JP2009156860A

JP2009156860A - 検査装置

Info

Publication number: JP2009156860A
Application number: JP2008186863A
Authority: JP
Inventors: Katsuhiro Tanabe; 克洋田辺
Original assignee: Ricoh Co Ltd
Current assignee: Ricoh Co Ltd
Priority date: 2007-12-07
Filing date: 2008-07-18
Publication date: 2009-07-16

Abstract

【課題】検査時に被検査箇所に付着したフラックスを自動的に容易かつ確実に除去して、作業性よく被検査箇所を良好な状態にする。
【解決手段】プリント基板５を所定の位置にセットして固定部材６により保持固定する。その後、操作レバー２を回動操作する。操作レバー２が操作されたことは、位置センサにて検知されて検知信号が制御部材８へ出力される。制御部材８は駆動部材７を始動してピンベース体３を上昇させ、コンタクトピン４をプリント基板５に当接させて被検査箇所に付着したフラックスを除去する。制御部材８は、ピンベース体３をあらかじめ設定された回数上下動させるようにコントロールしてフラックスを確実に除去する。その後、制御部材８は、駆動部材７を動作させてピンベース体３を移動させることにより、コンタクトピン４を検査開始位置にセットさせ、プリント基板５に対する電気的検査を行う。
【選択図】図３

Description

本発明は、被検査箇所に付着したフラックスを除去して電気的接続部材を接触させ、検査対象体に対する良好な検査を可能にした検査装置に関するものである。

従来、電子部品が実装されたプリント基板の電気的検査において、先端形状をなす接触式のコンタクトピンを備えた検査装置を用いることが多い。コンタクトピンとしては、例えば導電材料で形成され、かつ先端形状が鋭利なニードルをスリーブに収納し、スプリングで付勢して検査対象体に移動させる構成にしたものがある。

コンタクトピンは、検査装置において、プリント基板の被検査箇所、例えば電極部あるいは電子部品のリード半田付け部などに対応して複数配列されており、検査では、各コンタクトピンのニードル先端を、プリント基板に押し当てることにより、リフローなどの実装過程で基板表面に形成されるフラックス膜を突き破るようにして除去し、ニードル先端を被検査箇所に接触させて電気的導通を得る。そして、コンタクトピンを介して得られる電気信号を検査装置内の電気回路で処理することにより、半田付け部での欠陥部分、あるいは電子部品の損傷や未マウントなどを検出するようにしている。

特許文献１には、前記フラックス膜の除去を確実に行うためコンタクトピンの構造を工夫した発明が提案されている。
特開２００２−９０３８６号公報

従来の前記コンタクトピンを用いた検査では、コンタクトピンにてフラックスを除去しないと導通不良にて検査エラーとなり、また、検査を繰り返すうちにフラックスがニードル先端部に付着・堆積したり、フラックスの膜厚のばらつき等によって、フラックス膜を完全に除去することができず、被検査箇所との導通不良を招いてしまうことがある。このため、検査作業においては、コンタクトピンを検査対象体に移動させてフラックスを除去してから検査を開始するようにしている。

特許文献１に記載のコンタクトピンは、前記フラックスの除去を確実に行うため、スリーブ内に収納されたニードルが軸方向に移動可能であり、このニードルにスプリングと支持コマと、傾倒姿勢を保つ傾斜コマと、スプリングおよび受けコマが配置され、ニードルの先端がプリント基板に押し当てられると、傾斜コマがニードルの動作に伴って移動し、スリーブ内壁面にガイドされ直立姿勢となり、この状態でスプリングによって受けコマの孔が、傾斜コマに突設されたピンに挿入され、密着したスプリングを介してコマ同士が衝突し、その衝撃力がニードルに付加される構成になっている。

このように特許文献１に記載のコンタクトピンでは、ピン内部に複数の部材からなる可動構造を設けているため製造コストが増し、構造が複雑な分、製品特性のばらつきや、動作不良が生じやすいなどの課題がある。

