JP4181112B2 - Substrate height reference point automatic setting method - Google Patents

Substrate height reference point automatic setting method Download PDF

Info

Publication number
JP4181112B2
JP4181112B2 JP2004381195A JP2004381195A JP4181112B2 JP 4181112 B2 JP4181112 B2 JP 4181112B2 JP 2004381195 A JP2004381195 A JP 2004381195A JP 2004381195 A JP2004381195 A JP 2004381195A JP 4181112 B2 JP4181112 B2 JP 4181112B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
ground
ground point
point
height reference
area
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2004381195A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP2006186274A (en
Inventor
宝久 藤井
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Corp
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Panasonic Corp
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Panasonic Corp, Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Panasonic Corp
Priority to JP2004381195A priority Critical patent/JP4181112B2/en
Publication of JP2006186274A publication Critical patent/JP2006186274A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP4181112B2 publication Critical patent/JP4181112B2/en
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Description

本発明は、プリント基板等の回路基板に実装する電子製品用基板の外観検査における高さ測定基準点データの自動生成方法に関する。   The present invention relates to an automatic generation method of height measurement reference point data in an appearance inspection of an electronic product substrate mounted on a circuit board such as a printed circuit board.

従来、プリント基板の電子部品実装後における外観検査において、電子部品の実装位置からの部品ずれ、欠品の検査やプリント基板面からの電子部品の浮き、はんだのオープン、ショートの測定や、プリント基板面からの電子部品の高さ測定が行われる。   Conventionally, in the appearance inspection after mounting electronic components on a printed circuit board, component displacement from the mounting position of the electronic component, inspection of missing parts, electronic component floating from the printed circuit board surface, solder open, short measurement, printed circuit board The height of the electronic component from the surface is measured.

プリント基板は反っていて、平面ではない場合があり、電子部品の高さ測定において、電子部品の高さを正確に測定するには、電子部品の近傍に部品高さの基準点を設定する方法がとられている。この基準点設定方法として、製品基板の外観検査機において、一定以上の輝度を持つ個所を高さ基準点として設定する方法が採用されている。   The printed circuit board is warped and may not be flat. In measuring the height of an electronic component, to accurately measure the height of the electronic component, a method for setting a reference point for the component height in the vicinity of the electronic component Has been taken. As the reference point setting method, a method of setting a part having a certain luminance or more as a height reference point in an appearance inspection machine for product substrates is adopted.

この高さ測定基準点設定方法は、プリント基板を画像認識して、一定以上の輝度を持つ基板上の任意の点を高さ基準点として抽出するという方法である。(例えば、特許文献1参照)。   This height measurement reference point setting method is a method of recognizing an image of a printed board and extracting an arbitrary point on the board having a certain luminance or more as a height reference point. (For example, refer to Patent Document 1).

図13は、前記特許文献1に記載された従来の基板高さ基準点の作成方法を示すフローチャートである。図において、31において、部品実装済みの基板を準備し、32において、部品実装済み基板を検査装置において画像認識することで、一定以上の輝度がある場所33を基板高さの基準点として設定し、高さ基準点データを作成する。
特開平6−11321号公報(2〜3頁、図2)
FIG. 13 is a flowchart showing a conventional method for creating a substrate height reference point described in Patent Document 1. In the figure, at 31 a component-mounted board is prepared, and at 32, the component-mounted board is image-recognized by an inspection apparatus, so that a place 33 having a certain level of brightness is set as a reference point for board height. Create height reference point data.
Japanese Patent Laid-Open No. 6-11321 (2-3 pages, FIG. 2)

しかし、このような高さ基準点作成方法では、以下のような問題点があった。すなわち、製品基板の開発、設計試作から量産開始までのリードタイムは、製品のライフサイクルの短縮に伴ってさらに短くすることが要求されている。   However, such a height reference point creation method has the following problems. That is, the lead time from the development of the product substrate, design trial manufacture to the start of mass production is required to be further shortened as the product life cycle is shortened.

しかしながら、前述の方法では高さ基準点データを作成するために、部品実装済みの製品基板が必要となり、製品基板は量産開始間近にならないと準備できないため、基板高さ基準点のデータの作成は量産開始直前となる。また、製品基板を基に高さ基準点の設定を行うため、製品基板の完成精度により、プリント基板の規正を行うための基準マークであるとか輝度設定などの基準がばらついてしまう場合があり、その結果高さ基準点の調整が必要となり、量産立上げが遅れるという問題があった。   However, in the above method, in order to create the height reference point data, a product board on which components are mounted is necessary, and the product board cannot be prepared unless it is close to the start of mass production. Immediately before the start of mass production. In addition, since the height reference point is set based on the product substrate, the reference such as the reference mark for adjusting the printed circuit board or the brightness setting may vary depending on the completion accuracy of the product substrate. As a result, there is a problem that the height reference point needs to be adjusted and the mass production start-up is delayed.

そのため、量産が開始される前段階において、プリント基板設計CADを用い基板高さ基準点データを作成する方法も開発されてきているが、この方法においても、プリント基板の電源、アース箔上に高さ基準点が多く発生し、プリント基板全体に均等に高さ基準点が発生しないという問題や、最小パターン幅のライン上に高さ基準点が設定されず、推奨面積0.16×0.16の場合に、仮に設定されて、図12に示すように、幅0.1mmのラインパターン上に、幅0.16mmの正方形のグランドポイントを設定しても、グランドポイントの有効面積は、0.1×0.16と小さくなるため、十分な輝度が得られず誤判定を生じ易いという問題があった。   For this reason, a method of creating board height reference point data using printed circuit board design CAD has been developed before mass production is started. The height reference point is generated many times, and the height reference point is not uniformly generated on the entire printed circuit board. The height reference point is not set on the line having the minimum pattern width, and the recommended area is 0.16 × 0.16. In this case, even if a square ground point having a width of 0.16 mm is set on a line pattern having a width of 0.1 mm as shown in FIG. Since it is as small as 1 × 0.16, there is a problem that sufficient luminance cannot be obtained and erroneous determination is likely to occur.

また、QFPやSOPなどの大物部品の場合は、部品の近傍に高さ基準点を設定することが望まれるが、高さ基準点が部品の近傍には必ずしも設定されておらず、影領域に設定される場合が生ずるという問題があった。   In the case of large parts such as QFP and SOP, it is desirable to set a height reference point in the vicinity of the part, but the height reference point is not necessarily set in the vicinity of the part, and is not in the shadow area. There was a problem that the setting might occur.

本発明は、前記従来の課題を解決するもので、高さ基準点(グランドポイント)を自動生成することで、デバッグ時間を短縮するとともに、基準点データ生成において設計データを利用することで、基板のバラツキによる基準点のバラツキの発生を解消でき、また、オペレータの熟練度による検査バラツキも解消でき、さらに、最小パターン幅のラインパターンにも、高さ基準点を設定することで、高さ基準点の設定件数を大幅に増加し、さらに、大物部品の近くに高さ基準点を設定できる高さ基準点自動生成方法を提供することを目的とする。   The present invention solves the above-described conventional problems, and by automatically generating a height reference point (ground point), the debugging time is shortened, and the design data is used in the reference point data generation, thereby providing a board. It is possible to eliminate the variation of the reference point due to the variation of the operator, to eliminate the inspection variation due to the skill level of the operator, and to set the height reference point to the line pattern of the minimum pattern width, the height reference An object of the present invention is to provide a method for automatically generating a height reference point that can greatly increase the number of points set and can set a height reference point near a large part.

上記目的を達成するため、本発明は、プリント基板設計CADデータと部品形状ライブラリを用いたプリント基板の外観検査における基板高さ基準点自動設定方法であって、プリント基板設計CADデータと部品形状ライブラリから設計データを取得する工程と、設計データを基に、基板の属性情報、図形情報とパラメータを規定する高さ基準データ生成条件ファイルから、指定の属性情報とパラメータを取得し、基板上に予め定められた有効面積を有するグランドポイントを設定する基板高さ基準データ自動生成工程からなることを特徴とする。   In order to achieve the above object, the present invention provides an automatic board height reference point setting method for printed circuit board appearance inspection using printed circuit board design CAD data and a component shape library. Design data is acquired from the height reference data generation condition file that defines the attribute information, graphic information and parameters of the board based on the process of acquiring the design data from the design data. It comprises a substrate height reference data automatic generation step for setting a ground point having a defined effective area.

