JP2009151364A - Board design device - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、プリント基板の設計を行う基板設計装置に係り、特にプリント基板の表面又は裏面に形成されて電磁的ノイズを遮蔽するシールド面の設計を行う基板設計装置に関する。 The present invention relates to a board design apparatus for designing a printed circuit board, and more particularly to a board design apparatus for designing a shield surface that is formed on the front surface or the back surface of a printed circuit board and shields electromagnetic noise.
近年、プリント基板上における電子部品の配置やプリント基板の配線の配置等を含めたプリント基板の設計は、プリント基板設計CAD(Computer Aided Design)と言われる基板設計装置を用いて効率的に行われている。また、近年においては、プリント基板におけるEMC(Electro Magnetic Compatibility:電磁的両立性)の対策要求が高まっており、電磁的ノイズを低減するためにプリント基板上におけるシールド面の設計が可能な基板設計装置も提案されている。 In recent years, printed circuit board design including the placement of electronic components and printed circuit board wiring on a printed circuit board has been performed efficiently using a printed circuit board design CAD (Computer Aided Design) board design apparatus. ing. In recent years, EMC (Electro Magnetic Compatibility) countermeasure requirements for printed circuit boards are increasing, and a board design apparatus capable of designing a shield surface on a printed circuit board in order to reduce electromagnetic noise. Has also been proposed.
かかる基板設計装置においては、ユーザが基板設計装置に対して、ネット、物理層、及びクリアランス値を指定すれば、指定した通りのシールド面が作成される。ここで、上記のネットとは作成したいシールド面の電気的な接続関係を示す情報であり、上記の物理層とはシールド面を形成すべき層を示す情報であり、上記のクリアランス値とはシールド面が形成される層における他の配線等との間隔を示す情報である。 In such a board design apparatus, if a user designates a net, a physical layer, and a clearance value for the board design apparatus, a shield surface as designated is created. Here, the net is information indicating the electrical connection relationship of the shield surface to be created, the physical layer is information indicating the layer on which the shield surface is to be formed, and the clearance value is the shield This is information indicating a distance from another wiring or the like in the layer where the surface is formed.
また、基板設計装置においては、シールド面が電気的に浮いた状態(電気的に未接続な状態)では、シールド面に対してラッツ・ネストが表示される。ここでラッツ・ネストとは、周知の通り、結線すべき端子と端子との間を直線で結んだネットをいい、端子間の結線が完了すると消滅するものである。このため、ユーザ(例えば、基板設計者)はかかるラッツ・ネストの表示を参照しながら、シールド面と所定のパターンやベタ面との接続位置を基板設計装置に指示し、その接続位置にシールド面をベタ面等に接続するための引き落とし用バイアを手動で作成して同ネット内で同電位になるように設計している。尚、以上の内容は公知・公用の技術であるため、記載すべき先行技術文献情報は特にない。 Further, in the board designing apparatus, when the shield surface is electrically floating (electrically unconnected state), a rats nest is displayed on the shield surface. Here, as is well known, the rats nest is a net in which the terminals to be connected are connected with a straight line, and disappears when the connection between the terminals is completed. For this reason, a user (for example, a board designer) instructs the board design apparatus to connect the shield surface to a predetermined pattern or solid surface while referring to the display of the ratsnest, and the shield surface is placed at the connection position. A pull-out via for connecting to a solid surface etc. is created manually and designed to have the same potential in the net. In addition, since the above content is a publicly known technique, there is no prior art document information to be described.
ところで、プリント基板に形成されたシールド面によって、シールド面に近接して配置される配線等のインピーダンスの変化が引き起こされることがあり、インピーダンスの変化点において生ずる高周波電流の反射によって電磁的ノイズが増大してしまうという問題がある。図8は、シールド面によって引き起こされる配線のインピーダンス変化点を説明する図である。 By the way, the shield surface formed on the printed circuit board may cause a change in impedance of wirings arranged close to the shield surface, and electromagnetic noise increases due to the reflection of high-frequency current generated at the impedance change point. There is a problem of end up. FIG. 8 is a diagram for explaining the impedance change point of the wiring caused by the shield surface.
図8に示す通り、配線L101,L102が配置されているプリント基板表面にクリアランス値を小さくしてシールド面SL100を形成すると、配線L101,L102の間隔が狭くなっている部位G100にはシールド面SL100が形成されていないが、この部位C100以外では配線L101,L102に近接した状態でシールド面SL100が形成されている。このため、符号P100を付した部位において配線L101,L102のインピーダンスの変化が引き起こされて、配線L101,L102を伝わる高周波電流の反射が生じて電磁的ノイズが増大する。 As shown in FIG. 8, when the shield surface SL100 is formed by reducing the clearance value on the surface of the printed board on which the wirings L101 and L102 are arranged, the shield surface SL100 is formed on the portion G100 where the distance between the wirings L101 and L102 is narrow. However, the shield surface SL100 is formed in a state close to the wirings L101 and L102 except for the portion C100. For this reason, the change of the impedance of the wirings L101 and L102 is caused at the part denoted by the reference symbol P100, the high frequency current transmitted through the wirings L101 and L102 is reflected, and the electromagnetic noise increases.
上記のインピーダンスの変化は、同層に形成された配線とシールド面との間のみならず、互いに異なる層に形成された配線とシールド面との間でも生ずる。例えば、平面視で見た場合に、表面に形成された配線の一部のみが裏面に形成されたシールド面と重なる場合である。このため、電磁的ノイズを低減するためには、同層に形成された配線のみならず、他の層に形成された配線を考慮してシールド面の設計を行う必要がある。 The above impedance change occurs not only between the wiring formed in the same layer and the shield surface but also between the wiring formed in different layers and the shield surface. For example, when viewed in plan, only a part of the wiring formed on the front surface overlaps the shield surface formed on the back surface. For this reason, in order to reduce electromagnetic noise, it is necessary to design the shield surface in consideration of not only the wiring formed in the same layer but also the wiring formed in other layers.
また、シールド面の設計によってはシールド面が電気的に共振することがあり、これによっても電磁的ノイズが増大してしまうという問題がある。例えば、上述した通り、シールド面は引き落とし用バイアを用いて所定のパターンやベタ面に接続されることによりその電位が固定されるが、引き落とし用バイアの数が不足している場合には、シールド面が電気的に共振する。或いは、シールド面の誤接続によってシールド面に電流が流れることによってもシールド面が電気的に共振する。これらの結果として、電磁的ノイズの増大を招いてしまう。 Further, depending on the design of the shield surface, the shield surface may electrically resonate, which also causes a problem that electromagnetic noise increases. For example, as described above, the shield surface is connected to a predetermined pattern or a solid surface using a withdrawal via, and the potential is fixed. However, if the number of withdrawal vias is insufficient, The surface resonates electrically. Alternatively, the shield surface also electrically resonates due to a current flowing through the shield surface due to incorrect connection of the shield surface. As a result, electromagnetic noise increases.
更に、電磁的ノイズは、シールド面をグランドネットにした方が低減される傾向にあることが経験的に分かってる。知識の豊富な熟練のユーザであればシールド面をグランドネットにすべきことは常識であり、当然のようにシールド面をグランドネットにする。しかしながら、このような知識の乏しいユーザはシールド面を電源ネットに接続するといった誤った設計を行う虞がある。このため、電磁的ノイズを低減する観点からは、知識の乏しいユーザが設計する場合であっても誤った設計を防止されるのが望ましい。 Furthermore, it has been empirically known that electromagnetic noise tends to be reduced when the shield surface is a ground net. It is common knowledge that a knowledgeable and experienced user should make the shield surface a ground net, and naturally the shield surface is made a ground net. However, such a user with poor knowledge may perform a wrong design such as connecting the shield surface to the power supply net. For this reason, from the viewpoint of reducing electromagnetic noise, it is desirable to prevent erroneous design even when a user with poor knowledge designs.
本発明は上記事情に鑑みてなされたものであり、シールド面の設計に関する知識に乏しいユーザであっても、電磁的ノイズを低減し得るシールド面を容易に設計することができる基板設計装置を提供することを目的とする。 The present invention has been made in view of the above circumstances, and provides a board design apparatus that can easily design a shield surface that can reduce electromagnetic noise even for a user who lacks knowledge about the design of the shield surface. The purpose is to do.
上記課題を解決するために、本発明の第1の態様による基板設計装置は、プリント基板の設計情報である基板データを用いて電磁的ノイズを遮蔽するシールド面の設計を行う基板設計装置(1)において、前記基板データに含まれる前記シールド面に関するデータから、前記シールド面の特徴的形状、前記プリント基板に配置される電子部品に対する前記シールド面の接続部位、及び前記シールド面の面形状の少なくとも1つを抽出して前記シールド面の電位を定めるための接続部を形成すべき位置を決定する位置決定部(31a)を備えることを特徴としている。
この発明によると、基板データに含まれるシールド面に関するデータから、シールド面の特徴的形状、プリント基板に配置される電子部品に対するシールド面の接続部位、及びシールド面の面形状の少なくとも1つが抽出されてシールド面の電位を定めるための接続部を形成すべき位置が決定される。
また、本発明の第1の態様による基板設計装置は、前記位置決定部によって決定された位置又は当該位置の周囲に配置されたパターンを、前記接続部を形成する上で障害とならないように再設定するパターン再設定部(31b)を備えることを特徴としている。
上記課題を解決するために、本発明の第2の態様による基板設計装置は、プリント基板の設計情報である基板データを用いて電磁的ノイズを遮蔽するシールド面の設計を行う基板設計装置(1)において、前記基板データに含まれる前記プリント基板の物理情報と前記プリント基板に形成される配線に関する情報とに基づいて、前記配線のインピーダンスの変化を引き起こすことのない前記配線に対する前記シールド面の最小のクリアランス値を算出する算出部(32b)を備えることを特徴としている。
この発明によると、基板データに含まれるプリント基板の物理情報とプリント基板に形成される配線に関する情報とに基づいて、配線のインピーダンスの変化を引き起こすことのない配線に対するシールド面の最小のクリアランス値が算出される。
また、本発明の第2の態様による基板設計装置は、前記配線に対する最小の間隔が前記算出部で算出された前記クリアランス値で示される間隔に保たれたシールド面を前記プリント基板上に作成するシールド面作成部(32c)を備えることを特徴としている。
上記課題を解決するために、本発明の第3の態様による基板設計装置は、プリント基板の設計情報である基板データを用いて電磁的ノイズを遮蔽するシールド面の設計を行う基板設計装置(1)において、前記基板データに含まれる前記シールド面に関するデータと、前記シールド面が形成された層に形成される第1配線及び前記シールド面が形成された層とは異なる層に形成される第2配線の少なくとも一方の配線に関するデータとを用いて、前記シールド面によって当該配線のインピーダンスの変化が引き起こされる変化点を検出する変化点検出部(33)を備えることを特徴としている。
この発明によると、基板データに含まれるシールド面に関するデータと、シールド面が形成された層に形成される第1配線及びシールド面が形成された層とは異なる層に形成される第2配線の少なくとも一方の配線に関するデータとを用いて、シールド面によって当該配線のインピーダンスの変化が引き起こされる変化点が検出される。
また、本発明の第3の態様による基板設計装置は、前記変化点検出部が、前記シールド面と前記第1配線との間隔が所定のクリアランス値で示される間隔よりも小であるか否か、又は、前記第2配線に対する前記シールド面の途切れが所定の許容幅以下であるか否かを判定することにより前記変化点を検出することを特徴としている。
In order to solve the above-described problem, a board design apparatus according to a first aspect of the present invention is a board design apparatus (1) that designs a shield surface that shields electromagnetic noise using board data that is design information of a printed board. ), From the data relating to the shield surface included in the substrate data, at least the characteristic shape of the shield surface, the connection portion of the shield surface to the electronic component disposed on the printed circuit board, and the surface shape of the shield surface A position determining unit (31a) for determining a position where a connecting portion for extracting one and determining the potential of the shield surface is to be formed is provided.
According to the present invention, at least one of the characteristic shape of the shield surface, the connection portion of the shield surface to the electronic component arranged on the printed circuit board, and the surface shape of the shield surface is extracted from the data regarding the shield surface included in the board data. Thus, a position where a connection portion for determining the potential of the shield surface is to be formed is determined.
In addition, the substrate design apparatus according to the first aspect of the present invention re-uses the position determined by the position determination unit or the pattern arranged around the position so as not to become an obstacle in forming the connection unit. A pattern resetting unit (31b) to be set is provided.
In order to solve the above-described problem, a board design apparatus according to a second aspect of the present invention is a board design apparatus (1) that designs a shield surface that shields electromagnetic noise using board data that is design information of a printed board. ), The minimum of the shield surface for the wiring without causing a change in impedance of the wiring based on physical information of the printed board included in the board data and information on the wiring formed on the printed board. It is characterized by comprising a calculation unit (32b) for calculating the clearance value.
According to this invention, based on the physical information of the printed circuit board included in the circuit board data and the information on the wiring formed on the printed circuit board, the minimum clearance value of the shield surface with respect to the wiring that does not cause a change in wiring impedance is obtained. Calculated.
The board designing apparatus according to the second aspect of the present invention creates a shield surface on the printed circuit board in which a minimum gap with respect to the wiring is maintained at a gap indicated by the clearance value calculated by the calculator. It is characterized by including a shield surface creation part (32c).
In order to solve the above-described problem, a board designing apparatus according to a third aspect of the present invention is a board designing apparatus for designing a shield surface that shields electromagnetic noise using board data that is printed board design information (1). ), The data relating to the shield surface included in the substrate data, and the first wiring formed in the layer in which the shield surface is formed and the second layer formed in a layer different from the layer in which the shield surface is formed. A change point detection unit (33) is provided that detects a change point at which a change in impedance of the wiring is caused by the shield surface using data related to at least one of the wirings.
According to the present invention, the data relating to the shield surface included in the substrate data, the first wiring formed in the layer on which the shield surface is formed, and the second wiring formed in a layer different from the layer on which the shield surface is formed. Using the data regarding at least one of the wirings, a change point at which a change in impedance of the wiring is caused by the shield surface is detected.
Further, in the board designing apparatus according to the third aspect of the present invention, the change point detection unit determines whether or not an interval between the shield surface and the first wiring is smaller than an interval indicated by a predetermined clearance value. Alternatively, the change point is detected by determining whether or not a break in the shield surface with respect to the second wiring is equal to or less than a predetermined allowable width.
本発明によれば、シールド面の電位を定めるための接続部を形成すべき位置を自動的に決定し、配線のインピーダンスの変化を引き起こすことのない配線に対するシールド面の最小のクリアランス値を算出し、又はシールド面によって配線のインピーダンスの変化が引き起こされる変化点を検出しているため、シールド面の設計に関する知識に乏しいユーザであっても、電磁的ノイズを低減し得るシールド面を容易に設計することができるという効果がある。 According to the present invention, the position for forming the connection portion for determining the potential of the shield surface is automatically determined, and the minimum clearance value of the shield surface for the wiring that does not cause a change in the impedance of the wiring is calculated. Since the change point at which the impedance change of the wiring is caused by the shield surface is detected, even a user who has little knowledge about the design of the shield surface easily designs a shield surface that can reduce electromagnetic noise. There is an effect that can be.
以下、図面を参照して本発明の一実施形態による基板設計装置について詳細に説明する。図1は、本発明の一実施形態による基板設計装置の要部構成を示すブロック図である。図1に示す通り、本実施形態の基板設計装置1は、設計装置本体11、入力装置12、及び表示装置13を備えており、ユーザによる入力装置12を介した指示に応じて設計装置本体11がプリント基板の設計を行い、その結果を表示装置13に適宜表示するものである。
Hereinafter, a substrate design apparatus according to an embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the drawings. FIG. 1 is a block diagram showing a main configuration of a substrate design apparatus according to an embodiment of the present invention. As shown in FIG. 1, the board design apparatus 1 of the present embodiment includes a design apparatus
設計装置本体11は、CPU(中央処理装置)21、RAM22、及びハードディスク23を備える。CPU21は、ハードディスク23に格納された各種のプログラム(図示省略)に従って、入力装置12を介したユーザの指示に応じたプリント基板の設計を行う。具体的には、CPU21がハードディスク23に格納された各種プログラムを読み出すことにより、CPU21上にはシールド面安定化部31、シールド面生成部32、及びインピーダンス変化点検出部33(変化点検出部)が実現され、これらが協働してプリント基板の設計を行う。
The design apparatus
シールド面安定化部31は、バイア発生位置決定部31a(位置決定部)及びパターン再設定部31bを備えており、シールド面の電気的な共振を防止するために、プリント基板に形成されているシールド面を電気的に安定させる。バイア発生位置決定部31aは、ハードディスク23に記録されている基板データD1を読み出し、基板データD1に含まれるシールド面に関するデータからシールド面の特徴的形状(例えば、シールド面からの突出量が所定量以上の凸部)、他の電子部品に対するシールド面の接続部位、及びシールド面の面形状等を抽出する。
The shield
また、バイア発生位置決定部31aは、シールド面の特徴的形状が形成された位置及び他の電子部品に対するシールド面の接続部位の位置をバイア(引き落とし用バイア:接続部)の形成位置に決定し、抽出したシールド面の面形状から所定の間隔でバイアを配置可能な位置を決定する。ここで、引き落とし用バイアとは、シールド面を所定のパターンやベタ面に接続するための接続端子であって、シールド面の電位を定めるために用いられるものである。
In addition, the via generation
図2は、バイア発生位置決定部31aで行われる処理を説明する図である。図2(a)に示す通り、プリント基板上には信号配線等の多数の配線41、配線41をプリント基板内又は裏面に形成された他の配線に接続するバイア42、電子部品の電極が接続されるランド43等に加えて、シールド面SL1が形成されている。バイア発生位置決定部31aは、例えば図2(a)において、符号P1を付して指し示す凸部をシールド面SL1の特徴的形状として抽出し、その凸部P1の位置を、バイアV1を形成すべき位置に決定する。尚、図2(a)に示した他のバイアV1についても同様の手順でその位置が決定される。
FIG. 2 is a diagram illustrating processing performed by the via occurrence
また、バイア発生位置決定部31aは、シールド面SL1の面形状から所定の間隔でバイアを配置可能な位置を決定する。具体的には、図2(a)に示すバイアV2の位置を決定する。図2(a)を参照すると、特徴的形状に基づいて位置決定されたバイアV1はシールド面SL1の周辺部に偏在しているが、シールド面SL1の面形状に基づいて位置決定されたバイアV2は離間して配置されたバイアV1の間に配置されるのが分かる。これにより、シールド面SL1の電位を定める位置がシールド面SL1において略均一化される。
The via generation
また、図2(b)に示す通り、プリント基板上には電子部品の電極が接続されるランド44,45とともにシールド面SL2,SL3が形成されている。バイア発生位置決定部31aは、例えば図2(b)において、電子部品が接続されるランド44に対するシールド面SL2の接続部P1及び電子部品が接続されるランド45に対するシールド面SL3の接続部P2の位置を抽出し、その位置をバイアV3,V4を形成すべき位置に決定する。
As shown in FIG. 2B, shield surfaces SL2 and SL3 are formed on the printed circuit board together with
パターン再設定部31bは、バイア発生位置決定部31aによって決定された位置、又はその位置の周囲に配置されたパターンを、バイアを形成する上で障害とならないように再設定する。例えば、プリント基板を平面視で見た場合に、シールド面が形成された層とは異なる層にバイアが形成されるべき位置を通るように配線が形成されている場合には、バイアが形成されるべき位置をその配線が迂回するように再設定する。尚、単なる迂回では対応できない場合には、その配線を引きはがして新たな配線をしても良い。
The
シールド面生成部32は、属性チェック部32a、最適クリアランス算出部32b(算出部)、及びシールド面作成部32cを備えており、シールド面を作成する上で最適なクリアランス値を求め、このクリアランス値を用いてシールド面を作成する。属性チェック部32aは、作成されるシールド面の属性、具体的にはシールド面の属性がグランド属性であるか否かをチェックする。これは、シールド面が電源配線や信号配線に接続されてシールド面に電流が流れてシールド面から電磁的ノイズが発生するのを防止するためである。
The shield
最適クリアランス算出部32bは、ハードディスク23に記録された基板データD1に含まれるプリント基板の物理情報とプリント基板に形成される配線に関する情報とを読み出し、これらの情報に基づいて配線のインピーダンスの変化を引き起こすことのない配線に対するシールド面の最小のクリアランス値を算出する。図3は、最適クリアランス算出部32bで行われる処理の一例を説明する図である。
The optimum
図3(a)に示す通り、表面側に信号配線46とシールド面SL4とが形成され、裏面側にベタ面B1が形成されたプリント基板SBを考える。尚、基板SBの厚みはhであり、信号配線46の幅はSであり、信号配線46とシールド面SL4との間隔(パターン間隔)はWであるとする。かかる構成のプリント基板SBにおいて信号配線46の幅Sは変えずに、プリント基板SBの厚みhと、パターン間隔Wとを変化させた場合の特性インピーダンスは図3(b)に示す通り変化する。
As shown in FIG. 3A, consider a printed circuit board SB in which a
図3(b)を参照すると、パターン間隔Wを一定にしてプリント基板SBの厚みhを変化させると、厚みhが厚くなるに従って特性インピーダンスが上昇することが分かる。また、プリント基板SBの厚みhを一定にしてパターン間隔Wを変化させると、パターン間隔Wが広くなるにつれて特性インピーダンスが上昇することも分かる。ここで、パターン間隔Wを変化させる場合において、パターン間隔Wが0.3[mm]以下ではパターン間隔Wを変化させると特性インピーダンスも大きく変化するが、パターン間隔Wが0.5[mm]程度になるとパターン間隔Wを変化させても特性インピーダンスは殆ど変化しなくなる。 Referring to FIG. 3B, it can be seen that when the thickness h of the printed circuit board SB is changed while the pattern interval W is constant, the characteristic impedance increases as the thickness h increases. It can also be seen that if the pattern interval W is changed while the thickness h of the printed circuit board SB is kept constant, the characteristic impedance increases as the pattern interval W increases. Here, when the pattern interval W is changed, if the pattern interval W is 0.3 [mm] or less, the characteristic impedance changes greatly when the pattern interval W is changed, but the pattern interval W is about 0.5 [mm]. Then, even if the pattern interval W is changed, the characteristic impedance hardly changes.
このため、図3に示す例では、シールド面SL4のクリアランス値を0.5[mm]程度に設定すれば、特性インピーダンスの変化を引き起こすことは無い、或いは特性インピーダンスの変化が極めて小さいと言える。最適クリアランス算出部32bは、基板データD1に含まれるプリント基板の物理情報としてプリント基板の厚みや比誘電率等を読み出すとともに、プリント基板に形成される配線に関する情報として配線の幅等を読み出して図3(b)に示すパターン間隔Wと特性インピーダンスとの関係を求めて配線のインピーダンスの変化を引き起こすことのない配線に対するシールド面の最小のクリアランス値を算出する。尚、特性インピーダンスの算出方法はプリント基板の構造によって異なるため、最適クリアランス算出部32bは、プリント基板の構造に応じて適した方法で特性インピーダンスを求める必要がある。
For this reason, in the example shown in FIG. 3, if the clearance value of the shield surface SL4 is set to about 0.5 [mm], it can be said that the characteristic impedance does not change or the characteristic impedance changes very little. The optimum
シールド面作成部32cは、最適クリアランス算出部32で算出された最小のクリアランス値を用い、配線との間隔が最小のクリアランス値を下回らないシールド面をプリント基板上に作成する。ここで、シールド面作成部32cによって作成されるシールド面と配線との間隔は、最小のクリアランス値で示される間隔より広くても良い。但し、シールド面と配線との間隔を拡げすぎると、その隙間を介する電磁的ノイズが増大するため、最適クリアランス算出部32で算出された最小のクリアランス値と同程度にするのが望ましい。
The shield
インピーダンス変化点検出部33は、同層インピーダンス変化点検出部33a及び隣接層インピーダンス変化点検出部33bを備えており、シールド面によって配線のインピーダンスの変化が引き起こされる変化点を検出する。同層インピーダンス変化点検出部33aは、内部に最適クリアランス算出部32bと同様の算出部(図示省略)を備えており、基板データD1からシールド面に関するデータとシールド面が形成された層に形成される配線(第1配線)に関するデータとを読み出してインピーダンスの変化を引き起こすことのない最小のクリアランス値を求める。そして、それらシールド面と配線との間隔が、最小のクリアランス値で示される間隔よりも小さいか否かによってインピーダンスの変化点を検出する。
The impedance change
隣接層インピーダンス変化点検出部33bは、基板データD1からシールド面に関するデータとシールド面が形成された層とは異なる層に形成される配線(第2配線)に関するデータとを読み出し、その配線に対するシールド面の途切れが所定の許容幅以下であるか否かを判定することによりインピーダンスの変化点を検出する。ここで、隣接層インピーダンス変化点検出部33bは、ハードディスク23に記録された判定データD2を用いてシールド面の途切れが所定の許容幅以下であるか否かを判定する。尚、上記の所定の許容幅は、プリント基板の構造(配線構造、材質、厚み等)を考慮してユーザにより設定される。
The adjacent layer impedance change
図4は、隣接層インピーダンス変化点検出部33bで行われる検出処理を説明するための図である。まず、図4(a)に示す通り、部分的にシールド面SL11が形成された層L11、配線51が形成された層L12、及びベタ面B11が形成された層L13を有するプリント基板を考える。かかるプリント基板を平面視で見ると、配線51の一部分(第1部分51a)のみがシールド面SL11によって覆われており、他の部分(第2部分51b)はシールド面SL11で覆われていない。このため、配線51の第1部分51aと第2部分51bとの境界でインピーダンスの変化が引き起こされる可能性がある。
FIG. 4 is a diagram for explaining the detection process performed by the adjacent layer impedance change
隣接層インピーダンス変化点検出部33bは、配線51の第1部分51aと第2部分51bとの境界を求め、シールド面SL11によって覆われていない第2部分51bの長さが、判定データD2で規定されている所定の許容幅以下であるか否かを判定する。図4(a)に示す例においては、隣接層インピーダンス変化点検出部33bは、配線51の第2部分51bの長さが上記の所定の許容幅よりも大であると判定し、配線51の第1部分51aと第2部分52bとの境界をインピーダンスの変化点として検出する。
The adjacent layer impedance change
次に、図4(b)に示す通り、所定の間隔W1(所定の途切れ)をもって離間してシールド面SL21,SL22が形成された層L21、配線52が形成された層L22、及びベタ面B12が形成された層L23を有するプリント基板を考える。かかるプリント基板を平面視で見ると、シールド面SL21,SL22で覆われた配線52の部分(第1部分52a、第2部分52b)の間に、シールド面で覆われていない配線52の部分(第3部分52c)が存在する。
Next, as shown in FIG. 4B, the layer L21 with the shield surfaces SL21 and SL22 formed at a predetermined interval W1 (predetermined break), the layer L22 with the
隣接層インピーダンス変化点検出部33bは、上記と同様の処理により、まずシールド面SL21で覆われた配線52の第1部分52aとシールド面で覆われていない配線52の第3部分52cとの境界を求めるとともに、シールド面SL22で覆われた配線52の第2部分52bとシールド面で覆われていない配線52の第3部分52cとの境界を求める。そして、シールド面SL21,SL22によって覆われていない配線52の第3部分52cの長さが、判定データD2で規定されている所定の許容幅以下であるか否かを判定する。図4(b)に示す例においては、隣接層インピーダンス変化点検出部33bは、配線52の第3部分52cの長さが上記の所定の許容幅以下であると判定し、インピーダンスの変化点の検出は行わない。
The adjacent layer impedance change
RAM22は、揮発性のメモリであり、CPU21で行われる処理で用いられる各種変数の値や、プリント基板の設計途中のデータ等を一時的に記憶する。ハードディスク23は、前述したユーザによって作成された基板データD1及び隣接層インピーダンス変化点検出部33bで用いられる判定データD2を記憶するとともに、図1中のシールド面安定化部31〜インピーダンス変化点検出部33を実現する各種プログラム(図示省略)を記憶する。
The
入力装置12は、キーボードやマウス等を備えており、ユーザの操作に応じた操作情報を設計装置本体11に出力する。表示装置13は、CRT(Cathode Ray Tube)又は液晶表示装置等を備えており、設計装置本体11で設計された結果を表示する。具体的には、生成されたシールド面をプリント基板上に表示し、或いはシールド面に接続されるバイアやインピーダンスの変化点等を表示する。
The
次に、上記構成における基板設計装置1を用いたプリント基板の設計手順について説明する。本実施形態の基板設計装置1は、大別すると、シールド面を電気的に安定させるシールド面安定化、最適クリアランスを有するシールド面を生成するシールド面生成、及びインピーダンスの変化点を検出するインピーダンス変化点検出が可能である。以下これらの処理について順に説明する。 Next, a printed circuit board design procedure using the circuit board design apparatus 1 having the above-described configuration will be described. The board designing apparatus 1 according to the present embodiment can be broadly classified as follows: stabilization of a shield surface that electrically stabilizes the shield surface, generation of a shield surface that generates a shield surface having an optimum clearance, and impedance change that detects an impedance change point Point detection is possible. Hereinafter, these processes will be described in order.
〔シールド面安定化〕
図5は、シールド面安定化の処理手順を示すフローチャートである。シールド面安定化の処理が開始されると、シールド面安定化部31のバイア発生位置決定部31aがハードディスク23に記録されている基板データD1を読み出し、基板データD1に含まれるシールド面を特定する処理を行う(ステップS11)。具体的には、基板データD1の属性データを参照して、シールド面であるか否かを特定する。尚、基板データD1にシールド面が複数含まれている場合には、複数のシールド面が特定される。
[Shield surface stabilization]
FIG. 5 is a flowchart showing a processing procedure for shielding surface stabilization. When the shield surface stabilization process is started, the via generation
次に、バイア発生位置決定部31aは、ステップS11で特定されたシールド面から1つのシールド面を選択し、選択したシールド面の特徴的形状、他の電子部品に対するシールド面の接続部位、及びシールド面の面形状等を順に抽出する(ステップS12〜S14)。具体的には、図2(a)を用いて説明した通り、シールド面SL1からの突出量が所定量以上の凸部P1等の抽出し、この凸部P1の位置を、バイアV1を形成すべき位置に決定する。また、図2(b)に示す通り、電子部品が接続されるランド44に対するシールド面SL2の接続部P1及び電子部品が接続されるランド45に対するシールド面SL3の接続部P2の位置を抽出し、その位置をバイアV3,V4を形成すべき位置に決定する。更に、図2(a)に示す通り、シールド面の面形状から、所定の間隔をもって配置するバイアV2の位置を決定する。
Next, the via generation
以上の処理が終了すると、シールド面安定化部31は、ステップS12〜S14で抽出・決定した抽出位置に、既にバイアが配置されているか否かを判定する(ステップS15)。この判断結果が「NO」の場合には、パターン再設定部31bは、バイア発生位置決定部31aによって決定された位置、又はその位置の周囲に配置されたパターンを、バイアを形成する上で障害とならないように再設定する(ステップS16)。例えば、プリント基板を平面視で見た場合に、シールド面が形成された層とは異なる層にバイアが形成されるべき位置を通るように配線が形成されている場合には、バイアが形成されるべき位置をその配線が迂回するように再設定する。
When the above processing ends, the shield
次に、パターン再設定部31bは、以上のパターン再設定が成功したか否かを判断する(ステップS17)。成功したと判断した場合(判断結果が「YES」の場合)には、パターン再設定部31bはその位置にバイアを作成する(ステップS18)。これに対し、パターン再設定が失敗したと判断した場合(判断結果が「NO」の場合)には、バイアの配置が必要なその位置に所定のマークを付す処理を行う(ステップS19)。かかるマークを付すことによって、その位置にバイアを配置する必要があるが、他のパターンとの関係で自動配置ができなかった旨をユーザが後から把握することができる。
Next, the
以上の処理が終了した場合、或いはステップS15の判断結果が「YES」の場合には、シールド面安定化部31はステップS12〜S14で抽出された抽出位置のうち、残りの抽出位置が有るか否かを判断する(ステップS20)。残りの抽出位置があると判断した場合(判断結果が「YES」の場合)には、ステップS15の処理に戻り、残りの抽出位置が無いと判断した場合(判断結果が「NO」の場合)には、ステップS11で特定されたシールド面のうち、残りのシールド面が有るか否かが判断される(ステップS21)。
When the above processing is completed or when the determination result in step S15 is “YES”, the shield
残りのシールド面があると判断した場合(ステップS21の判断結果が「YES」の場合)には、ステップS12の処理に戻る。一方、残りのシールド面が無いと判断した場合(ステップS21の判断結果が「NO」の場合)には、シールド面安定化部31は、ステップS18で作成したバイアに関する情報又はステップS19で付したマークに関する情報を表示装置13に表示するとともに、ハードディスク23の基板データD1に書き込んで追加する(ステップS22)。以上の処理によって、シールド面安定化の一連の処理が終了する。作成されたバイアは、例えば図2(a)中のバイアV1,V2や図2(b)中のバイアV3,V4ように表示される。
When it is determined that there is a remaining shield surface (when the determination result of step S21 is “YES”), the process returns to step S12. On the other hand, when it is determined that there is no remaining shield surface (when the determination result of step S21 is “NO”), the shield
以上説明した、シールド面安定化では、基板データD1に含まれるシールド面に関するデータから、シールド面の特徴的形状、電子部品に対するシールド面の接続部位、及びシールド面の面形状の少なくとも1つが抽出され、バイアを形成すべき位置が自動的に決定されるとともにバイアが自動配置されている。このため、シールド面の設計に関する知識に乏しいユーザであっても、電磁的ノイズを低減し得るシールド面を容易に設計することができる。また、バイアを形成する上で障害とならないように、自動配置されたバイアの位置又はその位置の周囲に配置されたパターンが再設定されるため、効率的にシールド面の設計を行うことができる。 In the shield surface stabilization described above, at least one of the characteristic shape of the shield surface, the connection part of the shield surface to the electronic component, and the surface shape of the shield surface is extracted from the data regarding the shield surface included in the board data D1. The positions where vias are to be formed are automatically determined and vias are automatically arranged. For this reason, even a user who lacks knowledge regarding the design of the shield surface can easily design a shield surface that can reduce electromagnetic noise. In addition, the position of the automatically arranged via or the pattern arranged around the position is reset so as not to become an obstacle in forming the via, so that the shield surface can be efficiently designed. .
〔シールド面生成〕
図6は、シールド面生成の処理手順を示すフローチャートである。シールド面生成の処理が開始されると、まずユーザの操作によってシールド面を作成するための各種データの入力が行われる。具体的には、まずユーザが表示装置13の表示内容を参照しつつ入力装置12を操作して、シールド面を作成するネットを入力する(ステップS31)。
[Shield surface generation]
FIG. 6 is a flowchart showing a processing procedure for generating a shield surface. When the shield surface generation process is started, first, various data for creating the shield surface is input by a user operation. Specifically, first, the user operates the
すると、シールド面生成部32の属性チェック部32aが入力されたネットの属性がグランド属性であるか否かをチェックする(ステップS32)。入力されたネットがグランド属性ではないと判断した場合(判断結果が「NO」である場合)には、属性チェック部32aは表示装置13に対してエラー表示を行う(ステップS13)。尚、かかるエラー表示がなされた場合には、図6に示す一連の処理が終了する。
Then, the
一方、入力されたネットがグランド属性であると属性チェック部32aが判断した場合(判断結果が「YES」の場合)には、次のデータの入力に進む。具体的には、ユーザが表示装置13の表示内容を参照しつつ入力装置12を操作して、シールド面を作成するプリント基板の層を入力し(ステップS34)、次いでシールド面を作成する領域(プリント基板の表面に平行な面内における領域)を入力する(ステップS35)。
On the other hand, when the
以上の入力が終了すると、最適クリアランス算出部32bがハードディスク23に記録された基板データD1を読み出し、ステップS35で入力された領域内に配置された信号パターンの幅を探索する(ステップS36)。ここで、幅が異なる信号パターンが複数存在する場合には、各々の信号パターンの幅を探索する。また、最適クリアランス算出部32bは、ハードディスク23に記録された基板データD1に含まれるプリント基板の物理情報(厚みや比誘電率等)も読み出す。そして、得られた物理情報、シールド面が作成される層を示す情報、信号パターンの幅から、図3を用いて説明した手法を用いて最適なクリアランス値を算出する(ステップS37)。
When the above input is completed, the optimum
次に、シールド面作成部32cは、最適クリアランス算出部32で算出された最小のクリアランス値を用い、信号パターンとの間隔が最小のクリアランス値を下回らないシールド面をプリント基板上に作成する(ステップS38)。尚、電磁的ノイズの増大を招かなければシールド面作成部32cによって作成されるシールド面と配線との間隔は、最小のクリアランス値で示される間隔より広くても良い。以上の処理が終了すると、シールド面生成部32は、シールド面作成部32によって作成されたシールド面を表示装置13に表示するとともに、ハードディスク23の基板データD1に書き込んで追加する(ステップS39)。以上の処理によって、シールド面生成の一連の処理が終了する。
Next, the shield
以上説明した、シールド面生成では、基板データD1に含まれるプリント基板の物理情報とプリント基板に形成される配線に関する情報とに基づいて、配線のインピーダンスの変化を引き起こすことのない配線に対するシールド面の最小のクリアランス値が算出され、配線に対する最小の間隔がこのクリアランス値で示される間隔に保たれたシールド面がプリント基板上に作成される。このため、シールド面の設計に関する知識に乏しいユーザであっても、配線のインピーダンスの変化を招かずに電磁的ノイズを低減し得るシールド面を容易に設計することができる。また、作成されるシールド面の属性チェックが行われるため、シールド面が誤って電源配線や信号配線に接続されてシールド面に流れる電流により、シールド面から電磁的ノイズが発生するといった事態を防止することができる。 In the shield surface generation described above, based on the physical information of the printed circuit board included in the substrate data D1 and the information on the wiring formed on the printed circuit board, the shield surface for the wiring that does not cause a change in the impedance of the wiring. A minimum clearance value is calculated, and a shield surface is created on the printed circuit board in which the minimum interval with respect to the wiring is maintained at the interval indicated by the clearance value. For this reason, even a user who lacks knowledge about the design of the shield surface can easily design a shield surface that can reduce electromagnetic noise without causing a change in the impedance of the wiring. In addition, since the attribute of the shield surface to be created is checked, it is possible to prevent a situation in which electromagnetic noise is generated from the shield surface due to the current flowing through the shield surface due to the shield surface being accidentally connected to the power supply wiring or signal wiring. be able to.
〔インピーダンス変化点検出〕
図7は、インピーダンス変化点検出の処理手順を示すフローチャートである。インピーダンス変化点検出の処理が開始されると、まずユーザの操作によってインピーダンスの変化点を検出するための検出条件の入力が行われる(ステップS41)。例えば、シールド面の途切れ(図4に示すシールド面SL21,SL22の間隔W1)の許容幅がユーザによって入力される。次いで、ユーザが表示装置13の表示内容を参照しつつ入力装置12を操作して、インピーダンスの変化点を検出する領域(プリント基板の表面に平行な面内における領域)を入力する(ステップS42)。
[Impedance change point detection]
FIG. 7 is a flowchart showing a processing procedure for impedance change point detection. When the impedance change point detection process is started, a detection condition for detecting an impedance change point is first input by a user operation (step S41). For example, the allowable width of the interruption of the shield surface (interval W1 between the shield surfaces SL21 and SL22 shown in FIG. 4) is input by the user. Next, the user operates the
以上の入力が終了すると、インピーダンス変化点検出部33の同層インピーダンス変化点検出部33がハードディスク23に記録された基板データD1を読み出し、ステップS42で入力された領域内において、シールド面が形成された層と同層に形成されている配線ストリングを抽出する(ステップS43)。ここで、配線ストリングとは、プリント基板の任意の1つの層内において、その層に形成された任意の2つの接続部(端子、バイア)間を接続する配線の一つながり部分をいう。尚、配線が分岐している場合には、その配線について複数の配線ストリングが抽出される場合もある。
When the above input is completed, the impedance
配線ストリングの抽出を終えると、同層インピーダンス変化点検出部33aは、ステップS43で抽出された配線ストリングがインピーダンスの変化点の検出を行う必要のある配線ストリングであるか否かを判断する(ステップS44)。具体的に、同層インピーダンス変化点検出部33aは、抽出された配線ストリングが、配線長の制限が課されている配線、等長配線である配線、又は差動ペア信号配線等のように何らかの制限が課されている配線に係るものであるか否かにより、インピーダンスの変化点の検出を行う必要のある配線ストリングであるか否かを判断する。
When the extraction of the wiring string is completed, the impedance change
尚、ここでは、配線に課された制限によってインピーダンスの変化点の検出を行う必要のある配線ストリングであるか否かの判断を行う場合について説明する。しかしながら、予めプリント基板に形成される配線毎にインピーダンスの変化点の検出を行う必要のある配線ストリングであるか否かを示すリスト情報を作成しておき、このリスト情報に基づいてステップS44の判断を行っても良い。 Here, a case will be described in which it is determined whether or not the wiring string needs to detect the impedance change point due to the restriction imposed on the wiring. However, list information indicating whether or not the wiring change string needs to be detected in advance for each wiring formed on the printed circuit board is created, and the determination in step S44 is performed based on the list information. May be performed.
ステップS44において、インピーダンスの変化点の検出を行う必要のある配線ストリングであると判断した場合(判断結果が「YES」の場合)には、隣接層インピーダンス変化点検出部33bが、対象とする配線ストリングを覆う他の層の面データを収集する(ステップS45)。例えば、図4(b)に示す例において、対象とする配線ストリングが配線52にかかるものである場合には、層L21に形成されたシールド面SL21,SL22及び層L23に形成されたベタ面B12に関する面データを収集する。尚、ここでは、隣接する2層についての面データを収集する場合を例に挙げるが、プリント基板に形成された全ての層の面データを収集しても良い。
In step S44, when it is determined that the wiring string needs to detect the impedance change point (when the determination result is “YES”), the adjacent layer impedance change
次に、隣接層インピーダンス変化点検出部33bは、ステップS45で収集した面データを用いて、シールド面の途切れ(図4に示すシールド面SL21,SL22の間隔W1)が判定データD2で規定される許容幅以下であるか否かを判定する(ステップS46)。シールド面の途切れが許容値よりも大であると判定した場合(ステップS46の判定結果が「NO」である場合)には、インピーダンス変化点をRAM22等に蓄積する(ステップS47)。例えば、図4(a)に示す例においては、配線51の第1部分51aと第2部分52bとの境界をインピーダンスの変化点として検出して蓄積する。
Next, the adjacent layer impedance
一方、シールド面の途切れが許容値以下であると判定した場合(ステップS46の判定結果が「YES」である場合)、又は、ステップS47の処理を終えた場合には、同層インピーダンス変化点検出部33aが、対象とする配線ストリングが形成された層と同じ層に形成された面であって、その配線ストリングの近くにある面を特定する(ステップS48)。そして、ステップS48で特定された面が、対象配線のインピーダンスの変化を引き起こすことのない最小のクリアランス値(最適クリアランス値)を算出する(ステップS49)。
On the other hand, when it is determined that the shield surface break is less than or equal to the allowable value (when the determination result of step S46 is “YES”), or when the process of step S47 is completed, the same-layer impedance change point detection is performed. The
次に、同層インピーダンス変化点検出部33aは、ステップS48で特定された面と対象とする配線ストリングとの間隔が、ステップS49で算出された最適クリアランス値以上であるか否かを判定する(ステップS50)。ステップS48で特定された面と対象とする配線ストリングとの間隔が、最適クリアランス値よりも小であると判定した場合(判断結果が「NO」である場合)には、インピーダンス変化点をRAM22等に蓄積する(ステップS51)。
Next, the same-layer impedance change
一方、ステップS50の判定結果が「YES」である場合、ステップS44の判断結果が「NO」である場合、又はステップS51の処理を終えた場合には、インピーダンス変化点検出部33は、ステップS43で抽出された残りの配線ストリングが有るか否かを判断する(ステップS52)。この判断結果が「YES」の場合にはステップS44の処理に戻り、「NO」の場合にはインピーダンス変化点検出部33が表示装置13に結果を表示する(ステップS53)。具体的には、ステップS47,S51の処理で蓄積されたインピーダンス変化点が有る場合には、その変化点の基板上における位置を表示装置13に表示する。
On the other hand, when the determination result of step S50 is “YES”, the determination result of step S44 is “NO”, or when the process of step S51 is completed, the impedance change
以上説明した、インピーダンス変化点検出では、基板データD1に含まれるシールド面に関するデータと、シールド面が形成された層に形成される配線(第1配線)及びシールド面が形成された層とは異なる層に形成される配線(第2配線)の少なくとも一方の配線に関するデータとを用いて、シールド面によって配線のインピーダンスの変化が引き起こされる変化点が検出される。このため、シールド面の設計に関する知識に乏しいユーザであっても、自動的に検出されたインピーダンスの変化点を解消し得る対策(例えば、シールド面の再設計)を施せば、電磁的ノイズを低減させることができる。 In the impedance change point detection described above, the data related to the shield surface included in the substrate data D1 is different from the wiring (first wiring) formed on the layer on which the shield surface is formed and the layer on which the shield surface is formed. Using the data related to at least one of the wirings (second wirings) formed in the layer, a change point at which a change in the impedance of the wiring is caused by the shield surface is detected. For this reason, electromagnetic noise can be reduced by taking measures (for example, redesigning the shield surface) that can eliminate the impedance change point that is automatically detected, even for users with limited knowledge about the shield surface design. Can be made.
以上説明した通り、本実施形態では、シールド面安定化においてシールド面に対するバイアが自動配置され、シールド面生成において最適クリアランスを有するシールド面の自動作成が行われ、インピーダンス変化点検出においてインピーダンスの変化点の検出が自動的に行われるため、シールド面の設計に関する知識に乏しいユーザであっても、電磁的ノイズを低減し得るシールド面を容易に設計することができる。 As described above, in this embodiment, vias are automatically arranged for the shield surface in the shield surface stabilization, the shield surface having the optimum clearance is automatically created in the shield surface generation, and the impedance change point in the impedance change point detection. Therefore, even a user who lacks knowledge about the design of the shield surface can easily design a shield surface that can reduce electromagnetic noise.
また、本実施形態では、設計に要する時間を短縮することができるとともに、プリント基板から放射されるノイズがユーザ(基板設計者)のスキルに大きく左右されるといった事態を防止することもできる。更に、設計されたシールド面を表示装置13に表示することができるため、設計者への教育的効果も得られる。
Further, in the present embodiment, it is possible to reduce the time required for the design, and it is possible to prevent a situation in which noise radiated from the printed circuit board is greatly influenced by the skill of the user (board designer). Furthermore, since the designed shield surface can be displayed on the
以上、本発明の実施形態による基板設計装置について説明したが、本発明は上記実施形態に制限されることなく、本発明の範囲内で自由に変更が可能である。例えば、上述した実施形態では、説明の簡単のために、シールド面安定化、シールド面生成、及びインピーダンス変化点検出を個別に説明した。しかしながら、まず図6に示すシールド面生成でシールド面を作成し、これにより作成されたシールド面を安定化するために図5に示すシールド面安定化でバイアを作成し、また、作成されたシールド面に起因する配線のインピーダンスの変化点の検出を図7に示すインピーダンス変化点検出にて行うのが望ましい。 As described above, the substrate design apparatus according to the embodiment of the present invention has been described, but the present invention is not limited to the above embodiment, and can be freely changed within the scope of the present invention. For example, in the above-described embodiment, the shield surface stabilization, shield surface generation, and impedance change point detection are individually described for the sake of simplicity. However, first, a shield surface is created by generating the shield surface shown in FIG. 6, and a via is created by stabilizing the shield surface shown in FIG. 5 in order to stabilize the created shield surface. It is desirable to detect the change point of the impedance of the wiring due to the surface by the impedance change point detection shown in FIG.
1 基板設計装置
31 シールド面安定化部
31a バイア発生位置決定部
31b パターン再設定部
32 シールド面生成部
32b 最適クリアランス算出部
32c シールド面作成部
33 インピーダンス変化点検出部
33a 同層インピーダンス変化点検出部
33b 隣接層インピーダンス変化点検出部
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Board |
Claims (6)
前記基板データに含まれる前記シールド面に関するデータから、前記シールド面の特徴的形状、前記プリント基板に配置される電子部品に対する前記シールド面の接続部位、及び前記シールド面の面形状の少なくとも1つを抽出して前記シールド面の電位を定めるための接続部を形成すべき位置を決定する位置決定部を備えることを特徴とする基板設計装置。 In a board design device that designs a shield surface that shields electromagnetic noise using board data that is design information of a printed circuit board,
From the data regarding the shield surface included in the substrate data, at least one of a characteristic shape of the shield surface, a connection portion of the shield surface with respect to an electronic component disposed on the printed circuit board, and a surface shape of the shield surface is obtained. A substrate design apparatus comprising: a position determining unit that determines a position where a connection part for extracting and determining a potential of the shield surface is to be formed.
前記基板データに含まれる前記プリント基板の物理情報と前記プリント基板に形成される配線に関する情報とに基づいて、前記配線のインピーダンスの変化を引き起こすことのない前記配線に対する前記シールド面の最小のクリアランス値を算出する算出部を備えることを特徴とする基板設計装置。 In a board design device that designs a shield surface that shields electromagnetic noise using board data that is design information of a printed circuit board,
Based on physical information of the printed circuit board included in the circuit board data and information on the wiring formed on the printed circuit board, the minimum clearance value of the shield surface with respect to the wiring without causing a change in impedance of the wiring A board design apparatus comprising a calculation unit for calculating
前記基板データに含まれる前記シールド面に関するデータと、前記シールド面が形成された層に形成される第1配線及び前記シールド面が形成された層とは異なる層に形成される第2配線の少なくとも一方の配線に関するデータとを用いて、前記シールド面によって当該配線のインピーダンスの変化が引き起こされる変化点を検出する変化点検出部を備えることを特徴とする基板設計装置。 In a board design device that designs a shield surface that shields electromagnetic noise using board data that is design information of a printed circuit board,
At least the data related to the shield surface included in the substrate data, the first wiring formed in the layer where the shield surface is formed, and the second wiring formed in a layer different from the layer where the shield surface is formed A board design apparatus comprising: a change point detection unit that detects a change point at which a change in impedance of the wiring is caused by the shield surface using data related to one wiring.
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