また、従来の検査工程では、例えば、図２２に示すフローチャートに示すように、作業者は、被検査対象であるプリント基板を所定の位置にセットし（Ｓ１０１）、コンタクトピンを待機位置からプリント基板に接触させるように移動させることにより（Ｓ１０２）、被検査箇所のフラックスを除去し（Ｓ１０３）、フラックスが検査のために良好に除去されていると判断した場合（Ｓ１０３のＯＫ）、コンタクトピンが接触した状態で所定の検査を開始する（Ｓ１０４）。

前記ステップＳ１０４にて検査が開始されると検査装置の電源が入り（Ｓ１０６）、プリント基板に対する電気的検査がスタートし（Ｓ１０７）、検査判断（Ｓ１０８）によって、良品（ＯＫ）と不良（ＮＧ）の判定が下されることになる（Ｓ１０９）。このステップＳ１０６〜Ｓ１０９の工程はコンピュータなどの制御判断により自動により行われる。

しかし、作業者がフラックスが充分除去されていないと判断した場合には（Ｓ１０３のＮＯ）、コンタクトピンを被検査箇所から離し（Ｓ１０５）、再度、コンタクトピンを待機位置からプリント基板に接触させるように移動させ（Ｓ１０２）、被検査箇所のフラックスを除去してから（Ｓ１０３）、ステップＳ１０４以降の検査を開始するようにしている。

前記ステップＳ１０１〜Ｓ１０５の工程は作業者の手動により行われ、フラックスの状態によっては、コンタクトピンを何回も上下動し、その除去を確実にする必要がある。このためフラックス除去作業の分、検査時間がかかるという課題もある。

本発明の目的は、前記従来技術の課題を解決し、検査時に被検査箇所に付着したフラックスを自動的に容易かつ確実に除去するようにし、作業性よく被検査箇所を良好な状態にするようにした検査装置を提供することにある。

請求項１に記載の発明は、検査対象体を所定の検査部位に固定する固定部材と、検査対象体の被検査箇所に対して移動して該被検査箇所に付着したフラックスを除去する電気的接続部材と、複数の前記電気的接続部材を搭載するベース部材と、該ベース部材を前記検査対象体に対して移動させる駆動部材と、該駆動部材の動作制御を行う制御部材と、該制御部材に対して動作開始信号を送る検査始動部材とを備え、該検査準備部材の一動作にて前記電気的接続部材を前記被検査箇所に対して複数回接触させる制御駆動を行う構成にしたことを特徴とし、この構成によって、検査始動部材を動作させると、その一動作にて電気的接続部材が被検査箇所に対して自動的に複数回のフラックス除去を行うことになり、検査の前段階の無駄な時間を排除することができ、確実で効率的な検査が可能になる。

請求項２に記載の発明は、請求項１記載の検査装置において、複数回接触の動作後に、前記電気的接続部材による検査を開始させることを特徴とし、この構成によって、フラックス除去が良好に行われた後に検査を実施することにより、確実で効率的な検査が可能になる。

請求項３に記載の発明は、請求項１記載の検査装置において、複数回接触の動作後かつ検査対象体の導電確認後に、前記電気的接続部材による検査を開始させることを特徴とし、この構成によって、フラックス除去が行われ、かつ検査対象体の導電状態確認後に検査を実施することにより、さらに確実で効率的な検査が可能になる。

請求項４に記載の発明は、請求項１記載の検査装置において、ベース部材に、検査対象体の導電確認用のチェック部材を設けたことを特徴とし、この構成によって、フラックスの除去と電気的導通チェックとが自動的に確実に行われる。

請求項５に記載の発明は、請求項１〜３いずれか１項記載の検査装置において、電気的接続部材を、検査対象体の導電確認のための部材として使用することを特徴とし、この構成によって、フラックスの除去と電気的導通チェックとが同一部材により行われ、部品点数を少なくすることができる。

請求項６に記載の発明は、請求項１〜３いずれか１項記載の検査装置において、電気的接続部材を複数回接触させた後、導電が確認できなかった場合に導電不良とすることを特徴とし、この構成によって、不良判断に要する時間を短縮することができる。