また、プリント基板設計CADデータと部品形状ライブラリを用いたプリント基板の外観検査における基板高さ基準点自動設定方法であって、プリント基板設計CADデータと部品形状ライブラリから設計データを取得する工程と、設計データを基に、検査データ作成部で、検査位置データ、部品形状実行データ、ランド形状実行データとして登録する工程と、前記設計データを基に、基板の属性情報とパラメータを規定する高さ基準データ生成条件ファイルから、指定の属性情報とパラメータを取得し、基板上に予め定められた有効面積を有するグランドポイントを設定する基板高さ基準データ自動生成工程と、前記基板高さ基準データと検査位置データ、部品形状実行データ、ランド形状実行データを取得し、基板毎の外観検査データを生成する工程からなることを特徴とする。   Further, a board height reference point automatic setting method in printed circuit board appearance inspection using printed circuit board design CAD data and a component shape library, the process of acquiring design data from the printed circuit board design CAD data and the component shape library; Based on the design data, the inspection data creation unit registers the inspection position data, the part shape execution data, and the land shape execution data, and the height standard that defines the attribute information and parameters of the board based on the design data. A board height reference data automatic generation step for acquiring designated attribute information and parameters from a data generation condition file and setting a ground point having a predetermined effective area on the board, and the board height reference data and inspection Acquires position data, component shape execution data, and land shape execution data, and provides visual inspection data for each board. Characterized by comprising the step of forming.

また、高さ基準データ生成条件ファイルは、ベタ箔パターンのグランドポイントサイズ、パターン境界ズレ許容値と、ラインパターンの最小パターン幅、検査ズレ許容値、基板のバラツキ許容値、グランドポイント発生間隔と、部品の影領域、部品ズレ許容値、部品からの距離、大物部品周辺のグランド設定距離のいずれか、または全部を備えることを特徴とする。   Also, the height reference data generation condition file includes a solid foil pattern ground point size, pattern boundary deviation tolerance, line pattern minimum pattern width, inspection deviation tolerance, board variation tolerance, ground point occurrence interval, Any one or all of a shadow area of a component, a component deviation allowable value, a distance from the component, and a ground setting distance around a large component are provided.

また、基板高さ基準データ自動生成工程は、基板上に正方形のメッシュを発生する工程と、基板を分割するグリッドを発生する工程と、基板内のラインパターン上に長方形グランドポイントを発生する工程と、発生した長方形グランドポイントをすべて選択する工程と、ベタ箔パターン上に正方形グランドポイントを発生する工程と、禁止領域を作成し、禁止領域に発生した長方形及び正方形グランドポイントを削除する工程と、グリッドの中心から最近傍の正方形グランドポイントを1点選択する工程と、選択されたグランドポイントを出力する工程であること、また、基板上に正方形のメッシュを発生する工程と、基板内のラインパターン上に長方形グランドポイントを発生する工程と、ベタ箔パターン上に正方形グランドポイントを発生する工程と、禁止領域を作成し、禁止領域に発生した長方形及び正方形グランドポイントを削除する工程と、基板を分割するグリッドを発生する工程と、グリッド内に長方形グランドポイントがあればすべて選択する工程と、グリットの中心から最近傍の正方形グランドポイントを1点選択する工程と、選択されたグランドポイントを出力する工程であること、また、基板上の部品近傍の少なくとも対角2点に設けられたグランドポイントを検索し、個別認識マークを結ぶラインL1を求める工程と、ラインL1の中点を通り、ラインL1に垂直なラインL2を求める工程と、ラインL2に平行な直線間に設定され、部品から最大許容距離Lmax離れた長方形領域を求める工程と、長方形領域にタッチしているライン箔、ベタ箔を求める工程と、ベタ箔エリア内に正方形グランドを発生させる工程と、ライン箔エリア内にライングランドを発生させる工程と、禁止領域のグランドを削除する工程と、グランドポイントを出力する工程であることを特徴とする。 Further, the substrate height reference data automatic generation step includes a step of generating a square mesh on the substrate, a step of generating a grid for dividing the substrate, and a step of generating a rectangular ground point on the line pattern in the substrate. Selecting all the generated rectangular ground points; generating a square ground point on the solid foil pattern; creating a prohibited area; deleting the generated rectangular and square ground points in the prohibited area; and a grid Selecting the nearest square ground point from the center of the substrate, outputting the selected ground point, generating a square mesh on the substrate, and on the line pattern in the substrate A rectangular ground point is generated on the solid foil pattern, and a rectangular ground point is generated on the solid foil pattern. A step of creating a forbidden area, deleting rectangular and square ground points generated in the prohibited area, a step of generating a grid for dividing the substrate, and a step of selecting all rectangular ground points in the grid. A step of selecting one of the nearest square ground points from the center of the grid, and a step of outputting the selected ground point, and at least two diagonal points in the vicinity of the component on the board. Find the ground point, the individual recognition and obtaining a line L 1 connecting the mark, through the midpoint of the line L 1, and obtaining a perpendicular line L 2 to the line L 1, between the straight line parallel to the line L 2 And a step of obtaining a rectangular region which is set at a maximum allowable distance Lmax from the part, and a step of obtaining a line foil and a solid foil touching the rectangular region A step of generating a square ground in the solid foil area, a step of generating a line ground in the line foil area, a step of deleting the ground of the prohibited area, and a step of outputting a ground point .

また、長方形グランドポイント発生工程は、ラインパターン上に次式で求められる幅W、長さLの長方形グランドポイントを発生することを特徴とする。   The rectangular ground point generating step generates a rectangular ground point having a width W and a length L obtained by the following equation on the line pattern.

W=Wline−△W1×2
L=S/W
Wline ラインパターンの幅
△W1:検査許容値
S:推奨グランドポイントの面積(mm2
L:長方形グランドの長さ
また、正方形グランドポイント発生工程は、設計データから、ベタ箔パターンを基板高さ基準点の候補領域として設定する工程と、部品形状ライブラリから、部品の外観形状および高さ情報を取得し、設計データから電子部品およびその周囲に発生する影領域を取得する工程と、影領域の外側にズレ許容領域を設定する工程と、影領域とズレ許容領域を基準点候補領域から除外する工程と、ズレ許容領域の外側に近接して正方形グランドポイントを発生させる工程からなることを特徴とする。
W = Wline−ΔW1 × 2
L = S / W
Wline Line pattern width
△ W1: Inspection tolerance
S: Recommended ground point area (mm 2 )
L: Length of the rectangular ground In addition, the square ground point generation process includes the process of setting a solid foil pattern as a candidate area for the board height reference point from the design data, and the external shape and height of the part from the part shape library. Obtaining information, obtaining a shadow area that occurs around the electronic component and its surroundings from the design data, setting a deviation allowable area outside the shadow area, and extracting the shadow area and the deviation allowable area from the reference point candidate area And a step of generating a square ground point close to the outside of the deviation allowable region.

また、長方形グランドポイント発生工程は、ラインパターンの中心線と、グリッドの中心を通るX−Y直線との交点にグランドポイントを発生する工程と、交点から予め定めた距離を離れてラインパターン上にグランドポイントを発生する工程からなることを特徴とする。   The rectangular ground point generating step includes generating a ground point at the intersection of the center line of the line pattern and the XY straight line passing through the center of the grid, and separating the predetermined distance from the intersection on the line pattern. The method is characterized by comprising a step of generating a ground point.

また、長方形グランドポイント発生工程は、ラインパターンの始点と終点を求め、その中心にグランドポイントを発生する工程と、中心から予め定められた距離を離れてラインパターン上にグランドポイントを発生する工程からなることを特徴とする。   In addition, the rectangular ground point generation step includes obtaining a start point and an end point of the line pattern, generating a ground point at the center thereof, and generating a ground point on the line pattern at a predetermined distance from the center. It is characterized by becoming.

また、正方形グランドポイント発生工程は、基板高さ基準点候補領域に、基板高さ基準データから求められる予め定められた有効面積を有する正方形メッシュを発生する工程と、部品の影領域、穴、ランド、シルク文字とタッチするメッシュを除き、メッシュを抽出する工程と、候補領域にグランドポイント発生上限数のグリッドを発生する工程と、グリッド内に正方形のグランドポイントを発生する工程と、グリッド内のグランドポイントが上限数を越えていれば、グリッドの中心から最近傍の正方形グランドポイントを選択する工程と、グリッド内のグランドポイントが上限数を越えていなければ、正方形グランドポイントをすべて選択する工程と、選択されたグランドポイントを出力する工程からなることを特徴とする。   The square ground point generation step includes a step of generating a square mesh having a predetermined effective area obtained from the substrate height reference data in the substrate height reference point candidate region, a shadow region, a hole, and a land of parts. , Except for meshes that touch silk characters, extracting meshes, generating a maximum number of ground point generation grids in the candidate area, generating square ground points in the grid, and ground in the grid Selecting the nearest square ground point from the center of the grid if the point exceeds the upper limit, selecting all square ground points if the ground point in the grid does not exceed the upper limit, and The method includes a step of outputting the selected ground point.

