JP2009151364A - Board design device - Google Patents

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Akihiko Matsumoto
明彦 松本
Satoru Inoue
哲 井上
Tadashi Kubodera
忠 久保寺
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SYSTEM DESIGN LABORATORY
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a board design device allowing even a user lacking knowledge related to a design of a shield face to easily design the shield face capable of reducing electromagnetic noise. <P>SOLUTION: A CPU 21 of this board design device 1 is materialized: a shield face stabilization part 31 for electrically stabilizing the shield face formed on a printed board so as to prevent electrical resonance of the shield face; a shield face generation part 32 for obtaining a clearance value optimum to form the shield face, and forming the shield face by use of the clearance value; and an impedance change point detection part 33 for detecting a change point wherein a change of impedance of wiring is caused by the shield face. <P>COPYRIGHT: (C)2009,JPO&INPIT

Description

本発明は、プリント基板の設計を行う基板設計装置に係り、特にプリント基板の表面又は裏面に形成されて電磁的ノイズを遮蔽するシールド面の設計を行う基板設計装置に関する。   The present invention relates to a board design apparatus for designing a printed circuit board, and more particularly to a board design apparatus for designing a shield surface that is formed on the front surface or the back surface of a printed circuit board and shields electromagnetic noise.

近年、プリント基板上における電子部品の配置やプリント基板の配線の配置等を含めたプリント基板の設計は、プリント基板設計CAD(Computer Aided Design)と言われる基板設計装置を用いて効率的に行われている。また、近年においては、プリント基板におけるEMC(Electro Magnetic Compatibility:電磁的両立性)の対策要求が高まっており、電磁的ノイズを低減するためにプリント基板上におけるシールド面の設計が可能な基板設計装置も提案されている。   In recent years, printed circuit board design including the placement of electronic components and printed circuit board wiring on a printed circuit board has been performed efficiently using a printed circuit board design CAD (Computer Aided Design) board design apparatus. ing. In recent years, EMC (Electro Magnetic Compatibility) countermeasure requirements for printed circuit boards are increasing, and a board design apparatus capable of designing a shield surface on a printed circuit board in order to reduce electromagnetic noise. Has also been proposed.

かかる基板設計装置においては、ユーザが基板設計装置に対して、ネット、物理層、及びクリアランス値を指定すれば、指定した通りのシールド面が作成される。ここで、上記のネットとは作成したいシールド面の電気的な接続関係を示す情報であり、上記の物理層とはシールド面を形成すべき層を示す情報であり、上記のクリアランス値とはシールド面が形成される層における他の配線等との間隔を示す情報である。   In such a board design apparatus, if a user designates a net, a physical layer, and a clearance value for the board design apparatus, a shield surface as designated is created. Here, the net is information indicating the electrical connection relationship of the shield surface to be created, the physical layer is information indicating the layer on which the shield surface is to be formed, and the clearance value is the shield This is information indicating a distance from another wiring or the like in the layer where the surface is formed.

また、基板設計装置においては、シールド面が電気的に浮いた状態(電気的に未接続な状態)では、シールド面に対してラッツ・ネストが表示される。ここでラッツ・ネストとは、周知の通り、結線すべき端子と端子との間を直線で結んだネットをいい、端子間の結線が完了すると消滅するものである。このため、ユーザ(例えば、基板設計者)はかかるラッツ・ネストの表示を参照しながら、シールド面と所定のパターンやベタ面との接続位置を基板設計装置に指示し、その接続位置にシールド面をベタ面等に接続するための引き落とし用バイアを手動で作成して同ネット内で同電位になるように設計している。尚、以上の内容は公知・公用の技術であるため、記載すべき先行技術文献情報は特にない。   Further, in the board designing apparatus, when the shield surface is electrically floating (electrically unconnected state), a rats nest is displayed on the shield surface. Here, as is well known, the rats nest is a net in which the terminals to be connected are connected with a straight line, and disappears when the connection between the terminals is completed. For this reason, a user (for example, a board designer) instructs the board design apparatus to connect the shield surface to a predetermined pattern or solid surface while referring to the display of the ratsnest, and the shield surface is placed at the connection position. A pull-out via for connecting to a solid surface etc. is created manually and designed to have the same potential in the net. In addition, since the above content is a publicly known technique, there is no prior art document information to be described.

ところで、プリント基板に形成されたシールド面によって、シールド面に近接して配置される配線等のインピーダンスの変化が引き起こされることがあり、インピーダンスの変化点において生ずる高周波電流の反射によって電磁的ノイズが増大してしまうという問題がある。図8は、シールド面によって引き起こされる配線のインピーダンス変化点を説明する図である。   By the way, the shield surface formed on the printed circuit board may cause a change in impedance of wirings arranged close to the shield surface, and electromagnetic noise increases due to the reflection of high-frequency current generated at the impedance change point. There is a problem of end up. FIG. 8 is a diagram for explaining the impedance change point of the wiring caused by the shield surface.

図8に示す通り、配線L101,L102が配置されているプリント基板表面にクリアランス値を小さくしてシールド面SL100を形成すると、配線L101,L102の間隔が狭くなっている部位G100にはシールド面SL100が形成されていないが、この部位C100以外では配線L101,L102に近接した状態でシールド面SL100が形成されている。このため、符号P100を付した部位において配線L101,L102のインピーダンスの変化が引き起こされて、配線L101,L102を伝わる高周波電流の反射が生じて電磁的ノイズが増大する。   As shown in FIG. 8, when the shield surface SL100 is formed by reducing the clearance value on the surface of the printed board on which the wirings L101 and L102 are arranged, the shield surface SL100 is formed on the portion G100 where the distance between the wirings L101 and L102 is narrow. However, the shield surface SL100 is formed in a state close to the wirings L101 and L102 except for the portion C100. For this reason, the change of the impedance of the wirings L101 and L102 is caused at the part denoted by the reference symbol P100, the high frequency current transmitted through the wirings L101 and L102 is reflected, and the electromagnetic noise increases.

上記のインピーダンスの変化は、同層に形成された配線とシールド面との間のみならず、互いに異なる層に形成された配線とシールド面との間でも生ずる。例えば、平面視で見た場合に、表面に形成された配線の一部のみが裏面に形成されたシールド面と重なる場合である。このため、電磁的ノイズを低減するためには、同層に形成された配線のみならず、他の層に形成された配線を考慮してシールド面の設計を行う必要がある。   The above impedance change occurs not only between the wiring formed in the same layer and the shield surface but also between the wiring formed in different layers and the shield surface. For example, when viewed in plan, only a part of the wiring formed on the front surface overlaps the shield surface formed on the back surface. For this reason, in order to reduce electromagnetic noise, it is necessary to design the shield surface in consideration of not only the wiring formed in the same layer but also the wiring formed in other layers.

また、シールド面の設計によってはシールド面が電気的に共振することがあり、これによっても電磁的ノイズが増大してしまうという問題がある。例えば、上述した通り、シールド面は引き落とし用バイアを用いて所定のパターンやベタ面に接続されることによりその電位が固定されるが、引き落とし用バイアの数が不足している場合には、シールド面が電気的に共振する。或いは、シールド面の誤接続によってシールド面に電流が流れることによってもシールド面が電気的に共振する。これらの結果として、電磁的ノイズの増大を招いてしまう。   Further, depending on the design of the shield surface, the shield surface may electrically resonate, which also causes a problem that electromagnetic noise increases. For example, as described above, the shield surface is connected to a predetermined pattern or a solid surface using a withdrawal via, and the potential is fixed. However, if the number of withdrawal vias is insufficient, The surface resonates electrically. Alternatively, the shield surface also electrically resonates due to a current flowing through the shield surface due to incorrect connection of the shield surface. As a result, electromagnetic noise increases.

更に、電磁的ノイズは、シールド面をグランドネットにした方が低減される傾向にあることが経験的に分かってる。知識の豊富な熟練のユーザであればシールド面をグランドネットにすべきことは常識であり、当然のようにシールド面をグランドネットにする。しかしながら、このような知識の乏しいユーザはシールド面を電源ネットに接続するといった誤った設計を行う虞がある。このため、電磁的ノイズを低減する観点からは、知識の乏しいユーザが設計する場合であっても誤った設計を防止されるのが望ましい。   Furthermore, it has been empirically known that electromagnetic noise tends to be reduced when the shield surface is a ground net. It is common knowledge that a knowledgeable and experienced user should make the shield surface a ground net, and naturally the shield surface is made a ground net. However, such a user with poor knowledge may perform a wrong design such as connecting the shield surface to the power supply net. For this reason, from the viewpoint of reducing electromagnetic noise, it is desirable to prevent erroneous design even when a user with poor knowledge designs.

本発明は上記事情に鑑みてなされたものであり、シールド面の設計に関する知識に乏しいユーザであっても、電磁的ノイズを低減し得るシールド面を容易に設計することができる基板設計装置を提供することを目的とする。   The present invention has been made in view of the above circumstances, and provides a board design apparatus that can easily design a shield surface that can reduce electromagnetic noise even for a user who lacks knowledge about the design of the shield surface. The purpose is to do.