請求項７に記載の発明は、請求項１記載の検査装置において、電気的接続部材の接触回数を計数して、あらかじめ設定された回数に達したときに、電気的接続部材の交換を要する旨の報知信号を出力することを特徴とし、この構成によって、部材交換判断に要する時間を短縮することができる。

請求項８〜１１に記載の発明は、請求項１記載の検査装置において、駆動部材として、ベース部材を上下動させるためのクランク機構，歯車機構，エアシリンダ機構，油圧シリンダ機構を設けたことを特徴とするものである。

本発明に係る検査装置によれば、検査を始動すると、被検査箇所に付着したフラックスを除去する電気的接続部材が、制御部材の制御されて被検査箇所に対して自動的に複数回のフラックス除去が行われ、その後、検査が行われるため、従来のように検査対象体の電気的検査の前段階の無駄な時間を排除することができ、確実で効率的な検査が実現する。

以下、本発明の実施の形態を図面に基づいて説明する。

図１は本発明の検査装置に係る実施形態を説明するための斜視図であり、１は検査装置本体、２は検査装置本体１の側部に配設された検査始動部材としての操作レバー、３は、図２に示す構造の電気的接続部材としてのコンタクトピン４が複数設けられ、かつ移動可能なベース部材としてのピンベース体である。なお、コンタクトピン４は、導電材料で形成され、かつ先端形状が鋭利なニードル状のものである。

図３（ａ）〜（ｄ）は本実施形態の概略構成および各部の関係を説明するための説明図であり、検査装置本体１には、被検査対象体であるプリント基板５を所定の検査部位に保持固定するチャッキング部などからなる固定部材６が設けられ、固定部材６の下方にピンベース体３が設置されている。検査装置本体１内には、ピンベース体３をプリント基板５に対して移動させる駆動部材７が設けられている。さらに、検査装置本体１内には、操作レバー２の動作状態を監視するセンサなどの検知信号を受けて、駆動部材７を含む各部をコントロールする制御部材８が設けられている。

図４（ａ）〜（ｄ）は本実施形態のより具体的な概略構成および各部の関係を説明するための説明図である。

図４（ａ）において、操作レバー２の動作状態を監視する位置センサ９は、操作レバー２の動作領域内に設置された発光素子１０と受光素子１１とからなり、操作レバー２の初期回動を検知して、検知信号を制御部材８へ出力する。

図４（ｂ）において、制御部材８は、ＣＰＵ（中央演算処理ユニット）１２と、各種制御回路１３と、メモリ素子であるＲＯＭ１４，ＲＡＭ１５などから構成されている。

図４（ｃ）において、駆動部材７は、ピンベース体３を移動させる駆動源であるモータ１６と、制御部材８によりコントロールを受けるモータドライバ１７などから構成されている。

図４（ｄ）において、電気的接続部材は、コンタクトピン４が複数設置されたピンベース体３から構成され、制御部材８の指令信号を受ける駆動部材７により駆動される。

次に、図３，図４、および図５に示すフローチャートを参照して本実施形態における検査について説明する。

まず、作業者は、被検査対象物であるプリント基板５を、図３（ａ）に示すように、所定の位置にセットし（Ｓ１）、固定部材６により保持固定する（Ｓ２）。その後、操作レバー２を回動操作する（Ｓ３）。ここまでは作業者による手動による。

操作レバー２が操作されたことは、図４（ａ）に示すように、位置センサ９の発光素子１０と受光素子１１との光遮断／透過検知にて検知され、検知信号が制御部材８のＣＰＵ１２へ出力される（Ｓ４）。

図３（ｂ），図４（ｂ）に示すように、ＣＰＵ１２からは駆動部材７へ駆動信号を送り、モータドライバ１７をオンにしてモータ１６を始動し（Ｓ５）、図３（ｃ），図４（ｃ）に示すように、ピンベース体３を上昇させ、コンタクトピン４をプリント基板５に当接させ、被検査箇所に付着したフラックスを除去する（Ｓ６）。ＣＰＵ１２では、ピンベース体３を、あらかじめ設定された回数上下動させ（Ｓ７）、確実にフラックスが除去されるようにする。