本発明によると、製品基板を使用することなく、基板高さ基準点データを自動作成できるため、設計から生産までのリードタイムを大幅に短縮でき、また、基準点データの生成に、設計データを利用することで、基板の精度のバラツキによる基準点のバラツキの発生を解消でき、さらに、オペレータの熟練度による検査バラツキも解消することができる。また、ラインパターンまたはベタ箔パターン上に設定されるグランドポイントは、検査時における有効輝度を有するので、検査時における誤判定発生率を大幅に低減でき、
さらに、ラインパターンでは、ライン上に正確にグランドポイントを設定でき、ベタ箔パターンでは、部品の近傍にグランドポイントを設定できるので、検査精度を向上することができる。
According to the present invention, since the board height reference point data can be automatically created without using the product board, the lead time from design to production can be greatly reduced, and the design data can be used to generate the reference point data. By using this, it is possible to eliminate the occurrence of variations in the reference points due to variations in the accuracy of the substrate, and also to eliminate variations in inspection due to the skill level of the operator. In addition, since the ground point set on the line pattern or solid foil pattern has an effective luminance at the time of inspection, the erroneous determination occurrence rate at the time of inspection can be greatly reduced,
Furthermore, in the line pattern, the ground point can be accurately set on the line, and in the solid foil pattern, the ground point can be set in the vicinity of the component, so that the inspection accuracy can be improved.

さらに、また候補領域を分割するグリッドを発生させ、グリッド内にグランドポイントを設定するので、基板全体に均等にグランドポイントを設定することができ、グリッド数をグランドポイントの上限数とすることで、必要数のグランドポイントを設定することができ、大型部品の近傍にもグランドポイントを設定できるので、大型部品における誤判定を減少でき、検査精度を向上することができる。   Furthermore, since a grid that divides the candidate area is generated and the ground point is set in the grid, the ground point can be set evenly over the entire board, and the number of grids is set as the upper limit number of ground points. Since the required number of ground points can be set and the ground point can be set in the vicinity of the large component, erroneous determination in the large component can be reduced and the inspection accuracy can be improved.

(実施の形態1)
以下、本発明の実施の形態1について、図面を参照して説明する。
(Embodiment 1)
Embodiment 1 of the present invention will be described below with reference to the drawings.

図1は、本発明の基板高さ基準点自動生成方法を実施するシステム構成図、図2は、グランドポイント生成条件ファイルのデータ内容を示す図、図3は、グランドポイント自動生成フローチャート、図4は、長方形グランドポイント発生ロジックを示す説明図、図5は、正方形グランドポイント発生ロジックを示す説明図、図6は、長方形グランドポイント形状の算出方法を示す説明図、図7は、正方形グランドポイント形状の算出方法を示す説明図、図8はベタ箔にグランドポイントを設定する説明図である。   FIG. 1 is a system configuration diagram for implementing the substrate height reference point automatic generation method of the present invention, FIG. 2 is a diagram showing data contents of a ground point generation condition file, FIG. 3 is a ground point automatic generation flowchart, and FIG. Is an explanatory diagram showing a rectangular ground point generation logic, FIG. 5 is an explanatory diagram showing a square ground point generation logic, FIG. 6 is an explanatory diagram showing a method of calculating a rectangular ground point shape, and FIG. 7 is a square ground point shape. FIG. 8 is an explanatory diagram for setting a ground point on a solid foil.

図1において、CADデータベース1は、基板外形サイズ、パターン、レジスト、メタルマスク、シルク、穴、スルーホール等の設計情報(属性情報と図形情報)から構成され、部品形状ライブラリ2は、部品品番、形状コード、部品サイズ(X、Y)リードピッチ、リード数、部品高さ等から構成される。また、高さ基準データ生成条件ファイル10は、グランドポイントサイズ、最小パターン幅、パターン境界ズレ許容範囲、検査ズレ許容値、基板のバラツキ許容値、グランドポイント発生間隔、部品影領域、部品ズレ許容値部品からの距離、大物部品周辺のグランドポイント設定距離、シルク、レジストからの許容値から構成される。   In FIG. 1, a CAD database 1 is composed of design information (attribute information and graphic information) such as a board outer size, a pattern, a resist, a metal mask, silk, a hole, and a through hole, and a component shape library 2 includes a component part number, It consists of a shape code, component size (X, Y) lead pitch, number of leads, component height, and the like. The height reference data generation condition file 10 includes a ground point size, a minimum pattern width, a pattern boundary deviation allowable range, an inspection deviation allowable value, a board variation allowable value, a ground point generation interval, a component shadow area, and a component deviation allowable value. It consists of the distance from the part, the ground point setting distance around the large part, and the allowable values from the silk and resist.

次に、図1を参照して基板高さ基準点の自動生成システムについて説明する。   Next, a substrate height reference point automatic generation system will be described with reference to FIG.

図において、CADデータ1と部品形状ライブラリ2が設計データ入力部3に入力され、検査用データ生成、出力部4で検査データが作成され、ランド形状データ5及び部品形状マスタ6が出力される。ランド形状データ5及び部品形状マスタ6に出力されたデータは、検査データ作成システム7で処理され、基板サイズ、回路番号、ブロック番号、部品品番号、実装位置、検査ライブラリコード、マーク位置から構成される部品検査位置情報8a、検査ライブラリコード、部品形状、サイズ、リード形状サイズから構成される部品形状実行データ8b、回路番号、ブロック番号、ランド番号、ランド形状、サイズ、ランド位置から構成されるランド形状実行データ8cとしてそれぞれ登録される。   In the figure, CAD data 1 and a component shape library 2 are input to a design data input unit 3, inspection data is generated by an inspection data generation and output unit 4, and land shape data 5 and a component shape master 6 are output. The data output to the land shape data 5 and the component shape master 6 is processed by the inspection data creation system 7 and is composed of a board size, a circuit number, a block number, a component part number, a mounting position, an inspection library code, and a mark position. Component inspection position information 8a, inspection library code, component shape execution data 8b composed of component shape, size, lead shape size, land composed of circuit number, block number, land number, land shape, size, land position Each is registered as shape execution data 8c.

一方、基板高さ基準データ自動生成部9では、設計データ入力部3に入力された設計データと、高さ基準データ生成条件ファイル10から、指定の属性情報とパラメータを読み込み、図3に示すフローチャートで、基板高さ基準データを自動生成し、基板高さ基準データ出力部11から、基板高さ基準データベース12に、グランドポイント位置、グランドポイント形状情報を出力する。   On the other hand, the substrate height reference data automatic generation unit 9 reads specified attribute information and parameters from the design data input to the design data input unit 3 and the height reference data generation condition file 10, and the flowchart shown in FIG. Then, the substrate height reference data is automatically generated, and the ground point position and ground point shape information is output from the substrate height reference data output unit 11 to the substrate height reference database 12.

外観検査機13では、基板高さ基準データ12と部品検査位置データベース8a、部品形状データベース8b、ランド形状データベース8cから情報を読み取り、基板毎に外観検査データを生成する。   The appearance inspection machine 13 reads information from the substrate height reference data 12, the component inspection position database 8a, the component shape database 8b, and the land shape database 8c, and generates appearance inspection data for each substrate.

図2は、高さ基準データ生成条件ファイル10のデータ内容を示し、属性、変数、内容、デフォルト値、単位を示す。   FIG. 2 shows the data contents of the height reference data generation condition file 10, and shows attributes, variables, contents, default values, and units.

属性は、ベタ箔パターン、ラインパターン、部品、シルク、レジストであり、変数として、グランドポイントサイズ、最小パターン幅、パターン境界ズレ許容値、検査ズレ許容値、基板のバラツキ許容値、グランドポイント発生間隔、部品の影領域、部品ズレ許容値、部品からの距離、大物部品周辺のグランド設定距離、シルク、レジストからの許容値を有する。高さ基準データ生成条件ファイル10の持つデータは、前記データに限定されるものではなく、必要なデータを選択して持つことができる。   Attributes are solid foil pattern, line pattern, component, silk, resist, and variables include ground point size, minimum pattern width, pattern boundary deviation tolerance, inspection deviation tolerance, board variation tolerance, and ground point generation interval. , The shadow area of the component, the component deviation tolerance, the distance from the component, the ground setting distance around the large component, the tolerance from the silk and resist. The data possessed by the height reference data generation condition file 10 is not limited to the above data, and necessary data can be selected and possessed.