上記課題を解決するために、本発明の第1の態様による基板設計装置は、プリント基板の設計情報である基板データを用いて電磁的ノイズを遮蔽するシールド面の設計を行う基板設計装置(1)において、前記基板データに含まれる前記シールド面に関するデータから、前記シールド面の特徴的形状、前記プリント基板に配置される電子部品に対する前記シールド面の接続部位、及び前記シールド面の面形状の少なくとも1つを抽出して前記シールド面の電位を定めるための接続部を形成すべき位置を決定する位置決定部(31a)を備えることを特徴としている。
この発明によると、基板データに含まれるシールド面に関するデータから、シールド面の特徴的形状、プリント基板に配置される電子部品に対するシールド面の接続部位、及びシールド面の面形状の少なくとも1つが抽出されてシールド面の電位を定めるための接続部を形成すべき位置が決定される。
また、本発明の第1の態様による基板設計装置は、前記位置決定部によって決定された位置又は当該位置の周囲に配置されたパターンを、前記接続部を形成する上で障害とならないように再設定するパターン再設定部(31b)を備えることを特徴としている。
上記課題を解決するために、本発明の第2の態様による基板設計装置は、プリント基板の設計情報である基板データを用いて電磁的ノイズを遮蔽するシールド面の設計を行う基板設計装置(1)において、前記基板データに含まれる前記プリント基板の物理情報と前記プリント基板に形成される配線に関する情報とに基づいて、前記配線のインピーダンスの変化を引き起こすことのない前記配線に対する前記シールド面の最小のクリアランス値を算出する算出部(32b)を備えることを特徴としている。
この発明によると、基板データに含まれるプリント基板の物理情報とプリント基板に形成される配線に関する情報とに基づいて、配線のインピーダンスの変化を引き起こすことのない配線に対するシールド面の最小のクリアランス値が算出される。
また、本発明の第2の態様による基板設計装置は、前記配線に対する最小の間隔が前記算出部で算出された前記クリアランス値で示される間隔に保たれたシールド面を前記プリント基板上に作成するシールド面作成部(32c)を備えることを特徴としている。
上記課題を解決するために、本発明の第3の態様による基板設計装置は、プリント基板の設計情報である基板データを用いて電磁的ノイズを遮蔽するシールド面の設計を行う基板設計装置(1)において、前記基板データに含まれる前記シールド面に関するデータと、前記シールド面が形成された層に形成される第1配線及び前記シールド面が形成された層とは異なる層に形成される第2配線の少なくとも一方の配線に関するデータとを用いて、前記シールド面によって当該配線のインピーダンスの変化が引き起こされる変化点を検出する変化点検出部(33)を備えることを特徴としている。
この発明によると、基板データに含まれるシールド面に関するデータと、シールド面が形成された層に形成される第1配線及びシールド面が形成された層とは異なる層に形成される第2配線の少なくとも一方の配線に関するデータとを用いて、シールド面によって当該配線のインピーダンスの変化が引き起こされる変化点が検出される。
また、本発明の第3の態様による基板設計装置は、前記変化点検出部が、前記シールド面と前記第1配線との間隔が所定のクリアランス値で示される間隔よりも小であるか否か、又は、前記第2配線に対する前記シールド面の途切れが所定の許容幅以下であるか否かを判定することにより前記変化点を検出することを特徴としている。
In order to solve the above-described problem, a board design apparatus according to a first aspect of the present invention is a board design apparatus (1) that designs a shield surface that shields electromagnetic noise using board data that is design information of a printed board. ), From the data relating to the shield surface included in the substrate data, at least the characteristic shape of the shield surface, the connection portion of the shield surface to the electronic component disposed on the printed circuit board, and the surface shape of the shield surface A position determining unit (31a) for determining a position where a connecting portion for extracting one and determining the potential of the shield surface is to be formed is provided.
According to the present invention, at least one of the characteristic shape of the shield surface, the connection portion of the shield surface to the electronic component arranged on the printed circuit board, and the surface shape of the shield surface is extracted from the data regarding the shield surface included in the board data. Thus, a position where a connection portion for determining the potential of the shield surface is to be formed is determined.
In addition, the substrate design apparatus according to the first aspect of the present invention re-uses the position determined by the position determination unit or the pattern arranged around the position so as not to become an obstacle in forming the connection unit. A pattern resetting unit (31b) to be set is provided.
In order to solve the above-described problem, a board design apparatus according to a second aspect of the present invention is a board design apparatus (1) that designs a shield surface that shields electromagnetic noise using board data that is design information of a printed board. ), The minimum of the shield surface for the wiring without causing a change in impedance of the wiring based on physical information of the printed board included in the board data and information on the wiring formed on the printed board. It is characterized by comprising a calculation unit (32b) for calculating the clearance value.
According to this invention, based on the physical information of the printed circuit board included in the circuit board data and the information on the wiring formed on the printed circuit board, the minimum clearance value of the shield surface with respect to the wiring that does not cause a change in wiring impedance is obtained. Calculated.
The board designing apparatus according to the second aspect of the present invention creates a shield surface on the printed circuit board in which a minimum gap with respect to the wiring is maintained at a gap indicated by the clearance value calculated by the calculator. It is characterized by including a shield surface creation part (32c).
In order to solve the above-described problem, a board designing apparatus according to a third aspect of the present invention is a board designing apparatus for designing a shield surface that shields electromagnetic noise using board data that is printed board design information (1). ), The data relating to the shield surface included in the substrate data, and the first wiring formed in the layer in which the shield surface is formed and the second layer formed in a layer different from the layer in which the shield surface is formed. A change point detection unit (33) is provided that detects a change point at which a change in impedance of the wiring is caused by the shield surface using data related to at least one of the wirings.
According to the present invention, the data relating to the shield surface included in the substrate data, the first wiring formed in the layer on which the shield surface is formed, and the second wiring formed in a layer different from the layer on which the shield surface is formed. Using the data regarding at least one of the wirings, a change point at which a change in impedance of the wiring is caused by the shield surface is detected.
Further, in the board designing apparatus according to the third aspect of the present invention, the change point detection unit determines whether or not an interval between the shield surface and the first wiring is smaller than an interval indicated by a predetermined clearance value. Alternatively, the change point is detected by determining whether or not a break in the shield surface with respect to the second wiring is equal to or less than a predetermined allowable width.

本発明によれば、シールド面の電位を定めるための接続部を形成すべき位置を自動的に決定し、配線のインピーダンスの変化を引き起こすことのない配線に対するシールド面の最小のクリアランス値を算出し、又はシールド面によって配線のインピーダンスの変化が引き起こされる変化点を検出しているため、シールド面の設計に関する知識に乏しいユーザであっても、電磁的ノイズを低減し得るシールド面を容易に設計することができるという効果がある。   According to the present invention, the position for forming the connection portion for determining the potential of the shield surface is automatically determined, and the minimum clearance value of the shield surface for the wiring that does not cause a change in the impedance of the wiring is calculated. Since the change point at which the impedance change of the wiring is caused by the shield surface is detected, even a user who has little knowledge about the design of the shield surface easily designs a shield surface that can reduce electromagnetic noise. There is an effect that can be.

以下、図面を参照して本発明の一実施形態による基板設計装置について詳細に説明する。図1は、本発明の一実施形態による基板設計装置の要部構成を示すブロック図である。図1に示す通り、本実施形態の基板設計装置1は、設計装置本体11、入力装置12、及び表示装置13を備えており、ユーザによる入力装置12を介した指示に応じて設計装置本体11がプリント基板の設計を行い、その結果を表示装置13に適宜表示するものである。   Hereinafter, a substrate design apparatus according to an embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the drawings. FIG. 1 is a block diagram showing a main configuration of a substrate design apparatus according to an embodiment of the present invention. As shown in FIG. 1, the board design apparatus 1 of the present embodiment includes a design apparatus main body 11, an input device 12, and a display device 13. Designs the printed circuit board and displays the result on the display device 13 as appropriate.

設計装置本体11は、CPU(中央処理装置)21、RAM22、及びハードディスク23を備える。CPU21は、ハードディスク23に格納された各種のプログラム(図示省略)に従って、入力装置12を介したユーザの指示に応じたプリント基板の設計を行う。具体的には、CPU21がハードディスク23に格納された各種プログラムを読み出すことにより、CPU21上にはシールド面安定化部31、シールド面生成部32、及びインピーダンス変化点検出部33(変化点検出部)が実現され、これらが協働してプリント基板の設計を行う。   The design apparatus main body 11 includes a CPU (Central Processing Unit) 21, a RAM 22, and a hard disk 23. The CPU 21 designs a printed circuit board according to a user instruction via the input device 12 according to various programs (not shown) stored in the hard disk 23. Specifically, the CPU 21 reads out various programs stored in the hard disk 23, so that a shield surface stabilization unit 31, a shield surface generation unit 32, and an impedance change point detection unit 33 (change point detection unit) are displayed on the CPU 21. Is realized, and these cooperate to design a printed circuit board.

