JP2009139364A5

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Publication number: JP2009139364A5
Application number: JP2008238995A
Authority: JP
Filing date: 2008-09-18
Publication date: 2010-02-12
Anticipated expiration: 2028-09-18

Claims

試料（２２０）中の少なくとも１つの被分析物を検出するようになっているテストエレメント（１１２、１１４、１１６：２４６、２５４）にマークを付けるマーキング方法において、
前記テストエレメント（１１２、１１４、１１６：２４６、２５４）の少なくともいくつかに、前記テストエレメント（１１２、１１４、１１６：２４６、２５４）の欠陥についての情報を格納する欠陥マークを付けるようになっており、
少なくとも１つの放射線感受性物質（２０２）を含む前記テストエレメント（１１２、１１４、１１６：２４６、２５４）に対して少なくとも１回の放射（１５６）が実施され、さらに、前記放射（１５６）は、前記放射線感受性物質（２０２）に少なくとも１つの光学的に検出可能な変化という形態のマークを付けるようになっていることを特徴とするマーキング方法。
前記放射（１５６）は、電磁放射、とりわけ、特に波長が２５０〜４００ｎｍの範囲、好ましくは波長が３５０〜３８０ｎｍの範囲の紫外線の放射を含むことを特徴とする請求項１記載のマーキング方法。
前記少なくとも１つの放射線感受性物質（２０２）は、前記テストエレメント（１１２、１１４、１１６：２４６、２５４）の検査物質、前記テストエレメント（１１２、１１４、１１６：２４６、２５４）の検査物質とは異なる、少なくとも１つのマーキング領域の少なくとも１つの検査物質のうちの少なくとも１つを含み、前記少なくとも１つの検査物質は、前記試料（２２０）中に前記少なくとも１つの被分析物が存在するとき、少なくとも１つの測定可能な特性、とりわけ測定可能な電気および／または光学特性を変化させるようになっていることを特徴とする請求項１または２記載のマーキング方法。
テストエレメント（１１２、１１４、１１６：２４６、２５４）を作製する製造方法において、前記テストエレメント（１１２、１１４、１１６：２４６、２５４）は、試料（２２０）中の少なくとも１つの被分析物を検出するようになっており、
−多数の前記テストエレメント（１１２、１１４、１１６：２４６、２５４）を作製することと、
−前記テストエレメント（１１２、１１４、１１６：２４６、２５４）の少なくとも１つに対して、欠陥の有無をチェックすることと、
−前記テストエレメント（１１２、１１４、１１６：２４６、２５４）の少なくとも１つに、前記テストエレメント（１１２、１１４、１１６：２４６、２５４）の欠陥についての情報を格納する欠陥マークを請求項１〜３のいずれか１項に記載のマーキング方法を用いて付けることとを含むことを特徴とする製造方法。
欠陥マークが付けられたテストエレメント（１１２、１１４、１１６：２４６、２５４）は、選別段階で取り除かれることを特徴とする請求項４記載の製造方法。
複数のテストエレメント（１１２、１１４、１１６：２４６、２５４）が、共通の支持帯片（１１８：２６０）の上に帯状要素として作製されることを特徴とする請求項４または５記載の製造方法。
試料（２２０）中の少なくとも１つの被分析物を検出するようになっているテストエレメント（１１２、１１４、１１６：２４６、２５４）の中の欠陥を有するテストエレメント（１１２、１１４、１１６：２４６、２５４）に対してマークを付ける、とりわけ請求項１〜３のいずれか１項に記載のマーキング方法を実施するためのマーキング装置（１３６）において、前記テストエレメント（１１２、１１４、１１６：２４６、２５４）の少なくともいくつかに、前記テストエレメント（１１２、１１４、１１６：２４６、２５４）の欠陥についての情報を格納する欠陥マークを付けるようになっているとともに、少なくとも１つの放射線感受性物質（２０２）を含む前記テストエレメント（１１２、１１４、１１６：２４６、２５４）に対して少なくとも１回の放射（１５６）を実施するための少なくとも１つの放射線源（１３８）を有し、前記放射（１５６）は、前記放射線感受性物質（２０２）に少なくとも１つの光学的に検出可能な変化という形態のマークを付けるようになっていることを特徴とするマーキング装置（１３６）。
前記放射線源（１３８）は、モジュールにより構成された多数の個別光源（１４４）、とりわけ紫外線を発生させるための、モジュールにより構成された多数の発光ユニット（１４０）を有することを特徴とする請求項７記載のマーキング装置（１３６）。
前記テストエレメント（１１２、１１４、１１６：２４６、２５４）に対して欠陥マークを付ける少なくとも１つのマーキング位置（１５２）が決められているとともに、前記放射（１５６）を前記放射線源（１３８）から前記マーキング位置（１５２）まで伝送するために、少なくとも１つの導波路（１４８）、とりわけ光導波路をさらに有することを特徴とする請求項７または８記載のマーキング装置（１３６）。
前記導波路（１４８）は、少なくとも１つの光ファイバー導波路、とりわけプラスチックの光ファイバー導波路（１４８）を有し、多数の光ファイバー導波路を組み合わせてファイバー・バンドル（１４６）が構成されているとともに、少なくとも１つの断面形状変換器（１５０）をさらに有し、前記断面形状変換器（１５０）は、前記光ファイバー導波路（１４８）のファイバー端部（１８６）が前記マーキング位置（１５２）に予め決められたパターン（１８８）に配置されるよう、少なくとも１つのファイバー・バンドル（１４６）の多数の光ファイバー導波路（１４８）を保持するようになっていることを特徴とする請求項９記載のマーキング装置（１３６）。
テストエレメント（１１２、１１４、１１６：２４６、２５４）、とりわけ請求項４〜６のいずれか１項に記載の製造方法によりテストエレメント（１１２、１１４、１１６：２４６、２５４）を作製する製造装置（１１０）において、試料（２２０）中の少なくとも１つの被分析物を検出するようになっている多数のテストエレメント（１１２、１１４、１１６：２４６、２５４）を作製するための組立装置（１２２）を備えるとともに、請求項７〜１０のいずれか１項に記載の少なくとも１つのマーキング装置（１３６）をさらに有することを特徴とする製造装置（１１０）。
欠陥マークが付けられたテストエレメント（１１２、１１４、１１６：２４６、２５４）を取り除くための少なくとも１つの選別装置（１６０）をさらに有することを特徴とする請求項１１記載の製造装置（１１０）。
カッティング・スプライシング装置（１６７）をさらに有することを特徴とする請求項１１または１２記載の製造装置（１１０）。
請求項４〜６のいずれか１項に記載の製造方法により作成された少なくとも１つのテストエレメント（１１２、１１４、１１６：２４６、２５４）を備える、試料（２２０）中の少なくとも１つの被分析物を検出するための分析テスト装置（２０６）において、前記テストエレメント（１１２、１１４、１１６：２４６、２５４）の欠陥マークの有無を問い合わせるようになっている少なくとも１つの問合せ装置（２３０）をさらに有することを特徴とする分析テスト装置（２０６）。