次に、図3を参照してグランドポイント自動生成フローチャートについて説明する。   Next, a ground point automatic generation flowchart will be described with reference to FIG.

1で設計データから取得したプリント基板の外形寸法に合わせて正方形のメッシュを発生させる。本実施の形態では、メッシュ寸法は(0.16×0.16)である。S2でグランドポイント上限数Nをシステムファイルから設定し、基板エリアをN分割するグリッドを発生させる。本実施の形態では、分割数は3000である。S3で基板内の水平、垂直ラインパターンを検索し、ラインパターン上に図4に示すロジックで長方形のグランドポイントを発生させる。S4で発生した長方形グランドポイントをすべて選択し、S5で禁止領域を作成し、禁止領域に発生したグランドポイントを削除する。S6でベタ箔パターン上に図5に示すロジックで正方形のグランドポイントを発生させる。 In accordance with the outer dimensions of the printed circuit board obtained from the design data in S 1 generates a square mesh. In the present embodiment, the mesh size is (0.16 × 0.16). Set the ground point upper limit number N in S 2 from the system file, causing the substrate area generating grid N division. In the present embodiment, the number of divisions is 3000. Horizontal in the substrate at S 3, it searches the vertical line pattern, and generates a rectangular ground point in the logic shown in FIG. 4 on the line pattern. Select all rectangular ground point generated in S 4, to create a forbidden area in S 5, to remove the ground point generated in forbidden areas. Generating a ground point of a square with logic shown in FIG. 5 on the solid foil pattern S 6.

7で禁止領域を作成し、禁止領域に発生したグランドポイントを削除する。 Create a prohibited area in the S 7, to remove the ground point that occurred in the prohibited area.

8でグリッドの中心から最近傍の正方形グランドポイントを1点選択し、S9でS5とS8で選択されたグランドポイントを出力する。 Recently neighbor square ground point selected point from the center of the grid S 8, and outputs the ground point selected in S 5 and S 8 in S 9.

次に、図4を参照して、基板内の垂直ラインパターン上に長方形のグランドポイントを発生するロジックについて説明する。まず、グランドポイントの上限数Nをシステムファイルから設定し、基板をN分割するグリッドを発生させる。   Next, logic for generating a rectangular ground point on a vertical line pattern in the substrate will be described with reference to FIG. First, the upper limit number N of ground points is set from the system file, and a grid for dividing the substrate into N is generated.

次に、基板を分割するグリッドの中心座標〔X1+(X2−X1)/2、Y1+(Y2−Y1)/2〕を求め、基板内の垂直ラインパターンL1(L1はラインパターンの中心線)を検索し、L1とグリッドの中心を通る直線Y=Y1+(Y2−Y1)/2との交点座標(Xi、Yi)を求め、交点座標(Xi、Yi)に中心グランドポイントを発生させる。次に、直線Y=Y1+(Y2−Y1)/2から予め定められた距離Lだけ離れた垂直ラインパターン上に、追加グランドポイントを発生させる。距離Lは設定するグランドポイント数により予め定められる。 Next, the center coordinates [X 1 + (X 2 −X 1 ) / 2, Y 1 + (Y 2 −Y 1 ) / 2] of the grid dividing the substrate are obtained, and the vertical line pattern L 1 ( L 1 is the center line of the line pattern), and the intersection coordinates (Xi, Yi) between L 1 and a straight line Y = Y 1 + (Y 2 −Y 1 ) / 2 passing through the center of the grid are obtained. A central ground point is generated at (Xi, Yi). Next, an additional ground point is generated on the vertical line pattern that is separated from the straight line Y = Y 1 + (Y 2 −Y 1 ) / 2 by a predetermined distance L. The distance L is determined in advance by the number of ground points to be set.

同様に、水平ラインパターンL3については、ラインパターンL2と直線X=X1+(X2−X1)/2との交点を求め、交点座標上にグランドポイントを発生させ、斜めラインパターンL3については、直線YまたはXとの交点座標上にグランドポイントを発生させ、垂直ラインパターンと同方法でグランドポイントを発生させる。 Similarly, for the horizontal line pattern L 3 , the intersection of the line pattern L 2 and the straight line X = X 1 + (X 2 −X 1 ) / 2 is obtained, a ground point is generated on the intersection coordinates, and the oblique line pattern the L 3, to generate a ground point on the intersection coordinates of the straight line Y or X, generates a ground point a vertical line pattern in the same way.

次に、図5(a)(b)を参照して正方形グランドポイント発生ロジックについて説明する。   Next, the square ground point generation logic will be described with reference to FIGS.

まず、基板外形寸法に合わせ、メッシュを発生させる。メッシュの大きさは高さ基準データ生成条件ファイル(以下入力条件ファイルという)に規定されたグランドポイントが十分な輝度を有するための推奨面積であり、本実施の形態では、推奨面積は0.0256で、正方形の一辺の長さは0.16である。次に、銅箔に含まれるメッシュを抽出し、部品の影領域、穴、半田(メタルマスク)、シルク文字とタッチするメッシュを除く。   First, a mesh is generated in accordance with the external dimensions of the substrate. The size of the mesh is a recommended area for the ground point defined in the height reference data generation condition file (hereinafter referred to as an input condition file) to have sufficient luminance. In this embodiment, the recommended area is 0.0256. Thus, the length of one side of the square is 0.16. Next, the mesh contained in the copper foil is extracted, and the shadow area of the component, the hole, the solder (metal mask), and the silk character and the touched mesh are removed.

次に、グランドポイントの上限数Nをシステムファイルから設定し、基板をN分割するグリッドを発生させる。   Next, an upper limit number N of ground points is set from the system file, and a grid for dividing the substrate into N is generated.

次に、グリッド内にあるグランドポイントを選択し、グランドポイントが1個の場合は、グランドポイントを選定し、1個以上ある場合は、グリッド中心から最近傍のグランドポイントを1点選択する。   Next, a ground point in the grid is selected. If there is one ground point, a ground point is selected. If there are one or more ground points, one nearest ground point from the grid center is selected.

次に、図6、7を参照して、グランドポイント形状の算出方法について説明する。   Next, a ground point shape calculation method will be described with reference to FIGS.

図6は長方形グランドポイント形状の寸法算出方法を示す。   FIG. 6 shows a method of calculating dimensions of a rectangular ground point shape.

図において、14はラインパターンで、幅はWlineである。△W1は入力条件ファイルから取得された検査機で発生する検査ズレの許容値、Wgrdは長方形グランド15の幅、Lgrdは長方形グランド15の長さ、Pdispは入力条件ファイルから取得された基板のバラツキ許容値である。検査機の補正精度により、グランドポイント16がラインパターン14の中心から1〜2ドットずれて発生する場合があり、ラインパターン14内に十分な輝度を有するグランドポイントを発生させるためには、グランドポイント15の幅は、ラインパターン14の両側から入力条件ファイルで規定する検査ズレ許容値を減じた寸法でなくてはならない。また、グランドポイント16が十分な輝度を有するためには、各検査機の画像処理の分解能から求められる推奨面積Sを有するものでなくてはならない。そのためグランドポイント16の幅Wと長さLgrdは次式により算出される。   In the figure, 14 is a line pattern, and the width is Wline. ΔW1 is the allowable value of the inspection deviation generated by the inspection machine acquired from the input condition file, Wgrd is the width of the rectangular ground 15, Lgrd is the length of the rectangular ground 15, and Pdisp is the board variation acquired from the input condition file. It is an acceptable value. Depending on the correction accuracy of the inspection machine, the ground point 16 may be shifted by 1 to 2 dots from the center of the line pattern 14. In order to generate a ground point having sufficient luminance in the line pattern 14, The width of 15 must be a dimension obtained by subtracting the inspection deviation allowable value defined in the input condition file from both sides of the line pattern 14. In addition, in order for the ground point 16 to have sufficient luminance, it must have a recommended area S obtained from the resolution of image processing of each inspection machine. Therefore, the width W and the length Lgrd of the ground point 16 are calculated by the following equations.