シールド面安定化部31は、バイア発生位置決定部31a(位置決定部)及びパターン再設定部31bを備えており、シールド面の電気的な共振を防止するために、プリント基板に形成されているシールド面を電気的に安定させる。バイア発生位置決定部31aは、ハードディスク23に記録されている基板データD1を読み出し、基板データD1に含まれるシールド面に関するデータからシールド面の特徴的形状(例えば、シールド面からの突出量が所定量以上の凸部)、他の電子部品に対するシールド面の接続部位、及びシールド面の面形状等を抽出する。   The shield surface stabilization unit 31 includes a via generation position determination unit 31a (position determination unit) and a pattern resetting unit 31b, and is formed on the printed circuit board to prevent electrical resonance of the shield surface. Electrically stabilize the shield surface. The via generation position determination unit 31a reads the board data D1 recorded on the hard disk 23, and determines the characteristic shape of the shield surface (for example, the protrusion amount from the shield surface is a predetermined amount from the data related to the shield surface included in the board data D1). The above convex portions), the connection part of the shield surface to other electronic components, the surface shape of the shield surface, and the like are extracted.

また、バイア発生位置決定部31aは、シールド面の特徴的形状が形成された位置及び他の電子部品に対するシールド面の接続部位の位置をバイア(引き落とし用バイア:接続部)の形成位置に決定し、抽出したシールド面の面形状から所定の間隔でバイアを配置可能な位置を決定する。ここで、引き落とし用バイアとは、シールド面を所定のパターンやベタ面に接続するための接続端子であって、シールド面の電位を定めるために用いられるものである。   In addition, the via generation position determination unit 31a determines the position where the characteristic shape of the shield surface is formed and the position of the connection part of the shield surface with respect to other electronic components as the formation position of the via (drawing via: connection part). The position where vias can be arranged at predetermined intervals is determined from the extracted surface shape of the shield surface. Here, the withdrawal via is a connection terminal for connecting the shield surface to a predetermined pattern or a solid surface, and is used to determine the potential of the shield surface.

図2は、バイア発生位置決定部31aで行われる処理を説明する図である。図2(a)に示す通り、プリント基板上には信号配線等の多数の配線41、配線41をプリント基板内又は裏面に形成された他の配線に接続するバイア42、電子部品の電極が接続されるランド43等に加えて、シールド面SL1が形成されている。バイア発生位置決定部31aは、例えば図2(a)において、符号P1を付して指し示す凸部をシールド面SL1の特徴的形状として抽出し、その凸部P1の位置を、バイアV1を形成すべき位置に決定する。尚、図2(a)に示した他のバイアV1についても同様の手順でその位置が決定される。   FIG. 2 is a diagram illustrating processing performed by the via occurrence position determination unit 31a. As shown in FIG. 2A, a large number of wirings 41 such as signal wirings, vias 42 that connect the wirings 41 to other wirings formed in the printed circuit board or on the back surface, and electrodes of electronic components are connected on the printed circuit board. In addition to the land 43 and the like, a shield surface SL1 is formed. For example, in FIG. 2A, the via generation position determination unit 31a extracts a convex portion indicated by reference numeral P1 as a characteristic shape of the shield surface SL1, and forms the via V1 at the position of the convex portion P1. Decide where it should be. The positions of other vias V1 shown in FIG. 2A are determined in the same procedure.

また、バイア発生位置決定部31aは、シールド面SL1の面形状から所定の間隔でバイアを配置可能な位置を決定する。具体的には、図2(a)に示すバイアV2の位置を決定する。図2(a)を参照すると、特徴的形状に基づいて位置決定されたバイアV1はシールド面SL1の周辺部に偏在しているが、シールド面SL1の面形状に基づいて位置決定されたバイアV2は離間して配置されたバイアV1の間に配置されるのが分かる。これにより、シールド面SL1の電位を定める位置がシールド面SL1において略均一化される。   The via generation position determination unit 31a determines a position where vias can be arranged at predetermined intervals from the surface shape of the shield surface SL1. Specifically, the position of the via V2 shown in FIG. Referring to FIG. 2 (a), the via V1 determined based on the characteristic shape is unevenly distributed in the peripheral portion of the shield surface SL1, but the via V2 determined based on the surface shape of the shield surface SL1. It can be seen that are located between the spaced apart vias V1. Thereby, the position which determines the electric potential of shield surface SL1 is made substantially uniform in shield surface SL1.

また、図2(b)に示す通り、プリント基板上には電子部品の電極が接続されるランド44,45とともにシールド面SL2,SL3が形成されている。バイア発生位置決定部31aは、例えば図2(b)において、電子部品が接続されるランド44に対するシールド面SL2の接続部P1及び電子部品が接続されるランド45に対するシールド面SL3の接続部P2の位置を抽出し、その位置をバイアV3,V4を形成すべき位置に決定する。   As shown in FIG. 2B, shield surfaces SL2 and SL3 are formed on the printed circuit board together with lands 44 and 45 to which electrodes of electronic components are connected. For example, in FIG. 2B, the via generation position determination unit 31a includes a connection portion P1 of the shield surface SL2 to the land 44 to which the electronic component is connected and a connection portion P2 of the shield surface SL3 to the land 45 to which the electronic component is connected. The position is extracted, and the position is determined as the position where vias V3 and V4 are to be formed.

パターン再設定部31bは、バイア発生位置決定部31aによって決定された位置、又はその位置の周囲に配置されたパターンを、バイアを形成する上で障害とならないように再設定する。例えば、プリント基板を平面視で見た場合に、シールド面が形成された層とは異なる層にバイアが形成されるべき位置を通るように配線が形成されている場合には、バイアが形成されるべき位置をその配線が迂回するように再設定する。尚、単なる迂回では対応できない場合には、その配線を引きはがして新たな配線をしても良い。   The pattern resetting unit 31b resets the position determined by the via generation position determining unit 31a or the pattern arranged around the position so as not to become an obstacle in forming the via. For example, when the printed circuit board is viewed in a plan view, if the wiring is formed so that the via should be formed in a layer different from the layer where the shield surface is formed, the via is formed. Reset the position to be bypassed by the wiring. Note that if it is not possible to deal with by simple detouring, the wiring may be peeled off and a new wiring may be provided.

シールド面生成部32は、属性チェック部32a、最適クリアランス算出部32b(算出部)、及びシールド面作成部32cを備えており、シールド面を作成する上で最適なクリアランス値を求め、このクリアランス値を用いてシールド面を作成する。属性チェック部32aは、作成されるシールド面の属性、具体的にはシールド面の属性がグランド属性であるか否かをチェックする。これは、シールド面が電源配線や信号配線に接続されてシールド面に電流が流れてシールド面から電磁的ノイズが発生するのを防止するためである。   The shield surface generation unit 32 includes an attribute check unit 32a, an optimum clearance calculation unit 32b (calculation unit), and a shield surface creation unit 32c. The shield surface generation unit 32 obtains an optimum clearance value for creating the shield surface, and this clearance value. Use to create a shield surface. The attribute check unit 32a checks whether the attribute of the shield surface to be created, specifically, the attribute of the shield surface is a ground attribute. This is to prevent the shield surface from being connected to the power supply wiring and the signal wiring and causing current to flow through the shield surface to generate electromagnetic noise from the shield surface.

最適クリアランス算出部32bは、ハードディスク23に記録された基板データD1に含まれるプリント基板の物理情報とプリント基板に形成される配線に関する情報とを読み出し、これらの情報に基づいて配線のインピーダンスの変化を引き起こすことのない配線に対するシールド面の最小のクリアランス値を算出する。図3は、最適クリアランス算出部32bで行われる処理の一例を説明する図である。   The optimum clearance calculation unit 32b reads the physical information of the printed circuit board included in the circuit board data D1 recorded on the hard disk 23 and the information related to the wiring formed on the printed circuit board, and changes the impedance of the wiring based on the information. Calculate the minimum clearance value of the shield surface for the wiring that does not cause. FIG. 3 is a diagram illustrating an example of processing performed by the optimum clearance calculation unit 32b.

図3(a)に示す通り、表面側に信号配線46とシールド面SL4とが形成され、裏面側にベタ面B1が形成されたプリント基板SBを考える。尚、基板SBの厚みはhであり、信号配線46の幅はSであり、信号配線46とシールド面SL4との間隔(パターン間隔)はWであるとする。かかる構成のプリント基板SBにおいて信号配線46の幅Sは変えずに、プリント基板SBの厚みhと、パターン間隔Wとを変化させた場合の特性インピーダンスは図3(b)に示す通り変化する。   As shown in FIG. 3A, consider a printed circuit board SB in which a signal wiring 46 and a shield surface SL4 are formed on the front surface side, and a solid surface B1 is formed on the back surface side. It is assumed that the thickness of the substrate SB is h, the width of the signal wiring 46 is S, and the interval (pattern interval) between the signal wiring 46 and the shield surface SL4 is W. In the printed board SB having such a configuration, the characteristic impedance when the thickness h of the printed board SB and the pattern interval W are changed without changing the width S of the signal wiring 46 changes as shown in FIG.

