向に並設されたＸ線検出器４
の第１〜第４の検出器列４ａ〜４ｄにより順にデータの収集が行われるのであるが、フッ
ト・トゥ・ヘッドにより寝台１を移動制御した場合は、この逆に、同図（ｂ）に示すよう
にスキャン開始位置から当該移動方向と反対の方向に並設されたＸ線検出器４の第４〜第
１の検出器列４ｄ〜４ａにより順にデータの収集が行われるようになる。このため、その
データを、収集した検出器列の絶対番号で定義すると、その処理のために２種類のソフト
ウェア及びハードウェアが必要となる。

このため、当該マルチスライスＣＴ装置は、ヘッド・トゥ・フット或いはフット・トゥ
・ヘッドのいずれの場合でも、システム制御部１４が、スキャン開始位置の検出器列を第
１の検出器列として相対番号で位置付けして処理を行う。

すなわち、図１３（ｃ）は、当該マルチスライスＣＴ装置のフット・トゥ・ヘッドの場
合を示しているのであるが、この場合、同図（ｂ）と比較してわかるように、システム制
御部１４は、スキャン開始位置の第４の検出器列を第１の検出器列としてそのデータの処
理を行う。

具体的には、システム制御部１４は、図１に示す補間処理部１０での補間の際に、その
データに対してアクセスするためのデータアドレスとして、スライス位置に対応した相対
番号を割り付ける。すなわち、再構成データは、図示しないハードディスク等の記憶手段
に記憶されるのであるが、この記憶の際は、各検出器列４ａ〜４ｄ順に記憶し、この読み
出しの際に各データの相対番号でデータ処理を行う。

或いは、そのデータの収集位置とデータアドレスとを対応付ける変換テーブルを設け、
補間プログラムは、収集位置に基づいて所望のデータを要求し、前記変換テーブルが該所
望のデータのデータアドレスを発生し、これを記憶手段から読み込むようにしてもよい。

また、ヘッド・トゥ・フット又はフット・トゥ・ヘッドの寝台送り方向に応じた２種類
の補間プログラムを設け、ヘリカルスキャン時の送り方向に対応した方の補間プログラム
を選択して補間処理するようにしてもよい。

これにより、画像再構成部１１のアドレス発生操作のみで、ヘッド・トゥ・フットによ
るデータ収集或いはフット・トゥ・ヘッドによるデータ収集のいずれにも１種類のソフト
ウェア及びハードウェアで対応することができると共に、データの高速処理を可能とする
ことができる。

次に、本発明の第５の実施の形態のマルチスライスＣＴ装置の説明をする。

上述の第４の実施の形態のマルチスライスＣＴ装置では、各検出器列の絶対番号のかた
ちで記憶手段に一旦記憶した再構成データを、読み出しの際に各検出器列の相対番号でデ
ータ処理を行うものであったが、この第５の実施の形態のマルチスライスＣＴ装置は、再
構成データを記憶手段に記憶する段階で各検出器列の相対番号のかたちで記憶するように
したものである。

すなわち、この第５の実施の形態のマルチスライスＣＴ装置は、システム制御部１４が
、データの記憶時にスキャン開始側からスキャン終了側の検出器列で収集したデータの順
番（アドレス）で該各データを記憶するように記憶手段を記憶制御する。

そして、この記憶手段に記憶されたデータを、スキャン開始側からスキャン終了側の検
出器列で収集したデータの順番で出力する。

これにより、記憶手段へのデータ記憶時のアドレス発生操作のみで、ヘッド・トゥ・フ
ットによるデータ収集或いはフット・トゥ・ヘッドによるデータ収集のいずれにも１種類
のソフトウェア及びハードウェアで対応することができると共に、データの高速処理を可
能とすることができる。

最後に、上述の各実施の形態は本発明のほんの一例である。このため、本発明は、上述
の各実施の形態に限定されることはなく、例えばヘリカルスキャンを行う際に固定された
架台２に対して寝台１が移動することとしたが、これは、固定された寝台１に対して架台
２が移動するようにしてもよく、この他、本発明に係る技術的思想を逸脱しない範囲であ
れば、設計等に応じて種々の変更が可能であることは勿論である。

１…寝台、２…架台、３…Ｘ線管、４…マルチスライス用のＸ線検出器
５…Ｘ線制御部、６…高電圧発生部、７…架台・寝台制御部、８…寝台移動部
９…データ収集部、１０…補間処置部、１１…画像再構成部、１２…表示部
１３…操作部、１４…システム制御部

Claims

寝台に載置された被検体に対してＸ線を曝射するＸ線発生手段と、このＸ線の曝射によ
り形成されたＸ線像を複数の検出器列で検出するＸ線検出手段とを架台に対向配置し、前
記寝台或いは架台を回転軸方向に相対的に移動制御すると共に架台を回転させながらＸ線
の曝射を行うことにより被検体の所望の部位の撮影を行うＸ線ＣＴ装置において、
データを収集した際のビュー角度、レイ角度、検出器列のＺ座標に基づいて、補間するデ
ータを求める制御手段を有することを特徴とするＸ線ＣＴ装置。
寝台に載置された被検体に対してＸ線を曝射するＸ線発生手段と、このＸ線の曝射によ
り形成されたＸ線像を複数の検出器列で検出するＸ線検出手段とを架台に対向配置し、前
記寝台或いは架台を回転軸方向に相対的に移動制御すると共に、架台を回転させながらＸ
線の曝射を行うことにより被検体の所望の部位の撮影を行うＸ線ＣＴ装置において、
検出器列に少なくとも寝台の送り方向に応じた相対的な番号を付し、この相対番号に基づ
いて、各検出器列からの収集データに応じた再構成画像を形成する制御手段を有すること
を特徴とするＸ線ＣＴ装置。
再構成画像の収集データを記憶する記憶手段を有し、
前記制御手段は、前記記憶手段に記憶した収集データを読み出す際に、前記相対番号に基
づいて読み出し制御して再構成画像を形成することを特徴とする請求項２記載のＸ線ＣＴ
装置。
前記制御手段は、前記記憶手段に収集データを記憶する際に、前記相対番号に基づいて
記憶制御することを特徴とする請求項２記載のＸ線ＣＴ装置。