W=Wline−2×△W1
Wgrd=Wline+△Pdisp×2
Lgrd=S/W
S:推奨グランドポイントの面積
△W1:検査許容値
Wgrd:長方形グランドの幅
Lgrd:長方形グランドの長さ
Pdisp:基板のバラツキ許容値
例えば、Pdisp=0で、幅0.1mmのラインパターン14に、部品ズレ許容値0.01mm、推奨グランドポイント面積0.0256mm2の条件で、グランドポイントを発生させる場合、前式により、グランドポイントの幅は0.1mm−0.01×2で、0.08となり、長さは、0.0256/0.08で0.32である。この条件で、0.1mmのラインパターン上に、推奨グランドポイント面積0.0256mm2を有するグランドポイント16が設定される(図6b参照)
このようにグランドポイントの設定条件に、入力条件ファイルで規定する部品ズレ許容値、基板バラツキ許容値を取り入れることで、図6bに示すように、0.1mm幅のラインパターンに1〜2ドットのズレが発生しても、一定の輝度を持つ有効面積のグランドポイントを設定することができる。
W = Wline-2 × ΔW1
Wgrd = Wline + ΔPdisp × 2
Lgrd = S / W
S: Recommended ground point area ΔW1: Inspection tolerance value Wgrd: Rectangular ground width Lgrd: Rectangular ground length Pdisp: Substrate variation tolerance value When generating a ground point under the conditions that the component displacement tolerance is 0.01 mm and the recommended ground point area is 0.0256 mm 2 , the width of the ground point is 0.1 mm−0.01 × 2, The length is 0.0256 / 0.08 and is 0.32. Under this condition, a ground point 16 having a recommended ground point area of 0.0256 mm 2 is set on a line pattern of 0.1 mm (see FIG. 6b).
In this way, by incorporating the component deviation allowable value and the board variation allowable value specified in the input condition file into the ground point setting conditions, as shown in FIG. Even if a deviation occurs, a ground point having an effective area with a certain luminance can be set.

図7は正方形グランドポイント形状の算出方法を示す。   FIG. 7 shows a method of calculating a square ground point shape.

図において、17はベタ箔を示し、△W2は入力条件ファイルから取得される検査機で発生する検査ズレの許容値、Xgrdは正方形グランドポイントの一辺の長さ、Sはグランドポイントの面積である。   In the figure, 17 is a solid foil, ΔW2 is an allowable value of an inspection deviation generated by an inspection machine acquired from an input condition file, Xgrd is a length of one side of a square ground point, and S is an area of the ground point. .

正方形グランドポイントの長さXgrdは次式により算出される。   The length Xgrd of the square ground point is calculated by the following equation.

S=Xgrd2
次に、図8を参照してベタ箔パターンのグランドポイント許容領域について説明する。
S = Xgrd 2
Next, the ground point allowable region of the solid foil pattern will be described with reference to FIG.

図において、19は部品の外形で、部品の外観形状及び高さ情報は、設計情報及び部品形状ライブラリから取得される。20は入力条件ファイル10から取得される電子部品及びその周囲に発生する部品影領域で、本実施の形態では、影領域オフセット△X1=部品高さ×40%、△Y1=部品高さ×40%である。21は部品ずれ許容領域で、ずれ許容値△X2=0.3mm、△Y2=0.3mm、22はグランドポイント許容領域で、グランドポイント距離許容値△X3=5mm、△Y3=5mmである。 In the figure, reference numeral 19 denotes an external shape of the component, and the external shape and height information of the component are acquired from the design information and the component shape library. Reference numeral 20 denotes an electronic component acquired from the input condition file 10 and a component shadow region generated around the electronic component. In this embodiment, the shadow region offset ΔX 1 = component height × 40%, ΔY 1 = component height. × 40%. 21 is a component displacement tolerance region, and displacement tolerance values ΔX 2 = 0.3 mm, ΔY 2 = 0.3 mm, 22 is a ground point tolerance region, ground point distance tolerance value ΔX 3 = 5 mm, ΔY 3 = 5 mm.

正方形グランドポイントの発生手順は次の通りである。まず、設計情報からベタ箔パターンを基板高さ基準点の候補領域として設定し、部品形状ライブラリから、部品19の外観形状および高さ情報を取得し、これと入力条件ファイル10から、電子部品およびその周囲に発生する影領域20を取得し、影領域20の外側にズレ許容領域21を設定し、影領域20とズレ許容領域21を基準点候補領域から除外し、ズレ許容領域の外側に近接して、グランドポイント許容領域22内に正方形グランドポイントを発生させる。
(実施の形態2)
図9、図10を参照して、実施の形態2のラインパターン上に長方形のグランドポイントを発生されるロジックと、グランドポイント自動生成フローチャートについて説明する。
The procedure for generating a square ground point is as follows. First, a solid foil pattern is set as a candidate area for the board height reference point from the design information, the external shape and height information of the component 19 is acquired from the component shape library, and from this and the input condition file 10, the electronic component and The shadow area 20 that occurs around the area is acquired, a deviation allowable area 21 is set outside the shadow area 20, the shadow area 20 and the deviation allowable area 21 are excluded from the reference point candidate areas, and close to the outside of the deviation allowable area. Then, a square ground point is generated in the ground point allowable area 22.
(Embodiment 2)
A logic for generating a rectangular ground point on the line pattern of the second embodiment and a flowchart for automatically generating a ground point will be described with reference to FIGS.

図9を参照して基板内の垂直ラインパターン上に長方形のグランドポイントを設定するロジックについて説明する。   A logic for setting a rectangular ground point on a vertical line pattern in the substrate will be described with reference to FIG.

まず、基板内の垂直ラインL1、L2、水平ラインパターンL3を求める。次に、直線L1の中点座標(X1、Y1)を求める。 First, the vertical lines L 1 and L 2 and the horizontal line pattern L 3 in the substrate are obtained. Next, the midpoint coordinates (X 1 , Y 1 ) of the straight line L 1 are obtained.

直線L1の始点座標は(Xsl、Ysl)、終点座標は(Xel、Yel)である。 The start point coordinates of the straight line L 1 are (Xsl, Ysl), and the end point coordinates are (Xel, Yel).

次に、直線L1の中点座標(X1、Y1)にグランドポイントを発生させる。 Next, a ground point is generated at the midpoint coordinates (X 1 , Y 1 ) of the straight line L 1 .

次に、中点座標を通り直線L1と垂直な直線、直線Y=Yel+(Ysl−Yel)/2を求め、直線YからLだけ離れた垂直ラインパターンL1上にグランドポイントを発生させる。 Next, a straight line that passes through the midpoint coordinates and is perpendicular to the straight line L 1 , a straight line Y = Yel + (Ysl−Yel) / 2, is obtained, and a ground point is generated on the vertical line pattern L 1 that is separated from the straight line Y by L.

直線L2、L3についても同方法によりグランドポイントを発生させる。 The ground points are also generated for the straight lines L 2 and L 3 by the same method.

本実施の形態において、正方形のグランドポイント発生ロジック、グランドポイント形状の算出方法及びベタ箔パターンのグランドポイント許容領域については、実施の形態1と同じであり説明を省略する。   In the present embodiment, the square ground point generation logic, the ground point shape calculation method, and the ground point allowable area of the solid foil pattern are the same as those in the first embodiment, and the description thereof is omitted.

次に、図10を参照して、グランドポイント自動生成フローチャートについて説明する。   Next, a ground point automatic generation flowchart will be described with reference to FIG.

図10において、S1で設計データから取得したプリント基板の外形寸法に合わせて正方形のメッシュを発生させる。本実施の形態では、メッシュ寸法は(0.16×0.16)である。S2で基板内の水平、垂直ラインパターンを検索し、ラインパターン上に長方形のグランドポイントを発生させる。 10, to generate a square mesh in accordance with the outer dimensions of the printed circuit board obtained from the design data in S 1. In the present embodiment, the mesh size is (0.16 × 0.16). Horizontal in the substrate at S 2, and find the vertical line pattern, and generates a rectangular ground point on the line pattern.

3でベタ箔上に正方形のグランドポイントを発生させる。 To generate a ground point of the square on the solid foil in S 3.

4で禁止領域を作成し、禁止領域に発生したグランドポイントを削除する。 Create a prohibited area in S 4, to delete the ground point that occurred in the prohibited area.

5で基板エリアをN分割するグリッドを発生させる。本実施の形態では、分割数は3000である。 The substrate area to generate a grid of N divided by S 5. In the present embodiment, the number of divisions is 3000.