図3(b)を参照すると、パターン間隔Wを一定にしてプリント基板SBの厚みhを変化させると、厚みhが厚くなるに従って特性インピーダンスが上昇することが分かる。また、プリント基板SBの厚みhを一定にしてパターン間隔Wを変化させると、パターン間隔Wが広くなるにつれて特性インピーダンスが上昇することも分かる。ここで、パターン間隔Wを変化させる場合において、パターン間隔Wが0.3[mm]以下ではパターン間隔Wを変化させると特性インピーダンスも大きく変化するが、パターン間隔Wが0.5[mm]程度になるとパターン間隔Wを変化させても特性インピーダンスは殆ど変化しなくなる。   Referring to FIG. 3B, it can be seen that when the thickness h of the printed circuit board SB is changed while the pattern interval W is constant, the characteristic impedance increases as the thickness h increases. It can also be seen that if the pattern interval W is changed while the thickness h of the printed circuit board SB is kept constant, the characteristic impedance increases as the pattern interval W increases. Here, when the pattern interval W is changed, if the pattern interval W is 0.3 [mm] or less, the characteristic impedance changes greatly when the pattern interval W is changed, but the pattern interval W is about 0.5 [mm]. Then, even if the pattern interval W is changed, the characteristic impedance hardly changes.

このため、図3に示す例では、シールド面SL4のクリアランス値を0.5[mm]程度に設定すれば、特性インピーダンスの変化を引き起こすことは無い、或いは特性インピーダンスの変化が極めて小さいと言える。最適クリアランス算出部32bは、基板データD1に含まれるプリント基板の物理情報としてプリント基板の厚みや比誘電率等を読み出すとともに、プリント基板に形成される配線に関する情報として配線の幅等を読み出して図3(b)に示すパターン間隔Wと特性インピーダンスとの関係を求めて配線のインピーダンスの変化を引き起こすことのない配線に対するシールド面の最小のクリアランス値を算出する。尚、特性インピーダンスの算出方法はプリント基板の構造によって異なるため、最適クリアランス算出部32bは、プリント基板の構造に応じて適した方法で特性インピーダンスを求める必要がある。   For this reason, in the example shown in FIG. 3, if the clearance value of the shield surface SL4 is set to about 0.5 [mm], it can be said that the characteristic impedance does not change or the characteristic impedance changes very little. The optimum clearance calculation unit 32b reads the thickness of the printed circuit board and the relative dielectric constant as physical information of the printed circuit board included in the circuit board data D1, and reads the width of the wiring as information about the wiring formed on the printed circuit board. The relationship between the pattern interval W shown in 3 (b) and the characteristic impedance is obtained, and the minimum clearance value of the shield surface for the wiring that does not cause the change in the impedance of the wiring is calculated. Since the method for calculating the characteristic impedance differs depending on the structure of the printed circuit board, the optimum clearance calculating unit 32b needs to obtain the characteristic impedance by a method suitable for the structure of the printed circuit board.

シールド面作成部32cは、最適クリアランス算出部32で算出された最小のクリアランス値を用い、配線との間隔が最小のクリアランス値を下回らないシールド面をプリント基板上に作成する。ここで、シールド面作成部32cによって作成されるシールド面と配線との間隔は、最小のクリアランス値で示される間隔より広くても良い。但し、シールド面と配線との間隔を拡げすぎると、その隙間を介する電磁的ノイズが増大するため、最適クリアランス算出部32で算出された最小のクリアランス値と同程度にするのが望ましい。   The shield surface creation unit 32c uses the minimum clearance value calculated by the optimum clearance calculation unit 32 to create a shield surface on the printed circuit board that does not fall below the minimum clearance value with respect to the wiring. Here, the interval between the shield surface created by the shield surface creation unit 32c and the wiring may be wider than the interval indicated by the minimum clearance value. However, if the distance between the shield surface and the wiring is excessively widened, electromagnetic noise through the gap increases, and therefore it is desirable to make it the same as the minimum clearance value calculated by the optimum clearance calculation unit 32.

インピーダンス変化点検出部33は、同層インピーダンス変化点検出部33a及び隣接層インピーダンス変化点検出部33bを備えており、シールド面によって配線のインピーダンスの変化が引き起こされる変化点を検出する。同層インピーダンス変化点検出部33aは、内部に最適クリアランス算出部32bと同様の算出部(図示省略)を備えており、基板データD1からシールド面に関するデータとシールド面が形成された層に形成される配線(第1配線)に関するデータとを読み出してインピーダンスの変化を引き起こすことのない最小のクリアランス値を求める。そして、それらシールド面と配線との間隔が、最小のクリアランス値で示される間隔よりも小さいか否かによってインピーダンスの変化点を検出する。   The impedance change point detection unit 33 includes an in-layer impedance change point detection unit 33a and an adjacent layer impedance change point detection unit 33b, and detects a change point at which a change in the impedance of the wiring is caused by the shield surface. The same-layer impedance change point detection unit 33a includes a calculation unit (not shown) similar to the optimum clearance calculation unit 32b, and is formed in a layer in which the data related to the shield surface and the shield surface are formed from the substrate data D1. The minimum clearance value that does not cause a change in impedance is obtained by reading out data related to the wiring (first wiring). An impedance change point is detected based on whether or not the interval between the shield surface and the wiring is smaller than the interval indicated by the minimum clearance value.

隣接層インピーダンス変化点検出部33bは、基板データD1からシールド面に関するデータとシールド面が形成された層とは異なる層に形成される配線(第2配線)に関するデータとを読み出し、その配線に対するシールド面の途切れが所定の許容幅以下であるか否かを判定することによりインピーダンスの変化点を検出する。ここで、隣接層インピーダンス変化点検出部33bは、ハードディスク23に記録された判定データD2を用いてシールド面の途切れが所定の許容幅以下であるか否かを判定する。尚、上記の所定の許容幅は、プリント基板の構造(配線構造、材質、厚み等)を考慮してユーザにより設定される。   The adjacent layer impedance change point detection unit 33b reads the data related to the shield surface and the data related to the wiring (second wiring) formed in a layer different from the layer where the shield surface is formed from the substrate data D1, and shields the wiring. An impedance change point is detected by determining whether or not the surface break is equal to or less than a predetermined allowable width. Here, the adjacent layer impedance change point detection unit 33b uses the determination data D2 recorded in the hard disk 23 to determine whether or not the break of the shield surface is equal to or less than a predetermined allowable width. The predetermined allowable width is set by the user in consideration of the structure of the printed circuit board (wiring structure, material, thickness, etc.).

図4は、隣接層インピーダンス変化点検出部33bで行われる検出処理を説明するための図である。まず、図4(a)に示す通り、部分的にシールド面SL11が形成された層L11、配線51が形成された層L12、及びベタ面B11が形成された層L13を有するプリント基板を考える。かかるプリント基板を平面視で見ると、配線51の一部分(第1部分51a)のみがシールド面SL11によって覆われており、他の部分(第2部分51b)はシールド面SL11で覆われていない。このため、配線51の第1部分51aと第2部分51bとの境界でインピーダンスの変化が引き起こされる可能性がある。   FIG. 4 is a diagram for explaining the detection process performed by the adjacent layer impedance change point detection unit 33b. First, as shown in FIG. 4A, consider a printed circuit board having a layer L11 partially formed with a shield surface SL11, a layer L12 formed with a wiring 51, and a layer L13 formed with a solid surface B11. When the printed circuit board is viewed in plan view, only a part of the wiring 51 (first part 51a) is covered with the shield surface SL11, and the other part (second part 51b) is not covered with the shield surface SL11. For this reason, a change in impedance may be caused at the boundary between the first portion 51 a and the second portion 51 b of the wiring 51.

隣接層インピーダンス変化点検出部33bは、配線51の第1部分51aと第2部分51bとの境界を求め、シールド面SL11によって覆われていない第2部分51bの長さが、判定データD2で規定されている所定の許容幅以下であるか否かを判定する。図4(a)に示す例においては、隣接層インピーダンス変化点検出部33bは、配線51の第2部分51bの長さが上記の所定の許容幅よりも大であると判定し、配線51の第1部分51aと第2部分52bとの境界をインピーダンスの変化点として検出する。   The adjacent layer impedance change point detection unit 33b obtains the boundary between the first portion 51a and the second portion 51b of the wiring 51, and the length of the second portion 51b not covered by the shield surface SL11 is defined by the determination data D2. It is determined whether or not it is equal to or less than a predetermined allowable width. In the example illustrated in FIG. 4A, the adjacent layer impedance change point detection unit 33 b determines that the length of the second portion 51 b of the wiring 51 is greater than the predetermined allowable width, and the wiring 51 The boundary between the first portion 51a and the second portion 52b is detected as an impedance change point.

次に、図4(b)に示す通り、所定の間隔W1(所定の途切れ)をもって離間してシールド面SL21,SL22が形成された層L21、配線52が形成された層L22、及びベタ面B12が形成された層L23を有するプリント基板を考える。かかるプリント基板を平面視で見ると、シールド面SL21,SL22で覆われた配線52の部分(第1部分52a、第2部分52b)の間に、シールド面で覆われていない配線52の部分(第3部分52c)が存在する。   Next, as shown in FIG. 4B, the layer L21 with the shield surfaces SL21 and SL22 formed at a predetermined interval W1 (predetermined break), the layer L22 with the wiring 52 formed, and the solid surface B12. Consider a printed circuit board having a layer L23 in which is formed. When the printed circuit board is viewed in a plan view, the portion of the wiring 52 not covered with the shield surface (the first portion 52a and the second portion 52b) between the portions of the wiring 52 covered with the shield surfaces SL21 and SL22 (first portion 52a, second portion 52b). There is a third portion 52c).