その後、図３（ｄ），図４（ｄ）に示すように、ＣＰＵ１２は、駆動部材７を動作させてピンベース体３を移動させ、コンタクトピン４を検査開始位置にセットさせ（Ｓ８）、プリント基板５に対する検査開始させる（Ｓ９）。このとき、ＣＰＵ１２はＲＯＭ１４に格納されている検査プログラムを実行させ、検査部の電源をオンにし（Ｓ１０）、検査を始め（Ｓ１１）、検査判断（Ｓ１２）によって、良品（ＯＫ）と不良（ＮＧ）の判定が下され（Ｓ１３）、判定信号が適宜出力される。

図６（ａ）〜（ｄ）は図５に示すステップ（Ｓ７）におけるフラックス除去の説明図であって、図６（ａ），（ｂ）に示すように、プリント基板５におけるフラックス１８の付着膜に対してコンタクトピン４を上昇させ、その後、図６（ｃ）に示すように、プリント基板５からコンタクトピン４を下降させる。さらに、図６（ｄ）に示すように、コンタクトピン４を再び上昇させ、このコンタクトピン４の上下動を、フラックス１８の膜が確実に突き破られるまで複数回数繰り返す。

このため、プリント基板５のフラックスの除去が、自動的かつ確実に行われ、良好な電気的接続の状態で検査が行われることになる。

なお、駆動部材７のモータ１６としては、ステッピングモータ，ＤＣモータなどを用いることができ、ステッピングモータを用いる場合は、コンタクトピン４が被検査対象に当たり、押し込まれる際に負荷が増すと考えられる。また、モータドライバ１７としては、ＰＷＭ（パルス幅変調）ドライバを用いて定電流制御を行う方法もある。

また、制御部材８の制御回路１３にて、コンタクトピン４の上下動回数の制御、あるいは上下動回数に応じた導通（通電）、あるいはＮＧ発生率をカウントし、これらをＣＰＵ１２により演算処理して所定値に達したときに、発光表示あるいはブザーなどを作動させることにより、コンタクトピン４の交換周期を報知することもできる。

図７はコンタクトピンが交換時期に達していることを報知するための動作を含む本実施形態の動作に係るフローチャートであって、図５に示すフローチャートと基本的には同様な動作フローである。

異なる点は、図５に示すフローチャートのステップＳ６とステップＳ７との間に、コンタクトピン４の上下動回数（プリント基板との接触回数）があらかじめ設定されている回数（ｎ回）を超えたか否かをＣＰＵ１２において監視するステップ（Ｓ１４）を設け、前記設定回数を超えた場合に交換要の信号出力を行い、コンタクトピン４が交換時期に達していることを、例えば、交換表示用ランプて発光表示させ（Ｓ１５）、作業者に報知するようにした点である。

図８は本実施形態における検査工程の他例についてフローチャートを参照して説明する。図８に示す例では、図５に示すフローチャートと基本的には同様な動作フローであるが、図５に示すフローチャートとはステップＳ６，Ｓ７に続くフローが異なる。

その異なるフローのみを説明すると、ステップＳ６において、ピンベース体３を上昇させ、コンタクトピン４をプリント基板５に当接させ、その際に、ＣＰＵ１２において、適正な通電状態にあるか否かをチェックする（Ｓ１６）。ステップＳ７において、ＣＰＵ１２では、ピンベース体３を、あらかじめ設定された回数上下動させるが、この際、前記あらかじめ設定された回数上下動させても、通電状態にならない場合、これを不良（ＮＧ）と判定して（Ｓ１７）、検査に入らず終了する。

このようにすることにより、検査フローに入る前に接触不良を確認することで検査判定に要する時間を短縮することができる。前記導通／通電状態のチェック用部材としては、前記例では、コンタクトピン４を用いてプリント基板５の通電状態をＣＰＵ１２で判定するが、後述する導通確認用のチェックピン１９を用いる方法もある。

図９は本実施形態における制御部材をパーソナルコンピュータ（ＰＣ）とした構成例を示す説明図である。なお、以下の説明において、既に説明した部材に対応する部材には同一符号を付して詳しい説明は省略する。