グリッド内に長方形グランドポイントがあれば、S6で長方形グランドポイントをすべて選択し、S7グリッドの中心から最近傍の正方形グランドポイントを1点選択し、S8でS6とS7で選択されたグランドポイントを出力する。本実施の形態では、グリッドを発生させずに、ラインパターン上に長方形グランドポイントを設定することができる。
(実施の形態3)
図11、12を参照して、大物部品の近傍にグランドポイントを発生させるロジックとグランドポイント自動生成フローチャートについて説明する。
If there are rectangular ground points in the grid, all rectangular ground points are selected in S 6 , one nearest square ground point is selected from the center of the S 7 grid, and S 6 and S 7 are selected in S 8. Output the ground point. In the present embodiment, a rectangular ground point can be set on the line pattern without generating a grid.
(Embodiment 3)
A logic for generating a ground point in the vicinity of a large component and a ground point automatic generation flowchart will be described with reference to FIGS.

QFPコネクタ等の大物部品の場合、部品外形の四隅の近傍に複数のグランドポイントを設定すると、検査が安定し、誤判定、過判定が少なくなる。   In the case of a large part such as a QFP connector, if a plurality of ground points are set in the vicinity of the four corners of the external part of the part, the inspection is stabilized and erroneous determination and over determination are reduced.

実施の形態1及び2のグランドポイント自動発生ロジックの場合、3000分割したエリア内の1点を選択してグランドポイントを設定しているため、必ずしも、部品の近傍にグランドが設定できない場合が生ずる。   In the case of the ground point automatic generation logic according to the first and second embodiments, since the ground point is set by selecting one point in the 3000 divided area, the ground cannot always be set near the component.

そのため、本実施の形態では、基板上の大物部品の部品外形の近傍にグランドを設定する方法を提供する。   Therefore, this embodiment provides a method for setting a ground in the vicinity of the component outline of a large component on the board.

QFP等の大物部品の場合、マウンタで部品実装するときの位置補正をするための認識マークとして部品の対角2点に個別認識マーク(ローカルフィデユーシャルマーク)が設けられている。本実施の形態は、前記個別認識マークに着目して、グランドポイントを設定することを特徴とする。   In the case of large parts such as QFP, individual recognition marks (local fiducial marks) are provided at two diagonal points of the parts as recognition marks for position correction when the parts are mounted by the mounter. The present embodiment is characterized in that a ground point is set by paying attention to the individual recognition mark.

以下、図11を参照して大物部品のグランドポイント発生ロジックについて説明する。   Hereinafter, the ground point generation logic of a large component will be described with reference to FIG.

図において、23は大物部品、24a、24bは大物部品のコーナ近傍に設けられた個別認識マークで、該マーク上にグランドポイントが設定される。個別認識マーク24aの座標は(X1、Y1)、24bの座標は(X2、Y2)で、大物部品の中点座標は、(X2−X1)/2、(Y2−Y1)/2である。 In the figure, reference numeral 23 denotes a large part, and 24a and 24b denote individual recognition marks provided near the corners of the large part, and a ground point is set on the mark. The coordinates of the individual recognition mark 24a are (X 1 , Y 1 ), the coordinates of 24b are (X 2 , Y 2 ), and the midpoint coordinates of the large part are (X 2 −X 1 ) / 2, (Y 2 − Y 1 ) / 2.

ラインL1 は個別認識マーク24a、24bを結ぶラインで、ラインL2はラインL1の中点を通り、ラインL1に垂直な直線である。ラインL3は大物部品23のコーナ(Xc、Yc)を通り、ラインL1に平行な直線である。 Line L 1 is a line connecting the individual recognition marks 24a, 24b, the line L 2 passes through the midpoint of the line L 1, a straight line perpendicular to the line L 1. The line L 3 is a straight line passing through the corners (Xc, Yc) of the large component 23 and parallel to the line L 1 .

ラインL4は個別認識マーク24a、24bを通り、ラインL2に平行な直線、Wは個別認識マーク24a、24b間の距離である。 A line L 4 passes through the individual recognition marks 24a and 24b and is a straight line parallel to the line L 2 , and W is a distance between the individual recognition marks 24a and 24b.

Lmaxは入力条件ファイルより取得され、ラインL4上で、ラインL4とラインL3の交点の外側に設定される最大許容距離である。 Lmax is obtained from the input condition file, on line L 4, the maximum allowable distance that is set outside of the intersection of line L 4 and the line L 3.

領域A1はラインL3の外側でラインL3とラインL4の交点から最大許容距離Lmaxだけ離れて設定される長方形のグランドポイント発生領域で、面積はLmax×Wである。領域A2も同方法により設定される。なお、個別認識マークが設けられていない場合は、部品近傍に少なくとも2個のグランドポイントを予め設定する。 Region A 1 in the ground point generation area of a rectangle that is set apart by a maximum allowable distance Lmax from the outside at the intersection of the line L 3 and the line L 4 of the line L 3, the area is Lmax × W. The area A 2 is also set by the same method. If no individual recognition mark is provided, at least two ground points are preset in the vicinity of the component.

次に、図12を参照してグランドポイント自動生成フローチャートについて説明する。   Next, a ground point automatic generation flowchart will be described with reference to FIG.

QFP等の大物部品23の属性を持った部品を検索し、大物部品と個別認識マーク24a、24bを紐つけ、個別認識マークの中心座標にグランドポイントを設定する。次に、S1で個別認識マーク24a、24bを結ぶラインL1を求める。S2でラインL1の中点を通り、ラインL1に垂直なラインL2を求める。S3でグランドポイント発生ロジックで説明した方法で部品の近傍に長方形領域A1、A2を求める。S4で領域A1、A2にタッチしているライン箔、ベタ箔を求める。 A part having an attribute of a large part 23 such as QFP is searched, the large part is associated with the individual recognition marks 24a and 24b, and a ground point is set at the center coordinates of the individual recognition mark. Next, a line L 1 connecting the individual recognition marks 24a and 24b is obtained in S 1 . Through the midpoint of the line L 1 in S 2, determine the vertical line L 2 to the line L 1. The rectangular areas A 1 and A 2 are obtained in the vicinity of the component by the method described in the ground point generation logic in S 3 . In S 4 , the line foil and solid foil touching the areas A 1 and A 2 are obtained.

次に、箔の種類により、S5でベタ箔ならば、エリア内に正方形グランドを発生させ、ライン箔ならば、エリア内に長方形グランドを発生させる。 Next, the type of foil, if the solid foil in S 5, to generate a square ground area, if the line foil, to generate a rectangular ground area.

次に、S7で禁止領域のグランドを削除し、S8で残りのグランドポイントを出力する。このグランドポイント設定方法により、大物部品の近傍で、最大許容距離内にグランドポイントを発生させることができ、大物部品における誤判定、過判定を減少でき、検査精度を向上することができる。 Next, remove the ground forbidden region S 7, and outputs the remaining ground point S 8. By this ground point setting method, a ground point can be generated within the maximum allowable distance in the vicinity of a large component, and erroneous determination and over determination in a large component can be reduced, and inspection accuracy can be improved.

本実施の形態において、長方形グランドポイント、正方形グランドポイントの発生ロジック、グランドポイント形状の算出方法、ベタ箔パターンのグランドポイント許容領域については、実施の形態1と同じであり説明を省略する。   In the present embodiment, the generation logic of the rectangular ground point, the square ground point, the calculation method of the ground point shape, and the ground point allowable area of the solid foil pattern are the same as those of the first embodiment, and the description thereof is omitted.

本発明は、プリント基板設計CADデータと部品形状ライブラリを用いて、検査位置データ、部品形状実行データ、ランド形状実行データとして登録し、高さ基準データ生成条件ファイルから指定のパラメータを取得し、基板高さ基準データとして登録し、検査機で、基板高さ基準データと検査位置データ、部品形状実行データ、ランド形状実行データから、基板上に、予め定められた有効面積を有するグランドポイントを自動設定するので、プリント基板の外観検査における基準点データの作成方法として特に有用である。   The present invention uses printed circuit board design CAD data and a component shape library to register as inspection position data, component shape execution data, and land shape execution data, acquires specified parameters from a height reference data generation condition file, Registered as height reference data and automatically set a ground point with a predetermined effective area on the board from the board height reference data, inspection position data, component shape execution data, and land shape execution data by the inspection machine Therefore, it is particularly useful as a method for creating reference point data in the appearance inspection of a printed circuit board.