隣接層インピーダンス変化点検出部33bは、上記と同様の処理により、まずシールド面SL21で覆われた配線52の第1部分52aとシールド面で覆われていない配線52の第3部分52cとの境界を求めるとともに、シールド面SL22で覆われた配線52の第2部分52bとシールド面で覆われていない配線52の第3部分52cとの境界を求める。そして、シールド面SL21,SL22によって覆われていない配線52の第3部分52cの長さが、判定データD2で規定されている所定の許容幅以下であるか否かを判定する。図4(b)に示す例においては、隣接層インピーダンス変化点検出部33bは、配線52の第3部分52cの長さが上記の所定の許容幅以下であると判定し、インピーダンスの変化点の検出は行わない。   The adjacent layer impedance change point detection unit 33b performs the same process as described above, first, the boundary between the first portion 52a of the wiring 52 covered with the shield surface SL21 and the third portion 52c of the wiring 52 not covered with the shield surface. And the boundary between the second portion 52b of the wiring 52 covered with the shield surface SL22 and the third portion 52c of the wiring 52 not covered with the shield surface. Then, it is determined whether or not the length of the third portion 52c of the wiring 52 that is not covered by the shield surfaces SL21 and SL22 is equal to or less than a predetermined allowable width defined by the determination data D2. In the example shown in FIG. 4B, the adjacent layer impedance change point detection unit 33b determines that the length of the third portion 52c of the wiring 52 is equal to or less than the predetermined allowable width, and determines the impedance change point. No detection is performed.

RAM22は、揮発性のメモリであり、CPU21で行われる処理で用いられる各種変数の値や、プリント基板の設計途中のデータ等を一時的に記憶する。ハードディスク23は、前述したユーザによって作成された基板データD1及び隣接層インピーダンス変化点検出部33bで用いられる判定データD2を記憶するとともに、図1中のシールド面安定化部31〜インピーダンス変化点検出部33を実現する各種プログラム(図示省略)を記憶する。   The RAM 22 is a volatile memory, and temporarily stores values of various variables used in processing performed by the CPU 21, data in the middle of designing the printed circuit board, and the like. The hard disk 23 stores the substrate data D1 created by the user and the determination data D2 used by the adjacent layer impedance change point detection unit 33b, and also includes the shield surface stabilization unit 31 to the impedance change point detection unit in FIG. Various programs (not shown) for realizing 33 are stored.

入力装置12は、キーボードやマウス等を備えており、ユーザの操作に応じた操作情報を設計装置本体11に出力する。表示装置13は、CRT(Cathode Ray Tube)又は液晶表示装置等を備えており、設計装置本体11で設計された結果を表示する。具体的には、生成されたシールド面をプリント基板上に表示し、或いはシールド面に接続されるバイアやインピーダンスの変化点等を表示する。   The input device 12 includes a keyboard, a mouse, and the like, and outputs operation information corresponding to a user operation to the design apparatus main body 11. The display device 13 includes a CRT (Cathode Ray Tube), a liquid crystal display device, or the like, and displays a result designed by the design device main body 11. Specifically, the generated shield surface is displayed on the printed circuit board, or vias connected to the shield surface, impedance change points, and the like are displayed.

次に、上記構成における基板設計装置1を用いたプリント基板の設計手順について説明する。本実施形態の基板設計装置1は、大別すると、シールド面を電気的に安定させるシールド面安定化、最適クリアランスを有するシールド面を生成するシールド面生成、及びインピーダンスの変化点を検出するインピーダンス変化点検出が可能である。以下これらの処理について順に説明する。   Next, a printed circuit board design procedure using the circuit board design apparatus 1 having the above-described configuration will be described. The board designing apparatus 1 according to the present embodiment can be broadly classified as follows: stabilization of a shield surface that electrically stabilizes the shield surface, generation of a shield surface that generates a shield surface having an optimum clearance, and impedance change that detects an impedance change point Point detection is possible. Hereinafter, these processes will be described in order.

〔シールド面安定化〕
図5は、シールド面安定化の処理手順を示すフローチャートである。シールド面安定化の処理が開始されると、シールド面安定化部31のバイア発生位置決定部31aがハードディスク23に記録されている基板データD1を読み出し、基板データD1に含まれるシールド面を特定する処理を行う(ステップS11)。具体的には、基板データD1の属性データを参照して、シールド面であるか否かを特定する。尚、基板データD1にシールド面が複数含まれている場合には、複数のシールド面が特定される。
[Shield surface stabilization]
FIG. 5 is a flowchart showing a processing procedure for shielding surface stabilization. When the shield surface stabilization process is started, the via generation position determination unit 31a of the shield surface stabilization unit 31 reads the substrate data D1 recorded on the hard disk 23 and specifies the shield surface included in the substrate data D1. Processing is performed (step S11). Specifically, it is specified whether or not it is a shield surface with reference to the attribute data of the substrate data D1. Note that when the board data D1 includes a plurality of shield surfaces, the plurality of shield surfaces are specified.

次に、バイア発生位置決定部31aは、ステップS11で特定されたシールド面から1つのシールド面を選択し、選択したシールド面の特徴的形状、他の電子部品に対するシールド面の接続部位、及びシールド面の面形状等を順に抽出する(ステップS12〜S14)。具体的には、図2(a)を用いて説明した通り、シールド面SL1からの突出量が所定量以上の凸部P1等の抽出し、この凸部P1の位置を、バイアV1を形成すべき位置に決定する。また、図2(b)に示す通り、電子部品が接続されるランド44に対するシールド面SL2の接続部P1及び電子部品が接続されるランド45に対するシールド面SL3の接続部P2の位置を抽出し、その位置をバイアV3,V4を形成すべき位置に決定する。更に、図2(a)に示す通り、シールド面の面形状から、所定の間隔をもって配置するバイアV2の位置を決定する。   Next, the via generation position determination unit 31a selects one shield surface from the shield surfaces specified in step S11, the characteristic shape of the selected shield surface, the connection portion of the shield surface with respect to another electronic component, and the shield The surface shape and the like of the surfaces are extracted in order (steps S12 to S14). Specifically, as described with reference to FIG. 2A, the protrusions P1 and the like whose protrusion amount from the shield surface SL1 is a predetermined amount or more are extracted, and the position of the protrusion P1 forms the via V1. Decide where it should be. Further, as shown in FIG. 2B, the positions of the connection portion P1 of the shield surface SL2 with respect to the land 44 to which the electronic component is connected and the connection portion P2 of the shield surface SL3 with respect to the land 45 to which the electronic component is connected are extracted. The position is determined as a position where the vias V3 and V4 are to be formed. Further, as shown in FIG. 2A, the position of the via V2 arranged at a predetermined interval is determined from the surface shape of the shield surface.

以上の処理が終了すると、シールド面安定化部31は、ステップS12〜S14で抽出・決定した抽出位置に、既にバイアが配置されているか否かを判定する(ステップS15)。この判断結果が「NO」の場合には、パターン再設定部31bは、バイア発生位置決定部31aによって決定された位置、又はその位置の周囲に配置されたパターンを、バイアを形成する上で障害とならないように再設定する(ステップS16)。例えば、プリント基板を平面視で見た場合に、シールド面が形成された層とは異なる層にバイアが形成されるべき位置を通るように配線が形成されている場合には、バイアが形成されるべき位置をその配線が迂回するように再設定する。   When the above processing ends, the shield surface stabilization unit 31 determines whether or not a via is already arranged at the extraction position extracted and determined in steps S12 to S14 (step S15). When this determination result is “NO”, the pattern resetting unit 31b has trouble in forming a via in the position determined by the via occurrence position determining unit 31a or the pattern arranged around the position. It resets so that it may not become (Step S16). For example, when the printed circuit board is viewed in a plan view, if the wiring is formed so that the via should be formed in a layer different from the layer where the shield surface is formed, the via is formed. Reset the position to be bypassed by the wiring.

次に、パターン再設定部31bは、以上のパターン再設定が成功したか否かを判断する(ステップS17)。成功したと判断した場合(判断結果が「YES」の場合)には、パターン再設定部31bはその位置にバイアを作成する(ステップS18)。これに対し、パターン再設定が失敗したと判断した場合(判断結果が「NO」の場合)には、バイアの配置が必要なその位置に所定のマークを付す処理を行う(ステップS19)。かかるマークを付すことによって、その位置にバイアを配置する必要があるが、他のパターンとの関係で自動配置ができなかった旨をユーザが後から把握することができる。   Next, the pattern resetting unit 31b determines whether or not the above pattern resetting is successful (step S17). If it is determined that it has succeeded (when the determination result is “YES”), the pattern resetting unit 31b creates a via at that position (step S18). On the other hand, when it is determined that the pattern resetting has failed (when the determination result is “NO”), a process of attaching a predetermined mark to the position where the via arrangement is required is performed (step S19). By attaching such a mark, it is necessary to place a via at that position, but the user can later recognize that automatic placement has failed due to other patterns.