図９に示すように、制御部材８を１チップのＣＰＵでなく、外付けのＰＣとすることによって、検査機自体が安価になり、データの確認やインターフェイス（Ｉ／Ｆ）の共通化によって、１つのＰＣによって複数の検査装置を使用することも可能になる。

図１０は本検査装置におけるピンベース体にチェックピンを設けた構成例を示す説明図であり、ピンベース体３にプリント基板５の導通などのチェックピン１９を設けたものである。

図１０において、前記と同様にしてフラックス膜の除去を行う。フラックスが除去されてチェックピン１９が導通状態になると、この状態を制御部材８の導通検知部（導通センサ）２０にて検知できるような構成にする。このようにすることにより、導通検知信号をＣＰＵ１２が受けたときに、ピンベース体３を検査開始位置にセットさせて検査可能状態にすることにより、確実なプリント基板５に対する電気的検査を行うことができる。

図１１に示すように、導通確認用の一対のチェックピン１９によるプリント基板５のパターン５ａに対する導通を確認する手段として、制御部材８にテスター２１を連結させるか、制御部材８の中にテスター機能を組み込み、チェックピン１９間の抵抗値が、あらかじめ設定された抵抗値以下になったとき、チェックピン１９とパターン５ａとが電気的に接合かつ導通されたと判断して検査を開始する構成にすることが考えられる。

その他の導通確認用の方法としては、
・パターン上の一方のチェックピンに電圧を加えて、他方のチェックピンで電圧レベルを測定し、電圧レベルで電気的接続を確認する方法、
・パターン上に接続される一方のチェックピンに定電流源を接続し、他方のチェックピン側に電流測定手段を接続して、電流レベルで電気的接続を確認するような方法、
などを採用することができる。

前記導通確認用のパターン５ａは、図１２，図１３に示すように、プリント基板５上のチェックピン１９が接触する領域に形成される。また、導通確認用のパターン５ａとしては、プリント基板５に形成される電源ピンにチェックピンを直接当接させるなどして、特別なパターンを形成しないようにすることも考えられる。

図１４は前記導通センサの一例の構成を示すブロック図であり、一方のチェックピン１９に接続されたプリアンプ３０と、他方のチェックピン１９に接続された定電流発生装置３１と、プリアンプ３０に接続されたＡ／Ｄコンバータ３２と、定電流発生装置３１とＡ／Ｄコンバータ３２に接続された基準電圧印加部３３からなる。

図１４に示す導通センサ２０では、チェックピン１９間に所定の電流を流して、この部位に発生する電圧から抵抗値を求め、この抵抗値をＡ／Ｄコンバータ３２でアナログ／デジタル変換して、ＣＰＵ１２へ出力して、通電状態を判定するようにしている。

図１５（ａ）〜（ｃ）は本実施形態における駆動部材の実施例１の構造および作動を説明するための斜視図であり、図１５（ａ）は待機状態、図１５（ｂ）は上昇時の状態、図１５（ｃ）は検査時の状態をそれぞれ示している。

実施例１では、ピンベース体３に、モータにて回転駆動される回転軸２２に一端部が連結するクランクシャフト機構２３の他端部を設けている。

そして、作業者にて操作レバー２が操作されると、信号が制御部材８のＣＰＵ１２へ出力されて、ＣＰＵ１２から駆動部材７のモータ１６へ駆動信号が送られ、これに基づきモータ１６を始動して回転軸２２を回転させる。回転軸２２の回転動作はクランクシャフト機構２３により上下動作に変換され、ピンベース体３を上下駆動させる。

このようにピンベース体３をＣＰＵ１２によって電気的コントロールするようにしたことにより、ピンベース体３の上下動回数および動作速度の変更が容易に行えるようになり、各種の要望，仕様に容易に対応できる。

図１６（ａ）〜（ｃ）は本実施形態における駆動部材の実施例２の構造および作動を説明するための斜視図であり、図１６（ａ）は待機状態、図１６（ｂ）は上昇時の状態、図１６（ｃ）は検査時の状態をそれぞれ示している。

実施例２では、ピンベース体３と制御部材８との間に、駆動部材７のエアコントローラ（図示せず）にて駆動されるエアシリンダ機構２４を設置している。

そして、作業者にて操作レバー２が操作されると、信号が制御部材８のＣＰＵ１２へ出力されて、ＣＰＵ１２から駆動部材７のエアコントローラへ駆動信号が送られ、これに基づきエアシリンダ機構２４を始動し、エアシリンダ機構２４の可動部２４ａを上下動してピンベース体３を上下駆動させる。

このようにピンベース体３を前記と同様にＣＰＵ１２によって電気的コントロールするようにし、エアシリンダ機構２４を用いたことにより、ピンベース体３の上下動回数，ストローク，ピン荷重、および動作速度の変更が容易に行えるようになり、各種の要望，仕様に容易に対応できる。

図１７（ａ）〜（ｃ）は本実施形態における駆動部材の実施例３の構造および作動を説明するための斜視図であり、図１７（ａ）は待機状態、図１７（ｂ）は上昇時の状態、図１７（ｃ）は検査時の状態をそれぞれ示している。

実施例３では、ピンベース体３に、駆動部材７における図示しない歯車あるいはベルトなどによりモータの回転駆動力が伝達される駆動部材７のピニオン２５ａとラック２５ｂからなる歯車機構２５を設置している。

そして、作業者にて操作レバー２が操作されると、信号が制御部材８のＣＰＵ１２へ出力されて、ＣＰＵ１２から駆動部材７へ駆動信号が送られ、これに基づきモータ１６が始動しピニオン２５ａが回転駆動されて、ラック２５ｂが上下動することによりピンベース体３を上下駆動させる。

このようにピンベース体３を前記と同様にＣＰＵ１２によって電気的コントロールするようにし、歯車機構２５を用いたことにより、ピンベース体３の上下動回数，ストローク，ピン荷重、および動作速度の変更が容易に行えるようになり、各種の要望，仕様に容易に対応できる。

図１８（ａ）〜（ｃ）は本実施形態における駆動部材の実施例４の構造および作動を説明するための斜視図であり、図１８（ａ）は待機状態、図１８（ｂ）は上昇時の状態、図１８（ｃ）は検査時の状態をそれぞれ示している。

実施例４では、ピンベース体３と制御部材８との間に、駆動部材７の油圧コントローラ（図示せず）にて駆動される油圧シリンダ機構２６を設置している。

そして、作業者にて操作レバー２が操作されると、信号が制御部材８のＣＰＵ１２へ出力されて、ＣＰＵ１２から駆動部材７の油圧コントローラへ駆動信号が送られ、これに基づき油圧シリンダ機構２６が始動し、油圧シリンダ機構２６の可動部２６ａが上下動してピンベース体３を上下駆動させる。

このようにピンベース体３を前記と同様にＣＰＵ１２によって電気的コントロールするようにし、油圧シリンダ機構２６を用いたことにより、ピンベース体３の上下動回数，ストローク，ピン荷重、および動作速度の変更が容易に行えるようになり、各種の要望，仕様に容易に対応できる。

図１９（ａ）〜（ｃ）は本実施形態における駆動部材の実施例５の構造および作動を説明するための斜視図であり、図１９（ａ）は待機状態、図１９（ｂ）は上昇時（検査時）の状態、図１９（ｃ）は下動時の状態をそれぞれ示している。

実施例５では、操作レバー２の端部から延出する回転軸２ａに大径歯車３５を固定し、この大径歯車３５に噛合する小径歯車３６の中心から延出する回転軸３７に、複数個（図では２個示している）の多角形状（図では三角形状のものを示している）のカム部材３８を設けている。各カム部材３８のカム面３８ａをピンベース体３の下面に接触させ、カム面３８ａの接触面が凸面か平面かにより、ピンベース体３を上下動させている。

そして、作業者にて操作レバー２が回動操作されると、操作レバー２が一ストローク中で所定角度回動する間に、大径歯車３５の回転を受けて小径歯車３６が１回転以上（歯数比によって設定できる）し、この小径歯車３６の回転と共にカム部材３８が回動することによりピンベース体３を上下駆動させることができる。

大径歯車３５の回転角度と、ピンベース体３のコンタクトピン４の電気的検知は、既述した各種検知部材にて検知され、検知信号が制御部材８のＣＰＵ１２へ出力され、前記フローチャートの動作コントロールが行われる。

このように電気的コントロールする手段を設けることなく、比較的簡単な機構によって操作レバー２の一ストローク操作の間に、ピンベース体３を上下駆動することが可能になる。

図２０（ａ）〜（ｃ）は本実施形態における駆動部材の実施例６の構造および作動を説明するための斜視図であり、図２０（ａ）は待機状態、図２０（ｂ）は上昇時（検査時）の状態、図２０（ｃ）は下動時の状態をそれぞれ示している。

実施例６では、操作レバー２の端部から延出する回転軸２ａに大径歯車３５を固定し、この大径歯車３５に噛合する小径歯車３６の中心から延出する回転軸３７に、複数個（図では２個示している）の楕円形状のカム部材３９を設けている。各カム部材３９のカム面３９ａをピンベース体３の下面に接触させ、カム面３９ａの接触面が大径部分か小径部分かにより、ピンベース体３を上下動させている。

そして、作業者にて操作レバー２が回動操作されると、操作レバー２が一ストローク中で所定角度回動する間に、大径歯車３５の回転を受けて小径歯車３６が１回転以上（歯数比によって設定できる）し、この小径歯車３６の回転と共にカム部材３９が回動することによりピンベース体３を上下駆動させることができる。

大径歯車３５の回転角度と、ピンベース体３のコンタクトピン４の電気的検知は、前記と同様に各種検知部材にて検知され、検知信号が制御部材８のＣＰＵ１２へ出力され、前記フローチャートの動作コントロールが行われる。

このように電気的コントロールする手段を設けることなく、比較的簡単な機構によって操作レバー２の一ストローク操作の間に、ピンベース体３を上下駆動することが可能になり、また、カム部材３９が楕円形状であるため、ピンベース体３が徐々に上下動するとになるため、被検査対象に損傷を与える確率を少なくすることができる。

図２１（ａ）〜（ｃ）は本実施形態における駆動部材の実施例７の構造および作動を説明するための斜視図であり、図２１（ａ）は待機状態、図２１（ｂ）は上昇時（検査時）の状態、図２１（ｃ）は下動時の状態をそれぞれ示している。

実施例７では、操作レバー２の端部から延出する回転軸２ａに大径歯車３５を固定し、この大径歯車３５に噛合する小径歯車３６の中心から延出する回転軸３７に、複数個（図では２個示している）の一部が円形状（図では扇形状のものを示している）をなすカム部材４０を設けている。各カム部材４０のカム面４０ａをピンベース体３の下面に接触させ、カム面４０ａの接触面が円形部か非円形部かにより、ピンベース体３を上下動させている。

そして、作業者にて操作レバー２が回動操作されると、操作レバー２が一ストローク中で所定角度回動する間に、大径歯車３５の回転を受けて小径歯車３６が１回転以上（歯数比によって設定できる）し、この小径歯車３６の回転と共にカム部材４０が回動することによりピンベース体３を上下駆動させることができる。

このように電気的コントロールする手段を設けることなく、比較的簡単な機構によって操作レバー２の一ストローク操作の間に、ピンベース体３を上下駆動することが可能になり、また、カム部材３９が扇形状であるため、ピンベース体３が上位位置に比較的長い時間保持されるようになるため、プリント基板５のフラックスの除去が確実に行われ、かつ良好な電気的接続の状態で検査が行われることになる。

本発明は、検査箇所に付着したフラックスを除去するようにして検査部材を接触させ、被検査対象体の検査を行う検査装置に適用され、特に、プリント基板の電気的検査に検査用コンタクトピンを使用する検査装置に実施して有効である。

本発明の検査装置に係る実施形態を説明するための斜視図本実施形態にて使用されるコンタクトピンの要部を示す図（ａ）〜（ｄ）は本実施形態の概略構成および各部の関係を説明するための説明図（ａ）〜（ｄ）は本実施形態のより具体的な概略構成および各部の関係を説明するための説明図本実施形態における検査工程に関するフローチャート（ａ）〜（ｄ）は図４におけるフラックス除去の説明図本実施形態におけるコンタクトピンが交換時期に達していることを報知するための工程を含むフローチャート本実施形態における他の検査工程に関するフローチャート本実施形態における制御部材をパーソナルコンピュータ（ＰＣ）とした構成例を示す説明図本実施形態の検査装置におけるピンベース体にチェックピンを設けた構成例を示す説明図本実施形態における導通確認用のチェックピンによる導通確認手段の構成例を示す説明図本実施形態における導通確認用パターンの説明図本実施形態における導通確認用パターンの説明図本実施形態における導通センサの一例の構成を示すブロック図（ａ）〜（ｃ）は本実施形態における駆動部材の実施例１の構造および作動を説明するための斜視図（ａ）〜（ｃ）は本実施形態における駆動部材の実施例２の構造および作動を説明するための斜視図（ａ）〜（ｃ）は本実施形態における駆動部材の実施例３の構造および作動を説明するための斜視図（ａ）〜（ｃ）は本実施形態における駆動部材の実施例４の構造および作動を説明するための斜視図（ａ）〜（ｃ）は本実施形態における駆動部材の実施例５の構造および作動を説明するための斜視図（ａ）〜（ｃ）は本実施形態における駆動部材の実施例６の構造および作動を説明するための斜視図（ａ）〜（ｃ）は本実施形態における駆動部材の実施例７の構造および作動を説明するための斜視図従来の検査工程に関するフローチャート

符号の説明

１検査装置本体
２操作レバー
３ピンベース体
４コンタクトピン
５プリント基板
６固定部材
７駆動部材
８制御部材
９位置センサ
１０発光素子
１１受光素子
１２ＣＰＵ
１３制御回路
１６モータ
１８フラックス
１９チェックピン
２０導通センサ
２１テスター
２３クランクシャフト機構
２４エアシリンダ機構
２５歯車機構
２６油圧シリンダ機構
３５大径歯車
３６小径歯車
３８，３９，４０カム部材

Claims

検査対象体を所定の検査部位に固定する固定部材と、検査対象体の被検査箇所に対して移動して該被検査箇所に付着したフラックスを除去する電気的接続部材と、複数の前記電気的接続部材を搭載するベース部材と、該ベース部材を前記検査対象体に対して移動させる駆動部材と、該駆動部材の動作制御を行う制御部材と、該制御部材に対して動作開始信号を送る検査始動部材とを備え、該検査準備部材の一動作にて前記電気的接続部材を前記被検査箇所に対して複数回接触させる制御駆動を行う構成にしたことを特徴とする検査装置。
前記複数回接触の動作後に、前記電気的接続部材による検査を開始させることを特徴とする請求項１記載の検査装置。
前記複数回接触の動作後かつ検査対象体の導電確認後に、前記電気的接続部材による検査を開始させることを特徴とする請求項１記載の検査装置。
前記ベース部材に、前記検査対象体の導電確認用のチェック部材を設けたことを特徴とする請求項１記載の検査装置。
前記電気的接続部材を、前記検査対象体の導電確認のための部材として使用することを特徴とする請求項１〜３いずれか１項記載の検査装置。
前記電気的接続部材を前記複数回接触させた後、導電が確認できなかった場合に導電不良とすることを特徴とする請求項１〜３いずれか１項記載の検査装置。
前記電気的接続部材の前記接触回数を計数して、あらかじめ設定された回数に達したときに、電気的接続部材の交換を要する旨の報知信号を出力することを特徴とする請求項１記載の検査装置。
前記駆動部材として、前記ベース部材を上下動させるためのクランク機構を設けたことを特徴とする請求項１記載の検査装置。
前記駆動部材として、前記ベース部材を上下動させるための歯車機構を設けたことを特徴とする請求項１記載の検査装置。
前記駆動部材として、前記ベース部材を上下動させるためのエアシリンダ機構を設けたことを特徴とする請求項１記載の検査装置。
前記駆動部材として、前記ベース部材を上下動させるための油圧シリンダ機構を設けたことを特徴とする請求項１記載の検査装置。