本発明の基板高さ基準点自動生成方法のシステム構成図。The system block diagram of the board | substrate height reference point automatic generation method of this invention. グランドポイント生成条件ファイルのデータ内容。Data contents of the ground point generation condition file. グランドポイント自動生成フローチャート。The grand point automatic generation flowchart. 長方形グランドポイント発生ロジックを示す説明図。Explanatory drawing which shows a rectangular ground point generation logic. (a)(b)は正方形グランドポイント発生ロジックを示す説明図。(A) and (b) are explanatory drawings showing square ground point generation logic. (a)(b)は長方形グランドポイント形状の算出方法を示す説明図。(A) (b) is explanatory drawing which shows the calculation method of a rectangular ground point shape. 正方形グランドポイント形状の算出方法を示す説明図。Explanatory drawing which shows the calculation method of square ground point shape. ベタ箔にグランドポイントを設定する説明図。Explanatory drawing which sets a ground point to a solid foil. 長方形グランドポイント発生ロジックを示す説明図。Explanatory drawing which shows a rectangular ground point generation logic. グランドポイント自動生成フローチャート。The grand point automatic generation flowchart. 大物部品の近傍にグランドポイントを発生させるロジックを示す説明図。Explanatory drawing which shows the logic which generates a ground point in the vicinity of a large component. グランドポイント自動生成フローチャート。The grand point automatic generation flowchart. 従来の高さ基準点決定方法のフローチャート。The flowchart of the conventional height reference point determination method. 有効面積が小さいグランドポイントを示す図。The figure which shows the ground point with a small effective area.

符号の説明Explanation of symbols

1 プリント基板設計CADデータ
2 部品形状ライブラリ
3 設計データ入力部
4 検査用データ生成出力部
5 ランド形状データ
6 部品形状データ
7 検査データ作成システム
8a 検査位置データ
8b 部品形状実行データ
8c ランド形状実行データ
9 基板高さ基準データ自動生成部
10 高さ基準データ生成条件ファイル
11 基板高さ基準データ出力部
12 基板高さ基準データ
13 外観検査機
14 ラインパターン
15 長方形グランド
16 長方形グランド
17 ベタ箔
18 正方形グランドポイント
19 部品
20 影領域
21 ズレ許容領域
22 グランドポイント許容領域
23 大物部品
24a、24b 個別認識マーク

DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Printed circuit board design CAD data 2 Part shape library 3 Design data input part 4 Inspection data generation output part 5 Land shape data 6 Part shape data 7 Inspection data creation system 8a Inspection position data 8b Part shape execution data 8c Land shape execution data 9 Substrate height reference data automatic generation unit 10 Height reference data generation condition file 11 Substrate height reference data output unit 12 Substrate height reference data 13 Appearance inspection machine 14 Line pattern 15 Rectangular ground 16 Rectangular ground 17 Solid foil 18 Square ground point 19 Parts 20 Shadow Area 21 Deviation Allowed Area 22 Ground Point Allowable Area 23 Large Parts 24a, 24b Individual Recognition Marks

Claims (7)