以上の処理が終了した場合、或いはステップS15の判断結果が「YES」の場合には、シールド面安定化部31はステップS12〜S14で抽出された抽出位置のうち、残りの抽出位置が有るか否かを判断する(ステップS20)。残りの抽出位置があると判断した場合(判断結果が「YES」の場合)には、ステップS15の処理に戻り、残りの抽出位置が無いと判断した場合(判断結果が「NO」の場合)には、ステップS11で特定されたシールド面のうち、残りのシールド面が有るか否かが判断される(ステップS21)。   When the above processing is completed or when the determination result in step S15 is “YES”, the shield surface stabilization unit 31 has the remaining extraction positions among the extraction positions extracted in steps S12 to S14. It is determined whether or not (step S20). When it is determined that there are remaining extraction positions (when the determination result is “YES”), the process returns to step S15, and when it is determined that there are no remaining extraction positions (when the determination result is “NO”). In step S21, it is determined whether or not there is a remaining shield surface among the shield surfaces identified in step S11.

残りのシールド面があると判断した場合(ステップS21の判断結果が「YES」の場合)には、ステップS12の処理に戻る。一方、残りのシールド面が無いと判断した場合(ステップS21の判断結果が「NO」の場合)には、シールド面安定化部31は、ステップS18で作成したバイアに関する情報又はステップS19で付したマークに関する情報を表示装置13に表示するとともに、ハードディスク23の基板データD1に書き込んで追加する(ステップS22)。以上の処理によって、シールド面安定化の一連の処理が終了する。作成されたバイアは、例えば図2(a)中のバイアV1,V2や図2(b)中のバイアV3,V4ように表示される。   When it is determined that there is a remaining shield surface (when the determination result of step S21 is “YES”), the process returns to step S12. On the other hand, when it is determined that there is no remaining shield surface (when the determination result of step S21 is “NO”), the shield surface stabilization unit 31 adds the information about the via created in step S18 or in step S19. Information about the mark is displayed on the display device 13 and is written and added to the substrate data D1 of the hard disk 23 (step S22). With the above processing, a series of processing for stabilizing the shield surface is completed. The created vias are displayed as, for example, vias V1 and V2 in FIG. 2A and vias V3 and V4 in FIG.

以上説明した、シールド面安定化では、基板データD1に含まれるシールド面に関するデータから、シールド面の特徴的形状、電子部品に対するシールド面の接続部位、及びシールド面の面形状の少なくとも1つが抽出され、バイアを形成すべき位置が自動的に決定されるとともにバイアが自動配置されている。このため、シールド面の設計に関する知識に乏しいユーザであっても、電磁的ノイズを低減し得るシールド面を容易に設計することができる。また、バイアを形成する上で障害とならないように、自動配置されたバイアの位置又はその位置の周囲に配置されたパターンが再設定されるため、効率的にシールド面の設計を行うことができる。   In the shield surface stabilization described above, at least one of the characteristic shape of the shield surface, the connection part of the shield surface to the electronic component, and the surface shape of the shield surface is extracted from the data regarding the shield surface included in the board data D1. The positions where vias are to be formed are automatically determined and vias are automatically arranged. For this reason, even a user who lacks knowledge regarding the design of the shield surface can easily design a shield surface that can reduce electromagnetic noise. In addition, the position of the automatically arranged via or the pattern arranged around the position is reset so as not to become an obstacle in forming the via, so that the shield surface can be efficiently designed. .

〔シールド面生成〕
図6は、シールド面生成の処理手順を示すフローチャートである。シールド面生成の処理が開始されると、まずユーザの操作によってシールド面を作成するための各種データの入力が行われる。具体的には、まずユーザが表示装置13の表示内容を参照しつつ入力装置12を操作して、シールド面を作成するネットを入力する(ステップS31)。
[Shield surface generation]
FIG. 6 is a flowchart showing a processing procedure for generating a shield surface. When the shield surface generation process is started, first, various data for creating the shield surface is input by a user operation. Specifically, first, the user operates the input device 12 while referring to the display content of the display device 13 to input a net for creating a shield surface (step S31).

すると、シールド面生成部32の属性チェック部32aが入力されたネットの属性がグランド属性であるか否かをチェックする(ステップS32)。入力されたネットがグランド属性ではないと判断した場合(判断結果が「NO」である場合)には、属性チェック部32aは表示装置13に対してエラー表示を行う(ステップS13)。尚、かかるエラー表示がなされた場合には、図6に示す一連の処理が終了する。   Then, the attribute check unit 32a of the shield surface generation unit 32 checks whether or not the input net attribute is a ground attribute (step S32). If it is determined that the input net does not have the ground attribute (when the determination result is “NO”), the attribute check unit 32a displays an error on the display device 13 (step S13). Note that when such an error display is made, the series of processing shown in FIG. 6 ends.

一方、入力されたネットがグランド属性であると属性チェック部32aが判断した場合(判断結果が「YES」の場合)には、次のデータの入力に進む。具体的には、ユーザが表示装置13の表示内容を参照しつつ入力装置12を操作して、シールド面を作成するプリント基板の層を入力し(ステップS34)、次いでシールド面を作成する領域(プリント基板の表面に平行な面内における領域)を入力する(ステップS35)。   On the other hand, when the attribute check unit 32a determines that the input net has the ground attribute (when the determination result is “YES”), the process proceeds to input of the next data. Specifically, the user operates the input device 12 while referring to the display content of the display device 13 to input the layer of the printed circuit board for creating the shield surface (step S34), and then the region for creating the shield surface ( A region in a plane parallel to the surface of the printed circuit board is input (step S35).

以上の入力が終了すると、最適クリアランス算出部32bがハードディスク23に記録された基板データD1を読み出し、ステップS35で入力された領域内に配置された信号パターンの幅を探索する(ステップS36)。ここで、幅が異なる信号パターンが複数存在する場合には、各々の信号パターンの幅を探索する。また、最適クリアランス算出部32bは、ハードディスク23に記録された基板データD1に含まれるプリント基板の物理情報(厚みや比誘電率等)も読み出す。そして、得られた物理情報、シールド面が作成される層を示す情報、信号パターンの幅から、図3を用いて説明した手法を用いて最適なクリアランス値を算出する(ステップS37)。   When the above input is completed, the optimum clearance calculation unit 32b reads the substrate data D1 recorded on the hard disk 23, and searches for the width of the signal pattern arranged in the area input in step S35 (step S36). Here, when there are a plurality of signal patterns having different widths, the width of each signal pattern is searched. The optimum clearance calculation unit 32b also reads physical information (thickness, relative dielectric constant, etc.) of the printed circuit board included in the substrate data D1 recorded on the hard disk 23. Then, an optimum clearance value is calculated from the obtained physical information, information indicating the layer on which the shield surface is created, and the width of the signal pattern, using the method described with reference to FIG. 3 (step S37).

次に、シールド面作成部32cは、最適クリアランス算出部32で算出された最小のクリアランス値を用い、信号パターンとの間隔が最小のクリアランス値を下回らないシールド面をプリント基板上に作成する(ステップS38)。尚、電磁的ノイズの増大を招かなければシールド面作成部32cによって作成されるシールド面と配線との間隔は、最小のクリアランス値で示される間隔より広くても良い。以上の処理が終了すると、シールド面生成部32は、シールド面作成部32によって作成されたシールド面を表示装置13に表示するとともに、ハードディスク23の基板データD1に書き込んで追加する(ステップS39)。以上の処理によって、シールド面生成の一連の処理が終了する。   Next, the shield surface creation unit 32c uses the minimum clearance value calculated by the optimum clearance calculation unit 32 to create a shield surface on the printed circuit board that does not fall below the minimum clearance value with the signal pattern (step) S38). If the electromagnetic noise is not increased, the distance between the shield surface created by the shield surface creation unit 32c and the wiring may be wider than the distance indicated by the minimum clearance value. When the above processing is completed, the shield surface generation unit 32 displays the shield surface created by the shield surface creation unit 32 on the display device 13 and writes and adds it to the substrate data D1 of the hard disk 23 (step S39). With the above processing, a series of processing for generating the shield surface is completed.

以上説明した、シールド面生成では、基板データD1に含まれるプリント基板の物理情報とプリント基板に形成される配線に関する情報とに基づいて、配線のインピーダンスの変化を引き起こすことのない配線に対するシールド面の最小のクリアランス値が算出され、配線に対する最小の間隔がこのクリアランス値で示される間隔に保たれたシールド面がプリント基板上に作成される。このため、シールド面の設計に関する知識に乏しいユーザであっても、配線のインピーダンスの変化を招かずに電磁的ノイズを低減し得るシールド面を容易に設計することができる。また、作成されるシールド面の属性チェックが行われるため、シールド面が誤って電源配線や信号配線に接続されてシールド面に流れる電流により、シールド面から電磁的ノイズが発生するといった事態を防止することができる。   In the shield surface generation described above, based on the physical information of the printed circuit board included in the substrate data D1 and the information on the wiring formed on the printed circuit board, the shield surface for the wiring that does not cause a change in the impedance of the wiring. A minimum clearance value is calculated, and a shield surface is created on the printed circuit board in which the minimum interval with respect to the wiring is maintained at the interval indicated by the clearance value. For this reason, even a user who lacks knowledge about the design of the shield surface can easily design a shield surface that can reduce electromagnetic noise without causing a change in the impedance of the wiring. In addition, since the attribute of the shield surface to be created is checked, it is possible to prevent a situation in which electromagnetic noise is generated from the shield surface due to the current flowing through the shield surface due to the shield surface being accidentally connected to the power supply wiring or signal wiring. be able to.

〔インピーダンス変化点検出〕
図7は、インピーダンス変化点検出の処理手順を示すフローチャートである。インピーダンス変化点検出の処理が開始されると、まずユーザの操作によってインピーダンスの変化点を検出するための検出条件の入力が行われる(ステップS41)。例えば、シールド面の途切れ(図4に示すシールド面SL21,SL22の間隔W1)の許容幅がユーザによって入力される。次いで、ユーザが表示装置13の表示内容を参照しつつ入力装置12を操作して、インピーダンスの変化点を検出する領域(プリント基板の表面に平行な面内における領域)を入力する(ステップS42)。
[Impedance change point detection]
FIG. 7 is a flowchart showing a processing procedure for impedance change point detection. When the impedance change point detection process is started, a detection condition for detecting an impedance change point is first input by a user operation (step S41). For example, the allowable width of the interruption of the shield surface (interval W1 between the shield surfaces SL21 and SL22 shown in FIG. 4) is input by the user. Next, the user operates the input device 12 while referring to the display content of the display device 13 to input a region for detecting the impedance change point (a region in a plane parallel to the surface of the printed circuit board) (step S42). .

以上の入力が終了すると、インピーダンス変化点検出部33の同層インピーダンス変化点検出部33がハードディスク23に記録された基板データD1を読み出し、ステップS42で入力された領域内において、シールド面が形成された層と同層に形成されている配線ストリングを抽出する(ステップS43)。ここで、配線ストリングとは、プリント基板の任意の1つの層内において、その層に形成された任意の2つの接続部(端子、バイア)間を接続する配線の一つながり部分をいう。尚、配線が分岐している場合には、その配線について複数の配線ストリングが抽出される場合もある。   When the above input is completed, the impedance change point detector 33 of the impedance change point detector 33 reads the substrate data D1 recorded on the hard disk 23, and a shield surface is formed in the region input in step S42. A wiring string formed in the same layer as the other layer is extracted (step S43). Here, the wiring string refers to a continuous portion of wiring that connects between any two connection portions (terminals, vias) formed in the layer in any one layer of the printed circuit board. If the wiring is branched, a plurality of wiring strings may be extracted for the wiring.

配線ストリングの抽出を終えると、同層インピーダンス変化点検出部33aは、ステップS43で抽出された配線ストリングがインピーダンスの変化点の検出を行う必要のある配線ストリングであるか否かを判断する(ステップS44)。具体的に、同層インピーダンス変化点検出部33aは、抽出された配線ストリングが、配線長の制限が課されている配線、等長配線である配線、又は差動ペア信号配線等のように何らかの制限が課されている配線に係るものであるか否かにより、インピーダンスの変化点の検出を行う必要のある配線ストリングであるか否かを判断する。   When the extraction of the wiring string is completed, the impedance change point detection unit 33a in the same layer determines whether or not the wiring string extracted in step S43 is a wiring string that needs to detect the impedance changing point (step). S44). Specifically, the same-layer impedance change point detection unit 33a uses an extracted wiring string such as a wiring with a limited wiring length, a wiring with an equal length wiring, or a differential pair signal wiring. It is determined whether or not the wiring string needs to detect the impedance change point depending on whether or not the wiring is restricted.

尚、ここでは、配線に課された制限によってインピーダンスの変化点の検出を行う必要のある配線ストリングであるか否かの判断を行う場合について説明する。しかしながら、予めプリント基板に形成される配線毎にインピーダンスの変化点の検出を行う必要のある配線ストリングであるか否かを示すリスト情報を作成しておき、このリスト情報に基づいてステップS44の判断を行っても良い。   Here, a case will be described in which it is determined whether or not the wiring string needs to detect the impedance change point due to the restriction imposed on the wiring. However, list information indicating whether or not the wiring change string needs to be detected in advance for each wiring formed on the printed circuit board is created, and the determination in step S44 is performed based on the list information. May be performed.

ステップS44において、インピーダンスの変化点の検出を行う必要のある配線ストリングであると判断した場合(判断結果が「YES」の場合)には、隣接層インピーダンス変化点検出部33bが、対象とする配線ストリングを覆う他の層の面データを収集する(ステップS45)。例えば、図4(b)に示す例において、対象とする配線ストリングが配線52にかかるものである場合には、層L21に形成されたシールド面SL21,SL22及び層L23に形成されたベタ面B12に関する面データを収集する。尚、ここでは、隣接する2層についての面データを収集する場合を例に挙げるが、プリント基板に形成された全ての層の面データを収集しても良い。   In step S44, when it is determined that the wiring string needs to detect the impedance change point (when the determination result is “YES”), the adjacent layer impedance change point detection unit 33b performs the target wiring. Surface data of other layers covering the string is collected (step S45). For example, in the example shown in FIG. 4B, when the target wiring string is applied to the wiring 52, the shield surfaces SL21 and SL22 formed on the layer L21 and the solid surface B12 formed on the layer L23. Collect aspect data on. In this example, surface data for two adjacent layers is collected as an example, but surface data for all layers formed on the printed circuit board may be collected.

次に、隣接層インピーダンス変化点検出部33bは、ステップS45で収集した面データを用いて、シールド面の途切れ(図4に示すシールド面SL21,SL22の間隔W1)が判定データD2で規定される許容幅以下であるか否かを判定する(ステップS46)。シールド面の途切れが許容値よりも大であると判定した場合(ステップS46の判定結果が「NO」である場合)には、インピーダンス変化点をRAM22等に蓄積する(ステップS47)。例えば、図4(a)に示す例においては、配線51の第1部分51aと第2部分52bとの境界をインピーダンスの変化点として検出して蓄積する。   Next, the adjacent layer impedance change point detector 33b uses the surface data collected in step S45 to define the interruption of the shield surface (the interval W1 between the shield surfaces SL21 and SL22 shown in FIG. 4) by the determination data D2. It is determined whether or not the width is less than the allowable width (step S46). When it is determined that the interruption of the shield surface is larger than the allowable value (when the determination result of step S46 is “NO”), the impedance change point is accumulated in the RAM 22 or the like (step S47). For example, in the example shown in FIG. 4A, the boundary between the first portion 51a and the second portion 52b of the wiring 51 is detected and accumulated as an impedance change point.

一方、シールド面の途切れが許容値以下であると判定した場合(ステップS46の判定結果が「YES」である場合)、又は、ステップS47の処理を終えた場合には、同層インピーダンス変化点検出部33aが、対象とする配線ストリングが形成された層と同じ層に形成された面であって、その配線ストリングの近くにある面を特定する(ステップS48)。そして、ステップS48で特定された面が、対象配線のインピーダンスの変化を引き起こすことのない最小のクリアランス値(最適クリアランス値)を算出する(ステップS49)。   On the other hand, when it is determined that the shield surface break is less than or equal to the allowable value (when the determination result of step S46 is “YES”), or when the process of step S47 is completed, the same-layer impedance change point detection is performed. The part 33a identifies a surface that is formed in the same layer as the layer on which the target wiring string is formed and that is near the wiring string (step S48). Then, the minimum clearance value (optimum clearance value) that does not cause the impedance of the target wiring to be changed by the surface specified in step S48 is calculated (step S49).

次に、同層インピーダンス変化点検出部33aは、ステップS48で特定された面と対象とする配線ストリングとの間隔が、ステップS49で算出された最適クリアランス値以上であるか否かを判定する(ステップS50)。ステップS48で特定された面と対象とする配線ストリングとの間隔が、最適クリアランス値よりも小であると判定した場合(判断結果が「NO」である場合)には、インピーダンス変化点をRAM22等に蓄積する(ステップS51)。   Next, the same-layer impedance change point detection unit 33a determines whether or not the distance between the surface specified in step S48 and the target wiring string is equal to or larger than the optimum clearance value calculated in step S49 ( Step S50). When it is determined that the distance between the surface specified in step S48 and the target wiring string is smaller than the optimum clearance value (when the determination result is “NO”), the impedance change point is set to the RAM 22 or the like. (Step S51).

一方、ステップS50の判定結果が「YES」である場合、ステップS44の判断結果が「NO」である場合、又はステップS51の処理を終えた場合には、インピーダンス変化点検出部33は、ステップS43で抽出された残りの配線ストリングが有るか否かを判断する(ステップS52)。この判断結果が「YES」の場合にはステップS44の処理に戻り、「NO」の場合にはインピーダンス変化点検出部33が表示装置13に結果を表示する(ステップS53)。具体的には、ステップS47,S51の処理で蓄積されたインピーダンス変化点が有る場合には、その変化点の基板上における位置を表示装置13に表示する。   On the other hand, when the determination result of step S50 is “YES”, the determination result of step S44 is “NO”, or when the process of step S51 is completed, the impedance change point detection unit 33 performs step S43. It is determined whether or not there is a remaining wiring string extracted in step S52. If the determination result is “YES”, the process returns to step S44. If the determination result is “NO”, the impedance change point detection unit 33 displays the result on the display device 13 (step S53). Specifically, when there is an impedance change point accumulated in the processes of steps S47 and S51, the position of the change point on the substrate is displayed on the display device 13.

以上説明した、インピーダンス変化点検出では、基板データD1に含まれるシールド面に関するデータと、シールド面が形成された層に形成される配線(第1配線)及びシールド面が形成された層とは異なる層に形成される配線(第2配線)の少なくとも一方の配線に関するデータとを用いて、シールド面によって配線のインピーダンスの変化が引き起こされる変化点が検出される。このため、シールド面の設計に関する知識に乏しいユーザであっても、自動的に検出されたインピーダンスの変化点を解消し得る対策(例えば、シールド面の再設計)を施せば、電磁的ノイズを低減させることができる。   In the impedance change point detection described above, the data related to the shield surface included in the substrate data D1 is different from the wiring (first wiring) formed on the layer on which the shield surface is formed and the layer on which the shield surface is formed. Using the data related to at least one of the wirings (second wirings) formed in the layer, a change point at which a change in the impedance of the wiring is caused by the shield surface is detected. For this reason, electromagnetic noise can be reduced by taking measures (for example, redesigning the shield surface) that can eliminate the impedance change point that is automatically detected, even for users with limited knowledge about the shield surface design. Can be made.

以上説明した通り、本実施形態では、シールド面安定化においてシールド面に対するバイアが自動配置され、シールド面生成において最適クリアランスを有するシールド面の自動作成が行われ、インピーダンス変化点検出においてインピーダンスの変化点の検出が自動的に行われるため、シールド面の設計に関する知識に乏しいユーザであっても、電磁的ノイズを低減し得るシールド面を容易に設計することができる。   As described above, in this embodiment, vias are automatically arranged for the shield surface in the shield surface stabilization, the shield surface having the optimum clearance is automatically created in the shield surface generation, and the impedance change point in the impedance change point detection. Therefore, even a user who lacks knowledge about the design of the shield surface can easily design a shield surface that can reduce electromagnetic noise.

また、本実施形態では、設計に要する時間を短縮することができるとともに、プリント基板から放射されるノイズがユーザ(基板設計者)のスキルに大きく左右されるといった事態を防止することもできる。更に、設計されたシールド面を表示装置13に表示することができるため、設計者への教育的効果も得られる。   Further, in the present embodiment, it is possible to reduce the time required for the design, and it is possible to prevent a situation in which noise radiated from the printed circuit board is greatly influenced by the skill of the user (board designer). Furthermore, since the designed shield surface can be displayed on the display device 13, an educational effect for the designer can be obtained.

以上、本発明の実施形態による基板設計装置について説明したが、本発明は上記実施形態に制限されることなく、本発明の範囲内で自由に変更が可能である。例えば、上述した実施形態では、説明の簡単のために、シールド面安定化、シールド面生成、及びインピーダンス変化点検出を個別に説明した。しかしながら、まず図6に示すシールド面生成でシールド面を作成し、これにより作成されたシールド面を安定化するために図5に示すシールド面安定化でバイアを作成し、また、作成されたシールド面に起因する配線のインピーダンスの変化点の検出を図7に示すインピーダンス変化点検出にて行うのが望ましい。   As described above, the substrate design apparatus according to the embodiment of the present invention has been described, but the present invention is not limited to the above embodiment, and can be freely changed within the scope of the present invention. For example, in the above-described embodiment, the shield surface stabilization, shield surface generation, and impedance change point detection are individually described for the sake of simplicity. However, first, a shield surface is created by generating the shield surface shown in FIG. 6, and a via is created by stabilizing the shield surface shown in FIG. 5 in order to stabilize the created shield surface. It is desirable to detect the change point of the impedance of the wiring due to the surface by the impedance change point detection shown in FIG.

本発明の一実施形態による基板設計装置の要部構成を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the principal part structure of the board | substrate design apparatus by one Embodiment of this invention. バイア発生位置決定部31aで行われる処理を説明する図である。It is a figure explaining the process performed by the via generation position determination part 31a. 最適クリアランス算出部32bで行われる処理の一例を説明する図である。It is a figure explaining an example of the process performed in the optimal clearance calculation part 32b. 隣接層インピーダンス変化点検出部33bで行われる検出処理を説明するための図である。It is a figure for demonstrating the detection process performed in the adjacent layer impedance change point detection part 33b. シールド面安定化の処理手順を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows the process sequence of shield surface stabilization. シールド面生成の処理手順を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows the process sequence of a shield surface production | generation. インピーダンス変化点検出の処理手順を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows the process sequence of an impedance change point detection. シールド面によって引き起こされる配線のインピーダンス変化点を説明する図である。It is a figure explaining the impedance change point of the wiring caused by the shield surface.

符号の説明Explanation of symbols

1 基板設計装置
31 シールド面安定化部
31a バイア発生位置決定部
31b パターン再設定部
32 シールド面生成部
32b 最適クリアランス算出部
32c シールド面作成部
33 インピーダンス変化点検出部
33a 同層インピーダンス変化点検出部
33b 隣接層インピーダンス変化点検出部
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Board | substrate design apparatus 31 Shield surface stabilization part 31a Via generation | occurrence | production position determination part 31b Pattern reset part 32 Shield surface production | generation part 32b Optimum clearance calculation part 32c Shield surface preparation part 33 Impedance change point detection part 33a Same layer impedance change point detection part 33b Adjacent layer impedance change point detector

Claims (6)

プリント基板の設計情報である基板データを用いて電磁的ノイズを遮蔽するシールド面の設計を行う基板設計装置において、
前記基板データに含まれる前記シールド面に関するデータから、前記シールド面の特徴的形状、前記プリント基板に配置される電子部品に対する前記シールド面の接続部位、及び前記シールド面の面形状の少なくとも1つを抽出して前記シールド面の電位を定めるための接続部を形成すべき位置を決定する位置決定部を備えることを特徴とする基板設計装置。
In a board design device that designs a shield surface that shields electromagnetic noise using board data that is design information of a printed circuit board,
From the data regarding the shield surface included in the substrate data, at least one of a characteristic shape of the shield surface, a connection portion of the shield surface with respect to an electronic component disposed on the printed circuit board, and a surface shape of the shield surface is obtained. A substrate design apparatus comprising: a position determining unit that determines a position where a connection part for extracting and determining a potential of the shield surface is to be formed.
前記位置決定部によって決定された位置又は当該位置の周囲に配置されたパターンを、前記接続部を形成する上で障害とならないように再設定するパターン再設定部を備えることを特徴とする請求項1記載の基板設計装置。   A pattern resetting unit that resets the position determined by the position determination unit or a pattern arranged around the position so as not to be an obstacle in forming the connection unit. 1. The board design apparatus according to 1. プリント基板の設計情報である基板データを用いて電磁的ノイズを遮蔽するシールド面の設計を行う基板設計装置において、
前記基板データに含まれる前記プリント基板の物理情報と前記プリント基板に形成される配線に関する情報とに基づいて、前記配線のインピーダンスの変化を引き起こすことのない前記配線に対する前記シールド面の最小のクリアランス値を算出する算出部を備えることを特徴とする基板設計装置。
In a board design device that designs a shield surface that shields electromagnetic noise using board data that is design information of a printed circuit board,
Based on physical information of the printed circuit board included in the circuit board data and information on the wiring formed on the printed circuit board, the minimum clearance value of the shield surface with respect to the wiring without causing a change in impedance of the wiring A board design apparatus comprising a calculation unit for calculating
前記配線に対する最小の間隔が前記算出部で算出された前記クリアランス値で示される間隔に保たれたシールド面を前記プリント基板上に作成するシールド面作成部を備えることを特徴とする請求項3記載の基板設計装置。   4. A shield surface creation unit that creates a shield surface on the printed circuit board, the shield surface having a minimum interval with respect to the wiring maintained at an interval indicated by the clearance value calculated by the calculation unit. Board design equipment. プリント基板の設計情報である基板データを用いて電磁的ノイズを遮蔽するシールド面の設計を行う基板設計装置において、
前記基板データに含まれる前記シールド面に関するデータと、前記シールド面が形成された層に形成される第1配線及び前記シールド面が形成された層とは異なる層に形成される第2配線の少なくとも一方の配線に関するデータとを用いて、前記シールド面によって当該配線のインピーダンスの変化が引き起こされる変化点を検出する変化点検出部を備えることを特徴とする基板設計装置。
In a board design device that designs a shield surface that shields electromagnetic noise using board data that is design information of a printed circuit board,
At least the data related to the shield surface included in the substrate data, the first wiring formed in the layer where the shield surface is formed, and the second wiring formed in a layer different from the layer where the shield surface is formed A board design apparatus comprising: a change point detection unit that detects a change point at which a change in impedance of the wiring is caused by the shield surface using data related to one wiring.
前記変化点検出部は、前記シールド面と前記第1配線との間隔が所定のクリアランス値で示される間隔よりも小であるか否か、又は、前記第2配線に対する前記シールド面の途切れが所定の許容幅以下であるか否かを判定することにより前記変化点を検出することを特徴とする請求項5記載の基板設計装置。   The change point detection unit determines whether or not the interval between the shield surface and the first wiring is smaller than the interval indicated by a predetermined clearance value, or the interruption of the shield surface with respect to the second wiring is predetermined. 6. The substrate design apparatus according to claim 5, wherein the change point is detected by determining whether or not the allowable width is equal to or less than the allowable range.
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