プリント基板設計CADデータと部品形状ライブラリを用いたプリント基板の外観検査における基板高さ基準点自動設定方法であって、
プリント基板設計CADデータと部品形状ライブラリから基板内のベタ箔パターン、ラインパターン、部品の情報を有する基板の属性情報とその図形情報を含む設計データを取得する工程と、
前記設計データを基に基板の属性情報とその属性情報に対応するパラメータを規定する高さ基準データ生成条件ファイルから基板高さ基準点を設定する基板の属性情報とパラメータを取得し、基板上に予め定められた一定の輝度を持つ有効面積を有するグランドポイントを設定する基板高さ基準データ自動生成工程からなり、
高さ基準データ生成条件ファイルは、前記パラメータとして、ベタ箔パターンの場合は、ベタ箔パターンのグランドポイントサイズ、パターン境界ズレ許容値を、ラインパターンの場合は、ラインパターンの最小パターン幅、検査ズレ許容値、基板のバラツキ許容値、グランドポイント発生間隔を、部品の場合は、部品の影領域、部品ズレ領域、部品からの距離、大物部品周辺のグランド設定距離を備え、
前記基板高さ基準データ自動生成工程は、基板上に正方形のメッシュを発生する工程と、基板を分割するグリッドを発生する工程と、取得したラインパターン上に長方形グランドポイントを発生する工程と、発生した長方形グランドポイントをすべて選択する工程と、取得したベタ箔パターン上に正方形グランドポイントを発生する工程と、取得した前記部品の影領域と前記部品ズレ領域とから禁止領域を作成し、禁止領域に発生した長方形及び正方形グランドポイントを削除する工程と、グリットの中心から最近傍の正方形グランドポイントを1点選択する工程と、選択されたグランドポイントを出力する工程であることを特徴とする基板高さ基準点自動設定方法。
A board height reference point automatic setting method in appearance inspection of a printed board using printed board design CAD data and a component shape library,
Obtaining design data including printed board design CAD data and board shape information and graphic information on the board having solid foil pattern, line pattern, and component information from the part shape library;
Acquires attribute information and parameters of the substrate to set the substrate height reference point from the height reference data generation condition file defining the parameters corresponding to the attribute information and the attribute information of the board on the basis of the design data, the substrate Ri Do from the substrate height reference data automatic generation step of setting a ground point having an effective area having a predetermined constant brightness is above,
The height reference data generation condition file includes, as the parameters, a solid foil pattern ground point size and a pattern boundary deviation allowable value in the case of a solid foil pattern, and a minimum pattern width and an inspection deviation of a line pattern in the case of a line pattern. Tolerance value, board variation tolerance value, ground point generation interval, in the case of components, the shadow area of the component, the component displacement area, the distance from the component, the ground setting distance around the large component,
The substrate height reference data automatic generation step includes a step of generating a square mesh on the substrate, a step of generating a grid for dividing the substrate, a step of generating a rectangular ground point on the acquired line pattern, and generation Creating a prohibited area from the process of selecting all the rectangular ground points, the process of generating a square ground point on the obtained solid foil pattern, and the shadow area and the parts displacement area of the acquired part. The step of deleting the generated rectangular and square ground points, the step of selecting one of the nearest square ground points from the center of the grid, and the step of outputting the selected ground point Reference point automatic setting method.
プリント基板設計CADデータと部品形状ライブラリを用いたプリント基板の外観検査における基板高さ基準点自動設定方法であって、
プリント基板設計CADデータと部品形状ライブラリから基板内のベタ箔パターン、ラインパターン、部品の情報を有する基板の属性情報とその図形情報を含む設計データを取得する工程と、
前記設計データを基に基板の属性情報とその属性情報に対応するパラメータを規定する高さ基準データ生成条件ファイルから基板高さ基準点を設定する基板の属性情報とパラメータを取得し、基板上に予め定められた一定の輝度を持つ有効面積を有するグランドポイントを設定する基板高さ基準データ自動生成工程からなり、
高さ基準データ生成条件ファイルは、前記パラメータとして、ベタ箔パターンの場合は、ベタ箔パターンのグランドポイントサイズ、パターン境界ズレ許容値を、ラインパターンの場合は、ラインパターンの最小パターン幅、検査ズレ許容値、基板のバラツキ許容値、グランドポイント発生間隔を、部品の場合は、部品の影領域、部品ズレ領域、部品からの距離、大物部品周辺のグランド設定距離を備え、
基板高さ基準データ自動生成工程は、基板上の大物部品近傍の対角2点に設けられたグランドポイントを検索し、個別認識マークを結ぶラインL1を求める工程と、ラインL1の中点を通り、ラインL1に垂直なラインL2を求める工程と、ラインLに平行な直線間に設定され、部品から最大許容距離Lmax離れた長方形領域を求める工程と、長方形領域にタッチしているライン箔、ベタ箔を求める工程と、ベタ箔エリア内に正方形グランドを発生させる工程と、ライン箔エリア内にライングランドを発生させる工程と、取得した前記部品の影領域と前記部品ズレ領域とから禁止領域を作成し、禁止領域のグランドを削除する工程と、グランドポイントを出力する工程であることを特徴とする基板高さ基準点自動設定方法。
A board height reference point automatic setting method in appearance inspection of a printed board using printed board design CAD data and a component shape library,
Obtaining design data including printed board design CAD data and board shape information and graphic information on the board having solid foil pattern, line pattern, and component information from the part shape library;
The board attribute information and parameters for setting the board height reference point are obtained from the height reference data generation condition file that defines the board attribute information and the parameters corresponding to the attribute information based on the design data, and are obtained on the board. It consists of a substrate height reference data automatic generation step for setting a ground point having an effective area with a predetermined constant brightness,
The height reference data generation condition file includes, as the parameters, a solid foil pattern ground point size and a pattern boundary deviation allowable value in the case of a solid foil pattern, and a minimum pattern width and an inspection deviation of a line pattern in the case of a line pattern. Tolerance value, board variation tolerance value, ground point generation interval, in the case of components, the shadow area of the component, the component displacement area, the distance from the component, the ground setting distance around the large component,
Substrate height reference data automatic generation process retrieves the ground point provided in two diagonal points of large parts near the substrate, a step of obtaining a line L 1 connecting the individual recognition marks the midpoint of the line L 1 To obtain a line L 2 perpendicular to the line L 1 , to obtain a rectangular area set between straight lines parallel to the line L 2 and separated from the part by the maximum allowable distance Lmax, and touch the rectangular area A line foil, a solid foil, a step of generating a square ground in the solid foil area, a step of generating a line ground in the line foil area, the acquired shadow area of the component, and the component shift area create a forbidden area from the step a, board height reference point automatically set how to being a process of outputting a ground point to remove the ground of prohibited areas.
長方形グランドポイント発生工程は、ラインパターン上に次式で求められる幅W、長さLの長方形グランドポイントを発生することを特徴とする請求項1または2いずれかに記載の基板高さ基準点自動設定方法。3. The substrate height reference point automatic according to claim 1, wherein the rectangular ground point generating step generates a rectangular ground point having a width W and a length L obtained by the following equation on the line pattern. Setting method.
W=Wline−△W1×2  W = Wline−ΔW1 × 2
L=S/W  L = S / W
Wline ラインパターンの幅          Wline Line pattern width
△W1:検査許容値          △ W1: Inspection tolerance
S:推奨グランドポイントの面積(mm2)          S: Recommended ground point area (mm2)
L:長方形グランドの長さ          L: Length of rectangular ground
正方形グランドポイント発生工程は、設計データから、ベタ箔パターンを基板高さ基準点の候補領域として設定する工程と、部品形状ライブラリから、部品の外観形状および高さ情報を取得し、設計データから電子部品およびその周囲に発生する影領域を取得する工程と、影領域の外側にズレ許容領域を設定する工程と、影領域とズレ許容領域を基準点候補領域から除外する工程と、ズレ許容領域の外側に近接して正方形グランドポイントを発生させる工程からなることを特徴とする請求項1または2いずれかに記載の基板高さ基準点自動設定方法。 In the square ground point generation process, the solid foil pattern is set as a candidate area for the board height reference point from the design data, and the external shape and height information of the part is obtained from the part shape library. A step of acquiring a shadow region generated around the part and its surroundings, a step of setting a shift allowable region outside the shadow region, a step of excluding the shadow region and the shift allowable region from the reference point candidate region, and a shift allowable region 3. The substrate height reference point automatic setting method according to claim 1, further comprising a step of generating a square ground point close to the outside . 長方形グランドポイント発生工程は、ラインパターンの中心線と、グリッドの中心を通るX−Y直線との交点にグランドポイントを発生する工程と、交点から予め定めた距離を離れてラインパターン上にグランドポイントを発生する工程からなることを特徴とする請求項1または2いずれかに記載の基板高さ基準点自動設定方法。 The rectangular ground point generation step includes a step of generating a ground point at the intersection of the center line of the line pattern and an XY straight line passing through the center of the grid, and a ground point on the line pattern at a predetermined distance from the intersection. The substrate height reference point automatic setting method according to claim 1 , wherein the substrate height reference point is automatically set. 長方形グランドポイント発生工程は、ラインパターンの始点と終点を求め、その中心にグランドポイントを発生する工程と、中心から予め定められた距離を離れてラインパターン上にグランドポイントを発生する工程からなることを特徴とする請求項1または2いずれかに記載の基板高さ基準点自動設定方法。 The rectangular ground point generation step includes a step of obtaining a start point and an end point of the line pattern, generating a ground point at the center thereof, and a step of generating a ground point on the line pattern at a predetermined distance from the center. The substrate height reference point automatic setting method according to claim 1 , wherein the substrate height reference point is automatically set. 正方形グランドポイント発生工程は、基板高さ基準点候補領域に、基板高さ基準データから求められる予め定められた有効面積を有する正方形メッシュを発生する工程と、部品の影領域、穴、ランド、シルク文字とタッチするメッシュを除き、メッシュを抽出する工程と、候補領域にグランドポイント発生上限数のグリッドを発生する工程と、グリッド内に正方形のグランドポイントを発生する工程と、グリッド内のグランドポイントが上限数を越えていれば、グリッドの中心から最近傍の正方形グランドポイントを選択する工程と、グリッド内のグランドポイントが上限数を越えていなければ、正方形グランドポイントをすべて選択する工程と、選択されたグランドポイントを出力する工程からなることを特徴とする請求項1または2いずれかに記載の基板高さ基準点自動設定方法。The square ground point generation step includes a step of generating a square mesh having a predetermined effective area obtained from the substrate height reference data in the substrate height reference point candidate region, and a shadow region, hole, land, silk of the part. The process of extracting meshes, excluding the character and the mesh to touch, the process of generating the maximum number of grids in the candidate area, the process of generating square ground points in the grid, and the ground points in the grid If the upper limit is exceeded, select the nearest square ground point from the center of the grid, and if the ground points in the grid do not exceed the upper limit, select all square ground points. 3. The method of claim 1, further comprising the step of outputting a ground point. Substrate height reference point autoconfiguration crab according.
JP2004381195A 2004-12-28 2004-12-28 Substrate height reference point automatic setting method Expired - Fee Related JP4181112B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004381195A JP4181112B2 (en) 2004-12-28 2004-12-28 Substrate height reference point automatic setting method

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004381195A JP4181112B2 (en) 2004-12-28 2004-12-28 Substrate height reference point automatic setting method

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2006186274A JP2006186274A (en) 2006-07-13
JP4181112B2 true JP4181112B2 (en) 2008-11-12

Family

ID=36739135

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2004381195A Expired - Fee Related JP4181112B2 (en) 2004-12-28 2004-12-28 Substrate height reference point automatic setting method

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4181112B2 (en)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN106777756A (en) * 2016-12-30 2017-05-31 上海望友信息科技有限公司 PCBA detection methods and system based on 3D AOI and AXI

Also Published As

Publication number Publication date
JP2006186274A (en) 2006-07-13

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR101337881B1 (en) Method for inspecting and generating job data of pcb inspection system
JP2019532377A (en) Printed circuit board metal mask manufacturing method and printed circuit board metal mask manufacturing system
JPH0756878B2 (en) Inspection method of printed wiring board
EP1543453A1 (en) System and method for modifying electronic design data
JP4719657B2 (en) Placement model creation device, placement model creation method, and placement model creation program
US6807654B2 (en) Method of and device for detecting pattern, method of and device for checking pattern, method of and device for correcting and processing pattern, and computer product
JP4181112B2 (en) Substrate height reference point automatic setting method
KR19980039103A (en) Mounting coordinate input device and method for surface-mount parts with arbitrary angle setting
CN116817812A (en) Device package detection method, device, equipment and storage medium
JP2927319B2 (en) Wiring information processing method
JP2002334124A (en) Device and method for adjusting wiring width in printed wiring board
JP2015219141A (en) Printed substrate inspection device and inspection method of the same
US6526540B1 (en) Flip chip trace library generator
KR19980039102A (en) Mounting coordinate input device and method for surface mount parts
JP3511456B2 (en) Pattern inspection method
JP4411743B2 (en) Design data conversion apparatus, pattern design support apparatus, design data conversion method, and circuit board pattern design method.
JP3684756B2 (en) Method and apparatus for measuring line width of exposure mask
CN114357924A (en) Component packaging creation method and device
KR100901327B1 (en) Method for manufacturing of metal mask
JP2009146918A (en) Printed wiring patterning method
JP2864679B2 (en) Placement prohibited area determination method by component placement
JP2005268256A (en) Method of setting reference for height of substrate
JPH10312408A (en) Semiconductor design verification device and method
JP4366834B2 (en) Pattern design support device and wiring board pattern design method
JP2728473B2 (en) Computer-aided design equipment

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20070507

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20080513

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20080709

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20080805

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20080828

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110905

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110905

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120905

Year of fee payment: 4

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees